KR101581134B1 - Sensor device - Google Patents

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KR101581134B1
KR101581134B1 KR1020140144137A KR20140144137A KR101581134B1 KR 101581134 B1 KR101581134 B1 KR 101581134B1 KR 1020140144137 A KR1020140144137 A KR 1020140144137A KR 20140144137 A KR20140144137 A KR 20140144137A KR 101581134 B1 KR101581134 B1 KR 101581134B1
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도루 에비네
히로카츠 오쿠무라
히데유키 오다기리
하루히로 츠네타
유타카 사이토
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니혼 덴산 산쿄 가부시키가이샤
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Abstract

(과제) 환경 온도가 변화하더라도 안정된 검출 정밀도를 얻을 수 있는 센서 장치를 제공하는 것.
(해결수단) 자기 센서 장치 (10) (센서 장치) 는, 회로 기판 (50) 과, 회로 기판 (50) 에 실장된 자기 센서 (3) (센서) 와, 회로 기판 (50) 에 실장된 마이크로컴퓨터 (91) (제 1 전자 부품) 를 가지고 있다. 자기 센서 (3) 에는 온도 감시용 저항막 (감온부) 및 가열용 저항막 (히터) 이 형성되어 있고, 가열용 저항막은, 자기 센서 (3) 에 사용한 자기 저항 소자의 온도가 일정해지도록 자기 저항 소자를 가열한다. 회로 기판 (50) 에는 자기 센서 (3) 의 주위에 회로 기판 (50) 을 일부 남기고 슬릿 (52, 53) 이 형성되어 있고, 슬릿 (53) 은 자기 센서 (3) 와 마이크로컴퓨터 (91) 를 연결하는 가상선에 대하여 교차하는 방향으로 연장되어 있다.
(PROBLEM TO BE SOLVED) To provide a sensor device capable of obtaining stable detection accuracy even when the environmental temperature changes.
A magnetic sensor 3 (sensor) mounted on a circuit board 50; a micro-sensor 3 (sensor) mounted on a circuit board 50; And a computer 91 (first electronic component). The temperature of the magnetoresistive element used for the magnetic sensor 3 is set so that the temperature of the magnetoresistive element used for the magnetic sensor 3 becomes constant, Thereby heating the resistance element. Slits 52 and 53 are formed in the circuit board 50 with a part of the circuit board 50 around the magnetic sensor 3 and the slit 53 is formed between the magnetic sensor 3 and the microcomputer 91 And extend in a direction intersecting with a virtual line to be connected.

Description

센서 장치{SENSOR DEVICE}[0001]

본 발명은, 회로 기판에 센서가 실장된 센서 장치에 관한 것이다.The present invention relates to a sensor device in which a sensor is mounted on a circuit board.

센서 장치에서는 센서가 회로 기판에 실장되어 있고, 센서에서의 검출 결과는 회로 기판을 통해서 출력된다. 또한, 자기 저항 소자를 구비한 자기 센서 장치에서는, 소자 기판의 일방면에 자기 저항막으로 이루어지는 감자막 (感磁膜) 이 형성되어 있고, 감자막에 의해 구성한 2 상 (A 상 및 B 상) 의 브리지 회로에서 출력된 출력에 기초하여, 회전체의 각도 속도나 각도 위치 등을 검출한다 (예를 들어, 특허문헌 1 참조).In the sensor device, the sensor is mounted on the circuit board, and the detection result in the sensor is outputted through the circuit board. In a magnetic sensor device having a magnetoresistive element, a magnetoresistive film (magnetosensitive film) made of a magnetoresistive film is formed on one surface of the element substrate, and a two-phase (A-phase and B-phase) The angular velocity, the angular position, and the like of the rotating body are detected based on the output of the bridge circuit of the first embodiment (see, for example, Patent Document 1).

일본 공개특허공보 2012-118000호Japanese Laid-Open Patent Publication No. 2012-118000

센서는, 온도에 의해서 검출 결과가 변화하는 경우가 많다. 예를 들어, 자기 센서 장치에 사용되는 자기 저항 소자나 홀 소자에 사용되는 감자막은, 온도에 의해서 저항치가 변화한다. 이 때문에, 감자막에 의해서 브리지 회로를 구성함으로써, 온도 변화에서 기인하는 저항치 변화가 발생하더라도, 이러한 변화가 동등하면 출력에 변화는 발생하지 않는다. 그러나, 기판에 형성된 감자막을 이용한 자기 센서 장치에서는, 가령, 감자막에 의해서 브리지 회로를 구성한 경우라도, 온도가 변화하면 검출 오차가 발생한다. 이러한 원인은 명확하게 밝혀 있지는 않지만, 소자 기판과 감자막에서는 열팽창 계수가 서로 다른 것에서 기인하는 응력의 영향이 소자 기판의 위치에 따라 상이한 것이나, 감자막의 막질이 소자 기판의 위치에 따라 상이한 것에서 기인하는 것으로 추측된다.In many cases, the detection result changes depending on the temperature of the sensor. For example, in a magnetoresistive element used in a magnetic sensor device or a magnetoresistive film used in a Hall element, the resistance value changes depending on the temperature. Therefore, even if a change in the resistance value due to the temperature change occurs due to the constitution of the bridge circuit by the thin film, if the change is equal, no change occurs in the output. However, in a magnetic sensor device using a magnetoresistive film formed on a substrate, even when a bridge circuit is constituted by a magnetoresistive film, a detection error occurs when temperature changes. Although the cause of this phenomenon is not clearly understood, the influence of the stress due to the difference in thermal expansion coefficient between the element substrate and the thin film depends on the position of the element substrate, but the film quality of the thin film depends on the position of the element substrate. .

이상의 문제점을 감안하여, 본 발명의 과제는, 환경 온도가 변화하더라도 안정된 검출 정밀도를 얻을 수 있는 센서 장치를 제공하는 것에 있다.In view of the above problems, an object of the present invention is to provide a sensor device capable of obtaining stable detection accuracy even when environmental temperature changes.

상기 과제를 해결하기 위해서, 본 발명에 관련된 센서 장치는, 회로 기판과, 상기 회로 기판에 실장된 센서와, 상기 회로 기판에 실장된 제 1 전자 부품을 갖고, 상기 센서는, 센서 소자와, 그 센서 소자의 온도를 검출하는 감온부 (感溫部) 와, 그 감온부에서의 검출 결과에 기초하여 상기 센서 소자의 온도가 일정해지도록 당해 센서 소자를 가열하는 히터를 갖고, 상기 회로 기판에는, 상기 센서와 상기 제 1 전자 부품을 연결하는 가상선에 대하여 교차하는 방향으로 연장되는 슬릿이 형성되어 있는 것을 특징으로 한다.According to an aspect of the present invention, there is provided a sensor device including a circuit board, a sensor mounted on the circuit board, and a first electronic component mounted on the circuit board, And a heater for heating the sensor element so that the temperature of the sensor element becomes constant based on the detection result at the sensing part, And a slit extending in a direction intersecting a virtual line connecting the sensor and the first electronic component.

본 발명에서는, 센서에 감온부 및 히터가 구성되어 있고, 히터는 감온부에서의 검출 결과에 기초하여 센서 소자의 온도가 일정해지도록 센서 소자를 가열한다. 이 때문에, 센서의 검출 결과는 환경 온도의 영향을 잘 받지 않는다. 또한, 센서가 실장된 회로 기판에는 제 1 전자 부품도 실장되어 있는 것과 함께, 회로 기판에는, 센서와 제 1 전자 부품을 연결하는 가상선에 대하여 교차하는 방향으로 연장되는 슬릿이 형성되어 있다. 이 때문에, 회로 기판에 있어서 센서가 실장되어 있는 영역과 제 1 전자 부품이 실장되어 있는 영역의 사이에는, 슬릿을 이용한 차열부 (遮熱部) 가 형성되어 있기 때문에, 센서가 실장되어 있는 영역과 제 1 전자 부품이 실장되어 있는 영역 사이의 열 전도가 억제되어 있다. 따라서, 회로 기판에 있어서 센서가 실장되어 있는 영역의 온도가 잘 변화하지 않으므로, 센서 소자의 온도를 히터에 의해서 정밀하게 제어할 수 있다. 그 때문에, 본 발명을 적용한 센서 장치에 의하면, 환경 온도가 변화하더라도 안정된 검출 정밀도를 얻을 수 있다.In the present invention, a sensor is provided with a warming unit and a heater, and the heater heats the sensor element so that the temperature of the sensor element becomes constant based on the detection result at the warming unit. For this reason, the detection result of the sensor is not well affected by the environmental temperature. The first electronic component is also mounted on the circuit board on which the sensor is mounted, and the circuit board is provided with a slit extending in a direction intersecting a virtual line connecting the sensor and the first electronic component. Therefore, since the heat shield portion (heat shield portion) using the slit is formed between the region where the sensor is mounted on the circuit board and the region where the first electronic component is mounted, The heat conduction between the regions where the first electronic component is mounted is suppressed. Therefore, the temperature of the region where the sensor is mounted on the circuit board does not change well, so that the temperature of the sensor element can be precisely controlled by the heater. Therefore, according to the sensor device to which the present invention is applied, stable detection accuracy can be obtained even when the environmental temperature changes.

본 발명은, 상기 센서 소자가, 소자 기판과, 그 소자 기판에 형성된 감자막을 가지고 있는 경우에 적용하면 효과적이다. 센서 소자가, 소자 기판에 감자막이 형성된 자기 센서 소자인 경우, 감자막 자체가 온도에 의해서 저항치가 변화함과 함께, 소자 기판과 감자막의 열팽창 계수의 차에서 기인하는 응력이 소자 기판의 위치에 따라 상이한 것 등에서 기인하여 온도의 영향을 받기 쉽지만, 본 발명에 의하면, 이러한 온도 변화의 영향을 억제할 수 있다.The present invention is effective when the sensor element has an element substrate and a potentiometer film formed on the element substrate. When the sensor element is a magnetic sensor element having a magnetoresistive film formed on the element substrate, the resistance value of the magnetoresistive film itself changes depending on the temperature, and the stress caused by the difference in thermal expansion coefficient between the element substrate and the magnetoresistive film However, according to the present invention, the influence of such a temperature change can be suppressed.

본 발명에 있어서, 상기 슬릿은, 상기 센서의 주위에 상기 회로 기판을 일부 남기고 당해 센서를 둘러싸듯이 연장되어 있는 것이 바람직하다. 이러한 구성에 의하면, 센서가 실장되어 있는 영역과 제 1 전자 부품이 실장되어 있는 영역 사이의 열 전도가 보다 억제된다. 이 때문에, 회로 기판에 있어서 센서가 실장되어 있는 영역의 온도가 잘 변화하지 않으므로, 센서 소자의 온도를 히터에 의해서 정밀하게 제어할 수 있다.In the present invention, it is preferable that the slit extends so as to surround the sensor, leaving a part of the circuit board around the sensor. With this configuration, the heat conduction between the region where the sensor is mounted and the region where the first electronic component is mounted is further suppressed. Therefore, the temperature of the region where the sensor is mounted on the circuit board does not change very well, so that the temperature of the sensor element can be precisely controlled by the heater.

본 발명에 있어서, 상기 회로 기판을 축선 방향의 일방측의 단부에서 유지하는 홀더를 갖고, 상기 일방측의 단부에는, 축선 방향의 상기 일방측을 향해 돌출되어 당해 일방측의 단면에서 상기 회로 기판에 있어서 축선 방향의 타방측을 향하는 면을 지지하는 복수의 회로 기판 지지부를 가지고 있는 것이 바람직하다. 이러한 구성에 의하면, 홀더의 축선 방향의 일방측의 단면 전체로 회로 기판을 지지하는 구조에 비하여 홀더와 회로 기판과의 접촉 면적이 좁다. 이 때문에, 회로 기판과 홀더 사이의 열 전도를 억제할 수 있기 때문에, 회로 기판에 있어서 센서가 실장되어 있는 영역의 온도가 잘 변화하지 않는다. 따라서, 센서 소자의 온도를 히터에 의해서 정밀하게 제어할 수 있다.The circuit board according to the present invention has a holder for holding the circuit board at one end in the axial direction, and the other end of the circuit board is projected toward the one side in the axial direction, And a plurality of circuit board supporting portions for supporting surfaces facing the other side in the axial direction. According to this configuration, the contact area between the holder and the circuit board is narrower than a structure in which the circuit board is supported by the entire one end face in the axial direction of the holder. Therefore, since the heat conduction between the circuit board and the holder can be suppressed, the temperature of the region where the sensor is mounted on the circuit board does not change well. Therefore, the temperature of the sensor element can be precisely controlled by the heater.

본 발명에 있어서, 상기 복수의 회로 기판 지지부에는, 그 회로 기판 지지부의 외형 치수보다 가는 외형 치수를 갖고 상기 단면으로부터 상기 축선 방향의 상기 일방측을 향해 돌출되는 축부를 구비한 제 1 회로 기판 지지부가 포함되고, 상기 회로 기판에는, 상기 축부가 끼워지는 제 1 관통부가 형성되어 있는 것이 바람직하다. 이러한 구성에 의하면, 회로 기판을 축부와 제 1 관통부에 의해 위치 결정하여도, 회로 기판과 홀더 사이의 열 전도를 억제할 수 있다. 따라서, 회로 기판에 있어서 센서가 실장되어 있는 영역의 온도가 잘 변화하지 않으므로, 센서 소자의 온도를 히터에 의해서 정밀하게 제어할 수 있다.In the present invention, the plurality of circuit board support portions may include a first circuit board support portion having an outer dimension smaller than an outer dimension of the circuit board support portion and having a shaft portion projecting from the end face toward the one side in the axial direction, And the circuit board is preferably provided with a first penetrating portion through which the shaft portion is fitted. According to this structure, even when the circuit board is positioned by the shaft portion and the first penetrating portion, heat conduction between the circuit board and the holder can be suppressed. Therefore, the temperature of the region where the sensor is mounted on the circuit board does not change well, so that the temperature of the sensor element can be precisely controlled by the heater.

본 발명에 있어서, 상기 축부 및 상기 제 1 관통부를 복수 구비하고, 상기 홀더에 대하여, 상기 회로 기판의 표리가 미리 정한 방향이 되고, 또한 상기 회로 기판이 상기 축선 둘레에서 미리 정한 회전 위치가 되도록 위치 결정되면, 상기 복수의 상기 축부 모두가 상기 제 1 관통부와 끼워 맞춤이 가능해지고, 상기 미리 정한 회전 위치는 360 도의 범위 내에서 1 군데만으로, 당해 미리 정한 회전 위치를 제외한 회전 위치에서는, 상기 복수의 상기 축부의 적어도 1 개가 상기 제 1 관통부와 끼워 맞춤이 불가능한 것이 바람직하다. 이와 같이, 본 발명에서는, 복수의 회로 기판 지지부와 제 1 관통부가 360 도를 제외한 회전 각도에서 회전 대칭이 되지 않도록 배치되어 있다. 이러한 구성에 의하면, 홀더에 대하여 회로 기판을 고정할 때에, 그 표리를 틀리는 일이 없다. 또한, 축선 둘레에서 올바른 회전 위치에 위치 결정하였을 때만, 회로 기판을 홀더에 고정하는 것이 가능하다. 따라서, 회로 기판을 틀린 자세로 고정시켜 버릴 우려 없이, 높은 위치 정밀도로 고정시킬 수 있다. 또한, 제조시의 관리 항목을 삭감할 수 있기 때문에, 저렴하게 제조하는 것이 가능하다.In the present invention, it is preferable that a plurality of the shaft portion and the first penetrating portion are provided, and the position of the circuit board is determined such that the front and back of the circuit board are in a predetermined direction, The plurality of the shaft portions can be fitted to the first penetrating portion, and the predetermined rotational position is only one place within a range of 360 degrees, and at the rotational position excluding the predetermined rotational position, It is preferable that at least one of the shaft portions of the first through-hole can not be fitted with the first through-hole. As described above, in the present invention, the plurality of circuit board support portions and the first penetrating portion are arranged so as not to be rotationally symmetric at a rotation angle except 360 degrees. According to this configuration, when the circuit board is fixed to the holder, the front and back sides thereof are not mistaken. Further, it is possible to fix the circuit board to the holder only when it is positioned at the correct rotational position around the axis. Therefore, it is possible to fix the circuit board with high positional accuracy without fear of fixing the circuit board in a wrong posture. Further, since the management items at the time of production can be reduced, it is possible to produce the material at low cost.

본 발명에 있어서, 상기 복수의 회로 기판 지지부에는, 상기 일방측의 단면으로부터 상기 축부가 돌출되어 있지 않은 제 3 회로 기판 지지부가 포함되고, 상기 회로 기판에는, 상기 제 3 회로 기판 지지부의 상기 일방측 단면에 대하여 상기 축선 방향의 타방측에서부터 맞닿는 맞닿음부가 형성되어 있는 것이 바람직하다. 이러한 구성에 의하면, 제 1 회로 기판 지지부에 의해 지지되지 않은 지점을 제 3 회로 기판 지지부에 의해 지지할 수 있다. 따라서, 축부와 제 1 관통부가 회전 대칭이 되지 않도록 하기 위해, 축부를 축선 둘레의 둘레 방향에서 치우친 배치로 하고 있어도, 회로 기판의 지지에 대해서는 축선 둘레의 둘레 방향에서 하중을 분산하여 지지하는 것이 가능하다. 따라서, 고정시의 회로 기판의 변형을 억제할 수 있고, 잔류 응력이 시간 경과에 의해 해방되는 것으로 인한 회로 기판의 형상 변화를 억제할 수 있다. 따라서, 회로 기판의 변형에 의한 검출 정밀도의 저하를 억제할 수 있다.In the present invention, the plurality of circuit board support portions may include a third circuit board support portion that does not protrude from the one end side end face of the shaft portion, and the circuit board includes a first circuit board support portion It is preferable that an abutting portion abutting against the cross section from the other side in the axial direction is formed. According to such a configuration, a point not supported by the first circuit board support portion can be supported by the third circuit board support portion. Therefore, even if the shaft portion is offset from the circumferential direction around the axis to prevent the shaft portion and the first penetration portion from rotationally symmetrical, it is possible to support the load on the circuit board in the circumferential direction around the axis Do. Therefore, deformation of the circuit board at the time of fixation can be suppressed, and a change in the shape of the circuit board due to the release of the residual stress over time can be suppressed. Therefore, deterioration of detection accuracy due to deformation of the circuit board can be suppressed.

본 발명에 있어서, 상기 제 1 관통부에 끼워 맞춰진 상기 축부는, 상기 회로 기판에 탄성 접착제에 의해 접착되어 있는 것이 바람직하다. 이러한 구성에 의하면, 모터 회전시의 진동이나 외부에서의 진동이 가해진 경우에, 회로 기판에 대한 진동의 영향을 작게 할 수 있다. 따라서, 센서의 검출 출력에 대한 진동의 영향을 작게 할 수 있어, 검출 정밀도의 저하를 억제할 수 있다.In the present invention, it is preferable that the shaft portion fitted to the first penetration portion is adhered to the circuit board with an elastic adhesive. According to such a configuration, when vibration at the time of motor rotation or external vibration is applied, the influence of vibration on the circuit board can be reduced. Therefore, the influence of the vibration on the detection output of the sensor can be reduced, and deterioration of the detection accuracy can be suppressed.

