KR101146559B1 - 분광법을 이용한 인주 및 서명 감식 방법 - Google Patents

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Abstract

분광법을 이용한 인주 및 서명 감식 방법을 개시한다. 본 발명의 일 실시예에 따른 인주 감식 방법은, 인영(印影)의 배경에 대하여 분광 스펙트럼을 측정하는 단계와, 날인된 인영 부분에 대하여 분광 스펙트럼을 측정하는 단계와, 인영 부분의 분광 스펙트럼으로부터 배경의 분광 스펙트럼을 제거하여 인주(印朱)의 분광 스펙트럼을 구하는 단계와, 인주의 분광 스펙트럼에서 검색 키로 사용할 특징을 선택하는 단계와, 인주 샘플 스펙트럼 데이터베이스에서 검색 키에 대하여 미리 정해진 값 이상의 동등성 조건을 만족하는 인주 샘플 스펙트럼을 검색하는 단계 및 검색된 결과에 기반하여 동등성 조건을 만족하는 인주 샘플의 발견 여부 및 발견된 인주 샘플의 출처 정보를 출력하는 단계를 포함한다.

Description

분광법을 이용한 인주 및 서명 감식 방법{METHOD OF IDENTIFYING RED SEAL INK AND SIGNATURE USING SPECTROSCOPY}
본 발명은 분광분석법의 응용에 관한 것으로, 더욱 상세하게는 분광법을 이용한 인주 및 서명 감식 방법에 관한 것이다.
최근 범죄 흔적 조사 기술의 중요성이 높아지고 있는데, 다양한 사회 활동에 수반되는 각종 서류에는 도장으로 날인(捺印)된 인영(印影) 또는 수기(手記)에 의한 서명(署名)이 포함되어 있어서, 인영 또는 서명의 진위를 가려서 서류의 진위 여부를 신속하고 정확하며 객관적으로 판정하는 일이 매우 중요하다.
한국, 일본, 중국 등 동양에서의 도장은 서양에서의 서명처럼 고대시대부터 널리 사용되어왔다. 특히, 계약서, 예술작품, 문서 등에 붉은색 인주로 도장 날인하거나 낙관을 찍음으로서 그 계약서 등의 진위를 확인하고 작품의 품격을 인정받는데 사용되었다. 따라서 이러한 문서나 예술작품 등에 사용된 도장이나 낙관의 위조 여부를 판단하는 것이 항상 중요한데, 과거에는 전문가가 돋보기나 현미경 등을 이용해 도장이 날인된 인영(印影)의 형태, 색깔 등을 비교 대조하는 감정 방법이 주로 사용되었고 그 결과 전문가의 주관적 요소가 많이 개입됨으로써 과학적, 객관적이지 못한 측면이 있었다.
그래서 계약서, 예술작품, 문서 등에 날인된 도장과 낙관의 위조여부에 대한 보다 과학적이고 객관적인 감정법이 제시되었는데, 박막 크로마토그래피(thin layer chromatography), 고성능 액체 크로마토그래피(high performance liquid chromatography), 고성능 박막 크로마토그래피(high performance thin layer chromatography), 가스 크로마토그래피(gas chromatography) 등의 방법들이 여기에 해당한다. 그러나 박막 크로마토그래피 등의 방법은 시료(계약서, 예술작품, 문서 등)의 손상을 가져오기 때문에, 차후에 재검증이 필요한 경우 문제가 되고, 특히 예술작품의 경우 그 가치를 훼손시키는 심각한 문제가 있다.
시료를 손상시키는 문제를 해결하기 위한 비파괴 분석법(non-destructive method)으로서 광학적(optical) 분석법이 주로 많이 사용되고 있다. 그러나 이러한 광학적 분석법도 분석자나 관찰자의 주관이 개입될 여지가 많고, 도장 날인과 서명의 선후관계에 대한 감정에도 어려움이 있다.
따라서 본 발명의 목적은 시료의 손상 없이 날인된 인영의 출처와, 날인된 인영 및 서명의 선후관계를 판단할 수 있는 분광법을 이용한 인주 및 서명 감식 방법을 제공하는 것이다.
상술한 본 발명의 목적을 달성하기 위한 본 발명의 일 실시예에 따른 인주 감식 방법은, 인영(印影)의 배경에 대하여 분광 스펙트럼을 측정하는 단계와, 날인된 인영 부분에 대하여 분광 스펙트럼을 측정하는 단계와, 상기 인영 부분의 분광 스펙트럼으로부터 상기 배경의 분광 스펙트럼을 제거하여 인주(印朱)의 분광 스펙트럼을 구하는 단계와, 상기 인주의 분광 스펙트럼에서 검색 키로 사용할 특징을 선택하는 단계와, 인주 샘플 스펙트럼 데이터베이스에서 상기 검색 키에 대하여 미리 정해진 값 이상의 동등성 조건을 만족하는 인주 샘플 스펙트럼을 검색하는 단계 및 검색된 결과에 기반하여 상기 동등성 조건을 만족하는 인주 샘플의 발견 여부 및 발견된 인주 샘플의 출처 정보를 출력하는 단계를 포함하되, 상기 분광 스펙트럼은 마이크로 감쇄 전반사 퓨리에 변환 적외선 분광분석(attenuated total reflectance-Fourier transform infrared spectroscopy; Micro ATR-FTIR) 스펙트럼이다.
