KR101532716B1 - Optical filter and manufacture method thereof - Google Patents

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Abstract

본 발명은 전자파 차폐층을 음각 패턴이 형성된 수지층의 내부에 형성함으로써, 안정적인 전자파 차폐 특성을 확보함과 아울러 콘트라스트 특성을 양호하게 유지하고, 공정 수율을 향상시키며 아울러 헤이즈를 저감하고 부착성을 향상시킬 수 있는 광학 필터 및 그 제조 방법을 제공하는데 그 목적이 있다.Disclosure of the Invention The present invention provides an electromagnetic wave shielding layer inside a resin layer formed with an engraved pattern to secure a stable electromagnetic wave shielding property, maintain a good contrast property, improve process yield, reduce haze and improve adhesion And a method of manufacturing the same.

본 발명의 일례에 따른 광학 필터는 투명 베이스 기판, 투명 베이스 기판 상에 배치되고, 소정의 음각 패턴이 형성된 수지층 및 수지층의 음각 패턴 내부에 배치되고 전자파 차폐를 위한 전자파 차폐층을 포함한다.An optical filter according to an example of the present invention includes a transparent base substrate, a resin layer disposed on a transparent base substrate and formed with a predetermined engraved pattern, and an electromagnetic wave shielding layer disposed inside the engraved pattern of the resin layer and for shielding electromagnetic waves.

또한, 본 발명의 일례에 따른 광학 필터의 제조 방법은 투명 베이스 기판 상에 수지층을 적층하는 적층단계;와 수지층에 소정의 음각 패턴을 형성하는 패턴 형성단계; 및 음각 패턴 내부에 전자파 차폐층을 형성하는 전자파 차폐층 형성단계;를 포함한다.According to another aspect of the present invention, there is provided a method of manufacturing an optical filter, including: laminating a resin layer on a transparent base substrate; patterning the resin layer to form a predetermined engraved pattern; And an electromagnetic wave shielding layer forming step of forming an electromagnetic wave shielding layer inside the engraved pattern.

전자파 차폐, 음각 패턴, 콘트라스트 Electromagnetic wave shielding, engraving pattern, contrast

Description

광학 필터 및 그 제조 방법{Optical filter and manufacture method thereof}TECHNICAL FIELD The present invention relates to an optical filter and a manufacturing method thereof,

본 발명은 디스플레이 장치에 포함되는 광학 필터 및 그 제조 방법에 관한 것으로서, 보다 상세하게는, 본 발명은 투병 베이스 기판 상에 형성되는 수지층에 소정의 음각 패턴을 형성하여 음각 패턴 내부에 전자파 차폐층을 형성한 광학 필터 및 그 제조 방법에 관한 것이다.BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention [0001] The present invention relates to an optical filter included in a display device and a method of manufacturing the same. More particularly, the present invention relates to an optical filter, And a method of manufacturing the same.

플라즈마 디스플레이 패널(Plasma Display Panel: PDP) 및 액정 크리스털 디스플레이 패널(liquid crystal display Panel: LCD) 등의 디스플레이 장치들은 구동 회로 자체에 의한 전자파가 발생하거나, 패널 구동시 구동 방법에 따라 전자파가 발생하게 된다.2. Description of the Related Art Display devices such as a plasma display panel (PDP) and a liquid crystal display panel (LCD) generate electromagnetic waves by a driving circuit itself or generate electromagnetic waves according to a driving method when a panel is driven .

예를 들어, 플라즈마는디스플레이 패널은 He+Xe, Ne+Xe 등의 불활성 혼합가스가 방전할 때에 대략 147nm의 자외선에 의해 형광체를 여기시켜 적색, 녹색 및 청색을 발광시킴으로써 화면이 표시된다. 이와 같이 패널의 구동 과정 중에 구동부에서는 고압의 전압을 발생시키는 과정에 전자파가 발생하게 된다.For example, in a plasma display panel, a screen is displayed by exciting phosphors by ultraviolet rays of approximately 147 nm to emit red, green, and blue light when an inert mixed gas such as He + Xe, Ne + Xe, etc. is discharged. In this way, during the process of driving the panel, electromagnetic waves are generated in a process of generating a high voltage in the driving unit.

따라서 이와 같은 디스플레이 장치들은 이와 같은 전자파를 차폐하기 위하여 다양한 기능을 가진 광학 필터를 사용한다.Accordingly, such display devices use optical filters having various functions in order to shield such electromagnetic waves.

이와 같은 광학 필터는 PDP를 이용한 영상 표시 장치가 발생시키는 전자파와 근적외선 등을 차단하고 색보정, 반사방지 등의 기능을 수행한다.Such an optical filter blocks electromagnetic waves and near-infrared rays generated by a video display device using a PDP and performs functions such as color correction and reflection prevention.

이와 같은 광학 필터는 메쉬 타입의 필터와 도전막 타입의 필터로 나뉜다.Such an optical filter is divided into a mesh type filter and a conductive film type filter.

도 1a 및 도 1b는 종래의 메쉬 타입의 광학 필터로서, 도 1a는 동(Cu) 메쉬 타입이고, 도 1b는 은(Ag) 메쉬 타입이다.FIGS. 1A and 1B show a conventional mesh type optical filter, wherein FIG. 1A is a copper (Cu) mesh type and FIG. 1B is a silver (Ag) mesh type.

도 1a에 도시된 바와 같이, 동 메쉬 타입의 광학 필터는 PET, PC, PMMA 등과 같은 투명 기재(14)에 접착제(21)를 이용하여 동박을 라미네이팅(Laminating)하여 제작한다.As shown in FIG. 1A, a copper mesh type optical filter is manufactured by laminating a copper foil using an adhesive 21 to a transparent substrate 14 such as PET, PC, PMMA and the like.

이 과정에서 동(Cu)의 부착성을 향상시키고 동(Cu)의 반짝임에 의한 시인성 저하를 막기 위해 동(Cu)의 한쪽면에 화학 표면 처리를 실시한다. 그리고, 동(Cu) 메쉬의 패턴닝(Patterning) 방법으로는 포토리소그래피를 사용하고 메쉬 형상을 구현한 후 PET 등의 수지층(11)에 점착제 등을 라미네이팅한다.In this process, a chemical surface treatment is performed on one side of copper (Cu) in order to improve the adhesion of copper (Cu) and to prevent deterioration of visibility due to glittering of copper (Cu). As a patterning method of copper (Cu) mesh, photolithography is used and a mesh shape is implemented, and then a pressure-sensitive adhesive or the like is laminated on the resin layer 11 of PET or the like.

전자파 차폐를 위한 광학 필터 상에는 도 1a에 도시된 바와 같이, 색보정층(17), NIR 차단층(18), 반사 방지막(19) 등의 기능층을 추가할 수 있다.A functional layer such as a color correction layer 17, an NIR blocking layer 18, and an anti-reflection layer 19 may be added on the optical filter for shielding electromagnetic waves as shown in FIG. 1A.

도 1b에 도시된 바와 같이, 은(Ag) 메쉬 타입의 경우, 투명기재(14)에 그리비아 옵셋 방식으로 은(Ag)를 전사시켜 메쉬 형성을 구현한 다음, PET 등의 수지층(11)에 점착제 등을 라미네이팅한다.1B, in the case of the silver (Ag) mesh type, silver (Ag) is transferred to the transparent substrate 14 by the Libya offset method to form a mesh, and then the resin layer 11, such as PET, Such as an adhesive or the like.

마찬가지로, 전자파 차폐 광학 필터 상에는 도 1b에 도시된 바와 같이, 색보정층(17), NIR 차단층(17), 반사 방지만(19) 등의 기능층을 추가할 수 있다.Likewise, functional layers such as the color correction layer 17, the NIR blocking layer 17, and the reflection prevention layer 19 can be added to the electromagnetic wave shielding optical filter as shown in Fig. 1B.

도 1c는 종래 도전막 타입의 광학 필터를 나타낸다. 도전막 타입은 다수의 투명 금속층을 적층한 형태의 차폐층이다.1C shows a conventional conductive film type optical filter. The conductive film type is a shielding layer in which a plurality of transparent metal layers are laminated.

도 1c에 도시된 바와 같이, 다층의 ITO/Ag 도전막(22)을 형성하여 전자파 차폐 특성을 구현한다. 역시 마찬가지로, 전자파 차폐층 위에는 도 1b에 도시된 바와 같이, 색보정층(17), NIR 차단층(17), 반사 방지막(19) 등의 기능층을 추가할 수 있다.As shown in FIG. 1C, a multilayered ITO / Ag conductive film 22 is formed to realize electromagnetic wave shielding characteristics. Likewise, functional layers such as the color correction layer 17, the NIR blocking layer 17, and the anti-reflection film 19 can be added on the electromagnetic wave shielding layer as shown in FIG. 1B.

그러나 종래의 동(Cu) 메쉬를 채용한 광학 필터의 경우, 재료를 라미네이팅 하는 과정에서 발생하는 접착제 층에서 미세 기포, 패임, 이물에 의해 포토에칭 공정 중에 동(Cu) 메쉬가 단락되거나 동(Cu)이 남는 불량이 발생되고, 동(Cu) 표면 또는 표면 처리한 면의 미세한 조도로 인해 헤이즈(Haze)가 상승되어 별도의 투명화 공정을 진행해야 되며 그 과정에서 기포, 눌림, 렌즈성 불량이 유발되는 단점이 있다.However, in the case of an optical filter employing a conventional copper (Cu) mesh, copper (Cu) meshes are short-circuited during the photoetching process due to minute bubbles, dents and foreign substances in the adhesive layer generated in the process of laminating the materials, ) Is generated, and haze is increased due to the fine roughness of the copper (Cu) surface or the surface treated surface, and a separate vitrification process must be carried out. In this process, bubbles, .

또한, 은(Ag) 메쉬의 경우, 고가인 은(Ag) 사용에 따른 재료비 증가와 인쇄의 한계로 인해 전자파 차폐 특성이 동(Cu) 메쉬에 비해 저하되며 은(Ag) 메쉬의 부착성이 떨어지는 단점이 있으며, 도전막 타입의 경우도 다층의 증착막 형성에 따른 재료비 증가와 전자파 차폐 특성이 동(Cu) 메쉬에 비해 현저히 떨어지는 단점이 있다.In the case of the silver (Ag) mesh, the shielding property of the electromagnetic wave is lower than that of the copper (Cu) mesh due to the increase of the material cost and the limitation of the printing due to the use of the expensive silver (Ag) In the case of the conductive film type, on the other hand, there is a disadvantage in that the material cost increases due to the formation of the multilayer vapor deposition film and the electromagnetic wave shielding property is significantly lower than that of the copper (Cu) mesh.

이와 같은 광학 필터가 플라즈마 디스플레이 장치에 사용되는 경우, 명실 콘트라스트 향상을 위해 별도의 콘트라스트 향상층을 더 사용한다. 이와 같은 콘트라스트 향상 필름은 동 메쉬 필름 또는 도전막층의 투명 기재층과 합지되어 외광을 차폐함으로써 명실 콘트라스트 향상 기능을 수행한다. 그러나 합지할 때에 동 메쉬와의 간섭에 의해 발생되는 모아레 문제와 고가의 필름이 적용됨에 따라 광학 필터의 제조 단가가 상승하는 단점이 있다.When such an optical filter is used in a plasma display apparatus, a separate contrast enhancement layer is further used to improve bright room contrast. Such a contrast enhancement film is laminated with a transparent base layer of a copper mesh film or a conductive film layer to shield external light, thereby realizing a bright room contrast enhancement function. However, there is a drawback that the manufacturing cost of the optical filter is increased due to the moiré problem caused by the interference with the copper mesh at the time of lapping and the application of the expensive film.

