KR101483695B1 - Apparatus for Refining Silicon - Google Patents

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Abstract

실리콘의 정련 장치가 개시된다.
본 발명의 일 실시예에 따른 실리콘의 정련 장치는 실리콘 용탕이 저장되며, 상부가 개방된 실리콘 용융부 및 상기 실리콘 용융부 내측에서 연장되어 내부에 유로를 형성하는 하나 이상의 격벽을 포함한다.
A silicon refining apparatus is disclosed.
A silicon refining apparatus according to an embodiment of the present invention includes a silicon melt portion having an open upper portion and at least one partition wall extending from the inside of the silicon melt portion to form a flow path therein.

Description

실리콘의 정련 장치{Apparatus for Refining Silicon}[0001] Apparatus for Refining Silicon [0002]

본 출원은 실리콘 정련 장치에 관한 것으로, 더욱 자세하게는 전자 빔 용융((Electron-beam melting)법을 기반으로 하여 실리콘 주조를 행함에 있어, 진공 휘발정련 기술을 이용함으로써 정련 효과를 향상시킬 수 있는 실리콘의 정련 장치에 관한 것이다.BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a silicon scouring apparatus, and more particularly, to a silicon scouring apparatus capable of improving the refining effect by using a vacuum volatilizing scouring technique in performing silicon casting based on an electron- .

최근 국제 추세에 따라, 친환경적인 발전 방법으로서 태양광 발전이 세계적으로 널리 사용되고 있다. 이와 같은 태양광 발전은 빛에너지를 전기에너지로 전환시키는 역할을 수행하는 태양 전지를 통해 이루어진다. 이러한 태양전지는 작은 실리콘 결정체들로 이루어진다.Recently, according to the international trend, solar power generation is widely used as an environmentally friendly development method in the world. Such solar power generation is accomplished through solar cells that convert light energy into electrical energy. These solar cells are made up of small silicon crystals.

태양 전지를 구성하는 실리콘의 순도는 통상 5N, 6N, 9N과 같이 표시한다. 여기서 N는 중량% 단위에서 9의 개수를 의미하며, 5N의 경우 99.999% 순도를 의미한다.The purity of the silicon constituting the solar cell is usually expressed as 5N, 6N, and 9N. Here, N means the number of 9 in terms of weight%, and 5 N means 99.999% purity.

초고순도를 요구하는 반도체를 생산하는 실리콘의 경우 순도가 11N에 이른다. 그러나, 태양 전지를 구성하는 실리콘은 5~7N의 순도를 가지는 경우에도 간단한 게터링 공정의 추가만으로 11N의 순도를 가지는 경우와 비슷한 광전환 효율을 얻을 수 있는 것으로 알려져 있어 초고순도를 요하지 아니한다.For silicon producing semiconductors requiring ultra-high purity, the purity reaches 11N. However, even if the purity of silicon constituting the solar cell is 5 to 7N, it is known that the addition of a simple gettering process can obtain a photoconversion efficiency similar to the case of having a purity of 11N, so that ultra-high purity is not required.

또한, 반도체를 생산하는 실리콘은 화학적 가스화 공정(CVD; Chemical Vapor Deposition)을 통해 제조되고 있다. 그러나, 이러한 실리콘 제조 공정은 오염물질을 대량으로 발생시키고, 생산효율을 떨어뜨리며, 또한 생산 단가를 높이는 것으로 알려져 있다.In addition, silicon that produces semiconductors is manufactured through chemical vapor deposition (CVD). However, such a silicon manufacturing process is known to generate a large amount of pollutants, reduce production efficiency, and increase the production cost.

이에 따라, 낮은 제조 비용으로 태양전지를 구성하는 고순도의 실리콘을 대량 생산할 수 있는 야금학적 정련공정(Metallurgical Refining Process)이 활발히 개발되고 있다.Accordingly, a metallurgical refining process capable of mass-producing high-purity silicon constituting a solar cell at a low manufacturing cost has been actively developed.

이 야금학적 정련공정은 저가/저품위의 급속급 실리콘 분말뿐 아니라 최근에는 폐/불량 태양전지, 공정 스크랩 등을 이용해서도 고순도 폴리실리콘을 제조하기 때문에 기술의 중요성은 더욱 부각되고 있다In this metallurgical refining process, high-purity polysilicon is produced not only from low-price / low-grade rapid-grade silicon powder, but also recently from waste / bad solar cell and process scrap.

태양전지용 다결정 실리콘 잉곳의 제조는 기본적으로 방향성 응고를 특징으로 하고 있다.The production of polycrystalline silicon ingots for solar cells is basically characterized by directional solidification.

방향성 응고 공정이란, 도가니 속에 실리콘 입자를 충진하여 이를 1420℃ 이상에서 용융시킨 후 실리콘의 응고열을 도가니 하부 쪽의 일정방향으로 제거하면, 고화가 도가니하부로부터 상부 쪽으로 퍼져나가는 공정을 말한다.The directional solidification process refers to a process in which silicon particles are filled in a crucible and melted at a temperature of 1420 ° C. or higher and the solidification heat of the silicon is removed in a certain direction under the crucible to cause the solidification to spread from the bottom of the crucible to the upper side.

이러한, 방향성 응고공정을 통해 고액계면의 층 분리를 형성하고 불순물을 액상 쪽으로 유도하여 불순물을 잉곳의 상부방향으로 포집할 수 있다. Such a directional solidification step can form a layer separation of the solid-liquid interface and guide the impurities toward the liquid phase, thereby collecting the impurities toward the upper side of the ingot.

고순도의 태양광 발전용 실리콘의 야금학적 정련법으로는 진공 정련법, 산화 처리법, 일방향 응고 정련법 등의 대표적인 공정이 개발되어 있다.Representative processes such as vacuum refining, oxidation treatment, and unidirectional solidification refining have been developed for metallurgical refining of high purity silicon for solar power generation.

이들 야금학적 정련법들 중에서 특히, 일방향 응고 정련법과 진공 정련법 등과 같은 금속 용융법에 의한 실리콘 제조 기술은 특성 제어가 용이하고, 조업중 불순물에 의한 오염이 적어 활발한 연구가 진행되고 있다.Of these metallurgical refining methods, silicon manufacturing technology by a metal melting method such as unidirectional solidifying refining method and vacuum refining method has been actively studied because of easy characteristic control and contamination by impurities during operation.

여기서, 일방향 응고 정련법이란 실리콘이 액체에서 고체로 상 변이 중에 고체-액체 계면을 따라 불순물을 액체로 편석(Segregation)시키는 정련공정을 말하며, 편석계수가 작아 편석이 잘 되는 대표적인 금속 불순물인 Fe, Ti, Cr, Cu, Ni등을 제거할 수 있다.Here, unidirectional solidification refining is a refining process in which silicon segregates impurities to liquid along a solid-liquid interface during phase transition from liquid to solid, and is a typical metal impurity such as Fe, Ti, Cr, Cu, Ni, and the like can be removed.

또한, 진공 정련법이란 통상적으로 금속원료를 용융시킨 후 용융된 금속으로부터 실리콘에 비해 증기압이 높은 불순물을 제거하는 정련공정을 말하며, 대표적인 비금속 불순물인 Al, Ca, Mn, P 등을 제거할 수 있다.Vacuum refining is a refining process in which impurities having a higher vapor pressure than silicon are removed from a molten metal after melting a metal raw material, and representative nonmetal impurities such as Al, Ca, Mn, and P can be removed .

그러나, 이러한 진공 정련법의 경우 실리콘 용탕의 이동경로가 길지 않아 상기의 비금속 불순물이 충분히 제거될 수 있는 반응면적이 부족한 문제점이 있었다.However, in the case of such a vacuum refining method, there is a problem that the movement route of the silicon melt is not long, and the reaction area in which the non-metallic impurities can be sufficiently removed is insufficient.

한국등록특허 제 10-2011-0050371 호Korean Patent No. 10-2011-0050371 한국공개특허 제 10-2011-0120617 호Korean Patent Publication No. 10-2011-0120617

따라서, 본 출원은 상기한 바와 같은 종래 기술의 문제점을 해결하기 위한 것으로, 태양전지용 폴리실리콘 잉곳을 연속적으로 대량 생산할 수 있는 시스템을 효율적으로 구성함으로써, 실리콘 내의 휘발성 불순물이 충분히 진공 정련 될 수 있는 반응시간과 공간을 확보하여 실리콘 정련효율을 높이도록 하는 실리콘 정련 장치를 제공하고자 한다.SUMMARY OF THE INVENTION Accordingly, the present invention has been made to solve the above problems of the prior art, and it is an object of the present invention to provide a method and system for efficiently producing a polysilicon ingot for a solar cell, And to provide a silicon refining apparatus which secures time and space to enhance the silicon refining efficiency.

