KR101036801B1 - Characteristic test apparatus for touch sensor pannel - Google Patents

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KR101036801B1
KR101036801B1 KR1020100014540A KR20100014540A KR101036801B1 KR 101036801 B1 KR101036801 B1 KR 101036801B1 KR 1020100014540 A KR1020100014540 A KR 1020100014540A KR 20100014540 A KR20100014540 A KR 20100014540A KR 101036801 B1 KR101036801 B1 KR 101036801B1
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touch sensor
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sensor panel
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권오진
윤일현
김경대
장선웅
박현전
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주식회사 지니틱스
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Abstract

PURPOSE: A feature text apparatus of a touch sensor panel is provided to easily distinguish the defect of each node according to a feature value and to measure the feature value of a touch sensor panel node. CONSTITUTION: A touch screen panel(10) includes nodes in which an electrode is crossed. A control unit(20) measures the feature value of the node. An information processing unit(30) receives feature value data from the control unit. A property test software(40) displays the feature value data of nodes. The feature test software compares feature value data of the node with reference data of the node.

Description

터치 센서 판넬의 특성테스트 장치{CHARACTERISTIC TEST APPARATUS FOR Touch Sensor Pannel}Characteristic test device of touch sensor panel {CHARACTERISTIC TEST APPARATUS FOR Touch Sensor Pannel}

본 발명은 터치 센서 판넬의 각 노드별 특성값을 확인함으로써, 어떤 노드에서 문제가 발생되었는지 정확히 판별할 수 있도록 한 터치 센서 판넬의 특성테스트 장치에 관한 것이다.The present invention relates to an apparatus for testing a characteristic of a touch sensor panel, by checking the characteristic value of each node of the touch sensor panel so as to accurately determine which node has a problem.

터치패널은 신호 증폭의 문제, 해상도의 차이, 설계 및 가공 기술의 난이도뿐만 아니라 각각의 터치패널의 특징적인 광학적 특성, 전기적 특성, 기계적 특성, 내환경 특성, 입력특성, 내구성 및 경제성 등을 고려하여 개개의 전자제품에 선택되며, 특히 전자수첩, PDA, 휴대용 PC 및 핸드폰 등에 있어서는 저항막 방식(Resistive Type) 터치패널과 정전용량 방식(Capacitive Type) 터치패널이 널리 이용된다.The touch panel considers not only signal amplification problem, resolution difference, difficulty of design and processing technology, but also the optical, electrical, mechanical, environmental, input, durability and economical characteristics of each touch panel. Selected for individual electronic products, particularly resistive type touch panels and capacitive type touch panels are widely used in electronic notebooks, PDAs, portable PCs and mobile phones.

일반적인 터치패널의 제작에 사용되는 패드의 경우에, ITO 등의 TCO(TRANSPARENT CONDUCTIVE OXIDE: 투명전도성 산화물)가 코팅되어진 유리나 절연수지를 이용하여 제작되어지는데, 상기 ITO는 저항과 콘덴서(Capacitance)의 복합으로 구성된 제품으로, 종래에는 이러한 ITO의 특성을 테스트하기 위해서, 실제 저항값 측정과 Capacitance의 측정으로 행하였으나, ITO 구동중 저항과 Capacitance의 유기적 관계에 대한 측정은 할 수 없었으며, 저항과 Capacitance의 측정만으로 인해 문제가 있음은 알 수 있지만, ITO의 어떤 노드에서 문제가 발생되었는지는 정확히 알 수 없는 문제점이 있었다.In the case of pads used in the manufacture of general touch panels, TCO (TRANSPARENT CONDUCTIVE OXIDE) is fabricated using glass or insulating resin coated with TCO (Transparent Conductive Oxide) such as ITO. The ITO is a composite of a resistor and a capacitor. In order to test the characteristics of the ITO, in the past, the actual resistance value and the capacitance were measured, but the organic relationship between the resistance and the capacitance during ITO operation could not be measured. It can be seen that there is a problem due to measurement alone, but there was a problem in which node of the ITO did not know exactly.

