KR101459041B1 - 박막형 태양전지 및 그 제조방법 - Google Patents

박막형 태양전지 및 그 제조방법 Download PDF

Info

Publication number
KR101459041B1
KR101459041B1 KR1020130022930A KR20130022930A KR101459041B1 KR 101459041 B1 KR101459041 B1 KR 101459041B1 KR 1020130022930 A KR1020130022930 A KR 1020130022930A KR 20130022930 A KR20130022930 A KR 20130022930A KR 101459041 B1 KR101459041 B1 KR 101459041B1
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
electrode layer
layer
rear electrode
selenium
solar cell
Prior art date
Application number
KR1020130022930A
Other languages
English (en)
Other versions
KR20140110152A (ko
Inventor
신충환
우경녕
김경각
조원제
김원식
김남균
Original Assignee
엘에스엠트론 주식회사
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 엘에스엠트론 주식회사 filed Critical 엘에스엠트론 주식회사
Priority to KR1020130022930A priority Critical patent/KR101459041B1/ko
Publication of KR20140110152A publication Critical patent/KR20140110152A/ko
Application granted granted Critical
Publication of KR101459041B1 publication Critical patent/KR101459041B1/ko

Links

Images

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L31/00Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
    • H01L31/02Details
    • H01L31/0224Electrodes
    • H01L31/022408Electrodes for devices characterised by at least one potential jump barrier or surface barrier
    • H01L31/022425Electrodes for devices characterised by at least one potential jump barrier or surface barrier for solar cells
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L31/00Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
    • H01L31/0248Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by their semiconductor bodies
    • H01L31/0256Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by their semiconductor bodies characterised by the material
    • H01L31/0264Inorganic materials
    • H01L31/032Inorganic materials including, apart from doping materials or other impurities, only compounds not provided for in groups H01L31/0272 - H01L31/0312
    • H01L31/0322Inorganic materials including, apart from doping materials or other impurities, only compounds not provided for in groups H01L31/0272 - H01L31/0312 comprising only AIBIIICVI chalcopyrite compounds, e.g. Cu In Se2, Cu Ga Se2, Cu In Ga Se2
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L31/00Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
    • H01L31/0248Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by their semiconductor bodies
    • H01L31/036Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by their semiconductor bodies characterised by their crystalline structure or particular orientation of the crystalline planes
    • H01L31/0392Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by their semiconductor bodies characterised by their crystalline structure or particular orientation of the crystalline planes including thin films deposited on metallic or insulating substrates ; characterised by specific substrate materials or substrate features or by the presence of intermediate layers, e.g. barrier layers, on the substrate
    • H01L31/03923Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by their semiconductor bodies characterised by their crystalline structure or particular orientation of the crystalline planes including thin films deposited on metallic or insulating substrates ; characterised by specific substrate materials or substrate features or by the presence of intermediate layers, e.g. barrier layers, on the substrate including AIBIIICVI compound materials, e.g. CIS, CIGS
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L31/00Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
    • H01L31/04Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof adapted as photovoltaic [PV] conversion devices
    • H01L31/06Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof adapted as photovoltaic [PV] conversion devices characterised by potential barriers
    • H01L31/072Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof adapted as photovoltaic [PV] conversion devices characterised by potential barriers the potential barriers being only of the PN heterojunction type
    • H01L31/0749Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof adapted as photovoltaic [PV] conversion devices characterised by potential barriers the potential barriers being only of the PN heterojunction type including a AIBIIICVI compound, e.g. CdS/CulnSe2 [CIS] heterojunction solar cells
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L31/00Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
    • H01L31/18Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment of these devices or of parts thereof
    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y02TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
    • Y02EREDUCTION OF GREENHOUSE GAS [GHG] EMISSIONS, RELATED TO ENERGY GENERATION, TRANSMISSION OR DISTRIBUTION
    • Y02E10/00Energy generation through renewable energy sources
    • Y02E10/50Photovoltaic [PV] energy
    • Y02E10/541CuInSe2 material PV cells
    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y02TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
    • Y02PCLIMATE CHANGE MITIGATION TECHNOLOGIES IN THE PRODUCTION OR PROCESSING OF GOODS
    • Y02P70/00Climate change mitigation technologies in the production process for final industrial or consumer products
    • Y02P70/50Manufacturing or production processes characterised by the final manufactured product

