KR101563304B1 - Reconfigurable switched-capacitor resistor and proximity touch sensor readout circuits using the resistor - Google Patents

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Abstract

본 발명은 재조정 스위치드 커패시터 레지스터 및 이를 이용한 비접촉식 터치 센서 리드아웃 회로에 관한 것으로, 본 발명에 따르면 서로 다른 종류의 터치패널이 적용되더라도 레퍼런스 전류값의 변화를 통해 터치패널에 적합하게 연동되는 재조정 스위치드 커패시터 레지스터를 사용함으로써, 설계 면적을 줄일 수 있어서 모바일기기의 소형화에 일조할 수 있다.The present invention relates to a reconfigurable switched capacitor register and a non-contact type touch sensor readout circuit using the same. In accordance with the present invention, a reconfigurable switched capacitor By using a resistor, the design area can be reduced, which can contribute to the miniaturization of a mobile device.

Description

재조정 스위치드 커패시터 레지스터 및 이를 이용한 비접촉식 터치 센서 리드아웃 회로{Reconfigurable switched-capacitor resistor and proximity touch sensor readout circuits using the resistor}BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention [0001] The present invention relates to a reconfigured switched capacitor resistor and a non-contact type touch sensor readout circuit using the same.

본 발명은 터치 센싱 기술에 관한 것으로, 더욱 구체적으로는 터치패널에 객체가 접근하는지 여부를 판별하는 비접촉식 터치 센서 리드아웃 회로 및 이에 사용되는 재조정 스위치드 커패시터 레지스터에 관한 것이다.
The present invention relates to a touch sensing technology, and more particularly, to a non-contact type touch sensor lead-out circuit for determining whether an object is approaching a touch panel and a reconfigured switched capacitor register used therein.

사용자 친화적 인터페이스와 쉬운 조작에 대한 요구가 증가하면서, 객체가 접근하였을 때 터치 패널을 활성화 시키는 터치 센싱 기술이 각종 전자기기에 탑재되고 있다. 최근에는 손가락이나 스타일러스펜과 같은 객체가 스크린에 터치되지 않고 근접하는 것을 검출할 수 있는 모바일기기도 개발된 바 있다.As the demand for a user friendly interface and easy operation increases, a touch sensing technology for activating a touch panel when an object is accessed is mounted in various electronic devices. In recent years, a mobile device has been developed that can detect an object such as a finger or a stylus pen without touching the screen.

비접촉식 터치 센싱 기술에서는 패널의 임피던스 변화를 검출하여 터치 패널에 객체가 접근하였음을 검출하는 리드아웃 회로가 핵심 요소이다.In the non-contact type touch sensing technology, a lead-out circuit that detects the change of the impedance of the panel and detects the approach of the object to the touch panel is a key factor.

그러나 터치 패널의 종류가 바뀐다면 이에 대응하는 레퍼런스 레지스터가 사용되어야만 하는데, 기존에는 저항 어레이를 다수 사용하여 자동 보정(auto calibration)이 이루어지도록 하였다. 하지만 저항 어레이를 이용한 설계를 위해서는 넓은 면적이 요구되어 모바일 기기의 소형화에 적합하지 않으며, 비용 측면에서도 불리한 면이 있다.
However, if the type of the touch panel is changed, a corresponding reference register must be used. In the past, a plurality of resistor arrays were used to perform auto calibration. However, a large area is required for a design using a resistance array, which is not suitable for miniaturization of a mobile device, and is disadvantageous in terms of cost.

한편 비접촉 터치 센서와 관련된 종래 기술로는 대한민국공개특허 제2013-0007789호(2013.01.21. "접근 감지 터치 시스템") 등이 있다.
On the other hand, Korean Patent Laid-Open Publication No. 2013-0007789 (April 21, 2013, "Approach Sensing Touch System") relates to a non-contact touch sensor.

본 발명은 상술한 바와 같은 종래 기술의 문제점을 해결하기 위해 안출된 것으로, 기존의 저항 어레이를 대신하여 컨트롤 클럭의 출력 파형에 따라 최종 임피던스를 설정할 수 있는 재조정 스위치드 커패시터 레지스터를 사용함으로써, 서로 다른 종류의 터치패널에 적용 가능하되, 면적을 적게 차지하여 모바일기기의 소형화에 적합한 재조정 스위치드 커패시터 레지스터 및 이를 이용한 비접촉식 터치 센서 리드아웃 회로를 제공하는데 그 목적이 있다.
SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made in order to solve the problems of the prior art as described above, and it is an object of the present invention to provide a method and a device for controlling a variable capacitor by using a reset capacitor capacitor which can set a final impedance according to an output waveform of a control clock, The present invention provides a non-contact type touch sensor lead-out circuit using a reset capacitor capacitor which is applicable to a touch panel of a touch panel and occupies a small area and is suitable for miniaturization of a mobile device.

상기 목적을 달성하기 위한 본 발명에 따른 재조정 스위치드 커패시터 레지스터는, 서로 다른 위상을 갖는 컨트롤 클럭(S1, S2)을 생성하는 컨트롤 클럭 제너레이터; 및 상기 서로 다른 위상을 갖는 컨트롤 클럭(S1, S2)에 의해 턴온 또는 턴오프 되는 스위치(Φ12)와 연결되는 커패시터(CS)로 구현되는 스위치드 커패시터 레지스터;를 포함하되, 상기 컨트롤 클럭 제너레이터는 레퍼런스 전류(IREF) 값에 따라 주기 TS의 컨트롤 클럭(S1, S2)을 출력하고, 상기 스위치드 커패시터 레지스터는 상기 주기 TS의 컨트롤 클럭(S1, S2)에 의해 상기 스위치(Φ12)가 작동됨으로써, 상기 커패시터(CS)의 등가저항(Req)은 상기 컨트롤 클럭(S1, S2)의 주기 TS에 따라 서로 다른 값을 갖는다.According to an aspect of the present invention, there is provided a reconfigurable switched capacitor register comprising: a control clock generator for generating control clocks S 1 and S 2 having different phases; And the switched-capacitor resistor that is implemented as a capacitor (C S) is connected to the turn-on or turn-off switch (Φ 1, Φ 2) is by the control clock (S 1, S 2) having a different phase; including, but, the control clock generator is a reference current (I REF) based on the value cycle control clock of the T S (S 1, S 2 ) the output, the switched-capacitor resistor control clock of the period T S (S 1, S 2 ) by as the period T S of being the switch (Φ 1, Φ 2) operation, the equivalent resistance (R eq) is the control clock (S 1, S 2) of said capacitor (C S) has a different value .

