KR101450285B1 - 렌즈 모듈 검사 장치 및 검사 방법 - Google Patents

렌즈 모듈 검사 장치 및 검사 방법 Download PDF

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Abstract

렌즈 모듈 검사 장치 및 검사 방법을 개시한다. 렌즈 모듈 검사 장치는 렌즈 모듈을 고정시켜 검사 위치로 이동시키는 검사대, 검사대에 결합되어 렌즈 모듈의 렌즈의 변위를 측정하는 변위 측정부, 및 미리 설정된 구동 검사 항목에 따라 렌즈 모듈의 구동 검사를 수행하여 렌즈 모듈의 불량을 판별하고, 미리 설정된 리프트 오프 검사 항목에 따라 렌즈 배럴의 리프트 오프 검사를 수행하여 변위 측정부에서 측정된 변위 데이터를 검사 결과로 저장시키는 제어부를 포함한다.

Description

렌즈 모듈 검사 장치 및 검사 방법{LENS MODULE INSPECTION APPARATUS AND METHOD}
본 발명은 렌즈 모듈 검사 장치 및 검사 방법에 관한 것이다.
최근 전자기기에는 소비자들의 다양한 요구에 의하여 이미지를 촬영하는 카메라 모듈이 장착되고 있다. 이러한 카메라 모듈은 피사체의 반사광을 입사받는 렌즈 및 렌즈와 결합되어 렌즈를 이동시키고 피사체에 초점을 맞추는 액츄에이터로 구성된 렌즈 모듈를 포함한다.
그러나, 카메라 모듈은 조립 결합이나 부품 자체 결합 및 기타 요인 등에 의하여 종종 구동 특성에 변화가 발생하게 된다.
특히, 카메라 모듈의 액츄에이터에서 구동 성능의 특성에 변화가 발생하게 되면, 피사체에 초점을 맞추는 렌즈가 비정상적으로 이동하여 촬영 해상도가 떨어지게 되는 문제점이 발생된다.
종래에는 이러한 문제점을 해결하기 위해 카메라 모듈의 조립 검사에서는 광학 거리를 이용하여 해상력을 평가한 후 렌즈의 이동 시작점의 위치 정보를 저장하였다. 그러나, 해상력을 평가하여 렌즈의 이동 시작점의 위치 정보를 저장하는 것은 실질적으로 렌즈가 움직임이기 시작하는 시작점을 검사하기 어렵다.
한국공개특허 제2007-0093259호
본 발명은 구동 검사 및 리프트 오프 검사를 수행하여 검사 결과를 저장시키는 렌즈 모듈 검사 장치 및 검사 방법을 제공하는데 목적이 있다.
본 발명의 일 실시예에 따른 렌즈 모듈 검사 장치는 렌즈 모듈을 고정시켜 검사 위치로 이동시키는 검사대, 검사대에 결합되어 렌즈 모듈의 렌즈의 변위를 측정하는 변위 측정부, 및 미리 설정된 구동 검사 항목에 따라 렌즈 모듈의 구동 검사를 수행하여 렌즈 모듈의 불량을 판별하고, 미리 설정된 리프트 오프 검사 항목에 따라 렌즈 배럴의 리프트 오프 검사를 수행하여 변위 측정부에서 측정된 변위 데이터를 검사 결과로 저장시키는 제어부를 포함한다.
본 발명의 일 실시예에 따르면, 제어부는 렌즈 모듈의 렌즈가 최초 움직이기 시작하는 위치를 찾기 위해 공급하는 전류의 단위에 대한 코드 데이터로 리프트 오프 검사를 수행할 수 있다.
본 발명의 일 실시예에 따르면, 블록 단위로 이루어진 저장 영역에 측정된 변위 데이터를 저장하는 저장부를 더 포함할 수 있다.
본 발명의 일 실시예에 따르면, 제어부는 저장부에 저장된 데이터의 존재를 체크하고, 저장된 데이터가 있는 경우 저장된 데이터와 측정된 변위 데이터를 비교할 수 있다.
본 발명의 일 실시예에 따르면, 제어부는 저장된 데이터와 측정된 변위 데이터의 비교 결과에 따라 저장된 데이터를 갱신할 수 있다.
본 발명의 일 실시예에 따르면, 제어부는 구동 검사를 통해 측정된 변위 데이터를 미리 설정된 평가 기준과 비교하여 비교 결과에 따라 불량으로 처리할 수 있다.
