KR101568726B1 - Quantitative method for constituents of sintered ore - Google Patents

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Abstract

본 발명의 실시예에 따른 소결광의 성분 정량화 방법은 소결광에 광을 조사하고, 반사되는 광의 휘도 데이타를 획득하여, 상기 소결광에 포함된 성분들의 각 휘도값에 따른 명암이 나타나도록 화상 이미지를 생성하는 과정, 화상 이미지 상에서, 명암별로 면적을 산출하여, 각 성분에 대한 함량을 정량화하는 과정을 포함하고, 상 이미지 상에서 소결광에 포함된 기공 주변의 성분을 정량화하는 데 있어서,기공으로 분류되는 영역과 정량화하고자 하는 성분 영역 사이의 영역을 제거하는 과정 및 정량화하고자 하는 성분 영역의 면적을 산출하여, 함량값으로 변환하는 과정을 포함한다.
따라서, 본 발명의 실시형태들에 의하면, 소결광에 포함된 기공으로 인한 분석 오차를 최소화할 수 있어, 소결광의 각 성분들에 대한 함량 분석 오차를 최소화할 수 있다. 또한, 기공의 면적 측정에 있어서, 한 화면 상에서 기공이 잘리지 않고, 한 개체로 인식되어 측정되도록 함으로써, 기공 면적을 용이하게 측정할 수 있으며, 기공 면적 측정 오차를 줄일 수 있다.
A method for quantifying sintered ores according to an embodiment of the present invention includes the steps of irradiating light to sintered light, obtaining luminance data of the reflected light, and generating an image so that lightness and darkness corresponding to the respective luminance values of the components included in the sintered light appear And quantifying the content of each component by quantifying the amount of each component in the image. The method of quantifying the components around the pores included in the sintered image on the image, A process of removing a region between desired component regions, and a process of calculating an area of a component region to be quantified and converting the calculated area into a content value.
Therefore, according to the embodiments of the present invention, it is possible to minimize the analysis error due to the pores included in the sintered ores, thereby minimizing the content analysis error of each component of the sintered ores. Further, in the area measurement of the pores, the pores are not cut off on one screen, but are recognized as one entity and measured, so that the pore area can be easily measured and the pore area measurement error can be reduced.

Description

소결광 성분의 정량화 방법{Quantitative method for constituents of sintered ore}[0001] The present invention relates to a method for quantifying sintered ores,

본 발명은 소결광 정량화 방법에 관한 것으로, 보다 상세하게는 분석 오차를 줄일 수 있는 소결광 성분의 정량화 방법에 관한 것이다.The present invention relates to a method of quantifying sintered ores, and more particularly, to a method of quantifying a sintered orbital component capable of reducing an analysis error.

소결광은 고로의 제선 공정에서 원료로 사용되며, 크게 적철광, 자철광, 칼슘 페라이트, 슬래그 및 기공으로 이루어진다. The sintered ores are used as raw materials in the blast furnace production process and consist largely of hematite, magnetite, calcium ferrite, slag and pore.

소결광은 한국등록특허10-0896579호에도 개시된 바와 같이, 상부광 호퍼에 저장된 상부광과 써지 호퍼에 저장된 배합원료가 소결 대차에 투입되어 운송되고, 이동 중인 소결 대차는 점화로 하부를 통과한다. 이에 점화로로부터 분사되는 화염(즉, 불꽃)이 소결 대차 내에 수용된 소결 원료로 착화되며, 상기 소결 대차는 윈드 박스의 상측을 통과한다. 이에 따라, 윈드 박스 상측을 통과하는 소결 대차에 하측으로 흡인력이 발생되어, 흡인되는 공기에 의해 착화된 화염이 하측으로 이동하면서, 상기 소결 대차 내에서 소결이 이루어짐에 따라 소결광이 제조된다.As disclosed in Korean Patent No. 10-0896579, sintered ores are transported by being fed into a sintering hopper, in which the upper light stored in the upper hopper and the blending raw materials stored in the surge hopper are transported. Thus, the flame (that is, flame) injected from the ignition furnace is ignited to the sinter raw material accommodated in the sintered bogie, and the sintered bogie passes through the upper side of the wind box. As a result, a suction force is generated downward in the sintered bogie passing through the upper side of the windbox, and the flame ignited by the air sucked moves downward, and the sintered light is produced as the sintering is performed in the sintered bogie.

이러한 소결광은 적철광, 자철광, 칼슘 페라이트, 슬래그 및 기공 각 성분의 함량에 따라 소결광의 품질 편차가 발생된다. 따라서, 소결광의 품질 확인 또는 개선을 위해 제조된 소결광의 적철광, 자철광, 칼슘 페라이트, 슬래그 및 기공 각 성분을 함량을 검출하는 정량화 분석이 필요하다.Such sintered ores result in quality variations of the sintered ores depending on the contents of hematite, magnetite, calcium ferrite, slag and pore components. Therefore, quantitative analysis for detecting the contents of hematite, magnetite, calcium ferrite, slag, and pore components of the sintered ores produced to confirm or improve the quality of the sintered ores is required.

소결광의 성분들에 대한 함량을 정량화하기 위해, 통상적으로 광학 현미경을 통해 분석한다. 즉, 광학 현미경을 통해 소결광에 광을 조사하고, 소결광으로부터 반사되는 광의 휘도 데이타를 획득하여, 소결광에 포함된 성분들의 각 휘도값에 따른 명암이 나타나도록 화상 이미지를 생성한다. 그리고, 상기 화상 이미지 상에서 적철광, 자철광, 칼슘 페라이트, 슬래그 및 기공 각각의 영역 또는 개체를 분석하고, 각 영역에 대한 면적을 측정하여 정량화할 수 있다.In order to quantify the content of the components of the sintered ores, they are usually analyzed through an optical microscope. That is, light is irradiated to the sintered light through an optical microscope, luminance data of light reflected from the sintered light is obtained, and an image image is generated such that light and shade corresponding to the respective luminance values of the components included in the sintered light appear. The area or individual of each of hematite, magnetite, calcium ferrite, slag and pore can be analyzed on the image, and the area for each area can be measured and quantified.

한편, 기공은 빈 공간이기 때문에, 빛을 모두 흡수하며, 이를 화상 이미지로 나타낼 경우, 검정색으로 나타난다.On the other hand, since pores are vacant spaces, they absorb all the light, and when they are displayed as image images, they appear in black.

그런데, 기공 주변에 위치하는 적철광, 자철광, 칼슘 페라이트 등의 광물을 정량화하고자 할 때, 상기 기공의 최외각 또는 가장자리 영역의 외측 영역이 실제 광물 영역임에도 불구하고, 기공으로 인해 낮은 휘도를 보인다. 즉, 기공과 인접하도록 상기 최외각 외측에 적철광, 자철광 또는 칼슘 페라이트 성분과 같은 광물이 위치하여, 상기 기공의 최외각의 바로 외측 영역은 광물로 분류되어야 하지만, 상술한 바와 같이 기공으로 인해 낮은 휘도값을 갖게 되어, 분석하고자 하는 광물 성분에 비해 휘도가 낮은 다른 성분으로 측정되는 오차가 발생된다.However, when quantifying the minerals such as hematite, magnetite, and calcium ferrite located in the vicinity of the pore, the outermost region of the pore or the region outside the edge region is a real mineral region, but exhibits a low luminance due to pores. That is, a mineral such as hematite, magnetite, or calcium ferrite is located on the outermost side of the pore to be adjacent to the pore, and an area just outside the outermost pore must be classified as a mineral. However, , Which causes an error to be measured with other components having lower luminance as compared with the mineral component to be analyzed.

또한, 기공이 크고 깊을수록 기공의 중앙(또는 중심부) 영역이 굴절로 인해, 다른 영역에 비해 휘도값이 높게 측정되는 오차가 발생되어, 슬래그로 측정되는 오차가 생긴다.Further, as the pore is larger and deeper, the center (or central portion) region of the pore is refracted, and an error is measured which is higher than that of the other regions, resulting in an error measured by the slag.

