KR100990095B1 - 리크 검출 방법 및 장치 - Google Patents

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Abstract

리크 검출 방법 및 장치가 개시된다. 본 발명의 일 실시예에 따르면, 리크(leak)를 검출할 수 있는 리크 검출 장치에 있어서, 복수의 광을 대상체에 조사(照射)하는 복수의 광원; 및 상기 복수의 광이 상기 대상체를 반사하여 반사된 복수의 반사광을 분석하여 상기 대상체의 리크를 검출하는 광검출부를 포함하는 리크 검출 장치가 제공될 수 있다. 이에 따라, 화물창 내부의 리크를 검출할 수 있다.
리크, leak, 검출

Description

리크 검출 방법 및 장치{Method and device for detecting of leak}
본 발명은 리크 검출에 관한 것으로, 보다 상세하게 화물창 내부에 리크가 존재하는지를 검출하는 방법 및 장치에 관한 것이다.
극저온(약 -163℃)의 액화천연가스(LNG: liquefied natural gas)를 화물창 내에 저장하여 운반하는 액화천연가스운반선에서는 극저온에 의한 선체의 취성 파괴등을 우려하여 특수구조로된 화물창이 설치된다.
그러나 해상에서 운용되는 액화천연가스운반선 또는 한곳에 정박되어 운용되는 부유식액화천연가스저장기화설비와 같은 해상구조물은 해상 상태 즉, 파도나 해풍에 의해 전체 구조물이 동요를 받는다. 또한, 이러한 구조물 자체의 동요에 의해서 액화천연가스가 함께 유동하게 된다. 이때, 유동하는 액화천연가스는 화물창 내부를 강타하는 경향이 발생된다.
이에 따라, 화물창 내부의 리크를 검출하기 위한 필요성이 대두되었다. 종래에는 암모니아 또는 헬륨을 이용하여 리크를 검출하였다.
암모니아법은 암모니아와 반응하는 도포제를 리크 존재 여부가 의심되는 영역에 도포한 뒤 암모니아 가스를 주입한다. 이와 같이 도포제가 도포된 영역에 암모니아 가스를 주입하면 리크가 있는 부분에서는 색이 변경되어 리크의 유무를 알 수 있다. 이와 같은 암모니아법은 리크를 검출하는데 좋은 방법이나 암모니아 가스의 독성이 인체에 유해하여 유럽이나 미국에서는 점점 사용을 제한하고 있는 실정이다. 또한, 암모니아법은 주변 환경에 큰 영향을 받지는 않으나 독성이므로 취급에 주의하여야 하며 검사법이 복잡하고 암모니아 가스가 탱크에 잔존할 가능성이 높은 문제점이 있다.
헬륨법은 불활성 가스인 헬륨을 주입하여 헬륨검출기로 리크로 의심되는 영역을 스캔하여 헬륨검출기의 헬륨과의 반응 유무로 리크를 검출할 수 있다. 이와 같은 헬륨법은 리크를 검출하기 위해 많은 인력과 검사장비가 동원되어야 하고, 시간 및 비용이 많이 드는 문제가 있다. 또한, 헬륨법은 헬륨검출기로 스캔하여 검출하는 방법이므로 검사시간을 줄이기 위해서 스캔 속도를 높여야 하나 이와 같은 경우 자칫 리크가 있음에도 불구하고 헬륨검출기가 반응하기 전에 지나칠 수 있으므로 정확한 측정이 어려운 문제점이 있다.
본 발명은 가스의 흡수 스펙트럼을 이용하여 화물창 내부의 리크를 검출할 수 있는 리크 검출 방법 및 장치를 제공하기 위한 것이다.
또한, 본 발명은 온도, 습도 변화와 같은 주변 환경의 변화와 무관하게 리크 를 검출할 수 있는 리크 검출 방법 및 장치를 제공하기 위한 것이다.
본 발명의 일 측면에 따르면, 복수의 광을 이용하여 리크를 검출할 수 있는 장치가 제공된다.
