KR101059953B1 - 평면 형상 변형 인식 시스템과 이의 신호처리 방법 - Google Patents

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Abstract

평면 형상 변형 인식 방법은 자계 생성 모듈 구동 제어부에 의하여 제어된 다수의 자계 생성 모듈들에 의하여 생성된 자계들에 따라, 자기장 센서로부터 출력된 다수의 감지 신호들을 수신하는 단계, 상기 다수의 감지 신호들을 주파수 영역의 이종의 신호로 분해하는 단계, 상기 감지된 이종의 신호들의 패턴을 분석하는 단계, 기준 패턴과 분석된 패턴을 비교하는 단계, 및 상기 비교 결과에 따라 평면 형상의 변형을 인식하고 그 인식 결과에 상응하는 인식 신호를 생성하여 출력하는 단계를 포함한다.

Description

평면 형상 변형 인식 시스템과 이의 신호처리 방법{System for recognnizing plane figure deformation and its method of signal processing}
본 발명의 개념에 따른 실시 예는 변형 인식 기술에 관한 것으로, 특히 유연성 있는 평면의 변형을 인식할 수 있는 방법과 그 시스템에 관한 것이다.
입력 장치는 컴퓨터 또는 전자 기기를 동작시키기 위한 수단으로서 사용된다. 상기 입력 장치의 대표적인 예로서 키보드 또는 마우스가 있다. 상기 컴퓨터 또는 상기 전자 기기로 문자 또는 그림을 입력하기 위한 수단으로서, 상기 키보드 또는 상기 마우스가 사용된다. 최근에는 터치 방식을 이용할 수 있는 입력 장치, 예컨대 터치 스크린 등이 개발되었다. 그러나, 이러한 터치 방식은 사용자의 행위 또는 제스처를 스스로 확인할 수 있는 방법은 아니다.
따라서 본 발명이 이루고자 하는 기술적인 과제는 사용자의 행위 또는 제스처에 의한 평면 형상의 변형을 정확하게 인식하고 인식 결과에 따라 다음 프로세스를 진행할 수 있는 평면 형상의 변형을 인식할 수 있는 시스템과 그 방법을 제공하는 것이다.
본 발명의 실시 예에 따른 평면 형상 변형 인식 방법은 자계 생성 모듈 구동 제어부에 의하여 제어된 다수의 자계 생성 모듈들에 의하여 생성된 자계들에 따라, 자기장 센서로부터 출력된 다수의 감지 신호들을 수신하는 단계; 상기 다수의 감지 신호들을 주파수 영역의 이종의 신호로 분해하는 단계, 상기 감지된 이종의 신호들의 패턴을 분석하는 단계, 기준 패턴들 각각과 분석된 패턴을 비교하는 단계; 및 상기 비교 결과에 따라 평면 형상의 변형을 인식하고 그 인식 결과에 상응하는 인식 신호를 생성하여 출력하는 단계를 포함한다.
본 발명의 실시 예에 따른 평면 형상 변형 인식 시스템은 다수의 자계 생성 모듈들, 상기 다수의 자계 생성 모듈들 각각의 동작을 제어하기 위한 자계생성모듈 구동제어회로; 상기 다수의 자계 생성 모듈들 각각으로부터 출력된 자계를 검출하기 위한 자기장 센서, 및 상기 자기장 센서로부터 순차적으로 출력된 다수의 검출 신호들에 기초하여 자기장 패턴을 생성하고, 상기 자기장 패턴과 기준 패턴들 각각을 비교하고, 비교 결과에 따라 평면 형상의 변형을 인식하고 그 인식 결과에 상응하는 인식 신호를 생성하여 출력하기 위한 프로세서를 포함한다.