본 발명의 일 실시예에 따르면, 변위 측정부는 레이저를 이용하여 변위를 측정할 수 있다.
본 발명의 일 실시예에 따른 렌즈 모듈 검사 방법은 렌즈 모듈의 액츄에이터의 구동 검사를 수행하는 단계, 렌즈 모듈의 액츄에이터의 리프트 오프 검사를 수행하는 단계, 저장 영역 및 저장 데이터의 존재를 체크하는 단계, 및 리프트 오프 검사를 통해 측정된 데이터를 저장하는 단계를 포함한다.
본 발명의 일 실시예에 따르면, 리프트 오프 검사를 수행하는 단계에서는 렌즈의 이동 단위, 리프트 오프에 대한 무시값, 액츄에이터의 동작 지연 시간 및 렌즈의 원거리 위치에 대한 범위 중 적어도 하나를 포함하는 리프트 오프 검사 항목을 이용할 수 있다.
본 발명의 일 실시예에 따르면, 저장 영역 및 저장 데이터의 존재를 체크하는 단계에서는 저장 데이터가 존재할 경우, 저장된 데이터와 리프트 오프 검사를 통해 측정된 데이터를 비교할 수 있다.
본 발명의 일 실시예에 따르면, 저장 영역 및 저장 데이터의 존재를 체크하는 단계에서는 저장된 데이터와 측정된 데이터의 차이를 미리 설정된 허용 기준값과 비교하여 저장된 데이터를 유지시키거나 갱신할 수 있다.
본 발명의 일 실시 예에 따른 렌즈 모듈 검사 장치 및 검사 방법은 레이저 변위 측정 방식을 이용하여 렌즈 모듈의 구동 검사를 수행한 후 리프트 오프 검사를 수행하여 렌즈 모듈의 조립 완성도를 정확하게 평가할 수 있다. 또한, 본 발명의 일 실시 예에 따른 렌즈 모듈 검사 장치 및 검사 방법은 측정된 데이터를 저장할 영역을 체크한 후 기 저장된 데이터와 비교하여 저장된 데이터를 갱신함으로써 검사 정확도를 향상시킬 수 있다.
도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 렌즈 모듈 검사 장치를 나타내는 블록도이다.
도 2는 본 발명의 일 실시 예에 따른 검사대 및 변위 측정부를 나타내는 측면 사시도이다.
도 3은 렌즈 모듈의 렌즈 배럴을 나타내는 도면이다.
도 4는 본 발명의 일 실시예에 따른 렌즈 모듈 검사 방법을 나타내는 순서도이다.
본 발명은 다양한 변환을 가할 수 있고 여러 가지 실시예를 가질 수 있는 바, 특정 실시예들을 도면에 예시하고 상세한 설명에 상세하게 설명하고자 한다. 그러나, 이는 본 발명을 특정한 실시 형태에 대해 한정하려는 것이 아니며, 본 발명의 사상 및 기술 범위에 포함되는 모든 변환, 균등물 내지 대체물을 포함하는 것으로 이해되어야 한다. 본 발명을 설명함에 있어서 관련된 공지 기술에 대한 구체적인 설명이 본 발명의 요지를 흐릴 수 있다고 판단되는 경우 그 상세한 설명을 생략한다.
본 발명에서 사용한 용어는 단지 특정한 실시예를 설명하기 위해 사용된 것으로, 본 발명을 한정하려는 의도가 아니다. 단수의 표현은 문맥상 명백하게 다르게 뜻하지 않는 한, 복수의 표현을 포함한다. 본 발명에서, "포함하다" 또는 "가지다" 등의 용어는 명세서상에 기재된 특징, 숫자, 단계, 동작, 구성요소, 부품 또는 이들을 조합한 것이 존재함을 지정하려는 것이지, 하나 또는 그 이상의 다른 특징들이나 숫자, 단계, 동작, 구성요소, 부품 또는 이들을 조합한 것들의 존재 또는 부가 가능성을 미리 배제하지 않는 것으로 이해되어야 한다.
이하에서는 첨부된 도 1 내지 도 4를 참조하여 본 발명의 일 실시예에 따른 렌즈 모듈 검사 장치 및 검사 방법을 설명하면 다음과 같다.
