KR101276674B1 - 이중대역 적외선 광학계 - Google Patents

이중대역 적외선 광학계 Download PDF

Info

Publication number
KR101276674B1
KR101276674B1 KR1020080094256A KR20080094256A KR101276674B1 KR 101276674 B1 KR101276674 B1 KR 101276674B1 KR 1020080094256 A KR1020080094256 A KR 1020080094256A KR 20080094256 A KR20080094256 A KR 20080094256A KR 101276674 B1 KR101276674 B1 KR 101276674B1
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
infrared
infrared light
mid
far
dual band
Prior art date
Application number
KR1020080094256A
Other languages
English (en)
Other versions
KR20100034991A (ko
Inventor
김서현
송천호
김현숙
김창우
Original Assignee
국방과학연구소
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 국방과학연구소 filed Critical 국방과학연구소
Priority to KR1020080094256A priority Critical patent/KR101276674B1/ko
Publication of KR20100034991A publication Critical patent/KR20100034991A/ko
Application granted granted Critical
Publication of KR101276674B1 publication Critical patent/KR101276674B1/ko

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B13/00Optical objectives specially designed for the purposes specified below
    • G02B13/14Optical objectives specially designed for the purposes specified below for use with infrared or ultraviolet radiation
    • G02B13/146Optical objectives specially designed for the purposes specified below for use with infrared or ultraviolet radiation with corrections for use in multiple wavelength bands, such as infrared and visible light, e.g. FLIR systems
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B27/00Optical systems or apparatus not provided for by any of the groups G02B1/00 - G02B26/00, G02B30/00
    • G02B27/0025Optical systems or apparatus not provided for by any of the groups G02B1/00 - G02B26/00, G02B30/00 for optical correction, e.g. distorsion, aberration
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B27/00Optical systems or apparatus not provided for by any of the groups G02B1/00 - G02B26/00, G02B30/00
    • G02B27/10Beam splitting or combining systems
    • G02B27/1006Beam splitting or combining systems for splitting or combining different wavelengths
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B7/00Mountings, adjusting means, or light-tight connections, for optical elements
    • G02B7/28Systems for automatic generation of focusing signals

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Toxicology (AREA)
  • Lenses (AREA)

Abstract

이중대역 적외선 광학계를 개시한다. 이중대역 적외선 광학계는 이중대역 적외선광을 투과시키는 이중대역적외선투과부, 투과된 이중대역 적외선 광의 파장에 따라 중적외선 광 및 원적외선 광을 분할하는 광속분할부, 분할된 중적외선 광을 검출하는 중적외선검출부 및 분할된 원적외선 광을 검출하는 원적외선검출부를 포함한다. 본 발명에 따르면, 하나의 장치에서 같은 영역에 대한 두 대역의 영상을 동시에 탐색할 수 있게 된다.
이중대역, 중적외선, 원적외선, 광학계

