KR100998581B1 - 반투명한 물질의 반사 특성을 측정하기 위한 시스템 및 방법 - Google Patents

반투명한 물질의 반사 특성을 측정하기 위한 시스템 및 방법 Download PDF

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반투명한 물질의 반사 특성을 측정하기 위한 시스템 및 방법이 개시된다. 본 발명에 따른 반사 측정 시스템은, 광원; 상기 광원과 이격되어 설치되고 상기 광원으로부터의 광을 상기 물질에 조사하는 광 조사부; 상기 광원으로부터의 광을 상기 광 조사부로 수송하기 위한 광섬유; 및 상기 광 조사부로부터 소정 간격 이격되어 설치되고 상기 물질로부터 반사된 광을 검출하여 이미지 데이터를 획득하는 광 검출부를 포함하는 것을 특징으로 한다. 이러한 본 발명에 의하면 물질에 입사되는 광과 광 검출부의 시선의 각도 차를 줄일 수 있게 되어 광 검출부에서 얻어지는 이미지 데이터의 왜곡을 최소화시킬 수 있다.
실감 이미지, 반투명 물질, 반사 특성

Description

반투명한 물질의 반사 특성을 측정하기 위한 시스템 및 방법{System and method for measuring reflection characteristics of translucent materials}
본 발명은 컴퓨터 그래픽스에 관련된 것으로서, 보다 상세하게는 물체의 실감 이미지를 모델링하기 위하여 반투명한 물질의 반사율을 측정하는 시스템 및 방법에 관한 것이다.
입사된 빛이 동일한 부분에서 다시 외부로 반사되는 불투명한 물질과 달리 반투명한 물질에 비춰진 빛은 그 일부가 물질을 투과하여 표면의 임의의 지점과 임의의 방향으로 다시 분산되게 된다. 이러한 반투명한 물질의 반사 특성은 광원의 입사 방향 및 위치, 광원의 출사 방향 및 위치를 고려한 8차원의 양방향 표면산란 반사분포함수(BSSRDF : Bidirectional Surface Scattering Reflectance Distribution Function)로 표현될 수 있다. 하지만 통상 반투명한 물질은 충분히 불투명한 느낌을 지닌 경우(일반적으로 산란도가 흡수도 보다 10배 이상인 물질)가 대부분이므로 감소 산란도(reduced scattering)와 흡수도(absorption) 두 가지 특성으로 물체에 입사된 빛의 분산 경향을 예측할 수 있다고 가정한다.
반사도를 측정하는데 있어 카메라나 광학 CCD에서 얻어진 이미지 정보를 사 용하는 경우 특별한 조작을 거치지 않고도 상용 카메라를 측정에 바로 사용할 수 있으므로 시스템 구성이 간편하다는 장점을 갖고 있으나, HDR(High Dynamic Range) 이미지를 필요로 하고 기존에 개발된 장치의 구성으로는 물질 표면 위에 수직으로 빛을 조사해 주는 광원 모듈의 각도와 재질의 표면을 바라보는 카메라의 각도가 중첩되므로 측정된 이미지의 일부만을 사용하여 반투명 재질의 반사 특성을 추정해야 한다는 한계점을 안고 있다. 즉, 광원과 그로부터 발생하는 광을 집적하기 위한 렌즈의 조합을 포함하는 광원 모듈이 카메라의 시야를 가리는 것을 방지하기 위하여 카메라 시점의 각도와 광이 물질에 입사하는 각도가 수십도의 간격을 이룰 수 밖에 없게 된다. 따라서 카메라를 통해 얻어진 이미지 상의 픽셀들 중 극히 일부부의 픽셀들의 데이터만을 활용할 수밖에 없으므로 비효율적이고 측정의 정밀도에 있어서 한계가 있다.
본 발명이 이루고자 하는 기술적 과제는 반투명한 물질의 반사 특성을 측정함에 있어서 물질의 반사 특성을 보다 효율적이고 정밀하게 측정할 수 있는 반투명한 물질의 반사 특성을 측정하기 위한 시스템 및 방법을 제공하는 데 있다.
