KR101558073B1 - Method and apparatus for testing current ouput loop in distributed control system - Google Patents

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Abstract

분산 제어 시스템의 전류 출력 루프 검사 방법 및 장치를 제시한다. 본 발명의 전류 출력 루프를 검사하기 위한 장치는 전류 출력 루프로 제 1 전류값을 갖는 전류를 인가하는 전류 출력 모듈, 상기 전류 출력 모듈 및 부하 사이에 위치하여 전류를 측정하는 제 1 전류 감지 회로, 상기 부하 및 시스템 접지 사이에 위치하여 전류를 측정하는 제 2 전류 감지 회로, 및 상기 전류 출력 루프, 상기 제 1 전류 감지 회로 및 상기 제 2 전류 감지 회로에 연결되는 프로세서를 포함한다. 상기 프로세서는 상기 제 1 전류값, 상기 제 1 전류 감지 회로에서 측정된 제 2 전류값 및 상기 제 2 전류 감지 회로에서 측정된 제 3 전류값 중 적어도 둘 이상을 비교하고, 상기 비교에 기초하여 상기 전류 출력 루프의 이상 여부를 판단하도록 구성된다. 본 발명을 통해, 분산 제어 시스템의 전류 출력 루프에서 이상 발생시, 이상 원인을 용이하게 판정할 수 있을 뿐만 아니라 이상이 발생한 전류 출력 루프의 위치를 파악하여 신속한 수리 또는 보수를 가능하게 할 수 있다.A method and apparatus for checking the current output loop of a distributed control system are presented. An apparatus for testing a current output loop of the present invention includes a current output module for applying a current having a first current value to a current output loop, a first current sense circuit positioned between the current output module and the load for measuring current, A second current sense circuit positioned between the load and system ground to measure current, and a processor coupled to the current output loop, the first current sense circuit, and the second current sense circuit. Wherein the processor compares at least two of the first current value, the second current value measured by the first current sense circuit, and the third current value measured by the second current sense circuit, And to determine whether or not the current output loop is abnormal. In the present invention, when an abnormality occurs in the current output loop of the distributed control system, the cause of the abnormality can be easily determined, and the position of the current output loop in which the abnormality occurs can be grasped to enable quick repair or repair.

Description

분산 제어 시스템의 전류 출력 루프 검사 방법 및 장치{METHOD AND APPARATUS FOR TESTING CURRENT OUPUT LOOP IN DISTRIBUTED CONTROL SYSTEM}TECHNICAL FIELD [0001] The present invention relates to a method and an apparatus for inspecting a current output loop of a distributed control system,

본 발명은 분산 제어 시스템의 전류 출력 루프 검사 방법 및 장치에 관한 것이다.The present invention relates to a current output loop inspection method and apparatus of a distributed control system.

전자, 컴퓨터 기술이 발전함에 따라 다양한 산업 분야에서 컴퓨터를 이용하여 특정 작업, 공정 등을 감시하고 제어할 수 있는 제어 시스템을 이용하고 있다. 특히, 발전소 설비, 석유 화학 공장, 하수 처리 설비 등의 기간 산업은 전체 플랜트(plant)가 정상적으로 동작할 수 있도록 구성 설비들을 점검 및 제어하는 것이 필수적이며, 이를 위해 제어 시스템이 필요하게 된다. As electronic and computer technologies have developed, control systems have been used to monitor and control specific tasks and processes using computers in various industrial fields. Particularly, it is essential to check and control the constituent facilities so that the entire plant can operate normally in a sub-industry such as a power plant facility, a petrochemical plant, and a sewage treatment plant, and a control system is required for this.

그러나, 플랜트 제어 시스템의 모든 제어 기능이 한 대의 컴퓨터에 모두 집중화되어 있는 경우에 컴퓨터에 이상이 발생하면 공정 전체가 제어 불능 상태에 될 수 있기 때문에, 고도의 안정성을 요구하는 플랜트 제어를 위해서 분산 제어 시스템(DSC: Distributed Control System)이 제안되었다. 분산 제어 시스템은 공정 제어에 적용되는 시스템을 각 설비에 알맞은 단위 서브 시스템으로 분리하여 각각의 서브 시스템은 기능별 동작을 수행하며, 서브 시스템 간에 통신이 가능하도록 구성된다.However, when all the control functions of the plant control system are concentrated on one computer, if the computer is faulty, the whole process can be out of control. Therefore, for the plant control requiring high stability, System (DSC: Distributed Control System) has been proposed. The distributed control system divides a system applied to process control into unit sub-systems suitable for each facility, and each sub-system performs a function-specific operation and is configured to enable communication between the sub-systems.

분산 제어 시스템에서 해당 제어 대상 설비와 각 서브 시스템 간에 설비 동작 데이터를 입력받고 제어 신호를 출력할 수 있도록 각 제어 대상 설비는 각종 입출력 신호선들을 통해 제어 시스템에 연결될 수 있다. 이러한 입출력 신호선들은 장기간 사용으로 인하여 전선의 피복이 탈피되거나 손상될 수 있으며, 이로 인해 신호선이 단선되거나 플랜트 접지와 접촉하여 고장을 일으킬 수 있다.In the distributed control system, each control target facility can be connected to the control system through various input / output signal lines so as to receive facility operation data between the control target facility and each subsystem and output a control signal. These input / output signal lines can be stripped or damaged due to long-term use, which can lead to disconnection of the signal line or contact with the ground of the plant.

따라서, 신뢰성있고 안정적인 플랜트 제어를 위해서는 이러한 입출력 신호선의 이상 여부를 감지할 수 있을 뿐만 아니라 어떠한 원인으로 고장이 발생했는지를 판별할 수 있는 효율적인 고장 감지 방안이 시급히 요구되고 있는 실정이다.Therefore, in order to reliably and stably control the plant, it is urgently required to efficiently detect failure of the input / output signal line as well as to detect the cause of the failure.

이러한 문제점을 해결하기 위해 본 발명은, 분산 제어 시스템의 전류 출력 루프 검사 방법 및 장치를 제공하는 것을 목적으로 한다.In order to solve such problems, it is an object of the present invention to provide a method and an apparatus for inspecting a current output loop of a distributed control system.

본 발명의 일 실시예에 따르면, 제어 시스템의 전류 출력 루프 검사 방법을 제시한다. 상기 방법은 전류 출력 모듈을 통해 전류 출력 루프로 제 1 전류값을 갖는 전류를 인가하는 단계, 상기 전류 출력 루프 상의 상기 전류 출력 모듈 및 부하 사이에 있는 제 1 전류 감지 회로에서 전류를 측정하는 단계, 상기 전류 출력 루프 상의 상기 부하 및 시스템 접지 사이에 있는 제 2 전류 감지 회로에서 전류를 측정하는 단계, 상기 전류 출력 루프, 상기 제 1 전류 감지 회로 및 상기 제 2 전류 감지 회로에 연결된 프로세서에서 상기 제 1 전류값, 상기 제 1 전류 감지 회로에서 측정된 제 2 전류값 및 상기 제 2 전류 감지 회로에서 측정된 제 3 전류값 중 적어도 둘 이상을 비교하는 단계, 및 상기 비교에 기초하여 상기 전류 출력 루프의 이상 여부를 판단하는 단계를 포함할 수 있다.According to an embodiment of the present invention, a current output loop inspection method of a control system is presented. The method includes applying a current having a first current value to a current output loop through a current output module, measuring current in a first current sense circuit between the current output module and the load on the current output loop, Sensing a current in a second current sense circuit between the load and the system ground on the current output loop, and in the processor coupled to the current output loop, the first current sense circuit and the second current sense circuit, Comparing at least two of a current value, a second current value measured at the first current sensing circuit and a third current value measured at the second current sensing circuit, and comparing the at least two of the current output loops And judging whether or not an abnormality has occurred.

