KR101535157B1 - Method and apparatus for inspecting sealant on an object - Google Patents

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KR101535157B1
KR101535157B1 KR1020140007726A KR20140007726A KR101535157B1 KR 101535157 B1 KR101535157 B1 KR 101535157B1 KR 1020140007726 A KR1020140007726 A KR 1020140007726A KR 20140007726 A KR20140007726 A KR 20140007726A KR 101535157 B1 KR101535157 B1 KR 101535157B1
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sealer
pattern
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linear laser
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KR1020140007726A
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Inventor
이병룡
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울산대학교 산학협력단
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Abstract

According to an embodiment of the present invention, a method for inspecting the coating quality of a sealer comprises: a sealer coating step which coats a sealer on a moving object; a laser radiating step which radiates line laser beams to the sealer coated on the object; a photographing step which photographs a laser pattern showing on the sealer where the line laser beams are radiated; and a controlling step which changes the exit position of the line laser beams as the coating direction of the sealer changes. In addition, the laser pattern may include a first pattern (Lu), a second pattern (Lc), and a third pattern (Ld) in order in the coating direction of the sealer. Therefore, the apparatus and method for inspecting the coating quality of a sealer can increase the accuracy of inspection by changing the exit position of the line laser beams in the coating direction of the sealer changes.

Description

실러 도포 품질 검사 방법 및 장치{Method and apparatus for inspecting sealant on an object}[0001] METHOD AND APPARATUS FOR INSPECTION SEALING ON AN OBJECT [0002]

본 발명은 실러 도포 품질 검사 방법 및 장치에 관한 것이다.The present invention relates to a sealer application quality inspection method and apparatus.

일반적으로 실러(sealer)는 차량용 전면 또는 후면 유리를 차체에 장착할 때 사용된다. 실러는 유리와 차체 사이의 접착성을 향상시키는 한편 방수 기능도 수행하는데, 유리의 가장자리를 따라 실러를 도포하는 D/G(Direct Glazing) 공법이 널리 사용되고 있다.In general, a sealer is used to mount a vehicle front or rear glass to a vehicle body. The sealer improves the adhesion between the glass and the vehicle body and also performs a waterproof function. D / G (Direct Glazing) method of applying a sealer along the edge of the glass is widely used.

실러가 유리에 도포되지 않거나 부족하게 도포된 구간이 생기면 문제가 발생한다. 예를 들면, 차체와 유리 사이의 접착 강도가 약해져서 충돌 시 유리가 쉽게 이탈되거나, 실러가 도포되지 않은 구간을 통해 물이 들어오거나 윈드 노이즈(Wind Noise)가 발생할 수 있다.Problems arise when the sealer is not applied to the glass or when the gap is insufficiently applied. For example, the adhesion strength between the vehicle body and the glass is weakened, so that the glass can be easily detached at the time of impact, water may enter through the section where the sealer is not applied, or wind noise may occur.

그러므로 실러가 유리의 가장자리 전체에 걸쳐 적절한 폭과 높이로 도포되었는지 확인하는 것이 중요하다. 자동차 조립 생산 라인에서는 실러가 도포된 후 여러 가지 방법으로 실러의 도포 상태(또는 품질)를 확인하고 있다.It is therefore important to ensure that the sealer is applied at the proper width and height throughout the edge of the glass. In the automobile assembly line, after the sealer is applied, the application state (or quality) of the sealer is verified by various methods.

한국 등록 특허 제10-1188352호(2012.09.27)Korean Patent No. 10-1188352 (September 27, 2012)

본 발명은 실러의 도포 방향이 변함에 따라 선형 레이저 빔의 출사 위치를 변경하여 검사의 정확도를 높일 수 있는 실러 도포 품질 검사 방법 및 장치를 제공하고자 한다.The present invention seeks to provide a method and an apparatus for inspecting a sealer coating quality, which can increase the accuracy of inspection by changing the outgoing position of a linear laser beam as the coating direction of the sealer varies.

본 발명의 일 실시예에 따른 실러 도포 품질 검사 방법은, 이동하는 대상물에 실러(sealer)를 도포하는 실러 도포 단계, 상기 대상물에 도포된 실러에 선형 레이저 빔(line laser beam)을 조사하는 레이저 조사 단계, 상기 선형 레이저 빔이 조사된 실러에 나타나는 레이저 패턴을 촬영하는 촬영 단계, 및 상기 실러의 도포 방향이 변함에 따라 상기 선형 레이저 빔의 출사 위치를 변경하는 제어 단계를 포함하고, 상기 레이저 패턴은 상기 실러의 도포 방향을 따라 순서대로 제1 패턴(Lu), 제2 패턴(Lc) 및 제3 패턴(Ld)을 포함할 수 있다.A method of inspecting a sealer coating quality according to an embodiment of the present invention includes a sealer applying step of applying a sealer to a moving object, a step of applying a laser beam to irradiate a linear laser beam onto the sealer applied to the object, A step of photographing a laser pattern appearing on the sealer irradiated with the linear laser beam, and a control step of changing an exit position of the linear laser beam as the application direction of the sealer changes, The first pattern Lu, the second pattern Lc, and the third pattern Ld in this order along the application direction of the sealer.