여기서, 상기 스위치드 커패시터 레지스터는, 상기 스위치(Φ12)의 작동에 의해 상기 커패시터(CS)의 상판과 하판이 교차로 접지 연결되어 충전과 방전이 반복됨으로써 등가저항(Req)이 결정될 수 있다.
Here, the upper and lower plates of the capacitor (C S ) are connected in an earthed manner by the operation of the switches (? 1 ,? 2 ) so that the charging and discharging are repeated so that the equivalent resistance (R eq ) .

한편 본 발명은 상기 재조정 스위치드 커패시터 레지스터; 및 상기 재조정 스위치드 커패시터 레지스터와 터치패널 사이의 노드에 연결되어 상기 노드의 전압(VX) 변화를 검출하는 검출회로;로 구성되는 비접촉식 터치 센서 리드아웃 회로를 포함한다.
Meanwhile, the present invention provides a reconfigured switched capacitor register; And a non-contact type touch sensor circuit composed of the lead-out; and the re-touch, and the switched-capacitor resistor is connected to a node between the panel detection circuit which detects a voltage (V X) variation of the node.

본 발명에 따르면, 스위치드 커패시터 레지스터의 스위치(Φ12)가 컨트롤 클럭(S1,S2)의 제어에 의해 커패시터(CS)의 상판과 하판이 교차적으로 접지되도록 하여 충전과 방전이 이루어지도록 함으로써 등가저항(Req)이 결정되는데, 이때 스위치드 커패시터 레지스터의 등가저항(Req)은 스위치(Φ12)의 작동 주기에 종속된다. 따라서 컨트롤 클럭 제너레이터의 레퍼런스 전류(IREF)와 컨트롤 비트(b2,b1,b0)를 조절하여 컨트롤 클럭(S1,S2)의 주기(TS)를 설정하면, 스위치(Φ12)의 작동 주기에 따라 등가저항(Req)이 결정되고 최종적으로 재조정 스위치드 커패시터 레지스터의 임피던스(ZREF)가 결정될 수 있다.According to the present invention, the switches (PHI 1 and PHI 2 ) of the switched capacitor resistors are controlled to control the control clocks S 1 and S 2 such that the upper and lower plates of the capacitor C S are alternately grounded, by this to occur the equivalent resistance (R eq) this is determined, wherein the equivalent resistance of the switched-capacitor resistor (R eq) is dependent on the duty cycle of the switch (Φ 1, Φ 2). Thus, by setting the reference current I REF and the control bits b 2 , b 1 , b 0 of the control clock generator to set the period T s of the control clocks S 1 , S 2 , the switch Φ 1 , Phi 2 ), the equivalent resistance Req can be determined and finally the impedance Z REF of the readjusted switched capacitor resistor can be determined.

즉, 터치패널과 연계되는 레퍼런스 레지스터로서 기존의 저항 어레이를 대신하여 재조정 스위치드 커패시터 레지스터를 사용함으로써, 다른 종류의 터치패널이 적용되더라도 이에 연계되는 레퍼런스 레지스터의 최종 임피던스(ZREF) 결정이 수월하며, 저항 어레이에 비하여 설계 면적이 축소되어 모바일기기의 소형화에 유리하다.
That is, by using the re-adjustment switched capacitor resistor instead of the existing resistor array as the reference resistor associated with the touch panel, it is easy to determine the final impedance (Z REF ) of the reference resistor associated with other types of touch panel, The design area is reduced compared to the resistance array, which is advantageous for miniaturization of mobile devices.

도1은 본 발명의 실시예에 따른 비접촉식 터치 센서 리드아웃 회로를 설명하기 위한 블록도.
도2는 도1에 도시된 비접촉식 터치 센서 리드아웃 회로의 기술 개념을 설명하기 위한 도면.
도3은 재조정 스위치드 커패시터 레지스터와 검출회로를 포함하는 비접촉식 터치 센서 리드아웃 회로의 블록 다이어그램.
도4는 도3에 도시된 재조정 스위치드 커패시터 레지스터에서 컨트롤 클럭 제너레이터의 회로 구성과, 컨트롤 클럭 제너레이터의 RS래치의 트루스 테이블 및 컨트롤 클럭의 출력 파형을 나타낸 도면.
도5는 전류원의 회로도.
도6은 스위치드 커패시터 레지스터의 회로도와, 그 등가회로 및 서로 겹치지 않는 스위치 클럭의 위상을 나타낸 도면.
도7은 컨트롤 클럭 제너레이터에서 사용되는 비교기를 나타낸 도면.
도8은 레퍼런스 전류와 컨트롤 클럭 제너레이터의 컨트롤 비트에 따라 생성된 컨트롤 클럭에 대응하는 레퍼런스 레지스터를 나타낸 도면.
도9는 컨트롤 클럭 제너레이터의 컨트롤 비트에 따른 RS래치의 출력 Q, QB와 VCAP의 출력, 그리고 컨트롤 클럭 제너레이터의 컨트롤 클럭 출력 파형을 나타낸 도면.
도10은 서로 다른 레퍼런스 레지스터 값에 따른 비접촉식 터치 센서 리드아웃 회로의 출력 파형을 나타낸 도면.
1 is a block diagram illustrating a non-contact type touch sensor readout circuit according to an embodiment of the present invention;
FIG. 2 is a view for explaining the technical concept of the non-contact type touch sensor readout circuit shown in FIG. 1; FIG.
3 is a block diagram of a non-contact touch sensor lead-out circuit that includes a reset capacitor and a detection circuit.
FIG. 4 is a diagram showing the circuit configuration of the control clock generator in the readjusted switched capacitor register shown in FIG. 3, and the output waveforms of the TRUE table and the control clock of the RS latch of the control clock generator.
5 is a circuit diagram of a current source.
6 is a circuit diagram of a switched capacitor register, its equivalent circuit, and phases of switch clocks which do not overlap with each other.
7 shows a comparator used in a control clock generator;
8 is a view showing a reference register corresponding to a control clock generated according to a reference current and a control bit of a control clock generator;
9 shows the output Q, Q B and V CAP of the RS latch according to the control bit of the control clock generator, and the control clock output waveform of the control clock generator;
10 is a diagram showing output waveforms of the non-contact type touch sensor readout circuit according to different reference register values.

