KR101335604B1 - 발광다이오드의 신뢰성 평가 장치 - Google Patents
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Abstract
본 발명은 발광다이오드(Light Emitting Diode, LED)의 신뢰성 평가 장치에 관한 것으로, 더욱 상세하게는 발광다이오드를 가열 또는 냉각하는 구역과 발광다이오드의 전기적 또는 광학적 특성을 측정하는 구역을 분리하여, 발광다이오드의 가열 또는 냉각 전·후 특성 측정 조건을 동일하게 유지하여, 발광다이오드의 특성을 정확하게 측정하는 발광다이오드 특성 신뢰성 장치에 관한 것으로, 발광다이오드(Light Emitting Diode, LED)의 온도특성을 측정하기 위해 발광다이오드를 가열 또는 냉각하는 챔버, 챔버 외부에 구비되고, 발광다이오드의 전기적 또는 광학적 특성을 측정하는 측정부, 발광다이오드를 측정부에서 챔버로 또는 챔버에서 측정부로 이동시키는 스테이지, 스테이지에 구비된 발광다이오드에 전원을 공급하는 전원 공급부, 측정부에서 측정된 전기적, 광학적 특성 데이터를 저장하는 데이터 저장부, 챔버, 측정부, 스테이지 또는 전원 공급부를 제어하고, 측정부에서 측정된 전기적, 광학적 특성 데이터를 데이터 저장부에 저장하는 제어부를 포함하는 것을 특징으로 한다.
Description
본 발명은 발광다이오드(Light Emitting Diode, LED)의 신뢰성 평가 장치에 관한 것으로, 더욱 상세하게는 발광다이오드를 가열 또는 냉각하는 구역과 발광다이오드의 전기적 또는 광학적 특성을 측정하는 구역을 분리하여, 발광다이오드의 가열 또는 냉각 전·후 특성 측정 조건을 동일하게 유지하여, 측정부의 온도에 따른 영향을 배제한 체 발광다이오드의 특성만을 정확하게 측정하는 발광다이오드 특성 신뢰성 장치에 관한 것이다.
발광다이오드는 반도체의 p-n접합을 이용하여 순방향으로 전압을 가하면 n영역에 있는 전자(Electron)가 p영역의 정공(Hole)과 만나서 재결하면서 발광을 일으킨다. 발광다이오드의 전력소비는 백열전구의 20%에 불과하고, 수명은 형광등의 100배인 10만 시간에 달한다. 또한, 발광다이오드는 자외선 또는 적외선을 포함하지 않는 빛을 발산하는 장점을 가진다. 이러한 장점으로 인해 발광다이오드는 단말기용 조명, 휴대폰의 액정표시장치, 자동차 장식 조명 등 전자기기 분야에서 응용되고 있다.
그러나, 발광다이오드는 p-n접합을 이용한 것이므로, 발광다이오드에 전원전류를 장시간 인가하게 되면, 발광다이오드가 물리적, 화학적 변화를 일으키는 에이징(Aging) 과정이 발생하게 된다.
장시간 전원전류 공급으로 인한 에이징 과정을 측정하기 위한 장치 또는 시스템으로, 챔버에 시료를 넣은 후, 고온 또는 저온의 시험환경을 만들고, 챔버 외부에서 선을 연결하고 전원을 공급하여 장시간 발광다이오드를 발광시킨 후, 일정시간이 지나면 전원 공급을 차단하여, 챔버에서 시료를 꺼내 별도 측정 시스템을 통해 발광다이오드의 특성을 측정하는 장치 또는 시스템이 있다.
그러나, 종래 기술은 챔버와 측정 시스템이 별도로 구비되어 있어, 다수의 시료를 측정하는데 용이하지 않고, 이동하는 동안 발광다이오드의 특성이 변화될 수 있어 정확한 측정이 곤란한 문제점이 있다.
또한, 한국등록특허 제10-0754010호인 ‘발광다이오드 어레이의 광학 및 열 특성 측정 시스템과 이를 이용한 제어방법’은 발광다이오드 어레이를 에이징함과 동시에 실시간으로 광학 및 열 특성의 변화를 측정하는 측정 시스템에 관한 것으로, 발광다이오드 어레이에 전원을 공급하는 전원공급부, 발광다이오드 어레이에서 방출되는 광의 광도를 검출하는 광 측정 챔버, 발광다이오드 어레이의 온도를 측정하는 온도 측정 챔버, 발광다이오드 어레이로의 전원공급을 제어하는 제어부, 제어부에 의해 제어되며, 온도 측정 챔버에 의해 측정된 온도를 제어하는 온도 제어수단으로 이루어짐을 특징으로 한다.
