KR101410683B1 - Apparatus for measuring diameter - Google Patents
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Abstract
Description
본 발명은 지름 측정 장치에 관한 것으로, 더욱 상세하게는 스트레인게이지의 전기적인 저항값 대비 원형체의 지름에 대한 반비례 관계를 이용하여 원형체의 지름 측정을 가능케 할 수 있는 지름 측정 장치에 관한 것이다.
The present invention relates to a diameter measuring apparatus, and more particularly, to a diameter measuring apparatus capable of measuring a diameter of a mold using an inverse relation of a diameter of a mold to an electrical resistance of a strain gauge.
일반적으로 지름은 원이나 구 따위에서 중심을 지나는 직선의 길이를 나타내는 것으로 일반가정은 물론이거니와 각종 산업현장에서 측정되고 있다.In general, the diameter indicates the length of a straight line passing through the center from a circle or a sphere, and is measured in various industrial fields as well as a general household.
이러한 지름을 측정하기 위한 대상물로 본 출원인은 원형체라 특정하고, 이 원형체의 지름에 대한 측정 장치를 본 발명으로 제안하고자 한다.
As an object for measuring the diameter, the present applicant specifies a circular shape, and a measuring device for the diameter of the circular shape is proposed in the present invention.
본 발명은 스트레인게이지의 전기적인 저항값 대비 원형체의 지름에 대한 반비례 관계를 이용하여 보다 효율적이면서도 간단하게 원형체의 지름 측정을 가능케 할 수 있는 지름 측정 장치를 제공함에 있다.
The present invention provides a diameter measuring apparatus capable of more efficiently and simply measuring a diameter of a mold using an inverse relation of a diameter of a mold to an electrical resistance of a strain gauge.
상기 목적을 달성하기 위한 본 발명은,According to an aspect of the present invention,
원형체의 지름을 측정하기 위한 지름 측정 장치에 있어서,A diameter measuring device for measuring a diameter of a mold,
상기 원형체의 원호를 이루는 두 지점간 둘레를 따라 맞대어 휘어지면서 물리적인 휨 변형값을 전기적인 저항값으로 표출하는 스트레인게이지와,A strain gauge that warps along the circumference between two points constituting the circular arc of the circular body and exposes the physical bending deformation value as an electrical resistance value;
상기 스트레인게이지의 저항값을 연산 처리하여 지름값으로 변환시키는 MCU와,An MCU for calculating a resistance value of the strain gauge and converting it into a diameter value,
상기 MCU의 지름값을 디스플레이시키는 표시부를 포함하는 것을 그 기술적 구성상의 기본 특징으로 한다.
And a display unit for displaying a diameter value of the MCU.
본 발명은 스트레인게이지로서 원형체의 지름을 간단 용이하게 측정할 수 있는 효과가 있다.The present invention has the effect of easily and easily measuring the diameter of the mold as a strain gauge.
본 발명은 스트레인게이지의 전기적인 저항값 대비 원형체의 지름에 대한 반비례 관계를 MCU에서 연산 처리토록 하여 보다 효율적이면서도 간단하게 원형체의 지름 측정을 가능케 할 수 있는 효과가 있다.The present invention has the effect of allowing the MCU to perform an arithmetic operation in an inverse proportion to the diameter of the prototype relative to the electrical resistance value of the strain gauge, thereby making it possible to more efficiently and simply measure the diameter of the prototype.
본 발명은 스트레인게이지를 휨 가능한 실리콘수지 속에 내장시켜 손으로 파지할 때의 전기적인 저항값의 변화를 최소화하면서도 실리콘수지 자체의 유연함의 보장으로 보다 손쉽게 원형체의 지름 측정을 가능토록 할 수 있는 효과가 있다.The present invention can embed a strain gauge in a flexible silicone resin to minimize the change in electrical resistance value when gripping by hand, but also to enable the diameter measurement of a prototype to be easily performed due to the flexibility of the silicone resin itself have.