다른 문제로서, 소결광 제조시에 슬래그와 반사광 휘도가 중첩 또는 유사한 에폭시 수지가 혼합되는데, 빈 공간인 기공에 에폭시 수지가 채워지게 되면, 기공을 슬래그로 인식하여 측정하는 오차가 생기게 된다.Another problem is that an epoxy resin which is superimposed on or similar to the slag and the reflected light luminance is mixed at the time of producing the sintered ores. When the epoxy resin is filled in the pores as the empty space, the pores are recognized as slags and errors are caused.

이와 같이, 종래에는 상기한 바와 같은 오차로 인해, 소결광을 구성하는 성분 즉, 적철광, 자철광, 칼슘 페라이트, 슬래그 및 기공 각각의 성분 함량을 정확하게 정량화할 수 없는 문제가 있었다.Thus, conventionally, due to the above-mentioned errors, there has been a problem that the components constituting the sintered ores, that is, the component contents of hematite, magnetite, calcium ferrite, slag and pore can not be accurately quantified.

한국등록특허10-0896579호Korean Patent No. 10-0896579

본 발명은 신뢰성 높은 소결광의 성분 정량화 방법을 제공한다.The present invention provides a method for quantifying components of highly reliable sintered ores.

또한, 본 발명은 화상 이미지를 이용하여 소결광을 정량화하는 방법에 있어서, 각 성분의 휘도로 인한 분석 오차 발생을 줄일 수 있는 소결광의 성분 정량화 방법을 제공한다.The present invention also provides a method for quantifying sintered ores by using image images, and a method for quantifying components of sintered ores that can reduce the occurrence of analysis errors due to the brightness of each component.

본 발명의 소결광의 성분 정량화 방법은 소결광에 광을 조사하고, 상기 소결광으로부터 반사되는 광의 휘도 데이타를 획득하여, 상기 소결광에 포함된 성분들의 각 휘도값에 따른 명암이 나타나도록 화상 이미지를 생성하는 과정; 상기 화상 이미지 상에서, 명암별로 면적을 산출하여, 각 성분에 대한 함량을 정량화하는 과정;을 포함하고, 상기 화상 이미지 상에서 상기 소결광에 포함된 기공 주변의 성분을 정량화하는 데 있어서, 상기 화상 이미지 상에서 상기 기공으로 분류되는 영역과 정량화하고자 하는 성분 영역 사이의 영역을 제거하는 과정; 및 정량화하고자 하는 성분 영역의 면적을 산출하여, 함량값으로 변환한다.A method of quantifying a component of an sintered ores according to the present invention includes the steps of irradiating light to sintered light, obtaining luminance data of light reflected from the sintered light, and generating an image image so that lightness and darkness corresponding to the respective luminance values of components included in the sintered light appear ; And quantifying the content for each component by calculating an area for each of the light and dark areas on the image image, and quantifying components around the pore included in the sintered light on the image image, Removing a region between a region classified as a pore and a component region intended to be quantified; And the area of the component region to be quantified is calculated and converted into a content value.

상기 화상 이미지 상에서 상기 기공 주변의 성분을 정량화하는 데 있어서, 상기 화상 이미지 상에서, 상기 기공 및 상기 기공 주변 영역을 확대하는 단계; 상기 화상 이미지 상에서, 상기 기공으로 분류되는 영역을 제거하는 단계; 및 상기 기공으로 분류되는 영역의 최외각의 테두리 영역을 제거하는 단계;를 포함한다.
Quantifying a component around the pore on the image image, comprising: magnifying the pore and the pore surrounding area on the image image; Removing, on the image image, an area classified by the pore; And removing an outermost edge region of the region classified by the pore.

본 발명에 따른 소결광의 성분 정량화 방법은 소결광에 광을 조사하고, 상기 소결광으로부터 반사되는 광의 휘도 데이타를 획득하여, 상기 소결광에 포함된 성분들의 각 휘도값에 따른 명암이 나타나도록 화상 이미지를 생성하는 과정; 상기 화상 이미지 상에서, 명암별로 면적을 산출하여, 각 성분에 대한 함량을 정량화하는 과정; 을 포함하고, 상기 화상 이미지 상에서 상기 소결광에 포함된 기공을 정량화하는 데 있어서, 상기 기공으로 분류되는 한 개체에 있어서, 최외각의 내측 영역이 다른 영역에 비해 상대적으로 명암이 높은 것으로 판단되는 경우, 상기 상대적으로 명암이 높은 영역이 상기 기공의 명암을 가지도록 조절한다.A method for quantifying sintered ores according to the present invention includes the steps of irradiating light to sintered light, obtaining luminance data of light reflected from the sintered light, and generating an image so that lightness and darkness corresponding to the respective luminance values of the components included in the sintered light appear process; Calculating an area for each of the light and dark areas on the image, and quantifying the content for each component; Wherein in quantifying the pores included in the sintered ores on the image, if it is determined that the inner region of the outermost region is relatively sharper than the other region, And the region having the relatively high contrast is adjusted to have the contrast of the pore.

상기 소결광에 포함된 기공의 함량을 정량화한 후에, 상기 소결광에 포함된 슬래그의 함량을 정량화한다.After quantifying the content of the pores contained in the sintered ores, the content of the slag contained in the sintered ores is quantified.

상기 슬래그의 함량을 정량화하는 데 있어서, 상기 화상 이미지 상에서 슬래그로 분류되는 영역의 면적을 산출하여, 상기 슬래그의 함량을 정량화하고, 상기 화상 이미지 상에서 기공으로 분류되는 영역에 있어서, 최외각의 내측 영역이 상기 슬래그의 휘도값으로 측정되어 슬래그로 분류되는 경우, 상기 기공으로 분류되는 영역의 최외각 내측에 슬래그의 휘도값으로 측정되어 슬래그로 분류된 영역을 제거한 후, 상기 슬래그로 분류되는 나머지 영역의 면적을 산출한다.
In quantifying the content of the slag, an area of the area classified as slag on the image image is calculated to quantify the content of the slag, and in an area classified as pores on the image image, Is measured as a luminance value of the slag and is classified into slag, the area classified as slag is measured as the luminance value of the slag inside the outermost part of the area classified by the pore, and then the remaining area The area is calculated.

본 발명에 따른 소결광의 성분 정량화 방법은 소결광에 광을 조사하고, 상기 소결광으로부터 반사되는 광의 휘도 데이타를 획득하여, 상기 소결광에 포함된 성분들의 각 휘도값에 따른 명암이 나타나도록 화상 이미지를 생성하는 과정; 상기 화상 이미지 상에서, 명암별로 면적을 산출하여, 각 성분에 대한 함량을 정량화하는 과정;을 포함하고, 상기 화상 이미지 상에서 슬래그로 분류되는 한 개체의 면적이 기준 면적 이상일 경우, 기공으로 판단한다.A method for quantifying sintered ores according to the present invention includes the steps of irradiating light to sintered light, obtaining luminance data of light reflected from the sintered light, and generating an image so that lightness and darkness corresponding to the respective luminance values of the components included in the sintered light appear process; And calculating an area for each of the light and dark areas on the image image, and quantifying the content for each of the components. When the area of one object classified as slag on the image image is equal to or larger than the reference area, it is determined as pore.

상기 화상 이미지 상에서 슬래그로 분류되는 한 개체의 면적이 기준 면적 이상일 경우, 기공으로 판단하는데 있어서, 슬래그로 분류되는 한 개체의 면적이 200 배율의 화상 이미지에서 1/8 이상의 면적을 가지는 경우, 기공으로 판단한다.In the case where the area of one object classified as slag on the image image is equal to or larger than the reference area and the area of one object classified as slag has an area of 1/8 or more in the image of 200 pixels, .

