KR101295778B1 - Scratch Tester - Google Patents

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KR101295778B1
KR101295778B1 KR1020110100558A KR20110100558A KR101295778B1 KR 101295778 B1 KR101295778 B1 KR 101295778B1 KR 1020110100558 A KR1020110100558 A KR 1020110100558A KR 20110100558 A KR20110100558 A KR 20110100558A KR 101295778 B1 KR101295778 B1 KR 101295778B1
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Abstract

본 발명은 스크래치 테스터에 관한 것으로서, 보다 상세하게는 코팅의 스크래치 저항성 및 접착력을 평가하는 스트래치 테스터에 관한 것이다.
본 발명은 검사될 코팅층이 형성된 시료를 지지하는 시료지지부와; 상기 시료지지부 상에 설치되어 상기 시료지지부에 지지된 시료와 상대이동에 의하여 시료에 형성된 코팅층에 스크래치를 형성하는 팁부와; 상기 팁부를 시료 쪽으로 인가하중으로 가압되도록 하는 가압부와; 상기 팁부에 설치되어 상기 팁부의 온도를 제어하는 온도제어부를 포함하는 것을 특징으로 하는 스크래치 테스터를 개시한다.The present invention relates to a scratch tester, and more particularly to a scratch tester to evaluate the scratch resistance and adhesion of the coating.
The present invention includes a sample support for supporting a sample having a coating layer to be inspected; A tip part installed on the sample support part to form a scratch on the coating layer formed on the sample by relative movement with the sample supported on the sample support part; A pressurizing portion configured to pressurize the tip portion to an applied load toward a sample; Disclosed is a scratch tester, characterized in that it comprises a temperature control unit installed on the tip to control the temperature of the tip.

Description

스크래치 테스터 {Scratch Tester}Scratch Tester}

본 발명은 스크래치 테스터에 관한 것으로서, 보다 상세하게는 코팅의 스크래치 저항성 및 접착력을 평가하는 스트래치 테스터에 관한 것이다.The present invention relates to a scratch tester, and more particularly to a scratch tester to evaluate the scratch resistance and adhesion of the coating.

스크래치 테스터란, 검사될 코팅층이 형성된 시료에 스크래치를 형성하여 코팅층의 스크래치 저항성, 접착력 등을 검사하는 장치를 말한다.The scratch tester refers to an apparatus for forming a scratch on a sample on which a coating layer to be inspected is formed to inspect scratch resistance, adhesion, and the like of the coating layer.

종래의 스크래치 테스터는 소정의 하중으로 시료의 코팅층에 스크래치를 형성하는 팁부재와, 팁부재와의 마찰에 의하여 스크래치를 형성하도록 시료를 지지한 상태로 이동시켜 시료지지부를 포함하여 구성된다.The conventional scratch tester includes a tip member for forming a scratch on the coating layer of the sample under a predetermined load, and a sample support by moving the sample member while supporting the sample to form a scratch by friction with the tip member.

특히 스크래치 테스터는 코팅된 시료에 대한 코팅층의 스크래치 저항성, 접착력 등을 검사하는데 있어 그 검사의 신뢰성 및 활용성을 고려하여 보다 다양한 조건에서의 스크래치 검사가 필요하다.In particular, the scratch tester needs to inspect the scratch under a variety of conditions in consideration of the reliability and utility of the inspection in inspecting the scratch resistance and adhesion of the coating layer to the coated sample.

본 발명의 목적은 상기와 같은 필요성을 인식하여, 코팅층에 대한 고온에서의 스크래치 검사를 가능하게 하여 고온 조건 등 보다 다양한 환경에 대한 스크래치 검사가 가능한 스크래치 테스터를 제공하는 데 있다.It is an object of the present invention to recognize the necessity as described above, to enable a scratch test at a high temperature for the coating layer to provide a scratch tester capable of a scratch test for a variety of environments, such as high temperature conditions.

