KR101362279B1 - 터치 장치 및 이의 감지 방법 - Google Patents

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Abstract

터치 장치는 복수의 센서들, 저장 모듈 및 처리 모듈을 포함한다. 상기 센서들은 기판 상에 배치되어 탄성파들을 감지하고 전기 신호들을 생성한다. 상기 저장 모듈은 상기 기판 상의 복수의 위치들에 대한 복수의 지연 측정치 템플릿들을 저장한다. 상기 처리 모듈은 상기 복수의 센서들 및 상기 저장 모듈에 연결되어, 수신된 지연 측정치를 계산하고, 상기 수신된 지연 측정치를 상기 복수의 지연 측정치 템플릿들과 비교하여 상기 기판 상의 터치 위치를 예측한다. 상기 터치 장치의 감지 방법도 제공된다.

Description

터치 장치 및 이의 감지 방법{Touch device and detection method thereof}
본 발명은 입력 장치에 관한 것이며, 더욱 구체적으로는 터치 장치 및 상기 터치 장치의 감지 방법에 관한 것이다.
터치 장치는 수년간 사용되어 왔다. 통상적으로, 터치 장치는 기판 상의 터치 위치를 결정하는 요소들로 이루어진다. 저항성, 적외선, 표면 탄성파, 압력, 및 용량성 터치 기술들과 같은 다양한 터치 기술들이 존재한다.
종래 저항성 터치 장치가 갖는 문제는 낮은 응답성이다. 더욱이, 저항성 터치스크린은 터치되기 위한 도전성 필름을 포함하지만, 도전성 필름은 사용되다 보면 마모된다.
저항성 터치 기술의 단점을 극복하기 위해, 적외선 터치 장치는 필름 물질을 갖지 않는 디스플레이 표면 내의 터치의 존재와 위치를 감지하기 위한 적외선 송신기 및 수신기를 포함한다. 터치 표면이 터치될 때, 적외선 송신기에서 수신기로의 광은 차단되고, 이러한 차단은 터치 감지 알고리즘에 의해 수신기 측에서 감지된다. 적외선 송신기 및 수신기는 많은 전력을 소비하기 때문에, 소형의 휴대용 제품들에 사용되기 어려울 것이다.
용량성 터치 장치는 터치 표면을 위한 필름 물질 대신에 유리 물질을 포함하며, 감지는 터치에 의해 국부적으로 변하는 커패시턴스에 기초한다. 터치 위치를 감지하기 위한 이러한 용량성 터치 장치는 성공적이고 빨랐지만, 기판의 상부에 도전성 물질을 코팅하는 기판 처리에 많은 비용이 필요하고 종종 코팅된 도전성 물질로 인해 여분의 전력 소모가 필요하다. 즉, 이러한 용량성 터치 장치는 높은 제조비용이 필요하고 과도한 전력 소모를 일으킨다.
이러한 종래의 터치 장치의 단점을 극복하기 위해, 터치 위치를 결정하는데 탄성파를 이용하는 터치 장치가 존재한다. 탄성파를 이용하는 터치 장치는 기판, 및 기판 상의 터치로 인한 탄성파를 수신하기 위해 기판 주변에 배치되는 복수의 초음파 센서를 포함한다. 그 후, 수신된 신호들은 함께 결합되어 터치된 위치를 간접적으로 예측하는데 사용된다. 이러한 터치 장치에서, 기판의 물질은 가공하지 않은 한 장의 유리이며, 많은 비용과 전력을 아낄 수 있다.
그러나, 탄성파를 이용하는 이러한 터치 장치가 초음파 센서의 판독을 통해 터치 위치를 감지하는 경우, 이러한 측정은 고유적으로 내부에 잡음을 가지며, 그로 인해 유한한 신호 대 잡음비가 존재한다. 따라서, 탄성파를 이용하는 이러한 터치 장치의 예측 정확성은 유한한 신호 대 잡음비로 인해 감소된다.
따라서, 이러한 단점들을 극복하는 새로운 터치 장치가 요구된다.
본 발명이 해결하고자 하는 과제는 상술한 단점들을 극복하는 새로운 터치 장치를 제공하고, 이러한 터치 장치의 감지 방법을 제공하는 것이다.
