KR101514249B1 - Image acquisition apparatus with improved visibility - Google Patents

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KR101514249B1
KR101514249B1 KR1020130137847A KR20130137847A KR101514249B1 KR 101514249 B1 KR101514249 B1 KR 101514249B1 KR 1020130137847 A KR1020130137847 A KR 1020130137847A KR 20130137847 A KR20130137847 A KR 20130137847A KR 101514249 B1 KR101514249 B1 KR 101514249B1
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wavefront
distortion
channel
unit
correction
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KR1020130137847A
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박승규
백성훈
정도영
남성모
최영수
정경민
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한국원자력연구원
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Abstract

The present invention provides an image acquisition apparatus including: a lighting unit which irradiates an object with light; an image acquisition unit which obtains an image of the object; a wave front acquisition unit which obtains wave front distortion information of a light signal reflected by the object; a role divider which divides the wave front distortion information obtained from the wave front acquisition unit; an inclination mirror which corrects inclination distortion from the wave front distortion information divided by the role divider; a precise control support unit which receives the wave front distortion information, divided by the role divider, except the inclination distortion and generates precise control signals; a wave front control unit which receives the precise control signals, generated by the precise control support unit, and corrects the wave front distortion except inclination distortion; and a control unit that outputs an image of the object generated by the image acquisition unit, receives the divided wave front information, generated by the role divider, controls a reflection angle of the inclination mirror, generates correction signals for correcting the front wave distortion, and transmits the correction signals to the precise control support unit.

Description

가시도를 개선한 영상 획득 장치{IMAGE ACQUISITION APPARATUS WITH IMPROVED VISIBILITY}[0001] IMAGE ACQUISITION APPARATUS WITH IMPROVED VISIBILITY [0002]

본 발명은 광의 파면에 의한 왜곡을 보정하여 개선된 영상을 획득하는 장치에 관한 것이다.The present invention relates to an apparatus for acquiring an improved image by correcting distortion caused by a wavefront of light.

원거리에 위치한 대상체의 반사광을 이용하여 영상을 획득하면 광의 파면(wave front)왜곡으로 인하여 깨끗한 화질의 영상을 획득할 수 없다. 예를 들어, 아지랑이가 피여오르는 들판에 위치한 대상체의 영상을 카메라로 획득해 보면 영상이 왜곡되게 보여진다. 이와 같은 영상의 왜곡은 피여오르는 아지랑이에 의한 광의 파면왜곡 때문이다.Obtaining an image using the reflected light of an object located at a remote location can not obtain a clear image because of the wavefront distortion of the light. For example, when you acquire an image of an object located in a field where haze is present, the image is distorted. This image distortion is due to the wavefront distortion of the light caused by the escaping haze.

따라서, 광의 파면왜곡 현상이 발생되는 환경에서도 깨끗한 화질의 영상을 획득하는 장치의 개발이 고려될 수 있다.Therefore, development of a device for acquiring a clear image quality even in an environment where a wavefront distortion phenomenon of light occurs can be considered.

본 발명은 원거리에 위치한 대상체의 깨끗한 화질의 영상을 획득하기 위하여, 광의 파면왜곡을 보정할 수 있는 영상 획득 장치를 제공하기 위한 것이다.An object of the present invention is to provide an image acquiring apparatus capable of correcting a wavefront distortion of light in order to acquire an image of a clear image quality of an object located at a remote location.

이와 같은 본 발명의 해결 과제를 달성하기 위하여, 본 발명의 일 실시예에 따른 영상 획득 장치는, 대상체에 광을 조사하는 조명부, 상기 대상체에서 대한 영상을 획득하는 영상 획득부, 상기 대상체에서 반사된 광신호의 파면(wave front)왜곡 정보를 획득하는 파면 획득부, 상기 파면 획득부에서 획득한 파면왜곡 정보를 분할하는 역할 분할기, 상기 역할 분할기에서 분할된 파면왜곡 정보 중에서 기울기 왜곡을 보정하도록 이루어지는 기울기 거울, 상기 역할 분할기에서 분할된 파면왜곡 정보 중에서 기울기 왜곡을 제외한 나머지 파면왜곡 정보를 전달받아 정밀제어 신호를 생성하는 정밀제어 지원부, 상기 정밀제어 지원부에서 생성된 정밀제어 신호를 전달받아 나머지 파면왜곡을 보정하는 파면 제어부, 및 상기 영상 획득부에서 생성된 상기 대상체의 영상을 출력하고 상기 역할 분할기에서 생성되는 분할된 파면왜곡 정보를 전달받아 상기 기울기 거울의 반사각을 제어하며 파면왜곡을 보정하기 위한 보정신호를 생성하고 상기 보정신호를 상기 정밀제어 지원부로 전송하는 제어부를 포함한다.According to an aspect of the present invention, there is provided an image capturing apparatus including an illumination unit configured to illuminate a target object with light, an image acquiring unit configured to acquire an image of the target object, A role divider for dividing the wave front distortion information obtained by the wave front obtaining unit, a slope for correcting tilt distortion in the wave front distortion information divided by the role dividing unit, A precise control support unit for receiving the wavefront distortion information except for the skew distortion among the wavefront distortion information divided by the role divider to generate a precise control signal, and receiving the precise control signal generated by the precise control support unit, A wavefront controller for correcting the wavefront of the object, And a controller for receiving the divided wave front distortion information generated by the role divider to generate a correction signal for controlling the reflection angle of the tilt mirror and for correcting the wave front distortion and transmitting the correction signal to the precision control support unit .

본 발명과 관련한 일 예에 따르면, 상기 파면 제어부는, 상기 대상체에서 반사된 광파면을 제어하는 복수의 변형거울, 및 상기 복수의 변형거울을 각각 제어하는 복수의 변형거울 드라이버를 포함할 수 있다.According to an example of the present invention, the wavefront control unit may include a plurality of deformed mirrors for controlling the light wavefront reflected by the object, and a plurality of deformed mirror drivers for respectively controlling the plurality of deformed mirrors.

본 발명과 관련한 다른 일 예에 따르면, 상기 파면 획득부는, 상기 대상체의 일 영역에 대한 파면왜곡 정보를 획득하는 파면센서, 상기 파면센서에서 획득하지 못한 상기 대상체의 다른 일 영역의 파면왜곡 정보를 상기 파면센서에서 획득한 이웃하는 파면왜곡 정보로부터 보간(interpolation)함으로써 보완하는 파면 보완기, 및 상기 파면 보완기에 의해 보완된 파면왜곡 정보를 추출하는 파면신호 처리기를 포함할 수 있다.According to another embodiment of the present invention, the wavefront obtaining unit may include a wavefront sensor for obtaining wavefront distortion information for one area of the object, wavefront distortion information for another area of the object that is not obtained by the wavefront sensor, And a wavefront signal processor for extracting the wavefront distortion information supplemented by the wavefront compensator. The wavefront compensator compensates the wavefront compensator by interpolation from neighboring wavefront distortion information obtained from the wavefront sensor.

본 발명과 관련한 또 다른 일 예에 따르면, 상기 역할 분할기는, 변형거울의 개수별, 특정 제르니케 계수별, 또는 파면의 영역별로, 상기 파면 획득부에서 획득한 파면왜곡 정보를 분할할 수 있다.According to another embodiment of the present invention, the role divider may divide the wavefront distortion information obtained by the wavefront obtaining unit according to the number of modified mirrors, the specific Zernike coefficient, or the wavefront area.

본 발명과 관련한 또 다른 일 예에 따르면, 상기 정밀제어 지원부는 복수의 채널 보완기를 포함하고, 상기 채널 보완기는 상기 제어부로부터 전달받은 파면왜곡 보정신호에서 상기 변형거울의 각 채널에 인가될 전압값을 인식하고, 상기 전압값이 설정되지 않은 채널의 전압값은 이웃하는 채널의 전압값을 사용하거나 보간(interpolation)함으로써 보완할 수 있다.According to another embodiment of the present invention, the precise control support unit includes a plurality of channel compensators, and the channel compensator may calculate a voltage value to be applied to each channel of the deformed mirror in a wave front distortion correction signal received from the control unit And the voltage value of the channel for which the voltage value is not set can be compensated by using or interpolating the voltage value of the neighboring channel.

상기 정밀제어 지원부는 복수의 채널 안정기를 더 포함하고, 상기 채널 안정기는 상기 파면 제어부에 인가되는 보정신호들이 유효한 보정신호인지 판단하고, 상기 보정신호가 유효한 신호일 경우, 상기 파면 제어부로 유효한 보정신호를 전송하며, 상기 보정신호가 무효한 신호일 경우, 상기 채널의 보정을 중단시킬 수 있다.Wherein the fine control support unit further includes a plurality of channel stabilizers, wherein the channel stabilizer determines whether the correction signals applied to the wavefront control unit are valid correction signals, and when the correction signals are valid signals, If the correction signal is an invalid signal, the correction of the channel can be stopped.

