KR101149478B1 - 광학적 모드 이득 특성 측정 장치 및 방법 - Google Patents

광학적 모드 이득 특성 측정 장치 및 방법 Download PDF

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Abstract

본 발명은 시료를 장착하는 시료 장착부; 상기 시료에 에너지를 띠 모양으로 인가하는 에너지 인가부; 상기 띠 모양의 에너지의 길이를 조절하는 띠 길이 조절부; 및 상기 시료에서 방출된 광의 자연 증폭 방출 (ASE; amplified spontaneous emission) 스펙트럼을 분석하여, 파장, 에너지 띠 길이, 및 모드 이득 (MODAL GAIN) 으로 구성된 컨투어 맵을 생성하는 시료특성 측정부를 포함하는 것을 특징으로 하는 시료 에너지 특성 측정 장치에 관한 것이다. 이에 의해 소형 발광소자 제작시 발광 파장과 내부 캐비티의 기하학적 길이에 따른 모드 이득을 동시에 파악할 수 있어, 제작 공정시 소자 최적화를 쉽고 효율적으로 이루어낼 수 있다.
VSLM, 레이저 다이오드, 자가발광, 유도 방출, 광학적 이득

Description

광학적 모드 이득 특성 측정 장치 및 방법{APPARATUS AND METHOD FOR OPTICAL MODAL GAIN CHARACTERISTICS MEASUREMENT}
본 발명은 광학적 모드 이득 특성 측정 장치 및 방법에 관한 것이며 더욱 상세하게는 스텍트럼-캐비티길이-등고지도의 측정 장치 및 방법에 관한 것이다.
1960년대 말 레이저의 개발 이후 다양한 종류의 고체, 액체, 기체 레이저가 개발되어, 21세기의 첨단 과학분야와 기술에 있어서 레이저의 역할은 중요하다. 최근, 반도체의 집약성장기술과 광기술이 만나, 유기/무기 반도체를 기반으로 작고 실용적이며 고효율의 LED가 산업분야에 활발히 응용되고 있으며 나아가 레이저 다이오드 개발 역시 포토닉스 분야에 큰 영향을 미치고 있다. 실용적인 입장에서 여기(excitation)를 위해 가해진 전압 혹은 전기장에 대해 반도체에서 발생된 전자와 정공의 짝들에 의해 일어나는 자발발광(spontaneous emission)인광루미네센스 (PL; Photoluminescence) 의 세기를 통해 소자의 효율을 평가하지만, 레이저 다이오드와 같은 유도방출(stimulated emission) 또는 레이징 (lasing)의 효율을 확인하기 위해서는 밀도 반전 (population inversion) 의 정도를 의미하는 광학적 이득(gain)이라는 양을 측정해야 한다.
광루미네센스는 자발발광에 의해 여기된 상태에서 안정된 상태로 돌아가는 현상인 반면, 레이저 다이오드 내에서 일어나는 유도방출 또는 레이징은 전기적 혹은 광학적으로 여기 상태의 점유도가 높은 밀도 반전 상태가 미리 준비된 이후 발생하는 과정이다. 따라서 레이저 다이오드의 레이징의 효율과 강도를 결정짓는 것은 밀도 반전 상태를 가늠하는 이득이라는 양이다. 즉, 이득이 클수록 밀도 반전이 크다는 의미이다.
반도체에서 동일한 여기 조건에 대해 이득값이 얼마나 크게 준비될 수 있는지가 레이저 다이오드의 레이징 효율을 결정짓는 것이다. 따라서 기존의 PL측정만으로 한계가 있다.
여기서 말한 이득은 물질이 지닌 고유한 특성과 관계 있으므로 일반적으로 고유 이득 (intrinsic gain) 이라고 말한다. 그러나 실제 레이저 매체는 캐비티 (cavity)를 형성하여 광학적 피드백과 캐비티내의 손실(loss)을 모두 고려해야 한다. 이러한 효과를 모두 감안한 실용적인 이득을 모드 이득 (modal gain)이라고 한다.
마이크론 스케일의 레이저 다이오드와 같은 작은 구조를 제작할 경우, 물질의 고유 이득뿐만 아니라 캐비티의 기하학적 구조의 도파관 (waveguide) 정도를 나타내는 제한조건 (confinement) 및 광학적 손실 (loss)을 모두 고려하여, 길이에 따른 모드 이득의 특성을 측정해야 한다.