상기 전류 출력 루프의 이상 여부를 판단하는 단계는, 상기 제 1 전류값, 상기 제 2 전류값 및 상기 제 3 전류값 중 임의의 2개의 전류값들 간의 차이가 미리 결정된 허용 오차 범위 내에 있으면 상기 전류 출력 루프를 정상으로 판정하는 단계를 더 포함할 수 있다. 또한, 상기 전류 출력 루프의 이상 여부를 판단하는 단계는, 상기 제 2 전류값 및 상기 제 3 전류값이 동일하거나 또는 이들 간의 차이가 미리 결정된 허용 오차 범위 내에 있으며, 상기 제 1 전류값 및 상기 제 2 전류값 간의 차이 또는 상기 제 1 전류값 및 상기 제 3 전류값 간의 차이가 미리 결정된 임계치를 초과하면 상기 전류 출력 루프에 단선이 발생하였다고 판정하는 단계를 더 포함할 수 있다. 또한, 상기 전류 출력 루프의 이상 여부를 판단하는 단계는, 상기 제 1 전류값 및 상기 제 2 전류값이 동일하거나 또는 이들 간의 차이가 미리 결정된 허용 오차 범위 내에 있으며, 상기 제 1 전류값 및 상기 제 3 전류값 간의 차이 또는 상기 제 2 전류값 및 상기 제 3 전류값 간의 차이가 미리 결정된 임계치를 초과하면 상기 전류 출력 루프에 접지 단락(short)이 발생하였다고 판정하는 단계를 더 포함할 수 있다. Wherein the step of determining whether or not the current output loop has an abnormality includes the step of determining whether the difference between any two current values of the first current value, the second current value and the third current value is within a predetermined tolerance range, And determining that the output loop is normal. The determining whether or not the current output loop is abnormal may further include determining whether the current output loop is abnormal or not by comparing whether the second current value and the third current value are the same or a difference therebetween is within a predetermined tolerance range, And determining that a disconnection has occurred in the current output loop if the difference between the first current value and the second current value or the difference between the first current value and the third current value exceeds a predetermined threshold value. The step of determining whether or not the current output loop is abnormal may further include determining whether the current output loop is abnormal or not by determining whether the first current value and the second current value are equal to each other or the difference therebetween is within a predetermined tolerance range, 3 current value, or determining that a ground short has occurred in the current output loop if the difference between the second current value and the third current value exceeds a predetermined threshold.

상기 방법은 상기 전류 출력 루프의 이상 원인에 따른 진단 신호를 발생시키는 단계를 더 포함할 수 있으며, 상기 진단 신호는 상기 전류 출력 루프의 이상 원인 및 상기 전류 출력 루프의 위치 정보를 포함할 수 있다.The method may further include generating a diagnostic signal according to the cause of the abnormality of the current output loop, wherein the diagnostic signal may include an abnormality cause of the current output loop and position information of the current output loop.

본 발명의 일 실시예에 따르면, 제어 시스템의 전류 출력 루프를 검사하기 위한 장치를 제시한다. 상기 장치는 전류 출력 루프로 제 1 전류값을 갖는 전류를 인가하는 전류 출력 모듈, 상기 전류 출력 모듈 및 부하 사이에 위치하여 전류를 측정하는 제 1 전류 감지 회로, 상기 부하 및 시스템 접지 사이에 위치하여 전류를 측정하는 제 2 전류 감지 회로, 및 상기 전류 출력 루프, 상기 제 1 전류 감지 회로 및 상기 제 2 전류 감지 회로에 연결되며, 상기 제 1 전류값, 상기 제 1 전류 감지 회로에서 측정된 제 2 전류값 및 상기 제 2 전류 감지 회로에서 측정된 제 3 전류값 중 적어도 둘 이상을 비교하고, 상기 비교에 기초하여 상기 전류 출력 루프의 이상 여부를 판단하도록 구성되는 프로세서를 포함할 수 있다.According to an embodiment of the present invention, an apparatus for checking the current output loop of a control system is presented. The apparatus includes a current output module for applying a current having a first current value to a current output loop, a first current sense circuit located between the current output module and the load to measure current, A second current sense circuit coupled to the current output loop, the first current sense circuit, and the second current sense circuit, the second current sense circuit measuring the first current value, the second current sense circuit And a processor configured to compare at least two of the current value and the third current value measured in the second current sensing circuit and to determine whether the current output loop is abnormal based on the comparison.

본 발명의 일 실시예에 따르면, 제어 시스템의 전류 출력 루프를 검사하기 위한 프로세서를 제시한다. 상기 프로세서는 전류 출력 루프로 제 1 전류값을 갖는 전류를 인가하는 전류 출력 모듈, 상기 전류 출력 모듈 및 부하 사이에 위치하여 전류를 측정하는 제 1 전류 감지 회로, 및 상기 부하 및 시스템 접지 사이에 위치하여 전류를 측정하는 제 2 전류 감지 회로와 연결될 수 있다. 상기 프로세서는 상기 제 1 전류값, 상기 제 1 전류 감지 회로에서 측정된 제 2 전류값 및 상기 제 2 전류 감지 회로에서 측정된 제 3 전류값 중 적어도 둘 이상을 비교하고, 상기 비교에 기초하여 상기 전류 출력 루프의 이상 여부를 판단하도록 구성될 수 있다.According to an embodiment of the present invention, a processor for checking a current output loop of a control system is presented. The processor comprising: a current output module for applying a current having a first current value to a current output loop; a first current sense circuit positioned between the current output module and the load to measure current; And a second current sensing circuit for measuring the current. Wherein the processor compares at least two of the first current value, the second current value measured by the first current sense circuit, and the third current value measured by the second current sense circuit, And determine whether the current output loop is abnormal.

본 발명은 분산 제어 시스템의 전류 출력 루프 검사 방법 및 장치를 제공함으로써, 분산 제어 시스템의 전류 출력 루프에서 이상 발생시, 이상 원인을 용이하게 판정할 수 있을 뿐만 아니라 이상이 발생한 전류 출력 루프의 위치를 파악하여 신속한 수리 또는 보수를 가능하게 할 수 있는 효과가 있다.The present invention provides a method and an apparatus for inspecting a current output loop of a distributed control system so that it is possible to easily determine the cause of an abnormality in a current output loop of a distributed control system, Thereby enabling quick repair or repair.

도 1은 전류 출력 루프에서의 단선 발생을 나타내는 예시적인 도면이다.
도 2는 전류 출력 루프에서의 접지 단락 발생을 나타내는 예시적인 도면이다.
도 3은 본 발명의 일 실시예에 따른 전류 출력 루프를 검사하기 위한 장치를 개략적으로 나타내는 도면이다.
도 4는 본 발명의 일 실시예에 따른 전류 출력 루프를 검사하기 위한 방법을 나타내는 순서도이다.
도 5는 본 발명의 일 실시예에 따른 전류 출력 루프를 검사하기 위한 장치에서 접지 단락 발생을 감지하는 예시적인 도면이다.
도 6은 본 발명의 일 실시예에 따른 전류 출력 루프를 검사하기 위한 장치에서 단선 발생을 감지하는 예시적인 도면이다.BRIEF DESCRIPTION OF THE DRAWINGS Figure 1 is an exemplary diagram illustrating the occurrence of a disconnection in a current output loop.
Figure 2 is an exemplary diagram illustrating ground shorting in a current output loop.
3 is a schematic diagram of an apparatus for testing a current output loop in accordance with an embodiment of the present invention.
4 is a flow diagram illustrating a method for testing a current output loop in accordance with an embodiment of the present invention.
5 is an exemplary diagram of detecting ground shorting in an apparatus for testing a current output loop in accordance with an embodiment of the present invention.
FIG. 6 is an exemplary diagram of detecting a break in an apparatus for testing a current output loop in accordance with an embodiment of the present invention. FIG.