이하에서는 본 발명의 바람직한 실시예를 첨부된 도면을 참조하여 설명한다. 다만 발명의 요지와 무관한 일부 구성은 생략 또는 압축할 것이나, 생략된 구성이라고 하여 반드시 본 발명에서 필요가 없는 구성은 아니며, 본 발명이 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자에 의해 결합되어 사용될 수 있다.
Hereinafter, preferred embodiments of the present invention will be described with reference to the accompanying drawings. However, some configurations which are not related to the gist of the present invention may be omitted or compressed, but the configurations omitted are not necessarily required for the present invention, and they may be combined by a person having ordinary skill in the art to which the present invention belongs. .

도1은 본 발명의 실시예에 따른 비접촉식 터치 센서 리드아웃 회로를 설명하기 위한 블록도이고, 도2는 도1에 도시된 비접촉식 터치 센서 리드아웃 회로의 기술 개념을 설명하기 위한 도면이다.FIG. 1 is a block diagram for explaining a non-contact type touch sensor read-out circuit according to an embodiment of the present invention, and FIG. 2 is a view for explaining a technical concept of the non-contact type touch sensor lead-out circuit shown in FIG.

도1 및 도2에 도시된 바와 같이 본 발명의 실시예에 따른 비접촉식 터치센서 리드아웃 회로(100, Proximity touch sensor readout circuits)는 레퍼런스 레지스터(110), 검출회로(120) 및 오실레이터(130)를 포함하며, 리드아웃 회로(100)는 터치패널(10)과 연결된다.1 and 2, a proximity touch sensor readout circuit 100 according to an embodiment of the present invention includes a reference register 110, a detection circuit 120, and an oscillator 130 And the lead-out circuit 100 is connected to the touch panel 10.

터치패널(10, Touch panel)은 레퍼런스 레지스터(110)를 통해 입력신호 Vin에 연결된다. 여기서 입력신호 Vin은 오실레이터(130)에서 출력되는 fin의 주파수를 갖는 사인파(sine wave)이거나 구형파(square wave)일 수 있다.The touch panel 10 is connected to the input signal V in through the reference register 110. Herein, the input signal V in may be a sine wave or a square wave having a frequency of f in that is output from the oscillator 130.

커패시턴스 CP는 터치패널(10)에 마련된 전극 TX와 RX 사이에서 형성되며, CP의 값은 TX와 RX 사이의 전계(electric field)에 의해 결정된다. 여기서 ZP는 CP의 등가 임피던스를 말한다.Capacitance C P is formed between the electrode T X and R X provided on the touch panel 10, the value of C P is determined by the electric field (electric field) between the T X and R X. Where Z P is the equivalent impedance of C P.

만약 손가락 또는 스타일러스펜과 같은 객체가 터치패널(10)에 접근하면, 전극 TX와 RX 사이의 전계가 교란될 것이며, 이에 따라 임피던스 ZP도 변하게 된다.If an object, such as a finger or stylus pen, approaches the touch panel 10, the electric field between the electrodes T X and R X will be disturbed, thereby changing the impedance Z P.

이러한 임피던스 변화는 노드전압 VX에 반영되며, 객체의 거리에 따라 노드전압 VX 역시 다른 전압을 나타낼 것이다. 따라서 검출회로(120)에서 VX의 전압을 검출하여 디지털 신호로 출력함으로써 객체의 접근 거리에 따른 전자기기의 제어가 가능하다. 여기서 노드전압 VX는 수학식 1로 표현될 수 있다.
This impedance change is reflected in the node voltage V X, the node voltage based on the distance of the object V X would also indicate a different voltage. Therefore, the detection circuit 120 detects the voltage of V X and outputs it as a digital signal, so that it is possible to control the electronic device according to the approach distance of the object. Here, the node voltage V X can be expressed by Equation (1).

Figure 112013092507540-pat00001
Figure 112013092507540-pat00001

수학식 1에서 ΔZP는 전계 교란으로 인한 CP의 임피던스 변화를 나타낸다. 만약 레퍼런스 레지스터(110)의 임피던스 ZREF = 160kΩ, 입력신호 Vin = 1V, fin = 100kHz, 터치패널(10)의 커패시턴스 CP = 10pF, 그리고 ΔCP = 1pF라고 가정한다면, 노드전압 VX의 변화는 대략 23.7 mV이다. 이러한 수치는 최근의 집적회로에서 검출할 수 있는 범위 이내이다.ΔZ P in Equation (1) represents an impedance change in the C P due to electric field disturbance. If the reference impedance of the resistor (110) Z REF = 160kΩ, the input signal V in = 1V, f in = 100kHz, assuming that capacitance C P = 10pF, and ΔC P = 1pF of the touch panel 10, the node voltage V X Is approximately 23.7 mV. These values are within a range that can be detected in recent integrated circuits.

