KR101447110B1 - Lead-free and cadmium-free electroless plating solution, method of electroless plating using the same, and nickel plating layer using the same - Google Patents

Lead-free and cadmium-free electroless plating solution, method of electroless plating using the same, and nickel plating layer using the same Download PDF

Info

Publication number
KR101447110B1
KR101447110B1 KR1020120126226A KR20120126226A KR101447110B1 KR 101447110 B1 KR101447110 B1 KR 101447110B1 KR 1020120126226 A KR1020120126226 A KR 1020120126226A KR 20120126226 A KR20120126226 A KR 20120126226A KR 101447110 B1 KR101447110 B1 KR 101447110B1
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
plating solution
nickel plating
nickel
acid
free
Prior art date
Application number
KR1020120126226A
Other languages
Korean (ko)
Other versions
KR20140059611A (en
Inventor
이홍기
전준미
허진영
Original Assignee
한국생산기술연구원
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 한국생산기술연구원 filed Critical 한국생산기술연구원
Priority to KR1020120126226A priority Critical patent/KR101447110B1/en
Publication of KR20140059611A publication Critical patent/KR20140059611A/en
Application granted granted Critical
Publication of KR101447110B1 publication Critical patent/KR101447110B1/en

Links

Images

Classifications

    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C23COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
    • C23CCOATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
    • C23C18/00Chemical coating by decomposition of either liquid compounds or solutions of the coating forming compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating; Contact plating
    • C23C18/16Chemical coating by decomposition of either liquid compounds or solutions of the coating forming compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating; Contact plating by reduction or substitution, e.g. electroless plating
    • C23C18/31Coating with metals
    • C23C18/32Coating with nickel, cobalt or mixtures thereof with phosphorus or boron
    • C23C18/34Coating with nickel, cobalt or mixtures thereof with phosphorus or boron using reducing agents
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C23COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
    • C23CCOATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
    • C23C18/00Chemical coating by decomposition of either liquid compounds or solutions of the coating forming compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating; Contact plating
    • C23C18/16Chemical coating by decomposition of either liquid compounds or solutions of the coating forming compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating; Contact plating by reduction or substitution, e.g. electroless plating
    • C23C18/18Pretreatment of the material to be coated
    • C23C18/1803Pretreatment of the material to be coated of metallic material surfaces or of a non-specific material surfaces
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C23COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
    • C23CCOATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
    • C23C18/00Chemical coating by decomposition of either liquid compounds or solutions of the coating forming compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating; Contact plating
    • C23C18/16Chemical coating by decomposition of either liquid compounds or solutions of the coating forming compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating; Contact plating by reduction or substitution, e.g. electroless plating
    • C23C18/31Coating with metals
    • C23C18/32Coating with nickel, cobalt or mixtures thereof with phosphorus or boron
    • C23C18/34Coating with nickel, cobalt or mixtures thereof with phosphorus or boron using reducing agents
    • C23C18/36Coating with nickel, cobalt or mixtures thereof with phosphorus or boron using reducing agents using hypophosphites

Landscapes

  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • General Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Materials Engineering (AREA)
  • Mechanical Engineering (AREA)
  • Metallurgy (AREA)
  • Organic Chemistry (AREA)
  • Chemically Coating (AREA)

Abstract

본 발명은, 환경친화적이고 향상된 니켈 도금액 안정성을 가지고 우수한 도금 특성을 제공하는 무연 및 무 카드뮴 무전해 니켈 도금액을 제공한다. 본 발명의 일실시예에 따른 무연 및 무 카드뮴 무전해 니켈 도금액은, 도금용 니켈 이온을 제공하는 니켈 금속염; 도금용 니켈 이온을 환원시키는 환원제; 도금용 니켈 이온과 착화물을 형성하고, 카르복실산 및 알파히이드록실산을 포함하는 착화제; 및 도금용 니켈 이온의 환원 반응을 억제하고, 무연 및 무 카드뮴이고, 금속 원소를 포함하는 금속 안정제;를 포함한다.The present invention provides a lead-free and cadmium electroless nickel plating solution that is environmentally friendly and has improved nickel plating solution stability and provides excellent plating properties. A lead-free and cadmium electroless nickel plating solution according to an embodiment of the present invention includes a nickel metal salt that provides nickel ions for plating; A reducing agent for reducing nickel ions for plating; A complexing agent which forms a complex with a nickel ion for plating and contains a carboxylic acid and an aliphatic acid; And a metal stabilizer which suppresses the reduction reaction of nickel ions for plating and is lead-free and cadmium free and contains a metal element.

Description

무연 및 무 카드뮴 무전해 니켈 도금액, 이를 이용한 무전해 도금 방법, 및 이를 이용하여 제조된 니켈 도금층{Lead-free and cadmium-free electroless plating solution, method of electroless plating using the same, and nickel plating layer using the same}TECHNICAL FIELD [0001] The present invention relates to a lead-free and cadmium-free electroless plating solution, a method of electroless plating using the same, and a nickel plating layer using the same same}

본 발명의 기술적 사상은 무전해 도금에 관한 것으로서, 더욱 상세하게는, 무연 및 무 카드뮴 무전해 니켈 도금액, 무전해 도금 방법, 및 니켈 도금층에 관한 것이다.Technical aspects of the present invention relate to electroless plating, and more particularly, to a lead-free and cadmium electroless nickel plating solution, an electroless plating method, and a nickel plating layer.

무전해 도금은 금속의 산화 환원 반응에 의해 피도금 물체에 금속 도금층이 형성되는 방법으로, 제품의 형상에 무관하게 도금이 가능하며, 특정한 전처리 과정을 거친 후에는 절연성 물체에도 도금이 가능하므로, 다양한 산업분야에 사용되고 있다.Electroless plating is a method in which a metal plating layer is formed on an object to be plated by the oxidation / reduction reaction of metal, and plating can be performed irrespective of the shape of the product and after the specific pretreatment, It is used in industrial fields.

무전해 도금법을 이용하여 도금된 표면은 다양한 패키징 분야에서의 높은 밀도를 가지는 초소형 소자 등의 실장 표면이나 접합 계면으로 사용되고 있는 등 부품 소재 산업에서의 중요성이 점차 증가되고 있다. 최근에는, 전자 제품의 경량화, 소형화 및 고기능화에 따라 내부 회로의 고밀도화, 좁은 피치화가 요구되고 있으며, 따라서 도금 면적이나 제품 형상에 영향을 받지 않으며, 도금층의 두께의 편차가 작은 무전해 도금법의 필요성이 증대되고 있다.Plated surfaces using electroless plating are becoming increasingly important in the parts and materials industry, such as in mounting surfaces such as ultra-small devices with high density in various packaging fields and in bonding interfaces. In recent years, there has been a demand for an increase in the internal circuit density and a narrow pitch in accordance with the weight reduction, miniaturization and high performance of electronic products. Therefore, there is a need for an electroless plating method in which the variation in the thickness of the plating layer is small, Is increasing.

특히, 무전해 니켈 도금 방법에 의해 형성되는 도금 피막은 공석 반응으로 형성되는 인의 석출량을 제어할 수 있으므로, 비정질 합금을 가지는 도금층의 형성이 가능하고, 균일한 표면을 가지는 도금층을 가질 수 있으며, 내식성, 내마모성 등이 우수한 도금층을 형성할 수 있다. 따라서, 무전해 니켈 도금 방법은 자동차, 정밀 기계 부품, 반도체와 인쇄회로기판(PCB) 등의 전자 부품 등의 최종 표면처리용 도금 기술로서 광범위하게 적용되고 있다. 또한, 프린트 배선판의 납땜 접합의 불량 처리용 혹은 콤팩트 디스크(CD)나 하드 디스크 드라이브(HDD)의 불량 처리(Primary treatment) 등에도 사용되는 등 적용분야가 광범위해지고 있다.Particularly, since the plating film formed by the electroless nickel plating method can control the deposition amount of phosphorus formed by the vacancy reaction, it is possible to form the plating layer having the amorphous alloy and have the plating layer having the uniform surface, A plating layer excellent in corrosion resistance, abrasion resistance and the like can be formed. Therefore, the electroless nickel plating method is widely applied as a plating technique for final surface treatment of automobiles, precision machine parts, electronic parts such as semiconductors and printed circuit boards (PCB). In addition, application fields such as a bad treatment of soldering of a printed wiring board or a primary treatment of a compact disk (CD) or a hard disk drive (HDD) have been broadened.

무전해 니켈 도금 방법을 사용하는 경우에, 피도금 물체의 표면 외의 영역에서 환원 반응이 발생하는 것을 억제할 필요가 있고, 이를 위하여 납(Pb) 화합물 또는 카드늄(Cd) 화합물과 같은 안정제(또는 반응 억제제)를 사용한다. 그러나, 납(Pb)과 카드늄(Cd)은 환경 규제 물질로 사용이 금지 또는 제한되고 있으므로, 이를 대체할 물질이 요구되고 있고, 일부 상용화되어 사용되고 있다.In the case of using the electroless nickel plating method, it is necessary to suppress the reduction reaction from occurring in a region other than the surface of the object to be plated. To this end, a stabilizer such as a lead (Pb) compound or a cadmium (Cd) Inhibitor). However, since lead (Pb) and cadmium (Cd) are prohibited or restricted from being used as environmentally regulated substances, a substance to replace them is required, and some of them are commercially used.

그러나, 현재 사용되고 있는 무연(Pb-free) 혹은 무카드늄(Cd-free) 무전해 니켈 도금액은 안정성이 낮아, 니켈 도금액의 자기 분해가 발생하거나 니켈 도금액 내에 생성된 미립자가 도금 피막에 흡착되어 조도 증가 피트(pit) 발생 등의 불량이 발생하는 한계가 있다. 이러한 결과로 니켈 도금액의 효율성이 감소되어 생산성이 저하되고, 니켈 도금액의 수명이 짧아져 도금폐수처리 등의 환경비용이 증가하는 드의 문제점이 있다. 또한 패키지 기판, 인쇄회로기판(PCB) 등의 구리배선을 도금하는 경우에는, 상부, 측면, 모서리면 등의 부위별 두께편차가 발생하여 납땜성과 부식성의 저하 등의 불량이 발생하는 문제점이 있다.However, Pb-free or Cd-free electroless nickel plating solutions currently used have low stability and cause self-decomposition of the nickel plating solution or adsorption of fine particles generated in the nickel plating solution to the plating film, There is a limit such that defects such as generation of pits occur. As a result, the efficiency of the nickel plating solution is reduced to lower the productivity, and the lifetime of the nickel plating solution is shortened, thereby increasing environmental costs such as plating wastewater treatment. Further, when plating copper wirings such as a package substrate and a printed circuit board (PCB), there arises a problem that a thickness variation occurs in parts such as the top, side, and edge faces, resulting in poor solderability and poor corrosion resistance.

본 발명의 기술적 사상이 이루고자 하는 기술적 과제는 환경친화적이고 향상된 니켈 도금액 안정성을 가지고 우수한 도금 특성을 제공하는 무연 및 무 카드뮴 무전해 니켈 도금액을 제공하는 것이다.The technical object of the present invention is to provide a lead-free and cadmium-free electroless nickel plating solution which is environmentally friendly and has improved nickel plating solution stability and provides excellent plating properties.

본 발명의 기술적 사상이 이루고자 하는 기술적 과제는 환경친화적이고 향상된 니켈 도금액 안정성을 가지고 우수한 도금 특성을 제공하는 무연 및 무 카드뮴 무전해 니켈 도금액을 이용한 무전해 도금 방법을 제공하는 것이다.SUMMARY OF THE INVENTION The present invention provides an electroless plating method using an electroless nickel plating solution which is environmentally friendly and has improved nickel plating solution stability and provides excellent plating characteristics.

본 발명의 기술적 사상이 이루고자 하는 기술적 과제는 상기 무연 및 무 카드뮴 무전해 니켈 도금액을 이용하여 형성한 니켈 도금층을 제공하는 것이다 The technical problem to be solved by the present invention is to provide a nickel plated layer formed by using the lead-free and cadmium electroless nickel plating solution

그러나 이러한 과제는 예시적인 것으로, 본 발명의 기술적 사상은 이에 한정되는 것은 아니다.However, these problems are illustrative, and the technical idea of the present invention is not limited thereto.

