KR101352570B1 - Method for transferring substrates and facility for treating substrates - Google Patents
Method for transferring substrates and facility for treating substrates Download PDFInfo
- Publication number
- KR101352570B1 KR101352570B1 KR1020070003824A KR20070003824A KR101352570B1 KR 101352570 B1 KR101352570 B1 KR 101352570B1 KR 1020070003824 A KR1020070003824 A KR 1020070003824A KR 20070003824 A KR20070003824 A KR 20070003824A KR 101352570 B1 KR101352570 B1 KR 101352570B1
- Authority
- KR
- South Korea
- Prior art keywords
- substrate
- substrates
- slots
- arm portion
- arm
- Prior art date
Links
Images
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/67—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
- H01L21/677—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for conveying, e.g. between different workstations
- H01L21/67739—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for conveying, e.g. between different workstations into and out of processing chamber
- H01L21/67742—Mechanical parts of transfer devices
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/67—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
- H01L21/677—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for conveying, e.g. between different workstations
- H01L21/67763—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for conveying, e.g. between different workstations the wafers being stored in a carrier, involving loading and unloading
- H01L21/67769—Storage means
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/67—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
- H01L21/683—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for supporting or gripping
- H01L21/687—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for supporting or gripping using mechanical means, e.g. chucks, clamps or pinches
- H01L21/68707—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for supporting or gripping using mechanical means, e.g. chucks, clamps or pinches the wafers being placed on a robot blade, or gripped by a gripper for conveyance
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Manufacturing & Machinery (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Power Engineering (AREA)
- Robotics (AREA)
- Container, Conveyance, Adherence, Positioning, Of Wafer (AREA)
Abstract
본 발명은 반도체 기판을 이송하는 방법에 관한 것이다. 본 발명에 따른 기판 처리 방법은 복수의 핸드부를 가지는 기판이송장치를 구비하여, 상기 기판이송장치가 기판들을 수납하는 수납용기의 슬롯에 안착된 기판들을 동시에 이송함으로써 기판 이송의 처리량을 향상시킨다. 특히, 상기 기판이송장치는 상기 핸드부의 수보다 적은 수의 슬롯에 기판이 놓여진 경우에도 상기 기판의 로딩 및 언로딩을 수행함으로써, 기판 이송의 처리량을 향상시킨다.
반도체, 기판, 웨이퍼, 이송, 로딩, 언로딩, 로봇암, 기판이송장치
The present invention relates to a method of transferring a semiconductor substrate. The substrate processing method according to the present invention includes a substrate transfer apparatus having a plurality of hand portions, and the substrate transfer apparatus simultaneously transfers the substrates seated in the slots of the storage container accommodating the substrates, thereby improving the throughput of substrate transfer. In particular, the substrate transfer apparatus improves the throughput of substrate transfer by performing loading and unloading of the substrate even when the substrate is placed in fewer slots than the number of the hand portions.
Semiconductor, Substrate, Wafer, Transfer, Loading, Unloading, Robot Arm, Substrate Transfer Device
Description
도 1은 본 발명에 따른 기판 이송 장치가 사용된 기판 처리 설비의 일 예를 보여주는 도면이다.1 is a view showing an example of a substrate processing apparatus using a substrate transfer apparatus according to the present invention.
도 2 및 도 3은 도 1에 도시된 기판 이송 장치의 일 예를 보여주는 사시도 및 정면도이다.2 and 3 are a perspective view and a front view showing an example of the substrate transfer apparatus shown in FIG.
도 4는 본 발명에 따른 기판 처리 방법을 보여주는 순서도이다.4 is a flowchart showing a substrate processing method according to the present invention.
도 5는 본 발명에 따른 기판 이송 장치가 기판을 로딩 및 언로딩하는 과정을 보여주는 순서도이다.5 is a flowchart illustrating a process of loading and unloading a substrate by the substrate transfer apparatus according to the present invention.
*도면의 주요 부분에 대한 부호 설명*Description of the Related Art [0002]
10 : 공정모듈10: process module
20 : 이송모듈20: transfer module
26 : 기판이송장치26: substrate transfer device
30 : 수납용기30: storage container
100 : 베이스100: base
210, 230 : 제1 이송부210, 230: first transfer part
220, 240 : 제2 이송부220, 240: second transfer unit
본 발명은 기판을 이송하는 방법에 관한 것으로, 보다 상세하게는 반도체 기판을 이송하는 방법을 처리하는 방법에 관한 것이다.The present invention relates to a method for transferring a substrate, and more particularly, to a method for processing a method for transferring a semiconductor substrate.
