KR101158696B1 - Printing ink composite for etching resist comprising polyurethane polymer - Google Patents

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풍원정밀(주)
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Abstract

본 발명은 1:2 내지 1:5 몰비의 3관능성 이소시아네이트와 카르복시산 곁사슬을 함유하는 디올이 중합되어 생성되는 덴드리틱 구조의 폴리우레탄 고분자, 이의 제조법, 에칭 레지스트 인쇄용 잉크 조성물에 관한 것이다. 본 발명의 에칭 레지스트 인쇄용 잉크 조성물은 상기의 폴리우레탄 고분자, 저비점 용매, 고비점 용매 및 습윤제와 기포제거제를 성분으로 하는 첨가제 등을 포함하며, 에칭 레지스트는 잉크조성물에서 휘발성분인 용매가 제거되고 남아 형성된 고체성분에 의해 형성된다. 이러한 에칭 레지스트는 금속에 대한 접착성과 에칭액에 대한 내박리성이 우수하면서도, 약알칼리성 또는 수성 박리액에 의하여 박리가 이루어지는 특성을 가진다.The present invention relates to a dendritic polyurethane polymer produced by polymerization of diols containing trifunctional isocyanates and carboxylic acid side chains in a 1: 2 to 1: 5 molar ratio, a preparation method thereof, and an ink composition for etching resist printing. The ink composition for printing an etching resist of the present invention includes the polyurethane polymer, the low boiling point solvent, the high boiling point solvent, and an additive including a humectant and an air bubble remover, and the etching resist is left with volatile solvents removed from the ink composition. It is formed by the solid component formed. Such an etching resist is excellent in adhesiveness to a metal and peeling resistance to an etching solution, but has a characteristic of being peeled off by a weak alkali or an aqueous stripping solution.

Description

폴리우레탄계 고분자를 포함하는 에칭 레지스트 인쇄용 잉크 조성물 {Printing ink composite for etching resist comprising polyurethane polymer}Ink composition for printing an etching resist comprising a polyurethane-based polymer {Printing ink composite for etching resist comprising polyurethane polymer}

본 발명은 3관능성 이소시아네이트와 카르복시산 곁사슬을 함유하는 디올이 중합되어 생성되는 덴드리틱 구조의 폴리우레탄 고분자를 포함하는 에칭 레지스트 인쇄용 잉크 조성물에 관한 것이다. 구체적으로 본 발명은 덴드리틱 구조의 폴리우레탄계 고분자를 합성하고, 이러한 폴리우레탄계 고분자를 저비점 용매, 고비점 용매 및 첨가제와 혼합하여 에칭액에 대한 내박리성 특성과 박리액에 의한 박리 특성이 우수한 에칭 레지스트 조성물을 제공하는 기술에 관한 것이다.The present invention relates to an ink composition for etching resist printing comprising a polyurethane polymer of dendritic structure produced by polymerizing diol containing trifunctional isocyanate and carboxylic acid side chain. Specifically, the present invention synthesizes a polyurethane-based polymer having a dendritic structure, and the polyurethane-based polymer is mixed with a low boiling point solvent, a high boiling point solvent, and an additive to etch excellent in peeling properties with respect to the etching solution and the peeling property by the removing solution. The present invention relates to a technique for providing a resist composition.

오늘날 우리 생활을 편리하게 바꿔 놓은 다양한 전자기기의 개발은 전자기기 내에 삽입되는 반도체의 제조기술을 비롯한 여러 가지 패터닝 기술의 발전에 기인한다. 이러한 패터닝 기술의 발전은 반도체 기술의 발전과 역사를 같이 하는데 현재 다양한 종류의 패터닝 기술이 개발되어 있다. The development of various electronic devices that have changed our lives conveniently today is due to the development of various patterning technologies, including the manufacturing technology of semiconductors embedded in electronic devices. The development of patterning technology is in line with the development of semiconductor technology, and various types of patterning technologies have been developed.

패터닝 기술의 개발 방향은 D램 개발 분야와 같이 나노미터 단위의 선폭을 패터닝할 수 있는 고도의 미세 패터닝 기술 개발과, 이보다는 선폭의 스케일이 크지만 공정 단가가 낮은 패터닝 기술의 개발로 양분된다. 전자는 스테퍼나 스캐너와 같은 고가의 장비가 부착된 노광기를 이용하여 포토마스크에 패터닝된 패턴을 웨이퍼 상의 레지스트에 집속시켜 전사하고, 이방성 식각이 가능한 건식 에칭(dry etching)하는 방법으로 구현된다. 후자는 전자에 비하여 패턴의 스케일이 크므로, 등방성 식각 특성을 가지는 습식 에칭(wet etching)이나 별도의 마스크를 사용하지 않는 잉크젯 방식 또는 그라비아 인쇄 방식을 통하여 구현된다. 이러한 습식 에칭에 의한 패터닝 기술이 필요한 분야 중 하나가 RFID 태그(Radio Frequency IDentification tag)의 안테나 제조기술이다. The development direction of patterning technology is divided into the development of highly fine patterning technology that can pattern the line width in nanometers as in the field of DRAM development, and the development of patterning technology that has a large line width but low process cost. The former is implemented by a method of transferring and patterning a pattern patterned on a photomask to a resist on a wafer by using an exposure apparatus attached to expensive equipment such as a stepper or a scanner, and dry etching capable of anisotropic etching. Since the latter has a larger scale of the pattern than the former, the latter is implemented through wet etching having an isotropic etching characteristic or an inkjet method or a gravure printing method using no separate mask. One of the fields in which the wet etching patterning technology is required is an antenna manufacturing technology of an RFID tag.