일반적으로 variable stripe length method (VSLM)이라는 방법이 잘 알려져 있지만, 기존의 방법으로는 길이에 따른 모드 이득을 측정할 수 없고, 아주 짧은 길이 내에서 평균 이득값만을 측정할 수 있다.
예를 들어, 기존의 VSLM 을 이용한 방법을 설명한다. 여기서, 시료에 광학적으로 에너지를 주입하여 여기시키는 경우, 레이저를 사용하며, 이와 같은 일반적인 레이저 광원의 모양은 원형이므로 원통형 렌즈 (cylindrical lens)를 통해 가늘고 긴 띠(stripe)모양으로 바꿀 수 있다. 확산에 의해 변형된 띠 모양의 레이저를 슬릿을 통해 보다 매끈한 모양으로 다듬을 수 있다. 시료에 폭이 좁고 길이가 X 인 긴 띠 내에서 광학적 여기 혹은 에너지 주입이 이루어진다. 이 띠 내에서 밀도 반전이 형성되면 이득이 존재할 것이고, 이득이 존재한다면 입사한 광원을 증폭시킬 수 있게 된다.
이후, 띠 내에서는 자발발광을 통해 여기 에너지를 광으로 돌려보내는 과정이 존재하지만 이는 유도방출이 아니다. 자발발광은 일반적으로 모든 방향으로 퍼져나가며 그 중 띠를 따라 진행하는 경우, 띠 내에 이득이 존재한다면 띠를 따라 진행하는 자발발광의 빛은 증폭될 것이다. 결국, 시료에 만들어진 띠의 측면에서 증폭된 빛을 관측할 수 있다. 이것을 자연 증폭 방출 (ASE; amplified spontaneous emission)라고 한다. 따라서 전체 띠의 길이를 조절함에 따라 변화되는 ASE의 강도의 변화를 분석하면 이득을 구할 수 있다. 측정되는 ASE는 다양한 파장을 가진 스펙트럼이므로 각각의 파장에 대한 이득을 구할 수 있다. 이렇게 각각의 파장에 대한 광증폭율을 이득 스펙트럼이라 한다. 그러나 주의할 것은 띠에 의해 측정된 이득값은 모드 이득이다. 즉, 광학적으로 만들어준 띠 내에서만 에너지 주입이 이루어지고 광증폭이 일어나고 있으므로, 도파관에 의한 제한조건 요소와 손실이 포함 되어 있다. 만약 시료를 일반적인 박막이 아니라 인공적으로 가공하여 폭이 광학적 띠보다 작은 막대모양으로 만든다면 제한 조건의 효과는 더 증대하여 모드 이득도 향상될 것이다. 예를 들어 레이저 다이오드 제작시 캐비티의 구조에 따라 제한조건이 변하므로 고유 이득은 일정하더라도 모드 이득값이 변할 수 있다.
도 1은 종래의 VSLM 을 이용하여 측정한 띠 길이, 및 에너지 파장에 따른 ASE 스펙트럼을 나타낸 그래프이다.
도 1을 참조하면, 띠의 길이를 변화시켜가면서 ASE 스펙트럼을 측정하면 띠의 길이가 증가할수록 전반적으로 ASE의 세기는 증가한다. ASE는 다양한 파장의 스펙트럼을 가지므로, 발광하는 각각의 파장 혹은 에너지에 대한 광증폭율(modal gain)을 띠 길이에 대한 분석으로 구하여야 한다.
도 2는 종래 VLSM 을 이용하여 ASE 스펙트럼 중 몇 개의 파장 혹은 에너지를 골라 띠 길이에 따라 나타낸 그래프이다.
도 2를 참조하면, 파장 혹은 에너지에 따라 ASE의 절대치도 다르고 증가되는 율(기울기) 역시 틀림을 알 수 있다. 하나의 파장 혹은 에너지에 대해, ASE가 띠 길이에 증가됨에 따라 증폭되는 현상은 아래와 같은 수학식 1로 표현된다.
Figure 112009048537842-pat00001
좌항의 띠 길이 X에 따른 ASE 크기의 변화는 증폭에 참여하지 않은 자발발광 (오른쪽 첫째 항; 자발발광 밀도 Jspon 와 입체각 Ω)과 두 번째 증폭항으로 구성된 다. 두 번째 증폭항의 경우 띠 길이 X에서 주입된 강도 I(x) 의 자발발광이 단위 길이당 모드 이득 "g" 에 의해 증폭된다는 의미이다.