그러나, 광 측정 챔버는 온도에 따라 그 특성이 변화하기 때문에, 광 측정 챔버가 측정박스 내부에 존재하게 되면, 발광다이오드의 특성값의 변화에 대한 데이터에 광 측정 챔버의 특성 변화 데이터가 포함됨으로, 발광다이오드의 특성을 정확하게 측정하는데 곤란한 문제점이 있다.
따라서, 본 발명은 위에서 서술한 문제점을 해결하기 위한 것으로, 다수의 시료를 측정하는데 용이하지 않고, 챔버에서 측정 시스템으로 이동하는 과정에서 발광다이오드의 특성이 변화될 수 있는 문제점을 해결할 수 있는 발광다이오드의 신뢰성 평가 장치를 제공함을 그 목적으로 한다.
또한, 수광 모듈이 온도에 따라 특성이 변화하는 문제점을 해결하고, 발광다이오드 특성 데이터에 수광 모듈의 특성 변화 데이터가 포함되는 문제점을 해결할 수 있는 발광다이오드의 신뢰성 평가 장치를 제공함을 그 목적으로 한다.
위와 같은 목적을 달성하기 위해 본 발명에 따른 발광다이오드의 특성 평가 장치는 발광다이오드(Light Emitting Diode, LED)의 온도특성을 측정하기 위해 발광다이오드를 가열 또는 냉각하는 챔버, 챔버 외부에 구비되고, 발광다이오드의 전기적 또는 광학적 특성을 측정하는 측정부, 발광다이오드를 측정부에서 챔버로 또는 챔버에서 측정부로 이동시키는 스테이지, 스테이지에 구비된 발광다이오드에 전원을 공급하는 전원 공급부, 측정부에서 측정된 전기적, 광학적 특성 데이터를 저장하는 데이터 저장부, 챔버, 측정부, 스테이지 또는 전원 공급부를 제어하고, 측정부에서 측정된 전기적, 광학적 특성 데이터를 데이터 저장부에 저장하는 제어부를 포함하는 것을 특징으로 한다.
나아가, 챔버는 내부를 가열하는 히터 또는 내부를 냉각시키는 쿨러를 포함하고, 상기 히터에 의해 가열된 상기 챔버 내부 온도 또는 상기 쿨러에 의해 냉각된 상기 챔버 내부 온도를 측정하는 온도 측정부, 스테이지가 측정부에서 챔버로 또는 챔버에서 측정부로 이동가능하게 하는 통과 홀을 포함하는 것을 특징으로 한다.
또한, 측정부는 측정부 하면에 형성되고, 상기 스테이지 높이와 대응되는 높이를 가지는 y축 이동 수단, y축 이동 수단을 상부에서 연결하는 x축 이동 수단 및 x축 이동 수단 일면에 구비되는 z축 이동 수단을 포함하는 수광 이동 수단, z축 이동 수단에 결합되고, 발광다이오드 상부에서 발광다이오드가 발광하는 광을 수광하는 수광 모듈 및 수광 모듈을 통해 수광된 광을 이용하여 상기 발광다이오드의 광학적 특성을 측정하는 스펙트로미터(Spectrometer)를 포함하는 것을 특징으로 한다.
스테이지는 적어도 하나 이상의 발광다이오드가 구비되어 있는 제 1 스테이지 및 제 1 스테이지 하부와 결합되고, 제 1 스테이지를 챔버 또는 측정부로 이동시키는 제 2 스테이지를 포함하고, 제 1 스테이지는 제 1 스테이지 양 끝에 형성되며, 챔버에 형성된 통과 홀을 차단하고, 제 1 스테이지의 이동을 제어하는 스테이지 게이트(Stage Gate)를 포함하는 것을 특징으로 한다.
나아가, 스테이지 게이트는 스테이지 게이트 측면에 통과 홀과 대응되는 크기의 돌출부를 구비하고, 스테이지 게이트 중 어느 하나는 챔버 내부에 위치하고, 제 2 스테치지는 챔버 내부에 구비된 내부 스테이지 이동부, 측정부 하면에 구비된 측정부 스테이지 이동부 및 내부 스테이지 이동부와 측정부 스테이지 이동부를 결합시키고, 챔버에 고정시키는 고정부를 포함하는 것을 특징으로 한다.
챔버는 스테이지 게이트에 의해 통과 홀이 차단됐을 때, 상기 챔버와 상기 스테이지 게이트를 결합하는 잠금장치를 더 포함한다.