본 발명의 실시형태들에 의하면, 소결광에 포함된 기공으로 인한 분석 오차를 최소화할 수 있어, 소결광의 각 성분들에 대한 함량 분석 오차를 최소화할 수 있다. 또한, 기공의 면적 측정에 있어서, 한 화면 상에서 기공이 잘리지 않고, 한 개체로 인식되어 측정되도록 함으로써, 기공 면적을 용이하게 측정할 수 있으며, 기공 면적 측정 오차를 줄일 수 있다.According to the embodiments of the present invention, the analysis error due to the pores included in the sintered ores can be minimized, and the content analysis error for each component of the sintered ores can be minimized. Further, in the area measurement of the pores, the pores are not cut off on one screen, but are recognized as one entity and measured, so that the pore area can be easily measured and the pore area measurement error can be reduced.

따라서, 제조된 소결광의 품질 상태를 종래에 비해 정확하게 판단할 수 있어, 소결광의 품질을 향상 또는 개선시킬 수 있다.Therefore, the quality state of the produced sintered ores can be determined more accurately than in the past, and the quality of the sintered ores can be improved or improved.

도 1은 본 발명의 실시예에 따른 시료의 성분 정량화 방법을 실시하기 위한 분석 정치의 개략적인 구성을 나타낸 도면
도 2는 본 발명의 실시예에 따른 시료의 성분 정량화 방법을 도시한 순서도
도 3은 소결광에 광을 조사하여 반사된 광의 휘도값을 이용하여 화상 이미지로 나타낸 사진
도 4는 소결광의 각 성분에 대한 함량 정량화를 위해, 현미경부를 통해 확대하여 기공 및 상기 기공 주변을 나타낸 화상 이미지
도 5는 소결광에 함유된 기공을 정량화하기 위해, 현미경부를 통해 확대하여 나타낸 화상 이미지
도 6은 소결광에 함유된 슬래그를 정량화하기 위해, 현미경부를 통해 확대하여 나타낸 화상 이미지
도 7 및 도 8은 소결광에 함유된 기공을 정량화하기 위해, 현미경부를 통해 확대하여 나타낸 화상 이미지
도 9는 소결광에 포함된 기공의 면적을 측정하기 위해, 50 배율 및 200 배율로 확대한 모습을 나타낸 사진
BRIEF DESCRIPTION OF THE DRAWINGS FIG. 1 is a schematic view showing the configuration of analytical conditions for carrying out a method for quantifying a component of a sample according to an embodiment of the present invention; FIG.
2 is a flowchart showing a method of quantifying a component of a sample according to an embodiment of the present invention
FIG. 3 is a graph showing a photograph represented by an image image using the luminance value of the reflected light by irradiating light to the sintered light
Fig. 4 is a graph showing the relationship between the pore size and the pore size
Fig. 5 is a graph showing the relationship between the amount of pores contained in the sintered ores
6 is a graph showing the relationship between the amount of slag contained in the sintered ores
Figs. 7 and 8 are schematic cross-sectional views of a microscope,
9 is a photograph showing a magnification of 50 magnifications and 200 magnifications in order to measure the area of the pores included in the sintered ores

이하, 첨부된 도면을 참조하여 본 발명의 실시예를 상세히 설명하기로 한다. 그러나, 본 발명은 이하에서 개시되는 실시 예에 한정되는 것이 아니라 서로 다른 다양한 형태로 구현될 것이며, 단지 본 실시 예들은 본 발명의 개시가 완전하도록 하며, 통상의 지식을 가진 자에게 발명의 범주를 완전하게 알려주기 위해 제공되는 것이다.Hereinafter, embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings. It should be understood, however, that the invention is not limited to the disclosed embodiments, but is capable of other various forms of implementation, and that these embodiments are provided so that this disclosure will be thorough and complete, It is provided to let you know completely.

도 1은 본 발명의 실시예에 따른 시료의 성분 정량화 방법을 실시하기 위한 분석 정치의 개략적인 구성을 나타낸 도면이다. 도 2는 본 발명의 실시예에 따른 시료의 성분 정량화 방법을 도시한 순서도이다. 도 3은 소결광에 광을 조사하여 반사된 광의 휘도값을 이용하여 화상 이미지로 나타낸 사진이다.BRIEF DESCRIPTION OF THE DRAWINGS FIG. 1 is a diagram showing a schematic configuration of analytical values for carrying out a method for quantifying a component of a sample according to an embodiment of the present invention; FIG. 2 is a flowchart showing a method of quantifying a component of a sample according to an embodiment of the present invention. 3 is a photograph showing an image image using the luminance value of the reflected light by irradiating the sintered light.

본 발명은 시료에 함유된 성분들의 각 함량을 정량적으로 분석하는 방법으로, 보다 상세하게는 각 성분에 대한 분석 오차를 줄일 수 있는 정량화 방법이다.
The present invention relates to a method for quantitatively analyzing the content of each component contained in a sample, and more particularly, a quantitative method for reducing an analysis error for each component.

본 발명의 실시예에 따른 성분 정량화 방법을 설명하게 앞서, 도 1을 참조하여, 본 발명의 시료의 성분 정량화 방법을 실시하기 위한 분석 장치에 대하 설명한다.First, a method of quantifying a component according to an embodiment of the present invention will be described with reference to Fig. 1, and an analyzing apparatus for performing a method of quantifying a component of the sample of the present invention will be described.

도 1을 참조하면, 분석 장치는 스테이지(110) 상에 안착된 시료를 이동시키면서 시료를 확대하는 현미경부(100)와, 분석 프로그램이 내장되어 현미경부(100)에서 획득된 영상을 외부로 출력하는 한편, 복수의 측정점 사이의 간격(x 또는 y) 설정이나, 기타 구동 명령을 입력하고, 분석 결과를 통합하여 다양한 화면으로 출력하는 컴퓨터부(200)를 포함한다. Referring to FIG. 1, the analyzer includes a microscope unit 100 for enlarging a sample while moving a sample placed on a stage 110, an image analyzing unit 100 for analyzing the image obtained by the microscope unit 100, And a computer unit 200 for setting the interval (x or y) between a plurality of measurement points, inputting other drive commands, and integrating the analysis results and outputting them on various screens.

본 발명의 실시예에서 사용되는 현미경부(100)는 두개의 편광 렌즈 즉, 상부 니콜과 하부 니콜이 장착되어 있는 편광 현미경(polarization microscope)이다. 하부 니콜은 전후 방향으로 진동하는 평면편광으로 빛을 통과시키는 데 비해, 상부 니콜은 좌우 방향으로 진동하는 빛만을 통과시킨다. 여기서, 상부 니콜을 광의 통로 위에 놓이도록 조작하여 관찰하는 상태를 '직교 니콜' 상태에 있다고 하며, 상기 상부 니콜을 광의 통로 상에서 벗어나도록 하면, 상부 니콜과 하부 니콜의 진동 방향이 평행이 되게 되므로, '평행 니콜' 또는 '개방 니콜(open 니콜)' 상태이다.The microscope unit 100 used in the embodiment of the present invention is a polarization microscope equipped with two polarizing lenses, that is, an upper Nicole and a lower Nicole. The lower Nicol passes light through the plane polarized light oscillating in the forward and backward directions, while the upper Nicol passes only the light vibrating in the left and right direction. In this case, it is assumed that the state in which the upper Nicol is operated to be placed on the light path is in the 'quadrature Nicoll' state, and if the upper Nicol is deviated from the light path, the vibration directions of the upper Nicol and the lower Nicol become parallel, 'Parallel Nicole' or 'Open Nicole'.

또한, 현미경부(100)에는 특정 파장의 광을 분석 시편으로 조사하고, 분석 시편으로부터 반사되는 광의 양을 감지하는 광 측정 수단(미도시)이 구비된다. 보다 구체적으로, 본 발명의 실시예에 따른 광 측정 수단은 시편으로부터 반사되는 광(반사광)의 양 즉, 휘도를 감지하여 컴퓨터부(200)로 전송한다. 그리고 컴퓨터부(200)에서는 획득된 휘도 데이타를 획득하여, 시료에 포함된 성분들의 각 휘도값에 따른 명암이 나타나도록 화상 이미지로 변환시킨다.Further, the microscope section 100 is provided with light measuring means (not shown) for irradiating light of a specific wavelength with the analytical specimen and sensing the amount of light reflected from the analytical specimen. More specifically, the light measuring unit according to the embodiment of the present invention senses the amount of light (reflected light) reflected from the specimen, that is, the brightness, and transmits the sensed amount to the computer unit 200. The computer unit 200 acquires the obtained luminance data, and converts the obtained luminance data into an image image so that lightness and darkness corresponding to the respective luminance values of the components included in the sample are displayed.

