KR101185542B1 - 마이크로컨트롤러유닛 테스트 자동화 시스템 및 그 방법 - Google Patents

마이크로컨트롤러유닛 테스트 자동화 시스템 및 그 방법 Download PDF

Info

Publication number
KR101185542B1
KR101185542B1 KR1020100109944A KR20100109944A KR101185542B1 KR 101185542 B1 KR101185542 B1 KR 101185542B1 KR 1020100109944 A KR1020100109944 A KR 1020100109944A KR 20100109944 A KR20100109944 A KR 20100109944A KR 101185542 B1 KR101185542 B1 KR 101185542B1
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
test
ttcn
target system
software
mcu
Prior art date
Application number
KR1020100109944A
Other languages
English (en)
Other versions
KR20120048350A (ko
Inventor
금대현
홍재승
이성훈
Original Assignee
재단법인대구경북과학기술원
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 재단법인대구경북과학기술원 filed Critical 재단법인대구경북과학기술원
Priority to KR1020100109944A priority Critical patent/KR101185542B1/ko
Publication of KR20120048350A publication Critical patent/KR20120048350A/ko
Application granted granted Critical
Publication of KR101185542B1 publication Critical patent/KR101185542B1/ko

Links

Images

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F11/00—Error detection; Error correction; Monitoring
    • G06F11/22—Detection or location of defective computer hardware by testing during standby operation or during idle time, e.g. start-up testing
    • G—PHYSICS
    • G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F11/00—Error detection; Error correction; Monitoring
    • G06F11/36—Preventing errors by testing or debugging software

Abstract

본 발명은 마이크로컨트롤러유닛 테스트 자동화 시스템 및 그 방법에 관한 것이다. 본 발명에 따르면 타겟 시스템에 포함된 MCU에 대한 테스트 자동화 시스템에 있어서, 표준화된 소프트웨어의 XML 파일을 분석하여 소프트웨어에 대한 설계 정보를 추출하는 소프트웨어 설계 정보 추출부, 추출된 소프트웨어 설계 정보를 이용하여 TTCN-3 테스트 케이스를 생성하고, 타겟 시스템으로부터 수신된 결과 값을 TTCN-3 테스트 케이스로부터 획득한 예상 출력 값과 비교하여 타겟 시스템의 테스트 결과를 결정하는 TTCN-3 테스트 시스템, 그리고 TTCN-3 테스트 시스템과 상기 타겟 시스템 사이에 연결되는 통신 인터페이스부를 포함한다.
이와 같이 본 발명에 따르면 내장형 시스템을 개발하는 단계에서 실제 시스템에 가깝게 테스트 환경을 구성하여 전체 시스템의 기능을 사전에 효과적으로 테스트 할 수 있다. 또한 테스트하기 위한 타켓 시스템은 실제 하드웨어로 구성되어 테스트 결과에 대한 신뢰도를 향상시킬 수 있으며, 실제 내장형 시스템과 같이 다수의 MCU를 유기적으로 테스트 할 수 있을 뿐 아니라 시스템 내부에서 사용되는 네트워크를 효과적으로 테스트 할 수 있다.

