KR101410683B1 - Apparatus for measuring diameter - Google Patents

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KR101410683B1 KR1020120151689A KR20120151689A KR101410683B1 KR 101410683 B1 KR101410683 B1 KR 101410683B1 KR 1020120151689 A KR1020120151689 A KR 1020120151689A KR 20120151689 A KR20120151689 A KR 20120151689A KR 101410683 B1 KR101410683 B1 KR 101410683B1
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최지용
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    • G01L1/2206Special supports with preselected places to mount the resistance strain gauges; Mounting of supports

Abstract

The present invention relates to a diameter measurement device to measure the diameter of a cylindrical body (C). The diameter measurement device comprises: a strain gauge (10) to display a physical bending reflection value as an electric resistance value while bending along the circumference between the two points forming a circular arc of the cylindrical body (C); a main control unit (MCU) (20) to convert the resistance value of the strain gauge (10) to a diameter value; and a display part to display the diameter value of the MCU (20).

Description

지름 측정 장치{APPARATUS FOR MEASURING DIAMETER}{APPARATUS FOR MEASURING DIAMETER}

본 발명은 지름 측정 장치에 관한 것으로, 더욱 상세하게는 스트레인게이지의 전기적인 저항값 대비 원형체의 지름에 대한 반비례 관계를 이용하여 원형체의 지름 측정을 가능케 할 수 있는 지름 측정 장치에 관한 것이다.
The present invention relates to a diameter measuring apparatus, and more particularly, to a diameter measuring apparatus capable of measuring a diameter of a mold using an inverse relation of a diameter of a mold to an electrical resistance of a strain gauge.

일반적으로 지름은 원이나 구 따위에서 중심을 지나는 직선의 길이를 나타내는 것으로 일반가정은 물론이거니와 각종 산업현장에서 측정되고 있다.In general, the diameter indicates the length of a straight line passing through the center from a circle or a sphere, and is measured in various industrial fields as well as a general household.

이러한 지름을 측정하기 위한 대상물로 본 출원인은 원형체라 특정하고, 이 원형체의 지름에 대한 측정 장치를 본 발명으로 제안하고자 한다.
As an object for measuring the diameter, the present applicant specifies a circular shape, and a measuring device for the diameter of the circular shape is proposed in the present invention.

