KR101303242B1 - Apparatus for Anion Generation and ECD using Cold Emission - Google Patents

Apparatus for Anion Generation and ECD using Cold Emission Download PDF

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Abstract

본 발명은 냉전자를 이용한 음이온 발생과 전자포획 분해장치에 관한 것으로, 푸리에변환 이온싸이클로트론공명 질량분석기의 이온트랩 내에서 이온화를 위한 전자빔 발생을 하기 위하여 MCP전자증배판을 사용하되, 자외선다이오드에서 방출하는 자외선 광자를 MCP 전자증배판 전면에 주사하여 증폭된 전자빔을 획득하고, 전자집속렌즈를 이용하여 트랩내로 전자빔을 집속하여 주입하고, 이온트랩 내에서 중성분자의 음이온화를 목적으로 하는 저에너지 전자빔 방출 장치와 다중양전하를 띈 분자에 전자를 결합시켜 ECD 반응 생성하게 하는데 그 목적이 있다.
본 발명의 목적은 고진공 상태의 질량분석기 내부에 조사된 자외선광자로부터 많은 수의 냉전자를 발생하는 냉전자발생모듈로 구성된 냉전자를 이용한 음이온 발생과 전자포획 분해장치에 있어서, 질량분석기 내에 자외선 광자를 방출하는 다수의 자외선다이오드; 자외선다이오드로부터 자외선 광자들의 초기 전자방출을 유도 및 증폭하여 후면판에서 대량의 전자빔을 발생시키는 MCP 전자증배판; MCP 전자증배판을 통해 증폭된 전자빔을 집적하는 전자집적렌즈; 전자의 에너지와 전류를 조정하는 그리드;를 포함하여 이루어진 것을 특징으로 한다.The present invention relates to an anion generation and electron trap decomposition apparatus using cold electrons, using an MCP electron multiplier to generate an electron beam for ionization in the ion trap of the Fourier transform ion cyclotron resonance mass spectrometer, which emits from the ultraviolet diode A low energy electron beam emission device for scanning an ultraviolet photon onto an MCP electron multiplier plate to obtain an amplified electron beam, focusing and injecting an electron beam into a trap using an electron focusing lens, and anion trapping the heavy molecules in an ion trap. The purpose is to create an ECD reaction by binding electrons to molecules with polypositive charges.
An object of the present invention is to emit an ultraviolet photon in a mass spectrometer in an anion generating and electron trap decomposition apparatus using cold electrons composed of cold electron generating module for generating a large number of cold electrons from ultraviolet photons irradiated inside a high vacuum mass spectrometer. A plurality of ultraviolet diodes; MCP electron multiplier for generating a large amount of electron beam on the back plate by inducing and amplifying the initial electron emission of ultraviolet photons from the ultraviolet diode; An electron integrated lens for integrating the electron beam amplified by the MCP electron multiplier; Characterized in that it comprises a; grid for adjusting the energy and current of the electron.

Description

냉전자를 이용한 음이온 발생 및 전자포획 분해장치 {Apparatus for Anion Generation and ECD using Cold Emission}Anion Generation and Electron Capture Decomposition Device using Cold Electronics {Apparatus for Anion Generation and ECD using Cold Emission}

본 발명은 푸리에변환 이온싸이클로트론공명 질량분석기(FT-ICR MS: Fourier Transform Ion Cyclotron Resonance Mass Spectrometer)의 이온트랩 내에 냉전자빔 주입장치로 전자포획분해(ECD: Electron capture dissociation) 및 음이온화 장치에 관한 것으로, 더욱 상세하게는 트랩 내에 주입되는 전자빔의 에너지를 조절하여 이온트랩 내에서의 음이온을 생성시키거나, 다중전하를 띈 양이온을 조각이온(fragment ion)으로 자르는 냉전자를 이용한 음이온 발생 및 전자포획 분해장치에 관한 것이다. The present invention relates to an electron capture decomposition (ECD) and anionization apparatus by cold electron beam injection in an ion trap of a Fourier Transform Ion Cyclotron Resonance Mass Spectrometer (FT-ICR MS). More specifically, anion generation and electron trap decomposition apparatus using cold electrons that generate anions in an ion trap by controlling the energy of an electron beam injected into a trap, or cut multicharged cations into fragment ions. It is about.