상기 기술적 과제를 해결하기 위하여 본 발명에 따른 반투명한 물질의 반사 특성을 측정하기 위한 시스템은, 광원; 상기 광원과 이격되어 설치되고 상기 광원으로부터의 광을 상기 물질에 조사하는 광 조사부; 상기 광원으로부터의 광을 상기 광 조사부로 수송하기 위한 광섬유; 및 상기 광 조사부로부터 소정 간격 이격되어 설치되고 상기 물질로부터 반사된 광을 검출하여 이미지 데이터를 획득하는 광 검출부를 포함하는 것을 특징으로 한다.
상기 광 조사부는 상기 광섬유로부터 나오는 광을 집적시키기 위한 렌즈를 포함할 수 있으며, 게다가 상기 광 조사부는 광이 통과하는 직경을 조절하기 위한 조리개를 더 포함할 수 있다. 또한, 상기 광 조사부는 초점거리를 맞추기 위해 상기 렌즈의 위치를 조절하기 위한 조절 수단 또는 상기 광섬유의 끝단의 위치를 조절하기 위한 조절 수단을 더 포함할 수 있다.
또한, 상기 반사 특성 측정 시스템은, 상기 광원과 상기 광섬유의 끝단 사이에 마련되는 확산 렌즈를 더 포함할 수 있다.
또한, 상기 반사 특성 측정 시스템은 상기 이미지 데이터로부터 상기 물질의 반사 특성을 구하는 데이터 처리부를 더 포함할 수 있다. 이때 상기 데이터 처리부는 상기 물질의 반사 특성을 나타내는 파라미터로서 감소 산란도와 흡수도를 결정할 수 있다.
상기 기술적 과제를 해결하기 위하여 본 발명에 따른 반투명한 물질의 반사 특성을 측정하기 위한 방법은, 광원에서 발생되는 광을 광섬유를 이용하여 수송하는 단계; 상기 광섬유를 통하여 수송된 광을 상기 물질에 조사하는 단계; 및 상기 물질로부터 반사된 광을 검출하여 이미지 데이터를 획득하는 단계; 및 상기 이미지 데이터로부터 상기 물질의 반사 특성을 구하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 한다.
상술한 본 발명에 의하면 물질에 입사되는 광과 광 검출부의 시선의 각도 차를 줄일 수 있게 되어 광 검출부에서 얻어지는 이미지 데이터의 왜곡을 최소화시킬 수 있다. 따라서 이미지 상의 전체 픽셀의 데이터를 모두 활용할 수 있는 등 효율적이고 정밀하게 물질의 반사 특성을 측정할 수 있다.
이하에서는 도면을 참조하여 본 발명의 바람직한 실시예들을 상세히 설명한다. 이하 설명 및 첨부된 도면들에서 실질적으로 동일한 구성요소들은 각각 동일한 부호들로 나타냄으로써 중복 설명을 생략하기로 한다. 또한 본 발명을 설명함에 있어 관련된 공지기능 혹은 구성에 대한 구체적인 설명이 본 발명의 요지를 불필요하게 흐릴 수 있다고 판단되는 경우 그에 대한 상세한 설명은 생략하기로 한다.
도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 반투명한 물질의 반사 특성을 측정하기 위한 시스템을 구성을 나타내는 도면이다. 도 1을 참조하면, 본 실시예에 따른 시스템은 광원부(10), 광 조사부(20), 광섬유(30), 광 검출부(40), 프레임(50), 그리고 데이터 처리부(60)를 포함하여 구성된다.
물질(S)은 본 실시예에서 측정 대상이 되는 반투명한 물질로서 광 조사부(20)의 하단에 놓이게 된다.
광원부(10)는 반사 특성을 측정하기 위해 물질에 조사할 광을 생성한다. 생성되는 광은 광속(luminous flux)이 조절 가능하고 강하고 안정적인 광이 바람직하다. 광원부(10)는, 광을 발생시키는 광원(11)과, 광이 요구되는 광 단면 내에서 고른 광속을 가질 수 있도록 하기 위한 확산 렌즈(12)를 포함한다. 확산 렌즈(12)는 도시된 바와 같이 광원(11)과 광섬유(30)의 끝단 사이에 마련된다. 그리고 도시되지는 않았으나 광원부(10)에는 광속을 조절할 수 있는 조도계(illuminator)가 마련될 수 있다. 광원(11)으로는 예를 들어 제논(Xenon) 램프와 같은 고휘도의 백색 램프가 채용될 수 있다.
