KR101275446B1 - Conductive paste composition for internal electrode and fabricating method of multilayered ceramic electronic component using the same - Google Patents

Conductive paste composition for internal electrode and fabricating method of multilayered ceramic electronic component using the same Download PDF

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이윤희
송채원
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삼성전기주식회사
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Abstract

PURPOSE: A conductive paste composite for an internal electrode for a laminated ceramic electronic component using the same and a manufacturing method thereof are provided to improve the connective property of the internal electrode, thereby increasing the capacity of the component. CONSTITUTION: A conductive paste composite for an internal electrode includes powder material and a conductive metal(40). The powder material has a first powder material and a second powder material(60). The average particle size of the first powder material is 10nm. The average particle size of the second powder material is 20nm. A weight ratio between the first and the second powder material is 90:10 to 70:30. The average particle size of the conductive metal is 50 to 150nm.

Description

내부 전극용 도전성 페이스트 조성물 및 이를 이용한 적층 세라믹 전자 부품의 제조 방법{conductive paste composition for internal electrode and fabricating method of multilayered ceramic electronic component using the same}Conductive paste composition for internal electrode and fabricating method of multilayered ceramic electronic component using the same}

본 발명은 내부 전극용 도전성 페이스트 조성물 및 이를 이용한 적층 세라믹 전자 부품의 제조 방법에 관한 것이다. 보다 구체적으로는 내부 전극의 연결성 및 용량을 증가시킬 수 있는 내부 전극용 도전성 페이스트 조성물 및 이를 이용한 적층 세라믹 전자 부품의 제조 방법에 관한 것이다.
The present invention relates to a conductive paste composition for internal electrodes and a method of manufacturing a multilayer ceramic electronic component using the same. More specifically, the present invention relates to a conductive paste composition for internal electrodes capable of increasing connectivity and capacity of internal electrodes, and a method of manufacturing a multilayer ceramic electronic component using the same.

적층 세라믹 캐패시터의 내부 전극은 금속으로 이루어지기 때문에 세라믹으로 이루어지는 유전체 본체보다 소결 온도가 낮다. 따라서 소결 과정에서 내부 전극이 더 빨리 수축될 수 있고 이로 인하여 내부 전극과 유전체 간에 디라미네이션 및 크랙이 발생할 수 있다. 또한 내부 전극의 연결성이 저하되어 용량 구현에 문제가 발생할 수 있다.Since the internal electrodes of the multilayer ceramic capacitor are made of metal, the sintering temperature is lower than that of the dielectric body made of ceramic. Therefore, during sintering, the inner electrode may shrink more quickly, which may cause delamination and cracking between the inner electrode and the dielectric. In addition, the connectivity of the internal electrodes is reduced, which may cause problems in the implementation of the capacitance.

소성 후 적층 세라믹 캐패시터의 내부 전극의 우수한 전극 연결성을 확보하고 용량 확보를 위하여 도전성 금속으로 사용되는 니켈 분말의 소결 수축을 제어하기 위하여 공재를 사용하고 있다.
After firing, common materials are used to control the sintering shrinkage of the nickel powder used as the conductive metal to secure the excellent electrode connectivity of the internal electrodes of the multilayer ceramic capacitor and to secure the capacity.

그러나, 공재 분말은 전극의 입장에서는 일종의 불순물이기 때문에 유전체 층과의 소성 거동의 차이를 억제해 줄 수 있는 한도 내에서 최소량을 첨가하여야 한다. 따라서, 상대적으로 크고 함량도 많은 금속 분말 사이의 공극을 채우기에는 공재의 양이 부족할 수 있다.
However, since the common powder is a kind of impurity from the viewpoint of the electrode, a minimum amount should be added within a limit that can suppress the difference in plastic behavior with the dielectric layer. Therefore, the amount of common materials may be insufficient to fill the pores between the relatively large and high content of the metal powder.

이러한 문제는 내부 전극의 내부 및 표면에서 모두 발생할 수 있으며, 공재 분말의 불균일 분포로 인하여 건조된 내부 전극 표면이 거칠게 되고, 이로 인하여 결국 소성시 내부 전극의 국부적 끊김과 뭉침을 유발할 수 있다.
This problem may occur in both the inside and the surface of the internal electrode, and the surface of the dried internal electrode becomes rough due to the non-uniform distribution of the common powder, which may eventually cause local breakage and agglomeration of the internal electrode during firing.

이로 인하여 적층 세라믹 캐패시터의 두께 방향으로의 전극 팽창이 커지고, 전극 연결성도 저하되어 전기적 특성 및 내전압 특성이 열화될 수 있다.
As a result, the electrode expansion in the thickness direction of the multilayer ceramic capacitor is increased, the electrode connectivity is also lowered, and the electrical characteristics and the withstand voltage characteristics may be deteriorated.

본 발명은 내부 전극의 연결성 및 용량을 증가시킬 수 있는 내부 전극용 도전성 페이스트 조성물 및 이를 이용한 적층 세라믹 전자 부품의 제조 방법을 제공하고자 한다.
The present invention is to provide a conductive paste composition for an internal electrode that can increase the connectivity and capacity of the internal electrode and a method of manufacturing a multilayer ceramic electronic component using the same.

본 발명의 일 측면은 도전성 금속; 및 평균 입경이 10nm인 제1 공재와 평균 입경이 20nm인 제2 공재를 포함하는 공재;를 포함하는 내부 전극용 도전성 페이스트 조성물일 수 있다.One aspect of the invention is a conductive metal; And a common material comprising a first common material having an average particle diameter of 10 nm and a second common material having an average particle diameter of 20 nm.

일 실시예로 상기 도전성 금속의 평균 입경은 50~150nm일 수 있다.In one embodiment, the average particle diameter of the conductive metal may be 50 to 150 nm.