도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 렌즈 모듈 검사 장치를 나타내는 블록도이다.
도 1을 참조하면, 본 발명의 일 실시예에 따른 렌즈 모듈 검사 장치는 검사대(110), 변위 측정부(150), 통신부(200), 제어부(250), 전원 공급부(255) 및 저장부(300)를 포함한다.
여기서는 도 2를 더 참조하여 검사대(110) 및 변위 측정부(150)를 설명한다.
도 2는 본 발명의 일 실시 예에 따른 검사대 및 변위 측정부를 나타내는 측면 사시도이다.
검사대(110)는 렌즈 모듈(50)을 고정시켜 검사 위치로 이동시킨다.
여기서, 검사대(110)는 절곡 프레임(120), 검사물 이동부(122), 지그(128), 제1 위치 조정 노브(130), 제2 위치 조정 노브(132) 및 노브 가이드(134)를 포함할 수 있다. 절곡 프레임(120)은 수직면과 수평면이 결합되어 이루어진다. 검사물 이동부(122)는 LM 가이드(124)와 지지 플레이트(126)로 이루어져 지그(128)를 이동시킬 수 있다. 지그(128)는 렌즈 모듈(50)을 고정시킬 수 있다. 제1 위치 조정 노브(130)는 검사물 이동부(122)의 위치를 정지 위치로 조정할 수 있다. 제2 위치 조정 노브(132)는 검사물 이동부(122)의 위치를 홈 위치로 조정할 수 있다. 노브 가이드(134)는 제1 위치 조정 노브(130) 및 제2 위치 조정 노브(132)의 이동을 가이드할 수 있다.
변위 측정부(150)는 검사대(110)에 결합되어 렌즈 모듈(50)의 렌즈 배럴의 이동 변화량을 측정할 수 있다. 여기서 변위 측정부(150)는 레이저 광을 이용하여 렌즈 모듈(50)의 움직임에 따른 레이저 광의 변위를 감지하는 레이저 센서(160), 레이저 센서(160)를 이동시키는 센서 이동부(165)를 포함할 수 있다.
레이저 센서(160)는 레이저 광을 생성하는 발광부 및 레이저 광을 수신하는 수광부로 구성될 수 있다. 레이저 센서(160)는 도 3에 도시된 바와 같이 렌즈 모듈(50)의 렌즈 배럴(60)에 레이저 광을 발사하여 렌즈 배럴(60)의 움직임에 따른 레이저 광의 변위를 감지할 수 있다. 여기서 레이저 센서(160)는 렌즈 배럴(60)의 측정 설정면(65)에 레이저 광을 발사하여 레이저 광의 변위를 측정할 수 있다.
센서 이동부(165)는 레이저 센서(160)를 이동시킨다. 여기서 센서 이동부(165)는 레이저 센서(160)를 제1축 방향으로 이동시키는 제1 이동부(170) 및 레이저 센서(160)를 제2축 또는 제3축으로 이동시키는 제2 이동부(180)를 포함할 수 있다. 제1 이동부(170)는 레이저 센서(160) 및 제2 이동부(180)와 결합하여 레이저 센서(160)를 Y축 방향으로 이동시킬 수 있다. 제2 이동부(180)는 검사대(110) 및 제1 이동부(170)와 결합하여 제1 이동부(170)를 X축 또는 Z축 방향으로 이동시킬 수 있다.
통신부(200)는 변위 측정부(150)와 제어부(250) 사이의 통신을 수행한다. 여기서 통신부(200)는 무선 통신 방식 또는 유선 통신 방식으로 통신을 수행할 수 있다.
제어부(250)는 구동 검사 항목 및 리프트 오프 검사 항목을 이용하여 렌즈 모듈(50)을 검사한다. 여기서 제어부(250)는 렌즈 모듈(50)의 액츄에이터(미도시)에 대한 구동 검사를 수행할 수 있다. 또한, 제어부(250)는 렌즈 모듈(50)의 책츄에이터에 대한 리프트 오프 검사를 수행할 수 있다. 또한, 제어부(250)는 리프트 오프 검사를 통해 측정된 데이터를 저장할 수 있다. 이때, 제어부(250)는 저장부(300)의 저장 영역과 저장 데이터의 존재 유무를 확인하여 설정된 조건에 부합할 경우 측정된 데이터를 저장할 수 있다.