따라서 측정된 ASE 스펙트럼 중 하나의 파장을 골라 길이에 대한 변화를 위 도 2와 같이 나타내고 그 결과를 수학식 (1)로 분석하면 선택한 파장에 대해 광을 얼마나 잘 증폭시킬 수 있는지에 대한 값인 모드 이득을 얻을 수 있다.
또한, 기존의 방법은 모드 이득 g가 파장에만 의존한다고 가정하고 수학식(1) 미분방정식의 해를 수학식 (2) 와 같이 구한다.
Figure 112009048537842-pat00002
즉, 띠 길이 X에 대해 기하급수적으로 증가하는 함수가 된다. 하나의 파장에 대한 ASE의 증가 그래프를 수학식 (2)와 피팅 (fitting) 하면 최적의 피팅 파라미터 Jspon 및 g를 구할 수 있다.
도 2에서 붉은 진한 선은 수학식 (1)을 이용하여 한 예를 보여준다. 그러나 각각의 파장에 대해 피팅을 통해 g를 구하는 것은 지루하고 많은 시간을 요구한다. 따라서 수학식 (2)를 활용하여, 길이가 X일때와 2X일때의 값을 비교하면 수학식 (3)과 같은 식을 얻게 된다. 따라서, 피팅을 하지 않고 단순히 X일때와 2X일때의 ASE 스펙트럼 값 I(X) 와 I(2X)만을 가지고 쉽게 g의 스펙트럼을 구할 수 있다. 이것을 X-2X분석법이라 지칭한다.
Figure 112009048537842-pat00003
그러나 수학식 (3) 또한 기본적으로 수학식 (2)에 근거한다. 수학식(2)는 하나의 파장에 대해 ASE가 EXPONENTIAL 함수 형태의 기하급수적인 증가를 보여야 한다. 그러나 도 2에 도시된 바와 같이 실제 실험결과를 보면, 짧은 길이(~150 micron)정도까지만 exponential형태로 증가하다 그 이상이 되면 선형적 증가를 보이고 점점 증가율도 줄어듬을 알 수 있다. 이것은 광의 증폭율인 이득이 길이에 따라 변화함을 의미한다. 하지만, 수학식 (2) 및 (3) 모두 길이에 따른 이득의 변화를 고려하지 않는다. 이것이 기존 VSLM 분석법의 문제점이다.
결국 (2)(3)식이 성립하려면, EXPONENTIAL형태로 증가하는 영역에서만 분석하면 된다. 수학식 (3)의 경우 2X의 길이에서 exponential 증가를 보여야 한다. 이 영역은 대략적으로 150 micron정도가 된다. 그러나 이러한 유효영역을 설정하는 것에도 임의성이 따른다. 도 2에 도시된 바와 같이, 에너지에 따라 그 유효영역은 다르다. 즉, 3.153 eV 및 3.144 eV 와 같이 ASE 세기가 큰 영역에 비해 ASE의 세기가 작은 3.124 eV 및 3.173 eV 의 경우는 그 유효영역이 보다 짧다. 즉 120 micron이상이 되면 exponential 증가로 보기 어렵다. 따라서 수학식 (3)을 활용할 경우, 유효영역을 정하는 임의성과 유효영역이 파장에 따라 다르다는 사실을 고려하면, 오차를 지니고 짧은 길이 영역에서 평균 이득을 측정한다고 볼 수 있다. 또한, ASE의 세기가 작은 파장영역에 대해서는 이득값을 신뢰하기 어렵다.
이러한 수학식 (2) 및 (3)의 유효영역을 정하는데 발생하는 임의성으로 인한 gain값의 불확정도 뿐만 아니라, 수학식 (2) 및 (3)식이 더 이상 유효하지 않은 긴 길이인 경우 기존의 VSLM 분석법은 캐비티의 길이가 긴 경우 정확한 이득을 측정할 수 없다. 예를 들어 레이저 다이오드의 캐비티의 길이가 500 micron정도 되는 경우는 수학식 (1)이 유효하지 않으므로 이득을 측정할 수 없게 되는 것이다.
따라서, 파장과 길이에 동시에 의존하는 모드 이득 g값을 직접적으로 측정할 수 있는 장치 및 방법이 필요하다.