Description

이중대역 적외선 광학계{Dual band infrared optical apparatus}
본 발명은 이중대역 적외선 광학계에 관한 것으로, 특히, 동일 영역에 대한 중적외선 광과 원적외선 광을 하나의 장치에서 동시에 검출하는 이중대역 적외선 광학계에 관한 것이다.
통상적으로 절대온도 0K이상의 모든 물체는 전자기파를 방사하는데, 적외선 탐색기는 대상 물체에서 방사하는 전자기파 중에서 적외선만을 센서상에 집속시켜 광학적인 변조 또는 변형을 거쳐 다시 전기적인 신호로 변환 처리하여 대상 표적의 시계상의 상대 위치를 알아내고 표적을 추적하는 기능을 갖는다.
적외선 열상 장비는 이러한 적외선 탐색기를 이용하여, 물체 및 물체의 배경에서 나오는 미약한 적외선 에너지 차이를 영상화하는 장비이다. 이러한 적외선 에너지 차이는 보통 물체가 갖는 온도차이에 비례하므로 온도가 다른 물체를 영상으로 표현할 수 있다. 이에 따라 적외선 열상 장비는 건물의 열 손실 탐지, 저장탱크 내부의 저장량 측정, 전송선로의 이상유무 확인, 침입자 감시 등 산업계에서도 많이 이용되고 있다. 최근에는 인쇄회로 기판의 검사와 분석, 위성에 의한 기상관측, 의료기기에도 적용되어 점차 그 응용범위가 확대되어 가고 있다.
종래의 적외선 탐색 장치 및 적외선 열상 장비는 중적외선 열상과 원적외선 열상을 탐지하고 영상화함에 있어서, 각각 별개의 장치에서 양자를 구분하여 독립적으로 처리하도록 하였다.
본 발명이 이루고자 하는 기술적 과제는, 동일 영역에 대한 중적외선 광과 원적외선 광을 하나의 장치에서 동시에 검출하는 이중대역 적외선 광학계를 제공하는데 있다.
상기의 기술적 과제를 이루기 위한, 본 발명에 의한 이중대역 적외선 광학계는 이중대역 적외선광을 투과시키는 이중대역적외선투과부; 상기 투과된 이중대역 적외선 광의 파장에 따라 상기 중적외선 광 및 상기 원적외선 광을 분할하는 광속분할부; 상기 분할된 중적외선 광을 검출하는 중적외선검출부; 및 상기 분할된 원적외선 광을 검출하는 원적외선검출부를 포함한다.
상기의 기술적 과제를 이루기 위한, 본 발명에 의한 이중대역 적외선 광학계는 이중대역 적외선 광을 투과시키는 이중대역적외선투과부; 상기 투과된 이중대역 적외선 광의 파장에 따라 중적외선 광 및 원적외선 광으로 분할하는 광속분할부; 내장된 센서에서 감지된 온도에 따라 상기 분할된 중적외선 광의 미세초점을 조절하는 제1미세초점조절부; 상기 제1미세초점조절부를 통과한 중적외선 광을 검출하는 중적외선검출부; 상기 온도에 따라 상기 분할된 원적외선 광의 미세초점을 조절하는 제2미세초점조절부; 및 상기 제2미세초점조절부를 통과한 원적외선 광을 검출하는 원적외선검출부;를 포함한다.
본 발명에 따르면, 동일한 영역에 대한 중적외선 대역과 원적외선 대역의 광을 동시에 검출할 수 있다. 이러한 기능을 가진 광학계가 360도 회전하는 구동헤드에 장착되면, 한 개의 구동 헤드로 두 파장 대역의 영상이 동시에 같은 영역을 탐색할 수 있다. 또한, 동시에 검출된 두 파장 대역의 영상을 영상합성기술에 의해 조합하여 열상장비에 활용하는 경우에 중적외선 열상과 원적외선 열상의 장점을 모두 갖춘 차세대 열상장비로도 개발할 수 있다.
이하의 내용은 단지 본 발명의 원리를 예시한다. 그러므로 당업자는 비록 본 명세서에 명확히 설명되거나 도시되지 않았지만 본 발명의 원리를 구현하고 본 발명의 개념과 범위에 포함된 다양한 장치를 발명할 수 있는 것이다. 또한, 본 명세서에 열거된 모든 조건부 용어 및 실시예들은 원칙적으로, 본 발명의 개념이 이해되도록 하기 위한 목적으로만 명백히 의도되고, 이와 같이 특별히 열거된 실시예들 및 상태들에 제한적이지 않는 것으로 이해되어야 한다. 또한, 본 발명의 원리, 관점 및 실시예들 뿐만 아니라 특정 실시예를 열거하는 모든 상세한 설명은 이러한 사항의 구조적 및 기능적 균등물을 포함하도록 의도되는 것으로 이해되어야 한다. 또한, 이러한 균등물들은 현재 공지된 균등물뿐만 아니라 장래에 개발될 균등물 즉 구조와 무관하게 동일한 기능을 수행하도록 발명된 모든 소자를 포함하는 것으로 이해되어야 한다.