본 발명은 상기와 같은 문제점을 해결하기 위해 안출된 것으로, 본 발명의 목적은 사용자가 원하는 터치 센서 판넬 각 노드의 저항, 전압, 전류 등의 특성값을 측정하고, 이를 기준 데이터와 비교하여 수치로 표시함으로써, 터치 센서 판넬의 불량발생시, 터치 센서 판넬 내 어떤 노드(부분)에서 문제가 발생되었으며 원인은 무엇인지 판별할 수 있도록 한 터치 센서 판넬의 특성테스트 장치를 제공하는데 있다.The present invention has been made to solve the above problems, an object of the present invention is to measure the characteristics, such as resistance, voltage, current, etc. of each node of the touch sensor panel desired by the user, and compare them with reference data to a numerical value By displaying, when a failure of the touch sensor panel, a problem occurs at any node (part) in the touch sensor panel, and to provide a characteristic test apparatus of the touch sensor panel to determine what is the cause.

본 발명의 다른 목적 및 장점들은 하기에 설명될 것이며, 본 발명의 실시 예에 의해 알게 될 것이다. 또한, 본 발명의 목적 및 장점들은 특허청구범위에 나타낸 수단 및 조합에 의해 실현될 수 있다.Other objects and advantages of the present invention will be described hereinafter and will be understood by the embodiments of the present invention. Furthermore, the objects and advantages of the present invention can be realized by means and combinations indicated in the claims.

본 발명은 상기와 같은 문제점을 해결하기 위한 수단으로서, 전극이 교차되어 다수의 노드가 형성되며, 상기 전극에 사용자가 지정한 설정전압이 흐르는 터치 센서 판넬과; 상기 다수 노드의 특성값을 측정하는 제어장치와; 상기 제어장치에서 측정된 특성값 데이터를 전송받는 정보처리장치와; 상기 정보처리장치 내에 탑재되어, 상기 각 노드별 특성값 데이터를 수치로 표시하되, 상기 각 노드별 기준 데이터와 비교하여 각 노드의 불량 여부를 식별할 수 있도록 하는 특성테스트 소프트웨어; 로 구성되는 것을 특징으로 한다.The present invention provides a means for solving the above problems, a plurality of nodes are formed by crossing the electrode, the touch sensor panel flows a user-specified set voltage to the electrode; A controller for measuring characteristic values of the plurality of nodes; An information processing device receiving the characteristic value data measured by the control device; A characteristic test software mounted in the information processing apparatus to display the characteristic value data of each node in numerical value, and to identify whether each node is defective by comparing with the reference data of each node; . ≪ / RTI >

또한, 상기 특성테스트 소프트웨어는 상기 각 노드별 최소/최대 한계 수치값 및 노드 간 특성값의 허용 오차값을 지정하는 오프셋(OFFSET)값을 설정하여, 각 노드별로 특성값의 수치가 상기 각 노드별 최소/최대 한계 수치값 및 오프셋(OFFSET)값을 벗어나는 해당 노드를 불량으로 판단하는 것을 특징으로 한다.In addition, the characteristic test software sets an OFFSET value that designates the minimum / maximum limit numerical value for each node and an allowable error value of the inter-node characteristic value, and the numerical value of the characteristic value for each node is determined for each node. It is characterized by determining that the node that is out of the minimum / maximum limit value and the offset (OFFSET) value as a failure.

또한, 상기 특성테스트 소프트웨어는 특성값의 수치가 최소/최대 한계 수치값 및 오프셋(OFFSET)값 내에 존재하거나 벗어나는 경우, 일정 수치값 간격마다 사용자가 지정해놓은 색상으로 각각 표시되도록 하여, 각 노드별로 정상 및 불량 정도를 용이하게 파악할 수 있도록 하는 것을 특징으로 한다.In addition, the characteristic test software displays the value of the characteristic value within the minimum / maximum limit value value and the offset value, or when it is out of the offset value, so that each characteristic value is displayed in a color designated by the user at intervals of the predetermined value, and is normal for each node. And it is characterized in that to easily grasp the degree of failure.