일 실시예로 상기 도전성 금속은 니켈을 포함할 수 있다.In one embodiment, the conductive metal may include nickel.

일 실시예로 상기 공재의 함량은 상기 도전성 금속 100 중량부 대비 5~15 중량부일 수 있다.In one embodiment, the content of the common material may be 5 to 15 parts by weight based on 100 parts by weight of the conductive metal.

일 실시예로 상기 제1 및 제2 공재의 중량비는 90 대 10 내지 70 대 30일 수 있다.In one embodiment, the weight ratio of the first and second common materials may be 90 to 10 to 70 to 30.

일 실시예로 상기 공재는 세라믹 재료를 포함할 수 있다.In one embodiment, the common material may comprise a ceramic material.

일 실시예로 상기 세라믹 재료는 티탄산바륨을 포함할 수 있다.In one embodiment, the ceramic material may comprise barium titanate.

일 실시예로 상기 제1 및 제2 공재는 동일한 재료일 수 있다.
In one embodiment, the first and the second common material may be the same material.

본 발명의 다른 측면은 세라믹 그린 시트를 마련하는 단계; 도전성 금속 및 평균 입경이 10nm인 제1 공재와 평균 입경이 20nm인 제2 공재를 포함하는 공재를 포함하는 도전성 페이스트 조성물을 마련하는 단계; 및 상기 도전성 페이스트 조성물을 이용하여 상기 세라믹 그린 시트 상에 내부 전극을 형성하는 단계;를 포함하는 적층 세라믹 전자 부품의 제조 방법일 수 있다.Another aspect of the invention provides a method for preparing a ceramic green sheet; Providing a conductive paste composition comprising a conductive metal and a common material including a first common material having an average particle diameter of 10 nm and a second common material having an average particle diameter of 20 nm; And forming an internal electrode on the ceramic green sheet by using the conductive paste composition.

일 실시예로 상기 도전성 금속의 평균 입경은 50~150nm일 수 있다.In one embodiment, the average particle diameter of the conductive metal may be 50 to 150 nm.

일 실시예로 상기 도전성 금속은 니켈을 포함할 수 있다.In one embodiment, the conductive metal may include nickel.

일 실시예로 상기 공재의 함량은 상기 도전성 금속 100 중량부 대비 5~15 중량부일 수 있다.In one embodiment, the content of the common material may be 5 to 15 parts by weight based on 100 parts by weight of the conductive metal.

일 실시예로 상기 제1 및 제2 공재의 중량비는 90 대 10 내지 70 대 30일 수 있다.In one embodiment, the weight ratio of the first and second common materials may be 90 to 10 to 70 to 30.

일 실시예로 상기 공재는 세라믹 재료를 포함할 수 있다.In one embodiment, the common material may comprise a ceramic material.

일 실시예로 상기 세라믹 재료는 티탄산바륨을 포함할 수 있다. In one embodiment, the ceramic material may comprise barium titanate.

일 실시예로 상기 제1 및 제2 공재는 동일한 재료일 수 있다.
In one embodiment, the first and the second common material may be the same material.

본 발명에 의하면 전극 연결성 및 용량을 증가시킬 수 있는 내부 전극용 도전성 페이스트 조성물을 얻을 수 있고, 또한 전극 연결성 및 용량이 증가된 적층 세라믹 전자 부품을 얻을 수 있다.
According to the present invention, a conductive paste composition for internal electrodes capable of increasing electrode connectivity and capacity can be obtained, and a multilayer ceramic electronic component having increased electrode connectivity and capacity can be obtained.

도 1은 본 발명의 일 실시 형태에 따른 내부 전극용 도전성 페이스트 조성물을 이용하여 제조된 적층 세라믹 캐패시터의 사시도이다.
도 2는 도 1의 X-X'에 따른 단면도이다.
도 3은 도 2의 Z 부분의 확대도이다.
도 4는 본 발명의 일 실시 형태에 따른 내부 전극용 도전성 페이스트 조성물의 모식도이다.
1 is a perspective view of a multilayer ceramic capacitor manufactured using a conductive paste composition for internal electrodes according to an embodiment of the present invention.
FIG. 2 is a cross-sectional view taken along line XX 'of FIG. 1.
3 is an enlarged view of a portion Z of FIG. 2.
It is a schematic diagram of the electrically conductive paste composition for internal electrodes which concerns on one Embodiment of this invention.

이하, 첨부된 도면을 참조하여 본 발명의 바람직한 실시형태들을 설명한다. Hereinafter, preferred embodiments of the present invention will be described with reference to the accompanying drawings.

본 발명의 실시 형태는 여러 가지 다른 형태로 변형될 수 있으며, 본 발명의 범위가 이하 설명하는 실시 형태로 한정되는 것은 아니다. The embodiments of the present invention can be modified into various other forms, and the scope of the present invention is not limited to the embodiments described below.

또한, 본 발명의 실시 형태는 당업계에서 평균적인 지식을 가진 자에게 본 발명을 더욱 완전하게 설명하기 위해서 제공되는 것이다. Furthermore, embodiments of the present invention are provided to more fully explain the present invention to those skilled in the art.

도면에서의 요소들의 형상 및 크기 등은 보다 명확한 설명을 위해 과장될 수 있으며, 도면상의 동일한 부호로 표시되는 요소는 동일한 요소이다.
The shape and the size of the elements in the drawings may be exaggerated for clarity and the same elements are denoted by the same reference numerals in the drawings.

적층 세라믹 전자 부품에는 적층 세라믹 캐패시터, 칩 인덕터, 칩 비즈, 칩 바리스터 등이 있으나, 본 실시 형태에 있어서는 적층 세라믹 캐패시터를 예로 들어 설명한다.
The multilayer ceramic electronic component includes a multilayer ceramic capacitor, a chip inductor, a chip bead, a chip varistor, and the like. In the present embodiment, the multilayer ceramic capacitor is described as an example.