본 발명은 전자파 차폐층을 음각 패턴이 형성된 수지층의 내부에 형성함으로써, 안정적인 전자파 차폐 특성을 확보함과 아울러 콘트라스트 특성을 양호하게 유지하고, 공정 수율을 향상시키며 아울러 헤이즈를 저감하고 부착성을 향상시킬 수 있는 광학 필터 및 그 제조 방법을 제공하는데 그 목적이 있다.Disclosure of the Invention The present invention provides an electromagnetic wave shielding layer inside a resin layer formed with an engraved pattern to secure a stable electromagnetic wave shielding property, maintain a good contrast property, improve process yield, reduce haze and improve adhesion And a method of manufacturing the same.

또한, 본 발명은 콘트라스트와 전자파 차폐를 동시에 수행하기 위해 음각 패턴 내부에 전자파 차폐층을 형성함으로써, 모아레 현상과 제조 단가를 낮출 수 있는 광학 필터 및 그 제조 방법을 제공하는데 그 목적이 있다.It is another object of the present invention to provide an optical filter capable of reducing the moire phenomenon and manufacturing cost by forming an electromagnetic wave shielding layer in an engraved pattern to simultaneously perform contrast and electromagnetic wave shielding, and a manufacturing method thereof.

본 발명의 일례에 따른 광학 필터는 투명 베이스 기판, 투명 베이스 기판 상에 배치되고, 소정의 음각 패턴이 형성된 수지층 및 수지층의 음각 패턴 내부에 배치되고 전자파 차폐를 위한 전자파 차폐층을 포함한다.An optical filter according to an example of the present invention includes a transparent base substrate, a resin layer disposed on a transparent base substrate and formed with a predetermined engraved pattern, and an electromagnetic wave shielding layer disposed inside the engraved pattern of the resin layer and for shielding electromagnetic waves.

여기서, 음각 패턴에 의해 형성된 수평 단면의 형상은 삼각형, 사각형중 적어도 어느 하나를 포함할 수 있다.Here, the shape of the horizontal section formed by the engraved pattern may include at least one of a triangle and a quadrangle.

또한, 수평 단면 형상은 사각형을 포함하고, 음각 패턴의 피치는 적어도 10um이상 300um이하가 되도록 할 수 있다.In addition, the horizontal cross-sectional shape includes a quadrangle, and the pitch of the engraved pattern may be at least 10um to 300um.

또한, 사각형은 직사각형을 포함하고, 음각 패턴의 단변 피치는 20um이상 50um이하가 되도록 할 수 있다.In addition, the rectangle may include a rectangle, and the short side pitch of the engraved pattern may be 20um or more and 50um or less.

여기서, 음각 패턴의 장변 피치는 80um이상 200um이하가 되도록 할 수 있다.Here, the long side pitch of the engraved pattern can be set to be 80um or more and 200um or less.

여기서, 음각 패턴의 단변 피치의 값이 작아질수록 장변 피치의 값은 증가되도록 할 수 있다.Here, as the value of the short side pitch of the engraved pattern becomes smaller, the value of the long side pitch can be increased.

또한, 음각 패턴의 폭은 적어도 3um이상 20um이하가 되도록 할 수 있다.In addition, the width of the engraved pattern may be at least 3um and not more than 20um.

여기서, 음각 패턴의 폭은 적어도 3um이상 10um이하가 되도록 할 수 있다.Here, the width of the engraved pattern can be made to be at least 3um and not more than 10um.

여기서, 음각 패턴의 수직 단면의 형상은 삼각형, 사각형 또는 사다리꼴 또는 타원형 중 적어도 어느 하나를 포함할 수 있다.Here, the shape of the vertical section of the engraved pattern may include at least one of a triangle, a quadrangle, a trapezoid, or an ellipse.

여기서, 음각 패턴의 수직 단면 깊이는 10um이상 40um이하가 되도록 할 수 있다.Here, the vertical cross-sectional depth of the engraved pattern can be set to 10um or more and 40um or less.

여기서, 음각 패턴의 수직 단면 깊이는 20um이상 30um이하가 되도록 할 수 있다.Here, the vertical cross-sectional depth of the engraved pattern can be set to be 20um or more and 30um or less.

여기서, 전자파 차폐층은 수지층 내부에 소정의 두께로 형성된 금속 시드층 및 금속 시드층 내부에 형성된 금속층을 포함할 수 있다.The electromagnetic wave shielding layer may include a metal seed layer formed to a predetermined thickness inside the resin layer and a metal layer formed inside the metal seed layer.

여기서, 금속 시드층의 두께는 적어도 0.01um이상 4um이하가 되도록 할 수 있다.Here, the thickness of the metal seed layer may be at least 0.01 μm or more and 4 μm or less.

여기서, 금속 시드층의 두께는 적어도 0.01um이상 2um이하가 되도록 할 수 있다.Here, the thickness of the metal seed layer may be at least 0.01um or more and 2um or less.

여기서, 금속 시드층은 블랙 계열의 물질이 되도록 할 수 있다.Here, the metal seed layer may be a black-based material.

여기서, 금속 시드층은 동(Cu), 니켈(Ni), 크롬(Cr), 철(Fe), 텅스텐(W), 인(P), 코발트(Co), 은(Ag), 니켈-인(Ni-P), 니켈-크롬(Ni-Cr), 산화구리Ⅱ(CuO) 중 적어도 하나를 포함할 수 있다.Here, the metal seed layer may be formed of at least one selected from the group consisting of copper (Cu), nickel (Ni), chromium (Cr), iron (Fe), tungsten (W), phosphorus (P), cobalt Ni-P), nickel-chromium (Ni-Cr), and copper oxide II (CuO).

여기서, 금속층은 동(Cu), 은(Ag), 알루미늄(Al), 니켈(Ni), 크롬(Cr), 니켈-인(Ni-P), 니켈-크롬(Ni-Cr), 산화구리Ⅱ(CuO) 중 적어도 하나를 포함할 수 있다.Here, the metal layer may be at least one selected from the group consisting of Cu, Ag, Al, Ni, Cr, Ni-P, Ni- (CuO).

여기서, 투명 베이스 기판은 수지성 필름(Film) 또는 투명 글라스(Glass) 중 어느 하나를 포함할 수 있다.Here, the transparent base substrate may include any one of a resin film and a transparent glass.

여기서, 수지성 필름(Film)은 아크릴 감압성 접착제(Pressure Sensitive Adhesive:PSA)를 포함할 수 있다. Here, the resin film may include an acrylic pressure sensitive adhesive (PSA).

또한, 본 발명의 일례에 따른 광학 필터의 제조 방법은 투명 베이스 기판 상에 수지층을 적층하는 적층단계;와 수지층에 소정의 음각 패턴을 형성하는 패턴 형성단계; 및 음각 패턴 내부에 전자파 차폐층을 형성하는 전자파 차폐층 형성단계;를 포함한다.According to another aspect of the present invention, there is provided a method of manufacturing an optical filter, including: laminating a resin layer on a transparent base substrate; patterning the resin layer to form a predetermined engraved pattern; And an electromagnetic wave shielding layer forming step of forming an electromagnetic wave shielding layer inside the engraved pattern.

여기서, 패턴 형성단계는 소정의 음각 패턴이 형성되도록 하는 양각 형상을 포함하는 몰드(Mold)를 수지층의 상부에 압박하는 임프린팅(Imprinting)단계를 포함할 수 있다.Here, the pattern forming step may include an imprinting step of pressing a mold including a relief shape such that a predetermined engraved pattern is formed on an upper portion of the resin layer.

여기서, 전자파 차폐층은 블랙계열의 금속 시드층과 금속 시드층 내부에 형성되는 금속층을 포함하고, 전자파 차폐층 형성단계는 금속 시드층과 수지층과의 부착성을 향상시키기 위한 표면 처리단계;와 수지층의 음각 패턴 내부에 금속 시드층을 소정의 두께로 형성하는 금속 시드층 형성 단계; 및 금속 시드층의 내부에 금속층을 형성하는 금속층 형성 단계;를 포함할 수 있다.The electromagnetic wave shielding layer includes a black metal seed layer and a metal layer formed inside the metal seed layer. The electromagnetic shield layer forming step includes a surface treatment step for improving adhesion between the metal seed layer and the resin layer; A metal seed layer forming step of forming a metal seed layer in a predetermined thickness inside the engraved pattern of the resin layer; And a metal layer forming step of forming a metal layer inside the metal seed layer.

여기서, 표면 처리단계는 에칭 처리, 촉매 처리, 플라즈마 처리 또는 이온빔 처리 중 어느 하나에 의할 수 있다.Here, the surface treatment step may be any one of an etching treatment, a catalytic treatment, a plasma treatment or an ion beam treatment.

여기서, 금속 시드층 형성단계는 무전해 도금, 화학 증착 공법(Chemical Vapor Deposition;CVD), 스퍼터링(Sputtering) 또는 인쇄 중 어느 하나의 방법에 의할 수 있다.Here, the metal seed layer forming step may be performed by any one of electroless plating, chemical vapor deposition (CVD), sputtering, and printing.

여기서, 금속 시드층 형성 단계는 금속 시드층을 수지층 상에 무전해도금하고, 금속층 형성 단계는 금속 시드층 내부에 금속층을 선택적으로 전해 도금할 수 있다.Here, in the metal seed layer forming step, the metal seed layer is electroless-coated on the resin layer, and in the metal layer forming step, the metal layer is selectively electroless-plated in the metal seed layer.

여기서, 전자파 차폐층 형성 단계는 수지층에서 음각 패턴 내부를 제외한 양각부에 형성된 금속 시드층을 제거하는 양각부 금속시드층 제거단계;를 더 포함할 수 있다.Here, the electromagnetic shielding layer forming step may further include removing the metal seed layer on the embossed metal layer to remove the metal seed layer formed on the embossed portion except for the recessed pattern inside the resin layer.

여기서, 양각부 금속시드층 제거단계는 CMP(Chemical Mechanical Polishing) 공법, 연마 방법, 브러싱(Brushing) 방법 중 어느 하나에 의할 수 있다.Here, the step of removing the embossed metal seed layer may be performed by a chemical mechanical polishing (CMP) method, a polishing method, or a brushing method.

또한, 본 발명에 따른 광학 필터를 포함하는 디스플레이 장치는 상기와 같은 광학 필터를 포함한다.Further, a display device including the optical filter according to the present invention includes the optical filter as described above.

본 발명에 따른 광학 필터는 전자파 차폐층을 표면이 음각 패턴으로 형성된 수지층 내부에 전자파 차폐층을 형성함으로 헤이즈를 충분히 낮출수 있고, 부착성이 월등히 향상된 광학 필터 특성을 확보하는 효과가 있다.The optical filter according to the present invention can sufficiently lower the haze by forming the electromagnetic wave shielding layer in the inside of the resin layer formed with the engraved pattern on the surface, and has the effect of securing the optical filter characteristic with much improved adhesion.

또한, 본 발명에 따른 광학 필터는 전자파 차폐층을 금속층과 금속 시드층이 포함되도록 하고, 금속 시드층으로 블랙 계열 물질을 사용함으로써 전자파 차폐 특 성을 안정적으로 유지함과 아울러 외부광을 효과적으로 차단할 수 있어 콘트라스트 비를 향상 시키는 효과가 있다.In addition, the optical filter according to the present invention can stably maintain the electromagnetic wave shielding property and effectively shield the external light by using the electromagnetic shielding layer as the metal layer and the metal seed layer, and using the black-based material as the metal seed layer There is an effect of improving the contrast ratio.