Description

마이크로컨트롤러유닛 테스트 자동화 시스템 및 그 방법{AUTOMATIC TEST SYSTEM FOR MICRO CONTROLLER UNIT AND METHOD THEREOF}
본 발명은 마이크로컨트롤러유닛(MCU) 테스트 자동화 방법에 관한 것으로서, 보다 상세하게는 실제 시스템에 가까운 테스트 환경을 구현하고 표준화된 자동화 테스트 방법을 통하여 자동으로 마이크로컨트롤러유닛(MCU)을 테스트하는 마이크로컨트롤러유닛(MCU) 테스트 자동화 시스템 및 그 방법에 관한 것이다.
최근 시스템 개발 단계에서 소프트웨어의 복잡도 증가로 인하여 테스트 실행 환경과 테스트 케이스 설계에 많은 시간과 노력이 필요하며, 테스트 단계에서 오류가 발생할 가능성도 높아지고 있다.
이에 따라 시스템 개발 단계에서 소프트웨어 복잡도에 따른 오류 발생을 줄이고, 소프트웨어 재사용성을 향상시키기 위해서 소프트웨어 플랫폼과 개발환경의 표준화가 점차 이루어지고 있다. 그 결과로 인하여 소프트웨어 플랫폼과 개발환경의 표준화로 인해서 시스템 설계단계에서는 시간과 노력이 많이 줄어들었지만, 여전히 시스템을 검증하기 위한 테스트 단계에서는 많은 오류와 문제점을 발생시키며 테스트의 어려움을 겪고 있다.
따라서 시스템을 안정적이고 효과적으로 테스트하기 위해서는 표준화된 자동화 테스트 기법이 절실히 요구되며, 또한 신뢰할 수 있고 효과적인 시스템 검정을 위해서는 보다 실제 시스템에 가까운 테스트 환경을 구성하는 것이 중요하다.
따라서 본 발명이 해결하고자 하는 과제는 실제 시스템에 가까운 테스트 환경을 구현하고 표준화된 자동화 테스트 방법을 통하여 자동으로 마이크로컨트롤러유닛(MCU)을 테스트하는 마이크로컨트롤러유닛(MCU) 테스트 자동화 시스템 및 그 방법을 제공하는 것이다.
이러한 과제를 해결하기 위한 본 발명의 한 실시예에 따르면, MCU 테스트 자동화 시스템은, 타겟 시스템에 포함된 MCU에 대한 테스트 자동화 시스템에 있어서, 표준화된 소프트웨어의 XML 파일을 분석하여 상기 소프트웨어에 대한 설계 정보를 추출하는 소프트웨어 설계 정보 추출부, 추출된 상기 소프트웨어 설계 정보를 이용하여 TTCN-3 테스트 케이스를 생성하고, 상기 타겟 시스템으로부터 수신된 결과 값을 상기 TTCN-3 테스트 케이스로부터 획득한 예상 출력 값과 비교하여 상기 타겟 시스템의 테스트 결과를 결정하는 TTCN-3 테스트 시스템, 그리고 상기 TTCN-3 테스트 시스템과 상기 타겟 시스템 사이에 연결되는 통신 인터페이스부를 포함한다.
상기 소프트웨어 설계 정보는 상기 소프트웨어 컴포넌트의 입출력 변수 및 상기 변수의 데이터 타입을 포함할 수 있다.
상기 TTCN-3 테스트 시스템은, 추출된 상기 소프트웨어 설계 정보를 이용하여 TTCN-3 테스트 케이스를 생성하는 테스트 케이스 생성부, 그리고 상기 TTCN-3 테스트 케이스을 이용하여 상기 테스트 데이터에 대한 예상 출력 값을 획득하고, 상기 타겟 시스템에 테스트 데이터를 전달한 다음 상기 타겟 시스템으로부터 수신된 결과 값을 상기 예상 출력 값과 비교하여 상기 타겟 시스템의 적합성 여부를 결정하는 TTCN-3 테스터부를 포함할 수 있다.
상기 통신 인터페이스부는, 상기 TTCN-3 테스트 시스템과 연결되어 통신하는 소프트웨어 모듈, 그리고, 상기 타겟 시스템에 포함된 복수의 MCU에 각각 연결되어, 상기 소프트웨어 모듈을 통하여 통신을 수행하는 복수의 하드웨어 모듈을 포함할 수 있다.
상기 복수의 MCU는 서로 네트워크를 형성하며 내부 통신을 수행할 수 있다.
상기 복수의 MCU 중에서 적어도 하나는 내부 네트워크를 테스트 하기 위한 MCU일 수 있다.