선행기술문헌 1(20-1997-0039859; 실린더 지름 측정용 인디게이터 보조 지그)Prior Art Document 1 (20-1997-0039859; indicator jig for cylinder diameter measurement) 도 1은 선행기술문헌 1에 따른 실린더 지름 측정용 인디게이터가 보조 지그에 설치된 상태의 사시도이다.Fig. 1 is a perspective view of a cylinder diameter measuring indicator according to the prior art document 1 mounted on an auxiliary jig. 선행기술문헌 1에 따른 실린더 지름 측정용 인디게이터 보조 지그는 도 1에 도시된 바와 같이 소정의 길이를 가지고 전면에 가이드레일(111)이 형성되어 있으며 지지대(112)가 수직 방향으로 형성되어 있는 받침대(110)와, 받침대(110)의 지지대(112) 측면 방향에 힌지축(121)으로 설치되어 있고 외측면에 거리표시눈금(122)이 형성되어 있으며 힌지축(121)에 거리표시눈금(122)을 지시하는 지시핀(123)이 설치되어 있는 피니언(120)과, 하단에 실린더 인디게이터(200)를 고정할 수 있도록 된 고정홀더(131)를 가지고 피니언(120)에 치합되어지는 랙(132)이 형성되어 있으며 받침대(110)에 형성된 가이드레일(111)에서 안내되어지는 수직바(130)As shown in FIG. 1, the indexer auxiliary jig for measuring the cylinder diameter according to the prior art document 1 has a guide rail 111 having a predetermined length and a support base 112 formed in a vertical direction And a distance indicating scale 122 is formed on the outer side of the hinge shaft 121 and a distance indicating scale 122 is formed on the hinge shaft 121. The distance indicator scale 122 is provided on the outer side of the hinge shaft 121, And a fixed holder 131 for fixing the cylinder indicator 200 to the lower end of the rack 132. The rack 132 is engaged with the pinion 120. The pinion 120 is coupled to the pinion 120, A vertical bar 130 guided by a guide rail 111 formed on a pedestal 110, 로 구성된다.. 그런데, 선행기술문헌 1에 소개된 실린더 지름 측정용 인디게이터가 보조 지그는 실린더의 지름을 측정할 수 있으나 받침대(110), 피니언(120) 및 수직바(130)와 같은 복잡한 구성이 필요로 하여 제품 생산성 및 사용 편리성이 크게 떨어지는 한계가 있다.However, the auxiliary jig can measure the diameter of the cylinder, but the complicated structure such as the pedestal 110, the pinion 120, and the vertical bar 130 is required, There is a limit in productivity and ease of use. 선행기술문헌 2(20-1996-033565; 지름측정용 줄자)Prior art document 2 (20-1996-033565; tape measure for diameter measurement) 도 2a는 선행기술문헌 2에 따른 지름측정용 줄자를 나타내는 구성도이고, 도 2b는 선행기술문헌 2에 따른 지름측정용 줄자의 사용상태도이다.FIG. 2A is a configuration diagram showing a tape measure for measuring a diameter according to the prior art document 2, and FIG. 2B is a use state diagram of a tape measure for diameter measurement according to the prior art document 2. FIG. 선행기술문헌 2에 따른 지름측정용 줄자는 도 2a 및 도 2b에 도시된 바와 같이 케이싱(113)의 내부에 탄성력을 유지하는 철판(110)이 코일스프링을 통하여 장착되고, 철판(110)의 일측면에는 측정눈금이 새겨져 있는 줄자에 있어서, 철판(110)은 길이방향 중심선(15)을 기준으로 일측으로 치우쳐 형성된 제1직선부(10)와, 상기 제1직선부(10)에 연이어 배치되되 길이방향 중심선(15)을 기준으로 반대측으로 치우쳐 형성된 제2직선부(20)로 형성되고, 제1직선부(10)에는 철판(110)의 선단으로부터 일정거리 이격된 지점으로부터 기준점(P1)이 시작하는 아들자(30) 눈금이 새겨지며, 제2직선부(20)에는 철판(110)의 선단으로부터 일정거리 이격된 지점에서 기준점(P2)이 시작하는 어미자(40) 눈금이 새겨지는 한편, 어미자(40) 눈금은 π에 해당하는 길이로서 1단위씩 새겨지고, 아들자(30)의 눈금은 (n-1)(어미자 눈금길이)/n으로 새겨지며, 어미자(40)의 기준점(P2)은 아들자(30)의 기준점(P1)으로 부터 K*π만큼 이격되어 형성되고, 여기서 n 아들자(30)의 등분을 나타내는 정수이고, K는 50 내지 1500사이의 정수인 것으로 제시되어 있다.As shown in FIG. 2A and FIG. 2B, a tape measure for measuring diameter according to the prior art document 2 includes an iron plate 110, which holds an elastic force inside a casing 113, through a coil spring, The steel plate 110 has a first linear portion 10 formed to be offset in one side with respect to a longitudinal center line 15 and a second linear portion 10 arranged in a row with the first linear portion 10 The first linear portion 10 is formed with a reference point P1 at a position spaced apart from the front end of the steel plate 110 by a predetermined distance. The first straight portion 10 is formed with a second straight line portion 20, And a scales of the emblem 40 whose reference point P2 starts at a point spaced a certain distance from the tip of the iron plate 110 are engraved on the second straight line portion 20, The scale of the mother-child (40) corresponds to π and is inscribed in units of 1, The reference point P2 of the child member 40 is spaced apart by K *? From the reference point P1 of the child 30 and the reference point P2 of the child member 40 is spaced apart from the reference point P1 of the child 30 by (n-1) Where k is an integer between 50 and 1500, where k is an integer representing the equality of the n-thesaurus 30, 그런데, 선행기술문헌 2에 따른 지름측정용 줄자는 측정하고자 하는 대상물의 원둘레의 전체 길이만큼 철판(110)의 길이가 마련되어야만 지름을 계산해 낼 수 있도록 되어 있어 대상물의 직경이 지나치게 클 경우 철판(110)의 길이 한계 때문에 직경을 파악할 수 없거나 무한의 길이를 지닌 철판(110)을 준비하여야만 하는 문제점을 안고 있다.However, in the tape measure for measuring diameter according to the prior art document 2, the diameter can be calculated only if the length of the steel plate 110 is equal to the entire length of the circumference of the object to be measured. If the diameter of the object is excessively large, It is necessary to prepare an iron plate 110 having a diameter that can not be grasped due to its length limit or having an infinite length. 선행기술문헌 3(20-2001-0017596; 지름측정용 줄자)Prior Art Document 3 (20-2001-0017596; Tape measure for diameter measurement) 도 3은 선행기술문헌 3에 따른 지름측정용 줄자를 나타내는 사시도이다.3 is a perspective view showing a tape measure for diameter measurement according to the prior art document 3. FIG. 선행기술문헌 3에 따른 지름측정용 줄자는 도 3에 도시된 바와 같이 스프링이 삽입된 케이싱 내측에 감겨져 보관되며, 표면에 센치미터 눈금(21) 및 인치미터 눈금(22)이 표시된 줄자(11)에 있어서, 상방의 센치미터 눈금(21) 및 하방의 인치미터 눈금(22)사이에 길이를 원주율(π)로 나눈 지름표시 눈금(22)을 갖도록 한 것을 제안하고 있다.The tape measure for the diameter measurement according to the prior art document 3 is wound and stored inside the casing in which the spring is inserted as shown in Fig. 3, and the tape measure 11 having the centimeter scale 21 and the inch meter scale 22 displayed on its surface, It is proposed to have a diameter display scale 22 in which the length is divided by the circumference ratio? Between the upper centimeter scale 21 and the lower inch scale scale 22 in Fig. 그런데, 선행기술문헌 3에 따른 지름측정용 줄자 역시 측정코자 하는 대상물의 측정하고자 하는 대상물의 원둘레의 전체 길이만큼 줄자(11)의 길이가 마련되어야만 지름을 계산해 낼 수 있도록 되어 있어 대상물의 직경이 지나치게 클 경우 줄자(11)의 길이 한계 때문에 직경을 파악할 수 없거나 무한의 길이를 지닌 줄자(11)를 준비하여야만 하는 문제점을 안고 있다.However, since the diameter of the object to be measured can be calculated only by the length of the tape measure 11 by the entire length of the circumference of the object to be measured, the diameter of the object to be measured is too large It is necessary to prepare a tape measure 11 which can not grasp the diameter because of the length limit of the tape measure 11 or has an infinite length.