본 발명은 상술한 문제를 해결하기 위하여 안출된 것으로, 본 발명의 목적은, 소형 발광소자 제작시 발광 파장과 내부 캐비티의 기하학적 구조와 길이에 따른 모드 이득을 동시에 파악할 수 있어, 제작 공정시 소자 최적화를 쉽고 효율적으로 이루어내는 것이다.
상술한 과제를 해결하기 위한 본 발명의 광학적 모드 이득 특성 측정 장치는, 시료를 장착하는 시료 장착부; 상기 시료에 에너지를 띠 모양으로 인가하는 에너지 인가부; 상기 띠 모양의 에너지의 길이를 조절하는 띠 길이 조절부; 및 상기 시료에서 방출된 광의 자연 증폭 방출 (ASE; amplified spontaneous emission) 스펙트럼을 분석하여, 파장, 에너지 띠 길이, 및 모드 이득 (MODAL GAIN) 으로 구성된 컨투어 맵을 생성하는 시료특성 측정부를 포함하는 것을 특징으로 한다.
또한, 상기 에너지 인가부는, 상기 시료에 광여기용 레이저 빔을 주입하는 레이저 빔 주입부; 상기 레이저 빔을 띠 모양으로 변환하는 포커싱부를 포함하는 것을 특징으로 한다.
또한, 상기 띠 길이 조절부는, 상기 띠 모양 에너지의 적어도 일부를 블록으로 차단하는 빔블럭; 상기 빔블럭을 이동시켜 상기 차단하는 길이를 조절하는 빔블럭암; 및 상기 빔블럭암을 제어하는 빔블럭암 제어부를 포함하는 것을 특징으로 한다.
또한, 상기 시료특성 측정부는, 상기 시료에서 방출되는 광을 수집하는 광 수집부; 상기 수집된 광으로부터 파장, 및 에너지 띠 길이에 따라 ASE 스펙트럼을 분석하는 ASE 스펙트럼 분석부; 및 상기 분석된 ASE 스펙트럼으로부터 모드 이득을 계산하여, 상기 파장, 및 상기 에너지 띠 길이에 따라 상기 모드 이득을 나타내는 컨투어 맵을 생성하는 모드 이득 컨투어 맵 생성부를 포함하는 것을 특징으로 한다.
또한, 상기 시료 에너지 특성 측정 장치는, 상기 생성된 컨투어 맵을 2차원 그래프 또는 3차원 그래프로 디스플레이하는 디스플레이부를 더 포함하는 것을 특징으로 한다.
또한, 상술한 과제를 해결하기 위한 본 발명의 광학적 모드 이득 특성 측정 방법은, (a) 에너지 인가부에서 띠 모양의 에너지를 시료에 주입하는 단계; (b) 광 수집부에서 상기 시료로부터 방출된 광을 수집하는 단계; 및 (c) ASE 스펙트럼 분석부에서 상기 수집된 광으로부터 파장, 및 상기 에너지의 띠 길이에 따라 ASE (ASE; amplified spontaneous emission) 스펙트럼을 분석하는 단계; (d) 모드 이득 컨투어 맵 생성부에서 상기 분석된 ASE 스펙트럼으로부터 모드 이득을 계산하여, 상기 파장, 및 상기 에너지의 띠 길이에 따라 모드 이득을 나타내는 컨투어 맵을 생성하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 한다.
또한, 상기 (a) 단계는, (a-1) 레이저 빔 주입부에서 상기 시료에 광여기용 레이저 빔을 주입하는 단계; (a-2) 포커싱부에서 상기 주입된 레이저 빔을 띠 모양으로 변환하는 단계; 및 (a-3) 상기 변환된 띠 모양의 레이저 빔의 길이를 조절하 는 단계를 포함하는 것을 특징으로 한다.
특히, 상기 (a-3) 단계는, 빔 블럭으로 상기 변환된 띠 모양의 레이저 빔의 적어도 일부를 차단하여 길이를 조절하는 단계인 것을 특징으로 한다.
또한, 상기 시료 에너지 특성 측정 방법은, (e) 디스플레이부에서 상기 생성된 컨투어 맵을 2차원 그래프 또는 3차원 그래프로 디스플레이하는 단계를 더 포함하는 것을 특징으로 한다.