상기 채널 안정기는, 상기 대상체의 파면의 실효치 값이 특정 경계값 이하일 경우, 보정하기 전의 파면형상과 보정 후의 파면형상의 유사도가 특정값 이상일 경우, 상기 변형거울의 각 채널에 인가되는 전압값의 실효치가 특정 경계값 이하일 경우, 또는 상기 변형거울의 각 채널에 인가되는 전압 분포 형태와 보정되기 전 전압 분포 형태의 유사도가 특정값 이상일 경우, 상기 보정신호를 무효로 판단하여 상기 채널의 보정을 중단시킬 수 있다.When the effective value of the wavefront of the object is equal to or less than a specific boundary value and the similarity between the wavefront shape before correction and the wavefront shape after correction is equal to or greater than a specific value, Is less than or equal to a specific threshold value, or when the similarity of the voltage distribution type applied to each channel of the deformed mirror and the shape of the voltage distribution before correction is greater than or equal to a specific value, the correction signal is determined to be invalid and the correction of the channel is stopped .

또한, 상기한 과제를 실현하기 위하여 본 발명은 다른 일 실시예에 따른 영상 획득 장치를 제안한다. 상기 영상 획득 장치는, 광을 발생시켜 대상체를 조사하는 조명부, 상기 대상체에서 반사되는 광을 반사시키는 기울기 거울, 상기 기울기 거울에서 반사되는 광을 반사시키는 복수의 변형거울, 상기 복수의 변형거울에서 반사되는 광을 투과광과 반사광으로 분할하는 빔 분할부, 상기 반사광으로부터 상기 대상체의 전기적 영상 신호를 추출하는 영상 획득부, 상기 투과광으로부터 상기 대상체의 기울기 왜곡과 기울기 왜곡을 제외한 나머지 파면왜곡 정보를 획득하는 파면 획득부, 상기 영상 획득부에서 생성된 상기 대상체의 영상을 출력하고, 상기 파면 획득부로부터 상기 나머지 파면왜곡 정보를 전달받아 상기 나머지 파면왜곡의 보정신호를 생성하는 제어부, 및 상기 제어부로부터 상기 보정신호를 전달받아 정밀 제어신호를 생성하는 정밀제어 지원부를 포함하고, 상기 기울기 거울은 상기 파면 획득부에서 생성되는 기울기 왜곡정보를 전달받은 상기 제어부에 의해 반사각이 조절되도록 이루어지고, 상기 복수의 변형거울은, 상기 정밀제어 지원부로부터 전달받은 정밀 제어 신호에 따라 각 채널에 전압이 인가되어 상기 파면왜곡을 보정한다.In order to achieve the above object, the present invention proposes an image acquisition apparatus according to another embodiment. Wherein the image acquiring device includes: an illumination unit that generates light to irradiate a target object; a tilt mirror that reflects light reflected from the target; a plurality of deformation mirrors that reflect light reflected from the tilt mirror; An image acquiring unit that extracts an electrical image signal of the object from the reflected light; a wavefront acquiring unit that acquires wavefront distortion information excluding tilt distortion and tilt distortion of the object from the transmitted light; A control unit for outputting an image of the object generated by the image acquisition unit and receiving the remaining wavefront distortion information from the wavefront acquisition unit and generating a correction signal of the remaining wavefront distortion, To generate precise control signals. Wherein the tilt mirror is configured to adjust a reflection angle of the tilt mirror by the controller receiving the tilt distortion information generated by the wavefront obtaining unit, A voltage is applied to each channel to correct the wavefront distortion.

본 발명과 관련한 일 예에 따르면, 상기 파면 획득부는, 상기 투과광으로부터 상기 대상체의 파면의 일 영역에 대한 파면 정보를 획득하는 파면센서, 및 상기 파면 센서에서 획득한 이웃하는 파면 정보로부터, 측정되지 못한 다른 일 영역을 보간(interpolation)함으로써 보완된 파면 정보를 획득하는 파면 보완기를 포함할 수 있다.According to an example of the present invention, the wavefront obtaining unit may include a wavefront sensor that obtains wavefront information on one region of the wavefront of the object from the transmitted light, and a wavefront sensor that is not measured from the neighboring wavefront information acquired by the wavefront sensor And a wavefront compensator that obtains the compensated wavefront information by interpolating another region.

상기 파면 획득부에서 획득된 상기 파면왜곡 정보가 분할되어 처리될 수 있도록, 상기 파면 획득부에서 전달받은 상기 파면왜곡 정보를 분할하여 상기 제어부로 전달하는 역할 분할기를 더 포함할 수 있다.The apparatus may further include a role divider that divides the wave-front distortion information received from the wave-front obtaining unit and transmits the divided wave-front distortion information to the controller so that the wave-front distortion information obtained by the wave-front acquiring unit can be divided and processed.

본 발명과 관련한 일 예에 따르면, 상기 정밀제어 지원부는 채널 보완기를 포함하고, 상기 채널 보완기는, 상기 제어부에서 보정신호가 생성되지 않은 상기 채널의 전압의 크기를, 상기 보정신호가 생성된 영역의 전압의 크기로부터 보간(interpolation) 하거나, 이웃하는 상기 채널의 전압 크기로 설정하여 정밀 제어신호를 생성할 수 있다.According to an embodiment of the present invention, the precise control support unit includes a channel compensator, and the channel compensator may adjust the magnitude of the voltage of the channel in which the correction signal is not generated in the controller, Interpolation from the magnitude of the voltage or by setting the voltage magnitude of the neighboring channel to produce a precise control signal.

상기 정밀제어 지원부는, 상기 정밀 제어신호가 유효한 신호인지 판단하고, Wherein the precision control support unit determines whether the precision control signal is a valid signal,

상기 정밀 제어신호가 유효한 신호일 경우 유효한 정밀 제어신호를 상기 복수의 변형거울로 전달하고, 상기 정밀 제어신호가 무효한 신호일 경우 상기 채널의 보정을 중단시키는 채널 안정기를 더 포함할 수 있다.And a channel stabilizer for transmitting a valid precision control signal to the plurality of distortion mirrors when the precision control signal is a valid signal and stopping the correction of the channel if the precision control signal is an invalid signal.

본 발명의 영상 획득 장치는 파면센서에서 측정하지 못한 파면의 특정 영역에 대한 정보를 보간 방법으로 보완하여 획득함으로써, 정밀한 보정신호를 생성할 수 있다.The image acquiring apparatus of the present invention can generate a precise correction signal by supplementing and acquiring information about a specific region of a wavefront that can not be measured by a wavefront sensor by an interpolation method.

또한, 본 발명의 영상 획득 장치는 파면 획득부에서 획득한 파면왜곡 정보를 특정 비율로 분할하여 보정함으로써, 파면왜곡의 보정을 효율적으로 수행할 수 있다.In addition, the image acquiring apparatus of the present invention can efficiently correct the wavefront distortion by dividing and correcting the wavefront distortion information acquired by the wavefront acquiring unit by a specific ratio.

또한, 본 발명의 영상 획득 장치는 보정신호가 생성되지 않은 변형거울의 채널 전압을 이웃하는 유효 채널 전압으로 보완하여 보정의 정밀도를 향상시키고, 아울러, 보정신호가 유효한지 판단하고 유효한 보정신호만을 이용함으로써 보정의 효율성을 향상시킬 수 있다.In addition, the image acquisition device of the present invention improves the accuracy of correction by complementing the channel voltage of the deformed mirror in which the correction signal is not generated to the neighboring effective channel voltage, and also determines whether the correction signal is valid, So that the efficiency of correction can be improved.