반도체 제조 공정은 반도체 기판(이하, '웨이퍼'라 함) 상에 증착, 식각, 도포, 이온주입, 현상, 노광, 그리고 세정 공정 등을 연속적 또는 선택적으로 수행하여 반도체 집적회로 칩을 생산하는 공정이다. 반도체 제조 공정시 웨이퍼들은 상술한 공정을 수행하는 장치들 상호간에 이송된다. 이때, 대기중의 이물질이나 화학적인 오염으로부터 웨이퍼들을 보호하기 위해, 웨이퍼들은 카세트(Cassette)와 같은 수납부재에 의해 복수개가 수납되어 이동된다. 또한, 완전한 자동화 시스템에 의해 반도체 칩이 제조됨에 따라, 상술한 공정이 수행되는 공정모듈과 상기 수납용기 상호간에는 웨이퍼의 인터페이스 역할을 수행하는 설비전방종단모듈(EFEM:equipment front end module, 이하 "이에프이엠"이라 함)이 설치된다. The semiconductor manufacturing process is a process for producing a semiconductor integrated circuit chip by continuously or selectively performing deposition, etching, coating, ion implantation, development, exposure, and cleaning processes on a semiconductor substrate (hereinafter referred to as a "wafer"). . In the semiconductor manufacturing process, wafers are transferred between devices performing the above-described process. At this time, in order to protect the wafers from foreign substances or chemical contamination in the air, a plurality of wafers are accommodated and moved by a receiving member such as a cassette. In addition, as a semiconductor chip is manufactured by a complete automation system, an equipment front end module (EFEM), which serves as an interface of a wafer, serves as an interface between a process module and the receiving container. M ") is installed.
상술한 이에프이엠 내에는 수납용기와 공정 모듈 상호간에 웨이퍼를 이송하는 기판 이송 장치가 설치된다. 기판 이송 장치로는 보통 로봇암이 사용된다. 일반적으로 사용되는 로봇암은 하나의 아암(arm)을 가진다. 아암은 낱장의 웨이퍼가 놓여지는 하나의 핸드부와 이에 연결되어 핸드부를 이동시키는 로드부를 가진다. 상술한 기판 이송 장치는 공정시 로드부가 핸드부를 동작시켜 낱장의 웨이퍼들을 순차적으로 이동시킨다. 그러나, 상술한 기판 이송 장치는 웨이퍼들을 한 장씩 이송 하므로 수납용기와 공정모듈 상호간에 기판의 이송 시간이 길어 단위 시간당 기판 이송의 처리량이 적다는 문제점이 있다.In the above-described EMPM, a substrate transfer device for transferring a wafer between the storage container and the process module is provided. As the substrate transfer device, a robot arm is usually used. Commonly used robotic arms have one arm. The arm has one hand portion on which a sheet of wafer is placed and a rod portion connected thereto to move the hand portion. In the above-described substrate transfer apparatus, the rod unit operates the hand unit during the process to sequentially move the sheets of wafers. However, the above-described substrate transfer apparatus transfers wafers one by one, so that the transfer time of the substrate is long between the storage container and the process module, thereby reducing the throughput of substrate transfer per unit time.
상술한 문제점을 해결하기 위해 본 발명은 기판 이송의 처리량을 향상시키는 기판 처리 방법을 제공하는 것을 목적으로 한다.In order to solve the above problems, an object of the present invention is to provide a substrate processing method for improving the throughput of substrate transfer.
상술한 목적을 달성하기 위한 본 발명에 따른 기판 이송 방법은 기판을 안착시키는 복수의 핸드부들을 가지는 기판이송장치를 사용하여 기판이 놓여지는 복수의 슬롯들이 구비된 수납용기로/로부터 기판을 로딩 및 언로딩하되, 상기 기판이송장치는 상기 핸드부의 수보다 적은 수의 슬롯에 기판이 놓여진 경우에도 상기 기판의 로딩 및 언로딩을 수행한다.A substrate transfer method according to the present invention for achieving the above object uses a substrate transfer device having a plurality of hand portions for seating the substrate to load and load the substrate into / from a storage container having a plurality of slots in which the substrate is placed. The substrate transfer apparatus performs loading and unloading of the substrate even when the substrate is placed in fewer slots than the number of the hand portions.
본 발명의 실시예에 따르면, 상기 기판이송장치는 각각 두 개의 상기 핸드부를 구비하는 제1 아암 및 제2 아암을 포함하되, 상기 제1 아암 및 상기 제2 아암 중 어느 하나는 기판의 로딩을 수행하고, 상기 제1 아암 및 상기 제2 아암 중 다른 하나는 기판의 언로딩을 수행한다.