일 측면에서, 바람직한 실시예에 따른 터치 장치는 복수의 센서들, 저장 모듈 및 처리 모듈을 포함한다. 상기 센서들은 기판 상에 배치되어 탄성파들을 감지하고 전기 신호들을 생성한다. 상기 저장 모듈은 상기 기판 상의 복수의 위치들에 대한 복수의 (지연 측정치 템플릿으로 알려진) 평균 지연 측정치들을 저장한다. 상기 처리 모듈은 상기 복수의 센서들 및 상기 저장 모듈에 연결되어, 수신된 지연 측정치를 계산하고, 상기 수신된 지연 측정치를 상기 복수의 지연 측정치 템플릿들과 비교하여 상기 기판 상의 터치 위치를 예측한다.
다른 측면에서, 바람직한 실시예에 따른 터치 장치는 복수의 센서들 및 처리 모듈을 포함한다. 상기 센서들은 기판 상에 배치되어, 탄성파들을 감지하고 탄성 신호들을 전기 신호들로 변환한다. 상기 처리 모듈은 상기 전기 신호들을 수신하고, 상기 기판 상의 복수의 위치들에 대한 복수의 지연 측정치 템플릿들을 저장한다. 상기 기판 상의 한 위치에 대응하는 각각의 지연 측정치 템플릿은 상기 기판 상의 상기 위치에서의 복수회의 측정치들의 평균이다. 상기 처리 모듈은 수신된 지연 측정치를 상기 복수의 지연 측정치 템플릿들과 비교함으로써 터치 위치를 계산한다.
다른 측면에서, 바람직한 실시예에 따른 터치 장치의 감지 방법은 탄성파들을 감지하는 단계, 상기 탄성파들을 전기 신호들로 변환하는 단계, 수신된 지연 측정치를 계산하는 단계, 및 상기 수신된 지연 측정치를 기판의 복수의 위치들에 대한 복수의 지연 측정치 템플릿들과 비교하여 터치 위치를 결정하는 단계를 포함하며, 상기 복수의 지연 측정치 템플릿들은 캘리브레이션(calibration) 과정 중에 획득되고, 상기 기판 상의 한 위치에 대응하는 각각의 지연 측정치 템플릿은 상기 캘리브레이션 과정 중에 상기 기판 상의 상기 위치에서의 복수회의 측정치들의 평균이다.
다른 장점들 및 신규한 특징들은 다양한 실시예들에 대한 아래의 상세한 설명으로부터 더욱 명확해질 것이며, 이러한 상세한 설명은 첨부한 도면들을 참조로 이루어질 것이다.
본 발명에 따른 터치 장치에 따르면, 전기 물질을 내장시킴으로써 기판 처리에 많은 비용이 소요되지 않으며, 여분의 전력 소모가 필요하지 않다. 또한, 예측 정확도를 개선할 수 있다.
도면들의 요소들은 본 발명의 원리를 명확히 설명하기 위해 반드시 정확한 비율로 도시된 것이 아니며 강조될 수 있다. 또한, 도면에서 동일한 참조 번호는 도면들 전체에 걸쳐 대응하는 요소를 지시하며, 모든 도면들은 개략적이다.
도 1은 기판, 복수의 센서들, 저장 모듈 및 처리 모듈을 포함하는 터치 장치의 개념적인 평면도이다.
도 2는 도 1에 도시된 터치 장치의 개념적인 블록도이다.
도 3은 도 1에 도시된 처리 모듈의 개념적인 블록도이다.
도 4는 도 1에 도시된 터치 장치의 감지 방법에 대한 흐름도이다.
본 발명은 첨부한 도면들에서 한정을 위해서가 아니라, 예시적으로 도시되며, 동일한 참조 번호가 동일한 요소들을 지시한다. 본 명세서에서 “하나의” 또는 “일” 실시예라는 언급은 반드시 동일한 실시예를 지칭하는 것이 아니며, 이러한 언급은 적어도 하나의 실시예를 의미한다는 것에 주의하여야 한다.