도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 영상 획득 장치를 나타낸 개념도.
도 2는 도 1에 도시된 영상 획득 장치에서의 광의 경로를 상세하게 나타낸 개념도.
도 3은 도 1에 도시된 파면 센서가 측정하는 파면의 영역을 나타낸 개념도.
도 4는 도 1에 도시된 변형거울의 구성하는 채널을 나타낸 개념도.
도 5는 도 1에 도시된 채널 안정기가 동작하지 않은 상태에서 측정된, 보정 수에 따른 파면 위상의 실효치 및 최대-최소값을 나타낸 그래프.
도 6은 도 1에 도시된 채널 안정기가 동작하지 않은 상태에서 측정된, 고정된 파면왜곡에 대해 보정한 결과인 보정 수에 따른 채널의 전압값을 나타낸 그래프.
도 7은 도 1에 도시된 채널 안정기가 동작하고 고정된 파면왜곡 환경에서 측정된, 보정 수에 따른 파면 위상의 실효치 및 최대-최소값을 나타낸 그래프.
도 8은 도 1에 도시된 채널 안정기가 동작하는 상태에서 측정된, 보정 수에 따른 채널의 전압값을 나타낸 그래프.
도 9는 고정된 파면왜곡이 발생하는 환경에서 획득한 대상체의 영상을 나타낸 이미지.
도 10은 도 9와 같은 조건에서, 도 1에 도시된 영상 획득 장치를 이용하여 획득한 대상체의 영상을 나타낸 이미지.
1 is a conceptual diagram illustrating an image acquisition apparatus according to an embodiment of the present invention;
2 is a conceptual diagram showing in detail the path of light in the image acquisition apparatus shown in FIG.
3 is a conceptual view showing a wavefront area measured by the wavefront sensor shown in Fig.
FIG. 4 is a conceptual view showing channels constituting the deformed mirror shown in FIG. 1; FIG.
FIG. 5 is a graph showing the rms value and the maximum-minimum value of the wavefront phase according to the number of corrections measured in the state where the channel ballast shown in FIG. 1 is not operated.
6 is a graph showing a voltage value of a channel according to a number of corrections obtained as a result of correction for fixed wavefront distortion measured in a state where the channel ballast shown in FIG. 1 is not operated.
FIG. 7 is a graph showing the rms value and maximum-minimum value of the wavefront phase according to the number of corrections measured in a fixed wavefront distortion environment in which the channel ballast shown in FIG. 1 operates.
8 is a graph showing voltage values of a channel according to the number of correction measured in a state in which the channel ballast shown in FIG. 1 is operated.
9 is an image showing an image of a target object acquired in an environment where fixed wavefront distortion occurs.
10 is an image showing an image of a target object acquired using the image acquisition device shown in FIG. 1 under the condition shown in FIG.

이하, 본 발명의 가시도를 개선한 영상 획득 장치에 대하여 첨부된 도면을 참조하여 상세히 설명한다. DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS Hereinafter, an image capturing apparatus with improved visibility according to the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings.

본 명세서에서는 서로 다른 실시예라도 동일·유사한 구성에 대해서는 동일·유사한 참조번호를 부여하고, 그 설명은 처음 설명으로 갈음한다. 본 명세서에서 사용되는 단수의 표현은 문맥상 명백하게 다르게 뜻하지 않는 한, 복수의 표현을 포함한다.In the present specification, the same or similar reference numerals are given to different embodiments in the same or similar configurations. As used herein, the singular forms "a", "an" and "the" include plural referents unless the context clearly dictates otherwise.

도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 영상 획득 장치(100)를 나타낸 개념도이고, 도 2는 도 1에 도시된 영상 획득 장치(100)에서의 광의 경로를 상세하게 나타낸 개념도이다.FIG. 1 is a conceptual diagram showing an image capturing apparatus 100 according to an embodiment of the present invention, and FIG. 2 is a conceptual diagram showing a path of light in the image capturing apparatus 100 shown in FIG. 1 in detail.

도 1 및 도 2를 참조하면, 영상 획득 장치(100)는 조명부(110), 영상 획득부(120), 파면 획득부(130), 역할 분할기(140), 기울기 거울(150), 정밀제어 지원부(160), 파면 제어부(170) 및 제어부(180)를 포함한다.1 and 2, an image acquisition apparatus 100 includes an illumination unit 110, an image acquisition unit 120, a wavefront acquisition unit 130, a role divider 140, a tilt mirror 150, A wavefront controller 160, a wavefront controller 170, and a controller 180.

조명부(110)는 대상체(10)에 광을 조사한다. 예를 들어, 조명부(110)는 빛을 발생시키는 광원(미도시)을 포함하고, 상기 광원으로부터 발생되는 빛을 대상체(10)에 조사한다. 상기 빛은 적외선으로 형성될 수 있다. 또한, 상기 광은 거울(20)에 의해 반사되어 대상체(10)에 조사될 수 있다.The illumination unit 110 irradiates the object 10 with light. For example, the illumination unit 110 includes a light source (not shown) for generating light, and irradiates the light generated from the light source to the object 10. The light may be formed by infrared rays. Further, the light can be reflected by the mirror 20 and irradiated onto the object 10.

영상 획득부(120)는 대상체(10)에 대한 영상을 획득한다. 예를 들어, 영상 획득부(120)는 광신호를 전기적인 영상신호로 추출하는 영상획득 센서(미도시)를 포함하여 대상체(10)에 대한 영상을 획득한다.The image acquiring unit 120 acquires an image of the object 10. For example, the image acquisition unit 120 includes an image acquisition sensor (not shown) that extracts an optical signal as an electrical image signal to acquire an image of the object 10.

파면 획득부(130)는 대상체(10)에서 반사된 광신호의 파면(wave front)왜곡 정보를 획득한다. 한편, 파면 획득부(130)는 파면센서(131), 파면 보완기(133) 및 파면신호 처리기(135)를 포함할 수 있다.The wavefront obtaining unit 130 obtains wavefront distortion information of the optical signal reflected from the object 10. The wavefront obtaining unit 130 may include a wavefront sensor 131, a wavefront compensator 133, and a wavefront signal processor 135.

파면센서(131)는 대상체(10)의 일 영역에 대한 파면왜곡 정보를 획득한다. 한편, 파면 센서(131)는 샥-하트만 파면센서(Shack-Hartmann wave front sensors)로 이루어질 수 있다.The wavefront sensor 131 acquires wavefront distortion information for one region of the object 10. [ The wavefront sensor 131 may be a Shack-Hartmann wave front sensor.

파면 보완기(133)는 파면왜곡의 정도가 심하여 파면센서(131)로 획득하지 못한 대상체(10)의 파면왜곡 정보를, 파면센서(131)로 획득한 파면왜곡 정보로부터 보간(interpolation)함으로써 보완할 수 있다.The wavefront compensator 133 compensates the wavefront distortion information of the object 10 which is not obtained by the wavefront sensor 131 because the degree of the wavefront distortion is severe by interpolation from the wavefront distortion information acquired by the wavefront sensor 131 can do.

파면신호 처리기(135)는 파면 보완기(133)에서 보완된 데이터로부터 파면왜곡 정보를 추출할 수 있다.The wavefront signal processor 135 may extract the wavefront distortion information from the data supplemented by the wavefront compensator 133.

파면센서(131)와 파면신호 처리기(135)는 광의 파면왜곡 정보를 획득하는 장치로서, 파면 기울기 정보를 측정할 수 있다. 예를 들어, 대상체(10)가 점 영상인 경우, 파면신호 처리기(135)에서 각 배열렌즈에서의 중심점 위치를 얻기 위하여 상기 배열렌즈에서 맺히는 영상픽셀 강도의 중심을 찾는 무게중심법(center of mass)을 사용하여 파면 기울기 정보를 측정한다.The wavefront sensor 131 and the wavefront signal processor 135 are devices for acquiring wavefront distortion information of light and can measure the wavefront tilt information. For example, when the object 10 is a point image, a center of mass (center) method for finding the center of the image pixel intensity formed in the array lens to obtain the center point position in each array lens in the wavefront signal processor 135 ) Is used to measure the wavefront tilt information.

또는, 파면센서(131)가 면 영상인 대상체(10)에 대한 파면정보를 획득하는 경우, 유사도를 찾는 관계법인 절대차합(SAD:sum of absolute difference) 기법을 이용하여, 기준 파면과 유사도 관계를 갖는 영상정보를 얻은 이후, 세부적으로 보간(interpolation)하여 상기 배열렌즈에서의 파면 기울기 정보를 추출할 수 있다.Alternatively, when the wavefront sensor 131 acquires the wavefront information for the object 10, which is a plane image, a similarity relation with the reference wavefront is calculated using the sum of absolute difference (SAD) And then extracts the wavefront tilt information from the array lens by interpolation in detail.

예를 들어, 상기 무게중심법으로 각 배열렌즈에서 맺히는 점 영상에 대한 X축 기울기 Tiltx 와 Y축 방향의 파면 기울기 Tilty 정보는 식 (1-1) 및 식 (1-2)와 같은 방법으로 구할 수 있다.For example, the X-axis slope Tilt x and the Y-axis wavefront slope Tilt y information for the point images formed by the respective alignment lenses by the center-of-gravity method can be calculated by the following equations (1-1) and .