한편, 상기 제어 단계는, 상기 실러의 도포 방향이 변화하는 각도를 예측함으로써 예측 변화각을 산출하는 단계, 및 상기 실러의 도포 방향이 실제로 변화하는 각도를 측정함으로써 실제 변화각을 산출하는 단계를 포함할 수 있다.The control step includes a step of calculating a predicted change angle by predicting an angle at which the application direction of the sealer changes, and a step of calculating an actual change angle by measuring an angle at which the application direction of the sealer actually changes can do.

한편, 상기 예측 변화각은 하기 식을 이용하여 산출할 수 있다.On the other hand, the prediction change angle can be calculated using the following equation.

Figure 112014006662290-pat00001
Figure 112014006662290-pat00001

(

Figure 112014006662290-pat00002
: 예측 변화각,
Figure 112014006662290-pat00003
: 임의의 시점 k에서 제1 패턴(Lu)의 피크(peak)와 제2 패턴(Lc)의 피크를 연결하는 선분,
Figure 112014006662290-pat00004
: 임의의 시점 k에서 제2 패턴(Lc)의 기준선에 수직인 선)(
Figure 112014006662290-pat00002
: Predicted change angle,
Figure 112014006662290-pat00003
: A line connecting a peak of the first pattern Lu and a peak of the second pattern Lc at an arbitrary point k,
Figure 112014006662290-pat00004
: A line perpendicular to the baseline of the second pattern Lc at an arbitrary point k)

한편, 상기 실제 변화각은 하기 식을 이용하여 산출할 수 있다.On the other hand, the actual change angle can be calculated using the following equation.

Figure 112014006662290-pat00005
Figure 112014006662290-pat00005

(

Figure 112014006662290-pat00006
: 실제 변화각,
Figure 112014006662290-pat00007
: 임의의 시점 k+1에서 제2 패턴(Lc)의 피크와 제3 패턴(Ld)의 피크를 연결하는 선분,
Figure 112014006662290-pat00008
: 임의의 시점 k에서 제2 패턴(Lc)의 기준선에 수직인 선)(
Figure 112014006662290-pat00006
: Actual change angle,
Figure 112014006662290-pat00007
: A line connecting the peak of the second pattern Lc and the peak of the third pattern Ld at an arbitrary point k + 1,
Figure 112014006662290-pat00008
: A line perpendicular to the baseline of the second pattern Lc at an arbitrary point k)

한편, 상기 제어 단계는 각도 오차를 산출하는 단계를 더 포함하고, 상기 각도 오차는 하기 식을 이용하여 산출할 수 있다.Meanwhile, the controlling step may further include calculating an angle error, and the angle error may be calculated using the following equation.

Figure 112014006662290-pat00009
Figure 112014006662290-pat00009

한편, 상기 제어 단계는, 하기 식으로 나타나는 제어 각도를 이용하여 상기 선형 레이저 빔의 출사 위치를 변경하는 단계를 더 포함할 수 있다.The controlling step may further include changing an emission position of the linear laser beam using a control angle represented by the following equation.

Figure 112014006662290-pat00010
Figure 112014006662290-pat00010

(k1은 실험적으로 구해지는 값,

Figure 112014006662290-pat00011
: 임의의 시점 k에서 산출된 각도 오차)(k1 is a value obtained experimentally,
Figure 112014006662290-pat00011
: Angular error calculated at an arbitrary time k)

본 발명의 일 실시예에 따른 실러 도포 품질 검사 장치는, 이동하는 대상물에 실러(sealer)를 도포하는 실러 도포기(dispenser), 상기 대상물에 도포된 실러에 선형 레이저 빔(line laser beam)을 조사하는 레이저 조사기, 상기 선형 레이저 빔이 조사된 실러에 나타나는 레이저 패턴을 촬영하는 촬영기, 및 상기 실러의 도포 방향이 변함에 따라 상기 선형 레이저 빔의 출사 위치를 변경하는 제어부를 포함하고, 상기 레이저 패턴은 상기 실러의 도포 방향을 따라 순서대로 제1 패턴(Lu), 제2 패턴(Lc) 및 제3 패턴(Ld)을 포함할 수 있다.The apparatus for inspecting the sealer coating quality according to an embodiment of the present invention includes a dispenser for applying a sealer to an object to be moved, a linear laser beam irradiating unit for applying a sealer applied to the object, And a control unit for changing an output position of the linear laser beam as the application direction of the sealer changes, wherein the laser beam is irradiated with a laser beam, The first pattern Lu, the second pattern Lc, and the third pattern Ld in this order along the application direction of the sealer.

한편, 상기 실러 도포 품질 검사 장치는, 상기 레이저 조사기 및 상기 촬영기가 장착되되 상기 제어부에 의해 제어되는 구동부를 더 포함할 수 있다.The sealer coating quality inspection apparatus may further include a laser irradiator and a driving unit to which the photographing apparatus is mounted, the driving unit being controlled by the control unit.

한편, 상기 구동부는, 상기 레이저 조사기 및 상기 촬영기가 장착되는 브라켓, 및 상기 브라켓을 회전시키는 모터를 포함할 수 있다.The driving unit may include a bracket for mounting the laser beam and the photographing unit, and a motor for rotating the bracket.

본 발명의 일 실시예에 따른 실러 도포 품질 검사 방법 및 장치에 의하면, 실러의 도포 방향이 변함에 따라 선형 레이저 빔의 출사 위치를 변경하여 검사의 정확도를 높일 수 있다.According to the sealer application quality inspection method and apparatus according to an embodiment of the present invention, the accuracy of inspection can be improved by changing the outgoing position of the linear laser beam as the application direction of the sealer is changed.