상기 프로세서는 상기 다수의 검출 신호를 수신하여 시간 또는 주파수 영역의 이종의 신호로 분해하여 그에 따른 자기장 패턴을 형성하는 신호 처리회로; 상기 자기장 패턴을 기준 패턴과 비교하여 해석하고, 해석결과에 상응하는 해석 신호를 출력하는 패턴 해석회로, 및 상기 해석신호에 응답하여 사용자의 행위 또는 제스처를 인식하고 인식된 행위에 따른 인식 신호를 출력하는 제스처 인식회로를 포함한다.
상기 평면 형상의 변형을 인식할 수 있는 시스템은 자계를 생성하기 위한 다수의 자계 생성 모듈들, 상기 각 자계 생성 모듈에 의하여 생성된 자계를 검출하여 그에 따른 검출 신호를 출력하기 위한 자기장 센서, 및 상기 자기장 센서로부터 출력된 검출 신호로부터 상기 자계의 패턴을 분석하고, 분석 결과에 기초하여 상기 평면 형상의 변형을 인식하고, 인식 결과에 상응하는 인식 신호를 출력하기 위한 프로세서를 포함한다.
상기 시스템이 디스플레이 시스템인 경우, 상기 디스플레이 시스템은, 이미지를 디스플레이할 수 있는 디스플레이 패널, 및 상기 디스플레이 채널로 동작 전원을 공급할 수 있는 전원 공급 장치를 더 포함하고, 상기 전원 공급 장치는 상기 인식 신호에 응답하여 상기 디스플레이 패널로 상기 동작 전원을 공급하거나 차단하는 평면 형상의 변형을 인식할 수 있다.
상기 평면 형상의 변형을 인식할 수 있는 시스템은 프로그램을 저장하기 위한 메모리, 및 상기 메모리에 저장된 상기 프로그램을 실행시기 위한 프로세서를 포함하며, 상기 프로세서는, 다수의 자계 생성 모듈들에 의하여 생성된 자계들에 따라, 자기장 센서로부터 출력된 다수의 감지 신호들을 수신하고, 상기 수신된 감지 신호들의 패턴을 분석하고, 기준 패턴들 각각과 분석된 패턴을 비교하여 해석하고, 상기 비교 해석 결과에 따라 평면 형상의 변형을 인식하고, 그 인식 결과에 상응하는 인식 신호를 생성하여 출력한다.
본 발명의 실시 예에 따른 평면 형상의 변형을 인식할 수 있는 시스템과 그 방법은 자기장 센서들을 이용하여 사용자에 의한 평면 형상의 변형을 정확하게 인식할 수 있는 효과가 있다.
본 발명의 상세한 설명에서 인용되는 도면을 보다 충분히 이해하기 위하여 각 도면의 상세한 설명이 제공된다.
도 1은 본 발명의 실시 예에 따른 평면 형상의 변형을 인식할 수 있는 시스템의 블락도를 나타낸다.
도 2는 사용자의 행위에 따라 평면 형상이 변형된 경우의 일 예를 나타낸다.
도 3은 사용자의 행위에 따라 평면 형상이 변형된 경우의 다른 예를 나타낸다.
도 4는 도 1에 도시된 프로세서의 내부 블락도를 나타낸다.
도 5는 본 발명의 실시 예에 따른 평면 형상의 변형을 인식할 수 있는 방법을 설명하기 위한 흐름도이다.
본 명세서 또는 출원에 개시되어 있는 본 발명의 개념에 따른 실시 예들에 대해서 특정한 구조적 내지 기능적 설명들은 단지 본 발명의 개념에 따른 실시 예를 설명하기 위한 목적으로 예시된 것으로, 본 발명의 개념에 따른 실시 예들은 다양한 형태로 실시될 수 있으며 본 명세서 또는 출원에 설명된 실시 예들에 한정되는 것으로 해석되어서는 아니된다.
본 발명의 개념에 따른 실시 예는 다양한 변경을 가할 수 있고 여러 가지 형태를 가질 수 있으므로 특정 실시 예들을 도면에 예시하고 본 명세서 또는 출원에 상세하게 설명하고자 한다. 그러나, 이는 본 발명의 개념에 따른 실시 예을 특정한 개시 형태에 대해 한정하려는 것이 아니며, 본 발명의 사상 및 기술 범위에 포함되는 모든 변경, 균등물 내지 대체물을 포함하는 것으로 이해되어야 한다.
