KR101157186B1 - Apparatus for preventing double device of test socket and control method therefor - Google Patents

Apparatus for preventing double device of test socket and control method therefor Download PDF

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Abstract

PURPOSE: An apparatus for preventing double device of a test socket and a control method thereof are provided to previously detect whether materials remain inside a test socket of a handler or not. CONSTITUTION: An apparatus for preventing double device of a test socket comprises a handler(100) and a monitoring tester(200). The handler tests test materials transferred to the inside a test socket through a test unit and generates test results. After the test, the test materials are discharged through a material discharge unit, and a material sensing unit senses the test socket to confirm whether the test materials remain in the test socket or not. When the test materials remain in the test socket, next test materials are cut off, and the remaining test materials are re-discharged. The monitoring tester stores and manages the test and sensing results and monitors the handler in real-time.

Description

테스트 소켓 내부의 더블 디바이스 방지 장치 및 그 제어 방법{APPARATUS FOR PREVENTING DOUBLE DEVICE OF TEST SOCKET AND CONTROL METHOD THEREFOR} Double device prevention device inside test socket and control method {APPARATUS FOR PREVENTING DOUBLE DEVICE OF TEST SOCKET AND CONTROL METHOD THEREFOR}

본 발명은 테스트 소켓 내부의 더블 디바이스 방지 장치 및 그 제어 방법에 관한 것으로 더욱 상세하게는, 반도체를 검사 하는 과정에서 핸들러(반도체를 테스트 할 수 있도록 테스터에 공급, 분류 하는 장치)의 크기가 클 경우 핸들러 내부의 테스트 소켓에 유입된 자재를 발견하지 못하여 발생하는 더블 디바이스(BIN MIX) 문제를 미연에 방지하는 기술에 관한 것이다.The present invention relates to an apparatus for preventing a double device inside a test socket and a method of controlling the same. More specifically, when the size of a handler (apparatus for supplying and classifying a tester to test a semiconductor) is large in a semiconductor inspection process. It relates to a technique for preventing a double device (BIN MIX) problem caused by not finding a material that has entered a test socket inside a handler.

일반적으로 반도체의 테스트 시 핸들러가 투입된 자재를 짚어 테스트 소켓에 자재를 투입시킨다. 이후에 테스터는 반도체의 테스트를 시작하여 테스트 결과를 핸들러에 송부해 준다. 이어서, 테스트 결과를 받은 핸들러는 테스트 결과에 따라 양품, 불량으로 반도체를 구분한다.In general, during the test of the semiconductor, the handler puts the material into the test socket. The tester then begins testing the semiconductor and sends the test results to the handler. Subsequently, the handler receiving the test result classifies the semiconductor as good or bad according to the test result.

그러나, 이전에 테스트 소켓에 잔류 반도체가 남아있는 경우 잔류 자재 위에 테스트 하고자 하는 자재를 공급해 실제로 잔류 자재가 테스트 되어 잘 못된 결과를 핸들러에 송부하게 된다.However, if residual semiconductor remains in the test socket before, the material to be tested is supplied on the residual material, and the residual material is actually tested and the wrong result is sent to the handler.

이를 해결하기 위해서는 테스트 소켓 내부에 잔류 자재가 남아있는지 검사하고 이를 외부로 배출시켜야 한다. 종전의 방식은 테스트를 진행하기 전에 센서를 이용하여 소켓 내부에 잔류 자재가 있는지 검사하는 방식이었으나, 센서 고장 및 불량에 의해 잔류 자재의 감지가 되지 않는 경우가 빈번하여 제품의 품질에 심각한 영향을 끼치는 문제점이 있다.To solve this problem, inspect the residual material inside the test socket and discharge it to the outside. The previous method was to check whether there is any residual material inside the socket by using the sensor before proceeding with the test.However, the residual material is often not detected by the sensor failure or defect, which seriously affects the quality of the product. There is a problem.

본 발명은 상기와 같은 문제점을 해결하고자, 반도체를 검사 하는 과정에서 핸들러(반도체를 테스트 할 수 있도록 테스터에 공급 및 분류 하는 장치)의 테스트 소켓 내부에 잔류 자재가 존재하는지 여부를 사전에 검출함으로써, 핸들러 내부의 테스트 소켓에 유입된 자재를 발견하지 못하여 발생하는 더블 디바이스 문제를 미연에 방지함에 그 목적이 있다.In order to solve the above problems, the present invention, by detecting whether the residual material is present in the test socket of the handler (apparatus supplying and classifying the tester to test the semiconductor) in the process of inspecting the semiconductor, Its purpose is to avoid double device problems caused by not finding material that has entered the test socket inside the handler.