본 발명은 상기와 같은 본 발명의 목적을 달성하기 위하여 창출된 것으로서, 본 발명은 검사될 코팅층이 형성된 시료를 지지하는 시료지지부와; 상기 시료지지부 상에 설치되어 상기 시료지지부에 지지된 시료와 상대이동에 의하여 시료에 형성된 코팅층에 스크래치를 형성하는 팁부와; 상기 팁부를 시료 쪽으로 인가하중으로 가압되도록 하는 가압부와; 상기 팁부에 설치되어 상기 팁부의 온도를 제어하는 온도제어부를 포함하는 것을 특징으로 하는 스크래치 테스터를 개시한다.The present invention was created to achieve the object of the present invention as described above, the present invention includes a sample support for supporting a sample formed with a coating layer to be inspected; A tip part installed on the sample support part to form a scratch on the coating layer formed on the sample by relative movement with the sample supported on the sample support part; A pressurizing portion configured to pressurize the tip portion to an applied load toward a sample; Disclosed is a scratch tester, characterized in that it comprises a temperature control unit installed on the tip to control the temperature of the tip.

상기 팁부는 상기 시료지지부를 향하여 고정설치된 금속재질의 팁부재를 포함하며, 상기 온도제어부는 상기 팁부재의 외주면에 결합되어 상기 팁부재를 가열하는 밴드히터를 포함할 수 있다.The tip part may include a metal tip member fixedly installed toward the sample support part, and the temperature control part may include a band heater coupled to an outer circumferential surface of the tip member to heat the tip member.

상기 시료지지부는 상기 팁부의 단부에 대하여 적어도 일방향으로 이동되도록 제어될 수 있다.The sample support part may be controlled to move in at least one direction with respect to the end of the tip part.

상기 온도제어부는 상기 팁부를 가열하기 위한 가열부 및 상기 팁부를 냉각하기 위한 냉각부 중 적어도 어느 하나가 설치될 수 있다.At least one of a heating part for heating the tip part and a cooling part for cooling the tip part may be installed.

상기 냉각부는 상기 팁부에 상하로 관통형성되며 공압전달관과 연결되어 공압전달관을 통하여 전달된 공기가 흐르는 복수의 에어홀들을 포함할 수 있다.The cooling unit may include a plurality of air holes through which the air is passed through the pneumatic transfer tube and connected to the pneumatic transfer tube.

상기 팁부의 단부에는 그 온도를 측정하기 위한 온도센서가 추가로 설치될 수 있다.At the end of the tip portion may be additionally installed a temperature sensor for measuring the temperature.

본 발명에 따른 스크래치 테스터는 검사될 코팅층이 형성된 시료에 대한 스크래치를 형성하는 팁부의 온도를 제어하기 위한 온도제어부를 추가로 설치하여 고온 등의 다양한 조건을 부여하면서 스크래치 형성을 통한 보다 다양한 조건의 스크래치 검사가 가능한 이점이 있다.The scratch tester according to the present invention additionally installs a temperature controller for controlling the temperature of the tip forming the scratch on the sample having the coating layer to be inspected, giving various conditions such as high temperature, and scratching under a wider range of conditions. The test has the advantage of being possible.

특히 본 발명에 따른 스크래치 테스터는 온도제어부를 팁부를 가열하기 위한 밴드히터와 같은 히터로 하여 팁부를 소정온도로 가열한 후 코팅층에 대한 스크래치 형성 등을 통하여 고온조건의 스크래치 검사를 수행할 수 있다.In particular, the scratch tester according to the present invention may perform a scratch test under a high temperature condition by heating the tip to a predetermined temperature using a temperature control unit as a heater such as a band heater for heating the tip, and forming a scratch on the coating layer.

도 1은 본 발명에 따른 스크래치 테스터를 보여주는 개념도이다.
도 2는 도 1에서 A부분을 확대한 단면도이다.1 is a conceptual diagram showing a scratch tester according to the present invention.
FIG. 2 is an enlarged cross-sectional view of part A of FIG. 1.

이하 본 발명에 따른 스크래치 테스터에 관하여 첨부된 도면을 참조하여 상세히 설명하면 다음과 같다.Hereinafter, the scratch tester according to the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings.

도 1은 본 발명에 따른 스크래치 테스터를 보여주는 개념도이고, 도 2는 도 1에서 A부분을 확대한 단면도이다.1 is a conceptual view showing a scratch tester according to the present invention, Figure 2 is an enlarged cross-sectional view of the portion A in FIG.