또한, 본 발명은 기판 처리 설비를 제공한다. 상기 기판 처리 설비는 기판이 서로 간에 상하 방향으로 일정 거리 이격되어 수납되도록 슬롯들이 형성된 수납용기가 놓여지는 로드포트, 공정 모듈, 그리고 상기 로드포트에 놓인 상기 수납용기와 상기 공정 모듈 간에 기판을 이송하는 이송 모듈을 포함한다. 상기 공정 모듈에는 기판이 서로 간에 상하 방향으로 일정 거리 이격되어 수납되도록 슬롯들이 형성된 대기 부재가 제공되고, 상기 이송 모듈은 기판을 안착시키는 복수의 핸드부들을 가지는 기판이송장치와 상기 기판이송장치의 웨이퍼의 이송을 제어하는 제어기를 포함한다. 상기 제어기는 상기 수납용기 또는 상기 대기부재로부터 기판을 로딩 또는 언로딩할 때, 상기 핸드부의 수보다 적은 수의 상기 슬롯에 기판이 놓여진 경우에상기 슬롯에 놓여진 기판들을 로딩 또는 언로딩하는 단일처리 모드와 상기 핸드부의 수와 동일한 수의 상기 슬롯에 기판이 놓여진 경우에 상기 슬롯에 놓여진 기판들을 동시에 로딩 또는 언로딩하는 복수처리 모드를 가진다.
일 예에 의하면, 상기 기판 이송 장치는 베이스, 상기 베이스에 결합되는 제1아암부 및 제2아암부를 구비하고, 상기 제1아암부와 상기 제2아암부 중 하나 또는 모두는 상기 핸드부를 복수 개 구비하고, 상기 제어기는 기판의 언로딩은 상기 제1아암부에 의해 이루어지고, 기판의 로딩은 상기 제2아암부에 의해 이루어지도록 제어한다.
다른 예에 의하면, 상기 기판 이송 장치는 베이스, 상기 베이스에 결합되는 제1아암부 및 제2아암부를 구비하고, 상기 제1아암부와 상기 제2아암부 중 하나는 상기 핸드부를 복수 개 구비하고, 다른 하나는 상기 핸드부를 하나만 구비하고, 상기 제어기는 기판의 언로딩은 상기 제1아암부에 의해 이루어지고, 기판의 로딩은 상기 제2아암부에 의해 이루어지도록 제어한다.According to an embodiment of the present invention, the substrate transfer apparatus includes a first arm and a second arm each having two hand parts, wherein one of the first arm and the second arm performs loading of the substrate. And the other of the first arm and the second arm performs unloading of the substrate.
The present invention also provides a substrate processing facility. The substrate processing facility transfers a substrate between a load port, a process module, and a storage container placed on the load port, and a process module, in which a storage container having slots is placed so as to be stored at a predetermined distance from each other in a vertical direction. It includes a transfer module. The process module is provided with a standby member in which slots are formed so that the substrates are spaced apart by a predetermined distance from each other in a vertical direction, and the transfer module includes a substrate transfer device having a plurality of hand portions for seating the substrate and a wafer of the substrate transfer device. It includes a controller for controlling the transfer of. The controller loads or unloads the substrates placed in the slots when the substrates are placed in the slots less than the number of the hand portions when loading or unloading the substrates from the storage container or the waiting member. And a plurality of processing modes for simultaneously loading or unloading the substrates placed in the slots when the substrates are placed in the same number of slots as the number of the hand portions.
In one embodiment, the substrate transfer apparatus includes a base, a first arm portion and a second arm portion coupled to the base, and one or both of the first arm portion and the second arm portion have a plurality of hand portions. And the controller controls unloading of the substrate by the first arm and loading of the substrate by the second arm.
In another example, the substrate transfer apparatus includes a base, a first arm portion and a second arm portion coupled to the base, and one of the first arm portion and the second arm portion includes a plurality of the hand portions. The other is provided with only one hand part, and the controller controls the unloading of the substrate to be made by the first arm part and the loading of the substrate to be made by the second arm part.
이하, 본 발명의 실시예를 첨부된 도면들을 참조하여 보다 상세히 설명한다. 본 발명의 실시예는 여러 가지 형태로 변형될 수 있으며, 본 발명의 범위가 아래에서 상술하는 실시예로 인해 한정되어 지는 것으로 해석돼서는 안 된다. 본 실시예는 당업계에서 평균적인 지식을 가진 자에게 본 발명을 더욱 완전하게 설명하기 위해서 제공된 것이다. 따라서 도면에서의 요소의 형상은 더욱 명확한 설명을 강조하 기 위해서 과장된 것이다. 또한, 본 발명의 실시예에서는 반도체 기판을 이송하는 장치를 예로 들어 설명하였으나, 본 발명은 평판 디스플레이 제조에 사용되는 유리 기판을 이송하는 장치에도 적용이 가능하다.Hereinafter, embodiments of the present invention will be described in more detail with reference to the accompanying drawings. Embodiment of the present invention may be modified in various forms, the scope of the present invention should not be construed as being limited by the embodiments described below. This example is provided to more fully explain the present invention to those skilled in the art. Therefore, the shape of the elements in the drawings are exaggerated to emphasize a more clear description. In addition, although the embodiment of the present invention has been described with an apparatus for transferring a semiconductor substrate as an example, the present invention is also applicable to an apparatus for transferring a glass substrate used for manufacturing a flat panel display.