본 발명은 스트레인게이지의 전기적인 저항값 대비 원형체의 지름에 대한 반비례 관계를 이용하여 보다 효율적이면서도 간단하게 원형체의 지름 측정을 가능케 할 수 있는 지름 측정 장치를 제공함에 있다.
The present invention provides a diameter measuring apparatus capable of more efficiently and simply measuring a diameter of a mold using an inverse relation of a diameter of a mold to an electrical resistance of a strain gauge.

상기 목적을 달성하기 위한 본 발명은,According to an aspect of the present invention,

원형체의 지름을 측정하기 위한 지름 측정 장치에 있어서,A diameter measuring device for measuring a diameter of a mold,

상기 원형체의 원호를 이루는 두 지점간 둘레를 따라 맞대어 휘어지면서 물리적인 휨 변형값을 전기적인 저항값으로 표출하는 스트레인게이지와,A strain gauge that warps along the circumference between two points constituting the circular arc of the circular body and exposes the physical bending deformation value as an electrical resistance value;

상기 스트레인게이지의 저항값을 연산 처리하여 지름값으로 변환시키는 MCU와,An MCU for calculating a resistance value of the strain gauge and converting it into a diameter value,

상기 MCU의 지름값을 디스플레이시키는 표시부를 포함하는 것을 그 기술적 구성상의 기본 특징으로 한다.
And a display unit for displaying a diameter value of the MCU.