한편, 시편에 광을 조사시켜 반사된 반사광은 상기 시료를 이루는 성분 또는조직의 밝기 또는 휘도에 대한 정보를 포함하는데, 분석 시편에 대한 정보 중, 분석 시편 조직의 밝기를 나타내는 정보를 디지털화하여 숫자로 세분화함으로써, 휘도값에 따른 명암이 나타나도록 화상 이미지로 나타낼 수 있다. 즉, 가장 어두운 검은색부터 가장 밝은 흰색까지의 밝기를 여러 단계로 나누어 숫자로 표현할 수 있다. 예를 들어 8bit의 영상일 경우, 256(=26)가지 명암으로 분류되는 색으로 표현할 수 있으며, 이를 통해 분석 시편 조직의 색상 정보를 제공할 수 있다. 물론 16bit일 경우, 65536가지 색상 정보를 제공할 수 있으며, 제공되는 색상 정보의 양에 특별한 제한은 없다.On the other hand, the reflected light reflected by irradiating the specimen with light includes information on the brightness or brightness of the component or tissue constituting the specimen. Of the information on the analytical specimen, information indicating the brightness of the analytical specimen tissue is digitized, By subdividing it, it can be displayed as an image image so that light and shade corresponding to the luminance value are displayed. In other words, the brightness from the darkest black to the brightest white can be expressed as a number divided into several stages. For example, in the case of an 8-bit image, the color can be represented by 256 (= 26 ) kinds of contrasting colors, thereby providing color information of the analysis sample organization. Of course, in case of 16bit, 65536 kinds of color information can be provided, and there is no particular limitation on the amount of color information to be provided.

분석자가 현미경부(100)를 통해 분석 시편에 광을 조사하면, 반사광은 상기와 같은 과정으로 디지털화되고, 컵퓨터부(200) 내에 내장된 분석 프로그램은 반사된 반사광의 양을 휘도값으로 산출하여, 검은색에서 흰색에 이르는 색상 또는 명암 정보를 제공하고, 이는 성분별로 각기 다른 명암으로 표현되는 화상 이미지로 제공되는데 사용된다.
When the analyzer irradiates the analysis specimen with light through the microscope 100, the reflected light is digitized as described above, and the analysis program embedded in the cup computer 200 calculates the amount of reflected light as a brightness value , And color or intensity information ranging from black to white, which is used to provide an image image that is expressed in different shades for each component.

이하, 도 2를 참조하여, 본 발명의 실시예에 따른 방법으로 시료에 포함된 각 성분을 정량화하는 방법을 설명한다. 이때, 각 성분을 분석하여 정량화하고자 하는 시료로 소결광을 예를 들어 설명한다.
Hereinafter, with reference to FIG. 2, a method of quantifying each component included in a sample by a method according to an embodiment of the present invention will be described. At this time, sintered ores are described as examples of samples to be analyzed and quantified.

도 2를 참조하면, 본 발명의 실시예에 따른 광물의 각 성분의 함량을 정량화하는 방법은 각 성분들의 함량을 정량화하고자 하는 시료인 소결광에 광을 조사하는 과정(S100), 시료로부터 반사되는 광의 휘도 데이타를 획득하는 과정(S200), 시료에 포함된 성분들의 각 휘도값에 따른 명암이 나타나도록 화상 이미지를 생성하는 과정(S300), 명암별로 각 성분을 분류하는 과정(S400), 명암별로 면적을 산출하여 각 성분에 대한 함량을 계산하여 정량화하는 과정(S500)을 포함한다.
Referring to FIG. 2, a method for quantifying the content of each component of a mineral according to an embodiment of the present invention includes a step (S100) of irradiating light to a sintered organd, which is a sample to quantify the content of each component (S100) A step of obtaining brightness data (S200), a step of generating an image image (S300) such that lightness and darkness according to brightness values of the components included in the sample are displayed (S300), a step of classifying each component by dark and light (S400) And calculating and quantifying the content of each component (S500).

먼저, 분석하고자 하는 시료인 소결광에 대해 보다 상세히 설명한다.First, the sintered ores, which are samples to be analyzed, will be described in more detail.

고로의 제선 공정에서 원료로 사용되는 소결광은 크게 적철광, 자철광, 칼슘 페라이트, 슬래그 및 기공으로 이루어진다. 이러한 소결광은 적철광, 자철광, 칼슘 페라이트, 슬래그 및 기공 각 성분의 함량에 따라 소결광의 품질 편차가 발생된다. 따라서, 소결광의 품질 확인 또는 개선을 위해 제조된 소결광의 적철광, 자철광, 칼슘 페라이트, 슬래그 및 기공 각 성분을 함량을 검출하는 정량화 분석이 필요하다. 이를 위해, 본 발명에서는 소결광에 광을 조사하여 반사되는 광(반사광)의 휘도를 이용하여 각 성분(적철광, 자철광, 칼슘 페라이트, 슬래그 및 기공)에 대한 함량을 정량화한다.The sintered ores used as raw materials in the blast furnace are mainly composed of hematite, magnetite, calcium ferrite, slag and pore. Such sintered ores result in quality variations of the sintered ores depending on the contents of hematite, magnetite, calcium ferrite, slag and pore components. Therefore, quantitative analysis for detecting the contents of hematite, magnetite, calcium ferrite, slag, and pore components of the sintered ores produced to confirm or improve the quality of the sintered ores is required. To this end, in the present invention, the content of each component (hematite, magnetite, calcium ferrite, slag, and pore) is quantified by using the luminance of light (reflected light) reflected by irradiating the sintered light with light.

한편, 상술한 바와 같이 소결광은 크게 적철광(H), 자철광(M), 칼슘 페라이트(CF), 슬래그(S) 및 기공(P)을 함유하며, 각 성분들(적철광, 자철광, 칼슘 페라이트, 슬래그 및 기공)은 각기 다른 조직을 가진다.As described above, the sintered ores are composed mainly of hematite (H), magnetite (M), calcium ferrite (CF), slag (S) and pore (P), and the respective components (hematite, magnetite, calcium ferrite, And porosity) have different structures.

이에, 소결광에 광을 조사하면(S100), 각 성분들은 각기 다르게 광을 흡수한 후, 반사하며, 이때 광 측정 수단은 소결광으로부터 반사되는 광의 양 즉, 휘도 데이타를 획득(S200)하는데, 각 성분으로부터의 반사광 휘도가 상이하다. 소결광의 경우, 반사광의 휘도의 크기가 적철광(H) > 자철광(M) > 칼슘 페라이트(CF) > 슬래그(S) > 기공 순이다.When the sintered light is irradiated with light (S100), each component absorbs and reflects light differently. At this time, the light measuring means obtains the amount of light reflected from the sintered organs, that is, luminance data (S200) The brightness of the reflected light from the light source is different. In the case of sintered ores, the magnitude of the luminance of the reflected light is in the order of hematite (H)> magnetite (M)> calcium ferrite (CF)> slag (S)> pore.