최근, 관리 대상인 인간이나 물건에 부착되어 비접촉 상태에서 정보를 주고 받는 RFID 태그의 사용 빈도가 높아지고 그 응용분야 또한 넓어지고 있다. RFID 태그는 데이터를 저장하기 위한 IC 칩이 내장되어 있고, 라디오파의 송수신을 통해 대상물간의 정보교환이 이루어질 수 있도록 한다. 예를 들어, RFID 태그는 교통 기관의 정기권에 내장되어 승차 구간이나 운임을 관리하거나, 기업 등에서 사람의 출입 관리, 상품의 재고 관리 또는 물류 관리 등의 작업을 수행하는데 이용된다.In recent years, the frequency of use of RFID tags attached to humans or objects to be managed and transmitting information in a non-contact state is increasing, and their application fields are also expanding. The RFID tag has an IC chip for storing data and enables information exchange between objects by transmitting and receiving radio waves. For example, an RFID tag is embedded in a commuter pass of a transportation institution and used to manage a ride section or a fare, or perform a task such as managing a person's access, a product's inventory, or a logistics management in a company.

RFID 태그는 전자파를 송수신하기 위하여 일정한 형태의 안테나를 포함한다. RFID 태그 안테나의 제조 방법은 주로 에칭액에 의한 습식 에칭에 의하여 이루어진다. 습식 에칭은 금속막이 형성된 기판 위에 포토 레지스트를 코팅하고, 마스크를 이용하여 포토 레지스트를 노광하고 현상하여 일정한 패턴으로 에칭 레지스트를 형성하고, 에칭액으로 하부 금속막을 에칭함으로써 이루어질 수 있다. 그러나 이러한 포토 레지스트를 이용한 에칭 레지스트 형성 방법은 스핀 코터(spin coater)나 노광기와 같이 고가의 장비가 필수적으로 사용되고, 공정의 단계가 복잡하여 공정 비용이 과다한 문제점을 가지고 있다.The RFID tag includes a certain type of antenna for transmitting and receiving electromagnetic waves. The manufacturing method of an RFID tag antenna is mainly performed by wet etching with etching liquid. The wet etching may be performed by coating a photoresist on a substrate on which a metal film is formed, exposing and developing the photoresist using a mask to form an etching resist in a predetermined pattern, and etching the lower metal film with an etchant. However, in the etching resist formation method using the photoresist, expensive equipment, such as a spin coater or an exposure machine, is inevitably used, and the process cost is complicated because the steps of the process are complicated.

상기의 문제점을 가진 포토 레지스트를 이용한 에칭 레지스트 형성 방법을 대체할 수 있는 기술이 프린팅 기술이다. 프린팅 기술은 마스크나 노광장비 없이 직접 금속막 위에 패턴을 형성하는 것이 가능하므로 공정 비용이 낮고 생산성이 뛰어난 장점을 가진다. 이러한 프린팅 기술은 패턴을 형성하는 잉크의 물성에 패턴의 정확성과 생산성 등이 크게 의존한다. 일반적으로 잉크 내의 유효성분의 함량이 높을수록 동일 양의 액적에 대한 유효성분의 비율이 높으므로 형성된 패턴의 특성이 우수하다. 그러나 잉크의 고형분 함량이 증가할수록 잉크의 점도가 높아져서 안정적인 프린팅이 어렵고 저장 안정성도 또한 낮아지는 문제점을 가지고 있다. 또한 프린팅을 통하여 형성된 에칭 레지스트 패턴의 에칭액에 대한 내박리성과 박리액에 의한 박리효율도 잉크의 조성에 크게 의존한다. 따라서 유효성분의 함량이 높고, 저장 안정성이 뛰어나며, 에칭액과 박리액에 대한 특성이 우수한 에칭 레지스트 조성물의 개발에 대한 시장의 요구가 점차 커지고 있다.Printing technology is a technique that can replace the etching resist formation method using a photo resist having the above problems. Printing technology can form a pattern directly on a metal film without a mask or exposure equipment, so the process cost is low and productivity is excellent. This printing technique is highly dependent on the physical properties of the ink forming the pattern, the accuracy and productivity of the pattern. In general, the higher the content of the active ingredient in the ink, the higher the ratio of the active ingredient to the same amount of droplets, so the characteristics of the formed pattern are excellent. However, as the solid content of the ink increases, the viscosity of the ink increases, so that it is difficult to print stably and the storage stability also decreases. In addition, the peeling resistance to the etching solution of the etching resist pattern formed through printing and the peeling efficiency by the peeling solution also largely depend on the composition of the ink. Therefore, the market demand for the development of the etching resist composition having a high content of the active ingredient, excellent storage stability, and excellent properties for the etching solution and the stripping solution is increasing.

본 발명의 과제는 에칭액에 대한 내박리 특성과 박리액에 의한 박리 특성이 우수한 폴리우레탄계 고분자를 포함하는 에칭 레지스트 인쇄용 잉크 조성물을 제공하는 것이다.SUMMARY OF THE INVENTION An object of the present invention is to provide an ink composition for etching resist printing comprising a polyurethane-based polymer having excellent peeling resistance with respect to etching liquid and peeling characteristic with a peeling liquid.

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상기 과제를 해결하기 위하여, 본 발명은,
65 내지 85중량%의, 1:2 내지 1:5 몰비의 3관능성 이소시아네이트와 카르복시산을 곁사슬로 포함하는 디올류가 중합되어 생성된 폴리우레탄계 고분자;
2 내지 6중량%의 비점이 100 내지 150℃인 고비점 용매;
8 내지 24중량%의 비점이 60 내지 80℃인 저비점 용매; 및
1 내지 6중량%의 습윤제와 기포제거제를 포함하는 첨가제를 포함하는 에칭 레지스트 인쇄용 잉크 조성물을 제공한다.
In order to solve the above problems, the present invention,
Polyurethane type polymer | macromolecule produced by superposing | polymerizing the diol which contains 65-85 weight% of trifunctional isocyanate and carboxylic acid in a side chain of 1: 2-1: 5 molar ratio;
A high boiling point solvent having a boiling point of 2 to 6% by weight of 100 to 150 ° C;
Low boiling point solvent having a boiling point of 8 to 24% by weight of 60 to 80 ℃; And
Provided is an ink composition for etching resist printing comprising an additive comprising 1 to 6% by weight of a wetting agent and an antifoaming agent.