상술한 본 발명의 목적을 달성하기 위한 본 발명의 일 실시예에 따른 인주 및 서명 감식 방법은, 인영(印影) 및 서명(署名)의 배경의 분광 스펙트럼, 상기 인영과 상기 서명이 겹쳐 있지 않은 부분 중 상기 인영 부분의 분광 스펙트럼, 상기 인영과 상기 서명이 겹쳐 있지 않은 부분 중 상기 서명 부분의 분광 스펙트럼 및 상기 인영과 상기 서명이 겹쳐 있는 부분의 분광 스펙트럼을 측정하는 단계와, 상기 인영과 상기 서명이 겹쳐 있지 않은 부분 중 상기 인영 부분의 분광 스펙트럼으로부터 상기 배경의 분광 스펙트럼을 제거하여 인주(印朱)의 분광 스펙트럼을 구하는 단계와, 상기 인영과 상기 서명이 겹쳐 있지 않은 부분 중 상기 서명 부분의 분광 스펙트럼으로부터 상기 배경의 분광 스펙트럼을 제거하여 서명 잉크의 분광 스펙트럼을 구하는 단계와, 상기 인영과 상기 서명이 겹쳐 있는 부분에서 상기 배경의 분광 스펙트럼을 제거하여 확인 대상의 분광 스펙트럼을 구하는 단계와, 상기 확인 대상의 분광 스펙트럼을 상기 인주의 분광 스펙트럼 및 상기 서명 잉크의 분광 스펙트럼 중 적어도 하나와 비교하여 동등성 높은 분광 스펙트럼을 판단하는 단계 및 상기 판단한 결과에 기반하여 인영과 서명의 선후관계를 판단하는 단계를 포함한다.
상기와 같은 분광법을 이용한 인주 및 서명 감식 방법에 따르면, Micro ATR-FTIR 분광장비의 고성능 분해능을 이용하여 미지의 인주 및 서명의 스펙트럼을 분석함으로써 시료의 손상 없이 날인된 인영 및 서명의 진위 여부를 포함한 문서의 진위 여부와 날인 및 서명의 선후관계를 신속하고 정확하게 판단할 수 있어서 법과학 분야, 고문서 및 예술작품의 감정 분야 등에서 유용하게 활용될 수 있다.
도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 인주 감식 방법을 설명하는 개념도이다.
도 2는 본 발명의 일 실시예에 따른 인주 및 서명 감식 방법에서 서로 다른 인주에 대한 Micro ATR-FTIR 스펙트럼의 예를 나타내는 그래프이다.
도 3은 본 발명의 일 실시예에 따른 인주 및 서명 감식 방법에서 미지의 인주 및 데이터베이스에 저장된 인주 샘플의 Micro ATR-FTIR 스펙트럼의 예를 나타내는 그래프이다.
도 4 및 도 5는 본 발명의 일 실시예에 따른 인주 및 서명 감식 방법에서 인영과 서명이 겹치는 경우의 Micro ATR-FTIR 스펙트럼의 일 예를 나타내는 그래프이다.
도 6은 본 발명의 다른 실시예에 따른 인주 및 서명 감식 방법에서 인영과 서명이 겹치는 경우의 Micro ATR-FTIR 스펙트럼의 다른 예를 나타내는 그래프이다.
도 7은 본 발명의 일 실시예에 따른 인주 감식 방법을 설명하는 순서도이다.
도 8은 본 발명의 일 실시예에 따른 인주 및 서명 감식 방법을 설명하는 순서도이다.