도 1 및 도 2를 참조하면, 본 발명의 바람직한 실시예에 따른 터치 장치(100)가 도시된다. 터치 장치(100)는 기판(110), 제1 센서(120), 제2 센서(130), 제3 센서(140), 제4 센서(150), 처리 모듈(160) 및 저장 모듈(170)을 포함한다. 기판(110)은 굽힘파(bending wave)를 전파할 수 있는 임의의 물질로 이루어지고, 기판(110) 표면 상의 터치는 탄성파들을 생성할 수 있다. 이러한 실시예에서, 기판(110)은 유리로 이루어질 수 있다. 제1 센서(120), 제2 센서(130), 제3 센서(140), 및 제4 센서(150)는 기판(110)의 네 모서리에 인접하게 배치된다. 제1 센서(120), 제2 센서(130), 제3 센서(140), 및 제4 센서(150)는 기판(110)에 생성되는 탄성파들을 감지하고, 수신된 탄성 에너지들에 따른 전기 신호들을 생성한다. 처리 모듈(160)은 제1 센서(120), 제2 센서(130), 제3 센서(140), 및 제4 센서(150)에 연결되고, 전기 신호들에 따라 터치 위치(P)에 대한 수신된 지연 측정치를 계산한다. 또한, 처리 모듈(160)은 수신된 지연 측정치를 복수의 지연 측정치 템플릿들과 비교하여 기판(110) 상의 터치 위치(P)를 예측한다. 수신된 지연 측정치는 탄성파들의 터치 위치(P)로부터 제1 센서(120), 제2 센서(130), 제3 센서(140), 및 제4 센서(150)까지의 도착 시간차들의 세트이다. 처리 모듈(160)에 연결된 저장 모듈(170)은 기판(100) 상의 복수의 위치들에 대한 복수의 지연 측정치 템플릿들을 저장하도록 구성된다. 기판(100) 상의 어느 한 위치에 대응하는 각각의 지연 측정치 템플릿은 캘리브레이션 과정 동안에 획득되는 상기 위치에 대한 N회의 측정치들의 평균이다.
도 3을 참조하면, 도시된 실시예에서, 처리 모듈은 증폭기(161), 논리 게이트부(162), 제1 타이머(163), 제2 타이머(164), 제3 타이머(165), 제4 타이머(166) 및 컨트롤러 칩(167)을 포함한다. 제1 센서(120), 제2 센서(130), 제3 센서(140), 및 제4 센서(150)로부터의 전기 신호들은 증폭기(161)에 의해 증폭된다. 증폭기(161)로부터의 출력들은 논리 게이트부(162)로 전송된다. 논리 게이트부(162)의 출력들은 터치 위치(P)를 결정하는데 사용되는 시간차들을 감지하기 위해 제1 타이머(163), 제2 타이머(164), 제3 타이머(165), 및 제4 타이머(166)에 제공된다. 제1 타이머(163), 제2 타이머(164), 제3 타이머(165), 및 제4 타이머(166)는 제1 센서(120), 제2 센서(130), 제3 센서(140), 및 제4 센서(150)로부터 상이한 시간들에 도착하는 탄성파들 사이의 시간차들을 측정하는데 사용된다. 컨트롤러 칩(167)은 계산을 수행하는데 이용되며, 저장 모듈(170)과 통신한다. 터치 위치(P)의 좌표들은 저장된 지연 측정치 템플릿과 타이머들로부터 수신된 시간차들을 비교함으로써 컨트롤러 칩(167)에 의해 계산된다.
다른 실시예에서, 제1 타이머(163), 제2 타이머(164), 제3 타이머(165), 및 제4 타이머(166)는 컨트롤러 칩(167) 내부에 위치할 수 있다. 컨트롤러 칩(167)은 소정의 속도로 코드들을 실행할 수 있고 주문형 반도체(ASIC, application specific integrated circuit) 또는 FPGA(field programmable gate array)로 통합(incorporate)될 수 있는 임의의 마이크로컨트롤러일 수 있다. 따라서, 증폭기(161), 논리 게이트부(162), 제1 타이머(163), 제2 타이머(164), 제3 타이머(165), 및 제4 타이머(166)는 생략될 수도 있으며, 그에 따라, 제1 센서(120), 제2 센서(130), 제3 센서(140), 및 제4 센서(150)로부터의 전기 신호는 컨트롤러 칩(167)에 직접 전송될 수 있다.