본 발명은 사용자가 스티프너를 파지하면서 스트레인게이지로 하여금 원형체의 원호를 이루는 두 지점간 둘레를 따라 스트레인게이지를 보다 원활하게 맞댈 수 있도록 하면서도 FPCB에 의한 유연성은 그대로 보장토록 할 수 있는 효과가 있다.
The present invention has an effect that the strain gauge allows the strain gauge to be more smoothly aligned along the circumference of two points forming the circular arc of the prototype while the user grasps the stiffener while ensuring the flexibility by the FPCB as it is.
도 1은 선행기술문헌 1에 따른 실린더 지름 측정용 인디게이터가 보조 지그에 설치된 상태의 사시도.
도 2a는 선행기술문헌 2에 따른 지름측정용 줄자를 나타내는 구성도.
도 2b는 선행기술문헌 2에 따른 지름측정용 줄자의 사용상태도.
도 3은 선행기술문헌 3에 따른 지름측정용 줄자를 나타내는 사시도.
도 4a는 본 발명에 따른 지름 측정 장치를 나타내는 사시도.
도 4b는 본 발명에 따른 지름 측정 장치의 사용 상태를 나타내는 사시도.
도 4c는 본 발명에 따른 지름 측정 장치를 나타내는 분해 사시도.1 is a perspective view of a state in which an indicator for measuring a cylinder diameter according to the
FIG. 2A is a view showing a tape measure for measuring diameter according to the prior art document 2. FIG.
FIG. 2B is a view showing the state of use of a tape measure for diameter measurement according to the prior art document 2. FIG.
3 is a perspective view showing a tape measure for diameter measurement according to the prior art document 3. Fig.
4A is a perspective view showing a diameter measuring apparatus according to the present invention.
FIG. 4B is a perspective view showing a use state of the diameter measuring apparatus according to the present invention. FIG.
4C is an exploded perspective view showing a diameter measuring apparatus according to the present invention.
본 발명에 따른 지름 측정 장치의 바람직한 실시예를 도면을 참조하면서 설명하기로 하고, 그 실시예로는 다수 개가 존재할 수 있으며, 이러한 실시예를 통하여 본 발명의 목적, 특징 및 이점들을 더욱 잘 이해할 수 있게 된다.A preferred embodiment of a diameter measuring apparatus according to the present invention will be described with reference to the drawings. There may be a plurality of embodiments thereof, and the objects, features and advantages of the present invention can be better understood through these embodiments .
도 4a는 본 발명에 따른 지름 측정 장치를 나타내는 사시도이고, 도 4b는 본 발명에 따른 지름 측정 장치의 사용 상태를 나타내는 사시도이며, 도 4c는 본 발명에 따른 지름 측정 장치를 나타내는 분해 사시도이다.FIG. 4A is a perspective view showing a diameter measuring apparatus according to the present invention, FIG. 4B is a perspective view showing a use state of the diameter measuring apparatus according to the present invention, and FIG. 4C is an exploded perspective view showing a diameter measuring apparatus according to the present invention.
본 발명에 따른 지름 측정 장치는 도 4a 내지 도 4c에 도시된 바와 같이 원형체(Circular Body; C)의 지름을 측정하기 위한 것으로, 원형체(C)의 원호를 이루는 두 지점간 둘레를 따라 맞대어 휘어지면서 물리적인 휨 변형값을 전기적인 저항값으로 표출하는 스트레인게이지(Strain Gauge; 10)와, 이 스트레인게이지(10)의 저항값을 연산 처리하여 지름값으로 변환시키는 MCU(Main Control Uit; 20)와, MCU(20)의 지름값을 디스플레이시키는 표시부(30)를 포함한다.The diameter measuring apparatus according to the present invention is for measuring the diameter of a circular body (C) as shown in FIGS. 4A to 4C. The diameter measuring apparatus according to the present invention is formed by bending along two circumferential
스트레인게이지(10)는 폴리이미드 등의 합성수지로 된 플렉시블한 베이스필름에 메탈 패터닝(메탈 스퍼터링->포토레지스트 도포->노광->에칭 공정 등과 같은 패터닝)되어 물리적인 휨 변형값을 전기적인 저항값으로 표출하는 것이다.The
예를 들어, 휨 변형값이 크면 클수록 전기적인 저항값은 커지게 되고, 휨 변형값이 작으면 작을수록 전기적인 저항값은 작아지게 된다.For example, the larger the bending deformation value, the larger the electrical resistance value, and the smaller the bending deformation value, the smaller the electrical resistance value.