본 발명의 다른 실시예에 따르면, 타겟 시스템에 포함된 MCU에 대한 테스트 자동화 방법에 있어서, 표준화된 소프트웨어의 XML 파일을 분석하여 상기 소프트웨어에 대한 설계 정보를 추출하는 단계, 추출된 상기 소프트웨어 설계 정보를 이용하여 TTCN-3 테스트 케이스를 생성하는 단계, 상기 TTCN-3 테스트 케이스을 이용하여 테스트 데이터에 대한 예상 출력 값을 획득하는 단계, 상기 타겟 시스템에 상기 테스트 데이터를 전달한 다음 상기 타겟 시스템으로부터 결과 값을 수신하는 단계, 그리고 수신된 상기 결과 값을 예상 출력 값과 비교하여 상기 타겟 시스템의 테스트 결과를 결정하는 단계를 포함한다.
이와 같이 본 발명에 따르면 내장형 시스템을 개발하는 단계에서 실제 시스템에 가깝게 테스트 환경을 구성하여 전체 시스템의 기능을 사전에 효과적으로 테스트 할 수 있다. 또한 테스트하기 위한 타켓 시스템은 실제 하드웨어로 구성되어 테스트 결과에 대한 신뢰도를 향상시킬 수 있으며, 실제 내장형 시스템과 같이 다수의 MCU를 유기적으로 테스트 할 수 있을 뿐 아니라 시스템 내부에서 사용되는 네트워크를 효과적으로 테스트 할 수 있다.
그리고, 표준화된 소프트웨어 설계 문서를 통해서 테스트 케이스가 자동으로 생성되므로 테스트 환경 구축을 위한 시간과 노력을 감소시킬 수 있다.
도 1은 본 발명의 실시예에 따른 마이크로컨트롤러유닛 테스트 자동화 시스템의 구성을 설명하기 위한 도면이다.
도 2는 본 발명의 실시예에 따른 TTCN-3 테스트 시스템의 구성을 나타낸 도면이다.
도 3은 본 발명의 실시예에 따른 통신 인터페이스의 구성을 나타낸 도면이다.
도 4는 본 발명의 실시예에 따른 마이크로컨트롤러유닛 테스트 자동화 방법을 설명하기 위한 순서도이다.
첨부한 도면을 참고로 하여 본 발명의 실시예에 대하여 본 발명이 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자가 용이하게 실시할 수 있도록 상세히 설명한다.
도 1은 본 발명의 실시예에 따른 마이크로컨트롤러유닛 테스트 자동화 시스템의 구성을 설명하기 위한 도면이다. 도 1에 나타낸 것과 같이, 본 발명의 실시예에 따른 마이크로컨트롤러유닛 테스트 자동화 시스템은 소프트웨어 설계 정보 추출부(100), TTCN-3 테스트 시스템(200), 통신 인터페이스부(300) 및 타겟 시스템(400)을 포함하며, 표준화된 소프트웨어 설계 명세서를 바탕으로 실제 하드웨어를 이용하는HIL(Hardware In the Loop) 시스템으로 구현된다.
먼저, 소프트웨어 설계 정보 추출부(100)는 표준 소프트웨어 설계 명세서인 XML 파일을 분석하고, TTCN-3(Testing and Test Control Notation - Version 3) 표준형식의 테스트 케이스를 생성하기 위한 정보를 추출한다. TTCN-3은 통신 프로토콜과 웹 서비스의 테스트에 사용되는 프로그램 언어로서 프로토콜 적합성 시험 언어를 의미한다.
예를 들어, 테스트의 타겟이 차량용 마이크로컨트롤러유닛인 경우에는 소프트웨어 설계 정보 추출부(100)는 표준 소프트웨어 명세서인 AUTOSAR XML 파일을 분석하여 TTCN-3 표준형식의 테스트 케이스를 생성하기 위한 정보를 추출한다.
TTCN-3 테스트 시스템(200)은 소프트웨어 설계 정보 추출부(100)로부터 XML 파일 정보를 수신하여 블랙박스 테스트를 위한 TTCN-3 테스트 케이스를 자동으로 생성한다. 그리고, TTCN-3 테스트 케이스를 이용하여 입력 값에 대한 예상 결과 값을 생성한다. TTCN-3 테스트 시스템(200)은 입력 값을 타겟 시스템(400)으로 송신하고, 타겟 시스템(400)으로부터 수행된 결과 값을 수신한다. 그리고, TTCN-3 테스트 시스템(200)은 타겟 시스템(400)으로부터 받은 결과 값과 예상 결과 값을 비교하여 타겟 시스템(400)의 테스트 합격 여부를 판단한다.