사용자가 기판(110)의 위치(P)를 터치하면, 위치(P)로부터 탄성파들이 생성된다. 제1 센서(120), 제2 센서(130), 제3 센서(140), 및 제4 센서(150)는 생성된 탄성파들을 상이한 위치들에서 감지하고, 각각의 전기 신호들을 증폭기(161)로 전송한다. 증폭기(161)는 전기 신호들을 증폭하고, 증폭된 전기 신호를 논리 게이트부(162)로 제공한다. 논리 게이트부(162)의 출력들은 트리거 신호들로서 제1 타이머(163), 제2 타이머(164), 제3 타이머(165), 및 제4 타이머(166)에 제공된다. 이러한 방식에서, 제1 타이머(163), 제2 타이머(164), 제3 타이머(165), 및 제4 타이머(166) 중 어느 하나에 처음으로 도착하는 전기 신호는 제1 타이머(163), 제2 타이머(164), 제3 타이머(165), 및 제4 타이머(166) 전부를 시작시키는 트리거로서 기능한다. 제1 타이머(163), 제2 타이머(164), 제3 타이머(165), 및 제4 타이머(166)는 입력 전기 신호가 소정의 임계 레벨에 도달할 때 카운팅을 시작하고, 다른 입력 전기 신호들이 소정의 임계 레벨에 도달할 때 동작을 멈춘다. 제1 타이머(163), 제2 타이머(164), 제3 타이머(165), 및 제4 타이머(166)가 전부 멈추면, 이들이 측정한 시간은 다른 센서들에 탄성파들이 도착한 시간차에 상응할 것이다. 다시 말하자면, 2개의 신호들의 도착 간의 시간차들은 제1 타이머(163), 제2 타이머(164), 제3 타이머(165), 및 제4 타이머(166)에 의해 각각 측정된다. 상이한 센서들 간에 측정된 시간차들로 이루어진 수신된 지연 측정치는 기판(110) 상의 터치 위치(P)를 예측하는데 사용될 수 있다. 컨트롤러 칩(167)은 수신된 지연 측정치를 이전에 저장된 지연 측정치 템플릿과 비교하고, 터치 위치(P)의 좌표를 찾는다.
본 실시예에서, 각각의 저장된 지연 측정치 템플릿은 4개의 숫자들의 세트이며, 각각의 숫자는 각각의 센서에 의한 것이다. 예를 들면, 제1 센서(120)가 처음으로 터치 위치(P)로부터의 탄성파들을 수신시는 경우, 수시된 지연 측정치는 (0, t2, t3, t4)이며, 여기서, t2는 제1 센서(120)와 제2 센서(130) 사이의 시간차를 나타내고, t3은 제1 센서(120)와 제3 센서(140) 사이의 시간차를 나타내고, t4는 제1 센서(120)와 제4 센서(150) 사이의 시간차를 나타낸다. 만약 수신된 지연 측정치가 저장 모듈 내의 지연 측정치 템플릿과 실질적으로 동일하다면, 터치 위치(P)는 상기 지연 측정치 템플릿에 대응하는 위치로 선언될 것이며, 저장 모듈이 수신된 지연 측정치와 가장 유사한 지연 측정치 템플릿을 갖는 경우라면, 터치 위치(P)는 상기 지연 측정치 템플릿에 대응하는 위치로 선언될 것이다.
각각의 지연 측정치가 잡음을 갖기 때문에, 지연 측정치 템플릿들의 정확도에 영향을 주는, 지연 측정치에 유한한 신호 대 잡음비가 존재한다. 따라서, 수신된 지연 측정치와 지연 측정치 템플릿 사이의 비교 오차가 비교 과정 중에 초래될 수 있으며, 터치 위치(P)의 정확도의 편향(determination)을 초래하며, 이는 지연 측정치 템플릿들의 정확도에 좌우된다. 그러나, 본 명세서의 지연 측정치 템플릿들 각각은 복수의 지연 측정치들의 평균이며, 신호 대 잡음비는 n회 측정치들의 평균에 의해 잡음의 감소를 기초로 증가되며, 지연 측정치 템플릿들의 정확도가 개선된다. 따라서, 터치 장치(100)의 예측 정확도가 증가한다.