본 발명에 있어서, 상기 복수의 회로 기판 지지부에는, 그 회로 기판 지지부의 외형 치수보다 가는 외형 치수를 갖고 상기 일방측을 향해 돌출되는 통부 (筒部) 를 구비한 제 2 회로 기판 지지부가 포함되고, 상기 회로 기판에는, 상기 통부가 끼워지는 제 2 관통부가 형성되고, 상기 회로 기판은, 그 회로 기판에 대하여 상기 홀더와는 반대측에서부터 상기 제 2 관통부를 지나 상기 통부에 멈춰진 나사에 의해서 상기 홀더에 고정되어 있는 구성을 채용할 수 있다. 이러한 구성에 의하면, 나사 고정시에, 나사머리가 필요 이상으로 회로 기판에 파고 들어가는 것을 통부에 의해 방해할 수 있다. 따라서, 회로 기판의 파괴나 나사산의 파괴를 억제할 수 있다.In the present invention, the plurality of circuit board support portions may include a second circuit board support portion having an outer dimension smaller than an outer dimension of the circuit board support portion and having a cylindrical portion projecting toward the one side, Wherein the circuit board is fixed to the holder by a screw which is fixed to the circuit board through the second penetrating portion from the opposite side of the circuit board to the circuit board, Can be adopted. According to such a configuration, it is possible to prevent the screw head from being inserted into the circuit board more than necessary when the screw is fixed. Therefore, breakage of the circuit board and breakage of the thread can be suppressed.

본 발명에 있어서, 상기 축부와 상기 제 1 관통부의 내주면의 간극은, 상기 통부와 상기 제 2 관통부의 내주면의 간극보다 큰 것이 바람직하다. 이러한 구성에 의하면, 제 2 회로 기판 지지부를 위치 결정 기준으로 하여 회로 기판의 위치 결정을 실시할 수 있다.In the present invention, it is preferable that a gap between the shaft portion and the inner circumferential surface of the first penetrating portion is larger than a gap between the tube portion and the inner circumferential surface of the second penetrating portion. With this configuration, the circuit board can be positioned with the second circuit board support portion as a positioning reference.

본 발명에 있어서, 상기 복수의 회로 기판 지지부에는, 상기 일방측의 단면에 고정구멍이 형성된 제 2 회로 기판 지지부가 포함되고, 상기 회로 기판에는, 상기 홀더와는 반대측에서부터 상기 고정구멍에 나사 고정되는 나사가 삽입 통과되는 제 2 관통부가 형성되고, 상기 회로 기판은, 상기 나사에 의해 상기 홀더에 고정되어 있는 것이 바람직하다. 또한, 이 구성에 있어서, 상기 축부와 상기 제 1 관통부의 내주면의 간극은, 상기 나사와 상기 제 2 관통부의 내주면의 간극보다 작은 것이 바람직하다. 이러한 구성에 의하면, 제 2 관통부의 개구 면적을 작게 할 수 있기 때문에, 나사머리를 수용하는 면적을 넓게 할 수 있다. 따라서, 나사 조임시에 가해지는 힘에 의해서 나사머리가 회로 기판에 파고 들어가는 것을 억제할 수 있다. 또한, 제 2 회로 기판 지지부와 회로 기판의 맞닿는 면적이 넓기 때문에, 회로 기판을 안정적으로 지지할 수 있다. 또한, 제 1 회로 기판 지지부를 위치 결정 기준으로 하여 회로 기판의 위치 결정을 실시할 수 있기 때문에, 나사 조임 지점의 변형 등에 의해서 회로 기판의 위치 정밀도가 저하되는 것을 억제할 수 있다.In the present invention, the plurality of circuit board support portions may include a second circuit board support portion having a fixing hole formed in one end face thereof, and the circuit board is screwed to the fixing hole from the opposite side of the holder A second penetrating portion through which a screw is inserted is formed, and the circuit board is fixed to the holder by the screw. In this configuration, it is preferable that the gap between the shaft portion and the inner circumferential surface of the first penetrating portion is smaller than the gap between the screw and the inner circumferential surface of the second penetrating portion. According to such a configuration, since the opening area of the second through portion can be reduced, the area for accommodating the screw head can be increased. Therefore, it is possible to prevent the screw head from being pushed into the circuit board by the force applied during the screwing. In addition, since the contact area between the second circuit board support portion and the circuit board is wide, the circuit board can be stably supported. In addition, since the circuit board can be positioned with the first circuit board support portion as a positioning reference, the positional accuracy of the circuit board can be prevented from being lowered due to deformation of the screwing point.

본 발명에 있어서, 상기 제 2 관통부는, 상기 회로 기판의 바깥가장자리에 형성된 노치인 것이 바람직하다. 이러한 구성에 의하면, 회로 기판을 나사에 의해 고정하더라도, 이러한 고정 위치가 회로 기판의 바깥가장자리이기 때문에, 센서가 실장되어 있는 영역과 나사에 의한 고정 위치가 이간되어 있다. 이 때문에, 회로 기판에 있어서 센서가 실장되어 있는 영역과 홀더 사이의 열 전도를 억제할 수 있다. 따라서, 회로 기판에 있어서 센서가 실장되어 있는 영역의 온도가 잘 변화하지 않으므로, 센서 소자의 온도를 히터에 의해서 정밀하게 제어할 수 있다.In the present invention, it is preferable that the second penetrating portion is a notch formed on an outer edge of the circuit board. According to this configuration, even if the circuit board is fixed by screws, since the fixing position is the outer edge of the circuit board, the fixing position by the screw is separated from the area where the sensor is mounted. Therefore, it is possible to suppress the heat conduction between the region where the sensor is mounted on the circuit board and the holder. Therefore, the temperature of the region where the sensor is mounted on the circuit board does not change well, so that the temperature of the sensor element can be precisely controlled by the heater.

본 발명에 있어서, 상기 홀더의 축선 방향의 상기 타방측의 단부에는, 둘레 방향의 복수 지점에서 축선 방향의 상기 타방측으로 돌출된 센서 장치 고정용의 돌부 (突部) 가 형성되어 있는 것이 바람직하다. 이러한 구성에 의하면, 센서 장치 고정용의 돌부를 이용하여 센서 장치를 모터 케이스 등에 고정시킨 경우라도, 홀더와 모터 케이스 등과의 접촉 면적이 좁다. 이 때문에, 홀더를 통한 회로 기판과 모터 케이스 등과의 사이의 열 전도를 억제할 수 있다. 따라서, 회로 기판에 있어서 센서가 실장되어 있는 영역의 온도가 잘 변화하지 않으므로, 센서 소자의 온도를 히터에 의해서 정밀하게 제어할 수 있다.In the present invention, it is preferable that a protruding portion for fixing the sensor device protruding to the other side in the axial direction at a plurality of points in the circumferential direction is formed at the other end in the axial direction of the holder. According to this configuration, even when the sensor unit is fixed to the motor case or the like by using the protrusion for fixing the sensor unit, the contact area with the holder and the motor case is small. Therefore, it is possible to suppress the heat conduction between the circuit board and the motor case through the holder. Therefore, the temperature of the region where the sensor is mounted on the circuit board does not change well, so that the temperature of the sensor element can be precisely controlled by the heater.

본 발명에 있어서, 상기 홀더는 수지제인 것이 바람직하다. 이러한 구성에 의하면, 홀더의 열 전도성이 낮기 때문에, 홀더를 통한 회로 기판과 모터 케이스 등과의 사이의 열 전도를 억제할 수 있다. 따라서, 회로 기판에 있어서 센서가 실장되어 있는 영역의 온도가 잘 변화하지 않으므로, 센서 소자의 온도를 히터에 의해서 정밀하게 제어할 수 있다.In the present invention, it is preferable that the holder is made of a resin. According to this configuration, since the heat conductivity of the holder is low, it is possible to suppress the heat conduction between the circuit board and the motor case or the like through the holder. Therefore, the temperature of the region where the sensor is mounted on the circuit board does not change well, so that the temperature of the sensor element can be precisely controlled by the heater.

본 발명에 있어서, 상기 홀더는, 통형상 몸통부를 구비하고, 당해 통형상 몸통부의 내측에는 상기 센서에 의해서 물리량이 검출되는 검출 대상부가 배치되는 것이 바람직하다. 이러한 구성에 의하면, 검출 대상부의 이동에 의해서 통형상 몸통부 내의 공기를 교반할 수 있다. 이 때문에, 온도 분포의 치우침 발생을 억제시킬 수 있기 때문에, 히터에 의해서 센서 소자를 균등하게 가열할 수 있다. 따라서, 센서 소자의 온도를 히터에 의해서 정밀하게 제어할 수 있다.In the present invention, it is preferable that the holder has a tubular body portion, and a detection target portion in which a physical quantity is detected by the sensor is disposed inside the tubular body portion. According to this configuration, the air in the tubular body can be stirred by the movement of the detection subject. Therefore, it is possible to suppress the occurrence of the slanting of the temperature distribution, so that the sensor element can be uniformly heated by the heater. Therefore, the temperature of the sensor element can be precisely controlled by the heater.

본 발명에 있어서, 상기 회로 기판에서는, 상기 슬릿에 대하여 상기 센서가 배치되어 있는 측에 발열성의 제 2 전자 부품이 실장되고, 상기 제 2 전자 부품은, 상기 회로 기판의 상기 센서가 실장되어 있는 측과는 반대측의 면에 실장되어 있는 것이 바람직하다. 이러한 구성에 의하면, 슬릿에 대하여 센서가 배치되어 있는 측에 발열성의 제 2 전자 부품을 실장하지 않으면 안된다는 제약이 있는 경우라도, 센서와 제 2 전자 부품 사이의 열 전달을 억제할 수 있다. 따라서, 센서의 온도가 잘 변화하지 않으므로, 센서 소자의 온도를 히터에 의해서 정밀하게 제어할 수 있다.According to the present invention, in the circuit board, a second electronic component with a heat generation is mounted on the side where the sensor is disposed with respect to the slit, and the second electronic component is mounted on the side of the circuit board on which the sensor is mounted And is preferably mounted on the surface opposite to the surface. According to such a configuration, even when there is a restriction that the second electronic component having a heat generating property must be mounted on the side where the sensor is disposed with respect to the slit, heat transfer between the sensor and the second electronic component can be suppressed. Therefore, since the temperature of the sensor does not change well, the temperature of the sensor element can be precisely controlled by the heater.

본 발명에 있어서, 상기 회로 기판에 있어서 상기 센서와 상기 제 1 전자 부품 사이에는, 상기 센서와 상기 제 1 전자 부품을 연결하는 가상선에 대하여 교차하는 방향을 따라서 복수의 스루 홀이 배치되어 있는 것이 바람직하다. 이러한 구성에 의하면, 스루 홀을 이용하여 차열 (遮熱) 을 실시할 수 있기 때문에, 센서가 실장되어 있는 영역과 제 1 전자 부품이 실장되어 있는 영역의 열 전도가 억제된다. 이 때문에, 회로 기판에 있어서 센서가 실장되어 있는 영역의 온도가 잘 변화하지 않으므로, 센서 소자의 온도를 히터에 의해서 정밀하게 제어할 수 있다.In the present invention, in the circuit board, a plurality of through holes are arranged between the sensor and the first electronic component along a direction crossing a virtual line connecting the sensor and the first electronic component desirable. According to such a configuration, thermal conduction can be suppressed by using a through hole, so that the heat conduction between the region where the sensor is mounted and the region where the first electronic component is mounted is suppressed. Therefore, the temperature of the region where the sensor is mounted on the circuit board does not change very well, so that the temperature of the sensor element can be precisely controlled by the heater.

본 발명에 있어서, 상기 제 1 전자 부품은 마이크로컴퓨터이고, 상기 스루 홀은, 예를 들어 상기 마이크로컴퓨터에 대한 정보의 기입용이다. 이러한 스루 홀이면, 리드선 등의 접속이 이루어지지 않기 때문에, 스루 홀을 이용하여 차열을 실시할 수 있다.In the present invention, the first electronic component is a microcomputer, and the through hole is for writing information on the microcomputer, for example. When such a through hole is used, the lead wire or the like is not connected, so that the through hole can be used to perform the heat shielding.

본 발명에서는, 상기 회로 기판에 있어서 상기 센서와 상기 제 1 전자 부품 사이에는, 상기 센서와 상기 제 1 전자 부품을 연결하는 가상선에 대하여 교차하는 방향을 따라서 복수의 검사 단자가 배치되어 있는 것이 바람직하다. 이러한 구성에 의하면, 센서가 실장되어 있는 영역과 제 1 전자 부품이 실장되어 있는 영역을 이간시킬 수 있다. 따라서, 센서와 제 1 전자 부품 사이의 열 전도를 억제할 수 있다.In the present invention, it is preferable that a plurality of test terminals are disposed between the sensor and the first electronic component in the circuit board along a direction crossing a virtual line connecting the sensor and the first electronic component Do. According to such a configuration, the area where the sensor is mounted and the area where the first electronic component is mounted can be separated. Thus, the heat conduction between the sensor and the first electronic component can be suppressed.

본 발명에서는, 센서에 감온부 및 히터가 구성되어 있고, 히터는, 감온부에서의 검출 결과에 기초하여 센서 소자의 온도가 일정해지도록 센서 소자를 가열한다. 이 때문에, 센서의 검출 결과는 환경 온도의 영향을 잘 받지 않는다. 또한, 센서가 실장된 회로 기판에는 제 1 전자 부품도 실장되어 있는 것과 함께, 회로 기판에는, 센서와 제 1 전자 부품을 연결하는 가상선에 대하여 교차하는 방향으로 연장되는 슬릿이 형성되어 있다. 이 때문에, 회로 기판에 있어서 센서가 실장되어 있는 영역과 제 1 전자 부품이 실장되어 있는 영역 사이에는 슬릿을 이용한 차열부가 형성되어 있기 때문에, 센서가 실장되어 있는 영역과 제 1 전자 부품이 실장되어 있는 영역 사이의 열 전도가 억제되어 있다. 따라서, 회로 기판에 있어서 센서가 실장되어 있는 영역의 온도가 잘 변화하지 않으므로, 센서 소자의 온도를 히터에 의해서 정밀하게 제어할 수 있다. 그 때문에, 환경 온도가 변화하더라도 안정된 검출 정밀도를 얻을 수 있다.According to the present invention, a sensor is provided with a warming unit and a heater, and the heater heats the sensor element so that the temperature of the sensor element becomes constant based on the detection result at the warming unit. For this reason, the detection result of the sensor is not well affected by the environmental temperature. The first electronic component is also mounted on the circuit board on which the sensor is mounted, and the circuit board is provided with a slit extending in a direction intersecting a virtual line connecting the sensor and the first electronic component. Therefore, since a car heat part using a slit is formed between the area where the sensor is mounted and the area where the first electronic part is mounted on the circuit board, the area where the sensor is mounted and the first electronic part are mounted And the heat conduction between the regions where the heat is generated is suppressed. Therefore, the temperature of the region where the sensor is mounted on the circuit board does not change well, so that the temperature of the sensor element can be precisely controlled by the heater. Therefore, stable detection accuracy can be obtained even when the environmental temperature changes.

도 1 은 본 발명을 적용한 로터리 인코더를 탑재한 모터의 설명도.
도 2 는 본 발명을 적용한 자기 센서 장치의 사시도.
도 3 은 본 발명을 적용한 자기 센서 장치의 분해 사시도.
도 4 는 본 발명을 적용한 자기 센서 장치를 구비한 로터리 인코더의 설명도.
도 5 는 본 발명을 적용한 인코더의 검출 원리 등을 나타내는 설명도.
도 6 은 본 발명을 적용한 자기 센서 장치에 사용한 자기 센서의 설명도.
도 7 은 본 발명을 적용한 자기 센서 장치의 제어부에 구성한 온도 제어부의 개략 구성을 나타내는 설명도.
도 8 은 본 발명을 적용한 자기 센서 장치에 사용한 회로 기판의 설명도.
도 9 는 본 발명을 적용한 자기 센서 장치에 사용한 홀더의 설명도.
도 10 은 본 발명을 적용한 자기 센서 장치에 사용한 회로 기판의 평면도.
도 11 은 본 발명을 적용한 자기 센서 장치에 사용한 다른 회로 기판의 설명도.
도 12 는 다른 형태의 제 2 회로 기판 지지부를 구비한 자기 센서 장치의 분해 사시도.
도 13 은 제 1 회로 기판 지지부와 회로 기판의 접착 지점의 단면도.
1 is an explanatory diagram of a motor equipped with a rotary encoder to which the present invention is applied.
2 is a perspective view of a magnetic sensor device to which the present invention is applied.
3 is an exploded perspective view of a magnetic sensor device to which the present invention is applied.
4 is an explanatory diagram of a rotary encoder provided with a magnetic sensor device to which the present invention is applied;
5 is an explanatory diagram showing a detection principle and the like of an encoder to which the present invention is applied.
6 is an explanatory diagram of a magnetic sensor used in a magnetic sensor device to which the present invention is applied.
Fig. 7 is an explanatory view showing a schematic configuration of a temperature control unit constituted in a control unit of a magnetic sensor device to which the present invention is applied; Fig.
8 is an explanatory diagram of a circuit board used in a magnetic sensor device to which the present invention is applied.
9 is an explanatory diagram of a holder used in a magnetic sensor device to which the present invention is applied.
10 is a plan view of a circuit board used in a magnetic sensor device to which the present invention is applied.
11 is an explanatory diagram of another circuit board used in the magnetic sensor device to which the present invention is applied.
12 is an exploded perspective view of a magnetic sensor device having another type of second circuit board support;
13 is a cross-sectional view of an attachment point of the first circuit board support and the circuit board.

이하에 도면을 참조하여, 본 발명을 적용한 센서 장치로서, 모터에 있어서 자기식 로터리 인코더에 사용한 자기 센서 장치를 중심으로 설명한다. 또, 이하의 설명에서는, 모터의 축선 (L) 방향 중, 출력축 (120) 이 돌출되어 있는 측과는 반대측 (반출력측) 을 일방측 (L1) 으로 하고, 출력축 (120) 이 돌출되어 있는 측 (출력측) 을 타방측 (L2) 으로 하고 있다.Hereinafter, a magnetic sensor device used for a magnetic rotary encoder in a motor will be described as a sensor device to which the present invention is applied, with reference to the drawings. In the following description, the direction of the axis L of the motor is set to one side L1 on the side opposite to the side on which the output shaft 120 is projected (half output side) and on the side where the output shaft 120 protrudes (Output side) is the other side L2.

(모터의 구성) (Configuration of motor)

도 1 은, 본 발명을 적용한 로터리 인코더 (1) 를 탑재한 모터 (100) 의 설명도로, 도 1(a), (b), (c) 는, 모터 (100) 를 출력측에서 본 사시도, 모터 (100) 를 출력측과 반대측 (반출력측) 에서 본 사시도, 및 모터 (100) 로부터 인코더 케이스 (140) 를 떼낸 상태를 반출력측에서 본 사시도이다. 또한, 도 2 는 자기 센서 장치 (10) 를 축선 (L) 방향의 일방측 (L1) 에서 본 사시도이고, 도 3 은 그 분해 사시도이다. 또, 도 1(c) 에서는, 회로 기판 (50) 의 축선 (L) 방향의 일방측 (L1) 면에 실장된 부품 등의 도시가 생략되어 있다. 또한, 도 2, 도 3 에서는, 후술하는 커넥터 (94) 를 제외하고, 회로 기판 (50) 의 축선 (L) 방향의 일방측 (L1) 면에 실장된 부품 등의 도시가 생략되어 있다.1 (a), 1 (b) and 1 (c) are explanatory diagrams of a motor 100 equipped with a rotary encoder 1 to which the present invention is applied, (Semi-output side) opposite to the output side and a state in which the encoder case 140 is detached from the motor 100 as viewed from the half-output side. 2 is a perspective view of the magnetic sensor device 10 viewed from one side L1 in the axial direction L, and Fig. 3 is an exploded perspective view thereof. 1 (c), components and the like mounted on one side (L1) of the circuit board 50 in the direction of the axis L are omitted. 2 and 3, components and the like mounted on one side (L1) of the circuit board 50 in the direction of the axis L are omitted, except for the connector 94 which will be described later.