통신 인터페이스부(300)는 TTCN-3 테스트 시스템(200)과 타겟 시스템(400)의 정보전달을 위한 것으로, 소프트웨어 모듈(310)과 복수의 하드웨어 모듈(320)을 포함한다.
도 1에서 보는 바와 같이 소프트웨어 모듈(310)은 TTCN-3 테스트 시스템(200)과 물리적으로 같은 시스템에 위치하며, 도 1에서는 동일한 PC 단말기에 설정되는 것으로 도시하였다.
소프트웨어 모듈(310)은 복수의 하드웨어 모듈(320)을 통해서 타겟 시스템(400)에 포함된 복수의 MCU(410, 420a, 420b, … , 420n)를 제어할 수 있는 인터페이스를 제공한다. TTCN-3 테스트 시스템(200)과 소프트웨어 모듈(310)은 UDP/IP를 이용해 통신한다.
복수의 하드웨어 모듈(320)은 USB를 통해서 소프트웨어 모듈(310)과 연결되며, 소프트웨어 모듈(310)로부터 명령 신호를 입력받아 대응되는 복수의 MCU(410, 420a, 420b, … , 420n)의 레지스터 또는 하드웨어적인 기능을 직접 제어한다. 도 1에 나타낸 것처럼 1개의 TTCN-3 테스트 시스템(200)은 1개의 소프트웨어 모듈(310)과 연결되며, 1개의 소프트웨어 모듈(310)은 복수의 하드웨어 모듈(320)과 연결된다. 하드웨어 모듈(320)은 타겟 시스템(400)에 포함되는 MCU 개수만큼 구성된다.
타겟 시스템(400)은 개발 중인 시스템을 기능을 사전에 테스트하기 위해서 제작된 간이 시스템으로서, 테스터의 신뢰성을 높이기 위해서 최대한 실제에 가까운 하드웨어로 구성한다. 타겟 시스템(400)은 실제 내장형 시스템처럼 다수의 MCU(410, 420a, 420b, … , 420n)로 구성되고, 복수의 MCU(410, 420a, 420b, … , 420n)들이 내부통신을 위해서 사용하는 내부 네트워크도 실제와 동일하게 구성된다.
또한, 타겟 시스템(400)에 포함되는 MCU는 1개의 COM TEST MCU(410)와 복수의 테스트용 MCU(420a, 420b, … , 420n)으로 구분되는데, COM TEST MCU(410)는 타겟 시스템(400)의 내부 네트워크를 테스트하기 위한 MCU이다. 여기서, 타겟 시스템(400)에 포함되는 복수의 MCU(410, 420a, 420b, … , 420n)들은 서로 Internal Network Bus 방식으로 네트워크를 형성하며 CAN 통신과 같이 내부 통신을 수행하며, 복수의 MCU(410, 420a, 420b, … , 420n)는 COM TEST MCU(410)를 통하여 데이터를 TTCN-3 테스트 시스템(200)으로 전달할 수 있다.
이하에서는 Com Test MCU(410)에 대해서 더욱 상세히 설명한다.
많은 내장형 시스템들은 다수의 MCU를 포함하는 경우, 다수의 MCU들은 유기적으로 동작하는데, 각 MCU들은 서로간의 정보교환을 위해서 특정 내부 네트워크를 사용한다. 이때 내장형 시스템의 신뢰성을 향상시키기 위해서는 이러한 내부 네트워크를 효과적으로 테스트할 수 있는 방법이 필요하다.
Com Test MCU(410)는 TCP/IP, CAN, Flexeray와 같은 다양한 네트워크를 지원하도록 미리 설정되어 있으며, TTCN-3 테스트 시스템(200)은 타겟 시스템(400)의 내부 네트워크를 테스트하기 위해 네트워크의 종류와 테스트 패킷의 내용이 설정된 테스트 케이스를 실행시킴으로써 내부 네트워크를 실제 시스템과 같이 테스트 할 수 있다. Com Test MCU(410)는 TTCN-3 테스트 시스템(200)에서 신호를 받아 내부 네트워크를 테스트하기 위한 패킷을 생성하여 내부 네트워크에 전달하고, 필요에 따라서는 내부 네트워크 내의 트래픽을 분석한다.
즉, 통신 인터페이스부(300)를 통해 네트워크의 종류와 패킷의 내용을 전달받는 Com Test MCU(410)는 수신받는 내용에 대응하는 패킷을 내부 네트워크로 연결되어 있는 다른 복수의 MCU(420a, 420b, … , 420n)로 전달한다.