이하, 본 발명의 바람직한 실시예들을 첨부된 도면들을 참조하여 상세히 설명한다. 우선 각 도면의 구성요소들에 참조부호를 부가함에 있어서, 동일한 구성요소들에 대해서는 비록 다른 도면상에 표시되더라도 가능한 한 동일한 부호를 가지도록 하고 있음에 유의해야 한다. 또한, 본 발명을 설명함에 있어, 관련된 공지 구성 또는 기능에 대한 구체적인 설명이 본 발명의 요지를 흐릴 수 있다고 판단되는 경우에는 그 상세한 설명은 생략한다.Hereinafter, preferred embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings. In the drawings, the same reference numerals are used to designate the same or similar components throughout the drawings. In the following description of the present invention, a detailed description of known functions and configurations incorporated herein will be omitted when it may make the subject matter of the present invention rather unclear.

본 발명의 다양한 양상들이 아래에서 설명된다. 여기에서 제시되는 발명들은 폭넓은 다양한 형태들로 구현될 수 있으며 여기에서 제시되는 임의의 특정한 구조, 기능 또는 이들 모두는 단지 예시적이라는 것을 이해하도록 한다. 여기에서 제시되는 발명들에 기반하여 본 발명이 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자는 여기에서 제시되는 하나의 양상이 임의의 다른 양상들과 독립적으로 구현될 수 있으며 둘 이상의 이러한 양상들이 다양한 방식들로 결합될 수 있다는 것을 이해할 것이다. 예를 들어, 여기에서 설명되는 임의의 수의 양상들을 이용하여 장치가 구현될 수 있거나 또는 방법이 실시될 수 있다. 또한, 여기에서 설명되는 하나 이상의 양상들에 더하여 또는 이들 양상들이 아닌 다른 구조, 기능 또는 구조 및 기능을 이용하여 이러한 장치가 구현될 수 있거나 또는 이러한 방법이 실시될 수 있다.Various aspects of the invention are described below. It is to be understood that the inventions set forth herein may be embodied in a wide variety of forms and that any particular structure, function, or all of the presented features are illustrative only. It will be understood by those skilled in the art that on the basis of the inventions set forth herein, one aspect disclosed herein may be implemented independently of any other aspects, and that two or more such aspects may be implemented in various ways ≪ / RTI > For example, an apparatus may be implemented or a method may be practiced using any number of aspects set forth herein. In addition, or in addition to one or more aspects described herein, or with the aid of structures, functions, or structures and functions other than these aspects, such devices may be implemented or such methods may be practiced.

도 1은 전류 출력 루프에서의 단선 발생을 나타내는 예시적인 도면이며, 도 2는 전류 출력 루프에서의 접지 단락 발생을 나타내는 예시적인 도면이다.FIG. 1 is an exemplary diagram showing a disconnection occurrence in a current output loop, and FIG. 2 is an exemplary diagram showing a ground short circuit occurrence in a current output loop. FIG.

도 1 및 도 2에 도시된 바와 같이, 플랜트 설비에 설치되는 입출력 신호선들과 같은 전류 출력 루프는 배선의 노후화, 손상 등의 여러 가지 원인들에 기인하여 단선되거나 플랜트 접지와 접촉하여 접지 단락을 형성함으로써 플랜트 제어에 있어 고장을 일으킬 수 있다.As shown in Figs. 1 and 2, current output loops, such as input / output signal lines installed in a plant facility, are disconnected due to various causes such as deterioration of wiring, damage, or contact with plant ground to form a ground short Thereby causing a failure in plant control.

예컨대, 도 1에 도시된 바와 같이 전류 출력 모듈(110)과 현장 부하(120)를 연결하는 전류 출력 루프에 단선이 발생하는 경우에, 전류 출력 모듈(110)로부터 전류를 출력시킬 수 없게 되어 현장 부하(120)에 신호를 전달할 수 없기 때문에, 이러한 단선 고장 발생시 즉각적으로 단선 여부를 판별할 필요가 있다. 또한, 도 2에 도시된 바와 같이, 전류 출력 모듈(110)과 현장 부하(120)를 연결하는 전류 출력 루프가 시스템 전원 접지로 단락되는 경우에, 전류 출력 모듈(110)로부터 출력된 전류가 접지 단락으로 흐르게 되어 현장 부하(120)에 신호를 전달할 수 없기 때문에, 이러한 접지 단락으로 인한 고장 발생시에도 즉각적으로 접지 단락 여부를 판별할 필요가 있다.For example, as shown in FIG. 1, when a disconnection occurs in the current output loop connecting the current output module 110 and the field load 120, current can not be output from the current output module 110, The signal can not be transmitted to the load 120. Therefore, it is necessary to immediately determine whether or not disconnection occurs when such disconnection occurs. 2, when the current output loop connecting the current output module 110 and the field load 120 is short-circuited to the system power supply ground, the current output from the current output module 110 is grounded It is not possible to transmit a signal to the field load 120 due to a short circuit, so it is necessary to immediately judge whether or not the ground is short-circuited even in the event of a failure due to such short-circuit.

이에 따라, 아래에서는 효율적이고 정확하게 전류 출력 루프의 이상 여부를 판별할 수 있는 본 발명의 장치 및 방법에 대하여 상세하게 설명할 것이다.Accordingly, the apparatus and method of the present invention capable of efficiently and accurately determining whether the current output loop is abnormal will be described in detail below.

도 3은 본 발명의 일 실시예에 따른 전류 출력 루프를 검사하기 위한 장치를 개략적으로 나타내는 도면이다.3 is a schematic diagram of an apparatus for testing a current output loop in accordance with an embodiment of the present invention.

도 3에 도시된 바와 같이, 본 발명의 전류 출력 루프를 검사하기 위한 장치는 전류 출력 모듈(110), 프로세서(130), 전류 감지 회로 1(140), 전류 감지 회로 2(150)를 포함하여 구성될 수 있다.3, the apparatus for inspecting the current output loop of the present invention includes a current output module 110, a processor 130, a current sensing circuit 140, and a current sensing circuit 150 Lt; / RTI >

전류 출력 모듈(110)은 시스템 전원(Vcc)과 연결되어 있으며, 현장 부하(120)로 신호를 전달할 수 있도록 소정의 전류(예를 들어, 4-20 mA)를 전류 출력 루프로 인가 또는 출력시킨다. 이러한 출력 전류는 전류 출력 루프의 아날로그 출력 포지티브 단자(AO_P)를 통해서 외부의 현장 부하(120)로 전달되고, 부하(120)를 거쳐 아날로그 출력 네거티브 단자(AO_N)로 입력될 수 있다. 또한, 전류 출력 모듈(110)은 소정의 전류를 출력시키기 위한 디지털-대-아날로그 컨버터(DAC)로 구현될 수 있다.The current output module 110 is connected to the system power supply Vcc and applies or outputs a predetermined current (for example, 4-20 mA) to the current output loop so as to transmit the signal to the field load 120 . This output current is delivered to the external field load 120 through the analog output positive terminal AO_P of the current output loop and can be input to the analog output negative terminal AO_N via the load 120. [ Also, the current output module 110 may be implemented as a digital-to-analog converter (DAC) for outputting a predetermined current.