본 발명은 스트레인게이지로서 원형체의 지름을 간단 용이하게 측정할 수 있는 효과가 있다.The present invention has the effect of easily and easily measuring the diameter of the mold as a strain gauge.

본 발명은 스트레인게이지의 전기적인 저항값 대비 원형체의 지름에 대한 반비례 관계를 MCU에서 연산 처리토록 하여 보다 효율적이면서도 간단하게 원형체의 지름 측정을 가능케 할 수 있는 효과가 있다.The present invention has the effect of allowing the MCU to perform an arithmetic operation in an inverse proportion to the diameter of the prototype relative to the electrical resistance value of the strain gauge, thereby making it possible to more efficiently and simply measure the diameter of the prototype.

본 발명은 스트레인게이지를 휨 가능한 실리콘수지 속에 내장시켜 손으로 파지할 때의 전기적인 저항값의 변화를 최소화하면서도 실리콘수지 자체의 유연함의 보장으로 보다 손쉽게 원형체의 지름 측정을 가능토록 할 수 있는 효과가 있다.The present invention can embed a strain gauge in a flexible silicone resin to minimize the change in electrical resistance value when gripping by hand, but also to enable the diameter measurement of a prototype to be easily performed due to the flexibility of the silicone resin itself have.

본 발명은 사용자가 스티프너를 파지하면서 스트레인게이지로 하여금 원형체의 원호를 이루는 두 지점간 둘레를 따라 스트레인게이지를 보다 원활하게 맞댈 수 있도록 하면서도 FPCB에 의한 유연성은 그대로 보장토록 할 수 있는 효과가 있다.
The present invention has an effect that the strain gauge allows the strain gauge to be more smoothly aligned along the circumference of two points forming the circular arc of the prototype while the user grasps the stiffener while ensuring the flexibility by the FPCB as it is.

도 1은 선행기술문헌 1에 따른 실린더 지름 측정용 인디게이터가 보조 지그에 설치된 상태의 사시도.
도 2a는 선행기술문헌 2에 따른 지름측정용 줄자를 나타내는 구성도.
도 2b는 선행기술문헌 2에 따른 지름측정용 줄자의 사용상태도.
도 3은 선행기술문헌 3에 따른 지름측정용 줄자를 나타내는 사시도.
도 4a는 본 발명에 따른 지름 측정 장치를 나타내는 사시도.
도 4b는 본 발명에 따른 지름 측정 장치의 사용 상태를 나타내는 사시도.
도 4c는 본 발명에 따른 지름 측정 장치를 나타내는 분해 사시도.
1 is a perspective view of a state in which an indicator for measuring a cylinder diameter according to the prior art document 1 is installed on an auxiliary jig.
FIG. 2A is a view showing a tape measure for measuring diameter according to the prior art document 2. FIG.
FIG. 2B is a view showing the state of use of a tape measure for diameter measurement according to the prior art document 2. FIG.
3 is a perspective view showing a tape measure for diameter measurement according to the prior art document 3. Fig.
4A is a perspective view showing a diameter measuring apparatus according to the present invention.
FIG. 4B is a perspective view showing a use state of the diameter measuring apparatus according to the present invention. FIG.
4C is an exploded perspective view showing a diameter measuring apparatus according to the present invention.

본 발명에 따른 지름 측정 장치의 바람직한 실시예를 도면을 참조하면서 설명하기로 하고, 그 실시예로는 다수 개가 존재할 수 있으며, 이러한 실시예를 통하여 본 발명의 목적, 특징 및 이점들을 더욱 잘 이해할 수 있게 된다.A preferred embodiment of a diameter measuring apparatus according to the present invention will be described with reference to the drawings. There may be a plurality of embodiments thereof, and the objects, features and advantages of the present invention can be better understood through these embodiments .