이러한 기술적 과제를 달성하기 위한 본 발명의 테스트 소켓 내부의 더블 디바이스 방지 장치는, 이송부에 의해 테스트 소켓 내부로 이송된 선행 테스트 자재를 테스트부를 통해 테스트를 수행하여 테스트 결과정보를 생성한 이후, 자재 배출부를 통해 테스트를 마친 선행 테스트 자재를 배출하고, 자재 감지부를 통해 테스트 소켓을 센싱하여 선행 테스트 자재가 잔존하는지 여부를 센싱하되, 자재 감지부의 센싱 결과, 테스트 소켓에 선행 테스트 자재가 잔존하는 경우, 테스트 자재 검출정보를 생성하여 이송부가 후행 테스트 자재를 테스트 소켓 내부로 이송하는 것을 차단하고, 자재 배출부를 통해 테스트 소켓에 잔존하는 선행 테스트 자재를 재차 배출시키는 핸들러; 및 정보통신망과 접속된 핸들러로부터 수신한 테스트 결과정보 및 테스트 자재 검출정보를 저장?관리하며, 핸들러의 테스트 소켓 내부에 테스트를 마친 선행 테스트 자재가 잔존하는지 여부를 실시간으로 모니터링하는 모니터링 테스터;를 포함한다.
In order to achieve the above technical problem, the device for preventing double devices in the test socket of the present invention generates the test result information by performing a test on the test material prior to the test material transferred into the test socket by the transfer part, and then discharges the material. When the test material is discharged through the test part and the test material is discharged and the test socket is sensed by the material detector to detect whether the test material remains. However, as a result of sensing the material detection part, the test material remains in the test socket. A handler for generating material detection information to block the transfer unit from transferring the following test material into the test socket and to discharge the previous test material remaining in the test socket again through the material discharge unit; And a monitoring tester which stores and manages test result information and test material detection information received from a handler connected to the information communication network, and monitors in real time whether the pretested test material remaining in the test socket of the handler remains. do.

그리고, 전술한바와 같은 장치를 이용한 테스트 소켓 내부의 더블 디바이스 방지 제어 방법은, 핸들러의 테스트부가 이송부에 의해 테스트 소켓 내부로 이송된 선행 테스트 자재를 테스트하여 테스트 결과정보를 생성하는 (a) 단계; 핸들러의 자재 배출부가 테스트를 마친 선행 테스트 자재를 배출시키는 (b) 단계; 핸들러의 자재 감지부가 테스트 소켓을 센싱하여 테스트 소켓 내부에 선행 테스트 자재가 잔존하는지 여부를 판단하는 (c) 단계; (c) 단계의 판단결과 테스트 소켓에 선행 테스트 자재가 잔존하는 경우, 자재 감지부가 생성한 테스트 자재 검출정보를 이송부 및 자재 배출부로 인가하는 (d) 단계; 핸들러의 이송부가 테스트 소켓 내부로의 후행 테스트 자재 이송을 중지시키고, 자재 배출부가 테스트 소켓에 잔존하는 선행 테스트 자재를 재차 배출시키는 (e) 단계; 및 핸들러의 알림부가 기 설정된 경보음의 출력 또는 센서를 통해 기 설정된 메시지 출력 또는 구비된 램프를 점등시키는 (f) 단계;를 포함한다.In addition, the double device prevention control method inside the test socket using the apparatus as described above, the test unit of the handler to test the preceding test material transferred into the test socket by the transfer unit to generate test result information (a); (B) discharging the pretested test material which has been tested by the material discharge part of the handler; (C) determining whether the test material is sensed by the material detecting unit of the handler and whether the preceding test material remains in the test socket; (c) applying test material detection information generated by the material detection unit to the transfer unit and the material discharge unit when the previous test material remains in the test socket as a result of the determination in step (c); (E) discharging the trailing test material into the test socket by the conveying part of the handler and discharging the preceding test material remaining in the test socket again; And (f) illuminating a preset message output or a lamp provided through the sensor of the notification unit or the sensor of the preset alarm sound.