도 2는 본 발명의 실시예에 따른 TTCN-3 테스트 시스템의 구성을 나타낸 도면이다. 도 2와 같이 본 발명의 실시예에 따른 TTCN-3 테스트 시스템(200)은 테스트 케이스 생성부(210) 및 TTCN-3 테스터부(220)를 포함한다.
테스트 케이스 생성부(210)는 소프트웨어 설계 정보 추출부(100)로부터 추출된 소프트웨어 설계 정보인 소프트웨어 컴포넌트의 입출력 변수와 변수의 데이터 타입을 입력받고, 또한 각 데이터 타입의 등가 클래스를 입력받는다. 테스트 케이스 생성부(210)는 추출된 정보를 이용하여 경계 값 분석 테스트 케이스(boundary value analysis test case) 또는 등가 분할 테스트 케이스를 생성한다. 테스트 케이스 생성부(210)는 추출된 정보를 이용하여 페어와이즈 기법(pairwise testing) 또는 결정 테이블 기법 등을 활용하는 다양한 테스트 케이스 알고리즘을 생성한다.
생성된 테스트 케이스는 입력 정보만 포함하고 있으므로 테스트 케이스 알고리즘을 통하여 예상 출력 값을 출력한다. 그리고, 필요에 따라 마감 시간 등과 같은 부가 테스트 정보를 입력할 수 있다.
이와 같이 TTCN-3 테스트 케이스는 테스트 케이스 생성부(210)로부터 생성되며, TTCN-3 테스트 케이스를 입력받은 TTCN-3 테스터부(220)는 TTCN-3 테스트 케이스를 이용하여 MCU에 대한 테스트를 자동으로 수행한다.
TTCN-3 테스터부(220)는 TTCN-3 테스트 컴포넌트(221), TTCN-3 코덱부(222) 및 인터페이스부(223)를 포함한다.
TTCN-3 테스트 컴포넌트(221)는 테스트 데이터, 즉 입력 값을 타겟 시스템(400)으로 송신하고 수행된 결과 값을 수신하여 테스트 결과의 합격 여부를 결정한다. TTCN-3 코덱부(222)는 TTCN-3 테스트 데이터(입력 값)를 송신하기 위하여 통신 프로토콜에 맞는 데이터 타입으로 인코딩하고, 또한 통신 프로토콜로부터 수신된 데이터, 즉 결과 값을 TTCN-3 데이터 타입으로 변화하는 역할을 담당한다. 인터페이스부(223)는 소프트웨어 모듈(310)과 정보교환을 위해서 UDP/IP 통신을 담당한다.
도 3은 본 발명의 실시예에 따른 통신 인터페이스의 구성을 나타낸 도면이다. 도 3에 나타낸 것과 같이 본 발명의 실시예에 따른 통신 인터페이스부(300)은 1개의 소프트웨어 모듈(310)과 복수의 하드웨어 모듈(320)을 포함하며, 소프트웨어 모듈(310)은 통신 인터페이스(312), 타겟 코덱부(314) 및 컨트롤 인터페이스(316)를 포함한다.
통신 인터페이스(312)는 TTCN-3 테스터부(220)와 소프트웨어 모듈(310) 간의 정보 전달을 위한 UDP/IP 통신을 담당한다. 타겟 코덱(314)는 TTCN-3 테스터부(220)로부터 수신 받은 정보를 적적할 타입에 맞게 디코딩하는 역할을 담당한다.
컨트롤 인터페이스(316)는 복수의 하드웨어 모듈(320)과 연결되어, 하드웨어 모듈(320)을 통해서 복수의 MCU(410, 420a, 420b, … , 420n)를 제어할 수 있는 인터페이스를 담당한다.
하드웨어 모듈(320)은 MCU를 제어 할 수 있는 물리적인 장치로써 소프트웨어 모듈(310)과는 USB로 연결된다. 하드웨어 모듈(320)은 타겟 시스템(400)의 MCU들과 1:1로 연결되어야 하기 때문에 MCU의 개수만큼 필요하다. 하드웨어 모듈(320)은 연결되어 있는 MCU의 레지스터를 읽고 쓸 수 있으며, 하드웨어적인 기능을 제어할 수 있다. 하드웨어 모듈(320)은 임베디드 시스템 개발 환경에서 시스템을 디버깅하는 JTAG(Joint Test Action Group) 또는 BDM(Background Debug Mode)과 같은 기능을 수행할 수 있다. 하드웨어 모듈(320)은 소프트웨어 모듈(310)과 USB로 연결되고, 고유의 VID(Vender ID) 및 PID(Product ID)를 통해서 연결되어 있는 MCU를 구분한다. 각각의 MCU는 표준 소프트웨어 설계서를 기반으로 적절한 하드웨어 모듈(320)에 물리적으로 연결되어야 한다.