또한, 터치 장치(100)는 제1 센서(120), 제2 센서(130), 제3 센서(140), 및 제4 센서(150)에 의해 터치 신호를 감지하며, 그에 따라 전기적 물질이 기판(110)에 필요하지 않는다. 따라서, 터치 장치(100)는 내장된 전기 물질로 인하여 비용이 많이 드는 기판(110)의 처리 및 여분의 전력 소모가 필요하지 않다.
도 4를 참조하면, 터치 장치(100)의 감지 방법에 대한 바람직한 실시예는 다음의 단계들을 포함한다.
단계(S201)에서, 기판(110)이 터치될 때, 탄성파들이 감지된다. 일 실시예에서, 기판(110)의 터치 위치(P)는 정상적인 동작 중에 터치된다. 터치 위치(P)는 터치 장치(100)의 가상 키(virtual key)일 수 있다.
단계(S202)에서, 탄성파들은 전기 신호들로 변환된다. 제1 센서(120), 제2 센서(130), 제3 센서(140), 및 제4 센서(150)는 터치 위치(P)로부터의 탄성파들을 감지하고, 탄성파들에 따른 전기 신호들을 생성한다.
단계(S203)에서, 수신된 지연 측정치는 전기 신호들에 따라 계산된다.
단계(S204)에서, 수신된 지연 측정치는 터치 위치(P)를 결정 또는 예측하기 위해 기판(110) 상의 복수의 위치들에 대한 복수의 지연 측정치 템플릿들과 비교된다. 일 실시예에서, 제1 센서(120), 제2 센서(130), 제3 센서(140), 및 제4 센서(150) 사이의 터치 위치(P)의 도착 시간차들이 측정되고, 도착 시간차들에 따라 터치 위치의 지연 측정치가 획득된다.
기판(110) 상의 복수의 위치들에 대한 지연 측정 템플릿은 캘리브레이션 과정 중에 저장 모듈(170)에 저장된다. 지연 측정치 템플릿들은 다음의 방법에 의해 측정된다.
우선, 기판(110)의 각각의 위치는 N회 터치되고, 그에 따라 제1 센서(120), 제2 센서(130), 제3 센서(140), 및 제4 센서(150) 간의, 각 위치의 탄성파들의 도착 시간차들이 N회의 각각에 대해 측정된다. 즉, 각 위치의 지연 측정치는 독립적으로 N회 측정된다. 일 실시예에서, N은 약 50이다. 다른 실시예에서, N은 약 100이다.
둘째로, 각 위치에서의 N회의 지연 측정치들은 처리 모류(160)의 컨트롤러 칩(167)에 의해 평균된다.
마지막으로, 기판(110)의 각 위치에서의 평균된 지연 측정치는 지연 측정치 템플릿으로서 정의된다. 기판(110)의 복수의 위치들에 대한 지연 측정치 템플릿들은 저장 모듈(170)에 저장된다.
비교 단계에서, 터치 위치에서의 지연 측정치는 지연 측정치 템플릿들 중 어느 하나와 실질적으로 동일하거나 이와 가장 유사할 수 있다. 터치 위치는 비교 결과를 기초로 예측된다. 만약 터치 위치에서의 지연 측정치가 지연 측정치 템플릿과 실질적으로 동일하거나 가장 유사한 경우라면, 터치 위치(P)는 상기 지연 측정치 템플릿에 대응하는 위치로 선언될 것이다.
지연 측정치 템플릿들은 캘리브레이션 과정에서 측정된다는 것에 주의하여야 한다. 캘리브레이션 과정 중에, 시험자는 기판(110) 상의 동일한 위치를 N회 터치한다. 이것은 제조 과정 중에, 또는 터치 장치가 사용자에 의해 셋 업될 때, 빠른 캘리브레이션 과정에 의해 수행된다.
센서의 개수는 다른 바람직한 실시예들에 따라서 4개보다 많을 수도 있다는 것을 이해하여야 한다. 또한, 제1 센서(120), 제2 센서(130), 제3 센서(140), 및 제4 센서(150)는 기판(110)의 4개의 테두리들에 위치될 수 있으며, 예컨대, 기판(110)의 4개의 모서리들에 인접하게 배치될 수 있다. 저장 모듈(170)은 생략될 수 있으며, 그에 따라 지연 측정치 템플릿들은 처리 모듈(160)에 저장될 수 있다.