도 4a는 본 발명에 따른 지름 측정 장치를 나타내는 사시도이고, 도 4b는 본 발명에 따른 지름 측정 장치의 사용 상태를 나타내는 사시도이며, 도 4c는 본 발명에 따른 지름 측정 장치를 나타내는 분해 사시도이다.FIG. 4A is a perspective view showing a diameter measuring apparatus according to the present invention, FIG. 4B is a perspective view showing a use state of the diameter measuring apparatus according to the present invention, and FIG. 4C is an exploded perspective view showing a diameter measuring apparatus according to the present invention.

본 발명에 따른 지름 측정 장치는 도 4a 내지 도 4c에 도시된 바와 같이 원형체(Circular Body; C)의 지름을 측정하기 위한 것으로, 원형체(C)의 원호를 이루는 두 지점간 둘레를 따라 맞대어 휘어지면서 물리적인 휨 변형값을 전기적인 저항값으로 표출하는 스트레인게이지(Strain Gauge; 10)와, 이 스트레인게이지(10)의 저항값을 연산 처리하여 지름값으로 변환시키는 MCU(Main Control Uit; 20)와, MCU(20)의 지름값을 디스플레이시키는 표시부(30)를 포함한다.The diameter measuring apparatus according to the present invention is for measuring the diameter of a circular body (C) as shown in FIGS. 4A to 4C. The diameter measuring apparatus according to the present invention is formed by bending along two circumferential A strain gauge 10 for expressing the physical deflection deformation value as an electrical resistance value, an MCU (Main Control Unit) 20 for converting the resistance value of the strain gauge 10 into a diameter value, , And a display unit (30) for displaying the diameter value of the MCU (20).

스트레인게이지(10)는 폴리이미드 등의 합성수지로 된 플렉시블한 베이스필름에 메탈 패터닝(메탈 스퍼터링->포토레지스트 도포->노광->에칭 공정 등과 같은 패터닝)되어 물리적인 휨 변형값을 전기적인 저항값으로 표출하는 것이다.The strain gage 10 is patterned by metal patterning (metal sputtering-> photoresist application-> exposure-> etching process) on a flexible base film made of synthetic resin such as polyimide to change the physical deflection deformation value to an electrical resistance value .

예를 들어, 휨 변형값이 크면 클수록 전기적인 저항값은 커지게 되고, 휨 변형값이 작으면 작을수록 전기적인 저항값은 작아지게 된다.For example, the larger the bending deformation value, the larger the electrical resistance value, and the smaller the bending deformation value, the smaller the electrical resistance value.

이러한 원리를 이용하여, 지름이 큰 원형체(C)일 경우 원형체(C)의 원호를 이루는 두 지점간 둘레를 따라 맞댈 경우 스트레인게이지(10)의 물리적인 휨 변형값은 작아지게 되면서 전기적인 저항값 역시 작아지게 되는데, 이때 원형체(C)의 지름은 반비례하여 커지는 관계를 MCU(20)에서 인식토록 하면서 스트레인게이지(10)의 전기적인 저항값 대비 원형체(C)의 지름에 대한 반비례 관계를 연산 처리토록 함으로써 보다 효율적이면서도 간단하게 직경이 큰 원형체(C)의 지름 측정을 가능케 할 수 있도록 하는 것이다.Using this principle, when a large-diameter circular body (C) is paired along the circumference between two points constituting the arc of the circular body (C), the physical strain of the strain gauge (10) The inverse relationship to the diameter of the prototype C with respect to the electrical resistance value of the strain gauge 10 is calculated by causing the MCU 20 to recognize the relation that the diameter of the prototype C is inversely increased at this time, Thereby making it possible to more effectively and easily measure the diameter of the prototype C having a large diameter.