제1 및/또는 제2 등의 용어는 다양한 구성 요소들을 설명하는데 사용될 수 있지만, 상기 구성 요소들은 상기 용어들에 의해 한정되어서는 안 된다. 상기 용어들은 하나의 구성 요소를 다른 구성 요소로부터 구별하는 목적으로만, 예컨대 본 발명의 개념에 따른 권리 범위로부터 이탈되지 않은 채, 제1 구성요소는 제2 구성요소로 명명될 수 있고, 유사하게 제2 구성요소는 제1 구성요소로도 명명될 수 있다.
어떤 구성요소가 다른 구성요소에 "연결되어" 있다거나 "접속되어" 있다고 언급된 때에는, 그 다른 구성요소에 직접적으로 연결되어 있거나 또는 접속되어 있을 수도 있지만, 중간에 다른 구성요소가 존재할 수도 있다고 이해되어야 할 것이다. 반면에, 어떤 구성요소가 다른 구성요소에 "직접 연결되어" 있다거나 "직접 접속되어" 있다고 언급된 때에는, 중간에 다른 구성요소가 존재하지 않는 것으로 이해되어야 할 것이다. 구성요소들 간의 관계를 설명하는 다른 표현들, 즉 "~사이에"와 "바로 ~사이에" 또는 "~에 이웃하는"과 "~에 직접 이웃하는" 등도 마찬가지로 해석되어야 한다.
본 명세서에서 사용한 용어는 단지 특정한 실시 예를 설명하기 위해 사용된 것으로, 본 발명을 한정하려는 의도가 아니다. 단수의 표현은 문맥상 명백하게 다르게 뜻하지 않는 한, 다수의표현을 포함한다. 본 명세서에서, "포함하다" 또는 "가지다" 등의 용어는 설시된 특징, 숫자, 단계, 동작, 구성요소, 부분품 또는 이들을 조합한 것이 존재함을 지정하려는 것이지, 하나 또는 그 이상의 다른 특징들이나 숫자, 단계, 동작, 구성요소, 부분품 또는 이들을 조합한 것들의 존재 또는 부가 가능성을 미리 배제하지 않는 것으로 이해되어야 한다.
다르게 정의되지 않는 한, 기술적이거나 과학적인 용어를 포함해서 여기서 사용되는 모든 용어들은 본 발명이 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자에 의해 일반적으로 이해되는 것과 동일한 의미를 가지고 있다. 일반적으로 사용되는 사전에 정의되어 있는 것과 같은 용어들은 관련 기술의 문맥상 가지는 의미와 일치하는 의미를 가지는 것으로 해석되어야 하며, 본 명세서에서 명백하게 정의하지 않는 한, 이상적이거나 과도하게 형식적인 의미로 해석되지 않는다.
이하, 첨부한 도면을 참조하여 본 발명의 바람직한 실시 예를 설명함으로써, 본 발명을 상세히 설명한다.
도 1은 본 발명의 실시 예에 따른 평면 형상의 변형을 인식할 수 있는 시스템의 블락도를 나타낸다.
도 1을 참조하면, 평면 형상의 변형을 인식할 수 있는 시스템(이하, '평면 형상 변형 인식 시스템'이라 한다; 10)은 다수의 자계 생성 모듈들(11), 다수의 자계 생성 모듈들 각각을 TDMA(time division multiple access) 방식 또는 FDMA(frequency division multiple access) 방식으로 제어할 수 있는 자계 생성 모듈 구동 제어부(12), 자기장 센서(13), 및 프로세서(15)를 포함한다. 프로세서(15)는 자계 생성 모듈 구동 제어부(12)의 동작을 제어할 수 있다.
