KR100969292B1 - Testing apparatus for test piece of light emission - Google Patents

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Abstract

본 발명은 박막 디스플레이 시편의 기계적 변형에 따른 광학적, 전기적 특성을 시험하기 위한 발광소자 시편의 특성 시험장치에 관한 것으로, 이를 위해 상기 시편의 양측을 클램핑하여 액츄에이터의 작동에 의해 시편에 반복적으로 연신, 피로하중 또는 굽힘과 같은 기계적 변형을 가하는 시험기와, 상기 시험기에 클램핑된 시편에 다양한 세기를 갖는 전류 또는 전압을 가하고, 기계적 변형에 따른 발광소자의 단락 여부 및 전기적 저항과, 전류의 통전량을 측정하기 위한 전기적 소스-측정기와, 상기 시편의 발광소자에서 조사되는 광을 수광하여 시편의 기계적 변형과 전기적 저항, 전류의 통전량에 따른 광학적 특성을 측정하는 광측정기와, 상기 시험기의 광 특성 측정기와 전기적으로 연결되는 제어박스를 포함하여 이루어지는 것을 특징으로 한다.The present invention relates to a device for testing the characteristics of light emitting device specimens for testing the optical and electrical properties according to the mechanical deformation of a thin film display specimen. To this end, the two sides of the specimen are clamped and repeatedly drawn on the specimen by the operation of the actuator. A tester that applies mechanical deformation such as fatigue load or bending, and applies a current or voltage having various intensities to the clamped specimen, and measures the short circuit and electrical resistance of the light emitting device according to the mechanical deformation, and the amount of current carrying. An electrical source-measuring device, an optical measuring device for receiving optical light emitted from the light emitting device of the test piece, and an optical measuring device for measuring optical properties according to mechanical deformation, electrical resistance, and current carrying amount of the test piece; It characterized in that it comprises a control box that is electrically connected.

박막, 광측정기, 플렉시블, 디스플레이, 시험, 시편, 발광소자Thin film, photometer, flexible, display, test, specimen, light emitting device

Description

발광소자 시편 시험장치{TESTING APPARATUS FOR TEST PIECE OF LIGHT EMISSION}Light-Emitting Specimen Tester {TESTING APPARATUS FOR TEST PIECE OF LIGHT EMISSION}

본 발명은 클램핑된 발광소자를 갖는 시편에 연신과 피로하중과 굽힘과 같은 기계적 변형을 가해 재료에 따른 기계적 특성을 파악하고, 또한 다양한 세기를 갖는 전류를 가하여 기계적 변형에 따른 발광소자의 단락여부와 전기적 저항을 측정하고, 또한 시편의 발광소자에서 조사되는 광을 수광하여 시편의 기계적 변형에 따른 전기적 특성과 광학적 특성을 측정할 수 있는 구조의 발광소자 시편 시험 장치에 관한 것이다.The present invention is applied to the specimen having the clamped light emitting device by applying mechanical deformation such as stretching, fatigue load and bending to determine the mechanical properties according to the material, and by applying a current having various strength and whether the short circuit of the light emitting device according to the mechanical deformation and The present invention relates to a light emitting device specimen testing apparatus having a structure capable of measuring electrical resistance and receiving light irradiated from a light emitting device of a specimen to measure electrical and optical properties according to mechanical deformation of the specimen.

일반적으로 제품이 일상 생활에 깊숙이 침투하기 시작하면서 플라즈마(PDP), 액정(LCD), 유기발광다이오드(OLED) 등 첨단 디스플레이에 대한 소비자들의 관심이 무척 높아지고 있다.In general, as products begin to penetrate deep into daily life, consumers' interest in advanced displays such as plasma (PDP), liquid crystal (LCD), and organic light emitting diode (OLED) is increasing.

이 때문에 개발업체들은 최첨단 디스플레이 기술 개발에 치열한 경쟁을 펼치고 있으며, 현재까지는 고화질, 초슬림, 초경량의 디스플레이가 기술 경쟁의 핵심이 되고 있으나 이제는 휘는 디스플레이 연구개발에도 박차를 가하고 있다.As a result, developers are fiercely competing for the development of cutting-edge display technology. Until now, high-definition, ultra-slim, and ultra-light displays have become the core of the technology competition, but now they are accelerating the research and development of curved displays.