상기 기술적 과제를 달성하기 위한 본 발명의 기술적 사상에 따른 무연 및 무 카드뮴 무전해 니켈 도금액은, 도금용 니켈 이온을 제공하는 니켈 금속염(nickel metal salt); 상기 도금용 니켈 이온을 환원시키는 환원제; 상기 도금용 니켈 이온과 착화물을 형성하고, 카르복실산 및 알파히이드록실산을 포함하는 착화제; 및 상기 도금용 니켈 이온의 환원 반응을 억제하고, 무연(lead-free) 및 무 카드뮴(cadmium-free)이고, 금속 원소를 포함하는 금속 안정제;를 포함한다.According to an aspect of the present invention, there is provided a lead-free and cadmium electroless nickel plating solution comprising: a nickel metal salt for providing nickel ions for plating; A reducing agent for reducing nickel ions for plating; A complexing agent which forms a complex with nickel ions for plating and comprises a carboxylic acid and an alpha hydroxy acid; And a metal stabilizer which suppresses the reduction reaction of nickel ions for plating and is lead-free and cadmium-free and contains a metal element.

본 발명의 일부 실시예들에 있어서, 상기 착화제는 상기 니켈 도금액 1 리터에 대하여 20g 내지 40g 범위로 포함되는, 무연 및 무 카드뮴 무전해 니켈 도금액.In some embodiments of the present invention, the complexing agent is included in the range of 20 g to 40 g per liter of the nickel plating solution.

본 발명의 일부 실시예들에 있어서, 상기 착화제는 상기 니켈 도금액 1 리터에 대하여 상기 카르복실산을 5g 내지 25g 범위로 포함하고, 상기 알파히이드록실산을 5g 내지 20g 범위로 포함할 수 있다.In some embodiments of the present invention, the complexing agent may include the carboxylic acid in the range of 5 g to 25 g per 1 liter of the nickel plating solution, and the aliphatic acid in the range of 5 g to 20 g .

본 발명의 일부 실시예들에 있어서, 상기 착화제는 상기 카르복실산의 유도체인 아세트산, 아디핀산, 타르타르산, 및 숙신산 중 적어도 어느 하나와 상기 알파히이드록실산의 유도체인 구연산, 락트산, 글리콜릭산, 및 만델산(mandelic acid) 중 적어도 어느 하나가 혼합된 혼합물을 포함할 수 있다.In some embodiments of the present invention, the complexing agent is at least one selected from the group consisting of acetic acid, adipic acid, tartaric acid, and succinic acid derivatives of the carboxylic acid and derivatives of the above-mentioned alpha hydroxy acid, citric acid, lactic acid, glycolic acid , And mandelic acid may be mixed with each other.

본 발명의 일부 실시예들에 있어서, 상기 착화제는 상기 니켈 도금액 1 리터에 대하여 아디핀산과 아세트산을 합쳐서 5g 내지 25g 범위로 포함하고, 또한 락트산을 5g 내지 20g 범위로 포함할 수 있다.In some embodiments of the present invention, the complexing agent includes 5 to 25 g of adipic acid and acetic acid per 1 liter of the nickel plating solution, and 5 to 20 g of lactic acid.

본 발명의 일부 실시예들에 있어서, 상기 착화제는 상기 니켈 도금액 1 리터에 대하여 아디핀산, 아세트산, 및 타르타르산을 합쳐서 5g 내지 25g 범위로 포함하고, 또한 락트산을 5g 내지 20g 범위로 포함할 수 있다.In some embodiments of the present invention, the complexing agent includes adipic acid, acetic acid, and tartaric acid in an amount ranging from 5 g to 25 g per 1 liter of the nickel plating solution, and may include lactic acid in the range of 5 g to 20 g .

본 발명의 일부 실시예들에 있어서, 상기 착화제는 상기 니켈 도금액 1 리터에 대하여 아디핀산, 아세트산, 및 숙신산을 합쳐서 5g 내지 25g 범위로 포함하고, 또한 락트산과 글리콜릭산을 합쳐서 5g 내지 20g 범위로 포함할 수 있다In some embodiments of the present invention, the complexing agent comprises adipic acid, acetic acid, and succinic acid in an amount ranging from 5 g to 25 g per 1 liter of the nickel plating solution, and the total amount of lactic acid and glycolic acid is in the range of 5 g to 20 g Can include

본 발명의 일부 실시예들에 있어서, 상기 착화제는 상기 니켈 도금액 1 리터에 대하여 아디핀산 및 아세트산을 합쳐서 5g 내지 25g 범위로 포함하고, 또한 락트산과 티오디글리콜린산을 합쳐서 5g 내지 20g 범위로 포함할 수 있다In some embodiments of the present invention, the complexing agent includes adipic acid and acetic acid in an amount of 5 g to 25 g per 1 liter of the nickel plating solution, and further includes lactic acid and thiodiglycolic acid in a range of 5 g to 20 g can do

본 발명의 일부 실시예들에 있어서, 상기 니켈 금속염은 황산니켈, 염화니켈, 설파민산니켈, 질산니켈, 산화니켈 및 탄산니켈 중 적어도 어느 하나를 포함할 수 있다. 상기 니켈 금속염은 상기 니켈 도금액 1 리터에 대하여 4g 내지 7g 범위로 포함될 수 있다In some embodiments of the present invention, the nickel metal salt may comprise at least one of nickel sulfate, nickel chloride, nickel sulfamide, nickel nitrate, nickel oxide and nickel carbonate. The nickel metal salt may be included in the range of 4 g to 7 g per liter of the nickel plating solution

본 발명의 일부 실시예들에 있어서, 상기 환원제는 차아인산염(hypophosphite), 수소화붕소염(boron hydride), 디메틸아민보란(dimethylamine borane), 및 히드라진(hydrazine) 중 적어도 어느 하나를 포함할 수 있다. 상기 환원제는 상기 니켈 도금액 1 리터에 대하여 20g 내지 35g 범위로 포함될 수 있다.In some embodiments of the present invention, the reducing agent may include at least one of hypophosphite, boron hydride, dimethylamine borane, and hydrazine. The reducing agent may be included in the range of 20 g to 35 g per 1 liter of the nickel plating solution.

본 발명의 일부 실시예들에 있어서, 상기 금속 안정제는, 텔레늄(Te), 셀레늄(Se), 비스무트(Bi), 주석(Sn), 탈륨(Tl), 및 몰리브덴(Mo) 중 적어도 어느 하나를 포함할 수 있다.In some embodiments of the present invention, the metal stabilizer is at least one of a metal selected from the group consisting of Tel, Te, Sn, Sn, . ≪ / RTI >

본 발명의 일부 실시예들에 있어서, 상기 금속 안정제는, 금속 원소 자체, 니켈 금속염, 금속 산화물, 및 금속 황화물, 중 적어도 어느 하나를 포함할 수 있다.In some embodiments of the present invention, the metal stabilizer may include at least one of a metal element itself, a nickel metal salt, a metal oxide, and a metal sulfide.

본 발명의 일부 실시예들에 있어서, 상기 금속 안정제는 상기 니켈 도금액 1 리터에 대하여 0.1 ppm 내지 5.0 ppm 범위로 포함될 수 있다. In some embodiments of the present invention, the metal stabilizer may be included in the range of 0.1 ppm to 5.0 ppm based on 1 liter of the nickel plating solution.

본 발명의 일부 실시예들에 있어서, 상기 금속 안정제는, 알킬술폰산 용액에 미리 용해되어 상기 니켈 도금액에 첨가될 수 있다.In some embodiments of the present invention, the metal stabilizer may be previously dissolved in an alkylsulfonic acid solution and added to the nickel plating solution.

본 발명의 일부 실시예들에 있어서, 상기 니켈 도금액의 pH를 3.5 내지 5.5 범위로 조절하고, 황산, 염산, 질산, 암모니아수, 수산화나트륨, 수산화칼륨, 중 적어도 어느 하나를 포함하는 pH 조절제를 더 포함할 수 있다.In some embodiments of the present invention, the pH of the nickel plating solution is adjusted to be in the range of 3.5 to 5.5 and further includes a pH adjusting agent containing at least one of sulfuric acid, hydrochloric acid, nitric acid, ammonia water, sodium hydroxide, can do.

본 발명의 일부 실시예들에 있어서, 상기 니켈 도금액의 자연적인 분해를 억제하고, 상기 니켈 도금액의 노화로 생성된 침전물이 상기 환원제와 반응하는 것을 방지하여, 상기 니켈 도금액을 안정화시키는 황화물계 안정제를 더 포함할 수 있다.In some embodiments of the present invention, a sulfide-based stabilizer for inhibiting spontaneous decomposition of the nickel plating solution and preventing the precipitate formed by aging of the nickel plating solution from reacting with the reducing agent to stabilize the nickel plating solution .

본 발명의 일부 실시예들에 있어서, 상기 황화물계 안정제는 티오요소(thiourea) 및 그의 유도체, 아황산염(sulfite), 피로아황산염(pyrosulfite), 및 티오시아네이트염(thiocyanate) 중 적어도 어느 하나를 포함할 수 있다.In some embodiments of the present invention, the sulfide-based stabilizer comprises at least one of thiourea and derivatives thereof, sulfite, pyrosulfite, and thiocyanate .

본 발명의 일부 실시예들에 있어서, 상기 황화물계 안정제는 상기 니켈 도금액 1 리터에 대하여 0.1 ppm 내지 3.0 ppm 범위로 포함될 수 있다.In some embodiments of the present invention, the sulfide-based stabilizer may be included in the range of 0.1 ppm to 3.0 ppm based on 1 liter of the nickel plating solution.

본 발명의 기술적 사상에 따른 무연 및 무 카드뮴 무전해 니켈 도금액은 환경 유해물질인 납(Pb)과 카드늄(Cd)을 포함하지 않고 이들을 대신하여 텔레늄(Te), 셀레늄(Se), 미스무트(Bi), 주석(Sn), 탈륨(Tl), 몰리브덴(Mo) 등을 안정제로서 포함함으로써, 환경 친화적인 니켈 도금액을 제공할 수 있고, 니켈 도금액의 수명을 연장할 수 있고, 장시간 사용시에도 도금 피막의 균일도가 높고, 모서리 부분을 포함한 도금층 전체 영역에 대한 높은 도금 균일성을 제공할 수 있다.The lead-free and cadmium electroless nickel plating solution according to the technical idea of the present invention does not contain lead (Pb) and cadmium (Cd), which are environmentally harmful substances, but instead contains telenium (Te), selenium (Se) (Sn), tin (Tl), molybdenum (Mo), and the like as stabilizers, it is possible to provide an environmentally friendly nickel plating solution and to prolong the life of the nickel plating solution, Uniformity of the entire plating layer including the edge portion can be provided.

본 발명의 니켈 도금액을 사용하여 도금 공정을 수행함으로써, 도금용액 자체의 수명이 증가되고 도금 공정의 효율성 및 생산성을 향상시킬 수 있는 효과가 있으며, 턴수(MTO) 증가에 따른 도금피막의 특성 변화 등을 최소화하고 도금피막에 피트가 없고 결정입자가 아닌 비정질의 도금피막을 턴수 증가에 따라 형성할 수 있는 효과가 있다. 또한, 도금층의 경도, 내마모성의 기계적 특성과 내식성 등이 우수하며 도금 횟수가 8회 이상에서도 안정한 니켈 도금액을 유지하고 약 10 ㎛/hr의 높은 도금 속도를 가질 수 있어 도금 공정의 생산성을 향상시킬 수 있다.By performing the plating process using the nickel plating solution of the present invention, the lifetime of the plating solution itself is increased, and the efficiency and productivity of the plating process can be improved. Also, the change in the characteristics of the plating film due to the increase in the number of turns (MTO) And an amorphous plating film which is free of pits and is not crystal grains can be formed according to an increase in the number of turns. In addition, the plating layer has excellent hardness, wear resistance, mechanical properties and corrosion resistance, and can maintain a stable nickel plating solution even at a plating time of 8 times or more and can have a plating rate as high as about 10 占 퐉 / hr, have.

또한, 본 발명의 니켈 도금액을 사용하여 무전해 도금공정을 수행함으로써, 요철과 굴곡이 심한 형상의 소재표면에 도금을 수행할 경우 도금 대상체의 표면의 형상에 관계없이 일정한 두께의 도금층을 형성할 수 있으므로 도금층 두께에 따른 불량률을 최소화 할 수 있는 효과가 있으며, 특히 도포성이 취약한 모서리 부위의 균일한 도금 특성을 제공할 수 있다.In addition, by performing the electroless plating process using the nickel plating solution of the present invention, when plating is performed on the surface of the material having a shape with a large irregularity and bending, a plating layer having a constant thickness can be formed irrespective of the shape of the surface of the plating target Therefore, it is possible to minimize the defective rate according to the thickness of the plating layer, and it is possible to provide a uniform plating characteristic particularly at the corners where the coating property is poor.