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Electromagnetism (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Sustainable Energy (AREA)
  • Crystallography & Structural Chemistry (AREA)
  • Sustainable Development (AREA)
  • Inorganic Chemistry (AREA)
  • Photovoltaic Devices (AREA)

Abstract

본 발명은 박막형 태양전지 및 그 제조방법을 개시한다. 본 발명에 따른 박막형 태양전지는, 기판 및 상기 기판 상에 형성된 후면 전극층; 및 상기 후면 전극층 상에 형성된 광 흡수층;을 포함하되, 상기 후면 전극층은 고온의 분위기 조건하에 비저항 변화율이 10% 이하인 것을 특징으로 한다.

Description

박막형 태양전지 및 그 제조방법{Thin film solar cell and Method of fabricating the same}
본 발명은 박막형 태양전지 및 그 제조방법에 관한 것으로서, 보다 상세하게는 박막형 태양전지에 적용되는 후면 전극층을 개선하여 에너지 효율이 향상된 박막형 태양전지 및 그 제조방법에 관한 것이다.
최근 석유나 석탄과 같은 기존 에너지 자원의 고갈이 예측되면서 이들을 대체할 대체 에너지에 대한 관심이 높아지고 있다. 그 중에서도 태양전지는 에너지 자원이 풍부하고 환경오염에 대한 문제점이 없어 특히 주목되고 있다. 태양전지에는 태양열을 이용하여 터빈을 회전시키는데 필요한 증기를 발생시키는 태양열 발전과, 반도체의 성질을 이용하여 태양빛(Photons)을 전기에너지로 변환시키는 태양광 전지가 있으며, 태양전지라고 하면 일반적으로 태양광 전지(이하, '태양전지'라 한다)를 일컫는다.
이러한 태양전지는 원료 물질에 따라 크게 다결정(poly crystal) 및 단결정(single crystal) 실리콘 태양전지 또는 비정질 실리콘 태양전지와 같은 실리콘계 태양전지와 화합물 반도체 태양전지 등으로 분류된다.
이 중 화합물 반도체 태양전지의 하나로서 CIGS계 태양전지는 구리(Cu), 인듐(In), 갈륨(Ga), 셀레늄(Se) 등의 원소로 이루어지는 광흡수 계수가 높은 광흡수층을 유리(glass) 등의 기판상에 증착하여 전기에너지를 생산하게 되는 태양전지로서, 두께가 얇은 박막으로도 고효율의 태양전지 제조가 가능하며, 또한 전기, 광학적 안정성이 우수하여 매우 이상적인 광흡수층을 형성할 수 있어 저가, 고효율의 태양전지 재료로 많은 연구가 이루어지고 있다.
이러한 화합물 반도체 태양전지는 각각의 층의 전기적인 특성이 전체 태양전지의 효율에 영향을 미칠 수 있으며, 이에 각 층의 전기적 특성을 개선하여 전체 태양전지의 에너지 효율을 증가시키고자 하는 노력을 지속하고 있다.
본 발명은 상술한 바와 같이 태양전지의 에너지 효율 향상을 위한 노력으로서, 박막형 태양전지에 적용되는 후면 전극층이 고온의 분위기에 의한 비저항 변화율을 최적화함으로써, 태양전지의 에너지 효율을 향상시킬 수 있는 박막형 태양전지 및 그 제조방법을 제공하는데 그 목적이 있다.