마지막으로, 다양한 실시예들이 설명되고 도시되었지만, 본 발명은 이것들로 한정되는 것으로 간주되어서는 안 된다. 상기 실시예들에 대한 다양한 변형들이 첨부된 청구범위에 의해 정해지는 본 발명의 진정한 사상 및 범위로부터 벗어남 없이 본 기술분야의 당업자들에 의해 만들어질 수 있다.

Claims (23)

  1. 기판 상에 배치되어 탄성파(acoustic wave)들을 감지하고 전기 신호들을 생성하는 복수의 센서들;
    상기 기판 상의 복수의 위치들에 대한 복수의 지연 측정치 템플릿들을 저장하기 위한 저장 모듈로서, 상기 기판 상의 한 위치에 대응하는 각각의 지연 측정치 템플릿은 캘리브레이션 과정 중에 상기 기판 상의 상기 위치에서의 복수회의 측정치들의 평균인 상기 저장 모듈; 및
    상기 복수의 센서들 및 상기 저장 모듈에 연결되어, 수신된 지연 측정치를 계산하고, 상기 수신된 지연 측정치를 상기 복수의 지연 측정치 템플릿들과 비교하여 상기 기판 상의 터치 위치를 예측하는 처리 모듈을 포함하는 터치 장치.
  2. 제1 항에 있어서,
    상기 복수의 센서들은 상기 기판의 네 모서리에 인접하게 배치되는 것을 특징으로 하는 터치 장치.
  3. 제1 항에 있어서,
    상기 기판은 유리로 이루어지는 것을 특징으로 하는 터치 장치.
  4. 제1 항에 있어서,
    상기 처리 모듈은 증폭기를 포함하는 것을 특징으로 하는 터치 장치.
  5. 제1 항에 있어서,
    상기 처리 모듈은 복수의 타이머들을 포함하는 것을 특징으로 하는 터치 장치.
  6. 제5 항에 있어서,
    상기 처리 모듈은 상기 복수의 타이머들과 증폭기를 상호 연결하는 논리 게이트부를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 터치 장치.
  7. 제1 항에 있어서,
    상기 처리 모듈은 상기 수신된 지연 측정치와 상기 복수의 지연 측정치 템플릿들의 비교를 수행하는 컨트롤러 칩을 더 포함하고, 상기 컨트롤러 칩은 상기 저장 모듈과 통신하는 것을 특징으로 하는 터치 장치.
  8. 제1 항에 있어서,
    상기 수신된 지연 측정치가 상기 저장 모듈 내의 상기 복수의 지연 측정치 템플릿들 중에서 제1 지연 측정치 템플릿과 실질적으로 동일한 경우, 상기 터치 위치는 상기 제1 지연 측정치 템플릿에 대응하는 위치로 선언되는 것을 특징으로 하는 터치 장치.
  9. 제1 항에 있어서,
    상기 저장 모듈이 상기 복수의 지연 측정치 템플릿들 중에서 상기 수신된 지연 측정치와 가장 유사한 제1 지연 측정치 템플릿을 갖는 경우, 상기 터치 위치는 상기 제1 지연 측정치 템플릿에 대응하는 위치로 선언되는 것을 특징으로 하는 터치 장치.
  10. 삭제
  11. 기판 상에 배치되어, 탄성파들을 감지하고 탄성 신호들을 전기 신호들로 변환하는 복수의 센서들; 및
    상기 전기 신호들을 수신하고, 상기 기판 상의 복수의 위치들에 대한 복수의 지연 측정치 템플릿들을 저장하는 처리 모듈을 포함하고,
    상기 기판 상의 한 위치에 대응하는 각각의 지연 측정치 템플릿은 캘리브레이션 과정 중에 상기 기판 상의 상기 위치에서의 복수회의 측정치들의 평균이며,
    상기 처리 모듈은 수신된 지연 측정치를 상기 복수의 지연 측정치 템플릿들과 비교함으로써 터치 위치를 계산하는 것을 특징으로 하는 터치 장치.