본 발명의 일 측면에 따르면, 실리콘 용탕이 저장되며, 상부가 개방된 실리콘 용융부 및 상기 실리콘 용융부 내측에서 연장되어 내부에 유로를 형성하는 하나 이상의 격벽을 포함하는 실리콘의 정련 장치가 제공될 수 있다.According to an aspect of the present invention, there is provided a refining apparatus for silicon including a silicon melt and an upper open silicon melt and at least one partition wall extending from the inside of the silicon melt to form a flow path therein have.

또한, 상기 격벽은 복수 개로 이루어지고, 상기 복수 개의 격벽은 서로 평행한 방향을 향할 수 있다. The plurality of barrier ribs may be oriented parallel to each other.

본 발명의 다른 측면에 따르면, 진공 분위기를 유지하는 진공 챔버, 상기 진공 챔버에 구비되며, 전자빔을 조사하는 적어도 하나 이상의 전자총(Electron-gun), 상기 진공 챔버 내에 구비되며, 실리콘 원료물질을 공급하는 원료 공급부, 상기 전자빔에 의해 상기 실리콘 원료물질이 용융되어 실리콘 용탕이 형성되는 실리콘 용융부, 상기 실리콘 용융부로부터 공급되는 실리콘 용탕을 응고시키는 일방향 응고부, 상기 실리콘 용융부의 제 1 채널부와 상기 일방향 응고부의 제 2 채널부가 서로 접하여 이루어진 연결탕로부 및 상기 실리콘 용융부 내에서 상기 실리콘 용탕의 이동경로를 변경시키는 하나 이상의 격벽을 포함하는 것을 특징으로 하는 실리콘의 정련 장치가 제공될 수 있다. According to another aspect of the present invention, there is provided a vacuum chamber comprising: a vacuum chamber for maintaining a vacuum atmosphere; at least one electron gun provided in the vacuum chamber for irradiating an electron beam; A silicon melt portion in which the silicon raw material is melted by the electron beam to form a silicon melt, a unidirectional solidifying portion for solidifying the silicon melt supplied from the silicon melting portion, a first channel portion of the silicon melt portion, And a second channel portion of the solidification portion being in contact with each other, and at least one partition wall for changing the movement path of the silicon melt in the silicon melt portion.

또한, 상기 연결탕로부는 하면부와 상기 하면부의 양 끝 단에서 실질적으로 수직방향으로 연장된 한쌍의 측면부를 포함하고, 상기 실리콘 용탕이 이송되는 방향에 따라 상기 하면부의 단면적이 작아질 수 있다.In addition, the connecting pipe includes a lower face portion and a pair of side face portions extending substantially vertically at both ends of the lower face portion, and the cross-sectional area of the lower face portion may be reduced according to a direction in which the silicon melt is fed.

또한, 상기 연결탕로부의 하면부는 상기 실리콘 용탕이 상기 일방향 응고부로 공급되는 동안 상기 실리콘 용탕으로 덮어져 유지될 수 있다.The bottom portion of the connecting bath can be covered with the silicon melt while the silicon melt is supplied to the unidirectional solidification portion.

또한, 상기 실리콘 용융부, 상기 일방향 응고부 또는 격벽부는 구리 재질을 가질 수 있다.The silicon melting portion, the unidirectional solidification portion, or the partition wall portion may have a copper material.

또한, 상기 격벽부는 상기 실리콘 용융부 또는 상기 일방향 응고부와 다른 재질을 가질 수 있다.Further, the partition wall portion may have a material different from that of the silicon melt portion or the unidirectional solidification portion.

또한, 상기 실리콘 용융부는 외측에 배치되며, 유체가 흐르는 유로부를 포함하고, 상기 유로부는 복수 개의 슬릿에 의해 형성된 복수의 유로를 포함하는 제 1 유로부와 상기 제 1 유로부에 연장되고, 상기 복수의 유로가 서로 연결되어 하나의 유로를 형성하는 제 2 유로부를 포함할 수 있다. The flow path portion includes a first flow path portion including a plurality of flow paths formed by a plurality of slits, and a second flow path portion extending from the first flow path portion, May be connected to each other to form one flow path.

또한, 상기 실리콘 용융부는 각 외측에 배치된 각각의 유로부를 포함하고, 상기 인접한 외측에 배치된 유로부들은 상기 실리콘 용융부의 내부를 관통하여 서로 공간적으로 연결될 수 있다.The silicon fused portion may include respective flow path portions disposed on the outer side, and the flow path portions disposed on the adjacent outer side may be spatially connected to each other through the inside of the silicon fused portion.

또한, 상기 실리콘 용융부는 외측에 배치된 복수의 유로부를 갖고, 상기 복수의 유로부 중 적어도 어느 하나의 유로부의 유로 폭은 나머지 유로부의 유로 폭보다 클 수 있다. The silicon melt portion may have a plurality of flow path portions disposed on the outer side, and a flow path width of at least one of the plurality of flow path portions may be larger than a flow path width of the remaining flow path portions.

또한, 상기 유로부는 상기 격벽 내부와 공간적으로 연결될 수 있다.In addition, the flow path portion may be spatially connected to the inside of the partition wall.

상기 문제점을 해결하기 위해 본 발명에 따르면 다음과 같은 효과가 있다.In order to solve the above problems, the present invention has the following effects.

첫째, 실리콘 원료물질을 실리콘 용융부에 공급하고 전자빔을 조사하여 먼저 실리콘을 용융시킨 뒤, 실리콘 용탕이 일방향 응고부로 공급되기 전에 실리콘 용탕의 이동경로를 길게 함으로써, 실리콘 용탕 내에 휘발성 불순물이 제거될 수 있는 반응시간과 공간을 증대시켜 진공 정련 효과를 향상시킬 수 있다.First, volatile impurities can be removed from the silicon melt by supplying the silicon raw material to the silicon melting section and irradiating the electron beam to melt the silicon first, then lengthening the movement path of the silicon melt before the silicon melt is supplied to the one- The reaction time and space can be increased to improve the vacuum refining effect.

둘째, 용융된 실리콘이 실리콘 용융부 내에서 정련 효과가 향상됨으로써, 별도의 장치 또는 화학적인 방법을 통하여 실리콘 내에 휘발성 불순물을 제거할 필요가 없어 폴리실리콘 잉곳을 연속적으로 대량으로 제조할 수 있고, 제조 비용을 줄일 수 있다.Secondly, since the refined effect of the molten silicon in the silicon melting portion is improved, it is not necessary to remove the volatile impurities in the silicon through a separate device or a chemical method, so that the polysilicon ingot can be continuously mass- Cost can be reduced.

도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 실리콘의 정련 장치를 개략적으로 나타내는 도면이다.
도 2는 도 1에서 실리콘 용탕의 이동경로를 나타낸 도면이다.
도 3은 도 1의 실리콘 용융부를 개략적으로 나타내는 사시도이다.
도 4는 도 3의 외측을 나타내는 도면이다.
도 5는 도 3의 A-A선을 따라 절취한 절단면을 나타내는 도면이다.
도 6은 도 1의 격벽의 내부를 나타내는 단면도이다.
도 7은 본 발명의 일 실시예에 따른 실리콘 용융부에 유체공급부가 배치된 모습을 나타내는 사시도이다.
도 8은 도 7을 위에서 본 모습과 외측에서 본 모습을 나타내는 도면이다.
도 9는 각각 다른 형상을 가지는 2종류의 연결탕로부를 나타내는 도면이다.
도 10은 도 9에 나타나는 2종류의 연결탕로부에 유지되는 실리콘 용탕의 두께를 측면에서 본 단면도이다.
도 11은 도 9에서 나타나는 2종류의 연결탕로부에 유지되는 실리콘 용탕의 두께를 정성적으로 나타내는 실험결과표이다.
도 12는 본 발명의 다른 실시예에 따른 연결탕로부를 나타내는 도면이다.
도 13은 본 발명의 또 다른 실시예에 따른 연결탕로부를 나타내는 도면이다.
1 is a schematic view of a silicon refining apparatus according to an embodiment of the present invention.
Fig. 2 is a view showing a movement path of the silicon melt in Fig. 1. Fig.
Fig. 3 is a perspective view schematically showing the silicon melting portion of Fig. 1;
Fig. 4 is a view showing the outside of Fig. 3. Fig.
5 is a sectional view taken along line AA in Fig.
6 is a sectional view showing the inside of the partition wall of Fig.
7 is a perspective view showing a state in which a fluid supply portion is disposed in a silicon melting portion according to an embodiment of the present invention.
FIG. 8 is a view showing the state of FIG. 7 as seen from above and the state as seen from the outside.
Fig. 9 is a view showing two kinds of connecting trough parts having different shapes.
Fig. 10 is a sectional view showing the thickness of the silicon melt held in the two kinds of connecting bath portions shown in Fig. 9 from the side view. Fig.
11 is an experimental result table qualitatively showing the thickness of the silicon melt held in the two kinds of connecting baths shown in FIG.
FIG. 12 is a view showing a connecting bath part according to another embodiment of the present invention. FIG.
FIG. 13 is a view showing a connecting bath part according to another embodiment of the present invention.