전류 감지 회로 1(Current Sensing Circuit 1: CSC1)(140)은 전류 출력 모듈(110) 및 부하(120) 사이에 위치될 수 있으며, 전류 출력 모듈(110)로부터 출력되어 아날로그 출력 포지티브 단자(AO_P)를 거쳐 부하(120)로 흐르는 전류값을 측정할 수 있다. 또한, 전류 감지 회로 2(CSC2)(150)는 부하(120) 및 시스템 접지 사이에 위치될 수 있으며, 부하(120)로부터 아날로그 출력 네거티브 단자(AO_N)를 거쳐 시스템 접지로 흐르는 전류값을 측정할 수 있다.A current sensing circuit 1 (CSC1) 140 may be located between the current output module 110 and the load 120 and is connected to the analog output positive terminal AO_P, The current flowing to the load 120 can be measured. The current sensing circuit 2 (CSC2) 150 may also be located between the load 120 and the system ground and measure the current flowing from the load 120 to the system ground via the analog output negative terminal AO_N .

프로세서(130)는 전류 출력 모듈(110), 전류 감지 회로 1(140) 및 전류 감지 회로 2(150)와 연결될 수 있으며, 전류 출력 루프를 검사하기 위해 전류 출력 모듈(110)에서 출력되는 전류값, 전류 감지 회로 1(140)에서 측정된 전류값 및 전류 감지 회로 2(150)에서 측정된 전류값을 전달받아 이들 중 적어도 둘 이상을 비교하는 동작을 수행할 수 있다. 또한, 프로세서(130)는 이러한 비교에 기초하여 전류 출력 루프의 이상 여부 및 고장 원인을 신속하게 판단할 수 있으며, 그에 따른 진단 신호를 발생시켜 제어 시스템으로 전달할 수 있다.The processor 130 may be coupled to the current output module 110, the current sense circuit 1 140 and the current sense circuit 2 150 and may be coupled to the current output module 110 to check the current output loop, , The current value measured by the current sensing circuit 1 (140) and the current value measured by the current sensing circuit 2 (150), and compare at least two of them. In addition, the processor 130 can quickly determine whether the current output loop is abnormal and the cause of the failure based on the comparison, and can generate a diagnosis signal and transmit it to the control system.

한편, 도 3에서는 전류 출력 루프를 검사하기 위한 장치가 하나의 전류 출력 루프와 연결된 것으로 예시되어 있지만, 이에 한정되지 않으며 본 발명의 전류 출력 루프를 검사하기 위한 장치는 다수의(예를 들어, 16개) 전류 출력 채널(전류 출력 루프)들과 연결되어 각 전류 출력 루프의 이상 여부를 판단할 수 있다. 이러한 경우, 전류 출력 모듈(110)은 다수의 전류 출력 루프들과 연결될 수 있는 다수의 DAC들을 포함하도록 구현될 수 있다.3, an apparatus for checking a current output loop is illustrated as being connected to a current output loop, but the present invention is not limited thereto and an apparatus for checking a current output loop of the present invention may be provided with a plurality of (for example, 16 (Current output loops) to determine whether each current output loop is abnormal. In such a case, the current output module 110 may be implemented to include a plurality of DACs that may be coupled to a plurality of current output loops.

전류 출력 루프의 이상 여부 판단 및 진단 신호 발생에 관한 보다 상세한 설명은 도 4와 관련한 설명에서 후술하도록 한다.A more detailed description of the determination of the abnormality of the current output loop and the generation of the diagnostic signal will be given later in the description with reference to FIG.

도 4는 본 발명의 일 실시예에 따른 전류 출력 루프를 검사하기 위한 방법을 나타내는 순서도이다.4 is a flow diagram illustrating a method for testing a current output loop in accordance with an embodiment of the present invention.

도 4의 단계들을 살펴보면, 전류 출력 모듈(110)은 전류 출력 루프로 제 1 전류값을 갖는 전류를 인가한다(단계 S410). 전류 출력 모듈(110) 및 부하(120) 사이에 있는 전류 감지 회로 1(140)은 전류 출력 모듈(110)로부터 부하(120)로 흐르는 전류값을 측정하며, 이러한 측정된 전류값은 제 2 전류값으로 지칭하도록 한다(단계 S420). 부하(120) 및 시스템 접지 사이에 있는 전류 감지 회로 2(150)는 부하(120)로부터 시스템 접지로 흐르는 전류값을 측정하며, 이러한 측정된 전류값은 제 3 전류값으로 지칭하도록 한다(단계 S430). 프로세서(130)는 이러한 제 1 전류값, 제 2 전류값 및 제 3 전류값을 전달받아 이들 중 적어도 둘 이상을 비교하며(단계 S440), 이러한 비교에 기초하여 전류 출력 루프의 이상 여부를 판단할 수 있다(단계 S450).Referring to the steps of FIG. 4, the current output module 110 applies a current having a first current value to the current output loop (step S410). The current sensing circuit 1 140 between the current output module 110 and the load 120 measures the current flowing from the current output module 110 to the load 120, (Step S420). The current sensing circuit 2 150 between the load 120 and the system ground measures the value of the current flowing from the load 120 to the system ground and allows the measured current value to be referred to as the third current value ). The processor 130 receives the first current value, the second current value, and the third current value, compares at least two of them (step S440), and determines whether the current output loop is abnormal based on the comparison (Step S450).

구체적으로, 단계 S440과 관련하여, 전류 출력 루프가 정상적으로 동작하고 있다면 전류 출력 모듈(110)로부터 출력된 전류가 부하(120)를 거쳐 시스템 접지로 흐를 것이기 때문에, 이상적으로 전류 출력 모듈(110)의 제 1 전류값, 전류 감지 회로 1(140)에서 측정된 제 2 전류값 및 전류 감지 회로 2(150)에서 측정된 제 3 전류값은 동일할 것이다. 다만, 실제적으로는 이러한 모듈, 회로 또는 루프를 구성하는 소자들에 기인하는 저항, 리액턴스 등이 존재할 수 있기 때문에, 전류 출력 루프가 정상적으로 동작하고 있다면 제 1 전류값, 제 2 전류값 및 제 3 전류값은 실질적으로 동일할 것이다(즉, 각 전류값 간의 차이는 시스템 설계 및 동작 상태 등에 따라 당업자에 의해 적절하게 설정될 수 있는 소정의 허용 오차 범위 내에 있을 것이다). 따라서, 프로세서(130)는 제 1 전류값, 제 2 전류값 및 제 3 전류값 중 임의의 2개의 전류값들 간의 차이가 미리 결정된 허용 오차 범위 내에 있으면 전류 출력 루프를 정상으로 판정할 수 있다.In particular, with respect to step S440, if the current output loop is operating normally, the current output from the current output module 110 will flow to the system ground via the load 120, ideally, The first current value, the second current value measured by the current sense circuit 1 140, and the third current value measured by the current sense circuit 2 150 may be the same. Actually, however, there may exist resistance, reactance, etc. due to the elements constituting such a module, circuit or loop. Therefore, if the current output loop is normally operating, the first current value, the second current value and the third current (I.e., the difference between each current value will be within a predetermined tolerance range that can be suitably set by a person skilled in the art depending on system design and operating conditions, etc.). Thus, the processor 130 may determine the current output loop to be normal if the difference between any two of the first, second, and third current values is within a predetermined tolerance range.