따라서, 프로세서 또는 이와 유사한 개념으로 표시된 기능 블럭을 포함하는 도면에 도시된 다양한 소자의 기능은 전용 하드웨어뿐만 아니라 적절한 소프트웨어 와 관련하여 소프트웨어를 실행할 능력을 가진 하드웨어의 사용으로 제공될 수 있다. 프로세서에 의해 제공될 때, 상기 기능은 단일 전용 프로세서, 단일 공유 프로세서 또는 복수의 개별적 프로세서에 의해 제공될 수 있고, 이들 중 일부는 공유될 수 있다. 또한, 프로세서, 제어 또는 이와 유사한 개념으로 제시되는 용어의 사용은 소프트웨어를 실행할 능력을 가진 하드웨어를 배타적으로 인용하여 해석되어서는 아니 되고, 제한 없이 디지털 신호 프로세서(DSP) 하드웨어, 소프트웨어를 저장하기 위한 롬(ROM), 램(RAM) 및 비휘발성 메모리를 암시적으로 포함하는 것으로 이해되어야 한다. 주지 관용의 다른 하드웨어도 포함될 수 있다.
상술한 목적, 특징 및 장점들은 첨부된 도면과 관련한 다음의 상세한 설명을 통하여 더욱 분명해 질 것이다. 본 발명을 설명함에 있어서, 관련된 공지 기술에 대한 구체적인 설명이 본 발명의 요지를 불필요하게 흐릴 수 있다고 판단되는 경우 그 상세한 설명을 생략한다. 이하, 첨부된 도면을 참조하여 본 발명에 따른 바람직한 실시 예를 상세히 설명한다.
도 1은 본 발명의 일실시예에 따른 이중대역 적외선 광학계의 구성을 도시한 도면이다.
도 1을 참조하면, 본 실시예에 따른 이중대역 적외선 광학계는 이중대역적외선투과부(110), 광속분할부(120), 중적외선검출부(130) 및 원적외선검출부(140)를 포함한다.
이중대역적외선투과부(11)는 중적외선 광과 원적외선 광을 포함하는 이중대역 적외선광을 투과시킨다.
이중대역적외선투과부(110)는 중적외선 광 및 원적외선 광을 서로 동일하게 수차보정함으로써, 서로 공통의 투과부를 통해 이중대역 적외선광을 투과할 수 있도록 구현한다.
종래와 같이 서로 다른 광학계를 통해 중적외선 광과 원적외선 광을 검출하는 경우에는, 중적외선 광학계와 원적외선 광학계가 각각 별도의 투과부(대물렌즈부)를 가져야 하기 때문에, 광학계의 크기도 크고, 그 무게도 무겁다는 단점이 있다.
따라서, 본 실시예와 같이 중적외선 광 및 원적외선 광에 대하여 공통의 투과부를 갖는 경우에는 종래에 비해 작고 가벼운 단일한 광학계를 구현할 수 있다.
광속분할부(120)는 투과된 이중대역 적외선 광의 파장에 따라 중적외선 광 및 원적외선 광을 분할한다. 광속분할부(120)는 중적외선 광을 반사시키고, 원적외선 광을 투과시키는 등의 방법을 사용하여 두 대역의 광을 서로 분리한다.
중적외선검출부(130)는 광속분할부(120)에서 분할된 중적외선 광을 검출한다.
원적외선검출부(140)는 광속분할부(120)에서 분할된 원적외선 광을 검출한다.
도 2는 발명의 일실시예에 따른 이중대역 적외선 광학계의 세부적인 구조의예를 도시한 것이다.
도 2를 참조하면, 본 실시예에 따른 이중대역 적외선 광학계는 이중대역적외선투과부(210), 광속분할부(220), 중적외선검출부(230) 및 원적외선검출부(240) 외 에도, 적외선 광이 입사하는 이중대역적외선창(205), 중적외선릴레이렌즈부(231) 및 원적외선릴레이렌즈부(250)를 포함한다.