비접촉식 터치 센서 리드아웃 회로(100)에서의 핵심 설계 블록은 다른 종류의 터치패널(10)에서도 적용될 수 있는 레퍼런스 레지스터(111, ZREF)에 있다. 일반적인 터치패널(10)의 커패시턴스 CP가 10pF에서 50pF인 것을 감안하면, 입력신호 fin = 100kHz일 때 CP의 등가 임피던스는 30kΩ에서 160kΩ일 것이다. 즉 서로 다른 종류의 터치패널(10)에서 사용되기 위해서는 레퍼런스 레지스터(110)는 30kΩ 내지 160kΩ의 범위로 프로그래밍 되어야 한다. 프로그래머블 레지스터를 실현하기 위한 쉬운 방법은 저항 어레이를 사용하는 것이다. 그러나 저항 어레이는 넓은 면적을 차지하기 때문에 온칩 솔루션(on-chip solution)에는 적합하지 않다. 이를 위해 본 실시예에서는 레퍼런스 레지스터(110)로서 저항 어레이를 대신하여, 재조정 스위치드 커패시터 레지스터(110, ZREF, Reconfigurable switched-capacitor resistor)를 사용하였다. 이를 통해 레퍼런스 레지스터(110)의 사이즈를 현저하게 감소시켜 컴팩트한 비접촉식 터치 센서 리드아웃 회로(100)를 구현할 수 있을 것이다.The core design block in the non-contact type touch sensor lead-out circuit 100 is in the reference register 111 (Z REF ) which can be applied to other types of touch panel 10 as well. Considering that the capacitance C P of the general touch panel 10 is 10 pF to 50 pF, the equivalent impedance of C P at the input signal f in = 100 kHz will be 160 kΩ from 30 kΩ. That is, in order to be used in different types of touch panel 10, the reference register 110 must be programmed in the range of 30 kΩ to 160 kΩ. An easy way to implement a programmable resistor is to use a resistor array. However, resistor arrays are not suitable for on-chip solutions because they occupy a large area. To this end, in this embodiment , a reconfigurable switched-capacitor resistor 110 (Z REF ) is used instead of the resistor array as the reference resistor 110. Accordingly, the size of the reference register 110 can be remarkably reduced, and a compact non-contact type touch sensor lead-out circuit 100 can be realized.

이하에서는 도3을 참조하여 도1 및 도2에 도시된 비접촉식 터치 센서 리드아웃 회로(100)에서 레퍼런스 레지스터로 사용된 재조정 스위치드 커패시터 레지스터(110, ZREF)를 설명토록 한다.Hereinafter, the readjusted switched capacitor register 110 (Z REF ) used as a reference register in the non-contact type touch sensor lead-out circuit 100 shown in FIGS. 1 and 2 will be described with reference to FIG.

도3은 재조정 스위치드 커패시터 레지스터(110)와 검출회로(120)를 포함하는 비접촉식 터치 센서 리드아웃 회로의 블록 다이어그램을 나타낸 것이다.3 shows a block diagram of a non-contact touch sensor readout circuit including a reset capacitor 120 and a detection circuit 120. The non-

도3에 도시된 바와 같이 재조정 스위치드 커패시터 레지스터(110)는 스위치드 커패시터 레지스터(111)와 컨트롤 클럭 제너레이터(112)를 포함한다.As shown in FIG. 3, the rescheduled switched capacitor register 110 includes a switched capacitor register 111 and a control clock generator 112.

스위치드 커패시터 레지스터(111)의 값은 컨트롤 클럭의 입력에 따라 변화하며, 스위치드 커패시터 레지스터(111)에 입력되는 컨트롤 클럭은 컨트롤 클럭 제너레이터(112, Time-mode control clock generator)에서 출력된다.The value of the switched capacitor register 111 changes according to the input of the control clock and the control clock input to the switched capacitor register 111 is output from the time-mode control clock generator 112.

컨트롤 클럭 제너레이터(112)는 컨트롤 비트 b2,b1,b0에 대응하여 TS의 주기를 갖는 컨트롤 클럭(S1,S2)을 생성한다.The control clock generator 112 generates the control clocks S 1 and S 2 having the period of T s corresponding to the control bits b 2 , b 1 , and b 0 .

도4의 (a)는 도3에 도시된 재조정 스위치드 커패시터 레지스터에서 컨트롤 클럭 제너레이터의 회로 구성을 나타낸 것이고, 도4의 (b)는 컨트롤 클럭 제너레이터의 RS래치의 트루스 테이블(truth table)과 컨트롤 클럭의 출력 파형(VO)을 나타낸 것이다.FIG. 4A shows a circuit configuration of a control clock generator in the readjusted switched capacitor register shown in FIG. 3, FIG. 4B shows a truth table of the RS latch of the control clock generator, (V 0 ) of the output waveform of the inverter.

컨트롤 클럭 제너레이터(112)는 충방전을 위한 DC전류원(IREF)과, 커패시터 C, 그리고 두개의 비교기(113,114) 및 RS래치(115)를 포함하고 있다.The control clock generator 112 includes a DC current source I REF for charging and discharging, a capacitor C, and two comparators 113 and 114 and an RS latch 115.