또한, 또한, 본 발명에 따른 광학 필터의 제조 방법은 전자파 차폐층의 두께를 용이하게 조절할 수 있을 뿐만 아니라, 제조 공정 또한 단순화하여 공정 수율을 향상시킬 수 있을 뿐만 아니라 유니포머티를 향상시키고, 제조 단가를 줄이는 효과가 있다.In addition, the manufacturing method of the optical filter according to the present invention can not only easily adjust the thickness of the electromagnetic wave shielding layer but also simplify the manufacturing process to improve the process yield, improve the uniformity, It has the effect of reducing the unit price.

이하, 본 발명의 바람직한 실시예를 첨부된 도면들을 참조하여 상세히 설명한다. Hereinafter, preferred embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings.

우선 각 도면의 구성 요소들에 참조 부호를 부가함에 있어서, 동일한 구성 요소들에 대해서는 비록 다른 도면상에 표시되더라도 가능한 한 동일한 부호를 가지도록 하고 있음에 유의해야 한다. 또한, 본 발명을 설명함에 있어, 관련된 공지 구성 또는 기능에 대한 구체적인 설명이 본 발명의 요지를 흐릴 수 있다고 판단되는 경우에는 그 상세한 설명은 생략한다. 또한, 이하에서 본 발명의 바람직한 실시예를 설명할 것이나, 본 발명의 기술적 사상은 이에 한정하거나 제한되지 않고 당업자에 의해 변형되어 다양하게 실시될 수 있음은 물론이다.In the drawings, the same reference numerals are used to designate the same or similar components throughout the drawings. In the following description of the present invention, a detailed description of known functions and configurations incorporated herein will be omitted when it may make the subject matter of the present invention rather unclear. In addition, the preferred embodiments of the present invention will be described below, but it is needless to say that the technical idea of the present invention is not limited thereto and can be variously modified by those skilled in the art.

도 2는 본 발명의 일례에 따른 광학 필터의 일례를 설명하기 위한 도이다.2 is a view for explaining an example of an optical filter according to an example of the present invention.

도 2의(a) 및 (b)에 도시된 바와 같이, 광학 필터는 투명 베이스 기판(210), 수지층(220), 수지층(220)의 음각 패턴(221) 내부에 배치되는 전자파 차폐층(230)을 포함한다. 2 (a) and 2 (b), the optical filter includes a transparent base substrate 210, a resin layer 220, an electromagnetic wave shielding layer 220 disposed inside the engraved pattern 221 of the resin layer 220, (230).

투명 베이스 기판(210)은 수지성 필름(Film) 또는 투명 글라스(Glass) 중 어느 하나를 포함할 수 있다. The transparent base substrate 210 may include any one of a resin film and a transparent glass.

투명 베이스 기판(210)이 수지성 필름인 경우, 폴리에틸렌테레프탈레이트(PET), 폴리카보네이트(PC), 폴리메틸메타크릴레이트(PMMA), 트리아세테이트 셀룰로즈(TAC), 폴리에테르설폰(PES) 등의 열가소성 수지를 수지성 필름으로 사용함으로써 강도를 높일 수 있고, 디스플레이 패널이 외부 충격으로부터 손상되는 것을 방지할 수 있다. 이때, 두께는 예를 들면, 25~300um(마이크로미터) 범위로 할 수 있고, 광선 투과율은 80%(퍼센트) 이상이 되도록 할 수 있다.(PET), polycarbonate (PC), polymethylmethacrylate (PMMA), triacetate cellulose (TAC), polyethersulfone (PES), and the like, when the transparent base substrate 210 is a resinous film. By using the thermoplastic resin as a resin film, the strength can be increased, and the display panel can be prevented from being damaged from an external impact. In this case, the thickness may be, for example, in the range of 25 to 300 μm (micrometer), and the light transmittance may be 80% (percent) or more.

여기서, 수지성 필름(Film)은 아크릴 감압성 접착제(Pressure Sensitive Adhesive : PSA)를 포함할 수 있다. 이와 같이 반고체 상태의 물질인 아크릴 감압성 접착제(PSA)를 사용함으로써 작은 압력으로 수지층(220)을 투명 베이스 기판(210)에 단단하게 결합되도록 할 수 있다.Here, the resin film may include an acrylic pressure sensitive adhesive (PSA). By using the acrylic pressure-sensitive adhesive (PSA), which is a semi-solid material, the resin layer 220 can be firmly bonded to the transparent base substrate 210 with a small pressure.

다음, 수지층(220)은 도시된 바와 같이, 투명 베이스 기판(210) 상에 배치되고, 소정의 음각 패턴(221)이 형성되어 있다. 이와 같은 수지층(220)으로는 UV 경화 수지 또는 열경화성 수지를 사용할 수 있다. 소정의 음각 패턴(221)에 대해서 도 3의 (a) 및 (b)에는 음각 패턴(221)에 의해 형성된 수평 단면의 형상이 사각형인 경우를 일례로 들었으나, 이와 다르게 삼각형, 오각형 또는 육각형이 될 수도 있다. 또한, 도 3에서는 음각 패턴(221)의 수직 단면의 형상이 삼각형(a), 사각 형(b) 인 경우를 일례로 들었으나 사다리꼴이 될 수도 있다. 이에 대해서는 도 5a 및 도 5c에서 보다 자세히 설명한다.Next, the resin layer 220 is disposed on the transparent base substrate 210 as shown, and a predetermined engraved pattern 221 is formed. As the resin layer 220, a UV curable resin or a thermosetting resin can be used. 3 (a) and 3 (b) illustrate a case in which the shape of the horizontal cross section formed by the engraved pattern 221 is a quadrangle, but a triangle, a pentagon, or a hexagon . 3, the shape of the vertical cross section of the engraved pattern 221 is triangular (a) or square (b), but it may be trapezoidal. This will be described in more detail in Figs. 5A and 5C.

다음, 전자파 차폐층(230)은 수지층(220)의 음각 패턴(221) 내부에 배치되고 전자파를 차폐하는 기능을 한다. 이와 같은 전자파 차폐층(230)은 수지층(220) 내부에 소정의 두께로 형성된 금속 시드층 및 금속 시드층 내부에 형성된 금속층을 포함할 수 있다. 이에 대해서는 도 6에서 보다 상세히 설명한다.Next, the electromagnetic wave shielding layer 230 is disposed inside the engraved pattern 221 of the resin layer 220 and functions to shield electromagnetic waves. The electromagnetic wave shielding layer 230 may include a metal seed layer formed to a predetermined thickness inside the resin layer 220 and a metal layer formed inside the metal seed layer. This will be described in more detail in Fig.

도 3은 본 발명의 일례에 따른 광학 필터에서 수지층에 형성된 소정의 음각 패턴의 다양한 일례를 설명하기 위한 도이다.3 is a view for explaining various examples of a predetermined engraved pattern formed on a resin layer in an optical filter according to an example of the present invention.

음각 패턴(221)에 의해 형성된 수평 단면의 형상은 삼각형 또는 사각형 중 어느 하나를 포함할 수 있다. 즉 도 3의 (a)에 도시된 바와 같이, 음각 패턴(221)에 의해 형성되는 수평 단면의 양각부(222) 형상은 사각형의 형상이 포함되도록 할 수 있다. 또한, (b)와 같이 삼각형이 되도록 할 수도 있고, 이외에 (c), (d), (e)와 같이 구현될 수도 있다.The shape of the horizontal section formed by the engraved pattern 221 may include either a triangle or a quadrangle. That is, as shown in FIG. 3A, the shape of the embossed portion 222 of the horizontal cross section formed by the engraved pattern 221 may include a rectangular shape. In addition, it may be triangular as shown in (b), or may be implemented as (c), (d), and (e).

도 4a 내지 4d는 본 발명의 일례에 따른 광학 필터에서 음각 패턴이 형성된 수지층의 수평 단면에 대해서 보다 자세히 설명하기 위한 도이다.4A to 4D are views for explaining the horizontal cross section of a resin layer formed with an engraved pattern in an optical filter according to an example of the present invention in more detail.

도 4a에 도시된 바와 같이, 음각 패턴(221)의 수평 단면 형상은 사각형을 포함하고, 음각 패턴(221)의 피치는 적어도 10um이상 300um이하가 되도록 할 수 있다.As shown in FIG. 4A, the horizontal cross-sectional shape of the engraved pattern 221 includes a quadrangle, and the pitch of the engraved pattern 221 may be at least 10um to 300um.

이와 같이 음각 패턴(221)의 피치가 적어도 10um이상이 되도록 하고, 음각 패턴(221)이 형성된 내부에 전자파 차폐층(230)이 형성되도록 함으로써 디스플레이 패널로부터 발생되는 30M Hz ~ 1G Hz의 전자파를 적절하게 차폐할 수 있는 효과가 있다.In this way, the pitch of the engraved patterns 221 is at least 10 μm or more, and the electromagnetic wave shielding layer 230 is formed inside the engraved pattern 221, so that electromagnetic waves of 30 M Hz to 1 G Hz generated from the display panel are appropriately There is an effect that it can be shielded.

또한, 음각 패턴(221)의 피치가 적어도 300um이하가 되도록 하고, 음각 패턴(221)이 형성된 내부에 전자파 차폐층(230)이 형성되도록 함으로써 전자파를 적절하게 차폐함과 아울러 디스플레이 패널로부터 발생되는 영상의 빛 투과율을 적절하게 확보할 수 있어 휘도를 향상시키는 효과가 있다.The pitch of the engraved pattern 221 may be at least 300 μm or less and the electromagnetic wave shielding layer 230 may be formed inside the engraved pattern 221 to shield the electromagnetic wave appropriately. It is possible to secure the light transmittance of the liquid crystal display device 100 properly, thereby improving the luminance.

보다 바람직하게는, 음각 패턴(221)의 수평 단면 형상이 직사각형을 포함되도록 하고, 음각 패턴(221)의 단변 피치는 20um이상 50um이하가 되도록 하고, 음각 패턴(221)의 장변 피치는 80um이상 200um이하가 되도록 할 수 있다.More preferably, the engraved pattern 221 includes a rectangular cross section and the short side pitch of the engraved pattern 221 is 20um or more and 50um or less, and the long side pitch of the engraved pattern 221 is 80um or more and 200um Or less.

이와 같이, 음각 패턴(221)의 단변 피치가 20um이상 50um이하가 되도록 하고, 장변 피치는 80um이상 200um이하가 되도록 하는 것은 적정 수준 이상의 광투과율을 유지하면서, 전자파 차폐 특성을 향상시키기 위함이다.Thus, the short side pitch of the engraved pattern 221 is set to 20um or more and 50um or less, and the long side pitch is set to be 80um or more and 200um or less in order to improve the electromagnetic wave shielding property while maintaining the light transmittance above the proper level.

보다 구체적으로 음각 패턴(221)의 단변 피치20um이상 50um이하가 되도록 하고, 음각 패턴(221)의 장변 피치는 80um이상 200um이하가 되도록 함으로써, 차폐층의 면저항을 요구되는 표준 저항인 0.1 옴/cm^2 보다 양호한 0.1 옴/cm^2 보다 양호한 0.005 옴/cm^2 ~ 0.1 옴/cm^2 수준으로 유지할 수 있는 효과가 있다.More specifically, the short side pitch of the engraved pattern 221 is not less than 20um and not more than 50um, and the long side pitch of the engraved pattern 221 is not less than 80um and not more than 200um so that the sheet resistance of the shielding layer is not less than 0.1 ohm / Cm < 2 > to less than 0.1 ohm / cm < 2 >

예를 들어, 음각 패턴의 폭을 10um, 피치를 300 um로 한 경우 표준 저항인 0.1 옴/cm^2 보다 양호한 0.04 옴/cm^2 으로 유지할 수 있고 광투과율은 대략 96%의 수준을 확보할 수 있는데, 음각 패턴의 폭을 동일하게 유지하면서 장변피치를 100 um, 단변피치를 50 um 로 형성하면, 광투과율을 비슷한 수준을 유지하면서, 표 면 저항을 0.02 옴/cm^2 이하로 향상시킬 수 있는 효과가 있다.   For example, if the width of the engraved pattern is 10 μm, and the pitch is 300 μm, it can be maintained at 0.04 ohm / cm ^ 2, which is better than the standard resistance of 0.1 ohm / cm ^ 2, and the light transmittance is about 96% When the long side pitch is set to 100 μm and the short side pitch is set to 50 μm while maintaining the width of the engraved pattern at the same level, the surface resistance is improved to 0.02 ohm / cm 2 or less while maintaining the same light transmittance There is an effect that can be.