Figure 112013103505248-pat00001
식 (1-1)
Figure 112013103505248-pat00001
(1-1)

Figure 112013103505248-pat00002
식 (1-2)
Figure 112013103505248-pat00002
Equation (1-2)

여기서, Ii ,j는 X축이 i이고 Y축이 j인 (i,j)위치에서의 픽셀 강도이고, NxN은 사용자에 의해 설정된 각 점 영상의 탐색영역을 픽셀단위로 설정한 값이다. Here, I i, j is the X-axis is i and the pixel intensity at the (i, j) in the Y-axis j position, NxN is a value setting a search area of each view image set by the user, in pixels.

그리고, 유사도를 찾는 관계법에 의한 각 배열렌즈에 맺히는 영상에서의 파면기울기 정보는, 현재 입력 영상 IL(NxN)과 기준 영상 IR(MxM, M<N)의 관계를 나타낸 식 (2-1)에 의하여 상기 절대차합 기법으로 상관도를 추출한다.The wavefront tilt information in the image formed on each array lens by the relational method for finding the similarity is expressed by Equation (2-1) representing the relationship between the current input image I L (NxN) and the reference image I R (MxM, M <N) ) To extract the correlation by the above-mentioned absolute difference technique.

Figure 112013103505248-pat00003
식 (2-1)
Figure 112013103505248-pat00003
Equation (2-1)

상기 상관도를 추출한 이후, X축과 Y축 방향의 서브픽셀 단위의 세부적인 기울기 정보는 식 (2-2)와 식(2-3)과 같이 보간방법에 의해 구해질 수 있다.After extracting the correlation, detailed slope information in sub-pixel units in the X and Y directions can be obtained by the interpolation method as shown in Equation (2-2) and Equation (2-3).

Figure 112013103505248-pat00004
식 (2-2)
Figure 112013103505248-pat00004
(2-2)

Figure 112013103505248-pat00005
식(2-3)
Figure 112013103505248-pat00005
Equation (2-3)

여기서, (xmin, ymin)은 DLR(x,y)에서 최소값이 되는 X축 픽셀 위치 xmin이고 Y축 픽셀 위치 ymin을 의미한다.Here, (x min , y min ) denotes an X-axis pixel position x min and a Y-axis pixel position y min which are minimum values in D LR (x, y).

제어부(180)는 영상 획득부(120)에서 생성된 대상체(10)의 영상을 출력하고, 파면 획득부(130)에서 생성되는 파면왜곡 정보를 전달받아 기울기 거울(150)의 반사각을 제어하며, 파면왜곡을 보정하기 위한 보정신호를 생성하고, 상기 보정신호를 정밀제어 지원부(160)로 전송한다.The control unit 180 outputs the image of the object 10 generated by the image obtaining unit 120 and receives the wavefront distortion information generated by the wavefront obtaining unit 130 to control the reflection angle of the tilt mirror 150, Generates a correction signal for correcting the wave front distortion, and transmits the correction signal to the precise control support unit 160. [

구체적으로, 파면 획득부(130)에서 생성된 파면왜곡 정보가 제어부(180)로 전달되면, 제어부(180)는 식 (3-1)을 사용하여 파면의 왜곡을 보정하기 위한 보정 전압값을 계산하고, 상기 전압값에 따라 기울기 거울(150)을 제어하고, 정밀제어 지원부(160)로 파면보정 정보를 전달하여 파면왜곡을 보정한다.Specifically, when the wave front distortion information generated by the wave front obtaining unit 130 is transmitted to the controller 180, the controller 180 calculates a correction voltage value for correcting the distortion of the wave front using equation (3-1) Controls the tilting mirror 150 according to the voltage value, and transmits the wave front correction information to the precise control support unit 160 to correct the wave front distortion.

[V]=[T][Z] 식 (3-1)[V] = [T] [Z] Expression (3-1)

여기서, Z는 파면센서(131)가 현재 측정한 파면왜곡에 대한 제르니케 계수 행렬이며, T는 식 (3-2)로 생성되는 계수 행렬이다.Here, Z is a Zernike coefficient matrix for wavefront distortion measured by the wavefront sensor 131, and T is a coefficient matrix generated by equation (3-2).

[T]=[M+][Zb] 식 (3-2)[T] = [M + ] [Z b ]

여기서, M+는 변형거울의 영향 함수 M의 유사 역행렬이며, 행렬 Zb는 기본 함수인 제르니케 계수 영상별로 추출한, 계수별 제르니케 기울기를 모아놓은 제르니케 기본 함수 행렬이다.Wherein, M + is similar to the inverse of the deformation of the mirror influence function M, the matrix Z b is a Zernike basic function matrix a collection, each Zernike coefficient gradient extracted by the Zernike coefficients, the default image function.

예를들어, 샥-하트만 파면센서의 배열렌즈 개수가 2N개이고 변형거울(171,172)의 구동축이 K개인 경우의 변형거울 영향함수 행렬 M은 다음과 같이 표현될 수 있다.For example, the deformation mirror effect function matrix M when the number of array lenses of the 샥-Hartmann wavefront sensor is 2N and the driving axes of the deforming mirrors 171 and 172 are K, can be expressed as follows.

Figure 112013103505248-pat00006
Figure 112013103505248-pat00006

여기서, 행렬 M의

Figure 112013103505248-pat00007
는 K 번째 변형거울 구동기에 일정한 전압을 인가하였을 때 10번째 파면센서 배열렌즈의 점 영상의 Y축 방향의 기울기 데이터이다. Here,
Figure 112013103505248-pat00007
Axis slope data of the point image of the tenth wavefront sensor array lens when a constant voltage is applied to the Kth distortion mirror driver.

역할 분할기(140)는 파면 획득부(130)에서 획득한 파면왜곡 정보를 특정 비율로 분할한다. The role divider 140 divides the wavefront distortion information acquired by the wavefront deriving unit 130 into a specific ratio.

구체적으로, 역할 분할기(14)는 특정 제르니케 계수의 왜곡량을 N% 대 M% 로 분할할 수 있다. (여기서, N+M=100%), 또는, 역할 분할기(140)는 제르니케 계수별로 N1부터 N2까지는 제1 변형거울(171)이 담당하고 N2+1부터 N3까지는 제2 변형거울(172)이 담당하도록 분할할 수 있다. 또한, 역할 분할기(140)는 파면의 영역별로 보정량을 분할할 수도 있다. 이에 따라, 파면왜곡의 정도가 심할 경우, 보정량을 복수의 변형거울(171,172)로 분할하여 수행하므로 효율적인 제어가 가능하다.Specifically, the role divider 14 can divide the amount of distortion of a specific Zernike coefficient by N% to M%. (N + M = 100%) or the role divider 140 divides the first transform mirror 171 from N1 to N2 by the Zernike coefficient and the second transform mirror 172 from N2 + 1 to N3, Can be divided to take charge. In addition, the role divider 140 may divide the correction amount by the area of the wave front. Accordingly, when the degree of the wave front distortion is large, the correction amount is divided into a plurality of deformed mirrors 171 and 172, so that efficient control is possible.

기울기 거울(150)은 역할 분할기(140)에서 분할된 파면왜곡 정보 중에서 기울기 왜곡을 보정하도록 이루어진다. 예를 들어, 기울기 거울(150)은 제르니케 계수 1과 계수 2는 X축과 Y축 방향의 기울기 값이므로, 이를 상기 기술한 방법을 이용하여 상기 기울기 왜곡을 보정할 수 있다.The tilt mirror 150 is configured to correct tilt distortion in the wavefront distortion information divided by the role divider 140. For example, since the Zernike coefficients 1 and 2 of the tilt mirror 150 are the tilt values in the X and Y axis directions, it is possible to correct the tilt distortion using the method described above.

정밀제어 지원부(160)는 역할 분할기에서 분할된 파면왜곡 정보 중에서 기울기 왜곡을 제외한 파면왜곡 정보를 전달받아 정밀제어 신호를 생성한다. 정밀제어 지원부(160)의 상세한 메커니즘에 대해서는 이후 도 3 내지 도 7을 참조하여 설명하도록 한다.The precise control support unit 160 receives the wavefront distortion information excluding the tilt distortion from the divided wavefront distortion information in the role divider, and generates a precise control signal. The detailed mechanism of the precise control support unit 160 will be described below with reference to Figs. 3 to 7. Fig.