컨트롤 클럭의 주기는 기본적으로 커패시터의 충전과 방전 시간으로 세팅되어 있다. 스위치(S1,S2)의 초기 상태가 S1은 on, S2는 off라고 할 시, DC 전류 IREF에 의해 커패시터 C가 충전되고, 커패시터 전압 VCAP이 기준레벨 VH까지 도달하면 제1비교기(113) 및 제2비교기(114)의 출력 VCOMP1 및 VCOMP2가 각각 H와 L이 되어 RS래치(115)의 트루스 테이블에 따라 스위치 S1은 턴오프, S2는 턴온된다. 스위치 S1의 off 및 S2의 on에 따라 커패시터 C는 방전되고 커패시터 C의 전압 VCAP이 제2비교기(114)의 기준레벨 VL까지 떨어지면, VCOMP1 및 VCOMP2가 각각 L과 H가 되어 스위치 S1은 턴온되고, S2는 턴오프된다. 이러한 충전과 방전 과정의 반복으로 컨트롤 클럭이 생성되는 것이다. 한편 컨트롤 클럭의 주기 TS는 수학식 2로 표현될 수 있다.
The period of the control clock is basically set as the charging and discharging time of the capacitor. Assuming that the initial states of the switches S 1 and S 2 are S 1 is on and S 2 is off, the capacitor C is charged by the DC current I REF . When the capacitor voltage V CAP reaches the reference level V H first comparator 113 and a second output V COMP1 and COMP2 V of the comparator 114 is at the H and L respectively, the switch S 1 according to the Truth table of the RS latch 115 is turned oFF, S 2 is turned on. When the capacitor C is discharged and the voltage V CAP of the capacitor C drops to the reference level V L of the second comparator 114 according to the off and S 2 on of the switch S 1 , V COMP1 and V COMP2 become L and H respectively Switch S 1 is turned on, and S 2 is turned off. The repetition of the charging and discharging process generates the control clock. Meanwhile, the period T s of the control clock can be expressed by the following equation (2).

Figure 112013092507540-pat00002
Figure 112013092507540-pat00002

여기서 VH는 제1비교기(113)의 기준전압, VL은 제2비교기(114)의 기준전압이다. 따라서 컨트롤 클럭의 주기 TS는 DC전류원(IREF)의 변화에 따라 쉽게 바뀔 수 있다. 여기서 커패시터 C의 용량을 200fF, 레퍼런스 전류 IREF는 1.2uA로 설정하면, 컨트롤 클럭 주파수는 6MHz에서 42MHz 범위 내에서 바뀔 수 있다.
Where V H is the reference voltage of the first comparator 113 and V L is the reference voltage of the second comparator 114. Therefore, the period T S of the control clock can be easily changed according to the change of the DC current source I REF . Here, if the capacitance of the capacitor C is set to 200 fF and the reference current I REF is set to 1.2 uA, the control clock frequency can be changed within the range of 6 MHz to 42 MHz.

도5는 피드백 증폭기, 레지스터 RB, 전류 미러로 구성되는 전류원(IREF)의 회로도이다. IREF가 M3와 M5를 통해 커패시터 C를 충전 또는 방전시킬 때, 레퍼런스 전류는 IREF/RB로 주어진다. 또한 전류원 온오프 컨트롤은 커패시터 C 근처에 별도의 전류원 온오프 스위치를 위치시키는 것 대신에, 스위치 SX와 SY를 통해 수행된다. 이에 따라 스위치 채널 전하 주입 효과(effect of switch channel charge injection)가 최소화 된다. 커패시터 C의 충전을 위해서는 SX는 on되고, SY는 off된다. 반대로 방전시에는 SX는 off되고 SY는 on된다.
Fig. 5 is a circuit diagram of a current source I REF composed of a feedback amplifier, a register R B , and a current mirror. When I REF charges or discharges capacitor C through M 3 and M 5 , the reference current is given by I REF / R B. In addition, the current source on-off control is performed through, instead of placing a separate current source on-off switch near the capacitor C, the switch S X and S Y. Thus, the effect of switch channel charge injection is minimized. To charge the capacitor C, S X is turned on and S Y is turned off. On the other hand, during discharge, S X is off and S Y is on.

도6의 (a)는 스위치드 커패시터 레지스터(111)의 회로도이고, 도6의 (b)는 그 등가회로, 도6의 (c)는 서로 겹치지 않는 스위치 클럭의 위상을 나타낸 것이다.FIG. 6A is a circuit diagram of the switched capacitor register 111, FIG. 6B is an equivalent circuit thereof, and FIG. 6C is a phase diagram of a switch clock which does not overlap with each other.

네개의 컨트롤 스위치(Φ12)와 연결되는 각각의 커패시터 CS는 등가저항 Req에 대응된다. 또한 커패시터 CS의 상판으로부터 충전되고 하판으로부터 방전된다. 반대로 다른 위상은 스위치드 커패시터 레지스터(111)의 저항을 임계적으로 감소시키는 기생 커패시턴스(parasitic capacitance)를 제거한다. 컨트롤 클럭 제너레이터(112)에서 출력되는 S1, S2의 출력 파형이 바로 이러한 겹치지 않는 두개의 위상에 대응하며, 이들 컨트롤 클럭 제너레이터(112)의 출력 파형에 의해 스위치드 커패시터 레지스터(111)를 구성하는 CS에 연결된 스위치(Φ12)들이 제어된다.Each capacitor C S connected to the four control switches? 1 ,? 2 corresponds to an equivalent resistance R eq . It is also charged from the top plate of the capacitor C S and discharged from the bottom plate. Conversely, the other phase eliminates the parasitic capacitance that reduces the resistance of the switched capacitor resistor 111 critically. The output waveforms of S 1 and S 2 output from the control clock generator 112 correspond to these two non-overlapping phases and the output waveform of the control clock generator 112 constitutes the switched capacitor register 111 The switches? 1 and? 2 connected to C S are controlled.