일반적으로 ECD 방법은 다중 양전하를 띈 펩타이드나 단백질 이온을 이온트랩 내에 가둔 후 전자빔을 트랩에 주입하여 트랩 내에서 다중 이온화된 분자가 전자와 결합하여 분해되는 탄뎀질량분석법(MS/MS)으로 사용되고 있다. 또한, 낮은 에너지의 전자는 FT-ICR 이온트랩 내에서 중성분자와 결합하여 음이온을 형성한다.In general, the ECD method is used as a tandem mass spectrometry (MS / MS) in which multiple positively charged peptides or protein ions are trapped in an ion trap and electron beams are injected into the trap to decompose the multiple ionized molecules with electrons in the trap. . In addition, the low energy electrons combine with the heavy molecules in the FT-ICR ion trap to form anions.

FT-ICR 이온트랩 내에 기존의 ECD 장치는 장치 가동을 위하여 하루 전에 시범 가동을 하여 1x10-7 ~ 1x10-11 torr의 고진공 환경의 고진공 상태를 준비하여야 하며, 당일 가동을 위해서도 열전자 발생을 위하여 가열부에 열이 발생하여 생기는 압력의 변화가 안정될 때 까지 최소 2시간 정도의 예열 시간이 필요하다. In the FT-ICR ion trap, the existing ECD device must be piloted one day before the operation of the device to prepare for the high vacuum condition of the high vacuum environment of 1x10 -7 ~ 1x10 -11 torr. Preheating time of at least 2 hours is required until the pressure change caused by heat generation is stabilized.

또한 필라멘트에 열을 가하기 위해서는 고전류를 흘려야 하므로 많은 전력 소모가 있으며 고온 상승에 의한 열전자는 에너지와 전류를 정확히 제어가 어렵다는 문제점이 있다. 또한, 중성분자가 전자와 결합하여 음이온을 생성할 때 전자가 가지고 있는 에너지가 낮을수록 유리하다. In addition, in order to heat the filament, a high current must be flowed, which consumes a lot of power, and there is a problem that hot electrons due to a high temperature rise are difficult to control energy and current accurately. In addition, the lower the energy of the electron is advantageous when the heavy component is combined with the electron to generate an anion.

따라서 본 발명은 푸리에변환 이온싸이클로트론공명 질량분석기의 이온트랩 내에서 이온화를 위한 전자빔 발생을 하기 위하여 MCP(Microchannel Plate) 전자증배판을 사용하되 자외선다이오드에서 방출하는 자외선 광자를 MCP 전자증배판 전면에 주사하여 전자를 백만배까지 증폭된 전자빔을 획득하고, 전자집속렌즈를 이용하여 트랩내로 전자빔을 집속하여 주입하고, 저온 저전력으로 방출 시간이 정확히 조절되는 전자빔을 생산하도록 자외선다이오드와 MCP를 이용하며 발생한 전자빔을 집속하기 위하여 전자집속 렌즈를 설치하여 질량분석기의 이온트랩 내에서 중성분자의 음이온화를 목적으로 하는 저에너지 전자빔 방출 장치와 다중양전하를 띈 분자에 전자를 결합시켜 ECD 반응 생성하게 하는 냉전자를 이용한 음이온 발생과 전자포획 분해장치를 제공하는데 그 목적이 있다.Therefore, the present invention uses an MCP (Microchannel Plate) electron multiplier to generate electron beams for ionization in the ion trap of a Fourier transform ion cyclotron resonance mass spectrometer, but scans the ultraviolet photons emitted from the ultraviolet diode onto the MCP electron multiplier. Electron beam amplified up to one million times by electron, focusing and injecting electron beam into trap using electron focusing lens, and using electron beam generated by using ultraviolet diode and MCP to produce electron beam precisely controlled at low temperature and low power. An electron focusing lens is installed to focus the low energy electron beam emission device for the purpose of anionization of heavy molecules in the ion trap of the mass spectrometer, and the generation of negative ions using cold electrons that combines electrons with multipositive charge molecules to generate ECD reactions. And electronic capture digesters It has that purpose.