상기와 같은 본 발명에 따르면, 반도체를 검사 하는 과정에서 핸들러의 테스트 소켓 내부에 잔류 자재가 존재하는지 여부를 사전에 검출함으로써, 핸들러 내부의 테스트 소켓에 유입된 자재를 발견하지 못하여 발생하는 더블 디바이스 문제를 사전에 예방하고, 테스트 소켓에 유입된 자재의 테스트 품질을 향상시키는 효과가 있다.According to the present invention as described above, by detecting in advance whether there is a residual material in the test socket of the handler during the inspection of the semiconductor, the double device problem caused by not finding the material introduced into the test socket inside the handler This prevents the problem in advance and improves the test quality of the material introduced into the test socket.

도 1은 본 발명에 따른 테스트 소켓 내부의 더블 디바이스 방지 장치를 도시한 구성도.
도 2는 본 발명에 따른 테스트 소켓 내부의 더블 디바이스 방지 장치의 핸들러에 대한 세부구성을 도시한 도면.
도 3은 본 발명에 따른 테스트 소켓 내부의 더블 디바이스 방지 장치의 핸들러의 모니터링 테스터에 대한 세부구성을 도시한 도면.
도 4는 본 발명에 따른 테스트 소켓 내부의 더블 디바이스 방지 제어 방법을 도시한 순서도.
도 5는 본 발명에 따른 테스트 소켓 내부의 더블 디바이스 방지 제어 방법의 제S60단계 이후 과정을 도시한 순서도.1 is a block diagram showing an apparatus for preventing a double device inside a test socket according to the present invention.
Figure 2 shows a detailed configuration of the handler of the double device prevention device inside the test socket according to the present invention.
Figure 3 shows a detailed configuration of the monitoring tester of the handler of the double device prevention device inside the test socket according to the present invention.
Figure 4 is a flow chart illustrating a method for controlling a double device inside the test socket according to the present invention.
FIG. 5 is a flowchart illustrating a process after step S60 of a method for controlling double device prevention in a test socket according to the present invention; FIG.

본 발명의 구체적인 특징 및 이점들은 첨부도면에 의거한 다음의 상세한 설명으로 더욱 명백해질 것이다. 이에 앞서, 본 명세서 및 청구범위에 사용된 용어나 단어는 발명자가 그 자신의 발명을 가장 최선의 방법으로 설명하기 위해 용어의 개념을 적절하게 정의할 수 있다는 원칙에 입각하여 본 발명의 기술적 사상에 부합하는 의미와 개념으로 해석되어야 할 것이다. 또한, 본 발명에 관련된 공지 기능 및 그 구성에 대한 구체적인 설명이 본 발명의 요지를 불필요하게 흐릴 수 있다고 판단되는 경우에는, 그 구체적인 설명을 생략하였음에 유의해야 할 것이다.Specific features and advantages of the present invention will become more apparent from the following detailed description based on the accompanying drawings. Prior to this, terms and words used in the present specification and claims are to be interpreted in accordance with the technical idea of the present invention based on the principle that the inventor can properly define the concept of the term in order to explain his invention in the best way. It should be interpreted in terms of meaning and concept. It is to be noted that the detailed description of known functions and constructions related to the present invention is omitted when it is determined that the gist of the present invention may be unnecessarily blurred.

도 1은 본 발명에 따른 테스트 소켓 내부의 더블 디바이스 방지 장치를 도시한 구성도이다. 도 1에 도시된 바와 같이, 본 발명에 따른 테스트 소켓 내부의 더블 디바이스 방지 장치(A)는, 핸들러(100) 및 모니터링 테스터(200)를 포함하여 구성된다.1 is a block diagram showing an apparatus for preventing a double device inside a test socket according to the present invention. As shown in FIG. 1, the double device prevention apparatus A inside the test socket according to the present invention includes a handler 100 and a monitoring tester 200.