도 4는 본 발명의 실시예에 따른 마이크로컨트롤러유닛(MCU) 테스트 자동화 방법을 설명하기 위한 순서도이다.
도 4에 나타낸 것처럼, 소프트웨어 설계 정보 추출부(100)는 소프트웨어 설계 명세서인 XML 파일을 분석하여 상기 소프트웨어에 대한 설계 정보를 추출한다(S410). 그리고, TTCN-3 테스트 시스템(200)은 추출된 소프트웨어 설계 정보를 수신하고, 소프트웨어 설계 정보를 이용하여 TTCN-3 테스트 케이스를 생성한다(S420).
TTCN-3 테스트 시스템(200)은 TTCN-3 테스트 케이스을 이용하여 입력 값에 해당하는 테스트 데이터에 대한 예상 출력 값을 생성한다(S430). 그리고, TTCN-3 테스트 시스템(200)은 타겟 시스템(400)에 테스트 데이터를 전달한 다음 타겟 시스템(400)으로부터 결과 값을 수신하게 된다(S440).
그러면 TTCN-3 테스트 시스템(200)은 타겟 시스템(400)으로부터 수신된 결과 값을 TTCN-3 테스트 케이스을 이용하여 획득한 예상 출력 값과 비교하여 타겟 시스템(400)의 테스트 합격 여부를 결정한다(S450).
이와 같이 본 발명의 실시예에 따르면 내장형 시스템을 개발하는 단계에서 실제 시스템에 가깝게 테스트 환경을 구성하여 전체 시스템의 기능을 사전에 효과적으로 테스트 할 수 있다. 테스트하기 위한 타켓 시스템은 실제 하드웨어로 구성되어 테스트 결과에 대한 신뢰도를 향상시킬 수 있으며, 실제 내장형 시스템과 같이 다수의 MCU를 유기적으로 테스트 할 수 있을 뿐 아니라 시스템 내부에서 사용되는 네트워크를 효과적으로 테스트 할 수 있다.
즉, 본 발명의 실시예에서는 표준화된 소프트웨어 설계 명세서를 바탕으로 실제 하드웨어를 이용하는 HIL 테스트 시스템을 자동으로 구성함으로써 개발 시스템의 신뢰성과 소프트웨어 재사용성을 보다 효과적으로 향상시킬 수 있다.
그리고, 표준화된 소프트웨어 설계 문서를 통해서 테스트 케이스가 자동으로 생성되므로 테스트 환경 구축을 위한 시간과 노력을 감소시킬 수 있다.
본 발명의 실시예는 다양한 컴퓨터로 구현되는 동작을 수행하기 위한 프로그램 명령을 포함하는 컴퓨터로 읽을 수 있는 매체를 포함한다. 이 매체는 지금까지 설명한 마이크로컨트롤러유닛(MCU) 테스트 자동화 방법을 실행시키기 위한 프로그램을 기록한다. 이 매체는 프로그램 명령, 데이터 파일, 데이터 구조 등을 단독으로 또는 조합하여 포함할 수 있다. 이러한 매체의 예에는 하드디스크, 플로피디스크 및 자기 테이프와 같은 자기 매체, CD 및 DVD와 같은 광기록 매체, 플롭티컬 디스크(floptical disk)와 자기-광 매체, 롬, 램, 플래시 메모리 등과 같은 프로그램 명령을 저장하고 수행하도록 구성된 하드웨어 장치 등이 있다. 또는 이러한 매체는 프로그램 명령, 데이터 구조 등을 지정하는 신호를 전송하는 반송파를 포함하는 광 또는 금속선, 도파관 등의 전송 매체일 수 있다. 프로그램 명령의 예에는 컴파일러에 의해 만들어지는 것과 같은 기계어 코드뿐만 아니라 인터프리터 등을 사용해서 컴퓨터에 의해서 실행될 수 있는 고급 언어 코드를 포함한다.
이상에서 본 발명의 바람직한 실시예에 대하여 상세하게 설명하였지만 본 발명의 권리범위는 이에 한정되는 것은 아니고 다음의 청구범위에서 정의하고 있는 본 발명의 기본 개념을 이용한 당업자의 여러 변형 및 개량 형태 또한 본 발명의 권리범위에 속하는 것이다.