본 발명의 일 실시예에 따르면, 리크(leak)를 검출할 수 있는 리크 검출 장치에 있어서, 복수의 광을 대상체에 조사(照射)하는 복수의 광원; 및 상기 복수의 광이 상기 대상체를 반사하여 반사된 복수의 반사광을 분석하여 상기 대상체의 리크 존재 여부를 검출하는 광검출부를 포함하는 리크 검출 장치가 제공될 수 있다.
상기 복수의 광 중 어느 하나는 상기 대상체 내부에 흡수된 가스의 흡수 스펙트럼의 파장 범위 내에서 변화하며, 상기 복수의 광 중 다른 하나는 상기 대상체 내부에 흡수된 가스의 흡수 스펙트럼의 파장 범위 내에서 변화하지 않는다.
상기 광검출부는, 제1 반사광 및 제2 반사광의 세기를 각각 측정하며, 상기 측정된 제1 반사광의 세기 및 제2 반사광의 세기가 임계치 이상 차이가 있는 경우 상기 대상체에 리크가 존재하는 것으로 판단할 수 있다.
상기 광검출부는, 각각의 반사광을 측정할 수 있는 복수의 포토다이오드; 및 상기 복수의 포토다이오드를 통해 측정된 각각의 반사광의 스펙트럼을 비교하여 동일하지 않은 경우 상기 대상체에 리크가 존재하는 것으로 판단하는 신호처리부를 포함할 수 있다.
상기 대상체는 하나 이상의 방벽이 형성된 화물창이며, 상기 방벽 사이의 공 간은 화물창 탱크 내부보다 압력이 높다.
상기 복수의 광원에서 조사되는 각각의 광은 세기 및 감쇠율이 동일하다.
상기 복수의 광원은 평행하게 인접된다.
본 발명의 다른 측면에 따르면, 복수의 광을 이용하여 리크를 검출할 수 있는 방법이 제공된다.
본 발명의 일 실시예에 따르면, 리크 검출 장치가 리크를 검출하는 방법에 있어서, 복수의 광을 동시에 대상체에 조사(照射)하는 단계; 및 상기 광이 상기 대상체를 반사하여 반사된 복수의 반사광을 분석하여 상기 대상체의 리크 존재 여부를 검출하는 단계를 포함하는 리크 검출 방법이 제공될 수 있다.
상기 대상체의 리크를 검출하는 단계는, 상기 복수의 반사광의 세기를 각각 측정하는 단계; 상기 측정된 복수의 반사광의 세기가 임계치 이상 차이가 있는지 여부를 판단하는 단계; 및 임계치 이상 차이가 있는 경우 상기 대상체에 리크가 존재하는 것으로 판단하는 단계를 포함할 수 있다.
상기 대상체의 리크를 검출하는 단계는, 상기 복수의 반사광을 측정하는 단계; 상기 측정된 복수의 반사광의 스펙트럼을 생성하고 비교하여 동일한지 여부를 판단하는 단계; 및 동일하지 않은 경우 상기 대상체에 리크가 존재하는 것으로 판단하는 단계를 포함할 수 있다.
본 발명에 따른 리크 검출 방법 및 장치를 제공함으로써, 가스의 흡수 스펙트럼을 이용하여 화물창 내부의 리크를 검출할 수 있는 효과가 있다.
또한, 본 발명은 온도, 습도 변화와 같은 주변 환경의 변화와 무관하게 리크를 검출할 수 있는 효과도 있다.
본 발명은 다양한 변환을 가할 수 있고 여러 가지 실시예를 가질 수 있는 바, 특정 실시예들을 도면에 예시하고 상세한 설명에 상세하게 설명하고자 한다. 그러나, 이는 본 발명을 특정한 실시 형태에 대해 한정하려는 것이 아니며, 본 발명의 사상 및 기술 범위에 포함되는 모든 변환, 균등물 내지 대체물을 포함하는 것으로 이해되어야 한다. 본 발명을 설명함에 있어서 관련된 공지 기술에 대한 구체적인 설명이 본 발명의 요지를 흐릴 수 있다고 판단되는 경우 그 상세한 설명을 생략한다.
제1, 제2 등의 용어는 다양한 구성요소들을 설명하는데 사용될 수 있지만, 상기 구성요소들은 상기 용어들에 의해 한정되어서는 안 된다. 상기 용어들은 하나의 구성요소를 다른 구성요소로부터 구별하는 목적으로만 사용된다.