상기 기술적 과제를 달성하기 위한 본 발명에 따른 박막형 태양전지는, 기판 및 상기 기판 상에 형성된 후면 전극층; 및 상기 후면 전극층 상에 형성된 광 흡수층;을 포함하되, 상기 후면 전극층은 고온의 분위기 조건하에 비저항 변화율이 10% 이하인 것을 특징으로 한다.
바람직하게, 상기 후면 전극층은 두께가 0.4 ~ 1.0㎛이다.
바람직하게, 상기 후면 전극층은 몰리브덴(Mo)으로 이루어진다.
바람직하게, 상기 후면 전극층은 스퍼터링(Sputtering)법을 이용하여 형성된다.
바람직하게, 상기 후면 전극층은 성막이 완료된 후, 10 ~ 30분 동안 200 ~ 400℃의 온도 조건으로 열처리되어 형성된다.
바람직하게, 상기 후면 전극층은 진공의 분위기 조건하에서 열처리된다.
바람직하게, 상기 후면 전극층에 대한 고온의 분위기는 상기 광 흡수층을 형성하기 위한 셀레늄 처리 공정이다.
바람직하게, 상기 셀레늄 처리 공정은 셀레늄(Se) 분위기 하에서 60분 동안 450 ~ 500℃의 온도 조건으로 열처리되는 공정이다.
바람직하게, 상기 광 흡수층은, 구리(Cu), 인듐(In), 갈륨(Ga) 및 셀레늄(Se)을 함유하는 CIGS계 화합물층을 포함한다.
바람직하게, 상기 광 흡수층 상에 형성된 버퍼층, 윈도우층 및 전면 전극층을 더 포함한다.
상기 기술적 과제를 달성하기 위한 본 발명에 따른 박막형 태양전지의 제조방법은, (a) 기판 상에 후면 전극층을 형성하는 단계; 및 (b) 상기 후면 전극층 상에 광 흡수층을 형성하는 단계;를 포함하되, 상기 후면 전극층은 고온의 분위기 조건하에 비저항 변화율이 10% 이하인 것을 특징으로 한다.
바람직하게, 상기 (a) 단계에서, 상기 후면 전극층은 두께가 0.4 ~ 1.0㎛으로 형성한다.
바람직하게, 상기 (a) 단계에서, 상기 후면 전극층은 몰리브덴(Mo)으로 이루어진다.
바람직하게, 상기 (a) 단계는, 스퍼터링(Sputtering)법을 이용하여 상기 후면 전극층을 형성한다.
바람직하게, 상기 (a) 단계와 (b) 단계 사이에는, 상기 후면 전극층의 성막이 완료된 후, 10 ~ 30분 동안 200 ~ 400℃의 온도 조건으로 열처리하는 단계를 더 포함한다.
바람직하게, 상기 열처리 단계는 진공의 분위기 조건하에서 열처리한다.
바람직하게, 상기 (b) 단계에서, 상기 광 흡수층을 형성하기 위한 셀레늄 처리 단계를 더 포함하고, 상기 후면 전극층에 대한 고온의 분위기는 상기 셀레늄 처리 단계이다.
바람직하게, 상기 셀레늄 처리 단계는 셀레늄(Se) 분위기 하에서 60분 동안 450 ~ 500℃의 온도 조건으로 열처리하는 공정이다.
바람직하게, 상기 (b) 단계에서, 상기 광 흡수층은 구리(Cu), 인듐(In), 갈륨(Ga) 및 셀레늄(Se)을 함유하는 CIGS계 화합물층을 포함한다.
바람직하게, 상기 (b) 단계 이후, 상기 광 흡수층 상에 버퍼층, 윈도우층 및 전면 전극층을 형성하는 단계를 더 포함한다.
본 발명에 따르면, 박막형 태양전지의 후면 전극층이 고온의 분위기에 의한 비저항 변화율을 최소화하여 최적화함으로써, 태양전지의 에너지 효율을 향상시킬 수 있다.
본 명세서에 첨부되는 도면들은 본 발명의 바람직한 실시예를 예시하는 것이며, 발명의 후술되는 상세한 설명과 함께 본 발명의 기술사상을 더욱 이해시키는 역할을 하는 것이므로, 본 발명은 그러한 도면에 기재된 사항에만 한정되어 해석되어서는 아니된다.