도 1은 본 발명의 일 실시 형태에 따른 내부 전극용 도전성 페이스트 조성물을 이용하여 제조된 적층 세라믹 캐패시터의 사시도이다. 도 2는 도 1의 X-X' 에 따른 단면도이다. 도 3은 도 2의 Z 부분의 확대도이다. 도 4는 본 발명의 일 실시 형태에 따른 내부 전극용 도전성 페이스트 조성물의 모식도이다.
1 is a perspective view of a multilayer ceramic capacitor manufactured using a conductive paste composition for internal electrodes according to an embodiment of the present invention. 2 is a cross-sectional view taken along line XX ′ of FIG. 1. 3 is an enlarged view of a portion Z of FIG. 2. It is a schematic diagram of the electrically conductive paste composition for internal electrodes which concerns on one Embodiment of this invention.

도 1 내지 도 2을 참조하면, 본 발명의 일 실시 형태에 따른 내부 전극용 도전성 페이스트 조성물을 이용하여 제조된 적층 세라믹 캐패시터는 세라믹 본체(10), 세라믹 본체(10)의 외부에 형성된 외부 전극(21, 22), 세라믹 본체(10)의 내부에 적층 배치된 내부 전극(31, 32)을 포함할 수 있다.
1 to 2, the multilayer ceramic capacitor manufactured using the conductive paste composition for the internal electrode according to the exemplary embodiment of the present invention may include a ceramic body 10 and an external electrode formed on the outside of the ceramic body 10. 21 and 22 and internal electrodes 31 and 32 stacked in the ceramic body 10 may be included.

세라믹 본체(10)는 직육면체 형상일 수 있다. 세라믹 본체의 “L 방향”을 “길이 방향”, “W 방향”을 “폭 방향”, “T 방향”을 “두께 방향”이라 할 수 있다.The ceramic body 10 may have a rectangular parallelepiped shape. The “L direction” of the ceramic body may be referred to as the “length direction”, the “W direction” as the “width direction”, and the “T direction” as the “thickness direction”.

세라믹 본체(10)는 높은 유전율을 갖는 세라믹 재료로 이루어질 수 있다. 세라믹 재료는, 이에 제한되는 것은 아니나, 티탄산바륨 또는 티탄산스트론튬 등을 사용할 수 있다.The ceramic body 10 may be made of a ceramic material having a high dielectric constant. The ceramic material may be, but is not limited to, barium titanate or strontium titanate.

세라믹 본체(10)는 복수의 세라믹 유전체 층(11)을 적층한 후 소결시킨 것으로, 인접하는 유전체 층(11)끼리는 경계를 확인할 수 없을 정도로 일체화되어 있을 수 있다.
The ceramic body 10 is obtained by stacking a plurality of ceramic dielectric layers 11 and then sintering them. The adjacent dielectric layers 11 may be integrated to such an extent that their boundaries cannot be identified.

외부 전극(21, 22)은 세라믹 본체(10)의 길이 방향의 양 측면에 형성될 수 있다. 이때, 외부 전극(21, 22)은 세라믹 본체(10)의 일면에 노출되도록 형성된 내부 전극(31, 32)과 전기적으로 접속될 수 있다.The external electrodes 21 and 22 may be formed at both side surfaces of the ceramic body 10 in the longitudinal direction. In this case, the external electrodes 21 and 22 may be electrically connected to the internal electrodes 31 and 32 formed to be exposed on one surface of the ceramic body 10.

외부 전극(21, 22)은 도전성 금속 및 유리 프리트를 포함하는 도전성 페이스트 조성물을 이용하여 형성될 수 있으며, 이에 제한되는 것은 아니나, 도전성 금속은 구리, 구리 합금, 니켈, 니켈 합금, 은, 팔라듐 등으로 이루어질 수 있다.
The external electrodes 21 and 22 may be formed using a conductive paste composition including a conductive metal and glass frit, but are not limited thereto, and the conductive metal may be copper, a copper alloy, nickel, a nickel alloy, silver, palladium, or the like. Can be made.

내부 전극(31, 32)은 내부 전극용 도전성 페이스트 조성물을 세라믹 그린 시트 상에 인쇄하여 형성될 수 있다. 구체적으로 스크린 인쇄 또는 그라비아 인쇄 등의 방법을 이용하여 세라믹 그린 시트 상에 내부 전극을 형성할 수 있다.
The internal electrodes 31 and 32 may be formed by printing the conductive paste composition for the internal electrodes on a ceramic green sheet. Specifically, the internal electrode may be formed on the ceramic green sheet using a method such as screen printing or gravure printing.

도 3을 참조하면, 내부 전극용 도전성 페이스트 조성물은 도전성 금속(40), 바인더(미도시) 및 유기 용매(미도시)를 포함할 수 있다.
Referring to FIG. 3, the conductive paste composition for the internal electrode may include a conductive metal 40, a binder (not shown), and an organic solvent (not shown).

도전성 금속(40)은 내부 전극(31, 32)에 도전성을 부여할 수 있는 것이면 족하다. 구체적으로 도전성 금속(40)은 니켈, 구리, 팔라듐 및 이들의 합금으로 이루어진 그룹에서 선택된 하나 이상을 포함할 수 있다. 도전성 금속의 평균 입경은 50~150nm 일 수 있다.
The conductive metal 40 is sufficient as long as it can impart conductivity to the internal electrodes 31 and 32. Specifically, the conductive metal 40 may include one or more selected from the group consisting of nickel, copper, palladium, and alloys thereof. The average particle diameter of the conductive metal may be 50 to 150 nm.