도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 실러 도포 품질 검사 장치를 나타내는 개략도,
도 2는 도 1의 장치를 이용하여 실러의 도포 방향이 변화하는 각도를 예측하고 측정하는 방법을 나타내는 개략도,
도 3은 도 1의 장치에서 선형 레이저 빔의 출사 위치가 변경되는 모습을 나타내는 개략도,
도 4는 본 발명의 일 실시예에 따른 실러 도포 품질 검사 방법을 나타내는 흐름도이고,
도 5는 도 4의 선형 레이저 빔의 출사 위치를 변경하는 단계를 더 구체적으로 나타내는 흐름도이다.1 is a schematic view showing a sealer application quality inspection apparatus according to an embodiment of the present invention,
FIG. 2 is a schematic view showing a method of predicting and measuring an angle at which a coating direction of a sealer changes using the apparatus of FIG. 1;
FIG. 3 is a schematic view showing a state in which the emission position of the linear laser beam is changed in the apparatus of FIG. 1,
4 is a flowchart illustrating a sealer application quality inspection method according to an embodiment of the present invention,
FIG. 5 is a flowchart specifically showing a step of changing the emission position of the linear laser beam in FIG.

이하에서는 도면을 참조하여 본 발명의 바람직한 실시예들을 상세히 설명한다. 이하의 설명 및 첨부된 도면들에서 실질적으로 동일한 구성요소들은 각각 동일한 부호들로 나타냄으로써 중복 설명을 생략하기로 한다. 또한 본 발명의 실시예들을 설명함에 있어 관련된 공지기능 혹은 구성에 대한 구체적인 설명이 본 발명의 요지를 불필요하게 흐릴 수 있다고 판단되는 경우 그에 대한 상세한 설명은 생략하기로 한다.Hereinafter, preferred embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the drawings. In the following description and the accompanying drawings, substantially the same components are denoted by the same reference numerals, respectively, and redundant description will be omitted. In the following description of the present invention, detailed description of known functions and configurations incorporated herein will be omitted when it may make the subject matter of the present invention rather unclear.

어떤 구성요소가 다른 구성요소에 "연결되어" 있다거나 "접속되어" 있다고 언급된 때에는, 그 다른 구성요소에 직접적으로 연결되어 있거나 또는 접속되어 있을 수도 있지만, 중간에 다른 구성요소가 존재할 수도 있다고 이해되어야 할 것이다. 반면에, 어떤 구성요소가 다른 구성요소에 "직접 연결되어" 있다거나 "직접 접속되어" 있다고 언급된 때에는, 중간에 다른 구성요소가 존재하지 않는 것으로 이해되어야 할 것이다.It is to be understood that when an element is referred to as being "connected" or "connected" to another element, it may be directly connected or connected to the other element, . On the other hand, when an element is referred to as being "directly connected" or "directly connected" to another element, it should be understood that there are no other elements in between.

본 명세서에서, 단수형은 문구에서 특별히 언급하지 않는 한 복수형도 포함될 수 있다. 명세서에서 사용되는 "포함한다(comprises)" 및/또는 "포함하는(comprising)"은 언급된 구성요소, 단계, 동작 및/또는 소자는 하나 이상의 다른 구성요소, 단계, 동작 및/또는 소자의 존재 또는 추가를 배제하지 않는다.
In this specification, a singular form may include plural forms unless specifically stated in the phrase. It is noted that the terms "comprises" and / or "comprising" used in the specification are intended to be inclusive in a manner similar to the components, steps, operations, and / Or additions.

도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 실러 도포 품질 검사 장치를 나타내는 개략도이고, 도 2는 도 1의 장치를 이용하여 실러의 도포 방향이 변화하는 각도를 예측하고 측정하는 방법을 나타내는 개략도이며, 도 3은 도 1의 장치에서 선형 레이저 빔의 출사 위치가 변경되는 모습을 나타내는 개략도이다.FIG. 1 is a schematic view showing a sealer application quality inspection apparatus according to an embodiment of the present invention, FIG. 2 is a schematic view showing a method of predicting and measuring an angle at which a coating direction of a sealer changes using the apparatus of FIG. 1, FIG. 3 is a schematic view showing a state in which the emission position of the linear laser beam is changed in the apparatus of FIG. 1;

도 1을 참조하면, 본 발명의 일 실시예에 따른 실러 도포 품질 검사 장치는, 실러 도포기(100), 레이저 조사기(200), 촬영기(300), 제어부(400) 및 구동부(500)를 포함한다.1, a sealer coating quality inspection apparatus according to an embodiment of the present invention includes a sealer applicator 100, a laser beamer 200, a photographing machine 300, a controller 400, and a driver 500 do.

실러 도포기(sealer dispenser, 100)는 이동하는 대상물(10)에 실러(20)를 도포한다. 실러 도포기(100)는 고정된 상태이고, 대상물(10)은 로봇 팔(30)에 의해 지지되고 이동될 수 있다. 즉, 로봇 팔(30)이 특정 궤적을 따라 움직이면서 실러 도포가 진행된다. 대상물(10)은 자동차에 장착되는 유리일 수 있다.A sealer dispenser (100) applies a sealer (20) to a moving object (10). The sealer applicator 100 is in a fixed state and the object 10 can be supported and moved by the robot arm 30. [ That is, the sealer application proceeds as the robot arm 30 moves along a specific trajectory. The object 10 may be glass mounted on an automobile.