(실시예)(Example)
도 1은 본 발명에 따른 기판 이송 장치가 사용된 기판 처리 설비의 일 예를 보여주는 도면이고, 도 2 및 도 3은 도 1에 도시된 기판 이송 장치의 일 예를 보여주는 사시도 및 정면도이다.1 is a view showing an example of a substrate processing apparatus using a substrate transfer apparatus according to the present invention, Figures 2 and 3 are a perspective view and a front view showing an example of the substrate transfer apparatus shown in FIG.
도 1을 참조하면, 기판 처리 설비(facility for treating substrate)(1)는 공정 모듈(process module)(10)과 이송 모듈(transfer module)(20)을 가진다. 일 예에 의하면, 공정 모듈(10)은 세정 공정을 수행하는 모듈이다. 공정 모듈(10)은 웨이퍼들을 약액 세정, 세척, 그리고 건조 공정과 같은 일련의 공정을 연속적으로 수행하는 적어도 하나의 공정챔버(process chamber)(도시되지 않음)를 구비한다. 예컨대, 상기 공정챔버는 매엽식으로 기판(이하, '웨이퍼'라 함)을 세정하는 장치이다. 상기 공정챔버는 하우징(housing), 스핀척(spin chuck), 그리고 노즐(nozzle)을 구비한다. 하우징은 내부에 웨이퍼를 세정하는 공간을 제공하고, 스핀척은 공정시 하우징 내부에서 웨이퍼를 지지 및 회전한다. 그리고, 노즐은 상기 스핀척에 의해 회전되는 웨이퍼 표면으로 세정액을 분사하여 웨이퍼를 세정한다.Referring to FIG. 1, a facility for treating
공정 모듈(10)의 일측에는 웨이퍼를 수납하는 용기(이하, '수납용기'라 함)(30)와 공정 모듈(10) 간에 웨이퍼를 이송하는 이송 모듈(20)이 설치된다. 일 예에 의하면, 이송 모듈(20)로는 수납용기(30)와 공정 모듈(10) 간에 인터페이스 기능을 수행하는 설비 전방 단부 모듈(equipment front end module)이 사용될 수 있다. 이송 모듈(20)은 프레임(frame)(22), 로드 포트(load port)(24), 그리고 기판 이송 장치(apparatus for treating substrate)(26)를 가진다. 프레임(22)은 직육면체의 형상을 가진다. 공정 모듈(10)과 인접하는 후면에는 프레임(22)과 공정 모듈(10)간 웨이퍼가 이송되는 통로인 개구가 제공된다. One side of the
프레임(22)의 후면과 대향되는 전면(front face)의 일측에는 수납용기(30)가 놓여지는 로드 포트(24)가 설치된다. 로드 포트(24)는 하나 또는 복수개 설치될 수 있다. 수납용기(30)는 이송 중에 대기중의 이물이나 화학적인 오염으로부터 웨이퍼를 보호하기 위해 전방 개방 일체식 포드(front open unified pod, FOUP)와 같은 밀폐형 수납용기(30)가 사용될 수 있다. 웨이퍼는 수납용기(30) 내에 수평 상태로 수납되며, 수납용기(30) 내에는 웨이퍼들이 서로 간에 상하방향으로 일정거리 이격되어 수납되도록 슬롯들(도시되지 않음)이 형성된다. 수납용기(30)는 오버헤드 트랜스퍼(overhead transfer), 오버헤드 컨베이어(overhead conveyor), 또는 자동 안내 차량(automatic guided vehicle: AGV 혹은 RGV)과 같은 이송 시스템(도시되지 않음)에 의해 로드 포트(24) 상에 놓인다. 프레임(22) 내에는 로드 포트(24)에 놓인 수납용기(30)의 도어(door)를 자동으로 개폐하는 개폐기(opener)(28)가 설치될 수 있다. 그리고, 프레임(22) 내에는 수납용기(30)로부터 공정 모듈(10)로 웨이퍼들을 이송하는 기판 이송 장치(26)가 위치된다.A
또한, 공정 모듈(10)에는 대기 부재(미도시됨)가 제공된다. 대기 부재는 수 납용기(30)로부터 이송받은 웨이퍼들을 상술한 공정이 수행되기 전에 대기시키기 위해 제공된다. 대기 부재의 구조는 대체로 수납용기(30)의 구조와 유사할 수 있다. 즉, 대기 부재는 수납용기(30)의 슬롯들과 동일한 구조의 슬롯들을 구비하여, 슬롯들에 웨이퍼들을 상하로 적층시켜 지지한다. 따라서, 수납용기(30)로부터 이송받은 웨이퍼들은 대기 부재의 슬롯들에 수납되어 대기한다. 또한, 공정이 완료된 웨이퍼들은 다시 대기 부재의 슬롯들에 수납된다.In addition, the