이하 본 발명의 실시예에 대하여 첨부한 도면을 참조하여 상세하게 설명하기로 한다. 다만, 첨부된 도면은 본 발명의 내용을 보다 쉽게 개시하기 위하여 설명되는 것일 뿐, 본 발명의 범위가 첨부된 도면의 범위로 한정되는 것이 아님은 이 기술분야의 통상의 지식을 가진 자라면 용이하게 알 수 있을 것이다. Hereinafter, embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings. It is to be understood, however, that the appended drawings illustrate the present invention in order to more easily explain the present invention, and the scope of the present invention is not limited thereto. You will know.

또한, 본 발명의 실시예를 설명함에 있어서, 동일 기능을 갖는 구성요소에 대해서는 동일 명칭 및 동일부호를 사용할 뿐 실질적으론 종래 폴리실리콘 제조장치와 완전히 동일하지 않음을 미리 밝힌다.In describing the embodiments of the present invention, it is to be noted that components having the same function are denoted by the same names and numerals, but are substantially not identical to those of the conventional polysilicon manufacturing apparatus.

또한, 본 출원에서 사용한 용어는 단지 특정한 실시예를 설명하기 위해 사용된 것으로, 본 발명을 한정하려는 의도가 아니다. 단수의 표현은 문맥상 명백하게 다르게 뜻하지 않는 한, 복수의 표현을 포함한다. 본 출원에서, "포함하다" 또는 "가지다" 등의 용어는 명세서상에 기재된 특징, 숫자, 단계, 동작, 구성요소, 부품 또는 이들을 조합한 것이 존재함을 지정하려는 것이지, 하나 또는 그 이상의 다른 특징들이나 숫자, 단계, 동작, 구성요소, 부품 또는 이들을 조합한 것들의 존재 또는 부가 가능성을 미리 배제하지 않는 것으로 이해되어야 한다.Also, the terms used in the present application are used only to describe certain embodiments and are not intended to limit the present invention. The singular expressions include plural expressions unless the context clearly dictates otherwise. In the present application, the terms "comprises" or "having" and the like are used to specify that there is a feature, a number, a step, an operation, an element, a component or a combination thereof described in the specification, But do not preclude the presence or addition of one or more other features, integers, steps, operations, elements, components, or combinations thereof.

도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 실리콘의 정련 장치를 개략적으로 나타내는 도면이다.1 is a schematic view of a silicon refining apparatus according to an embodiment of the present invention.

도 1을 참조하면, 실리콘의 정련 장치는 진공 챔버(100), 전자총(200), 실리콘 용융부(390) 및 일방향 응고부(400)를 포함한다.Referring to FIG. 1, a silicon refining apparatus includes a vacuum chamber 100, an electron gun 200, a silicon melting portion 390, and a unidirectional solidification portion 400.

진공 챔버(100)는 후술할 실리콘 용탕 내에 불순물이 증발될 수 있도록 내부에 진공 분위기를 유지한다. 상기 진공 챔버(100) 내부의 압력은 대략 10-5 torr 일 수 있다.The vacuum chamber 100 maintains a vacuum atmosphere therein so that impurities can be evaporated in the silicon melt, which will be described later. The pressure inside the vacuum chamber 100 may be about 10-5 torr.

상기 진공 챔버(100)의 상단에는 입자 형태의 실리콘 원료물질이 공급될 수 있는 원료투입부(120)가 설치된다.At the upper end of the vacuum chamber 100, there is provided a raw material input part 120 through which a silicon raw material in the form of particles can be supplied.

상기 원료투입부(120) 내부에는 후술할 전자빔의 열에 의해 파손되는 것을 방지하기 위하여 냉각수로가 설치될 수 있다.A cooling water path may be provided in the raw material input portion 120 to prevent the raw material input portion 120 from being damaged by heat of an electron beam to be described later.

또한, 상기 원료투입부(120)는 원료 공급라인(122)과 원료 공급부의 투입구(124)를 포함할 수 있고, 상기 원료 공급부의 투입구(124)는 후술할 실리콘 용융부(390)에 실리콘 원료물질이 공급되는 위치와 각도를 조절할 수 있다.The raw material input portion 120 may include a raw material supply line 122 and an input port 124 of the raw material supply portion and the input port 124 of the raw material supply portion may be connected to the silicon melt portion 390, The position and angle at which the material is supplied can be adjusted.

전자총(Electron-gun)(200)은 상기 진공 챔버(100) 내에 설치되며, 복수 개일 수 있다.The electron gun 200 is installed in the vacuum chamber 100, and may be a plurality of electron guns.

본 실시예에 따른 상기 전자총(200)은 제 1 전자총(210) 및 제 2 전자총(220)을 포함한다.The electron gun 200 according to the present embodiment includes a first electron gun 210 and a second electron gun 220.

상기 제 1 전자총(210)은 전자빔이 상기 진공 챔버(100) 내부로 조사되도록 상기 진공 챔버(100)의 상단에 설치된다.The first electron gun 210 is installed at the upper end of the vacuum chamber 100 so that an electron beam is irradiated into the vacuum chamber 100.

실리콘 용융부(390)는 상기 제 1 전자총(210)에 의한 전자 빔이 조사되는 영역에 배치된다.The silicon melting portion 390 is disposed in a region irradiated with the electron beam by the first electron gun 210.

상기 실리콘 용융부(390)에는 상기 원료투입부(120)로부터 입자 형태의 실리콘 원료물질이 장입될 수 있다.The silicon melt portion 390 may be charged with a silicon raw material in the form of particles from the raw material input portion 120.

한편, 상기 원료투입부(120)는 상기 메인 챔버(100) 상단에서부터 상기 실리콘 용융부(390) 사이의 경사를 조절함으로써, 상기 실리콘 원료물질의 공급량을 조절할 수도 있다.The raw material input part 120 may adjust the supply amount of the silicon raw material by adjusting the inclination between the silicon melting part 390 and the upper end of the main chamber 100.

또한, 상기 실리콘 용융부(390)는 전자빔이 조사될 수 있도록 상부가 개방된 형태로 이루어진다.In addition, the silicon melting portion 390 is formed in an open top so that the electron beam can be irradiated.

이에 따라, 상기 실리콘 용융부(390)에 장입 된 상기 실리콘 원료물질은 상기 제 1 전자총(210)에서 가속, 집적된 전자빔에 의해 용융되어 실리콘 용탕(M)으로 형성된다.Accordingly, the silicon raw material loaded in the silicon melting portion 390 is melted by the electron beam accelerated and accumulated in the first electron gun 210, and is formed into the silicon melt M.

한편, 상기 제 1 전자총(210)은 30~35 kWh/cm2의 출력 에너지를 갖도록 제 1 전자빔을 가속 및 집적할 수 있다.Meanwhile, the first electron gun 210 may accelerate and accumulate the first electron beam to have an output energy of 30 to 35 kWh / cm 2.

다만, 이에 한정되지 않고, 상기 제 1 전자총(210)은 전자 빔에 의해 상기 실리콘 용탕(M)이 외부로 튀는 등 상기 실리콘 용탕의 거동이 불안정해지는 점을 방지하기 위한 출력 에너지를 가질 수 있다.However, the present invention is not limited to this, and the first electron gun 210 may have an output energy for preventing the behavior of the silicon melt to become unstable, such as the silicon melt M leaking out by an electron beam.