바인더로는 폴리비닐부티랄, 에틸셀룰로오스 등의 고분자 수지를 사용할 수 있다. 유기 용매는 특별히 제한되지 않으며, 예를 들면, 테르피네올, 디하이드로테르피네올, 부틸카르비톨, 케로신 등을 사용할 수 있다.
Polymer binders, such as polyvinyl butyral and ethyl cellulose, can be used as a binder. The organic solvent is not particularly limited, and for example, terpineol, dihydroterpineol, butyl carbitol, kerosine and the like can be used.

내부 전극용 도전성 페이스트 조성물은 공재(50, 60)를 더 포함할 수 있다. 공재(50, 60)는 세라믹 분말 입자일 수 있으며, 구체적으로는 티탄산바륨 분말일 수 있다.
The conductive paste composition for the internal electrode may further include the common materials 50 and 60. The common materials 50 and 60 may be ceramic powder particles, specifically, barium titanate powder.

내부 전극용 페이스트 조성물에 공재(50, 60)를 첨가하는 이유는 다음과 같다. The reason for adding the common materials 50 and 60 to the paste composition for internal electrodes is as follows.

먼저, 도전성 금속(60)의 소결 개시 온도에 다다르면 열에너지가 충분하여 서로 접촉하고 있는 도전성 금속(40) 입자의 표면 원자들이 이동할 수 있기 때문에, 도전성 금속 입자(60) 표면의 원자는 도전성 금속 입자(60)가 서로 접촉하고 있는 부분으로 이동하여 접촉 부분이 넓어질 수 있다. First, when the sintering start temperature of the conductive metal 60 is reached, the surface atoms of the conductive metal particles 40 that are in contact with each other due to sufficient thermal energy may move, so that atoms on the surface of the conductive metal particles 60 may be formed of conductive metal particles ( 60 may move to a portion in contact with each other so that the contact portion may be widened.

이를 네킹(necking)이라 하며, 이러한 현상이 발생하는 이유는 도전성 금속 입자(60)의 표면적을 감소시킴으로써 전체적인 표면 에너지를 줄이기 위한 것이다. 표면 에너지를 감소시키고자 하는 것이 소결의 구동력(driving force)이 될 수 있다. This is called necking, and the reason for this phenomenon is to reduce the overall surface energy by reducing the surface area of the conductive metal particles 60. To reduce the surface energy can be the driving force of sintering.

도전성 페이스트 조성물에 공재(50, 60)를 첨가하면 공재(50, 60)가 도전성 금속 입자(40) 사이에 공재(50, 60)가 존재할 확률이 높아질 수 있다. 도전성 금속 입자(40) 사이에 공재(50, 60)가 존재하는 만큼 도전성 금속 입자(40) 간에 서로 접촉하는 확률이 감소할 수 있고, 따라서 네킹의 발생 확률이 감소할 수 있다.When the common materials 50 and 60 are added to the conductive paste composition, the probability that the common materials 50 and 60 are present between the conductive metal particles 40 may increase. As long as the common materials 50 and 60 exist between the conductive metal particles 40, the probability of contact between the conductive metal particles 40 may be reduced, and thus the probability of occurrence of necking may be reduced.

이로써 도전성 금속의 소결이 지연되는 효과를 얻을 수 있고, 결국 소결 개시 온도가 상승되는 효과를 가져올 수 있다.
As a result, the effect of delaying the sintering of the conductive metal can be obtained, and eventually, the effect of raising the sintering start temperature can be obtained.

공재는 제1 및 제2 공재(50, 60)를 포함할 수 있으며, 제1 및 제2 공재(50, 60)는 입자의 크기가 서로 다를 수 있다. 제2 공재(60)의 평균 입경은 제1 공재(50)의 평균 입경보다 클 수 있고, 구체적으로 제1 공재(50)의 평균 입경은 10nm 일 수 있고, 제2 공재(60)의 평균 입경은 20nm 일 수 있다.
The common material may include first and second common materials 50 and 60, and the first and second common materials 50 and 60 may have different sizes of particles. The average particle diameter of the second common material 60 may be larger than the average particle diameter of the first common material 50, and specifically, the average particle diameter of the first common material 50 may be 10 nm, and the average particle diameter of the second common material 60 may be sufficient as that. May be 20 nm.

평균 입경이 다른 제1 및 제2 공재(50, 60)를 혼합하여 사용하는 이유는, 동일한 크기의 입자만으로 충진하는 경우에 비하여 크고 작은 입자를 함께 사용하는 경우 충진율이 더 높기 때문이다. The reason why the first and second common materials 50 and 60 having different average particle diameters are mixed and used is that the filling rate is higher when large and small particles are used together compared to the case where only the particles of the same size are filled.

크기가 서로 다른 제1 및 제2 공재(50, 60)를 함께 혼합하여 공재로 사용함으로써 도전성 금속 입자(40) 사이에 공재(50, 60)가 더 많이 배치시킬 수 있고, 이로 인하여 도전성 금속 입자(40) 간 소결을 지연시키는 효과를 극대화할 수 있다.
By mixing the first and second common materials 50 and 60 having different sizes together and using them as the common materials, more common materials 50 and 60 can be disposed between the conductive metal particles 40, which causes the conductive metal particles to be disposed. 40 can maximize the effect of delaying the inter-sintering.

제1 및 제2 공재(50, 60)는 동일한 재료일 수 있다. 즉 제1 및 제2 공재(50, 60)는 모두 티탄산바륨일 수 있다. The first and second common materials 50, 60 may be the same material. That is, both the first and second common materials 50 and 60 may be barium titanate.