상술한 본 발명의 효과들은 예시적으로 기재되었고, 이러한 효과들에 의해 본 발명의 범위가 한정되는 것은 아니다.The effects of the present invention described above are exemplarily described, and the scope of the present invention is not limited by these effects.

도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 무연 및 무 카드뮴 무전해 니켈 도금액을 이용한 도금 장치를 도시하는 개략도이다.
도 2는 본 발명의 일 실시예에 따른 무연 및 무 카드뮴 무전해 니켈 도금액을 이용한 무전해 도금 방법을 도시하는 흐름도이다.
도 3은 본 발명의 기술적 사상에 따른 니켈 도금액과 비교예의 니켈 도금액을 각각 이용하여 도금 대상체에 도금하는 과정에서 얻은 도금 속도를 도금 횟수에 따라 나타내는 그래프이다.
도 4는 본 발명의 기술적 사상에 따른 니켈 도금액과 비교예의 니켈 도금액을 각각 이용하여 도금 대상체에 도금하는 과정에서 형성된 도금층에 공석된 인의 양을 도금 횟수에 따라 나타내는 그래프이다.
도 5는 본 발명의 기술적 사상에 따른 니켈 도금액과 비교예의 니켈 도금액을 각각 이용하여 도금 대상체에 형성된 도금층의 표면을 도금 횟수에 따라 나타내는 주사전자현미경 사진들이다.
도 6은 본 발명의 기술적 사상에 따른 니켈 도금액과 비교예의 니켈 도금액을 각각 이용하여 인쇄회로기판의 구리 배선 상에 도금되어 형성된 도금층의 상면과 단면을 나타내는 주사전자 현미경 사진들이다.
1 is a schematic view showing a plating apparatus using a lead-free and cadmium electroless nickel plating solution according to an embodiment of the present invention.
2 is a flowchart illustrating an electroless plating method using a lead-free and cadmium electroless nickel plating solution according to an embodiment of the present invention.
FIG. 3 is a graph showing the plating rate obtained in the process of plating the plating target using the nickel plating solution according to the technical idea of the present invention and the nickel plating solution according to the comparative example, according to the plating number.
FIG. 4 is a graph showing the amount of phosphorus deposited in the plating layer formed in the process of plating the plating object using the nickel plating solution according to the technical idea of the present invention and the nickel plating solution according to the comparative example, according to the plating number.
5 is a scanning electron micrograph showing the surface of the plating layer formed on the plating target object according to the number of times of plating using the nickel plating solution according to the technical idea of the present invention and the nickel plating solution according to the comparative example, respectively.
6 is a scanning electron microscope (SEM) image of a plating layer formed on a copper wiring of a printed circuit board using a nickel plating solution according to the technical idea of the present invention and a nickel plating solution according to a comparative example, respectively.

이하, 첨부된 도면을 참조하여 본 발명의 바람직한 실시예를 상세히 설명하기로 한다. 본 발명의 실시예들은 당해 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자에게 본 발명의 기술적 사상을 더욱 완전하게 설명하기 위하여 제공되는 것이며, 하기 실시예는 여러 가지 다른 형태로 변형될 수 있으며, 본 발명의 기술적 사상의 범위가 하기 실시예에 한정되는 것은 아니다. 오히려, 이들 실시예는 본 개시를 더욱 충실하고 완전하게 하고, 당업자에게 본 발명의 기술적 사상을 완전하게 전달하기 위하여 제공되는 것이다. 본 명세서에서 사용된 바와 같이, 용어 "및/또는"은 해당 열거된 항목 중 어느 하나 및 하나 이상의 모든 조합을 포함한다. 동일한 부호는 시종 동일한 요소를 의미한다. 나아가, 도면에서의 다양한 요소와 영역은 개략적으로 그려진 것이다. 따라서, 본 발명의 기술적 사상은 첨부한 도면에 그려진 상대적인 크기나 간격에 의해 제한되지 않는다. Hereinafter, preferred embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings. It will be apparent to those skilled in the art that the present invention may be embodied in many different forms and should not be construed as limited to the embodiments set forth herein. Rather, these embodiments are provided so that this disclosure will be thorough and complete, and will fully convey the concept of the invention to those skilled in the art. The scope of technical thought is not limited to the following examples. Rather, these embodiments are provided so that this disclosure will be more thorough and complete, and will fully convey the scope of the invention to those skilled in the art. As used herein, the term "and / or" includes any and all combinations of one or more of the listed items. The same reference numerals denote the same elements at all times. Further, various elements and regions in the drawings are schematically drawn. Accordingly, the technical spirit of the present invention is not limited by the relative size or spacing depicted in the accompanying drawings.

도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 무연 및 무 카드뮴 무전해 니켈 도금액을 이용한 도금 장치를 도시하는 개략도이다.1 is a schematic view showing a plating apparatus using a lead-free and cadmium electroless nickel plating solution according to an embodiment of the present invention.

도 1을 참조하면, 도금 장치(10)는 도금 욕조(20) 내에 무연 및 무 카드뮴 무전해 니켈 도금액(30)을 수용하고, 무연 및 무 카드뮴 무전해 니켈 도금액(30) 내에 도금 대상체(40)를 침지하여, 도금 대상체(40) 상에 도금층(50)을 형성한다. 이하에서는 간명한 설명을 위하여 무연 및 무 카드뮴 무전해 니켈 도금액(30)은 니켈 도금액(30)으로 지칭하기로 한다. 또한, 니켈 도금액(30) 외의 다른 금속 니켈 도금액을 이용하는 경우도 본 발명의 기술적 사상에 포함된다.1, the plating apparatus 10 includes an electroless nickel plating solution 30 containing a lead-free and cadmium electroless nickel plating solution 30 in a plating bath 20, and an electroless nickel plating solution 30, Thereby forming a plating layer 50 on the plating target body 40. [0051] Hereinafter, the lead-free and cadmium free electroless nickel plating solution 30 will be referred to as a nickel plating solution 30 for the sake of simplicity. Also, the case of using a metallic nickel plating solution other than the nickel plating solution 30 is also included in the technical idea of the present invention.

니켈 도금액(30)은, 용매, 및 상기 용매에 용해된, 니켈 금속염(nickel metal salt), 환원제, 착화제, 및 금속 안정제를 포함한다. 또한, 니켈 도금액(30)은 pH 조절제를 더 포함할 수 있다. 또한, 니켈 도금액(30)은, 니켈 도금액(30)의 자연적인 분해를 억제하고, 니켈 도금액(30)의 노화로 생성된 침전물이 환원제와 반응하는 것을 방지하여, 니켈 도금액(30)을 안정화시키는 기능을 수행하는 황화물계 안정제를 더 포함할 수 있다. 또한, 니켈 도금액(30)은 도금 속도 제어 및 광택 특성 향상을 위하여 유기 화합물 또는 무기 화합물로 구성된 보조 첨가제를 더 포함할 수 있다. 또한, 니켈 도금액(30)은 매트릭스 층과 도금층 사이의 계면 특성 향상과 피트형성 방지를 위한 계면 활성제를 더 포함할 수 있다.The nickel plating solution 30 includes a solvent and a nickel metal salt, a reducing agent, a complexing agent, and a metal stabilizer dissolved in the solvent. Further, the nickel plating solution 30 may further include a pH adjusting agent. The nickel plating solution 30 suppresses the natural decomposition of the nickel plating solution 30 and prevents the precipitate formed by the aging of the nickel plating solution 30 from reacting with the reducing agent to stabilize the nickel plating solution 30 Based stabilizer capable of functioning as a stabilizer. Further, the nickel plating solution 30 may further include an auxiliary additive composed of an organic compound or an inorganic compound for controlling the plating rate and improving the gloss characteristics. Further, the nickel plating liquid 30 may further include a surfactant for improving the interfacial property between the matrix layer and the plating layer and for preventing pit formation.

도금 대상체(40)는 금속 또는 폴리머 물질을 포함할 수 있다. 도금 대상체(40)는, 예를 들어 구리 또는 철을 포함할 수 있다.The plating object 40 may include a metal or a polymer material. The plating object 40 may include, for example, copper or iron.

니켈 도금액(30)은 pH 4.0 내지 pH 5.0 범위를 가질 수 있고, 75℃ 내지 90℃ 에서 도금 공정을 수행할 수 있다.The nickel plating solution 30 may have a pH ranging from 4.0 to pH 5.0, and the plating process may be performed at 75 to 90 ° C.

이하에서는, 니켈 도금액(30)을 구성하는 구성 요소들에 대하여 상세하게 설명하기로 한다. Hereinafter, the constituent elements of the nickel plating liquid 30 will be described in detail.

상기 용매는 도금 대상체(40)가 침지되는 니켈 도금액(30)의 대부분을 구성할 수 있다. 상기 용매는, 상기 니켈 금속염, 상기 환원제, 상기 착화제, 및 상기 금속 안정제, 상기 pH 조절제, 및 상기 황화물계 안정제 들을 용해하는 물질을 포함할 수 있다. 상기 용매는, 예를 들어 물일 수 있다. 그러나, 이는 예시적이며 본 발명의 기술적 사상은 이에 한정되는 것은 아니다.The solvent can constitute most of the nickel plating liquid 30 in which the plating target object 40 is immersed. The solvent may include a material that dissolves the nickel metal salt, the reducing agent, the complexing agent, and the metal stabilizer, the pH adjuster, and the sulfide stabilizers. The solvent may be, for example, water. However, this is illustrative and the technical idea of the present invention is not limited thereto.

상기 니켈 금속염은 상기 용매에 용해될 수 있다. 상기 니켈 금속염은 도금 대상체(40)에 도금용 니켈 이온을 제공할 수 있고, 상기 도금용 니켈 이온은 도금 대상체(40) 상에 도금층(50)을 형성할 수 있다. 상기 니켈 금속염은 금속을 포함할 수 있고, 예를 들어 니켈(Ni)을 포함할 수 있다. 이에 따라 상기 도금용 니켈 이온은 니켈(Ni) 이온을 포함할 수 있고, 상기 니켈 이온은 예를 들어 2가 이온일 수 있다. 상기 니켈 금속염은, 예를 들어 니켈 염수화물을 포함할 수 있고, 예를 들어 황산니켈, 염화니켈, 설파민산니켈, 질산니켈, 산화니켈 및 탄산니켈 중 적어도 어느 하나를 포함할 수 있다. 예를 들어, 상기 황산니켈은 니켈, 산화니켈, 또는 탄산니켈을 황산으로 녹여 상온에서 증발시킴으로써, 칠수염의 녹색 침상결정(사방정계)으로 석출시켜 얻을 수 있다. The nickel metal salt may be dissolved in the solvent. The nickel metal salt may provide nickel ions for plating to the plating object 40, and the plating nickel ions may form the plating layer 50 on the plating target object 40. The nickel metal salt may include a metal, for example, nickel (Ni). Accordingly, the nickel ions for plating may include nickel (Ni) ions, and the nickel ions may be, for example, bivalent ions. The nickel metal salt may include, for example, a nickel salt hydrate and may include at least one of, for example, nickel sulfate, nickel chloride, nickel sulfide, nickel nitrate, nickel oxide, and nickel carbonate. For example, the nickel sulfate can be obtained by dissolving nickel, nickel oxide, or nickel carbonate in sulfuric acid and evaporating it at room temperature, thereby precipitating in a green needle crystal (orthorhombic) of the rhizome.

상기 니켈 금속염은 니켈 도금액(30) 1 리터에 대하여 4g 내지 7g 범위로 포함될 수 있다. 예를 들어, 상기 니켈 금속염이 황산니켈인 경우에는, 상기 황산 니켈의 농도가 4g/리터 미만인 경우에는 도금 속도가 저하될 수 있다. 상기 황산 니켈의 농도가 7g/리터 초과인 경우에는 상기 니켈 도금액의 안정성이 저하되어 상기 니켈 도금액의 자발적인 분해가 발생할 수 있다.The nickel metal salt may be included in the range of 4 g to 7 g per liter of the nickel plating solution (30). For example, when the nickel metal salt is nickel sulfate, if the concentration of nickel sulfate is less than 4 g / liter, the plating rate may be lowered. If the concentration of nickel sulfate exceeds 7 g / liter, the stability of the nickel plating solution may be lowered, and spontaneous decomposition of the nickel plating solution may occur.