평면 형상 변형 인식 시스템(10)은 탄력적인 디스플레이 장치(flexible display device) 또는 게임 컨트롤러(game controller)로 구현될 수 있다.
예컨대, 평면 형상 변형 인식 시스템(10)이 탄력적인 디스플레이 장치로 구현될 때, 다수의 자계 생성 모듈들(11), 자기장 센서(13), 및 프로세서(15)는 상기 디스플레이 장치의 패널(미도시)의 하부에 구현될 수 있다. 즉, 상기 디스플레이 장치의 패널과 다수의 자계 생성 모듈들(11), 자기장 센서(13), 및 프로세서(15)는 하나의 평면 형상 변형 인식 시스템(10)을 구성할 수 있다.
다수의 자계 생성 모듈들(11) 각각은 자계(magnetic field)를 생성한다.
실시 예에 따라, 다수의 자계 생성 모듈들(11) 각각은 솔레노이드 코일 (solenoid coil)로 구현될 수 있다. 다수의 자계 생성 모듈들(11) 각각이 TDMA 방식 또는 FDMA 방식으로 서로 다른 자계 신호를 생성하도록 자계 생성 모듈 구동 제어부(12)는 자계 생성 모듈을 제어 및 구동한다.
실시 예에 따라, 자계 생성 모듈 구동 제어부(12)는 다수의 자계 생성 모듈들(11)을 서로 중첩되지 않은 서로 다른 시간에 구동하거나, 서로 중첩되지 않는 서로 다른 주파수 대역에서 구동할 수 있다.
자기장 센서(13)는 다수의 자계 생성 모듈들(11) 각각에 의하여 TDMA 방식 또는 FDMA 방식에 따라 생성된 자기장의 강도, 예컨대 다수의 자계 생성 모듈들 (11)이 존재하는 현재 위치에서의 자기 밀도 및/또는 자기장의 방향을 감지(또는, 측정)하고 그 결과에 상응하는 감지 신호를 출력할 수 있다.
자기장 센서(13)의 자기장 측정 범위(예컨대, Gauss로 표현됨) 또는 자기장 분해능((예컨대, Gauss로 표현됨)은 실시 예에 따라 다양하게 조절 또는 변경될 수 있다. 예컨대, 자기장 센서(13)는 TDMA 방식 또는 FDMA 방식에 따라 다수의 자계 생성 모듈들(11) 각각으로부터 출력된 자기장의 강도 또는 자기장의 밀도에 상응하는 신호를 생성할 수 있다. 자기장 센서(13)로부터 출력되는 신호는 서로 다른 시간에 다수의 자계 생성 모듈들(11)로부터 출력된 신호들의 합에 상응하는 신호 또는 서로 다른 주파수를 갖는 다수의 자계 생성 모듈들(11)로부터 출력된 신호들의 합에 상응하는 신호일 수 있다.
프로세서(15)는 자기장 센서(13)로부터 출력된 감지 신호를 수신하고, 수신된 감지 신호를 서로 다른 복수의 신호들로 분해할 수 있다. 실시 예에 따라, 프로세서(15)는 서로 다른 시간을 기준으로 신호를 분해하거나, 서로 다른 주파수를 기준으로 신호를 분해할 수 있다. 감지된 신호에 기초하여 자기장의 패턴들 또는 상기 자기장의 강도들에 대한 패턴을 분석하고, 분석 결과에 기초하여 평면 형상이 어떻게 변형되었는지를 인식하고, 그 인식 결과에 상응하는 인식 신호를 출력할 수 있다. 상기 인식 신호는 다른 장치들(17과 19)의 입력 신호로서 사용될 수 있다.
평면 형상 변형 인식 시스템(10)이 평면 형상의 디스플레이 시스템인 경우, 상기 디스플레이 시스템은 이미지를 디스플레이할 수 있는 디스플레이 패널과, 상기 디스플레이 채널로 동작 전원을 공급할 수 있는 전원 공급 장치(17)를 더 포함할 수 있다.