여기서 플렉시블 디스플레이(Flexible Display)라고 부르는 이 기술은 플라스틱 등 휠 수 있는 기판에 만들어진 평판 디스플레이로 우수한 화면표시 특성을 그대로 지니면서 구부리거나 두루마리 형태로 둘둘 말 수 있는 편리함 때문에 차세대 평판 디스플레이의 총아로 떠오르고 있다.Called Flexible Display, this technology is a flat panel display made of plastic and bendable substrates, and it is emerging as the next generation of flat panel display because of its convenience of bending or scrolling with excellent display characteristics. .

플렉시블 디스플레이는 기존의 LCD나 OLED에서 액정을 싸고 있는 유리로 된 기판을 플라스틱 필름으로 대체함으로써 유리기판을 사용하는 LCD나 OLED에 비해 얇고 가볍고 충격에도 강한 유연성을 갖고 있다.Flexible displays are thinner, lighter and more resistant to shock than LCDs and OLEDs that use glass substrates by replacing glass substrates that cover liquid crystals with conventional plastics or OLEDs.

이러한 플렉시블 디스플레이는 그 형태를 구부리거나 두무마리 형태로 가변되기 때문에 기계적 변형에 따른 발광소자의 전기적 및 광학적 특성이 매우 중요하므로 다양한 역학과 연관된 광학특성 실험이 요구된다.Since the flexible display is bent or changed in the form of a duvet, the electrical and optical characteristics of the light emitting device due to mechanical deformation are very important, and thus, optical characteristics experiments related to various dynamics are required.

하지만 종래에는 플렉시블 디스플레이 시편을 통해 다양한 전류의 세기에 따른 광학 특성만 측정하였다.However, conventionally, only the optical characteristics of various current intensities were measured through the flexible display specimen.

따라서 이러한 플렉시블 디스플레이는 기계적 변형(굽힘, 피로하중, 연신)에 따른 광학특성이 매우 중요하나, 이를 측정하거나 시험할 수 있는 장치가 전무하기 때문에 이를 시험하여 측정할 수 있는 장치가 요구되고 있는 실정이다.Therefore, such a flexible display is very important in the optical properties due to mechanical deformation (bending, fatigue load, stretching), but there is no device that can measure or test this situation is required a device that can test and measure it .

본 발명은 상기와 같은 문제점을 감안하여 안출된 것으로, 본 발명은 발고아소자를 갖는 시편의 기계적인 변형에 따른 광학적, 전기적 특성의 변화를 시험하기 위한 장치에 있어서, 상기 시편의 양측을 클램핑하여 액츄에이터의 작동에 의해 시편에 반복적으로 연신과 피로하중과 굽힘과 같은 기계적 변형을 가하는 시험기와, 상기 시험기에 클램핑된 시편에 다양한 세기를 갖는 전류 또는 전압을 가하여 기계적 변형에 따른 발광소자의 단락여부 및 전기적 저항과, 전류의 통전량을 측정하는 전기적 소스-측정기와, 상기 시편의 발광소자에서 조사되는 광을 수광하여 시편의 기계적 변형과 , 전기적 저항, 전류의 통전량에 따른 광학적 특성을 측정하는 광측정기와, 상기 시험기의 광 특성 측정기와 전기적으로 연결되는 제어박스를 포함하여 이루어지는 것을 특징으로 하는 발광소자 시편 시험장치를 제공하는데 있다.The present invention has been made in view of the above problems, the present invention is a device for testing the change in the optical and electrical properties according to the mechanical deformation of the specimen having a foot orphan element, by clamping both sides of the specimen A tester that repeatedly applies mechanical deformation such as stretching, fatigue load and bending by operation of the actuator, and whether the short circuit of the light emitting device due to mechanical deformation is applied by applying a current or voltage having various intensities to the test piece clamped to the tester; An electrical source-measuring device for measuring the electrical resistance and the current carrying amount, and a light for receiving the light emitted from the light emitting device of the test piece and measuring the optical properties according to the mechanical deformation, electrical resistance, and current carrying amount of the test piece. And a control box electrically connected to the measuring device and the optical property measuring device of the tester. It is to provide a light emitting device specimen testing device characterized in that.