레이저 조사기(200)는 대상물(10)에 도포된 실러(20)에 선형 레이저 빔을 조사한다. 레이저 조사기(200)는 실러 도포기(100)와 이격된다. 따라서 선형 레이저 빔의 출사 위치는 실러(20)의 도포 위치와 이격된다. 레이저 조사기(200)에서 출사하는 선형 레이저 빔은 복수의 선을 포함한다. 예를 들어, 선형 레이저 빔의 선은 세 개일 수 있다.The laser irradiator 200 irradiates a linear laser beam to the sealer 20 applied to the object 10. The laser irradiator 200 is spaced apart from the sealer applicator 100. Therefore, the emission position of the linear laser beam is spaced apart from the application position of the sealer 20. The linear laser beam emitted from the laser irradiator 200 includes a plurality of lines. For example, the line of the linear laser beam may be three.

한편, 레이저 조사기(200)는 실러(20)의 도포 방향에 수직하도록 선형 레이저 빔을 조사함으로써 실러(20)의 폭이나 높이를 정확히 측정할 수 있다. 이와 달리, 실러의 도포 방향에 경사지게 레이저 빔이 조사되면 부정확한 측정 결과가 나온다.On the other hand, the laser irradiator 200 can precisely measure the width and height of the sealer 20 by irradiating a linear laser beam perpendicularly to the application direction of the sealer 20. On the other hand, when the laser beam is irradiated obliquely to the sealer coating direction, an incorrect measurement result is obtained.

촬영기(300)는 선형 레이저 빔이 조사된 실러(20)에 나타나는 레이저 패턴을 촬영한다. 촬영기(300)의 촬영 방향은 레이저 조사기(200)의 조사 방향과 소정 각도를 이룰 수 있다.The photographing machine 300 photographs a laser pattern appearing on the sealer 20 irradiated with the linear laser beam. The photographing direction of the photographing device 300 may be a predetermined angle with the direction of irradiation of the laser beam 200.

대상물(10)의 표면에 실러(20)가 도포되므로 실러(20)가 표면에서 어느 정도 돌출된다. 그러므로 실러(20)에 선형 레이저 빔이 조사되면 특정한 레이저 패턴이 나타난다.Since the sealer 20 is applied to the surface of the object 10, the sealer 20 protrudes to some extent from the surface. Therefore, when the linear laser beam is irradiated on the sealer 20, a specific laser pattern appears.

도 2를 참조하면, 레이저 패턴은 실러(20)의 도포 방향을 따라 순서대로 제1 패턴(Lu), 제2 패턴(Lc) 및 제3 패턴(Ld)을 포함한다. 예를 들면, 실러(20)가 제1 위치에서 제2 위치를 향해 도포되어 갈 때 제2 위치에 가장 가까운 레이저 패턴이 제1 패턴(Lu)이고, 가장 먼 패턴이 제3 패턴(Ld)이며, 제1 패턴(Lu)과 제3 패턴(Ld)의 사이에는 제2 패턴(Lc)이 있다.Referring to FIG. 2, the laser pattern includes a first pattern Lu, a second pattern Lc, and a third pattern Ld in order along the application direction of the sealer 20. For example, when the sealer 20 is applied from the first position to the second position, the laser pattern closest to the second position is the first pattern Lu and the farthest pattern is the third pattern Ld , And a second pattern Lc is provided between the first pattern Lu and the third pattern Ld.

각 레이저 패턴(Lu, Lc, Ld)은 대상물(10)의 표면에 나타나는 직선 구간(Mu, Mc, Md)과 실러(20)에 나타나는 굴곡 구간(Nu, Nc, Nd)을 포함할 수 있다. 여기서 직선 구간을 "기준선"이라 한다.The laser patterns Lu, Lc and Ld may include straight sections Mu, Mc and Md appearing on the surface of the object 10 and bending sections Nu, Nc and Nd appearing in the sealer 20. Here, the straight line section is referred to as a "reference line ".

촬영기(300)가 촬영한 레이저 패턴에 관한 정보는 제어부(400)에 전달된다. 전달된 정보를 이용하여 제어부(500)는 실러(20)의 도포 방향이 변화하는 각도를 예측하거나 실러의 도포 방향이 실제로 변화하는 각도를 측정한다. 또한, 제어부(400)는 실러(20)의 도포 방향이 변함에 따라 구동부(500)를 제어하여 선형 레이저 빔의 출사 위치를 변경한다. 제어부(400)가 수행하는 구체적인 기능은 아래에서 설명하기로 한다.The information on the laser pattern photographed by the photographing device 300 is transmitted to the control unit 400. [ Using the transmitted information, the controller 500 predicts an angle at which the coating direction of the sealer 20 changes, or measures the angle at which the sealer coating direction actually changes. In addition, the control unit 400 controls the driving unit 500 to change the emission position of the linear laser beam as the coating direction of the sealer 20 changes. The specific functions performed by the control unit 400 will be described below.