본 발명은 다양한 변경을 가할 수 있고 여러 가지 실시예를 가질 수 있는 바, 특정 실시예들을 도면에 예시하고 상세하게 설명하고자 한다. 그러나 이는 본 발명을 특정한 실시 형태에 대해 한정하려는 것이 아니며, 본 발명의 사상 및 기술 범위에 포함되는 모든 변경, 균등물 내지 대체물을 포함하는 것으로 이해되어야 한다. 제1, 제2, A, B 등의 용어는 다양한 구성요소들을 설명하는데 사용될 수 있지만, 상기 구성요소들은 상기 용어들에 의해 한정되어서는 안 된다. "및/또는" 이라는 용어는 복수의 관련된 기재된 항목들의 조합 또는 복수의 관련된 기재된 항목들 중의 어느 항목을 포함한다. 어떤 구성요소가 다른 구성요소에 "연결되어" 있다거나 "접속되어" 있다고 언급된 때에는, 그 다른 구성요소에 직접적으로 연결되어 있거나 또는 접속되어 있을 수도 있지만, 중간에 다른 구성요소가 존재할 수도 있다고 이해되어야 할 것이다. 본 출원에서 사용한 용어는 단지 특정한 실시예를 설명하기 위해 사용된 것으로, 본 발명을 한정하려는 의도가 아니다. 단수의 표현은 문맥상 명백하게 다르게 뜻하지 않는 한, 복수의 표현을 포함한다. 본 출원에서, "포함하다" 또는 "가지다" 등의 용어는 명세서상에 기재되지 아니한 적어도 하나의 다른 특징들이나 숫자, 단계, 동작, 구성요소, 부품 또는 이들을 조합한 것들의 존재 또는 부가 가능성을 미리 배제하지 않는 것으로 이해되어야 한다. 다르게 정의되지 않는 한, 기술적이거나 과학적인 용어를 포함해서 여기서 사용되는 모든 용어들은 본 발명이 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자에 의해 일반적으로 이해되는 것과 동일한 의미를 가지고 있다.
본 발명은 문서를 위조하거나 변조할 목적으로 사용된 위조된 날인(捺印)의 인주(印朱) 또는 위조된 서명(署名)을 감정하기 위한 법과학적인 도구로서 분광법(分光法)을 이용한 인주 및 서명 감식 방법을 제안한다.
본 발명의 일 실시예에 따른 인주 감식 방법은, 색상과 성분이 서로 다른 다양한 종류의 인주를 비파괴적 분석 장치인 마이크로 감쇄 전반사 퓨리에 변환 적외선 분광분석(attenuated total reflectance-Fourier transform infrared spectroscopy; Micro ATR-FTIR) 장치로 측정하여 각각의 스펙트럼을 데이터베이스로 구축하고, 이를 이용하여 문서에 사용된 인주의 출처를 확인함으로서 도장의 위조 여부를 확인할 수 있다. 또한, 본 발명의 일 실시예에 따른 인주 및 서명 감식 방법은 날인된 인영의 인주와 기재된 서명의 잉크가 서로 겹쳐있는 문서에서 이에 대한 선후 구별을 가능하게 함으로써 문서의 위조 또는 변조 여부를 감정하거나 판별하는데 활용될 수 있다.
양도계약서를 예로 들면, 계약자는 동일한 계약서 2부에 각자 서명 및 날인하는데, 통상적으로 계약이 양 당사자에 의하여 진정 성립되었음을 확실히 하기 위하여 2부의 계약서를 일부 겹친 부분에 도장 날인을 하게 된다. 이때 2부의 계약서에 각각 일부 날인된 인영(印影)의 인주의 성분은 서로 일치하여야 하고, 만약 서로 일치하지 않는 경우에는 어느 하나의 계약서가 위조되었을 가능성이 높은 것으로 판단할 수 있다. 또한, 문서상에서 인영과 서명이 서로 겹치는 경우에 날인이 먼저 이루어졌는지 서명이 먼저 이루어졌는지의 선후관계는 그 자체로 문서의 진위여부를 판가름하기 보다는 그 문서에 대한 다른 감정자료 또는 증거자료의 진위여부를 보강하는데 이용될 수 있다.
본 발명은 시료(문서)의 손상 없이 날인의 인주 및 서명에 대한 비파괴적 검증 방법을 이용하여 날인된 도장의 진위 여부, 서명의 진위 여부, 나아가 계약서 등의 문서의 진위 여부 그리고 날인된 인영 및 가재된 서명의 선후관계를 효율적으로 감정 및 분석하는데 이용될 수 있다.
도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 인주 및 서명 감식 방법을 설명하는 개념도이다.
도 1에 나타난 바와 같이, 도장 날인에 의하여 인주가 찍힌 문서는 Micro ATR-FTIR 분광기에서 분광 분석되어 그 인주 성분에 대한 스펙트럼 또는 크로마토그램(chromatogram)이 측정될 수 있다. 시장 등에서 입수 가능한 인주들에 대하여 분광 스펙트럼을 측정하고, 측정된 인주 스펙트럼에 대한 데이터베이스(database) 또는 라이브러리(library)를 구축하면, 미지의 인주에 대한 스펙트럼과 대조(동일성 검사, 동등성 검사, 유사도 검사 등)하여 미지의 인주를 식별해낼 수 있다.