본 출원에서 사용한 용어는 단지 특정한 실시예를 설명하기 위해 사용된 것으로, 본 발명을 한정하려는 의도가 아니다. 단수의 표현은 문맥상 명백하게 다르게 뜻하지 않는 한, 복수의 표현을 포함한다. 본 출원에서, "포함하다" 또는 "가지다" 등의 용어는 명세서상에 기재된 특징, 숫자, 단계, 동작, 구성요소, 부품 또는 이들을 조합한 것이 존재함을 지정하려는 것이지, 하나 또는 그 이상의 다른 특징들이나 숫자, 단계, 동작, 구성요소, 부품 또는 이들을 조합한 것들의 존재 또는 부가 가능성을 미리 배제하지 않는 것으로 이해되어야 한다.
이하, 본 발명의 실시예를 첨부한 도면들을 참조하여 상세히 설명하기로 한다.
도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 가스 누출을 검출하기 위한 개념도이며, 도 2는 본 발명의 일 실시예에 따른 암모니아 가스의 흡수라인 특성을 예시한 도면이고, 도 3은 본 발명의 일 실시예에 따른 광원에 의해 발생된 가스 라인의 특성을 예시한 도면이다.
도 1에서 예시된 바와 같이, 리크 검출 장치(110)가 대상체에 복수의 광을 조사할 수 있다. 여기서, 대상체는 복수의 방벽(예를 들어, 1차 방벽 및 2차 방벽)을 구비한 MARK III, KC-1, No.96 타입의 화물창 등일 수 있다. 즉, 대상체는 내부의 가장 안쪽에 가스와 직접 맞닿는 부분에 금속 재질의 1차 방벽이 형성되어 있다. 그리고, 1차 방벽의 바깥쪽에 트리플렉스(triplex) 재질, 인바강(invar) 또는 스테인리스강(stainless steel) 등 금속 재질의 2차 방벽이 형성될 수 있다. 또한, 대상체의 1차 방벽 및 2차 방벽 사이의 공간은 대상체 내부의 압력보다 약간 높은 상태를 유지하는 것을 가정하여 설명하기로 한다. 또한, 대상체 내부의 조명은 리크 검출 장치(110)에서 조사되는 광(光)의 각각의 파장(λ1, λ2)과의 간섭을 피할 수 있는 조명을 구비하고 있는 것을 가정하여 설명하기로 한다.
이와 같은 상태에서 리크 검출 장치(110)는 대상체에서 반사되는 각각의 반사광을 획득한 후 이를 이용하여 대상체의 해당 영역(즉, 광이 조사된 영역, 이하에서는 이해와 설명의 편의를 위해 '대상 영역'이라 칭하기로 한다)에 리크(leak)가 존재하는지 여부를 판단할 수 있다.
또한, 본 명세서에서는 대상체의 1차 방벽 및 2차 방벽 사이의 공간에 임의의 가스와 혼합된 기체가 존재하는 것을 가정하여 설명하기로 한다. 본 명세서에서는 이해와 설명의 편의를 도모하기 위해 임의의 가스가 암모니아 가스인 것을 가정하여 이를 중점으로 설명하기로 한다. 각각의 가스는 각각 고유의 흡수스펙트럼을 가지고 있다. 도 2에는 암모니아 가스의 흡수 스펙트럼이 예시되어 있으며, 도 3에는 암모니아 가스와 동일한 파장을 갖는 광(예를 들어, CO2)의 스펙트럼이 예시되어 있다.
예를 들어, 1차 방벽 및 2차 방벽 사이에 공간이 존재하는데 이 공간에 가스를 주입하면 1차 방벽에 리크가 존재하는 경우에 가스가 탱크 내부로 새어 나오게 된다. 이때 가스와 반응할 수 있는 광을 대상체의 1차 방벽에 조사하는 경우 리크를 통해 새어 나오는 가스와의 반응 여부에 따라 반사광이 유지 또는 줄어들게 된다. 이와 같은 원리를 이용하여 리크 검출 장치(110)는 대상체의 리크를 검출할 수 있다. 이에 대해서는 하기에서 관련 도면을 참조하여 상세히 설명하기로 한다.