본 실시예에서는 공정 모듈(10)이 세정 공정을 수행하는 경우를 예로 들어 설명하였으나, 공정 모듈(10)은 다양한 기판 처리 공정을 수행할 수 있다. 예컨대, 본 발명의 다른 예에 의하면, 공정 모듈(10)은 포토리소그래피 공정을 수행하는 모듈이고, 공정 모듈(10) 내에는 도포, 현상, 그리고 노광 공정과 같은 일련의 공정을 연속적으로 수행하는 유닛들(도시되지 않음)이 제공될 수 있다. 선택적으로 공정 모듈(10)은 식각이나 증착 공정 등과 같은 단일 공정을 수행하는 챔버일 수 있다.In the present exemplary embodiment, the
계속해서, 본 발명에 따른 기판 이송 장치(26)의 구성을 상세히 설명한다. 도 2 및 도 3을 참조하면, 기판 이송 장치(26)는 베이스(base)(100), 제 1아암부(first arm member)(230), 제 2아암부(second arm member)(240), 구동기(driving part)(도시되지 않음), 그리고 제어기(controller)(도시되지 않음)를 가진다. 제 1아암부(230) 및 제 2아암부(240)는 각각 베이스(100)에 결합 설치된다. 제 1아암부(230)는 수납용기(30)로부터 웨이퍼를 꺼낼 때 사용되고, 제 2아암부(240)는 수납용기(30)로 웨이퍼를 수납할 때 사용된다. 이하, 수납용기(230)로부터 웨이퍼를 꺼내는 과정을 웨이퍼 언로딩(unloading)이라 하고, 수납용기(30)로 웨이퍼를 수납하는 과정을 웨이퍼 로딩(loading)이라 한다. 제1 아암부(230) 및 제 2아암부(240)는 구동기에 의해 구동되고, 제어기는 구동기의 제1 및 제2 아암부(230, 240)의 구동을 제어한다.Then, the structure of the board |
제 1아암부(230)와 제 2아암부(240)는 각각 하나의 아암(230a, 240a)을 가진다. 각각의 아암(230a, 240a)은 복수의 핸드부(232)들, 상기 핸드부(232)들을 고정시키는 브라켓(236), 그리고 브라켓(236)에 연결되어 이를 이동시키는 로드부(234)를 가진다. 상술한 구조로 인해 각각의 아암(230a, 240a)에 제공된 핸드부(232)들은 동시에 이동된다. 핸드부(232)들은 서로 상하 방향으로 평행하게 배치된다. 핸드부(232)들 간의 수직거리는 수납용기(30)에 수납된 웨이퍼들간의 수직거리와 동일하게 배치된다.The
도 2 및 도 3에 도시된 바와 같이, 제 1아암부(230)와 제 2아암부(240)는 각각 복수의 핸드부(232)들이 제공된 하나의 아암을 구비한다. 선택적으로 제 1아암부(230)와 제 2아암부(240) 중 어느 하나만이 복수의 핸드부(232)들이 제공된 아암을 구비하고, 다른 하나는 하나의 핸드부(232)가 제공된 아암을 구비할 수 있다. 또한, 선택적으로 제 1아암부(230)와 제 2아암부(240) 각각은 복수의 핸드부(232)들이 제공된 아암을 복수 개 구비할 수 있다. 또한, 본 실시예에서는 제 1아암부(230) 및 제 2아암부(240)가 두 개의 핸드부(232)를 가지는 구성을 예로 들어 설명하였으나, 제 1아암부(230) 및 제 2아암부(240)는 세 개 이상의 핸드부(232)를 구비할 수도 있다.2 and 3, the
제어기는 구동기를 제어하여 제 1아암부(230)와 제 2아암부(240)의 이동을 조절한다. 또한, 제어기는 수납용기(30)의 각각의 슬롯들에 웨이퍼가 안착되어있는지 여부를 판단한다. 따라서, 제어기는 수납용기(30) 내 슬롯들의 웨이퍼의 유무를 판단하여 기판 이송 장치(26)의 웨이퍼 이송을 제어한다. 제어기는 웨이퍼의 로딩 과정시 제 1아암부(230)에 의해 이루어지고 웨이퍼의 언로딩 과정은 제 2아암부(240)에 의해 이루어지도록 구동기를 제어한다. The controller controls the driver to adjust the movement of the
여기서, 동일한 아암을 웨이퍼 로딩 및 웨이퍼 언로딩에 사용하는 경우, 공정 전 웨이퍼 언로딩 과정에서 아암에 부착된 오염물질이 공정 후 웨이퍼 로딩 과정에서 웨이퍼에 부착될 수 있다. 따라서 본 실시예에 의하면, 제어기(도시되지 않음)는 웨이퍼 로딩 및 웨이퍼 언로딩이 서로 상이한 아암에 의해 이루어지도록 구동기(도시되지 않음)를 제어한다. 