이하에서는 설명의 용이를 위하여 적외선이 시료를 통과할 때 흡수 또는 투과되는 정도를 나타내는 투과율(spectrum transmission, %T) 값을 스펙트럼 수치를 산출하는 기준으로 가정하고, 날인된 인영의 Micro ATR-FTIR 스펙트럼으로부터 배경(예를 들어, 흰 종이)만의 Micro ATR-FTIR 스펙트럼을 제거한 결과를 인주의 스펙트럼으로 가정하여 설명한다. 다만, 투과율을 분광 스펙트럼의 수치 산출 기준으로 하고, 배경의 스펙트럼을 고려하여 인주의 스펙트럼을 결정하는 구성은 본 발명의 일 실시예를 설명하기 위한 것일 뿐, 본 발명의 기술적 사상이 이러한 실시예에 한정되지 않음에 유의하여야 한다.
도 2는 본 발명의 일 실시예에 따른 인주 및 서명 감식 방법에서 서로 다른 인주에 대한 Micro ATR-FTIR 스펙트럼의 예를 나타내는 그래프이다.
도 2에 나타난 바와 같이, 인주 샘플 S6(A), 인주 샘플 S7(B), 인주 샘플 S8(C)은 그래프 상에서 고점(高點) 또는 피크(peak)를 형성하는 파수(wavenumber)에 있어서 서로 구별되는 것을 볼 수 있다.
여기서 피크란 주변의 파수에 대비하여 특히 높은 투과율을 나타내는 해당 파수의 투과율 값을 의미한다. 서로 다른 인주 샘플들은 고점 또는 피크가 발생하는 파수 또는 파장이 서로 다를 가능성이 높고, 고점에서의 상대적인 피크 강도를 의미하는 투과율이 서로 다를 가능성이 높다. 인주들 간의 이러한 파수와 투과율의 차이로부터 각 인주를 구별할 수 있다. 즉, 서로 다른 인주는 서로 다른 스펙트럼 패턴(피크가 발생하는 파수, 피크의 강도 등)을 나타내므로 데이터베이스에 저장된 인주 샘플의 스펙트럼 패턴과 대조하여 인주의 출처 또는 일치 여부를 확인할 수 있다.
예를 들어, 인주들을 서로 구분하게 하는 서로 다른 높이의 피크(또는 투과율)가 나타나는 특징적인 파수는 660 ~ 1750 cm-1, 2850 ~ 2900 cm-1 등이다. 볼펜 잉크들을 서로 구분하게 하는 서로 다른 피크(또는 투과율)가 나타나는 특징적인 파수는 660 ~ 1660 cm-1, 2870 ~ 3300 cm-1, 3700 cm-1 등이다. 흰 종이는 800 ~ 1650 cm-1, 2900 cm-1, 3340 cm-1 등에서 특징적인 피크가 나타난다.
상기와 같이 특징적인 피크를 발생시키거나 발생시키지 않는 파수에 대한 피크 값(투과율 값)에 대해 데이터베이스를 구축함으로써 스펙트럼 전체에 대하여 데이터베이스를 구축하는 경우에 비하여 필요한 데이터베이스 저장 공간을 줄이고 검색 시간을 개선시킬 수도 있다.
도 3은 본 발명의 일 실시예에 따른 인주 및 서명 감식 방법에서 미지의 인주 및 데이터베이스에 저장된 인주 샘플의 Micro ATR-FTIR 스펙트럼의 예를 나타내는 그래프이다.
도 3에서, 미지의 인주(A)의 스펙트럼과 다른 인주 샘플(B 내지 F)의 스펙트럼의 동등성을 계산함으로써 미지의 인주(A)와 일치하는 인주 샘플을 판별할 수 있다. 여기서의 동등성은 스펙트럼 간의 유사도(similarity)를 의미하는 것으로, 스펙트럼 동등성, 광학적 동등성 등으로 이해될 수 있다. 실험적으로 동일한 인주에 대한 동등성 값은 70% 이상으로 나타났다. 스펙트럼 간의 유사도 내지 차수-투과율 수치 집합 간의 유사도를 산출하는 방법은 관련 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자에 의하여 용이하게 파악될 수 있으므로 이하 상세한 설명은 생략한다.
예를 들어, 미지의 인주(A)의 스펙트럼에 대하여, 인주 샘플(B)는 79.19의 동등성 값, 인주 샘플(C)는 54.04의 동등성 값, 인주 샘플(D)는 39.18의 동등성 값, 인주 샘플(E)는 37.63의 동등성 값, 인주 샘플(F)는 37.23의 동등성 값을 보이는 경우, 미지의 인주(A)는 가장 동등성 값이 높은 인주 샘플(B)와 일치하는 것으로 판단할 수 있다. 즉, 미지의 인주에 대한 Micro ATR-FTIR 스펙트럼을 측정하고 그 결과를 데이터베이스에 저장된 인주 샘플들의 스펙트럼과 대조함으로써 미지의 인주에 대한 출처(제조사, 상품명 등) 및 성분을 확인할 수 있다.
도 4 및 도 5는 본 발명의 일 실시예에 따른 인주 및 서명 감식 방법에서 인영과 서명이 겹치는 경우의 Micro ATR-FTIR 스펙트럼의 일 예를 나타내는 그래프이다.