위에서 설명한 바와 같이, 본 발명은 발광다이오드를 가열 또는 냉각하는 챔버와 발광다이오드의 특성을 측정하는 측정부를 하나의 공간 내에 설치하되, 챔버와 측정부를 분리 설치함으로써, 온도에 따른 수광 모듈의 특성 변화를 방지하고, 발광다이오드의 특성 데이터의 오차를 감소시키는 효과가 있다.
또한, 챔버와 측정부 사이를 이동하는 스테이지를 구비함으로써, 동일한 조건에서 다수의 발광다이오드를 측정하고, 스테이지 상면에 발광다이오드를 위치시킴으로써, 발광다이오드의 형태가 변경되지 않아 특성의 변화를 방지하는 효과가 있다.
도 1은 본 발명에 따른 발광다이오드의 신뢰성 평가 장치의 구성을 나타내는 블록도이다.
도 2는 본 발명에 따른 발광다이오드 신뢰성 평가 장치를 설명하는 사시도이다.
도 3은 본 발명에 따른 측정부를 설명하는 사시도이다.
도 4는 본 발명에 따른 스테이지를 설명하는 사시도이다.
도 5은 본 발명에 따른 챔버를 측면에서 바라본 사시도이다.
도 6은 본 발명에 따른 잠금 장치를 설명하는 사진이다.
도 2는 본 발명에 따른 발광다이오드 신뢰성 평가 장치를 설명하는 사시도이다.
도 3은 본 발명에 따른 측정부를 설명하는 사시도이다.
도 4는 본 발명에 따른 스테이지를 설명하는 사시도이다.
도 5은 본 발명에 따른 챔버를 측면에서 바라본 사시도이다.
도 6은 본 발명에 따른 잠금 장치를 설명하는 사진이다.
이하 첨부된 도면을 참조로 본 발명의 바람직한 실시 예들을 상세히 설명하기로 한다. 이에 앞서 본 명세서 및 청구범위에 사용된 용어나 단어는 통상적이거나 사전적인 의미로 한정해서 해석되어서는 아니 되며, 발명자는 그 자신의 발명을 가장 최선의 방법으로 설명하기 위해 용어의 개념을 적절하게 정의할 수 있다는 원칙에 입각하여 본 발명의 기술적인 사상에 부합하는 의미와 개념으로 해석되어야만 한다.
따라서, 본 명세서에 기재된 실시 예와 도면에 도시된 구성은 본 발명의 가장 바람직한 일 실시 에에 불과할 뿐이고 본 발명의 기술적 사상을 모두 대변하는 것은 아니므로, 본 출원시점에 있어서 이들을 대체할 수 있는 다양한 균등물과 변형 예들이 있을 수 있음을 이해하여야 한다.
도 1은 본 발명에 따른 발광다이오드의 신뢰성 평가 장치의 구성을 나타내는 블록도이고, 도 2는 본 발명에 따른 발광다이오드 신뢰성 평가 장치를 설명하는 사시도이다. 도시된 바와 같이, 발광다이오드의 신뢰성 평가 장치(100)는 발광다이오드(Light Emitting Diode, LED)의 온도 특성을 측정하기 위해 발광다이오드를 가열 또는 냉각하는 챔버(200), 챔버(200) 외부에 구비되고, 발광다이오드의 전기적 또는 광학적 특성을 측정하는 측정부(300), 발광다이오드를 측정부(300)에서 챔버(200)로 또는 챔버(200)에서 측정부(300)로 이동시키는 스테이지(400), 스테이지(400)에 구비되는 발광다이오드에 전원을 공급하는 전원 공급부(500), 측정부(300)에서 측정된 전기적, 광학적 특성 데이터를 저장하는 데이터 저장부(600) 및 챔버(200), 측정부(300), 스테이지(400) 또는 전원 공급부(500)를 제어하고, 측정부(300)에서 측정된 전기적, 광학적 특성 데이터를 데이터 저장부(600)에 저장하는 제어부(700)를 포함한다.