또한, 상기 특성값은 사용자가 측정을 원하는 전압값, 전류값, 저항값 중 어느 하나인 것을 특징으로 한다.The characteristic value may be any one of a voltage value, a current value, and a resistance value that the user wants to measure.

또한, 터치 센서 판넬의 개발단계 또는 제품 양산단계에서 사용되는 것을 특징으로 한다.In addition, it is characterized in that it is used in the development stage or mass production stage of the touch sensor panel.

이상에서 살펴본 바와 같이, As we have seen above,

본 발명은 터치 센서 판넬의 개발시, 각 터치 센서 판넬들의 각 노드 값들을 비교해 봄으로써, 어떤 터치 센서 판넬이 더 우수한지를 판단할 수 있는 효과가 있다.The present invention has the effect of determining which touch sensor panel is better by comparing each node value of each touch sensor panel when developing the touch sensor panel.

또한, 본 발명은 터치 센서 판넬에 문제가 발생시, 각 노드별 특성값(전류, 전압, 저항 등)을 측정 후, 이를 정보처리장치 내에 탑재된 특성테스트 소프트웨어를 통해, 기준 데이터와 비교하여 수치적으로 표시함으로써, 터치 센서 판넬의 어떤 노드(부분)에서 문제가 발생되었는지의 파악 및 그 원인(단락/단선/양산불량 등)은 무엇인지 판별할 수 있는 효과가 있다.In addition, the present invention measures the characteristic value (current, voltage, resistance, etc.) for each node when a problem occurs in the touch sensor panel, and compares it with reference data through characteristic test software installed in the information processing apparatus. In this case, it is possible to grasp which node (part) of the touch sensor panel has a problem and to determine what is the cause of the problem (short circuit / disruption / production failure).

도 1은 본 발명에 따른 터치 센서 판넬의 특성테스트 장치를 나타낸 일실시예의 개념도.
도 2는 본 발명에 따른 특성테스트 소프트웨어를 표시한 일실시예의 화면.
도 3은 본 발명에 따른 특성테스트 소프트웨어를 표시한 또 다른 실시예의 화면.
도 4는 본 발명에 따른 터치 센서 판넬과 컨트롤러를 나타낸 일실시예의 사시도.1 is a conceptual diagram showing an embodiment of a characteristic test apparatus of a touch sensor panel according to the present invention.
Figure 2 is a screen of an embodiment showing the characteristic test software according to the present invention.
Figure 3 is a screen of another embodiment showing the characteristic test software according to the present invention.
Figure 4 is a perspective view of one embodiment showing a touch sensor panel and a controller according to the present invention.

본 발명의 여러 실시예들을 상세히 설명하기 전에, 다음의 상세한 설명에 기재되거나 도면에 도시된 구성요소들의 구성 및 배열들의 상세로 그 응용이 제한되는 것이 아니라는 것을 알 수 있을 것이다. 본 발명은 다른 실시예들로 구현되고 실시될 수 있고 다양한 방법으로 수행될 수 있다. 또, 장치 또는 요소 방향(예를 들어 "전(front)", "후(back)", "위(up)", "아래(down)", "상(top)", "하(bottom)", "좌(left)", "우(right)", "횡(lateral)")등과 같은 용어들에 관하여 본원에 사용된 표현 및 술어는 단지 본 발명의 설명을 단순화하기 위해 사용되고, 관련된 장치 또는 요소가 단순히 특정 방향을 가져야 함을 나타내거나 의미하지 않는다는 것을 알 수 있을 것이다.
Before describing the various embodiments of the present invention in detail, it will be appreciated that the application is not limited to the details of construction and arrangement of components described in the following detailed description or illustrated in the drawings. The invention can be implemented and carried out in other embodiments and can be carried out in various ways. In addition, device or element orientation (e.g., "front", "back", "up", "down", "top", "bottom" The expressions and predicates used herein with respect to terms such as ",""left","right","lateral", etc. are used merely to simplify the description of the present invention, and related apparatus. Or it will be appreciated that the element does not simply indicate or mean that it should have a particular direction.