도 1 에 나타내는 모터 (100) 는, 모터 본체 (110) 와, 모터 본체 (110) 의 반출력측에 형성된 자기식 로터리 인코더 (1) 를 가지고 있고, 로터리 인코더 (1) 는 인코더 케이스 (140) 에 의해 커버되어 있다. 본 형태에 있어서, 로터리 인코더 (1) 는, 모터 (100) 의 출력축 (120) 과 일체로 회전하는 자석 (도시 생략) 과, 자석에 대하여 모터 축선 방향의 반출력측에서 대향하는 자기 센서 장치 (10) 를 가지고 있다.The motor 100 shown in Figure 1 has a motor main body 110 and a magnetic rotary encoder 1 formed on the half output side of the motor main body 110. The rotary encoder 1 is connected to the encoder case 140 . In this embodiment, the rotary encoder 1 includes a magnet (not shown) that rotates integrally with the output shaft 120 of the motor 100, and a magnetic sensor device 10 (not shown) facing the magnet on the half- ).

도 1(c), 및 도 2, 도 3 에 나타내는 바와 같이, 자기 센서 장치 (10) 는, 모터 케이스 (130) 에 고정된 홀더 (6) 와, 홀더 (6) 에 고정된 회로 기판 (50) 을 가지고 있고, 회로 기판 (50) 에 있어서, 축선 (L) 방향의 타방측 (L2) 면에는 자기 센서 (3) 가 실장되어 있다. 이러한 자기 센서 장치 (10) 및 홀더 (6) 의 상세한 구성은 후술한다.The magnetic sensor device 10 includes a holder 6 fixed to the motor case 130 and a circuit board 50 fixed to the holder 6, And the magnetic sensor 3 is mounted on the other side L2 of the circuit board 50 in the direction of the axis L. In this case, The detailed configuration of the magnetic sensor device 10 and the holder 6 will be described later.

(로터리 인코더의 구성) (Configuration of rotary encoder)

도 4 는, 본 발명을 적용한 자기 센서 장치 (10) 를 구비한 로터리 인코더 (1) 의 설명도이다. 도 5 는, 본 발명을 적용한 로터리 인코더 (1) 의 검출 원리 등을 나타내는 설명도이고, 도 5(a), (b), (c), (d) 는, A 상용의 감자막의 전기적인 접속 구조를 나타내는 설명도, B 상용의 감자막의 전기적인 접속 구조를 나타내는 설명도, 자기 센서 (3) 로부터 출력되는 신호의 설명도, 및 이러한 신호와 자석 (20) (출력축 (120)) 의 각도 위치 (전기각) 의 관계를 나타내는 설명도이다.4 is an explanatory diagram of a rotary encoder 1 provided with a magnetic sensor device 10 to which the present invention is applied. 5 (a), 5 (b), 5 (c) and 5 (d) illustrate the principle of detection of the rotary encoder 1 to which the present invention is applied, An explanatory diagram showing an electrical connection structure of a B-phase sensitive film, an explanatory diagram of a signal outputted from the magnetic sensor 3, and an explanatory diagram showing the relationship between such signals and the magnitude of the signal of the magnet 20 (output shaft 120) Fig. 7 is an explanatory diagram showing the relationship of the angular position (electrical angle). Fig.

도 4 에 나타내는 바와 같이, 자석 (20) 은, N 극과 S 극이 둘레 방향에 있어서 1 극씩 착자된 착자면 (21) 을 축선 (L) 방향의 일방측 (L1) 을 향하게 하고 있다. 자기 센서 장치 (10) 는, 자석 (20) 의 착자면 (21) 에 대하여 축선 (L) 방향의 일방측 (L1) 에서 대향하는 자기 저항 소자 (4) (센서 소자) 를 구비한 자기 센서 (3) 를 가지고 있다. 자기 센서 장치 (10) 는, 자기 센서 (3) 로부터의 출력을 증폭하는 증폭기부 (90) (증폭기부 (90) (+A), 증폭기부 (90) (-A), 증폭기부 (90) (+B), 증폭기부 (90) (-B)), 및 A/D 변환부 (97) 를 구비한 반도체 장치 (92) 를 가지고 있다. 또한, 자기 센서 장치 (10) 에는, 반도체 장치 (92) 에서 A/D 변환된 신호에 기초하여 자석 (20) 의 회전 각도 위치나 회전 속도 등을 검출하는 신호 처리부를 구비한 마이크로컴퓨터 (91) 가 형성되어 있다. 또한, 자기 센서 장치 (10) 는, 자석 (20) 에 대향하는 위치에 제 1 홀 소자 (81) 와, 제 1 홀 소자 (81) 에 대하여 둘레 방향에 있어서 기계각으로 90° 벗어난 지점에 위치하는 제 2 홀 소자 (82) 를 구비하고 있고, 반도체 장치 (92) 에는, 제 1 홀 소자 (81) 에 대한 증폭기부 (95) 나, 제 2 홀 소자 (82) 에 대한 증폭기부 (96) 가 형성되어 있다.As shown in Fig. 4, the magnet 20 has a magnetized surface 21 magnetized by one pole in the circumferential direction of the N pole and the S pole toward one side L1 of the axis L direction. The magnetic sensor device 10 is provided with a magnetic sensor (magnetic sensor) having a magnetoresistive element 4 (sensor element) opposed to one side L1 of the magnet 20 in the direction of the axis L 3). The magnetic sensor device 10 includes an amplifier section 90 (amplifier section 90 (+ A), an amplifier section 90 (-A), an amplifier section 90 + B), an amplifier section 90 (-B), and an A / D conversion section 97. The magnetic sensor device 10 is also provided with a microcomputer 91 having a signal processing section for detecting the rotational angular position and the rotational speed of the magnet 20 based on the A / D-converted signal from the semiconductor device 92, Respectively. The magnetic sensor device 10 further includes a first Hall element 81 at a position facing the magnet 20 and a second Hall element 81 at a position apart from the machine angle by 90 degrees in the circumferential direction with respect to the first Hall element 81 And the semiconductor device 92 is provided with an amplifier unit 95 for the first Hall element 81 and an amplifier unit 96 for the second Hall element 82. [ Respectively.

자기 센서 (3) 는 자기 저항 소자 (4) 를 가지고 있다. 자기 저항 소자 (4) 는, 소자 기판 (40) 과, 자석 (20) 의 위상에 대하여 서로 90°의 위상차를 갖는 2 상의 감자막 (A 상 (SIN) 의 감자막, 및 B 상 (COS) 의 감자막) 을 구비하고 있다. 이러한 자기 저항 소자 (4) 에 있어서, A 상의 감자막은, 180°의 위상차를 갖고 출력축 (120) 의 이동 검출을 실시하는 +A 상 (SIN+) 의 감자막 (43) 및 -A 상 (SIN-) 의 감자막 (41) 을 구비하고 있고, B 상의 감자막은, 180°의 위상차를 갖고 출력축 (120) 의 이동 검출을 실시하는 +B 상 (COS+) 의 감자막 (44) 및 -B 상 (COS-) 의 감자막 (42) 을 구비하고 있다.The magnetic sensor 3 has a magnetoresistive element 4. The magnetoresistive element 4 includes a device substrate 40 and a two-phase thin film (phase A (SIN) thin film and phase B (COS) having a phase difference of 90 degrees with respect to the phase of the magnet 20, Of the light-shielding film). In this magneto-resistive element 4, the potato film on the A phase is composed of a + A phase (SIN +) thin film 43 and a -A phase (SIN-) which have a phase difference of 180 degrees and detect the movement of the output shaft 120, The B-phase potato film has a + B-phase (COS +) thin film 44 and a -B-phase (COS +) phase shifter having a phase difference of 180 ° and performing movement detection of the output shaft 120, (42).

+A 상의 감자막 (43) 및 -A 상의 감자막 (41) 은, 도 5(a) 에 나타내는 브리지 회로를 구성하고 있고, 일방의 단이 전원 단자 (VccA) 에 접속되고, 타방의 단이 그라운드 단자 (GNDA) 에 접속되어 있다. +A 상의 감자막 (43) 의 중점 위치에는 +A 상이 출력되는 출력 단자 (+A) 가 형성되고, -A 상의 감자막 (41) 의 중점 위치에는 -A 상이 출력되는 출력 단자 (-A) 가 형성되어 있다. 또한, +B 상의 감자막 (44) 및 -B 상의 감자막 (42) 도, +A 상의 감자막 (43) 및 -A 상의 감자막 (41) 과 마찬가지로 도 5(b) 에 나타내는 브리지 회로를 구성하고 있고, 일방의 단이 전원 단자 (VccB) 에 접속되고, 타방의 단이 그라운드 단자 (GNDB) 에 접속되어 있다. +B 상의 감자막 (44) 의 중점 위치에는 +B 상이 출력되는 출력 단자 (+B) 가 형성되고, -B 상의 감자막 (42) 의 중점 위치에는 -B 상이 출력되는 출력 단자 (-B) 가 형성되어 있다. 또, 도 5 에서는 편의상, A 상용의 전원 단자 (VccA) 및 B 상용의 전원 단자 (VccB) 의 각각을 기재하였지만, A 상용의 전원 단자 (VccA) 와 B 상용의 전원 단자 (VccB) 가 공통으로 되어 있어도 된다. 또, 도 5 에서는 편의상, A 상용의 그라운드 단자 (GNDA) 및 B 상용의 그라운드 단자 (GNDB) 의 각각을 기재하였지만, A 상용의 그라운드 단자 (GNDA) 와 B 상용의 그라운드 단자 (GNDB) 가 공통으로 되어 있어도 된다.5A, the one end is connected to the power supply terminal VccA, the other end is connected to the ground (ground), and the other end is connected to the ground And is connected to the terminal GNDA. An output terminal +A for outputting the + A phase is formed at the midpoint position of the active layer 43 on + A, and an output terminal -A for outputting the -A phase is formed at the midpoint position of the active layer 41 on -A have. The + B-phase thin film 44 and the -B-type thin film 42 constitute the bridge circuit shown in FIG. 5 (b) in the same manner as the + A-phase thin film 43 and the -A thin film 41 And one end thereof is connected to the power supply terminal VccB and the other end thereof is connected to the ground terminal GNDB. An output terminal (+ B) for outputting the + B phase is formed at the midpoint position of the + B phase-sensitive film 44, and an output terminal (-B) for outputting the -B phase is formed at the midpoint position of the on- have. 5A and 5B, each of the power supply terminal VccA for the A phase and the power supply terminal VccB for the B phase is described in common. However, the power supply terminal VccA for the A phase and the power supply terminal VccB for the B phase are common . 5, the ground terminal GNDA for the A phase and the ground terminal GNDB for the B phase are described for convenience. However, the ground terminal GNDA for the A phase and the ground terminal GNDB for the B phase are common .

자기 센서 (3) 는, 도 4 에 나타내는 바와 같이, 자석 (20) 및 출력축 (120) 의 중심을 지나는 축선 (L) (회전 중심 축선) 상에 배치되어 있으며, 각 감자막 (41 ∼ 44) 의 저항치의 포화 감도 영역 이상의 자계 강도로, 착자면 (21) 의 면내 방향에서 방향이 변화하는 회전 자계를 검출한다.4, the magnetic sensor 3 is disposed on an axis L (rotation center axis) passing through the centers of the magnets 20 and the output shaft 120, and each of the magnetic sensitive films 3, In the in-plane direction of the magnetized surface 21 with the magnetic field strength of the saturation sensitivity region or more of the resistance value of the resistance value of the magnetization direction.

본 형태의 자기 센서 장치 (10) 에 있어서는, 자기 센서 (3) 로부터 출력되는 정현파 신호 (sin, cos) 에 보간 처리나 각종 연산 처리를 행하는 신호 처리를 실시하는 마이크로컴퓨터 (91) 가 형성되어 있어, 자기 저항 소자 (4), 제 1 홀 소자 (81), 및 제 2 홀 소자 (82) 로부터의 출력에 기초하여 자석 (20) (출력축 (120)) 의 회전 각도 위치가 구해진다.In the magnetic sensor device 10 of this embodiment, a microcomputer 91 for performing signal processing for performing interpolation processing and various arithmetic processing on the sinusoidal signals (sin, cos) output from the magnetic sensor 3 is formed The rotational angle position of the magnet 20 (output shaft 120) is obtained on the basis of the output from the first Hall element 81, the magnetoresistive element 4, the first Hall element 81 and the second Hall element 82. [

보다 구체적으로는, 로터리 인코더에 있어서, 자석 (20) (출력축 (120)) 이 1 회전하면, 자기 센서 (3) 의 자기 저항 소자 (4) 로부터는, 도 5(c) 에 나타내는 정현파 신호 (sin, cos) 가 2 주기분 출력된다. 따라서, 정현파 신호 (sin, cos) 를 증폭기부 (90) (증폭기부 (90) (+A), 90 (-A), 90 (+B), 90 (-B)) 에 의해 증폭한 후, 디지털 신호화하고, 이러한 디지털 신호를 마이크로컴퓨터 (91) 에 출력하면, 마이크로컴퓨터 (91) 는, 도 5(d) 에 나타내는 리사주도를 구한다. 따라서, 정현파 신호 (sin, cos) 로부터 θ=tan-1 (sin/cos) 를 구하면, 자석 (20) (출력축 (120)) 의 각도 위치 (θ) 를 알 수 있다. 또한, 본 형태에서는, 자석 (20) (출력축 (120)) 의 회전 중심축 (축선 (L)) 에서 보아 90° 벗어난 위치에 제 1 홀 소자 (81) 및 제 2 홀 소자 (82) 가 배치되어 있다. 이 때문에, 제 1 홀 소자 (81) 및 제 2 홀 소자 (82) 의 출력의 조합에 의해, 현재 위치가 정현파 신호 (sin, cos) 의 어느 쪽 구간에 위치하는지를 알 수 있다. 따라서, 로터리 인코더 (1) 는, 자기 저항 소자 (4) 에서의 검출 결과, 제 1 홀 소자 (81) 에서의 검출 결과, 및 제 2 홀 소자 (82) 에서의 검출 결과에 기초하여 자석 (20) (출력축 (120)) 의 절대 각도 위치 정보를 생성할 수 있어, 앱솔루트 동작을 실시할 수 있다.More specifically, in the rotary encoder, when the magnet 20 (output shaft 120) makes one rotation, the magnetosensitive element 4 of the magnetic sensor 3 outputs the sinusoidal signal (Fig. 5 sin, cos) are output for two cycles. Therefore, after the sine wave signals sin and cos are amplified by the amplifier section 90 (amplifier sections 90 (+ A), 90 (-A), 90 (+ B), 90 (-B) And outputs such a digital signal to the microcomputer 91, the microcomputer 91 obtains the Lisa ledness shown in Fig. 5 (d). Therefore, the angular position (?) Of the magnet 20 (output shaft 120) can be known by obtaining? = Tan -1 (sin / cos) from the sinusoidal signals sin and cos. In the present embodiment, the first Hall element 81 and the second Hall element 82 are arranged at a position deviated by 90 degrees from the rotation center axis (axial line L) of the magnet 20 (output shaft 120) . Therefore, the combination of the outputs of the first Hall element 81 and the second Hall element 82 can determine which section of the sinusoidal wave signal (sin, cos) the current position is located. Therefore, the rotary encoder 1 is capable of detecting the magnet 20 (20) based on the detection result of the magnetoresistive element 4, the detection result of the first hall element 81, and the detection result of the second hall element 82 (Output shaft 120) can be generated, and an absolute operation can be performed.

(자기 저항 소자 (4) 의 평면 구성) (Plane configuration of the magnetoresistive element 4)

도 6 은, 본 발명을 적용한 자기 센서 장치 (10) 에 사용한 자기 센서 (3) 의 설명도로, 도 6(a), (b), (c) 는, 자기 센서 (3) 의 평면 구성을 나타내는 설명도, 단면 구성을 나타내는 설명도, 및 단면 구성의 변형예를 나타내는 설명도이다. 또, 도 6(b), (c) 에서는, 자기 저항 소자 (4) (감자막 (41 ∼ 44)), 온도 감시용 저항막 (47), 및 가열용 저항막 (48) 의 층 구조를 모식적으로 나타내고 있다. 또한, 도 6(a) 에서는, 온도 감시용 저항막 (47) 에 대해서는 우 하강의 사선을 부여하고, 가열용 저항막 (48) 에 관해서는 우 상승의 사선을 부여하고 있다.6 (a), 6 (b) and 6 (c) illustrate a plan view of the magnetic sensor 3 used in the magnetic sensor device 10 to which the present invention is applied, An explanatory diagram showing a sectional configuration, and an explanatory diagram showing a modified example of the sectional configuration. 6 (b) and 6 (c), the layer structure of the magnetoresistive element 4 (the magnetoresistive films 41 to 44), the temperature monitoring resistive film 47, and the heating resistive film 48 is And is represented schematically. 6 (a), right-downward oblique lines are given to the temperature-monitoring resistive film 47 and right oblique lines are given to the resistive film 48 for heating.

도 6(a) 에 나타내는 바와 같이, 자기 센서 (3) 에 있어서, 자기 저항 소자 (4) 는, 소자 기판 (40) 과, 소자 기판 (40) 의 일방면 (40a) 에 형성된 감자막 (41 ∼ 44) 을 구비하고 있고, 감자막 (41 ∼ 44) 은, 서로 되돌려 꺽이면서 연장되어 있는 부분에 의해 소자 기판 (40) 의 중앙에 원형의 감자 영역 (45) 을 구성하고 있다. 본 형태에 있어서, 소자 기판 (40) 은 사각형의 평면 형상을 갖는 실리콘 기판이다.6A, in the magnetic sensor 3, the magnetoresistive element 4 includes an element substrate 40, a thin film 41 (not shown) formed on the side 40a of the element substrate 40, 44 and 44 constitute a circular potato region 45 at the center of the element substrate 40 by portions extending back and forth from each other. In the present embodiment, the element substrate 40 is a silicon substrate having a rectangular planar shape.

감자막 (41 ∼ 44) 으로부터는 배선 부분이 일체로 연장되어 있고, 배선 부분의 단부에는, A 상용의 전원 단자 (VccA), A 상용의 그라운드 단자 (GNDA), +A 상 출력용의 출력 단자 (+A), -A 상 출력용의 출력 단자 (-A), B 상용의 전원 단자 (VccB), B 상용의 그라운드 단자 (GNDB), +B 상 출력용의 출력 단자 (+B), 및 -B 상 출력용의 출력 단자 (-B) 가 형성되어 있다.The power supply terminal VccA for the A phase, the ground terminal GNDA for the A phase, and the output terminal + A (for A phase output) are connected to the end portions of the wiring portions integrally from the power source films 41 to 44, -A phase output terminal (-A), B phase power terminal VccB, B phase ground terminal GNDB, + B phase output terminal (+ B), and -B phase output terminal (-B) are formed.