제1 및 제2 공재(50, 60)가 동일한 재료인 경우에는 제1 및 제2 공재(50, 60)의 물성이 유사하여 소결 특성 및 미세 구조 등을 조절하는데 있어 보다 용이할 수 있다. 또한 다른 재료를 준비하는 별도의 공정을 생략할 수 있어 공정 비용을 절감할 수 있다.
In the case where the first and second common materials 50 and 60 are the same material, physical properties of the first and second common materials 50 and 60 may be similar, and thus may be easier to control the sintering characteristics and the microstructure. In addition, a separate process of preparing other materials can be omitted, thereby reducing the process cost.

공재(50, 60)의 함량은 상기 도전성 금속 100 중량부 대비 5~15 중량부일 수 있다.
The content of the common materials 50 and 60 may be 5 to 15 parts by weight based on 100 parts by weight of the conductive metal.

제1 및 제2 공재(50, 60)의 중량비는 70 대 30 내지 90 대 10 일 수 있다. The weight ratio of the first and second common materials 50 and 60 may be 70 to 30 to 90 to 10.

제1 공재(50)의 중량비가 70 미만인 경우(제2 공재(60)의 중량비가 30 초과인 경우) 및 제1 공재(50)의 중량비가 90 초과인 경우(제2 공재(60)의 중량비가 10 미만인 경우)에는 도전성 금속 입자(40) 사이에 공재가 존재하는 확률이 떨어질 수 있다. When the weight ratio of the first common material 50 is less than 70 (when the weight ratio of the second common material 60 is more than 30) and when the weight ratio of the first common material 50 is greater than 90 (the weight ratio of the second common material 60) Is less than 10), the probability that the common material exists between the conductive metal particles 40 may decrease.

도전성 금속 입자(40) 간의 소결을 지연시키는 효과가 미미할 수 있다.The effect of delaying sintering between the conductive metal particles 40 may be insignificant.

내부 전극(31, 32)은 세라믹 본체(10)에 비하여 상대적으로 낮은 온도에서 소결될 수 있다. 세라믹 본체(10)과 내부 전극(31, 32)의 소결 온도 차이가 크기 때문에 내부 전극(31, 32)의 소결 수축으로 인하여 내부 전극(31, 32)의 표면은 더 거칠어질 수 있다. 또한, 내부 전극(31, 32)의 연결성 및 용량이 저하될 수 있다.
The internal electrodes 31 and 32 may be sintered at a relatively lower temperature than the ceramic body 10. Since the sintering temperature difference between the ceramic body 10 and the internal electrodes 31 and 32 is large, the surface of the internal electrodes 31 and 32 may be rougher due to the sintering shrinkage of the internal electrodes 31 and 32. In addition, the connectivity and capacity of the internal electrodes 31 and 32 may be reduced.

요컨대, 도전성 금속 입자(40)보다 입자 크기가 작고, 입자 크기가 다른 2가지 공재(50, 60)를 일정 비율로 혼합하여 첨가함으로써, 도전성 금속 입자(4) 간 접촉을 제한하여 도전성 금속 입자(40)의 분산도를 높일 수 있다. 이로써 소성 중 내부 전극의 소성 수축을 지연시킬 수 있고, 결국 내부 전극(31, 32)의 소결 수축을 억제할 수 있다.
That is, by mixing and adding two common materials 50 and 60 having a smaller particle size than the conductive metal particles 40 and having different particle sizes at a predetermined ratio, the contact between the conductive metal particles 4 is limited to the conductive metal particles ( 40) can increase the degree of dispersion. As a result, the plastic shrinkage of the internal electrodes can be delayed during firing, and consequently, the sintering shrinkage of the internal electrodes 31 and 32 can be suppressed.

공재(50, 60)는 적층 세라믹 캐패시터의 유전체로 사용되는 티탄산바륨과 동일한 것을 주성분으로 사용할 수 있다. 공재(50, 60)는 소성 후 유전체층에 흡수되어 최종적으로는 유전 특성에 기여할 수 있다. 따라서 유전체 층에 사용되는 티탄산바륨과 동일하거나 유사한 조성으로 하는 것이 바람직하다.
The common materials 50 and 60 can use the same main component as barium titanate used as the dielectric of the multilayer ceramic capacitor. The common materials 50 and 60 may be absorbed into the dielectric layer after firing and finally contribute to the dielectric properties. It is therefore desirable to have the same or similar composition as the barium titanate used for the dielectric layer.

본 발명의 다른 측면은 세라믹 그린 시트를 마련하는 단계; 도전성 금속 및 평균 입경이 10nm인 제1 공재와 평균 입경이 20nm인 제2 공재를 포함하는 공재를 포함하는 도전성 페이스트 조성물을 마련하는 단계; 및 상기 도전성 페이스트 조성물을 이용하여 상기 세라믹 그린 시트 상에 내부 전극을 형성하는 단계;를 포함하는 적층 세라믹 전자 부품의 제조 방법일 수 있다.
Another aspect of the invention provides a method for preparing a ceramic green sheet; Providing a conductive paste composition comprising a conductive metal and a common material including a first common material having an average particle diameter of 10 nm and a second common material having an average particle diameter of 20 nm; And forming an internal electrode on the ceramic green sheet by using the conductive paste composition.

먼저, 세라믹 그린 시트는 고유전율의 세라믹 분말을 유기 용매, 바인더 등과 혼합하여 볼밀링하여 세라믹 슬러리를 제조한 후, 닥터 블레이드 등의 방법을 통하여 세라믹 슬러리로 세라믹 그린 시트를 제조할 수 있다. First, the ceramic green sheet may be ball milled by mixing a ceramic powder having a high dielectric constant with an organic solvent, a binder, and the like to prepare a ceramic slurry, and then the ceramic green sheet may be manufactured from the ceramic slurry through a method such as a doctor blade.