본 발명은 상기의 목적을 달성하기 위해 아래의 특징을 갖는다.The present invention has the following features to achieve the above object.

이하 첨부된 도면을 참조로 본 발명의 바람직한 실시예를 상세히 설명하도록 한다. 이에 앞서, 본 명세서 및 청구범위에 사용된 용어나 단어는 통상적이거나 사전적인 의미로 한정해서 해석되어서는 아니 되며, 발명자는 그 자신의 발명을 가장 최선의 방법으로 설명하기 위해 용어의 개념을 적절하게 정의할 수 있다는 원칙에 입각하여 본 발명의 기술적 사상에 부합하는 의미와 개념으로 해석되어야만 한다.Hereinafter, exemplary embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings. Prior to this, terms or words used in the present specification and claims should not be construed as being limited to the common or dictionary meanings, and the inventors should properly explain the concept of terms in order to best explain their own invention. Based on the principle that can be defined, it should be interpreted as meaning and concept corresponding to the technical idea of the present invention.

따라서, 본 명세서에 기재된 실시예와 도면에 도시된 구성은 본 발명의 가장 바람직한 일 실시예에 불과할 뿐이고 본 발명의 기술적 사상을 모두 대변하는 것은 아니므로, 본 출원시점에 있어서 이들을 대체할 수 있는 다양한 균등물과 변형 예들이 있을 수 있음을 이해하여야 한다.
Therefore, the embodiments described in the specification and the drawings shown in the drawings are only the most preferred embodiment of the present invention and do not represent all of the technical idea of the present invention, various modifications that can be replaced at the time of the present application It should be understood that there may be equivalents and variations.

이하, 도 1 내지 도 4를 참조하여 본 발명의 바람직한 실시예에 따른 터치 센서 판넬의 특성테스트 장치를 상세히 설명하도록 한다.Hereinafter, the characteristic test apparatus of the touch sensor panel according to a preferred embodiment of the present invention will be described in detail with reference to FIGS. 1 to 4.

도시한 바와 같이, 본 발명에 따른 터치 센서 판넬의 특성테스트 장치는 터치 센서 판넬(TSP, Touch Sensor Pannel, 10), 제어장치(Controller, 20), 정보처리장치(30), 특성테스트 소프트웨어(40)를 포함한다.As shown, the characteristic test device of the touch sensor panel according to the present invention is a touch sensor panel (TSP, Touch Sensor Pannel, 10), controller (Controller, 20), information processing device (30), characteristic test software (40) ).

본 발명에서는 각 노드들의 특성값 측정 중, 전압값 측정을 통한 터치 센서 판넬의 특성테스트를 그 실시예를 서술하겠지만, 이는 사용자의 선택 및 적용방법에 따라 전압값 외에 각 노드들의 다양한 특성값(ex: 전류값, 저항값 등) 측정 등으로 변경 및 적용되어 사용될 수 있음은 당연하다.
In the present invention, the characteristic test of the touch sensor panel through the measurement of the voltage value of the characteristic value of each of the nodes will be described an embodiment, but this is in addition to the voltage value according to the user's selection and application method : It can be used to change and apply the current value, resistance value, etc.).

상기 터치 센서 판넬(10)은 다수의 전극이 교차되어 다수의 노드(N)(가로전극과 세로전극의 교차부분)가 형성되어 있으며, 상기 전극에는 전압이 흐르도록 한다.In the touch sensor panel 10, a plurality of electrodes are crossed to form a plurality of nodes N (intersections between the horizontal electrode and the vertical electrode), and a voltage flows through the electrodes.

