KR101430098B1 - 내화물 특성 평가 장치 및 특성 평가 방법 - Google Patents

내화물 특성 평가 장치 및 특성 평가 방법 Download PDF

Info

Publication number
KR101430098B1
KR101430098B1 KR1020130021820A KR20130021820A KR101430098B1 KR 101430098 B1 KR101430098 B1 KR 101430098B1 KR 1020130021820 A KR1020130021820 A KR 1020130021820A KR 20130021820 A KR20130021820 A KR 20130021820A KR 101430098 B1 KR101430098 B1 KR 101430098B1
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
refractory
sectional image
refractories
present
cross
Prior art date
Application number
KR1020130021820A
Other languages
English (en)
Inventor
정용석
Original Assignee
한국산업기술대학교산학협력단
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 한국산업기술대학교산학협력단 filed Critical 한국산업기술대학교산학협력단
Priority to KR1020130021820A priority Critical patent/KR101430098B1/ko
Application granted granted Critical
Publication of KR101430098B1 publication Critical patent/KR101430098B1/ko

Links

Images

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N23/00—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00
    • G01N23/02—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material
    • G01N23/04—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material and forming images of the material
    • G01N23/046—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material and forming images of the material using tomography, e.g. computed tomography [CT]
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N17/00—Investigating resistance of materials to the weather, to corrosion, or to light
    • G01N17/02—Electrochemical measuring systems for weathering, corrosion or corrosion-protection measurement
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N23/00—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00
    • G01N23/02—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material
    • G01N23/04—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material and forming images of the material
    • G01N23/043—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material and forming images of the material using fluoroscopic examination, with visual observation or video transmission of fluoroscopic images
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N2223/00—Investigating materials by wave or particle radiation
    • G01N2223/30—Accessories, mechanical or electrical features
    • G01N2223/303—Accessories, mechanical or electrical features calibrating, standardising
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N2223/00—Investigating materials by wave or particle radiation
    • G01N2223/60—Specific applications or type of materials
    • G01N2223/646—Specific applications or type of materials flaws, defects

Landscapes

  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Radiology & Medical Imaging (AREA)
  • Nuclear Medicine, Radiotherapy & Molecular Imaging (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • Pulmonology (AREA)
  • Biodiversity & Conservation Biology (AREA)
  • Ecology (AREA)
  • Environmental & Geological Engineering (AREA)
  • Environmental Sciences (AREA)
  • Multimedia (AREA)
  • Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)

Abstract

본 발명은 내화물 특성 평가 장치에 관한 것으로, 내화물의 특성을 평가하기 위한 장치로서, 상기 내화물의 단면 영상을 촬영하기 위한 X-선 단층촬영기; 및 상기 단면 영상을 보정하는 영상 보정수단을 포함하는 것을 특징으로 한다.
본 발명의 다른 형태에 의한 내화물 특성 평가 방법은 상기한 내화물 특성 평가 장치를 이용하여 내화물의 특성을 평가하는 방법으로서, X-선 단층촬영기로 내화물의 단면 영상을 촬영하는 단계; 상기 촬영된 단면 영상을 보정하는 단계; 및 상기 보정된 단면 영상을 분석하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 한다.
본 발명은, X-선 단층촬영기를 이용하여 내화물을 절단하지 않고 단면 영상을 촬영한 뒤에 보정함으로써, 절단 위치에 제한되지 않고 내화물의 단면을 분석하여 내화물의 특성을 평가할 수 있는 효과가 있다.
또한, X-선 단층촬영기로 촬영하고 보정한 단면 영상은 구성물질의 구분이 뚜렷하고 기공과 크랙을 명확하게 구분할 수 있어, 쉽고 빠르게 내화물의 특성을 평가할 수 있다.