도 1은 본 발명에 따른 박막형 태양전지의 구성을 개략적으로 도시한 단면도이다.
도 2 내지 4는 본 발명에 따른 박막형 태양전지의 제조방법을 순차적으로 도시한 공정 단면도들이다.
이하 첨부된 도면을 참조로 본 발명의 바람직한 실시예를 상세히 설명하기로 한다. 이에 앞서, 본 명세서 및 청구범위에 사용된 용어나 단어는 통상적이거나 사전적인 의미로 한정해서 해석되어서는 아니 되며, 발명자는 그 자신의 발명을 가장 최선의 방법으로 설명하기 위해 용어의 개념을 적절하게 정의할 수 있다는 원칙에 입각하여 본 발명의 기술적 사상에 부합하는 의미와 개념으로 해석되어야만 한다. 따라서, 본 명세서에 기재된 실시예와 도면에 도시된 구성은 본 발명의 가장 바람직한 일 실시예에 불과할 뿐이고 본 발명의 기술적 사상을 모두 대변하는 것은 아니므로, 본 출원시점에 있어서 이들을 대체할 수 있는 다양한 균등물과 변형예들이 있을 수 있음을 이해하여야 한다.
도 1은 본 발명에 따른 박막형 태양전지의 구성을 개략적으로 도시한 단면도이다.
도 1을 참조하면, 본 발명에 따른 박막형 태양전지는, 기판(100), 후면 전극층(200) 및 광 흡수층(300)을 포함한다. 또한, 상기 박막형 태양전지는 광 흡수층(300) 상에 버퍼층(400), 윈도우층(500) 및 전면 전극층(600)을 더 포함할 수 있다.
상기 기판(100)은 플랙시블한 특성을 갖도록 폴리이미드(polyimide)를 이용한 폴리머 기판이 이용될 수 있다. 하지만, 본 발명이 이에 한정되는 것은 아니며, 폴리머 기판 이외에도 태양전지의 적층 구조의 기초가 될 수 있는 다양한 재질이 사용될 수 있음은 자명하다. 예컨대, 절연성을 갖는 유리 기판으로 소다라임(sodalime) 유리를 이용한 기판이 이용될 수 있다.
상기 후면 전극층(200)은 도전성을 갖는 금속층으로서 높은 전기전도성과 광 흡수층(300)과의 오믹 접촉(ohmic contact) 및 셀레늄(Se) 분위기 하에서의 고온 안정성을 갖는 몰리브덴(Mo)이 사용될 수 있다. 상기 후면 전극층(200)은 스퍼터링(Sputtering)법을 이용하여 형성될 수 있다. 이때, 후면 전극층(200)은 0.4 ~ 1.0㎛인 두께로 형성될 수 있다.
본 발명에서, 상기 후면 전극층(200)은 고온의 분위기 조건하에 비저항 변화율이 10% 이하가 되도록 형성된다. 이는 후면 전극층(200)이 고온의 분위기 조건에 노출된 이후, 비저항 변화율이 10%를 초과하게 될 경우, 후면 전극층(200)의 면저항 수치 증가로 태양전지 내부에서 발생되는 전류의 흐름이 원활하게 되지 않아 태양전지의 에너지 효율에 손실이 발생할 수 있기 때문에 바람직하지 못하다. 이와 같이, 상기 후면 전극층(200)은 고온의 분위기 조건하에 비저항 변화율이 10% 이하를 가질 수 있도록 형성함에 따라 태양전지 내부에서 발생되는 전류의 흐름이 원활하게 되어 박막형 태양전지의 에너지 효율을 10% 이상으로 향상시킬 수 있다.
즉, 상기 후면 전극층(200) 상에는 CIGS계의 광 흡수층(300)이 형성되게 되는데, 상기 광 흡수층(300)을 형성하는 과정에서 고온의 분위기에서 진행되는 셀레늄 처리 공정이 수반되게 되며, 이러한 고온의 분위기에 노출된 이후, 상기 후면 전극층(200)의 비저항이 높아지는 변화가 발생하는 문제점을 가지게 된다.
