KR100995135B1 - Temperature compensation circuit - Google Patents
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Abstract
온도 보상 회로가 개시된다. 상기 온도 보상 회로는 제어 전압에 응답하여 제1제어 신호와 제2제어 신호를 발생하고, 상기 제1제어 신호를 제1제어 노드로 공급하고 상기 제2제어 신호를 제2제어 노드로 공급하기 위한 제어 신호 발생 회로, 제1증폭기, 및 제2증폭기를 포함한다. 상기 제1증폭기는, 상기 제1제어 노드와 상기 제2제어 노드 사이에 접속되며, 다수의 제1스위칭 신호들에 응답하여 제1PTAT 전류, 제1CTAT 전류, 및 제1밴드 갭 기준 전류 중에서 어느 하나를 바이어스 전류로서 발생한다. 상기 제2증폭기는, 상기 제1제어 노드와 상기 제2제어 노드 사이에 접속되고, 다수의 제2스위칭 신호들에 응답하여 제2PTAT 전류, 제2CTAT 전류, 및 제2밴드 갭 기준 전류 중에서 어느 하나를 바이어스 전류로서 발생한다.A temperature compensation circuit is disclosed. The temperature compensation circuit generates a first control signal and a second control signal in response to a control voltage, supplies the first control signal to a first control node, and supplies the second control signal to a second control node. A control signal generation circuit, a first amplifier, and a second amplifier. The first amplifier is connected between the first control node and the second control node and is any one of a first PTAT current, a first CTAT current, and a first band gap reference current in response to a plurality of first switching signals. Is generated as a bias current. The second amplifier is connected between the first control node and the second control node, and any one of a second PTAT current, a second CTAT current, and a second band gap reference current in response to a plurality of second switching signals. Is generated as a bias current.
PTAT, CTAT, BGR, 온도 보상 회로 PTAT, CTAT, BGR, Temperature Compensation Circuit
Description
본 발명은 반도체 회로에 관한 것으로, 특히 주변의 구성 요소들의 온도 특성에 무관한 온도 특성을 갖는 온도 보상 회로와 온도 보상 방법에 관한 것이다.The present invention relates to a semiconductor circuit, and more particularly to a temperature compensation circuit and a temperature compensation method having a temperature characteristic independent of the temperature characteristics of the surrounding components.
송수신기(transceiver)에서, 송신기(transmitter)의 가변 이득 조절기는, 데시빌에 선형적으로, 이득을 1-데시빌 단위로 조절할 수 있어야 하고 주위의 온도의 변화에 무관한 성능을 가져야 한다.In a transceiver, the variable gain regulator of the transmitter should be able to adjust the gain linearly in decibels in units of 1-decibels and have a performance independent of changes in ambient temperature.
그러나, 송수신기의 송신기는 도 1a에 도시된 바와 같이 체인처럼 연결된 로우 패스 필터(low pass filter), 상향 주파수 혼합기(up conversion mixer), 가변이득 증폭기(VGA), 구동 증폭기(DA), 및 전력 증폭기(PA)를 포함한다. 또한, 도 1b에 도시된 바와 같이 송수신기의 수신기는 체인처럼 연결된 LNA(Low Noise Amplifier), 상향 주파수 혼합기, 가변 이득 증폭기(VGA), 및 로우 패스 필터(LPF)를 포함한다. 도 1c에 도시된 바와 같이 송수신기의 수신기는 체인처럼 연결된 LNA, 상향 주파수 혼합기, 로우 패스 필터(LPF), 및 가변 이득 증폭기(VGA)를 포함한다.However, the transmitter of the transceiver includes a low pass filter, an up conversion mixer, a variable gain amplifier (VGA), a drive amplifier (DA), and a power amplifier connected in a chain as shown in FIG. 1A. (PA). In addition, as shown in FIG. 1B, the receiver of the transceiver includes a chain-connected low noise amplifier (LNA), an up frequency mixer, a variable gain amplifier (VGA), and a low pass filter (LPF). As shown in FIG. 1C, the receiver of the transceiver includes a chained LNA, an up frequency mixer, a low pass filter (LPF), and a variable gain amplifier (VGA).