Description

내화물 특성 평가 장치 및 특성 평가 방법{APPARATUS AND METHOD FOR EVALUATING CHARACTERISTICS OF REFRACTORY}
본 발명은 내화물의 특성을 평가하는 장치 및 이를 이용한 특성 평가 방법에 관한 것으로, 더욱 자세하게는 내화물 샘플을 절단하지 않고 특성을 평가하는 장치 및 방법에 관한 것이다.
일반적으로, MgO-C 내화물은 다양한 강재를 제조하는 과정에서 사용되는 중요한 물질이며, 망간철의 탈탄소를 위한 산소 취입 공정(oxygen blowing process)에도 이용된다.
MgO-C 내화물에서, MgO는 높은 용융점과 내화성을 부여하고, C는 높은 열전도도와 낮은 열팽창 및 슬래그 젖음성을 부여한다. MgO-C 내화물은 이러한 두 가기 특성이 결합되어 열충격과 부식에 대하여 뛰어난 저항성을 나타낸다.
한편, MgO-C 내화물도 망간철의 탈탄소화 과정에서 용융 망간철 슬래그와 접촉하는 부분에서 부식이 발생한다. 이러한 부식의 원인 중에 한 가지는 슬래그와 접촉한 상태에서 온도가 올라가고 압력이 내려가면서, MgO-C의 C가 MgO의 산소와 반응하는 것이다. 그러나 MgO-C 내화물의 부식에 대한 다양한 원인들이 전부 알려진 것은 아니고, 이에 대한 연구가 계속적으로 진행되고 있으며, MgO-C 내화물의 부식 거동을 확인 및 측정하는 연구가 진행되고 있다.
이러한 MgO-C 내화물의 부식 거동에 대한 연구를 위하여, 내화물의 부식 거동을 재현하는 모의 부식실험 방법 중에 하나인 FRT(finger rotation test)를 수행하여 부식 거동을 확인하고 있다.
도 7은 FRT 모의 부식실험 장비의 구성을 나타내는 모식도이다.
로(100) 속에 위치한 알루미나 재질의 도가니(200)에 망간철(300)을 용융시키고, 이 용융된 망간철(300)에 내화물 샘플(400)을 침지한다. 내화물 샘플(400)은 몰리브덴 재질의 로드(500)를 통해 로(100) 외부에 위치하는 모터(600)에 연결되어 회전한다.
이러한 FRT 장비를 통해 부식거동이 재현된 내화물 샘플을 분석하여, 내화물의 부식 거동에 대한 연구 결과를 얻을 수 있는 것이다.
그러나 FRT 장비를 이용하여 부식거동이 재현된 내화물 샘플을 분석하는 과정에서, 종래에는 내화물 샘플을 절단하여 절단면을 검사하였으나, 내화물 샘플을 절단하여 분석하는 경우에 절단과정에서 표면에 손상이 생겨 정확한 분석이 어려운 문제가 있다. 특히, MgO-C 내화물의 부식 거동은 기공이나 크랙과 같은 결함부위에서 주로 발생하기 때문에 절단면 손상은 부식 거동 연구 시에 문제가 된다.
나아가 절단면을 분석하는 과정에서도 내화물과 부식층의 정확한 구분이 어려운 단점이 있기 때문에, 내화물의 부식 특성을 평가하기 위한 새로운 방법이 요구되고 있다.
본 발명은 전술한 종래 기술의 문제점을 해결하기 위한 것으로서 내화물 샘플을 절단하거나 파괴하지 않고 내화물의 특성을 평가하는 장치와 그 평가 방법을 제공하는데 그 목적이 있다.
상기 목적을 달성하기 위한 본 발명에 의한 내화물 특성 평가 장치는, 내화물의 특성을 평가하기 위한 장치로서, 상기 내화물의 단면 영상을 촬영하기 위한 X-선 단층촬영기; 및 상기 단면 영상을 보정하는 영상 보정수단을 포함하는 것을 특징으로 한다.
본 발명자들은 종래에 내화물 샘플을 절단하여 특성을 분석하는 방법이 아니라, X-선 단층촬영기로 내화물의 단면 영상을 촬영하고 촬영된 내화물의 단면 영상을 보정하면 부식층을 명확하게 구분할 수 있고 내화물의 내부에 형성된 크랙과 기공까지 확인할 수 있는 점에서 착안하여 본 발명의 내화물 특성 평가 장치를 발명하였다. X-선 단층촬영기로 내화물의 단면 영상을 촬영하는 경우에, 절단면의 위치를 자유롭게 정할 수 있어 정확한 정보를 얻을 수 있다. 또한 종래에 절단 과정에서 손상이 생겨 측정하지 못하였던 기공이나 크랙과 같은 결함을 측정할 수 있으며, 구성물질의 구분이 명확하여 정확한 분석이 가능하다.