이에 본 발명에서는 후면 전극층(200)이 고온의 분위기에 노출된 이후에도 비저항의 변화되는 것을 최소화하여 비저항 변화율을 10% 이하로 낮출 수 있도록 한다는데 발명의 특징이 있다. 이를 위해, 상기 후면 전극층(200)은 성막이 완료된 후, 진공의 분위기 하에서 10 ~ 30분 동안 200 ~ 400℃의 온도 조건으로 열처리하는 공정을 거칠 수 있다. 이는 광 흡수층(300)의 형성을 위한 고온의 셀레늄 처리 이전에 후면 전극층(200)을 열처리함으로써, 후면 전극층(200)을 형성하기 위한 스퍼터링 공정에서 결합되지 않고 남아있던 몰리브덴(Mo) 입자에 의한 결함 부분이 제어되어 후면 전극층(200)의 안정성이 향상되어 고온의 분위기에 노출된 이후에도, 비저항의 변화를 낮출 수 있게 됨으로써 비저항 변화율을 10% 이하가 되도록 할 수 있다.
상기 광 흡수층(300)은 태양광을 흡수하여 기전력을 발생시키기 위한 것으로서, CIGS계의 재질로 형성된다. CIGS는 구리(Cu), 인듐(In), 셀레늄(Se)으로 이루어진 CuInSe2(CIS)의 3원소 반도체에 갈륨(Ga) 원소를 도핑하여 효율을 증가시킨 것이다. 이러한 광 흡수층(300)은 스퍼터링 공정에 의해 구리, 인듐 및 갈륨으로 이루어진 화합물층을 형성한 이후, 셀레늄 분위기 하에서 60분 동안 450 ~ 500℃의 온도 조건으로 열처리됨으로써, 구리(Cu), 인듐(In), 갈륨(Ga) 및 셀레늄(Se)을 함유하는 CIGS계 화합물층으로 형성되게 된다.
본 발명에서는, 상기 후면 전극층(200) 상에 광 흡수층(300)을 형성하는 과정에서의 고온의 분위기에 의한 영향으로부터 후면 전극층(200)의 비저항 안정성을 향상시킴으로써, 상기 후면 전극층(200)이 고온의 분위기 조건하에 비저항 변화율이 10% 이하가 되도록 하여 박막형 태양전지의 에너지 효율을 향상시킬 수 있게 된다.
상기 버퍼층(400)은 p형 반도체 층인 상기 광 흡수층(300)과 pn접합되는 n형의 반도체 층으로서, 황화 카드뮴(Cds)로 형성된다.
상기 윈도우층(500)은 투명한 전극층으로서, ITO, ZnO 또는 i-ZnO 중 어느 하나로 형성될 수 있다. 이때, 상기 윈도우층(500)의 상면에는 전하를 효과적으로 포집하기 위해서 알루미늄(Al)이나 니켈(Ni)과 같은 금속 재질로 이루어진 금속층인 전면 전극층(600)이 형성된다.
상술한 바와 같이, 본 발명에 따른 박막형 태양전지는 후면 전극층(200)이 고온의 분위기 조건하에 비저항 변화율이 10% 이하가 되도록 형성됨으로써, 태양전지 내부에서 발생되는 전류의 흐름이 원활하게 되어 박막형 태양전지의 에너지 효율을 향상시킬 수 있는 장점을 갖게 된다.
도 2 내지 4는 본 발명에 따른 박막형 태양전지의 제조방법을 순차적으로 도시한 공정 단면도들이다.
도 2 내지 도 4를 참조하면, 본 발명에 따른 박막형 태양전지의 제조방법은, 기판(100) 상에 후면 전극층(200)을 형성하는 단계와, 상기 후면 전극층(200) 상에 광 흡수층(300)을 형성하는 단계를 포함한다. 또한, 상기 박막형 태양전지의 제조방법은 광 흡수층(300) 상에 버퍼층(400), 윈도우층(500) 및 전면 전극층(600)을 형성하는 단계를 더 포함할 수 있다.