이러한 원리를 이용하여, 지름이 큰 원형체(C)일 경우 원형체(C)의 원호를 이루는 두 지점간 둘레를 따라 맞댈 경우 스트레인게이지(10)의 물리적인 휨 변형값은 작아지게 되면서 전기적인 저항값 역시 작아지게 되는데, 이때 원형체(C)의 지름은 반비례하여 커지는 관계를 MCU(20)에서 인식토록 하면서 스트레인게이지(10)의 전기적인 저항값 대비 원형체(C)의 지름에 대한 반비례 관계를 연산 처리토록 함으로써 보다 효율적이면서도 간단하게 직경이 큰 원형체(C)의 지름 측정을 가능케 할 수 있도록 하는 것이다.Using this principle, when a large-diameter circular body (C) is paired along the circumference between two points constituting the arc of the circular body (C), the physical strain of the strain gauge (10) The inverse relationship to the diameter of the prototype C with respect to the electrical resistance value of the
더욱 구체적으로, 원형체(C)의 원호를 이루는 두 지점간 둘레를 따라 맞대어 휘어지면서 물리적인 휨 변형값을 전기적인 저항값으로 표출하는 스트레인게이지(10)의 저항값을 MCU(20)에서 연산 처리하여 지름값으로 변환시켜 표시부(30)에 디스플레이시키도록 함으로써 지름이 큰 원형체(C) 전체를 측정하여 지름을 계산하는 선행기술문헌들의 한계(긴 줄자의 필요성)를 원형체(C)의 원호를 이루는 두 지점간의 둘레만의 측정만으로, 즉 휨 변형값만으로 지름을 계산할 수 있도록 함으로써 보다 효율적이면서도 간단하게 지름 측정을 가능케 할 수 있도록 하는 것이다.More specifically, the resistance value of the
역으로, 지름이 작은 원형체(C)일 경우 원형체(C)의 원호를 이루는 두 지점간 둘레를 따라 맞댈 경우 스트레인게이지(10)의 물리적인 휨 변형값은 커지게 되면서 전기적인 저항값 역시 커지게 되는데, 이때 원형체(C)의 지름은 반비례하여 작아지는 관계를 MCU(20)에서 인식토록 하여, 스트레인게이지(10)의 전기적인 저항값 대비 원형체(C)의 지름에 대한 반비례 관계를 연산 처리토록 함으로써 보다 효율적이면서도 간단하게 직경이 작은 원형체(C)의 지름 측정을 가능케 할 수 있도록 하는 것이다.Conversely, in the case of a small-diameter circular body (C), the physical deflection deformation of the strain gauge (10) increases and the electrical resistance value also increases when the circular body (C) At this time, the
더욱 구체적으로, 원형체(C)의 원호를 이루는 두 지점간 둘레를 따라 맞대어 휘어지면서 물리적인 휨 변형값을 전기적인 저항값으로 표출하는 스트레인게이지(10)의 저항값을 MCU(20)에서 연산 처리하여 지름값으로 변환시켜 표시부(30)에 디스플레이시키도록 함으로써 직경이 작은 원형체(C)에 대한 지름을 보다 효율적이면서도 간단하게 측정할 수 있도록 하는 것이다.More specifically, the resistance value of the
바람직하게, 스트레인게이지(10)는 휨 가능한 실리콘수지(40) 속에 내장되도록 하여 손으로 파지할 때의 전기적인 저항값의 변화를 최소화하면서도 실리콘수지(40) 자체의 유연함의 보장으로 보다 손쉽게 원형체(C)의 지름 측정을 가능토록 할 수 있음은 물론이다.Preferably, the