일 실시 예에 있어서, 챔버(200)는 챔버(200) 내부를 가열하는 히터(210), 히터(210)에 의해 가열된 챔버(200)의 내부 온도 측정하는 온도 측정부(230)를 포함한다. 측정부(300)에서 발광다이오드의 전기적·광학적 특성을 측정한 후, 발광다이오드를 구비하고 있는 스테이지(400)를 챔버(200)로 이동시키는데, 이 때, 온도 변화에 따른 발광다이오드의 광학적 특성을 측정하기 위해 제어부(700)는 챔버(200)의 히터(210)을 가동시켜 실험 목표 온도까지 챔버(200)의 내부를 가열시킨다. 히터(210)를 가동시켜 챔버(200) 내부 온도가 가열되면, 챔버(200)에 구비된 온도 측정부(230)에 의해 챔버(200) 내부의 온도가 측정되는데, 챔버(200) 내부 온도가 실험 목표 온도에 도달하지 못했을 경우, 온도 측정부(230)는 챔버(200) 내부의 온도를 감지하여, 제어부(700)로 챔버(200) 내부 온도 데이터를 전송하고, 제어부(700)는 챔버(200) 내부 온도가 실험 목표 온도에 도달했을 때, 온도 측정부(230)로부터 챔버(200) 내부 온도 데이터를 전송받을 때까지 히터(210)를 가동시킨다. 또한, 챔버(200) 내부의 온도가 실험 목표 온도보다 증가하였을 경우, 온도 측정부(230)는 제어부(700)에 히터 작동 중지 신호를 보내어, 챔버(200) 내부의 온도를 실험 목표 온도로 유지시킨다.
본 발명은 이에 한정되지 않고, 챔버(200) 내부를 냉각시키는 쿨러(220), 쿨러(220)에 의해 냉각된 챔버(200)의 내부 온도 측정하는 온도 측정부(230)를 포함한다. 측정부(300)에서 발광다이오드의 전기적·광학적 특성을 측정한 후, 발광다이오드를 구비하고 있는 스테이지(400)를 챔버(200)로 이동시키면, 실험 목표 온도까지 챔버(200) 내부의 온도를 냉각시켜 발광다이오드의 특성을 변화시킨다. 챔버(200) 내부 온도가 실험 목표 온도까지 냉각되지 않았을 때, 또는 실험 목표 온도보다 낮은 온도로 냉각되었을 때, 온도 측정부(230)가 챔버(200) 내부 온도를 감지하고, 감지한 챔버(200) 내부 온도 데이터를 제어부(700)로 전송하여, 챔버(200) 내부의 온도를 제어한다.
나아가, 챔버(200)는 스테이지(400)가 측정부(300)에서 챔버(200)로 또는 챔버(200)에서 측정부(300)로 이동가능하게 하는 통과 홀(240)을 더 포함하고 있다.
아울러, 측정부(300)는 도 3에 설명되어 있다. 도 3은 본 발명에 따른 측정부를 설명하는 사시도이다. 측정부(300)는 측정부(300) 하면에 형성되고, 스테이지(400) 높이와 대응되는 높이를 가지는 y축 이동 수단(311), y축 이동 수단(311)을 상부에서 연결하는 x축 이동 수단(312) 및 x축 이동 수단(312) 일면에 구비되는 z축 이동 수단(313)을 포함하는 수광 이동 수단(310), z축 이동 수단(313)에 결합되고, 발광다이오드 상부에서 발광다이오드가 발광하는 광을 수광하는 수광 모듈(320), 수광 모듈(320)을 통해 수광된 광을 이용하여 발광다이오드의 광학적 특성을 측정하는 스펙트로미터(Spectrometer)(330)를 포함한다.
나아가, 수광 이동 수단(310)은 제어부(700)의 제어에 따라 이동하게 되는데, 제어부(700)는 스테이지(400)가 측정부(300) 내부로 이동하게 되면, 수광 이동 수단(310)에 구비된 모터를 구동시켜 수광 모듈(320)을 발광다이오드 상부로 이동시키고, 발광다이오드 상부로 이동된 수광 모듈(320)은 발광다이오드의 광을 받아 스펙트로미터(330)로 발광다이오드 광 데이터를 전송한다. 아울러, 수광 모듈(320)은 수광 이동 수단(310)에 의해 이동하고, 발광다이오드가 발광하는 광을 감지함으로써, 발광다이오드의 상부로 이동한다.
또한, 측정부(300)는 수광 모듈(320)을 포함하는데, 수광 모듈(320)은 z축 이동 수단(313)에 결합되어, y축 이동 수단(311), x축 이동 수단(312) 및 z축 이동 수단(313)을 통해 스테이지(400) 상면에 구비된 발광다이오드 상부로 이동하고, 발광다이오드 상부에서 발광다이오드가 발광하는 광을 수광한다. 나아가, 수광 모듈(320)은 z축 이동 수단의 챔버(200) 방향 측부에 구비된다.
나아가, 수광 모듈(320)은 발광다이오드가 발광하는 광을 수광하여 광 데이터를 스펙트로미터(330)로 송신하고, 스펙트로미터(330)는 송신한 광 데이터를 이용하여 발광다이오드의 광학적 특성을 측정한다.