우선, 제어부(250)는 구동 검사 항목을 이용하여 렌즈 모듈(50)이 정상적으로 구동하는지 검사한다. 렌즈 모듈(50)은 렌즈와 결합된 액츄에이터가 전류를 공급받아 팽창함으로써 렌즈를 이동시킨다. 렌즈 모듈(50)의 액츄에이터에 전류를 공급하기 위해 제어부(250)는 전류값에 상응하는 코드 데이터를 전원 공급부(255)에 제공한다. 전원 공급부(255)는 코드 데이터에 상응하는 전류를 렌즈 모듈(50)의 액츄에이터에 공급한다.
제어부(250)는 공급받은 전류에 의해 동작하는 렌즈 모듈(50)의 액츄에이터를 검사할 수 있다. 이때, 제어부(250)는 변위 측정부(150)에서 측정된 변위 데이터를 이용하여 렌즈 모듈(50)의 구동 검사를 평가할 수 있다. 또한, 제어부(250)는 액츄에이터의 동작 지연 시간, 액츄에이터의 스텝, 최초 렌즈가 움직인 거리, 변위 측정부(150)에서 측정된 변위의 무시값, 오토 포커싱 스텝별 최대 이동값 및 렌즈의 총 이동 거리 중 적어도 하나를 포함하는 구동 검사 항목을 이용하여 렌즈 모듈(50)의 구동 검사를 평가할 수 있다.
여기서 액츄에이터의 동작 지연 시간은 액츄에이터가 물리적으로 변화하는 시간을 고려하여 검사하기 위해서 설정될 수 있다. 또한, 액츄에이터의 스텝은 오토 포커싱을 수행하기 위해 액츄에이터가 단계적으로 변화되는 것을 검사하기 위해 설정될 수 있다. 또한, 최초 렌즈가 움직인 거리는 액츄에이터가 전원을 공급받아 최초로 변화될 때 설정된 거리만큼 확장되는 것을 검사하기 위해 설정될 수 있다. 또한, 변위 측정부(150)에서 측정된 변위의 무시값은 액츄에이터의 변화가 미미하여 액츄에이터가 변화된 것으로 판단할 수 없는 경우를 선별하기 위해 설정될 수 있다. 또한, 오토 포커싱 스텝별 최대 이동값은 설정된 스텝에 상응하여 액츄에이터가 확장되는지 검사하기 위해 설정될 수 있다. 또한, 렌즈의 총 이동 거리는 오토 포커싱 스텝별로 렌즈의 이동 거리를 모두 합하였을 때 오토 포커싱 시작점에서 오토 포커싱 종료점까지 거리보다 적은지를 검사하기 위해 설정될 수 있다.
제어부(250)는 구동 검사를 통해 측정된 변위 데이터를 미리 설정된 평가 기준과 비교하여 평가 기준에 미치지 못할 경우 검사된 렌즈 모듈(50)을 불량으로 처리한다.
예를 들면, 최초 렌즈가 움직인 거리가 37.8um 이상이거나, 스텝별로 이동한 렌즈의 최대 높이가 40um 이상이거나, 렌즈가 총 이동한 거리가 100um 이하일 경우, 제어부(250)는 검사된 렌즈 모듈(50)을 불량으로 처리할 수 있다. 다만, 평가 기준은 검사 대상의 특성에 따라 다양하게 설정될 수 있으므로 이에 한정되지 않는다.
다음, 제어부(250)는 리프트 오프 검사 항목을 이용하여 렌즈 모듈(50)의 리프트 오프 검사를 수행한다. 이때, 제어부(250)는 변위 측정부(150)에서 측정된 변위 데이터를 이용하여 렌즈 모듈(50)의 리프트 오프 검사를 평가할 수 있다. 또한, 제어부(250)는 리프트 오프 검사를 위한 렌즈의 이동 단위, 리프트 오프에 대한 무시값, 액츄에이터의 동작 지연 시간 및 렌즈의 원거리(INF) 위치에 대한 범위(최소값 및 최대값) 중 적어도 하나를 포함하는 리프트 오프 검사 항목을 이용하여 렌즈 모듈(50)의 리프트 오프 검사를 평가할 수 있다.