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본 발명의 일실시예에 의하면, 본 발명의 에칭 레지스트 조성물은 전체 조성물 대비 1 내지 6중량%의 경화제를 더 포함할 수 있다.According to one embodiment of the present invention, the etching resist composition of the present invention may further comprise 1 to 6% by weight of the curing agent relative to the total composition.

본 발명의 다른 일실시예에 의하면, 본 발명은 경화제로 옥사졸린, 아지리딘 및 카보디이미드로 이루어진 그룹에서 선택된 적어도 하나를 사용할 수 있다.According to another embodiment of the present invention, the present invention may use at least one selected from the group consisting of oxazoline, aziridine and carbodiimide as a curing agent.

본 발명의 또 다른 일실시예에 의하면, 본 발명은 고비점 용매로 N-메틸피롤리돈, 디메틸 포름아미드 및 디메틸 설폭시드로 이루어진 그룹에서 선택된 적어도 하나를 사용할 수 있다.According to another embodiment of the present invention, the present invention may use at least one selected from the group consisting of N-methylpyrrolidone, dimethyl formamide and dimethyl sulfoxide as a high boiling point solvent.

본 발명의 또 다른 일실시예에 의하면, 본 발명은 저비점 용매로 테트라 하이드로퓨란, 아세톤 및 메틸에틸 케톤으로 이루어진 그룹에서 선택된 적어도 하나를 사용할 수 있다.According to another embodiment of the present invention, the present invention may use at least one selected from the group consisting of tetrahydrofuran, acetone and methyl ethyl ketone as a low boiling point solvent.

본 발명의 또 다른 일실시예에 의하면, 본 발명은 습윤제로 폴리에테르 변성 디메틸폴리실록산을 사용할 수 있다.
According to another embodiment of the present invention, the present invention may use a polyether modified dimethylpolysiloxane as a wetting agent.

본 발명의 에칭 레지스트 조성물에 포함되는 폴리우레탄계 고분자 물질은 덴드리틱(dendritic) 구조를 가지고 있어 점도가 낮으면서도 분자량이 큰 특성을 가지므로 우수한 기계적 물성을 발현할 수 있다. 또한 이러한 폴리우레탄계 고분자를 포함하는 에칭 레지스트 조성물은 금속 에칭액에 대한 내박리성과, 박리액에 의한 박리 특성이 우수하다. Polyurethane-based polymer material included in the etching resist composition of the present invention has a dendritic structure (dendritic) structure has a low molecular weight and has a large molecular weight characteristics can exhibit excellent mechanical properties. Moreover, the etching resist composition containing such a polyurethane-type polymer is excellent in peeling resistance with respect to a metal etching liquid, and the peeling characteristic by peeling liquid.

아래에서 본 발명은 실시예를 기초로 첨부된 도면을 참조하여 상세하게 설명된다. 제시된 실시예는 예시적인 것으로 본 발명의 범위를 제한하기 위한 것은 아니다.Hereinafter, the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings based on embodiments. The examples presented are exemplary and are not intended to limit the scope of the invention.