즉 스위치드 커패시터 레지스터(111)를 구성하는 각각의 커패시터 CS는 스위치(Φ12)의 턴온-턴오프 작동에 의해 상판과 하판이 교차로 접지 연결됨으로써 충전과 방전이 이루어지는데, 이에 따라 스위치드 커패시터 레지스터(111)의 등가저항(Req)이 결정되고, 궁극적으로 재조정 스위치드 커패시터 레지스터(110)의 전체 임피던스(ZREF)가 결정된다.That is, each of the capacitors C S constituting the switched capacitor register 111 is charged and discharged by the ground connection between the upper plate and the lower plate by turning on and off the switches? 1 and? 2 , The equivalent resistance R eq of the capacitor register 111 is determined and ultimately the overall impedance Z REF of the reset capacitor registor 110 is determined.

이때 스위치드 커패시터 레지스터(111)의 등가저항(Req)은 스위치(Φ12)들의 작동 주기에 의해 결정된다. 따라서 컨트롤 클럭 제너레이터(112)의 레퍼런스 전류 IREF와 컨트롤 비트 b2,b1,b0를 조절하여 출력 파형(S1,S2)의 주기(TS)가 결정되면, 스위치(Φ12)의 작동 주기가 변경됨으로써 최종적인 재조정 스위치드 커패시터 레지스터의 임피던스(ZREF)를 설정할 수 있게 된다.
At this time, the equivalent resistance R eq of the switched capacitor register 111 is determined by the operation period of the switches? 1 and? 2 . Therefore, when adjusting the reference current I REF and the control bit b 2, b 1, b 0 of the control clock generator 112 by the period of the output waveform (S 1, S 2) (T S) is determined, the switch (Φ 1, The operation period of the second reset switch capacitor R2 can be changed to set the impedance Z REF of the final reset switch capacitor register.

도7은 컨트롤 클럭 제너레이터(112)에서 사용되는 비교기(113,114)를 나타낸 것이다. 이 회로는 Positive 피드백을 갖는 전치증폭단(pre-amplifier stage)을 조합함으로써 저전력 구동이 가능하다. 또한 입력의 차이는 전치증폭기에 의해 증폭되고, Positive 피드백이 활성화될 때 CK 입력 신호의 다음 Edge에 걸린다.
7 shows the comparators 113 and 114 used in the control clock generator 112. As shown in FIG. This circuit is capable of low-power operation by combining a pre-amplifier stage with positive feedback. The difference in input is also amplified by the preamplifier and caught on the next edge of the CK input signal when positive feedback is activated.

이상에서는 재조정 스위치드 커패시터 레지스터(110, reconfigurable parasitic insensitive switched-capacitor resistor)가 사용된 비접촉식 터치 센서 리드아웃 회로(100, proximity touch sensor readout circuits)를 설명하였다. 본 실시예에 따라 종래의 저항 어레이는 컨트롤 클럭 주파수의 변화에 따라 재조정되는 스위치드 커패시터 레지스터(111)로 대체된다. 또한 스위치드 커패시터 레지스터(111)의 스위치(Φ12)를 제어하기 위한 컨트롤 클럭은 간단한 전류원(IREF)과 커패시터(C)로 구성된 컨트롤 클럭 제너레이터(112)에서 생성된다. 본 발명의 실시예에 따른 비접촉식 터치 센서 리드아웃 회로(100)의 작동은 공급전압 3.3V의 CMOS 0.35um 레벨의 시뮬레이션을 통해 검증될 수 있다. 면적과 전력을 최소화하기 위해 컨트롤 클럭 제너레이터(112)의 커패시터 C와 스위치드 커패시터 레지스터(111)의 커패시터 CS는 각각 200fF과 500fF으로 세팅된다. 또한 레퍼런스 전류(IREF)는 1.2uA 단위로 세팅된다.
In the foregoing, a proximity touch sensor readout circuit (100) using a reconfigurable parasitic insensitive switched-capacitor resistor (110) has been described. In accordance with the present embodiment, the conventional resistor array is replaced with a switched capacitor register 111 which is readjusted according to the change of the control clock frequency. The control clock for controlling the switches? 1 and? 2 of the switched capacitor register 111 is generated in the control clock generator 112 composed of the simple current source I REF and the capacitor C. The operation of the non-contact touch sensor lead-out circuit 100 according to the embodiment of the present invention can be verified through a CMOS 0.35um level simulation of the supply voltage of 3.3V. To minimize area and power, the capacitor C of the control clock generator 112 and the capacitor C S of the switched capacitor register 111 are set to 200 fF and 500 fF, respectively. The reference current (I REF ) is also set in units of 1.2 uA.

도8은 레퍼런스 전류(IREF)와 컨트롤 클럭 제너레이터(112)의 컨트롤 비트 b2,b1,b0에 따라 생성된 컨트롤 클럭에 대응하는 레퍼런스 레지스터 ZREF를 나타낸 것이다. 또한 회로 시뮬레이션으로부터 얻어지는 ZREF(Simulated ZREF)가 함께 표시되어 있다. 이론값과 실제값의 차이는 b2b1b0 = 001일때 5%, b2b1b0=111일때 0.42%이다. 이러한 차이(error)는 요구되는 값에 관한 컨트롤 클럭 주파수의 변화에 연동되는 비정형화된(non-uniform) 레퍼런스 전류에 기인한다. 그러나 에러는 컨트롤 클럭 주파수 fs가 증가함에 따라 감소한다.
8 shows a reference register Z REF corresponding to the control clock generated according to the reference current I REF and the control bits b 2 , b 1 , b 0 of the control clock generator 112. Z REF (Simulated Z REF ) obtained from the circuit simulation is also shown. The difference between theoretical and actual values is 5% for b 2 b 1 b 0 = 001 and 0.42% for b 2 b 1 b 0 = 111. This error is due to the non-uniform reference current interlocked with the change in the control clock frequency with respect to the required value. However, the error decreases as the control clock frequency f s increases.