이와 같이 표면 저항을 일정 수준(예를 들면,0.1 옴/cm^2) 이하가 되도록 함으로써, 42인치급 Full HD PDP급에서 요구되는 전자파 차폐 특성을 만족시킬 수 있는 것이다.Thus, by making the surface resistance to be a certain level (for example, 0.1 ohm / cm < 2 >) or less, the electromagnetic wave shielding property required in the 42 inch class Full HD PDP class can be satisfied.

또한, 도 4b에 도시된 바와 같이, 음각 패턴(221)의 단변 피치의 값이 작아질수록 장변 피치의 값이 증가되도록 할 수 있다.4B, as the value of the short side pitch of the engraved pattern 221 becomes smaller, the value of the long side pitch can be increased.

음각 패턴(221)의 단변 피치의 값이 작아질수록 장변 피치의 값이 증가되도록 함으로써, 단변 피치와 장변 피치의 곱에 의해 형성되는 면적 비율을 일정 수준으로 유지함으로써 전체적인 전자파 차폐효율을 적절하게 유지할 수 있다.By maintaining the ratio of the area formed by the product of the short side pitch and the long side pitch at a certain level by keeping the value of the long side pitch as the value of the short side pitch of the engraved pattern 221 becomes smaller, .

또한, 도 4c의 (a) 및 (b)에서 음각 패턴(221)의 폭은 적어도 3um이상 20um이하가 되도록 할 수 있다. 이와 같이 음각 패턴(221)의 폭은 적어도 3um이상 20um이하가 되도록 하는 것은 3um이상이 되도록 하여 음각 패턴(221) 내부에 형성되는 전자파 차폐층(230)의 폭을 일정 수준 이상으로 형성되도록 함으로써 전자파 차폐층(230)의 전기저항을 낮추어 전자파 차폐효과를 향상시킴과 아울러 20um이하가 되도록 하여 적절한 휘도 특성을 유지하기 위함이다. 또한, 이와 같이 함으로써 전체적으로 일정수준 이상의 적절한 콘트라스트 특성을 유지할 수 있는 것이다.In addition, the width of the engraved pattern 221 in FIGS. 4C and 4B may be at least 3 μm and not more than 20 μm. In order to make the width of the engraved pattern 221 at least equal to or greater than 3 um and equal to or smaller than 20 um, the width of the electromagnetic wave shielding layer 230 formed inside the engraved pattern 221 is formed to be equal to or greater than a certain level, The electric resistance of the shielding layer 230 is lowered to improve the electromagnetic wave shielding effect and to maintain the appropriate luminance characteristics to be less than 20 μm. By doing so, it is possible to maintain an appropriate contrast characteristic over a certain level as a whole.

보다 바람직하게는 음각 패턴(221)의 폭은 적어도 3um이상 10um이하가 되도록 할 수 있다. 이와 같이 음각 패턴(221)의 폭은 적어도 3um이상 10um이하가 되도록 하는 것은 전자파 차폐층의 면저항을 적정 수준이하로 유지함으로써 일정 수준 이상의 전자파 차폐 효과를 유지하면서 콘트라스트 특성을 일정 수준 이상으로 향 상시키기 위함이다.More preferably, the width of the engraved pattern 221 may be at least 3 μm or more and 10 μm or less. The width of the engraved pattern 221 should be at least 3um or more and 10um or less to maintain the sheet resistance of the electromagnetic wave shielding layer at or below a proper level to maintain the electromagnetic shielding effect above a certain level, It is for this reason.

예를 들어, 음각 패턴(221)의 폭이 10um인 경우, 전자파 차폐층의 면저항은 대략 0.02 옴/cm^2 ~ 0.04 옴/cm^2 수준으로 유지될 수 있다.For example, when the width of the engraved pattern 221 is 10 mu m, the sheet resistance of the electromagnetic wave shielding layer can be maintained at a level of approximately 0.02 ohm / cm ^ 2 to 0.04 ohm / cm ^ 2.

이때, 도 4c의 (a)와 같이 음각 패턴(221)의 단변 폭과 장변 폭이 서로 동일하게 되도록 형성할 수 있으나, (a)와 다르게 도 4c의 (b)와 같이 단변 폭보다 장변 폭을 더 넓게 형성하거나, (b)와 다르게 장변 폭보다 단변 폭을 더 넓게 형성할 수도 있다. 이는 광학 필터의 이면에 배치되는 디스플레이 패널의 R, G, B 단위 셀의 휘도 특성을 고려하기 위함이다. 예를 들어 R, G, B 단위 셀은 각각 다른 휘도 특성을 가지는데, 상대적으로 강한 휘도 특성을 갖는 단위 셀과 인접한 부분에 형성되는 음각 패턴(221)은 장변 폭을 상대적으로 두껍게 함으로써 전체적으로 고른 휘도 특성을 갖도록 할 수 있을 것이다. 이와 같은 음각 패턴(221)의 폭은 광학 필터의 수평 단면 위치에 따른 휘도 특성, 콘트라스트 비율 특성 및 전자파 차폐 특성을 고려하여 광학 필터의 수평 단면 위치에 따라 음각 패턴(221)의 폭을 다르게 형성할 수 있는 것이다.4C, the engraved pattern 221 may have a short side width and a long side width equal to each other. However, as shown in FIG. 4C (b), the long side width is shorter than the short side width The width of the short side may be wider than the width of the long side, unlike the case of (b). This is to consider the luminance characteristics of the R, G, and B unit cells of the display panel disposed on the back surface of the optical filter. For example, R, G, and B unit cells have different luminance characteristics. An engraved pattern 221 formed at a portion adjacent to a unit cell having a relatively strong luminance characteristic is formed by relatively thickening the long side width, Characteristics. The width of the engraved pattern 221 may be varied depending on the horizontal cross-sectional position of the optical filter in consideration of the luminance characteristic, the contrast ratio characteristic, and the electromagnetic wave shielding characteristic according to the horizontal cross-sectional position of the optical filter You can.

도 5a 내지 5b는 본 발명의 일례에 따른 광학 필터에서 음각 패턴이 형성된 수지층의 수직 단면에 대해서 보다 자세히 설명하기 위한 도이다.5A to 5B are views for explaining a vertical section of a resin layer formed with an engraved pattern in an optical filter according to an example of the present invention in more detail.

도 5a에 도시된 바와 같이, 음각 패턴(221)의 수직 단면의 형상은 도 5a와 같이, 삼각형(b), 사각형(a) 또는 사다리꼴(c)이 되도록 할 수도 있고, 도 5a의 (d)와 같은 삼각형의 형상이 변형 형성되도록 할 수도 있고, 도 5a의 (e)와 같이 삼각형, 사각형, 사다리꼴의 형상이 모두 포함되도록 음각 패턴(221)의 수직 단면을 형성할 수 있다. 도 5a의 (e)와 같은 경우, 광학 필터의 수평 단면 위치에 따른 휘도 특성, 콘트라스트 비율 특성, 전자파 차폐 특성이 다를 수 있으므로, 이를 고려하여 광학 필터의 위치에 따라 음각 패턴(221)의 수직 단면의 형상을 달리 할 수 있는 것이다. 5A, the shape of the vertical cross section of the engraved pattern 221 may be a triangle (b), a rectangle (a), or a trapezoid (c) as shown in FIG. 5A, And a vertical cross section of the engraved pattern 221 may be formed so as to include all the shapes of a triangle, a quadrangle, and a trapezoid as shown in (e) of FIG. 5A. 5A, since the luminance characteristic, the contrast ratio characteristic, and the electromagnetic wave shielding characteristic may vary depending on the position of the horizontal cross section of the optical filter, the vertical cross section of the engraved pattern 221 varies depending on the position of the optical filter, It is possible to change the shape of the surface.

여기서, 음각 패턴(221)의 깊이는 10um이상 40um이하가 되도록 할 수 있다. 이와 같이 음각 패턴(221)의 깊이가 10um이상 40um이하가 되도록 하는 것은 수지층(220)의 음각 패턴(221) 내부에 형성되는 전자파 차폐층(230)의 두께를 적정 수준에서 형성되도록 함으로써, 적정 수준이하로 전자파 차페층의 전기저항을 낮추어 전자파 차폐효율을 적정수준으로 유지함과 아울러 콘트라스트 특성을 일정수준 이상으로 향상시키기 위함이다. 이와 같이 음각 패턴(221)의 깊이도 전술한 바와 같이, 광학 필터의 수평 단면 위치에 따른 휘도 특성, 콘트라스트 비율 특성 및 전자파 차폐 특성을 고려하여 광학 필터의 수평 단면 위치에 따라 다르게 형성할 수 있다.Here, the depth of the engraved pattern 221 may be 10um or more and 40um or less. The thickness of the electromagnetic wave shielding layer 230 formed inside the engraved pattern 221 of the resin layer 220 is formed at an appropriate level so that the depth of the electromagnetic wave shielding layer 230 formed at the appropriate level The electric resistance of the electromagnetic wave shielding layer is lowered to maintain the electromagnetic wave shielding efficiency at an appropriate level and to improve the contrast property to a certain level or more. As described above, the depth of the engraved pattern 221 can be formed differently according to the horizontal cross-sectional position of the optical filter in consideration of the luminance characteristic, the contrast ratio characteristic, and the electromagnetic wave shielding characteristic according to the horizontal cross-sectional position of the optical filter.

또한, 더욱 바람직하게는 음각 패턴(221)의 깊이는 20um이상 30um이하가 되도록 할 수 있다. 이와 같이 음각 패턴(221)의 깊이가 20um이상 30um이하가 되도록 하는 것은 전자파 차폐층의 면저항을 일정 수준 이하로 양호하게 유지함으로써 일정수준의 전자파 차폐 특성을 유지하면서, 콘트라스트 특성을 일정 수준 이상으로 향상시키기 위함이다.Further, more preferably, the depth of the engraved pattern 221 can be set to be not less than 20um and not more than 30um. The reason why the depth of the engraved pattern 221 is 20um or more and 30um or less is to keep the sheet resistance of the electromagnetic wave shielding layer at a predetermined level or less and maintain the electromagnetic wave shielding property at a certain level, .

예를 들어, 음각 패턴(221)의 수직 단면 형상이 삼각형이고, 깊이가 25um인 경우, 전자파 차폐층의 면저항은 대략 0.02 옴/cm^2 ~ 0.04 옴/cm^2 수준으로 유지되고, 외부광이 전반사되는 비율을 상대적으로 더 낮추어 반사광을 줄일 수 있고, 이로 인해 콘트라스트 비가 향상될 수 있다.For example, when the vertical cross-sectional shape of the engraved pattern 221 is triangular and the depth is 25 um, the sheet resistance of the electromagnetic wave shielding layer is maintained at about 0.02 ohm / cm ^ 2 to 0.04 ohm / cm ^ 2, The total reflection ratio can be relatively lowered to reduce the reflection light, thereby improving the contrast ratio.