본 발명에 따른 발광소자 시편 시험장치에 따르면, 본 발명은 클램핑된 시편에 연신과 피로하중과 굽힘과 같은 기계적 변형을 가해 재료의 기계적 특성을 파악하고, 또한 다양한 세기를 갖는 전류를 가하여 기계적 변형에 따른 발광소자의 단 락여부와 전기적 저항을 측정하고, 또한 시편의 발광소자에서 조사되는 광을 수광하여 시편의 기계적 변형과 전류의 세기 및 전기적 저항 변화에 따른 광학적 특성을 복합적으로 측정할 수 있는 장점이 있다.According to the light emitting device specimen testing apparatus according to the present invention, the present invention applies mechanical deformation such as stretching, fatigue load and bending to the clamped specimen to grasp the mechanical properties of the material, and also applies a current having various intensities to the mechanical deformation. Measuring the short-circuit of the light emitting device and the electrical resistance, and receiving light emitted from the light emitting device of the test piece, and measuring the mechanical properties of the test piece and the optical properties according to the change in the strength and electrical resistance of the test piece There is this.

이하에서는 본 발명에 따른 발광소자 시편 시험장치에 관하여 첨부되어진 도면과 함께 더불어 상세히 설명하기로 한다.Hereinafter, the light emitting device specimen test apparatus according to the present invention will be described in detail together with the accompanying drawings.

도 1은 본 발명에 따른 발광소자 시편 시험장치의 구성도이고, 도 2는 도 1에서 발췌된 시편의 개념도이고, 도 3은 도 1에서 발췌된 클램프를 도시한 사시도이고, 도 4는 도 3에서 A방향으로 바라본 클램프를 평면도이고, 도 5는 도 3에서 시편의 기계적 특성에 따른 형상 변화를 나타내는 개념도이며, 도 6은 본 발명에 따른 발광소사 시편 시험장치의 블럭도이다.1 is a configuration diagram of a light emitting device specimen test apparatus according to the present invention, FIG. 2 is a conceptual diagram of a specimen extracted from FIG. 1, FIG. 3 is a perspective view showing a clamp extracted from FIG. 1, and FIG. 4 is FIG. 3. Is a plan view of the clamp viewed in the A direction, Figure 5 is a conceptual diagram showing the shape change according to the mechanical properties of the specimen in Figure 3, Figure 6 is a block diagram of a light emitting sand specimen test apparatus according to the present invention.

도 1 내지 도 6에 도시된 바와 같이, 본 발명은 발광소자를 갖는 시편(10)의 기계적인 변형에 따른 광학적, 전기적 특성을 시험하기 위한 발광소자 시편 시험장치(100)에 관한 것이다.
이러한 본 발명의 시험장치는 상기한 바와 같이, 광학적 특성을 시험하는 부분, 전기적 특성을 시험하는 부분, 기계적인 특성을 시험하는 부분으로 구성되고 각 특성들의 동시에 비교 분석할 수 있는 제어박스로 구분된다. As shown in Figure 1 to 6, the present invention relates to a light emitting device specimen test apparatus 100 for testing the optical and electrical characteristics according to the mechanical deformation of the specimen 10 having a light emitting device.
As described above, the test apparatus of the present invention is composed of a part for testing optical properties, a part for testing electrical properties, and a part for testing mechanical properties, and is divided into a control box capable of simultaneously comparing and analyzing each property. .