본 발명의 목적을 달성하기 위한 냉전자를 이용한 음이온 발생과 전자포획 분해장치는 고진공 상태의 질량분석기 내부에 조사된 자외선광자로부터 많은 수의 냉전자를 발생하는 냉전자발생모듈로 구성된 냉전자를 이용한 음이온 발생과 전자포획 분해장치에 있어서, 상기 질량분석기 내에 자외선 광자를 방출하는 다수의 자외선다이오드; 상기 자외선다이오드로부터 자외선 광자들의 초기 전자방출을 유도 및 증폭하여 후면판에서 대량의 전자빔을 발생시키는 MCP 전자증배판; 상기 MCP 전자증배판을 통해 증폭된 전자빔을 집적하는 전자집적렌즈; 및 상기 전자집적렌즈와 함께 전자빔을 전자의 에너지와 전류를 조정하는 그리드;를 포함하여 이루어진 것을 특징으로 한다.The negative ion generation and electron capture decomposition device using cold electrons to achieve the object of the present invention and the negative ion generation using the cold electrons consisting of a cold electron generation module for generating a large number of cold electrons from the ultraviolet photons irradiated inside the high vacuum mass spectrometer An electron trapping apparatus comprising: a plurality of ultraviolet diodes emitting ultraviolet photons in the mass spectrometer; An MCP electron multiplier that generates a large amount of electron beams from the rear panel by inducing and amplifying initial electron emission of ultraviolet photons from the ultraviolet diode; An electron integrated lens for integrating the electron beam amplified by the MCP electron multiplier; And a grid for adjusting the energy and current of electrons in the electron beam together with the electron integrated lens.

상기 자외선다이오드 및 MCP 전자증배판은 하나의 밀폐된 모듈로 각각 한 개 또는 다수 개로 구성된 것을 특징으로 한다.The ultraviolet diodes and the MCP electron multiplier is characterized in that one or more of the module is composed of a single sealed module.

본 발명에 따른 냉전자를 이용한 음이온 발생과 전자포획 분해장치는 푸리에변환 이온싸이클로트론공명 질량분석기나 이온트랩 질량분석기의 냉전자 발생장치로 사용하여 음이온화 장치 및 ECD장치로 적용함으로써, 원하는 시간에 일정량의 전자빔을 집속하여 이온트랩 내에 주입할 수 있는 음이온화 장치 및 ECD장치로 활용할 수 있는 효과가 있다.Anion generation and electron trap decomposition apparatus using cold electrons according to the present invention is used as a cold electron generator of a Fourier transform ion cyclotron resonance mass spectrometer or an ion trap mass spectrometer, and applied to an anionization apparatus and an ECD apparatus, thereby providing a certain amount of time at a desired time. The electron beam can be focused and used as an anionization device and an ECD device that can be injected into the ion trap.

도 1은 본 발명의 실시예에 따른 냉전자를 이용한 음이온 발생과 전자포획 분해장치의 구성도이고,
도 2는 도 1에서 냉전자 발생장치 모듈의 상세 구성도이고,
도 3은 본 발명의 다른 실시예 따른 IRMPD(Infrared Multiple Photon Dissociation)장치와 함께 사용할 경우의 냉전자를 이용한 음이온 발생과 전자포획 분해장치의 구성도이고,
도 4는 도 3에서 냉전자발생모듈의 상세 구성도이다.1 is a block diagram of an anion generation and electron trap decomposition apparatus using cold electrons according to an embodiment of the present invention,
2 is a detailed configuration diagram of the cold electron generator module in FIG.
3 is a block diagram of an anion generation and electron trap decomposition apparatus using cold electrons when used with an IRMPD (Infrared Multiple Photon Dissociation) apparatus according to another embodiment of the present invention,
4 is a detailed configuration diagram of the cold electron generation module in FIG.

본 발명의 실시예에 따른 냉전자를 이용한 음이온 발생과 전자포획 분해장치의 구성 및 작용을 첨부된 도면을 참고하여 상세히 설명하면 다음과 같다.With reference to the accompanying drawings, the configuration and operation of the negative ion generation and electron capture decomposition device using cold electrons according to an embodiment of the present invention will be described in detail as follows.