본 발명에 의하면, 소형 발광소자 제작시 발광 파장과 내부 캐비티의 기하학적 구조와 길이에 따른 모드 이득을 동시에 파악할 수 있어, 제작 공정시 소자 최적화를 쉽고 효율적으로 이루어낼 수 있다.
이하에서는 첨부한 도면을 참조하여 바람직한 일 실시형태에 따른 모드 이득 등고지도 측정 장치 및 방법에 대해서 상세히 설명한다. 다만, 실시형태를 설명함에 있어서, 관련된 공지 기능 혹은 구성에 대한 구체적인 설명이 본 발명의 요지를 불필요하게 흐릴 수 있다고 판단되는 경우 그에 대한 상세한 설명은 생략한다. 또한, 여기서 에너지 띠 길이는 캐비티의 길이로 해석하는 것이 바람직하다. 왜냐하면, 조절된 입사 레이저 빔의 띠의 길이만큼의 캐비티 (이득을 갖는 매질)의 길이에 에너지가 여기되기 때문이다.
도 3은 본 발명의 바람직한 일 실시형태에 따른 광학적 모드 이득 특성 측정 장치의 구성 블록도이다.
도 3을 참조하면 광학적 모드 이득 특성 측정 장치는 에너지 인가부 (110), 에너지 띠 길이 조절부 (120), 시료 장착부 (130), 및 시료 특성 측정부 (140)를 포함한다. 에너지 인가부는 시료를 여기 또는 밀도 반전시키기 위해 에너지, 예를 들어, 레이저 빔을 조사하는 역할을 수행한다. 또한, 띠 길이 조절부 (120)는 조사된 레이저 빔이 시료 장착부 (130)에 장착된 시료에 길이를 조절하면서 띠 모양으로 입사하도록 한다. 또한, 시료 특성 측정부 (140)는 조사된 레이저 빔으로 인해 밀도 반전되어 방출되는 빛을 수집하고 자연 증폭 방출 (ASE; amplified spontaneous emission) 스펙트럼을 분석하여, 파장, 에너지 띠 길이, 및 모드 이득 (MODAL GAIN) 으로 구성된 컨투어 맵을 생성한다.
도 4는 본 발명의 바람직한 일 실시형태에 따라 도 3에 도시된 블록도를 구체화한 광학적 모드 이득 특성 측정 장치의 구성을 도시한다.
도 4를 참조하면, 광학적 모드 이득 특성 측정 장치는 레이저 빔 주입부 (112), 포커싱부 (114), 빔블럭 (122), 빔블럭암 (124), 빔블럭암 제어부 (126), 시료장착부 (130), 광수집부 (150 및 160), 옵티컬 파이버 (170), ASE 스펙트럼 분석부 (180 및 190), 및 모드 이득 컨투어 맵 생성부 (146)을 포함한다.
레이저 빔 주입부 (112)는 레이저 광원을 슬릿을 통해 주입한다. 이와 같이 주입된 레이저 광원을 포커싱부 (114)가 원통형 렌즈를 이용하여 띠 모양으로 변환하여 시료에 포커싱한다. 포커싱부 (114)를 통과하여 띠 모양으로 변환된 레이저 빔은 빔블럭 (122)에 의해 적어도 일부가 차단됨으로써 길이가 조절된다. 또한, 빔블럭암 (124)는 상기 빔블럭 (122)을 이동시켜 에너지 띠의 길이를 조절하도록 빔 블럭 (122) 에 커플링되어 빔블럭 (122)을 이동시킨다. 또한, 빔블럭암 제어부 (126)는 빔블럭암 (122)을 제어하고 빔블럭 (122) 에 의해 조절된 에너지 띠의 길이를 모드 이득 컨투어 맵 생성부 (146)로 전송한다.
시료장착부 (130) 에는 시료, 즉 소형의 발광소자가 장착되나 반드시 이에 한정되는 것은 아니다. 시료에 레이저 빔이 인가되어 밀도 반전이 발생되면, 띠 모양을 따라 이득만큼 증폭된 광이 방출된다. 이렇게 방출된 빛은 광수집부 (150 및 160)에서 수집된다. 광수집부 (150) 와 광수집부 (160)는 에너지 띠의 길이마다 ASE 스펙트럼을 측정하는데 측정 효율을 높이기 위해 파이버 커플러로 구성되며, 시료의 측면에서 입체각을 가지고 발생하는 빛을 잘 수집할 수 있다. 이러한 광수집부 (150 및 160)의 위치조절을 통해 사용자는 최적의 위치를 찾을 수 있다.