즉, 본 발명의 발광소자 시편 시험장치(100)는 4부분으로 구성되는데, 이는 시편(10)을 클램핑하여 기계적 변형을 가하는 시험기(20)와, 상기 시편(10)에 전기적 소스를 공급하고 전기적 특성을 측정하는 전기적 소스-측정기(50)와, 공급된 전기적 소스를 통해 시편(10)을 구성하는 발광소자(13)에서 조사되는 광을 센싱하는 광측정기(30)와, 상기 시험기, 광측정기, 전기적 소스-측정기와 전기적으로 연결되어 이들에 공급되는 전원을 제어하고, 이들로부터 얻어진 각각의 특성 정보를 저장 및 분석하는 제어박스(40)로 구성된다.
상기와 같은 본 발명의 구성에 있어서, 광학적 특성을 시험하는 부분은 광측정기(30)이고, 전기적 특성을 측정하는 부분은 전기적 소스-측정기이고, 기계적인 특성을 시험하는 부분은 시험기(20)이며, 상기 제어박스(40)는 상기 각 구성요소로부터 감지된 정보를 분석하여 시편의 기계적인 변형에 따른 광학적, 전기적인 특성을 분석하는 것이다. That is, the light emitting device specimen test apparatus 100 of the present invention is composed of four parts, which is a tester 20 for applying mechanical deformation by clamping the specimen 10, and supplying an electrical source to the specimen 10 and electrically An electrical source-measuring device 50 for measuring characteristics, an optical meter 30 for sensing light emitted from the light emitting element 13 constituting the specimen 10 through the supplied electrical source, the tester, the optical meter And a control box 40 electrically connected to an electrical source-measuring device to control the power supplied to them, and to store and analyze respective characteristic information obtained from them.
In the configuration of the present invention as described above, the part for testing the optical characteristics is an optical meter 30, the part for measuring the electrical characteristics is an electrical source-meter, the part for testing the mechanical characteristics is a tester 20 The control box 40 analyzes the information detected from each of the components to analyze the optical and electrical characteristics according to the mechanical deformation of the specimen.

여기서 시편(10)은 기계적 변형을 가할 수 있도록 플렉시블(Flexible)한 것이 바람직하며, 이러한 플렉시블한 시편(10)은 폴리머 재질의 기질층(11)과, 인듐 틴 옥사이드(ITO: Indium Tin Oxide) 재질의 투명전극박판층(12)과, 상기 투명전극박판층(12)에 증착된 발광소자(13)로 이루어진다.In this case, the specimen 10 is preferably flexible so as to apply mechanical deformation. The flexible specimen 10 is a polymer substrate layer 11 and an indium tin oxide (ITO) material. A transparent electrode thin film layer 12 and a light emitting element 13 deposited on the transparent electrode thin film layer 12.

그리고 상기 발광소자(13)는 LOD, LED, OLED, PDLC(Polymer Dispersed Liquid Crystal) 중 선택되는 어느 하나인 것이 바람직하다.The light emitting device 13 may be any one selected from among LOD, LED, OLED, and PDLC (Polymer Dispersed Liquid Crystal).

아울러 시험기(20)는 시편(10)의 양측을 클램핑하여 액츄에이터(26)의 작동에 의해 시편(10)에 반복적으로 연신과, 피로하중과, 굽힘과 같은 기계적 변형을 가하여 재료에 따른 기계적 특성을 파악하는 기능을 한다.(도 5에 도시)In addition, the tester 20 clamps both sides of the specimen 10 and repeatedly applies mechanical deformations such as stretching, fatigue load, and bending to the specimen 10 by the operation of the actuator 26 to provide mechanical properties according to the material. Functions to grasp (shown in Figure 5).

이러한 상기 시험기(20)는 시편(10)을 클램핑할 수 있는 2개의 클램프(25)가 구비되어 있으며, 상기 2개의 클램프(25) 중 어느 하나는 액츄에이터(26)와 연결되어 기계적 변형을 반복적으로 가하고, 다른 하나의 클램프(25)는 로드셀(24)에 연결되어 있어 액츄에이터(26)를 통해 시편으로 가해지는 힘을 감지할 수 있도록 구성된다.The tester 20 is provided with two clamps 25 capable of clamping the specimen 10, and any one of the two clamps 25 is connected to the actuator 26 to repeatedly perform mechanical deformation. In addition, the other clamp 25 is connected to the load cell 24 is configured to detect the force applied to the specimen through the actuator (26).