또한, 상기 실리콘 용융부(390)는 자체 재질에 의하여 발생할 수 있는 불순물이 실리콘 용탕에 유입되는 것을 방지하기 위하여 구리 재질을 가지는 것이 바람직하다.It is preferable that the silicon melting portion 390 has a copper material in order to prevent impurities, which may be generated by its own material, from flowing into the silicon melt.

또한, 구리 재질을 가지는 실리콘용융부(390)는 전자빔에 의하여 파손되는 것을 방지하기 위하여 냉각 효율을 용이하게 제어할 수 있는 유로부를 포함할 수 있다. 상기 유로부를 포함하는 상기 실리콘 용융부에 대한 자세한 설명은 후술하기로 한다.In addition, the silicon melting portion 390 having a copper material may include a flow path portion that can easily control the cooling efficiency in order to prevent the silicon melting portion 390 from being damaged by the electron beam. A detailed description of the silicon melting portion including the flow path portion will be described later.

일방향 응고부(400)는 상기 제 2전자총(220)에 의한 제 2 전자 빔이 조사되는 영역에 배치되며, 상기 실리콘 용융부(390)와 인접하게 된다.The unidirectional solidifying portion 400 is disposed in a region irradiated with the second electron beam by the second electron gun 220 and is adjacent to the silicon melting portion 390.

또한, 상기 일방향 응고부(400)는 상기 실리콘 용융부(390)와 마찬가지로 구리 재질을 가질 수 있다. In addition, the unidirectional solidification part 400 may have a copper material similar to the silicon melting part 390.

이러한, 일방향 응고부(400)는 상기 실리콘 용탕(M)을 이용하여 잉곳을 연속적으로 주조함과 동시에 금속 불순물의 편석을 유도하여 실리콘 정련 및 고순도 폴리실리콘 생산 효율을 향상시킬 수 있다.The unidirectional solidification unit 400 can continuously cast an ingot using the silicon melt (M) and induce segregation of metal impurities, thereby improving silicon refining and high-purity polysilicon production efficiency.

한편, 상기 제 2 전자총(220)은 8~14 kWh/cm2의 출력 에너지를 갖도록 제 2 전자빔을 가속 및 집적할 수 있다.Meanwhile, the second electron gun 220 may accelerate and accumulate the second electron beam to have an output energy of 8 to 14 kWh / cm 2.

다만, 상기 제 1 전자총(210)과 마찬가지로 상기 제 2 전자총(220) 또한, 전자빔에 의해 상기 실리콘 용탕(M)이 외부로 튀는 등 상기 실리콘 용탕의 거동이 불안정해지는 점을 방지하기 위한 출력 에너지를 가질 수 있다.Like the first electron gun 210, the second electron gun 220 also has an output energy for preventing the behavior of the silicon melt from becoming unstable, such as the silicon melt (M) Lt; / RTI >

연결탕로부(500)는 상기 실리콘 용융부(390)의 제 1 채널부(391)와 상기 일방향 응고부(400)의 제 2 채널부(401)가 서로 접하여 이루어질 수 있고, 상기 연결탕로부(500)는 상기 실리콘 용탕(M)이 상기 실리콘 용융부(390)에서 상기 일방향 응고부(400)로 공급될 수 있는 채널을 제공한다.The first channel portion 391 of the silicon melt portion 390 and the second channel portion 401 of the unidirectional solidification portion 400 may be in contact with each other, The portion 500 provides a channel through which the silicon melt M can be supplied from the silicon melting portion 390 to the unidirectional solidification portion 400.

상기 연결탕로부(500)는 하면부(501)와 상기 하면부(501)의 양 끝 단에서 실질적으로 수직방향으로 연장된 한 쌍의 측면부(502)를 포함한다.The connecting pipe passage portion 500 includes a bottom portion 501 and a pair of side portions 502 extending substantially vertically at both ends of the bottom portion 501.

이에 따라, 상기 원료 공급부(122)를 통하여 실리콘 원료물질이 공급되어 용융된 실리콘 용탕의 량만큼 상기 실리콘 용융부(390)에 저장된 실리콘 용탕(M)이 상기 연결탕로부(500)를 통하여 상기 일방향 응고부(400)로 공급될 수 있다.Silicon raw material is supplied through the raw material supply part 122 and the silicon melt M stored in the silicon melting part 390 is supplied to the connection part 500 through the connection part 500 by the amount of the molten silicon melt, Can be supplied to the one-direction solidification unit 400.

또한, 상기 연결탕로부(500)는 상기 하면부(501)에서부터 상부 방향으로 각각 마주보는 상기 측면부(502)의 거리가 넓어질 수 있다. 이에 따라, 상기 연결탕로부(500)를 따라 흐르는 실리콘 용탕에 전자빔이 조사될 수 있어 실리콘 정련 효과를 향상시킬 수 있다.In addition, the distance of the side portions 502 facing each other in the upward direction from the bottom portion 501 can be increased. Accordingly, the electron beam can be irradiated to the silicon melt flowing along the connecting pipe 500, thereby improving the silicon refining effect.

또한, 상기 연결탕로부(500)의 주변 부분에 전자빔이 조사되는 영역이 줄어들게 되어 상기 연결탕로부(500)의 내구성이 향상될 수 있다.Also, since the area irradiated with the electron beam is reduced in the peripheral portion of the connection pipe 500, the durability of the connection pipe 500 can be improved.

상기 연결탕로부(500)에 대한 자세한 설명은 이후 도면을 참조하여 후술하기로 한다.A detailed description of the connecting bath part 500 will be described later with reference to the drawings.

격벽(395)은 상기 실리콘 용융부(390) 내측에서 연장되어 내부에 유로를 형성할 수 있다.The partition wall 395 may extend inside the silicon melting portion 390 to form a flow path therein.

상기 격벽(395)은 상기 실리콘 용융부(390)의 내 측면과 평행한 방향으로 연장되며, 상기 격벽(395)이 상기 실리콘 용융부(390)의 연장된 면과 마주하는 면 사이에 유로가 형성될 수 있다.The partition wall 395 extends in a direction parallel to the inner side surface of the silicon melt portion 390 and a flow path is formed between the partition wall 395 and a surface facing the extended surface of the silicon melt portion 390 .

이에 따라, 상기 격벽(395)의 일단과 상기 실리콘 용융부(390) 사이에 유로가 형성되어 상기 격벽(395)의 길이방향을 따라 이동하는 상기 실리콘 용탕(M)의 이동 방향을 변경시킬 수 있다.A flow path is formed between one end of the partition wall 395 and the silicon melt 390 to change the moving direction of the silicon melt M moving along the longitudinal direction of the partition wall 395 .

상기 격벽(395)은 복수 개로 이루어질 수 있고, 상기 복수 개의 격벽(395)은 서로 평행한 방향을 향할 수 있다.The plurality of barrier ribs 395 may be parallel to each other.

이에 따라, 상기 실리콘 용융부(390) 내의 복수 개의 격벽(395)이 서로 평행한 방향을 향하게 됨으로써, 상기 격벽(395)을 실리콘 용융부(390) 내에 용이하게 설치할 수 있다.Accordingly, the plurality of partitions 395 in the silicon melt part 390 are oriented parallel to each other, so that the partitions 395 can be easily installed in the silicon melt part 390.

상기 격벽(395)의 일단이 향하는 방향은 인접하는 격벽(395)의 일단과 반대방향일 수 있다. 이에 따라, 실리콘 용융부(390) 내에서 유체가 이동하는 방향을 계속적으로 변경시킬 수 있다. The direction in which one end of the partition wall 395 faces may be opposite to the one end of the adjacent partition wall 395. As a result, the direction in which the fluid moves in the silicon melting portion 390 can be continuously changed.

즉, 상기 복수 개의 격벽(395)은 상기 실리콘 용융부(390) 내의 유로를 지그재그 형태로 형성시킬 수 있다.That is, the plurality of barrier ribs 395 may form a zigzag flow path in the silicon melting portion 390.