컴퓨터부(200)에서는 광 측정 수단으로부터 제공받은 휘도 데이타를 성분별 휘도에 따라 서로 다른 명함으로 표현되는 화상 이미지로 변환시킨다(S300). 이를 위해, 컴퓨터부(200)에는 적철광, 자철광, 칼슘 페라이트, 슬래그 및 기공 각각에 대한 기준 휘도값이 저장된다. 그리고, 기준 휘도값이 적철광(H) > 자철광(M) > 칼슘 페라이트(CF) > 슬래그(S) > 기공(P) 순이 되도록 설정된다. 예를 들어, 기준 휘도값(제 1 기준 휘도값)을 200 내지 255cd/m2, 자철광의 기준 휘도값(제 2 기준 휘도값)을 171 내지 200cd/dm2, 칼슘 페라이트의 기준 휘도값(제 3 기준 휘도값)을 91 내지 170cd/dm2, 슬래그의 기준 휘도값(제 4 기준 휘도값)을 50 내지 90cd/dm2, 기공의 기준 휘도값(제 5 기준 휘도값)을 0 내지 50cd/dm2으로 설정한다.The computer unit 200 converts the luminance data provided from the light measuring unit into image images represented by different business cards according to the luminance of each component (S300). For this purpose, the computer unit 200 stores reference brightness values for hematite, magnetite, calcium ferrite, slag, and pores, respectively. The reference luminance value is set so that the hematite is in the order of hematite (H)> magnetite (M)> calcium ferrite (CF)> slag (S)> pore (P). For example, when the reference luminance value (first reference luminance value) is 200 to 255 cd / m 2 , the reference luminance value (second reference luminance value) of magnetite is 171 to 200 cd / dm 2 , 3 standard brightness value) of 91 to 170 cd / dm 2 , a slag reference brightness value (fourth reference brightness value) of 50 to 90 cd / dm 2 , a pore reference brightness value (fifth reference brightness value) of 0 to 50 cd / dm 2 < / RTI >

그리고, 광 측정 수단으로부터 제공된 실제 휘도 데이타를 상술한 바와 같은 제 1 내지 제 5 기준 휘도값과 비교하여, 제 1 내지 제 5 기준 휘도값 중 어느 기준 휘도값 범위에 포함되는지 판단한다. 이후, 제 1 내지 제 5 기준 휘도값에 따라 다른 명암을 가지도록 이미지화되는데, 예컨대 제 1 내지 제 5 명암값으로 나눠질 수 있다. 여기서 제 1 내지 제 5 명암값은 무채색 계열에서, 검은색부터 흰색까지의 명암으로 구분될 수 있다(도 3a 참조). 이때 제 1 기준 휘도값에 따른 제 1 명암값은 예컨대 검은색으로써 기공을 나타내며, 제 5 기준 휘도값에 따른 제 5 명암값은 예컨대 흰색으로써, 적철광을 나타내도록 설정할 수 있다. 그리고, 제 2, 3 및 4 기준 휘도값에 따른 제 2, 3 및 4 명암값은 검은색과 흰색 사이의 명암을 가지는 색 예컨대 회색 계열일 수 있으며, 상기 회색 계열에서도 그 명암에 따라 구분되는데, 제 2 명암값에 비해 제 3 명암값이 크고, 제 3 명암값에 비해 제 4 명암값이 크다.The actual luminance data provided from the light measuring means is compared with the first to fifth reference luminance values as described above to determine which of the first to fifth reference luminance values is included in the reference luminance value range. Thereafter, it is imaged to have different contrasts according to the first to fifth reference luminance values, for example, divided into first to fifth contrast values. Here, the first to fifth brightness values can be divided into achromatic colors, and black and white contrasts (see FIG. 3A). In this case, the first lightness value corresponding to the first reference lightness value is, for example, black, and the fifth lightness value corresponding to the fifth reference lightness value is, for example, white. The second, third, and fourth contrast values according to the second, third, and fourth reference luminance values may be a color having a contrast between black and white, for example, a gray system, The third contrast value is larger than the second contrast value, and the fourth contrast value is larger than the third contrast value.

또한, 제 1 내지 제 5 기준 휘도값은 유채색 계열로 나타낼 수 있는데, 각 기준 휘도값이 서로 다른 유채색을 보이도록 나타낼 수 있다(도 3b).In addition, the first to fifth reference luminance values may be represented by a chromatic color system, and each reference luminance value may be displayed so as to show different chromatic colors (FIG. 3B).

예를 들어, 일부 영역의 휘도가 제 1 기준 휘도값 범위에 포함되는 되는 경우, 화상 이미지 상에서 가장 어두운 명암색인 검은색으로 표현되며, 화상 이미지 상에서 검은색으로 나타난 개체들을 기공으로 판단한다.For example, when the luminance of a certain region is included in the first reference luminance value range, entities represented by black, which is the darkest darkest color on the image, and black on the image are determined as pores.

그리고 나머지 다른 영역으로부터 반사된 광의 휘도를 상술한 바와 같이 제 1 내지 제 5 기준 휘도값과 비교하고, 해당 기준 휘도값에 해당하는 명암으로 이미지화한다. 따라서, 얻어진 휘도값을 이용하여 각기 다른 명암을 가지는 화상 이미지로 나타내면, 5개로 분류된 명암으로 인해 적철광(H), 자철광(M), 칼슘 페라이트(CF), 슬래그(S), 기공(P)의 분류 또는 분별이 가능하다(S400).Then, the brightness of the light reflected from the other area is compared with the first to fifth reference brightness values as described above, and the brightness is imaged with the brightness corresponding to the reference brightness value. (H), magnetite (M), calcium ferrite (CF), slag (S), pore (P), and so on are classified into 5 images by using the obtained luminance values. (S400).

소결광의 일 영역에 광을 조사하여 획득된 휘도를 상술한 바와 같은 방법으로 화상 이미지화하여, 예컨대 200 배율의 한 화면에 나타내면, 예를 들어 도 3a와 같다. 도 3a를 참조하면, 한 화면에 나타난 화상 이미지 상에, 적철광(H), 자철광(M), 칼슘 페라이트(CF), 슬래그(S) 및 기공(P)이 모두 포함되어 있다. 이와 같은 화상 이미지는 상술한 바와 같이 각 성분들로부터 반사되는 광의 휘도에 따라 명암을 다르게 하여 이미지화함으로써 표현이 가능하다. 도 3a에 의하면, 무채색 계열에서 명암이 높은 순으로 적철광(H), 자철광(M), 칼슘 슬래그(CF), 슬래그(S) 및 기공(P)으로 분류된다.The luminance obtained by irradiating light to one region of the sintered ores is image-imaged by the above-described method and displayed on a screen of, for example, 200 magnifications, for example, as shown in FIG. 3A, hematite (H), magnetite (M), calcium ferrite (CF), slag (S) and pores (P) are all included on an image displayed on one screen. As described above, such an image image can be expressed by varying the contrast depending on the brightness of the light reflected from the respective components and imaging it. According to FIG. 3A, halftone (H), magnetite (M), calcium slag (CF), slag (S) and pore (P) are classified in the achromatic series in descending order of light and shade.

그리고, 도 3a에서 무채색 계열에서 명암을 다르게 하여 표현된 화상 이미지를 도 3b와 같이 각 성분의 명암마다 각기 다른 유채색으로 표현할 수 있다. 예컨대, 적철광(H), 자철광(M), 칼슘 슬래그(CF), 슬래그(S) 및 기공(P) 각각의 한 개체를 노랑, 파랑, 빨강, 초록 등의 유채색으로 변환할 수 있다. 이에 따라, 각 성분에 대한 분별이 보다 용이해져, 각 성분들로 분류되는 각 영역의 면적 산출이 용이하다.
In FIG. 3A, the image image expressed by varying the contrast in the achromatic series can be represented by different chromatic colors for each light and dark of each component as shown in FIG. 3B. For example, one individual of hematite (H), magnetite (M), calcium slag (CF), slag (S) and pore (P) can be converted into chromatic colors such as yellow, blue, red and green. This makes it easy to discriminate each component, and it is easy to calculate the area of each region classified into the respective components.