이러한 상기 시험기(20)는 베이스(21)의 상부에 고정된 액츄에이터(26)와, 상기 액츄에이터(26)와 일정간격을 두고 수평이동가능하게 상기 베이스(21)의 상부면에 배치되는 이동형판(22)과, 상기 이동형판(22)에 전방에 고정되어 상/하/좌/우 높이 조절과 회전각도를 조절하는 정렬부(23)와, 상기 정렬부(23)의 전방에 고정되어 액츄에이터(26)에 의해 가해져 시편(10)이 당겨지는 힘을 측정하는 로드셀(24)과, 상기 로드셀(24) 및 액츄에이터(26)에 고정되어 시편(10)을 클램핑하는 클램프(25)로 구성된다.The tester 20 is an actuator 26 fixed to the upper portion of the base 21, and a movable plate disposed on the upper surface of the base 21 so as to be horizontally movable at a predetermined interval from the actuator 26 ( 22), an alignment unit 23 fixed to the front of the movable plate 22 to adjust the height / bottom / left / right height adjustment and rotation angle, and an actuator fixed to the front of the alignment unit 23 The load cell 24 is applied to the load cell 24 to measure the pulling force of the specimen 10, and the clamp 25 is fixed to the load cell 24 and the actuator 26 to clamp the specimen 10.

여기서 이동형판(22)은 베이스(21)의 상부에 구비된 가이드레일(211)에 설치되어 상기 가이드레일(211)을 따라 전/후로 이동되어 액츄에이터(26)와의 거리를 조절할 수 있도록 구성된다.Here, the movable plate 22 is installed on the guide rail 211 provided on the upper portion of the base 21 and is configured to be moved forward / backward along the guide rail 211 to adjust the distance to the actuator 26.

따라서 이동형판(22)에 순차적으로 결합된 정렬부(23) 및 로드셀(24) 역시 이동형판(22)과 동반 이송되는 구조이다.Therefore, the alignment part 23 and the load cell 24 which are sequentially coupled to the movable platen 22 are also transported together with the movable platen 22.

아울러 상기 정렬부(23)는 마이크로미터 단위로 움직이는 2축 포지셔너(231)와, 고니어미터(232)와, 로테이셔너(233)의 4 자유도를 갖는 스테이지로 구성되며, 각 클램프(25)에 고정된 시편(10)의 수평을 맞출 수 있도록 구성된다.In addition, the alignment unit 23 is composed of a biaxial positioner 231, a goniometer 232, and a stage having four degrees of freedom of the rotator 233, which move in micrometers, and each clamp 25 It is configured to level the specimen 10 fixed to the.

그리고 각 클램프(25)는 상호 분리구성되어 시편(10)을 안정적으로 고정할 수 있도록 볼팅 결합되는 하부고정대(251)와 상부고정대(252)로 구성된다.And each clamp 25 is configured to be separated from each other is composed of a lower fixing stand 251 and the upper fixing stand 252 is bolted to be securely fixed to the specimen (10).

이 때 상기 각 상부고정대(252)에는 전기적 소스-측정기(50)를 통해 시편(10)에 전류 및 전압을 가할 수 있도록 전기적 소스-측정기(50)와 연결되는 압정과 같은 "ㅗ" 형상의 전극핀(252a)이 연결되는 구조이다.(도 3에 도시)At this time, each of the upper fixing stand 252 is a "ㅗ" shaped electrode such as a push pin connected to the electrical source-measuring device 50 to apply current and voltage to the specimen 10 through the electrical source-measuring device 50. The pin 252a is connected (shown in FIG. 3).

여기서 전극핀(252a)은 압정의 머리 부분에 해당하는 부위가 하부고정대(251)의 저면에 노출되어 시편(10)과 밀착되며, 중앙의 돌출부위는 상부고정대(252)의 상부면으로 노출되어 전기적 소스-측정기(50)와 연결될 수 있도록 구성된다.Herein, the electrode pin 252a is exposed to the bottom surface of the lower fixing stand 251 to be in close contact with the specimen 10, and the protruding portion of the center is exposed to the upper surface of the upper fixing stand 252. It is configured to be connected with the electrical source-meter 50.