도 4에는 문서 위에 특정 회사의 볼펜으로 기재된 서명의 잉크의 스펙트럼(A)과 문서에 날인된 인영의 인주 위에 기재된 서명의 잉크의 스펙트럼(B)이 나타나 있고, 도 5에는 문서에 날인된 인영의 인주의 스펙트럼(A)과 문서에 기재된 서명의 잉크 위에 날인된 인영의 인주의 스펙트럼(B)이 나타나 있다. 도 4 및 도 5를 참조하면, 인영의 인주 위에 기재된 서명의 잉크의 스펙트럼(도 4, B)은 잉크 자체의 스펙트럼(도 4, A)과 큰 차이를 보이는 반면에, 서명 위에 날인된 인영의 인주의 스펙트럼(도 5, B)은 인주 자체의 스펙트럼(도 5, A)과 유사한 것을 알 수 있다. 따라서 도 4 및 도 5의 예에서는 인영과 서명이 겹쳐진 문서 부분에 대해 측정한 스펙트럼이 인주 자체의 스펙트럼과 유사한 경우에는 서명 위에 날인이 이루어진 것이고, 그렇지 않은 경우에는 날인 위에 서명이 이루어진 것으로 판단할 수 있다.
도 6은 본 발명의 다른 실시예에 따른 인주 및 서명 감식 방법에서 인영과 서명이 겹치는 경우의 Micro ATR-FTIR 스펙트럼의 다른 예를 나타내는 그래프이다.
도 6은 본 발명의 일 실시예에 따른 인주 및 서명 감식 방법에서 인영과 서명의 선후관계를 판단하는데 이용되는 Micro ATR-FTIR 스펙트럼의 예를 나타내는 그래프이다.
도 6을 참조하면, 문서상의 볼펜 서명의 잉크의 스펙트럼(A)과, 문서상에 도장 날인된 인영의 인주의 스펙트럼(B)과, 문서상에서 인영의 인주 위에 기재된 볼펜 서명의 잉크의 스펙트럼(C)과, 문서상에서 볼펜 서명의 잉크 위에 날인된 인영의 인주의 스펙트럼(D)이 나타나 있다. 도 6에 나타난 바와 같이, 문서상의 볼펜 서명의 잉크의 스펙트럼(A)과 문서상에서 인영의 인주 위에 기재된 볼펜 서명의 잉크의 스펙트럼(C)이 매우 유사하고, 문서상에 도장 날인된 인영의 인주의 스펙트럼(B)과 문서상에서 볼펜 서명의 잉크 위에 날인된 인영의 인주의 스펙트럼(D)이 다소 유사한 것을 알 수 있다. 따라서 도 6의 예에서는 인영과 서명이 겹쳐진 문서 부분에 대해 측정한 스펙트럼이 서명의 잉크 자체의 스펙트럼과 유사한 경우에는 날인 위에 서명이 이루어진 것이고, 그렇지 않은 경우에는 서명 위에 날인이 이루어진 것으로 판단할 수 있다.
상술한 도 4 내지 도 6의 예로부터 알 수 있듯이, 인영과 서명이 겹쳐진 문서 부분에 대해 측정한 스펙트럼이 서명의 잉크 자체와 매우 유사한 경우에는 서명이 인영 위에 기재된 것으로 판단하고, 인영의 인주 자체의 스펙트럼과 매우 유사한 경우에는 인영이 서명 위에 날인된 것으로 판단할 수 있다.
한편, 상기 도 4 내지 도 6을 참조하면, Micro ATR-FTIR 스펙트럼에서 인주는 1585 cm-1, 1170 cm-1, 2928 cm-1, 2856 cm-1 등에서 피크를 보이는 반면에, 볼펜 잉크는 상기 파수에서 피크를 보이지 않는다. 따라서 상술한 스펙트럼의 대조 방법 이외에, 상기 파수에서의 피크 발생 여부에 따라 인영과 서명의 선후관계를 판단할 수 있다. 즉, 상기 파수에서 피크가 발생하는 경우에는 인영이 서명 위에 날인된 것이고, 그렇지 않은 경우에는 서명이 인영 위에 기재된 것으로 판단할 수 있다. 이러한 특성은 볼펜 잉크의 성분 중 Triarylmethane Dye, 인주나 볼펜 잉크의 성분 중 피마자유(castor oil)의 하이드로카본(C-H) 결합에 의한 것이다.
도 7은 본 발명의 일 실시예에 따른 인주 및 서명 감식 방법을 설명하는 순서도이다.