또한, 본 형태의 자기 센서 (3) 는, 소자 기판 (40) 의 일방면 (40a) 에 온도 감시용 저항막 (47) (감온부) 및 가열용 저항막 (48) (히터) 이 형성되어 있다. 여기서, 가열용 저항막 (48) 은, 소자 기판 (40) 의 변을 따라서 사각 테두리형상으로 연장되어 폐루프를 구성한 상태로, 감자막 (41 ∼ 44) 이 형성되어 있는 영역의 전체를 둘러싸고 있다. 이 때문에, 가열용 저항막 (48) 과 감자막 (41 ∼ 44) 은 소자 기판 (40) 의 면내 방향에서 어긋난 영역에 형성되어 있고, 평면으로 볼 때 겹쳐 있지 않다. 또한, 가열용 저항막 (48) 의 서로 대향하는 2 개의 변 부분의 일방으로부터는 배선 부분 (481) 이 연장되고, 그 단부에는, 가열용 저항막 (48) 에 대한 급전용 전원 단자 (VccH) 가 형성되어 있다. 이에 대하여, 2 개의 변 부분의 타방으로부터 연장되는 배선 부분 (482) 의 단부는, A 상용의 그라운드 단자 (GNDA) 에 접속되어 있다. 이 때문에, A 상용의 그라운드 단자 (GNDA) 는, 가열용 저항막 (48) 에 대한 그라운드 단자 (GNDH) 로서도 이용되고 있다. 여기서, 배선 부분 (481) 과 가열용 저항막 (48) 의 접속 위치와, 배선 부분 (482) 과 가열용 저항막 (48) 의 접속 위치는, 감자 영역 (45) 에 대하여 점대칭 위치에 있다. 이 때문에, 배선 부분 (481) 과 가열용 저항막 (48) 의 접속 위치로부터 배선 부분 (482) 과 가열용 저항막 (48) 의 접속 위치를 향해서 오른쪽으로 돌았을 때의 가열용 저항막 (48) 의 길이와, 배선 부분 (481) 과 가열용 저항막 (48) 의 접속 위치로부터 배선 부분 (482) 과 가열용 저항막 (48) 의 접속 위치를 향하여 왼쪽으로 돌았을 때의 가열용 저항막 (48) 의 길이가 동일하다.In the magnetic sensor 3 of this embodiment, a temperature monitoring resistive film 47 (warming portion) and a heating resistive film 48 (heater) are formed on one surface 40a of the element substrate 40 have. Here, the heating resistive film 48 surrounds the entirety of the region in which the resistive films 41 to 44 are formed in a state of extending in the shape of a rectangular frame along the sides of the element substrate 40 to constitute a closed loop . Therefore, the heating resistive film 48 and the insulating films 41 to 44 are formed in regions deviated from the in-plane direction of the element substrate 40, and do not overlap in plan view. The wiring portion 481 is extended from one of the two opposing sides of the heating resistive film 48 and a power supply terminal VccH for the heating resistive film 48 is formed at the end thereof. Respectively. On the other hand, the end portion of the wiring portion 482 extending from the other of the two side portions is connected to the ground terminal GNDA for the A phase. Therefore, the ground terminal GNDA for the A phase is also used as the ground terminal GNDH for the heating resistive film 48. The connecting position of the wiring portion 481 and the heating resistive film 48 and the connecting position of the wiring portion 482 and the heating resistive film 48 are in point symmetrical positions with respect to the potato region 45. [ The resistive film 48 for heating when turned toward the connection position between the wiring portion 482 and the heating resistive film 48 from the connecting position of the wiring portion 481 and the resistive heating film 48 Of the resistive film 48 and the connection position of the wiring portion 482 and the heating resistive film 48 from the connecting position of the wiring portion 481 and the resistive film 48 for heating, (48) are the same.

온도 감시용 저항막 (47) 은, 가열용 저항막 (48) 의 내측 영역 중, 가열용 저항막 (48) 의 4 개의 모서리 중 1 개의 모서리 부근에 형성되어 있고, 감자 영역 (45) 과 가열용 저항막 (48) 사이에 위치한다. 온도 감시용 저항막 (47) 은, 복수 회 되돌려 꺾이면서 연장된 평면 형상으로 되어 있다. 이 때문에, 점유 면적이 좁아도 온도 감시용 저항막 (47) 을 길게 형성할 수 있다. 여기서, 온도 감시용 저항막 (47) 은 감자막 (44) 의 배선 부분과 부분적으로 겹쳐 있지만, 감자 영역 (45) 과는 소자 기판 (40) 의 면내 방향에서 어긋난 영역에 형성되어 있어, 감자 영역 (45) 과는 겹쳐져 있지 않다. 온도 감시용 저항막 (47) 일방의 단부에는, 온도 감시용의 전원 단자 (VccS) 가 형성되어 있다. 또한, 온도 감시용 저항막 (47) 의 타방의 단부는, B 상용의 그라운드 단자 (GNDB) 에 접속되어 있다. 이 때문에, B 상용의 그라운드 단자 (GNDB) 는, 온도 감시용 저항막 (47) 에 대한 그라운드 단자 (GNDS) 로서도 이용되고 있다.The temperature monitoring resistive film 47 is formed in the vicinity of the edge of one of the four corners of the heating resistive film 48 in the inner region of the heating resistive film 48, Resistance film 48 as shown in Fig. The temperature-monitoring resistive film 47 has a planar shape elongated while being turned back a plurality of times. Therefore, even if the occupied area is small, the temperature monitoring resistive film 47 can be formed long. Here, the temperature monitoring resistive film 47 is partially overlapped with the wiring portion of the tunable film 44, but is formed in a region deviated from the in-plane direction of the element substrate 40 with respect to the tunable region 45, (45) are not overlapped with each other. At one end of the temperature-monitoring resistive film 47, a power supply terminal VccS for temperature monitoring is formed. The other end of the temperature monitoring resistive film 47 is connected to the ground terminal GNDB for the B phase. Therefore, the ground terminal GNDB for the B phase is also used as the ground terminal GNDS for the temperature monitoring resistive film 47.

(자기 센서 (3) 의 단면 구성) (Sectional configuration of the magnetic sensor 3)

본 형태의 자기 센서 (3) 는, 도 6(b) 에 나타내는 단면 구조, 또는 도 6(c) 에 나타내는 단면 구조로 구성되어 있다. 구체적으로는, 도 6(b) 에 나타내는 바와 같이, 먼저, 소자 기판 (40) 의 일방면 (40a) 에는 실리콘 산화막으로 이루어지는 제 1 절연막 (401), 실리콘 산화막으로 이루어지는 제 2 절연막 (402), 및 폴리이미드 수지 등으로 이루어지는 제 3 절연막 (403) 이 형성되어 있다. 본 형태에 있어서, 감자막 (41 ∼ 44) 은 스퍼터법 등에 의해 형성된 퍼멀로이막이고, 온도 감시용 저항막 (47) 및 가열용 저항막 (48) 은 모두 스퍼터법 등에 의해 형성된 티탄막 등, 자기 저항 효과를 나타내지 않는 도전막이다.The magnetic sensor 3 of the present embodiment has a sectional structure shown in Fig. 6 (b) or a sectional structure shown in Fig. 6 (c). Specifically, as shown in FIG. 6B, a first insulating film 401 made of a silicon oxide film, a second insulating film 402 made of a silicon oxide film, and a second insulating film 403 are formed on one surface 40a of the element substrate 40, And a third insulating film 403 made of polyimide resin or the like are formed. In this embodiment, the thin film resistors 41 to 44 are permalloy films formed by a sputtering method or the like, and the temperature monitoring resistive film 47 and the heating resistive film 48 are all formed of a magnetic film such as a titanium film formed by a sputtering method, And is a conductive film which does not exhibit a resistance effect.

여기서, 감자막 (41 ∼ 44), 온도 감시용 저항막 (47), 및 가열용 저항막 (48) 중, 감자막 (41 ∼ 44) 이 가장 소자 기판 (40) 에 가까운 측 (하층측) 에 형성되어 있다. 보다 구체적으로는, 감자막 (41 ∼ 44) 은, 소자 기판 (40) 과 제 1 절연막 (401) 의 층간에 형성되어 있다. 온도 감시용 저항막 (47) 은, 제 1 절연막 (401) 과 제 2 절연막 (402) 의 층간에 형성되어 있다. 가열용 저항막 (48) 은, 감자막 (41 ∼ 44) 과 마찬가지로 소자 기판 (40) 과 제 1 절연막 (401) 의 층간에 형성되어 있다. 이 때문에, 감자막 (41 ∼ 44) 은, 가열용 저항막 (48) 과 동일한 층에 형성되고, 온도 감시용 저항막 (47) 과는 제 1 절연막 (401) 을 사이에 두고 다른 층에 형성되어 있다.It is to be noted that among the thin film resistors 41 to 44, the temperature monitoring resistive film 47 and the heating resistive film 48, the thin film resistors 41 to 44 are closest to the element substrate 40 (lower side) As shown in Fig. More specifically, the passivation films 41 to 44 are formed between the element substrate 40 and the first insulating film 401. The temperature monitoring resistive film 47 is formed between the first insulating film 401 and the second insulating film 402. The heating resistive film 48 is formed between the element substrate 40 and the first insulating film 401 in the same manner as in the case of the active elements 41 to 44. Therefore, the thin film resistors 41 to 44 are formed on the same layer as the heating resistive film 48, and the resistive film 47 for temperature monitoring is formed on the other layer with the first insulating film 401 therebetween .

도 6(c) 에 나타내는 형태에서도, 감자막 (41 ∼ 44) 은, 소자 기판 (40) 과 제 1 절연막 (401) 의 층간에 형성되어 있다. 온도 감시용 저항막 (47) 은, 제 1 절연막 (401) 과 제 2 절연막 (402) 의 층간에 형성되어 있다. 가열용 저항막 (48) 은, 온도 감시용 저항막 (47) 과 마찬가지로 제 1 절연막 (401) 과 제 2 절연막 (402) 의 층간에 형성되어 있다. 이 때문에, 감자막 (41 ∼ 44) 은, 온도 감시용 저항막 (47) 및 가열용 저항막 (48) 과는 제 1 절연막 (401) 을 사이에 두고 다른 층에 형성되고, 온도 감시용 저항막 (47) 과 가열용 저항막 (48) 과는 동일한 층에 형성되어 있다.6 (c), the active matrix films 41 to 44 are formed between the element substrate 40 and the first insulating film 401. The temperature monitoring resistive film 47 is formed between the first insulating film 401 and the second insulating film 402. The heating resistive film 48 is formed between the first insulating film 401 and the second insulating film 402 in the same manner as the temperature monitoring resistive film 47. Therefore, the thin film resistors 41 to 44 are formed on the other layer with the first insulating film 401 interposed between the temperature monitoring resistive film 47 and the heating resistive film 48, The film 47 and the heating resistive film 48 are formed in the same layer.

(자기 센서 (3) 의 온도 조절) (Temperature control of the magnetic sensor 3)

도 7 은, 본 발명을 적용한 자기 센서 장치 (10) 의 반도체 장치 (92) 에 구성한 온도 제어부의 개략 구성을 나타내는 설명도이다. 도 7 에 나타내는 바와 같이, 본 형태의 자기 센서 장치 (10) 에는, 온도 감시용 저항막 (47) 의 저항 변화에 기초하여 가열용 저항막 (48) 에 대한 급전을 제어하는 온도 제어부가 구성되어 있다. 보다 구체적으로는, 온도 감시용 저항막 (47) 의 온도 감시용 전원 단자 (VccS) 에는 저항 (84) 이 접속되어 있고, 저항 (84) 에 있어서 온도 감시용 저항막 (47) 이 접속되어 있는 측과 반대측은 전원 단자 (VccS0) 에 접속되어 있다. 온도 감시용 저항막 (47) 에 있어서 저항 (84) 이 접속되어 있는 측과 반대측에는 온도 감시용의 그라운드 단자 (GNDS) 가 형성되어 있고, 온도 감시용 저항막 (47) 과 저항 (84) 은, 전원 단자 (VccS0) 와 그라운드 단자 (GNDS) 의 사이에서 직렬로 접속되어 있다.Fig. 7 is an explanatory diagram showing a schematic configuration of a temperature control unit constituted in the semiconductor device 92 of the magnetic sensor device 10 to which the present invention is applied. As shown in Fig. 7, the magnetic sensor device 10 of this embodiment is provided with a temperature control section for controlling the power supply to the heating resistive film 48 based on the resistance change of the temperature monitoring resistive film 47 have. More specifically, the resistor 84 is connected to the temperature monitoring power supply terminal VccS of the temperature monitoring resistive film 47, and the resistance monitoring film 47 is connected to the resistor 84 And the other side is connected to the power supply terminal VccS0. A temperature monitoring ground terminal GNDS is formed on the temperature monitoring resistive film 47 on the side opposite to the side to which the resistor 84 is connected and the temperature monitoring resistive film 47 and the resistor 84 , And is connected in series between the power supply terminal VccS0 and the ground terminal GNDS.

가열용 저항막 (48) 의 가열용 전원 단자 (VccH) 에는 바이폴라 트랜지스터로 이루어지는 스위칭 소자 (83) 가 접속되어 있고, 스위칭 소자 (83) 에 있어서 가열용 저항막 (48) 이 접속되어 있는 반대측은 전원 단자 (VccH0) 에 접속되어 있다. 가열용 저항막 (48) 에 있어서 스위칭 소자 (83) 가 접속되어 있는 측과 반대측에는 가열용의 그라운드 단자 (GNDH) 가 형성되어 있고, 가열용 저항막 (48) 과 스위칭 소자 (83) 는, 전원 단자 (VccH0) 와 그라운드 단자 (GNDH) 의 사이에서 직렬로 접속되어 있다.A switching element 83 composed of a bipolar transistor is connected to the heating power supply terminal VccH of the heating resistive film 48. The opposite side of the switching element 83 on which the heating resistive film 48 is connected And is connected to the power supply terminal VccH0. A heating ground terminal GNDH is formed on the heating resistive film 48 on the side opposite to the side to which the switching device 83 is connected and the heating resistive film 48 and the switching element 83 are connected, And is connected in series between the power supply terminal VccH0 and the ground terminal GNDH.

여기서, 온도 감시용 저항막 (47) 과 저항 (84) 의 접속 부분은, 연산 증폭기 (85) 의 일방의 단자에 접속되어 있고, 연산 증폭기 (85) 의 타방의 단자에는 스위칭 소자 (83) 를 온오프하기 위한 임계값이 되는 전압 (Vo) 이 입력되어 있다. 이 상태에서, 소자 기판 (40) 의 온도가 내려가면, 온도 감시용 저항막 (47) 의 저항치가 저하되고, 저항 (84) 에 의해 분압된 접속점의 전압이 내려간다. 그 때 연산 증폭기 (85) 의 타방의 단자에 입력되어 있는 임계값 (Vo) 보다 낮아지면 연산 증폭기 (85) 가 온 상태가 되어 스위칭 소자 (83) 를 온으로 하기 때문에 가열용 저항막 (48) 으로 급전된다.The connecting portion of the temperature monitoring resistive film 47 and the resistor 84 is connected to one terminal of the operational amplifier 85 and the other terminal of the operational amplifier 85 is connected to the switching element 83 And a voltage Vo that is a threshold value for on-off is input. In this state, when the temperature of the element substrate 40 is lowered, the resistance value of the temperature monitoring resistive film 47 is lowered, and the voltage of the connection point divided by the resistor 84 is lowered. The operational amplifier 85 is turned on and the switching element 83 is turned on when the threshold voltage Vo is lower than the threshold value Vo input to the other terminal of the operational amplifier 85 at that time. .

이 상태에서, 소자 기판 (40) 의 온도가 올라가면, 온도 감시용 저항막 (47) 의 저항치가 상승하여, 저항 (84) 과의 접속점의 전압이 상승한다. 그 때 연산 증폭기 (85) 의 타방의 단자에 입력되어 있는 임계값 (Vo) 보다 높아지면 연산 증폭기 (85) 가 오프 상태가 되어 스위칭 소자 (83) 를 오프로 하기 때문에 가열용 저항막 (48) 에 대한 급전이 정지된다. 그 때문에, 자기 센서 (3) (감자막 (41 ∼ 44)) 의 온도는, 온도 감시용 저항막 (47) 및 저항 (84) 의 저항치 등에 의해서 규정된 소정의 온도로 유지된다.In this state, when the temperature of the element substrate 40 rises, the resistance value of the temperature monitoring resistive film 47 rises and the voltage at the connection point with the resistor 84 rises. The operational amplifier 85 is turned off and the switching element 83 is turned off so that the resistance of the heating resistive film 48 is lower than the threshold value Vo inputted to the other terminal of the operational amplifier 85. [ Is stopped. Therefore, the temperature of the magnetic sensor 3 (the thin film 41 to 44) is maintained at a predetermined temperature defined by the resistance value of the temperature monitoring resistive film 47 and the resistance 84, and the like.

(회로 기판 (50) 의 상세 구성) (Detailed configuration of the circuit board 50)

도 8 은, 본 발명을 적용한 자기 센서 장치 (10) 에 사용한 회로 기판 (50) 의 설명도로, 도 8(a), (b) 는, 회로 기판 (50) 을 축선 (L) 방향의 일방측 (L1) 에서 본 평면도, 및 회로 기판 (50) 을 축선 (L) 방향의 타방측 (L2) 에서 본 저면도이다.8A and 8B illustrate the circuit board 50 used in the magnetic sensor device 10 according to the present invention and the circuit board 50 on one side in the direction of the axis L (L1), and a bottom view of the circuit board (50) viewed from the other side (L2) in the direction of the axis (L).

도 8 에 나타내는 바와 같이, 회로 기판 (50) 에는, 자기 센서 (3), 마이크로컴퓨터 (91) (제 1 전자 부품), 반도체 장치 (92) (제 2 전자 부품), 트랜지스터 (93), 및 커넥터 (94) 등이 실장되어 있다. 본 형태에 있어서, 마이크로컴퓨터 (91), 반도체 장치 (92), 트랜지스터 (93) 및 커넥터 (94) 는, 회로 기판 (50) 의 일방면 (501) (모터 (100) 의 반출력측을 향한 면) 에 실장되고, 자기 센서 (3) 는, 회로 기판 (50) 의 타방면 (502) (모터 (100) 의 출력측을 향한 면) 에 실장되어 있다.8, the circuit board 50 is provided with a magnetic sensor 3, a microcomputer 91 (first electronic component), a semiconductor device 92 (second electronic component), a transistor 93, A connector 94 and the like are mounted. In the present embodiment, the microcomputer 91, the semiconductor device 92, the transistor 93, and the connector 94 are mounted on the side 501 of the circuit board 50 And the magnetic sensor 3 is mounted on the other surface 502 of the circuit board 50 (surface facing the output side of the motor 100).

회로 기판 (50) 은, 페놀 기판이나 유리-에폭시 기판 등에 배선이 형성된 프린트 배선 기판이다. 여기서, 회로 기판 (50) 에는, 회로 기판 (50) 의 중앙 영역의 주위에 회로 기판 (50) 의 일부 (50e, 50f) 를 남기고 연장되는 2 개의 슬릿 (52, 53) 이 형성되어 있고, 회로 기판 (50) 의 중앙 영역은 슬릿 (52, 53) 에 둘러싸인 내측 실장 영역 (50a) 으로 되어 있다. 본 형태에 있어서, 슬릿 (52, 53) 은, 서로 대향하여 X 방향으로 연장되는 2 개의 변 부분 (52a, 53a) 과, 서로 대향하여 Y 방향으로 연장되는 2 개의 변 부분 (52c, 53c) 과, 비스듬하게 연장되는 변 부분 (52b, 53b) 을 구비하고 있어, 내측 실장 영역 (50a) 은 대략 6 각형이다.The circuit board 50 is a printed wiring board on which wirings are formed, such as a phenol substrate or a glass-epoxy substrate. Two slits 52 and 53 are formed in the circuit board 50 around the central region of the circuit board 50 so as to extend leaving portions 50e and 50f of the circuit board 50, The central region of the substrate 50 is an inner mounting region 50a surrounded by the slits 52 and 53. [ In this embodiment, the slits 52 and 53 have two side portions 52a and 53a extending in the X direction and two side portions 52c and 53c extending in the Y direction so as to face each other, And side portions 52b and 53b which extend obliquely, and the inside mounting region 50a is substantially hexagonal.