먼저, 핸들러(100)는 이송부(110)에 의해 테스트 소켓(120) 내부로 이송된 선행 테스트 자재(FT)를 테스트부(130)를 통해 기 설정된 테스트를 수행하여 테스트 결과정보를 생성한 이후, 자재 배출부(140)를 통해 테스트를 마친 선행 테스트 자재(FT)를 배출하고, 자재 감지부(150)를 통해 테스트 소켓(120)을 센싱하여 선행 테스트 자재(FT)가 잔존하는지 여부를 센싱하되, 자재 감지부(150)의 센싱 결과, 테스트 소켓(120)에 선행 테스트 자재(FT)가 잔존하는 경우, 테스트 자재 검출정보를 생성하여 이송부(110)가 후행 테스트 자재(ST)를 테스트 소켓(120) 내부로 이송하는 것을 차단하고, 자재 배출부(140)를 통해 테스트 소켓(120)에 잔존하는 선행 테스트 자재(FT)를 재차 배출시킨다.First, the handler 100 generates a test result information by performing a predetermined test through the test unit 130 on the preceding test material FT transferred into the test socket 120 by the transfer unit 110, Discharge the pretested test material (FT) that has been tested through the material discharge unit 140, and senses whether or not the preliminary test material (FT) is remaining by sensing the test socket 120 through the material detection unit 150, In response to the sensing result of the material detecting unit 150 and the preceding test material FT remaining in the test socket 120, the test material detecting information is generated, and the transfer unit 110 converts the trailing test material ST into the test socket ( 120, the transfer to the inside is blocked, and the previous test material FT remaining in the test socket 120 is discharged again through the material discharge unit 140.

그리고, 모니터링 테스터(200)는 정보통신망과 접속된 핸들러(100)로부터 수신한 테스트 결과정보 및 테스트 자재 검출정보를 저장?관리하며, 핸들러(100)의 테스트 소켓(120) 내부에 테스트를 마친 선행 테스트 자재(FT)가 잔존하는지 여부를 실시간으로 모니터링 한다.
The monitoring tester 200 stores and manages the test result information and the test material detection information received from the handler 100 connected to the information communication network, and finishes the test in the test socket 120 of the handler 100. Monitor in real time whether test material (FT) remains.

이하, 도 2를 참조하여 본 발명에 따른 테스트 소켓 내부의 더블 디바이스 방지 장치(A)의 핸들러(100)에 대해 살피면 아래와 같다.Hereinafter, the handler 100 of the double device prevention device A inside the test socket according to the present invention will be described with reference to FIG. 2.

구체적으로, 핸들러(100)의 이송부(110)는 전기, 유압 또는 압축공기에 의해 구동되는 액추에이터(actuator)로 구성되어 테스트 소켓(120) 내부로 선행 테스트 자재(FT)로부터 후행 테스트 자재(ST)를 순차적으로 이송시킨다.Specifically, the transfer unit 110 of the handler 100 is composed of an actuator (actuator) driven by electric, hydraulic or compressed air to the trailing test material (ST) from the preceding test material (FT) into the test socket 120 Are transported sequentially.

또한, 이송부(110)는 자재 감지부(150)로부터 테스트 자재 검출정보를 인가받은 경우, 테스트 소켓(120) 내부로의 후행 테스트 자재(ST) 이송을 중지시킨다.In addition, when the transfer unit 110 receives test material detection information from the material detection unit 150, the transfer unit 110 stops the transfer of the subsequent test material ST into the test socket 120.

또한, 테스트부(130)는 이송부(110)에 의해 테스트 소켓(120) 내부로 이송된 선행 테스트 자재(FT)에 대해 기 설정된 테스트를 수행하여 테스트 결과정보를 생성한 이후, 이송부(110)에 의해 이송되는 후행 테스트 자재(ST)를 테스트하되, 선행 테스트 자재(FT)로부터 후행 테스트 자재(ST)를 순차적으로 테스트한다.In addition, the test unit 130 performs a preset test on the preceding test material FT transferred into the test socket 120 by the transfer unit 110 to generate test result information, and then transfers to the transfer unit 110. Test the trailing test material (ST) to be transferred by, but sequentially testing the trailing test material (ST) from the preceding test material (FT).

또한, 자재 배출부(140)는 테스트부(130)를 통해 기 설정된 테스트 수행을 마친 선행 테스트 자재(FT)를 배출시켜 테스트부(130)가 후행 테스트 자재(ST)를 테스트 하도록 한다.In addition, the material discharging unit 140 discharges the preceding test material FT that has completed the predetermined test through the test unit 130 to allow the test unit 130 to test the following test material ST.