도 7을 참조하면, 먼저 감식 대상 시료에서 인영 부분의 위치를 판단할 수 있다(S105). 예를 들어, 감식 대상 시료가 문서인 경우, 문서의 각 영역을 스캐닝하며 분광 스펙트럼을 측정하였을 때, 일반적인 인주 스펙트럼과 유사한 패턴을 보이는 영역 또는 다른 영역의 스펙트럼과 비교하여 차이가 큰 영역을 인영 부분으로 판단할 수 있다. 또는, 예를 들어, 문서의 각 영역을 광학적 스캐닝하며 도형, 문자, 숫자, 색깔 등을 인식하여 붉은 색의 원형 또는 사각형 등의 일반적인 인영 형태가 나타난 영역을 인영 부분으로 판단할 수도 있다.
다음으로 날인된 인영의 배경(예를 들어, 흰 종이 등)에 대하여 Micro ATR-FTIR 스펙트럼을 측정하고(S110), 도장이 날인된 인영 부분에 대하여 Micro ATR-FTIR 스펙트럼을 측정한 후(S120), 인영 부분의 스펙트럼으로부터 상기 배경의 스펙트럼을 제거하여 시료(인주) 스펙트럼을 구한다(S130).
이하에서 인주의 Micro ATR-FTIR 스펙트럼을 측정하는 과정(S110 내지 S130)을 상세히 설명한다. 기본 배경(background)이 되는 흰 종이의 ATR-FTIR 스펙트럼을 측정하고, 흰 종이에 날인된 인영의 인주를 ATR 아래에 두어 적외선(IR)이 흡수되도록 한다. 이때 측정되는 인주 스펙트럼에서 횐 종이의 스펙트럼을 제거한 것을 순수한 인주 스펙트럼으로 저장한다. 실험에서는 Micro ATR-FTIR 스펙트럼을 측정함에 있어서(S110, S120), 8 cm-1의 분해능을 갖는 분광기로 중간 적외선 주파수 범위 내인 600 ~ 4000 cm-1 주파수 범위를 측정하되, 각 스펙트럼 당 32번을 스캐닝하여 평균값으로 구하였다. 이때 사용되는 Micro ATR-FTIR 분광기는 현미경을 부착시켜 시료의 미세한 부분까지 측정이 가능하도록 할 수 있다.
다음으로 데이터베이스 또는 라이브러리의 검색 키(search key)로 사용할 시료(인주) 스펙트럼의 특징을 선택한다(S140). 이때, 시료 스펙트럼 전체 또는 일부 영역에 해당하는 패턴을 키로 선택할 수도 있고, 또는 시료 스펙트럼 상에서 미리 정해진 적어도 하나의 파수에 해당하는 적어도 하나의 투과율 값을 키(key)로 선택할 수도 있다.
그리고 선택된 키에 대하여 데이터베이스 또는 라이브러리 상에서 소정 값 이상의 동등성을 갖는 인주 샘플 스펙트럼을 검색한다(S150). 검색 시(S150) 피크가 발생하는 파수, 특정 파수에서의 피크 모양 또는 피크 강도를 중심으로 유사한 스펙트럼을 검색할 수 있다. 상기 데이터베이스 또는 상기 라이브러리는 시료 스펙트럼의 측정하는 과정과 동일하거나 유사한 방식으로 얻은 인주 샘플들의 스펙트럼들로부터 구축될 수 있다.
마지막으로, 검색된 결과(인주 샘플의 발견 여부, 발견된 인주 샘플의 출처 정보 등)를 출력한다(S160).
도 8은 본 발명의 일 실시예에 따른 인주 및 서명 감식 방법을 설명하는 순서도이다.
도 8을 참조하면, 먼저 감식 대상 시료에서 인영과 서명이 겹쳐 있는 부분의 위치를 판단할 수 있다(S205). 예를 들어, 감식 대상 시료가 문서인 경우, 문서의 각 영역을 스캐닝하며 분광 스펙트럼을 측정하였을 때, 일반적인 인주 스펙트럼과 유사한 패턴을 보이는 영역 또는 다른 영역의 스펙트럼과 비교하여 차이가 큰 영역을 인영과 서명이 겹쳐 있는 부분으로 판단할 수 있다. 또는, 예를 들어, 문서의 각 영역을 광학적 스캐닝하며 도형, 문자, 숫자, 색깔 등을 인식하여 붉은 색의 원형 또는 사각형 등의 일반적인 인영 형태가 나타난 영역을 인영과 서명이 겹쳐 있는 부분으로 판단할 수도 있다.
다음으로 날인된 인영 및 서명의 배경(예를 들어, 흰 종이 등)에 대하여 Micro ATR-FTIR 스펙트럼을 측정하고(S210), 인영과 서명이 겹쳐 있지 않은 부분 중 인영 부분의 스펙트럼을 측정하며(S220), 인영과 서명이 겹쳐 있지 않은 부분 중 서명 부분의 스펙트럼을 측정한다(S230). 그리고 인영과 서명이 겹쳐 있는 부분의 스펙트럼을 측정한다(S240).