한편, 상기 격벽(395)은 실리콘 용융부(390)와 동일 혹은 유사한 재질로 이루어져, 상기 실리콘 용융부(390)와 일체로 제작될 수 있고 별도로 제작되어 용접방식으로 상기 실리콘 용융부(390)와 결합될 수 있다.The partition wall 395 may be made of the same or similar material as the silicon melting portion 390 and may be manufactured integrally with the silicon melting portion 390 and may be manufactured separately and welded to the silicon melting portion 390 Can be combined.

또한, 상기 격벽(395)의 재질은 이에 한정되지 않고, 상기 실리콘 용융부(390)또는 상기 일방향 응고부(400)와는 다른 재질인 고융점 세라믹스로 이루어져 상기 격벽(395) 내부에 별도의 냉각채널을 필요로 하지 않을 수 있다.The material of the partition wall 395 is not limited to the material of the partition wall 395. The material of the partition wall 395 may be a high melting point ceramics material different from the silicon melting portion 390 or the unidirectional solidification portion 400, May not be required.

이에 따라 상기 격벽(395)과 상기 실리콘 용융부(390)는 볼트 방식으로도 결합될 수 있다.Accordingly, the barrier rib 395 and the silicon melting portion 390 can be coupled in a bolt manner.

이와 같이 본 발명의 일 실시예에 따른 실리콘의 정련 장치는 실리콘 용융부(390) 내에 복수 개의 격벽이 설치됨으로써, 상기 실리콘 용탕(M)의 이동경로를 길게 하여 상기 실리콘 용탕(M) 내의 휘발성 불순물이 제거될 수 있는 시간을 충분히 확보할 수 있게 한다.As described above, the silicon refining apparatus according to the embodiment of the present invention includes a plurality of partitions in the silicon melting unit 390 to extend the movement path of the silicon melt M, So that it is possible to secure a sufficient time to be removed.

도 2는 도 1에서 실리콘 용탕의 이동경로를 나타낸 도면이다.Fig. 2 is a view showing a movement path of the silicon melt in Fig. 1. Fig.

전술한 바와 같이, 상기 원료 공급부의 투입구(124)를 통하여 공급된 실리콘 원료물질은 전자빔에 의해 실리콘 용탕(M)으로 형성된다. 그리고, 상기 실리콘 용탕(M)은 상기 격벽(395)의 길이방향을 따라 이동하게 된다.As described above, the silicon raw material supplied through the inlet 124 of the raw material supply portion is formed of the silicon melt M by the electron beam. The silicon melt (M) moves along the longitudinal direction of the partition wall (395).

다음으로, 상기 실리콘 용탕(M)은 상기 격벽(395)의 일단과 상기 격벽(395)의 일단을 마주하는 상기 실리콘 용융부(390)의 면 사이의 유로에서 이동방향이 변경되게 된다.The molten silicon M is moved in the flow path between one end of the partition wall 395 and the surface of the silicon melt portion 390 facing one end of the partition wall 395.

도시된 바와 같이, 상기 실리콘 용탕(M)은 화살표 방향을 따라 상기 실리콘 용융부(390) 내에서 지그재그 형태로 이동하게 된다.As shown in the figure, the molten silicon M moves in a zigzag manner in the silicon melting portion 390 along the arrow direction.

이와 같이, 본 발명의 다른 측면에 따른 실리콘 정련 장치는 상기 실리콘 용융부(390) 내에서 상기 실리콘 용탕(M)의 이동경로를 변경시키는 하나 이상의 격벽(395)을 포함할 수 있다.As described above, the silicon scouring apparatus according to another aspect of the present invention may include at least one partition wall 395 for changing the movement path of the silicon melt M in the silicon melt portion 390.

다만, 상기 격벽(395)은 도시된 바와 같이 실리콘 용융부(390)의 일측면과 평행한 방향으로 형성된 것에 한정되지 않고, 상기 실리콘 용융부(390) 내에서 상기 실리콘 용탕(M)의 이동경로를 변경시킬 수 있는 구조라면 무엇이든 적용될 수 있다.However, the partition wall 395 is not limited to the one formed in a direction parallel to one side of the silicon melting portion 390, but may be formed in the silicon melting portion 390, Anything can be applied to a structure that can change.

이에 따라, 본 발명의 일 실시예에 따른 실리콘 정련 장치는 상기 실리콘 용융부(390) 내의 상기 실리콘 용탕(M)의 이동경로를 변경시킴으로써, 실리콘 용탕(M) 내의 휘발성 불순물을 제거할 수 있는 시간과 공간을 확보할 수 있게 한다.Accordingly, the silicon refining apparatus according to an embodiment of the present invention can change the movement path of the silicon melt M in the silicon melt section 390, thereby changing the time for removing volatile impurities in the silicon melt M And space can be ensured.

즉, 상기 휘발성 불순물이 충분히 제거됨으로써, 실리콘의 정련 효과를 향상시킬 수 있다.That is, by sufficiently removing the volatile impurities, the refining effect of silicon can be improved.

또한, 실리콘의 정련 효과를 높이기 위하여 실리콘 용융부의 크기를 증대시키지 않아도 되기 때문에, 실리콘 정련 장치의 제작 비용을 절감할 수 있다.In addition, since the size of the silicon melting portion does not need to be increased in order to enhance the refining effect of silicon, the manufacturing cost of the silicon refining apparatus can be reduced.

도 3은 도 1의 실리콘 용융부를 개략적으로 나타내는 사시도이고, 도 4는 도 3의 외측을 나타내는 도면이다.Fig. 3 is a perspective view schematically showing the silicon melting portion of Fig. 1, and Fig. 4 is a view showing the outside of Fig.

실리콘 용융부(390)는 상기 실리콘 용융부(390)의 외측에 배치되며, 유체가 흐르는 유로부(340)를 포함한다.The silicon fused portion 390 is disposed outside the silicon fused portion 390 and includes a flow path portion 340 through which the fluid flows.

상기 유로부(340)는 제 1 유로부(341)와 제 2 유로부(342)를 포함한다.The flow path portion 340 includes a first flow path portion 341 and a second flow path portion 342.

상기 제 1 유로부(341)는 복수 개의 슬릿에 의해 형성된 복수의 유로를 가질 수 있다.The first flow path portion 341 may have a plurality of flow paths formed by a plurality of slits.

즉, 복수 개의 슬릿이 형성된 제 1 유로부(341)는 상기 실리콘 용융부(390) 외측의 표면적을 증가시키는 역할을 수행한다.That is, the first flow path portion 341 having a plurality of slits serves to increase the surface area outside the silicon melt portion 390.

따라서, 상기 제 1 유로부(341)에 냉각 유체를 흐르게 할 경우 상기 냉각 유체는 상기 실리콘 용융부(390) 외측과 접촉할 수 있는 면적이 증가하게 되어 냉각 효율을 향상시킬 수 있다. Therefore, when the cooling fluid flows through the first flow path portion 341, the area of the cooling fluid that can be in contact with the outside of the silicon fusion portion 390 increases, thereby improving the cooling efficiency.

또한, 상기 실리콘 용융부(390)가 장시간 동안 전자빔에 의해 노출된 경우 열에 의한 파손을 방지할 수 있다.In addition, when the silicon melting portion 390 is exposed to the electron beam for a long time, damage due to heat can be prevented.

상기 제 2 유로부(342)는 상기 제 1 유로부(341)에 연장되고, 상기 복수의 유로가 서로 연결되어 하나의 유로를 형성한다.The second flow path portion 342 extends to the first flow path portion 341, and the plurality of flow paths are connected to each other to form one flow path.

상기 실리콘 용융부(390)는 외측에 상기 제 1 유로부(341)와 상기 제 2 유로부(342)를 포함하도록 하기 위하여 절삭 가공 등을 할 수 있다.The silicon melting portion 390 may be cut to process the first flow path portion 341 and the second flow path portion 342 on the outer side.

즉, 상기 제 2 유로부(342)는 상기 제 1 유로부(341)에 연장되어 서로 연결되는 구조를 가짐으로써, 상기 실리콘 용융부(390)의 외측이 상기 제 1 유로부(341)만으로 연장되도록 슬릿을 형성할 필요가 없어 상기 절삭 가공이 손쉽게 이루어 질 수 있다.That is, the second flow path portion 342 is extended to the first flow path portion 341 so that the outer side of the silicon fusion portion 390 extends only by the first flow path portion 341 It is not necessary to form the slits so that the cutting process can be easily performed.