이때, 스트레인게이지(10)는 FPCB(50)에 의해 MCU(20)에 연결되고, 스트레인게이지(10), FPCB(50) 및 MCU(20)는 휨 가능한 실리콘수지(40) 속에 내장되고, MCU(20)를 내장한 실리콘수지(40) 위로 표시부(30)가 장착되도록 할 수 있다.At this time, the
스트레인게이지(10)와 MCU(20)의 연결을 FPCB(Flexible Printed Circuit Board; 50)로 함으로써 전체적인 휨 성질을 보장할 수 있도록 하는 것이다.So that the
더욱 구체적으로, 스트레인게이지(10)는 FPCB(50)에 의해 MCU(20)에 연결되고, 스트레인게이지(10), FPCB(50) 및 MCU(20)는 휨 가능한 실리콘수지(40) 속에 내장되고, MCU(20)를 내장한 실리콘 수지의 외곽으로 스트프너(Stiffener; 60)가 장착되고, 스트프너(60) 위로 표시부(30)가 장착되도록 할 수 있다.More specifically, the
사용자가 스트프너(60)를 파지하면서 스트레인게이지(10)로 하여금 원형체(C)의 원호를 이루는 두 지점간 둘레를 따라 스트레인게이지(10)를 보다 원활하게 맞댈 수 있도록 하면서도 FPCB(50)에 의한 유연성은 그대로 보장토록 할 수 있게 되어 더욱 간단 편리하게 사용할 수 있도록 할 수 있다.
The user can grasp the
본 발명은 원이나 구 따위에서 중심을 지나는 직선의 길이, 즉 지름을 측정하고자 하는 산업분야에 이용될 수 있다.
The present invention can be used in an industrial field to measure the length, i.e., the diameter, of a straight line passing through the center from a circle or a sphere.
C : 원형체 10 : 스트레인게이지
20 : MCU 30 : 표시부
40 : 실리콘수지 50 : FPCB
60 : 스티프너C: prototype 10: strain gauge
20: MCU 30: Display
40: Silicone resin 50: FPCB
60: Stiffener
Claims (4)
상기 원형체(C)의 원호를 이루는 두 지점간 둘레를 따라 맞대어 휘어지면서 물리적인 휨 변형값을 전기적인 저항값으로 표출하는 스트레인게이지(10)와, 상기 스트레인게이지(10)의 저항값을 연산 처리하여 지름값으로 변환시키는 MCU(20)와, 상기 MCU(20)의 지름값을 디스플레이시키는 표시부(30)를 포함하고,
상기 스트레인게이지(10)는 휨 가능한 실리콘수지(40) 속에 내장되는 것을 특징으로 하는 지름 측정 장치.A diameter measuring device for measuring a diameter of a prototype (C)
A strain gauge 10 for expressing a physical flexural strain value as an electrical resistance value while being biased along a circumference between two points constituting an arc of the prototype C; And a display unit (30) for displaying a diameter value of the MCU (20), wherein the diameter of the MCU (20)
Wherein the strain gauge (10) is embedded in a bendable silicone resin (40).