또한, 자재 배출부(140)는 자재 감지부(150)로부터 테스트 자재 검출정보를 인가받은 경우, 테스트 소켓(120)에 잔존하는 선행 테스트 자재(FT)를 재차 배출시킨다.In addition, when the material discharge unit 140 receives the test material detection information from the material detection unit 150, the material discharge unit 140 discharges the preceding test material FT remaining in the test socket 120 again.

또한, 자재 감지부(150)는 테스트부(130)에 의해 테스트를 마친 선행 테스트 자재(FT)가 자재 배출부(140)에 의해 배출된 이후, 테스트 소켓(120)을 센싱하여 선행 테스트 자재(FT)가 잔존하는지 여부를 센싱하되, 센싱 결과 테스트 소켓(120)에 선행 테스트 자재(FT)가 잔존하는 경우, 테스트 자재 검출정보를 생성하여 이송부(110)가 후행 테스트 자재(ST)를 테스트 소켓(120) 내부로 이송하는 것을 차단하고, 자재 배출부(140)가 테스트 소켓(120)에 잔존하는 선행 테스트 자재(FT)를 재차 배출시키도록 제어한다.In addition, the material detector 150 senses the test socket 120 after sensing the test socket 120 after the test material FT, which has been tested by the test unit 130, is discharged by the material discharge unit 140. FT) whether the remaining test material, but if the test material (FT) is left in the test result 120, the sensing unit generates the test material detection information transfer unit 110 to test the post-test material (ST) socket The control unit 120 blocks the transfer to the inside, and controls the material discharge unit 140 to discharge the previous test material FT remaining in the test socket 120 again.

또한, 통신부(160)는 테스트부(130)로부터 인가받은 테스트 결과정보와 자재 감지부(150)로부터 인가받은 테스트 자재 검출정보를 정보통신망을 통해 접속된 모니터링 테스터(200)로 전송한다.In addition, the communication unit 160 transmits the test result information received from the test unit 130 and the test material detection information received from the material detection unit 150 to the monitoring tester 200 connected through the information communication network.

그리고, 알림부(170)는 자재 감지부(150)로부터 테스트 자재 검출정보를 인가받은 경우, 기 설정된 경보음의 출력 또는 구비된 램프를 점등시켜 테스트 소켓(120)내에 테스트를 마친 선행 테스트 자재(FT)가 잔존하는 것을 작업자가 인지하도록 구성된다.
When the tester detection information is received from the material detecting unit 150, the notifying unit 170 turns on the output of a preset alarm sound or a lamp provided in the test socket 120. FT) is configured to allow the operator to be aware of the remaining.

이하, 도 3을 참조하여 본 발명에 따른 테스트 소켓 내부의 더블 디바이스 방지 장치(A)의 모니터링 테스터(200)에 대해 살피면 아래와 같다.Hereinafter, the monitoring tester 200 of the double device prevention apparatus A inside the test socket according to the present invention will be described with reference to FIG. 3.

구체적으로, 모니터링 테스터(200)의 수신부(210)는 정보통신망을 통해 접속된 핸들러(100)로부터 테스트 결과정보 및 테스트 자재 검출정보를 수신한다.In detail, the receiver 210 of the monitoring tester 200 receives test result information and test material detection information from the handler 100 connected through the information communication network.

또한, 검출DB(220)는 수신부(210)로부터 인가받은 테스트 결과정보 및 테스트 자재 검출정보를 저장?관리하며, 테스트 결과정보 및 테스트 자재 검출정보를 검색 조건에 대응하도록 시계열적 색인을 제공한다.In addition, the detection DB 220 stores and manages the test result information and the test material detection information received from the receiver 210, and provides a time-series index so that the test result information and the test material detection information correspond to a search condition.

그리고, 디스플레이부(230)는 관리자의 조작에 따라 검출DB(220)에 저장된 테스트 결과정보 및 테스트 자재 검출정보를 검색 조건별로 색인하여 관리자에게 디스플레이 한다.Then, the display 230 indexes the test result information and the test material detection information stored in the detection DB 220 for each search condition and displays them to the manager according to the manager's operation.

이때, 테스트 결과정보 및 테스트 자재 검출정보의 검색 조건은 년도별 검색, 월별 검색, 일별 검색, 시간대별 검색, 테스트 결과정보 검색 또는 테스트 자재 검출정보 검색 중에 어느 하나를 포함하나, 본 발명이 이에 국한되는 것은 아니다.
At this time, the search condition of the test result information and the test material detection information includes any one of a year search, a monthly search, a daily search, a time zone search, a test result information search or a test material detection information search, but the present invention is limited thereto. It doesn't happen.