다시 도 2를 참조하면, 임의의 시점 k에서 제1 패턴(Lu)의 피크(peak, P1)와 제2 패턴(Lc)의 피크(P2)를 연결하는 제1 선분(A1)을 구하고, 제2 패턴(Lc)의 기준선(Mc)에 수직인 제1 직선(L1)을 구한다. 제1 선분(A1)과 제1 직선(L1)이 이루는 각도(

Figure 112014006662290-pat00012
)를 "예측 변화각"이라 한다. 예측 변화각은 다음 시점 k+1에서의 실러의 도포 방향을 현 시점 k에서 추정한 값이다.2, a first line segment A1 connecting the peak P1 of the first pattern Lu and the peak P2 of the second pattern Lc at an arbitrary point k is obtained, A first straight line L1 perpendicular to the reference line Mc of the second pattern Lc is obtained. The angle formed by the first line segment A1 and the first straight line L1
Figure 112014006662290-pat00012
) Is referred to as "predicted change angle ". The prediction change angle is a value obtained by estimating the coating direction of the sealer at the next point k + 1 from the present point k.

다음으로, 다음 시점 k+1에서 제2 패턴(Lc)의 피크(P3)와 제3 패턴(Ld)의 피크(P4)를 연결하는 제2 선분(A2)을 구하고, 시점 k에서의 제2 패턴(Lc)의 기준선(Mc)에 수직인 제2 직선(L2)을 구한다. 제2 선분(A2)과 제2 직선(L2)이 이루는 각도(

Figure 112014006662290-pat00013
)를 "실제 변화각"이라 한다. 실제 변화각은 시점 k+1에서 실러의 도포 방향을 나타내는 값이다.Next, a second line segment A2 connecting the peak P3 of the second pattern Lc and the peak P4 of the third pattern Ld at the next point in time k + 1 is obtained, A second straight line L2 perpendicular to the reference line Mc of the pattern Lc is obtained. The angle formed by the second line segment A2 and the second straight line L2
Figure 112014006662290-pat00013
) Is called "actual change angle ". The actual change angle is a value indicating the coating direction of the sealer at the time k + 1.

위에서 산출한 예측 변화각과 실제 변화각 간에는 차이가 있을 수 있고, 그 차이를 "각도 오차"라 한다. 각도 오차는 아래 식으로 나타낼 수 있다.There may be a difference between the predicted change angle calculated above and the actual change angle, and the difference is referred to as "angle error ". Angle error can be expressed by the following equation.

Figure 112014006662290-pat00014
Figure 112014006662290-pat00014

다음으로, 위에서 구한 각도 오차를 예측 변화각에 반영하여 제어 각도를 산출한다. 산출한 제어 각도를 이용하여 선형 레이저 빔의 출사 위치를 변경한다. 제어 각도는 아래 식으로 나타낼 수 있다.Next, the control angle is calculated by reflecting the above-mentioned angle error to the predicted change angle. And the output position of the linear laser beam is changed by using the calculated control angle. The control angle can be expressed by the following equation.

Figure 112014006662290-pat00015
Figure 112014006662290-pat00015

여기서, k1은 실험적으로 구해지는 값이고,

Figure 112014006662290-pat00016
는 시점 k에서 산출된 각도 오차이다.
Here, k1 is a value obtained experimentally,
Figure 112014006662290-pat00016
Is the angular error calculated at time k.

구동부(500)는 레이저 조사기(200)와 촬영기(300)가 장착되되 제어부(400)에 의해 구동된다. 구동부(500)는 브라켓(bracket, 501)과 모터(502)를 포함한다. 브라켓(501)에는 레이저 조사기(200)와 촬영기(300)가 장착된다. 모터(502)는 브라켓(501)을 회전시킨다. 모터(502)는 스텝 모터일 수 있다.The driving unit 500 is driven by the control unit 400 while the laser irradiation unit 200 and the photographing unit 300 are mounted. The driving unit 500 includes a bracket 501 and a motor 502. A laser irradiator 200 and a photographing machine 300 are mounted on the bracket 501. The motor 502 rotates the bracket 501. The motor 502 may be a stepping motor.

구동부(500)는 위에서 구한 제어 각도만큼 브라켓(501)을 회전함으로써 선형 레이저 빔의 조사 위치를 변경한다.The driving unit 500 changes the irradiation position of the linear laser beam by rotating the bracket 501 by the control angle obtained above.

도 3을 참조하면, 시점 k에서 실러의 도포 위치(D1)과 선형 레이저 빔의 조사 위치(I1)를 이은 직선이 실러의 도포 방향(S)과 대략 평행하다.Referring to FIG. 3, a straight line between the application position D1 of the sealer and the irradiation position I1 of the linear laser beam at the time k is substantially parallel to the application direction S of the sealer.

다음 시점 k+1에서 실러의 도포 방향이 변경되는 경우, 실러의 도포 위치(D2)와 선형 레이저 빔의 기존 조사 위치(I2)를 이은 직선이 실러의 새로운 도포 방향(T)과 평행하지 않게 되므로 정확한 검사 결과를 얻기 어려워진다. 그러므로 위에서 구한 제어 각도만큼 구동부(500)가 브라켓(501)을 회전함으로써 실러의 도포 위치(D2)와 선형 레이저 빔의 새로운 조사 위치(I3)를 이은 직선이 실러의 도포 방향과 대략 평행하게 한다.The straight line between the application position D2 of the sealer and the existing irradiation position I2 of the linear laser beam is not parallel to the new application direction T of the sealer at the next time point k + It becomes difficult to obtain accurate test results. Therefore, the driving unit 500 rotates the bracket 501 by the control angle obtained above, so that the straight line between the application position D2 of the sealer and the new irradiation position I3 of the linear laser beam is substantially parallel to the application direction of the sealer.