한편, 상기 실리콘 용융부(390)는 상기 실리콘 용탕이 이동할 수 있는 채널을 제공하는 제 1채널부(391)를 가진다.The silicon melting portion 390 has a first channel portion 391 for providing a channel through which the silicon melt can move.

상기 제 2 유로부(342)는 상기 제 1 유로부(341)보다 상기 제 1채널부(391)에 가까운 위치에 배치될 수 있다.The second flow path portion 342 may be disposed closer to the first channel portion 391 than the first flow path portion 341.

또한, 상기 제 2 유로부(342)는 상기 제 1 유로부(341)가 연결되어 하나의 유로를 형성함으로써 폭이 넓어지게 된다.In addition, the second flow path portion 342 is formed to be wider by connecting the first flow path portions 341 to form one flow path.

또한, 본 발명의 다른 측면에 따른 실리콘 용융부는 제 1 유로부(341)와 제 2 유로부(342)를 포함하고, 상기 제 2 유로부(342)에 흐르는 유량은 상기 제 1 유로부(341)에 흐르는 유량보다 많을 수 있다.The silicon melt according to another aspect of the present invention includes a first flow path portion 341 and a second flow path portion 342 and a flow amount flowing in the second flow path portion 342 is greater than a flow amount of the first flow path portion 341 The flow rate may be larger than the flow rate.

이에 따라, 제 2 유로부(342)는 유체의 냉각 속도를 빠르게 하여 상기 제 1채널부(391) 주변의 열을 효과적으로 제거할 수 있다.Accordingly, the second flow path portion 342 can speed up the cooling speed of the fluid and effectively remove the heat around the first channel portion 391.

한편, 본 발명의 또 다른 측면에 따른 실리콘의 정련 장치에 적용되는 실리콘 용융부(390)는 외측에 배치된 복수의 유로부(340)를 가질 수 있다.Meanwhile, the silicon melting portion 390 applied to the silicon refining apparatus according to another aspect of the present invention may have a plurality of flow path portions 340 disposed on the outside.

상기 복수의 유로부(340) 중 적어도 어느 하나의 유로부의 유로 폭은 나머지 유로부의 유로 폭보다 클 수 있다.The flow passage width of at least one of the plurality of flow passage portions 340 may be larger than the flow passage width of the remaining flow passage portions.

이러한, 유로 폭이 큰 유로부가 상기 실리콘 용융부(390)의 제 1채널부(391)주변에 배치되어 유체의 냉각 속도를 빠르게 함으로써, 상기 제 1채널부(391) 주변의 열을 효과적으로 제거할 수 있다.The passage having a large channel width is disposed around the first channel portion 391 of the silicon melt portion 390 to increase the cooling rate of the fluid to effectively remove the heat around the first channel portion 391 .

또한, 상기 제 1 채널부(391)가 전자 빔의 조사로 인해 파손되는 것을 방지할 수 있다.Also, it is possible to prevent the first channel portion 391 from being damaged due to the irradiation of the electron beam.

도 5는 도 3의 A-A선을 따라 절취한 절단면을 나타내는 도면이다.5 is a view showing a section taken along the line A-A in Fig.

도 5를 참조하면, 실리콘 용융부(390)의 제 1채널부(391)의 주변에는 상기 제 1 유로부(341)의 유로 폭보다 큰 제 2 유로부(344)가 배치될 수 있다.5, the second channel portion 344, which is larger than the channel width of the first channel portion 341, may be disposed around the first channel portion 391 of the silicon melt portion 390.

이에 따라, 상기 제 2 유로부(344)에 냉각 유체를 공급할 경우 상기 제 1채널부(391)의 주변을 빠르게 냉각시킬 수 있다. Accordingly, when the cooling fluid is supplied to the second flow path portion 344, the periphery of the first channel portion 391 can be rapidly cooled.

도 6은 도 1의 격벽의 내부를 나타내는 단면도이다.6 is a sectional view showing the inside of the partition wall of Fig.

도 6을 참조하면, 유로부(340)는 상기 격벽(395) 내부와 공간적으로 연결될 수 있다.Referring to FIG. 6, the flow path portion 340 may be spatially connected to the inside of the partition wall 395.

상기 격벽(395) 내부에는 상기 유로부(340)와 연결되는 격벽 유로부(396, 397, 349)를 가질 수 있다.The partition wall 395 may have septum channel portions 396, 397, and 349 connected to the channel portion 340.

상기 격벽 유로부는 상기 격벽 상단에 인접하는 제 1 격벽 유로부(396), 상기 제 1 격벽 유로부(396)와 연통된 제 2 격벽 유로부(397) 및 상기 제 2 격벽 유로부(397)와 연통된 제 3 격벽 유로부(349)를 포함할 수 있다.The partition wall flow passage portion includes a first partition wall flow passage portion 396 adjacent to the upper end of the partition wall, a second partition wall flow passage portion 397 communicating with the first partition wall flow passage portion 396, And a third partition wall flow passage 349 communicated with the first partition wall.

한편, 상기 격벽 유로부는 제 1 격벽 유로부(396), 제 2 격벽 유로부(397) 및 제 3 격벽 유로부(349)에 한정되지 않고, 상기 격벽(390)의 상단 부분에 유체를 이동시킬 수 있는 구조라면 적용될 수 있다.The partition wall flow passage is not limited to the first partition wall flow passage 396, the second partition wall flow passage portion 397 and the third partition wall flow passage portion 349 but may be configured to move the fluid to the upper end portion of the partition wall 390 If the structure can be applied, it can be applied.

이에 따라, 상기 격벽 유로부와 같은 냉각채널을 통해 유체가 이동함에 따라, 전자빔에 의해 상기 격벽(390)의 상단이 파손되는 것을 방지할 수 있다.Accordingly, as the fluid moves through the cooling channel such as the partition wall channel portion, the upper end of the partition wall 390 can be prevented from being damaged by the electron beam.

도 7은 본 발명의 일 실시예에 따른 실리콘 용융부에 유체공급부가 배치된 모습을 나타내는 사시도이고, 도 8은 도 7을 위에서 본 모습과 외측에서 본 모습을 나타내는 도면이다.FIG. 7 is a perspective view showing a state in which a fluid supply unit is disposed in a silicon melting unit according to an embodiment of the present invention, and FIG. 8 is a view showing a state when the fluid supply unit is viewed from above and FIG.

도 7 및 도 8을 참조하면, 유체 공급부(370)는 상기 실리콘 용융부(390)의 모서리부의 상부에 배치될 수 있다.Referring to FIGS. 7 and 8, the fluid supply part 370 may be disposed above the corner of the silicon melt part 390.

상기 유체 공급부(370)에 공급된 냉각 유체는 상기 실리콘 용융부(390)의 외측에서 유로부(340)를 따라 흐르게 되어 장시간의 냉각효율을 증가시킬 수 있다.The cooling fluid supplied to the fluid supply part 370 flows along the flow path part 340 from the outside of the silicon melting part 390 to increase the cooling efficiency for a long time.

또한, 상기 냉각 유체는 상기 실리콘 용융부(390)의 외측을 모두 흐른 이후, 상기 실리콘 용융부(390)의 모서리부의 상기 유로부들 간에 관통되는 영역을 통하여 인접한 외측의 유로부로 이동하게 된다.In addition, after the cooling fluid flows all the outside of the silicon melting portion 390, the cooling fluid moves to the adjacent outside flow path portion through a region passing through the flow path portions of the corner portion of the silicon melting portion 390.

상기 냉각 유체는 상기 실리콘 용융부(390)의 유로부(340)를 모두 통과한 후. 상기 실리콘 용융부(390)의 하면부에 설치된 유로부를 통과할 수 있고, 마침내 유체배출부(380)를 통하여 외부로 배출될 수 있다. After the cooling fluid passes through the flow path portion 340 of the silicon melting portion 390, Can pass through the flow path portion provided on the lower surface of the silicon melting portion 390 and finally can be discharged to the outside through the fluid discharge portion 380. [

도 9 내지 도 10을 참조하여 연결탕로부를 보다 자세히 설명하기로 한다.The connecting bath part will be described in more detail with reference to FIGS. 9 to 10. FIG.

도 9는 각각 다른 형상을 가지는 2종류의 연결탕로부를 나타내는 도면이다.Fig. 9 is a view showing two kinds of connecting trough parts having different shapes.

도 9의 (a)에 도시된 연결탕로부(500a)의 하면부는 평탄하고, 서로 마주보는 측면부는 평행하다.The lower surface of the connecting bath part 500a shown in FIG. 9 (a) is flat and the side parts facing each other are parallel.