일 실시 예에 있어서, 도 4는 본 발명에 따른 스테이지(400)를 설명하는 사시도이다. 스테이지(400)는 상면에 발광다이오드가 구비되어 있는 제 1 스테이지(410)와 제 1 스테이지(410) 하부와 결합되고, 제 1 스테이지(410)를 챔버(200) 또는 측정부(300)로 이동시키는 제 2 스테이지(420)를 포함한다.
나아가, 제 1 스테이지(410)는 제 1 스테이지(410) 양 끝에 형성되며, 챔버(200)에 형성된 통과 홀(240)을 차단하고, 제 1 스테이지(410)의 이동을 제어하는 스테이지 게이트(Stage Gate)(411)를 포함한다. 스테이지 게이트(411) 중 어느 하나는 챔버(200) 내부에 위치하며, 스테이지 게이트(411)는 스테이지(400)가 챔버(200)에서 측정부(300)로 이동할 때, 히터(210)에 의해 가열된 챔버(200) 내부 온도 또는 쿨러(220)에 의해 냉각된 챔버(200) 내부 온도가 측정부(300)의 수광 모듈(320)에 영향을 미치는 것을 방지한다. 따라서, 챔버(200)의 온도가 수광 모듈(320)에 영향을 미치지 않아, 전기적·광학적 특성 측정 시, 데이터의 오차 범위가 최소화된다. 또한, 다른 한 쪽에 구비되는 스테이지 게이트(411)는 발광다이오드의 챔버(200) 내부로 이동시켜 가열 또는 냉각할 때, 챔버(200)의 온도가 측정부(300)로 새어 나가지 못하게 하여, 챔버(200) 또는 측정부(300)의 온도를 유지하여, 발광다이오드의 온도 특성을 측정하는데 오류가 발생하지 않게 된다.
아울러, 발광다이오드를 챔버(200) 내부에서 에이징한 후, 측정부로(300) 이동할 때, 챔버(200) 내부의 온도를 실온으로 회복시킨 후, 챔버(200) 내부에 위치한 스테이지(400)를 측정부(300)로 이동시켜, 스테이지(400)가 이동할 동안, 챔버(200) 내부의 온도가 측정부(300) 온도에 영향을 미치지 않게 된다.
또한, 제 1 스테이지(410) 양 끝에 형성된 스테이지 게이트(411) 하부에는 제 1 스테이지(410)와 제 2 스테이지(420)를 연결하는 연결부(412)가 구비되고, 연결부(412)는 중앙에 홀이 형성되어 있으며, 제 2 스테이지(420)는 연결부(412) 중앙에 형성된 홀에 삽입되어 제 1 스테이지(410)와 결합함으로써, 제 1 스테이지(410)를 챔버(200) 또는 측정부(300)로 이동시킨다.
나아가, 본 발명은 제 1 스테이지(410)를 수동으로 이동시키나, 이에 한정 되지 않고, 연결부(412)에 모터가 구비되어 제어부(700)를 통해 제 1 스테이지(410)를 이동시킬 수 있다. 제 1 스테이지(410)가 모터에 의해 이동할 경우, 연결부(412)에 모터가 구비되고, 측정부(300)로부터 발광다이오드의 전기적 또는 광학적 특성 측정이 완료되면, 제어부(700)가 연결부(412)에 구비된 모터와 롤러를 작동시켜 제 1 스테이지(410)를 측정부(300)에서 챔버(200)로 이동시킨다. 또한, 발광다이오드의 에이징 시간이 경과하면, 제어부(700)는 모터와 롤러에 작동 신호를 전송하여 제 1 스테이지(410)를 챔버(200)에서 측정부로 이동시킨다.
또한, 스테이지 게이트는 측면에 통과 홀과 대응되는 크기의 돌출부를 구비하는 것을 특징으로 한다.
아울러, 도 3에서 설명한 측정부(300)의 y축 이동 수단(311)은 스테이지 게이트(411)와 대응되는 높이로 구비되어 있고, x축 이동 수단(312)은 측정부(300) 양 측부에 구비된 y축 이동 수단(311)의 상부에서 복수개의 y축 이동 수단(311)을 연결해주며, 스테이지 게이트(411) 상부에 구비된다. 또한, z축 이동 수단(313)은 x축 이동 수단(312)의 챔버(200) 방향 측면에 구비되고, 수광 모듈(320)을 구비하고 있으며, 발광다이오드의 광학적 특정을 측정하기 위해 수광 모듈(320)의 높이를 조절한다.
나아가, 발광다이오드를 가열시키기 위해 스테이지(400)가 챔버(200) 내부로 이동할 때, z축 이동 수단(313)의 하부는 스테이지 게이트(411) 상부까지 이동하여 스테이지(400)가 측정부(300)에서 챔버(200)로 이동할 때, 수광 모듈(320)이 측정부(300)에 위치할 수 있게 한다.