이와 같이 선형 레이저 빔의 출사 위치가 변경되면 실러의 새로운 도포 방향에 수직하게 선형 레이저 빔이 조사될 수 있다. 따라서 실러 도포 방향이 변화한 후에도 정확한 검사 결과를 얻을 수 있다.
When the emission position of the linear laser beam is changed in this way, the linear laser beam can be irradiated perpendicularly to the new coating direction of the sealer. Therefore, accurate inspection results can be obtained even after the sealer coating direction changes.

도 4는 본 발명의 일 실시예에 따른 실러 도포 품질 검사 방법을 나타내는 흐름도이다.4 is a flowchart illustrating a sealer application quality inspection method according to an embodiment of the present invention.

도 4를 참조하면, 우선, 이동하는 대상물에 실러(sealer)를 도포한다(S100).Referring to FIG. 4, a sealer is applied to a moving object (S100).

다음으로, 대상물에 도포된 실러에 선형 레이저 빔(line laser beam)을 조사한다(S200). 선형 레이저 빔은 적어도 세 개의 선을 포함한다.Next, a linear laser beam is irradiated to the sealer applied to the object (S200). The linear laser beam includes at least three lines.

다음으로, 선형 레이저 빔이 조사된 실러에 나타나는 레이저 패턴을 촬영한다(S300). 이 단계(S300)에서, 레이저 패턴은 실러의 도포 방향을 따라 순서대로 제1 패턴(Lu), 제2 패턴(Lc) 및 제3 패턴(Ld)을 포함한다.Next, a laser pattern appearing on the sealer irradiated with the linear laser beam is photographed (S300). In this step S300, the laser pattern includes the first pattern Lu, the second pattern Lc, and the third pattern Ld in order along the sealer application direction.

다음으로, 실러의 도포 방향이 변함에 따라 선형 레이저 빔의 출사 위치를 변경한다(S400). 도 5는 이 단계(S400)를 더 구체적으로 나타내는 흐름도이다. 도 5를 참조하면, 이 단계(S400)에서는, 우선, 실러의 도포 방향이 변화하는 각도를 예측함으로써 예측 변화각을 산출한다(S410). 예측 변화각은 하기 식을 이용하여 산출한다.Next, as the application direction of the sealer changes, the outgoing position of the linear laser beam is changed (S400). 5 is a flowchart specifically showing this step (S400). Referring to Fig. 5, in this step S400, a predicted angle of change is calculated by predicting the angle at which the coating direction of the sealer changes, (S410). The predicted change angle is calculated using the following equation.

Figure 112014006662290-pat00017
Figure 112014006662290-pat00017

(

Figure 112014006662290-pat00018
: 예측 변화각,
Figure 112014006662290-pat00019
: 임의의 시점 k에서 제1 패턴(Lu)의 피크(peak)와 제2 패턴(Lc)의 피크를 연결하는 선분,
Figure 112014006662290-pat00020
: 임의의 시점 k에서 제2 패턴(Lc)의 기준선에 수직인 선)(
Figure 112014006662290-pat00018
: Predicted change angle,
Figure 112014006662290-pat00019
: A line connecting a peak of the first pattern Lu and a peak of the second pattern Lc at an arbitrary point k,
Figure 112014006662290-pat00020
: A line perpendicular to the baseline of the second pattern Lc at an arbitrary point k)

다음으로, 실러의 도포 방향이 실제로 변화하는 각도를 측정함으로써 실제 변화각을 산출한다(S420). 실제 변화각은 하기 식을 이용하여 산출한다.Next, the actual change angle is calculated by measuring the angle at which the application direction of the sealer actually changes (S420). The actual change angle is calculated using the following equation.

Figure 112014006662290-pat00021
Figure 112014006662290-pat00021

(

Figure 112014006662290-pat00022
: 실제 변화각,
Figure 112014006662290-pat00023
: 임의의 시점 k+1에서 제2 패턴(Lc)의 피크와 제3 패턴(Ld)의 피크를 연결하는 선분,
Figure 112014006662290-pat00024
: 임의의 시점 k에서 제2 패턴(Lc)의 기준선에 수직인 선)(
Figure 112014006662290-pat00022
: Actual change angle,
Figure 112014006662290-pat00023
: A line connecting the peak of the second pattern Lc and the peak of the third pattern Ld at an arbitrary point k + 1,
Figure 112014006662290-pat00024
: A line perpendicular to the baseline of the second pattern Lc at an arbitrary point k)

다음으로, 하기 식을 이용하여 각도 오차를 산출한다(S430).Next, an angle error is calculated using the following equation (S430).

Figure 112014006662290-pat00025
Figure 112014006662290-pat00025

다음으로, 하기 식을 이용하여 각도 오차를 예측 변화각에 반영함으로써 제어 각도를 산출한 후, 산출한 제어 각도를 이용하여 선형 레이저 빔의 출사 위치를 변경한다(S440).Next, the control angle is calculated by reflecting the angle error to the predicted change angle using the following equation (S440), and then the output position of the linear laser beam is changed using the calculated control angle (S440).