상기 환원제는 상기 용매에 용해될 수 있다. 상기 환원제는 상기 도금용 니켈 이온을 환원시킬 수 있다. 상기 환원제는, 예를 들어 상기 니켈 이온을 환원시킬 수 있다. 상기 환원제는 차아인산염(hypophosphite), 수소화붕소염(boron hydride), 디메틸아민보란(dimethylamine borane), 및 히드라진(hydrazine) 중 적어도 어느 하나를 포함할 수 있다. 상기 환원제는 상기 차아인산염으로서 차아인산나트륨, 차아인산칼륨, 및 차아인산암모늄 중 적어도 어느 하나를 포함할 수 있다. 이러한 환원제를 포함함으로써, 상기 니켈 도금액은 약 7% 내지 약 9%의 인(P)을 포함할 수 있다.The reducing agent may be dissolved in the solvent. The reducing agent may reduce the nickel ion for plating. The reducing agent may reduce the nickel ion, for example. The reducing agent may include at least one of hypophosphite, boron hydride, dimethylamine borane, and hydrazine. The reducing agent may include at least one of sodium hypophosphite, potassium hypophosphite, and ammonium hypophosphite as the hypophosphite. By including such a reducing agent, the nickel plating solution can contain about 7% to about 9% phosphorus (P).

상기 환원제는 니켈 도금액(30) 1 리터에 대하여 20g 내지 35g 범위로 포함될 수 있다. 예를 들어, 상기 환원제가 차아인산나트륨인 경우에는, 상기 차아인산나트륨의 농도가 20g/리터 미만인 경우에는 도금 속도가 저하될 수 있다. 상기 차아인산나트륨의 농도가 35g/리터 초과인 경우에는 상기 니켈 도금액의 안정성이 저하되어 상기 니켈 도금액의 자발적인 분해가 발생할 수 있다.The reducing agent may be included in the range of 20 g to 35 g per 1 liter of the nickel plating solution (30). For example, when the reducing agent is sodium hypophosphite, the plating rate may be lowered when the concentration of sodium hypophosphite is less than 20 g / liter. If the concentration of the sodium hypophosphite is more than 35 g / liter, the stability of the nickel plating solution is lowered, and spontaneous decomposition of the nickel plating solution may occur.

상기 착화제는 상기 용매에 용해될 수 있다. 상기 착화제는 상기 도금용 니켈 이온과 착화물을 형성할 수 있다. 예를 들어, 상기 착화제는 상기 니켈 이온과 화학 결합하여 니켈 착화물을 형성할 수 있다. 상기 착화제의 종류 및 양에 따라 니켈 도금액(30)의 안정성 특성과 도금층(50)의 특성이 크게 변화되므로, 사용 목적과 용도에 따라 상기 착화제의 종류와 양의 선택이 매우 중요하다. 상기 착화제는 도금 속도를 조절하며, 니켈 도금액(30)이 자발적으로 분해되는 것을 방지하고, 도금 대상체(40)의 표면에서 니켈의 환원반응이 원활하게 일어나도록 도금 반응을 조절할 수 있다. 상기 착화제는 유기산이나 그들의 염으로써 환원 반응에 참여하는 니켈 이온의 총량을 조절할 수 있고, 상기 니켈 이온이 인과 결합하여 인산 니켈로서 침전되는 것을 방지하여, 이에 따라 니켈 도금액(30)이 도금 작업 중에 안정성을 유지하도록 하는 기능을 수행할 수 있다. 또한, 상기 착화제는 환원 반응에 의한 수소 이온이 빠르게 생성되는 것을 감소시킴으로써, 니켈 도금액(30)의 pH가 급격하게 변화하지 않도록 할 수 있다.The complexing agent may be dissolved in the solvent. The complexing agent may form a complex with the nickel ion for plating. For example, the complexing agent may be chemically bonded to the nickel ion to form a nickel complex. The stability characteristics of the nickel plating solution 30 and the characteristics of the plating layer 50 are greatly changed depending on the kind and amount of the complexing agent and therefore it is very important to select the type and amount of the complexing agent depending on the purpose and use of the complexing agent. The complexing agent controls the plating rate, prevents spontaneous decomposition of the nickel plating solution 30, and controls the plating reaction so that the reduction reaction of nickel occurs smoothly on the surface of the plating target body 40. The complexing agent is capable of controlling the total amount of nickel ions participating in the reduction reaction with organic acids or their salts and preventing the nickel ions from being precipitated as nickel phosphate by binding with phosphorus so that the nickel plating solution 30 It is possible to perform a function of maintaining stability. In addition, the complexing agent reduces the rapid formation of hydrogen ions by the reduction reaction, so that the pH of the nickel plating solution 30 can be prevented from changing abruptly.

상기 착화제는, 예를 들어 카르복실기(COOH)를 가지는 카르복실산과 그 유도체 중 적어도 어느 하나와 카르복실기(COOH)의 일부가 수산기(OH)로 치환된 알파히이드록실산(AHAs)과 그 유도체 중 적어도 어느 하나를 포함할 수 있다.The complexing agent may be at least one selected from the group consisting of a carboxylic acid having a carboxyl group (COOH) and at least one of the derivative thereof and an alpha-hydroxy acid (AHAs) in which a part of the carboxyl group (COOH) is substituted with a hydroxyl group And may include at least any one of them.

상기 착화제는, 카르복실산과 그 유도체로서, 예를 들어 아세트산(acetic acid), 아디핀산(adipic acid), 개미산(formic acid), 프로피온산(propionic acid), 부티르산(butyric acid), 발레르산(valeric acid), 카프로산(caproic acid), 에난트산(enanthic acid), 카프릴산(caprylic acid), 펠라곤산(pelargonic acid), 카프르산(capric acid), 운데실산(undecylic acid), 라우르산(lauric acid), 트라이데실산(tridecylic acid), 미리스트산(myristic acid), 펜타데카노산(pentadecanoic acid), 팔미트산(palmitic acid), 마르가르산(margaric acid), 스테아르산(stearic acid), 아라키딕산(arachidic acid), 옥살산(oxalic acid), 말론산(malonic acid), 타르타르산(tartaric acid), 숙신산(succinic acid), 글루타르산(glutaric acid), 피멜린산(pimelic acid), 수베르산(suberic acid), 아젤라산(azelaic acid), 세바르산(sebacic acid), 오소-프탈산(ortho-phthalic acid), 이소프탈산(isophthalic acid), 테레프탈산(terephthalic acid), 말레산(maleic acid), 푸마르산(fumaric acid), 글루타콘산(glutaconic acid), 트로마틴산(traumatic acid), 및 뮤콘산(muconic acid), 중 적어도 어느 하나를 포함할 수 있다. The complexing agent may be a carboxylic acid or a derivative thereof such as acetic acid, adipic acid, formic acid, propionic acid, butyric acid, valeric acid, the present invention relates to a process for the preparation of a compound of formula (I) wherein R is selected from the group consisting of an acid, caproic acid, enanthic acid, caprylic acid, pelargonic acid, capric acid, undecylic acid, but are not limited to, lauric acid, tridecylic acid, myristic acid, pentadecanoic acid, palmitic acid, margaric acid, stearic acid, Tartaric acid, succinic acid, glutaric acid, pimelic acid, tartaric acid, tartaric acid, tartaric acid, succinic acid, malic acid, Such as suberic acid, azelaic acid, sebacic acid, ortho-phthalic acid, isophthalic acid, Or at least one of terephthalic acid, maleic acid, fumaric acid, glutaconic acid, traumatic acid, and muconic acid. can do.

또한, 상기 착화제는, 알파히이드록실산과 그 유도체로서, 예를 들어 글리콜릭산(glycolic acid), 락트산(lactic acid), 구연산(citric acid), 및 만델산(mandelic acid) 중 적어도 어느 하나를 포함할 수 있다.The complexing agent may be at least one selected from the group consisting of glycolic acid, lactic acid, citric acid, and mandelic acid as the alpha hydroxy acid and derivatives thereof .

예를 들어, 상기 착화제는 카르복실산의 유도체인 아세트산, 아디핀산, 타르타르산, 및 숙신산 중 적어도 어느 하나와 알파히이드록실산의 유도체인 구연산, 락트산, 글리콜릭산, 및 만델산(mandelic acid) 중 적어도 어느 하나가 혼합된 혼합물을 포함할 수 있다.For example, the complexing agent may be at least one selected from the group consisting of citric acid, lactic acid, glycolic acid, and mandelic acid, derivatives of aliphatic acid and at least one of acetic acid, adipic acid, tartaric acid, May be mixed with at least one of them.

상기 착화제는 니켈 도금액(30) 1 리터에 대하여 20g 내지 40g 범위로 포함될 수 있다. 상기 착화제의 농도가 20g/리터 미만인 경우에는 상기 니켈 도금액의 안정성이 저하되어 상기 니켈 도금액의 자발적인 분해가 발생할 수 있다. 상기 착화제의 농도가 40g/리터 초과인 경우에는 상기 니켈 도금액의 안정성을 증가되지만 도금 속도가 감소될 수 있다. 도금 속도가 감소되는 경우에는 생산 시간이 길어져 경제성과 제품 특성이 저하될 가능성이 있으며, 도금 횟수가 증가됨에 따라 분해된 착화제가 상기 니켈 도금액 내에 부유물로 존재하여 상기 니켈 도금액의 수명을 감소시킬 수 있다. 상기 착화제는 사용 목적과 도금 대상체의 특성에 따라 여러 종류의 물질을 혼합한 혼합물로 구성될 수 있고, 예를 들어 2종류 내지 5종류의 물질이 혼합될 수 있다. The complexing agent may be included in the range of 20 g to 40 g per liter of the nickel plating solution (30). When the concentration of the complexing agent is less than 20 g / liter, the stability of the nickel plating solution is lowered, and spontaneous decomposition of the nickel plating solution may occur. When the concentration of the complexing agent is more than 40 g / liter, the stability of the nickel plating solution is increased, but the plating rate can be reduced. If the plating rate is decreased, the production time may become long, and the economical efficiency and the product characteristics may be deteriorated. As the number of plating times is increased, the decomposition complex agent is present as a suspended substance in the nickel plating solution to reduce the lifetime of the nickel plating solution . The complexing agent may be a mixture of various kinds of materials depending on the purpose of use and the characteristics of the object to be plated. For example, two or five kinds of materials may be mixed.

예를 들어, 상기 착화제는 니켈 도금액(30) 1 리터에 대하여 상기 카르복실산을 5g 내지 25g 범위로 포함하고, 상기 알파히이드록실산을 5g 내지 20g 범위로 포함할 수 있다.For example, the complexing agent may include the carboxylic acid in an amount of 5 g to 25 g and the aliphatic acid in an amount of 5 g to 20 g based on 1 liter of the nickel plating solution (30).

예를 들어, 상기 착화제는 니켈 도금액(30) 1 리터에 대하여 아디핀산과 아세트산을 합쳐서 5g 내지 25g 범위로 포함할 수 있고, 락트산을 5g 내지 20g 범위로 포함할 수 있다. 여기에서, 상기 아디핀산과 상기 아세트산은 상기 카르복실산의 유도체들이다. 또한, 상기 락트산을 상기 알파히이드록실산의 유도체이다.For example, the complexing agent may include adipic acid and acetic acid in an amount of 5 g to 25 g, and lactic acid in an amount of 5 g to 20 g, per 1 liter of the nickel plating solution (30). Herein, the adipic acid and acetic acid are derivatives of the carboxylic acid. Further, the lactic acid is a derivative of the above-mentioned aliphatic acid.

또한, 니켈 도금액(30)의 안정성을 증가시키고, 도금 속도를 향상시키기 위하여, 상기 착화제는 상기 카르복실산의 유도체인 타르타르산을 더 포함할 수 있다. 예를 들어, 상기 착화제는 니켈 도금액(30) 1 리터에 대하여 아디핀산, 아세트산, 및 타르타르산을 합쳐서 5g 내지 25g 범위로 포함할 수 있고, 상기 착화제는 상기 락트산을 5g 내지 20g 범위로 포함할 수 있다.Further, in order to increase the stability of the nickel plating solution 30 and improve the plating rate, the complexing agent may further include tartaric acid which is a derivative of the carboxylic acid. For example, the complexing agent may include adipic acid, acetic acid, and tartaric acid in an amount ranging from 5 g to 25 g per 1 liter of the nickel plating solution (30), and the complexing agent may include the lactic acid in the range of 5 g to 20 g .