먼저, 도 2에 도시된 바와 같이, 기판(100)을 준비하고, 상기 기판(100) 상에 후면 전극층(200)을 형성한다. 이는 몰리브덴(Mo)을 타겟 물질로 한 스퍼터링(Sputtering)법을 이용하여 형성된다. 이때, 후면 전극층(200)은 두께가 0.4 ~ 1.0㎛으로 형성될 수 있다.
본 발명에서, 상기 후면 전극층(200)은 고온의 분위기 조건하에 비저항 변화율이 10% 이하가 되도록 형성된다. 이는 후면 전극층(200)이 고온의 분위기 조건에 노출된 이후, 비저항 변화율이 10%를 초과하게 될 경우, 후면 전극층(200)의 면저항 수치 증가로 태양전지 내부에서 발생되는 전류의 흐름이 원활하게 되지 않아 태양전지의 에너지 효율에 손실이 발생할 수 있기 때문에 바람직하지 못하다. 이와 같이, 상기 후면 전극층(200)은 고온의 분위기 조건하에 비저항 변화율이 10% 이하를 가질 수 있도록 형성함에 따라 태양전지 내부에서 발생되는 전류의 흐름이 원활하게 되어 박막형 태양전지의 에너지 효율을 10% 이상으로 향상시킬 수 있다.
이를 위해, 도 3에 도시된 바와 같이, 상기 후면 전극층(200)의 성막이 완료된 후, 진공의 분위기 하에서 10 ~ 30분 동안 200 ~ 400℃의 온도 조건으로 열처리한다. 이는 후면 전극층(200)을 형성하기 위한 스퍼터링 공정에서 결합되지 않고 남아있던 몰리브덴(Mo) 입자에 의한 결함 부분이 제어되어 후면 전극층(200)의 안정성이 향상되어 고온의 분위기에 노출된 이후에도, 비저항의 변화를 낮출 수 있게 함으로써 비저항 변화율을 10% 이하가 되도록 할 수 있다.
그런 다음, 도 4에 도시된 바와 같이, 상기 후면 전극층(200) 상에 광 흡수층(300)을 형성한다. 광 흡수층(300)은 태양광을 흡수하여 기전력을 발생시키기 위한 것으로, CIGS계의 재질로 형성된다. 이러한 광 흡수층(300)은 스퍼터링 공정에 의해 구리, 인듐 및 갈륨으로 이루어진 화합물층을 형성한 이후, 셀레늄 분위기 하에서 60분 동안 450 ~ 500℃의 온도 조건으로 열처리됨으로써, 구리(Cu), 인듐(In), 갈륨(Ga) 및 셀레늄(Se)을 함유하는 CIGS계 화합물층으로 형성되게 된다.
또한, 도면에는 도시되지 않았지만, 광 흡수층(300) 상에 버퍼층(400), 윈도우층(500) 및 전면 전극층(600)을 순차적으로 적층시켜 박막형 태양전지를 완성하게 된다.
이와 같이, 본 발명에 따른 박막형 태양전지의 제조방법에 의해 형성된 후면 전극층(200)은 고온의 분위기 조건하에 비저항 변화율이 10% 이하가 되도록 형성됨으로써, 태양전지 내부에서 발생되는 전류의 흐름이 원활하게 되어 박막형 태양전지의 에너지 효율을 향상시킬 수 있는 장점을 갖게 된다.
이상과 같이, 본 발명은 비록 한정된 실시예와 도면에 의해 설명되었으나, 본 발명은 이것에 의해 한정되지 않으며 본 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자에 의해 본 발명의 기술사상과 아래에 기재될 특허청구범위의 균등범위 내에서 다양한 수정 및 변형이 가능함은 물론이다.
100 : 기판 200 : 후면 전극층
300 : 광 흡수층 400 : 버퍼층
500 : 윈도우층 600 : 전면 전극층