아울러, 제 2 스테이지(420)는 챔버(200) 내부에 구비된 내부 스테이지 이동부(421), 측정부 하면에 구비된 측정부 스테이지 이동부(422) 및 내부 스테이지 이동부(412)와 측정부 스테이지 이동부(422)를 결합시키고, 챔버(200)에 고정시키는 고정부(423)를 포함한다. 고정부(423)는 끼움 결합, 나사 결합 또는 나선 결합 중 어느 하나의 결합으로 이루어져 내부 스테이지 이동부(421)와 측정부 스테이지 이동부(422)를 챔버(200)에 결합시킨다.
도 5은 본 발명에 따른 챔버를 측면에서 바라본 사시도이다. 도시된 바와 같이, 챔버(200) 측벽에는 통과 홀(240), 잠금 장치(250), 고정부(423)가 구비되어 있다. 나아가, 도 6은 본 발명에 따른 잠금 장치를 설명하는 사진이다. 잠금 장치(250)는 챔버(200)와 스테이지 게이트(411) 각각에 챔버 잠금 장치(250a)와 게이트 잠금 장치(250b)가 구비되어 있다. 또한 챔버 잠금 장치(250a)에는 손잡이와 고리가 구비되어 있고, 챔버 잠금 장치(250a)의 고리는 게이트 잠금 장치(250b)와 결합되며, 챔버 잠금 장치(250a)에 구비된 손잡이를 이용하여 챔버 잠금 장치(250a)와 게이트 잠금 장치(250b)를 결합 또는 해제할 수 있다. 챔버 잠금 장치(250a)의 손잡이를 당기면 챔버 잠금 장치(250a)에 구비된 고리와 게이트 잠금 장치(250b)의 결합이 해제되고, 챔버 잠금 장치(250a)의 손잡이를 누르면 챔버 잠금 장치(250a)에 구비된 고리와 게이트 잠금 장치(250b)가 결합하게 된다.
아울러, 통과 홀(240)의 크기는 스테이지 게이트(411)의 크기보다 작게 형성되고, 도 4에서 설명한 바와 같이, 스테이지 게이트(411)의 중앙에 통과 홀(240)과 대응되는 크기의 돌출부(412)가 구비되어 있고, 돌출부(412) 측면에 게이트 잠금 장치(250b)가 구비되어 있다.
또한, 고정부(423)는 내부 스테이지 이동부(421)와 측정부 스테이지 이동부(422)에 각각 구비되어, 내부 스테이지 이동부(421) 및 측정부 스테이지 이동부(422)를 챔버(200)에 고정시킨다.
일 실시 예에 있어서, 제어부(700)는 온도 측정부(230)에서 챔버(200)의 내부 온도 데이터를 전송받아, 히터(210) 또는 쿨러(220)를 제어하여 챔버(200) 내부의 온도를 실험 목표 온도로 유지하고, 수광 이동 수단(310)을 제어하여 수광 모듈(320)을 스테이지(400) 상단에 구비된 복수개의 발광다이오드 상부로 이동시키며, 제 2 스테이지(420)를 제어하여 제 1 스테이지(410)를 챔버(200)에서 측정부(300)로 또는 측정부(300)에서 챔버(200)로 이동시킨다. 또한, 제어부(700)는 전원 공급부(500)를 제어하여 스테이지(400) 상단에 구비된 발광다이오드에 전원을 공급하고, 공급된 전원의 히스토리(History)를 기록하여, 발광다이오드의 가열 전과 후의 전기적 특성을 측정하고, 데이터 저장부(600)에 전기적 특성을 저장한다. 아울러, 스펙트로 미터(330)로부터 발광다이오드의 가열 전과 후의 광학적 특성을 전송받아 데이터 저장부(600)에 저장하고, 챔버(200)의 온도 측정부(230)로부터 발광다이오드의 온도 특성을 전송받아 저장한다.
본 발명 명세서 전반에 걸쳐 사용되는 용어들은 본 발명 실시 예에서의 기능을 고려하여 정의된 용어들로서, 사용자 또는 운용자의 의도, 관례 등에 따라 충분히 변형될 수 있는 사항이므로, 이 용어들의 정의는 본 명세서 전반에 걸친 내용을 토대로 내려져야 할 것이다.
이상에서 설명한 바와 같이 본 발명은 상술한 실시 형태 및 첨부된 도면에 의해 한정되는 것이 아니며, 청구범위에 기재된 본 발명의 기술적 사상을 벗어나지 않는 범위 내에서 다양한 형태의 치환, 변형 및 변경 가능함은 당 기술분야의 통상의 지식을 가진 자에게는 자명할 것이다.