도 1은 본 발명의 실시예에 따른 냉전자를 이용한 음이온 발생과 전자포획 분해장치의 전체 구성도이고, 도 2는 냉전자발생모듈(40)의 상세 구성도로서, 고진공 상태의 질량분석기 진공챔버(10) 내에 자외선 광자를 방출하는 다수의 자외선다이오드(41)(42)와, 상기 자외선다이오드(41)(42)로부터 자외선 광자들이 전면판을 통해 초기 전자방출을 유도 및 증폭하여 후면판에서 대량의 전자빔을 발생시키는 MCP 전자증배판(43)(44)과, 상기 MCP 전자증배판(43)(44)을 통해 증폭된 전자빔을 집적하는 전자집적렌즈(45)와, 상기 전자집적렌즈(45)와 함께 에너지와 전류를 조정하는 그리드(46)과, 상기 그리드(46)를 통해 주입된 이온신호를 검출하기 위해 다수의 전극으로 구성된 이온트랩(20)과, 상기 자외선다이오드(41)(42), 상기 MCP 전자증배판(43)(44), 이온렌즈(45) 각각에 펄스 전원을 공급하는 전원공급장치(31)(32)(33)로 구성된다.1 is an overall configuration diagram of anion generation and electron trap decomposition apparatus using cold electrons according to an embodiment of the present invention, Figure 2 is a detailed configuration diagram of the cold electron generation module 40, a high-temperature mass spectrometer vacuum chamber ( 10) a plurality of ultraviolet diodes 41 and 42 that emit ultraviolet photons within the substrate, and ultraviolet photons from the ultraviolet diodes 41 and 42 induce and amplify the initial electron emission through the front panel, thereby producing a large amount of MCP electron multiplier 43 (44) for generating an electron beam, an electron integrated lens 45 for integrating the electron beam amplified through the MCP electron multiplier (43), 44, and the electron integrated lens 45 And a grid 46 for adjusting energy and current, an ion trap 20 composed of a plurality of electrodes for detecting ion signals injected through the grid 46, and the ultraviolet diodes 41 and 42. Each of the MCP electron multipliers 43 and 44 and the ion lens 45 It consists of a power supply (31, 32, 33) for supplying power.

여기서, 상기 자외선다이오드(41)(42)는 적어도 한 개 이상 여러 개까지 사용이 가능하다.Herein, at least one or more ultraviolet diodes 41 and 42 may be used.

이와 같이 구성된 본 발명의 작용을 상세히 설명하면 다음과 같다.Hereinafter, the operation of the present invention will be described in detail.

먼저, 상기 자외선다이오드(41)(42)에 의해 발생되는 자외선 광자의 방출 시간 및 강도는 공급된 전원의 온/오프 펄스신호에 따라 조절된다.First, the emission time and intensity of ultraviolet photons generated by the ultraviolet diodes 41 and 42 are adjusted according to the on / off pulse signal of the supplied power.

즉, 자외선다이오드 전원공급장치(31)에 의해 공급된 펄스전원의 지속시간과 펄스 전원을 통하여 자외선다이오드(41)(42)에 가해지는 전류값이 제어됨에 따라 자외선 광자의 방출시간 및 강도가 조절된다.That is, the emission time and intensity of ultraviolet photons are controlled by controlling the duration of the pulse power supplied by the ultraviolet diode power supply 31 and the current value applied to the ultraviolet diodes 41 and 42 through the pulse power. do.

상기 자외선다이오드(41)(42)에서 발생된 자외선 광자는 상기 MCP전자증배판(43)(44)의 전면판(43)에 주입되어 증폭된 후 후면판(44)을 통해 많은 양의 전자(106증폭율)를 발생한다.Ultraviolet photons generated by the ultraviolet diodes 41 and 42 are injected into the front plate 43 of the MCP electron multiplier 43 and 44 and amplified, and then a large amount of electrons are formed through the rear plate 44. 10 6 amplification rate).

상기 MCP전자증배판의 후면판(44)을 통해 증폭된 전자빔은 상기 전자집적렌즈(45)의 전압값에 따라 집속되어 상기 그리드(46)로 진행하게 되며, 상기 그리드(46)은 상기 전자집적렌즈(45)와 함께 전자빔의 에너지와 전류를 조절하는 역할을 하기 위한 전계를 형성하게 되며, 상기 그리드(46)의 전압값이 MCP전자증배판 전압값보다 낮아지면 발생된 전자는 직진성을 가지고 이온트랩(20) 내로 주입되게 된다.The electron beam amplified through the back plate 44 of the MCP electron multiplier is focused according to the voltage value of the electron integration lens 45 to proceed to the grid 46, and the grid 46 is integrated with the electron. Together with the lens 45, an electric field is formed to control energy and current of the electron beam. When the voltage value of the grid 46 is lower than the MCP electron multiplier voltage value, the generated electrons have linearity and ion. It is injected into the trap 20.