본 형태에서는, 내측 실장 영역 (50a) 에 자기 센서 (3) 및 반도체 장치 (92) 가 실장되어 있고, 자기 센서 (3) 와 반도체 장치 (92) 는, 축선 (L) 방향에서 겹쳐 있다. 또한, 회로 기판 (50) 은, 회로 기판 (50) 의 바깥가장자리 (50c) 와 슬릿 (52, 53) 사이에 끼인 영역이 외측 실장 영역 (50b) 으로 되어 있다. 외측 실장 영역 (50b) 에는, 마이크로컴퓨터 (91) (제 1 전자 부품), 트랜지스터 (93), 및 커넥터 (94) 등이 실장되어 있다. 슬릿 (53) 은, 자기 센서 (3) 와 마이크로컴퓨터 (91) 를 연결하는 가상선에 대하여 교차하는 방향으로 연장되어 있다.In this embodiment, the magnetic sensor 3 and the semiconductor device 92 are mounted in the inside mounting area 50a, and the magnetic sensor 3 and the semiconductor device 92 are overlapped in the direction of the axis L. The area of the circuit board 50 sandwiched between the outer edge 50c of the circuit board 50 and the slits 52 and 53 is the outer mounting area 50b. A microcomputer 91 (first electronic component), a transistor 93, a connector 94, and the like are mounted on the outside mounting area 50b. The slit 53 extends in a direction intersecting a virtual line connecting the magnetic sensor 3 and the microcomputer 91. [

보다 구체적으로는, 외측 실장 영역 (50b) 에서는, 회로 기판 (50) 의 Y 방향의 일방측 단부를 따라 커넥터 (94) 가 실장되고, 내측 실장 영역 (50a) 에 대하여 커넥터 (94) 와는 반대측에는, 마이크로컴퓨터 (91) 와 트랜지스터 (93) 가 X 방향에서 이간되는 위치에 배치되어 있다. 또한, 외측 실장 영역 (50b) 에 있어서, 마이크로컴퓨터 (91) 와 트랜지스터 (93) 에 의해 X 방향에서 사이에 끼인 영역에 대하여 내측 실장 영역 (50a) 과는 반대측 영역에는 복수의 스루 홀 (54) 이 X 방향으로 배열되어 있다. 이러한 스루 홀 (54) 은, 마이크로컴퓨터 (91) 에 대한 정보의 기입용이다. 또한, 회로 기판 (50) 의 일방면 (501) 에 있어서, 외측 실장 영역 (50b) 에는, 슬릿 (53) 의 변 부분 (53b, 53c) 에 대하여 내측 실장 영역 (50a) 과는 반대측에 복수의 검사 단자 (55) 가 형성되어 있다.More specifically, in the outer mounting area 50b, the connector 94 is mounted along one end in the Y direction of the circuit board 50, and on the opposite side of the inner mounting area 50a to the connector 94 , And the microcomputer 91 and the transistor 93 are disposed at positions separated from each other in the X direction. A plurality of through holes 54 are formed in the region on the side opposite to the inside mounting region 50a with respect to the region sandwiched by the microcomputer 91 and the transistor 93 in the X direction in the outside mounting region 50b, Are arranged in the X direction. The through hole 54 is for writing information on the microcomputer 91. [ The outer mounting region 50b of the circuit board 50 is provided with a plurality of side portions 53b and 53c on the opposite side of the inner mounting region 50a to the side portions 53b and 53c of the slit 53 An inspection terminal 55 is formed.

도 3, 도 8 에 나타내는 바와 같이, 회로 기판 (50) 의 외측 실장 영역 (50b) 에는, 복수의 제 1 관통부 (56a, 56b, 56d) 가 형성되어 있다. 제 1 관통부 (56b) 는, 제 1 관통부 (56a) 에 대하여 X 방향에서 이간되는 위치에 형성되고, 제 1 관통부 (56d) 는, 제 1 관통부 (56a) 에 대하여 Y 방향에서 이간되는 위치에 형성되어 있다. 본 형태에 있어서, 복수의 제 1 관통부 (56a, 56b, 56d) 는, 회로 기판 (50) 의 바깥가장자리 (50c) 로부터 이간되는 구멍으로서 형성되어 있다.As shown in Figs. 3 and 8, a plurality of first penetrating portions 56a, 56b, and 56d are formed in the outer mounting region 50b of the circuit board 50. As shown in Fig. The first penetrating portion 56b is formed at a position spaced apart from the first penetrating portion 56a in the X direction and the first penetrating portion 56d is formed at a position spaced apart from the first penetrating portion 56a in the Y direction As shown in Fig. In the present embodiment, the plurality of first penetrating portions 56a, 56b, 56d are formed as holes which are spaced apart from the outer edge 50c of the circuit board 50.

또한, 회로 기판 (50) 의 외측 실장 영역 (50b) 에는, 제 1 관통부 (56a, 56d) 사이에 제 2 관통부 (57a) 가 형성되고, 내측 실장 영역 (50a) 에 대하여 제 2 관통부 (57a) 와는 반대측에도 제 2 관통부 (57b) 가 형성되어 있다. 본 형태에 있어서, 복수의 제 2 관통부 (57a, 57b) 는, 회로 기판 (50) 의 바깥가장자리 (50c) 에서 원호상으로 오묵하게 패인 노치로서 형성되어 있다.A second penetrating portion 57a is formed between the first penetrating portions 56a and 56d in the outer mounting region 50b of the circuit board 50 and a second penetrating portion 57b is formed between the second penetrating portions 56a and 56d with respect to the inner mounting region 50a. And a second penetrating portion 57b is formed on the side opposite to the second penetrating portion 57a. In the present embodiment, the plurality of second through-holes 57a and 57b are formed as a notch recessed in an arc on the outer edge 50c of the circuit board 50.

이러한 제 1 관통부 (56a, 56b, 56d) 및 제 2 관통부 (57a, 57b) 는, 이하에 설명하는 홀더 (6) 에 회로 기판 (50) 을 위치 결정해 고정시킬 때에 이용된다.The first through holes 56a, 56b and 56d and the second through holes 57a and 57b are used for positioning and fixing the circuit board 50 to the holder 6 described below.

(홀더 (6) 의 구성) (Configuration of holder 6)

도 9 는, 본 발명을 적용한 자기 센서 장치 (10) 에 사용한 홀더 (6) 의 설명도로, 도 9(a), (b), (c) 는, 홀더 (6) 를 축선 (L) 방향의 일방측 (L1) 에서 본 평면도, 홀더 (6) 를 축선 (L) 방향의 타방측 (L2) 에서 본 저면도, 및 홀더 (6) 의 A-A' 단면도이다. 도 3, 도 9 에 나타내는 바와 같이, 홀더 (6) 는, 축선 (L) 과 동심상의 원형구멍을 구비한 통형상 몸통부 (60) 를 가지고 있고, 통형상 몸통부 (60) 의 일방측 (L1) 단부에서 회로 기판 (50) 을 유지한다. 여기서, 홀더 (6) 의 통형상 몸통부 (60) 의 일방측 (L1) 단부에는, 축선 (L) 방향의 일방측 (L1) 을 향해 돌출되어 일방측 (L1) 단면에서 회로 기판 (50) 의 타방면 (502) 을 지지하는 복수의 회로 기판 지지부 (66a, 66b, 66c, 66d) 가 형성되어 있다. 회로 기판 지지부 (66a, 66b, 66c, 66d) 는, 축선 (L) 둘레에서 대략 등각도 간격으로 형성되어 있다.9 (a), 9 (b) and 9 (c) illustrate the holder 6 used in the magnetic sensor device 10 according to the present invention, A bottom view of the holder 6 seen from the other side L2 in the direction of the axis L and a sectional view taken along the line AA 'of the holder 6. Fig. 3 and 9, the holder 6 has a cylindrical body portion 60 having a circular hole concentric with the axial line L, and the holder body 6 has a cylindrical body portion 60, RTI ID = 0.0 > L1. ≪ / RTI > Here, on one end L1 of the tubular body 60 of the holder 6, the circuit board 50 is projected toward one side L1 in the direction of the axis L, A plurality of circuit board support portions 66a, 66b, 66c, and 66d that support the other surface 502 of the circuit board support portion 502 are formed. The circuit board support portions 66a, 66b, 66c, and 66d are formed at approximately equal angular intervals around the axis L.

또한, 홀더 (6) 의 통형상 몸통부 (60) 의 일방측 (L1) 단부에는, 회로 기판 지지부 (66a, 66d) 의 사이에도, 축선 (L) 방향의 일방측 (L1) 을 향해 돌출되고 일방측 (L1) 의 단면에서 회로 기판 (50) 의 타방면 (502) 을 지지하는 회로 기판 지지부 (68a) 가 형성되고, 회로 기판 지지부 (66b, 66c) 의 사이에도, 축선 (L) 방향의 일방측 (L1) 을 향해 돌출되어 일방측 (L1) 의 단면에서 회로 기판 (50) 의 타방면 (502) 을 지지하는 회로 기판 지지부 (68b) 가 형성되어 있다.The one end side L1 of the cylindrical body portion 60 of the holder 6 is also protruded toward one side L1 of the axis L direction between the circuit board support portions 66a and 66d A circuit board support portion 68a for supporting the other surface 502 of the circuit board 50 is formed at the end face of the one side L1 and also between the circuit board support portions 66b and 66c, A circuit board support portion 68b protruding toward the side L1 is formed on the end face of the one side L1 to support the other side 502 of the circuit board 50. [

도 3, 도 9 에 나타내는 바와 같이, 회로 기판 지지부 (66a, 66b, 66c, 66d) 및 회로 기판 지지부 (68a, 68b) 중, 회로 기판 지지부 (66a, 66b, 66d) 는, 회로 기판 지지부 (66a, 66b, 66d) 의 외형 치수보다 가는 외형 치수를 갖고, 그 단면 (661) 으로부터 축선 (L) 방향의 일방측 (L1) 을 향해 돌출되는 축부 (67a, 67b, 67d) 가 형성된 제 1 회로 기판 지지부로 되어 있다. 이러한 회로 기판 지지부 (66a, 66b, 66d) (제 1 회로 기판 지지부) 에 있어서, 축부 (67a, 67b, 67d) 는 각각, 회로 기판 (50) 의 제 1 관통부 (56a, 56b, 56d) 에 끼워져 있다. 따라서, 회로 기판 지지부 (66a, 66b, 66d) 가 회로 기판 (50) 의 타방면 (502) 에 맞닿아 회로 기판 (50) 을 축선 (L) 방향의 타방측 (L2) 에서 지지하고, 축부 (67a, 67b, 67d) 는 회로 기판 (50) 을 축선 (L) 에 직교하는 방향에서 위치 결정하고 있다.The circuit board support portions 66a, 66b, and 66d of the circuit board support portions 66a, 66b, 66c, and 66d and the circuit board support portions 68a and 68b are connected to the circuit board support portions 66a 67b and 67d protruding toward one side L1 of the axial line L from the end face 661 are formed on the first circuit board 66a, 66b, 66d, And is a supporting portion. The shaft portions 67a, 67b, 67d are provided on the first penetration portions 56a, 56b, 56d of the circuit board 50 in the circuit board support portions 66a, 66b, 66d (the first circuit board support portion) Is inserted. The circuit board support portions 66a, 66b and 66d are brought into contact with the other surface 502 of the circuit board 50 to support the circuit board 50 at the other side L2 in the direction of the axis L, 67b and 67d position the circuit board 50 in a direction orthogonal to the axis L. [

또, 회로 기판 지지부 (66c) 는, 축선 (L) 방향을 향한 단면 (661) 으로부터 축부가 돌출되어 있지 않은 제 3 회로 기판 지지부로 되어 있다. 그 때문에, 회로 기판 (50) 에 있어서 회로 기판 지지부 (66c) (제 3 회로 기판 지지부) 와 겹치는 위치에는 관통부가 형성되어 있지 않다. 이 때문에, 회로 기판 지지부 (66c) 의 축선 (L) 방향의 일방측 (L1) 단면은, 회로 기판 (50) 의 타방면 (502) 에 있어서 회로 기판 지지부 (66c) 와 대향하는 영역인 맞닿음부 (503) 에 맞닿아, 회로 기판 (50) 을 축선 (L) 방향의 타방측 (L2) 에서 지지하고 있을 뿐이다.The circuit board support portion 66c is a third circuit board support portion that does not protrude from the end face 661 toward the axis L direction. Therefore, no penetrating portion is formed at a position overlapping the circuit board supporting portion 66c (third circuit board supporting portion) in the circuit board 50. [ The one side L1 of the circuit board support portion 66c in the direction of the axis L is connected to the circuit board support portion 66c in the other surface 502 of the circuit board 50, And only the circuit board 50 is supported on the other side L2 in the direction of the axis L by abutting against the circuit board 503.

회로 기판 지지부 (68a, 68b) 에는, 회로 기판 지지부 (68a, 68b) 의 외형 치수보다 가는 외형 치수를 갖고 축선 (L) 방향의 일방측 (L1) 을 향해 돌출되는 통부 (69a, 69b) 를 구비한 제 2 회로 기판 지지부가 포함되고, 통부 (69a, 69b) 는, 회로 기판 (50) 의 제 2 관통부 (57a, 57b) (노치) 내측에 위치한다.The circuit board support portions 68a and 68b are provided with cylindrical portions 69a and 69b which have external dimensions smaller than the external dimensions of the circuit board support portions 68a and 68b and protrude toward one side L1 of the axis L direction And the cylindrical portions 69a and 69b are located inside the second through-holes 57a and 57b (notch) of the circuit board 50. The second circuit board support portion includes a second circuit board support portion.

여기서, 통부 (69a, 69b) 에는, 도 3 에 나타내는 바와 같이, 회로 기판 (50) 에 대하여 홀더 (6) 와는 반대측 (축선 (L) 방향의 일방측 (L1)) 으로부터 제 2 관통부 (57a, 57b) 를 지나 나사 (58, 59) 가 멈춰져 있고, 나사 (58, 59) 의 나사머리 (58a, 59a) 는, 회로 기판 (50) 을 회로 기판 지지부 (68a, 68b) 에 세게 누르고 있다. 또한, 나사 (58, 59) 의 축부 (58b, 59b) 는, 제 2 관통부 (57a, 57b) (노치) 에 끼워져 회로 기판 (50) 을 X 방향의 양측에서 위치 결정하고 있는 것과 함께, 회로 기판 (50) 을 Y 방향에서 위치 결정하고 있다.As shown in Fig. 3, the cylindrical portions 69a and 69b are formed with second through-holes 57a (57a and 69b) on the side opposite to the holder 6 (one side L1 in the axial direction L) The screw heads 58a and 59a of the screws 58 and 59 press the circuit board 50 firmly against the circuit board support portions 68a and 68b . The shaft portions 58b and 59b of the screws 58 and 59 are sandwiched by the second through portions 57a and 57b (notch) to position the circuit board 50 on both sides in the X direction, And the substrate 50 is positioned in the Y direction.

자기 센서 장치 (10) 에서는, 홀더 (6) 에 형성된 회로 기판 지지부 (66a, 66b, 66d) 및 이들과 겹치는 위치에 형성된 회로 기판 (50) 의 제 1 관통부 (56a, 56b, 56d) 는, 3 조의 끼워맞춤부를 구성하고 있다. 이들 끼워맞춤부는, 회로 기판 (50) 의 4 모서리 (축선 (L) 둘레에서 대략 등각도 간격으로 설정된 4 군데) 중의 3 군데에 배치되어 있다. 한편, 회로 기판 (50) 의 4 모서리 중 나머지 1 군데는, 회로 기판 지지부 (66c) 에 축부가 없기 때문에 관통부가 형성되어 있지 않고, 회로 기판 지지부 (66c) 의 단면 (661) 과 맞닿는 맞닿음부 (503) 로 되어 있다. 또한, 홀더 (6) 에 형성된 회로 기판 지지부 (68a, 68b) 및 이들과 겹치는 위치에 형성된 회로 기판 (50) 의 제 2 관통부 (57a, 57b) (노치) 는 2 조의 끼워맞춤부를 구성하고 있고, 이들은 회로 기판 (50) 의 X 방향의 양측의 끝가장자리에 배치되어 있다. 이상의 5 조의 끼워맞춤부는, 홀더 (6) 에 대하여 회로 기판 (50) 을 축선 (L) 에 직교하는 방향에서 위치 결정하고 있다.The first penetration portions 56a, 56b, and 56d of the circuit board support portions 66a, 66b, and 66d formed in the holder 6 and the circuit board 50 formed at the positions overlapping the circuit board support portions 66a, Thereby constituting three sets of engaging portions. These fitting portions are arranged at three places among four corners of the circuit board 50 (four places set at an approximately constant angular spacing around the axis L). The other one of the four corners of the circuit board 50 is not provided with a through portion because there is no shaft portion on the circuit board support portion 66c and the other end portion of the circuit board support portion 66c is in contact with the end face 661 of the circuit board support portion 66c, (503). The circuit board support portions 68a and 68b formed on the holder 6 and the second penetration portions 57a and 57b (notch) of the circuit board 50 formed at the positions overlapping the circuit board support portions constitute two sets of fitting portions , And these are arranged at the end edges of both sides of the circuit board 50 in the X direction. The above-described five fitting portions align the circuit board 50 with respect to the holder 6 in the direction orthogonal to the axial line L.

도 10 은 본 발명을 적용한 자기 센서 장치 (10) 에 사용한 회로 기판 (50) 의 평면도로, 축선 (L) 방향의 일방측 (L1) 에서 본 상태를 나타낸다. 여기서, 홀더 (6) 에 형성된 회로 기판 지지부 (66a, 66b, 66d) 의 축부 (67a, 67b, 67d) 와 회로 기판 (50) 에 형성된 제 1 관통부 (56a, 56b, 56d) 의 내주면의 간극은, 모두 치수 D1 이다. 또한, 회로 기판 지지부 (68a, 68b) 의 통부 (69a, 69b) 와 제 2 관통부 (57a, 57b) 의 내주면의 간극은, 모두 치수 D2 이다. 본 형태에서는, D1 > D2 가 되도록 양 간극의 치수가 설정되어 있다. 따라서, 회로 기판 지지부 (68a, 68b) (제 2 회로 기판 지지부) 를 위치 결정 기준으로 하여, 회로 기판 (50) 의 위치 결정이 이루어진다.10 is a plan view of the circuit board 50 used in the magnetic sensor device 10 to which the present invention is applied and shows a state viewed from one side L1 of the axis L direction. The gap between the shaft portions 67a, 67b and 67d of the circuit board support portions 66a, 66b and 66d formed in the holder 6 and the inner circumferential surfaces of the first penetration portions 56a, 56b and 56d formed in the circuit board 50 Are all dimension D1. The clearances between the cylindrical portions 69a and 69b of the circuit board support portions 68a and 68b and the inner peripheral surfaces of the second through holes 57a and 57b are both dimension D2. In this embodiment, the dimensions of both gaps are set so that D1 > D2. Therefore, the positioning of the circuit board 50 is performed with the circuit board supporting portions 68a and 68b (second circuit board supporting portion) as a positioning reference.

홀더 (6) 에 있어서, 축선 (L) 방향의 타방측 (L2) 단부에는, 둘레 방향의 복수 지점에서부터 축선 (L) 방향의 타방측 (L2) 으로 돌출된 센서 장치 고정용의 돌부 (63a, 63b, 63c) 가 형성되어 있고, 돌부 (63a, 63b, 63c) 는, 통형상 몸통부 (60) 로부터 직경 방향의 외측으로도 돌출되어 있다. 돌부 (63a, 63b, 63c) 에 있어서, 통형상 몸통부 (60) 로부터 직경 방향 외측으로 돌출된 부분에는 구멍 (64a, 64b, 64c) 이 형성되어 있다.In the holder 6, the sensor unit fixing projecting portions 63a and 63b protruding from the plurality of points in the circumferential direction to the other side L2 in the axial direction L are formed at the other end L2 of the axis L direction, 63b and 63c are formed in the cylindrical body 60. The protrusions 63a, 63b and 63c also protrude outward in the radial direction from the cylindrical body 60. Holes 64a, 64b and 64c are formed in the projecting portions of the projecting portions 63a, 63b and 63c outwardly in the radial direction from the cylindrical body portion 60. [

돌부 (63a, 63b, 63c) 는 센서 장치 고정용으로, 돌부 (63a, 63b, 63c) 및 구멍 (64a, 64b, 64c) 은, 도 1 에 나타내는 모터 케이스 (130) 에 홀더 (6) 를 고정시킬 때에 사용된다. 보다 구체적으로는, 돌부 (63a, 63b, 63c) 에 있어서, 축선 (L) 방향의 타방측 (L2) 단면이 모터 케이스 (130) 에 접하고, 이 상태에서, 모터 케이스 (130) 에는 구멍 (64a, 64b, 64c) 을 통해 나사 (190) (도 1(c) 및 도 2 참조) 가 멈춰진다. 또, 홀더 (6) 의 축선 (L) 방향의 타방측 (L2) 면에는 홀더 (6) 를 수지 성형할 때의 싱크 마크를 억제하기 위한 오목부 (62) 가 형성되어 있다.The protrusions 63a, 63b and 63c and the protrusions 63a and 63b and 63c and the protrusions 63a and 63b and 63c are used for fixing the sensor 6 to the motor case 130 shown in Fig. . More specifically, in the projecting portions 63a, 63b and 63c, the other end L2 in the direction of the axis L is in contact with the motor case 130. In this state, the motor case 130 is provided with holes 64a (See Fig. 1 (c) and Fig. 2) are stopped through the screws 64, 64b, 64c. A concave portion 62 is formed on the other side (L2) of the holder 6 in the direction of the axis L to suppress the sink marks when the holder 6 is resin molded.