이와 같은 음각 패턴(221)의 폭과 깊이는 도 5b의 (a), (b), (c)와 같이, 광학 필터의 수평 단면의 위치에 따라 다르게 형성할 수 있다. 예를 들어, 광학 필터의 외곽 부위보다 중앙 부위의 콘트라스트 비 및 휘도 특성을 상대적으로 높게 유지하기 위해 음각 패턴(221)의 폭을 상대적으로 좁게, 깊이는 상대적으로 더 깊게 형성할 수 있는 것이다. 이와 같이 하면, 음각 패턴의 폭과 깊이에 의해 형성되는 부피를 적절하게 확보할 수 있어 광학 필터 전체적으로 균일한 전자파 차폐 효율을 얻으면서도, 디스플레이 패널의 중앙과 외곽 부분에서의 서로 다른 휘도 특성을 교정할 수 있는 것이다.The width and depth of the engraved pattern 221 can be formed differently depending on the position of the horizontal section of the optical filter as shown in FIGS. 5A, 5B, and 5C. For example, the width of the engraved pattern 221 may be relatively narrow and the depth may be relatively deeper in order to maintain the contrast ratio and luminance characteristics of the central portion relatively higher than the outer portion of the optical filter. In this manner, the volume formed by the width and the depth of the engraved pattern can be adequately ensured, thereby obtaining uniform electromagnetic wave shielding efficiency throughout the optical filter, and correcting different luminance characteristics at the center and outer portions of the display panel You can.

도 6은 본 발명의 일례에 따른 광학 필터에서 음각 패턴 내부에 형성되는 전자파 차폐층에 대해서 보다 자세히 설명하기 위한 도이다.FIG. 6 is a view for explaining the electromagnetic wave shielding layer formed inside the relief pattern in the optical filter according to an example of the present invention in more detail.

도시된 바와 같이, 전자파 차폐층(230)은 음각 패턴이 형성된 수지층(220) 내부에 소정의 두께로 형성된 금속 시드층(231) 및 금속 시드층(231) 내부에 형성된 금속층(232)을 포함할 수 있다.The electromagnetic wave shielding layer 230 includes a metal seed layer 231 and a metal layer 232 formed inside the resin seed layer 231 and the metal seed layer 231, can do.

여기서, 금속 시드층(231)의 두께는 적어도 0.01um이상 4um이하가 되도록 할 수 있다. 이와 같이 금속 시드층(231)의 두께가 적어도 0.01um이상이 되도록 하는 것은 금속 시드층(231)의 두께를 적절하게 확보함으로써 금속 시드층(231)의 저항값이 일정 수준 이하가 되도록 하여 적절한 전자파 차폐효율을 확보하기 위함이다. 또한, 금속 시드층(231)의 두께가 적어도 4um이하가 되도록 하는 것은 금속 시드층(231)의 두께를 적정 수준이하가 되도록 함으로써 금속층(232)의 두께를 적절하게 확보할 수 있어, 상대적으로 저항값이 낮은 금속층(232)을 통해 전자파에 의해 금속층(232) 내부에 형성된 전류가 광학 필터 외부로 보다 용이하게 배출되도록 하기 위함이다.Here, the thickness of the metal seed layer 231 may be at least 0.01 μm or more and 4 μm or less. The thickness of the metal seed layer 231 is set to be at least 0.01um or more by appropriately ensuring the thickness of the metal seed layer 231 so that the resistance value of the metal seed layer 231 becomes a certain level or less, This is to ensure shielding efficiency. In addition, the thickness of the metal seed layer 231 is set to be at least 4 탆, which makes it possible to appropriately secure the thickness of the metal layer 232 by making the thickness of the metal seed layer 231 equal to or less than a proper level, So that the current formed inside the metal layer 232 by the electromagnetic wave through the metal layer 232 having a low value can be more easily discharged to the outside of the optical filter.

더욱 바람직하게는 금속 시드층(231)의 두께가 적어도 0.01um이상 2um이하가 되도록 할 수 있다. 이와 같이 금속 시드층(231)의 두께가 적어도 0.01um이상 2um이하가 되도록 하는 것은 전자파 차폐 특성을 적절하게 유지하기 위해 표면 저항을 안정적으로 유지함과 아울러 금속층의 도금을 원할히 수행하기 위함이다. 예를 들어, 금속층(232)을 구리로 도금하는 경우, Ni-P 또는 Ni-Cr이 사용될 수 있는데, 이때, 금속 시드층(231)을 약 0.05um로 형성할 때 금속 시드층의 표면저항을 3~5홈 수준으로 유지하면서도, 안정적인 구리 도금이 가능하게 된다.More preferably, the thickness of the metal seed layer 231 can be at least 0.01um or more and 2um or less. The thickness of the metal seed layer 231 is set to be at least 0.01um or more and 2um or less in order to stably maintain the surface resistance and appropriately perform the plating of the metal layer in order to appropriately maintain the electromagnetic wave shielding property. For example, when the metal layer 232 is plated with copper, Ni-P or Ni-Cr may be used. At this time, when the metal seed layer 231 is formed to about 0.05 um, the surface resistance of the metal seed layer 3 to 5 While maintaining the home level, stable copper plating becomes possible.

또한, 여기서, 금속 시드층(231)은 블랙 계열의 물질이 포함되도록 할 수 있다. 이와 같이 금속 시드층(231)은 블랙 계열이 되도록 함으로써, 광학 필터를 통하여 디스플레이 패널 내부로 흡수되는 외부광을 효과적으로 흡수시킬 수 있어, 외부광이 디스플레이 패널 내부로 입사되어 반사되는 것을 차단할 수 있다. 이에 따라 디스플레이 패널 내부로 입사되는 외부광의 반사율을 저감시켜 콘트라스트 특성을 개선시킬 수 있다. Here, the metal seed layer 231 may include a black-based material. By forming the metal seed layer 231 to be black-colored, external light absorbed into the display panel through the optical filter can be effectively absorbed, and external light can be prevented from being reflected into the display panel. Accordingly, it is possible to reduce the reflectance of the external light incident into the display panel, thereby improving the contrast characteristic.

또한, 이에 따라 두 개 이상의 주기적인 물결무늬가 겹쳐져 생기는 간섭무늬(interference fringe)인 모아레(Moire)현상을 방지할 수 있는 것이다.In addition, it is possible to prevent a moire phenomenon which is an interference fringe caused by overlapping two or more periodic wave patterns.

보다 구체적으로, 콘트라스트 비는 (백색광 휘도+반사광 휘도)/(흑색광 휘도+반사광 휘도)로 정의될 수 있는데, 여기서, 금속 시드층(231)은 외부광에 의한 반사를 흡수하여 반사광 휘도를 낮추는 효과가 있고, 이로 인하여 콘트라스트 비가 향상되는 효과가 있다. 이는 블랙 계열의 금속 시드층(231)을 사용하지 않았을 경우보다 대략 2배 이상의 콘트라스트 비율 향상 효과가 있다.(ex. 사용전 120:1, 사용후 250:1)More specifically, the contrast ratio can be defined as (white light luminance + reflected light luminance) / (black light luminance + reflected light luminance) where the metal seed layer 231 absorbs reflection by external light, There is an effect that the contrast ratio is improved. This has an effect of improving the contrast ratio by about twice as much as that when the black seed metal layer 231 is not used (ex: 120: 1 before use and 250: 1 after use)

또한, 여기서, 금속 시드층(231)은 동(Cu), 니켈(Ni), 크롬(Cr), 철(Fe), 텅스텐(W), 인(P), 코발트(Co), 은(Ag), 니켈-인(Ni-P), 니켈-크롬(Ni-Cr), 산화구리Ⅱ(CuO) 중 적어도 하나를 포함하도록 할 수 있다. 이와 같이, 금속 시드층(231)이 전술한 바와 같은 물질이 포함되도록 함으로써, 금속 시드층(231)의 색깔이 블랙 계열의 물질이 되도록 할 수 있고, 전기 전도율도 높여 전자파 차폐의 효과를 더욱 향상 시킬 수 있는 효과가 있다.Here, the metal seed layer 231 may be formed of copper (Cu), nickel (Ni), chromium (Cr), iron (Fe), tungsten (W), phosphorus (P), cobalt (Co) , Nickel-phosphorus (Ni-P), nickel-chromium (Ni-Cr), and copper oxide II (CuO). As described above, when the metal seed layer 231 includes the above-described material, the color of the metal seed layer 231 can be made to be a black-based material, and the electrical conductivity can be increased to further enhance the effect of electromagnetic wave shielding There is an effect that can be made.

또한, 금속층(232)은 동(Cu), 은(Ag), 알루미늄(Al), 니켈(Ni), 크롬(Cr), 니켈-인(Ni-P), 니켈-크롬(Ni-Cr), 산화구리Ⅱ(CuO) 중 적어도 하나를 포함하도록 할 수 있다. 이와 같이 금속층(232)이 전술한 바와 같은 물질이 포함되도록 함으로써, 금속층(232)의 전기 전도율이 상대적으로 금속 시드층(231)의 물질과 같거나 더 높은 특성을 가지도록 할 수 있다. 이에 따라 금속 시드층(231)에서 흡수된 전자파를 더욱 용이하게 광학 필터 외부로 배출되도록 함으로써 전자파 차폐의 효과를 더욱 높이는 효과가 있다.The metal layer 232 may be formed of at least one selected from the group consisting of copper (Cu), silver (Ag), aluminum (Al), nickel (Ni), chromium (Cr), nickel- And copper oxide II (CuO). By making the metal layer 232 include the above-described material, the electrical conductivity of the metal layer 232 can be made relatively equal to or higher than that of the material of the metal seed layer 231. Accordingly, the electromagnetic wave absorbed in the metal seed layer 231 is more easily discharged to the outside of the optical filter, thereby further enhancing the effect of electromagnetic wave shielding.

도 7은 본 발명의 일례에 따른 광학 필터에서 전자파 차폐층(230) 이외의 다 른 기능성 필터층이 형성된 일례를 설명하기 위한 도이다.7 is a view for explaining an example in which another functional filter layer other than the electromagnetic wave shielding layer 230 is formed in the optical filter according to the example of the present invention.

도 7의 (a)에 도시된 바와 같이, 투명 베이스 기판(210) 상에 음각 패턴(221)이 형성된 수지층(220)을 배치하고, 수지층(220)의 음각 패턴(221) 내부에 금속층(232)과 금속 시드층(231)을 포함하는 전자파 차폐층(230)을 형성하고, 수지층(220) 상에 색보정층(710), 근적외선(Near Infrared Ray:NIR) 차폐층(720), 반사 방지(Anti-Reflection:AR)층(730), 눈부심 방지(Anti-Glared:AG)층(740)이 더 형성되도록 할 수 있다.7A, a resin layer 220 formed with an engraved pattern 221 is disposed on a transparent base substrate 210, and a metal layer 220 is formed in the engraved pattern 221 of the resin layer 220, An electromagnetic wave shielding layer 230 including a metal seed layer 232 and a metal seed layer 231 is formed and a color correction layer 710 and a near infrared ray shielding layer 720 are formed on the resin layer 220, An anti-reflection (AR) layer 730, and an anti-glare layer (AG) layer 740 may be further formed.

이와 같이, 금속 시드층(231)은 외부로부터 들어오는 빛을 흡수하고, 반사를 최소화함으로써, 콘트라스트를 더욱 향상시킬 수 있고, 사용자는 더욱 선명한 화질을 감상할 수 있도록 도와준다.As described above, the metal seed layer 231 absorbs light from the outside and minimizes reflection, thereby further improving the contrast and allowing the user to appreciate a clearer image quality.

이하 각 기능 층에 대해 보다 상세히 설명한다.Hereinafter, each functional layer will be described in more detail.

눈부심 방지(Anti-Glared:AG)층(740)은 표면에 작은 돌기가 형성되면 외부로부터 들어오는 빛은 작은 돌기에 의해 여러 방향으로 산란하여 난반사 하게 된다.When a small protrusion is formed on the surface of the Anti-Glared (AG) layer 740, the light coming from the outside is scattered in various directions by small protrusions and diffused.