광수집부 (150 및 160)를 통해 수집된 빛은 옵티컬 파이버 (170)을 따라 ASE 스펙트럼 분석부 (180 및 190) 로 이동한다. ASE 스펙트럼 분석부 (180)는 예를 들어, CCD 카메라이며, ASE 스펙트럼 분석부 (190)는 예를 들어, 소형 분광기이다. 빛은 우선 소형분광기에 전달되고 CCD 카메라에 의해 ASE 스펙트럼이 파장, 및 에너지 띠 길이에 따라 ASE 스펙트럼이 측정된다.
모드 이득 컨투어 맵 생성부 (146)는 분석된 ASE 스펙트럼으로부터 모드 이득을 계산하여, 파장, 및 에너지 띠 길이에 따라 모드 이득을 나타내는 컨투어 맵을 생성한다. 더욱 상세하게는, 전술한 수학식 (2) 및 (3)식의 유효영역에 대한 문제점을 개선하기 위해 수학식 (1)을 집적 이용한다. 또한, 에너지 띠의 길이가 길어짐에 따라 ASE 의 증가율이 변화됨을 고려하면 g 는 파장 (혹은 에너지)뿐만 아 니라 에너지 띠의 길이(X) 에도 의존하는 값임을 고려할 수 있다. 따라서, 수학식 (1)을 다음의 수학식 (4)와 같이 변형한다.
Figure 112009048537842-pat00004
여기서, 우측 항의 값을 실험적으로 측정할 수 있으면, 길이와 파장에 따라 변화하는 g를 직접 구할 수 있다. 수학식 (4)의 항을 살펴보면 길이에 따른 ASE 세기 I(x)와 그 길이에 대한 미분값 그리고 JΩ로 이루어져 있다.
다양한 파장에 따라 다른 JΩ 스펙트럼의 경우 X=0 때의 기울기 값이므로 역시 측정 가능하다. 따라서 측정된 다양한 파장의 ASE를 길이에 따라 측정하여, 수학식 (4)를 통해 파장과 길이에 동시에 의존하는 g값을 직접적으로 측정할 수 있다. 이러한 본 발명의 분석법과 기존의 X-2X분석법의 차이를 도 5에 나타낸다.
도 5는 본 발명의 분석법과 기존의 X-2X분석법의 광학적 모드 이득의 측정결과의 비교 그래프이다.
도 5를 참조하면, 길이가 짧은(예를 들어, 2x=120 micron) 유효길이의 영역일 경우 기존, 수학식 (4)의 방법은 수학식 (2) 및 (3)방법과 유사한 결과를 보여준다. 즉, ASE의 강도가 작은 경우에, 종래 기술의 수학식 (2) 및 (3)방법은 유효영역에서 벗어남에도 불구하고 유효영역으로 간주하여 오차가 발생하여 수학식 (4) 방법과의 미세한 차이를 보인다 (예를 들어, 모드 이득 스펙트럼의 양쪽 날개부분). 따라서 본 분석법은 짧은 길이 영역에서는 기존의 방법과 유사한 일관성 있는 결과를 제공하고, 길이가 긴 경우에도 모드 이득을 측정할 수 있다.
또한, 수학식 (4)를 이용하면 에너지 의존성뿐만 아니라 띠길이의 의존성까지 포함된 광학적 이득을 구할 수 있다. 즉, 캐비티 길이(X- 축)와 Y-축 파장(혹은 에너지)에 따른 모드 이득 (Z축)을 컨투어 맵형태로 구할 수 있다. 이를 모드이득 캐비티길이-스펙트럼 등고지도라고 지칭한다.
즉, 기존의 분석법은 짧은 캐비티길이(100 micron정도)에서 모드 이득의 스펙트럼을 측정하는 반면, 본 발명의 분석법은 도 6과 같이 길이 및 에너지에 따른 컨투어 맵을 기반으로 원하는 파장(혹은 에너지)와 길이에 따른 모드 이득값을 한 눈에 알아볼 수 있다.
도 6은 본 발명의 바람직한 일 실시형태에 따른 캐비티의 길이 및 에너지에 따른 광학적 모드 이득값을 나타내는 2차원 그래프이다.