여기서 리프트 오프 검사를 위한 렌즈의 이동 단위는 렌즈가 최초 움직이기 시작하는 위치를 찾기 위해 공급하는 전류의 단위에 대한 코드 데이터로 설정될 수 있다. 또한, 리프트 오프에 대한 무시값은 액츄에이터의 변화가 미미하여 렌즈가 움직이기 시작하는 것으로 판단할 수 없는 경우를 선별하기 위해 설정될 수 있다.
다음, 제어부(250)는 저장부(300)의 저장 영역에 저장된 데이터가 있는지 체크한다.
만약, 저장부(300)의 저장 영역에 검사된 렌즈 모듈(50)에 대한 데이터가 없을 경우, 제어부(250)는 측정된 데이터를 저장한다. 만약, 저장부(300)의 저장 영역에 검사된 렌즈 모듈(50)에 대한 데이터가 있을 경우, 제어부(250)는 저장된 데이터와 측정된 데이터를 비교한다.
만약, 저장된 데이터와 측정된 데이터의 차이가 미리 설정된 허용 기준값을 초과하지 않을 경우, 제어부(250)는 저장부(300)에 저장된 데이터를 유지시킨다. 여기서 허용 기준값은 리프트 오프 검사의 수행에 따른 허용 오차로 설정될 수 있다. 또한, 허용 기준값은 검사 대상의 특성에 따라 다양하게 설정될 수 있다.
만약, 저장된 데이터와 측정된 데이터의 차이가 미리 설정된 허용 기준값을 초과할 경우, 제어부(250)는 저장부(300)의 저장 영역에 기록이 가능한 빈 블록이 있는지 체크한다. 만약, 저장 영역에 빈 블록이 있을 경우, 제어부(250)는 측정된 데이터를 빈 블록에 저장하여 저장된 데이터를 갱신한다. 만약, 저장 영역에 빈 블록이 없을 경우, 제어부(250)는 검사된 렌즈 모듈(50)을 불량으로 처리한다.
저장부(300)는 제어부(250)에서 수행된 리프트 오프 검사를 통해 측정된 데이터를 저장한다. 여기서 저장부(300)는 렌즈 모듈(50)의 조립 완성도를 평가하기 위해 렌즈의 원거리(INF) 위치에 대한 데이터를 코드화하여 EEPROM(Electronically Erasable programmable read only memory) 또는 OTP(One-Time Programmable EPROM) 장치에 저장할 수 있다.
본 발명의 일 실시 예에 따른 렌즈 모듈 검사 장치는 레이저 변위 측정 방식을 이용하여 렌즈 모듈의 구동 검사를 수행한 후 리프트 오프 검사를 수행하여 렌즈 모듈의 조립 완성도를 정확하게 평가할 수 있다. 또한, 본 발명의 일 실시 예에 따른 렌즈 모듈 검사 장치는 측정된 데이터를 저장할 영역을 체크한 후 기 저장된 데이터와 비교하여 저장된 데이터를 갱신함으로써 검사 정확도를 향상시킬 수 있다.
도 4는 본 발명의 일 실시예에 따른 렌즈 모듈 검사 방법을 나타내는 순서도이다.
도 4를 참조하면, 본 발명의 일 실시 예에 따른 렌즈 모듈 검사 방법은 렌즈 모듈의 액츄에이터의 구동 검사를 수행하는 단계(S110), 렌즈 모듈의 액츄에이터의 리프트 오프 검사를 수행하는 단계(S120), 저장 영역 및 저장 데이터의 존재를 체크하는 단계(S130) 및 리프트 오프 검사를 통해 측정된 데이터를 저장하는 단계(S140)를 포함한다.
단계 S110에서는 제어부가 구동 검사 항목을 이용하여 렌즈 모듈이 정상적으로 구동하는지 검사한다. 제어부는 전류값에 상응하는 코드 데이터를 전원 공급부에 제공하여 렌즈 모듈의 액츄에이터에 전원을 공급한다. 또한, 제어부는 공급받은 전류에 의해 동작하는 렌즈 모듈의 변위 데이터를 변위 측정부로부터 공급받는다. 이때, 제어부는 단계 S115에서 상술한 구동 검사 항목을 이용하여 변위 측정부에서 측정된 변위 데이터를 평가한다. 여기서, 제어부는 구동 검사를 통해 측정된 변위 데이터를 미리 설정된 평가 기준과 비교한다. 평가 기준은 도 1 내지 도 3을 참조하여 설명한 바와 동일하므로 중복되는 설명을 생략한다.