이와 같이 되면, 사용자가 디스플레이 장치에 의하여 표시된 영상을 관측할 때 외부로부터 디스플레이 화면에 입사되는 빛은 작은 돌기로 인해 산란, 난반사 하게 되고 이로 인해 빛은 여러 방향으로 퍼지게 된다. In this case, when the user observes the image displayed by the display device, the light incident on the display screen from the outside is scattered or diffused due to the small projection, and the light spreads in various directions.

따라서 필터 표면의 작은 돌기는 외부 빛의 입사에 대한 직접적인 반사광을 줄이고, 사용자의 눈으로 입사되는 외부 빛을 최대한 억제할 수 있는 것이다. Therefore, the small projections on the filter surface can reduce the direct reflected light to the incidence of the external light, and can suppress the external light incident on the user's eye as much as possible.

따라서 사용자는 외부 빛이 일 방향으로 반사되는 빛의 양에 비해 훨씬 작은 양의 빛이 반사된 외부광만을 인식하게 되므로, 눈부심 현상을 훨씬 덜 느끼게 된 다. 그리하여 사용자는 본래 관측하고자 하는 플라즈마 디스플레이 장치에 의하여 구현되는 영상을 보다 선명하고 용이하게 관측할 수 있고 보다 선명한 영상을 감상할 수는 것이다.Therefore, the user can perceive only the external light reflected by the amount of light, which is much smaller than the amount of light reflected by the external light in one direction. Thus, the user can observe the image displayed by the plasma display device, which is originally intended to be observed, more clearly and easily, and appreciate the clearer image.

반사 방지(AR)층(730)은 디스플레이 패널이나 컴퓨터, 모니터 등의 화면을 볼 때 자외선 차단 및 외부 반사광을 줄임으로써 콘트라스트를 향상시키는 기능이 있다.The anti-reflection (AR) layer 730 has a function of improving the contrast by reducing ultraviolet rays and external reflected light when viewing a screen of a display panel, a computer, or a monitor.

일반적으로, 완전히 투명하다고 생각하는 유리의 경우도 실제 투과도는 92% 미만이다. 나머지는 반사에 의해 일어나는 손실이다. 이와 같이 반사에 의해 일어나는 손실을 줄이기 위해, 빛 투과율이 거의 100%에 인접하는 반사 방지(AR)층(730)을 이용하여 이러한 반사를 줄임으로써 보다 선명한 영상을 감상할 수 있는 것이다.In general, the actual transmittance is also less than 92% for glasses which are considered completely transparent. The rest is loss caused by reflection. In order to reduce the loss caused by reflection, it is possible to appreciate a clearer image by reducing the reflection by using the antireflection (AR) layer 730 adjacent to almost 100% of the light transmittance.

근적외선 차폐층(720)은 근적외선을 차폐하는 기능이 있다. 예를 들어, 플라즈마 디스플레이 장치는 플라즈마 방전을 위해 고전압 및 고주파를 인가하여 화상을 구현하기 때문에 Ne, Xe과 같은 불활성 가스로부터 유도되는 0.75㎛∼3㎛인 파장의 근적외선(Near Infrared Ray)을 방출하게 되는데, 이러한 근적외선은 가전제품의 리모트 컨트롤러 파장과 매우 가까워 오작동을 일으키는 문제점이 있을 수 있는데, 근적외선 차폐층(720)은 이와 같은 문제를 일으키는 근적외선을 차폐하는 기능을 한다.The near infrared ray shielding layer 720 has a function of shielding near infrared rays. For example, the plasma display device emits a near infrared ray having a wavelength of 0.75 mu m to 3 mu m derived from an inert gas such as Ne, Xe because it implements an image by applying high voltage and high frequency for plasma discharge The near-infrared ray shielding layer 720 shields near-infrared rays that cause such a problem. The near-infrared ray shielding layer 720 shields near-infrared rays.

색보정층(710)은 색 조절 염료를 포함하여 색조를 조절함으로써 색 순도를 높이는 역할을 한다. 이와 같은 색 보정층은 PDP 패널 등의 디스플레이 장치로부터 입사되는 가시광 중 특정색의 휘도는 낮추고, 특정색의 휘도는 높일 수 있는 효과가 있다. 예를 들어, 적색 및 녹색의 휘도를 낮추고, 청색의 휘도를 상대적으로 높여 광특성을 향상시킬 수 있는 것이다.The color correction layer 710 includes a color control dye and serves to enhance the color purity by adjusting the color tone. Such a color compensation layer has the effect of lowering the luminance of a specific color among the visible light incident from a display device such as a PDP panel and increasing the luminance of a specific color. For example, the luminance of red and green may be lowered and the luminance of blue may be relatively increased to improve the optical characteristics.

이와 같은 각 기능층들은 점착층을 형성하는 접착막으로 접착되도록 할 수 있다. 이와 같은 점착층들은 실리콘계 또는 아크릴계 점착층 등을 사용할 수 있고, 이러한 점착제에는 자외선 차단제 및 착색염료, 열화 방지제와 같은 첨가물들이 적절하게 점가될 수 있다.Each of these functional layers may be adhered to an adhesive film forming an adhesive layer. Such adhesive layers may be silicon-based or acrylic-based adhesive layers, and additives such as ultraviolet screening agents, coloring dyes, and deterioration inhibitors may suitably be used as such pressure-sensitive adhesives.

또한, 도 7의 (a)와 다르게, (b)와 같이, 음각 패턴(221)의 수직 단면 형상을 삼각형으로 한 경우, 금속 시드층(231)에 의해 외부로부터 들어오는 빛이 흡수됨과 아울러 수지층(220)의 음각 패턴(221)에 의해 외부로부터 들어오는 빛이 반사되더라도 직접적으로 사용자에게 반사되지 아니하도록 할 수 있어 콘트라스트 특성을 더욱 향상시키는 효과가 있다.7A, if the vertical cross-sectional shape of the engraved pattern 221 is triangular, the light entering from the outside is absorbed by the metal seed layer 231, Even when light coming from the outside is reflected by the engraved pattern 221 of the display panel 220, it is not directly reflected to the user, thereby further improving the contrast characteristic.

도 8은 본 발명의 일례에 따른 광학 필터의 제조 방법 일례를 설명하기 위한 도이다.8 is a view for explaining an example of a manufacturing method of an optical filter according to an example of the present invention.

도시된 바와 같이, 본 발명의 일례에 따른 광학 필터를 제조 방법은 적층단계(S10), 패턴 형성단계(S20) 및 전자파 차폐층(230) 형성단계(S30)를 포함한다.As shown in the figure, a method of manufacturing an optical filter according to an exemplary embodiment of the present invention includes a lamination step S10, a pattern formation step S20, and an electromagnetic wave shielding layer formation step S30.

적층단계(S10)에서는 투명 베이스 기판(210) 상에 수지층(220)을 적층한다. 그리고, 패턴 형성단계(S20)에서는 수지층(220)에 소정의 음각 패턴(221)을 형성한다. 여기서, 음각 패턴(221)을 형성하기 위해 패턴 형성 단계는 소정의 음각 패 턴(221)이 형성되도록 하는 양각 형상을 포함하는 몰드(Mold)를 수지층(220)의 상부에 압박하는 임프린팅(Imprinting)단계를 더 포함할 수 있다.In the laminating step (S10), the resin layer 220 is laminated on the transparent base substrate 210. In the pattern forming step S20, a predetermined engraved pattern 221 is formed on the resin layer 220. [ Here, the pattern forming step for forming the engraved pattern 221 includes imprinting for pressing a mold including a relief shape to form a predetermined engraved pattern 221 on the upper portion of the resin layer 220 Imprinting) step.

이와 같이 몰드를 이용하여 수지층(220)에 음각 패턴(221)을 형성하는 방법은 제조 공정을 간단히 하고 제조 시간을 단축하여 생산 수율을 향상시킬 수 있는 효과가 있다. 예컨대, 이와 같이 몰드를 이용한 임프린팅 단계는 종래의 방법에서 필요한 노광, 현상 공정 같은 복잡하고 고가인 공정을 요구하지 않으며, 오프셋 방식(Offset) 공정과 같이 별도의 장비를 요구하지 않는다. 따라서 광학 필터의 제조 공정을 상대적으로 간소화할 수 있고, 제조 비용도 상대적으로 절감하는 효과가 있다.The method of forming the engraved pattern 221 on the resin layer 220 using the mold has the effect of simplifying the manufacturing process, shortening the manufacturing time, and improving the production yield. For example, the imprinting step using the mold does not require complicated and expensive processes such as exposure and development processes required in the conventional method, and does not require a separate equipment such as an offset process. Therefore, the manufacturing process of the optical filter can be relatively simplified, and the manufacturing cost can be relatively reduced.

여기서, 음각 패턴(221)의 수평 단면의 형상은 삼각형, 사각형, 오각형 또는 육각형 중 적어도 어느 하나를 포함할 수 있다. 이때, 수평 단면의 형성이 사각형인 경우, 음각 패턴(221)의 피치는 적어도 10um이상 300um이하가 되도록 할 수 있다. 보다 바람직하게는 음각 패턴(221)의 수평 단면 형상은 직사각형을 포함하는 경우, 음각 패턴(221)의 단변 피치는 20um이상 50um이하가 되도록 할 수 있고, 음각 패턴(221)의 장변 피치는 80um이상 200um이하가 되도록 할 수 있다. Here, the shape of the horizontal cross section of the engraved pattern 221 may include at least one of a triangle, a rectangle, a pentagon, and a hexagon. At this time, when the formation of the horizontal cross section is a quadrangle, the pitch of the engraved pattern 221 may be at least 10um to 300um. More preferably, if the horizontal cross-sectional shape of the engraved pattern 221 includes a rectangle, the short side pitch of the engraved pattern 221 may be 20um or more and 50um or less, and the long side pitch of the engraved pattern 221 may be 80um or more It can be made to be 200um or less.

이때, 음각 패턴(221)의 단변 피치의 값이 작아질수록 장변 피치의 값은 증가되도록 음각 패턴(221)을 형성할 수 있다.At this time, the engraved pattern 221 can be formed so that the value of the long side pitch increases as the short side pitch of the engraved pattern 221 becomes smaller.

또한, 음각 패턴(221)의 최대 폭은 적어도 3um이상 20um이하가 되도록 할 수 있다. 보다 바람직하게는 음각 패턴(221)의 최대 폭은 적어도 3um이상 10um이하가 되도록 제조할 수 있다.In addition, the maximum width of the engraved pattern 221 can be set to be at least 3um and not more than 20um. More preferably, the maximum width of the engraved pattern 221 can be made to be at least 3um and not more than 10um.

그리고 음각 패턴(221)의 수직 단면의 형상은 삼각형, 사각형 또는 사다리꼴 중 적어도 어느 하나를 포함되도록 제조할 수 있다. 여기서, 음각 패턴(221)의 깊이는 10um이상 40um이하가 되도록 제조할 수 있다. 보다 바람직하게는 음각 패턴(221)의 깊이는 20um이상 30um이하가 되도록 제조할 수 있다.The shape of the vertical section of the engraved pattern 221 may be formed to include at least one of a triangle, a square, and a trapezoid. Here, the depth of the engraved pattern 221 can be made to be 10um or more and 40um or less. More preferably, the depth of the engraved pattern 221 can be made to be 20um or more and 30um or less.

전자파 차폐층(230) 형성단계(S30)에서는 음각 패턴(221) 내부에 전자파 차폐층(230)을 형성한다. 이와 같은 전자파 차폐층(230) 형성단계(S30)는 도 9에서 보다 자세히 설명한다.In the step of forming the electromagnetic wave shielding layer 230 (S30), the electromagnetic wave shielding layer 230 is formed in the recessed pattern 221. The step S30 of forming the electromagnetic wave shielding layer 230 will be described in more detail with reference to FIG.