이러한 본 발명의 내화물 특성 평가 장치에 포함된 X-선 단층촬영기는 내화물의 종방향 단면과 횡방향 단면을 모두 촬영할 수 있는 것이 좋으며, 종방향 단면과 횡방향 단면을 조합하여 3차원의 영상을 구현할 수 있는 것이 바람직하다.
본 발명의 다른 형태에 의한 내화물 특성 평가 방법은 상기한 내화물 특성 평가 장치를 이용하여 내화물의 특성을 평가하는 방법으로서, X-선 단층촬영기로 내화물의 단면 영상을 촬영하는 단계; 상기 촬영된 단면 영상을 보정하는 단계; 및 상기 보정된 단면 영상을 분석하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 한다.
본 발명의 내화물 특성 평가 방법은 평가 대상 내화물을 절단하는 등 파괴하지 않고, X-선 단층촬영기로 단면을 촬영하고 촬영된 영상의 밝기(brightness)와 대비(contrast)를 보정한 뒤에 분석을 수행한다.
이러한 내화물 특성 평가 방법은 보정된 단면 영상에서 크랙의 크기와 분포를 분석하여 수행되거나 보정된 단면 영상에서 기공의 크기와 분포를 분석하여 수행될 수 있다.
특히, 본 발명의 내화물 특성 평가 방법은, 모의 부식실험을 거치지 않은 내화물에 대하여 평가를 수행하거나 FRT(finger rotation test)와 같은 모의 부식실험을 거친 내화물에 대하여 평가를 수행할 수 있다.
이때, 모의 부식실험을 거친 내화물에 대한 평가를 수행하는 경우에, 내화물의 표면에 형성된 부식층의 두께를 측정하는 것일 수 있으며, 부식층의 두께는 X-선 단층촬영기에서 검출된 신호의 강도를 이용하는 것이 바람직하다.
상술한 바와 같이 구성된 본 발명은, X-선 단층촬영기를 이용하여 내화물을 절단하지 않고 단면 영상을 촬영하고 보정함으로써, 절단 위치에 제한되지 않고 내화물의 단면을 분석하여 내화물의 특성을 평가할 수 있는 효과가 있다.
또한, X-선 단층촬영기로 촬영하고 보정한 단면 영상은 구성물질의 구분이 뚜렷하고 기공과 크랙을 명확하게 구분할 수 있어, 쉽고 빠르게 내화물의 특성을 평가할 수 있는 효과가 있다.
나아가 본 발명의 내화물 특성 평가 방법은 내화물 샘플을 파괴하지 않으므로, 동일한 샘플에 대하여 모의 부식실험 전과 모의 부식실험 이후 상태를 비교하여 내화물의 정확한 특성을 평가할 수 있다.
도 1은 내화물에 대한 단면 촬영 영상과 단면 영상에 대하여 보정을 수행한 결과를 나태는 사진이다.
도 2는 본 발명에 의해서 보정을 수행한 X-선 단층 촬영 영상에서 확인되는 크랙과 기공을 표시한 사진이다.
도 3은 FRT 장치에서 반응시킨 MgO-C 내화물을 평가하기 위하여 종래의 방법으로 절단한 단면을 촬영한 사진이다.
도 4는 FRT 장치에서 반응시킨 MgO-C 내화물을 평가하기 위하여 본 발명에 포함된 X-선 단층촬영기로 촬영하고 보정한 단면 영상이다.
도 5는 본 발명에 포함된 X-선 단층촬영기로 촬영한 단면 영상과 이 영상에 대한 반지름 방향의 신호 강도를 나타낸 그래프이다.
도 6은 본 발명에 포함된 X-선 단층촬영기로 측정된 부식층의 두께를 나타낸 그래프이다.
도 7은 FRT 모의 부식실험 장비의 구성을 나타내는 모식도이다.
본 발명은 내화물을 특성을 평가하기 위하여 내화물의 단면을 확인하는 방법으로서 X-선 단층 촬영기를 이용하여 내화물의 단면 영상을 촬영하는 내화물 특성 평가 장치 및 이를 이용한 평가 방법에 대한 것이다.
이에 따라서, 본 발명의 내화물 특성 평가 장치는 내화물에 대하여 종방향 단면과 횡방향 단면의 영상을 촬영할 수 있는 X-선 단층촬영기와 촬영된 단면 영상을 보정할 수 있는 영상 보정수단을 포함하여 구성된다.