도 4는 본 발명의 일 실시예에 따른 리크 검출 장치의 내부 기능 블록을 예시한 도면이고, 도 5는 본 발명의 일 실시예에 따른 광검출부의 내부 기능 블록을 예시한 도면이며, 도 6 및 도 7은 본 발명의 일 실시예에 따른 반사광의 스펙트럼을 예시한 도면이다.
도 4에서 보여지는 바와 같이, 본 발명에 따른 리크 검출 장치(110)는 제1 광원(410), 제2 광원(415), 광검출부(420) 및 제어부(425)를 포함하여 구성된다. 이하, 도 4에는 도시도어 있지 않으나 해당 리크 검출 장치(110)는 당해 리크 검출 장치(110)의 동작 제어를 위한 명령을 입력받기 위한 입력 수단을 구비한 것을 가정하여 설명하기로 한다.
제1 광원(410) 및 제2 광원(415)은 제어부(425)의 제어에 의해 동시에 동작 개시 또는 동작 종료된다. 또한, 제1 광원(410) 및 제2 광원(415)은 평행하게 인접하여 당해 리크 검출 장치(110)에 형성된다. 이와 같이, 평행하여 인접하게 형성된 제1 광원(410) 및 제2 광원(415)은 제어부(425)의 제어에 의해 동작 개시되어 광이 출사될 수 있다. 제1 광원(410) 및 제2 광원(415)에서 출사되는 광의 파장은 제1 광원(410) 및 제2 광원(415)으로 가해지는 전압 또는 전류의 값을 변화시킴으로써 변화시킬 수 있다.
즉, 제1 광원(410) 및 제2 광원(415)으로 가해지는 전압 또는 전류의 값에 상응하여 제1 광원(410) 및 제2 광원(415)에서 출사되는 광의 파장이 달라진다. 제1 광원(410) 및 제2 광원(415)으로 가해지는 전압 또는 전류를 변조주파수(f)의 속도로 변화시키면 광원에서 출사되는 광의 파장 또한 변조주파수의 속도로 변화한 다. 보다 상세하게, 제1 광원(410) 및 제2 광원(415)으로 가해지는 전압 또는 전류 값을 변조주파수(f)의 속도로 변화하게 되면 광원에서 출사되는 광의 파장은 전압이나 전류 값의 변화에 따라 변화하게 되므로, 전압 또는 전류의 변화와 동일한 속도(즉, 변조주파수(f)의 속도)로 변화하게 된다. 이에 따라, 제1 광원(410) 및 제2 광원(415)은 동일한 세기 및 감쇠율을 갖는 광을 각각 출사한다. 즉, 제1 광원(410) 및 제2 광원(415)에 가해지는 전압 또는 전류의 값은 동일함을 알 수 있다.
본 명세서에서는 복수의 광원을 구비하여 복수의 광을 대상체에 조사하는 것을 가정하여 이를 중점으로 설명하고 있으나, 구현 방법에 따라 하나의 광원을 통해 복수의 광을 대상체에 조사할 수도 있다.
예를 들어, 광원에 복수의 필터를 구비하여 각각의 필터를 이용하여 복수의 광을 출사할 수도 있다.
또한, 본 명세서에서는 출사되는 복수의 광 중 어느 하나는 대상체 내부에 포함된 가스와 반응하며, 다른 하나는 반응하지 않는 것을 가정하여 설명하기로 한다. 예를 들어, 대상체의 내부에 암모니아 가스가 기체와 혼합되어 있다고 가정하자. 이와 같은 경우, 광원에 의해 출사되는 광 중 어느 하나는 암모니아 가스와 반응할 수 있는 CO2 광일 수 있다. 이로 인해, 대상체에 리크가 존재하게 되면, 해당 광이 암모니아 가스와 반응하게 되며, 결과적으로 반사되는 반사광이 현저하게 줄어드는 것을 알 수 있다. 이에 대해서는 하기에서 도 7을 이용하여 다시 설명하기 로 한다.
광검출부(420)는 대상체를 통해 반사된 반사광을 측정하여 리크(leak)가 존재하는지 여부를 판단하는 기능을 수행한다.