도 9는 본 발명의 일례에 따른 광학 필터의 제조 방법에서 전자파 차폐층(230)을 제조하기 위한 일례를 설명하기 위한 도이다.9 is a view for explaining an example for manufacturing the electromagnetic wave shielding layer 230 in the method of manufacturing an optical filter according to an example of the present invention.

도시된 바와 같이, 전자파 차폐층(230) 형성단계(S30)는 표면 처리단계(S31), 금속 시드층(231) 형성 단계(S32), 양각부(222) 금속 시드층(231) 제거단계(S33), 금속층(232) 형성 단계(S34)를 포함할 수 있다.The forming step S30 of the electromagnetic wave shielding layer 230 may include a surface treatment step S31, a metal seed layer forming step S32, a burying part 222 removing the metal seed layer 231 S33), and a metal layer 232 forming step (S34).

표면 처리단계(S31)에서는 금속 시드층(231)과 수지층(220)과의 부착성을 향상시키기 위하여 음각 패턴(221)으로 패터닝(Patterning)된 수지층(220) 상부를 화학표면 처리를 통해 아민계의 반응기를 부여하여 촉매(염화카드늄)와의 반응성이 향상되도록 표면처리 한다. 이와 같은 표면 처리단계(S31)를 위해 에칭 처리, 촉매 처리, 플라즈마 처리 또는 이온빔 처리 중 어느 하나에 의한 방법을 사용할 수 있다.In the surface treatment step S31, in order to improve the adhesion between the metal seed layer 231 and the resin layer 220, the upper part of the resin layer 220 patterned with the engraved pattern 221 is subjected to chemical surface treatment An amine-based reactor is provided to perform surface treatment so as to improve the reactivity with the catalyst (cadmium chloride). For such surface treatment step S31, any one of an etching treatment, a catalyst treatment, a plasma treatment or an ion beam treatment may be used.

금속 시드층(231) 형성 단계(S32)에서는 수지층(220)의 음각 패턴(221) 내부 에 금속 시드층(231)을 소정의 두께로 형성한다. 이와 같은 금속 시드층(231) 형성을 위해 무전해 도금, 화학 증착 공법(Chemical Vapor Deposition;CVD), 스퍼터링(Sputtering) 또는 인쇄 중 어느 하나의 방법을 사용할 수 있다.In the metal seed layer 231 forming step S32, the metal seed layer 231 is formed to a predetermined thickness inside the engraved pattern 221 of the resin layer 220. The metal seed layer 231 may be formed by any one of electroless plating, chemical vapor deposition (CVD), sputtering, and printing.

이와 같이 무전해 도금, 화학 증착 공법(Chemical Vapor Deposition;CVD), 스퍼터링(Sputtering) 또는 인쇄 중 어느 하나의 방법을 사용하여 금속 시드층(231)을 형성함으로써, 광학 필터 형성시 가장 문제되는 기포를 거의 발생시키지않아 영상 필터의 유니포머티(Uniformity)를 획기적으로 높일 수 있는 효과가 있다.By forming the metal seed layer 231 using any one of electroless plating, chemical vapor deposition (CVD), sputtering, and printing, it is possible to form the metal seed layer 231, It is possible to dramatically increase the uniformity of the image filter without causing it to occur.

또한, 공정 중에 자연스럽게 영상 필터의 유니포머티를 향상시킴으로써, 불량률을 상대적으로 감소시킬 수 있고, 공정 수율을 상대적으로 향상시키는 효과가 있다.In addition, by improving the uniformity of the image filter naturally during the process, it is possible to relatively reduce the defect rate and improve the process yield relatively.

또한, 이와 같은 방식에 의하면, 미세 두께를 요구하는 금속 시드층(231)의 두께를 보다 용이하게 형성할 수 있어 제작시 불량률을 크게 감소시키는 효과가 있다.According to such a method, the thickness of the metal seed layer 231 requiring a fine thickness can be more easily formed, and the defect rate at the time of fabrication can be greatly reduced.

이때, 금속 시드층(231)의 두께는 적어도 0.01um이상 4um이하가 되도록 할 수 있다. 보다 바람직하게는 금속 시드층(231)의 두께는 적어도 0.01um이상 2um이하가 되도록 할 수 있다. 이때, 금속 시드층(231)은 블랙 계열의 물질을 사용할 수 있고, 동(Cu), 니켈(Ni), 크롬(Cr), 철(Fe), 텅스텐(W), 인(P), 코발트(Co), 은(Ag), 니켈-인(Ni-P), 니켈-크롬(Ni-Cr), 산화구리Ⅱ(CuO) 중 적어도 하나를 포함되도록 제조할 수 있다. At this time, the thickness of the metal seed layer 231 may be at least 0.01 um or more and 4 um or less. More preferably, the thickness of the metal seed layer 231 may be at least 0.01 μm or more and 2 μm or less. At this time, the metal seed layer 231 can be made of a black-based material and can be formed of copper (Cu), nickel (Ni), chromium (Cr), iron (Fe), tungsten Co, silver (Ag), nickel-phosphorus (Ni-P), nickel-chromium (Ni-Cr) and copper oxide II (CuO).

양각부(222) 금속 시드층(231) 제거단계에서는 수지층(220) 상에서 음각 패턴(221) 내부를 제외한 양각부(222)에 형성된 금속 시드층(231)을 제거한다. 이를 위해, 양각부(222) 금속시드층 제거단계에서는 CMP(Chemical Mechanical Polishing) 공법, 연마 방법, 브러싱(Brushing) 방법 중 어느 하나의 방법을 사용하여 양각부(222)에 형성된 금속 시드층(231)을 제거할 수 있다.In the step of removing the metal seed layer 231, the metal seed layer 231 formed on the embossed portion 222 is removed from the resin layer 220 except for the inside of the engraved pattern 221. For this, in the step of removing the metal seed layer 222, the metal seed layer 231 formed in the embossing portion 222 is formed by using any one of a chemical mechanical polishing (CMP) method, a polishing method and a brushing method. Can be removed.

금속층 형성 단계에서는 금속 시드층(231)의 내부에 금속층(232)을 형성한다. 이와 같은 금속층(232)의 물질은 동(Cu), 은(Ag), 알루미늄(Al), 니켈(Ni), 크롬(Cr), 니켈-인(Ni-P), 니켈-크롬(Ni-Cr), 산화구리Ⅱ(CuO) 중 적어도 하나를 포함하여 음각 패턴(221)내부에 형성된 금속 시드층(231) 내부에 금속층(232)을 선택적으로 형성할 수 있다.In the metal layer formation step, the metal layer 232 is formed in the metal seed layer 231. The material of the metal layer 232 may be selected from the group consisting of Cu, Ag, Al, Ni, Cr, Ni-P, Ni-Cr, ) And CuO to selectively form a metal layer 232 in the metal seed layer 231 formed in the engraved pattern 221. The metal seed layer 231 is formed on the metal seed layer 231,

일례로, 금속 시드층(231) 형성 단계(S32)에서는 금속 시드층(231)을 음각패턴이 형성된 수지층(220)의 음각 패턴(221) 내부와 음각 패턴(221)을 제외한 양각부(222)에 상에 무전해 도금하고, 양각부(222)에 형성된 금속 시드층(231)을 CMP(Chemical Mechanical Polishing) 공법, 연마 방법, 브러싱(Brushing) 방법 중 어느 하나를 사용하여 제거한 다음, 금속 시드층(231) 내부에 금속층(232)을 선택적으로 전해 도금함으로써, 금속층(232)을 선택적으로 형성할 수 있는 것이다.The metal seed layer 231 is formed in the depressed pattern 221 of the resin layer 220 having the depressed pattern 220 and the embossed portion 222 of the depressed pattern 221 except for the depressed pattern 221 in the step of forming the metal seed layer 231 And then the metal seed layer 231 formed on the embossed portion 222 is removed by any one of CMP (Chemical Mechanical Polishing) method, polishing method and Brushing method, The metal layer 232 can be selectively formed by selectively electrolytically plating the metal layer 232 in the layer 231.

이상의 설명은 본 발명의 기술 사상을 예시적으로 설명한 것에 불과한 것으로서, 본 발명이 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자라면 본 발명의 본질적인 특성에서 벗어나지 않는 범위 내에서 다양한 수정, 변경 및 치환이 가능할 것 이다. 따라서, 본 발명에 개시된 실시예 및 첨부된 도면들은 본 발명의 기술 사상을 한정하기 위한 것이 아니라 설명하기 위한 것이고, 이러한 실시예 및 첨부된 도면에 의하여 본 발명의 기술 사상의 범위가 한정되는 것은 아니다. 본 발명의 보호 범위는 아래의 청구범위에 의하여 해석되어야 하며, 그와 동등한 범위 내에 있는 모든 기술 사상은 본 발명의 권리범위에 포함되는 것으로 해석되어야 할 것이다.It will be apparent to those skilled in the art that various modifications, substitutions and substitutions are possible, without departing from the scope and spirit of the invention as disclosed in the accompanying claims. will be. Therefore, the embodiments disclosed in the present invention and the accompanying drawings are intended to illustrate and not to limit the technical spirit of the present invention, and the scope of the technical idea of the present invention is not limited by these embodiments and the accompanying drawings . The scope of protection of the present invention should be construed according to the following claims, and all technical ideas within the scope of equivalents should be construed as falling within the scope of the present invention.

도 1a 내지 도 1c는 종래 기술에 따른 광학 필터의 구조를 설명하기 위한 도.FIGS. 1A to 1C are diagrams for explaining the structure of an optical filter according to the related art; FIG.

도 2는 본 발명의 일례에 따른 광학 필터의 일례를 설명하기 위한 도.2 is a view for explaining an example of an optical filter according to an example of the present invention;

도 3은 본 발명의 일례에 따른 광학 필터에서 수지층에 형성된 소정의 음각 패턴의 다양한 일례를 설명하기 위한 도.3 is a view for explaining various examples of a predetermined engraved pattern formed on a resin layer in an optical filter according to an example of the present invention;

도 4a 내지 4c는 본 발명의 일례에 따른 광학 필터에서 음각 패턴이 형성된 수지층의 수평 단면에 대해서 보다 자세히 설명하기 위한 도.4A to 4C are views for explaining in detail a horizontal section of a resin layer formed with an engraved pattern in an optical filter according to an example of the present invention.

도 5a 내지 5b는 본 발명의 일례에 따른 광학 필터에서 음각 패턴이 형성된 수지층의 수직 단면에 대해서 보다 자세히 설명하기 위한 도.FIGS. 5A and 5B are views for explaining a vertical section of a resin layer formed with an engraved pattern in an optical filter according to an example of the present invention;

도 6은 본 발명의 일례에 따른 광학 필터에서 음각 패턴 내부에 형성되는 전자파 차폐층에 대해서 보다 자세히 설명하기 위한 도.6 is a view for explaining the electromagnetic wave shielding layer formed inside the relief pattern in the optical filter according to an example of the present invention in more detail;

도 7은 본 발명의 일례에 따른 광학 필터에서 전자파 차폐층 이외의 다른 기능성 필터층이 형성된 일례를 설명하기 위한 도.7 is a view for explaining an example in which a functional filter layer other than the electromagnetic wave shielding layer is formed in the optical filter according to the example of the present invention.

도 8은 본 발명의 일례에 따른 광학 필터의 제조 방법 일례를 설명하기 위한 도.8 is a view for explaining an example of a manufacturing method of an optical filter according to an example of the present invention.

도 9는 본 발명의 일례에 따른 광학 필터의 제조 방법에서 전자파 차폐층을 제조하기 위한 일례를 설명하기 위한 도.9 is a view for explaining an example for manufacturing an electromagnetic wave shielding layer in the method of manufacturing an optical filter according to an example of the present invention.