즉, 상기 연결탕로부(500a)는 상기 실리콘 용탕(M)이 상기 실리콘 용융부(390)에서 상기 일방향 응고부(400)로 이송되는 방향에 따라 하면부의 단면적이 일정하다.That is, the cross-sectional area of the lower portion of the connection pipe 500a is constant depending on the direction in which the molten silicon M is transferred from the silicon melt portion 390 to the one-direction solidification portion 400.

도 9의 (b)에 도시된 본 발명의 일 측면에 따른 연결탕로부(500b)는 상기 실리콘 용탕(M)이 상기 실리콘 용융부(390)에서 상기 일방향 응고부(400)로 이송되는 방향에 따라 하면부의 단면적이 작아지는 형상을 가진다.The connecting tuyeres 500b according to one aspect of the present invention shown in FIG. 9 (b) are arranged such that the molten silicon M is transferred from the silicon melting portion 390 to the unidirectional solidifying portion 400 The sectional area of the lower portion is reduced.

또한, 본 발명의 다른 측면에 따른 연결탕로부(500b)의 채널의 폭은 상기 실리콘 용탕이 이송되는 방향에 따라 좁아질 수 있다.In addition, the width of the channel of the connecting bath part 500b according to another aspect of the present invention may be narrowed according to the direction in which the silicon melt is fed.

이와 같이, 본 발명의 일 측면에 따른 연결탕로부(500b)는 하면부의 단면적이 작아지는 형상만으로 한정되지 않고, 상기 연결탕로부(500b)의 채널의 폭이 상기 실리콘 용탕이 이송되는 방향에 따라 좁아질 수 있게 됨으로써, 상기 실리콘 용탕이 상기 연결탕로부(500b)에 머무르는 시간을 확보할 수 있다.As described above, the connecting trough part 500b according to one aspect of the present invention is not limited to the shape in which the cross-sectional area of the bottom part is small, and the width of the channel of the connecting trough part 500b is not limited to the direction So that it is possible to secure a time for the silicon melt to stay in the connecting pipe portion 500b.

또한, 상기 연결탕로부(500b)의 하면부는 평탄하다.In addition, the lower surface of the connecting bath part 500b is flat.

도 10은 본 발명의 일 측면에 따른 실리콘의 정련장치를 이용하여 도 9에 도시된 2종류의 연결탕로부에 유지되는 실리콘 용탕의 두께를 비교하기 위한 실험 결과를 나타내는 도면이다.10 is a graph showing the results of experiments for comparing the thicknesses of silicon melt held in the two kinds of connection tanks shown in FIG. 9 using a silicon refining apparatus according to an aspect of the present invention.

도 10의 (a)는 도 9의 (a)에 따른 연결탕로부의 단면을 나타내는 도면이다. 도 10의 (a)에 도시된 바와 같이, 이송되는 방향에 따라 실리콘 용탕의 양이 줄어드는 것을 알 수 있다.Fig. 10 (a) is a view showing a cross section of the connecting bath part according to Fig. 9 (a). Fig. As shown in FIG. 10 (a), it can be seen that the amount of silicon melt is reduced in accordance with the direction in which the silicon melt is transported.

도 10의 (b)는 도 9의 (b)에 따른 연결탕로부의 단면을 나타내는 도면이다. 도 10의 (b)에 도시된 바와 같이, 이송되는 방향에 따라 실리콘 용탕의 양이 비교적 균일한 것을 알 수 있다.Fig. 10 (b) is a view showing a cross section of the connecting bath part according to Fig. 9 (b). As shown in Fig. 10 (b), it can be seen that the amount of silicon melt is relatively uniform in accordance with the direction in which the molten silicon is transported.

도 11은 도 9에서 나타나는 2종류의 연결탕로부에 유지되는 실리콘 용탕의 두께를 정량적으로 나타내는 실험결과표이다.11 is an experimental result table quantitatively showing the thickness of the silicon melt held in the two kinds of connecting baths shown in FIG.

도 11에 도시된 2종류의 연결탕로부에 대한 실험결과를 비교하면, 본 발명의 일 측면에 따른 연결탕로부(500b)에 유지되는 실리콘 용탕의 평균적인 값이 가장 클 뿐만 아니라, 상기 실리콘 용융부(390)에서 상기 일방향 응고부(400)로 공급되는 방향을 따라 상기 연결탕로부(500b)의 하면부를 덮고 있는 실리콘의 용탕의 두께가 가장 균일한 것을 알 수 있다.11, the average value of the silicon melt held in the connecting portion 500b according to one aspect of the present invention is the largest, It can be seen that the thickness of the molten silicon covering the lower surface of the connecting portion 500b along the direction from the silicon molten portion 390 to the unidirectional solidifying portion 400 is the most uniform.

본 발명의 일 측면에 따른 도 9의 (b)에 도시된 연결탕로부(500b)는 일정량의 실리콘 용탕이 상기 연결탕로부(500b) 상에 유지되게 함으로써, 전자빔이 상기 연결탕로부(500b)에 직접 주사되는 것을 막을 수 있어 실리콘 용융부 및 일방향 응고부의 상단부가 파손되는 것을 방지할 수 있다.9 (b) according to an aspect of the present invention allows a certain amount of silicon melt to be held on the connecting bath part 500b, The silicon melt portion and the unidirectional solidified portion can be prevented from being damaged.

즉, 도 9의 (b)에 도시된 연결탕로부(500b)의 구조는 폴리실리콘의 잉곳을 제조하기 위하여 정련 장치의 내구성을 향상시켜 연속적으로 실리콘을 정련할 수 있다.That is, the structure of the connecting bath part 500b shown in FIG. 9 (b) can improve the durability of the refining device to refine silicon continuously to produce an ingot of polysilicon.

도 12는 본 발명의 다른 실시예에 따른 연결탕로부를 나타내는 도면이다.FIG. 12 is a view showing a connecting bath part according to another embodiment of the present invention. FIG.

도 12에 도시된 연결탕로부(500c)는 상기 실리콘 용탕이 상기 실리콘 용융부(390)에서 상기 일방향 응고부(400)로 이송되는 방향에 따라 상기 하면부 일면의 기울기가 수평방향을 기준으로 증가하는 형상을 가질 수 있다.The connecting tuyere 500c shown in FIG. 12 is formed such that the tilt of the lower surface of the lower surface of the molten silicon 390 in the horizontal direction is changed in accordance with the direction in which the molten silicon is transferred from the silicon melting portion 390 to the unidirectional solidifying portion 400 It can have an increasing shape.

이에 따라, 상기 실리콘 용탕은 상기 실리콘 용융부(390)에서 상기 일방향 응고부(400)로 이송되는 경우 도 12에 도시된 연결탕로부(500c)에 상기 실리콘 용탕이 유지될 수 있다.Accordingly, when the molten silicon is transferred from the silicon melting unit 390 to the unidirectional solidification unit 400, the silicon melt can be held in the connection molten silicon unit 500c shown in FIG.

본 발명의 다른 실시예에 따른 연결탕로부(500c)는 일정량의 실리콘 용탕이 상기 연결탕로부(500c) 상에 유지되게 함으로써, 전자빔이 상기 연결탕로부(500c)에 직접 주사되는 것을 막을 수 있어 실리콘 용융부 및 일방향 응고부의 상단부가 파손되는 것을 방지할 수 있다.The connecting bath part 500c according to another embodiment of the present invention allows a certain amount of silicon melt to be held on the connecting bath part 500c so that the electron beam is directly injected into the connecting bath part 500c It is possible to prevent the upper end portions of the silicon melting portion and the unidirectional solidifying portion from being broken.

한편, 본 발명의 또 다른 실시예에 따른 연결탕로부의 하면부는 실리콘 용탕이 이송되는 방향으로 단면적이 작아지며 동시에 하면부 일면의 기울기가 증가하는 형상을 가질 수 있다.Meanwhile, according to another embodiment of the present invention, the lower surface of the lower portion of the connecting bath may have a shape in which the cross-sectional area decreases in a direction in which the silicon melt is transferred, and at the same time, the inclination of the lower surface of the lower surface increases.