예를 들어, 제1 광원(410) 및 제2 광원(415)이 대상체의 1차 방벽의 임의의 부분(이해와 설명의 편의를 위해 '대상 부분' 이라 칭함)에 각각 광을 조사하였다고 가정하자. 광검출부(420)는 대상 부분을 통해 반사된 반사광의 세기를 각각 측정할 수 있다. 그리고, 광검출부(420)는 측정된 각각의 반사광호의 세기가 미리 설정된 임계치 이상의 차이가 있는 경우 대상 부분에 리크가 존재하는 것으로 인식할 수 있다. 그러나 만일 반사광의 세기가 임계치 이상의 차이가 없는 경우에는 대상 부분에 리크가 존재하지 않은 것으로 인식할 수 있다.
다른 예를 들어, 광검출부(420)는 대상체를 통해 반사된 반사광을 측정한 후 해당 신호의 스펙트럼을 분석하여 동일한지 여부를 판단하여 대상 부분에 리크가 존재하는지 여부를 판단할 수도 있다.
도 5를 참조하면, 광검출부(420)는 복수의 센서(예를 들어, 제1 센서(510), 제2 센서(515)(505) 및 신호처리부(520)를 포함한다.
복수의 센서(505)는 제1 광원(410) 및 제2 광원(415)에서 출사되어 대상체를 통해 반사된 반사광을 측정하여 신호처리부(520)로 출력한다. 예를 들어, 센서(505)는 포토다이오드 또는 이미지 센서일 수 있다.
본 발명에 따른 리크 검출 장치(110)는 복수의 광원을 포함하여 광을 출사하므로 광검출부(420)는 해당 광에 상응하는 반사광을 측정하기 위해 복수의 센 서(505)를 구비할 수 있다. 전술한 바와 같이, 리크 검출 장치(110)는 하나의 광원에 복수의 필터를 구비하여 복수의 광을 출사할 수도 있다.
신호처리부(520)는 측정된 복수의 반사광을 분석하여 대상체에 리크가 존재하는지 여부를 판단한다.
예를 들어, 신호처리부(520)는 측정된 복수의 반사광의 세기를 산출한 후 각각의 반사광의 세기를 비교하여 임계치 이상 차이가 있는지 여부를 판단한다. 판단 결과 임계치 이상의 차이가 있는 경우, 신호처리부(520)는 대상체의 대상 부분에 리크가 존재하는 것으로 판단할 수 있다. 그러나 만일 신호처리부(520)는 임계치 이상 차이가 없는 경우에는 대상체의 대상 부분에 리크가 존재하지 않는 것으로 판단할 수 있다.
다른 예를 들어, 신호처리부(520)는 측정된 복수의 반사광에 상응하는 각각의 스펙트럼을 산출한 후 이를 비교할 수 있다. 그리고, 신호처리부(520)는 비교결과 각각의 스펙트럼이 동일하면 대상체의 대상 부분에 리크가 존재하지 않는 것으로 판단할 수 있다. 그러나 만일 각각의 스펙트럼이 동일하지 않으면 신호처리부(520)는 대상체의 대상 부분에 리크가 존재하는 것으로 판단할 수도 있다.
도 6 및 도 7에 복수의 반사광의 스펙트럼을 나타낸 그래프가 예시되어 있다. 도 6에서 보여지는 바와 같이, 리크가 존재하지 않은 경우 각각의 반사광의 스펙트럼이 매우 유사한 것을 알 수 있다.
반면에, 도 7을 참조하면 각각의 반사광의 스펙트럼이 차이가 있는 것을 알 수 있다. 이는 제1 광원(410) 및 제2 광원(415)을 통해 출사된 광이 대상체의 리크 로 인해 대상체 내의 가스와 반응하여 수신된 반사광의 파장이 줄어든 경우에는 도 7과 같이 반사광의 스펙트럼 상에 차이가 존재하게 된다. 따라서, 신호처리부(520)는 각각의 반사광을 비교하여 임계치 이상의 차이가 있는 경우에는 대상체의 대상 부분에 리크가 존재하는 것으로 인식할 수 있다. 여기서, 신호처리부(520)는 반사광의 중심 파장을 각각 산출하여 중심 파장을 비교할 수도 있다.