그러므로, 공정 전 웨이퍼 이송에 사용되는 아암부와 공정 후 웨이퍼 이송에 사용된 아암부를 분리함으로써 공정 후 웨이퍼 로딩 과정에서 발생될 수 있는 웨이퍼 재오염을 방지할 수 있다.Here, when the same arm is used for wafer loading and wafer unloading, contaminants attached to the arm in the wafer unloading process before the process may be attached to the wafer in the wafer loading process after the process. Thus, according to this embodiment, a controller (not shown) controls the driver (not shown) such that wafer loading and wafer unloading are made by different arms from each other. Therefore, by separating the arm portion used for the wafer transfer before the process and the arm portion used for the wafer transfer after the process, it is possible to prevent wafer recontamination that may occur during the wafer loading process after the process.
이하, 상술한 구성을 가지는 기판 처리 설비(1)의 공정 과정을 상세히 설명한다. 여기서, 상술한 구성들과 동일한 구성들의 참조번호는 동일하게 병기하고, 그 구성들에 대한 상세한 설명은 생략한다.Hereinafter, the process of the
도 4는 본 발명에 따른 기판 처리 방법을 보여주는 순서도이고, 도 5는 본 발명에 따른 기판 이송 장치가 기판을 로딩 및 언로딩하는 과정을 보여주는 순서도이다. 도 4를 참조하면, 기판 처리 공정이 개시되면, 상기 이송 시스템(미도시됨)에 의해 로드 포트(24)에 수납용기(30)가 안착된다(S110). 수납용기(30)가 로드 포 트(24)에 안착되면, 개폐기(28)에 의해 수납용기(30)의 도어(door)(미도시됨)가 오픈되고, 기판 이송 장치(26)는 수납용기(30) 내 웨이퍼를 공정모듈(10)로 이송한다(S20). 즉, 기판 이송 장치(26)는 수납용기(30)의 슬롯들에 놓여지는 웨이퍼들을 언로딩한 후 공정모듈(10)에 제공되는 대기부재(미도시됨)의 슬롯들에 웨이퍼들을 로딩한다. 공정모듈(10)의 대기부재에 로딩된 웨이퍼들은 공정챔버로 이송되어 웨이퍼 처리 공정이 수행된다(S30). 상기 처리 공정은 웨이퍼 표면에 잔류하는 이물질이 제거하는 세정 공정이다. 세정 공정이 완료되면, 기판 이송 장치(26)는 공정모듈(10)로부터 수납용기(30)로 세정 공정이 완료된 웨이퍼들을 이송한다(S40). 즉, 기판 이송 장치(26)는 공정모듈(10)의 대기부재의 슬롯들에 놓여진 웨이퍼들을 언로딩한 후 수납용기(30)의 슬롯들에 로딩한다. 공정이 수행된 웨이퍼들이 모두 수납용기(30)에 회수되면, 수납용기(30)는 상술한 이송 시스템(미도시됨)에 의해 로드 포트(24)로부터 후속 공정이 수행되는 설비로 반송된다(S50).4 is a flowchart illustrating a substrate processing method according to the present invention, and FIG. 5 is a flowchart illustrating a process of loading and unloading a substrate by the substrate transfer apparatus according to the present invention. Referring to FIG. 4, when the substrate treating process is started, the
상술한 기판 처리 공정이 수행되는 과정에서, 기판 이송 장치(26)는 다음과 같은 방식으로 기판을 로딩 및 언로딩한다. 즉, 도 5를 참조하면, 상술한 스텝(S20, S40)이 수행되는 과정에서 기판의 언로딩이 개시되면, 기판 이송 장치(26)의 제어기는 수납용기(30) 또는 대기부재에 제공되는 슬롯들에 적어도 하나의 기판이 놓여져 있는지를 판단한다(S22). 이때, 수납용기(30) 또는 대기부재의 슬롯에 하나의 기판이 놓여져 있으면, 기판 이송 장치(26)은 단일처리 모드로 웨이퍼를 이송한다(S24). 상기 단일처리 모드는 기판 이송 장치(26)가 수납용기(30)의 슬롯에 놓여진 하나의 웨이퍼(W)를 언로딩한 후 목적지(대기부재 또는 수납용기)로 이송하 는 기판 이송 장치(26)의 기설정된 공정모드이다. 이와 반대로, 수납용기(30) 또는 대기부재의 슬롯에 두 개의 웨이퍼가 놓여져 있으면(S26), 기판 이송 장치(26)는 복수처리 모드로 웨이퍼를 이송한다(S28). 상기 복수처리 모드는 기판 이송 장치(26)의 제1 아암부(230)가 수납용기(30)의 슬롯에 놓여진 두 개의 웨이퍼(W)를 언로딩한 후 목적지(대기부재 또는 수납용기)로 이송하는 기판 이송 장치(26)의 기설정된 공정모드이다.In the process of performing the above-mentioned substrate processing process, the