본 발명의 에칭 레지스트용 조성물은 65 내지 85중량%의, 1:2 내지 1:5 몰비의 3관능성 이소시아네이트와 카르복시산을 곁사슬로 포함하는 디올류가 중합되어 생성된 폴리우레탄계 고분자를 포함한다. 상기 폴리우레탄계 고분자는 3관능성 이소시아네이트 또는 폴리이소시아네이트와 카르복시산 곁사슬을 포함하는 디올이 중합되어 생성된다. 상기 3관능성 이소시아네이트 및 폴리이소시아네이트에는 방향족 지방족 및 고리지방족 폴리이소시아네이트가 포함된다. 비용 가용성 및 생성물 폴리우레탄에 부여되는 특성을 기준으로 할 때, 방향족 폴리이소시아네이트가 일반적으로 바람직하다. 대표적인 폴리이소시아네이트에는 예를 들면 m-페닐렌 디이소시아네이트, 2,4- 및/또는 2,6-톨루엔 디이소시아네이트 (TDI), 디페닐메탄디이소시아네이트 (MDI)의 다양한 이성질체들, 헥사메틸렌-1,6-디이소시아네이트, 테트라메틸렌-1,4-디이소시아네이트, 씨클로헥산-1,4-디이소시아네이트, 헥사히드로톨루엔 디이소시아네이트, 수소화 MDI (H12 MDI), 나프틸렌-1,5-디이소시아네이트, 메톡시페닐-2,4-디이소시아네이트, 4,4'-비페닐렌 디이소시아네이트, 3,3'-디메톡시-4,4'-비페닐 디이소시아네이트, 3,3'-디메틸디페닐메탄-4,4'-디이소시아네이트, 4,4',4"-트리페닐메탄 트리-이소시아네이트, 폴리메틸렌 폴리페닐이소시아네이트, 수소화 폴리메틸렌 폴리페닐이소시아네이트, 톨루엔-2,4,6-트리이소시아네이트, 및 4,4'-디메틸디페닐메탄-2,2',5,5'-테트라이소시아네이트가 포함된다. 바람직한 폴리이소시아네이트에는 HDI 및 HDI의 유도체, 예컨대 뷰렛-변형(biuret-modified) "액체" HDI 생성물 및 중합체성 HDI는 물론, MDI, TDI, IPDI의 뷰렛변형이나 라우레이트 변형도 혼합물에 포함된다. 상기 폴리우레탄계 고분자는 덴드리틱 구조를 가진 덴드리틱 폴리머이다. 덴드리틱 구조는 분지형 구조라고도 불리우며, 덴드리틱 폴리머는 규칙적으로 나무 가지처럼 갈라지는 모양의 고분자 화합물을 의미한다. 본 발명의 폴리우레탄계 고분자는 이러한 구조적 특성에 의하여 저 점도이면서도 고분자량을 가지고 기계적 물성이 뛰어난 것이 특징이다. 또한 점도를 조절함에 있어서도 고분자의 합성 조건에 따라 다양한 범위의 점도를 가지는 고분자 합성이 가능하다. 고분자의 점도를 조절하는 것은 고분자를 이용한 인쇄 특성, 특히 그라비아(gravure) 인쇄 시에 요철로 형성된 부분에 고분자가 빈틈없이 충진되는 특성과 관련되고, 결과적으로 인쇄로 형성된 패턴의 정밀도에 영향을 미친다. 또한 고분자의 기계적 물성을 조절하는 것은 일정한 패턴으로 형성된 에칭 레지스트의 견고성과 관련되고 역시 패턴의 정밀도에 영향을 미친다. The composition for etching resists of the present invention includes a polyurethane-based polymer produced by polymerizing diols containing 65 to 85% by weight of trifunctional isocyanate and carboxylic acid in a side chain of 1: 2 to 1: 5 molar ratio. The polyurethane-based polymer is produced by polymerizing a difunctional isocyanate or a diol including a polyisocyanate and a carboxylic acid side chain. The trifunctional isocyanate and polyisocyanate include aromatic aliphatic and cycloaliphatic polyisocyanates. Based on cost solubility and the properties imparted to the product polyurethane, aromatic polyisocyanates are generally preferred. Representative polyisocyanates include, for example, m-phenylene diisocyanate, 2,4- and / or 2,6-toluene diisocyanate (TDI), various isomers of diphenylmethane diisocyanate (MDI), hexamethylene-1, 6-diisocyanate, tetramethylene-1,4-diisocyanate, cyclohexane-1,4-diisocyanate, hexahydrotoluene diisocyanate, hydrogenated MDI (H12 MDI), naphthylene-1,5-diisocyanate, methoxy Phenyl-2,4-diisocyanate, 4,4'-biphenylene diisocyanate, 3,3'-dimethoxy-4,4'-biphenyl diisocyanate, 3,3'-dimethyldiphenylmethane-4, 4'-diisocyanate, 4,4 ', 4 "-triphenylmethane tri-isocyanate, polymethylene polyphenylisocyanate, hydrogenated polymethylene polyphenylisocyanate, toluene-2,4,6-triisocyanate, and 4,4' Dimethyldiphenylmethane-2,2 ', 5,5'-tetraisocyanate Preferred polyisocyanates include HDI and derivatives of HDI, such as biuret-modified “liquid” HDI products and polymeric HDI, as well as biuret or laurate modifications of MDI, TDI, IPDI. The polyurethane-based polymer is a dendritic polymer having a dendritic structure, which is also called a branched structure, and a dendritic polymer means a polymer compound having a regular branching shape like a tree branch. The polyurethane-based polymer of the present invention is characterized by low molecular weight, high molecular weight, and excellent mechanical properties due to such structural characteristics, and also polymers having various ranges of viscosities can be synthesized according to the synthetic conditions of the polymer even in adjusting the viscosity. Controlling the viscosity of polymers is characterized by printing characteristics using polymers, especially gravure (gra vure) is related to the characteristic of filling polymers tightly in the uneven portion during printing, and consequently affecting the precision of the pattern formed by printing, and controlling the mechanical properties of the polymer. It is related to robustness and also affects the precision of the pattern.

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본 발명에 따른 폴리우레탄계 고분자는 많은 수의 카르복시기(carboxyl group)를 포함하고 있다. 카르복시산을 곁사슬로 포함하는 디올류는 디메틸올 프로파논산(dimethylol propanoic acid), 또는 디메틸올 부타논산 (dimethylol butanoic acid)등이 포함된다. 카르복시기는 폴리우레탄계 고분자를 포함하는 에칭 레지스트 조성물의 에칭 특성에 영향을 미친다. 첫 번째로, 카르복시기는 에칭 레지스트의 금속막에 대한 부착성을 증가시킨다. 금속은 표면에 자유전자를 포함하고 있는데, 카르복시기는 공명구조를 통하여 탄소와 산소간의 결합에 전자를 비편재화시키며 자유전자와의 상호작용을 강화시키는 역할을 한다. 이러한 금속막에 대한 부착 특성은 금속막의 에칭 시에 에칭 레지스트 하부로 에칭액이 침투하여 패턴 불량이 발생하는 것을 방지한다. 두 번째로, 카르복시기는 에칭액에 대한 내박리 특성을 향상시킨다. 금속막의 에칭에는 일반적으로 FeCl3와 같은 에칭액이 사용될 수 있는데, 카르복시기는 에칭액의 Fe과 착물을 형성하여 에칭액에서 고분자가 용해되는 것을 방해한다. 세 번째로 카르복시기는 박리액에 의한 박리 특성을 향상시킨다. 카르복시기는 산성기이므로 수용액에 대한 용해도, 특히 약한 알칼리성 용액에 대한 용해도를 증가시킨다.The polyurethane-based polymer according to the present invention contains a large number of carboxyl groups. Diols containing carboxylic acid as a side chain include dimethylol propanoic acid, or dimethylol butanoic acid. The carboxyl group affects the etching characteristics of the etching resist composition comprising the polyurethane-based polymer. First, the carboxyl group increases the adhesion of the etching resist to the metal film. Metals contain free electrons on their surface, and carboxyl groups play a role in delocalizing electrons to bonds between carbon and oxygen through resonance structures and enhancing interactions with free electrons. This adhesion property to the metal film prevents the etching solution from penetrating into the lower portion of the etching resist during etching of the metal film, resulting in pattern defects. Second, the carboxyl group improves the peeling resistance to the etching solution. In general, an etching solution such as FeCl 3 may be used to etch the metal film, and the carboxyl groups form a complex with Fe in the etching solution, thereby preventing the polymer from dissolving in the etching solution. Third, the carboxyl group improves the peeling characteristics by the stripping solution. Carboxyl groups are acidic groups, which increase the solubility in aqueous solutions, especially in weak alkaline solutions.