제어부(425)는 본 발명에 따른 리크 검출 장치(110)의 내부 구성 요소(예를 들어, 제1 광원(410), 제2 광원(415), 광검출부(420) 등)을 제어하는 기능을 수행한다.
도 8은 본 발명의 일 실시예에 따른 리크 검출 장치가 대상체의 리크를 검출하는 방법을 나타낸 순서도이다. 이하의 설명에서 대상체는 MARK III, KC-1, No.96 타입 등 모든 형태의 화물창일 수 있다. 그리고, 리크 검출 장치(110)는 대상체 내부의 1차 방벽에 광을 조사하는 것을 가정하여 이를 중심으로 설명하기로 한다. 물론, 전술한 바와 같이, 1차 방벽 및 2차 방벽 사이의 공간은 화물창의 탱크 내부보다 압력이 높은 것을 가정하여 이를 중점으로 설명하기로 한다. 또한, 1차 방벽 및 2차 방벽 사이의 공간에 리크 검출 장치(110)에서 조사되는 광과 반응할 수 있는 가스가 주입되어 있는 것을 가정하여 설명하기로 한다. 또한, 이하에서 설명되는 각각의 단계는 리크 검출 장치(110)의 각각의 내부 구성 요소에서 수행되어지나 이해와 설명의 편의를 도모하기 위해 리크 검출 장치로 통칭하여 설명하기로 한다.
단계 810에서 리크 검출 장치(110)는 복수의 광을 대상체에 조사한다. 즉, 리크 검출 장치(110)는 복수의 광을 화물창의 1차 방벽에 조사할 수 있다.
단계 815에서 리크 검출 장치(110)는 대상체를 통해 반사된 복수의 반사광을 측정한다.
예를 들어, 리크 검출 장치(110)는 광센서를 이용하여 반사된 복수의 반사광의 세기를 각각 측정할 수 있다.
또한, 리크 검출 장치(110)는 복수의 이미지 센서(즉, 포토다이오드)를 구비하여 반사된 복수의 반사광을 측정할 수도 있다.
단계 820에서 리크 검출 장치(110)는 측정된 복수의 반사광이 동일한지 여부를 판단한다.
예를 들어, 리크 검출 장치(110)는 측정된 복수의 반사광의 각각의 중심 파장을 산출한 후 각각의 중심 파장이 동일한지 여부를 판단할 수도 있다. 물론, 미리 설정된 임계치 이상의 차이가 없는 경우, 리크 검출 장치(110)는 각각의 반사광이 동일한 것으로 인식할 수도 있다.
다른 예를 들어, 리크 검출 장치(110)는 측정된 복수의 반사광의 스펙트럼을 산출한 후 각각 비교하여 각각의 스펙트럼이 동일한지 여부를 판단할 수도 있다.
만일 동일하다면, 단계 825에서 리크 검출 장치(110)는 대상체에 리크가 존재하지 않는 것으로 판단한다.
그러나 만일 동일하지 않다면, 단계 830에서 리크 검출 장치(110)는 대상체에 리크가 존재하는 것으로 판단한다.
상기에서는 본 발명의 바람직한 실시예를 참조하여 설명하였지만, 해당 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자라면 하기의 특허 청구의 범위에 기재된 본 발명의 사상 및 영역으로부터 벗어나지 않는 범위 내에서 본 발명을 다양하게 수정 및 변경시킬 수 있음을 이해할 수 있을 것이다.
도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 가스 누출을 검출하기 위한 개념도.
도 2는 본 발명의 일 실시예에 따른 암모니아 가스의 흡수라인 특성을 예시한 도면.
도 3은 본 발명의 일 실시예에 따른 광원에 의해 발생된 가스 라인의 특성을 예시한 도면.
도 4는 본 발명의 일 실시예에 따른 리크 검출 장치의 내부 기능 블록을 예시한 도면.
도 5는 본 발명의 일 실시예에 따른 광검출부의 내부 기능 블록을 예시한 도면.
도 6 및 도 7은 본 발명의 일 실시예에 따른 반사광의 스펙트럼을 예시한 도면.