또한, 단계 S440과 관련하여, 전류 출력 루프에 단선으로 인한 고장이 발생하였다면, 전류 출력 루프는 오픈(open)되어 이상적으로는 전류 감지 회로 1(140) 및 전류 감지 회로 2(150) 측으로 전류가 흐를 수 없으며, 실제적으로는 기생 전류, 내부 소자 등에 기인하여 적은 양의 전류가 흐를 수도 있다(즉, 제 2 전류값 및 제 3 전류값이 제 1 전류값에 비해 상당히 작을 수 있다). 이러한 경우에, 제 2 전류값 및 제 3 전류값은 실질적으로 동일한 매우 적은 전류값일 수 있으며, 제 2 전류값 및 제 3 전류값 간의 차이는 소정의 허용 오차 범위 내에 있는 작은 값일 수 있다. 반면에, 제 1 전류값 및 제 2 전류값 간의 차이 또는 제 1 전류값 및 제 3 전류값 간의 차이는 미리 결정된 임계치(예컨대, 출력 전류 루프 단선 여부 판단을 위해 당업자에 의해 적절하게 설정될 수 있는 임계값)보다 큰 상대적으로 큰 값일 수 있다. 따라서, 프로세서(130)는 제 2 전류값 및 제 3 전류값이 동일하거나 또는 이들 간의 차이가 미리 결정된 허용 오차 범위 내에 있으며, 제 1 전류값 및 제 2 전류값 간의 차이 또는 제 1 전류값 및 제 3 전류값 간의 차이가 미리 결정된 임계치를 초과하면 전류 출력 루프에 단선이 발생하였다고 판정할 수 있다.Also, with reference to step S440, if a failure due to disconnection has occurred in the current output loop, the current output loop is open so that ideally current flows to current sense circuit 1 140 and current sense circuit 2 150 side (I.e., the second current value and the third current value may be significantly smaller than the first current value) due to parasitic current, internal elements, and the like. In this case, the second current value and the third current value may be substantially the same current value, and the difference between the second current value and the third current value may be a small value within a predetermined tolerance range. On the other hand, the difference between the first current value and the second current value or the difference between the first current value and the third current value is determined by a predetermined threshold (for example, a current value that can be appropriately set by a person skilled in the art Lt; / RTI > threshold value). Accordingly, the processor 130 determines whether the second current value and the third current value are the same or the difference therebetween is within a predetermined tolerance range, and the difference between the first current value and the second current value, 3 current value exceeds a predetermined threshold, it can be determined that a disconnection has occurred in the current output loop.

또한, 단계 S440과 관련하여, 전류 출력 루프에 접지 단락으로 인한 고장이 발생하였다면, 전류 출력 모듈(110)로부터 출력된 전류가 부하(120)를 거쳐 시스템 접지로 온전히 흐를 수 없으며, 접지 단락된 부분으로 상당량의 전류(이상적으로는 출력 전류 전부)가 흘러가게 되어 부하(120) 측으로 의도된 전류가 흘러들어갈 수 없게 된다. 이러한 경우에, 전류 출력 모듈(110) 및 전류 감지 회로 1(140)은 전류 출력 루프의 접지 단락된 부분 이전에 위치하기 때문에, 제 1 전류값 및 제 2 전류값은 실질적으로 동일할 수 있다(즉, 제 1 전류값 및 제 2 전류값 간의 차이는 당업자에 의해 적절하게 설정될 수 있는 소정의 허용 오차 범위 내에 있을 것이다). 반면에, 전류 출력 모듈(110)로부터 출력된 전류 중 상당량이 접지 단락된 부분으로 흘러들어가기 때문에, 전류 감지 회로 2(150)에서 측정되는 제 3 전류값은 상대적으로 상당히 작은 값이 되어, 제 1 전류값 및 제 3 전류값 간의 차이 또는 제 2 전류값 및 제 3 전류값 간의 차이는 미리 결정된 임계치(예컨대, 출력 전류 루프의 접지 단락 여부 판단을 위해 당업자에 의해 적절하게 설정될 수 있는 임계값)보다 큰 상대적으로 큰 값일 수 있다. 따라서, 프로세서(130)는 제 1 전류값 및 제 2 전류값이 동일하거나 또는 이들 간의 차이가 미리 결정된 허용 오차 범위 내에 있으며, 제 1 전류값 및 제 3 전류값 간의 차이 또는 제 2 전류값 및 제 3 전류값 간의 차이가 미리 결정된 임계치를 초과하면 전류 출력 루프에 접지 단락이 발생하였다고 판정할 수 있다.Also, with respect to step S440, if a fault due to a short to ground in the current output loop has occurred, the current output from the current output module 110 can not flow completely through the load 120 to the system ground, A considerable amount of current flows (ideally, all of the output current) flows into the load 120, so that the intended current can not flow into the load 120 side. In this case, the first current value and the second current value may be substantially the same since the current output module 110 and current sense circuit 1 140 are located before the grounded shorted portion of the current output loop ( That is, the difference between the first current value and the second current value will be within a certain tolerance range that can be suitably set by those skilled in the art). On the other hand, since a substantial amount of the current output from the current output module 110 flows into the ground shorted portion, the third current value measured by the current sensing circuit 2 150 becomes a relatively small value, The difference between the current value and the third current value or the difference between the second current value and the third current value is determined based on a predetermined threshold (e.g., a threshold value that can be appropriately set by a person skilled in the art to judge whether the output current loop is short- Lt; / RTI > may be a relatively larger value. Accordingly, the processor 130 determines whether the first current value and the second current value are the same or the difference therebetween is within the predetermined tolerance range, and the difference between the first current value and the third current value, If the difference between the three current values exceeds a predetermined threshold, it can be determined that a short to ground in the current output loop has occurred.

더 나아가, 단계 S450에서 전류 출력 루프의 이상 여부가 판단되면, 상기 방법은 또한 전류 출력 루프의 이상 원인에 따른 진단 신호를 발생시킬 수 있다. 예를 들어, 프로세서(130)는 단선에 기인한 전류 출력 루프 고장인 경우에 그러한 고장 원인을 표시하는 진단 신호를 발생시킬 수 있으며, 접지 단락에 기인한 전류 출력 루프 고장인 경우에 그러한 고장 원인을 표시하는 진단 신호를 발생시킬 수 있다. 더 나아가, 프로세서(130)는 전류 출력 루프의 이상 원인뿐만 아니라 전류 출력 루프의 위치 정보를 포함하는 진단 신호를 발생시켜 제어 시스템 측으로 전달할 수 있다. 구체적으로, 전술한 바와 같이, 본 발명의 전류 출력 루프를 검사하기 위한 장치는 다수의 전류 출력 루프들과 연결되어 각 전류 출력 루프의 이상 여부를 판단할 수 있기 때문에, 관리하는 전류 출력 루프들 중에서 어떤 전류 출력 루프에서 이상이 발생하였는지(즉, 위치 정보)를 판별할 수 있다. 예컨대, 전류 출력 루프를 검사하기 위한 장치에서 관리하는 제어 대상 설비들 중 특정 제어 대상 설비(예를 들어, 부하(120))의 전류 출력 루프에서 고장이 판별된 경우에 그러한 특정 제어 대상 설비에서 고장이 발생하였다는 위치 정보를 진단 신호를 통해 전달함으로써 고장 원인뿐만 아니라 어떤 부하(120)와 연결된 전류 출력 루프에서 고장이 발생하였는지 여부도 판별할 수 있게 된다.Further, if it is determined in step S450 that the current output loop is abnormal, the method may also generate a diagnostic signal according to the cause of the abnormality in the current output loop. For example, the processor 130 may generate a diagnostic signal indicative of the cause of the fault in the case of a current output loop failure due to a disconnection, and may cause such a fault in the case of a current output loop fault due to a ground fault It is possible to generate a diagnostic signal to be displayed. Further, the processor 130 may generate a diagnostic signal including positional information of the current output loop as well as an abnormality cause of the current output loop and transmit it to the control system side. Specifically, as described above, since the apparatus for checking the current output loop of the present invention is connected to a plurality of current output loops to determine whether each current output loop is abnormal, It is possible to determine in which current output loop an abnormality has occurred (i.e., positional information). For example, if a fault is determined in the current output loop of a particular controlled object facility (e.g., load 120) of the controlled objects managed by the apparatus for inspecting the current output loop, It is possible to determine not only the cause of the fault but also the occurrence of the fault in the current output loop connected to the load 120. [

도 5는 본 발명의 일 실시예에 따른 전류 출력 루프를 검사하기 위한 장치에서 접지 단락 발생을 감지하는 예시적인 도면이다.5 is an exemplary diagram of detecting ground shorting in an apparatus for testing a current output loop in accordance with an embodiment of the present invention.