100 : 발광다이오드 신뢰성 평가 장치.
200 : 챔버 210 : 히터
220 : 쿨러 230 : 온도 측정부
240 : 통과 홀 250 : 잠금장치
250a : 챔버 잠금 장치 250b : 게이트 잠금 장치
300 : 측정부 310 : 수광 이동 수단
311 : y축 이동 수단 312 : x축 이동 수단
313 : z축 이동 수단 320 : 수광 모듈
330 : 스펙트로미터 400 : 스테이지
410 : 제 1 스테이지 411 : 스테이지 게이트
412 : 연결부 413 : 돌출부
420 : 제 2 스테이지 421 : 내부 스테이지 이동부
422 : 측정부 스테이지 이동부 423 : 고정부
500 : 전원 공급부 600 : 데이터 저장부
700 : 제어부
200 : 챔버 210 : 히터
220 : 쿨러 230 : 온도 측정부
240 : 통과 홀 250 : 잠금장치
250a : 챔버 잠금 장치 250b : 게이트 잠금 장치
300 : 측정부 310 : 수광 이동 수단
311 : y축 이동 수단 312 : x축 이동 수단
313 : z축 이동 수단 320 : 수광 모듈
330 : 스펙트로미터 400 : 스테이지
410 : 제 1 스테이지 411 : 스테이지 게이트
412 : 연결부 413 : 돌출부
420 : 제 2 스테이지 421 : 내부 스테이지 이동부
422 : 측정부 스테이지 이동부 423 : 고정부
500 : 전원 공급부 600 : 데이터 저장부
700 : 제어부
Claims (11)
- 삭제
- 삭제
- 삭제
- 발광다이오드(Light Emitting Diode, LED)의 온도특성을 측정하기 위해 발광다이오드를 가열 또는 냉각하는 챔버;
상기 챔버 외부에 구비되고, 상기 발광다이오드의 전기적 또는 광학적 특성을 측정하는 측정부;
상기 발광다이오드를 상기 측정부에서 상기 챔버로 또는 상기 챔버에서 상기 측정부로 이동시키는 스테이지;
상기 스테이지에 구비되는 상기 발광다이오드에 전원을 공급하는 전원 공급부;
상기 측정부에서 측정된 전기적, 광학적 특성 데이터를 저장하는 데이터 저장부; 및
상기 챔버, 상기 측정부, 상기 스테이지 또는 상기 전원 공급부를 제어하고, 상기 측정부에서 측정된 전기적, 광학적 특성 데이터를 상기 데이터 저장부에 저장하는 제어부;
를 포함하며, 상기 챔버는,
상기 스테이지가 상기 측정부에서 상기 챔버로 또는 상기 챔버에서 상기 측정부로 이동가능하게 하는 통과 홀;
을 더 포함하는 것을 특징으로 하는 발광다이오드의 신뢰성 평가 장치.
- 발광다이오드(Light Emitting Diode, LED)의 온도특성을 측정하기 위해 발광다이오드를 가열 또는 냉각하는 챔버;
상기 챔버 외부에 구비되고, 상기 발광다이오드의 전기적 또는 광학적 특성을 측정하는 측정부;
상기 발광다이오드를 상기 측정부에서 상기 챔버로 또는 상기 챔버에서 상기 측정부로 이동시키는 스테이지;
상기 스테이지에 구비되는 상기 발광다이오드에 전원을 공급하는 전원 공급부;
상기 측정부에서 측정된 전기적, 광학적 특성 데이터를 저장하는 데이터 저장부; 및
상기 챔버, 상기 측정부, 상기 스테이지 또는 상기 전원 공급부를 제어하고, 상기 측정부에서 측정된 전기적, 광학적 특성 데이터를 상기 데이터 저장부에 저장하는 제어부;
를 포함하며, 상기 측정부는,
상기 측정부 하면에 형성되고, 상기 스테이지 높이와 대응되는 높이를 가지는 y축 이동 수단, 상기 y축 이동 수단을 상부에서 연결하는 x축 이동 수단 및 상기 x축 이동 수단 일면에 구비되는 z축 이동 수단을 포함하는 수광 이동 수단;
상기 z축 이동 수단에 결합되고, 상기 발광다이오드 상부에서 상기 발광다이오드가 발광하는 광을 수광하는 수광 모듈; 및
상기 수광 모듈을 통해 수광된 광을 이용하여 상기 발광다이오드의 광학적 특성을 측정하는 스펙트로미터(Spectrometer);
를 포함하는 것을 특징으로 하는 발광다이오드의 신뢰성 평가 장치.