  12. 제11 항에 있어서,
    상기 센서들은 상기 기판의 4개의 모서리들에 인접하게 배치되는 것을 특징으로 하는 터치 장치.
  13. 제11 항에 있어서,
    상기 기판은 유리로 이루어지는 것을 특징으로 하는 터치 장치.
  14. 제11 항에 있어서,
    상기 처리 모듈은 증폭기를 포함하는 것을 특징으로 하는 터치 장치.
  15. 제11 항에 있어서,
    상기 처리 모듈은 복수의 타이머들을 더 포함하는 것을 특징으로 하는 터치 장치.
  16. 제15 항에 있어서,
    상기 처리 모듈은 상기 복수의 타이머들 및 증폭기를 상호 연결하는 논리 게이트부를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 터치 장치.
  17. 제16 항에 있어서,
    상기 처리 모듈은 컨트롤러 칩을 더 포함하는 것을 특징으로 하는 터치 장치.
  18. 제11 항에 있어서,
    상기 수신된 지연 측정치가 상기 처리 모듈 내의 상기 복수의 지연 측정치 템플릿들 중에서 제1 지연 측정치 템플릿과 실질적으로 동일한 경우, 상기 터치 위치는 상기 제1 지연 측정치 템플릿에 대응하는 위치로 선언되는 것을 특징으로 하는 터치 장치.
  19. 제11 항에 있어서,
    상기 처리 모듈이 상기 복수의 지연 측정치 템플릿들 중에서 상기 수신된 지연 측정치와 가장 유사한 제1 지연 측정치 템플릿을 갖는 경우, 상기 터치 위치는 상기 제1 지연 측정치 템플릿에 대응하는 위치로 선언되는 것을 특징으로 하는 터치 장치.
  20. 제11 항에 있어서,
    상기 터치 위치는 상기 전기 신호들에 따른 상기 수신된 지연 측정치를 계산함으로써 계산되는 것을 특징으로 하는 터치 장치.
  21. 탄성파들을 감지하는 단계;
    상기 탄성파들을 전기 신호들로 변환하는 단계;
    캘리브레이션 과정 중에 기판 상의 복수의 위치들에 대한 복수의 지연 측정 템플릿들을 생성하는 단계로서, 상기 기판 상의 한 위치에 대응하는 각각의 지연 측정치 템플릿은 상기 캘리브레이션 과정 중에 상기 기판 상의 상기 위치에서의 복수회의 측정치들의 평균인 단계;
    수신된 지연 측정치를 계산하는 단계; 및
    상기 수신된 지연 측정치를 상기 기판 상의 상기 복수의 위치들에 대한 상기 복수의 지연 측정치 템플릿들과 비교하여 터치 위치를 결정하는 단계를 포함하는 터치 장치의 감지 방법.
  22. 제21 항에 있어서,
    상기 수신된 지연 측정치가 상기 복수의 지연 측정치 템플릿들 중에서 제1 지연 측정치 템플릿과 실질적으로 동일한 경우, 상기 터치 위치는 상기 제1 지연 측정치 템플릿에 대응하는 위치로 선언되는 것을 특징으로 하는 터치 장치의 감지 방법.
  23. 제21 항에 있어서,
    상기 수신된 지연 측정치가 상기 복수의 지연 측정치 템플릿들 중에서 제1 지연 측정치 템플릿과 가장 유사한 경우, 상기 터치 위치는 상기 제1 지연 측정치 템플릿에 대응하는 위치로 선언되는 것을 특징으로 하는 터치 장치의 감지 방법.