도 4는 소결광의 각 성분에 대한 함량 정량화를 위해, 현미경부를 통해 확대하여 기공 및 상기 기공 주변을 나타낸 화상 이미지이다. 도 5는 소결광에 함유된 기공을 정량화하기 위해, 현미경부를 통해 확대하여 나타낸 화상 이미지이다. 도 6은 소결광에 함유된 슬래그를 정량화하기 위해, 현미경부를 통해 확대하여 나타낸 화상 이미지이다. 도 7 및 도 8은 소결광에 함유된 기공을 정량화하기 위해, 현미경부를 통해 확대하여 나타낸 화상 이미지이다. 도 9는 소결광에 포함된 기공의 면적을 측정하기 위해, 50 배율 및 200 배율로 확대한 모습을 나타낸 사진이다.FIG. 4 is an image image showing pores and the periphery of the pores by magnifying through a microscope to quantify the content of each component of the sintered ores. 5 is an image image enlarged and shown through a microscope to quantify the pores contained in the sintered ores. 6 is an image image enlarged and shown through a microscope to quantify the slag contained in the sintered ores. Figs. 7 and 8 are image images enlarged and shown through a microscope to quantify the pores contained in the sintered ores. Fig. 9 is a photograph showing an enlarged image at a magnification of 50 and a magnification of 200 to measure the area of the pores included in the sintered ores.

이하에서는 도 4 내지 도 9를 참조하여, 본 발명의 실시예에 따른 방법으로 시료의 성분 함량을 정량화하는 방법을 보다 상세히 설명한다.Hereinafter, with reference to FIGS. 4 to 9, a method for quantifying the component content of a sample by a method according to an embodiment of the present invention will be described in detail.

먼저, 도 4를 참조하여, 적철광(H), 자철광(M) 또는 칼슘 페라이트(CF)와 같은 광물 성분의 함량을 정량화하는데 있어서, 기공(P)으로 인한 오차를 줄일 수 있는 방법을 설명한다.First, referring to FIG. 4, a description will be given of a method for reducing errors due to pores P in quantifying the content of mineral components such as hematite (H), magnetite (M), or calcium ferrite (CF).

기공(P)은 빈 공간이기 때문에, 그 형성 높이(level)가 낮아, 반사되는 광의 양이 극히 적어, 이를 화상 이미지화하면, 도 4a, 4b 및 4c와 같이 다른 성분들에 비해 명암이 가장 낮은 검은색으로 표현된다. 이에, 기공(P) 주위에 적철광, 자철광 또는 칼슘 페라이트와 같은 광물이 위치하는 경우, 상기 기공(P)의 최외각 또는 가장자리 영역의 외측 영역(A)이 실제 광물 영역임에도 불구하고, 기공(P)으로 인해 낮은 휘도를 보인다. 즉, 기공(P)과 인접하도록 상기 최외각 외측에 적철광, 자철광 또는 칼슘 페라이트 성분과 같은 광물이 위치하여, 상기 기공(P)의 최외각의 바로 외측 영역(A)은 광물로 분류되어야 하지만, 상술한 바와 같이 기공(P)으로 인해 낮은 휘도값을 갖게 되어, 분석하고자 하는 광물 성분에 비해 휘도가 낮은 다른 성분으로 측정되는 오차가 발생된다.Since the pores P are voids, the level of the pores is low, and the amount of reflected light is extremely small. When the images are image-formed, the darkness P is lower than the other components as shown in FIGS. 4A, 4B, It is expressed in color. Thus, when a mineral such as hematite, magnetite, or calcium ferrite is located around the pore P, the outermost region A of the pore P or the outer region A of the edge region is a real mineral region, ). ≪ / RTI > That is, a mineral such as hematite, magnetite, or a calcium ferrite component is located outside the outermost periphery so as to be adjacent to the pore P, and the region A immediately outermost from the outermost pore P should be classified as a mineral, As described above, due to the pores P, a low luminance value is obtained, which causes an error to be measured with other components having low luminance as compared with the mineral component to be analyzed.

따라서, 본 발명에서는 화상 이미지 상에서 소결광에 포함된 기공(P) 주변의 성분을 정량화하는 데 있어서, 기공(P)으로 분류되는 영역과 정량화하고자 하는 성분 영역 사이의 영역을 제거한 후, 정량화하고자 하는 성분 영역의 면적을 산출하여, 함량값으로 변환한다. 즉, 도 4a와 같이, 기공(P) 주위에 적철광, 자철광 또는 칼슘 페라이트와 같은 광물이 위치하는 경우, 도 4b와 같이 기공(P)과 상기 기공(P) 주변의 광물 영역까지 포함하도록 선택한 후, 선택된 영역을 도 4c와 같이 확대한다. 그리고, 화상 이미지 상에서, 기공으로 분류되는 영역(P)을 제거하고, 상기 기공(P) 최외각의 외측 영역에서 정량화하고자 하는 광물에 비해 휘도가 낮은 영역 즉, 기공 최외각 외측 영역(A)를 제거한 후, 나머지 부분인 정량화하고자 하는 성분으로 분류된 영역의 면적을 산출하여, 함량 값으로 변환한다.
Therefore, in quantifying the components around the pores P included in the sintered light on the image of the present invention, it is necessary to remove the region between the region classified by the pore P and the component region to be quantified, Area is calculated and converted into a content value. 4A, when a mineral such as hematite, magnetite, or calcium ferrite is located around the pore P, the pore P and the mineral region around the pore P are selected to be included as shown in FIG. 4B , The selected area is enlarged as shown in Fig. 4C. On the image image, the region P classified as pores is removed, and a region having a lower brightness, that is, the outermost pore outer region A, as compared with the mineral to be quantified in the outer region of the outermost pore P After the removal, the area of the area classified as the component to be quantified which is the remaining part is calculated and converted into the content value.

도 5를 참조하여, 기공율을 측정하는 데 있어서, 오차를 줄일 수 있는 방법을 설명한다.Referring to Fig. 5, a method of reducing the error in the measurement of the porosity will be described.

기공의 경우, 빈 공간이기 때문에, 기공이 크고 깊을수록 도 5a와 같이 기공의 중앙(또는 중심부) 영역(C)이 굴절로 인해, 다른 영역에 비해 휘도값이 높게 측정되는 오차가 발생된다. 대부분의 경우, 다른 영역에 비해 휘도값이 높게 측정되는 기공(P)의 중앙(또는 중심부) 영역(C)은 한 단계 높은 휘도로 측정되어, 화상 이미지 상에서 기공에 비해 한 단계 높은 명암색으로 나타난다.In the case of pores, since the pores are larger and deeper, the center (or central portion) region C of the pores is refracted as shown in FIG. 5A, and an error is measured in which the luminance value is higher than the other regions. In most cases, the center (or central portion) region C of the pores P, which are measured to have a higher luminance value than the other regions, is measured at a higher luminance and appears as a darker color than the pores on the image image .

이에, 본 발명에서는 화상 이미지 상에 기공(P)으로 분류되는 적어도 한 개체에 있어서, 기공(P)의 최외각의 내측 영역이 적어도 일부가 다른 영역에 비해 상대적으로 높은 명암을 보이는 영역(C)이 있는 경우, 상기 상대적으로 명암이 높은 영역(C)이 상기 기공(P)의 명암을 가지도록 조절한다(도 5c 참조). 이를 위해, 편광 광학 현미경의 기능 중에 하나인 필홀(fillhole)을 적용하면, 기공(P)의 최외각의 내측에서 다른 영역에 비해 상대적으로 높은 명암을 보이는 영역(C)이 기공의 명암을 가지도록 명암이 낮아지며, 이를 유채색으로 나타내면 도 5c와 같이 기공(P)으로 분류되는 영역이 무도 같은 색(예를 들어, 파란색)으로 표현된다Accordingly, in the present invention, in at least one object classified into pores (P) on the image image, the outermost inner region of the pores (P) has a region (C) in which at least a portion exhibits a relatively high contrast, , The region C having a relatively high contrast is adjusted to have a contrast of the pore P (see FIG. 5C). For this purpose, when a fillhole, which is one of the functions of a polarizing optical microscope, is applied, a region (C) having a relatively high contrast within the outermost periphery of the pores (P) The lightness and darkness are reduced. When the chromatic color is represented by a chromatic color, a region classified as a pore P is expressed in the same color (for example, blue) as shown in FIG. 5C

이에 따라, 크고 깊이가 큰 기공이라 하더라도, 상기한 바와 같은 프로세스를 적용함에 따라, 기공의 내측의 적어도 일부 영역이 한 단계 높은 휘도 또는 명암을 가지는 슬래그로 측정되는 오차를 방지 또는 줄일 수 있다.Accordingly, even when a large and deep pore is used, by applying the above-described process, it is possible to prevent or reduce an error, which is measured by slag having at least a portion of the inside of the pore having one step higher luminance or shade.