본 발명에 따른 스크래치 테스터는 도 1 및 도 2에 도시된 바와 같이, 검사될 코팅층(2)이 형성된 시료(1)를 지지하는 시료지지부(10)와; 시료지지부(10) 상에 설치되어 시료지지부(10)에 지지된 시료(1)와 상대이동에 의하여 시료(1)에 형성된 코팅층(2)에 스크래치(3)를 형성하는 팁부(20)와; 팁부(20)를 시료(1) 쪽으로 인가하중으로 가압되도록 하는 가압부(30)와; 팁부(20)에 설치되어 팁부(20)의 온도를 제어하는 온도제어부(40)를 포함한다.The scratch tester according to the present invention, as shown in Figures 1 and 2, and a sample support 10 for supporting a sample (1) formed with a coating layer (2) to be inspected; A tip part 20 installed on the sample support part 10 and forming a scratch 3 on the coating layer 2 formed on the sample 1 by relative movement with the sample 1 supported by the sample support part 10; A pressurizing portion 30 for pressing the tip portion 20 to the load applied toward the sample 1; It is installed on the tip portion 20 includes a temperature controller 40 for controlling the temperature of the tip portion (20).

여기서 본 발명에 따른 스크래치 테스터의 검사대상은 코팅층이 형성된 부재로서, 코팅층의 스크래치 저항성, 접착력, 마찰력 등을 측정할 수 있는 대상이면 어떠한 대상도 가능하다.Here, the inspection object of the scratch tester according to the present invention is a member having a coating layer, and any object can be used as long as it is an object that can measure scratch resistance, adhesion, friction, and the like of the coating layer.

상기 시료지지부(10)는 시료(1)가 안착되어 지지되는 구성으로서, 시료(1)를 지지할 수 있는 구성이면 어떠한 구성도 가능하다.The sample support part 10 is a structure in which the sample 1 is seated and supported, and any structure can be used as long as it can support the sample 1.

한편 상기 시료지지부(10)는 시료(1)에 대하여 상대이동이 필요한바, 팁부(20)의 단부에 대하여 적어도 일방향으로 이동되도록 제어될 수 있다.Meanwhile, the sample support part 10 may be controlled to be moved in at least one direction with respect to an end of the tip part 20 because a relative movement is required with respect to the sample 1.

특히 상기 시료지지부(10)는 코팅층(2)에 대한 다양한 검사 수행 가능성을 고려하여, X축방향, Y축방향 및 회전방향 중 적어도 어느 하나의 방향으로 이동되도록 구성될 수 있다.In particular, the sample support unit 10 may be configured to move in at least one of the X-axis direction, the Y-axis direction and the rotation direction in consideration of the possibility of performing various tests on the coating layer (2).

상기 팁부(20)는 시료지지부(10)에 안착된 시료(1)의 코팅층(2)에 미리 설정된 인가하중을 가하면서 상대이동에 의하여 시료(1)의 코팅층(2)에 스크래치(3)를 형성하여 형성된 스크래치(3)에 따라서 스크래치 저항성, 접착력 등을 검사하는 구성으로서 다양한 구성이 가능하다.The tip portion 20 applies a predetermined applied load to the coating layer 2 of the sample 1 seated on the sample support 10, while applying scratches to the coating layer 2 of the sample 1 by relative movement. According to the scratches 3 formed and formed, various configurations are possible as a structure which examines scratch resistance, adhesive force, etc.

상기 팁부(20)는 마찰에 의하여 코팅층(2)에 스크래치(3)를 형성함을 고려하여 다이아몬드 등 내마모성 재질의 사용이 바람직하다.In consideration of the formation of the scratch 3 on the coating layer 2 by friction, the tip portion 20 is preferably a wear-resistant material such as diamond.

한편 상기 팀부(20)의 일예로서, 시료지지부(10)를 향하여 고정설치된 금속재질의 팁부재를 포함할 수 있다.On the other hand, as an example of the team portion 20, it may include a metal tip member fixedly installed toward the sample support portion (10).