상기 이온트랩(20)은 개방형 트랩이며, 주입된 저에너지 전자는 중성분자와 반응하여 음이온화를 유도하며, 다중양전하를 띈 양이온과 결합하여 ECD반응을 함으로써 이온의 조각화를 유도하며, 이온의 구조분석에 대한 정보를 제공하게 된다.The ion trap 20 is an open trap, and the injected low-energy electrons react with the heavy molecules to induce anion and induce ion fragmentation by inducing ECD reaction by combining multipositive charges with cations. Will provide information about

상기 자외선다이오드(41)(42)에서 발생된 자외선 광자를 증폭 및 집적하고 직진성을 가진 이온으로 이온트랩(20)으로 주입하는 각 MCP전자증배판(43)(44) 및 전자집적렌즈(45) 및 그리드(46)의 동작을 수행하기 위해 상기 진공챔버(10)의 내부는 1x10-7~ 1x10-11 torr 의 높은 진공상태를 유지한다.
Each MCP electron multiplier (43) (44) and electron integrated lens (45) for amplifying and integrating ultraviolet photons generated by the ultraviolet diodes (41) and (42) and implanting them into the ion trap (20) with ions having linearity. And the inside of the vacuum chamber 10 to perform the operation of the grid 46 maintains a high vacuum of 1x10 -7 ~ 1x10 -11 torr.

도 3은 본 발명의 다른 실시예에 따른 냉전자를 이용한 음이온 발생과 전자포획 분해장치의 구성도이고, 도 4는 도 3에서의 냉전자발생모듈의 세부구성도로서, IRMPD(Infrared Multiple Photon Dissociation) 장치와 함께 사용할 경우 적외선이 통과할 수 있도록 MCP증배판의 중심에 구멍을 뚫어야 하며, 도 4에 도시된 바와 같이 MCP증배판의 중심 구멍이 외의 면에서 냉전자를 발생하게 된다.3 is a configuration diagram of anion generation and electron trap decomposition apparatus using cold electrons according to another embodiment of the present invention, Figure 4 is a detailed configuration diagram of the cold electron generation module in Figure 3, IRMPD (Infrared Multiple Photon Dissociation) When used with the device should be a hole in the center of the MCP multiplier so that infrared light can pass through, as shown in Figure 4 the center hole of the MCP multiplier will generate cold electrons on the outer surface.

이에 도시된 바와 같이, 냉전자발생모듈(40)은 제1, 제2 냉전자발생모듈(40a)(40b)로 분할 구성되고, 상기 각 제1, 제2냉전자발생모듈(40a)(40b)은 자외선다이오드(41a)(42b)와, MCP전자증배판(43a,43b)(44a)(44b)과, 상기 분할된 각 냉전자발생모듈(40a)(40b) 사이에서 외부의 적외선을 진공챔버(10) 내로 투과시키는 적외선투과창(47)과, 상기 적외선투과창(47)을 통과한 적외선의 경로를 유지시키는 적외선유도관(48)로 각각 구성되며, 상기 각 자외선다이오드(41a)(42b)는 다수 개로 구성이 가능하다.As shown in the drawing, the cold electron generation module 40 is divided into first and second cold electron generation modules 40a and 40b, and the first and second cold electron generation modules 40a and 40b respectively. ) Vacuum the external infrared rays between the ultraviolet diodes (41a) (42b), the MCP electron multiplier (43a, 43b) (44a, 44b), and each of the divided cold electron generation module (40a, 40b) An infrared transmission window 47 for transmitting into the chamber 10, and an infrared induction pipe 48 for maintaining a path of infrared light passing through the infrared transmission window 47 , respectively, each of the ultraviolet diodes (41a) ( 42b) can be configured in plural numbers.