상기한 바와 같이 먼저 기공율을 정량화 한 후에 슬래그를 정량화한다. 이를 위해, 소결광에 광을 조사하여 반사되는 광의 휘도를 측정하고, 이를 화상 이미지로 나타내면 예컨대 도 6a와 같다. 그리고 측정하고자 하는 슬래그의 휘도 범위를 선택하여 유채색 예컨대, 파란색으로 분류되도록 표현하면 도 6c와 같다. As described above, after quantitating the porosity first, the slag is quantified. For this purpose, the brightness of the reflected light is measured by irradiating the sintered light with light, and is represented by an image image, for example, as shown in FIG. 6A. The luminance range of the slag to be measured is selected to be classified into a chromatic color, for example, blue, as shown in FIG. 6C.

그런데, 크기가 크거나, 깊은 기공의 경우, 상술한 바와 같이, 중앙 또는 중앙(또는 중심부) 영역(C)이 다른 영역에 비해 휘도값이 낮아, 도 5b와 같이 슬래그로 인식하는 오차가 발생된다.However, in the case of a large or deep pore, as described above, the center or center (or central region) region C has a lower luminance value than the other region, and an error recognized as slag is generated as shown in FIG. 5B .

그리고, 기공 내측 영역에서 슬래그로 인식되는 영역(C)은 전 단계인 기공율 정량화 과정에서 이미 기공 산출 계산에 포함된 영역이다. 따라서, 슬래그 정량화 과정에서는 상기 영역(C)을 제거하고, 슬래그 영역(S)으로 선택된 영역의 면적을 산출하여 슬래그의 함량으로 산출한다.
The region (C) recognized as slag in the pore inner region is already included in the pore calculation in the previous step of porosity quantification. Therefore, in the slag quantification process, the area C is removed, and the area of the area selected as the slag area S is calculated to calculate the content of the slag.

도 7 및 도 8을 참조하여, 슬래그를 정량화하는데 있어서, 기공이 슬래그로 인식하는 오차를 최소화할 수 있는 방법을 설명한다.Referring to Figs. 7 and 8, a description will be given of a method for minimizing an error recognized by pores as slags in quantifying slag.

기공(P)은 빈 공간이기 때문에, 빛을 모두 흡수하며, 이에 이를 화상 이미지로 나타낼 경우, 검정색(도 4a의 P)으로 나타난다. 한편, 소결광의 구성 중 하나인 슬래그와 혼합을 위해 사용되는 에폭시 수지의 반사 휘도 범위가 유사 또는 중첩된다. 이에, 기공(P1)의 빈 공간이 에폭시 수지로 채워지는 경우, P1 영역은 회색을 나타내며, 이는 슬래그와 유사한 수준의 명암을 나타낸다. 이에, 단순히 기존의 방식대로 휘도 범위만을 가지고 분류한다면, 에폭시가 채워진 기공 즉, P1 영역이 슬래그로 측정되는 오차가 발생된다.Since the pores P are vacant spaces, they absorb all the light, and when they are displayed as image images, they appear as black (P in FIG. 4A). On the other hand, the reflection luminance range of the epoxy resin used for mixing with the slag, which is one of the constituents of the sintered ores, is similar or overlapped. Thus, when the voids of the pores P1 are filled with the epoxy resin, the P1 region shows gray, which shows a level of contrast similar to that of slag. Therefore, if the luminous flux is simply classified according to the conventional method, an error occurs in which pores filled with epoxy, that is, the P1 region is measured by slag.

이에, 본 발명의 실시예에서는 슬래그 정량화 과정에서 슬래그로 선택된 한 개체(도 7 및 도 8의 A)의 면적이 200 배율의 화면에서 1/8 이상의 면적을 차지할 경우, 도 8b와 같이 이를 기공으로 변환하여 인지하도록 한다(도 8a 및 8b). 이에 에폭시 수지가 채워진 기공이 슬래그로 측정되는 오차를 줄일 수 있다.Accordingly, in the embodiment of the present invention, when the area of one object selected as slag (FIG. 7 and FIG. 8A) in the slag quantification process occupies 1/8 or more of the area of the screen of 200 magnification, (See Figs. 8A and 8B). Therefore, it is possible to reduce the error that the pores filled with the epoxy resin are measured by the slag.

한편, 소결광 각각 성분 조직을 정량화하면 최종, 각 성분 조직 함량이 백분율로 표시된다. 이에, 큰 면적의 기공에 에폭시 수지가 채워져 슬래그로 측정되는 오차를 줄일 수 있다면, 종래에 비해 슬래그 정량화 오차를 줄일 수 있다.
On the other hand, when each component structure of the sintered ores is quantified, the final component content of each component is expressed as a percentage. Therefore, if the pores having a large area are filled with epoxy resin and the error measured by the slag can be reduced, the slag quantification error can be reduced as compared with the conventional method.

도 9는 본 발명의 실시예에 따른 방법으로 기공의 크기를 측정하는 방법을 설명하기 위한 화상 이미지이다.9 is an image image for explaining a method of measuring the size of pores by the method according to the embodiment of the present invention.

기본적으로 소결광 성분 조직의 정량화를 위해 사용되는 현미경의 배율은 200 배율이다. 그러나, 기공의 경우 200 배율에서 측정 시, 대부분의 기공은 한 화면에 들어오지 못하고, 잘리게 된다(도 9b).Basically, the magnification of the microscope used for the quantification of the texture of the sintered orbital component is 200 magnifications. However, when measuring at a magnification of 200 at the pore size, most of the pores do not enter the screen and are cut off (Fig. 9B).

기공율을 측정하는 경우에는 200 배율의 한 화면 상에서 기공의 일부가 잘리더라도, 최종적으로는 모두 합산하여 정량화되기 때문에 문제가 되지 않는다. 그러나, 소결광 내의 기공의 크기는 환원성과 밀접한 관계가 있기 때문에, 기공의 크기에 따른 비교 분석이 필요하다. 그런데, 상술한 바와 같이, 200 배율의 한 화면 상에서 기공의 일부가 잘리게 되므로(도 9b), 200 배율에서 측정 시에, 대부분의 기공은 잘려 1개의 개체로 인식되지 못하는 오차가 발생된다.In the case of measuring the porosity, even if a part of the pores is well seen on one screen of 200 magnification, it is not a problem since the pores are finally summed and quantified. However, since the size of the pores in the sintered ores is closely related to the reducing property, a comparative analysis according to the size of the pores is required. However, as described above, since a part of the pores are cut on a screen having a magnification of 200 (FIG. 9B), when measuring at a magnification of 200, most of the pores are cut off and an error that can not be recognized as one entity is generated.

따라서, 본 발명의 실시예에서는 기공의 크기를 측정하는데 있어서, 도 9a와 같이 50 배율의 현미경 배율을 사용하여, 한 화면 상에서 기공이 잘리지 않고, 한 개체로 인식되도록 한다.Therefore, in the embodiment of the present invention, the microscopic magnification of 50 magnifications is used as shown in FIG. 9A to measure the size of the pores so that the pores are recognized as one entity without being cut off on one screen.