도 6을 참조하면, 예를 들어, 길이가 100 micron일 때의 모드 이득 스펙트럼을 우측그림처럼 단면에서 잘라서 볼 수 있다. 혹은 특정 파장(혹은 에너지 3.14 ev)근처에서 길이에 따라 모드 이득값이 어떻게 변하는지도 알아볼 수 있다.
도 7은 본 발명의 바람직한 일 실시형태에 따른 캐비티의 길이 및 에너지에 따른 광학적 모드 이득값을 나타내는 3차원 그래프이다.
도 7을 참조하면, 모드 이득이라는 산봉우리의 높이가 에너지와 길이에 따라 어떻게 변화하는지를 보여준다. 짙은 붉은 색의 봉우리는 모드 이득이 큰 영역이고, 짙은 파란색은 음의 모드 이득 즉, 손실이 큰 영역이다. 따라서 이러한 3차원 지표를 토대로 가장 효율적인 발광파장과 길이를 얻을 수 있다. 산업체 레이저 다 이오드 공정상에서 다양한 구조의 캐비티를 제작한 후, 유도방출의 효율을 분석하고 싶을 경우, 이러한 3차원 모드 이득 지도를 통해, 가장 우수한 파장과 캐비티 길이의 최적치를 직접적으로 구할 수 있다.
전술한 바와 같은 본 발명의 상세한 설명에서는 구체적인 실시예에 관해 설명하였다. 그러나 본 발명의 범주에서 벗어나지 않는 한도 내에서는 여러 가지 변형이 가능하다. 본 발명의 기술적 사상은 본 발명의 전술한 실시예에 국한되어 정해져서는 안 되며, 특허청구범위뿐만 아니라 이 특허청구범위와 균등한 것들에 의해 정해져야 한다.
도 1은 종래의 VSLM 을 이용하여 측정한 띠 길이, 및 에너지 파장에 따른 ASE 스펙트럼을 나타낸 그래프
도 2는 종래 VLSM 을 이용하여 ASE 스펙트럼 중 몇 개의 파장 혹은 에너지를 골라 띠 길이에 따라 나타낸 그래프
도 3은 본 발명의 바람직한 일 실시형태에 따른 광학적 모드 이득 특성 측정 장치의 구성 블록도
도 4는 본 발명의 바람직한 일 실시형태에 따라 도 3에 도시된 블록도를 구체화한 광학적 모드 이득 특성 측정 장치의 구성도
도 5는 본 발명의 분석법과 기존의 X-2X분석법의 광학적 모드 이득의 측정결과의 비교 그래프
도 6은 본 발명의 바람직한 일 실시형태에 따른 캐비티의 길이 및 에너지에 따른 광학적 모드 이득값을 나타내는 2차원 그래프
도 7은 본 발명의 바람직한 일 실시형태에 따른 캐비티의 길이 및 에너지에 따른 광학적 모드 이득값을 나타내는 3차원 그래프
<도면의 주요 부분에 대한 부호 설명>
112: 레이저 빔 주입부 114: 포커싱부
122: 빔블럭 124: 빔블럭암
126: 빔블럭암 제어부 130: 시료장착부
146: 모드이득 컨투어 맵 생성부 150, 160: 광수집부
170: 옵티컬 파이버 180, 190: ASE 스펙트럼 분석부

Claims (9)

  1. 시료를 장착하는 시료 장착부;
    상기 시료에 에너지를 띠 모양으로 인가하는 에너지 인가부;
    상기 띠 모양의 에너지의 길이를 조절하는 띠 길이 조절부; 및
    상기 시료에서 방출된 광의 자연 증폭 방출 (ASE; amplified spontaneous emission) 스펙트럼을 분석하여, 파장, 에너지 띠 길이, 및 모드 이득 (MODAL GAIN) 으로 구성된 컨투어 맵을 생성하는 시료특성 측정부를 포함하며,
    상기 시료특성 측정부는,
    상기 시료에서 방출된 광을 수집하는 광 수집부;
    상기 수집된 광으로부터 파장별 에너지 띠 길이 및 ASE 세기를 포함하는 ASE 스펙트럼을 분석하는 ASE 스펙트럼 분석부; 및
    상기 광의 에너지 띠 길이 및 ASE 세기를 이용하여 하기 수학식;
    Figure 112011077660136-pat00018
    (상기 수학식에서 I는 ASE 세기이며,
    Figure 112011077660136-pat00019
    은 상기 ASE 세기를 상기 에너지 띠 길이에 대하여 미분한 값,
    Figure 112011077660136-pat00020
    은 자발발광 밀도로서 상기 에너지 띠 길이가 0인 경우의 결과값이며, g는 모드 이득임)
    에 따라, 상기 ASE 세기, 상기 ASE 세기를 상기 에너지 띠 길이에 대하여 미분한 값 및 상기 에너지 띠 길이가 0일 때의 상기 수학식의 결과값을 이용하여 파장별 모드 이득을 계산하여, 상기 모드 이득을 상기 파장별 및 상기 에너지 띠 길이별로 정렬함으로써 2차원 그래프 또는 3차원 그래프를 생성하여 컨투어 맵을 생성하는 모드 이득 컨투어 맵 생성부를 포함하는 것을 특징으로 하는 광학적 모드 이득 특성 측정 장치.