전원 공급 장치(17)는 상기 인식 신호에 응답하여 상기 디스플레이 패널로 상기 동작 전원을 공급하거나 차단할 수 있다.
평면 형상 변형 인식 시스템(10)은 상기 인식 신호에 응답하여 동작하는 주변 회로(19)를 더 포함할 수 있다. 주변 회로(19)는 입출력 장치, 무선 통신 인터페이스, 또는 신호 처리 프로세서일 수 있다.
프로세서(15)는 평면 형상의 변형을 인식하기 위한 다수의 기준 패턴들을 저장할 수 있는 메모리 또는 룩-업 테이블을 포함할 수 있다. 실시 예에 따라 상기 다수의 기준 패턴들은 프로세서(15)의 외부에 구현된 별도의 메모리 장치에 저장될 수 있다. 상기 메모리 장치는 EEPROM, 플래시 메모리, PRAM, 또는 RRAM 등과 같은 비휘발성 메모리 장치로 구현될 수 있다.
상기 다수의 기준 패턴들은 평면 형상 변형 인식 시스템(10)의 3차원적 변형에 따른 실험적인 패턴들일 수 있다. 예컨대, 상기 다수의 기준 패턴들 각각은, 평면 형상 변형 인식 시스템(10)이 3차원적, 예컨대 X-축, Y-축, 또는 Z-축 중에서 어느 하나의 축을 따라 변형될 때마다, 자기장 센서(13)에 의하여 측정 또는 감지된 자기 밀도 및/또는 자기장의 방향에 따른 자기장의 패턴 또는 상기 자기장의 강도의 패턴을 분석한 결과값일 수 있다.
도 2는 사용자의 행위에 따라 평면 형상이 변형된 경우의 일 예를 나타낸다.
도 1과 도 2를 참조하면, 사용자가 평면 형상 변형 인식 시스템(10)을 접었을 경우, 프로세서(15)는 자기장 센서(13)로부터 출력된 감지 신호를 수신한다. 프로세서(15)는 수신한 감지 신호를 시간별로 또는 주파수 별로 분해하고, 분해된 신호들에 기초하여 다수의 자계 생성 모듈들(11)로부터 출력된 현재의 자기장 패턴을 생성한다. 그리고 나서, 다수의 기준 패턴들 각각과 생성된 자기장 패턴을 서로 비교 분석하고, 비교 분석 결과에 따라 평면 형상의 변형을 인식하고, 그 인식 결과에 상응하는 인식 신호를 출력할 수 있다.
상술한 바와 같이, 평면 형상 변형 인식 시스템(10)이 평면 형상 디스플레이 시스템인 경우, 전원 공급 장치(17)는 상기 인식 신호에 응답하여 상기 디스플레이 패널로 공급되는 동작 전원을 차단할 수 있다. 상기 인식 신호는 평면 형상 변형 인식 시스템(10)에 구현된 회로들 각각의 제어 신호로 사용될 수 있다.
도 3은 사용자의 행위에 따라 평면 형상이 변형된 경우의 다른 예를 나타낸다.
도 1과 도 3을 참조하면, 사용자가 평면 형상 변형 인식 시스템(10)을 특정한 각도(θ) 이하로 접거나 또는 상기 특정한 각도(θ) 이상으로 펼치는 경우, 프로세서(15)는 자기장 센서(13)로부터 출력된 감지 신호를 수신한다. 수신된 감지 신호는 도 4의 신호 처리 회로(20) 내의 DFT(Discrete Fourier transform) 회로 (30)에 의하여 시간 영역의 신호들로부터 주파수 영역의 신호들, 즉 이종의 신호들로 변환된다.
이때, 프로세서(15)는 상기 이종의 신호들에 기초하여 변형된 자기장의 패턴을 생성하고, 룩업 테이블(미 도시)에 저장된 다수의 기준 패턴들 각각과 생성된 자기장 패턴을 비교 분석하고, 비교 분석 결과에 기초하여 평면 형상의 변형을 인식하고 그 인식 결과에 상응하는 인식 신호를 출력할 수 있다.