(본 형태의 주된 효과) (Main effect of this embodiment)

이상 설명한 바와 같이, 본 형태의 자기 센서 장치 (10) (센서 장치) 는, 회로 기판 (50) 과, 회로 기판 (50) 에 실장된 자기 센서 (3) (센서) 와, 회로 기판 (50) 에 실장된 마이크로컴퓨터 (91) (제 1 전자 부품) 를 갖고 있다. 또한, 자기 센서 (3) 에는 온도 감시용 저항막 (47) (감온부) 및 가열용 저항막 (48) (히터) 이 형성되어 있고, 가열용 저항막 (48) 은, 온도 감시용 저항막 (47) 에서의 검출 결과에 기초하여 자기 저항 소자 (4) 의 온도가 일정해지도록 자기 저항 소자 (4) 를 가열한다. 이 때문에, 자기 센서 (3) 의 검출 결과는 환경 온도의 영향을 잘 받지 않는다.As described above, the magnetic sensor device 10 (sensor device) of the present embodiment includes the circuit board 50, the magnetic sensor 3 (sensor) mounted on the circuit board 50, and the circuit board 50 And a microcomputer 91 (a first electronic component) The resistive film 47 for temperature monitoring and the resistive film 48 for heating are formed on the magnetic sensor 3 and the resistive film 48 for heating is formed on the surface of the resistance- The magnetoresistive element 4 is heated so that the temperature of the magnetoresistive element 4 becomes constant based on the detection result of the magnetostrictive element 47. [ Therefore, the detection result of the magnetic sensor 3 is not well affected by the environmental temperature.

여기서, 회로 기판 (50) 에는, 자기 센서 (3) 와 마이크로컴퓨터 (91) 를 연결하는 가상선에 대하여 교차하는 방향으로 연장되는 슬릿 (53) 이 형성되어 있다. 이 때문에, 회로 기판 (50) 에 있어서, 자기 센서 (3) 가 실장되어 있는 영역과 마이크로컴퓨터 (91) 가 실장되어 있는 영역 사이에는, 슬릿 (53) 을 이용한 차열부가 형성되어 있다. 따라서, 자기 센서 (3) 가 실장되어 있는 영역과 마이크로컴퓨터 (91) 가 실장되어 있는 영역 사이의 열 전도가 억제되어 있다. 또한, 회로 기판 (50) 에는, 자기 센서 (3) 의 주위에 회로 기판 (50) 을 일부 남기고 자기 센서 (3) 를 둘러싸듯이 연장되어 있다. 이 때문에, 자기 센서 (3) 가 실장되어 있는 내측 실장 영역 (50a) 과 마이크로컴퓨터 (91) 등이 실장되어 있는 외측 실장 영역 (50b) 사이의 열 전도가 보다 억제된다. 따라서, 회로 기판 (50) 에 있어서 자기 센서 (3) 가 실장되어 있는 내측 실장 영역 (50a) 의 온도가 외측 실장 영역 (50b) 의 영향을 잘 받지 않으므로, 자기 저항 소자 (4) 의 온도를 가열용 저항막 (48) 에 의해서 정밀하게 제어할 수 있다. 그 때문에, 본 형태의 자기 센서 장치 (10) 에 의하면, 환경 온도가 변화하더라도 안정된 검출 정밀도를 얻을 수 있다. 또한, 자기 센서 (3) 에 있어서, 자기 저항 소자 (4) 를 가열용 저항막 (48) 에 의해서 가열한 경우라도, 이러한 열이 마이크로컴퓨터 (91) 에 전달되기 힘들다. 그 때문에, 마이크로컴퓨터 (91) 에서의 오작동 등의 신뢰성 저하를 방지할 수 있다.Here, the circuit board 50 is formed with a slit 53 extending in a direction intersecting a virtual line connecting the magnetic sensor 3 and the microcomputer 91. Therefore, on the circuit board 50, a car heat part using the slit 53 is formed between the area where the magnetic sensor 3 is mounted and the area where the microcomputer 91 is mounted. Therefore, the heat conduction between the area where the magnetic sensor 3 is mounted and the area where the microcomputer 91 is mounted is suppressed. The circuit board 50 is extended around the magnetic sensor 3 so as to surround the magnetic sensor 3 with a part of the circuit board 50 left. This further suppresses the thermal conduction between the inside mounting area 50a on which the magnetic sensor 3 is mounted and the outside mounting area 50b on which the microcomputer 91 is mounted. Therefore, since the temperature of the inside mounting area 50a on which the magnetic sensor 3 is mounted on the circuit board 50 is not well affected by the outside mounting area 50b, the temperature of the magnetoresistive element 4 is heated The resistive film 48 can be precisely controlled. Therefore, according to the magnetic sensor device 10 of the present embodiment, stable detection accuracy can be obtained even when the environmental temperature changes. In the magnetic sensor 3, even when the magnetoresistive element 4 is heated by the heating resistive film 48, such heat is hardly transmitted to the microcomputer 91. Therefore, the reliability of the microcomputer 91 such as malfunction can be prevented from deteriorating.

특히 본 형태에서는, 센서 장치가, 센서 소자로서 자기 저항 소자 (4) 를 구비한 자기 센서 장치 (10) 이다. 이러한 자기 저항 소자 (4) 에서는, 감자막 (41 ∼ 44) 자체가 온도에 의해서 저항치가 변화하는 것과 함께, 소자 기판 (40) 과 감자막 (41 ∼ 44) 의 열팽창 계수의 차에서 기인하는 응력이 소자 기판 (40) 의 위치에 따라서 상이한 것 등에서 기인하여 온도의 영향을 받기 쉽지만, 본 형태에 의하면, 이러한 온도 변화의 영향을 억제할 수 있다.Particularly in this embodiment, the sensor device is a magnetic sensor device 10 having a magnetoresistive element 4 as a sensor element. In the magnetoresistive element 4, the resistance value of the magnetoresistive films 41 to 44 itself changes with temperature, and the stress caused by the difference in thermal expansion coefficient between the element substrate 40 and the magnetoresistive films 41 to 44 Is influenced by the temperature due to the difference in the position of the element substrate 40 and the like. However, according to this embodiment, the influence of the temperature change can be suppressed.

또한, 홀더 (6) 에 있어서 회로 기판 (50) 을 지지하는 부분은, 축선 (L) 방향의 일방측 (L1) 을 향해 돌출된 복수의 회로 기판 지지부 (66a, 66b, 66c, 66d, 68a, 68b) 이다. 또한, 회로 기판 (50) 을 회로 기판 지지부 (66a, 66b, 66d) 의 축부 (67a, 67b, 67d) 로 위치 결정하고 있다. 따라서, 홀더 (6) 와 회로 기판 (50) 의 접촉 면적이 좁기 때문에, 홀더 (6) 와 회로 기판 (50) 사이의 열 전도를 억제할 수 있다. 또한, 회로 기판 (50) 에 있어서 나사 (58, 59) 가 멈춰진 제 2 관통부 (57a, 57b) 는, 회로 기판 (50) 의 바깥가장자리 (50c) 에 형성된 노치이기 때문에, 자기 센서 (3) 가 실장되어 있는 내측 실장 영역 (50a) 과 나사 (58, 59) 에 의한 고정 위치가 이간되어 있다. 이 때문에, 회로 기판 (50) 에 있어서 자기 센서 (3) 가 실장되어 있는 내측 실장 영역 (50a) 과 홀더 (6) 사이의 열 전도를 억제할 수 있다. 따라서, 회로 기판 (50) 에 있어서 자기 센서 (3) 가 실장되어 있는 내측 실장 영역 (50a) 의 온도가 잘 변화하지 않으므로, 자기 저항 소자 (4) 의 온도를 가열용 저항막 (48) 에 의해서 정밀하게 제어할 수 있다. 그 때문에, 본 형태의 자기 센서 장치 (10) 에 의하면, 환경 온도가 변화하더라도 안정된 검출 정밀도를 얻을 수 있다.The portion of the holder 6 that supports the circuit board 50 includes a plurality of circuit board support portions 66a, 66b, 66c, 66d, 68a, 68b. The circuit board 50 is positioned by the shaft portions 67a, 67b, 67d of the circuit board support portions 66a, 66b, 66d. Therefore, since the contact area between the holder 6 and the circuit board 50 is narrow, the heat conduction between the holder 6 and the circuit board 50 can be suppressed. Since the second penetration portions 57a and 57b where the screws 58 and 59 are stopped on the circuit board 50 are notches formed in the outer edge 50c of the circuit board 50, And the fixing position by the screws 58 and 59 is spaced apart from the inner mounting area 50a. This makes it possible to suppress the heat conduction between the inner mounting area 50a on which the magnetic sensor 3 is mounted and the holder 6 on the circuit board 50. [ Therefore, since the temperature of the inner mounting area 50a on which the magnetic sensor 3 is mounted on the circuit board 50 does not change well, the temperature of the magnetoresistive element 4 is changed by the heating resistive film 48 Precise control is possible. Therefore, according to the magnetic sensor device 10 of the present embodiment, stable detection accuracy can be obtained even when the environmental temperature changes.

여기서, 자기 센서 장치 (10) 는, 소자 기판 (40) 에 감자막 (41 ∼ 44) 이나 단자를 배치한 자기 저항 소자 (4) 를 탑재한 회로 기판 (50) 을 구비하고 있지만, 회로 기판 (50) 을 홀더 (6) 에 고정시킬 때에 회로 기판 (50) 의 형상이 변화하면, 회로 기판 (50) 의 형상은 잔류 응력을 해방하도록 시간이 경과함에 따라 변화하고, 그 형상 변화에 수반하여 저항치가 변하기 때문에, 검출 출력이 시간 경과에 의해 변화해 버리는 문제점이 있다.Here, the magnetic sensor device 10 is provided with the circuit board 50 on which the magnetoresistive elements 4 having terminals 41 to 44 and terminals are mounted on the element substrate 40, 50 are fixed to the holder 6, the shape of the circuit board 50 changes as time elapses so as to release the residual stress. When the shape of the circuit board 50 changes, There is a problem that the detection output changes with time.

이러한 문제점에 대해서는, 회로 기판 (50) 이 고정되는 고정면의 정밀도와, 회로 기판 (50) 의 고정 위치 정밀도를 높이는 것이 바람직하다. 예를 들어, 본 형태에서는, 홀더 (6) 와 회로 기판 (50) 의 접촉 면적이 좁기 (작기) 때문에, 회로 기판 (50) 을 지지하는 고정면의 정밀도 관리 포인트가 적다. 따라서, 고정면의 정밀도 관리가 용이하고, 고정면의 정밀도가 높은 홀더를 저렴하게 제조할 수 있다.For such a problem, it is desirable to improve the accuracy of the fixing surface on which the circuit board 50 is fixed and the accuracy of the fixing position of the circuit board 50. For example, in this embodiment, since the contact area between the holder 6 and the circuit board 50 is narrow (small), the accuracy of the fixing surface for supporting the circuit board 50 is small. Therefore, it is possible to manufacture the holder at a low cost, which facilitates the accuracy control of the fixing surface and the precision of the fixing surface.

또한, 회로 기판 지지부 (66a, 66b, 66c, 66d) 는 축선 (L) 둘레에서 대략 등각도 간격으로 배치되어, 회로 기판 (50) 을 4 군데에서 균등하게 지지한다. 그리고, 나사 조임 지점이 되는 회로 기판 지지부 (68a, 68b) 에 관해서도, 회로 기판 (50) 의 양측에 대칭으로 배치되어 있다. 이러한 균등 배치에 의해, 고정시의 회로 기판 (50) 의 변형을 억제할 수 있어, 고정시의 변형에 따른 잔류 응력이 시간이 경과됨으로써 해방되는 것으로 인한 회로 기판 (50) 의 형상 변화를 억제할 수 있다. 따라서, 회로 기판 (50) 의 변형에 의한 검출 정밀도의 저하를 억제할 수 있다. 또, 회로 기판 지지부 (66a, 66b, 66c, 66d) 를 축선 (L) 둘레에서 대략 등각도 간격으로 배치하는 것이 바람직하지만, 대략 등각도 간격이 아니어도 되며, 축선 (L) 둘레의 둘레 방향에서 분산 배치되어 있으면 된다. 이러한 배치라도, 회로 기판 (50) 의 하중을 축선 (L) 둘레의 둘레 방향에서 분산시켜 지지할 수 있기 때문에, 회로 기판 (50) 의 형상 변화를 억제할 수 있다.The circuit board support portions 66a, 66b, 66c, and 66d are disposed at substantially equal angular intervals around the axis L to evenly support the circuit board 50 at four places. The circuit board support portions 68a and 68b serving as screw tightening points are also arranged symmetrically on both sides of the circuit board 50. [ By this equal arrangement, deformation of the circuit board 50 at the time of fixation can be suppressed, and a change in the shape of the circuit board 50 due to the release of residual stress due to deformation at the time of fixation over time is suppressed . Therefore, deterioration of detection accuracy due to deformation of the circuit board 50 can be suppressed. It is preferable that the circuit board support portions 66a, 66b, 66c, and 66d are disposed at substantially equal angular intervals around the axial line L. However, It may be dispersed. Even in this arrangement, since the load of the circuit board 50 can be dispersed and supported in the circumferential direction around the axis L, the shape change of the circuit board 50 can be suppressed.

또한, 회로 기판 (50) 은, 홀더 (6) 에 대하여, 복수의 축부 (축부 (67a, 67b, 67d)) 와 복수의 제 1 관통부 (제 1 관통부 (56a, 56b, 56d)) 가 3 군데에서 끼워 맞춰짐으로써, 축선 (L) 에 직교하는 방향에서 위치 결정되어 있다. 이들 3 조의 끼워맞춤부는, 회로 기판 (50) 의 4 모서리 중 3 군데에 형성되고, 4 모서리 중 나머지 1 군데는 관통부가 형성되어 있지 않고, 단순한 맞닿음부 (503) 로 되어 있다. 따라서, 회로 기판 (50) 의 표리가 올바른 방향으로, 또한 회로 기판 (50) 의 축선 (L) 둘레의 회전 위치가 미리 정한 올바른 회전 위치일 때에만, 3 군데의 축부 모두를 제 1 관통부와 끼워 맞춤시키는 것이 가능하다. 그리고, 3 군데의 축부 모두가 제 1 관통부와 끼워 맞춰지는 회전 위치는, 360 도의 범위 내에서 1 군데뿐이다. 따라서, 홀더 (6) 에 대하여 회로 기판 (50) 을 고정시킬 때에, 그 표리 및 회전 위치를 틀리는 일이 없다. 따라서, 회로 기판 (50) 을 틀린 자세로 고정시킬 우려가 없이, 높은 위치 정밀도로 고정시킬 수 있다. 또한, 제조시의 관리 항목을 삭감할 수 있기 때문에, 저렴하게 제조하는 것이 가능하다.The circuit board 50 has a plurality of shaft portions (shaft portions 67a, 67b and 67d) and a plurality of first penetration portions (first penetration portions 56a, 56b and 56d) with respect to the holder 6 And is positioned in a direction orthogonal to the axial line L by being fitted in three places. These three sets of fitting portions are formed in three of the four corners of the circuit board 50, and the remaining one of the four corners is not formed with a penetrating portion, but is a simple abutment portion 503. Therefore, only when the front and back surfaces of the circuit board 50 are in the correct direction and the rotational position around the axis L of the circuit board 50 is a predetermined correct rotational position, all three of the shaft portions are connected to the first through- It is possible to engage it. In addition, the rotational positions at which all the three shaft portions are fitted to the first penetrating portion are only one in the range of 360 degrees. Therefore, when the circuit board 50 is fixed with respect to the holder 6, the front and rear positions and the rotational position of the circuit board 50 are not wrong. Therefore, it is possible to fix the circuit board 50 at a high positional accuracy without fear of fixing the circuit board 50 in a wrong posture. Further, since the management items at the time of production can be reduced, it is possible to produce the material at low cost.

또한, 홀더 (6) 에는, 회로 기판 지지부 (68a, 68b) (제 2 회로 기판 지지부) 에 통부 (69a, 69b) 가 형성되어서, 이것을 위치 결정 기준으로 하여 회로 기판 (50) 이 위치 결정되고, 나사 조임 고정되어 있다. 이와 같이, 나사 조임 지점에 통부 (69a, 69b) 가 있으면, 나사머리 (58a, 59a) 가 통부 (69a, 69b) 에 맞닿은 위치에서 나사 (58, 59) 가 멈춰, 그 이상 나사머리 (58a, 59a) 가 회로 기판 (50) 으로 파고 들어가지 않는다. 따라서, 나사를 조일 때에 엄밀한 토크 관리를 하지 않아도, 나사 조임시에 회로 기판 (50) 이 파괴되거나 나사산이 파괴되는 것을 방지할 수 있다.Cylinders 69a and 69b are formed on the circuit board support portions 68a and 68b (second circuit board support portion) of the holder 6 and the circuit board 50 is positioned on the basis of the positioning reference, Screw tightened. The screws 58 and 59 are stopped at the position where the screw heads 58a and 59a abut against the cylinder portions 69a and 69b and the screw heads 58a and 59b are stopped further than the screw heads 58a and 59b, 59a do not dig into the circuit board 50. Therefore, it is possible to prevent the circuit board 50 from being broken or the screw thread to be broken when the screw is temporarily tightened without tight torque control when tightening the screw.

또한, 홀더 (6) 는 센서 장치 고정용의 돌부 (63a, 63b, 63c) 에 의해 모터 케이스 (130) 에 고정되어 있기 때문에, 홀더 (6) 와 모터 케이스 (130) 의 접촉 면적이 좁다. 또한, 홀더 (6) 는 수지제이다. 이 때문에, 홀더 (6) 를 통한 회로 기판 (50) 과 모터 케이스 (130) 사이의 열 전도를 억제할 수 있다. 따라서, 회로 기판 (50) 에 있어서 자기 센서 (3) 가 실장되어 있는 내측 실장 영역 (50a) 의 온도가 잘 변화하지 않으므로, 자기 저항 소자 (4) 의 온도를 가열용 저항막 (48) 에 의해서 정밀하게 제어할 수 있다. 그 때문에, 본 형태의 자기 센서 장치 (10) 에 의하면, 환경 온도가 변화하더라도 안정된 검출 정밀도를 얻을 수 있다.The contact area between the holder 6 and the motor case 130 is narrow because the holder 6 is fixed to the motor case 130 by the projecting portions 63a, 63b and 63c for securing the sensor device. The holder 6 is made of resin. Therefore, heat conduction between the circuit board 50 and the motor case 130 through the holder 6 can be suppressed. Therefore, since the temperature of the inner mounting area 50a on which the magnetic sensor 3 is mounted on the circuit board 50 does not change well, the temperature of the magnetoresistive element 4 is changed by the heating resistive film 48 Precise control is possible. Therefore, according to the magnetic sensor device 10 of the present embodiment, stable detection accuracy can be obtained even when the environmental temperature changes.