본 발명의 폴리우레탄계 고분자는 3관능성 이소시아네이트 또는 폴리이소시아네이트와 카르복시산 곁사슬을 포함하는 디올이 1:2 내지 1:5 몰비로 중합되는 것이 바람직하다. 헥사메틸렌 디이소시아네이트 삼량체가 지나치게 많으면, 합성된 폴리우레탄계 고분자의 곁사슬 말단에 반응성이 큰 이소시아네이트기가 남으므로 저장성이 낮아진다. 카르복시산을 곁사슬로 포함하는 디올류가 지나치게 많으면, 미반응된 카르복시산을 곁사슬로 포함하는 디올류가 존재하여 인쇄 시에 결함이 발생할 수 있다.In the polyurethane-based polymer of the present invention, difunctional isocyanate containing trifunctional isocyanate or polyisocyanate and carboxylic acid side chain is preferably polymerized in a 1: 2 to 1: 5 molar ratio. When there are too many hexamethylene diisocyanate trimers, since the highly reactive isocyanate group remains in the side chain terminal of the synthesized polyurethane type polymer, storage property becomes low. When there are too many diols containing carboxylic acid as a side chain, the diols containing unreacted carboxylic acid as a side chain exist and defect may arise at the time of printing.

본 발명의 폴리우레탄계 고분자는 다음의 과정을 통하여 중합될 수 있다. 먼저, N-메틸피롤리돈과 테트라 하이드로퓨란의 혼합액에 디메틸올 프로파논산을 용해시켜 제 1용액을 제조한다. 이어서, 테트라 하이드로퓨란에 헥사메틸렌 디이소시아네이트 삼량체를 용해시켜 제 2용액을 제조한다. 이어서, 제 1용액과 제 2용액을 혼합하고 60 내지 80℃의 온도에서 중합한다. 이때, 중합의 종결을 확인하기 위하여 적외선 분광분석기를 이용할 수 있다. 중합이 진행되면 디메틸올 프로파논산의 알콜기의 산소 원자가 헥사메틸렌 디이소시아네이트 삼량체의 이소시아네이트기를 공격하여 우레탄 구조가 생성되므로 미반응 이소시아네이트기가 남아 있으면 적외선 분광스펙트럼의 2270㎝-1에서 특성 피크가 관찰된다. 적외선 분광분석기를 통하여 미반응 이소시아네이트의 존재가 확인되면, 선택적으로 소량의 DBTDL(dibutyl tin dilaulate)과 같은 촉매를 첨가한 후 온도를 올리고 반응을 더 진행하여 중합을 완결시킬 수 있다.The polyurethane-based polymer of the present invention may be polymerized through the following process. First, dimethylol propanoic acid is dissolved in a mixed solution of N-methylpyrrolidone and tetra hydrofuran to prepare a first solution. Subsequently, the hexamethylene diisocyanate trimer is dissolved in tetrahydrofuran to prepare a second solution. Subsequently, the first solution and the second solution are mixed and polymerized at a temperature of 60 to 80 ° C. In this case, an infrared spectrometer may be used to confirm the termination of the polymerization. When the polymerization proceeds dimethylol profile If the attack of the oxygen atom is an isocyanate group of hexamethylene diisocyanate trimer of the alcohol group of the acid group remains unreacted isocyanate since polyurethane structure is produced characteristic peaks at 2270㎝ -1 in the infrared spectrum is observed do. If the presence of unreacted isocyanate is confirmed by infrared spectroscopy, optionally a small amount of catalyst such as DBTDL (dibutyl tin dilaulate) can be added, and then the temperature is increased to proceed with the reaction to complete the polymerization.

본 발명의 에칭 레지스트 조성물은 그라비아 인쇄를 통하여 패턴을 형성할 수 있다. 그라비아 인쇄는 특정 패턴의 요철이 형성된 판에 잉크를 묻히고, 오목한 부분을 제외한 나머지 부분의 잉크를 긁어내고 기판에 인쇄하는 기술이다. 그라비아 인쇄에서는 오목한 부분에 채워지는 잉크의 점도나 용매의 휘발 정도 등에 의하여 인쇄 품질이 결정된다. The etching resist composition of the present invention can form a pattern through gravure printing. Gravure printing is a technique in which ink is applied to a plate on which a pattern of irregularities is formed, and the ink of the remaining portions except for the concave portion is scraped off and printed on the substrate. In gravure printing, the printing quality is determined by the viscosity of the ink filled in the concave portion, the degree of volatilization of the solvent, and the like.