이중대역적외선투과부(210)는 중적외선 영역의 광과 원적외선 영역의 광을 모두 포괄하여 투과시키면서 투과율이 95~98% 이상이 되도록 이중코팅된 대물렌즈들(211, 212)로 구성된다.
본 실시예에서의 대물렌즈들은 Ge를 포함하는 성분을 갖는다.
중적외선검출부(230) 및 원적외선검출부(240)는 중적외선검출부(230) 및 원적외선검출부(240)는 이중대역적외선투과부(210)에 속한 대물렌즈들의 중심과 광속분할부(220)의 중심을 연결한 광축을 기준으로 서로 대칭적으로 배치된다. 특히 본 실시예와 같이 단일한 투과부를 갖되 두 대역대의 광을 서로 다른 검출부들을 통해 검출하는 경우에는 이러한 검출부의 무게가 광학계 전체 무게에 있어 가장 큰 비중을 차지하므로, 서로 대칭적으로 배치하는 것이 바람직하다.
중적외선릴레이렌즈부(231)는 광속분할부(220)에서 분할된 중적외선 광을 중적외선검출부(230)로 전달하는 기능을 수행하는 것으로, Ge 및 SI를 포함하는 성분을 갖는 적어도 하나 이상의 렌즈들(232~238)로 구성되며, 수차보정을 위한 회절비구면을 가진 렌즈(235)을 포함한다.
회절 비구면은 회절 및 비구면의 특성을 동시에 이용하여 색수차 보정에 우수하고, 회절링 수 및 회절 깊이(depth) 등을 고려하여 설계하면 일반 비구면과 다른 최적의 효과를 도출할 수 있다. 이처럼 회절 비구면을 사용하는 경우에는 여러 장의 일반 비구면으로도 잘 안되는 수차보정을 한 장의 회절 비구면만으로 수행할 수 있어 제한된 공간 내에 각각의 렌즈를 적절히 배치하여 컴팩트한 구성을 가져야 하는 광학계에 있어서 유용하다.
또한, 중적외선릴레이렌즈부(231)는 이중대역적외선투과부(210)에 속한 대물렌즈들(211, 212)의 중심과 광속분할부(220)의 중심을 연결한 광축을 기준으로 대칭적으로 구성된 중적외선검출부로 광속분할부(220)에서 반사된 중적외선 광을 용이하게 전달하기 위해 중적외선광을 반사하는 중적외선축거울(221)을 포함할 수 있다.
원적외선릴레이렌즈부(241)는 광속분할부(220)에서 분할된 원적외선 광을 원적외선검출부(240)로 전달하는 기능을 수행하는 것으로, Ge를 포함하는 성분을 갖는 적어도 하나 이상의 렌즈(242~248)로 구성되며, 역시 수차보정을 위한 회절비구면(246)을 포함한다.
본 실시예에서는 중적외선검출부(230)가 이중대역적외선투과부(210)에 속한 대물렌즈들(211, 212)의 중심과 광속분할부(220)의 중심을 연결한 광축을 기준으로 아래쪽에 위치하고, 광속분할부(220)는 광축에 45도로 기울어진 판 형태로 중적외선 광을 아래로 반사하고, 반사된 중적외선 광은 중적외선릴레이렌즈부(231)를 거쳐 중적외선검출부(230)로 전달된다.
또한, 원적외선검출부(240)는 이중대역적외선투과부(210)에 속한 대물렌즈들(211, 212)의 중심과 광속분할부(220)의 중심을 연결한 광축을 기준으로 위쪽에 위치하고, 광속분할부(220)는 광축에 45도로 기울어진 판 형태로 원적외선 광을 그대로 투과하고, 투과된 원적외선 광은 원적외선릴레이렌즈부(241)를 거쳐 원적외선 검출부(240)로 전달된다.
원적외선릴레이렌즈부(241)는 이중대역적외선투과부(210)에 속한 대물렌즈들의 중심과 광속분할부(220)의 중심을 연결한 광축을 기준으로 대칭적으로 구성된 원적외선검출부로 광속분할부(220)에서 투과된 원적외선 광을 용이하게 전달하기 위해 원적외선축거울(222, 223)들을 포함할 수 있다.
바람직하게는, 중적외선릴레이렌즈부(231) 및 원적외선릴레이렌즈부(241)는 각각 전자 모터를 통해 위치가 조정되어 전달되는 중적외선 광의 미세초점을 조절하는 제1미세초점조절부(250) 및 제2미세초점조절부(260)를 포함한다.