본 발명의 일 실시예에 따른 인주 및 서명 감식 방법에서 Micro ATR-FTIR 스펙트럼을 측정하는 구체적인 방법에 대하여는 상기 본 발명의 일 실시예에 따른 인주 감식 방법에 대하여 도 7을 참조하여 설명한 바와 유사하게 이해될 수 있으므로 이하 설명을 생략한다.
다음으로 인영과 서명이 겹쳐 있지 않은 부분 중 인영 부분의 스펙트럼에서 배경의 스펙트럼을 제거하여 인주 스펙트럼을 구하고(S250), 인영과 서명이 겹쳐 있지 않은 부분 중 서명 부분의 스펙트럼에서 배경의 스펙트럼을 제거하여 잉크 스펙트럼을 구하며(S260), 인영과 서명이 겹쳐 있는 부분의 스펙트럼에서 배경의 스펙트럼을 제거하여 확인 대상 스펙트럼을 구한다(S270).
다음으로 확인 대상 스펙트럼을 인주 스펙트럼 또는 잉크 스펙트럼과 비교하여 동등성 값 또는 유사도가 높은 스펙트럼을 판단하고(S280), 그 결과에 기초하여 날인과 서명의 선후관계를 판단한다(S290).
본 발명의 일 실시예에 따른 인주 및 서명 감식 방법에서 날인된 인영과 기재된 서명의 선후관계를 판단하는 방법에 대하여는 상기 본 발명의 일 실시예에 따른 인주 및 서명 감식 방법에 대하여 도 4 내지 도 6을 참조하여 설명한 바와 유사하게 이해될 수 있으므로 이하 설명을 생략한다.
이상 실시예를 참조하여 설명하였지만, 해당 기술분야의 숙련된 당업자는 하기의 특허 청구의 범위에 기재된 본 발명의 사상 및 영역으로부터 벗어나지 않는 범위 내에서 본 발명을 다양하게 수정 및 변경시킬 수 있음을 이해할 수 있을 것이다.

Claims (15)

  1. 인영(印影)의 배경에 대하여 분광 스펙트럼을 측정하는 단계;
    날인된 인영 부분에 대하여 분광 스펙트럼을 측정하는 단계;
    상기 인영 부분의 분광 스펙트럼으로부터 상기 배경의 분광 스펙트럼을 제거하여 인주(印朱)의 분광 스펙트럼을 구하는 단계;
    상기 인주의 분광 스펙트럼에서 검색 키로 사용할 특징을 선택하는 단계;
    인주 샘플 스펙트럼 데이터베이스에서 상기 검색 키에 대하여 미리 정해진 값 이상의 동등성 조건을 만족하는 인주 샘플 스펙트럼을 검색하는 단계; 및
    검색된 결과에 기반하여 상기 동등성 조건을 만족하는 인주 샘플의 발견 여부 및 발견된 인주 샘플의 출처 정보를 출력하는 단계를 포함하되,
    상기 분광 스펙트럼은 마이크로 감쇄 전반사 퓨리에 변환 적외선 분광분석(attenuated total reflectance-Fourier transform infrared spectroscopy; Micro ATR-FTIR) 스펙트럼인 것을 특징으로 하는 인주 감식 방법.
  2. 제1항에 있어서,
    감식 대상 시료에서 상기 인영 부분의 위치를 판단하는 단계를 더 포함하는 인주 감식 방법.
  3. 제2항에 있어서,
    상기 판단하는 단계는, 분광 스펙트럼 패턴 매칭을 통하여 상기 인영 부분의 위치를 판단하거나, 인영 형태 패턴 매칭을 통하여 상기 인영 부분의 위치를 판단하는 것을 특징으로 하는 인주 감식 방법.
  4. 제1항에 있어서,
    상기 검색 키로 사용할 상기 특징은 상기 인주의 분광 스펙트럼 전체 패턴 또는 상기 인주의 분광 스펙트럼의 일부 영역의 패턴인 것을 특징으로 하는 인주 감식 방법.
  5. 제1항에 있어서,
    상기 검색 키로 사용할 상기 특징은 상기 인주의 분광 스펙트럼 전체 패턴 또는 상기 인주의 분광 스펙트럼의 일부 영역의 패턴인 것을 특징으로 하는 인주 감식 방법.
  6. 제5항에 있어서,
    상기 인주의 분광 스펙트럼의 일부 영역은 660 ~ 1750 cm-1 파수 영역 또는 2850 ~ 2900 cm-1 파수 영역인 것을 특징으로 하는 인주 감식 방법.
  7. 제1항에 있어서,
    상기 검색 키로 사용할 상기 특징은 상기 인주의 분광 스펙트럼에서의 적어도 하나의 파수(wavenumber) 및 상기 적어도 하나의 파수에 대응하는 적어도 하나의 투과율 값인 것을 특징으로 하는 인주 감식 방법.