가변 이득 증폭기 자체의 관점에서 보면, 온도에 무관한 특성을 갖는 가변 이득 증폭기는 구현될 수 있다. 그러나, 도 1a, 도 1b, 또는 도 1c에 도시된 바와 같이, 상기 가변 이득 증폭기의 앞 단과 뒤 단에 다른 구성요소들, 예컨대, 상향 주파수 혼합기와 로우 패스 필터가 결합되는 경우, 온도에 무관한 특성을 갖는 가변 이득 증폭기라 할지라도, 상기 가변 이득 증폭기의 온도 특성은 상기 가변 이득 증폭기의 앞 단과 뒤 단에 연결된 상기 다른 구성요소들 각각의 온도 특성에 영향을 받는다.From the standpoint of the variable gain amplifier itself, a variable gain amplifier having a temperature independent characteristic can be implemented. However, as shown in FIG. 1A, 1B, or 1C, when other components, such as an uplink frequency mixer and a low pass filter, are coupled to the front and rear ends of the variable gain amplifier, temperature independent. Even with a variable gain amplifier having a characteristic, the temperature characteristic of the variable gain amplifier is influenced by the temperature characteristic of each of the other components connected to the front and rear ends of the variable gain amplifier.
따라서 본 발명은, 상술한 문제점들을 해결하기 위하여 제안된 것으로서, 다른 구성 요소들의 온도 특성에 무관한 온도 특성을 갖는 온도 보상 회로와 온도 보상 방법을 제공하는 것이다.Accordingly, the present invention has been proposed to solve the above-described problems, and provides a temperature compensation circuit and a temperature compensation method having a temperature characteristic independent of the temperature characteristics of other components.
상기 기술적 과제를 달성하기 위한 온도 보상 회로는 제1제어 노드, 제2제어 노드, 제어 신호 발생 회로, 제1증폭기, 및 제2증폭기를 포함한다.The temperature compensation circuit for achieving the above technical problem includes a first control node, a second control node, a control signal generation circuit, a first amplifier, and a second amplifier.
상기 제어 신호 발생 회로는 제어 전압에 응답하여 제1제어 신호와 제2제어 신호를 발생하고, 상기 제1제어 신호를 상기 제1제어 노드로 공급하고 상기 제2제어 신호를 상기 제2제어 노드로 공급한다. 상기 제1증폭기는, 상기 제1제어 노드와 상기 제2제어 노드 사이에 접속되며, 다수의 제1스위칭 신호들에 응답하여 제1PTAT 전류, 제1CTAT 전류, 및 제1밴드 갭 기준 전류 중에서 어느 하나를 바이어스 전류 로서 발생하기 위한 제1전류 발생 회로를 포함한다. The control signal generation circuit generates a first control signal and a second control signal in response to a control voltage, supplies the first control signal to the first control node, and sends the second control signal to the second control node. Supply. The first amplifier is connected between the first control node and the second control node and is any one of a first PTAT current, a first CTAT current, and a first band gap reference current in response to a plurality of first switching signals. And a first current generating circuit for generating as a bias current.
상기 제2증폭기는, 상기 제1제어 노드와 상기 제2제어 노드 사이에 접속되고, 다수의 제2스위칭 신호들에 응답하여 제2PTAT 전류, 제2CTAT 전류, 및 제2밴드 갭 기준 전류 중에서 어느 하나를 바이어스 전류로서 발생하기 위한 제2전류 발생 회로를 포함한다.The second amplifier is connected between the first control node and the second control node, and any one of a second PTAT current, a second CTAT current, and a second band gap reference current in response to a plurality of second switching signals. A second current generating circuit for generating a as a bias current.