도9의 (a)는 컨트롤 클럭 제너레이터(112)의 컨트롤 비트 b2b1b0 = 001 (fs=6MHz)일 때, RS래치(115)의 출력 Q, QB와, VCAP의 출력, 그리고 컨트롤 클럭 제너레이터(112)의 컨트롤 클럭 출력 파형을 나타낸 것이다. 또한 도9의 (b)는 b2b1b0=111(fs=42MHz)일 때의 출력 파형을 나타낸 것이다. 두 경우 모두 노드전압 VCAP이 비교기(113,114)의 기준전압 VH=2.15V 와 VL=1.15V 사이에서 움직이는 것을 확인할 수 있다.
9A shows the output Q and Q B of the RS latch 115 and the output of the V CAP when the control bit b 2 b 1 b 0 = 001 (f s = 6 MHz) of the control clock generator 112 And the control clock output waveform of the control clock generator 112. In FIG. 9 (b) shows the output waveform when b 2 b 1 b 0 = 111 (f s = 42 MHz). In both cases, it can be seen that the node voltage V CAP moves between the reference voltages V H = 2.15 V and V L = 1.15 V of the comparators 113 and 114.

도10은 서로 다른 ZREF값(166.8kΩ - red, 41.7kΩ - blue, 23.7kΩ - green)에 따른 션트 비접촉식 터치 센서 리드아웃 회로의 출력 파형을 나타낸 것이다. 여기에서 입력신호 Vin은 33kHZ의 2Vpp 사인파 입력이 사용되었다.10 shows the output waveforms of the shunt noncontact touch sensor lead-out circuit according to different Z REF values (166.8 kΩ-red, 41.7 kΩ-blue, 23.7 kΩ-green). Here, the input signal V in is a 33 kHz, 2V pp sine wave input.

터치패널 임피던스 ZP는 650kΩ(red), 55kΩ(blue), 15kΩ(green)으로 세팅되었다. 예측한대로 레퍼런스 임피던스 ZREF가 증가하고 패널 임피던스 ZP가 감소하면서 출력 파형의 진폭이 감소되었다. 출력 파형의 진폭은 1.58VPP(red), 1.13VPP(blue), 그리고 0.77VPP(green)이다. 이는 본 실시예에 따른 재조정 스위치드 커패시터 레지스터(110)의 스위치드 커패시터 레지스터(111)와 컨트롤 클럭 제너레이터(112)의 구동에 적당하다.
The touch panel impedance Z P is set to 650 kΩ (red), 55 kΩ (blue), and 15 kΩ (green). As expected, the amplitude of the output waveform decreased as the reference impedance Z REF increased and the panel impedance Z P decreased. The amplitude of the output waveform is 1.58V PP (red), 1.13V PP (blue), and 0.77V PP (green). This is suitable for driving the switched capacitor register 111 and the control clock generator 112 of the readjusted switched capacitor register 110 according to the present embodiment.

터치패널(10)에 손가락이나 스타일러스펜과 같은 객체가 접근하면, 객체와의 거리는 재조정 스위치드 커패시터 레지스터(110)의 출력 진폭과 기준값의 진폭을 비교함으로써 얻어진다. 재조정 스위치드 커패시터 레지스터(110)의 출력 VX는 검출회로(120)의 저전압 AC-DC컨버터(121)와 저역통과필터(122) 및 AD컨버터(123)에 의해 DC레벨로 변환된다.
When an object such as a finger or a stylus pen approaches the touch panel 10, the distance to the object is obtained by comparing the output amplitude of the reshuffled switched capacitor register 110 with the amplitude of the reference value. The output V X of the re-tuned switched capacitor register 110 is converted to a DC level by the low voltage AC-DC converter 121, low pass filter 122 and AD converter 123 of the detection circuit 120.

이상에서는 타임모드 컨트롤 클럭 제너레이터(112)와 스위치드 커패시터 레지스터(111)로 구현된 재조정 스위치드 커패시터 레지스터(110)와, 이를 이용한 비접촉식 터치 센서 리드아웃 회로(100)가 설명되었다. 본 실시예에 따른 재조정 스위치드 커패시터 레지스터(110)는 션트 타입의 비접촉식 터치 센서 리드아웃 회로(100)의 핵심 블록이다.The re-tuned switched capacitor register 110 implemented by the time mode control clock generator 112 and the switched capacitor register 111 and the noncontact touch sensor lead-out circuit 100 using the reset capacitor capacitor register 110 have been described above. The readjusted switched capacitor resistor 110 according to the present embodiment is a core block of the shunt type noncontact touch sensor lead-out circuit 100.

즉 종래에는 저항 어레이를 사용하여 레퍼런스 레지스터를 사용하였기 때문에 회로 설계 면적을 많이 차지하여 모바일 기기의 소형화에 적합하지 않았다. 또한 서로 다른 종류의 터치패널에 대응하도록 개별적인 레퍼런스 레지스터가 설계되어야 했기 때문에 비용적인 측면에서도 불리한 면이 있었다. 그러나 본 발명에서는 레퍼런스 레지스터로서 재조정 스위치드 커패시터 레지스터(110)를 사용하였기 때문에 온칩 터치 센서 리드아웃 회로 구현에 적합하며, 설계 면적을 좁힐 수 있어서 모바일기기의 소형화에 최적이다. 또한 컨트롤 클럭 주파수의 변화에 따라 저항값이 재조정될 수 있어서 서로 다른 종류의 터치패널(10)에 적용시키는 것이 수월하다.
That is, conventionally, since a reference register is used by using a resistor array, it occupies a large area of a circuit design and is not suitable for miniaturization of a mobile device. In addition, since individual reference registers have to be designed to correspond to different kinds of touch panels, there is a disadvantage in terms of cost. However, in the present invention, since the re-adjustment switched capacitor register 110 is used as the reference register, it is suitable for the implementation of the on-chip touch sensor readout circuit, and the design area can be narrowed. In addition, since the resistance value can be readjusted according to the change of the control clock frequency, it is easy to apply the touch panel 10 to different kinds of touch panels 10.