파면 제어부(170) 정밀제어 지원부(160)에서 생성된 제어 신호를 전달받아 파면왜곡 정보를 제어한다. 파면 제어부(170)는 복수의 변형거울(171,172)과 복수의 변형거울 드라이버(175,176)를 포함할 수 있다. 변형거울(171,172)은 광파면을 제어하고, 변형거울 드라이버(175,176)는 정밀제어 지원부(160)로부터 제어 신호를 전달받아 변형거울(171,172)을 제어하도록 이루어진다.The wavefront controller 170 receives the control signal generated by the precise control support unit 160 and controls the wavefront distortion information. The wavefront control unit 170 may include a plurality of deformed mirrors 171 and 172 and a plurality of deformed mirror drivers 175 and 176. The deformed mirrors 171 and 172 control the optical wavefront and the deformed mirror drivers 175 and 176 receive control signals from the precise control support unit 160 to control the deformed mirrors 171 and 172.

이하, 파면보완기(133) 파면정보를 보완하는 메커니즘에 대하여 도 3을 참조하여 상세히 설명한다.Hereinafter, a mechanism for supplementing the wavefront information of the wavefront compensator 133 will be described in detail with reference to FIG.

도 3은 도 1에 도시된 파면 센서가 측정하는 파면의 영역을 나타낸 개념도이다. 예를 들어, 도 3에 도시된 바와 같이 15x15 배열렌즈로 구성된 파면센서(131)에서, 파면센서(131)가 파면센서(131)가 측정하는 영역은 A 영역(A)이고, 정도가 심한 왜곡이나 잡음으로 인하여 측정하지 못하는 영역이 B 영역(B)의 외곽 부분이고, 실제 측정이 가능한 영역을 B 영역(B)이라고 가정할 때, 유효한 실측영역은 사각형이 채워진 점 영상으로 구성된 B 영역(B)라고 할 수 있다.3 is a conceptual diagram showing a wavefront area measured by the wavefront sensor shown in Fig. For example, as shown in FIG. 3, in the wavefront sensor 131 constituted by the 15x15 array lens, the area measured by the wavefront sensor 131 by the wavefront sensor 131 is the area A, Assuming that an area which can not be measured due to noise is an outer part of the B area B and an area where the actual measurement is possible is a B area B, the effective actual area is a B area B ).

이때, 파면보완기(133)는 파면센서(131)로부터 얻어지는 유효한 실측영역(B)의 파면왜곡 정보로부터, 전체 영역인 전체영역(A)에서 측정되지 않은 영역을 보완하는 작업을 수행한다.At this time, the wavefront compensator 133 performs an operation of supplementing the area not measured in the entire area A, which is the entire area, from the wavefront distortion information of the effective actual area B obtained from the wavefront sensor 131. [

상기 보완작업은 파면센서(131)로부터 측정된 데이터를 보간함으로써 수행된다. 예를 들어, 두 픽셀간의 간단한 선형보간 방법을 사용할 경우, 도 2에 도시된 바와 같이 (8,1), (1,8), (15,8) 및 (8,15) 위치에서의 파면값 W(8,1), W(1,8), W(15,8) 및 W(8,15)는 다음과 같이 계산될 수 있다.The compensating operation is performed by interpolating the measured data from the wavefront sensor 131. [ For example, when using a simple linear interpolation method between two pixels, the wavefront value at the positions (8, 1), (1,8), (15,8) and (8,15) W (8,1), W (1,8), W (15,8) and W (8,15) can be calculated as follows.

W(8,1)= W(8,2)+DYU(8,2)W (8,1) = W (8,2) + D YU (8,2)

W(1,8)= W(2, 8)+DXR(2,8)W (1,8) = W (2,8) + D XR (2,8)

W(15,8)= W(14,8)+DXL(14,8)W (15,8) = W (14,8) + D XL (14,8)

W(8,15)= W(8,14)+DYD(8,14)W (8,15) = W (8,14) + D YD (8,14)

이때, DYU(8,2)=W(8,2)-W(8,2+1),At this time, D YU (8,2) = W (8,2) -W (8,2 + 1)

DXR(2,8)=W(2,8)-W(2+1,8),D XR (2,8) = W (2,8) -W (2 + 1,8),

DXL(14,8)=W(14,8)-W(14-1,8),D XL (14,8) = W (14,8) -W (14-1,8),

DYD(8,14)=W(8,14)-W(8,14-1) 이다.D YD (8, 14) = W (8, 14) -W (8, 14-1).

상기와 같은 보간 방법은 비선형 방법으로 보간될 수도 있다. 예를 들어, 상기 비선형 방법은 2차원 영상에서 큐빅 B-스플라인 곡선을 이용할 수 있다.Such an interpolation method may be interpolated in a non-linear manner. For example, the non-linear method may use cubic B-spline curves in two-dimensional images.

이하, 정밀제어 지원부(160)의 상세한 메커니즘에 대하여 도 4 내지 도 8을 참조하여 상세히 설명한다.Hereinafter, the detailed mechanism of the precise control support unit 160 will be described in detail with reference to FIG. 4 to FIG.

도 4는 도 1에 도시된 변형거울의 구성하는 채널을 나타낸 개념도이고, 도 5는 도 1에 도시된 채널 안정기가 동작하지 않은 상태에서 측정된, 고정된 파면왜곡에 대해 보정한 결과인 보정 수에 따른 파면 위상의 실효치 및 최대-최소값을 나타낸 그래프이며, 도 6은 도 1에 도시된 채널 안정기가 동작하지 않은 상태에서 측정된, 고정된 파면왜곡에 대해 보정한 결과인 보정 수에 따른 채널의 전압값을 나타낸 그래프이고, 도 7은 도 1에 도시된 채널 안정기가 동작하고 고정된 파면왜곡 환경에서 측정된, 보정 수에 따른 파면 위상의 실효치 및 최대-최소값을 나타낸 그래프이며, 도 8은 도 1에 도시된 채널 안정기가 동작하는 상태에서 측정된, 보정 수에 따른 채널의 전압값을 나타낸 그래프이다.FIG. 4 is a conceptual view showing a channel constituting the deformed mirror shown in FIG. 1, FIG. 5 is a graph showing a correction value obtained by correcting the fixed wavefront distortion measured in a state where the channel ballast shown in FIG. And FIG. 6 is a graph showing the rms value and the maximum-minimum value of the wavefront phase according to the number of correction channels, which is a correction result for the fixed wavefront distortion measured in the non- FIG. 7 is a graph showing the rms value and the maximum-minimum value of the wavefront phase according to the number of correction measured in a fixed wavefront distortion environment in which the channel ballast shown in FIG. 1 operates and FIG. 8 is a graph 1 is a graph showing a voltage value of a channel according to a number of corrections measured in a state in which a channel ballast shown in FIG.

도 4 내지 도 8을 참조하면, 정밀제어 지원부(160)는 복수의 채널 보완기(161,162)를 포함할 수 있다.Referring to FIGS. 4 to 8, the precise control support unit 160 may include a plurality of channel compensators 161 and 162.

채널 보완기(161,162)는 제어부(180)로부터 전달받은 파면왜곡 보정신호에서 변형거울(171,172)의 각 채널에 인가될 전압값을 인식하고, 상기 전압값이 설정되지 않은 채널의 전압값은 이웃하는 채널의 전압값을 사용하거나 보간(interpolation)함으로써 채널에 인가되는 전압값을 보완한다.The channel compensators 161 and 162 recognize the voltage values to be applied to the respective channels of the distortion mirrors 171 and 172 in the wave front distortion correction signal transmitted from the controller 180. The voltage values of the channels, The voltage value of the channel is used or interpolated to compensate the voltage value applied to the channel.

구체적으로, 채널 보완기(161,162)는 파면 보정에 직접적으로 기여하지 않는 변형거울의 채널을 보완하는 기능을 수행한다. 예를 들어, 도 4에는 변형거울(171,172)의 1부터 225까지의 각 채널이 도시된다. 여기서 변형거울(171,172)의 외곽부분을 제외한 보정영역(C)의 사각형 안의 채널을 실제 파면 보정에 사용한다고 가정하면, 보정영역(C)의 내부의 각 채널은 파면왜곡을 보정하기 위하여 지속적으로 인가되는 전압이 변화한다. 반면, 보정영역(C) 외부에 위치한 채널은 전압이 인가되지 않는 0V 또는, 기본 바이어스 전?값으로 고정값이 인가된다. 이 경우, 보정영역(C)의 경계면 부근에서 측정되는 파면센서(131)의 점 영상은 왜곡이 크게 발생할 수 있다.Specifically, the channel compensators 161 and 162 complement the channel of the deformed mirror that does not directly contribute to the wavefront compensation. For example, FIG. 4 shows each channel from 1 to 225 of the deformed mirrors 171, 172. Assuming that a channel in the rectangle of the correction region C excluding the outer portions of the deformed mirrors 171 and 172 is used for the actual wavefront correction, each channel in the correction region C is continuously applied to correct the wavefront distortion The voltage changes. On the other hand, a channel located outside the correction region C is applied with a fixed value of 0V or a basic bias voltage value to which no voltage is applied. In this case, the point image of the wavefront sensor 131 measured near the boundary surface of the correction region C may cause a large distortion.