제1미세초점조절부(250) 및 제2미세초점조절부(260) 각각은 중적외선검출부(230) 및 원적외선검출부(240)의 앞에 위치한 렌즈들(235~237, 245~247)로 구성된 부분으로 온도에 따라 그 위치를 조정함으로서 중적외선검출부(230)에 입사되는 중적외선 광 및 원적외선검출부(240)에 입사되는 원적외선 광의 미세초점을 조절한다.
온도에 따라 렌즈 재질의 굴절률 및 열팽창률이 변화하므로, 초점의 위치가 달라질 수 있으므로, 본 실시예에서는 광학계에 온도를 감지하는 센서를 내장하여, 내장된 센서에서 감지된 온도에 따라 그 위치 조정이 가능한 제1미세초점조절부(250) 및 제2미세초점조절부(260)를 통해 온도에 따른 초점의 위치 변화를 보상하고 있다.
즉, 제1미세초점조절부(250)에 속하는 렌즈들(235~237)은 광학계의 온도가 초점변화온도에 관한 임계값보다 큰 경우에는 광학계의 온도와 초점변화온도에 관 한 임계값의 차이만큼 중적외선검출부(230) 방향으로 이동하며, 광학계의 온도가 초점변화온도에 관한 임계값보다 작은 경우에는 광학계의 온도와 초점변화온도에 관한 임계값의 차이만큼 중적외선검출부(230)의 반대방향으로 이동한다.
또한, 제2미세초점조절부(260)에 속하는 렌즈들(245~247)는 광학계의 온도가 초점변화온도에 관한 임계값보다 큰 경우에는 광학계의 온도와 초점변화온도에 관한 임계값의 차이만큼 원적외선검출부(240) 방향으로 이동하며, 광학계의 온도가 초점변화온도에 관한 임계값보다 작은 경우에는 광학계의 온도와 초점변화온도에 관한 임계값의 차이만큼 원적외선검출부(240)의 반대방향으로 이동함으로써, 미세초점 조절 기능을 수행한다.
여기에서 초점변화온도에 관한 임계값이란 광학계에 사용한 렌즈들의 재질에 따라 달라지는 값으로, 기설정된 초점의 위치가 변하지 않는 온도 값을 의미한다.
도 3은 본 실시예에 따른 이중대역 적외선 광학계의 레이아웃을 도시한 도면이다. 도 3을 참조하면, 입사된 적외선 광은 Ge 재질의 이중코팅된 대물렌즈들(311, 312)을 지나 광축에 45°로 놓인 광속분할부(320)를 지날 때 중적외선과 원적외선으로 분할된다.
광속분할부(320)에서 투과된 7.7~10.3㎛의 원적외선 광은 광속분할부(320)를 투과한 후 위쪽의 원적외선릴레이렌즈부(341)을 지나 원적외선 검출부(340)에서 결상한다.
광속분할부(320)에서 반사된 3.7㎛~4.8㎛의 중적외선 광은 아래쪽의 중적외선릴레이렌즈부(331)을 지나 중적외선검출부(330)에 상을 맺는다.
결과적으로, 본 실시예에 따를 경우에 이중대역적외선투과부(310)에 속한 대물렌즈들(311, 312)의 중심과 광속분할부(320)의 중심을 연결한 광축을 기준으로 서로 대칭적으로 배치된 중적외선검출부(330)와 원적외선검출부(340)에서 각각 동일한 영역에 대한 서로 다른 파장 대역의 광을 동시에 검출할 수 있음을 보여준다.
이상과 같이 본 발명은 양호한 실시예에 근거하여 설명하였지만, 이러한 실시예는 이 발명을 제한하려는 것이 아니라 예시하려는 것으로, 본 발명이 속하는 기술분야의 숙련자라면 이 발명의 기술사상을 벗어남이 없이 위 실시예에 대한 다양한 변화나 변경 또는 조정이 가능함이 자명할 것이다. 그러므로, 이 발명의 보호범위는 첨부된 청구범위에 의해서만 한정될 것이며, 위와 같은 변화예나 변경예 또는 조정예를 모두 포함하는 것으로 해석되어야 할 것이다.
도 1은 본 발명의 일실시예에 따른 이중대역 적외선 광학계의 구성을 도시한 도면이다.
도 2는 본 발명의 일실시예에 따른 이중대역 적외선 광학계의 세부적인 구조의 예를 도시한 것이다.
도 3은 본 발명의 일실시예에 따른 이중대역 적외선 광학계의 레이아웃을 도시한 도면이다.