상술한 바와 같이, 평면 형상 변형 인식 시스템(10)이 평면 형상 디스플레이 시스템인 경우, 사용자가 평면 형상 변형 인식 시스템(10)을 특정한 각도, 예컨대 45도 이하로 접을 때, 전원 공급 장치(17)는 프로세서(15)로부터 출력된 인식 신호에 응답하여 상기 디스플레이 패널로 공급되는 동작 전원을 차단할 수 있다.
이와 반대로 사용자가 평면 형상 변형 인식 시스템(10)을 45도 이상으로 펼쳤을 때, 전원 공급 장치(17)는 프로세서(15)로부터 출력된 인식 신호에 응답하여 상기 디스플레이 패널로 동작 전원을 다시 공급할 수 있다.
즉, 프로세서(15)는 평면 형상 변형 인식 시스템(10)이 특정한 각도, 예컨대 45도로 접혔을 때 다수의 자계 생성 모듈들(11)로부터 생성되는 자계를 감지하여 그에 따른 감지 신호들을 수신하여 그에 기초한 자기장의 패턴을 생성한다. 이후, 생성된 자기장 패턴과 기준 패턴들 각각을 비교하여 평면 형상 변형 인식 시스템(10)이 특정한 각도, 예컨대 45도로 접혔음을 인식할 수 있다.
도 4는 도 1에 도시된 프로세서의 내부 블락도를 나타낸다.
도 1과 도 4를 참조하면, 프로세서(15)는 신호 처리부(20), 패턴 해석부 (22), 및 제스처 인식부(24)를 포함할 수 있다.
신호 처리회로(20)는 다수의 자기장 센서들(13)로부터 출력된 감지 신호를 수신하고, 수신된 감지 신호를 TDMA 방식 또는 FDMA 방식에 따라 이종의 신호들로 분해하고, 분해된 이종의 신호들을 포함하는 자기장의 패턴을 생성한다.
보다 구체적으로, 신호 처리 회로(20)는 DFT(Discrete Fourier transform) 회로(30), ADC(Analog digital converter; 31)를 포함한다.
DFT 회로(30)는 자기장 센서(13)에서 출력된 감지 신호, 즉 시간 도메인 영역의 신호들을 주파수 도메인 영역의 신호들로 변환하여 이종 신호들로 출력한다.
즉, DFT 회로(30)는 시간 영역에서 주파수 영역으로의 신호 변환을 거쳐 트랜스폼 코딩(transform Coding)을 실시한다. 트랜스폼 코딩을 하는 이유는 샘플들 간의 연관성(correlation)을 이용하려는 것이고, 또는 서로 연관된 샘플들 사이의 정보를 서로 독립적인 계수로 변환하려는 것이다.
따라서, 평면 형상 변형 인식 시스템(10)에서 자기장 센서(13)로부터 출력되는 감지 신호는 동일한 형태의 일정한 진폭의 정현파의 형태로 출력되며, 각 자계 생성 모듈의 위치 또는 각 자계 생성 모듈로부터 출력되는 자계의 크기에 따른 특성을 시간 영역이 아닌 주파수 영역으로 구분하여 동일한 주파수 패턴 영역으로 그룹화함으로서 보다 손쉽게 데이터 처리한다.
ADC 회로(31)는 DFT 회로(30)로부터 출력되는 다수의 이종 신호들 각각을 디지털 코드로 변환하며 변환된 디지털 코드를 패턴 해석 회로(22)로 출력한다.
패턴 해석 회로(22)는 다수의 기준 패턴들 각각에 기초하여 신호 처리 회로 (20)에 의하여 디지털 코드로 변환된 자기장의 패턴을 비교하여 해석하고, 해석 결과에 상응하는 해석 신호를 제스처 인식 회로(24)로 출력한다. 패턴 해석 회로(22)는 상기 다수의 기준 패턴들을 저장하기 위한 메모리를 포함할 수 있으며, 상기 다수의 기준 패턴들은 룩업 테이블로 이루어질 수 있다. 실시 예에 따라 상기 메모리는 패턴 해석 회로(22)의 외부에 구현될 수도 있다.