아울러 상기 각 클램프(25) 중 어느 하나는 하부고정대(251)의 전방으로 두개의 수평밸런스봉(251a)이 돌출되어 구성되고, 다른 하나는 이에 대응되는 밸런스홈(251b)이 형성되어 두개의 클램프(25)를 동일 각도, 동일 높이로 세팅 가능하도 록 구성된다. 여기서 세팅은 정렬부(23)의 2축 포지셔너(231)와, 고니어미터(232)와, 로테이셔너(233)에 의해 가능하다. In addition, one of each of the clamps 25 is formed by protruding two horizontal balance rods 251a toward the front of the lower fixing stand 251, the other one is formed with a corresponding balance groove 251b It is configured to be able to set 25 at the same angle and the same height. The setting is possible here by the biaxial positioner 231, the goniometer 232, and the rotator 233 of the alignment unit 23.

아울러 전기적 소스-측정기(electric source-measure unit)(50)는 시험기(20)의 기계적 변형에 따른 시편의 발광소자(13)의 단락여부와 전기적 저항과 전류의 통전량을 측정할 수 있도록 다양한 세기를 갖는 전류를 공급하는 기능을 하며, 상기 각 클램프(25)에 돌출된 전극핀(252a)에 연결되는 구조이다.In addition, the electric source-measure unit 50 has various intensities so as to measure whether the light emitting device 13 of the specimen is short-circuited and the electrical resistance and current flow amount according to the mechanical deformation of the tester 20. It has a function of supplying a current having a structure that is connected to the electrode pins (252a) protruding from the respective clamps (25).

그리고 상기 광측정기(30)는 도 1에 도시한 바와 같이, 시편(10)에 설치된 발광소자(13)와 대향되는 상부면(도면상)에 설치되어 상기 시편(10)의 발광소자(13)에서 조사되는 광을 수광하여 시편(10)에 기계적 변형이 가해짐에 따라 전기적 저항 및 전류의 통전량 변화에 의한 광학적 특성 변화를 측정한다. As shown in FIG. 1, the photometer 30 is installed on an upper surface (on the drawing) opposite to the light emitting device 13 installed on the specimen 10 and the light emitting device 13 of the specimen 10. By receiving the light irradiated from the mechanical deformation is applied to the specimen 10, and measuring the change in the optical properties due to the change in the electrical resistance and the amount of current supplied.

즉, 여기서 상기 광측정기(30)는 광 특성을 측정하기 위한 것으로, 시편과 일정간격을 두고 이격 설치되어 시편(10)의 발광소자(13)에서 조사되는 광의 파장과, 광도, 복사도와, 색상을 검출하는 것으로, 상기 제어박스(40)에 연결되며, 상기 제어박스(40)의 디스플레이를 통해 시편(10)의 발광소자(13)에서 조사되는 광의 파장과, 광도, 복사도와, 색상을 검사할 수 있도록 구성된다.That is, the optical measuring device 30 is for measuring the optical characteristics, and is installed at a predetermined interval from the specimen, the wavelength, light intensity, radiance and color of the light irradiated from the light emitting element 13 of the specimen 10. It is connected to the control box 40 to detect the wavelength, light intensity, radiance and color of the light irradiated from the light emitting element 13 of the specimen 10 through the display of the control box 40 Configured to do so.