상기 원형체(C)의 원호를 이루는 두 지점간 둘레를 따라 맞대어 휘어지면서 물리적인 휨 변형값을 전기적인 저항값으로 표출하는 스트레인게이지(10)와, 상기 스트레인게이지(10)의 저항값을 연산 처리하여 지름값으로 변환시키는 MCU(20)와, 상기 MCU(20)의 지름값을 디스플레이시키는 표시부(30)를 포함하고,
상기 스트레인게이지(10)는 FPCB(50)에 의해 상기 MCU(20)에 연결되고,
상기 스트레인게이지(10), FPCB(50) 및 MCU(20)는 휨 가능한 실리콘수지(40) 속에 내장되고,
상기 MCU(20)를 내장한 실리콘수지(40) 위로 상기 표시부(30)가 장착되는 것을 특징으로 하는 지름 측정 장치.A diameter measuring device for measuring a diameter of a prototype (C)
A strain gauge 10 for expressing a physical flexural strain value as an electrical resistance value while being biased along a circumference between two points constituting an arc of the prototype C; And a display unit (30) for displaying a diameter value of the MCU (20), wherein the diameter of the MCU (20)
The strain gage 10 is connected to the MCU 20 by an FPCB 50,
The strain gage 10, the FPCB 50 and the MCU 20 are embedded in the flexible silicone resin 40,
And the display unit (30) is mounted on the silicone resin (40) containing the MCU (20).
상기 원형체(C)의 원호를 이루는 두 지점간 둘레를 따라 맞대어 휘어지면서 물리적인 휨 변형값을 전기적인 저항값으로 표출하는 스트레인게이지(10)와, 상기 스트레인게이지(10)의 저항값을 연산 처리하여 지름값으로 변환시키는 MCU(20)와, 상기 MCU(20)의 지름값을 디스플레이시키는 표시부(30)를 포함하고,
상기 스트레인게이지(10)는 FPCB(50)에 의해 상기 MCU(20)에 연결되고,
상기 스트레인게이지(10), FPCB(50) 및 MCU(20)는 휨 가능한 실리콘수지(40) 속에 내장되고,
상기 MCU(20)를 내장한 실리콘 수지의 외곽으로 스트프너(60)가 장착되고,
상기 스트프너(60) 위로 상기 표시부(30)가 장착되는 것을 특징으로 하는 지름 측정 장치.A diameter measuring device for measuring a diameter of a prototype (C)
A strain gauge 10 for expressing a physical flexural strain value as an electrical resistance value while being biased along a circumference between two points constituting an arc of the prototype C; And a display unit (30) for displaying a diameter value of the MCU (20), wherein the diameter of the MCU (20)
The strain gage 10 is connected to the MCU 20 by an FPCB 50,
The strain gage 10, the FPCB 50 and the MCU 20 are embedded in the flexible silicone resin 40,
A strapper 60 is mounted on the outer periphery of the silicone resin housing the MCU 20,
And the display unit (30) is mounted on the strapper (60).
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Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN110631466A (en) * | 2019-09-17 | 2019-12-31 | 浙江工业职业技术学院 | Method and device for measuring diameter by using cantilever beam sensor and coding screw rod |
Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5442270B2 (en) * | 1974-04-10 | 1979-12-13 | ||
JPS6410123B2 (en) * | 1981-04-17 | 1989-02-21 | Sony Corp | |
KR20060102158A (en) * | 2005-03-23 | 2006-09-27 | 위영민 | Apparatus and method of measuring a changing quantity and a stress in the structure of the bridge and building, etc |
JP2009527750A (en) | 2006-02-24 | 2009-07-30 | コミシリア ア レネルジ アトミック | Pressure sensor with resistance strain gauge |
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Patent Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5442270B2 (en) * | 1974-04-10 | 1979-12-13 | ||
JPS6410123B2 (en) * | 1981-04-17 | 1989-02-21 | Sony Corp | |
KR20060102158A (en) * | 2005-03-23 | 2006-09-27 | 위영민 | Apparatus and method of measuring a changing quantity and a stress in the structure of the bridge and building, etc |
JP2009527750A (en) | 2006-02-24 | 2009-07-30 | コミシリア ア レネルジ アトミック | Pressure sensor with resistance strain gauge |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN110631466A (en) * | 2019-09-17 | 2019-12-31 | 浙江工业职业技术学院 | Method and device for measuring diameter by using cantilever beam sensor and coding screw rod |
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