한편, 도 4를 참조하여 본 발명에 따른 테스트 소켓 내부의 더블 디바이스 방지 제어 방법에 대해 살피면 아래와 같다.On the other hand, referring to Figure 4 when looking at the double device prevention control method inside the test socket according to the present invention.

핸들러(100)의 테스트부(130)가 이송부(110)에 의해 테스트 소켓(120) 내부로 이송된 선행 테스트 자재(FT)를 테스트하여 테스트 결과정보를 생성한다(S10).The test unit 130 of the handler 100 tests the preceding test material FT transferred into the test socket 120 by the transfer unit 110 to generate test result information (S10).

이어서, 핸들러(100)의 자재 배출부(140)가 테스트를 마친 선행 테스트 자재(FT)를 배출시킨다(S20).Subsequently, the material discharge part 140 of the handler 100 discharges the test material FT that has been tested (S20).

뒤이어, 핸들러(100)의 자재 감지부(150)가 테스트 소켓(120)을 센싱하여 선행 테스트 자재(FT)가 잔존하는지 여부를 판단한다(S30).Subsequently, the material detecting unit 150 of the handler 100 senses the test socket 120 to determine whether the preceding test material FT remains (S30).

제S30단계의 판단결과 테스트 소켓(120)에 선행 테스트 자재(FT)가 잔존하는 경우, 자재 감지부(150)가 생성한 테스트 자재 검출정보를 이송부(110) 및 자재 배출부(140)로 인가한다(S40).As a result of the determination in step S30, when the preceding test material FT remains in the test socket 120, the test material detection information generated by the material detection unit 150 is applied to the transfer unit 110 and the material discharge unit 140. (S40).

이어서, 핸들러(100)의 이송부(110)가 테스트 소켓(120) 내부로의 후행 테스트 자재(ST) 이송을 중지시키고, 자재 배출부(140)가 테스트 소켓(120)에 잔존하는 선행 테스트 자재(FT)를 재차 배출시킨다(S50).Subsequently, the transfer part 110 of the handler 100 stops the transfer of the trailing test material ST into the test socket 120, and the material discharge part 140 remains in the test socket 120. FT) is discharged again (S50).

그리고, 핸들러(100)의 알림부(170)가 기 설정된 경보음의 출력 또는 센서를 통해 기 설정된 메시지 출력 또는 구비된 램프를 점등시킨다(S60).
Then, the notification unit 170 of the handler 100 turns on a predetermined message output or a lamp provided through the output of a preset alarm sound or a sensor (S60).

한편, 도 5를 참조하여 본 발명에 따른 테스트 소켓 내부의 더블 디바이스 방지 제어 방법의 제S60단계 이후 과정에 대해 살피면 아래와 같다.Meanwhile, referring to FIG. 5, the process after step S60 of the method for controlling double device prevention in the test socket according to the present invention is as follows.

제S60단계 이후, 모니터링 테스터(200)가 핸들러(100)의 통신부(160)로부터 수신한 테스트 결과정보 및 테스트 자재 검출정보를 검색 조건별로 색인하여 디스플레이 한다(S70).After operation S60, the monitoring tester 200 indexes and displays the test result information and the test material detection information received from the communication unit 160 of the handler 100 for each search condition (S70).

이상으로 본 발명의 기술적 사상을 예시하기 위한 바람직한 실시예와 관련하여 설명하고 도시하였지만, 본 발명은 이와 같이 도시되고 설명된 그대로의 구성 및 작용에만 국한되는 것이 아니며, 기술적 사상의 범주를 일탈함이 없이 본 발명에 대해 다수의 변경 및 수정이 가능함을 당업자들은 잘 이해할 수 있을 것이다. 따라서 그러한 모든 적절한 변경 및 수정과 균등 물들도 본 발명의 범위에 속하는 것으로 간주되어야 할 것이다.While the present invention has been particularly shown and described with reference to preferred embodiments thereof, it will be understood by those skilled in the art that various changes in form and details may be made therein without departing from the spirit and scope of the invention as defined by the appended claims. It will be appreciated by those skilled in the art that numerous changes and modifications may be made without departing from the invention. And all such modifications and changes as fall within the scope of the present invention are therefore to be regarded as being within the scope of the present invention.