상기 제1전류 발생 회로는 상기 제1PTAT 전류를 발생하는 제1전류 원, 상기 제1CTAT 전류를 발생하는 제2전류 원, 상기 제1밴드 갭 기준 전류를 발생하는 제3전류 원을 포함하며, 상기 제1전류 원 내지 상기 제3 전류 원 중에서 어느 하나는 상기 다수의 제1스위칭 신호들에 응답하여 인에이블된다.The first current generating circuit includes a first current source for generating the first PTAT current, a second current source for generating the first CTAT current, and a third current source for generating the first band gap reference current. Any one of the first current source to the third current source is enabled in response to the plurality of first switching signals.
상기 제2전류 발생 회로는 상기 제2PTAT 전류를 발생하는 제4전류 원; 상기 제2CTAT 전류를 발생하는 제5전류 원; 상기 제2밴드 갭 기준 전류를 발생하는 제6전류 원을 포함하며, 상기 제4전류 원 내지 상기 제6전류 원 중에서 어느 하나는 상기 다수의 제2스위칭 신호들에 응답하여 인에이블된다.The second current generating circuit includes a fourth current source for generating the second PTAT current; A fifth current source generating the second CTAT current; And a sixth current source generating the second band gap reference current, wherein any one of the fourth to sixth current sources is enabled in response to the plurality of second switching signals.
상기 기술적 과제를 달성하기 위한 온도 보상 회로의 온도 보상 방법은 다수의 제1스위칭 신호들에 응답하여 제1PTAT 전류, 제1CTAT 전류, 및 제1밴드 갭 기준 전류 중에서 어느 하나를 제1제어 노드와 제2제어 노드 사이에 접속된 제1공통 베이스 증폭기의 바이어스 전류로서 발생하는 단계와, 다수의 제2스위칭 신호들에 응답하여 제2PTAT 전류, 제2CTAT 전류, 및 제2밴드 갭 기준 전류 중에서 어느 하나를 상기 제1제어 노드와 상기 제2제어 노드 사이에 접속된 제2공통 베이스 증폭기의 바이어스 전류로서 발생하는 단계를 포함한다.The temperature compensation method of the temperature compensation circuit for achieving the technical problem is any one of the first PTAT current, the first CTAT current, and the first band gap reference current in response to a plurality of first switching signals Generating as a bias current of a first common base amplifier connected between the two control nodes, and in response to the plurality of second switching signals, any one of a second PTAT current, a second CTAT current, and a second band gap reference current; Generating as a bias current of a second common base amplifier connected between the first control node and the second control node.
본 발명의 실시 예에 따른 온도 보상 회로는 주변의 구성 요소들 각각의 온도 특성에 무관한 온도 특성을 갖는 효과가 있다.The temperature compensation circuit according to the embodiment of the present invention has an effect of having a temperature characteristic independent of the temperature characteristic of each of the surrounding components.
따라서, 온도 보상 회로를 포함하는 가변 이득 증폭기는 온도에 무관한 특성을 갖는 효과가 있다.Therefore, the variable gain amplifier including the temperature compensation circuit has the effect of having a temperature independent characteristic.
본 발명과 본 발명의 동작상의 이점 및 본 발명의 실시에 의하여 달성되는 목적을 충분히 이해하기 위해서는 본 발명의 바람직한 실시 예를 예시하는 첨부 도면 및 첨부 도면에 기재된 내용을 참조하여야만 한다.In order to fully understand the present invention, the operational advantages of the present invention, and the objects achieved by the practice of the present invention, reference should be made to the accompanying drawings which illustrate preferred embodiments of the present invention and the contents described in the accompanying drawings.
이하, 첨부한 도면을 참조하여 본 발명의 바람직한 실시 예를 설명함으로써, 본 발명을 상세히 설명한다. 각 도면에 제시된 동일한 참조부호는 동일한 부재를 나타낸다.Hereinafter, exemplary embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings. Like reference numerals in the drawings denote like elements.