고유전율의 세라믹 분말은 티탄산바륨, 티탄산스트론튬 등을 포함할 수 있다.
The high dielectric constant ceramic powder may include barium titanate, strontium titanate, or the like.

다음으로, 도전성 금속 및 평균 입경이 10nm인 제1 공재와 평균 입경이 20nm인 제2 공재를 포함하는 공재를 포함하는 도전성 페이스트 조성물을 마련할 수 있다. Next, the electrically conductive paste composition containing the electrically conductive metal and the common material containing the 1st common material whose average particle diameter is 10 nm, and the 2nd common material whose average particle diameter is 20 nm can be provided.

상기 도전성 금속의 평균 입경은 50~150nm일 수 있다. The average particle diameter of the conductive metal may be 50 ~ 150nm.

상기 도전성 금속은 니켈을 포함할 수 있다.The conductive metal may include nickel.

상기 공재의 함량은 상기 도전성 금속 100 중량부 대비 5~15 중량부일 수 있다.The content of the common material may be 5 to 15 parts by weight based on 100 parts by weight of the conductive metal.

상기 제1 및 제2 공재의 중량비는 90 대 10 내지 70 대 30일 수 있다. The weight ratio of the first and second common materials may be 90 to 10 to 70 to 30.

상기 공재는 세라믹 재료를 포함할 수 있으며, 상기 세라믹 재료는 티탄산바륨을 포함할 수 있다. The common material may comprise a ceramic material, and the ceramic material may include barium titanate.

상기 제1 및 제2 공재는 동일한 재료일 수 있다.
The first and second common materials may be the same material.

다음으로, 도전성 페이스트 조성물을 이용하여 상기 세라믹 그린 시트 상에 내부 전극을 형성할 수 있다.
Next, an internal electrode may be formed on the ceramic green sheet using the conductive paste composition.

다음으로, 내부 전극이 형성된 세라믹 그린 시트를 적층한 후, 이를 압착, 절단, 소결, 외부 전극을 형성하여 적층 세라믹 전자 부품을 제조할 수 있다.
Next, after laminating a ceramic green sheet on which internal electrodes are formed, the multilayer ceramic electronic component may be manufactured by pressing, cutting, sintering, and external electrodes.

도전성 금속, 제1 및 제2 공재 등에 관한 사항은 앞의 실시 형태에서 설명한 바와 동일할 수 있다.
Matters relating to the conductive metal, the first and second common materials, and the like may be the same as those described in the above embodiments.

이하에서는 실시예 및 비교예를 참조하여, 본 발명에 대하여 상세하게 설명한다.
Hereinafter, the present invention will be described in detail with reference to Examples and Comparative Examples.

실시예에 따른 적층 세라믹 캐패시터는 다음과 같이 마련하였다.
The multilayer ceramic capacitor according to the embodiment was prepared as follows.

우선, 티탄산바륨을 이용하여 세라믹 그린 시트를 제조하였다.
First, ceramic green sheets were manufactured using barium titanate.

다음으로, 평균 입경이 100nm인 니켈 금속 분말, 평균 입경이 10nm인 티탄산바륨 분말, 평균 입경이 20nm인 티탄산바륨 분말에 유기 용매로 에탄올, 바인더로 폴리비닐부티랄을 혼합한 후, 이를 볼-밀링하여 도전성 페이스트 조성물을 제조하였다.
Next, after mixing a polyvinyl butyral with ethanol and a binder as an organic solvent to a nickel metal powder having an average particle diameter of 100 nm, a barium titanate powder having an average particle diameter of 10 nm, and a barium titanate powder having an average particle diameter of 20 nm, ball-milling was performed. To prepare a conductive paste composition.

도전성 페이스트 조성물 전체 중량 대비 니켈이 50 중량%가 되도록 하였다.Nickel was 50% by weight based on the total weight of the conductive paste composition.

또한, 니켈 100 중량부 대비 10 중량부의 티탄산바륨을 첨가하였다. In addition, 10 parts by weight of barium titanate was added to 100 parts by weight of nickel.

상기 티탄산바륨은 평균 입경이 10nm인 티탄산바륨 분말과 평균 입경이 20nm인 티탄산바륨 분말을 혼합한 것이며, 그 중량비는 0:100 ~ 100:0 까지 변화시켰다.
The barium titanate is a mixture of barium titanate powder having an average particle diameter of 10 nm and barium titanate powder having an average particle diameter of 20 nm, and the weight ratio thereof was changed from 0: 100 to 100: 0.

다음으로, 도전성 페이스트 조성물을 세라믹 그린 시트 상에 인쇄하여 내부 전극을 형성하고, 이를 적층하여 세라믹 그린 적층체를 형성한 후, 세라믹 그린 적층체를 85℃에서 1000kgf/cm2 압력으로 등압 압착하였다.
Next, the conductive paste composition was printed on a ceramic green sheet to form an internal electrode, and the laminate was formed to form a ceramic green laminate, and then the ceramic green laminate was pressure-pressed at 1000 kgf / cm 2 at 85 ° C.

다음으로, 압착된 세라믹 적층체를 개별 칩의 형태로 절단하였고, 절단된 칩은 대기 분위기에서 230℃, 60시간 유지하여 탈바인더를 진행하였다. 이후, 950℃에서 내부 전극이 산화되지 않도록 Ni/NiO 평형 산소 분압보다 낮은 10-11~10-10atm의 산소 분압 하에서 소성하였다.
Next, the pressed ceramic laminates were cut in the form of individual chips, and the cut chips were kept at 230 ° C. for 60 hours in an air atmosphere to proceed with a binder removal. Thereafter, at 950 ° C., the internal electrode was calcined under an oxygen partial pressure of 10 −11 to 10 −10 atm lower than the Ni / NiO equilibrium oxygen partial pressure.