또한, 도금공정 중에 또는 도금 횟수(MTO)의 증가에 따른 니켈 도금액(30)의 분해 억제와 니켈 도금액(30)의 안정성 및 도금 속도 유지를 위해, 상기 착화제는 상기 카르복실산의 유도체인 숙신산과 상기 알파히이드록실산의 유도체인 글리콜릭산을 더 포함할 수 있다. 예를 들어, 상기 착화제는 니켈 도금액(30) 1 리터에 대하여 아디핀산, 아세트산, 및 숙신산을 합쳐서 5g 내지 25g 범위로 포함할 수 있고, 상기 착화제는 상기 락트산과 글리콜릭산을 합쳐서 5g 내지 20g 범위로 포함할 수 있다.In order to suppress the decomposition of the nickel plating solution 30 during the plating process or increase in the number of times of plating (MTO), and to maintain the stability of the nickel plating solution 30 and the plating rate, the complexing agent is a succinic acid derivative of the carboxylic acid And glycolic acid as a derivative of the above-mentioned alpha-hydroxy acid. For example, the complexing agent may include adipic acid, acetic acid, and succinic acid in an amount of 5 g to 25 g per 1 liter of the nickel plating solution (30), and the complexing agent may include 5 to 20 g of lactic acid and glycolic acid Range. ≪ / RTI >

또한, 예를 들어, 상기 착화제는 니켈 도금액(30) 1 리터에 대하여 아디핀산, 아세트산, 타르타르산 및 숙신산을 합쳐서 5g 내지 25g 범위로 포함할 수 있고, 상기 착화제는 상기 락트산과 글리콜릭산을 합쳐서 5g 내지 20g 범위로 포함할 수 있다.Further, for example, the complexing agent may include adipic acid, acetic acid, tartaric acid, and succinic acid in an amount of 5 g to 25 g per 1 liter of the nickel plating solution (30), and the complexing agent may include the lactic acid and the glycolic acid 5 g to 20 g.

또한, 니켈 도금액(30)의 안정성을 증가시키고, 수명 연장을 위하여, 상기 착화제는 상기 알파히이드록실산의 유도체인 티오디글리콜린산을 더 포함할 수 있다. 예를 들어, 상기 착화제는 니켈 도금액(30) 1 리터에 대하여 아디핀산과 아세트산을 합쳐서 5g 내지 25g 범위로 포함할 수 있고, 상기 착화제는 상기 락트산과 티오디글리콜린산을 5g 내지 20g 범위로 포함할 수 있다. 상기 티오디글리콜린산은 0.1g 내지 5g 범위로 포함될 수 있다.Further, in order to increase the stability of the nickel plating solution 30 and to prolong the lifetime, the complexing agent may further include thiodiglycolic acid, which is a derivative of the above-mentioned alpha-hydroxy acid. For example, the complexing agent may include adipic acid and acetic acid in an amount ranging from 5 g to 25 g per 1 liter of the nickel plating solution (30), and the complexing agent may contain the lactic acid and thiodiglycolic acid in the range of 5 g to 20 g . The thiodiglycolic acid may be included in the range of 0.1 g to 5 g.

또한, 상기 착화제가 상기 티오디글리콜린산을 포함하는 경우에, 상기 카르복실산으로서 아디핀산, 아세트산, 및 타르타르산을 합쳐서 5g 내지 25g 범위로 포함하거나, 상기 카르복실산으로서 아디핀산, 아세트산, 타르타르산 및 숙신산을 합쳐서 5g 내지 25g 범위로 포함하거나, 상기 알파히이드록실산으로서 락트산과 티오디글리콜린산을 5g 내지 20g 범위로 포함하는 경우도 본 발명의 기술적 사상에 포함된다.When the complexing agent contains thiodiglycolic acid, it is preferable that the carboxylic acid includes adipic acid, acetic acid, and tartaric acid in a total amount of 5 g to 25 g, or the carboxylic acid includes adipic acid, acetic acid, tartaric acid, Succinic acid in a total amount of 5 g to 25 g, or in the range of 5 g to 20 g of lactic acid and thiodiglycolic acid as the aliphatic acid.

이하에서는, 니켈 도금액(30)에 포함되는 금속 안정제에 대하여 설명하기로 한다. Hereinafter, the metal stabilizer contained in the nickel plating solution 30 will be described.

무전해 도금 시 도금용 니켈 이온, 예를 들어 니켈의 환원 반응은 제어되어야 하고, 이에 의해 석출속도를 예측할 수 있어야 하고, 도금 대상체 표면에서만 반응이 일어나도록 제어되어야 한다. 이를 위해 환원 반응을 억제하는 안정제를 니켈 도금액에 추가할 수 있다. 이러한 안정제를 포함하지 않는 니켈 도금액은 그 자체가 불안정하여 니켈 도금액 안에서 혹은 도금 욕조의 벽에 니켈이 스스로 석출될 수 있고, 이에 따라 니켈 도금액이 본래 기능을 상실할 수 있다. 이러한 니켈 도금액의 분해는 니켈 도금액 내에 존재하는 콜로이드성 입자나 부유 입자들에 의해 촉발될 수 있고, 상기 입자들은 외부에서 불순물로 유입되거나 상기 환원제로 사용되는 오르토아인산(phosphonic acid)의 농도가 용해도 한계를 초과하였을 때 형성될 수 있다. 상기 입자들은 비표면적이 매우 커서 환원반응의 촉매로써 작용하여 반응을 연쇄적으로 일으켜 니켈을 석출시키는 동시에 환원반응에 의해 수소기체가 다량 방출되게 하여, 미세한 검은색 침전물을 형성시킬 수 있으므로 도금 품질을 저하시킬 수 있다. 도금 대상체의 표면 이외에서 환원반응이 일어나는 것을 억제하기 위해서는 금속 원소를 포함하는 금속 안정제를 사용하며 대표적인 것으로 납(Pb) 화합물과 카드늄(Cd) 화합물 등이 사용되고 있다. 니켈 도금액에 포함되는 상기 금속 안정제로서, 납(Pb)이나 카드늄(Cd)을 첨가하는 경우, 도금 대상체에 형성된 도금층의 광택성이 높고 니켈 도금액의 안정성이 향상되어 널리 사용되어 왔다. 그러나, 이러한 납과 카드뮴은 환경규제물질로서, 그 사용을 제한할 필요가 있다. 이에 따라, 본 발명의 기술적 사상에 따른 무전해 니켈 도금액은 특히 납과 카드뮴을 포함하지 않는 무연(lead-free) 및 무 카드뮴(cadmium-free)의 특성을 가질 수 있다.In the electroless plating, the reduction reaction of nickel ions for plating, for example, nickel, should be controlled so that the precipitation rate can be predicted, and the reaction should be controlled to occur only on the surface of the object to be plated. To this end, stabilizers that inhibit the reduction reaction may be added to the nickel plating solution. The nickel plating solution which does not contain such a stabilizer itself is unstable, so that nickel itself can be precipitated in the nickel plating solution or on the wall of the plating bath, so that the nickel plating solution may lose its original function. The decomposition of the nickel plating solution can be triggered by colloidal particles or suspended particles existing in the nickel plating solution, and the particles can be introduced from the outside into the impurities, or the concentration of the phosphonic acid used as the reducing agent may be limited by the solubility limit ≪ / RTI > Since the particles have a very large specific surface area, they act as a catalyst for the reduction reaction so that the reaction is successively caused to precipitate nickel, and a large amount of hydrogen gas is released by the reduction reaction to form a fine black precipitate. . In order to suppress the reduction reaction from occurring other than the surface of the plating target, a metal stabilizer containing a metal element is used. As typical examples, a lead (Pb) compound and a cadmium (Cd) compound are used. When lead (Pb) or cadmium (Cd) is added as the metal stabilizer contained in the nickel plating solution, the gloss of the plating layer formed on the plating target is high and stability of the nickel plating solution is improved and widely used. However, such lead and cadmium are environmentally regulated substances and their use should be restricted. Accordingly, the electroless nickel plating solution according to the technical idea of the present invention may have lead-free and cadmium-free characteristics that do not include lead and cadmium.

상기 금속 안정제는 상기 용매에 용해될 수 있다. 상기 금속 안정제는 상기 도금용 니켈 이온의 환원 반응을 억제할 수 있다. 특히, 상기 금속 안정제는 도금 대상체(40)의 도금층(50)이 형성되기 원하는 영역 외의 다른 영역에서의 환원 반응을 억제함으로써, 니켈 도금액(30)을 안정화하는 기능을 수행할 수 있다. 상기 금속 안정제는 금속 원소를 포함할 수 있고, 특히 납과 카드뮴을 포함하지 않는 무연(lead-free) 및 무 카드뮴(cadmium-free)의 특성을 가질 수 있다. 상기 금속 안정제는 상기 금속 자체인 금속 원소, 상기 금속 원소를 포함하는 니켈 금속염, 상기 금속 원소를 포함하는 금속 산화물, 및 상기 금속 원소를 포함하는 금속 황화물, 중 적어도 어느 하나를 포함할 수 있다. 상기 금속 안정제는, 예를 들어 텔레늄(Te), 셀레늄(Se), 비스무트(Bi), 주석(Sn), 탈륨(Tl), 및 몰리브덴(Mo) 중 적어도 어느 하나를 포함할 수 있다.The metal stabilizer may be dissolved in the solvent. The metal stabilizer can suppress the reduction reaction of nickel ions for plating. In particular, the metal stabilizer can perform the function of stabilizing the nickel plating liquid 30 by suppressing the reduction reaction in a region other than a region where the plating layer 50 of the plating target object 40 is desired to be formed. The metal stabilizer may include a metal element, and may have lead-free and cadmium-free characteristics, particularly free from lead and cadmium. The metal stabilizer may include at least one of a metal element which is the metal itself, a nickel metal salt including the metal element, a metal oxide containing the metal element, and a metal sulfide including the metal element. The metal stabilizer may include at least one of, for example, Telenium (Te), Selenium (Se), Bi (Bi), Sn (Sn), Thallium (Tl), and Molybdenum (Mo).

상기 금속 안정제가 니켈 도금액(30) 내에서 유리되어 불순물로 작용하는 것을 방지하기 위하여, 상기 금속 안정제를 염산이나 질산과 같은 강산 용액 또는 가성소다액과 같은 강알칼리 용액에 미리 용해하여 니켈 도금액(30)에 첨가할 수 있다. 상기 금속 안정제는, 예를 들어 알킬술폰산(alkyl sulfonate) 용액에 미리 용해하여 니켈 도금액(30)에 첨가될 수 있다. 상기 안정제는, 예를 들어 상기 알킬술폰산 용액 중에 메탄술폰산 용액에 미리 용해될 수 있다. 이러한 경우 광택성 등과 같은 도금층의 특성의 개선을 나타낼 수 있다.In order to prevent the metal stabilizer from being released in the nickel plating solution 30 and acting as an impurity, the metal stabilizer is previously dissolved in a strong alkaline solution such as a strong acid solution such as hydrochloric acid or nitric acid or a caustic soda solution to prepare a nickel plating solution 30, ≪ / RTI > The metal stabilizer may be added to the nickel plating solution 30 by previously dissolving it in, for example, an alkyl sulfonate solution. The stabilizer may be previously dissolved, for example, in a solution of methanesulfonic acid in the alkylsulfonic acid solution. In this case, improvement of the properties of the plating layer such as glossiness and the like can be shown.

상기 금속 안정제는 니켈 도금액(30) 1 리터에 대하여 0.1 ppm 내지 5 ppm 범위로 포함될 수 있다. 즉, 상기 금속 안정제는 니켈 도금액(30) 1 리터에 대하여 0.1 mg 내지 5 mg 범위로 포함될 수 있다. 상기 금속 안정제의 농도가 0.1 ppm 미만인 경우에는 니켈 도금액(30)의 안정성이 저하되고 도금층의 광택성이 저하될 수 있고, 상기 금속 안정제의 농도가 5.0 ppm 초과인 경우에는 도금 속도가 매우 저하되거나 도금층의 특성이 저하하게 될 수 있다.The metal stabilizer may be included in the range of 0.1 ppm to 5 ppm based on 1 liter of the nickel plating solution (30). That is, the metal stabilizer may be contained in the range of 0.1 mg to 5 mg per 1 liter of the nickel plating solution (30). If the concentration of the metal stabilizer is less than 0.1 ppm, the stability of the nickel plating solution 30 may deteriorate and the gloss of the plating layer may be deteriorated. If the concentration of the metal stabilizer is more than 5.0 ppm, May be deteriorated.