또한, 자기 센서 장치 (10) 에 의해서 자속밀도 (물리량) 가 검출되는 자석 (20) (검출 대상부) 이 출력축 (120) 의 회전에 수반하여 회전하는 상태로 홀더 (6) 의 통형상 몸통부 (60) 의 내측에 배치되어 있기 때문에, 통형상 몸통부 (60) 안의 공기를 교반시킬 수 있다. 이 때문에, 온도 분포의 치우침 발생을 억제시킬 수 있기 때문에, 자기 저항 소자 (4) 에 가열용 저항막 (48) 의 열을 균등하게 널리 퍼뜨릴 수 있다. 따라서, 회로 기판 (50) 에 있어서 자기 센서 (3) 가 실장되어 있는 내측 실장 영역 (50a) 의 온도가 잘 변화하지 않으므로, 자기 저항 소자 (4) 의 온도를 가열용 저항막 (48) 에 의해서 정밀하게 제어할 수 있다. 그 때문에, 본 형태의 자기 센서 장치 (10) 에 의하면, 환경 온도가 변화하더라도 안정된 검출 정밀도를 얻을 수 있다.The magnet 20 (detection subject) whose magnetic flux density (physical quantity) is detected by the magnetic sensor device 10 is rotated with the rotation of the output shaft 120, The air in the tubular body 60 can be agitated. Therefore, it is possible to suppress the occurrence of the slanting of the temperature distribution, so that the heat of the resistive film for heating 48 can be widely spread to the magnetoresistive element 4. Therefore, since the temperature of the inner mounting area 50a on which the magnetic sensor 3 is mounted on the circuit board 50 does not change well, the temperature of the magnetoresistive element 4 is changed by the heating resistive film 48 Precise control is possible. Therefore, according to the magnetic sensor device 10 of the present embodiment, stable detection accuracy can be obtained even when the environmental temperature changes.

또한, 회로 기판 (50) 에서는, 내측 실장 영역 (50a) 에 반도체 장치 (92) (제 2 전자 부품) 가 실장되고, 이러한 반도체 장치 (92) 는 발열성을 가지고 있다. 단, 반도체 장치 (92) 는, 회로 기판 (50) 에 있어서 자기 센서 (3) 가 실장되어 있는 측과는 반대측의 면에 실장되어 있다. 이 때문에, 반도체 장치 (92) 와 자기 센서 (3) 사이의 열 전달을 억제할 수 있다. 따라서, 자기 센서 (3) 의 온도가 잘 변화하지 않으므로, 자기 저항 소자 (4) 의 온도를 가열용 저항막 (48) 에 의해서 정밀하게 제어할 수 있다. 그 때문에, 본 형태의 자기 센서 장치 (10) 에 의하면, 환경 온도가 변화하더라도 안정된 검출 정밀도를 얻을 수 있다.In the circuit board 50, the semiconductor device 92 (second electronic component) is mounted on the inside mounting area 50a, and the semiconductor device 92 has heat generation. However, the semiconductor device 92 is mounted on the circuit board 50 on the side opposite to the side where the magnetic sensor 3 is mounted. Therefore, heat transfer between the semiconductor device 92 and the magnetic sensor 3 can be suppressed. Therefore, the temperature of the magnetoresistive element 4 can be precisely controlled by the heating resistive film 48 since the temperature of the magnetic sensor 3 does not change well. Therefore, according to the magnetic sensor device 10 of the present embodiment, stable detection accuracy can be obtained even when the environmental temperature changes.

(차열 효과에 대한 평가 결과)(Evaluation result on the heat effect)

먼저, 자기 센서 장치 (10) 를 오프 상태로 한 상태에서 모터 (100) 의 측면을 향해 열풍기로부터 열풍을 송풍하여 가열한 후, 가열을 정지한 이후의 온도를 각 부위에서 계측하였다. 그 결과를 표 1 에 나타낸다. 또, 환경 온도는 30 ℃ 이다.First, in a state where the magnetic sensor device 10 was turned off, hot air was blown from the hot air toward the side surface of the motor 100, and the temperature after the heating was stopped was measured at each site. The results are shown in Table 1. The environmental temperature is 30 占 폚.

0 분후0 minutes 10 분후After 10 minutes 20 분후20 minutes later 모터 케이스 (130) 의 측면의 온도The temperature of the side surface of the motor case 130 51.7 ℃51.7 DEG C 48.8 ℃48.8 DEG C 47.0 ℃47.0 DEG C 홀더 (6) 의 측면의 온도The temperature of the side surface of the holder 6 37.7 ℃37.7 DEG C 40.5 ℃40.5 DEG C 39.0 ℃39.0 DEG C 반도체 장치 (92) 의 온도The temperature of the semiconductor device 92 35.6 ℃35.6 ° C 37.5 ℃37.5 DEG C 36.4 ℃36.4 DEG C

표 1 에서 알 수 있듯이, 가열 종료시 (0 분), 모터 케이스 (130) 의 온도는 51.7 ℃ 였지만, 홀더 (6) 의 온도는 37.7 ℃ 이고, 반도체 장치 (92) 의 온도는 35.6 ℃ 였다. 그 때문에, 모터 케이스 (130) 로부터 자기 센서 장치 (10) 로의 열 전달성이 낮은 것을 알 수 있다. 또, 가열 종료로부터 10 분 후 및 20 분 후에도 동일한 결과였다.As shown in Table 1, the temperature of the motor case 130 was 51.7 占 폚 while the temperature of the holder 6 was 37.7 占 폚 and the temperature of the semiconductor device 92 was 35.6 占 폚. Therefore, it can be seen that the thermal conductivity from the motor case 130 to the magnetic sensor device 10 is low. The same results were obtained after 10 minutes and 20 minutes from the end of heating.

다음으로, 자기 센서 장치 (10) 의 가열용 저항막 (48) 에 통전시켜 자기 센서 (3) 의 온도를 70 ℃ 로 한 상태에 있어서의 반도체 장치 (92), 트랜지스터 (93) 및 마이크로컴퓨터 (91) 의 온도를 계측하였다. 그 결과를 표 2 에 나타낸다. 또, 환경 온도는 30 ℃ 이다.Next, the semiconductor device 92, the transistor 93, and the microcomputer (not shown) in a state in which the resistance film 48 for heating the magnetic sensor device 10 is energized to set the temperature of the magnetic sensor 3 to 70 deg. 91) were measured. The results are shown in Table 2. The environmental temperature is 30 占 폚.

자기 센서 (3) 의 온도The temperature of the magnetic sensor 3 70 ℃70 ℃ 반도체 장치 (92) 의 온도The temperature of the semiconductor device 92 68.1 ℃68.1 DEG C 트랜지스터 (93) 의 온도The temperature of the transistor 93 50.0 ℃50.0 DEG C 마이크로컴퓨터 (91) 의 온도The temperature of the microcomputer 91 51.6 ℃51.6 ° C

표 2 로부터 알 수 있듯이, 반도체 장치 (92) 의 온도는 68.1 ℃ 로, 자기 센서 (3) 의 온도보다 1.9 ℃ 낮은 결과였다. 또한, 외측 실장 영역 (50b) 에 실장한 트랜지스터 (93) 의 온도는 50.0 ℃ 이고, 자기 센서 (3) 의 온도보다 20.0 ℃ 낮은 결과였다. 또한, 외측 실장 영역 (50b) 에 실장한 마이크로컴퓨터 (91) 의 온도는 51.6 ℃ 로, 자기 센서 (3) 의 온도보다 18.4 ℃ 낮은 결과였다.As can be seen from Table 2, the temperature of the semiconductor device 92 was 68.1 캜, which was 1.9 캜 lower than the temperature of the magnetic sensor 3. The temperature of the transistor 93 mounted on the outside mounting area 50b was 50.0 캜 and was 20.0 캜 lower than the temperature of the magnetic sensor 3. The temperature of the microcomputer 91 mounted on the outside mounting area 50b was 51.6 deg. C, which was 18.4 deg. C lower than the temperature of the magnetic sensor 3.

(회로 기판 (50) 의 다른 실시형태) (Another embodiment of the circuit board 50)

도 11 은, 본 발명을 적용한 자기 센서 장치 (10) 에 사용한 다른 회로 기판 (150) 의 설명도이다. 또, 본 형태의 기본적인 구성은 도 7 을 참조하여 설명한 형태와 동일하기 때문에, 공통되는 부분에는 동일한 부호를 붙여 도시하고, 그들에 대한 설명을 생략한다.11 is an explanatory diagram of another circuit board 150 used in the magnetic sensor device 10 to which the present invention is applied. Since the basic configuration of this embodiment is the same as that described with reference to Fig. 7, the same reference numerals are given to common portions, and a description thereof will be omitted.

도 11 에 나타내는 바와 같이, 본 형태에서는, 회로 기판 (150) 의 외측 실장 영역 (50b) 에 있어서, 자기 센서 (3) 와 마이크로컴퓨터 (91) (제 1 전자 부품) 사이에는, 자기 센서 (3) 와 마이크로컴퓨터 (91) (제 1 전자 부품) 을 연결하는 가상선에 대하여 교차하는 X 방향을 따라서 복수의 스루 홀 (54) 이 배치되어 있다. 이러한 스루 홀 (54) 은 마이크로컴퓨터 (91) 에 대한 정보의 기입용으로, 리드선 등의 접속이 이루어져 있지 않다.11, in this embodiment, between the magnetic sensor 3 and the microcomputer 91 (first electronic component) in the outer mounting area 50b of the circuit board 150, a magnetic sensor 3 And a plurality of through holes 54 are arranged along the X direction crossing a virtual line connecting the microcomputer 91 (first electronic component). The through hole 54 is used for writing information to the microcomputer 91, and no lead wire or the like is connected.

이러한 구성에 의하면, 자기 센서 (3) 가 실장되어 있는 영역과 마이크로컴퓨터 (91) 가 실장되어 있는 영역 사이의 열 전도를 스루 홀 (54) 에 의해서 억제할 수 있다.With this configuration, the thermal conduction between the region where the magnetic sensor 3 is mounted and the region where the microcomputer 91 is mounted can be suppressed by the through hole 54. [

또한, 회로 기판 (150) 의 외측 실장 영역 (50b) 에 있어서, 자기 센서 (3) 와 마이크로컴퓨터 (91) (제 1 전자 부품) 사이에는, 자기 센서 (3) 와 마이크로컴퓨터 (91) (제 1 전자 부품) 을 연결하는 가상선에 대하여 교차하는 X 방향을 따라서 복수의 검사 단자 (55) 가 배치되어 있다. 이러한 검사 단자 (55) 는, 자기 센서 장치 (10) 단체 (單體) 에서의 검사용으로, 리드선 등의 접속이 이루어져 있지 않다. 그 밖의 구성은 도 8 을 참조하여 설명한 회로 기판 (50) 과 대략 동일하다. 이러한 구성에 의하면, 자기 센서 (3) 가 실장되어 있는 영역과 마이크로컴퓨터 (91) 가 실장되어 있는 영역을 이간시킬 수 있기 때문에, 자기 센서 (3) 가 실장되어 있는 영역과 마이크로컴퓨터 (91) 가 실장되어 있는 영역 사이의 열 전도를 스루 홀 (54) 에 의해서 억제할 수 있다.A magnetic sensor 3 and a microcomputer 91 (not shown) are provided between the magnetic sensor 3 and the microcomputer 91 (first electronic component) in the outer mounting area 50b of the circuit board 150 A plurality of inspection terminals 55 are arranged along the X direction crossing the imaginary line connecting the two electronic components (one electronic component). Such inspection terminals 55 are not connected to leads or the like for inspection in the magnetic sensor device 10 alone. The other configuration is substantially the same as that of the circuit board 50 described with reference to Fig. With this configuration, since the area where the magnetic sensor 3 is mounted and the area where the microcomputer 91 is mounted can be separated, the area where the magnetic sensor 3 is mounted and the area where the microcomputer 91 is mounted The thermal conduction between the mounted regions can be suppressed by the through holes 54. [

(회로 기판 (50) 의 고정 구조가 상이한 다른 실시형태) (Another embodiment in which the fixing structure of the circuit board 50 is different)

(1) 상기 각 형태에 있어서, 회로 기판 지지부 (66a, 66b, 66d) (제 1 회로 기판 지지부) 의 축부 (67a, 67b, 67d) 와 제 1 관통부 (56a, 56b, 56d) 의 내주면의 간극의 치수 D1, 및, 회로 기판 지지부 (68a, 68b) (제 2 회로 기판 지지부) 의 통부 (69a, 69b) 와, 제 2 관통부 (57a, 57b) 의 내주면과의 간극의 치수 D2 의 대소관계를, 상기 형태와는 반대인 D1 < D2 가 되도록 양 간극의 치수를 설정해도 된다. 이 경우, 회로 기판 지지부 (66a, 66b, 66d) (제 1 회로 기판 지지부) 를 위치 결정 기준으로 하여 회로 기판 (50) 의 위치 결정이 이루어진다. 따라서, 나사 조임시의 나사 조임 지점의 변형 등에 의해서 회로 기판 (50) 의 위치 정밀도가 저하되는 것을 억제할 수 있다.(1) In each of the above-described configurations, the shaft portions 67a, 67b, 67d of the circuit board supporting portions 66a, 66b, 66d (first circuit board supporting portion) and the inner peripheries of the first penetrating portions 56a, 56b, 56d The dimension D1 of the gap and the dimension D2 of the gap between the cylindrical portions 69a and 69b of the circuit board supporting portions 68a and 68b (second circuit board supporting portion) and the inner peripheral surfaces of the second through holes 57a and 57b The dimensions of both gaps may be set such that the relationship D1 < D2, which is the opposite of the above-mentioned form. In this case, the circuit board 50 is positioned with the circuit board supporting portions 66a, 66b, 66d (first circuit board supporting portion) as a positioning reference. Therefore, it is possible to suppress the positional accuracy of the circuit board 50 from being lowered due to deformation of the screw fastening point of the screw fastening.

(2) 도 12 는 다른 형태의 제 2 회로 기판 지지부를 구비한 자기 센서 장치의 분해 사시도이다. 홀더 (206) 에는, 상기 형태의 회로 기판 지지부 (68a, 68b) 의 통부 (69a, 69b) 를 제거하고 근원측 부분만을 남긴 형상의 회로 기판 지지부 (268a, 268b) (제 2 회로 기판 지지부) 가 형성되어 있다. 회로 기판 지지부 (268a, 268b) 의 선단면 (270) (축선 (L) 방향의 일방측 (L1) 단면) 에는 고정구멍 (269a, 269b) 이 개구되어 있다. 한편, 회로 기판 (250) 에는, 고정구멍 (269a, 269b) 과 겹치는 위치에 제 2 관통부 (257a, 257b) (노치) 가 형성되어 있다.(2) FIG. 12 is an exploded perspective view of a magnetic sensor device having another type of second circuit board support portion. The holder 206 is provided with circuit board support portions 268a and 268b (second circuit board support portions) of a shape that is formed by removing the cylindrical portions 69a and 69b of the circuit board support portions 68a and 68b of the above- Respectively. Fixing holes 269a and 269b are opened at the distal end face 270 (one end side (L1) end face in the direction of the axis L) of the circuit board support portions 268a and 268b. On the other hand, on the circuit board 250, second through holes 257a and 257b (notches) are formed at positions overlapping with the fixing holes 269a and 269b.

제 2 관통부 (257a, 257b) 는, 상기 형태의 제 2 관통부 (57a, 57b) 보다 노치폭이 작다. 통부 (69a, 69b) 를 형성하지 않은 경우, 제 2 관통부 (257a, 257b) 는, 나사 (58, 59) 의 축부 (58b, 59b) 를 삽입 통과시킬 수 있는 노치폭이면 된다. 이러한 구성에서는, 제 2 관통부 (257a, 257b) 의 노치폭이 좁은 것 만큼, 나사머리 (58a, 59a) 를 수용하는 면적을 넓게 할 수 있다. 따라서, 나사 조임시에 가해지는 힘에 의해서 나사머리 (58a, 59a) 가 회로 기판 (250) 에 파고 들어가는 것을 억제할 수 있다. 또한, 회로 기판 지지부 (268a, 268b) 의 선단면 (270) 과 회로 기판 (250) 이 맞닿는 면적이 넓기 때문에, 회로 기판 (250) 을 안정적으로 지지할 수 있다.The second through-holes 257a and 257b have a smaller notch width than the second through-holes 57a and 57b of the above-described shape. The second penetrating portions 257a and 257b may be notch wide enough to allow the shaft portions 58b and 59b of the screws 58 and 59 to be inserted therethrough when the cylindrical portions 69a and 69b are not formed. With such a configuration, the area occupied by the screw heads 58a and 59a can be increased as the notch widths of the second through-holes 257a and 257b are narrowed. Therefore, it is possible to prevent the screw heads 58a, 59a from being pushed into the circuit board 250 by the force applied during the screwing. In addition, since the front end surface 270 of the circuit board support portions 268a, 268b abuts against the circuit board 250, the circuit board 250 can be stably supported.

또한, 도 12 의 형태에서는, 제 2 관통부 (257a, 257b) 의 내주면과, 나사 (58, 59) 의 축부 (58b, 59b) 와의 간극의 치수를 D3 (도시생략) 으로 했을 때, D3 > D1 이다. 즉, 회로 기판 지지부 (66a, 66b, 66d) (제 1 회로 기판 지지부) 를 위치 결정 기준으로 하여 회로 기판 (250) 의 위치 결정이 이루어진다. 따라서, 나사 조임 지점의 변형 등에 의해서 회로 기판 (250) 의 위치 정밀도가 저하되는 것을 억제할 수 있다.12, when the dimension of the clearance between the inner peripheral surface of the second through-holes 257a, 257b and the shaft portions 58b, 59b of the screws 58, 59 is D3 (not shown), D3> D1. That is, the positioning of the circuit board 250 is performed with the circuit board supporting portions 66a, 66b, and 66d (first circuit board supporting portion) as a positioning reference. Therefore, it is possible to suppress the positional accuracy of the circuit board 250 from being lowered due to deformation of the screw fastening point or the like.

(3) 상기 각 형태에 있어서, 회로 기판 지지부 (66a, 66b, 66d) (제 1 회로 기판 지지부) 의 축부 (67a, 67b, 67d) 를 회로 기판 (50) 에 탄성 접착제에 의해 접착해도 된다. 접착 지점은, 3 지점 중 적어도 1 곳이어도 된다. 도 13 은 제 1 회로 기판 지지부와 회로 기판 (50) 과의 접착 지점의 단면도이다. 도 13 에서는 축부 (67a) 의 지점을 나타내지만, 다른 축부 (67b, 67d) 에 대해서도 동일하게 접착할 수 있다. 도 13 에 나타내는 바와 같이, 제 1 관통부 (56a) 에 삽입된 축부 (67a) 의 선단 둘레에, 회로 기판 (50) 위로부터 탄성 접착제 (300) 를 흘려 접착한다. 탄성 접착제 (300) 로는, 예를 들어, 폿팅재 등의 수지를 사용한다. 도 13 에서는, 탄성 접착제 (300) 는 제 1 관통부 (56a) 의 내주면과 축부 (67a) 의 외주면의 간극에까지 흘러 들어가 있지 않지만, 흘러 들어가 있어도 된다.(3) In each of the above embodiments, the shaft portions 67a, 67b, 67d of the circuit board supporting portions 66a, 66b, 66d (first circuit board supporting portion) may be bonded to the circuit board 50 with an elastic adhesive. The bonding point may be at least one of the three points. 13 is a cross-sectional view of an adhesion point between the first circuit board support and the circuit board 50. Fig. In Fig. 13, the position of the shaft portion 67a is shown, but the other shaft portions 67b and 67d can be bonded in the same manner. The elastic adhesive 300 flows from the top of the circuit board 50 around the tip end of the shaft portion 67a inserted in the first penetrating portion 56a and bonded. As the elastic adhesive 300, for example, a resin such as a potting material is used. In Fig. 13, the elastic adhesive 300 does not flow into the gap between the inner peripheral surface of the first penetrating portion 56a and the outer peripheral surface of the shaft portion 67a, but may flow.