광원(11)에서 발생되어 확산 렌즈(12)를 통과한 광은 광섬유(30)를 통하여 도시된 바와 같이 광원(11)과 이격되어 설치된 광 조사부(20)로 수송된다. 광 조사부(20)는 광섬유를 통하여 수송된 광을 집적하여 물질(S)에 조사한다.
광 검출부(40)는 광 조사부(20)와 소정 간격 이격되어 설치되며, 물질(S)로부터 반사된 광을 검출하여 이미지 데이터를 획득한다. 광 검출부(40)로는 예를 들어 상용 카메라 또는 HDR(High Dynamic Range) 카메라가 채용될 수 있다.
프레임(50)은 광 조사부(20)와 광 검출부(40)를 지지시키며, 광 조사부(20) 및 광 검출부(40) 각각을 원하는 위치에 원하는 방향으로 설치하기 위한 적절한 체결 수단(미도시)을 구비한다. 도 1에 도시된 바에 의하면 프레임(50)은 반구형의 형태를 가지나, 광 조사부(20)와 광 검출부(40)를 지지시키고 물질(S)에 입사되는 광과 물질(S)로부터 반사되는 광의 진로를 방해하지 않는 임의의 형태로 설계될 수 있음은 물론이다.
본 실시예에 의하면 광원부(10)로부터 광이 직접 물질(S)에 조사되는 것이 아니라 광원부(10)로부터 광섬유를 통하여 수송된 후 광 조사부(20)에 의해 물질(S)에 조사된다. 따라서 도시된 바에 따른 광 조사부(20)의 위치에 광 조사부(20)보다 상대적으로 큰 광원부(10)를 설치하는 경우보다 광 검출부(40)를 더 가까이에 설치할 수 있게 된다. 광 검출부(40)에 의해 획득되는 이미지의 각 픽셀 값은 픽셀 단면을 통해 얻어지는 광 에너지의 상대값을 의미한다. 본 실시예에 의하면 광 조사부(20)의 소형화를 통하여 광 검출부(40)와 광 조사부(20)가 이루는 각도가 보다 좁혀질 수 있다. 예를 들어 10ㅀ 이내로 좁혀지는 경우 광 검출부(40)와 광 조사부(20)의 위치의 차이로 발생하는 픽셀 값의 왜곡을 1.5%(=1.0-cos10ㅀ) 이내로 줄일 수 있게 된다. 따라서 이미지 상에 존재하는 전체 픽셀 값을 반사 특성 파라미터를 추출하는 데 사용할 수가 있다.
도 2는 광 조사부(20)의 구체적인 일 실시예에 따른 구성을 나타내는 도면이다. 본 실시예에 따른 광 조사계는, 광섬유(30)로부터 나오는 광을 집적시키기 위한 렌즈(21)와, 렌즈(21)의 전면에 마련되어 광이 통과하는 직경을 조절하기 위한 조리개(22)를 포함한다. 그리고 도시된 바와 같이, 초점거리를 맞추기 위해 렌즈(21)의 위치를 조절하기 위한 조절 수단(23)과 광섬유(30)의 끝단의 위치를 조절하기 위한 조절 수단(24)이 더 구비될 수 있다. 조절 수단(23 또는 24)은 도시된 바와 같이 나사와 나사구멍으로 구현될 수 있다. 본 실시예에 의하면 광원부(10)에서 생성되는 광을 광섬유(30)를 이용하여 광 조사부(20)로 수송함으로써 광 검출부(40)와 광원부(10) 간의 교차 간섭을 방지하고 광 조사부(20)의 위치 및 각도 조절을 보다 융통성 있게 할 수 있다.
데이터 처리부(60)는 광 검출부(40)에서 얻어진 이미지 데이터로부터 물질(S)의 반사 특성을 나타내는 파라미터를 구한다. 도 3은 본 발명의 일 실시예에 따라 반사 특성 파라미터를 구하는 과정을 나타낸 흐름도이다.