상기한 본 발명의 바람직한 실시예는 예시의 목적을 위해 개시된 것이고, 본 발명에 대해 통상의 지식을 가진 당업자라면, 본 발명의 사상과 범위 안에서 다양한 수정, 변경 및 부가가 가능할 것이며, 이러한 수정, 변경 및 부가는 본 발명의 특허청구 범위에 속하는 것으로 보아야 할 것이다.
While the present invention has been particularly shown and described with reference to exemplary embodiments thereof, it is to be understood that the invention is not limited to the disclosed embodiments, but, on the contrary, And additions should be considered as falling within the scope of the claims of the present invention.

10 : 터치패널
100 : 비접촉식 터치 센서 리드아웃 회로
110 : 재조정 스위치드 커패시터 레지스터
111 : 스위치드 커패시터 레지스터
112 : 컨트롤 클럭 제너레이터
113 : 제1비교기
114 : 제2비교기
115 : RS래치
120 : 검출회로
121 : AC-DC컨버터
122 : 저역통과필터
123 : AD컨버터
130 : 오실레이터
10: Touch panel
100: Non-contact touch sensor lead-out circuit
110: Readjusted switched capacitor resistor
111: Switched Capacitor Register
112: Control clock generator
113: first comparator
114: second comparator
115: RS latch
120: Detection circuit
121: AC-DC converter
122: low-pass filter
123: AD converter
130: Oscillator

Claims (3)

터치패널과 연결되는 재조정 스위치드 커패시터 레지스터; 및
상기 재조정 스위치드 커패시터 레지스터와 상기 터치패널 사이의 노드에 연결되어 상기 노드의 전압(VX) 변화를 검출하는 검출회로;를 포함하되,
상기 재조정 스위치드 커패시터 레지스터는,
서로 다른 위상을 갖는 컨트롤 클럭(S1, S2)을 생성하는 컨트롤 클럭 제너레이터; 및
상기 서로 다른 위상을 갖는 컨트롤 클럭(S1, S2)에 의해 턴온 또는 턴오프 되는 스위치(Φ12)와 연결되는 커패시터(CS)로 구현되는 스위치드 커패시터 레지스터;를 포함하며,
상기 컨트롤 클럭 제너레이터는 레퍼런스 전류(IREF) 값에 따라 주기 TS의 컨트롤 클럭(S1, S2)을 출력하고,
상기 스위치드 커패시터 레지스터는 상기 주기 TS의 컨트롤 클럭(S1, S2)에 의해 상기 스위치(Φ12)가 작동됨으로써, 상기 커패시터(CS)의 등가저항(Req)은 상기 컨트롤 클럭(S1, S2)의 주기 TS에 따라 서로 다른 값을 가짐으로써,
상기 터치패널이 교체되더라도, 상기 터치패널에 대응하도록 상기 재조정 스위치드 커패시터 레지스터의 임피던스(ZREF)를 결정할 수가 있고,
상기 터치패널에 대한 객체의 접근 거리에 따라 상기 터치패널의 임피던스(ZP)가 변하여 상기 노드전압(VX)이 달라지면, 상기 검출회로에서 상기 노드전압(VX)에 대응하는 디지털 신호를 출력함으로써 객체의 접근 거리에 따라 전자기기의 제어가 가능한 것을 특징으로 하는 재조정 스위치드 커패시터 레지스터를 이용한 비접촉식 터치 센서 리드아웃 회로.
A re-tuned switched capacitor resistor connected to the touch panel; And
Including but; is connected to a node between the resistor and the switched-capacitor readjust the touch panel detection circuit which detects a voltage (V X) variation of the node
The re-tuned switched capacitor register comprises:
A control clock generator for generating control clocks (S 1 , S 2 ) having different phases; And
Includes; switched-capacitor resistor that is implemented as a capacitor (C S) is connected to the turn-on or turn-off switch (Φ 1, Φ 2) is by the control clock (S 1, S 2) having the different phase
The control clock generator outputs the control clocks S 1 and S 2 of the period T S according to the value of the reference current I REF ,
The switched-capacitor resistor is the control, an equivalent resistance (R eq) of being the switch (Φ 1, Φ 2) by the control clock (S 1, S 2) of the period T S operation, the capacitor (C S) By having different values depending on the period T S of the clocks (S 1 , S 2 )
It is possible to determine the impedance (Z REF ) of the readjusted switched capacitor register to correspond to the touch panel even if the touch panel is replaced,
Wherein when the impedance Z P of the touch panel is changed according to an approach distance of the object with respect to the touch panel and the node voltage V X is changed, the detection circuit outputs a digital signal corresponding to the node voltage V X Wherein the electronic device is controllable according to an access distance of the object. The non-contact type touch sensor lead-out circuit using the re-tuning switched capacitor register.
제1항에 있어서,
상기 스위치드 커패시터 레지스터는, 상기 스위치(Φ12)의 작동에 의해 상기 커패시터(CS)의 상판과 하판이 교차로 접지 연결되어 충전과 방전이 반복됨으로써 등가저항(Req)이 결정되는 것을 특징으로 하는 재조정 스위치드 커패시터 레지스터를 이용한 비접촉식 터치 센서 리드아웃 회로.
The method according to claim 1,
In the switched capacitor resistor, the upper and lower plates of the capacitor (C S ) are connected in an earthed manner by the operation of the switches (PHI 1 , PHI 2 ) so that charging and discharging are repeated so that the equivalent resistance (R eq ) Non-contact touch sensor lead-out circuit using re-tuned switched capacitor resistors.
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