A: 테스트 소켓 내부의 더블 디바이스 방지 장치
FT: 선행 테스트 자재 ST: 후행 테스트 자재
100: 핸들러 110: 이송부
120: 테스트 소켓 130: 테스트부
140: 자재 배출부 150: 자재 감지부
160: 통신부 170: 알림부
200: 모니터링 테스터 210: 수신부
220: 검출DB 230: 디스플레이부A: Double device prevention device inside test socket
FT: Leading Test Material ST: Trailing Test Material
100: handler 110: transfer unit
120: test socket 130: test unit
140: material discharge unit 150: material detection unit
160: communication unit 170: notification unit
200: monitoring tester 210: receiving unit
220: detection DB 230: display unit

Claims (8)

테스트 소켓 내부의 더블 디바이스 방지 장치에 있어서,
이송부에 의해 테스트 소켓 내부로 이송된 선행 테스트 자재를 테스트부를 통해 테스트를 수행하여 테스트 결과정보를 생성한 이후, 자재 배출부를 통해 테스트를 마친 선행 테스트 자재를 배출하고, 자재 감지부를 통해 상기 테스트 소켓을 센싱하여 선행 테스트 자재가 잔존하는지 여부를 센싱하되, 상기 자재 감지부의 센싱 결과, 상기 테스트 소켓에 선행 테스트 자재가 잔존하는 경우, 테스트 자재 검출정보를 생성하여 상기 이송부가 후행 테스트 자재를 상기 테스트 소켓 내부로 이송하는 것을 차단하고, 상기 자재 배출부를 통해 상기 테스트 소켓에 잔존하는 선행 테스트 자재를 재차 배출시키는 핸들러; 및
정보통신망과 접속된 상기 핸들러로부터 수신한 테스트 결과정보 및 테스트 자재 검출정보를 저장?관리하며, 상기 핸들러의 테스트 소켓 내부에 테스트를 마친 선행 테스트 자재가 잔존하는지 여부를 실시간으로 모니터링하는 모니터링 테스터;를 포함하되,
상기 핸들러는,
전기, 유압 또는 압축공기에 의해 구동되는 액추에이터(actuator)로 구성되어 상기 테스트 소켓 내부로 선행 테스트 자재로부터 후행 테스트 자재를 순차적으로 이송시키는 이송부;
상기 이송부에 의해 테스트 소켓 내부로 이송된 선행 테스트 자재에 대해 기 설정된 테스트를 수행하여 테스트 결과정보를 생성하고, 상기 이송부에 의해 순차적으로 이송되는 후행 테스트 자재(ST)를 테스트하는 테스트부;
상기 테스트부를 통해 기 설정된 테스트 수행을 마친 선행 테스트 자재를 배출시키는 자재 배출부; 및
테스트를 마친 선행 테스트 자재가 상기 자재 배출부에 의해 배출된 이후, 상기 테스트 소켓을 센싱하여 선행 테스트 자재가 잔존하는지 여부를 센싱하되, 상기 센싱 결과 테스트 소켓에 선행 테스트 자재가 잔존하는 경우, 테스트 자재 검출정보를 생성하는 자재 감지부;를 포함하는 것을 특징으로 하는 테스트 소켓 내부의 더블 디바이스 방지 장치.In the double device prevention device inside the test socket,
After testing the test material transferred into the test socket by the transfer unit through the test unit to generate test result information, the test material is discharged through the material discharge unit, and the test socket is discharged through the material detection unit. Sensing whether the preceding test material remains by sensing, and if the preceding test material remains in the test socket as a result of the sensing of the material detecting unit, the test unit generates test material detection information and transfers the subsequent test material into the test socket. A handler which blocks the transfer to the container and discharges the previous test material remaining in the test socket again through the material discharge part; And
A monitoring tester which stores and manages test result information and test material detection information received from the handler connected to the information communication network, and monitors in real time whether the pretested test material remaining in the test socket of the handler remains; Including,
The handler is
A transfer unit configured to be an actuator driven by electric, hydraulic, or compressed air to sequentially transfer a trailing test material from a preceding test material into the test socket;
A test unit configured to generate a test result information by performing a predetermined test on a preceding test material transferred into the test socket by the transfer unit, and test a subsequent test material ST sequentially transferred by the transfer unit;
A material discharging unit discharging the preceding test material after completing a predetermined test through the test unit; And
After the tested test material is discharged by the material discharging unit, the test socket is sensed to detect whether the test material remains, but if the test test material is left in the test result, the test material And a material detecting unit for generating detection information. 삭제delete 제 1 항에 있어서,