상기 pH 조절제는 상기 용매에 용해될 수 있다. 도금 대상체(40)에 형성되는 도금층(50)은 니켈 도금액(30)의 pH에 의하여 도금 속도 및 도금층의 두께 등에 영향을 받으므로, 니켈 도금액(30)의 pH를 일정하게 유지하고 조절할 수 있는 물질이 추가되는 것이 바람직하다. 따라서, 상기 pH 조절제가 이러한 기능을 수행하는 물질로서 니켈 도금액(30)에 첨가될 수 있다. 상기 pH 조절제는 니켈 도금액(30)의 pH를 조절할 수 있다. 상기 pH 조절제는, 황산, 염산, 질산 등과 같은 산성 물질을 포함하거나 또는 암모니아수, 수산화나트륨, 수산화칼륨과 같은 염기성 물질을 포함할 수 있다.The pH adjusting agent may be dissolved in the solvent. The plating layer 50 formed on the plating target object 40 is affected by the plating speed and the thickness of the plating layer due to the pH of the nickel plating solution 30. Therefore, it is possible to control the pH of the nickel plating solution 30 Is preferably added. Therefore, the pH adjuster may be added to the nickel plating solution 30 as a substance that performs this function. The pH adjusting agent may adjust the pH of the nickel plating solution 30. The pH adjusting agent may include an acidic substance such as sulfuric acid, hydrochloric acid, nitric acid, or the like, or a basic substance such as ammonia water, sodium hydroxide, and potassium hydroxide.

상기 pH 조절제는 니켈 도금액(30)의 pH를 3.5 내지 5.5 범위로 유지하도록 니켈 도금액에 첨가되는 함량이 조정될 수 있다. 니켈 도금액(30)의 pH 범위가 3.5 내지 5.5인 경우, 니켈 도금액(30)이 보다 안정적으로 유지될 수 있으며, 도금 속도가 빠르면서 동시에 양질의 도금층을 얻을 수 있다.The amount of the pH adjusting agent added to the nickel plating solution may be adjusted so as to maintain the pH of the nickel plating solution 30 in the range of 3.5 to 5.5. When the pH range of the nickel plating solution 30 is 3.5 to 5.5, the nickel plating solution 30 can be more stably maintained, and a plating layer of high quality can be obtained at a high plating rate.

상기 황화물계 안정제는 니켈 도금액(30)의 자연적인 분해를 억제하고, 니켈 도금액(30)의 노화로 생성된 침전물이 상기 환원제와 반응하는 것을 방지하여, 니켈 도금액(30)을 안정화시키는 기능을 수행할 수 있다. 상기 황화물계 안정제는, 예를 들어 황화물계 화합물을 포함할 수 있다. 상기 황화물계 안정제는, 예를 들어 티오요소(thiourea) 및 그의 유도체, 아황산염(sulfite), 피로아황산염(pyrosulfite), 및 티오시아네이트염(thiocyanate) 중 적어도 어느 하나를 포함할 수 있다.The sulfide stabilizer inhibits the natural decomposition of the nickel plating solution 30 and prevents the precipitate formed by aging of the nickel plating solution 30 from reacting with the reducing agent to stabilize the nickel plating solution 30 can do. The sulfide-based stabilizer may include, for example, a sulfide-based compound. The sulfide stabilizer may include at least one of thiourea and derivatives thereof, sulfite, pyrosulfite, and thiocyanate.

상기 황화물계 안정제는 니켈 도금액(30) 1 리터에 대하여 0.1 ppm 내지 3 ppm 범위로 포함될 수 있다. 즉, 상기 황화물계 안정제는 니켈 도금액(30) 1 리터에 대하여 0.1 mg 내지 3 mg 범위로 포함될 수 있다. 상기 황화물계 안정제가 0.1 ppm 미만인 경우에는 상기 니켈 도금액의 안정도가 저하될 수 있다. 상기 황화물계 안정제가 3.0 ppm을 초과하는 경우에는 도금층에 피트(pit)가 발생할 수 있고, 조대하고 불균일한 결정 입자가 도금층에 형성되어 도금층의 특성을 저하시킬 수 있다.The sulfide stabilizer may be included in the range of 0.1 ppm to 3 ppm relative to 1 liter of the nickel plating solution (30). That is, the sulfide stabilizer may be included in the range of 0.1 mg to 3 mg per 1 liter of the nickel plating solution (30). When the sulfide stabilizer is less than 0.1 ppm, the stability of the nickel plating solution may be lowered. If the sulfide-based stabilizer exceeds 3.0 ppm, pits may be formed in the plating layer, and coarse and non-uniform crystal grains may be formed in the plating layer to deteriorate the properties of the plating layer.

도 2는 본 발명의 일 실시예에 따른 무연 및 무 카드뮴 무전해 니켈 도금액을 이용한 무전해 도금 방법(S1)을 도시하는 흐름도이다.2 is a flowchart showing an electroless plating method (S1) using a lead-free and cadmium electroless nickel plating solution according to an embodiment of the present invention.

도 2를 참조하면, 무전해 도금 방법(S1)은 상술한 바와 같은 무연 및 무 카드뮴 무전해 니켈 도금액을 준비하는 단계(S10) 및 상기 무연 및 무 카드뮴 무전해 니켈 도금액 내에 도금 대상체를 침지하여, 상기 도금 대상체 상에 무전해 도금층을 형성하는 단계(S20)를 포함한다.
2, the electroless plating method S1 includes the steps of preparing a lead-free and cadmium electroless nickel plating solution as described above (S10), and immersing the plating target in the lead-free and cadmium electroless nickel plating solution, And forming an electroless plating layer on the plating object (S20).

실험예Experimental Example

본 발명의 기술적 사상에 따른 무연 및 무 카드뮴 무전해 니켈 도금액의 특성을 검토하기 위하여 도금 실험을 실시하였다.In order to examine the characteristics of the lead-free and cadmium-free electroless nickel plating solution according to the technical idea of the present invention, a plating experiment was conducted.

본 발명의 기술적 사상에 따른 니켈 도금액은 물을 용매로 사용하였고, 니켈 금속염으로서 황산니켈을 니켈 도금액 1 리터에 대하여 약 5g 첨가하고, 환원제로서 차아인산염을 니켈 도금액 1 리터에 대하여 약 30g 첨가하였다. 상기 용매에 첨가된 착화제는 상기 니켈 도금액 1 리터에 대하여 약 10g의 아디핀산, 약 10g의 아세트산 및 약 10g의 락트산을 포함하도록 구성하였다. 또한, 금속 안정제로서 비스무트(Bi)를 니켈 도금액 1 리터에 대하여 약 2 ppm 첨가하였다. 상기 비스무트는 알킬술폰산에 미리 용해하여 상기 니켈 도금액에 첨가하였다. 또한, 황화물계 안정제로서 티오요소를 니켈 도금액 1 리터에 대하여 약 2 ppm 첨가하였다. 니켈 도금액의 pH는 암모니아수를 이용하여 약 4.5로 일정하게 유지하였으며, 니켈 도금액 보충을 위하여 니켈 도금액 내의 니켈염 농도 분석은 30분 마다 실시하여 니켈 도금액을 보충하였다.The nickel plating solution according to the technical idea of the present invention was prepared by using water as a solvent and adding about 5 g of nickel sulfate as a nickel plating solution to 1 liter of nickel plating solution and adding about 30 g of hypophosphite as a reducing agent to 1 liter of nickel plating solution. The complexing agent added to the solvent was configured to contain about 10 g of adipic acid, about 10 g of acetic acid, and about 10 g of lactic acid per liter of the nickel plating solution. Further, about 2 ppm of bismuth (Bi) was added as a metal stabilizer to 1 liter of the nickel plating solution. The bismuth was previously dissolved in the alkylsulfonic acid and added to the nickel plating solution. Further, about 2 ppm of thiourea was added as a sulfide stabilizer to 1 liter of the nickel plating solution. The pH of the nickel plating solution was maintained at about 4.5 using ammonia water. For the nickel plating solution, nickel concentration in the nickel plating solution was analyzed every 30 minutes to replenish the nickel plating solution.

또한, 비교예로 사용된 니켈 도금액은 상용 무연 무전해 니켈 도금액을 사용하였다. 비교예로 사용된 니켈 도금액은 (주)에코스타에서 제조한 제품번호 ECO NP 309호이며, 상업적으로 구할 수 있다.The nickel plating solution used as a comparative example was a commercially available lead-free electroless nickel plating solution. The nickel plating solution used as a comparative example is the product number ECO NP 309 manufactured by Ecostar Co., and is commercially available.

본 발명의 기술적 사상에 따른 니켈 도금액과 비교예의 니켈 도금액에서 도금되는 도금 대상체는 다음의 공정을 통하여 준비하였다. 헐셀 시험(Hull cell test)용 철(Fe) 소재에 표면에 코팅된 아연을 제거하기 위해 10% 황산을 사용하여 5분 동안 침적 처리하였다. 상기 철 소재를 증류수로 세척하였다. 도금층의 밀착력 향상을 위해 20 ℃ 내지 30℃ 온도 범위에서 2 분간 소프트 에칭 처리와 수세 처리를 하여 도금 대상체를 준비하였다. 이후 니켈 도금액에 상기 도금 대상체를 침지하여 도금하였다. 도금 중의 니켈 도금액의 온도는 중탕 방식을 사용하여 약 85℃로 일정하게 유지하였고, 니켈 도금액의 pH는 암모니아수를 이용하여 약 4.5로 일정하게 유지하였고, 니켈 도금액 보충을 위해 니켈 도금액의 니켈 염 분석은 30분마다 실시하여 보충하였다. 본 명세서에서, "도금 횟수"는 니켈 도금액을 사용한 반복 횟수를 지칭하는 것으로 정의한다.The plating object to be plated in the nickel plating liquid according to the technical idea of the present invention and the nickel plating liquid in the comparative example was prepared through the following process. The iron (Fe) material for the Hull cell test was immersed for 5 minutes using 10% sulfuric acid to remove zinc coated on the surface. The iron material was washed with distilled water. In order to improve the adhesion of the plating layer, soft etching treatment and water washing treatment were performed at a temperature range of 20 to 30 占 폚 for 2 minutes to prepare a plating target. Thereafter, the plating object was immersed in a nickel plating solution to be plated. The temperature of the nickel plating solution during plating was kept constant at about 85 ° C using a hot water bath method. The pH of the nickel plating solution was kept constant at about 4.5 using ammonia water. Nickel salt analysis of the nickel plating solution for replenishing the nickel plating solution And supplemented every 30 minutes. In the present specification, the "number of plating times" is defined as the number of repetitions using the nickel plating solution.

도 3은 본 발명의 기술적 사상에 따른 니켈 도금액과 비교예의 니켈 도금액을 각각 이용하여 도금 대상체에 도금하는 과정에서 얻은 도금 속도를 도금 횟수(MTO, Metal turn over)에 따라 나타내는 그래프이다.FIG. 3 is a graph showing the plating rate obtained in the process of plating the plating object using the nickel plating solution according to the technical idea of the present invention and the nickel plating solution according to the comparative example, according to the metal turnover (MTO).

도 3을 참조하면, 비교예의 경우에는, 최초 도금 속도는 13.5 ㎛/hr를 나타내었으나, 도금 횟수가 증가됨에 따라 도금 속도가 급격하게 감소되었다. 6회의 도금 횟수에서는 9 ㎛/hr의 도금 속도를 나타내었다. 또한, 6회의 도금 횟수에서는 니켈 도금액 내에 니켈이 석출되었고, 이에 따라 니켈 도금액의 이후 사용이 불가능하게 되었다.Referring to FIG. 3, in the case of the comparative example, the initial plating rate was 13.5 占 퐉 / hr, but the plating rate was drastically decreased as the plating number was increased. The plating rate was 9 ㎛ / hr for 6 plating times. Further, nickel was precipitated in the nickel plating solution at the number of plating times of 6 times, and the nickel plating solution could not be used later.