Claims (10)

  1. 타겟 시스템에 포함된 복수의 MCU에 대한 테스트 자동화 시스템에 있어서,
    표준화된 소프트웨어의 XML 파일을 분석하여 상기 소프트웨어에 대한 설계 정보를 추출하는 소프트웨어 설계 정보 추출부,
    추출된 상기 소프트웨어 설계 정보를 이용하여 TTCN-3 테스트 케이스를 생성하고, 상기 타겟 시스템으로부터 수신된 결과 값을 상기 TTCN-3 테스트 케이스로부터 획득한 예상 출력 값과 비교하여 상기 타겟 시스템의 테스트 결과를 결정하는 TTCN-3 테스트 시스템, 그리고
    상기 TTCN-3 테스트 시스템과 상기 타겟 시스템 사이에 연결되는 통신 인터페이스부를 포함하며,
    상기 복수의 MCU는 서로 네트워크를 형성하며 내부 통신을 수행하며,
    상기 복수의 MCU 중에서 적어도 하나의 MCU는 상기 TTCN-3 테스트 시스템으로부터 상기 통신 인터페이스부를 통하여 네트워크의 종류와 패킷에 대한 데이터를 전달받아, 수신된 데이터에 대응하는 패킷을 내부 네트워크로 연결되어 있는 다른 MCU들로 전달하여 내부 네트워크 상태를 테스트하는 MCU 테스트 자동화 시스템.
  2. 제1항에 있어서,
    상기 소프트웨어 설계 정보는
    상기 소프트웨어 컴포넌트의 입출력 변수 및 상기 변수의 데이터 타입을 포함하는 MCU 테스트 자동화 시스템.
  3. 제2항에 있어서,
    상기 TTCN-3 테스트 시스템은,
    추출된 상기 소프트웨어 설계 정보를 이용하여 TTCN-3 테스트 케이스를 생성하는 테스트 케이스 생성부, 그리고
    상기 TTCN-3 테스트 케이스을 이용하여 상기 테스트 데이터에 대한 예상 출력 값을 획득하고, 상기 타겟 시스템에 테스트 데이터를 전달한 다음 상기 타겟 시스템으로부터 수신된 결과 값을 상기 예상 출력 값과 비교하여 상기 타겟 시스템의 적합성 여부를 결정하는 TTCN-3 테스터부를 포함하는 MCU 테스트 자동화 시스템.
  4. 제3항에 있어서,
    상기 통신 인터페이스부는,
    상기 TTCN-3 테스트 시스템과 연결되어 통신하는 소프트웨어 모듈, 그리고,
    상기 타겟 시스템에 포함된 복수의 MCU에 각각 연결되어, 상기 소프트웨어 모듈을 통하여 통신을 수행하는 복수의 하드웨어 모듈을 포함하는 MCU 테스트 자동화 시스템.
  5. 삭제
  6. 삭제
  7. 타겟 시스템에 포함된 복수의 MCU에 대한 테스트 자동화 방법에 있어서,
    표준화된 소프트웨어의 XML 파일을 분석하여 상기 소프트웨어에 대한 설계 정보를 추출하는 단계,
    추출된 상기 소프트웨어 설계 정보를 이용하여 TTCN-3 테스트 시스템은 TTCN-3 테스트 케이스를 생성하는 단계,
    상기 TTCN-3 테스트 케이스을 이용하여 테스트 데이터에 대한 예상 출력 값을 획득하는 단계,
    상기 타겟 시스템에 상기 테스트 데이터를 전달한 다음 상기 타겟 시스템으로부터 결과 값을 수신하는 단계, 그리고
    수신된 상기 결과 값을 예상 출력 값과 비교하여 상기 타겟 시스템의 테스트 결과를 결정하는 단계를 포함하며,
    상기 복수의 MCU는 서로 네트워크를 형성하며 내부 통신을 수행하며,
    상기 복수의 MCU 중에서 적어도 하나의 MCU는 상기 TTCN-3 테스트 시스템으로부터 네트워크의 종류와 패킷에 대한 데이터를 전달받아, 수신된 데이터에 대응하는 패킷을 내부 네트워크로 연결되어 있는 다른 MCU들로 전달하여 내부 네트워크 상태를 테스트하는 MCU 테스트 자동화 방법.
  8. 제7항에 있어서,
    상기 TTCN-3 테스트 시스템과 상기 타겟 시스템은 통신 인터페이스부를 통하여 통신하며,
    상기 통신 인터페이스부는,
    상기 TTCN-3 테스트 시스템과 연결되어 통신하는 소프트웨어 모듈, 그리고,
    상기 타겟 시스템에 포함된 복수의 MCU에 각각 연결되어, 상기 소프트웨어 모듈을 통하여 통신을 수행하는 복수의 하드웨어 모듈을 포함하는 MCU 테스트 자동화 방법.
  9. 삭제
  10. 삭제
KR1020100109944A 2010-11-05 2010-11-05 마이크로컨트롤러유닛 테스트 자동화 시스템 및 그 방법 KR101185542B1 (ko)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020100109944A KR101185542B1 (ko) 2010-11-05 2010-11-05 마이크로컨트롤러유닛 테스트 자동화 시스템 및 그 방법