이때, 채널 보완기(161,162)는 보정영역(C)의 외곽 부분에 배치된 채널을 보간 방법으로 보상하여, 파면센서(131)가 정밀한 측정을 할 수 있도록 보완하는 역할을 한다. 보정영역(C)의 외곽 부분에 배치된 채널의 보완 방법은 ZOH(zero order hold) 방법 즉, 이웃하는 채널의 전압값을 그대로 채워 넣을 수 있고, 이차원 영역에서 선형보간법으로 보간하여 채워 넣을 수도 있다. 예를 들어, 상기 ZOH 방법을 사용한다고 가정하면, 채널 23, 107, 119 및 203의 채널 전압은 각각 채널 38, 108, 118, 188의 전압값을 가진다. 또한, 채널 8, 106, 120 및 218의 채널 전압은 채널 23, 107, 119 및 203의 채널 전압값을 갖게 된다. 이에 따라, 파면센서(131)에 잡히는 점 영상의 왜곡을 줄임으로써, 파면왜곡을 정밀하게 측정할 수 있다.At this time, the channel compensators 161 and 162 compensate the channel disposed in the outer portion of the correction region C by an interpolation method, and compensate the wavefront sensor 131 for precise measurement. The method of compensating a channel disposed in the outer region of the correction region C may be a zero order hold (ZOH) method, that is, a voltage value of a neighboring channel may be filled in as it is and interpolation may be performed by linear interpolation in a two- . For example, assuming that the ZOH method is used, the channel voltages of channels 23, 107, 119, and 203 have voltage values of channels 38, 108, 118, and 188, respectively. In addition, the channel voltages of channels 8, 106, 120, and 218 have channel voltage values of channels 23, 107, 119, Thus, by reducing the distortion of the point image captured by the wavefront sensor 131, it is possible to precisely measure the wavefront distortion.

한편, 정밀제어 지원부(160)는 복수의 채널 안정기(165,166)를 포함할 수 있다.Meanwhile, the precision control support unit 160 may include a plurality of channel stabilizers 165 and 166.

채널 안정기(165,166)는 파면 제어부(170)에 인가되는 보정신호들이 유효한 보정신호인지 판단하고, 상기 보정신호가 유효한 신호일 경우, 파면 제어부(170)로 유효한 보정신호를 전송하여 파면왜곡의 보정이 이루어진다.The channel stabilizers 165 and 166 determine whether the correction signals applied to the wavefront controller 170 are valid correction signals and if the correction signals are valid signals, the wavefront controller 170 transmits a valid correction signal to correct the wavefront distortion .

구체적으로, 영상 획득 장치(100)가 파면왜곡의 보정을 한계치 가까이 완료하였는데 계속하여 보정을 수행하는 경우, 파면이 보정된 영상을 획득할 수는 있지만, 변형거울(171,172)의 채널의 전압 자원을 소모한다. 예를 들어, 도 5 및 도 6에 도시된 바와 같이 실제 2번 또는 3번의 보정으로 한계치에 가깝게 파면왜곡의 보정이 완료되었지만, 계속하여 보정을 반복하는 경우 보정은 정상적으로 수행한다. 하지만, 도 6에 도시된 바와 같이 채널에 인가되는 전압이 한계 전압인 +150V 또는 -150V까지 도달함에 따라, 다음에 입사되는 파면왜곡을 보정하기 위해 필요한 자원을 미리 소비하는 낭비가 발생한다.Specifically, when the image acquiring apparatus 100 completes the correction of the wave front distortion close to the limit but continues to perform the correction, it is possible to obtain the image with the wavefront corrected, but the voltage resources of the channels of the distortion mirrors 171 and 172 Consumes. For example, as shown in FIGS. 5 and 6, correction of the wave front distortion is completed close to the limit by actually correcting 2 or 3 times, but correction is normally performed when the correction is repeated continuously. However, as shown in FIG. 6, as the voltage applied to the channel reaches + 150V or -150V, which is the limit voltage, wasted is consumed in advance to consume the resources required to compensate for the incident wavefront distortion.

채널 안정기(165,166)는 현재 파면의 실효치(RMS value)가 특정 경계값 이하일 경우, 또는 보정되기 전의 파면형상과 보정 후의 파면 형상의 유사도가 특정값 이상일 경우, 또는 변형거울(171,172)의 각 채널에 인가되는 전압값이 특정 경계값 이하일 경우, 또는 보정되기 전의 변형거울(171,172)의 채널 전압의 형상과 보정 후의 파면 형상의 유사도가 특정값 이상일 경우, 파면 보정을 을 더 이상 수행하지 않고 현재 상태를 유지한다. 이에 따라, 도 7 및 도 8에 도시된 바와 같이 채널 안정기(165,166)의 동작에 의하여, 특정 경계값 이상으로 파면의 보정이 완료되면, 더 이상 보정을 수행하지 않고 변형거울(171,172)의 채널전압에 사용되는 자원을 보존함으로써 영상 획득 장치(100)의 효율성을 높일 수 있다.The channel stabilizers 165 and 166 may be used when the RMS value of the present wavefront is less than or equal to a certain threshold or when the similarity of the wavefront shape before correction to the wavefront shape after correction is greater than or equal to a certain value, When the applied voltage value is equal to or less than a specific boundary value or when the shape of the channel voltage of the deformed mirrors 171 and 172 before correction and the similarity of the corrected wavefront shape are equal to or greater than a specific value, . 7 and 8, when the correction of the wave front is completed by the operation of the channel stabilizers 165 and 166, the correction of the wave front is completed, and the channel voltage of the deformed mirrors 171 and 172 The efficiency of the image capturing apparatus 100 can be improved.

이하, 광의 흐름에 따라 영상 획득 장치(100)가 대상체(10)의 파면왜곡을 보정하는 메커니즘에 대하여 도 2, 도 9 및 도 10을 참조하여 설명한다.Hereinafter, a mechanism for correcting the wavefront distortion of the object 10 by the image capturing apparatus 100 according to the flow of light will be described with reference to Figs. 2, 9, and 10. Fig.

도 9는 고정된 파면왜곡이 발생하는 환경에서 획득한 대상체의 영상을 나타낸 이미지이고, 도 10은 도 9와 같은 조건에서 도 1에 도시된 영상 획득 장치를 이용하여 획득한 대상체의 영상을 나타낸 이미지이다.FIG. 9 is an image showing an image of a target object acquired in an environment in which a fixed wavefront distortion occurs, FIG. 10 is an image showing an image of the target object acquired using the image acquisition device shown in FIG. to be.

도 2를 참조하면, 조명부(110)에서 조사된 광은 거울(24)과 렌즈(26)를 통과하여 대상체(10)에 조사되고, 대상체(10)에서 반사된 광은 렌즈(26)와 기울기 거울(150)과 복수의 변형거울(171,172)과 렌즈(27)를 통과한다.2, the light irradiated from the illumination unit 110 passes through the mirror 24 and the lens 26 and is irradiated onto the object 10. The light reflected from the object 10 passes through the lens 26, And passes through the mirror 150 and the plurality of deforming mirrors 171 and 172 and the lens 27. [

그리고, 상기 복수의 변형거울(171,172)에서 반사되는 광을 투과광과 반사광으로 분할하는 빔 분할기(190)를 통과한 상기 광 중에서 상기 반사광의 광신호는 렌즈(28), 공간필터(30) 및 렌즈(28)를 통과하여 영상 획득부(120)에 의해 전기적 영상신호로 획득되고, 상기 획득된 영상신호는 제어부(180)에 의해 영상으로 출력된다. Among the light that has passed through the beam splitter 190 that divides the light reflected by the plurality of deforming mirrors 171 and 172 into the transmitted light and the reflected light, the optical signal of the reflected light passes through the lens 28, the spatial filter 30, The image signal is obtained as an electrical image signal by the image acquisition unit 120, and the obtained image signal is outputted as an image by the control unit 180. [

이때, 상기 투과광의 광신호는 파면 획득부(130)에 구비되는 파면센서(131)에 의해 전기적 파면 신호로 변환되며, 파면보완기(133)에 의해 상기 투과광의 광신호 중에서 신호가 약하거나 왜곡의 정도가 심하여 측정되지 못한 영역의 파면 신호가 보완된 후에 파면신호 처리기(135)로 전달되고, 파면신호 처리기(135)에 의해 파면왜곡 정보가 추출된다.At this time, the optical signal of the transmitted light is converted into an electrical wavefront signal by the wavefront sensor 131 provided in the wavefront acquiring unit 130, and the wavefront compensator 133 converts the optical signal of the transmitted light into weak or distorted The signal is transmitted to the wavefront signal processor 135. The wavefront signal processor 135 extracts wavefront distortion information from the wavefront signal.