Figure 112014006662290-pat00026
Figure 112014006662290-pat00026

(k1은 실험적으로 구해지는 값,

Figure 112014006662290-pat00027
: 임의의 시점 k에서 산출된 각도 오차)
(k1 is a value obtained experimentally,
Figure 112014006662290-pat00027
: Angular error calculated at an arbitrary time k)

이상 설명한 바와 같이 본 발명의 일 실시예에 따르면, 실러의 도포 방향이 변함에 따라 선형 레이저 빔의 출사 위치를 변경한다. 그러므로 실러의 새로운 도포 방향에 수직하게 선형 레이저 빔을 조사할 수 있다. 결국 실러 도포 방향이 변화한 후에도 정확한 검사 결과를 얻을 수 있다.
As described above, according to the embodiment of the present invention, the emission position of the linear laser beam is changed as the coating direction of the sealer is changed. Therefore, the linear laser beam can be irradiated perpendicularly to the new application direction of the sealer. As a result, accurate inspection results can be obtained even after the sealer coating direction changes.

이상의 설명은 본 발명의 기술 사상을 예시적으로 설명한 것에 불과한 것으로서, 본 발명이 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자라면 본 발명의 본질적인 특성에서 벗어나지 않는 범위 내에서 다양한 수정, 변경 및 치환이 가능할 것이다. 따라서, 본 발명에 개시된 실시예 및 첨부된 도면들은 본 발명의 기술 사상을 한정하기 위한 것이 아니라 설명하기 위한 것이고, 이러한 실시예 및 첨부된 도면에 의하여 본 발명의 기술 사상의 범위가 한정되는 것은 아니다. 본 발명의 보호 범위는 아래의 청구 범위에 의하여 해석되어야 하며, 그와 동등한 범위 내에 있는 모든 기술 사상은 본 발명의 권리 범위에 포함되는 것으로 해석되어야 할 것이다.
It will be apparent to those skilled in the art that various modifications, substitutions and substitutions are possible, without departing from the scope and spirit of the invention as disclosed in the accompanying claims. will be. Therefore, the embodiments disclosed in the present invention and the accompanying drawings are intended to illustrate and not to limit the technical spirit of the present invention, and the scope of the technical idea of the present invention is not limited by these embodiments and the accompanying drawings . The scope of protection of the present invention should be construed according to the following claims, and all technical ideas falling within the scope of the same shall be construed as falling within the scope of the present invention.

100: 실러 도포기 200: 레이저 조사기
300: 촬영기 400: 제어부
500: 구동부 501: 브라켓
502: 모터100: sealer applicator 200: laser irradiator
300: photographing machine 400:
500: driving part 501: bracket
502: motor

Claims (9)

이동하는 대상물에 실러(sealer)를 도포하는 실러 도포 단계,
상기 대상물에 도포된 실러에 선형 레이저 빔(line laser beam)을 조사하는 레이저 조사 단계,
상기 선형 레이저 빔이 조사된 실러에 나타나는 레이저 패턴을 촬영하는 촬영 단계, 및
상기 실러의 도포 방향이 변함에 따라 상기 선형 레이저 빔의 출사 위치를 변경하는 제어 단계를 포함하고,
상기 레이저 패턴은 상기 실러의 도포 방향을 따라 순서대로 제1 패턴(Lu), 제2 패턴(Lc) 및 제3 패턴(Ld)을 포함하며,
상기 제어 단계는, 상기 실러의 도포 방향이 변화하는 각도를 예측함으로써 예측 변화각을 산출하는 단계, 및 상기 실러의 도포 방향이 실제로 변화하는 각도를 측정함으로써 실제 변화각을 산출하는 단계를 포함하는
실러 도포 품질 검사 방법.A sealer applying step of applying a sealer to a moving object,
A laser irradiation step of irradiating a linear laser beam onto the sealer applied to the object,
A photographing step of photographing a laser pattern appearing on the sealer irradiated with the linear laser beam, and
And a control step of changing an emission position of the linear laser beam as the coating direction of the sealer is changed,
The laser pattern includes a first pattern Lu, a second pattern Lc, and a third pattern Ld in order along the application direction of the sealer,
The control step includes calculating a predicted angle of change by predicting an angle at which the coating direction of the sealer changes, and calculating an actual angle of change by measuring an angle at which the coating direction of the sealer actually changes
Method for inspecting sealer application quality. 삭제delete 제1 항에서,
상기 예측 변화각은 하기 식을 이용하여 산출하는 실러 도포 품질 검사 방법.
Figure 112015012373747-pat00028

(
Figure 112015012373747-pat00029
: 예측 변화각,
Figure 112015012373747-pat00030
: 임의의 시점 k에서 제1 패턴(Lu)의 피크(peak)와 제2 패턴(Lc)의 피크를 연결하는 선분,
Figure 112015012373747-pat00031
: 임의의 시점 k에서 제2 패턴(Lc)의 기준선에 수직인 선)The method of claim 1,
Wherein the predicted change angle is calculated using the following equation.
Figure 112015012373747-pat00028

(
Figure 112015012373747-pat00029
: Predicted change angle,
Figure 112015012373747-pat00030
: A line connecting a peak of the first pattern Lu and a peak of the second pattern Lc at an arbitrary point k,
Figure 112015012373747-pat00031
: A line perpendicular to the baseline of the second pattern Lc at an arbitrary point k) 제3 항에서,
상기 실제 변화각은 하기 식을 이용하여 산출하는 실러 도포 품질 검사 방법.
Figure 112014006662290-pat00032

(
Figure 112014006662290-pat00033
: 실제 변화각,
Figure 112014006662290-pat00034
: 임의의 시점 k+1에서 제2 패턴(Lc)의 피크와 제3 패턴(Ld)의 피크를 연결하는 선분,
Figure 112014006662290-pat00035
: 임의의 시점 k에서 제2 패턴(Lc)의 기준선에 수직인 선)4. The method of claim 3,
Wherein the actual change angle is calculated using the following equation.
Figure 112014006662290-pat00032