도 2는 본 발명의 일 실시 예에 따른 온도 보상 회로의 회로도를 나타낸다.2 is a circuit diagram of a temperature compensation circuit according to an embodiment of the present invention.
도 2를 참조하면, 본 발명의 실시 예에 따른 온도 보상 회로(10)는 제어신호 발생 회로(20), 제1증폭기(30), 제2증폭기(40), 제1바이어스 회로(BA1), 및 제2바이어스 회로(BA2)를 포함한다. 본 발명의 일 실시 예에 따른 온도 보상 회로(10)는 가변 이득 증폭기(VGA)의 일부로서 구현될 수 있다. 또한, 상기 가변 이득 증폭기는 수신기 또는 송신기에 구현될 수 있다. 실시 예에 따라 제1바이어스 회로(BA1), 및 제2바이어스 회로(BA2)는 제어신호 발생 회로(20)에 포함될 수 있다.2, the
제어신호 발생 회로(20)는 외부로부터 입력된 제어 전압(Vc)에 응답하여 제1 제어 전류(CS1)와 제2제어 전류(CS2)를 발생하고, 제1바이어스 회로(BA1)를 통하여 제1제어 전류(CS1)를 제1제어 노드(CN1)로 공급하고 제2바이어스 회로(BA2)를 통하여 제2제어 전류(CS2)를 제2제어 노드(CN2)로 공급한다.The control
제어신호 발생 회로(20)는 제1저항(R1), 한 쌍의 PMOSFET들(M1과 M2), 기준 전압(Vref)을 발생하는 기준 전압 원(21), 및 비교기(23)를 포함한다.The control
제어전압(Vc), 제1노드(N1)의 전압(Vref), 및 제1저항(R1)에 의하여 발생한 제1전류(Ic, 즉 Ic=(Vc-Vref)/R1)는 제1저항(R1)을 통하여 제1노드(N1)로 전송된다. 여기서, 제1노드(N1)의 전압은 OPAMP(23)의 특성상 기준 전압(Vref)이 된다.The first current Ic generated by the control voltage Vc, the voltage Vref of the first node N1, and the first resistor R1, that is, Ic = (Vc-Vref) / R1, is the first resistor ( It is transmitted to the first node N1 through R1). Here, the voltage of the first node N1 becomes the reference voltage Vref due to the characteristics of the
제1PMOSFET(M1)은 제1전원(VDD)과 제1노드(N1)사이에 접속되고, 제2PMOSFET (M2)은 제1전원(VDD)과 제3노드(N3)사이에 접속된다. 제1PMOSFET(M1)의 게이트와 제2PMOSFET(M2)의 게이트는 제2노드(N2)에 접속된다. 제2노드(N2)의 전압에 기초하여 제1PMOSFET(M1)와 제2PMOSFET(M2)의 동작이 제어된다.The first PMOSFET M1 is connected between the first power source VDD and the first node N1, and the second PMOSFET M2 is connected between the first power source VDD and the third node N3. The gate of the first PMOSFET M1 and the gate of the second PMOSFET M2 are connected to the second node N2. The operation of the first PMOSFET M1 and the second PMOSFET M2 is controlled based on the voltage of the second node N2.