상기 전압은 사용자가 지정한 설정전압으로써, 상기 터치 센서 판넬(10)에 공급되는 전원값은 사용자에 의해 다양하게 변경될 수 있을 것이며, 상기 터치 센서 판넬(10)에 전압을 공급하는 방법 역시 사용자에 의해 다양하게 이루어질 수 있음은 당연하다.
The voltage is a user-specified set voltage, and a power value supplied to the touch sensor panel 10 may be variously changed by a user, and a method of supplying a voltage to the touch sensor panel 10 may also be provided to the user. Of course, it can be made variously by.

상기 제어장치(20)는 터치 센서 판넬(10)에 연결장치(터치 센서 판넬 Interface)를 통해 전기적으로 연결되는 것으로, 상기 터치 센서 판넬(10) 각 노드들의 구동 중 실제 전압값을 각각 측정하도록 한다.
The control device 20 is electrically connected to the touch sensor panel 10 through a connection device (touch sensor panel interface), so that the actual voltage value of each node of the touch sensor panel 10 is measured. .

상기 정보처리장치(30)는 제어장치(20)와 USB 등과 같은 연결수단에 의해 전기적으로 연결되어, 상기 제어장치(20)에서 측정된 터치 센서 판넬(10) 각 노드들의 전압값을 전송받는다.
The information processing device 30 is electrically connected to the control device 20 by a connection means such as a USB, and receives the voltage values of the nodes of the touch sensor panel 10 measured by the control device 20.

상기 특성테스트 소프트웨어(40)는 정보처리장치(30)에 탑재된 소프트웨어로서, 상기 제어장치(20)로부터 전송받은 터치 센서 판넬(10) 각 노드들의 전압값 데이터를 정보처리장치(30)의 화면에 사용자가 식별가능하도록 수치적으로 표시하는 것으로서, 상기 특성테스트 소프트웨어(40)를 통해 사용자는 전압값이 얼마일때 수치적으로 얼마나 되도록(일실시예로, 터치 센서 판넬(10)을 거친 전압값이 5V로 측정되었을때 이는 화면에 500이라는 수치로 표시한다 등.) 사전에 입력해 높음으로써, 상기 특성테스트 소프트웨어(40)는 상기 터치 센서 판넬(10) 각 노드들의 전압값 데이터를 사전입력해 놓은 수치에 맞춰, 수치로 표시하는 것이다.The characteristic test software 40 is software installed in the information processing device 30 and displays the voltage value data of each node of the touch sensor panel 10 received from the control device 20 on the screen of the information processing device 30. In the numerical test, the characteristic test software 40 allows the user to numerically indicate how much the voltage value is (in one embodiment, the voltage value passed through the touch sensor panel 10). When measured at 5V, this is displayed on the screen as a value of 500, etc.) By inputting in advance and high, the characteristic test software 40 inputs voltage value data of each node of the touch sensor panel 10 in advance. According to the value you set, it is displayed as a number.

또한, 상기 특성테스트 소프트웨어(40)를 통해 사용자는 터치 센서 판넬(10) 각 노드별 최소/최대 한계 수치값(MIN/MAX LINIT) 및 노드 간 전압값의 허용 오차값을 지정하는 오프셋(OFFSET)값을 설정함으로써, 터치 센서 판넬(10)에서 측정된 전압값 데이터를 상기의 설정값과 비교하여 노드별 불량(ERROR)을 판별할 수 있도록 한다.In addition, the characteristic test software 40 allows the user to set the minimum and maximum limit numerical values (MIN / MAX LINIT) for each node of the touch sensor panel 10 and an offset for specifying tolerance values of voltage values between nodes. By setting the value, it is possible to determine the fault (ERROR) for each node by comparing the voltage value data measured by the touch sensor panel 10 with the set value.