소성 칩의 외부면을 연마한 후, 소성 칩을 외부 전극용 도전성 페이스트 조성물에 디핑한 후 베이킹하여 외부 전극을 형성하였다. 외부 전극용 도전성 페이스트 조성물은 구리 분말에 글래스 및 바인더 등을 첨가하여 제조하였다. 외부 전극 표면에는 전기 도금에 의하여 주석 도금층을 형성하였다.
After the outer surface of the fired chip was polished, the fired chip was dipped in the conductive paste composition for external electrodes and then baked to form an external electrode. The electrically conductive paste composition for external electrodes was manufactured by adding glass, a binder, etc. to copper powder. On the external electrode surface, a tin plating layer was formed by electroplating.

세라믹 그린 시트 상에 내부 전극용 도전성 페이스트 조성물을 인쇄한 후 건조막 밀도를 측정하였다. 건조막 밀도는 아르키메네스 법에 의하여 측정하였다.
After printing the electrically conductive paste composition for internal electrodes on the ceramic green sheet, the dry film density was measured. The dry film density was measured by the Archimenes method.

완성된 적층 세라믹 캐패시터에 대하여 용량을 측정한 후, 폴리싱한 절단면에 대한 전자주사현미경 사진을 기초로 내부 전극의 표면 거칠기(Ra) 및 전극의 연결성을 측정하였다.
After measuring the capacitance of the finished multilayer ceramic capacitor, the surface roughness (Ra) of the internal electrode and the connectivity of the electrode were measured based on the electron scanning micrograph of the polished cut surface.

표 1에는 표면 거칠기(Ra), 건조막 밀도, 전극 연결성, 용량을 측정한 결과를 나타내었다.
Table 1 shows the results of measuring surface roughness (Ra), dry film density, electrode connectivity, and capacitance.

구분division BT 공재의 함량BT content 표면거칠기
(Ra, ㎛)
Surface roughness
(Ra, 占 퐉)
건조막밀도
(g/㎤)
Dry film density
(g / cm3)
전극연결성
(%)
Electrode Connectivity
(%)
용량
(㎌)
Volume
(㎌)
20nm BT
(중량%)
20nm BT
(weight%)
10nm BT
(중량%)
10nm BT
(weight%)
비교예 1Comparative Example 1 100100 00 0.0190.019 5.615.61 88.288.2 1.651.65 비교예 2Comparative Example 2 9090 1010 0.0170.017 5.635.63 92.492.4 1.751.75 비교예 3Comparative Example 3 7070 3030 0.0170.017 5.645.64 94.594.5 1.741.74 비교예 4Comparative Example 4 5050 5050 0.0130.013 5.675.67 97.097.0 1.861.86 실시예 1Example 1 3030 7070 0.0120.012 5.75.7 99.099.0 2.002.00 실시에 22 to implementation 1010 9090 0.0120.012 5.715.71 99.199.1  2.012.01 비교예 5Comparative Example 5 00 100100 0.0140.014 5.695.69 98.698.6 1.971.97

표 1을 참조하면, 실시예 1 및 2는 10nm BT 분말이 각각 70, 90 중량%인 경우로서, 표면거칠기(Ra)는 모두 0.012㎛이고, 건조막밀도는 각각 5.7, 5.71 g/㎤ 이고, 전극연결성은 각각 99.0, 99.1%이고, 용량은 각각 2.00, 2.01㎌ 이다. BT 는 티탄산바륨을 나타낸다.
Referring to Table 1, Examples 1 and 2 are 10 and 10 wt% BT powder, respectively, the surface roughness (Ra) is both 0.012㎛, dry film density is 5.7, 5.71 g / cm3, respectively, The electrode connectivity is 99.0 and 99.1%, respectively, and the capacities are 2.00 and 2.01㎌, respectively. BT represents barium titanate.

비교예 1은 20nm BT 분말만을 첨가한 경우이고, 비교예 2 내지 3은 10nm BT 분말을 각각 10, 30, 50 중량% 첨가한 경우로서, 10nm BT 분말의 함량이 증가할수록 표면거칠기(Ra)가 감소하고, 건조막밀도는 증가하고, 전극연결성이 증가하고, 용량도 증가하는 경향을 보이고 있음을 확인할 수 있다.
Comparative Example 1 is a case where only 20nm BT powder is added, Comparative Examples 2 to 3 are 10, 30, 50% by weight of 10nm BT powder, respectively, the surface roughness (Ra) is increased as the content of 10nm BT powder increases It can be seen that the dry film density increases, the electrode connectivity increases, and the capacity also increases.

10nm BT 분말이 70, 90 중량%인 경우(실시예 1, 2) 전극연결성 및 용량의 값이 최대값을 나타내고 있다.
When the 10 nm BT powder is 70 and 90 wt% (Examples 1 and 2), the values of electrode connectivity and capacity indicate the maximum values.

비교예 5는 10nm BT 분말만을 첨가한 경우로서, 오히려 표면거칠기, 건조막밀도, 전극연결성, 용량이 모두 감소하였다.
In Comparative Example 5, only 10 nm BT powder was added, and surface roughness, dry film density, electrode connectivity, and capacity were all reduced.

본 발명에서 사용한 용어는 특정한 실시예를 설명하기 위한 것으로, 본 발명을 한정하고자 하는 것이 아니다. 단수의 표현은 문맥상 명백하지 않는 한, 복수의 의미를 포함한다고 보아야 할 것이다. The terms used in the present invention are intended to illustrate specific embodiments and are not intended to limit the invention. The singular presentation should be understood to include plural meanings, unless the context clearly indicates otherwise.