비교기(23)는 제1입력단자(예컨대, (+)입력단자)로 입력되는 제1노드(N1)의 전압과 제2입력단자(예컨대, (-)입력단자)로 입력되는 기준 전압(Vref)을 비교하고, 비교 결과에 따라 제1레벨(예컨대, 하이 레벨) 또는 제2레벨(예컨대, 로우 레벨)을 갖는 비교 신호를 제2노드(N2)로 출력한다.The
예컨대, 제어 전압(Vc)이 제1노드(N1)로 공급되고, 제1노드(N1)의 전압이 기준 전압(Vref)보다 낮은 경우, 비교기(23)로부터 출력된 제2레벨을 갖는 비교 신호에 의하여 턴-온된 제1PMOSFET(M1)에는 제2전류(I2)가 흐르고 제2PMOSFET(M2)에는 제2제어 전류(CS2=I2-Ic)가 흐른다.For example, when the control voltage Vc is supplied to the first node N1 and the voltage of the first node N1 is lower than the reference voltage Vref, a comparison signal having a second level output from the
제1바이어스 회로(BA1)는 제1노드(N1)와 제1제어 노드(CN1) 사이에 접속되어, 제1제어 노드(CN1)로 제1제어 전류(CS1)의 적어도 일부를 이용하여 발생된 바이어스 전류를 공급한다. 또한, 제2바이어스 회로(BA2)는 제3노드(N3)와 제2제어 노드(CN2) 사이에 접속되어, 제2제어 노드(CN2)로 제2제어 전류(CS2)의 적어도 일부를 이용하여 발생된 바이어스 전류를 공급한다.The first bias circuit BA1 is connected between the first node N1 and the first control node CN1 and is generated using at least a portion of the first control current CS1 to the first control node CN1. Supply bias current. In addition, the second bias circuit BA2 is connected between the third node N3 and the second control node CN2 and uses at least a portion of the second control current CS2 as the second control node CN2. Supply the generated bias current.
제1바이어스 회로(BA1)는 제1노드(N1)와 제1제어 노드(CN1) 사이를 직접 접속한 와이어(wire) 또는 회로 패턴으로 구현될 수 있고, 제2바이어스 회로(BA2)는 제3노드(N3)와 제2제어 노드(CN2) 사이를 직접 접속한 와이어 또는 회로 패턴으로 구현될 수 있다.The first bias circuit BA1 may be implemented as a wire or a circuit pattern directly connected between the first node N1 and the first control node CN1, and the second bias circuit BA2 may be configured as a third bias circuit. It may be implemented as a wire or a circuit pattern directly connected between the node N3 and the second control node CN2.
또한, 제1바이어스 회로(BA1)는 제1전원(VDD)과 제1제어 노드(CN1) 사이에 접속되고 그 베이스가 제1노드(N1)에 접속된 BJT(Bipolar Junction Transistor; Q5)로 구현될 수 있고, 제2바이어스 회로(BA2)는 제1전원(VDD)과 제2제어 노드(CN2) 사이에 접속되고 그 베이스가 제3노드(N3)에 접속된 BJT(Q6)로 구현될 수 있다.In addition, the first bias circuit BA1 is implemented as a Bipolar Junction Transistor (BJT) connected between the first power supply VDD and the first control node CN1 and whose base is connected to the first node N1. The second bias circuit BA2 may be implemented as a BJT Q6 connected between the first power supply VDD and the second control node CN2 and whose base is connected to the third node N3. have.