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Families Citing this family (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN102810030B (zh) * 2011-06-01 2016-03-02 宸鸿科技(厦门)有限公司 触控装置及其侦测方法
WO2015143633A1 (en) * 2014-03-26 2015-10-01 Intel Corporation Capacitive sensor action in response to proximity sensor data
CN105808092B (zh) * 2014-12-31 2020-06-23 联想(北京)有限公司 一种数据处理方法及触摸设备
WO2016200740A1 (en) 2015-06-07 2016-12-15 Apple Inc. Latency reduction for detached content
US10635241B2 (en) * 2015-06-19 2020-04-28 Alab Inc. Coordinate detection device and coordinate detection method
TWI739651B (zh) 2020-11-05 2021-09-11 華碩電腦股份有限公司 電子裝置及其觸控方法

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20020075283A (ko) * 2001-03-23 2002-10-04 세이코 엡슨 가부시키가이샤 좌표 입력 장치, 액정 표시 장치, 유기 발광 표시 장치,표시 장치 및 전자 장치
KR20060016784A (ko) * 2003-05-19 2006-02-22 쓰리엠 이노베이티브 프로퍼티즈 컴파니 진동 감지 접촉 입력 장치
KR20090002537A (ko) * 2007-07-02 2009-01-09 (주)나노티에스 터치 좌표인식 방법 및 이를 수행하기 위한 터치스크린장치

Family Cites Families (20)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS58201108A (ja) * 1982-05-19 1983-11-22 Nissan Motor Co Ltd マイクロコンピユ−タを用いた車両用電子制御システムの監視装置
USRE33151E (en) 1985-02-05 1990-01-23 Zenith Electronics Corporation Touch control system for controllable apparatus
JP3115307B2 (ja) * 1990-10-24 2000-12-04 キヤノン株式会社 座標入力装置及び座標検出方法
TW512274B (en) * 1997-05-14 2002-12-01 Elo Touchsystems Inc An audio touch panel
JP4093308B2 (ja) * 2002-11-01 2008-06-04 富士通株式会社 タッチパネル装置及び接触位置検出方法
US7522945B2 (en) * 2005-06-28 2009-04-21 Nokia Corporation Portable electronic device
US8013846B2 (en) 2006-02-10 2011-09-06 Tpk Holding Co., Ltd. Touch detection
TWI321288B (en) * 2006-08-31 2010-03-01 Egalax Empia Technology Inc Apparatus and method for detecting position, and touch panel using the same
US7706811B2 (en) * 2006-09-19 2010-04-27 Broadphone Llc Signal comparison-based location determining method
EP2073106B1 (en) * 2007-12-21 2012-02-08 Tyco Electronics Services GmbH Method for determining the locations of at least two impacts
TW201015390A (en) * 2008-10-09 2010-04-16 Asustek Comp Inc Electronic apparatus with touch function and input method thereof
KR100971501B1 (ko) * 2008-10-24 2010-07-21 주식회사 애트랩 접촉센서 장치
US20100146459A1 (en) * 2008-12-08 2010-06-10 Mikko Repka Apparatus and Method for Influencing Application Window Functionality Based on Characteristics of Touch Initiated User Interface Manipulations
TW201042515A (en) * 2009-05-22 2010-12-01 Hon Hai Prec Ind Co Ltd Touch screen zoom displaying system and method thereof
US8659579B2 (en) * 2009-05-22 2014-02-25 Elo Touch Solutions, Inc. Method and apparatus for detecting hold condition on an acoustic touch surface
US20110074694A1 (en) * 2009-09-25 2011-03-31 Peter William Rapp Device and Method for Jitter Reduction on Touch-Sensitive Surfaces and Displays
CN101916153B (zh) * 2010-08-04 2014-07-16 中兴通讯股份有限公司 触摸屏的触摸点的定位方法、装置以及终端
US8725443B2 (en) * 2011-01-24 2014-05-13 Microsoft Corporation Latency measurement
CN102810030B (zh) * 2011-06-01 2016-03-02 宸鸿科技(厦门)有限公司 触控装置及其侦测方法
CN202150101U (zh) * 2011-06-01 2012-02-22 宸鸿科技(厦门)有限公司 触控装置

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20020075283A (ko) * 2001-03-23 2002-10-04 세이코 엡슨 가부시키가이샤 좌표 입력 장치, 액정 표시 장치, 유기 발광 표시 장치,표시 장치 및 전자 장치
KR20060016784A (ko) * 2003-05-19 2006-02-22 쓰리엠 이노베이티브 프로퍼티즈 컴파니 진동 감지 접촉 입력 장치
KR20090002537A (ko) * 2007-07-02 2009-01-09 (주)나노티에스 터치 좌표인식 방법 및 이를 수행하기 위한 터치스크린장치

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