만약, 구동 검사를 통해 측정된 변위 데이터를 미리 설정된 평가 기준과 비교하여 평가 기준을 만족하면, 단계 S120으로 이동한다.
만약, 구동 검사를 통해 측정된 변위 데이터를 미리 설정된 평가 기준과 비교하여 평가 기준을 만족하지 못할 경우 단계 S117로 이동한다.
단계 S117에서는 제어부가 검사된 렌즈 모듈(50)을 불량으로 처리한다. 예를 들면, 최초 렌즈가 움직인 거리가 37.8um 이상이거나, 스텝별로 이동한 렌즈의 최대 높이가 40um 이상이거나, 렌즈가 총 이동한 거리가 100um 이하일 경우, 제어부는 검사된 렌즈 모듈을 불량으로 처리할 수 있다.
단계 S120에서는 제어부가 리프트 오프 검사 항목을 이용하여 렌즈 모듈의 리프트 오프 검사를 수행한다. 제어부는 전류값에 상응하는 코드 데이터를 전원 공급부에 제공하여 렌즈 모듈의 액츄에이터에 전원을 공급한다. 또한, 제어부는 공급받은 전류에 의해 동작하는 렌즈 모듈의 변위 데이터를 변위 측정부로부터 공급받는다.
제어부는 리프트 오프 검사를 위한 렌즈의 이동 단위, 리프트 오프에 대한 무시값, 액츄에이터의 동작 지연 시간 및 렌즈의 원거리(INF) 위치에 대한 범위(최소값 및 최대값) 중 적어도 하나를 포함하는 리프트 오프 검사 항목을 이용하여 렌즈 모듈의 리프트 오프 검사를 평가한다.
단계 S130에서는 제어부가 저장부의 저장 영역에 저장된 데이터가 있는지 체크한다. 만약, 저장부의 저장 영역에 검사된 렌즈 모듈에 대한 데이터가 없을 경우 단계 S140으로 이동한다. 만약, 저장부의 저장 영역에 검사된 렌즈 모듈에 대한 데이터가 있을 경우, 단계 S150으로 이동한다.
단계 S140에서는 제어부는 측정된 데이터를 저장부에 제공하여 저장부에 저장한다.
단계 S150에서는 제어부가 저장된 데이터와 측정된 데이터를 비교한다.
비교 결과, 저장된 데이터와 측정된 데이터의 차이가 미리 설정된 허용 기준값을 초과하지 않을 경우, 단계 S155로 이동한다.
비교 결과, 저장된 데이터와 측정된 데이터의 차이가 미리 설정된 허용 기준값을 초과할 경우, 단계 S160으로 이동한다.
단계 S155에서는 제어부가 저장부에 저장된 데이터를 유지시킨다.
단계 S160에서는 제어부가 저장부의 저장 영역에 기록이 가능한 빈 블록이 있는지 체크한다.
만약, 저장 영역에 빈 블록이 있을 경우, 단계 S170으로 이동한다.
만약, 저장 영역에 빈 블록이 없을 경우, 단계 S165로 이동한다.
단계 S170에서는 제어부가 측정된 데이터를 빈 블록에 저장하여 저장된 데이터를 갱신한다.
단계 S165에서는 제어부가 검사된 렌즈 모듈을 불량으로 처리한다.
본 발명의 일 실시 예에 따른 렌즈 모듈 검사 방법은 레이저 변위 측정 방식을 이용하여 렌즈 모듈의 구동 검사를 수행한 후 리프트 오프 검사를 수행하여 렌즈 모듈의 조립 완성도를 정확하게 평가할 수 있다. 또한, 본 발명의 일 실시 예에 따른 렌즈 모듈 검사 방법은 측정된 데이터를 저장할 영역을 체크한 후 기 저장된 데이터와 비교하여 저장된 데이터를 갱신함으로써 검사 정확도를 향상시킬 수 있다.
이상의 설명은 본 발명의 기술 사상을 예시적으로 설명한 것에 불과한 것으로서, 본 발명이 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자라면 본 발명의 본질적인 특성에서 벗어나지 않는 범위에서 다양한 수정 및 변형이 가능할 것이다.
따라서, 본 발명에 개시된 실시 예들은 본 발명의 기술 사상을 한정하기 위한 것이 아니라 설명하기 위한 것이고, 이러한 실시 예에 의하여 본 발명의 기술 사상의 범위가 한정되는 것은 아니다.