여기서, 적외선투과창(47)은 적외선 레이저가 진공챔버 내로 투과되도록 대기압과 진공챔버(10) 사이에 투명창으로 구성되며, 진공챔버(10)가 진공상태를 유지하도록 진공실링 되어 있다. Here, the infrared transmission window 47 is composed of a transparent window between the atmospheric pressure and the vacuum chamber 10 so that the infrared laser is transmitted into the vacuum chamber, the vacuum chamber 10 is vacuum sealed to maintain the vacuum state.

상기 적외선유도관(48)은 상기 적외선투명창(47)을 통과한 적외선의 통과 경로로 가느다란 전기적 비전도체의 원통형 구조로 구성되며, 상기 각 냉전자발생모듈(40a)(40b) 구조물을 지지하며, 적외선레이저가 상기 냉전자발생모듈(40a)(40b)을 훼손하는 것을 방지하는 기능을 한다.
The infrared induction pipe 48 is composed of a cylindrical structure of an electrical non-conductor thin in the path of infrared light passing through the infrared transparent window 47, and supports the structure of each cold electron generating module (40a, 40b) In addition, the infrared laser serves to prevent damage to the cold electron generation module 40a or 40b.

상기 제1, 제2냉전자발생모듈(40a)(40b)에서 발생된 자외선 광자는 상기 전자집적렌즈(45) 및 그리드(46)을 통해 직진성 냉전자로 상기 이온트랩(20) 내로 주입된다.Ultraviolet photons generated by the first and second cold electron generating modules 40a and 40b are injected into the ion trap 20 through the electron integration lens 45 and the grid 46 by the linear cold electrons.

이하, 상기 분할 구성된 제1, 제2냉전자발생모듈(40a)(40b)의 구체적인 작용은 상기 도 1, 2의 상세한 설명과 동일하므로 이를 참조한다.
Hereinafter, specific operations of the divided first and second cold electron generating modules 40a and 40b are the same as those of the detailed description of FIGS.

본 발명은 상기한 실시 예에 한정되지 않고, 이하의 특허청구 범위에서 청구하는 본 발명의 요지를 벗어남이 없이 본 발명이 속하는 분야에서 통상의 지식을 가진 자라면 누구든지 다양한 변경 실시가 가능한 범위까지 본 발명의 기술적 정신이 있다고 할 것이다.
The present invention is not limited to the above-described embodiments, and any person having ordinary skill in the art to which the present invention pertains can make various changes without departing from the gist of the present invention as claimed in the following claims. It will be said that there is a technical spirit of the present invention.

10 : 진공챔버 20 : 이온트랩
31, 32, 33 : 전원공급장치 40,40a,40b : 냉전자발생모듈
41,42,41a,42b : 자외선다이오드
43,43a,43b : MCP전자증배판 전면판
44,44a,44b : MCP전자증배판 후면판
45 : 전자집적렌즈 46 : 그리드
47 : 적외선 투과창 48 : 적외선유도관10: vacuum chamber 20: ion trap
31, 32, 33: power supply device 40, 40a, 40b: cold electron generating module
41,42,41a, 42b: UV Diode
43,43a, 43b: MCP electron multiplier front panel
44,44a, 44b: MCP Electron Multiplier Back Panel
45: electron integrated lens 46: grid
47: infrared transmission window 48: infrared induction pipe

Claims (6)