상술한 기판 이송 장치(26)의 제 1아암부(230)가 수납용기(30) 및 대기부재로부터 웨이퍼를 언로딩시키는 과정에서 제 2아암부(240)는 웨이퍼를 수납용기(30) 및 대기부재에 웨이퍼를 로딩시킬 수 있다. 즉, 제1 아암부(230)가 수납용기(30)의 슬롯으로부터 웨이퍼를 언로딩하면, 제 2아암부(240)는 수납용기(30)의 다른 슬롯으로 웨이퍼를 로딩시킬 수 있다. 또는, 제 1 아암부(230)가 수납용기(30)의 슬롯으로 웨이퍼를 로딩하면, 제 2아암부(240)는 수납용기(30)의 다른 슬롯으로부터 웨이퍼를 언로딩할 수도 있다.In the process where the
상술한 바와 같이, 본 발명에 따른 기판 처리 방법은 공정시 아암에 복수의 핸드부(232)들이 제공되므로, 수납용기(30) 내에서 웨이퍼 전체를 언로딩하거나 수납용기(30)로 웨이퍼 전체를 로딩하는 데 소용되는 시간을 단축한다. 특히, 본 발명에 따른 기판 처리 방법은 언로딩하고자 하는 슬롯들에 핸드부(232)의 수보다 적은 수의 웨이퍼가 안착되어 있는 경우에도 기판 이송 장치(26)의 웨이퍼 로딩 및 언로딩이 수행되므로, 웨이퍼를 이송하는 시간을 단축한다.As described above, in the substrate processing method according to the present invention, since a plurality of
이상의 상세한 설명은 본 발명을 예시하는 것이다. 또한, 전술한 내용은 본 발명의 바람직한 실시 형태를 나타내고 설명하는 것이며, 본 발명은 다양한 다른 조합, 변경 및 환경에서 사용할 수 있다. 즉, 본 명세서에 개시된 발명의 개념의 범위, 저술한 개시 내용과 균등한 범위 및/또는 당업계의 기술 또는 지식의 범위 내에서 변경 또는 수정이 가능하다. 전술한 실시예는 본 발명의 기술적 사상을 구현하기 위한 최선의 상태를 설명하는 것이며, 본 발명과 같은 다른 발명을 이용하는데 당업계에 알려진 다른 상태로의 실시, 그리고 발명의 구체적인 적용 분야 및 용도에서 요구되는 다양한 변경도 가능하다. 따라서, 이상의 발명의 상세한 설명은 개시된 실시 상태로 본 발명을 제한하려는 의도가 아니다. 또한 첨부된 청구범위는 다른 실시 상태도 포함하는 것으로 해석되어야 한다.The foregoing detailed description is illustrative of the present invention. In addition, the foregoing description shows and describes preferred embodiments of the present invention, and the present invention can be used in various other combinations, modifications, and environments. That is, it is possible to make changes or modifications within the scope of the concept of the invention disclosed in this specification, the disclosure and the equivalents of the disclosure and / or the scope of the art or knowledge of the present invention. The above-described embodiments illustrate the best state for implementing the technical idea of the present invention, the use of other inventions such as the present invention in other state known in the art, and the specific fields of application and uses of the invention. Various changes required are also possible. Accordingly, the foregoing description of the invention is not intended to limit the invention to the precise embodiments disclosed. It is also to be understood that the appended claims are intended to cover such other embodiments.