그 일실시예로, 상기 터치 센서 판넬(10)을 거쳐 화면에 수치적으로 표시된 일정 노드의 전압값이 500이고, 사용자가 지정한 상기 일정 노드의 최소/최대 한계수치값이 300 내지 400인 경우, 500이란 수치를 가진 일정 노드는 불량으로 판별이 되는 것으로, 이와는 달리, 상기 최소/최대 한계수치값 내에, 터치 센서 판넬(10)에서 측정된 전압값이 포함되는 수치라면 정상으로 판별이 되는 것이다.In one embodiment, when the voltage value of the predetermined node numerically displayed on the screen through the touch sensor panel 10 is 500, the minimum / maximum threshold value of the predetermined node specified by the user is 300 to 400, The predetermined node having a value of 500 is determined to be defective. On the contrary, if the voltage value measured by the touch sensor panel 10 is included in the minimum / maximum threshold value, the predetermined node is determined to be normal.

또한, 상기 터치 센서 판넬(10)은 저항과 콘덴서(Capacitance)의 복합 구성품이기 때문에, 각 노드별 측정된 전압값은, 각 노드의 저항과 콘덴서가 모두 동일한 기준이라 하더라도 모두 일치할 수 있는 없고, 일정 수치의 허용 오차값이 존재하게 된다.In addition, since the touch sensor panel 10 is a composite component of a resistor and a capacitor, the voltage values measured for each node cannot be matched even if the resistance and the capacitor of each node are all the same reference point. There is a certain tolerance value.

이에, 측정된 다수의 노드별 전압값에 오차값을 두어, 상기 오차값에 해당되는 노드들은 정상동작되는 노드로, 상기 오차값을 벗어나게 되면 불량으로 판별하는 것이다. Thus, by placing an error value in the plurality of measured voltage values for each node, the nodes corresponding to the error value are nodes that operate normally, and are determined to be defective when they deviate from the error value.

즉, 상기 특성테스트 소프트웨어(40)는 이러한 터치 센서 판넬(10) 각 노드들의 전압값을, 상기 터치 센서 판넬(10)의 전극 형태와 동일하게 화면에 표시하게 되고,(상기 터치 센서 판넬(10) 노드의 전극이 15줄, Y축 전극이 8줄인경우, 상기 특성테스트 소프트웨어(40)에도 이와 동일하게 15*8의 형태를 디스플레이한다.) 사용자 또는 개발자는 화면에 표시된 전압값 및 그 전압값이 표시된 위치를 통해 상기 터치 센서 판넬(10)의 어느 전극부부분이 불량 또는 정상동작하는지, 그 불량정도는 어느정도인지를 판별할 수 있는 것이다.That is, the characteristic test software 40 displays the voltage values of the nodes of the touch sensor panel 10 on the screen in the same way as the electrode form of the touch sensor panel 10, and the touch sensor panel 10. If the node of the node is 15 lines and the Y-axis electrode is 8 lines, the characteristic test software 40 displays the same 15 * 8 form.) The user or developer displays the voltage value displayed on the screen and the voltage value. Through this marked position, it is possible to determine which electrode part of the touch sensor panel 10 is defective or normal operation, and how bad the defect is.

이와 더불어, 상기 특성테스트 소프트웨어(40)는 터치 센서 판넬(10) 각 노드들의 전압값을 화면에 디스플레이하되, 각 노드별 전압값이 표시되는 각 부분마다 다양한 색상으로 처리함으로써, 사용자가 이를 더 용이하게 식별할 수 있도록 하는데, 예를 들어, 측정된 전압값이 최소/최대 한계 수치값(MIN/MAX LINIT) 및 오프셋(OFFSET)값 내에 포함되어 정상동작을 하는 노드로 판명이 될 경우에는, 상기 전압값이 표시된 부분을 녹색(GREEN)으로 표시하고, 최대 한계 수치값을 넘어선 전압값이라면 붉은색(Red), 최소 한계 수치값에 도달하지 못한 전압값이면 파란색(Blue), 오프셋값을 벗어난 전압값이라면 노란색(Yellow)으로 표시하는 것이다.In addition, the characteristic test software 40 displays the voltage value of each node of the touch sensor panel 10 on the screen, and the user can easily do this by processing the various colors for each part where the voltage value of each node is displayed. For example, when the measured voltage value is included in the minimum / maximum limit value (MIN / MAX LINIT) and the offset value (OFFSET) and turns out to be a normal node, The part where the voltage value is displayed is displayed in green color, and if the voltage value exceeds the maximum limit value, it is red. If the voltage value does not reach the minimum limit value, it is blue. If it is a value, it is displayed in yellow.