Claims (20)

  1. 기판 및 상기 기판 상에 형성되고, 몰리브덴(Mo)으로 이루어진 후면 전극층; 및
    상기 후면 전극층 상에 형성된 광 흡수층;을 포함하되,
    상기 후면 전극층은 성막이 완료된 후, 열처리되어 형성되고, 이후 상기 광 흡수층을 형성하기 위한 셀레늄 처리 공정에서의 고온의 분위기 조건하에 비저항 변화율이 10% 이하인 것을 특징으로 하는 박막형 태양전지.
  2. 제1항에 있어서,
    상기 후면 전극층은 두께가 0.4 ~ 1.0㎛인 것을 특징으로 하는 박막형 태양전지.
  3. 삭제
  4. 제1항에 있어서,
    상기 후면 전극층은 스퍼터링(Sputtering)법을 이용하여 형성되는 것을 특징으로 하는 박막형 태양전지.
  5. 제1항에 있어서,
    상기 후면 전극층의 열처리는, 10 ~ 30분 동안 200 ~ 400℃의 온도 조건으로 열처리되는 것을 특징으로 하는 박막형 태양전지.
  6. 제5항에 있어서,
    상기 열처리는 진공의 분위기 조건하에서 열처리되는 것을 특징으로 하는 박막형 태양전지.
  7. 삭제
  8. 제1항에 있어서,
    상기 셀레늄 처리 공정은 셀레늄(Se) 분위기 하에서 60분 동안 450 ~ 500℃의 온도 조건으로 열처리되는 공정인 것을 특징으로 하는 박막형 태양전지.
  9. 제1항에 있어서,
    상기 광 흡수층은, 구리(Cu), 인듐(In), 갈륨(Ga) 및 셀레늄(Se)을 함유하는 CIGS계 화합물층을 포함하는 것을 특징으로 하는 박막형 태양전지.
  10. 제1항에 있어서,
    상기 광 흡수층 상에 형성된 버퍼층, 윈도우층 및 전면 전극층을 더 포함하는 것을 특징으로 하는 박막형 태양전지.
  11. (a) 기판 상에 몰리브덴(Mo)으로 이루어진 후면 전극층을 형성하는 단계;
    (b) 상기 후면 전극층 상에 광 흡수층을 형성하는 단계;를 포함하되,
    상기 후면 전극층은 상기 (a) 단계에서 성막이 완료된 후, 열처리되어 형성되고, 이후 상기 (b) 단계에서 상기 광 흡수층을 형성하기 위한 셀레늄 처리 공정에서의 고온의 분위기 조건하에 비저항 변화율이 10% 이하인 것을 특징으로 하는 박막형 태양전지의 제조방법.
  12. 제11항에 있어서,
    상기 (a) 단계에서, 상기 후면 전극층은 두께가 0.4 ~ 1.0㎛으로 형성하는 것을 특징으로 하는 박막형 태양전지의 제조방법.
  13. 삭제
  14. 제11항에 있어서,
    상기 (a) 단계는, 스퍼터링(Sputtering)법을 이용하여 상기 후면 전극층을 형성하는 것을 특징으로 하는 박막형 태양전지의 제조방법.
  15. 제11항에 있어서,
    상기 (a) 단계에서, 상기 후면 전극층의 열처리는, 10 ~ 30분 동안 200 ~ 400℃의 온도 조건으로 열처리하는 단계인 것을 특징으로 하는 박막형 태양전지의 제조방법.
  16. 제15항에 있어서,
    상기 열처리 단계는 진공의 분위기 조건하에서 열처리하는 것을 특징으로 하는 박막형 태양전지의 제조방법.
  17. 삭제
  18. 제11항에 있어서,
    상기 셀레늄 처리 단계는 셀레늄(Se) 분위기 하에서 60분 동안 450 ~ 500℃의 온도 조건으로 열처리하는 공정인 것을 특징으로 하는 박막형 태양전지의 제조방법.
  19. 제11항에 있어서,
    상기 (b) 단계에서, 상기 광 흡수층은 구리(Cu), 인듐(In), 갈륨(Ga) 및 셀레늄(Se)을 함유하는 CIGS계 화합물층을 포함하는 것을 특징으로 하는 박막형 태양전지의 제조방법.
  20. 제11항에 있어서,
    상기 (b) 단계 이후, 상기 광 흡수층 상에 버퍼층, 윈도우층 및 전면 전극층을 형성하는 단계를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 박막형 태양전지의 제조방법.
KR1020130022930A 2013-03-04 2013-03-04 박막형 태양전지 및 그 제조방법 KR101459041B1 (ko)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020130022930A KR101459041B1 (ko) 2013-03-04 2013-03-04 박막형 태양전지 및 그 제조방법