상기 가압부(30)는 팁부(20)에 의하여 시료(1)의 코팅층(2)에 인가되는 인가하중이 고정값 및/또는 가변값 등으로 설정될 수 있도록 팁부(20)에 고정하중 및/또는 가변하중을 가하는 구성으로서 다양한 구성이 가능하다.The pressurizing portion 30 is fixed to the tip portion 20 so that the applied load applied to the coating layer 2 of the sample 1 by the tip portion 20 can be set to a fixed value and / or a variable value, etc. Alternatively, various configurations are possible as a configuration for applying a variable load.

한편 상기 팁부(20) 및 시료(1)의 코팅층(2)이 이루는 수직거리에 의하여 스크래치(3)의 형성이 가능한바, 가압부(30)는 팁부(20) 및 시료지지부(10)의 표면에 대한 수직거리를 조정하는 구성으로서 구현이 가능하다.On the other hand, it is possible to form the scratch 3 by the vertical distance between the tip portion 20 and the coating layer 2 of the sample 1, the pressing portion 30 is the surface of the tip portion 20 and the sample support portion 10 It can be implemented as a configuration to adjust the vertical distance with respect to.

이때 상기 팁부(20) 또는 시료지지부(10)가 가압부(30())에 의하여 상하로 이동가능하도록 설치됨으로써 팁부(20) 및 시료지지부(10)의 표면에 대한 수직거리의 조정이 가능하다.At this time, the tip portion 20 or the sample support portion 10 is installed to be moved up and down by the pressing portion 30 (), so that the vertical distance with respect to the surface of the tip portion 20 and the sample support portion 10 can be adjusted. .

상기 온도제어부(40)는 팁부(20)에 설치되어 팁부(20)의 온도를 제어하는 구성으로서 팁부(20)에 대한 온도제어를 위한 구성이면 어떠한 구성도 가능하다.The temperature control part 40 is installed in the tip portion 20 to control the temperature of the tip portion 20 as long as the configuration for the temperature control for the tip portion 20 can be any configuration.

즉, 상기 온도제어부(40)는 팁부(20)를 가열하기 위한 가열부 및 팁부(20)를 냉각하기 위한 냉각부 중 적어도 어느 하나가 설치될 수 있다. That is, the temperature control part 40 may be provided with at least one of a heating part for heating the tip 20 and a cooling part for cooling the tip 20.

그리고 온도제어부(40)는 팁부(20)를 가열하기 위한 가열부인 경우, 일예로서, 팁부재의 외주면에 결합되어 팁부재를 가열하는 밴드히터로 구성될 수 있다.In addition, when the temperature control part 40 is a heating part for heating the tip part 20, for example, the temperature control part 40 may be configured as a band heater coupled to an outer circumferential surface of the tip member to heat the tip member.

또한 상기 온도제어부(40)는 팁부(20)를 냉각하기 위한 냉각부를 포함하는 경우, 냉각부(미도시)는 팁부(10)에 상하로 관통형성되며 공압전달관(미도시)과 연결되어 공압전달관을 통하여 전달된 공기가 흐르는 복수의 에어홀들을 포함할 수 있다.In addition, when the temperature control part 40 includes a cooling part for cooling the tip part 20, the cooling part (not shown) is formed to penetrate up and down the tip part 10, and is connected to a pneumatic transfer tube (not shown) to pneumatically. It may include a plurality of air holes through which the air delivered through the delivery pipe flows.

또한 상기 온도제어부(40)는 가열부 및 냉각부를 모두 구비하여, 가열부에 의한 가열 후 냉각을 요하는 경우 냉각부를 통하여 보다 신속한 냉각이 가능하여 후속되는 검사를 빠르게 수행할 수 있다.In addition, the temperature control unit 40 includes both a heating unit and a cooling unit, and when cooling is required after heating by the heating unit, more rapid cooling can be performed through the cooling unit, so that subsequent inspection can be performed quickly.