반면, 본 발명의 경우에는, 최초 도금 속도는 14.2 ㎛/hr를 나타내었으며, 도금 횟수가 증가됨에 따라 도금 속도가 감소되는 경향을 보였으나, 비교예에 비하여는 감소 정도가 크지 않았다. 6회의 도금 횟수에서는 12 ㎛/hr의 도금 속도로서 비교예에 비하여 빠른 도금 속도를 나타내었다. 또한, 6회 이상의 도금 횟수를 구현할 수 있었다. 8회의 도금 횟수에서는 도금 속도가 약 9.8㎛/hr로 나타났으며, 니켈 도금액의 안정성도 높게 나타났다.On the other hand, in the case of the present invention, the initial plating rate was 14.2 탆 / hr, and the plating rate tended to decrease as the number of plating times increased. The plating rate was 12 ㎛ / hr for 6 plating times, and the plating rate was faster than the comparative example. In addition, the number of plating times was 6 or more. The plating rate was about 9.8 ㎛ / hr for 8 platings, and the stability of the nickel plating solution was also high.

도 4는 본 발명의 기술적 사상에 따른 니켈 도금액과 비교예의 니켈 도금액을 각각 이용하여 도금 대상체에 도금하는 과정에서 형성된 도금층에 공석된 인의 양을 도금 횟수에 따라 나타내는 그래프이다. FIG. 4 is a graph showing the amount of phosphorus deposited in the plating layer formed in the process of plating the plating object using the nickel plating solution according to the technical idea of the present invention and the nickel plating solution according to the comparative example, according to the plating number.

도 4를 참조하면, 비교예의 경우에는, 최초 도금시 도금층에 공석된 인의 공석량은 8.8 wt%로 나타내었으나, 도금 횟수가 증가됨에 따라 인의 공석량이 증가되었다. 6회의 도금 횟수에서는 10.5 wt%를 나타내었다.Referring to FIG. 4, in the case of the comparative example, the amount of vacancy of phosphorus in the plating layer in the initial plating was 8.8 wt%, but the amount of phosphorus in the phosphorus was increased as the number of plating was increased. And 10.5 wt% in 6 times of plating.

반면, 본 발명의 경우에는, 최초 도금시 도금층에 공석된 인의 공석량은 7.5 wt%를 나타내었으며, 도금 횟수가 증가됨에 따라 인의 공석량은 완만하게 증가되었다. 6회의 도금 횟수에서는 8.4 wt%를 나타내었고, 8회의 도금 횟수에서는 9.0 wt%를 나타내었다. 따라서, 도금 횟수가 증가된 니켈 도금액이 최초 니켈 도금액과 거의 유사한 특성을 가질 수 있음을 나타낸다.On the other hand, in the case of the present invention, the amount of vacancies in the plated layer in the initial plating was 7.5 wt%, and the amount of vacancies in the phosphorus was gradually increased as the number of plating was increased. It showed 8.4 wt% in 6 plating times and 9.0 wt% in 8 plating times. Thus, it can be seen that the nickel plating solution having an increased number of plating times can have properties similar to those of the initial nickel plating solution.

도 5는 본 발명의 기술적 사상에 따른 니켈 도금액과 비교예의 니켈 도금액을 각각 이용하여 도금 대상체에 형성된 도금층의 표면을 도금 횟수에 따라 나타내는 주사전자현미경 사진들이다.5 is a scanning electron micrograph showing the surface of the plating layer formed on the plating target object according to the number of times of plating using the nickel plating solution according to the technical idea of the present invention and the nickel plating solution according to the comparative example, respectively.

도 5를 참조하면, 비교예의 경우에는, 최초 도금(1회 도금) 시에는 도금층에 결정입자가 거의 형성되지 않았고 일부 형성된 결정입자도 명확한 결정 입계를 나타내지 못하였다. 그러나, 도금 횟수가 증가됨에 따라 도금층에 형성되는 결정입자들이 명확하게 나타났다. 도금 횟수가 6회인 경우에는, 도금층에 복수의 피트들이 형성되었고, 이에 따라 이와 같은 피트나 결정 입자들의 계면에서 부식이 발생할 우려가 있다. 따라서, 비교예의 경우에는 도금층의 도금 품질은 도금 횟수가 증가됨에 따라 급격하게 저하되었다.Referring to FIG. 5, in the case of the comparative example, crystal grains were hardly formed in the plating layer at the time of initial plating (one time plating), and crystal grains formed in some cases did not show definite grain boundaries. However, as the number of plating times was increased, the crystal grains formed in the plating layer became clear. When the number of times of plating is six, a plurality of pits are formed in the plating layer, which may cause corrosion at the interface of such pits and crystal grains. Therefore, in the case of the comparative example, the plating quality of the plated layer decreased sharply as the number of plating was increased.

반면, 본 발명의 경우에는, 최초 도금 시에는 도금층에 결정입자가 거의 형성되지 않았고 비정질 형상으로 나타났으며, 도금 횟수가 증가되어도 결정입자의 형성이 거의 나타나지 않거나 명확한 결정 입자를 보이지 못하였다. 예를 들어, 4회의 도금 횟수의 도금층은 비교예의 최초 도금 시의 도금층과 거의 유사한 상태를 나타내었다. 또한, 6회의 도금 횟수에서도 결정 입자가 명확하지 않고 비정질과의 혼합 형태를 나타내므로, 결정 입자 계면에서의 부식이 방지될 것으로 예상된다. 또한, 피트는 나타나지 않았다.On the other hand, in the case of the present invention, at the initial plating, crystal grains were hardly formed in the plating layer and appeared amorphous, and crystal grains were hardly formed or crystal grains were not observed even when the number of plating was increased. For example, the plating layer having the number of plating of four times is substantially similar to the plating layer of the first plating of the comparative example. It is also expected that corrosion at the interface of the crystal grain will be prevented because the crystal grains are not clear even at the number of plating times of 6 and exhibit a mixed form with the amorphous phase. Also, the pit did not appear.

도 6은 본 발명의 기술적 사상에 따른 니켈 도금액과 비교예의 니켈 도금액을 각각 이용하여 인쇄회로기판의 구리 배선 상에 도금되어 형성된 도금층의 상면과 단면을 나타내는 주사전자 현미경 사진들이다.6 is a scanning electron microscope (SEM) image of a plating layer formed on a copper wiring of a printed circuit board using a nickel plating solution according to the technical idea of the present invention and a nickel plating solution according to a comparative example, respectively.

도 6을 참조하면, 비교예의 경우에는, 구리 배선의 상부의 도금층의 두께는 약 11.0㎛ 이고, 하부는 약 11.1㎛로 나타났으나, 모서리 부분은 약 5.8㎛로 나타났으며, 도금층의 위치에 따른 두께 편차가 크게 나타났다.Referring to FIG. 6, in the comparative example, the thickness of the plating layer on the upper portion of the copper wiring was about 11.0 μm and the lower portion was about 11.1 μm, but the corner portion was about 5.8 μm. The thickness variation was large.

반면, 본 발명의 경우에는 구리 배선의 상부의 도금층의 두께는 약 16.8㎛, 하부는 17.3㎛, 모서리 부분은 15.8㎛ 로 나타났고, 따라서 도금층의 위치에 따른 두께 편차가 작게 나타났으며, 균일한 도금층을 구현할 수 있었다.On the other hand, in the case of the present invention, the thickness of the plating layer on the upper portion of the copper wiring was about 16.8 탆, the lower portion was 17.3 탆, and the corner portion was 15.8 탆. Thus, the thickness deviation was small according to the position of the plating layer, A plating layer could be realized.

이상에서 설명한 본 발명의 기술적 사상이 전술한 실시예 및 첨부된 도면에 한정되지 않으며, 본 발명의 기술적 사상을 벗어나지 않는 범위 내에서 여러 가지 치환, 변형 및 변경이 가능하다는 것은, 본 발명의 기술적 사상이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자에게 있어 명백할 것이다.It will be apparent to those skilled in the art that various modifications and variations can be made in the present invention without departing from the spirit or scope of the invention as defined in the appended claims. Will be apparent to those of ordinary skill in the art.

10: 도금 장치, 20: 도금 욕조,
30: 니켈 도금액, 40: 도금 대상체, 50: 도금층,
10: plating apparatus, 20: plating bath,
30: Nickel plating liquid, 40: Plated object, 50: Plated layer,

Claims (20)