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020130022930A KR101459041B1 (ko) 2013-03-04 2013-03-04 박막형 태양전지 및 그 제조방법

Publications (2)

Publication Number Publication Date
KR20140110152A KR20140110152A (ko) 2014-09-17
KR101459041B1 true KR101459041B1 (ko) 2014-11-10

Family

ID=51756261

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1020130022930A KR101459041B1 (ko) 2013-03-04 2013-03-04 박막형 태양전지 및 그 제조방법

Country Status (1)

Country Link
KR (1) KR101459041B1 (ko)

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN112736150B (zh) * 2021-01-07 2022-08-19 中国科学院深圳先进技术研究院 一种铜铟镓硒薄膜太阳能电池及其制备方法

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20110013009A (ko) * 2009-07-31 2011-02-09 엘지전자 주식회사 복수의 배면전극층을 가지는 박막 태양전지 및 그의 제조방법
KR101038244B1 (ko) * 2007-03-29 2011-06-01 미쓰이 긴조꾸 고교 가부시키가이샤 SnO2계 스퍼터링 타겟트 및 스퍼터막
KR20120137965A (ko) * 2011-06-14 2012-12-24 (주) 다쓰테크 기판 이동형 안개분사 화학기상 증착법과 이를 이용한 투명 전도성 산화물층의 제조방법 및 cis계 박막태양전지의 제조방법

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR101038244B1 (ko) * 2007-03-29 2011-06-01 미쓰이 긴조꾸 고교 가부시키가이샤 SnO2계 스퍼터링 타겟트 및 스퍼터막
KR20110013009A (ko) * 2009-07-31 2011-02-09 엘지전자 주식회사 복수의 배면전극층을 가지는 박막 태양전지 및 그의 제조방법
KR20120137965A (ko) * 2011-06-14 2012-12-24 (주) 다쓰테크 기판 이동형 안개분사 화학기상 증착법과 이를 이용한 투명 전도성 산화물층의 제조방법 및 cis계 박막태양전지의 제조방법

Also Published As

Publication number Publication date
KR20140110152A (ko) 2014-09-17

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US8871560B2 (en) Plasma annealing of thin film solar cells
Matin et al. A study towards the possibility of ultra thin Cds/CdTe high efficiency solar cells from numerical analysis
KR102350885B1 (ko) 태양 전지
US9691927B2 (en) Solar cell apparatus and method of fabricating the same
KR101474487B1 (ko) 박막형 태양전지 및 그 제조방법
KR101459041B1 (ko) 박막형 태양전지 및 그 제조방법
TWI611591B (zh) 形成緩衝層之方法
KR101459039B1 (ko) 박막형 태양전지 및 그 제조방법
KR20110116485A (ko) 태양 전지 제조 방법
Robin et al. A comparative performance analysis of CdS and In 2 S 3 buffer layer in CIGS solar cell
KR101450798B1 (ko) 박막형 태양전지 및 그 제조방법
US9349901B2 (en) Solar cell apparatus and method of fabricating the same
KR101436538B1 (ko) 박막형 태양전지 및 그 제조방법
KR101436539B1 (ko) 박막형 태양전지 및 그 제조방법
KR101519094B1 (ko) 화합물 박막 태양전지
KR101419805B1 (ko) 박막형 태양전지용 후면 전극 및 이를 포함하는 박막형 태양전지
KR101305603B1 (ko) 태양전지 및 이의 제조방법
KR101372026B1 (ko) 태양전지 및 이의 제조방법
KR101517122B1 (ko) 화합물 박막 태양전지
KR101326968B1 (ko) 태양전지 및 이의 제조방법
KR101436541B1 (ko) 박막형 태양전지 및 그 제조방법
KR101450799B1 (ko) 박막형 태양전지 및 그 제조방법
KR101493926B1 (ko) 박막형 태양전지
KR101549077B1 (ko) 화합물 박막 태양전지용 후면 전극 및 이를 포함하는 화합물 박막 태양전지
Aliyu et al. Evaluation of the effects and impacts of the CdSTe interlayer in CdS/CdTe solar cells through modeling and simulations

Legal Events

Date Code Title Description
A201 Request for examination
E902 Notification of reason for refusal
E701 Decision to grant or registration of patent right
LAPS Lapse due to unpaid annual fee