그리고 본 발명의 내화물 특성 평가 장치를 이용하여, 내화물의 특성을 평가하는 방법은 X-선 단층촬영기로 내화물의 단면 영상을 촬영하는 단계와 촬영된 단면 영상을 보정하는 단계로 구성된다.
도 1은 내화물에 대한 단면 촬영 영상과 단면 영상에 대하여 보정을 수행한 결과를 나태는 사진이다.
도 1(a)는 X-선 단층촬영기로 촬영한 내화물 샘플의 단면 영상이며, 도 1(b)는 촬영된 단면 영상의 밝기(brightness)를 255에서 231로 보정하고, 대비(contrast)를 0에서 166으로 보정한 영상이다.
도시된 것과 같이, 최초 촬영된 X-선 단층촬영 영상 도 1(a)에서는 전체가 너무 밝게 나와서 내화물 샘플 내부의 구성 물질들의 구분이 명확하지 않지만, 이를 보정한 도 1(b)에서는 내화물 내부의 구성 물질들이 명확하게 구분된다. 또한, 도 1(a)에서는 내화물 샘플 내부에 형성된 크랙들이 구분되지 않지만, 도 1(b)에서는 크랙을 구분할 수 있다.
도 2는 본 발명에 의해서 보정을 수행한 X-선 단층 촬영 영상에서 확인되는 크랙과 기공을 표시한 사진이다.
도시된 것과 같이, 사진에서 주황색으로 표시된 부분은 크랙이고, 붉은색으로 표시된 부분은 기공이다. 표시된 것과 같이, 본 발명의 내화물 특성 평가 장치에 포함된 X-선 단층촬영기로 촬영된 단면 영상에 대하여 밝기와 대비의 보정을 수행하면 내화물 샘플 내부에 형성된 기공과 크랙을 명확하게 확인할 수 있으며, 이에 따른 샘플의 특성을 평가할 수 있다.
이상과 같이, 본 발명의 X-선 단층촬영기와 영상 보정수단을 포함하는 내화물 특성 평가 장치는 샘플 내에 형성된 기공이나 크랙과 같은 결함을 평가하는 용도로 사용할 수 있다.
내화물, 특히 MgO계 내화물의 경우에 다양한 첨가물을 첨가하여 내화물의 특성을 향상시키기 위한 노력이 계속되고 있으나, 제조된 내화물 샘플을 종래와 같이 절단하여 평가하는 경우에 정확한 평가가 어렵다. 기계적인 방법으로 절단하는 경우에는 절단면에 손상이 생기고, 레이저 등을 이용하는 경우에는 열에 의해서 변성이 발생하기 때문에 절단면에 위치한 크랙이나 기공을 확인 할 수 없다.
반면에 본 발명의 내화물 특성 평가 장치에 포함된 X-선 단층촬영기를 이용하여 샘플의 단면 영상을 촬영하는 경우에는, 샘플의 여러 위치에 형성된 기공이나 크랙과 같은 결함을 확인할 수 있다.
이하에서는 망간철에 함유된 탄소의 양에 따른 내화물 특성을 평가함에 있어서 본 발명을 적용한 예를 통하여 본 발명을 설명한다.
앞서 설명한 FRT 장치를 이용하여, MgO-C 내화물 샘플을 다양한 조성의 용융 망간철에 침지시켜 600rpm의 속도로 회전 시킨 상태에서, 1600℃의 온도로 150분 또는 300분간 처리하였다.
평가에 사용된 MgO-C 내화물의 조성과, 용융 망간철의 조성을 표 1과 표 2에 질량%로 나타내었다.
MgO SiO2 Fe2O3 CaO C
80.18 0.26 0.02 0.54 19
Fe Mn Si C P S
1 잔부 71 1.5 7 0.2 0.01
2 잔부 73.5 1.5 5.5 0.2 0.01
3 잔부 75 1.5 3.9 0.2 0.01
4 잔부 76.5 1.5 2.4 0.2 0.01
5 잔부 78 1.5 0.8 0.2 0.01
그리고 상기한 조성의 용융 망간철과 반응시킨 MgO-C 내화물의 외주면에 형성된 부식층의 두께를 분석하여 망간철에 함유된 탄소의 양에 따른 MgO-C 내화물의 부식 거동 특성을 평가한다.
이를 위하여, 우선 종래의 방법과 같이 MgO-C 내화물 시편을 절단하여 외주면에 형성된 부식층의 두께를 측정하였다.
도 3은 FRT 장치에서 반응시킨 MgO-C 내화물을 평가하기 위하여 종래의 방법으로 절단한 단면을 촬영한 사진이다. (a)는 C의 비율이 0.8%인 용융 망간철과 반응시킨 경우이고, (b)는 C의 비율이 2.4%인 용융 망간철과 반응시킨 경우이며, (c)는 C의 비율이 7%인 용융 망간철과 반응시킨 경우이다.