  2. 제 1항에 있어서,
    상기 에너지 인가부는,
    상기 시료에 광여기용 레이저 빔을 주입하는 레이저 빔 주입부;
    상기 레이저 빔을 띠 모양으로 변환하는 포커싱부를 포함하는 것을 특징으로 하는 광학적 모드 이득 특성 측정 장치.
  3. 제 1항에 있어서,
    상기 띠 길이 조절부는,
    상기 띠 모양 에너지의 적어도 일부를 블록으로 차단하는 빔블럭;
    상기 빔블럭을 이동시켜 상기 차단하는 길이를 조절하는 빔블럭암; 및
    상기 빔블럭암을 제어하는 빔블럭암 제어부를 포함하는 것을 특징으로 하는 광학적 모드 이득 특성 측정 장치.
  4. 삭제
  5. 제 1항에 있어서,
    상기 시료 에너지 특성 측정 장치는,
    상기 생성된 컨투어 맵을 디스플레이하는 디스플레이부를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 광학적 모드 이득 특성 측정 장치.
  6. (a) 에너지 인가부에서 띠 모양의 에너지를 시료에 주입하는 단계;
    (b) 광 수집부에서 상기 시료로부터 방출된 광을 수집하는 단계; 및
    (c) ASE (ASE; amplified spontaneous emission) 스펙트럼 분석부에서 상기 수집된 광으로부터 파장별 에너지 띠 길이 및 ASE 세기를 포함하는 ASE 스펙트럼을 분석하는 단계;
    (d) 상기 광의 에너지 띠 길이 및 ASE 세기를 이용하여 하기 수학식;
    Figure 112011077660136-pat00021
    (상기 수학식에서 I는 ASE 세기이며,
    Figure 112011077660136-pat00022
    은 상기 ASE 세기를 상기 에너지 띠 길이에 대하여 미분한 값,
    Figure 112011077660136-pat00023
    은 자발발광 밀도로서 상기 에너지 띠 길이가 0인 경우의 결과값이며, g는 모드 이득임)
    에 따라, 상기 ASE 세기, 상기 ASE 세기를 상기 에너지 띠 길이에 대하여 미분한 값 및 상기 에너지 띠 길이가 0일 때의 상기 수학식의 결과값을 이용하여 파장별 모드 이득을 계산하는 단계;
    (e) 상기 모드 이득을 상기 파장별 및 상기 에너지 띠 길이별로 정렬함으로써 2차원 그래프 또는 3차원 그래프를 생성하여 컨투어 맵을 생성하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 광학적 모드 이득 특성 측정 방법.
  7. 제 6항에 있어서,
    상기 (a) 단계는,
    (a1) 레이저 빔 주입부에서 상기 시료에 광여기용 레이저 빔을 주입하는 단계;
    (a2) 포커싱부에서 상기 주입된 레이저 빔을 띠 모양으로 변환하는 단계; 및
    (a3) 상기 변환된 띠 모양의 레이저 빔의 길이를 조절하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 광학적 모드 이득 특성 측정 방법.
  8. 제 7항에 있어서,
    상기 (a3) 단계는,
    빔 블럭으로 상기 변환된 띠 모양의 레이저 빔의 적어도 일부를 차단하여 길이를 조절하는 단계인 것을 특징으로 하는 이용한 광학적 모드 이득 특성 측정 방법.
  9. 삭제
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Hadi et. al., Laser operation in non-doped thin films made of a small-molecule organic red-emitter, Applied Physics Letters, Vol. 95, Issue 3, pp. 033305-033305-3, July, 2009.*

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