본 발명의 보호 범위는 아래의 청구범위에 의하여 해석되어야 하며, 그와 동등한 범위 내에 있는 모든 기술 사상은 본 발명의 권리범위에 포함되는 것으로 해석되어야 할 것이다.

Claims (11)

  1. 렌즈 모듈을 검사하는 장치에 있어서,
    상기 렌즈 모듈을 고정시켜 검사 위치로 이동시키는 검사대;
    상기 검사대에 결합되어 상기 렌즈 모듈의 렌즈의 변위를 측정하는 변위 측정부; 및
    미리 설정된 구동 검사 항목에 따라 상기 렌즈 모듈의 구동 검사를 수행하여 상기 렌즈 모듈의 불량을 판별하고, 미리 설정된 리프트 오프 검사 항목에 따라 상기 렌즈 모듈의 리프트 오프 검사를 수행하여 상기 변위 측정부에서 측정된 변위 데이터를 검사 결과로 저장시키는 제어부를 포함하는 렌즈 모듈 검사 장치.
  2. 제1 항에 있어서,
    상기 제어부는
    상기 렌즈 모듈의 렌즈가 최초 움직이기 시작하는 위치를 찾기 위해 공급하는 전류의 단위에 대한 코드 데이터로 상기 리프트 오프 검사를 수행하는 것을 특징으로 하는 렌즈 모듈 검사 장치.
  3. 제1 항에 있어서,
    블록 단위로 이루어진 저장 영역에 상기 측정된 변위 데이터를 저장하는 저장부를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 렌즈 모듈 검사 장치.
  4. 제3 항에 있어서,
    상기 제어부는 상기 저장부에 저장된 데이터의 존재를 체크하고, 저장된 데이터가 있는 경우 저장된 데이터와 측정된 변위 데이터를 비교하는 것을 특징으로 하는 렌즈 모듈 검사 장치.
  5. 제4 항에 있어서,
    상기 제어부는 저장된 데이터와 측정된 변위 데이터의 비교 결과에 따라 저장된 데이터를 갱신하는 것을 특징으로 하는 렌즈 모듈 검사 장치.
  6. 제1 항에 있어서,
    상기 제어부는
    상기 구동 검사를 통해 측정된 변위 데이터를 미리 설정된 평가 기준과 비교하여 비교 결과에 따라 불량으로 처리하는 것을 특징으로 하는 렌즈 모듈 검사 장치.
  7. 제1 항 내지 제6 항 중 어느 한 항에 있어서,
    상기 변위 측정부는 레이저를 이용하여 변위를 측정하는 것을 특징으로 하는 렌즈 모듈 검사 장치.
  8. 렌즈 모듈을 검사하는 방법에 있어서,
    렌즈 모듈의 액츄에이터의 구동 검사를 수행하는 단계;
    렌즈 모듈의 액츄에이터의 리프트 오프 검사를 수행하는 단계;
    저장 영역 및 저장 데이터의 존재를 체크하는 단계; 및
    상기 리프트 오프 검사를 통해 측정된 데이터를 저장하는 단계를 포함하는 렌즈 모듈 검사 방법.
  9. 제8 항에 있어서,
    상기 리프트 오프 검사를 수행하는 단계에서는
    상기 렌즈의 이동 단위, 리프트 오프에 대한 무시값 및 상기 액츄에이터의 동작 지연 시간에 대한 범위 중 적어도 하나를 포함하는 리프트 오프 검사 항목을 이용하는 것을 특징으로 하는 렌즈 모듈 검사 방법.
  10. 제8 항에 있어서,
    상기 저장 영역 및 저장 데이터의 존재를 체크하는 단계에서는
    상기 저장 데이터가 존재할 경우, 저장된 데이터와 상기 리프트 오프 검사를 통해 측정된 데이터를 비교하는 것을 특징으로 하는 렌즈 모듈 검사 방법.
  11. 제10 항에 있어서,
    상기 저장 영역 및 저장 데이터의 존재를 체크하는 단계에서는
    저장된 데이터와 측정된 데이터의 차이를 미리 설정된 허용 기준값과 비교하여 저장된 데이터를 유지시키거나 갱신하는 것을 특징으로 하는 렌즈 모듈 검사 방법.
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