전술한 바와 같이, 프로세서(130)는 전류 출력 모듈(110)로부터 출력되는 제 1 전류값, 전류 감지 회로 1(140)에서 측정된 제 2 전류값 및 전류 감지 회로 2(150)에서 측정된 제 3 전류값을 전달받을 수 있다. 도 5에 도시된 바와 같이, 전류 출력 루프에서 접지 단락이 발생한 경우에, 프로세서(130)는 전류값들의 비교를 통해 제 1 전류값 및 제 2 전류값이 동일하거나 또는 이들 간의 차이가 미리 결정된 허용 오차 범위 내에 있으며, 제 1 전류값 및 제 3 전류값 간의 차이 또는 제 2 전류값 및 제 3 전류값 간의 차이가 미리 결정된 임계치를 초과하였음을 확인할 수 있다. 이러한 경우에, 프로세서(130)는 전류 출력 루프에 접지 단락이 발생하였음을 판정하고, 이상 원인이 접지 단락이며 부하(120)와 관련된 전류 출력 루프에서 고장을 발생하였음을 표시하는 진단 신호를 발생시켜 제어 시스템 측으로 전달할 수 있다.As described above, the processor 130 controls the first current value outputted from the current output module 110, the second current value measured by the current sense circuit 1 140, and the second current value measured by the current sense circuit 2 150 3 Current value can be delivered. 5, when a ground fault occurs in the current output loop, the processor 130 determines whether the first current value and the second current value are the same through a comparison of the current values or whether the difference therebetween is a predetermined allowable value It can be confirmed that the difference between the first current value and the third current value or the difference between the second current value and the third current value exceeds the predetermined threshold. In such a case, the processor 130 determines that a ground short has occurred in the current output loop and generates a diagnostic signal indicating that the cause of the fault is a ground short and that a fault has occurred in the current output loop associated with the load 120 To the control system side.

도 6은 본 발명의 일 실시예에 따른 전류 출력 루프를 검사하기 위한 장치에서 단선 발생을 감지하는 예시적인 도면이다.FIG. 6 is an exemplary diagram of detecting a break in an apparatus for testing a current output loop in accordance with an embodiment of the present invention. FIG.

전술한 바와 같이, 프로세서(130)는 전류 출력 모듈(110)로부터 출력되는 제 1 전류값, 전류 감지 회로 1(140)에서 측정된 제 2 전류값 및 전류 감지 회로 2(150)에서 측정된 제 3 전류값을 전달받을 수 있다. 도 6에 도시된 바와 같이, 전류 출력 루프에서 단선이 발생한 경우에, 프로세서(130)는 전류값들의 비교를 통해 제 2 전류값 및 제 3 전류값이 동일하거나 또는 이들 간의 차이가 미리 결정된 허용 오차 범위 내에 있으며, 제 1 전류값 및 제 2 전류값 간의 차이 또는 제 1 전류값 및 제 3 전류값 간의 차이가 미리 결정된 임계치를 초과하였음을 확인할 수 있다. 이러한 경우에, 프로세서(130)는 전류 출력 루프에 단선이 발생하였음을 판정하고, 이상 원인이 단선이며 부하(120)와 관련된 전류 출력 루프에서 고장을 발생하였음을 표시하는 진단 신호를 발생시켜 제어 시스템 측으로 전달할 수 있다.As described above, the processor 130 controls the first current value outputted from the current output module 110, the second current value measured by the current sense circuit 1 140, and the second current value measured by the current sense circuit 2 150 3 Current value can be delivered. 6, when a disconnection occurs in the current output loop, the processor 130 determines whether the second current value and the third current value are the same through the comparison of the current values, or whether the difference therebetween is equal to or greater than a predetermined tolerance , And it can be confirmed that the difference between the first current value and the second current value or the difference between the first current value and the third current value exceeds a predetermined threshold value. In this case, the processor 130 determines that a disconnection has occurred in the current output loop, generates a diagnostic signal indicating that the fault is a disconnection and a fault has occurred in the current output loop associated with the load 120, .

이러한 기술적 구성들을 통해, 본 발명은 분산 제어 시스템의 전류 출력 루프에서 이상 발생시, 이상 원인을 용이하게 판정할 수 있을 뿐만 아니라 이상이 발생한 전류 출력 루프의 위치를 파악하여 신속한 수리 또는 보수를 가능하게 할 수 있다.Through these technical constructions, the present invention can easily determine the cause of an abnormality when an abnormality occurs in the current output loop of the distributed control system, and also can identify the position of the current output loop in which the abnormality occurs, .

임의의 제시된 프로세스들에 있는 단계들의 임의의 특정한 순서 또는 계층 구조는 예시적인 접근들의 일례임을 이해하도록 한다. 설계 우선순위들에 기반하여, 본 발명의 범위 내에서 프로세스들에 있는 단계들의 특정한 순서 또는 계층 구조가 재배열될 수 있다는 것을 이해하도록 한다. 첨부된 방법 청구항들은 예시적인 순서로 다양한 단계들의 엘리먼트들을 제공하지만 제시된 특정한 순서 또는 계층 구조에 한정되는 것을 의미하지는 않는다. It will be appreciated that any particular order or hierarchy of steps in any of the presented processes is an example of exemplary approaches. It will be appreciated that, based on design priorities, certain orders or hierarchies of steps in processes may be rearranged within the scope of the present invention. The appended method claims provide elements of the various steps in an exemplary order, but are not meant to be limited to the specific order or hierarchy presented.

본 명세서 사용되는 용어 "컴포넌트", "모듈", "시스템" 등은 컴퓨터-관련 엔티티, 하드웨어, 펌웨어, 소프트웨어, 소프트웨어 및 하드웨어의 조합, 또는 소프트웨어의 실행을 지칭할 수 있다. 예를 들어, 컴포넌트는 프로세서상에서 실행되는 처리과정, 프로세서, 객체, 실행 스레드, 프로그램, 및/또는 컴퓨터일 수 있지만, 이들로 제한되는 것은 아니다. 예를 들어, 컴퓨팅 장치에서 실행되는 애플리케이션 및 컴퓨팅 장치 모두 컴포넌트일 수 있다. 하나 이상의 컴포넌트는 프로세서 및/또는 실행 스레드 내에 상주할 수 있고, 일 컴포넌트는 하나의 컴퓨터 내에 로컬화될 수 있고, 또는 2개 이상의 컴퓨터들 사이에 분배될 수 있다. 또한, 이러한 컴포넌트들은 그 내부에 저장된 다양한 데이터 구조들을 갖는 다양한 컴퓨터 판독가능한 매체로부터 실행할 수 있다.The terms "component," "module," "system," and the like as used herein may refer to a computer-related entity, hardware, firmware, software, combination of software and hardware, or execution of software. For example, a component may be, but is not limited to, a process executing on a processor, a processor, an object, an executing thread, a program, and / or a computer. For example, both an application running on a computing device and a computing device may be a component. One or more components may reside within a processor and / or thread of execution, one component may be localized within one computer, or it may be distributed between two or more computers. Further, such components may execute from various computer readable media having various data structures stored therein.