(
Figure 112014006662290-pat00033
: Actual change angle,
Figure 112014006662290-pat00034
: A line connecting the peak of the second pattern Lc and the peak of the third pattern Ld at an arbitrary point k + 1,
Figure 112014006662290-pat00035
: A line perpendicular to the baseline of the second pattern Lc at an arbitrary point k) 제4 항에서,
상기 제어 단계는 각도 오차를 산출하는 단계를 더 포함하고,
상기 각도 오차는 하기 식을 이용하여 산출하는 실러 도포 품질 검사 방법.
Figure 112014006662290-pat00036
5. The method of claim 4,
Wherein the controlling step further comprises calculating an angular error,
Wherein the angle error is calculated using the following formula.
Figure 112014006662290-pat00036
 제5 항에서,
상기 제어 단계는,
하기 식으로 나타나는 제어 각도를 이용하여 상기 선형 레이저 빔의 출사 위치를 변경하는 단계를 더 포함하는 실러 도포 품질 검사 방법.
Figure 112014006662290-pat00037

(k1은 실험적으로 구해지는 값,
Figure 112014006662290-pat00038
: 임의의 시점 k에서 산출된 각도 오차)The method of claim 5,
Wherein the control step comprises:
Further comprising the step of changing an emission position of the linear laser beam using a control angle represented by the following equation.
Figure 112014006662290-pat00037

(k1 is a value obtained experimentally,
Figure 112014006662290-pat00038
: Angular error calculated at an arbitrary time k) 이동하는 대상물에 실러(sealer)를 도포하는 실러 도포기(dispenser),
상기 대상물에 도포된 실러에 선형 레이저 빔(line laser beam)을 조사하는 레이저 조사기,
상기 선형 레이저 빔이 조사된 실러에 나타나는 레이저 패턴을 촬영하는 촬영기, 및
상기 실러의 도포 방향이 변함에 따라 상기 선형 레이저 빔의 출사 위치를 변경하는 제어부를 포함하고,
상기 레이저 패턴은 상기 실러의 도포 방향을 따라 순서대로 제1 패턴(Lu), 제2 패턴(Lc) 및 제3 패턴(Ld)을 포함하며,
상기 제어부는, 상기 실러의 도포 방향이 변화하는 각도를 예측함으로써 예측 변화각을 산출하고, 상기 실러의 도포 방향이 실제로 변화하는 각도를 측정함으로써 실제 변화각을 산출하는
실러 도포 품질 검사 장치.A sealer dispenser for applying a sealer to a moving object,
A laser irradiator for irradiating a linear laser beam onto the sealer applied to the object,
A photographing device for photographing a laser pattern appearing on the sealer irradiated with the linear laser beam, and
And a control unit for changing an emission position of the linear laser beam as the coating direction of the sealer is changed,
The laser pattern includes a first pattern Lu, a second pattern Lc, and a third pattern Ld in order along the application direction of the sealer,
The control unit calculates a predicted change angle by predicting an angle at which the sealer coating direction changes, and measures an actual change angle of the sealer coating direction to calculate an actual change angle
Sealer application quality inspection system. 제7 항에서,
상기 레이저 조사기 및 상기 촬영기가 장착되되 상기 제어부에 의해 제어되는 구동부를 더 포함하는 실러 도포 품질 검사 장치.8. The method of claim 7,
Further comprising a driving unit to which the laser beam and the photographing unit are mounted and is controlled by the control unit. 제8 항에서,
상기 구동부는,
상기 레이저 조사기 및 상기 촬영기가 장착되는 브라켓, 및
상기 브라켓을 회전시키는 모터
를 포함하는 실러 도포 품질 검사 장치.9. The method of claim 8,
The driving unit includes:
A bracket to which the laser beam machine and the photographing machine are mounted,
A motor for rotating the bracket
And the sealer coating quality inspection device.
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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR101916753B1 (en) * 2017-05-08 2018-11-08 한국산업기술대학교산학협력단 Apparatus for measuring the pipe bending angle

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH06114791A (en) * 1992-10-05 1994-04-26 Shima Seiki Mfg Ltd Method and device for cutting sheet material
US6369401B1 (en) * 1999-09-10 2002-04-09 Agri-Tech, Inc. Three-dimensional optical volume measurement for objects to be categorized
US20030178503A1 (en) * 2002-03-20 2003-09-25 Horan Nicholas R. Single beam spray gun positioning system
KR100890390B1 (en) * 2008-08-20 2009-03-26 (주)파비스 Inspecting system of sealer application condition forglass of vehicle and method thereof

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH06114791A (en) * 1992-10-05 1994-04-26 Shima Seiki Mfg Ltd Method and device for cutting sheet material
US6369401B1 (en) * 1999-09-10 2002-04-09 Agri-Tech, Inc. Three-dimensional optical volume measurement for objects to be categorized
US20030178503A1 (en) * 2002-03-20 2003-09-25 Horan Nicholas R. Single beam spray gun positioning system
KR100890390B1 (en) * 2008-08-20 2009-03-26 (주)파비스 Inspecting system of sealer application condition forglass of vehicle and method thereof

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR101916753B1 (en) * 2017-05-08 2018-11-08 한국산업기술대학교산학협력단 Apparatus for measuring the pipe bending angle

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