더욱 구체적으로, 원형체(C)의 원호를 이루는 두 지점간 둘레를 따라 맞대어 휘어지면서 물리적인 휨 변형값을 전기적인 저항값으로 표출하는 스트레인게이지(10)의 저항값을 MCU(20)에서 연산 처리하여 지름값으로 변환시켜 표시부(30)에 디스플레이시키도록 함으로써 지름이 큰 원형체(C) 전체를 측정하여 지름을 계산하는 선행기술문헌들의 한계(긴 줄자의 필요성)를 원형체(C)의 원호를 이루는 두 지점간의 둘레만의 측정만으로, 즉 휨 변형값만으로 지름을 계산할 수 있도록 함으로써 보다 효율적이면서도 간단하게 지름 측정을 가능케 할 수 있도록 하는 것이다.More specifically, the resistance value of the strain gauge 10, which expresses the physical bending deformation value as an electrical resistance value while bending along the circumference between the two points constituting the arc of the prototype C, is calculated by the MCU 20 (The necessity of a long tape measure) for calculating the diameters of the entire prototype C having a large diameter by converting the diameter of the prototype C into a diameter value and displaying the diameter on the display unit 30, The diameter can be calculated only by the measurement of only the circumference between the two points, that is, by the deflection deformation value, thereby making it possible to more efficiently and simply measure the diameter.

역으로, 지름이 작은 원형체(C)일 경우 원형체(C)의 원호를 이루는 두 지점간 둘레를 따라 맞댈 경우 스트레인게이지(10)의 물리적인 휨 변형값은 커지게 되면서 전기적인 저항값 역시 커지게 되는데, 이때 원형체(C)의 지름은 반비례하여 작아지는 관계를 MCU(20)에서 인식토록 하여, 스트레인게이지(10)의 전기적인 저항값 대비 원형체(C)의 지름에 대한 반비례 관계를 연산 처리토록 함으로써 보다 효율적이면서도 간단하게 직경이 작은 원형체(C)의 지름 측정을 가능케 할 수 있도록 하는 것이다.Conversely, in the case of a small-diameter circular body (C), the physical deflection deformation of the strain gauge (10) increases and the electrical resistance value also increases when the circular body (C) At this time, the MCU 20 recognizes the relation that the diameter of the prototype C becomes inversely proportional to the inverse proportion to the diameter of the prototype C with respect to the electrical resistance value of the strain gauge 10, So that it is possible to more efficiently and easily measure the diameter of the small-diameter-shaped prototype C.

더욱 구체적으로, 원형체(C)의 원호를 이루는 두 지점간 둘레를 따라 맞대어 휘어지면서 물리적인 휨 변형값을 전기적인 저항값으로 표출하는 스트레인게이지(10)의 저항값을 MCU(20)에서 연산 처리하여 지름값으로 변환시켜 표시부(30)에 디스플레이시키도록 함으로써 직경이 작은 원형체(C)에 대한 지름을 보다 효율적이면서도 간단하게 측정할 수 있도록 하는 것이다.More specifically, the resistance value of the strain gauge 10, which expresses the physical bending deformation value as an electrical resistance value while bending along the circumference between the two points constituting the arc of the prototype C, is calculated by the MCU 20 So as to be displayed on the display unit 30, thereby making it possible to more efficiently and simply measure the diameter of the prototype C having a small diameter.

바람직하게, 스트레인게이지(10)는 휨 가능한 실리콘수지(40) 속에 내장되도록 하여 손으로 파지할 때의 전기적인 저항값의 변화를 최소화하면서도 실리콘수지(40) 자체의 유연함의 보장으로 보다 손쉽게 원형체(C)의 지름 측정을 가능토록 할 수 있음은 물론이다.Preferably, the strain gauge 10 is embedded in the bendable silicone resin 40 so as to minimize the change in the electrical resistance value when gripping by hand, while ensuring the flexibility of the silicone resin 40 itself. C) can be made possible.

이때, 스트레인게이지(10)는 FPCB(50)에 의해 MCU(20)에 연결되고, 스트레인게이지(10), FPCB(50) 및 MCU(20)는 휨 가능한 실리콘수지(40) 속에 내장되고, MCU(20)를 내장한 실리콘수지(40) 위로 표시부(30)가 장착되도록 할 수 있다.At this time, the strain gage 10 is connected to the MCU 20 by the FPCB 50, and the strain gauge 10, the FPCB 50 and the MCU 20 are embedded in the flexible silicone resin 40, The display portion 30 can be mounted on the silicone resin 40 having the built-in display 20 therein.