본 발명의 에칭 레지스트 조성물은 전체 조성물 대비 65 내지 85중량%의 상기 폴리우레탄계 고분자와, 2 내지 6중량%의 고비점 용매와, 8 내지 24중량%의 저비점 용매와, 1 내지 6중량%의 첨가제를 포함한다. 이때, 고비점 용매는 비점이 100 내지 150℃인 용매로서, N-메틸피롤리돈, 디메틸 포름아미드 및 디메틸 설폭시드로 이루어진 그룹에서 선택된 적어도 하나일 수 있다. 저비점 용매는 비점이 60 내지 80℃인 용매로서, 테트라 하이드로퓨란, 아세톤 및 메틸에틸 케톤으로 이루어진 그룹에서 선택된 적어도 하나일 수 있다. 첨가제는 습윤제와 기포제거제를 포함하고, 습윤제로서 BYK사에서 판매하는 폴리에테르 변성 디메틸폴리실록산 계열의 BYK-345, BYK-346 또는 BYK-348 등이 사용될 수 있으며, 기포제거제로 BYK-011 등이 사용될 수 있다.The etching resist composition of the present invention is 65 to 85% by weight of the polyurethane-based polymer, 2 to 6% by weight of high boiling point solvent, 8 to 24% by weight of low boiling point solvent, 1 to 6% by weight of the additive composition It includes. At this time, the high boiling point solvent is a solvent having a boiling point of 100 to 150 ℃, may be at least one selected from the group consisting of N-methylpyrrolidone, dimethyl formamide and dimethyl sulfoxide. The low boiling point solvent is a solvent having a boiling point of 60 to 80 ° C., and may be at least one selected from the group consisting of tetrahydrofuran, acetone and methylethyl ketone. The additive may include a wetting agent and a defoamer, and a polyether modified dimethylpolysiloxane-based BYK-345, BYK-346, or BYK-348, etc., sold by BYK, may be used as the wetting agent, and BYK-011 may be used as an antifoaming agent. Can be.

고비점 용매는 디메틸올 프로파논산을 용해시키는 역할을 한다. 고비점 용매가 2중량% 미만으로 포함되면 디메틸올 프로파논산이 잘 용해되지 않아 인쇄 시에 전사능력이 떨어지고, 6중량%를 초과하여 포함되면 패턴 형성 후 건조가 어려워 생산성이 낮아진다. 저비점 용매는 휘발성이 큰 용매로서 그라비아 인쇄시 오목한 부분에 잉크가 효과적으로 충진되도록 돕는다. 저비점 용매가 8중량% 미만으로 포함되면 잉크의 점도가 지나치게 높아 잉크의 충진이 어렵고, 24중량%를 초과하여 포함되면 잉크의 점도가 지나치게 낮아 잉크가 흘러내리는 문제점이 있다.High boiling solvents serve to dissolve dimethylol propanoic acid. If the high boiling point solvent is contained in less than 2% by weight dimethylol propanoic acid is not dissolved well, the transfer capacity is reduced during printing, and if contained in more than 6% by weight is difficult to dry after pattern formation, the productivity is low. Low-boiling solvents are highly volatile solvents that help to effectively fill ink in recesses during gravure printing. When the low boiling point solvent is included in less than 8% by weight, the ink viscosity is too high, it is difficult to fill the ink, and when included in excess of 24% by weight, the viscosity of the ink is too low, there is a problem that the ink flows down.

첨가제의 성분 중 습윤제는 에칭 레지스트 조성물에 친수성 성질을 부여하여 금속막과의 친화성을 높임으로서 인쇄시 전사능력을 향상시킬 수 있고, 기포제거제는 기포 발생에 의한 패턴 불량을 방지하는 역할을 한다.Among the components of the additive, the humectant may impart hydrophilic properties to the etching resist composition to improve affinity with the metal film, thereby improving transfer ability during printing, and the bubble remover serves to prevent pattern defects caused by bubble generation.

본 발명의 에칭 레지스트 조성물은 경화제를 더 포함할 수 있다. 경화제는 폴리우레탄계 고분자를 가교시키는 역할을 하여 인쇄로 형성된 패턴의 기계적 물성을 향상시키는 역할을 한다. 경화제는 옥사졸린(oxazoline), 아지리딘(aziridine) 및 카보디이미드(carbodiimide)로 이루어진 그룹에서 선택된 적어도 하나일 수 있으며, 전체 조성물 대비 1 내지 6중량%로 포함되는 것이 바람직하다. 경화제의 첨가량이 지나치게 많으면 박리액에 대한 박리 특성이 저하된다.The etching resist composition of the present invention may further comprise a curing agent. The curing agent serves to crosslink the polyurethane-based polymer to improve mechanical properties of the pattern formed by printing. The curing agent may be at least one selected from the group consisting of oxazoline, aziridine, and carbodiimide, and is preferably included in an amount of 1 to 6% by weight based on the total composition. When there is too much addition amount of a hardening | curing agent, the peeling characteristic with respect to a peeling liquid will fall.

아래에서 본 발명의 실시예와 비교예를 이용하여 본 발명을 보다 자세히 설명한다.
Hereinafter, the present invention will be described in more detail using examples and comparative examples of the present invention.

실시예 1Example 1

N-메틸피롤리돈과 테트라 하이드로퓨란 혼합용액이 담긴 반응기에 디메틸올 프로파논산을 넣고 60℃까지 승온하면서 DMPA의 용해 여부를 확인하였다. 이어서, 헥사메틸렌 디이소시아네이트 삼량체가 용해된 테트라 하이드로퓨란 용액을 반응기에 첨가하고 70℃에서 4시간 동안 반응을 진행하였다. 이어서, 적외선 분광분석기를 통해 2270cm-1의 특성 피크가 소멸된 것을 확인하였다. 이때, 헥사메틸렌 디이소시아네이트 삼량체와 디메틸올 프로파논산의 몰비는 1:3이었다. Dimethylol propanoic acid was added to a reactor containing a mixture of N-methylpyrrolidone and tetrahydrofuran, and the temperature was raised to 60 ° C. to confirm the dissolution of DMPA. Subsequently, a tetrahydrofuran solution in which hexamethylene diisocyanate trimer was dissolved was added to the reactor, and the reaction was performed at 70 ° C. for 4 hours. Subsequently, it was confirmed that the characteristic peak of 2270cm -1 disappeared through the infrared spectroscopy. At this time, the molar ratio of hexamethylene diisocyanate trimer and dimethylol propanoic acid was 1: 3.