상술한 바와 같이, 본 발명에 따른 기판 처리 방법은 공정시 복수의 기판들을 동시에 이송할 수 있어 기판 이송의 처리량을 향상시킨다. 특히, 본 발명은 기판 이송 장치의 핸드부의 수보다 적은 수의 슬롯들에 웨이퍼가 안착되어 있는 경우에도 기판의 이송을 수행함으로써, 기판 이송의 처리량을 향상시킨다.As described above, the substrate processing method according to the present invention can simultaneously transfer a plurality of substrates in the process to improve the throughput of substrate transfer. In particular, the present invention improves the throughput of substrate transfer by performing the transfer of the substrate even when the wafer is seated in fewer slots than the number of the hand portions of the substrate transfer apparatus.
Claims (5)
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020070003824A KR101352570B1 (en) | 2007-01-12 | 2007-01-12 | Method for transferring substrates and facility for treating substrates |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020070003824A KR101352570B1 (en) | 2007-01-12 | 2007-01-12 | Method for transferring substrates and facility for treating substrates |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR20080066403A KR20080066403A (en) | 2008-07-16 |
KR101352570B1 true KR101352570B1 (en) | 2014-01-16 |
Family
ID=39821282
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1020070003824A KR101352570B1 (en) | 2007-01-12 | 2007-01-12 | Method for transferring substrates and facility for treating substrates |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
KR (1) | KR101352570B1 (en) |
Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR100188453B1 (en) | 1991-09-17 | 1999-06-01 | 다카시마 히로시 | Transportation-transfer device for an object of treatment |
KR19990035700U (en) * | 1998-02-06 | 1999-09-15 | 구본준 | Wafer Loading Device of Deposition Equipment |
KR20040098329A (en) * | 2003-05-14 | 2004-11-20 | 삼성전자주식회사 | Transfer apparatus and method for unloading semiconductor devices from a container |
KR20060022146A (en) * | 2004-09-06 | 2006-03-09 | 삼성전자주식회사 | Wafer loading robot used for semiconductor manufacturing apparatus |
-
2007
- 2007-01-12 KR KR1020070003824A patent/KR101352570B1/en active IP Right Grant
Patent Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR100188453B1 (en) | 1991-09-17 | 1999-06-01 | 다카시마 히로시 | Transportation-transfer device for an object of treatment |
KR19990035700U (en) * | 1998-02-06 | 1999-09-15 | 구본준 | Wafer Loading Device of Deposition Equipment |
KR20040098329A (en) * | 2003-05-14 | 2004-11-20 | 삼성전자주식회사 | Transfer apparatus and method for unloading semiconductor devices from a container |
KR20060022146A (en) * | 2004-09-06 | 2006-03-09 | 삼성전자주식회사 | Wafer loading robot used for semiconductor manufacturing apparatus |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
KR20080066403A (en) | 2008-07-16 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US9305818B2 (en) | Substrate processing apparatus | |
US8079797B2 (en) | Substrate processing system and substrate transfer method | |
US6769855B2 (en) | Substrate processing apparatus and substrate processing method | |
US11139192B2 (en) | Substrate treating apparatus and substrate transporting method | |
JP2011049585A (en) | Substrate carrying device and method | |
JP2010219434A (en) | Substrate processing apparatus | |
US11251060B2 (en) | Substrate treating apparatus, carrier transporting method, and carrier buffer device | |
KR20180020902A (en) | Substrate processing apparatus and substrate processing method | |
KR20070056416A (en) | Apparatus and method for transferring substrates | |
JP5758509B2 (en) | Substrate processing method and substrate processing apparatus | |
JP2006261548A (en) | Substrate processing equipment | |
KR101352570B1 (en) | Method for transferring substrates and facility for treating substrates | |
KR101817216B1 (en) | Apparatus and method for treating a substrate | |
KR100521401B1 (en) | System for wafer cleaning | |
KR20050034139A (en) | Method and apparatus for wafer cleaning | |
US20030051972A1 (en) | Automated immersion processing system | |
KR100555893B1 (en) | Apparatus for wafer cleaning | |
KR20080023587A (en) | Apparatus for wafer cleaning | |
JP4522295B2 (en) | Substrate processing equipment | |
JP2544056Y2 (en) | Wafer surface treatment equipment | |
JP6195601B2 (en) | Substrate processing method and substrate processing apparatus | |
KR100625308B1 (en) | Apparatus for cleaning substrates | |
JP5852219B2 (en) | Substrate processing method and substrate processing apparatus | |
JP2541887Y2 (en) | Wafer surface treatment equipment | |
JP2002329703A (en) | Substrate cleansing device and method |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A201 | Request for examination | ||
E902 | Notification of reason for refusal | ||
E701 | Decision to grant or registration of patent right | ||
GRNT | Written decision to grant | ||
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20170111 Year of fee payment: 4 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20180104 Year of fee payment: 5 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20190108 Year of fee payment: 6 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20191231 Year of fee payment: 7 |