여기서 상기 가열부 및 냉각부는 별도로 설치된 제어부(31)에 의하여 제어된다. 특히 상기 온도제어부(40)는 스크래치 테스트를 위한 시료(1)의 코팅층(2)의 검사에 적합한 온도로 가열 또는 냉각하기 위하여, 팁부(20), 특히 그 단부에 그 온도를 측정하기 위한 온도센서(미도시)가 추가로 설치됨이 바람직하다.Here, the heating unit and the cooling unit are controlled by a control unit 31 installed separately. In particular, the temperature control part 40 is a temperature sensor for measuring the temperature at the tip portion 20, in particular its end, in order to heat or cool to a temperature suitable for inspection of the coating layer 2 of the sample 1 for the scratch test. It is preferable that (not shown) be further installed.

상기와 같은 구성을 가지는 스크래치 테스터의 작동에 관하여 상세히 설명하면 다음과 같다.Referring to the operation of the scratch tester having the configuration as described above in detail.

우선 검사될 코팅층(2)이 형성된 시료(1)를 시료지지부(10) 상에 안착시킨다.First, the sample 1 on which the coating layer 2 to be inspected is formed is placed on the sample support 10.

그리고 시료(1)가 시료지지부(10) 상에 안착된 후, 시료지지부(10) 또는 팁부(20)를 이동시켜 시료(1)의 코팅층(2)에 스크래치를 형성하여 스크래치 저항성, 접착력, 마찰력 등을 검사한다.After the sample 1 is seated on the sample support 10, the sample support 10 or the tip 20 is moved to form scratches on the coating layer 2 of the sample 1, thereby providing scratch resistance, adhesion, and frictional force. Check your back.

이때 상기 팁부(20)는 시료지지부(10)와의 수직거리를 검사에 적합하게 조절하거나, 고정하중 또는 가변하중을 시료(1)에 인가하면서 스크래치를 형성하여 시료(1)에 대한 다양한 검사를 수행한다.At this time, the tip portion 20 adjusts the vertical distance with the sample support 10 to suit the inspection, or forms a scratch while applying a fixed load or a variable load to the sample 1 to perform a variety of tests on the sample (1) do.

특히 상기 온도제어부(40), 특히 히터를 이용하여 팁부(20)를 검사에 적합한 온도로 가열한 후 시료(1)에 대한 검사를 수행함으로써 보다 다양한 환경에서의 시료검사를 수행할 수 있다.
In particular, by using the temperature control unit 40, in particular a heater to heat the tip portion 20 to a temperature suitable for inspection, the inspection of the sample (1) can be carried out to test the sample in a variety of environments.

이상은 본 발명에 의해 구현될 수 있는 바람직한 실시예의 일부에 관하여 설명한 것에 불과하므로, 주지된 바와 같이 본 발명의 범위는 위의 실시예에 한정되어 해석되어서는 안 될 것이며, 위에서 설명된 본 발명의 기술적 사상과 그 근본을 함께 하는 기술적 사상은 모두 본 발명의 범위에 포함된다고 할 것이다.It will be apparent to those skilled in the art that various modifications and variations can be made in the present invention without departing from the spirit or scope of the invention as defined in the appended claims. It is to be understood that both the technical idea and the technical spirit of the invention are included in the scope of the present invention.

1 : 시료 2 : 코팅층
10 : 시료지지부 20 : 팁부
30 : 가압부 40 : 온도제어부 1: Sample 2: Coating Layer
10: sample support 20: tip
30: pressurization part 40: temperature control part

Claims (6)