상기 추출된 파면왜곡 정보는 역할분할기(140)에 의해 복수의 변형거울(171,172)의 개수만큼 분할된다. 분할된 각각의 파면왜곡 정보는 제어부(180)에서 상기 파면왜곡을 보정할 수 있는 보정신호가 생성된다.The extracted wavefront distortion information is divided by the number of deformed mirrors (171, 172) by the role divider (140). The controller 180 generates a correction signal for correcting the wavefront distortion of each of the divided wavefront distortion information.

그리고, 제어부(180)는 상기 보정신호 중에서 기울기 왜곡을 기울기 거울(150)을 제어하여 보정하고, 상기 기울기 왜곡을 제외한 나머지 파면왜곡을 보정할 수 있는 보정신호는 정밀제어 지원부(160)에 전송한다. The control unit 180 controls the slope distortion of the correction signal by controlling the tilting mirror 150 and transmits a correction signal capable of correcting the remaining wavefront distortion excluding the tilt distortion to the precise control support unit 160 .

정밀제어 지원부(160)에 구비되는 채널 보완기(161,162)는 각각의 변형거울(171,172)을 제어하는 정밀 제어신호에서 사용하지 않는 변형거울(171,172)의 채널의 정밀 제어신호를 보완한다. 그리고, 채널 안정기(165,166)는 상기 정밀 제어신호가 유효한 신호인지 판단하고, 유효한 정밀제어 신호일 경우 각각의 변형거울 드라이버(175,176)에 전송하며, 상기 변형거울 드라이버(175,176)는 복수의 변형거울(171,172)을 제어하여 파면왜곡을 보정한다. The channel compensators 161 and 162 included in the precise control support unit 160 supplement the precise control signals of the channels of the deformed mirrors 171 and 172 that are not used in the precise control signal for controlling the deformed mirrors 171 and 172. The channel stabilizers 165 and 166 determine whether the precise control signal is a valid signal and transmit the precise control signal to each of the deformable mirror drivers 175 and 176 when the precise control signal is a valid precise control signal. The deformable mirror drivers 175 and 176 are provided with a plurality of deformable mirrors 171 and 172 ) To correct the wavefront distortion.

이에 따라, 영상 획득 장치(100)는, 광원이 점(point)인 영상을 획득할 경우, 도 9에 도시된 바와 같이 점 형상의 주위에 아지랑이가 피여오르는 현상으로 인하여 광신호의 파면의 왜곡이 발생하고 이로 인하여 흐린영상이 획득된다. 이때, 상기 영상 획득 장치(100)을 이용하면, 상기 파면의 왜곡을 보정하여 도 10에 도시된 바와 같이 개선된 대상체(10)의 영상을 획득할 수 있다.Accordingly, when the image acquisition apparatus 100 acquires an image having a point, distortion of the wavefront of the optical signal due to the phenomenon that the ambiguity rises around the point shape as shown in FIG. 9 And thus a blurred image is obtained. At this time, if the image acquisition apparatus 100 is used, the image of the improved object 10 can be acquired as shown in FIG. 10 by correcting the distortion of the wavefront.

다만, 본 발명의 권리범위는 위에서 설명된 실시예들의 구성과 방법에 한정됨은 아니고, 상기 실시예들은 다양한 변형이 이루어질 수 있도록 각 실시예들의 전부 또는 일부가 선택적으로 조합되어 구성될 수도 있다. 또한, 특허청구범위로부터 파악되는 본 발명의 권리범위와 비교하여 당해 분야의 통상의 지식을 가진 자 수준에서 변형, 부가, 삭제, 치환 가능한 발명 등 모든 균등한 수준의 발명에 대하여는 모두 본 발명의 권리 범위에 속함은 자명하다.However, the scope of the present invention is not limited to the configuration and method of the embodiments described above, and all or some of the embodiments may be selectively combined so that various modifications may be made to the embodiments. In addition, the present invention can be applied to all equivalents of inventions, such as inventions that can be modified, added, deleted, or replaced at the level of those skilled in the art, It belongs to the scope is self-evident.

100 : 영상 획득 장치 110 : 조명부
120 : 영상 획득부 130 : 파면 획득부
140 : 역할 분할기 150 : 기울기 거울
160 : 정밀제어 지원부 170 : 파면 제어부
180 : 제어부 190 : 빔 분할기
100: Image acquisition device 110:
120: image acquiring unit 130: wavefront acquiring unit
140: Role divider 150: Tilt mirror
160: precision control support unit 170: wavefront control unit
180: control unit 190: beam splitter

Claims (12)