도금용 니켈 이온을 제공하는 니켈 금속염(nickel metal salt);
상기 도금용 니켈 이온을 환원시키는 환원제;
상기 도금용 니켈 이온과 착화물을 형성하고, 카르복실산 및 알파히이드록실산을 포함하는 착화제; 및
상기 도금용 니켈 이온의 환원 반응을 억제하고, 무연(lead-free) 및 무 카드뮴(cadmium-free)이고, 금속 원소를 포함하는 금속 안정제;
를 포함하고,
상기 금속 안정제는, 알킬술폰산 용액에 미리 용해되어 상기 니켈 도금액에 첨가되는, 무연 및 무 카드뮴 무전해 니켈 도금액.
A nickel metal salt providing nickel ions for plating;
A reducing agent for reducing nickel ions for plating;
A complexing agent which forms a complex with nickel ions for plating and comprises a carboxylic acid and an alpha hydroxy acid; And
A metal stabilizer which suppresses the reduction reaction of nickel ions for plating and is lead-free and cadmium-free and contains a metal element;
Lt; / RTI >
Wherein the metal stabilizer is dissolved in an alkylsulfonic acid solution in advance and added to the nickel plating solution.
제 1 항에 있어서, 상기 착화제는 상기 니켈 도금액 1 리터에 대하여 20g 내지 40g 범위로 포함되는, 무연 및 무 카드뮴 무전해 니켈 도금액.The lead-free and cadmium electroless nickel plating solution according to claim 1, wherein the complexing agent is contained in the range of 20 g to 40 g per 1 liter of the nickel plating solution. 제 1 항에 있어서, 상기 착화제는 상기 니켈 도금액 1 리터에 대하여 상기 카르복실산을 5g 내지 25g 범위로 포함하고, 상기 알파히이드록실산을 5g 내지 20g 범위로 포함하는, 무연 및 무 카드뮴 무전해 니켈 도금액.2. The method of claim 1, wherein the complexing agent comprises a lead-free and cadmium-free electroless nickel plating solution containing the carboxylic acid in the range of 5g to 25g per 1 liter of the nickel plating solution and the aliphatic hydroxyl acid in the range of 5g to 20g Year nickel plating solution. 제 1 항에 있어서, 상기 착화제는 상기 카르복실산의 유도체인 아세트산, 아디핀산, 타르타르산, 및 숙신산 중 적어도 어느 하나와 상기 알파히이드록실산의 유도체인 구연산, 락트산, 글리콜릭산, 및 만델산(mandelic acid) 중 적어도 어느 하나가 혼합된 혼합물을 포함하는, 무연 및 무 카드뮴 무전해 니켈 도금액.The complexing agent according to claim 1, wherein the complexing agent is at least one of acetic acid, adipic acid, tartaric acid, and succinic acid derivatives of the carboxylic acid and derivatives of the aliphatic acid, citric acid, lactic acid, glycolic acid, mandelic acid, and mandelic acid. < Desc / Clms Page number 24 > 제 1 항에 있어서, 상기 착화제는 상기 니켈 도금액 1 리터에 대하여 아디핀산과 아세트산을 합쳐서 5g 내지 25g 범위로 포함하고, 또한 락트산을 5g 내지 20g 범위로 포함하는, 무연 및 무 카드뮴 무전해 니켈 도금액.The electroless nickel plating solution according to claim 1, wherein the complexing agent is a lead-free and cadmium-free electroless nickel plating solution containing 5 to 25 g of adipic acid and acetic acid per liter of the nickel plating solution and 5 to 20 g of lactic acid . 제 1 항에 있어서, 상기 착화제는 상기 니켈 도금액 1 리터에 대하여 아디핀산, 아세트산, 및 타르타르산을 합쳐서 5g 내지 25g 범위로 포함하고, 또한 락트산을 5g 내지 20g 범위로 포함하는, 무연 및 무 카드뮴 무전해 니켈 도금액.The method of claim 1, wherein the complexing agent is a lead-free and cadmium-free electroless nickel plating solution containing adipic acid, acetic acid, and tartaric acid in an amount ranging from 5 g to 25 g per 1 liter of the nickel plating solution, Year nickel plating solution. 제 1 항에 있어서, 상기 착화제는 상기 니켈 도금액 1 리터에 대하여 아디핀산, 아세트산, 및 숙신산을 합쳐서 5g 내지 25g 범위로 포함하고, 또한 락트산과 글리콜릭산을 합쳐서 5g 내지 20g 범위로 포함하는, 무연 및 무 카드뮴 무전해 니켈 도금액.The plating solution according to claim 1, wherein the complexing agent comprises adipic acid, acetic acid, and succinic acid in an amount ranging from 5 g to 25 g per 1 liter of the nickel plating solution, and further including lactic acid and glycolic acid in an amount ranging from 5 g to 20 g And Cadmium free electroless nickel plating solution. 제 1 항에 있어서, 상기 착화제는 상기 니켈 도금액 1 리터에 대하여 아디핀산 및 아세트산을 합쳐서 5g 내지 25g 범위로 포함하고, 또한 락트산과 티오디글리콜린산을 합쳐서 5g 내지 20g 범위로 포함하는, 무연 및 무 카드뮴 무전해 니켈 도금액.2. The nickel plating solution according to claim 1, wherein the complexing agent comprises 5 to 25 g of adipic acid and acetic acid per 1 liter of the nickel plating solution, and 5 to 20 g of lactic acid and thiodiglycolic acid together, Cadmium free electroless nickel plating solution. 제 1 항에 있어서, 상기 니켈 금속염은 황산니켈, 염화니켈, 설파민산니켈, 질산니켈, 산화니켈 및 탄산니켈 중 적어도 어느 하나를 포함하고,
상기 니켈 금속염은 상기 니켈 도금액 1 리터에 대하여 4g 내지 7g 범위로 포함되는, 무연 및 무 카드뮴 무전해 니켈 도금액.
The method according to claim 1, wherein the nickel metal salt comprises at least one of nickel sulfate, nickel chloride, nickel sulfamide, nickel nitrate, nickel oxide and nickel carbonate,
Wherein the nickel metal salt is contained in a range of 4 g to 7 g with respect to 1 liter of the nickel plating solution.
제 1 항에 있어서, 상기 환원제는 차아인산염(hypophosphite), 수소화붕소염(boron hydride), 디메틸아민보란(dimethylamine borane), 및 히드라진(hydrazine) 중 적어도 어느 하나를 포함하고,
상기 환원제는 상기 니켈 도금액 1 리터에 대하여 20g 내지 35g 범위로 포함되는, 무연 및 무 카드뮴 무전해 니켈 도금액.
The method of claim 1, wherein the reducing agent comprises at least one of hypophosphite, boron hydride, dimethylamine borane, and hydrazine,
Wherein the reducing agent is contained in an amount of 20 g to 35 g per 1 liter of the nickel plating solution.
제 1 항에 있어서, 상기 금속 안정제는, 텔레늄(Te), 셀레늄(Se), 비스무트(Bi), 주석(Sn), 탈륨(Tl), 및 몰리브덴(Mo) 중 적어도 어느 하나를 포함하는, 무연 및 무 카드뮴 무전해 니켈 도금액.The method of claim 1, wherein the metal stabilizer is at least one selected from the group consisting of Tel, Te, Sb, Bi, Sn, Thl, Lead-free and Cadmium-free electroless nickel plating solution. 제 1 항에 있어서, 상기 금속 안정제는, 금속 원소 자체, 니켈 금속염, 금속 산화물, 및 금속 황화물, 중 적어도 어느 하나를 포함하는, 무연 및 무 카드뮴 무전해 니켈 도금액.The lead-free and cadmium electroless nickel plating solution according to claim 1, wherein the metal stabilizer comprises at least one of a metal element itself, a nickel metal salt, a metal oxide, and a metal sulfide. 제 1 항에 있어서, 상기 금속 안정제는 상기 니켈 도금액 1 리터에 대하여 0.1 ppm 내지 5.0 ppm 범위로 포함되는, 무연 및 무 카드뮴 무전해 니켈 도금액.The lead-free and cadmium electroless nickel plating solution according to claim 1, wherein the metal stabilizer is contained in the range of 0.1 ppm to 5.0 ppm with respect to 1 liter of the nickel plating solution. 삭제delete 제 1 항에 있어서, 상기 니켈 도금액의 pH를 3.5 내지 5.5 범위로 조절하고, 황산, 염산, 질산, 암모니아수, 수산화나트륨, 수산화칼륨, 중 적어도 어느 하나를 포함하는 pH 조절제를 더 포함하는, 무연 및 무 카드뮴 무전해 니켈 도금액.The nickel plating solution according to claim 1, further comprising a pH adjusting agent containing at least one of sulfuric acid, hydrochloric acid, nitric acid, ammonia water, sodium hydroxide, and potassium hydroxide, and adjusting the pH of the nickel plating solution to a range of 3.5 to 5.5. Cadmium free electroless nickel plating solution. 제 1 항에 있어서, 상기 니켈 도금액의 자연적인 분해를 억제하고, 상기 니켈 도금액의 노화로 생성된 침전물이 상기 환원제와 반응하는 것을 방지하여, 상기 니켈 도금액을 안정화시키는 황화물계 안정제를 더 포함하는, 무연 및 무 카드뮴 무전해 니켈 도금액. 2. The nickel plating solution according to claim 1, further comprising a sulfide-based stabilizer for inhibiting spontaneous decomposition of the nickel plating solution and preventing the precipitate formed by aging of the nickel plating solution from reacting with the reducing agent to stabilize the nickel plating solution. Lead-free and Cadmium-free electroless nickel plating solution. 제 16 항에 있어서, 상기 황화물계 안정제는 티오요소(thiourea) 및 그의 유도체, 아황산염(sulfite), 피로아황산염(pyrosulfite), 및 티오시아네이트염(thiocyanate) 중 적어도 어느 하나를 포함하는, 무연 및 무 카드뮴 무전해 니켈 도금액.17. The method of claim 16, wherein the sulfide stabilizer is selected from the group consisting of a lead free and a non-lead free, including at least one of thiourea and its derivatives, sulfite, pyrosulfite, and thiocyanate. Cadmium electroless nickel plating solution. 제 16 항에 있어서, 상기 황화물계 안정제는 상기 니켈 도금액 1 리터에 대하여 0.1 ppm 내지 3.0 ppm 범위로 포함되는, 무연 및 무 카드뮴 무전해 니켈 도금액.The lead-free and cadmium electroless nickel plating solution according to claim 16, wherein the sulfide stabilizer is contained in the range of 0.1 ppm to 3.0 ppm with respect to 1 liter of the nickel plating solution. 제 1 항 내지 제 13 항 및 제 15 항 내지 제 18 항 중의 어느 한 항에 따른 무연 및 무 카드뮴 무전해 니켈 도금액을 준비하는 단계; 및
상기 무연 및 무 카드뮴 무전해 니켈 도금액 내에 도금 대상체를 침지하여, 상기 도금 대상체 상에 무전해 도금층을 형성하는 단계;
를 포함하는 무연 및 무 카드뮴 무전해 니켈 도금액을 이용한 무전해 도금 방법.
Preparing a lead-free and cadmium electroless nickel plating solution according to any one of claims 1 to 13 and 15 to 18; And
Immersing the plating target in the lead-free and non-cadmium electroless nickel plating solution to form an electroless plating layer on the plating target;
And an electroless plating method using a lead-free and cadmium-free electroless nickel plating solution.
제 1 항 내지 제 13 항 및 제 15 항 내지 제 18 항 중의 어느 한 항에 따른 무연 및 무 카드뮴 무전해 니켈 도금액에 의하여 도금 대상체의 표면에 도금되는, 니켈 도금층.A nickel-plated layer plated on the surface of a plating target by a lead-free and cadmium-free electroless nickel plating solution according to any one of claims 1 to 13 and 15 to 18.
KR1020120126226A 2012-11-08 2012-11-08 Lead-free and cadmium-free electroless plating solution, method of electroless plating using the same, and nickel plating layer using the same KR101447110B1 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020120126226A KR101447110B1 (en) 2012-11-08 2012-11-08 Lead-free and cadmium-free electroless plating solution, method of electroless plating using the same, and nickel plating layer using the same

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020120126226A KR101447110B1 (en) 2012-11-08 2012-11-08 Lead-free and cadmium-free electroless plating solution, method of electroless plating using the same, and nickel plating layer using the same

Publications (2)

Publication Number Publication Date
KR20140059611A KR20140059611A (en) 2014-05-16
KR101447110B1 true KR101447110B1 (en) 2014-10-08

Family

ID=50889390

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1020120126226A KR101447110B1 (en) 2012-11-08 2012-11-08 Lead-free and cadmium-free electroless plating solution, method of electroless plating using the same, and nickel plating layer using the same

Country Status (1)

Country Link
KR (1) KR101447110B1 (en)

Families Citing this family (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR101812752B1 (en) * 2015-08-27 2017-12-27 아주대학교산학협력단 Method of manufacturing surge absorber
KR101653344B1 (en) * 2015-11-27 2016-09-22 주식회사 엘이 Air conditioner using peltier device
KR102485602B1 (en) * 2020-09-18 2023-01-06 공주대학교 산학협력단 Electroless nickel-boron plating solution having tert-butyl amine borane for electrode terminal of lithium ion battery, method of electroless nickel-boron plating using the same, and electrode terminal of lithium ion battery having nickel-boron electroless plating layer using the same

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2005264309A (en) 2004-03-22 2005-09-29 Ebara Udylite Kk Electroless nickel plating bath and electroless nickel alloy plating bath
JP2007154223A (en) 2005-12-01 2007-06-21 Koa Corp Electroless nickel-plating liquid and plating method using the same
KR20090017744A (en) * 2007-08-16 2009-02-19 김동현 Stablizer for electroless nickel plating solution

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2005264309A (en) 2004-03-22 2005-09-29 Ebara Udylite Kk Electroless nickel plating bath and electroless nickel alloy plating bath
JP2007154223A (en) 2005-12-01 2007-06-21 Koa Corp Electroless nickel-plating liquid and plating method using the same
KR20090017744A (en) * 2007-08-16 2009-02-19 김동현 Stablizer for electroless nickel plating solution

Also Published As

Publication number Publication date
KR20140059611A (en) 2014-05-16

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR101487890B1 (en) Electroless plating solution, method of electroless nickel plating using the same, and flexible nickel plating layer using the same
KR101612476B1 (en) Electroless copper plating solution composition and methods of plating copper using the same
EP1378584B1 (en) Electroless nickel plating solutions
KR101660520B1 (en) Method of performing continuous electroless plating of copper and nickel and plating layer using the same
JP2009509050A (en) Defects and process control of electroless deposition in microelectronic applications
KR101447110B1 (en) Lead-free and cadmium-free electroless plating solution, method of electroless plating using the same, and nickel plating layer using the same
CN106011802B (en) Electroless nickel plating bath and electroless nickel plating method using the same
WO2017031490A1 (en) Electroless silver plating bath and method of using the same
TW201720955A (en) Plating bath composition for electroless plating of gold and a method for depositing a gold layer
KR101146769B1 (en) Electroless nikel plating solution, electroless plating method using the same and nikel coating layer prepared by the same
EP3325688B1 (en) Electroless nickel-phosphorous plating method using baths with reduced ion concentration
JP7118446B2 (en) Electroless platinum plating solution and platinum film obtained using it
JP6719437B2 (en) Electroless nickel plating bath
JPH1161426A (en) Electroless tin and tin alloy plating bath, electroless plating and electronic part coated with tin or tin alloy film in the electroless plating bath
KR101476601B1 (en) Nickel electroless plating solution and electronic component using same
WO2012052832A2 (en) Electroless nickel plating bath and electroless nickel plating method using same
TW202106928A (en) Tin plating bath and a method for depositing tin or tin alloy onto a surface of a substrate
KR20140092597A (en) Electroless cobalt plating solution, method of electroless plating using the same, and cobalt plating layer using the same
KR101462562B1 (en) Electroless nikel plating solution and electronic component using same
KR102485602B1 (en) Electroless nickel-boron plating solution having tert-butyl amine borane for electrode terminal of lithium ion battery, method of electroless nickel-boron plating using the same, and electrode terminal of lithium ion battery having nickel-boron electroless plating layer using the same
JPS6141774A (en) Modified aqueous bath for nickel plating and method
JP2020084255A (en) Electroless nickel-phosphorus plating bath
JP2018095926A (en) Electroless nickel-phosphorus plating bath
JPH0633255A (en) Electroless plating bath
KR101169328B1 (en) Electroless nickel plating method of a vacuum chamber and nickel-plated vacuum chamber plated by the same

Legal Events

Date Code Title Description
A201 Request for examination
E902 Notification of reason for refusal
E701 Decision to grant or registration of patent right
GRNT Written decision to grant
FPAY Annual fee payment

Payment date: 20170703

Year of fee payment: 4

FPAY Annual fee payment

Payment date: 20190625

Year of fee payment: 6