이와 같이 접착함으로써, 탄성체 (탄성 접착제 (300)) 에 의해서 회로 기판 (50) 이 지지된다. 자기 센서 장치 (10) 에 모터 회전시의 진동이나 외부로부터의 진동이 가해지면, 나사 조임 지점 이외의 회로 기판 (50) 의 단부가 공진을 발생시키는 경우가 있지만, 축부 (67a/67b/67d) 를 접착함으로써, 회로 기판 (50) 을 나사 이외의 것으로도 고정시킬 수 있다. 따라서, 회로 기판 (50) 에 대한 진동의 영향을 작게 할 수 있고, 센서의 검출 출력에 대한 영향도 작게 할 수 있다. 따라서, 진동에 의한 검출 정밀도의 저하를 억제할 수 있다.By bonding in this way, the circuit board 50 is supported by the elastic body (elastic adhesive 300). 67b / 67d, the end portion of the circuit board 50 other than the screwing point may cause resonance if vibration or external vibration is applied to the magnetic sensor device 10. However, The circuit board 50 can be fixed to other than the screws. Therefore, the influence of the vibration on the circuit board 50 can be reduced, and the influence on the detection output of the sensor can be reduced. Therefore, it is possible to suppress deterioration in detection accuracy due to vibration.

(고정 구조에 대한 평가 결과) (Evaluation result on fixed structure)

회로 기판 (50) 을 평면에 올리고 고정시키는 베타 부착 구조 (종래 구조) 인 경우, 회로 기판이 고정시에 변형되고, 잔류 응력이 시간 경과에 의해 해방되는 것에서 기인하는 센서 검출 출력치의 경시 변화는 20 mV 이상으로 되어 있었다. 이에 반하여, 도 3 등에 도시한 본 발명의 형태에서는, 센서 검출 출력치의 경시 변화는 0.5 mV 정도인 것이 확인되었다.In the case of a beta attachment structure (conventional structure) in which the circuit board 50 is mounted on and fixed to a plane, a change over time of the sensor detection output value due to the fact that the circuit board is deformed when fixed and the residual stress is released over time is 20 mV or more. On the other hand, in the embodiment of the present invention shown in Fig. 3 and others, it has been confirmed that the change over time of the sensor detection output value is about 0.5 mV.

(그 밖의 형태) (Other forms)

상기 각 형태에서는 센서 장치로서 자기 센서 장치 (10) 를 예시하였지만, 광센서 장치 등, 다른 센서 장치에 본 발명을 적용해도 된다.In the above embodiments, the magnetic sensor device 10 is exemplified as the sensor device, but the present invention may be applied to other sensor devices such as an optical sensor device.

1 : 로터리 인코더
3 : 자기 센서
4 : 자기 저항 소자 (센서 소자)
6 : 홀더
10 : 자기 센서 장치
20 : 자석
21 : 착자면
40 : 소자 기판
40a : 일방면
41 ∼ 44 : 감자막
45 : 감자 영역
47 : 온도 감시용 저항막 (감온부)
48 : 가열용 저항막 (히터)
50 : 회로 기판
50a : 내측 실장 영역
50b : 외측 실장 영역
50c : 회로 기판의 바깥가장자리
52, 53 : 슬릿
54 : 스루 홀
55 : 검사 단자
56a, 56b, 56d : 제 1 관통부
57a, 57b : 제 2 관통부 (노치)
58, 59 : 나사
58a, 59a : 나사머리
58b, 59b : 축부
60 : 통부
62 : 오목부
63a, 63b, 63c : 돌부
64a, 64b, 64c : 구멍
66a, 66b, 66d : 회로 기판 지지부 (제 1 회로 기판 지지부)
66c : 회로 기판 지지부 (제 3 회로 기판 지지부)
67a, 67b, 67d : 축부
68a, 68b : 회로 기판 지지부 (제 2 회로 기판 지지부)
69a, 69b : 통부
81, 82 : 홀 소자
83 : 스위칭 소자
84 : 저항
85 : 연산 증폭기
90 : 증폭기부
91 : 마이크로컴퓨터 (제 1 전자 부품)
92 : 반도체 장치 (제 2 전자 부품)
93 : 트랜지스터
94 : 커넥터
95, 96 : 증폭기부
97 : 변환부
100 : 모터
110 : 모터 본체
120 : 출력축
130 : 모터 케이스
140 : 인코더 케이스
150 : 회로 기판
190 : 나사
206 : 홀더
250 : 회로 기판
257a, 257b : 관통부
268a, 268b : 회로 기판 지지부 (제 2 회로 기판 지지부)
269a, 269b : 고정구멍
270 : 선단면
300 : 탄성 접착제
401, 402, 403 : 절연막
481, 482 : 배선 부분
501 : 일방면
502 : 타방면
503 : 맞닿음부
661 : 단면
L : 축선
L1 : 일방측
L2 : 타방측
1: rotary encoder
3: magnetic sensor
4: Magnetoresistance element (sensor element)
6: Holder
10: Magnetic sensor device
20: Magnet
21:
40: element substrate
40a: one side
41 to 44:
45: Potato area
47: Resistance film for temperature monitoring (warming part)
48: Resistance film for heating (heater)
50: circuit board
50a: inner mounting area
50b: outer mounting area
50c: outer edge of the circuit board
52, 53: slit
54: Through hole
55: inspection terminal
56a, 56b, and 56d:
57a, 57b: second penetrating portion (notch)
58, 59: Screw
58a, 59a: screw head
58b, 59b:
60: Tongue
62:
63a, 63b, 63c:
64a, 64b, 64c: holes
66a, 66b, 66d: circuit board support portion (first circuit board support portion)
66c: circuit board supporting portion (third circuit board supporting portion)
67a, 67b, 67d:
68a, 68b: circuit board support portion (second circuit board support portion)
69a, 69b:
81, 82: Hall element
83: Switching element
84: Resistance
85: Op Amp
90:
91: Microcomputer (first electronic component)
92: Semiconductor device (second electronic part)
93: transistor
94: Connector
95, 96: amplifier section
97:
100: motor
110: motor body
120: Output shaft
130: Motor case
140: Encoder case
150: circuit board
190: Screw
206: Holder
250: circuit board
257a, 257b:
268a, 268b: circuit board support portion (second circuit board support portion)
269a, 269b: Fixing hole
270:
300: Elastic adhesive
401, 402, 403: insulating film
481, 482: wiring part
501: one side
502:
503:
661: section
L: Axis
L1: One side
L2: the other side

Claims (22)

회로 기판과,
그 회로 기판에 실장된 센서와,
상기 회로 기판에 실장된 제 1 전자 부품을 갖고,
상기 센서는, 센서 소자와, 그 센서 소자의 온도를 검출하는 감온부와, 그 감온부에서의 검출 결과에 기초하여 상기 센서 소자의 온도가 일정해지도록 당해 센서 소자를 가열하는 히터를 갖고,
상기 회로 기판에는, 상기 센서와 상기 제 1 전자 부품을 연결하는 가상선에 대하여 교차하는 방향으로 연장되는 슬릿이 형성되어 있는 것을 특징으로 하는 센서 장치.
A circuit board,
A sensor mounted on the circuit board,
And a first electronic component mounted on the circuit board,
Wherein the sensor has a sensor element, a sensor section for detecting the temperature of the sensor element, and a heater for heating the sensor element so that the temperature of the sensor element is constant based on the detection result at the sensor section,
Wherein the circuit board is provided with a slit extending in a direction intersecting with a virtual line connecting the sensor and the first electronic component.
제 1 항에 있어서,
상기 센서 소자는, 소자 기판과, 그 소자 기판에 형성된 감자막을 가지고 있는 것을 특징으로 하는 센서 장치.
The method according to claim 1,
Wherein the sensor element has an element substrate and a potantium film formed on the element substrate.
제 2 항에 있어서,
상기 슬릿은, 상기 센서의 주위에 상기 회로 기판을 일부 남기고 당해 센서를 둘러싸듯이 연장되어 있는 것을 특징으로 하는 센서 장치.
3. The method of claim 2,
Wherein the slit extends so as to surround the sensor, leaving a part of the circuit board around the sensor.
제 3 항에 있어서,
상기 회로 기판을 축선 방향의 일방측의 단부에서 유지하는 홀더를 갖고,
상기 일방측의 단부에는, 상기 축선 방향의 상기 일방측을 향해 돌출되어 당해 일방측의 단면에서 상기 회로 기판에 있어서 상기 축선 방향의 타방측을 향하는 면을 지지하는 복수의 회로 기판 지지부를 가지고 있는 것을 특징으로 하는 센서 장치.
The method of claim 3,
And a holder for holding the circuit board at an end on one side in the axial direction,
The end of the one side has a plurality of circuit board support portions projecting toward the one side in the axial direction and supporting a surface of the circuit board facing the other side in the axial direction on an end surface of the one side Characterized in that
제 4 항에 있어서,
상기 복수의 회로 기판 지지부에는, 그 회로 기판 지지부의 외형 치수보다 가는 외형 치수를 갖고 상기 단면으로부터 상기 축선 방향의 상기 일방측을 향해 돌출되는 축부를 구비한 제 1 회로 기판 지지부가 포함되고,
상기 회로 기판에는, 상기 축부가 끼워지는 제 1 관통부가 형성되어 있는 것을 특징으로 하는 센서 장치.
5. The method of claim 4,
Wherein the plurality of circuit board support portions include a first circuit board support portion having outer dimensions smaller than the outer dimensions of the circuit board support portion and having a shaft portion projecting from the end face toward the one side in the axial direction,
Wherein the circuit board has a first penetrating portion in which the shaft portion is fitted.
제 5 항에 있어서,
상기 축부 및 상기 제 1 관통부를 복수 구비하고,
상기 홀더에 대하여, 상기 회로 기판의 표리가 미리 정한 방향이 되고, 또한 상기 회로 기판이 상기 축선 둘레에서 미리 정한 회전 위치가 되도록 위치 결정되면, 상기 복수의 상기 축부 모두가 상기 제 1 관통부와 끼워 맞춤이 가능해지고,
상기 미리 정한 회전 위치는 360 도의 범위 내에서 1 군데만으로, 당해 미리 정한 회전 위치를 제외한 회전 위치에서는, 상기 복수의 상기 축부의 적어도 1 개가 상기 제 1 관통부와 끼워 맞춤이 불가능한 것을 특징으로 하는 센서 장치.
6. The method of claim 5,
A plurality of the shaft portions and the first penetrating portions,
When the front and back sides of the circuit board are positioned in a predetermined direction with respect to the holder and the circuit board is positioned so as to be at a predetermined rotational position around the axis, all of the plurality of the shaft portions are engaged with the first through- As a result,
Wherein the predetermined rotation position is only one place within a range of 360 degrees and at least one of the plurality of the shaft portions can not be fitted with the first penetration portion at a rotation position other than the predetermined rotation position Device.
제 6 항에 있어서,
상기 복수의 회로 기판 지지부에는, 상기 일방측의 단면으로부터 상기 축부가 돌출되어 있지 않은 제 3 회로 기판 지지부가 포함되고,
상기 회로 기판에는, 상기 제 3 회로 기판 지지부의 상기 일방측 단면에 대하여 상기 축선 방향의 타방측에서부터 맞닿는 맞닿음부가 형성되어 있는 것을 특징으로 하는 센서 장치.
The method according to claim 6,
The plurality of circuit board support portions include a third circuit board support portion in which the shaft portion is not protruded from the one end side end face,
Wherein the circuit board is provided with an abutment portion abutting against the one end surface of the third circuit board support portion from the other side in the axial direction.
제 7 항에 있어서,
상기 제 1 관통부에 끼워 맞춰진 상기 축부는, 상기 회로 기판에 탄성 접착제에 의해 접착되어 있는 것을 특징으로 하는 센서 장치.
8. The method of claim 7,
And the shaft portion fitted to the first penetrating portion is bonded to the circuit board by an elastic adhesive.
제 4 항 내지 제 8 항 중 어느 한 항에 있어서,
상기 복수의 회로 기판 지지부에는, 그 회로 기판 지지부의 외형 치수보다 가는 외형 치수를 갖고 상기 일방측을 향해 돌출되는 통부를 구비한 제 2 회로 기판 지지부가 포함되고,
상기 회로 기판에는, 상기 통부가 끼워지는 제 2 관통부가 형성되고,
상기 회로 기판은, 그 회로 기판에 대하여 상기 홀더와는 반대측에서부터 상기 제 2 관통부를 지나 상기 통부에 멈춰진 나사에 의해서 상기 홀더에 고정되어 있는 것을 특징으로 하는 센서 장치.
9. The method according to any one of claims 4 to 8,
Wherein the plurality of circuit board support portions include a second circuit board support portion having an outer size smaller than an outer dimension of the circuit board support portion and having a barrel protruding toward the one side,
Wherein the circuit board has a second penetrating portion through which the barrel is fitted,
Wherein the circuit board is fixed to the holder by a screw which is stopped from the cylinder through the second penetrating portion from the side opposite to the holder with respect to the circuit board.
제 5 항 내지 제 8 항 중 어느 한 항에 있어서,
상기 복수의 회로 기판 지지부에는, 그 회로 기판 지지부의 외형 치수보다 가는 외형 치수를 갖고 상기 일방측을 향해 돌출되는 통부를 구비한 제 2 회로 기판 지지부가 포함되고,
상기 회로 기판에는, 상기 통부가 끼워지는 제 2 관통부가 형성되고,
상기 회로 기판은, 그 회로 기판에 대하여 상기 홀더와는 반대측에서부터 상기 제 2 관통부를 지나 상기 통부에 멈춰진 나사에 의해서 상기 홀더에 고정되고,
상기 축부와 상기 제 1 관통부의 내주면의 간극은, 상기 통부와 상기 제 2 관통부의 내주면의 간극보다 큰 것을 특징으로 하는 센서 장치.
9. The method according to any one of claims 5 to 8,
Wherein the plurality of circuit board support portions include a second circuit board support portion having an outer size smaller than an outer dimension of the circuit board support portion and having a barrel protruding toward the one side,
Wherein the circuit board has a second penetrating portion through which the barrel is fitted,
Wherein the circuit board is fixed to the holder by a screw which is stopped from the tube through the second penetrating portion from the side opposite to the holder with respect to the circuit board,
And the gap between the shaft portion and the inner circumferential surface of the first penetrating portion is larger than the gap between the tube portion and the inner circumferential surface of the second penetrating portion.
제 10 항에 있어서,
상기 제 2 관통부는, 상기 회로 기판의 바깥가장자리에 형성된 노치인 것을 특징으로 하는 센서 장치.
11. The method of claim 10,
And the second penetrating portion is a notch formed on an outer edge of the circuit board.
제 4 항 내지 제 8 항 중 어느 한 항에 있어서,
상기 복수의 회로 기판 지지부에는, 상기 일방측의 단면에 고정구멍이 형성된 제 2 회로 기판 지지부가 포함되고,
상기 회로 기판에는, 상기 홀더와는 반대측에서부터 상기 고정구멍에 나사 고정되는 나사가 삽입 통과되는 제 2 관통부가 형성되고,
상기 회로 기판은, 상기 나사에 의해 상기 홀더에 고정되어 있는 것을 특징으로 하는 센서 장치.
9. The method according to any one of claims 4 to 8,
Wherein the plurality of circuit board support portions include a second circuit board support portion having a fixing hole formed in one end face thereof,
A second penetrating portion through which a screw screwed into the fixing hole is inserted is formed in the circuit board from the side opposite to the holder,
Wherein the circuit board is fixed to the holder by the screw.
제 5 항 내지 제 8 항 중 어느 한 항에 있어서,
상기 복수의 회로 기판 지지부에는, 상기 일방측의 단면에 고정구멍이 형성된 제 2 회로 기판 지지부가 포함되고,
상기 회로 기판에는, 상기 홀더와는 반대측에서부터 상기 고정구멍에 나사 고정되는 나사가 삽입 통과되는 제 2 관통부가 형성되고,
상기 회로 기판은, 상기 나사에 의해 상기 홀더에 고정되고,
상기 축부와 상기 제 1 관통부의 내주면의 간극은, 상기 나사와 상기 제 2 관통부의 내주면의 간극보다 작은 것을 특징으로 하는 센서 장치.
9. The method according to any one of claims 5 to 8,
Wherein the plurality of circuit board support portions include a second circuit board support portion having a fixing hole formed in one end face thereof,
A second penetrating portion through which a screw screwed into the fixing hole is inserted is formed in the circuit board from the side opposite to the holder,
Wherein the circuit board is fixed to the holder by the screw,
And the gap between the shaft portion and the inner circumferential surface of the first penetrating portion is smaller than the gap between the screw and the inner circumferential surface of the second penetrating portion.
제 13 항에 있어서,
상기 제 2 관통부는, 상기 회로 기판의 바깥가장자리에 형성된 노치인 것을 특징으로 하는 센서 장치.
14. The method of claim 13,
And the second penetrating portion is a notch formed on an outer edge of the circuit board.
제 4 항에 있어서,
상기 홀더의 상기 축선 방향의 상기 타방측의 단부에는, 둘레 방향의 복수 지점에서부터 상기 축선 방향의 상기 타방측으로 돌출된 센서 장치 고정용의 돌부 (突部) 가 형성되어 있는 것을 특징으로 하는 센서 장치.
5. The method of claim 4,
And a protruding portion for fixing the sensor device protruding from a plurality of points in the circumferential direction to the other in the axial direction is formed at the other end of the holder in the axial direction.
제 15 항에 있어서,
상기 홀더는 수지제인 것을 특징으로 하는 센서 장치.
16. The method of claim 15,
Wherein the holder is made of resin.
제 16 항에 있어서,
상기 홀더는, 통형상 몸통부를 구비하고,
당해 통형상 몸통부의 내측에는 상기 센서에 의해서 물리량이 검출되는 검출 대상부가 배치되는 것을 특징으로 하는 센서 장치.
17. The method of claim 16,
The holder includes a tubular body portion,
And a detection target portion in which a physical quantity is detected by the sensor is disposed inside the tubular body portion.
제 1 항에 있어서,
상기 회로 기판에서는, 상기 슬릿에 대하여 상기 센서가 배치되어 있는 측에 발열성의 제 2 전자 부품이 실장되고,
상기 제 2 전자 부품은, 상기 회로 기판의 상기 센서가 실장되어 있는 측과는 반대측의 면에 실장되어 있는 것을 특징으로 하는 센서 장치.
The method according to claim 1,
In the circuit board, a second electronic component with a heat generating property is mounted on the side where the sensor is arranged with respect to the slit,
Wherein the second electronic component is mounted on a surface of the circuit board opposite to the side on which the sensor is mounted.
제 1 항에 있어서,
상기 회로 기판에 있어서 상기 센서와 상기 제 1 전자 부품 사이에는, 상기 센서와 상기 제 1 전자 부품을 연결하는 가상선에 대하여 교차하는 방향을 따라서 복수의 스루 홀이 배치되어 있는 것을 특징으로 하는 센서 장치.
The method according to claim 1,
Wherein a plurality of through holes are arranged between the sensor and the first electronic component in the circuit board along a direction crossing a virtual line connecting the sensor and the first electronic component. .
제 19 항에 있어서,
상기 제 1 전자 부품은 마이크로컴퓨터이고,
상기 스루 홀은, 상기 마이크로컴퓨터에 대한 정보의 기입용인 것을 특징으로 하는 센서 장치.
20. The method of claim 19,
The first electronic component is a microcomputer,
Wherein the through hole is for writing information on the microcomputer.
제 1 항에 있어서,
상기 회로 기판에 있어서 상기 센서와 상기 제 1 전자 부품 사이에는, 상기 센서와 상기 제 1 전자 부품을 연결하는 가상선에 대하여 교차하는 방향을 따라서 복수의 검사 단자가 배치되어 있는 것을 특징으로 하는 센서 장치.
The method according to claim 1,
Wherein a plurality of test terminals are disposed between the sensor and the first electronic component along a direction crossing a virtual line connecting the sensor and the first electronic component in the circuit board. .
제 1 항에 있어서,
상기 회로 기판에는, 그 회로 기판의 중앙 영역의 주위에 회로 기판의 일부를 남기고 연장되는 2 개의 슬릿이 형성되어 있고, 상기 회로 기판의 중앙 영역은 2 개의 슬릿에 둘러싸인 영역에 상기 센서를 배치하고 있는 것을 특징으로 하는 센서 장치.
The method according to claim 1,
The circuit board includes two slits extending around a central region of the circuit board while leaving a part of the circuit board. The center region of the circuit board has the sensor disposed in an area surrounded by two slits And the sensor device.
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