사진에 나타난 것과 같이 절단면에 균열이 보이지만, 내화물 내부에 존재하던 크랙인지 샘플을 절단하는 과정에서 발생한 균열인지 구별할 수 없다. 그리고 외주면에 형성된 부식층도 구별이 명확하지 않기 때문에, 샘플의 표면에 균일하게 형성되지 않는 부식층의 두께를 측정한 결과의 신뢰도가 높지 못하다. 나아가, 측정을 위해 샘플을 절단하는 두께에 한계가 있기 때문에 샘플의 모든 부분에 대한 부식층의 두께를 측정할 수 없다.
도 4는 FRT 장치에서 반응시킨 MgO-C 내화물을 평가하기 위하여 본 발명에 포함된 X-선 단층촬영기로 단면을 촬영한 뒤에 밝기를 231로 보정하고 대비를 166으로 보정한 영상이다. (a)는 C의 비율이 0.8%인 용융 망간철과 반응시킨 경우이고, (b)는 C의 비율이 2.4%인 용융 망간철과 반응시킨 경우이며, (c)는 C의 비율이 7%인 용융 망간철과 반응시킨 경우이다.
X-선 단층촬영기로 촬영하여 보정한 영상에서는 외주면에 형성된 부식층이 선명하게 구분되며, 절단 두께에 따른 제한도 없기 때문에 더욱 정확하게 샘플 전체에 대한 부식층의 두께를 측정할 수 있다. 또한 여러 위치의 단면 영상을 결합하여 내화물 샘플의 내부에 대한 3차원 형상까지 확인이 가능하다.
특히, 본 발명에 포함된 X-선 단층 촬영기는 단순히 눈으로 측정하는 것이 아니라 신호의 강도에 의해 부식층의 두께를 측정할 수 있다.
도 5는 본 발명에 포함된 X-선 단층촬영기로 촬영하고 보정한 단면 영상과 이 영상에 대한 반지름 방향의 신호 강도를 나타낸 그래프이다.
도 5(b)에 나타난 것과 같이, X-선 단층촬영 장비로 촬영된 단면 영상에서 밝은 색으로 나타난 부식층(B-B`)은 X-선 강도가 매우 강하게 나타나기 때문에 신호강도를 통해서 부식층의 두께를 정밀하게 측정할 수 있다.
도 6은 본 발명에 포함된 X-선 단층촬영기의 신호 강도로 측정된 부식층의 두께를 나타낸 그래프이다.
도시된 것과 같이, 용융 망간철에 침지되어 반응되는 시간이 길수록 부식층의 두께가 두꺼우며, 망간철에 포함된 탄소의 양이 많아질수록 부식층의 두께가 얇아지는 것을 확인할 수 있었다.
이상에서 설명한 것과 같이, FRT 장치에서 반응시킨 내화물 샘플에 대하여 본 발명의 내화물 특성 평가 장치에 포함된 X-선 단층촬영기를 이용하여 촬영된 단면 영상을 보정하고 분석함으로써, 종래에 내화물 샘플을 절단하여 분석하는 것에 비하여 쉽고 정확하게 내화물의 특성을 분석할 수 있는 것을 확인할 수 있다.
이상과 같이, 본 발명의 내화물 측정 장치에 포함된 X-선 단층촬영기와 영상 보정수단을 통해 얻어진 단면 영상을 분석하면 내화물의 조성에 따른 특성을 빠르고 정확하게 평가할 수 있으며, 적절한 조성의 선택 및 변경의 기준으로 이용할 수 있다.
또한, 종래의 방법에 의해서 특성을 평가하기 위하여 절단된 샘플은 FRT와 같은 모의 부식실험에 적용할 수 없기 때문에, 동일한 샘플에 대하여 모의 부식실험을 수행하기 전과 후를 비교할 수 없다. 반면에, 본 발명의 X-선 단층촬영기를 이용하여 촬영된 단면 영상을 보정하여 분석하는 경우에는, 샘플을 파괴하지 않기 때문에 동일한 샘플에 대하여 모의 부식실험 전후 상태를 정밀하게 비교할 수 있는 장점이 있다.
이상 본 발명을 바람직한 실시예를 통하여 설명하였는데, 상술한 실시예는 본 발명의 기술적 사상을 예시적으로 설명한 것에 불과하며, 본 발명의 기술적 사상을 벗어나지 않는 범위 내에서 다양한 변화가 가능함은 이 분야에서 통상의 지식을 가진 자라면 이해할 수 있을 것이다. 따라서 본 발명의 보호범위는 특정 실시예가 아니라 특허청구범위에 기재된 사항에 의해 해석되어야 하며, 그와 동등한 범위 내에 있는 모든 기술적 사상도 본 발명의 권리범위에 포함되는 것으로 해석되어야 할 것이다.
100: 로 200: 도가니
300: 용융 망간철 400: 내화물 샘플
500: 로드 600: 모터