고진공 상태의 질량분석기 진공챔버 내부에 조사된 자외선광자로부터 다수의 냉전자를 발생하는 냉전자발생모듈로 구성된 냉전자를 이용한 음이온 발생과 전자포획 분해장치에 있어서,
상기 질량분석기 진공챔버 내에 자외선 광자를 방출하는 다수의 자외선다이오드;
상기 자외선다이오드로부터 자외선 광자들의 초기 전자방출을 유도 및 증폭하여 후면판에서 대량의 전자빔을 발생시키는 마이크로 채널 플레이트(MCP) 전자증배판;
상기 마이크로 채널 플레이트 전자증배판을 통해 증폭된 전자빔을 집적하는 전자집적렌즈; 및
상기 전자집적렌즈와 함께 전자빔의 에너지와 전류를 조정하는 그리드;를 포함하여 이루어지는 것을 특징으로 하는 냉전자를 이용한 음이온 발생 및 전자포획 분해장치.In the negative ion generation and electron trap decomposition apparatus using cold electrons composed of a cold electron generation module for generating a plurality of cold electrons from ultraviolet photons irradiated inside the vacuum chamber of a high vacuum mass spectrometer,
A plurality of ultraviolet diodes emitting ultraviolet photons in the mass spectrometer vacuum chamber;
A micro channel plate (MCP) electron multiplier plate for generating a large amount of electron beams from the rear plate by inducing and amplifying initial electron emission of ultraviolet photons from the ultraviolet diode;
An electron integrated lens for integrating an electron beam amplified by the micro channel plate electron multiplier; And
Anion generation and electron capture decomposition device using cold electrons, characterized in that it comprises a; and a grid for adjusting the energy and current of the electron beam with the electron integrated lens. 제 1 항에 있어서,
상기 자외선다이오드는 공급된 전원 온/오프 펄스신호에 따라 자외선 방출의 시간 및 강도를 조절하는 것을 특징으로 하는 냉전자를 이용한 음이온 발생 및 전자포획 분해장치.The method of claim 1,
The ultraviolet diode is anion generation and electron trap decomposition device using cold electrons, characterized in that for controlling the time and intensity of ultraviolet radiation according to the supplied power on / off pulse signal. 제 1 항에 있어서,
상기 그리드는 상기 마이크로 채널 플레이트 전자증배판에서 발생한 전자의 에너지와 전류를 조정하는 것을 특징으로 하는 냉전자를 이용한 음이온 발생 및 전자포획 분해장치.The method of claim 1,
The grid is an anion generation and electron trap decomposition device using cold electrons, characterized in that for adjusting the energy and current of the electrons generated in the micro-channel plate multiplier. 제 1항에 있어서,
상기 마이크로 채널 플레이트 전자증배판에서 발생한 저에너지 전자를 중성분자와 반응시켜 음이온을 생성시키는 것을 특징으로 하는 냉전자를 이용한 음이온 발생 및 전자포획 분해장치.The method of claim 1,
Anion generation and electron trap decomposition apparatus using cold electrons, characterized in that for generating negative ions by reacting the low-energy electrons generated in the micro-channel plate electron multiplier with a heavy component. 제 1 항에 있어서,
상기 냉전자발생모듈은 다수 개로 분할되며,
상기 분할된 각 냉전자발생모듈은 자외선다이오드 및 마이크로 채널 플레이트 전자증배판을 각각 포함하여 구성된 것을 특징으로 하는 냉전자를 이용한 음이온 발생 및 전자포획 분해장치.The method of claim 1,
The cold electron generation module is divided into a plurality,
Each of the divided cold electron generating modules comprises an ultraviolet diode and a micro channel plate electron multiplier, respectively. 제 1 항에 있어서,
상기 냉전자발생모듈은 다수 개로 분할되며,
IRMPD(Infrared Mulitple Photon Dissociation) 장치와 함께 사용할 경우 상기 분할된 각 냉전자발생모듈 사이에서 외부의 적외선을 진공챔버내로 투과시키는 적외선투과창; 및 상기 적외선투과창을 통과한 적외선의 경로를 유지시키는 적외선유도관;을 포함한 마이크로 채널 플레이트 전자증배판을 사용하는 것을 특징으로 하는 냉전자를 이용한 음이온 발생과 전자포획 분해장치.The method of claim 1,
The cold electron generation module is divided into a plurality,
An infrared transmission window for transmitting external infrared rays into the vacuum chamber between each of the divided cold electron generating modules when used with an Infrared Mulitple Photon Dissociation (IRMPD) device; And an infrared guide tube for maintaining a path of infrared rays passing through the infrared transmission window. The negative ion generating and electron trapping apparatus using cold electrons, characterized in that it uses a microchannel plate electron multiplier plate.
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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6239549B1 (en) 1998-01-09 2001-05-29 Burle Technologies, Inc. Electron multiplier electron source and ionization source using it
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Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6239549B1 (en) 1998-01-09 2001-05-29 Burle Technologies, Inc. Electron multiplier electron source and ionization source using it
JP2005351887A (en) 2004-04-29 2005-12-22 Burle Technologies Inc Detector for bipolar time-of-flight mass spectrometer
KR20100112136A (en) * 2007-12-19 2010-10-18 브룩스 오토메이션, 인크. Ionization gauge having electron multiplier cold emission source
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