이에 따라, 상기 실리콘 용탕의 이송량이 적은 경우에도 연결탕로부에 실리콘 용탕이 유지될 수 있게 되어 연결탕로부가 전자빔에 의해 파손되는 것을 방지할 수 있다.Accordingly, even if the amount of the molten silicon is small, the molten silicon can be held in the connecting bath, and the additional molten glass can be prevented from being damaged by the connecting bath.

도 13은 본 발명의 다른 실시예에 따른 연결탕로부를 나타내는 도면이다.FIG. 13 is a view showing a connecting bath part according to another embodiment of the present invention.

도 13을 참조하면, 본 발명의 일 실시 예와 달리, 실리콘의 정련 장치에 적용되는 연결탕로부(500)의 하면부는 일정한 곡률을 가지는 곡면부(560)를 가질 수 있다.Referring to FIG. 13, unlike the embodiment of the present invention, the lower surface of the connecting pipe 500 applied to the silicon refining apparatus may have a curved surface portion 560 having a constant curvature.

이에 따라, 실리콘 용탕이 실리콘 용탕의 표면장력으로 인하여 상기 실리콘 용융부(390)에서 상기 일방향 응고부(400)로 원활히 공급되지 않는 것을 방지할 수 있다.Accordingly, it is possible to prevent the silicon melt from being smoothly supplied from the silicon melting portion 390 to the unidirectional solidifying portion 400 owing to the surface tension of the silicon melt.

본 발명은 위에서 설명된 실시예에 한정되지 않고, 청구범위에 기재된 바에 의해 정의되며, 본 발명의 분야에서 통상의 지식을 가진 자가 청구범위에 기재된 권리범위 내에서 다양한 변형과 개작을 할 수 있다는 것은 자명하다.It will be understood by those skilled in the art that various changes and modifications may be made without departing from the scope of the present invention as defined by the appended claims, It is obvious.

100: 진공 챔버
200: 전자총
390: 실리콘 용융부
395: 격벽
400; 일방향 응고부
500: 연결탕로부
100: Vacuum chamber
200: electron gun
390: silicon melt portion
395:
400; Unidirectional solidifying portion
500: Connection boiler

Claims (11)

실리콘 용탕이 저장되며, 상부가 개방된 실리콘 용융부; 및
상기 실리콘 용융부 내측에서 연장되어 내부에 유로를 형성하는 복수 개의 격벽;
을 포함하고,
상기 복수 개의 격벽 중 어느 하나는 원료가 투입되는 투입구과 인접한 실리콘 용융부 내측에서 연장되고,
상기 복수 개의 격벽 중 어느 하나는 용융된 실리콘이 배출되는 연결탕로부에 인접한 실리콘 용융부 내측에서 연장되는 실리콘의 정련 장치.
A silicon melt portion in which a silicon melt is stored and an upper portion thereof is opened; And
A plurality of barrier ribs extending from the inside of the silicon melt portion to form a flow path therein;
/ RTI >
Wherein one of the plurality of barrier ribs extends from the inner side of the silicon melting portion adjacent to the charging port into which the raw material is charged,
Wherein one of the plurality of partition walls extends inside the silicon melting portion adjacent to the connection portion where the molten silicon is discharged.
제 1항에 있어서,
상기 격벽은 복수 개로 이루어지고,
상기 복수 개의 격벽은 서로 평행한 방향을 향하는 것을 특징으로 하는 실리콘의 정련 장치.
The method according to claim 1,
The plurality of partition walls are formed,
Wherein the plurality of partition walls are oriented parallel to each other.
진공 분위기를 유지하는 진공 챔버;
상기 진공 챔버에 구비되며, 전자빔을 조사하는 적어도 하나 이상의 전자총(Electron-gun);
상기 진공 챔버 내에 구비되며, 실리콘 원료물질을 공급하는 원료 공급부;
상기 전자빔에 의해 상기 실리콘 원료물질이 용융되어 실리콘 용탕이 형성되는 실리콘 용융부;
상기 실리콘 용융부로부터 공급되는 실리콘 용탕을 응고시키는 일방향 응고부;
상기 실리콘 용융부의 제 1 채널부와 상기 일방향 응고부의 제 2 채널부가 서로 접하여 이루어진 연결탕로부; 및
상기 실리콘 용융부 내에서 상기 실리콘 용탕의 이동경로를 변경시키는 하나 이상의 격벽을 포함하는 실리콘의 정련 장치.
A vacuum chamber for maintaining a vacuum atmosphere;
At least one electron gun provided in the vacuum chamber and irradiating an electron beam;
A raw material supply unit provided in the vacuum chamber for supplying a silicon raw material;
A silicon melting portion in which the silicon raw material is melted by the electron beam to form silicon melt;
A unidirectional solidifying portion for solidifying the silicon melt supplied from the silicon melting portion;
A connecting bath having a first channel portion of the silicon melt portion and a second channel portion of the unidirectional solidification portion being in contact with each other; And
And at least one partition wall for changing a movement path of the silicon melt in the silicon melt portion.
제 3항에 있어서,
상기 연결탕로부는 하면부와 상기 하면부의 양 끝 단에서 수직방향으로 연장된 한쌍의 측면부를 포함하고, 상기 실리콘 용탕이 이송되는 방향에 따라 상기 하면부의 단면적이 작아지는 것을 특징으로 하는 실리콘의 정련 장치.
The method of claim 3,
And a pair of side portions extending in the vertical direction at both ends of the lower surface portion and the lower surface portion of the silicon bottom portion in the direction of conveying the silicon melt. Device.
제 3항에 있어서,
상기 연결탕로부의 하면부는 상기 실리콘 용탕이 상기 일방향 응고부로 공급되는 동안 상기 실리콘 용탕으로 덮어져 유지되는 것을 특징으로 하는 실리콘의 정련 장치.
The method of claim 3,
Wherein the bottom portion of the connecting bath portion is covered and held by the silicon melt while the silicon melt is supplied to the unidirectional solidifying portion.
제 3항에 있어서,
상기 실리콘 용융부, 상기 일방향 응고부 또는 격벽부는 구리 재질을 가지는 것을 특징으로 하는 실리콘의 정련 장치.
The method of claim 3,
Wherein the silicon melt, the unidirectional solidification portion, or the partition wall portion has a copper material.
제 3항에 있어서,
상기 격벽의 재질은 세라믹스인 것을 특징으로 하는 실리콘의 정련 장치.
The method of claim 3,
Wherein the material of the partition is ceramics.
제 3항에 있어서,
상기 실리콘 용융부는 외측에 배치되며, 유체가 흐르는 유로부를 포함하고,
상기 유로부는 복수 개의 슬릿에 의해 형성된 복수의 유로를 포함하는 제 1 유로부와
상기 제 1 유로부에 연장되고, 상기 복수의 유로가 서로 연결되어 하나의 유로를 형성하는 제 2 유로부를 포함하는 것을 특징으로 하는 실리콘의 정련 장치.
The method of claim 3,
Wherein the silicon molten portion is disposed on the outer side and includes a flow path portion through which the fluid flows,
The flow path portion includes a first flow path portion including a plurality of flow paths formed by a plurality of slits
And a second flow path portion extending to the first flow path portion and connected to each other to form one flow path.
제 3항에 있어서,
상기 실리콘 용융부는 각 외측에 배치된 각각의 유로부를 포함하고,
상기 인접한 외측에 배치된 유로부들은 상기 실리콘 용융부의 내부를 관통하여 서로 공간적으로 연결되는 것을 특징으로 하는 실리콘의 정련장치.
The method of claim 3,
Wherein the silicon molten portion includes respective flow paths disposed on the outer side,
And the flow path portions disposed on the adjacent outer side pass through the inside of the silicon melt portion and are spatially connected to each other.
제 3항에 있어서,
상기 실리콘 용융부는 외측에 배치된 복수의 유로부를 갖고,
상기 복수의 유로부 중 적어도 어느 하나의 유로부의 유로 폭은 나머지 유로부의 유로 폭보다 큰 것을 특징으로 하는 실리콘의 정련 장치.
The method of claim 3,
Wherein the silicon molten portion has a plurality of flow paths disposed on the outer side,
Wherein a flow path width of at least one of the plurality of flow path portions is larger than a flow path width of the remaining flow path portions.
제 10항에 있어서,
상기 유로부는 상기 격벽 내부와 공간적으로 연결되는 것을 특징으로 하는 실리콘의 정련 장치.
11. The method of claim 10,
And the flow path portion is spatially connected to the inside of the partition wall.
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