제스처 인식 회로(24)는 패턴 해석 회로(22)로부터 출력된 해석 신호에 응답하여 사용자의 행위 또는 제스처를 인식하고 인식된 행위 따른 인식 신호를 출력한다.
패턴 해석 회로(22)와 제스처 인식 회로(24)는 하드웨어로 구현될 수도 있고, 소프트웨어 또는 펌웨어를 실행시키기 위한 펌웨어를 내장한 하드웨어, 예컨대 마이크로프로세서로 구현될 수 있다.
도 5는 본 발명의 실시 예에 따른 평면 형상의 변형을 인식할 수 있는 방법을 설명하기 위한 흐름도이다.
도 1부터 도 5를 참조하여 평면 형상 변형 인식 시스템(10)의 동작을 상세히 설명하면 다음과 같다.
자계 생성 모듈 구동제어부(12)로부터 TDMA 방식 또는 FDMA 방식으로 출력되는 인에이블 신호에 따라 구동되는 다수의 자계 생성 모듈들(11) 각각은 서로 다른 크기의 자계를 생성할 수 있다.
평면 형상 변형 인식 시스템(10) 내의 자기장 센서(13)는 다수의 자계 생성 모듈들(11) 각각으로부터 TDMA 방식 또는 FDMA 방식에 따라 생성된 자계들을 감지하고 감지 결과에 따른 감지 신호를 출력한다.
사용자에 의하여 평면 형상 변형 인식 시스템(10)의 평면 형상이 변형되면, 자기장 센서(13)는 상기 평면 형상이 변형된 부분에 위치하는 각 자계 생성 모듈 (11)에 의하여 변형된 또는 생성된 자기장의 세기 또는 자기장의 방향을 감지하고 감지 결과에 따른 감지 신호를 출력한다.
따라서, 프로세서(15)는 자기장 센서(13)로부터 출력된 감지 신호를 수신한다(S10). 프로세서(15)는 수신된 감지 신호에 포함된 각 신호 성분, 예컨대 시간 차를 갖는 신호들 또는 서로 다른 주파수를 갖는 신호들을 분해하고 분해 결과에 상응하는 패턴을 생성한다. 프로세서(15)는 다수의 패턴들 각각에 따라 생성된 패턴을 분석한다(S30).
프로세서(15)는 다수의 기준 패턴들 각각과 분석 패턴을 서로 비교하여 해석한다(S40). 그리고 프로세서(15)는 상기 비교 해석 결과에 따라 평면 형상의 변형을 인식하고 인식 결과에 상응하는 인식 신호를 생성하여 출력한다(S50).
평면 형상의 변형이란 최초로 설정된 평면 형상이 사용자의 행위에 의하여 접히거나 펼쳐지거나 또는 수평면을 기준으로 평면 형상의 일부가 상기 수평면과 특정한 각도 이상을 갖는 경우 등을 포함한다.
프로세서(15)는 연속적인 시간 동안 생성된 각 인식 신호에 따라 사용자의 행위를 인식할 수 있다.
본 발명은 도면에 도시된 일 실시 예를 참고로 설명되었으나 이는 예시적인 것에 불과하며, 본 기술 분야의 통상의 지식을 가진 자라면 이로부터 다양한 변형 및 균등한 타 실시 예가 가능하다는 점을 이해할 것이다. 따라서, 본 발명의 진정한 기술적 보호 범위는 첨부된 등록청구범위의 기술적 사상에 의해 정해져야 할 것이다.