Claims (6)

  1. 이중대역 적외선 광을 투과시키는 이중대역적외선투과부;
    상기 투과된 이중대역 적외선 광의 파장에 따라 중적외선 광 및 원적외선 광으로 분할하는 광속분할부;
    상기 분할된 중적외선 광을 검출하는 중적외선검출부; 및
    상기 분할된 원적외선 광을 검출하는 원적외선검출부를 포함하는 것을 특징으로 하는 이중대역 적외선 광학계.
  2. 제1항에 있어서,
    상기 이중대역적외선투과부는 상기 중적외선 광 및 상기 원적외선 광을 서로 동일하게 수차보정하는 것을 특징으로 하는 이중대역 적외선 광학계.
  3. 제1항에 있어서,
    상기 이중대역적외선투과부는 이중대역으로 코팅된 적어도 하나 이상의 대물렌즈로 구성된 것을 특징으로 하는 이중대역 적외선 광학계.
  4. 제1항에 있어서,
    상기 원적외선검출부 및 상기 중적외선검출부는 상기 이중대역적외선투과부에 속한 대물렌즈들의 중심과 상기 광속분할부의 중심을 연결한 광축을 기준으로 서로 대칭적으로 배치되는 것을 특징으로 하는 이중대역 적외선 광학계.
  5. 제1항에 있어서,
    상기 광속분할부는 상기 이중대역적외선투과부에 속한 대물렌즈들의 중심과 상기 광속분할부의 중심을 연결한 광축에 45 도로 기울어진 판 형태이고, 상기 중적외선 광을 반사시키고, 상기 원적외선 광을 투과시키는 것을 특징으로 하는 이중대역 적외선 광학계.
  6. 이중대역 적외선 광을 투과시키는 이중대역적외선투과부;
    상기 투과된 이중대역 적외선 광의 파장에 따라 중적외선 광 및 원적외선 광으로 분할하는 광속분할부;
    내장된 센서에서 감지된 온도에 따라 상기 분할된 중적외선 광의 미세초점을 조절하는 제1미세초점조절부;
    상기 제1미세초점조절부를 통과한 중적외선 광을 검출하는 중적외선검출부;
    상기 온도에 따라 상기 분할된 원적외선 광의 미세초점을 조절하는 제2미세초점조절부; 및
    상기 제2미세초점조절부를 통과한 원적외선 광을 검출하는 원적외선검출부;를 포함하는 것을 특징으로 하는 이중대역 적외선 광학계.
KR1020080094256A 2008-09-25 2008-09-25 이중대역 적외선 광학계 KR101276674B1 (ko)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020080094256A KR101276674B1 (ko) 2008-09-25 2008-09-25 이중대역 적외선 광학계