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020100109944A KR101185542B1 (ko) 2010-11-05 2010-11-05 마이크로컨트롤러유닛 테스트 자동화 시스템 및 그 방법

Publications (2)

Publication Number Publication Date
KR20120048350A KR20120048350A (ko) 2012-05-15
KR101185542B1 true KR101185542B1 (ko) 2012-09-24

Family

ID=46266711

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1020100109944A KR101185542B1 (ko) 2010-11-05 2010-11-05 마이크로컨트롤러유닛 테스트 자동화 시스템 및 그 방법

Country Status (1)

Country Link
KR (1) KR101185542B1 (ko)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN105242997A (zh) * 2015-08-11 2016-01-13 中国航空工业集团公司西安飞机设计研究所 机载计算机自动测试方法及装置

Families Citing this family (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20160008925A (ko) 2014-07-15 2016-01-25 전성희 공기질 관리 시스템 및 그 제어 방법
CN106294117A (zh) * 2015-06-12 2017-01-04 神讯电脑(昆山)有限公司 客制化机种的嵌入式控制器bios的测试方法
CN106371988A (zh) * 2016-08-22 2017-02-01 浪潮(北京)电子信息产业有限公司 一种自动化测试界面的方法和装置
CN106371990B (zh) * 2016-08-30 2018-11-23 福建天晴数码有限公司 一种交互式软件并发处理能力的测试方法及系统
KR102558036B1 (ko) * 2022-11-25 2023-07-20 인하대학교 산학협력단 Python을 활용한 RTL 설계 검증 자동화 방법 및 시스템
CN117234827B (zh) * 2023-11-14 2024-02-13 武汉凌久微电子有限公司 一种基于国产图形处理器的多平台自动化测试方法及系统

Non-Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
"AUTOSAR 응용 소프트웨어 컴포넌트의 테스트 방법", 2009년 한국자동차공학회 학술대회 및 전시회, page(s): 1861~1866 (2009.11.)*
"TTCN-3을 이용한 차량 소프트웨어 컴포넌트의 테스팅 자동화 방법", 정보과학회논문지 : 컴퓨팅의 실제 및 레터 제16권 제5호, page(s): 541~545 (2010.5.)*

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN105242997A (zh) * 2015-08-11 2016-01-13 中国航空工业集团公司西安飞机设计研究所 机载计算机自动测试方法及装置

Also Published As

Publication number Publication date
KR20120048350A (ko) 2012-05-15

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR101185542B1 (ko) 마이크로컨트롤러유닛 테스트 자동화 시스템 및 그 방법
CN105701008B (zh) 用于测试用例生成的系统和方法
Fernandez et al. A model-based approach for robustness testing
US10176079B2 (en) Identification of elements of currently-executing component script
US20110145793A1 (en) Method and apparatus to semantically connect independent build and test processes
CN110610089B (zh) 用户行为模拟方法、装置及计算机设备
JP2010539576A (ja) 航空機搭載システムのオペレーション・ソフトウェアの妥当性をテストするための自動スクリプト生成の方法および同方法を実施するためのデバイス
Zhang et al. A systematic approach to automatically derive test cases from use cases specified in restricted natural languages
CN111194046A (zh) 一种wifi模块自动化测试系统及方法
Ali et al. An industrial application of robustness testing using aspect-oriented modeling, UML/MARTE, and search algorithms
CN113179194B (zh) Opc协议网关的测试系统及方法
Tahvili et al. Functional dependency detection for integration test cases
US8458669B2 (en) Automated test system
CN112860587B (zh) Ui自动测试方法和装置
Gaudin et al. Property verification with MSC
Ahamad et al. Performability modeling of safety-critical systems through AADL
Mubeen et al. Towards extraction of interoperable timing models from component-based vehicular distributed embedded systems
KR101174716B1 (ko) 장비 검증 장치 및 시스템
KR101257041B1 (ko) Ａｈｂ－ｕａｒｔ를 이용한 테스트 디버깅 방법 및 그 시스템
Clements et al. Is your firmware real or re-hosted?.
Pfeffer et al. Automatic analysis of critical sections for efficient secure multi-execution
Chockler et al. Validation of evolving software
US20220057769A1 (en) Programmable microgrid control system
Delange et al. Supporting the ARP4761 safety assessment process with AADL
KR101976993B1 (ko) 모바일 코드 자동 분석을 위한 동적 바이너리 계측 코드추출장치 및 그 방법

Legal Events

Date Code Title Description
A201 Request for examination
E902 Notification of reason for refusal
E701 Decision to grant or registration of patent right
GRNT Written decision to grant
FPAY Annual fee payment

Payment date: 20150902

Year of fee payment: 4

FPAY Annual fee payment

Payment date: 20160628

Year of fee payment: 5

FPAY Annual fee payment

Payment date: 20170628

Year of fee payment: 6

FPAY Annual fee payment

Payment date: 20190701

Year of fee payment: 8