제1증폭기(30)는, 제1제어 노드(CN1)와 제2제어 노드(CN2) 사이에 접속되며, 다수의 제1스위칭 신호들(SW1i, i는 1 내지 3)에 응답하여 절대 온도에 선형적으로 비례하는 전류인 PTAT(proportional to absolute temperature) 전류, 절대 온도에 선형적으로 반비례하는 전류인 CTAT(complementary to absolute temperature) 전류, 및 제조 공정이나 주위 온도에 관계없이 일정한 전류인 밴드 갭 기준(Band Gap Reference) 전류 중에서 어느 하나를 발생하기 위한 제1전류 발생 회로(31)를 포함 한다. 이때, 제1증폭기(30)는 공통 베이스(common base) 증폭기로 구현될 수 있다.The
구체적으로, 제1증폭기(30)는 한 쌍의 트랜지스터들(Q1과 Q2)을 포함하며, 제1트랜지스터(Q1)는 제1노드(N1)와 제4노드(N4)사이에 접속되고, 베이스로 공급되는 제1제어 노드(CN1)의 바이어스 전류에 응답하여 증폭 동작을 수행한다. 제2트랜지스터(Q2)는 제3노드(N3)와 제4노드(N4)사이에 접속되고, 베이스로 공급되는 제2제어 노드(CN2)의 바이어스 전류에 응답하여 증폭 동작을 수행한다.Specifically, the
제4노드(N4)와 제2전원(VSS)사이에 접속된 제1전류 발생 회로(31)는 다수의 제1스위칭 신호들(SW1i)에 응답하여 PTAT 전류, CTAT 전류, 및 밴드 갭 기준 전류 중에서 어느 하나를 제1증폭기(30)의 바이어스 전류로서 공급한다.The first
제2증폭기(40)는 제1제어 노드(CN1)와 제2제어 노드(CN2) 사이에 접속되고, 다수의 제2스위칭 신호들(SW2i, i는 1 내지 3)에 응답하여 PTAT 전류, CTAT 전류, 및 밴드 갭 기준 전류 중에서 어느 하나를 발생하는 제2전류 발생 회로(41)를 포함한다. 여기서 제2증폭기(30)는 공통 베이스(common base) 증폭기로 구현될 수 있다. 제1전류 발생 회로(31)와 제2전류 발생 회로(41)는 도 3을 참조하여 상세히 설명될 것이다.The
구체적으로, 제2증폭기(40)는 한 쌍의 트랜지스터들(Q3과 Q4)을 포함하며, 제3트랜지스터(Q3)는 제2저항(R2)를 경유하여 제3전원(Vbias)과 제5노드(N5)사이에 접속되고 베이스로 공급되는 제2제어 노드(CN2)의 바이어스 전류와 제3전원(Vbias)에 응답하여 증폭 동작을 수행한다. 제4트랜지스터(Q4)는 제3저항(R2)을 경유하여 제3전원(Vbias)과 제5노드(N5)사이에 접속되고 제1제어 노드(CN1)의 바이어스 전류 와 제3전원(Vbias)에 응답하여 증폭 동작을 수행한다.Specifically, the
제5노드(N5)와 제2전원(VSS)사이에 접속된 제2전류 발생 회로(41)는 다수의 제2스위칭 신호들(SW2i, 예컨대, i는 1 내지 3)에 응답하여 PTAT 전류, CTAT 전류, 및 밴드 갭 기준 전류 중에서 어느 하나를 제2증폭기(40)의 바이어스 전류로서 공급한다.The second
제1트랜지스터(Q1) 내지 제4트랜지스터(Q4)와 같은 BJT에서 베이스-에미터 사이의 전압(Vbe)은 Vbe=Vt*ln(Ico/Is)이다. 여기서, Vt는 BJT의 열 전압(thermal voltage)이고, Ico는 BJT의 컬렉터 전류이고, Is는 BJT의 포화 전류(saturation current)이다.In the BJT such as the first transistor Q1 through the fourth transistor Q4, the voltage Vbe between the base and the emitter is Vbe = Vt * ln (Ico / Is). Where Vt is the thermal voltage of BJT, Ico is the collector current of BJT, and Is is the saturation current of BJT.
도 2에 도시된 루프(LP)를 따라 키르히호프 전압 법칙을 적용하면 수학식 1과 같다.The Kirchhoff voltage law is applied along the loop LP shown in FIG.
수학식 1을 간단히 정리하면 수학식 2와 같다,To sum up Equation 1 is the same as
또한, I1, I3, 및 I4의 관계는 수학식 3과 같다.In addition, the relationship between I1, I3, and I4 is as shown in Formula (3).
수학식 2와 수학식 3을 이용하여 I3와 I4를 계산하면 수학식 4와 같다.Calculating I3 and
Vout = Vout+ - Vout- = R2(I4-I3) Vout = Vout + - Vout - = R2 (I4-I3)
수학식 5에 수학식 4를 대입하면, 수학식 6과 같다.Substituting Equation 4 into Equation 5 is the same as Equation 6.