상기 중합반응을 통하여 생성된 폴리우레탄계 고분자를 N-메틸피롤리돈, 테트라 하이드로퓨란, 옥사졸린 및 첨가제와 혼합하여 에칭 레지스트 조성물을 제조하였다. 에칭 레지스트 조성물은 전체 조성에 대하여 75중량%의 폴리우레탄계 고분자, 4중량%의 N-메틸피롤리돈, 15중량%의 하이드로퓨란, 3중량%의 옥사졸린 및 3중량%의 첨가제를 포함하도록 하였다. 첨가제는 BYK-346과 BYK-011을 1:1로 혼합하여 사용하였다.The polyurethane-based polymer produced through the polymerization reaction was mixed with N-methylpyrrolidone, tetra hydrofuran, oxazoline, and an additive to prepare an etching resist composition. The etching resist composition was comprised of 75% by weight of polyurethane based polymer, 4% by weight of N-methylpyrrolidone, 15% by weight of hydrofuran, 3% by weight of oxazoline and 3% by weight of additives. . The additive was used by mixing 1: 1 with BYK-346 and BYK-011.

상기 에칭 레지스트 조성물을 이용하여 알루미늄막 위에 1㎝×1㎝ 및 10㎝×10㎝의 패턴을 그라비아 인쇄로 형성하였다.
Using the etching resist composition, patterns of 1 cm × 1 cm and 10 cm × 10 cm were formed on the aluminum film by gravure printing.

실시예 2Example 2

에칭 레지스트 조성물의 조성이 전체 조성물에 대하여 폴리우레탄계 고분자 75중량%, N-메틸피롤리돈 5중량%, 하이드로퓨란 16중량% 및 첨가제 4중량%인 것을 제외하고는 실시예 1과 동일한 방법으로 에칭 레지스트 조성물을 제조하여 알루미늄막 위에 1㎝×1㎝ 및 10㎝×10㎝의 패턴을 그라비아 인쇄로 형성하였다.
The etching resist composition was etched in the same manner as in Example 1 except that the composition was 75% by weight of the polyurethane-based polymer, 5% by weight of N-methylpyrrolidone, 16% by weight of hydrofuran, and 4% by weight of the additive. A resist composition was prepared, and patterns of 1 cm × 1 cm and 10 cm × 10 cm were formed on the aluminum film by gravure printing.

비교예 1Comparative Example 1

폴리우레탄계 고분자의 합성이 1:1 몰비의 헥사메틸렌 디이소시아네이트 삼량체와 디메틸올 프로파논산으로 진행된 것을 제외하고는 실시예 1과 동일한 방법으로 에칭 레지스트 조성물을 제조하여 알루미늄막 위에 1㎝×1㎝ 및 10㎝×10㎝의 패턴을 그라비아 인쇄로 형성하였다.
The etching resist composition was prepared in the same manner as in Example 1 except that the synthesis of the polyurethane-based polymer was carried out in a 1: 1 molar ratio of hexamethylene diisocyanate trimer and dimethylol propanoic acid. And a pattern of 10 cm x 10 cm was formed by gravure printing.

비교예 2Comparative Example 2

폴리우레탄계 고분자의 합성이 1:6 몰비의 헥사메틸렌 디이소시아네이트 삼량체와 디메틸올 프로파논산으로 진행된 것을 제외하고는 실시예 1과 동일한 방법으로 에칭 레지스트 조성물을 제조하여 알루미늄막 위에 1㎝×1㎝ 및 10㎝×10㎝의 패턴을 그라비아 인쇄로 형성하였다.
The etching resist composition was prepared in the same manner as in Example 1 except that the synthesis of the polyurethane-based polymer proceeded with a 1: 6 molar ratio of hexamethylene diisocyanate trimer and dimethylol propanoic acid. And a pattern of 10 cm x 10 cm was formed by gravure printing.

실험예Experimental Example

실시예와 비교예에 따라 형성된 패턴들에 대하여 아래의 테스트들을 수행하고, 그 결과를 아래의 표 1에 나타내었다.
The following tests were performed on the patterns formed according to Examples and Comparative Examples, and the results are shown in Table 1 below.

1. 금속부착성 테스트(크로스-컷 테스트)1. Metal adhesion test (cross-cut test)

실시예와 비교예에 따라 형성된 1㎝×1㎝의 패턴을 면도날로 1㎜ 간격으로 절단하고, 패턴 위에 셀로판 테이프를 부착한 후, 180도 방향으로 테이프를 떼어내었다. 남아 있는 패턴의 형상을 관찰하여 떨어진 패턴이 있으면 불량, 없으면 양호로 판정하였다.
The pattern of 1 cm x 1 cm formed according to the Example and the comparative example was cut | disconnected with a razor blade at 1 mm intervals, the cellophane tape was affixed on the pattern, and the tape was removed in the 180 degree direction. The shape of the remaining pattern was observed, and if there was a dropped pattern, it was judged to be defective or not good.

2. 에칭액에 대한 내박리성 테스트2. Peeling resistance test for etching solution

실시예와 비교예에 따라 형성된 1㎝×1㎝의패턴을 50℃의 FeCl3 용액에서 3분간 방치하여 에칭액에 의하여 에칭 레지스트 패턴의 박리가 일어났는지 관찰하였다. 박리가 발견되면 불량, 발견되지 않으면 양호로 판정하였다.
Embodiment a pattern of 1㎝ × 1㎝ observed natneunji allowed to stand for 3 minutes in a solution of FeCl 3 50 ℃ to the peeling of the etching resist pattern is formed up by the etching solution in accordance with the examples and comparative examples. If peeling was found, it was judged to be defective, and if not found to be good.