100: 현미경부 200: 컴퓨터부100: microscope part 200: computer part

Claims (7)

소결광에 광을 조사하고, 상기 소결광으로부터 반사되는 광의 휘도 데이타를 획득하여, 상기 소결광에 포함된 광물, 기공, 슬래그 성분들의 각 휘도값에 따른 명암으로 분류되어 나타나도록 화상 이미지를 생성하는 과정;
상기 화상 이미지 상에서, 명암별로 면적을 산출하여, 상기 광물, 기공, 슬래그 각 성분에 대한 함량을 정량화하는 과정;
을 포함하고,
상기 기공의 주변, 기공, 슬래그 각각의 성분에 대한 함량을 정량화하는데 있어서,
정량화하고자 하는 성분에 따라, 상기 화상 이미지 상에서 일부 영역을 제거하거나, 명암을 조절하거나, 면적에 따라 성분 종류를 변환하는 과정 중 어느 하나의 과정을 포함하며,
상기 화상 이미지 상에서 상기 소결광에 포함된 기공 주변의 성분을 정량화하는 데 있어서,
상기 화상 이미지 상에서 상기 기공으로 분류되는 영역과 정량화하고자 하는 성분 영역 사이의 영역을 제거하는 과정; 및
정량화하고자 하는 성분 영역의 면적을 산출하여, 함량값으로 변환하는 과정을 포함하는 소결광의 성분 정량화 방법.
A step of irradiating the sintered light with light and obtaining luminance data of the light reflected from the sintered light to generate an image image so as to be classified into light and dark according to the luminance values of the minerals, pores and slag components included in the sintered light;
Calculating an area for each of the light and shade on the image, and quantifying the contents of the mineral, pore, and slag components;
/ RTI >
In quantifying the content of each of the pore periphery, pore, and slag components,
And a process of removing a part of the image on the image according to the component to be quantified, adjusting the contrast or converting the kind of the component according to the area,
In quantifying the components around the pores contained in the sintered ores on the image,
Removing an area between the area classified as the pore and the component area to be quantified on the image image; And
Calculating an area of a component region to be quantified, and converting the calculated area into a content value.
청구항 1에 있어서,
상기 화상 이미지 상에서 상기 기공 주변의 성분을 정량화하는 데 있어서,
상기 화상 이미지 상에서, 상기 기공 및 상기 기공 주변 영역을 확대하는 단계;
상기 화상 이미지 상에서, 상기 기공으로 분류되는 영역을 제거하는 단계; 및
상기 기공으로 분류되는 영역의 최외각의 테두리 영역을 제거하는 단계;
를 포함하는 소결광의 성분 정량화 방법.
The method according to claim 1,
In quantifying the component around the pore on the image image,
Enlarging the pore and the pore peripheral region on the image image;
Removing, on the image image, an area classified by the pore; And
Removing an outermost edge region of the region classified by the pore;
/ RTI > of claim < RTI ID = 0.0 >
소결광에 광을 조사하고, 상기 소결광으로부터 반사되는 광의 휘도 데이타를 획득하여, 상기 소결광에 포함된 광물, 기공, 슬래그 성분들의 각 휘도값에 따른 명암으로 분류되어 나타나도록 화상 이미지를 생성하는 과정;
상기 화상 이미지 상에서, 명암별로 면적을 산출하여, 상기 광물, 기공, 슬래그 각 성분에 대한 함량을 정량화하는 과정;
을 포함하고,
상기 기공의 주변, 기공, 슬래그 각각의 성분에 대한 함량을 정량화하는데 있어서,
정량화하고자 하는 성분에 따라, 상기 화상 이미지 상에서 일부 영역을 제거하거나, 명암을 조절하거나, 면적에 따라 성분 종류를 변환하는 과정 중 어느 하나의 과정을 포함하며,
상기 화상 이미지 상에서 상기 소결광에 포함된 기공을 정량화하는 데 있어서,
상기 기공으로 분류되는 한 개체에 있어서, 최외각의 내측 영역이 다른 영역에 비해 상대적으로 명암이 높은 것으로 판단되는 경우, 상기 상대적으로 명암이 높은 영역이 상기 기공의 명암을 가지도록 조절하는 소결광의 성분 정량화 방법.
A step of irradiating the sintered light with light and obtaining luminance data of the light reflected from the sintered light to generate an image image so as to be classified into light and dark according to the luminance values of the minerals, pores and slag components included in the sintered light;
Calculating an area for each of the light and shade on the image, and quantifying the contents of the mineral, pore, and slag components;
/ RTI >
In quantifying the content of each of the pore periphery, pore, and slag components,
And a process of removing a part of the image on the image according to the component to be quantified, adjusting the contrast or converting the kind of the component according to the area,
In quantifying the pores contained in the sintered ores on the image,
In an individual classified into the pores, when it is determined that the inner region of the outermost region is relatively sharper than the other region, the composition of the sintered ores Quantification method.
청구항 3에 있어서,
상기 소결광에 포함된 기공의 함량을 정량화한 후에, 상기 소결광에 포함된 슬래그의 함량을 정량화하는 소결광의 성분 정량화 방법.
The method of claim 3,
And quantifying the content of the slag contained in the sintered ores after quantifying the content of the pores contained in the sintered ores.
청구항 4에 있어서,
상기 슬래그의 함량을 정량화하는 데 있어서,
상기 화상 이미지 상에서 슬래그로 분류되는 영역의 면적을 산출하여, 상기 슬래그의 함량을 정량화하고,
상기 화상 이미지 상에서 기공으로 분류되는 영역에 있어서, 최외각의 내측 영역이 상기 슬래그의 휘도값으로 측정되어 슬래그로 분류되는 경우,
상기 기공으로 분류되는 영역의 최외각 내측에 슬래그의 휘도값으로 측정되어 슬래그로 분류된 영역을 제거한 후, 상기 슬래그로 분류되는 나머지 영역의 면적을 산출하는 소결광의 성분 정량화 방법.
The method of claim 4,
In quantifying the content of the slag,
Calculating an area of a region classified as slag on the image image, quantifying the content of the slag,
In the region classified as pores on the image image, when the outermost inner region is measured as the luminance value of the slag and classified as slag,
And calculating the area of the remaining region classified by the slag after removing the region classified as slag by measuring the luminance value of the slag inside the outermost periphery of the region classified by the pore.
소결광에 광을 조사하고, 상기 소결광으로부터 반사되는 광의 휘도 데이타를 획득하여, 상기 소결광에 포함된 광물, 기공, 슬래그 성분들의 각 휘도값에 따른 명암으로 분류되어 나타나도록 화상 이미지를 생성하는 과정;
상기 화상 이미지 상에서, 명암별로 면적을 산출하여, 상기 광물, 기공, 슬래그 각 성분에 대한 함량을 정량화하는 과정;
을 포함하고,
상기 기공의 주변, 기공, 슬래그 각각의 성분에 대한 함량을 정량화하는데 있어서,
정량화하고자 하는 성분에 따라, 상기 화상 이미지 상에서 일부 영역을 제거하거나, 명암을 조절하거나, 면적에 따라 성분 종류를 변환하는 과정 중 어느 하나의 과정을 포함하며,
상기 화상 이미지 상에서 슬래그로 분류되는 한 개체의 면적이 기준 면적 이상일 경우, 기공으로 판단하는 소결광의 성분 정량화 방법.
A step of irradiating the sintered light with light and obtaining luminance data of the light reflected from the sintered light to generate an image image so as to be classified into light and dark according to the luminance values of the minerals, pores and slag components included in the sintered light;
Calculating an area for each of the light and shade on the image, and quantifying the contents of the mineral, pore, and slag components;
/ RTI >
In quantifying the content of each of the pore periphery, pore, and slag components,
And a process of removing a part of the image on the image according to the component to be quantified, adjusting the contrast or converting the kind of the component according to the area,
And determining an area of an object classified as slag on the image image as a pore when the area of the object is larger than a reference area.
청구항 6에 있어서,
상기 화상 이미지 상에서 슬래그로 분류되는 한 개체의 면적이 기준 면적 이상일 경우, 기공으로 판단하는데 있어서,
슬래그로 분류되는 한 개체의 면적이 200 배율의 화상 이미지에서 1/8 이상의 면적을 가지는 경우, 기공으로 판단하는 소결광의 성분 정량화 방법.
The method of claim 6,
Wherein when the area of one object classified as slag on the image image is equal to or larger than a reference area,
A method for quantifying a component of an ore that is judged as pores when an area of an individual classified as slag has an area of 1/8 or more in an image of 200 magnification.
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