Claims (12)

  1. 삭제
  2. 삭제
  3. 삭제
  4. 내화물의 특성을 평가하는 방법으로서,
    X-선 단층촬영기로 내화물의 단면 영상을 촬영하는 단계;
    상기 촬영된 단면 영상을 보정하는 단계; 및
    상기 보정된 단면 영상을 분석하는 단계를 포함하며,
    상기 단면 영상을 보정하는 단계에서 밝기(brightness)와 대비(contrast)를 보정하고,
    상기 분석하는 단계는 상기 보정된 단면 영상에서 크랙과 기공의 크기와 분포를 분석하는 것을 특징으로 하는 내화물 특성 평가 방법.
  5. 청구항 4에 있어서,
    상기 단면 영상을 보정하는 단계가 밝기(brightness)를 255에서 231로 보정하고 대비(contrast)를 0에서 166으로 보정하는 것을 특징으로 하는 내화물 특성 평가 방법.
  6. 청구항 4에 있어서,
    특성 평가 대상이 되는 상기 내화물이 MgO-C 내화물인 것을 특징으로 하는 내화물 특성 평가 방법.
  7. 삭제
  8. 청구항 4에 있어서,
    상기 내화물이 표면에 부식층이 형성되지 않은 내화물인 것을 특징으로 하는 내화물 특성 평가 방법.
  9. 청구항 4에 있어서,
    상기 내화물이 표면에 부식층이 형성된 내화물인 것을 특징으로 하는 내화물 특성 평가 방법.
  10. 청구항 9에 있어서,
    상기 부식층이 FRT(finger ratation test) 모의 부식실험에 의해서 형성된 것을 특징으로 하는 내화물 특성 평가 방법.
  11. 청구항 9에 있어서,
    상기 분석하는 단계가, 상기 보정된 단면 영상에서 상기 내화물의 표면에 형성된 부식층의 두께를 측정하는 과정을 더 포함하는 것을 특징으로 하는 내화물 특성 평가 방법.
  12. 청구항 11에 있어서,
    상기 부식층의 두께를 측정하는 방법이 X-선 단층촬영기에서 검출된 신호의 강도를 이용하는 것을 특징으로 하는 내화물 특성 평가 방법.
KR1020130021820A 2013-02-28 2013-02-28 내화물 특성 평가 장치 및 특성 평가 방법 KR101430098B1 (ko)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020130021820A KR101430098B1 (ko) 2013-02-28 2013-02-28 내화물 특성 평가 장치 및 특성 평가 방법

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020130021820A KR101430098B1 (ko) 2013-02-28 2013-02-28 내화물 특성 평가 장치 및 특성 평가 방법

Publications (1)

Publication Number Publication Date
KR101430098B1 true KR101430098B1 (ko) 2014-08-14

Family

ID=51750400

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1020130021820A KR101430098B1 (ko) 2013-02-28 2013-02-28 내화물 특성 평가 장치 및 특성 평가 방법

Country Status (1)