  8. 제1항에 있어서,
    현미경을 이용하여 상기 배경 또는 상기 인영의 분광 스펙트럼을 측정하는 것을 특징으로 하는 인주 감식 방법.
  9. 인영(印影) 및 서명(署名)의 배경의 분광 스펙트럼, 상기 인영과 상기 서명이 겹쳐 있지 않은 부분 중 상기 인영 부분의 분광 스펙트럼, 상기 인영과 상기 서명이 겹쳐 있지 않은 부분 중 상기 서명 부분의 분광 스펙트럼 및 상기 인영과 상기 서명이 겹쳐 있는 부분의 분광 스펙트럼을 측정하는 단계;
    상기 인영과 상기 서명이 겹쳐 있지 않은 부분 중 상기 인영 부분의 분광 스펙트럼으로부터 상기 배경의 분광 스펙트럼을 제거하여 인주(印朱)의 분광 스펙트럼을 구하는 단계;
    상기 인영과 상기 서명이 겹쳐 있지 않은 부분 중 상기 서명 부분의 분광 스펙트럼으로부터 상기 배경의 분광 스펙트럼을 제거하여 서명 잉크의 분광 스펙트럼을 구하는 단계;
    상기 인영과 상기 서명이 겹쳐 있는 부분에서 상기 배경의 분광 스펙트럼을 제거하여 확인 대상의 분광 스펙트럼을 구하는 단계;
    상기 확인 대상의 분광 스펙트럼을 상기 인주의 분광 스펙트럼 및 상기 서명 잉크의 분광 스펙트럼 중 적어도 하나와 비교하여 동등성 높은 분광 스펙트럼을 판단하는 단계; 및
    상기 판단한 결과에 기반하여 인영과 서명의 선후관계를 판단하는 단계를 포함하는 인주 및 서명 감식 방법.
  10. 제9항에 있어서,
    감식 대상 시료에서 상기 인영과 상기 서명이 겹쳐 있는 부분의 위치를 판단하는 단계를 더 포함하는 인주 및 서명 감식 방법.
  11. 제10항에 있어서,
    상기 판단하는 단계는, 분광 스펙트럼 패턴 매칭을 통하여 상기 인영과 상기 서명이 겹쳐 있는 부분의 위치를 판단하거나, 인영 형태 패턴 매칭을 통하여 상기 인영과 상기 서명이 겹쳐 있는 부분의 위치를 판단하는 것을 특징으로 하는 인주 감식 방법.
  12. 제9항에 있어서,
    상기 동등성 높은 분광 스펙트럼을 판단하는 단계는, 분광 스펙트럼에서의 적어도 하나의 파수(wavenumber) 및 상기 적어도 하나의 파수에 대응하는 적어도 하나의 투과율 값에 대하여, 상기 확인 대상의 분광 스펙트럼을 상기 인주의 분광 스펙트럼 및 상기 서명 잉크의 분광 스펙트럼 중 적어도 하나와 비교하는 것을 특징으로 하는 인주 및 서명 감식 방법.
  13. 제9항에 있어서,
    상기 동등성 높은 분광 스펙트럼을 판단하는 단계는, 상기 확인 대상의 분광 스펙트럼이 1585 cm-1, 1170 cm-1, 2928 cm-1 또는 2856 cm-1 파수에서 투과율 피크값을 보이는 경우에는 상기 투과율의 수치적인 유사도를 근거로 상기 인주의 분광 스펙트럼과 동등성이 높은 것으로 판단하고,
    상기 확인 대상의 분광 스펙트럼이 1585 cm-1, 1170 cm-1, 2928 cm-1 및 2856 cm-1 파수에서 투과율 피크값을 보이지 않는 경우에는 상기 투과율의 수치적인 유사도를 근거로 상기 서명 잉크의 분광 스펙트럼과 동등성이 높은 것으로 판단하는 것을 특징으로 하는 인주 및 서명 감식 방법.
  14. 제13항에 있어서,
    상기 선후관계를 판단하는 단계는, 상기 확인 대상의 분광 스펙트럼이 상기 인주의 분광 스펙트럼과 동등성이 높은 경우에는 상기 서명이 기재된 후 상기 인영에 대한 날인이 있었던 것으로, 상기 확인 대상의 분광 스펙트럼이 상기 서명 잉크의 분광 스펙트럼과 동등성이 높은 경우에는 상기 인영에 대한 날인이 있은 후 상기 서명이 기재된 것으로 판단하는 것을 특징으로 하는 인주 및 서명 감식 방법.
  15. 제9항에 있어서,
    상기 분광 스펙트럼은 마이크로 감쇄 전반사 퓨리에 변환 적외선 분광분석(attenuated total reflectance-Fourier transform infrared spectroscopy; Micro ATR-FTIR) 스펙트럼인 것을 특징으로 하는 인주 및 서명 감식 방법.
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