제시된 실시예들에 대한 설명은 임의의 본 발명의 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자가 본 발명을 이용하거나 또는 실시할 수 있도록 제공된다. 이러한 실시예들에 대한 다양한 변형들은 본 발명의 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자에게 명백할 것이며, 여기에 정의된 일반적인 원리들은 본 발명의 범위를 벗어남이 없이 다른 실시예들에 적용될 수 있다. 그리하여, 본 발명은 여기에 제시된 실시예들로 한정되는 것이 아니라, 여기에 제시된 원리들 및 신규한 특징들과 일관되는 최광의의 범위에서 해석되어야 할 것이다. The description of the disclosed embodiments is provided to enable any person skilled in the art to make or use the present invention. Various modifications to these embodiments will be readily apparent to those skilled in the art, and the generic principles defined herein may be applied to other embodiments without departing from the scope of the invention. Thus, the present invention is not intended to be limited to the embodiments shown herein but is to be accorded the widest scope consistent with the principles and novel features presented herein.

110: 전류 출력 모듈
120: 부하
130: 프로세서
140: 전류 감지 회로 1
150: 전류 감지 회로 2110: Current output module
120: load
130: Processor
140: Current sense circuit 1
150: Current sense circuit 2

Claims (19)

제어 시스템의 전류 출력 루프 검사 방법에 있어서,
전류 출력 모듈을 통해 전류 출력 루프로 제 1 전류값을 갖는 전류를 인가하는 단계;
상기 전류 출력 루프 상의 상기 전류 출력 모듈 및 부하 사이에 있는 제 1 전류 감지 회로에서 전류를 측정하는 단계;
상기 전류 출력 루프 상의 상기 부하 및 시스템 접지 사이에 있는 제 2 전류 감지 회로에서 전류를 측정하는 단계;
상기 전류 출력 루프, 상기 제 1 전류 감지 회로 및 상기 제 2 전류 감지 회로에 연결된 프로세서에서 상기 제 1 전류값, 상기 제 1 전류 감지 회로에서 측정된 제 2 전류값 및 상기 제 2 전류 감지 회로에서 측정된 제 3 전류값 중에서의 복수개의 전류값을 비교하는 단계; 및
상기 비교에 기초하여 상기 전류 출력 루프의 이상 여부를 판단하는 단계를 포함하고,
상기 방법은 상기 전류 출력 루프의 이상 원인에 따른 진단 신호를 발생시키는 단계를 더 포함하고,
상기 진단 신호는 상기 전류 출력 루프의 이상 원인 및 상기 전류 출력 루프의 위치 정보를 포함하는,
전류 출력 루프 검사 방법.A method of inspecting a current output loop of a control system,
Applying a current having a first current value to a current output loop through a current output module;
Measuring current in a first current sensing circuit between the current output module and the load on the current output loop;
Measuring current in a second current sensing circuit between the load on the current output loop and the system ground;
Wherein the first current value, the second current value measured at the first current sense circuit and the second current value measured at the processor connected to the current output loop, the first current sense circuit and the second current sense circuit Comparing a plurality of current values in the third current value; And
And determining whether the current output loop is abnormal based on the comparison,
The method may further comprise generating a diagnostic signal in response to an anomaly in the current output loop,
Wherein the diagnostic signal comprises an abnormality cause of the current output loop and position information of the current output loop.
Current output loop inspection method. 제 1 항에 있어서,
상기 전류 출력 루프의 이상 여부를 판단하는 단계는, 상기 제 1 전류값, 상기 제 2 전류값 및 상기 제 3 전류값 중 임의의 2개의 전류값들 간의 차이가 미리 결정된 허용 오차 범위 내에 있으면 상기 전류 출력 루프를 정상으로 판정하는 단계를 더 포함하는, 전류 출력 루프 검사 방법.The method according to claim 1,
Wherein the step of determining whether or not the current output loop has an abnormality includes the step of determining whether the difference between any two current values of the first current value, the second current value and the third current value is within a predetermined tolerance range, Further comprising determining an output loop to be normal. 제 1 항에 있어서,
상기 전류 출력 루프의 이상 여부를 판단하는 단계는, 상기 제 2 전류값 및 상기 제 3 전류값이 동일하거나 또는 이들 간의 차이가 미리 결정된 허용 오차 범위 내에 있으며, 상기 제 1 전류값 및 상기 제 2 전류값 간의 차이 또는 상기 제 1 전류값 및 상기 제 3 전류값 간의 차이가 미리 결정된 임계치를 초과하면 상기 전류 출력 루프에 단선이 발생하였다고 판정하는 단계를 더 포함하는, 전류 출력 루프 검사 방법.The method according to claim 1,
Wherein the step of determining whether the current output loop is abnormal may include determining whether the second current value and the third current value are the same or a difference therebetween is within a predetermined tolerance range, Further comprising determining that a disconnection has occurred in the current output loop if the difference between the values or the difference between the first current value and the third current value exceeds a predetermined threshold. 제 1 항에 있어서,
상기 전류 출력 루프의 이상 여부를 판단하는 단계는, 상기 제 1 전류값 및 상기 제 2 전류값이 동일하거나 또는 이들 간의 차이가 미리 결정된 허용 오차 범위 내에 있으며, 상기 제 1 전류값 및 상기 제 3 전류값 간의 차이 또는 상기 제 2 전류값 및 상기 제 3 전류값 간의 차이가 미리 결정된 임계치를 초과하면 상기 전류 출력 루프에 접지 단락(short)이 발생하였다고 판정하는 단계를 더 포함하는, 전류 출력 루프 검사 방법.The method according to claim 1,
Wherein the step of determining whether or not the current output loop is abnormal includes the step of determining whether or not the first current value and the second current value are the same or a difference therebetween is within a predetermined tolerance range and the first current value and the third current Further comprising determining that a ground short has occurred in the current output loop if the difference between the second current value and the third current value exceeds a predetermined threshold, . 삭제delete 삭제delete 제어 시스템의 전류 출력 루프를 검사하기 위한 장치로서,
전류 출력 루프로 제 1 전류값을 갖는 전류를 인가하는 전류 출력 모듈;
상기 전류 출력 모듈 및 부하 사이에 위치하여 전류를 측정하는 제 1 전류 감지 회로;
상기 부하 및 시스템 접지 사이에 위치하여 전류를 측정하는 제 2 전류 감지 회로; 및
상기 전류 출력 루프, 상기 제 1 전류 감지 회로 및 상기 제 2 전류 감지 회로에 연결되며, 상기 제 1 전류값, 상기 제 1 전류 감지 회로에서 측정된 제 2 전류값 및 상기 제 2 전류 감지 회로에서 측정된 제 3 전류값 중에서의 복수개의 전류값을 비교하고, 상기 비교에 기초하여 상기 전류 출력 루프의 이상 여부를 판단하도록 구성되는 프로세서를 포함하고,
상기 프로세서는, 상기 전류 출력 루프의 이상 원인에 따른 진단 신호를 발생시키도록 추가적으로 구성되고,
상기 진단 신호는 상기 전류 출력 루프의 이상 원인 및 상기 전류 출력 루프의 위치 정보를 포함하는,
전류 출력 루프를 검사하기 위한 장치.An apparatus for inspecting a current output loop of a control system,
A current output module for applying a current having a first current value to the current output loop;
A first current sensing circuit located between the current output module and the load to measure current;
A second current sensing circuit located between the load and the system ground to measure current; And