3. 핀홀(pin hole) 테스트3. Pin hole test

실시예와 비교예에 따라 형성된 10㎝×10㎝의 패턴을 전자현미경으로 관찰하여 직경 10㎛ 이상의 핀홀 개수를 관찰하였다. 관찰된 핀홀 개수가 10 이상이면 불량으로, 10 미만이면 양호로 판정하였다.
The pattern of 10 cm x 10 cm formed in accordance with the Examples and Comparative Examples was observed with an electron microscope to observe the number of pinholes having a diameter of 10 µm or more. If the observed pinhole number was 10 or more, it was considered bad, and if it was less than 10, it was judged good.

4. 박리액에 의한 박리 특성 테스트4. Peeling characteristic test by peeling liquid

실시예와 비교예에 따라 형성된 10㎝×10㎝의 패턴을 50oC의 5% NaOH 수용액으로 1분간 처리하였다. 처리 후 패턴이 남아 있으면 불량, 남아 있지 않으면 양호로 판정하였다.The patterns of 10 cm × 10 cm formed according to Examples and Comparative Examples were treated with 50 ° C. of 5% NaOH aqueous solution for 1 minute. If the pattern remained after the treatment, it was judged to be defective, and if it was not left, it was good.

금속 부착성Metal adhesion 에칭액에 대한 내박리성Peeling Resistance to Etching Solution 핀홀 개수Pinhole count 박리액에 의한
박리 특성
By stripping solution
Peeling properties
실시예 1Example 1 양호Good 양호Good 정상(2개)Normal (2) 양호Good 실시예 2Example 2 양호Good 양호Good 정상(3개)Normal (3) 양호Good 비교예 1Comparative Example 1 불량Bad 불량Bad 양호(7개)Good (7) 불량Bad 비교예 2Comparative Example 2 양호Good 양호Good 불량(28개)Bad (28) 양호Good

실시예 1 및 실시예 2는 금속 부착성, 에칭액에 대한 내박리성, 핀홀 개수 및 박리액에 의한 박리 특성 테스트에서 모두 양호한 결과를 나타내었다. 비교예 1의 경우는 금속 부착성, 에칭액에 대한 내박리성 및 박리액에 의한 박리 특성이 불량한 결과를 나타내었고, 폴리우레탄계 고분자 합성 과정에서 미반응 이소시아네이트기가 많이 존재하는 것을 적외선 분광분석 결과 알 수 있었다. 비교예 2는 핀홀 개수가 28개로 가장 많아 불량한 결과를 나타내었다.Examples 1 and 2 showed good results in all of the metal adhesion, the peeling resistance to the etching solution, the number of pinholes and the peeling property test by the peeling solution. In Comparative Example 1, the metal adhesion, the peeling resistance to the etching solution and the peeling property by the peeling solution were poor, and the infrared spectroscopy analysis showed that the unreacted isocyanate groups were present in the polyurethane-based polymer synthesis process. there was. In Comparative Example 2, the number of pinholes was 28, indicating a poor result.

Claims (9)

삭제delete 삭제delete 삭제delete 65 내지 85중량%의, 1:2 내지 1:5 몰비의 3관능성 이소시아네이트와 카르복시산을 곁사슬로 포함하는 디올류가 중합되어 생성된 폴리우레탄계 고분자;
2 내지 6중량%의 비점이 100 내지 150℃인 고비점 용매;
8 내지 24중량%의 비점이 60 내지 80℃인 저비점 용매; 및
1 내지 6중량%의 습윤제와 기포제거제를 포함하는 첨가제를 포함하는 에칭 레지스트 인쇄용 잉크 조성물.
Polyurethane type polymer | macromolecule produced by superposing | polymerizing the diol which contains 65-85 weight% of trifunctional isocyanate and carboxylic acid in a side chain of 1: 2-1: 5 molar ratio;
A high boiling point solvent having a boiling point of 2 to 6% by weight of 100 to 150 ° C;
Low boiling point solvent having a boiling point of 8 to 24% by weight of 60 to 80 ℃; And
An ink composition for printing an etching resist comprising an additive comprising 1 to 6% by weight of a wetting agent and a defoamer.
제4항에 있어서,
상기 고비점 용매는 N-메틸피롤리돈, 디메틸 포름아미드 및 디메틸 설폭시드로 이루어진 그룹에서 선택된 적어도 하나인 것을 특징으로 하는 에칭 레지스트 인쇄용 잉크 조성물.
The method of claim 4, wherein
The high boiling point solvent is at least one selected from the group consisting of N-methylpyrrolidone, dimethyl formamide and dimethyl sulfoxide, the ink composition for printing an etching resist.
제4항에 있어서,
상기 저비점 용매는 테트라 하이드로퓨란, 아세톤 및 메틸에틸 케톤으로 이루어진 그룹에서 선택된 적어도 하나인 것을 특징으로 하는 에칭 레지스트 인쇄용 잉크조성물.
The method of claim 4, wherein
The low boiling point solvent is at least one selected from the group consisting of tetrahydrofuran, acetone and methyl ethyl ketone ink resist printing ink composition.
제4항에 있어서,
상기 습윤제는 폴리에테르 변성 디메틸폴리실록산인 것을 특징으로 하는 에칭 레지스트 인쇄용 잉크 조성물.
The method of claim 4, wherein
The wetting agent is an ink composition for etching resist printing, characterized in that the polyether modified dimethylpolysiloxane.
제4항에 있어서,
전체 조성물 대비 1 내지 6중량%의 경화제를 더 포함하는 에칭 레지스트 인쇄용 잉크 조성물.
The method of claim 4, wherein
Ink composition for etching resist printing further comprising 1 to 6% by weight of the curing agent relative to the total composition.
제8항에 있어서,
상기 경화제는 옥사졸린, 아지리딘 및 카보디이미드로 이루어진 그룹에서 선택된 적어도 하나인 것을 특징으로 하는 에칭 레지스트 인쇄용 잉크 조성물.
The method of claim 8,
The curing agent is an ink composition for etching resist printing, characterized in that at least one selected from the group consisting of oxazoline, aziridine and carbodiimide.
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