대상체에 광을 조사하는 조명부;
상기 대상체에서 대한 영상을 획득하는 영상 획득부;
상기 대상체에서 반사된 광신호의 파면(wave front)왜곡 정보를 획득하는 파면 획득부;
상기 파면 획득부에서 획득한 파면왜곡 정보를 분할하는 역할 분할기;
상기 역할 분할기에서 분할된 파면왜곡 정보 중에서 기울기 왜곡을 보정하도록 이루어지는 기울기 거울;
상기 역할 분할기에서 분할된 파면왜곡 정보 중에서 기울기 왜곡을 제외한 나머지 파면왜곡 정보를 전달받아 정밀제어 신호를 생성하는 정밀제어 지원부;
상기 정밀제어 지원부에서 생성된 정밀제어 신호를 전달받아 나머지 파면왜곡을 보정하는 파면 제어부; 및
상기 영상 획득부에서 생성된 상기 대상체의 영상을 출력하고, 상기 역할 분할기에서 생성되는 분할된 파면왜곡 정보를 전달받아 상기 기울기 거울의 반사각을 제어하며, 상기 역할 분할기에서 분할된 파면왜곡 정보 중에서 기울기 왜곡을 제외한 나머지 파면왜곡 정보를 상기 정밀제어 지원부로 전송하는 제어부를 포함하는 것을 특징으로 하는 영상 획득 장치.
An illumination unit for irradiating light to the object;
An image acquiring unit acquiring an image of the object;
A wavefront obtaining unit obtaining wavefront distortion information of the optical signal reflected from the object;
A role divider that divides the wavefront distortion information obtained by the wavefront obtaining unit;
A tilt mirror configured to correct tilt distortion in the wavefront distortion information divided by the role divider;
A precise control support unit for receiving the wavefront distortion information excluding the tilt distortion from the wavefront distortion information divided by the role divider to generate a precise control signal;
A wavefront control unit for receiving the precise control signal generated by the precise control support unit and correcting the remaining wavefront distortion; And
And outputting the image of the object generated by the image acquisition unit, receiving the split wavefront distortion information generated by the role splitter, controlling the reflection angle of the tilt mirror, and generating a tilt distortion And transmits the wave front distortion information to the precision control support unit.
제1항에 있어서,
상기 파면 제어부는,
상기 대상체에서 반사된 광파면을 제어하는 복수의 변형거울; 및
상기 복수의 변형거울을 각각 제어하는 복수의 변형거울 드라이버를 포함하는 것을 특징으로 하는 영상 획득 장치.
The method according to claim 1,
The wavefront control unit,
A plurality of deformation mirrors for controlling the optical wavefront reflected by the object; And
And a plurality of deformation mirror drivers for respectively controlling the plurality of deformation mirrors.
제1항에 있어서,
상기 파면 획득부는,
상기 대상체의 일 영역에 대한 파면왜곡 정보를 획득하는 파면센서;
상기 파면센서에서 획득하지 못한 상기 대상체의 다른 일 영역의 파면왜곡 정보를, 상기 파면센서에서 획득한 이웃하는 파면왜곡 정보로부터 보간(interpolation)함으로써 보완하는 파면 보완기; 및
상기 파면 보완기에 의해 보완된 파면왜곡 정보를 추출하는 파면신호 처리기를 포함하는 것을 특징으로 하는 영상 획득 장치.
The method according to claim 1,
The wave-
A wavefront sensor for obtaining wavefront distortion information for one region of the object;
A wavefront compensator for compensating wavefront distortion information of another region of the object not obtained by the wavefront sensor by interpolation from neighboring wavefront distortion information acquired by the wavefront sensor; And
And a wavefront signal processor for extracting the wavefront distortion information supplemented by the wavefront enhancement unit.
제1항에 있어서,
상기 역할 분할기는,
변형거울의 개수별, 특정 제르니케 계수별, 또는 파면의 영역별로, 상기 파면 획득부에서 획득한 파면왜곡 정보를 분할하는 것을 특징으로 하는 영상 획득 장치.
The method according to claim 1,
The role divider includes:
Wherein the wavefront distortion information is obtained by dividing the wavefront distortion information obtained by the wavefront obtaining unit by the number of modified mirrors, the specific Zernike coefficient, or the area of the wavefront.
제2항에 있어서,
상기 정밀제어 지원부는 복수의 채널 보완기를 포함하고,
상기 채널 보완기는 상기 제어부로부터 전달받은 파면왜곡 보정신호에서 상기 변형거울의 각 채널에 인가될 전압값을 인식하고, 상기 전압값이 설정되지 않은 채널의 전압값은 이웃하는 채널의 전압값을 사용하거나 보간(interpolation)함으로써 보완하는 것을 특징으로 하는 영상 획득 장치.
3. The method of claim 2,
Wherein the fine control support unit comprises a plurality of channel compensators,
Wherein the channel compensator recognizes a voltage value to be applied to each channel of the deformed mirror in a wave front distortion correction signal received from the control unit and a voltage value of a channel to which the voltage value is not set uses a voltage value of a neighboring channel And interpolating the interpolated image data.
제5항에 있어서,
상기 정밀제어 지원부는 복수의 채널 안정기를 더 포함하고,
상기 채널 안정기는 상기 파면 제어부에 인가되는 보정신호들이 유효한 보정신호인지 판단하고,
상기 보정신호가 유효한 신호일 경우, 상기 파면 제어부로 유효한 보정신호를 전송하며,
상기 보정신호가 무효한 신호일 경우, 상기 채널의 보정을 중단시키는 것을 특징으로 하는 영상 획득 장치.
6. The method of claim 5,
Wherein the fine control support unit further includes a plurality of channel stabilizers,
Wherein the channel stabilizer determines whether the correction signals applied to the wavefront controller are valid correction signals,
And transmits a valid correction signal to the wavefront controller when the correction signal is a valid signal,
And stops the correction of the channel when the correction signal is an invalid signal.
제6항에 있어서,
상기 채널 안정기는,
상기 대상체의 파면의 실효치 값이 특정 경계값 이하일 경우,
또는 보정하기 전의 파면형상과 보정 후의 파면형상의 유사도가 특정값 이상일 경우,
또는 상기 변형거울의 각 채널에 인가되는 전압값의 실효치가 특정 경계값 이하일 경우, 또는
상기 변형거울의 각 채널에 인가되는 전압 분포 형태와 보정되기 전 전압 분포 형태의 유사도가 특정값 이상일 경우,
상기 보정신호를 무효로 판단하여 상기 채널의 보정을 중단시키는 것을 특징으로 하는 영상 획득 장치.
The method according to claim 6,
Wherein the channel ballast comprises:
When the effective value of the wave front of the object is less than or equal to a specific boundary value,
Or when the similarity between the wave front shape before correction and the wave front shape after correction is equal to or greater than a specific value,
Or when the effective value of the voltage value applied to each channel of the deformed mirror is less than or equal to a certain threshold value, or
When the similarity of the voltage distribution type applied to each channel of the deformed mirror and the shape of the voltage distribution before correction is greater than or equal to a specific value,
Wherein the correction unit determines that the correction signal is invalid and stops the correction of the channel.
광을 발생시켜 대상체를 조사하는 조명부;
상기 대상체에서 반사되는 광을 반사시키는 기울기 거울;
상기 기울기 거울에서 반사되는 광을 반사시키는 복수의 변형거울;
상기 복수의 변형거울에서 반사되는 광을 투과광과 반사광으로 분할하는 빔 분할부;
상기 반사광으로부터 상기 대상체의 전기적 영상 신호를 추출하는 영상 획득부;
상기 투과광으로부터 상기 대상체의 기울기 왜곡과 기울기 왜곡을 제외한 나머지 파면왜곡 정보를 획득하는 파면 획득부;
상기 영상 획득부에서 생성된 상기 대상체의 영상을 출력하고, 상기 파면 획득부로부터 상기 나머지 파면왜곡 정보를 전달받아 상기 나머지 파면왜곡의 보정신호를 생성하는 제어부; 및
상기 제어부로부터 상기 보정신호를 전달받아 정밀 제어신호를 생성하는 정밀제어 지원부를 포함하고,
상기 기울기 거울은, 상기 파면 획득부에서 생성되는 기울기 왜곡정보를 전달받은 상기 제어부에 의해 반사각이 조절되도록 이루어지고,
상기 복수의 변형거울은, 상기 정밀제어 지원부로부터 전달받은 정밀 제어 신호에 따라, 각 채널에 전압이 인가되어 상기 나머지 파면왜곡을 보정하는 것을 특징으로 하는 영상 획득 장치.
An illumination unit for generating light to illuminate a target object;
A tilt mirror for reflecting the light reflected from the object;
A plurality of deformation mirrors for reflecting the light reflected from the tilt mirror;
A beam splitter for splitting the light reflected from the plurality of deformed mirrors into transmitted light and reflected light;
An image acquiring unit for extracting an electrical image signal of the object from the reflected light;
A wavefront obtaining unit that obtains wavefront distortion information excluding tilt distortion and tilt distortion of the object from the transmitted light;
A control unit for outputting an image of the object generated by the image acquisition unit, receiving the remaining wavefront distortion information from the wavefront acquisition unit, and generating a correction signal for the remaining wavefront distortion; And
And a precise control support unit for receiving the correction signal from the control unit and generating a precise control signal,
Wherein the tilt mirror is configured such that a reflection angle of the tilt mirror is adjusted by the controller receiving the tilt distortion information generated by the wavefront obtaining unit,
Wherein the plurality of distortion mirrors apply a voltage to each channel to correct the remaining wavefront distortion according to the precision control signal transmitted from the precision control support unit.
제8항에 있어서,
상기 파면 획득부는,
상기 투과광으로부터 상기 대상체의 파면의 일 영역에 대한 파면 정보를 획득하는 파면센서; 및
상기 파면 센서에서 획득한 이웃하는 파면 정보로부터, 측정되지 못한 다른 일 영역을 보간(interpolation)함으로써 보완된 파면 정보를 획득하는 파면 보완기를 포함하는 것을 특징으로 하는 영상 획득 장치.
9. The method of claim 8,
The wave-
A wavefront sensor for obtaining wavefront information on one region of the wavefront of the object from the transmitted light; And
And a wavefront compensator for obtaining the compensated wavefront information by interpolating another unmeasured region from the neighboring wavefront information acquired by the wavefront sensor.
제9항에 있어서,
상기 파면 획득부에서 획득된 상기 파면왜곡 정보가 분할되어 처리될 수 있도록, 상기 파면 획득부에서 전달받은 상기 파면왜곡 정보를 분할하여 상기 제어부로 전달하는 역할 분할기를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 영상 획득 장치.
10. The method of claim 9,
Further comprising a role divider for dividing the wave-front distortion information received from the wave-front obtaining unit and transmitting the divided wave-front distortion information to the control unit so that the wave-front distortion information obtained by the wave-front acquiring unit can be divided and processed, Device.
제8항에 있어서,
상기 정밀제어 지원부는 채널 보완기를 포함하고,
상기 채널 보완기는, 상기 제어부에서 보정신호가 생성되지 않은 상기 채널의 전압의 크기를, 상기 보정신호가 생성된 영역의 전압의 크기로부터 보간(interpolation) 하거나, 이웃하는 상기 채널의 전압 크기로 설정하여 정밀 제어신호를 생성하는 것을 특징으로 하는 영상 획득 장치.
9. The method of claim 8,
Wherein the fine control support unit includes a channel compensator,
The channel compensator may interpolate a voltage level of the channel in which the correction signal is not generated by the controller from a voltage level of the region where the correction signal is generated or set a voltage level of the adjacent channel And generates a precise control signal.
제11항에 있어서,
상기 정밀제어 지원부는, 상기 정밀 제어신호가 유효한 신호인지 판단하고,
상기 정밀 제어신호가 유효한 신호일 경우, 유효한 정밀 제어신호를 상기 복수의 변형거울로 전달하고,
상기 정밀 제어신호가 무효한 신호일 경우, 상기 채널의 보정을 중단시키는 채널 안정기를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 영상 획득 장치.
12. The method of claim 11,
Wherein the precision control support unit determines whether the precision control signal is a valid signal,
And transmits a valid fine control signal to the plurality of deformed mirrors when the fine control signal is a valid signal,
Further comprising a channel stabilizer for stopping the correction of the channel if the precise control signal is an invalid signal.
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