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020080094256A KR101276674B1 (ko) 2008-09-25 2008-09-25 이중대역 적외선 광학계

Publications (2)

Publication Number Publication Date
KR20100034991A KR20100034991A (ko) 2010-04-02
KR101276674B1 true KR101276674B1 (ko) 2013-06-19

Family

ID=42212997

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1020080094256A KR101276674B1 (ko) 2008-09-25 2008-09-25 이중대역 적외선 광학계

Country Status (1)

Country Link
KR (1) KR101276674B1 (ko)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20160036285A (ko) 2014-09-25 2016-04-04 국방과학연구소 이중대역 파장 영상을 다중시계로 동시 촬영하는 광학 시스템
KR20230064924A (ko) 2021-11-04 2023-05-11 엘아이지넥스원 주식회사 이중 대역 센서의 시험을 위한 표적 자동 정렬 장치 및 방법

Families Citing this family (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR102494971B1 (ko) * 2021-02-25 2023-02-06 엘아이지넥스원 주식회사 전자 광학 추적 장치 및 이를 포함하는 근접 방어 시스템
KR102477400B1 (ko) * 2022-07-05 2022-12-14 엘아이지넥스원 주식회사 다중 모드 영상 탐색 장치용 비열화 공통 광학계 및 그 제어 방법

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0583633A (ja) * 1991-09-18 1993-04-02 Mitsubishi Electric Corp 多バンド赤外線撮像装置
JP2555205B2 (ja) 1988-10-31 1996-11-20 ヒューズ・エアクラフト・カンパニー 二重バンド/二重fov赤外線望遠鏡
JP2002369049A (ja) 2001-06-08 2002-12-20 Pentax Corp 画像検出装置と絞り装置
KR100802525B1 (ko) 2007-04-27 2008-02-13 주식회사 세다스미디어 실시간 멀티밴드 카메라

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2555205B2 (ja) 1988-10-31 1996-11-20 ヒューズ・エアクラフト・カンパニー 二重バンド/二重fov赤外線望遠鏡
JPH0583633A (ja) * 1991-09-18 1993-04-02 Mitsubishi Electric Corp 多バンド赤外線撮像装置
JP2002369049A (ja) 2001-06-08 2002-12-20 Pentax Corp 画像検出装置と絞り装置
KR100802525B1 (ko) 2007-04-27 2008-02-13 주식회사 세다스미디어 실시간 멀티밴드 카메라

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20160036285A (ko) 2014-09-25 2016-04-04 국방과학연구소 이중대역 파장 영상을 다중시계로 동시 촬영하는 광학 시스템
KR20230064924A (ko) 2021-11-04 2023-05-11 엘아이지넥스원 주식회사 이중 대역 센서의 시험을 위한 표적 자동 정렬 장치 및 방법

Also Published As

Publication number Publication date
KR20100034991A (ko) 2010-04-02

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP6442078B2 (ja) イメージプレーンセンサのアライメントシステム及び方法
US8415600B2 (en) Laser beam control system and method
CN102789114B (zh) 一种可见-红外双通摄像机
TWI514000B (zh) Mems為主監視系統及使用方法
US7397540B2 (en) Phase diversity ranging sensor
JPH09502812A (ja) マルチイメージ検出器組立体
JP2008233088A (ja) 表面高さ検出方法および装置
WO2017213722A1 (en) High-performance beam director for high-power laser systems or other systems
KR101276674B1 (ko) 이중대역 적외선 광학계
EP2856093B1 (en) Imaging system with multiple focal plane array sensors
CN103823294A (zh) 具有超长焦距的连续变焦中波红外光学系统
KR101589644B1 (ko) 광대역 광학 장치
EP0490510A2 (en) Two-color focal plane array sensor arrangement
IL270713A (en) Bi-color inverted telephoto breaking optical shape with external pupil for cold shielding
JP6567764B2 (ja) デュアル瞳孔デュアルバンドの広視野再結像光学システム
GB2537070A (en) Zoom objective and camera system
KR101274032B1 (ko) 전자광학 영상장비 자동초점 조절 장치 및 이를 이용한 자동초점 조절방법
IL256017A (en) Aiming alignment module
AU2018351819B2 (en) Multi-spectral boresight alignment methods and systems
KR101620594B1 (ko) 다기능 분광장치
JP2019529899A5 (ko)
US10739454B2 (en) Low cost, high accuracy laser warning receiver
US20140063214A1 (en) Imaging device with a wide viewing angle
CN101702054A (zh) 一种小视场红外目标仿真光学系统
JP7441621B2 (ja) 赤外線測定システム

Legal Events

Date Code Title Description
N231 Notification of change of applicant
A201 Request for examination
E701 Decision to grant or registration of patent right
GRNT Written decision to grant