우선 높은 반사율(예를 들어 99% 이상)을 가진 표준 백색 샘플에 광을 조사하여 반사된 광으로부터 이미지 데이터를 획득하고(310단계), 피측정 대상 물질(S)에 광을 조사하여 반사된 광으로부터 이미지 데이터를 획득한다(320)단계. 여기서 획득되는 이미지 데이터들은 HDR 이미지인 것이 바람직하다. HDR 이미지를 얻기 위 해서는 광 검출부(40)로 각 컬러 채널 당 8비트 이상의 컬러 깊이를 가진 이미지 측정 장비를 이용하거나, 상용 카메라를 이용하여 노출 시간을 달리 한 채 3장 이상의 이미지를 획득한 후 HDR 합성 기법을 이용하여 이들을 조합함으로써 HDR 이미지를 얻을 수 있다. 이때 광원부(10)에 마련되는 조도계(illuminator)를 이용하여 광 검출부(40)에서 노출 시간이 조절되는 것과 동일한 효과를 얻을 수 있다.
다음으로 대상 물질(S)의 전 반사율을 계산한다(330단계). 310단계 및 320단계에서 얻어진 이미지의 각 픽셀 값은 상대적인 휘도 값을 의미하므로 표준 백색 샘플의 이미지 상의 픽셀 값들의 총합은 표준 백색 샘플에 조사된 광의 상대적인 조도 값이라 가정할 수 있다. 마찬가지로, 대상 물질(S)의 이미지 상의 픽셀 값들의 총합은 대상 물질(S)이 흡수하지 않고 다시 방출하는 상대적인 광 에너지 양이라 할 수 있다. 따라서 대상 물질(S)의 고유한 전 반사율은 대상 물질(S)의 이미지의 픽셀 값들의 총합을 표준 백색 샘플의 픽셀 값들의 총합으로 나눔으로써 구할 수 있다.
그리고 대상 물질(S)의 방사형 반사 분포를 획득한다(340단계). 대상 물질(S)의 이미지 상의 픽셀들 중 가장 큰 픽셀 값을 지닌 픽셀이 광이 조사된 위치가 된다. 이 픽셀을 기준으로 하여 각 픽셀의 광의 조사 위치로부터의 상대적인 거리를 계산해 낼 수 있고 하나의 이미지 상에는 광의 조사 위치로부터 같은 거리에 있는 다수의 픽셀이 존재한다. 광의 조사 위치로부터 같은 거리에 있는 픽셀들의 픽셀 값들의 평균값 또는 중간값을 구하여, 하나의 거리에 하나의 픽셀 값이 존재하도록 재구성하여 데이터가 단순화된 방사형 반사 분포를 획득할 수 있다. 또는 물질(S) 표면을 바라보는 광 검출부(40)의 각도와 빛이 입사되는 각도를 매우 작게(예를 들어 10ㅀ 이하) 한 경우라면, 광 검출부(40)를 통해 획득한 이미지의 픽셀들 중에서 광 검출부(40)의 시선과 수직하고 광이 입사되는 지점을 지나는 선분 상에 위치한 픽셀들만을 사용하여 반사 분포를 획득할 수도 있다.
마지막으로, 340단계에서 얻어진 방사형 반사 분포를 이용하여 대상 물질(S)의 반투명 재질 반사 특성 파라미터를 구한다(350단계). 여기서 추출되는 파라미터로는 감소 산란도와 흡수도가 될 수 있다. 이를 위해 340단계에서 얻어진 방사형 반사 분포를, 빛이 방사형으로 산란되는 경향을 수학적으로 표현해 주는 쌍극자식(Dipole approximation equation)인 수학식 1과 비교하고, 이와 동시에 330단계에서 얻어진 전 반사도를, 전 반사도를 계산하는 쌍극자식인 수학식 2와 비교함으로써 그 오차를 최소화하는 감소 산란도와 흡수도를 결정한다.
Figure 112008057093310-pat00001
Figure 112008057093310-pat00002
여기서, ρ는 광 입사부와의 거리를, α'은 알베도(albedo)를, z0는 광학 깊이(optical depth)를, A는 (1+Frenel)/(1-Frenel)을, σeff는 효과 감쇄 파라미터 를, r1 및 r2는 각각 실광원 및 허상광원과 광 입사부의 거리를 나타낸다. 그리고 일반적으로 광학 깊이(z0)는 다음 수학식과 같이 근사하여 나타내어질 수 있다.