도 8은 본 발명의 일 실시예에 따른 리크 검출 장치가 대상체의 리크를 검출하는 방법을 나타낸 순서도.

Claims (14)

  1. 리크(leak)를 검출할 수 있는 리크 검출 장치에 있어서,
    복수의 광(光)을 대상체에 조사(照射)하는 복수의 광원-상기 복수의 광원은 평행하게 인접되며, 상기 복수의 광원에서 조사되는 각각의 광은 세기 및 감쇠율이 동일함; 및
    상기 광이 상기 대상체를 반사하여 반사된 복수의 반사광을 분석하여 상기 대상체의 리크 존재 여부를 검출하는 광검출부를 포함하되,
    상기 대상체는 하나 이상의 방벽이 형성된 화물창이며, 방벽 사이의 공간은 상기 화물창의 탱크 내부보다 압력이 높은 것을 특징으로 하는 리크 검출 장치.
  2. 제1 항에 있어서,
    복수의 광 중 어느 하나는 상기 대상체 내부에 흡수된 가스의 흡수 스펙트럼의 파장 범위 내에서 변화하며,
    상기 복수의 광 중 다른 하나는 상기 대상체 내부에 흡수된 가스의 흡수 스펙트럼의 파장 범위 내에서 변화하지 않는 것을 특징으로 하는 리크 검출 장치.
  3. 제2 항에 있어서,
    상기 광검출부는,
    제1 반사광 및 제2 반사광의 세기를 각각 측정하며, 상기 측정된 제1 반사광의 세기 및 제2 반사광의 세기가 임계치 이상 차이가 있는 경우 상기 대상체에 리크가 존재하는 것으로 판단하는 것을 특징으로 하는 리크 검출 장치.
  4. 제2 항에 있어서,
    상기 광검출부는,
    각각의 반사광을 측정할 수 있는 복수의 포토다이오드; 및
    상기 복수의 포토다이오드를 통해 측정된 각각의 반사광의 스펙트럼을 비교하여 동일하지 않은 경우 상기 대상체에 리크가 존재하는 것으로 판단하는 신호처리부를 포함하는 것을 특징으로 하는 리크 검출 장치.
  5. 삭제
  6. 삭제
  7. 삭제
  8. 리크 검출 장치가 리크를 검출하는 방법에 있어서,
    복수의 광을 평행하고 인접되며, 세기 및 감쇠율이 동일하게 대상체에 조사(照射)하는 단계; 및
    상기 광이 상기 대상체를 반사하여 반사된 복수의 반사광을 분석하여 상기 대상체의 리크 존재 여부를 검출하는 단계를 포함하되,
    상기 대상체는 하나 이상의 방벽이 형성된 화물창이며, 방벽 사이의 공간은 상기 화물창의 탱크 내부보다 압력이 높은 것을 특징으로 하는 리크 검출 방법.
  9. 제8 항에 있어서,
    상기 복수의 광 중 어느 하나는 상기 대상체 내부에 흡수된 가스의 흡수 스펙트럼의 파장 범위 내에서 변화하며,
    상기 복수의 광 중 다른 하나는 상기 대상체 내부에 흡수된 가스의 흡수 스펙트럼의 파장 범위 내에서 변화하지 않는 것을 특징으로 하는 리크 검출 방법.
  10. 제8 항에 있어서,
    상기 대상체의 리크를 검출하는 단계는,
    상기 복수의 반사광의 세기를 각각 측정하는 단계;
    상기 측정된 복수의 반사광의 세기가 임계치 이상 차이가 있는지 여부를 판단하는 단계; 및
    임계치 이상 차이가 있는 경우 상기 대상체에 리크가 존재하는 것으로 판단하는 단계를 포함하는 리크 검출 방법.
  11. 제8 항에 있어서,
    상기 대상체의 리크를 검출하는 단계는,
    상기 복수의 반사광을 측정하는 단계;
    상기 측정된 복수의 반사광의 스펙트럼을 생성하고 비교하여 동일한지 여부를 판단하는 단계; 및
    동일하지 않은 경우 상기 대상체에 리크가 존재하는 것으로 판단하는 단계를 포함하는 리크 검출 방법.
  12. 삭제
  13. 삭제
  14. 삭제
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