Country Link
KR (1) KR101430098B1 (ko)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN109211945A (zh) * 2018-08-22 2019-01-15 东南大学 一种基于离散元分析沥青混合料空隙结构的方法
CN109324075A (zh) * 2018-11-20 2019-02-12 山东钢铁股份有限公司 一种同步测试锰硅或锰铁合金中硅、锰、磷、铬、镍、铜、钛、铅、铁的x荧光测定方法

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20020004633A (ko) * 2000-07-06 2002-01-16 신현준 일체형 반복부식실험장치
KR20050017060A (ko) * 2003-08-12 2005-02-21 주식회사 아이큐브 이미지 일괄 편집 시스템
JP4398938B2 (ja) * 2005-12-07 2010-01-13 新日本製鐵株式会社 耐火物の評価方法
KR20120138451A (ko) * 2011-06-15 2012-12-26 한국과학기술원 Ｘ선 단층촬영 시스템 및 이를 이용한 산란 보정 방법

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20020004633A (ko) * 2000-07-06 2002-01-16 신현준 일체형 반복부식실험장치
KR20050017060A (ko) * 2003-08-12 2005-02-21 주식회사 아이큐브 이미지 일괄 편집 시스템
JP4398938B2 (ja) * 2005-12-07 2010-01-13 新日本製鐵株式会社 耐火物の評価方法
KR20120138451A (ko) * 2011-06-15 2012-12-26 한국과학기술원 Ｘ선 단층촬영 시스템 및 이를 이용한 산란 보정 방법

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN109211945A (zh) * 2018-08-22 2019-01-15 东南大学 一种基于离散元分析沥青混合料空隙结构的方法
CN109324075A (zh) * 2018-11-20 2019-02-12 山东钢铁股份有限公司 一种同步测试锰硅或锰铁合金中硅、锰、磷、铬、镍、铜、钛、铅、铁的x荧光测定方法

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR101430098B1 (ko) 내화물 특성 평가 장치 및 특성 평가 방법
CN110553884B (zh) 一种多用途无损检测自然缺陷试块及制作方法
Imashuku et al. Cathodoluminescence analysis of nonmetallic inclusions of nitrides in steel
JP2013246097A (ja) コーティング層における剥離の非破壊検査方法および非破壊検査装置
Dai et al. Fracture behavior of magnesia refractory materials under combined cyclic thermal shock and mechanical loading conditions
Krewerth et al. Investigation of the Damage Behavior of Cast Steel 42 C r M o4 During Ultrasonic Fatigue by Combination of Thermography and Fractography
JP2016079198A (ja) コークスの熱間反応後強度の推定方法
Taddei et al. Raman and fluorescence investigations on retrieved Biolox® delta femoral heads
CN103592222A (zh) 一种镁合金铸件过烧组织检测标样图的制作方法
Miyachi et al. Correlation between corrosion level and fatigue strength of high-strength galvanized steel wires used for suspension bridge cables
KR101467078B1 (ko) 고주파 열처리 소재의 개재물 평가방법
Calado et al. Porosity and delamination defect detection in ceramic materials by active infrared thermography and optical digital microscopy
TWI772056B (zh) 檢測陶瓷中含碳氣孔之方法
JP2003294708A (ja) 漏洩磁束探傷機による焼入れ焼戻し材の焼割れ疵規格不適合材の流出防止方法
JPH0123734B2 (ko)
Czuchryj et al. Evaluation of pore sizes in welded joints made in various constructional materials on the basis of penetrant testing by colour method
Pulz et al. Thermal shock study on different advanced ceramics by laser irradiation in different media
Despot et al. Radioscopic measurement on fuel filter support: inspection for health of material
JP2004271367A (ja) キャニスタ検査方法
JP6326660B2 (ja) 焼結体の非破壊検査方法
JP2021196167A (ja) 断熱ボードの検査方法
CN117110346A (zh) 一种对激光选区熔化板材微观组织的分析方法
JP7091239B2 (ja) 較正体を製造するための方法
SU1046672A1 (ru) Способ изготовлени образцов с дефектами
Röhrig et al. Thermography and complementary measurements as tools to detect micro-irregularities in electronic components

Legal Events

Date Code Title Description
E701 Decision to grant or registration of patent right
GRNT Written decision to grant
FPAY Annual fee payment

Payment date: 20170901

Year of fee payment: 4

FPAY Annual fee payment

Payment date: 20180725

Year of fee payment: 5

FPAY Annual fee payment

Payment date: 20190805

Year of fee payment: 6