수학식 6을 수학식 2에 대입하면 수학식 7과 같다.Substituting Equation 6 into
도 2와 수학식 7을 참조하면, I1과 I2를 적절한 전류 원으로 대체할 경우 ln(G=Vout/Vc)를 조절할 수 있다. 예컨대, I2가 밴드 갭에 의한 정 전류(constant current)이고 I1이 Vt에 비례하는 PTAT 전류이면 I1과 Vt가 서로 상쇄되어 온도 보상 회로(10)는 온도에 무관한 데시빌에 선형적(dB-linear)인 특성을 갖는다.Referring to FIG. 2 and Equation 7, when I1 and I2 are replaced with an appropriate current source, ln (G = Vout / Vc) may be adjusted. For example, if I2 is a constant current due to a band gap and I1 is a PTAT current proportional to Vt, I1 and Vt cancel each other so that the
도 3은 도 2에 도시된 제1전류 발생 회로(31) 또는 제2전류 발생 회로(41)의 회로도를 나타낸다. 설명의 편의를 위하여 제1전류 발생 회로(31)와 제2전류 발생 회로(41)를 같이 도시하였다.FIG. 3 shows a circuit diagram of the first
제1전류 발생 회로(31) 또는 제2전류 발생 회로(41)는 PTAT 전류를 발생하기 위한 PTAT 전류 원(PTAT), CTAT 전류를 발생하기 위한 CTAT 전류 원(CTAT), 및 밴드 갭 기준 전류를 발생하기 위한 밴드 갭 기준 전류 원(BGR)을 포함한다.The first
제1전류 발생 회로(31)에 도시된 각각의 스위치는 각각의 스위치 신호(SW11, SW12, 및 SW13)에 응답하여 온/오프된다. 또한, 제1전류 발생 회로(41)에 도시된 각각의 스위치는 각각의 스위치 신호(SW21, SW22, 및 SW23)에 응답하여 온/오프된다. 따라서, 제1전류 발생 회로(31) 또는 제2전류 발생 회로(41)에 도시된 각각의 전류 원(PTAT, CTAT, 및 BGR)은 각각의 스위칭 신호(SW11, SW12, SW13, SW21, SW22, 및 SW23)에 응답하여 인에이블 된다.Each switch shown in the first
제1전류 발생 회로(31)가 다수의 제1스위칭 신호들(SW11, SW12, 및 SW13) 각각에 응답하여 PTAT 전류, CTAT 전류, 및 밴드 갭 기준 전류 중에서 어느 하나를 발생하는 경우와 제2전류 발생 회로(41)가 다수의 제2스위칭 신호들(SW21, SW22, 및 SW23) 각각에 응답하여 PTAT 전류, CTAT 전류, 및 밴드 갭 기준 전류 중에서 어느 하나를 발생하는 경우를 몇 가지 예를 들어 설명하면 다음과 같다.When the first
첫째, 각각의 스위치 신호(SW13과 SW21)에 응답하여 각각의 스위치가 온되는 경우, 제1전류 발생 회로(31)는 PTAT 전류를 발생하고, 제2전류 발생 회로(41)는 밴드 갭 기준 전류를 발생한다. 즉, 제1전류 발생 회로(31)의 PTAT 전류 원(PTAT)이 인에이블되고 제2전류 발생 회로(41)의 밴드 갭 기준 전류 원(BGR)이 인에이블된다.First, when each switch is turned on in response to each switch signal SW13 and SW21, the first
둘째, 각각의 스위치 신호(SW13과 SW22)에 응답하여 각각의 스위치가 온되는 경우, 제1전류 발생 회로(31)는 PTAT 전류를 발생하고, 제2전류 발생 회로(41)는 CTAT 전류를 발생한다.Second, when each switch is turned on in response to each switch signal SW13 and SW22, the first
셋째, 각각의 스위치 신호(SW13과 SW23)에 응답하여 각각의 스위치가 온되는 경우, 제1전류 발생 회로(31)는 PTAT 전류를 발생하고, 제2전류 발생 회로(41)는 PTAT 전류를 발생한다.Third, when each switch is turned on in response to each switch signal SW13 and SW23, the first
넷째, 각각의 스위치 신호(SW11과 SW23)에 응답하여 각각의 스위치가 온되는 경우, 제1전류 발생 회로(31)는 밴드 갭 기준 전류를 발생하고, 제2전류 발생 회로(41)는 PTAT 전류를 발생한다.Fourth, when each switch is turned on in response to each of the switch signals SW11 and SW23, the first