"포함하다" 또는 "가지다" 등의 용어는 명세서 상에 기재된 특징, 숫자, 단계, 동작, 구성 요소 또는 이들을 조합한 것이 존재한다는 것을 의미하는 것이지, 이를 배제하기 위한 것이 아니다.Terms such as "include" or "have" mean that there is a feature, number, step, operation, component, or combination thereof described on the specification, but not intended to exclude it.

본 발명은 상술한 실시 형태 및 첨부된 도면에 의해 한정되는 것이 아니며, 첨부된 청구범위에 의해 한정하고자 한다. The present invention is not limited by the above-described embodiments and the accompanying drawings, but is intended to be limited only by the appended claims.

따라서, 청구범위에 기재된 본 발명의 기술적 사상을 벗어나지 않는 범위 내에서 당 기술분야의 통상의 지식을 가진 자에 의해 다양한 형태의 치환, 변형 및 변경이 가능할 것이며, 이 또한 본 발명의 범위에 속한다고 할 것이다.It will be apparent to those skilled in the art that various changes in form and details may be made therein without departing from the spirit and scope of the invention as defined by the appended claims. something to do.

10: 세라믹 본체 21, 22: 외부 전극
31, 32: 내부 전극 40: 도전성 금속 입자
50: 제1 공재 입자 60: 제2 공재 입자
10: ceramic body 21, 22: external electrode
31, 32: internal electrode 40: conductive metal particles
50: first common particle 60: second common particle

Claims (16)

도전성 금속; 및
평균 입경이 10nm인 제1 공재와 평균 입경이 20nm인 제2 공재를 포함하는 공재;
를 포함하며, 상기 제1 및 제2 공재의 중량비는 90:10 내지 70:30인 내부 전극용 도전성 페이스트 조성물.
Conductive metals; And
A common material including a first common material having an average particle diameter of 10 nm and a second common material having an average particle diameter of 20 nm;
And a weight ratio of the first and second common materials is 90:10 to 70:30.
제1항에 있어서,
상기 도전성 금속의 평균 입경은 50~150nm인 내부 전극용 도전성 페이스트 조성물.
The method of claim 1,
The conductive paste composition for internal electrodes whose average particle diameter of the said conductive metal is 50-150 nm.
제1항에 있어서,
상기 도전성 금속은 니켈을 포함하는 내부 전극용 도전성 페이스트 조성물.
The method of claim 1,
The conductive metal is a conductive paste composition for internal electrodes containing nickel.
제1항에 있어서,
상기 공재의 함량은 상기 도전성 금속 100 중량부 대비 5~15 중량부인 내부 전극용 도전성 페이스트 조성물.
The method of claim 1,
The content of the common material is 5 to 15 parts by weight based on 100 parts by weight of the conductive metal conductive paste composition for internal electrodes.
삭제delete 제1항에 있어서,
상기 공재는 세라믹 재료를 포함하는 내부 전극용 도전성 페이스트 조성물.
The method of claim 1,
The said common material is an electrically conductive paste composition for internal electrodes containing a ceramic material.
제6항에 있어서,
상기 세라믹 재료는 티탄산바륨을 포함하는 내부 전극용 도전성 페이스트 조성물.
The method according to claim 6,
And the ceramic material comprises barium titanate.
제1항에 있어서,
상기 제1 및 제2 공재는 동일한 재료인 내부 전극용 도전성 페이스트 조성물.
The method of claim 1,
The conductive paste composition for internal electrodes, wherein the first and second common materials are the same material.
세라믹 그린 시트를 마련하는 단계;
도전성 금속 및 평균 입경이 10nm인 제1 공재와 평균 입경이 20nm인 제2 공재를 포함하는 공재를 포함하는 도전성 페이스트 조성물을 마련하는 단계; 및
상기 도전성 페이스트 조성물을 이용하여 상기 세라믹 그린 시트 상에 내부 전극을 형성하는 단계;
를 포함하며, 상기 제1 및 제2 공재의 중량비는 90:10 내지 70:30인 적층 세라믹 전자 부품의 제조 방법.
Preparing a ceramic green sheet;
Providing a conductive paste composition comprising a conductive metal and a common material including a first common material having an average particle diameter of 10 nm and a second common material having an average particle diameter of 20 nm; And
Forming an internal electrode on the ceramic green sheet using the conductive paste composition;
And a weight ratio of the first and second common materials is 90:10 to 70:30.
제9항에 있어서,
상기 도전성 금속의 평균 입경은 50~150nm인 적층 세라믹 전자 부품의 제조 방법.
10. The method of claim 9,
The average particle diameter of the said conductive metal is a manufacturing method of the multilayer ceramic electronic component of 50-150 nm.
제9항에 있어서,
상기 도전성 금속은 니켈을 포함하는 적층 세라믹 전자 부품의 제조 방법.
10. The method of claim 9,
And the conductive metal comprises nickel.
제9항에 있어서,
상기 공재의 함량은 상기 도전성 금속 100 중량부 대비 5~15 중량부인 적층 세라믹 전자 부품의 제조 방법.
10. The method of claim 9,
The content of the common material is 5 to 15 parts by weight based on 100 parts by weight of the conductive metal.
삭제delete 제9항에 있어서,
상기 공재는 세라믹 재료를 포함하는 적층 세라믹 전자 부품의 제조 방법.
10. The method of claim 9,
The common material comprises a ceramic material.
제14항에 있어서,
상기 세라믹 재료는 티탄산바륨을 포함하는 적층 세라믹 전자 부품의 제조 방법.
15. The method of claim 14,
And the ceramic material comprises barium titanate.
제9항에 있어서,
상기 제1 및 제2 공재는 동일한 재료인 적층 세라믹 전자 부품의 제조 방법.
10. The method of claim 9,
And the first and second common materials are the same material.
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