상기 핸들러는,
상기 자재 감지부로부터 테스트 자재 검출정보를 인가받은 경우, 상기 테스트 소켓 내부로의 후행 테스트 자재 이송을 중지시키는 이송부;
상기 자재 감지부로부터 테스트 자재 검출정보를 인가받은 경우, 상기 테스트 소켓에 잔존하는 선행 테스트 자재를 재차 배출시키는 자재 배출부; 및
생성한 테스트 자재 검출정보에 따라 상기 이송부가 후행 테스트 자재를 상기 테스트 소켓 내부로 이송하는 것을 차단하고, 상기 자재 배출부가 테스트 소켓에 잔존하는 선행 테스트 자재를 재차 배출시키도록 제어하는 자재 감지부;를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 테스트 소켓 내부의 더블 디바이스 방지 장치.The method of claim 1,
The handler is
A transfer unit which stops the transfer of a subsequent test material into the test socket when the test material detection information is received from the material detection unit;
A material discharge unit for discharging the preceding test material remaining in the test socket again when the test material detection information is received from the material detection unit; And
A material detection unit which blocks the transfer unit from transferring the following test material into the test socket according to the generated test material detection information and controls the material discharge unit to discharge the previous test material remaining in the test socket again; Double device prevention device inside the test socket, characterized in that it further comprises. 제 1 항에 있어서,
상기 핸들러는,
상기 테스트부로부터 인가받은 테스트 결과정보와 상기 자재 감지부로부터 인가받은 테스트 자재 검출정보를 정보통신망을 통해 접속된 모니터링 테스터로 전송하는 통신부; 및
상기 자재 감지부로부터 테스트 자재 검출정보를 인가받은 경우, 기 설정된 경보음의 출력 또는 구비된 램프를 점등시키는 알림부;를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 테스트 소켓 내부의 더블 디바이스 방지 장치.The method of claim 1,
The handler is
A communication unit which transmits test result information authorized from the test unit and test material detection information authorized from the material detection unit to a monitoring tester connected through an information communication network; And
And a notification unit configured to light an output of a preset alarm sound or a lamp provided when the test material detection information is received from the material detection unit. 2. 제 1 항에 있어서,
상기 모니터링 테스터는,
정보통신망을 통해 접속된 상기 핸들러로부터 테스트 결과정보 및 테스트 자재 검출정보를 수신하는 수신부;
상기 수신부로부터 인가받은 테스트 결과정보 및 테스트 자재 검출정보를 저장?관리하며, 상기 테스트 결과정보 및 테스트 자재 검출정보를 검색 조건에 대응하도록 시계열적인 색인을 제공하는 검출DB; 및
상기 검출DB에 저장된 테스트 결과정보 및 테스트 자재 검출정보를 검색 조건별로 색인하여 디스플레이하는 디스플레이부;를 포함하는 것을 특징으로 하는 테스트 소켓 내부의 더블 디바이스 방지 장치.The method of claim 1,
The monitoring tester,
A receiving unit for receiving test result information and test material detection information from the handler connected through an information communication network;
A detection DB for storing and managing test result information and test material detection information received from the receiving unit, and providing a time-series index to correspond to a search condition of the test result information and test material detection information; And
And a display unit for indexing and displaying test result information and test material detection information stored in the detection DB for each search condition. 제 5 항에 있어서,
상기 검색 조건은,
상기 테스트 결과정보 및 테스트 자재 검출정보를 년도별 검색, 월별 검색, 일별 검색, 시간대별 검색, 테스트 결과정보 검색 또는 테스트 자재 검출정보 검색 중에 어느 하나로 검색하는 조건인 것을 특징으로 하는 테스트 소켓 내부의 더블 디바이스 방지 장치.The method of claim 5, wherein
The search condition is,
The condition of searching for the test result information and the test material detection information by any one of the year search, monthly search, daily search, time zone search, test result information search or test material detection information search is double Device protection device. 삭제delete 삭제delete
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