Figure 112008057093310-pat00003
여기서 s′은 감소 산란도를, α는 흡수도를 나타낸다.
상술한 본 발명에 의하면 광원과 광 조사부를 따로 설치하고 광원으로부터 생성되는 광을 광섬유를 이용하여 광 조사부로 수송함으로써 물질에 입사되는 광과 광 검출부의 시선의 각도 차를 줄일 수 있게 되어 광 검출부에서 얻어지는 이미지 데이터의 왜곡을 최소화시킬 수 있다. 따라서 이미지 상의 전체 픽셀의 데이터를 모두 활용할 수 있는 등 효율적이고 정밀하게 물질의 반사 특성을 측정할 수 있다.
이제까지 본 발명에 대하여 그 바람직한 실시예들을 중심으로 살펴보았다. 본 발명이 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자는 본 발명이 본 발명의 본질적인 특성에서 벗어나지 않는 범위에서 변형된 형태로 구현될 수 있음을 이해할 수 있을 것이다. 그러므로 개시된 실시예들은 한정적인 관점이 아니라 설명적인 관점에서 고려되어야 한다. 본 발명의 범위는 전술한 설명이 아니라 특허청구범위에 나타나 있으며, 그와 동등한 범위 내에 있는 모든 차이점은 본 발명에 포함된 것으로 해석되어야 할 것이다.
도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 반투명한 물질의 반사 특성을 측정하기 위한 시스템 구성을 나타내는 도면이다.
도 2는 광 조사부(20)의 구체적인 일 실시예에 따른 구성을 나타내는 도면이다.
도 3은 본 발명의 일 실시예에 따라 반사 특성 파라미터를 구하는 과정을 나타낸 흐름도이다.

Claims (8)

  1. 반투명한 물질의 반사 특성을 측정하기 위한 시스템에 있어서,
    광원;
    상기 광원과 이격되어 설치되고 상기 광원으로부터의 광을 상기 물질에 조사하는 광 조사부;
    상기 광원으로부터의 광을 상기 광 조사부로 수송하기 위한 광섬유;
    상기 광 조사부로부터 소정 간격 이격되어 설치되고 상기 물질로부터 반사된 광을 검출하여 이미지 데이터를 획득하는 광 검출부; 및
    상기 광원과 상기 광섬유의 끝단 사이에 마련되는 확산 렌즈를 포함하는 것을 특징으로 하는 반사 특성 측정 시스템.
  2. 제1항에 있어서,
    상기 광 조사부는 상기 광섬유로부터 나오는 광을 집적시키기 위한 렌즈를 포함하는 것을 특징으로 하는 반사 특성 측정 시스템.
  3. 제1항에 있어서,
    상기 광 조사부는 광이 통과하는 직경을 조절하기 위한 조리개를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 반사 특성 측정 시스템.
  4. 제2항에 있어서,
    상기 광 조사부는 초점거리를 맞추기 위해 상기 렌즈의 위치를 조절하기 위한 조절 수단 또는 상기 광섬유의 끝단의 위치를 조절하기 위한 조절 수단을 더 포함하는 것을 특징으로 하는 반사 특성 측정 시스템.
  5. 삭제
  6. 제1항에 있어서,
    상기 이미지 데이터로부터 상기 물질의 반사 특성을 구하는 데이터 처리부를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 반사 특성 측정 시스템.
  7. 제6항에 있어서,
    상기 데이터 처리부는 상기 물질의 반사 특성을 나타내는 파라미터로서 감소 산란도와 흡수도를 결정하는 것을 특징으로 하는 반사 특성 측정 시스템.
  8. 삭제
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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KR100432764B1 (ko) * 1996-01-02 2004-09-13 엘제이 레버러토리 엘.엘.씨 물체의광학특성측정방법및물체의광학특성의양을정하는방법

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100432764B1 (ko) * 1996-01-02 2004-09-13 엘제이 레버러토리 엘.엘.씨 물체의광학특성측정방법및물체의광학특성의양을정하는방법
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