스트레인게이지(10)와 MCU(20)의 연결을 FPCB(Flexible Printed Circuit Board; 50)로 함으로써 전체적인 휨 성질을 보장할 수 있도록 하는 것이다.So that the strain gauge 10 and the MCU 20 are connected to each other by an FPCB (Flexible Printed Circuit Board) 50 to ensure the overall bending property.

더욱 구체적으로, 스트레인게이지(10)는 FPCB(50)에 의해 MCU(20)에 연결되고, 스트레인게이지(10), FPCB(50) 및 MCU(20)는 휨 가능한 실리콘수지(40) 속에 내장되고, MCU(20)를 내장한 실리콘 수지의 외곽으로 스트프너(Stiffener; 60)가 장착되고, 스트프너(60) 위로 표시부(30)가 장착되도록 할 수 있다.More specifically, the strain gage 10 is connected to the MCU 20 by the FPCB 50, and the strain gage 10, the FPCB 50 and the MCU 20 are embedded in the flexible silicone resin 40 A stiffener 60 is mounted on the outer periphery of the silicone resin having the MCU 20 therein and the display unit 30 is mounted on the strapper 60.

사용자가 스트프너(60)를 파지하면서 스트레인게이지(10)로 하여금 원형체(C)의 원호를 이루는 두 지점간 둘레를 따라 스트레인게이지(10)를 보다 원활하게 맞댈 수 있도록 하면서도 FPCB(50)에 의한 유연성은 그대로 보장토록 할 수 있게 되어 더욱 간단 편리하게 사용할 수 있도록 할 수 있다.
The user can grasp the strainer 60 while allowing the strain gauge 10 to more smoothly fit the strain gage 10 along the circumference of the two points forming the arc of the prototype C, The flexibility can be guaranteed as it is, so that it can be more simply and conveniently used.

본 발명은 원이나 구 따위에서 중심을 지나는 직선의 길이, 즉 지름을 측정하고자 하는 산업분야에 이용될 수 있다.
The present invention can be used in an industrial field to measure the length, i.e., the diameter, of a straight line passing through the center from a circle or a sphere.

C : 원형체 10 : 스트레인게이지
20 : MCU 30 : 표시부
40 : 실리콘수지 50 : FPCB
60 : 스티프너
C: prototype 10: strain gauge
20: MCU 30: Display
40: Silicone resin 50: FPCB
60: Stiffener

Claims (4)