물론, 상기의 색상은 사용자에 의해 다양하게 변경가능할 것이며, 복수개의 노드가 정상동작되어 같은 녹색으로 표시되었다 하더라도, 각 노드별 최소/최대 한계 수치값(MIN/MAX LINIT) 및 오프셋(OFFSET)값과 비교되었을시 그 일치정도에 따라 색상은 짙고 옅어지도록 설정할 수도 있을 것이다.
Of course, the above color may be variously changed by the user, and even though a plurality of nodes are normally operated and displayed in the same green color, the minimum / maximum limit value (MIN / MAX LINIT) and the offset value (OFFSET) value for each node are shown. The color may be darker or lighter depending on the match.

더불어, 상기와 같은 본 발명의 터치 센서 판넬의 특성테스트 장치는 터치 센서 판넬(10) 개발단계에서, 전술된 내용 및 도 2에 도시된 바와 같이, 전문가(개발자 및 생산 담당자)들이 세부 항목들을 상기와 같이 수치적으로 측정, 확인, 검증하는데 사용될 수 있을 뿐만 아니라, In addition, the characteristic test apparatus of the touch sensor panel of the present invention as described above, in the touch sensor panel 10 development step, as described above and shown in FIG. Not only can be used to measure, verify, and verify numerically,

본 발명의 터치 센서 판넬의 특성테스트 장치를 통해, 터치 센서 판넬(10)의 실제 양산시, 도 3에 도시된 바와 같이, 해당 터치 센서 판넬(10)의 세부항목들이 수치적으로 표시되지 않고, 정상(Pass) 또는 불량(NG) 등으로 단순 표시되도록 하여(물론, 상기와 같은 정상, 불량 등의 양부판정은, 전술된, 각 터치 센서 판넬(10) 각 노드별 최소/최대 한계 수치값(MIN/MAX LINIT) 및 오프셋(OFFSET)값에 의해 판단됨은 당연하다.), 생산직원들이 이를 통해 식별함으로써, 터치 센서 판넬(10)의 양산속도를 빠르게 진행하게 할 수도 있다.
Through the characteristic test apparatus of the touch sensor panel of the present invention, during actual mass production of the touch sensor panel 10, as shown in FIG. 3, the details of the corresponding touch sensor panel 10 are not numerically displayed and are normally displayed. (Pass) or defective (NG), etc., so as to be displayed simply (of course, such a good or bad decision as described above, the above-described minimum / maximum limit numerical value (MIN) for each node of each touch sensor panel 10 described above. / MAX LINIT) and the offset (OFFSET) value, it is natural), by identifying the production staff through this, it is possible to speed up the mass production speed of the touch sensor panel 10.

이상과 같이, 본 발명은 비록 한정된 실시예와 도면에 의해 설명되었으나, 본 발명은 이것에 의해 한정되지 않으며 본 발명이 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자에 의해 본 발명의 기술 사상과 아래에 기재될 특허청구범위의 균등범위 내에서 다양한 수정 및 변경이 가능함은 물론이다.As mentioned above, although this invention was demonstrated by the limited embodiment and drawing, this invention is not limited by this, The person of ordinary skill in the art to which this invention belongs, Various modifications and changes may be made without departing from the scope of the appended claims.