And a second current sense circuit coupled to the current output loop, the first current sense circuit, and the second current sense circuit, wherein the first current value, the second current value measured at the first current sense circuit, And compare the plurality of current values in the third current value and determine whether the current output loop is abnormal based on the comparison,
Wherein the processor is further configured to generate a diagnostic signal in response to an anomaly in the current output loop,
Wherein the diagnostic signal comprises an abnormality cause of the current output loop and position information of the current output loop.
Apparatus for inspecting a current output loop. 제 7 항에 있어서,
상기 프로세서는, 상기 제 1 전류값, 상기 제 2 전류값 및 상기 제 3 전류값 중 임의의 2개의 전류값들 간의 차이가 미리 결정된 허용 오차 범위 내에 있으면 상기 전류 출력 루프를 정상으로 판정하도록 추가적으로 구성되는, 전류 출력 루프를 검사하기 위한 장치.8. The method of claim 7,
Wherein the processor is further configured to determine the current output loop to be normal if the difference between any two of the first current value, the second current value and the third current value is within a predetermined tolerance range Gt; a < / RTI > current output loop. 제 7 항에 있어서,
상기 프로세서는, 상기 제 2 전류값 및 상기 제 3 전류값이 동일하거나 또는 이들 간의 차이가 미리 결정된 허용 오차 범위 내에 있으며, 상기 제 1 전류값 및 상기 제 2 전류값 간의 차이 또는 상기 제 1 전류값 및 상기 제 3 전류값 간의 차이가 미리 결정된 임계치를 초과하면 상기 전류 출력 루프에 단선이 발생하였다고 판정하도록 추가적으로 구성되는, 전류 출력 루프를 검사하기 위한 장치.8. The method of claim 7,
Wherein the second current value and the third current value are the same or a difference therebetween is within a predetermined tolerance range and the difference between the first current value and the second current value or the first current value And to determine that a disconnection has occurred in the current output loop if the difference between the third current values exceeds a predetermined threshold. 제 7 항에 있어서,
상기 프로세서는, 상기 제 1 전류값 및 상기 제 2 전류값이 동일하거나 또는 이들 간의 차이가 미리 결정된 허용 오차 범위 내에 있으며, 상기 제 1 전류값 및 상기 제 3 전류값 간의 차이 또는 상기 제 2 전류값 및 상기 제 3 전류값 간의 차이가 미리 결정된 임계치를 초과하면 상기 전류 출력 루프에 접지 단락이 발생하였다고 판정하도록 추가적으로 구성되는, 전류 출력 루프를 검사하기 위한 장치.8. The method of claim 7,
Wherein the first current value and the second current value are the same or a difference therebetween is within a predetermined tolerance range and the difference between the first current value and the third current value or the second current value And to determine that a ground fault has occurred in the current output loop if the difference between the third current values exceeds a predetermined threshold. 삭제delete 삭제delete 제 7 항에 있어서,
상기 전류 출력 모듈은 하나 이상의 디지털-대-아날로그 컨버터(DAC)로 구현되는, 전류 출력 루프를 검사하기 위한 장치.8. The method of claim 7,
Wherein the current output module is implemented as one or more digital-to-analog converters (DACs). 제어 시스템의 전류 출력 루프를 검사하기 위한 프로세서로서,
상기 프로세서는 전류 출력 루프로 제 1 전류값을 갖는 전류를 인가하는 전류 출력 모듈, 상기 전류 출력 모듈 및 부하 사이에 위치하여 전류를 측정하는 제 1 전류 감지 회로, 및 상기 부하 및 시스템 접지 사이에 위치하여 전류를 측정하는 제 2 전류 감지 회로와 연결되며,
상기 프로세서는 상기 제 1 전류값, 상기 제 1 전류 감지 회로에서 측정된 제 2 전류값 및 상기 제 2 전류 감지 회로에서 측정된 제 3 전류값 중에서의 복수개의 전류값을 비교하고, 상기 비교에 기초하여 상기 전류 출력 루프의 이상 여부를 판단하도록 구성되고,
상기 프로세서는, 상기 전류 출력 루프의 이상 원인에 따른 진단 신호를 발생시키도록 추가적으로 구성되고,
상기 진단 신호는 상기 전류 출력 루프의 이상 원인 및 상기 전류 출력 루프의 위치 정보를 포함하는,
전류 출력 루프를 검사하기 위한 프로세서.CLAIMS 1. A processor for inspecting a current output loop of a control system,
The processor comprising: a current output module for applying a current having a first current value to a current output loop; a first current sense circuit positioned between the current output module and the load to measure current; And is connected to a second current sensing circuit for measuring the current,
Wherein the processor compares a plurality of current values among the first current value, the second current value measured by the first current sense circuit, and the third current value measured by the second current sense circuit, To determine whether the current output loop is abnormal,
Wherein the processor is further configured to generate a diagnostic signal in response to an anomaly in the current output loop,
Wherein the diagnostic signal comprises an abnormality cause of the current output loop and position information of the current output loop.
Processor for checking the current output loop. 제 14 항에 있어서,
상기 프로세서는, 상기 제 1 전류값, 상기 제 2 전류값 및 상기 제 3 전류값 중 임의의 2개의 전류값들 간의 차이가 미리 결정된 허용 오차 범위 내에 있으면 상기 전류 출력 루프를 정상으로 판정하도록 추가적으로 구성되는, 전류 출력 루프를 검사하기 위한 프로세서.15. The method of claim 14,
Wherein the processor is further configured to determine the current output loop to be normal if the difference between any two of the first current value, the second current value and the third current value is within a predetermined tolerance range A processor for testing a current output loop. 제 14 항에 있어서,
상기 프로세서는, 상기 제 2 전류값 및 상기 제 3 전류값이 동일하거나 또는 이들 간의 차이가 미리 결정된 허용 오차 범위 내에 있으며, 상기 제 1 전류값 및 상기 제 2 전류값 간의 차이 또는 상기 제 1 전류값 및 상기 제 3 전류값 간의 차이가 미리 결정된 임계치를 초과하면 상기 전류 출력 루프에 단선이 발생하였다고 판정하도록 추가적으로 구성되는, 전류 출력 루프를 검사하기 위한 프로세서.15. The method of claim 14,
Wherein the processor is further configured to determine whether the second current value and the third current value are the same or a difference therebetween is within a predetermined tolerance range and the difference between the first current value and the second current value, And to determine that a disconnection has occurred in the current output loop if the difference between the third current values exceeds a predetermined threshold. 제 14 항에 있어서,
상기 프로세서는, 상기 제 1 전류값 및 상기 제 2 전류값이 동일하거나 또는 이들 간의 차이가 미리 결정된 허용 오차 범위 내에 있으며, 상기 제 1 전류값 및 상기 제 3 전류값 간의 차이 또는 상기 제 2 전류값 및 상기 제 3 전류값 간의 차이가 미리 결정된 임계치를 초과하면 상기 전류 출력 루프에 접지 단락이 발생하였다고 판정하도록 추가적으로 구성되는, 전류 출력 루프를 검사하기 위한 프로세서.15. The method of claim 14,
Wherein the first current value and the second current value are the same or a difference therebetween is within a predetermined tolerance range and the difference between the first current value and the third current value or the second current value And to determine that a ground fault has occurred in the current output loop if the difference between the third current values exceeds a predetermined threshold. 삭제delete 삭제delete
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