각각의 스위칭 신호(SW11, SW12, SW13, SW21, SW22, 및 SW23)를 발생하기 위한 스위칭 신호 발생 회로(미도시)는 온도 보상 회로(10)의 내부 또는 외부에 구현될 수 있다. 제조업자 또는 사용자는 온도 보상 회로를 포함하는 시스템의 온도 특성에 따라 각각의 스위칭 신호(SW11, SW12, SW13, SW21, SW22, 및 SW23)를 설정할 수 있다.A switching signal generation circuit (not shown) for generating each of the switching signals SW11, SW12, SW13, SW21, SW22, and SW23 may be implemented inside or outside the
도 2와 도 3을 참조하여 설명한 바와 같이, 본 발명의 실시 예에 따른 온도 보상 회로는 상기 온도 보상 회로가 구현된 구성 요소(예컨대, 가변 이득 조절기)의 앞 단과 뒤 단에 접속된 구성 요소들 각각의 온도 특성을 고려하여 PTAT 전류, CTAT 전류, 및 밴드 갭 기준 전류 중에서 어느 하나를 바이어스 전류로서 선택할 수 있다. 따라서, 본 발명의 실시 예에 따른 온도 보상 회로(10)는 주변 구성 요소들 각각의 온도 특성에 무관한 온도 특성을 갖는다. 온도 보상 회로를 이용한 온도 보상 방법은 도 2와 도 3을 참조하면 이해될 수 있을 것이다.As described with reference to FIGS. 2 and 3, the temperature compensating circuit according to an embodiment of the present invention includes components connected to the front and rear ends of a component (for example, a variable gain regulator) on which the temperature compensation circuit is implemented. In consideration of the respective temperature characteristics, one of the PTAT current, the CTAT current, and the band gap reference current may be selected as the bias current. Thus, the
본 발명은 도면에 도시된 일 실시 예를 참고로 설명되었으나 이는 예시적인 것에 불과하며, 본 기술 분야의 통상의 지식을 가진 자라면 이로부터 다양한 변형 및 균등한 타 실시 예가 가능하다는 점을 이해할 것이다. 따라서, 본 발명의 진정한 기술적 보호 범위는 첨부된 등록청구범위의 기술적 사상에 의해 정해져야 할 것이다.Although the present invention has been described with reference to one embodiment shown in the drawings, this is merely exemplary, and those skilled in the art will understand that various modifications and equivalent other embodiments are possible therefrom. Therefore, the true technical protection scope of the present invention will be defined by the technical spirit of the appended claims.
본 발명의 상세한 설명에서 인용되는 도면을 보다 충분히 이해하기 위하여 각 도면의 상세한 설명이 제공된다.The detailed description of each drawing is provided in order to provide a thorough understanding of the drawings cited in the detailed description of the invention.
도 1a 내지 도 1c는 종래의 송수신기의 블록 도를 나타낸다.1A to 1C show a block diagram of a conventional transceiver.
도 2는 본 발명의 일 실시 예에 따른 온도 보상 회로의 회로도를 나타낸다.2 is a circuit diagram of a temperature compensation circuit according to an embodiment of the present invention.
도 3은 도 2에 도시된 제1전류 발생 회로의 회로도를 나타낸다.FIG. 3 shows a circuit diagram of the first current generating circuit shown in FIG. 2.
Claims (7)
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KR1020070140204A KR100995135B1 (en) | 2007-12-28 | 2007-12-28 | Temperature compensation circuit |
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