10: 터치 센서 판넬 20: 제어장치
30: 정보처리장치 40: 특성테스트 소프트웨어10: touch sensor panel 20: control device
30: information processing device 40: characteristic testing software

Claims (5)

전극이 교차되어 다수의 노드가 형성되며, 상기 전극에 사용자가 지정한 설정전압이 흐르는 터치 센서 판넬(10)과;
상기 다수 노드의 특성값을 측정하는 제어장치(20)와;
상기 제어장치(20)에서 측정된 특성값 데이터를 전송받는 정보처리장치(30)와;
상기 정보처리장치(30) 내에 탑재되어, 상기 각 노드별 특성값 데이터를 수치로 표시하되, 상기 각 노드별 기준 데이터와 비교하여 각 노드의 불량 여부를 식별할 수 있도록 하는 특성테스트 소프트웨어(40);
로 구성되는 것을 특징으로 하는 터치 센서 판넬의 특성테스트 장치.
A touch sensor panel 10 in which a plurality of nodes are formed by crossing electrodes, and a predetermined voltage flows through the electrode;
A controller 20 for measuring characteristic values of the plurality of nodes;
An information processing device 30 receiving the characteristic value data measured by the control device 20;
Characteristic test software 40 mounted in the information processing device 30 to display the characteristic value data for each node in numerical value, and to identify whether each node is defective by comparing with the reference data for each node. ;
Characteristic test device of the touch sensor panel, characterized in that consisting of.
제 1항에 있어서,
상기 특성테스트 소프트웨어(40)는
상기 각 노드별 최소/최대 한계 수치값 및 노드 간 특성값의 허용 오차값을 지정하는 오프셋(OFFSET)값을 설정하여,
각 노드별로 특성값의 수치가 상기 각 노드별 최소/최대 한계 수치값 및 오프셋(OFFSET)값을 벗어나는 해당 노드를 불량으로 판단하는 것을 특징으로 하는 터치 센서 판넬의 특성테스트 장치.
The method of claim 1,
The characteristic test software 40
By setting an offset value that specifies the tolerance value of the minimum and maximum limit value of each node and the characteristic value between nodes,
Characteristic test apparatus of the touch sensor panel, characterized in that the value of the characteristic value for each node is determined that the corresponding node is out of the minimum / maximum limit value and the offset (OFFSET) value for each node as a failure.
제 2항에 있어서,
상기 특성테스트 소프트웨어(40)는
특성값의 수치가 최소/최대 한계 수치값 및 오프셋(OFFSET)값 내에 존재하거나 벗어나는 경우, 일정 수치값 간격마다 사용자가 지정해놓은 색상으로 각각 표시되도록 하여, 각 노드별로 정상 및 불량 정도를 용이하게 파악할 수 있도록 하는 것을 특징으로 하는 터치 센서 판넬의 특성테스트 장치.
The method of claim 2,
The characteristic test software 40
When the value of the characteristic value exists or falls within the minimum / maximum limit value and the offset value, it is displayed in the color designated by the user at intervals of a certain numerical value, so that the level of normal and defect can be easily identified for each node. Characteristic test apparatus of the touch sensor panel, characterized in that to enable.
제 1항에 있어서,
상기 특성값은
사용자가 측정을 원하는 전압값, 전류값, 저항값 중 어느 하나인 것을 특징으로 하는 터치 센서 판넬의 특성테스트 장치.
The method of claim 1,
The characteristic value is
Characteristic test apparatus of the touch sensor panel, characterized in that any one of the voltage value, current value, resistance value that the user wants to measure.
제 1항에 있어서,
터치 센서 판넬의 개발단계 또는 제품 양산단계에서 사용되는 것을 특징으로 하는 터치 센서 판넬의 특성테스트 장치.The method of claim 1,
Characteristic test apparatus of the touch sensor panel, characterized in that used in the development stage or mass production stage of the touch sensor panel.
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