검사될 코팅층이 형성된 시료를 지지하는 시료지지부와;
상기 시료지지부 상에 설치되어 상기 시료지지부에 지지된 시료와 상대이동에 의하여 시료에 형성된 코팅층에 스크래치를 형성하는 팁부와;
상기 팁부가 시료에 형성된 코팅층에 스크래치를 형성되도록 상기 팁부를 시료 쪽으로 인가하중으로 가압하는 가압부와;
상기 팁부의 온도를 조절한 후 코팅층에 스크래치를 형성함으로써 검사를 수행하기 위하여 상기 팁부에 설치되어 상기 팁부의 온도를 제어하는 온도제어부를 포함하며,
상기 온도제어부는, 상기 코팅층에 스크래치를 형성하면서 검사를 수행하기 위하여 상기 팁부의 온도를 조절하는 것을 특징으로 하는 스크래치 테스터.A sample support for supporting a sample having a coating layer to be inspected;
A tip part installed on the sample support part to form a scratch on the coating layer formed on the sample by relative movement with the sample supported on the sample support part;
A pressurizing portion for pressing the tip portion with an applied load toward the sample so that the tip portion has a scratch formed on the coating layer formed on the sample;
And a temperature control part installed on the tip part to control the temperature of the tip part in order to perform inspection by adjusting the temperature of the tip part and forming a scratch on the coating layer.
The temperature control unit, the scratch tester, characterized in that for adjusting the temperature of the tip to perform the inspection while forming a scratch on the coating layer. 청구항 1에 있어서,
상기 팁부는 상기 시료지지부를 향하여 고정설치된 금속재질의 팁부재를 포함하며,
상기 온도제어부는 상기 팁부재의 외주면에 결합되어 상기 팁부재를 가열하는 밴드히터를 포함하는 것을 특징으로 하는 스크래치 테스터.The method according to claim 1,
The tip portion includes a metal tip member fixedly installed toward the sample support portion,
The temperature control unit is a scratch tester, characterized in that it comprises a band heater coupled to the outer peripheral surface of the tip member for heating the tip member. 청구항 1에 있어서,
상기 시료지지부는 상기 팁부의 단부에 대하여 적어도 일방향으로 이동되도록 제어되는 것을 특징으로 하는 스크래치 테스터.The method according to claim 1,
Scratch tester, characterized in that the sample support is controlled to move in at least one direction with respect to the end of the tip portion. 청구항 1에 있어서,
상기 온도제어부는
상기 팁부를 가열하기 위한 가열부 및 상기 팁부를 냉각하기 위한 냉각부 중 적어도 어느 하나가 설치된 것을 특징으로 하는 스크래치 테스터.The method according to claim 1,
The temperature control unit
The scratch tester, characterized in that at least one of a heating portion for heating the tip portion and a cooling portion for cooling the tip portion. 청구항 4에 있어서,
상기 냉각부는 상기 팁부에 상하로 관통형성되며 공압전달관과 연결되어 공압전달관을 통하여 전달된 공기가 흐르는 복수의 에어홀들을 포함하는 것을 특징으로 하는 스크래치 테스터.The method of claim 4,
The cooling unit is a scratch tester, characterized in that it comprises a plurality of air holes penetrating up and down the tip portion and connected to the pneumatic transfer tube, the air flows through the pneumatic transfer tube. 청구항 1 내지 청구항 5 중 어느 하나의 항에 있어서,
상기 팁부의 단부에는 그 온도를 측정하기 위한 온도센서가 추가로 설치된 것을 특징으로 하는 스크래치 테스터.The method according to any one of claims 1 to 5,
Scratch tester, characterized in that the temperature sensor for measuring the temperature is further installed at the end of the tip portion.
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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CN109765136A (en) * 2019-01-02 2019-05-17 浙江锋源氢能科技有限公司 A kind of measuring method of metal double polar plates temperature difference resistance energy

Families Citing this family (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN113588475B (en) * 2021-08-03 2024-03-22 标格达精密仪器（广州）有限公司 Intelligent paint film scratch tester and testing method
CN113899641A (en) * 2021-11-01 2022-01-07 常德金鹏印务有限公司 Scratch resistance detection device and detection method

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR19990038799A (en) * 1997-11-07 1999-06-05 윤종용 Scratching Device for Evaluation of Adhesion of Semiconductor Wafer and Adhesion Evaluation Method Using the Same
KR20070069617A (en) * 2005-12-28 2007-07-03 삼성전자주식회사 Test system for image sensor module

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR19990038799A (en) * 1997-11-07 1999-06-05 윤종용 Scratching Device for Evaluation of Adhesion of Semiconductor Wafer and Adhesion Evaluation Method Using the Same
KR20070069617A (en) * 2005-12-28 2007-07-03 삼성전자주식회사 Test system for image sensor module

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN109765136A (en) * 2019-01-02 2019-05-17 浙江锋源氢能科技有限公司 A kind of measuring method of metal double polar plates temperature difference resistance energy
CN109765136B (en) * 2019-01-02 2021-07-23 浙江锋源氢能科技有限公司 Method for measuring temperature difference resistance of metal bipolar plate

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