<도면의 주요 부분에 대한 도면 부호의 설명>DESCRIPTION OF THE RELATED ART [0002]

210 : 투명 베이스 기판220 : 수지층210: transparent base substrate 220: resin layer

221 : 음각 패턴230 : 전자파 차폐층221: engraved pattern 230: electromagnetic wave shielding layer

231 : 금속 시드층232 : 금속층231: metal seed layer 232: metal layer

Claims (28)

투명 베이스 기판;A transparent base substrate; 상기 투명 베이스 기판 상에 배치되고, 소정의 음각 패턴이 형성된 수지층; 및A resin layer disposed on the transparent base substrate and formed with a predetermined engraved pattern; And 상기 수지층의 음각 패턴 내부에 배치되고 전자파 차폐를 위한 전자파 차폐층;An electromagnetic wave shielding layer disposed inside the engraved pattern of the resin layer and shielding electromagnetic waves; 을 포함하되, 상기 전자파 차폐층은 상기 수지층 내부에 소정의 두께로 형성된 금속 시드층 및 상기 금속 시드층 내부에 형성된 금속층을 포함하는 것을 특징으로 하는 광학 필터.Wherein the electromagnetic wave shielding layer comprises a metal seed layer formed to a predetermined thickness inside the resin layer and a metal layer formed inside the metal seed layer. 제 1 항에 있어서,The method according to claim 1, 상기 음각 패턴에 의해 형성된 수평 단면의 형상은 삼각형 또는 사각형 중 어느 하나를 포함하는 것을 특징으로 하는 광학 필터.Wherein the shape of the horizontal cross section formed by the engraved pattern includes either a triangle or a quadrangle. 제 2 항에 있어서,3. The method of claim 2, 상기 수평 단면 형상은 사각형을 포함하고,Wherein the horizontal cross-sectional shape comprises a rectangle, 상기 음각 패턴의 피치는 적어도 10um이상 300um이하인 것을 특징으로 하는 광학 필터.Wherein the pitch of the engraved pattern is at least 10um and not more than 300um. 제 3 항에 있어서,The method of claim 3, 상기 사각형은 직사각형을 포함하고,Wherein the rectangle comprises a rectangle, 상기 음각 패턴의 단변 피치는 20um이상 50um이하인 것을 특징으로 하는 광학 필터.And the short side pitch of the engraved pattern is 20um or more and 50um or less. 제 4 항에 있어서,5. The method of claim 4, 상기 음각 패턴의 장변 피치는 80um이상 200um이하인 것을 특징으로 하는 광학 필터.Wherein the long side pitch of the engraved pattern is 80um or more and 200um or less. 제 5 항에 있어서,6. The method of claim 5, 상기 음각 패턴의 단변 피치의 값이 작아질수록 상기 장변 피치의 값은 증가하는 것을 특징으로 하는 광학 필터.And the value of the long side pitch increases as the value of the short side pitch of the engraved pattern decreases. 제 4 항에 있어서,5. The method of claim 4, 상기 음각 패턴의 폭은 적어도 3um이상 20um이하인 것을 특징으로 하는 광학 필터.Wherein the width of the engraved pattern is at least 3um and not more than 20um. 제 4 항에 있어서,5. The method of claim 4, 상기 음각 패턴의 폭은 적어도 3um이상 10um이하인 것을 특징으로 하는 광학 필터.Wherein the width of the engraved pattern is at least 3 um and less than 10 um. 제 2 항에 있어서,3. The method of claim 2, 상기 음각 패턴의 수직 단면의 형상은 삼각형, 사각형 또는 사다리꼴 중 적어도 어느 하나를 포함하는 것을 특징으로 하는 광학 필터.Wherein the shape of the vertical section of the engraved pattern includes at least one of a triangle, a quadrangle, and a trapezoid. 제 9 항에 있어서,10. The method of claim 9, 상기 음각 패턴의 수직 단면 깊이는 10um이상 40um이하인 것을 특징으로 하는 광학 필터.Wherein the vertical section depth of the engraved pattern is 10um or more and 40um or less. 제 9 항에 있어서,10. The method of claim 9, 상기 음각 패턴의 수직 단면 깊이는 20um이상 30um이하인 것을 특징으로 하는 광학 필터.Wherein the vertical cross-sectional depth of the engraved pattern is 20um or more and 30um or less. 삭제delete 제 1 항에 있어서,The method according to claim 1, 금속 시드층의 두께는 적어도 0.01um이상 4um이하인 것을 포함하는 것을 특징으로 하는 광학 필터.Wherein the thickness of the metal seed layer is at least 0.01 탆 and not more than 4 탆. 제 1 항에 있어서,The method according to claim 1, 금속 시드층의 두께는 적어도 0.01um이상 2um이하인 것을 포함하는 것을 특징으로 하는 광학 필터.Wherein the thickness of the metal seed layer is at least 0.01um and not more than 2um. 제 1 항에 있어서,The method according to claim 1, 상기 금속 시드층은 블랙 계열의 물질인 것을 특징으로 하는 광학 필터.Wherein the metal seed layer is a black-based material. 제 1 항에 있어서,The method according to claim 1, 상기 금속 시드층은 동(Cu), 니켈(Ni), 크롬(Cr), 철(Fe), 텅스텐(W), 인(P), 코발트(Co), 은(Ag), 니켈-인(Ni-P), 니켈-크롬(Ni-Cr), 산화구리Ⅱ(CuO) 중 적어도 하나를 포함하는 것을 특징으로 하는 광학 필터.The metal seed layer may include at least one of copper (Cu), nickel (Ni), chromium (Cr), iron (Fe), tungsten (W), phosphorus (P), cobalt (Co), silver (Ag) -P), nickel-chromium (Ni-Cr), and copper oxide II (CuO). 제 1 항에 있어서,The method according to claim 1, 상기 금속층은 동(Cu), 은(Ag), 알루미늄(Al), 니켈(Ni), 크롬(Cr), 니켈-인(Ni-P), 니켈-크롬(Ni-Cr), 산화구리Ⅱ(CuO) 중 적어도 하나를 포함하는 것을 특징으로 하는 광학 필터.The metal layer may be at least one selected from the group consisting of Cu, Ag, Al, Ni, Cr, Ni-P, Ni-Cr, CuO). &Lt; / RTI &gt; 제 1 항에 있어서,The method according to claim 1, 상기 투명 베이스 기판은 The transparent base substrate 수지성 필름(Film) 또는 투명 글라스(Glass) 중 어느 하나를 포함하는 것을 특징으로 하는 광학 필터.Wherein the optical filter comprises one of a resin film (Film) and a transparent glass (Glass). 제 18 항에 있어서,19. The method of claim 18, 상기 수지성 필름(Film)은 아크릴 감압성 접착제(Pressure Sensitive Adhesive:PSA)를 포함하는 것을 특징으로 하는 광학 필터.Wherein the resin film comprises an acrylic pressure sensitive adhesive (PSA). 투명 베이스 기판 상에 수지층을 적층하는 적층단계;A lamination step of laminating a resin layer on a transparent base substrate; 상기 수지층에 소정의 음각 패턴을 형성하는 패턴 형성단계; 및A pattern forming step of forming a predetermined engraved pattern on the resin layer; And 상기 음각 패턴 내부에 전자파 차폐층을 형성하는 전자파 차폐층 형성단계;An electromagnetic wave shielding layer forming step of forming an electromagnetic wave shielding layer inside the engraved pattern; 를 포함하되, 상기 전자파 차폐층 형성단계는 상기 수지층의 음각 패턴 내부에 금속 시드층을 소정의 두께로 형성하는 금속 시드층 형성 단계; 및 상기 금속 시드층의 내부에 금속층을 형성하는 금속층 형성 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 광학 필터의 제조 방법.Wherein the step of forming the electromagnetic wave shielding layer comprises: forming a metal seed layer having a predetermined thickness in the depressed pattern of the resin layer; And a metal layer forming step of forming a metal layer in the metal seed layer. 제 20 항에 있어서,21. The method of claim 20, 상기 패턴 형성단계는The pattern forming step 상기 소정의 음각 패턴이 형성되도록 하는 양각 형상을 포함하는 몰드(Mold)를 상기 수지층의 상부에 압박하는 임프린팅(Imprinting)단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 광학 필터의 제조 방법.And imprinting the mold with a mold having a relief shape to form the predetermined engraved pattern on the resin layer. 제 20 항에 있어서,21. The method of claim 20, 상기 전자파 차폐층 형성단계는The electromagnetic wave shielding layer forming step 상기 금속 시드층과 상기 수지층과의 부착성을 향상시키기 위한 표면 처리단 계;A surface treatment step for improving adhesion between the metal seed layer and the resin layer; 상기 수지층의 음각 패턴 내부에 상기 금속 시드층을 소정의 두께로 형성하는 금속 시드층 형성 단계; 및A metal seed layer forming step of forming the metal seed layer to a predetermined thickness inside the engraved pattern of the resin layer; And 상기 금속 시드층의 내부에 상기 금속층을 형성하는 금속층 형성 단계;A metal layer forming step of forming the metal layer in the metal seed layer; 를 포함하는 것을 특징으로 하는 광학 필터의 제조 방법.Wherein the optical filter comprises a plurality of optical fibers. 제 22 항에 있어서,23. The method of claim 22, 상기 표면 처리단계는The surface treatment step 에칭 처리, 촉매 처리, 플라즈마 처리 또는 이온빔 처리 중 어느 하나에 의한 것을 특징으로 하는 광학 필터의 제조 방법.Wherein the etching treatment is performed by any one of an etching treatment, a catalytic treatment, a plasma treatment, and an ion beam treatment. 제 22 항에 있어서,23. The method of claim 22, 상기 금속 시드층 형성단계는The metal seed layer forming step 무전해 도금, 화학 증착 공법(Chemical Vapor Deposition;CVD), 스퍼터링(Sputtering) 또는 인쇄 중 어느 하나의 방법에 의한 것을 특징으로 하는 광학 필터의 제조 방법.Wherein the film is formed by any one of electroless plating, chemical vapor deposition (CVD), sputtering, and printing. 제 22 항에 있어서,23. The method of claim 22, 상기 금속 시드층 형성 단계는 상기 금속 시드층을 상기 수지층 상에 무전해도금하고, The metal seed layer forming step may include a step of electroless-plating the metal seed layer on the resin layer, 상기 금속층 형성 단계는 상기 금속 시드층 내부에 상기 금속층을 선택적으로 전해 도금하는 것을 특징으로 하는 광학 필터의 제조 방법.Wherein the forming of the metal layer comprises selectively plating the metal layer in the metal seed layer. 제 22 항에 있어서,23. The method of claim 22, 상기 전자파 차폐층 형성 단계는The electromagnetic wave shielding layer forming step 상기 수지층에서 상기 음각 패턴 내부를 제외한 양각부에 형성된 금속 시드층을 제거하는 양각부 금속시드층 제거단계;를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 광학 필터의 제조 방법.And removing the metal seed layer on the embossed portion of the resin layer except the inside of the engraved pattern. 제 26 항에 있어서,27. The method of claim 26, 상기 양각부 금속시드층 제거단계는The step of removing the embossed metal seed layer CMP(Chemical Mechanical Polishing) 공법, 연마 방법, 브러싱(Brushing) 방법 중 어느 하나에 의한 것을 특징으로 하는 광학 필터의 제조 방법.(CMP) method, a polishing method, and a brushing method. 광학 필터를 포함하는 디스플레이 장치에 있어서,In a display device including an optical filter, 상기 제 1 항 내지 제 11항 및 제 13항 내지 제 19 항 중 어느 한 항에 따른 광학 필터를 포함하는 디스플레이 장치.A display device comprising the optical filter according to any one of claims 1 to 11 and 13 to 19.
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