삭제delete 원형체(C)의 지름을 측정하기 위한 지름 측정 장치에 있어서,
상기 원형체(C)의 원호를 이루는 두 지점간 둘레를 따라 맞대어 휘어지면서 물리적인 휨 변형값을 전기적인 저항값으로 표출하는 스트레인게이지(10)와, 상기 스트레인게이지(10)의 저항값을 연산 처리하여 지름값으로 변환시키는 MCU(20)와, 상기 MCU(20)의 지름값을 디스플레이시키는 표시부(30)를 포함하고,
상기 스트레인게이지(10)는 휨 가능한 실리콘수지(40) 속에 내장되는 것을 특징으로 하는 지름 측정 장치.
A diameter measuring device for measuring a diameter of a prototype (C)
A strain gauge 10 for expressing a physical flexural strain value as an electrical resistance value while being biased along a circumference between two points constituting an arc of the prototype C; And a display unit (30) for displaying a diameter value of the MCU (20), wherein the diameter of the MCU (20)
Wherein the strain gauge (10) is embedded in a bendable silicone resin (40).
원형체(C)의 지름을 측정하기 위한 지름 측정 장치에 있어서,
상기 원형체(C)의 원호를 이루는 두 지점간 둘레를 따라 맞대어 휘어지면서 물리적인 휨 변형값을 전기적인 저항값으로 표출하는 스트레인게이지(10)와, 상기 스트레인게이지(10)의 저항값을 연산 처리하여 지름값으로 변환시키는 MCU(20)와, 상기 MCU(20)의 지름값을 디스플레이시키는 표시부(30)를 포함하고,
상기 스트레인게이지(10)는 FPCB(50)에 의해 상기 MCU(20)에 연결되고,
상기 스트레인게이지(10), FPCB(50) 및 MCU(20)는 휨 가능한 실리콘수지(40) 속에 내장되고,
상기 MCU(20)를 내장한 실리콘수지(40) 위로 상기 표시부(30)가 장착되는 것을 특징으로 하는 지름 측정 장치.
A diameter measuring device for measuring a diameter of a prototype (C)
A strain gauge 10 for expressing a physical flexural strain value as an electrical resistance value while being biased along a circumference between two points constituting an arc of the prototype C; And a display unit (30) for displaying a diameter value of the MCU (20), wherein the diameter of the MCU (20)
The strain gage 10 is connected to the MCU 20 by an FPCB 50,
The strain gage 10, the FPCB 50 and the MCU 20 are embedded in the flexible silicone resin 40,
And the display unit (30) is mounted on the silicone resin (40) containing the MCU (20).
원형체(C)의 지름을 측정하기 위한 지름 측정 장치에 있어서,
상기 원형체(C)의 원호를 이루는 두 지점간 둘레를 따라 맞대어 휘어지면서 물리적인 휨 변형값을 전기적인 저항값으로 표출하는 스트레인게이지(10)와, 상기 스트레인게이지(10)의 저항값을 연산 처리하여 지름값으로 변환시키는 MCU(20)와, 상기 MCU(20)의 지름값을 디스플레이시키는 표시부(30)를 포함하고,
상기 스트레인게이지(10)는 FPCB(50)에 의해 상기 MCU(20)에 연결되고,
상기 스트레인게이지(10), FPCB(50) 및 MCU(20)는 휨 가능한 실리콘수지(40) 속에 내장되고,
상기 MCU(20)를 내장한 실리콘 수지의 외곽으로 스트프너(60)가 장착되고,
상기 스트프너(60) 위로 상기 표시부(30)가 장착되는 것을 특징으로 하는 지름 측정 장치.
A diameter measuring device for measuring a diameter of a prototype (C)
A strain gauge 10 for expressing a physical flexural strain value as an electrical resistance value while being biased along a circumference between two points constituting an arc of the prototype C; And a display unit (30) for displaying a diameter value of the MCU (20), wherein the diameter of the MCU (20)
The strain gage 10 is connected to the MCU 20 by an FPCB 50,
The strain gage 10, the FPCB 50 and the MCU 20 are embedded in the flexible silicone resin 40,
A strapper 60 is mounted on the outer periphery of the silicone resin housing the MCU 20,
And the display unit (30) is mounted on the strapper (60).
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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN110631466A (en) * 2019-09-17 2019-12-31 浙江工业职业技术学院 Method and device for measuring diameter by using cantilever beam sensor and coding screw rod

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5442270B2 (en) * 1974-04-10 1979-12-13
JPS6410123B2 (en) * 1981-04-17 1989-02-21 Sony Corp
KR20060102158A (en) * 2005-03-23 2006-09-27 위영민 Apparatus and method of measuring a changing quantity and a stress in the structure of the bridge and building, etc
JP2009527750A (en) 2006-02-24 2009-07-30 コミシリア ア レネルジ アトミック Pressure sensor with resistance strain gauge

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5442270B2 (en) * 1974-04-10 1979-12-13
JPS6410123B2 (en) * 1981-04-17 1989-02-21 Sony Corp
KR20060102158A (en) * 2005-03-23 2006-09-27 위영민 Apparatus and method of measuring a changing quantity and a stress in the structure of the bridge and building, etc
JP2009527750A (en) 2006-02-24 2009-07-30 コミシリア ア レネルジ アトミック Pressure sensor with resistance strain gauge

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN110631466A (en) * 2019-09-17 2019-12-31 浙江工业职业技术学院 Method and device for measuring diameter by using cantilever beam sensor and coding screw rod

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