11: 자계 생성 모듈
13: 자기장 센서
15: 프로세서
20: 신호 처리회로
22: 패턴 해석회로
24: 제스처 인식회로

Claims (6)

  1. 자계 생성 모듈 구동 제어부에 의하여 제어된 다수의 자계 생성 모듈들에 의하여 생성된 자계들에 따라, 자기장 센서로부터 출력된 다수의 감지 신호들을 수신하는 단계;
    상기 다수의 감지 신호들을 주파수 영역의 이종의 신호로 분해하는 단계;
    상기 감지된 이종의 신호들의 패턴을 분석하는 단계;
    기준 패턴들 각각과 분석된 패턴을 비교하는 단계; 및
    상기 비교 결과에 따라 평면 형상의 변형을 인식하고 그 인식 결과에 상응하는 인식 신호를 생성하여 출력하는 단계를 포함하는 평면 형상 변형 인식 방법.
  2. 다수의 자계 생성 모듈들;
    상기 다수의 자계 생성 모듈들 각각의 동작을 제어하기 위한 자계생성모듈 구동제어회로;
    상기 다수의 자계 생성 모듈들 각각으로부터 출력된 자계를 검출하기 위한 자기장 센서; 및
    상기 자기장 센서로부터 순차적으로 출력된 다수의 검출 신호들에 기초하여 자기장 패턴을 생성하고, 상기 자기장 패턴과 기준 패턴들 각각을 비교하고, 비교 결과에 따라 평면 형상의 변형을 인식하고 그 인식 결과에 상응하는 인식 신호를 생성하여 출력하기 위한 프로세서를 포함하는 평면 형상 변형 인식 시스템.
  3. 제2항에 있어서, 상기 프로세서는 상기 다수의 검출 신호를 수신하여 시간 또는 주파수 영역의 이종의 신호로 분해하여 그에 따른 자기장 패턴을 형성하는 신호 처리회로;
    상기 자기장 패턴을 기준 패턴과 비교하여 해석하고, 해석결과에 상응하는 해석 신호를 출력하는 패턴 해석회로; 및
    상기 해석신호에 응답하여 사용자의 행위 또는 제스처를 인식하고 인식된 행위에 따른 인식 신호를 출력하는 제스처 인식회로를 포함하는 평면 형상 변형 인식 시스템.
  4. 평면 형상 변형 인식 시스템에 있어서,
    자계를 생성하기 위한 다수의 자계 생성 모듈들;
    상기 각 자계 생성 모듈에 의하여 생성된 자계를 검출하여 그에 따른 검출 신호를 출력하기 위한 자기장 센서; 및
    상기 자기장 센서로부터 출력된 검출 신호로부터 상기 자계의 패턴을 분석하고, 분석 결과에 기초하여 상기 평면 형상의 변형을 인식하고, 인식 결과에 상응하는 인식 신호를 출력하기 위한 프로세서를 포함하는 평면 형상의 변형 인식 시스템.
  5. 제4항에 있어서,
    상기 시스템이 디스플레이 시스템인 경우, 상기 디스플레이 시스템은,
    이미지를 디스플레이할 수 있는 디스플레이 패널; 및
    상기 디스플레이 채널로 동작 전원을 공급할 수 있는 전원 공급 장치를 더 포함하고,
    상기 전원 공급 장치는 상기 인식 신호에 응답하여 상기 디스플레이 패널로 상기 동작 전원을 공급하거나 차단하는 평면 형상 변형 인식 시스템.
  6. 프로그램을 저장하기 위한 메모리; 및
    상기 메모리에 저장된 상기 프로그램을 실행시기 위한 프로세서를 포함하며,
    상기 프로세서는,
    다수의 자계 생성 모듈들에 의하여 생성된 자계들에 따라, 자기장 센서로부터 출력된 다수의 감지 신호들을 수신하고, 상기 수신된 감지 신호들의 패턴을 분석하고, 기준 패턴들 각각과 분석된 패턴을 비교하여 해석하고, 상기 비교 해석 결과에 따라 평면 형상의 변형을 인식하고, 그 인식 결과에 상응하는 인식 신호를 생성하여 출력하는 평면 형상 변형 인식 시스템.
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