- 삭제
- 발광다이오드(Light Emitting Diode, LED)의 온도특성을 측정하기 위해 발광다이오드를 가열 또는 냉각하는 챔버;
상기 챔버 외부에 구비되고, 상기 발광다이오드의 전기적 또는 광학적 특성을 측정하는 측정부;
상기 발광다이오드를 상기 측정부에서 상기 챔버로 또는 상기 챔버에서 상기 측정부로 이동시키는 스테이지;
상기 스테이지에 구비되는 상기 발광다이오드에 전원을 공급하는 전원 공급부;
상기 측정부에서 측정된 전기적, 광학적 특성 데이터를 저장하는 데이터 저장부; 및
상기 챔버, 상기 측정부, 상기 스테이지 또는 상기 전원 공급부를 제어하고, 상기 측정부에서 측정된 전기적, 광학적 특성 데이터를 상기 데이터 저장부에 저장하는 제어부;
를 포함하며,
상기 스테이지는,
상면에 적어도 하나 이상의 상기 발광다이오드가 구비되어 있는 제 1 스테이지; 및
상기 제 1 스테이지 하부와 결합되고, 상기 제 1 스테이지를 상기 챔버 또는 상기 측정부로 이동시키는 제 2 스테이지;를 더 포함하고,
상기 제 1 스테이지는,
상기 제 1 스테이지 양 끝에 형성되며, 상기 챔버에 형성된 통과 홀을 차단하고, 상기 제 1 스테이지의 이동을 제어하는 스테이지 게이트(Stage Gate);를 포함하는 것을 특징으로 하는 발광다이오드의 신뢰성 평가 장치.
- 제 7항에 있어서, 상기 스테이지 게이트는,
상기 스테이지 게이트 측면에 통과 홀과 대응되는 크기의 돌출부를 구비하는 것을 특징으로 하는 발광다이오드의 신뢰성 평가 장치.
- 제 7항에 있어서, 상기 스테이지 게이트 중 어느 하나는,
상기 챔버 내부에 위치하는 것을 특징으로 하는 발광다이오드의 신뢰성 평가 장치.
- 제 7항에 있어서, 상기 제 2 스테이지는,
상기 챔버 내부에 구비된 내부 스테이지 이동부;
상기 측정부 하면에 구비된 측정부 스테이지 이동부; 및
상기 내부 스테이지 이동부와 상기 측정부 스테이지 이동부를 결합시키고, 상기 챔버에 고정시키는 고정부;
를 포함하는 것을 특징으로 하는 발광다이오드의 신뢰성 평가 장치.
- 발광다이오드(Light Emitting Diode, LED)의 온도특성을 측정하기 위해 발광다이오드를 가열 또는 냉각하는 챔버;
상기 챔버 외부에 구비되고, 상기 발광다이오드의 전기적 또는 광학적 특성을 측정하는 측정부;
상기 발광다이오드를 상기 측정부에서 상기 챔버로 또는 상기 챔버에서 상기 측정부로 이동시키는 스테이지;
상기 스테이지에 구비되는 상기 발광다이오드에 전원을 공급하는 전원 공급부;
상기 측정부에서 측정된 전기적, 광학적 특성 데이터를 저장하는 데이터 저장부; 및
상기 챔버, 상기 측정부, 상기 스테이지 또는 상기 전원 공급부를 제어하고, 상기 측정부에서 측정된 전기적, 광학적 특성 데이터를 상기 데이터 저장부에 저장하는 제어부;
를 포함하며, 상기 챔버는,
스테이지 게이트에 의해 통과 홀이 차단됐을 때, 상기 챔버와 상기 스테이지 게이트를 결합하는 잠금장치;
를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 발광다이오드의 신뢰성 평가 장치.
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| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR20180041279A (ko) * | 2016-10-13 | 2018-04-24 | 광전자정밀주식회사 | 고출력 엘이디의 광 특성 측정법 및 이의 측정장치 |
| KR101959484B1 (ko) * | 2018-10-17 | 2019-03-18 | 주식회사 아이프리시전 | 마이크로 led 특성 측정 장치 및 그 측정 방법 |
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| KR20080096068A (ko) * | 2007-04-26 | 2008-10-30 | 삼성전자주식회사 | 반도체 패키지를 테스트하는 장치 및 반도체 패키지의테스트 온도를 조절하는 방법 |
| KR101027737B1 (ko) * | 2010-06-16 | 2011-04-07 | 주식회사 이노비즈 | 엘이디 검사 및 분류 장치 및 이를 이용한 엘이디 검사 및 분류 방법 |
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2012
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