한편 액츄에이터(26), 로드셀(24) 역시 제어박스(40)에 연결되어 제어박스에 의해 제어되어 이들의 구동에 의해 시편(10)에 가해지는 기계적 변형의 크기와 이에 따른 시편(10)을 구성하는 발광소자의 광의 파장과, 광도, 복사도와, 색상을 관찰할 수 있다.
즉, 액츄에이터(26)의 작동시켜 시편(10)이 당겨지거나 눌리게 하고, 이때 때 로드셀(24)에서 감지된 힘을 감지하고, 이때 광측정기(30)와, 전기적 소스-측정기(50)에서 시편의 전기적/기계적 성질을 동시에 측정하여 시편(10)의 기계적인 변형에 따른 광학적, 전기적인 특성을 동시에 측정 비교할 수 있는 것이다. Meanwhile, the actuator 26 and the load cell 24 are also connected to the control box 40 and controlled by the control box to configure the size of the mechanical deformation applied to the specimen 10 by their driving and thus the specimen 10. The wavelength, light intensity, radiance and color of light of the light emitting device can be observed.
That is, the actuator 26 is operated to cause the specimen 10 to be pulled or pressed, and at this time, the force sensed by the load cell 24 is sensed, and at this time, the photometer 30 and the electrical source-meter 50 By measuring the electrical / mechanical properties of the specimen at the same time to measure and compare the optical and electrical properties of the mechanical deformation of the specimen 10 at the same time.

이상에서와 같이, 본 발명에 따른 발광소자 시편 시험장치(100)는 도 6과 같이, 하나의 제어박스(40)에서 로드셀(24) 액츄에이터(26), 광측정기(30), 전기적 소스-측정기(50)를 제어하고 데이터를 수집하고 디스플레이 할 수 있는 구조이다. 따라서 각 조건 즉, 기계적인 변형에 따른 시편의 광학적, 전기적 특성을 동시에 시험할 수 있다.
상기와 같은 본 발명의 시험 장치의 작동을 상기에서 설명한 내용을 근거로 정리하면 아래와 같다.
먼저, 기계적인 특성을 감지하는 방법은 클램프(25)들 사이에 시편(10)을 고정시키고, 상기의 액츄에이터(26)를 작동시키면, 액츄에이터가 작동하여 시편(10)를 당기거나 압축하게 되며, 이때 시편을 통해 로드셀(24)에 전달된 힘을 로드셀에서 감지하게 된다.
이렇게 액츄에이터(26)를 계속하여 작동되는 동안, 상기 전기적 소스-측정기(50)에서는 시편(10)에 전기 공급하고, 공급된 전기에 의한 시편이 구동시의 저항, 전류값 등을 감지한다.
즉, 상기 시험기(20)를 구성하는 액츄에이터(26)의 구동에 의해 시편(10)에 가해지는 기계적인 특성 변화에 따른 전기적인 특성 변화를 감지할 수 있는 것이다.
이러한 과정 동안 즉, 액츄에이터(26)가 구동되어 시편(10)에 기계적인 변형이 가해지는 동안, 상기 광측정기(30)에서는 시편(10)에 설치된 발광소자(13)에서 발생되는 광의 파장과, 광도, 복사도와, 색상을 검출하고, 상기의 시험기(20), 광측정기(30), 전기적 소스-측정기(50)에서 얻은 정보는 상기 제어박스에 전달되어 분석되는 것이다. As described above, the light emitting device specimen test apparatus 100 according to the present invention, as shown in Figure 6, the load cell 24 actuator 26, the photometer 30, the electrical source-measurement in one control box 40 It is a structure that can control 50 and collect and display data. Therefore, the optical and electrical properties of the specimen under each condition, ie mechanical deformation, can be tested simultaneously.
The operation of the test apparatus of the present invention as described above is summarized as follows based on the above description.
First, a method of detecting mechanical characteristics is to fix the specimen 10 between the clamps 25, and when the actuator 26 is operated, the actuator is operated to pull or compress the specimen 10, At this time, the force transmitted to the load cell 24 through the specimen is detected by the load cell.
While the actuator 26 is continuously operated in this way, the electrical source-measuring device 50 supplies electricity to the specimen 10 and senses the resistance, current value, etc. when the specimen is driven by the supplied electricity.
In other words, it is possible to detect a change in electrical characteristics due to a change in mechanical properties applied to the specimen 10 by driving the actuator 26 constituting the tester 20.
During this process, that is, while the actuator 26 is driven and mechanical deformation is applied to the specimen 10, the photometer 30 has a wavelength of light generated by the light emitting element 13 installed in the specimen 10, The intensity, radiance and color are detected, and the information obtained from the tester 20, the photometer 30, and the electrical source-measuring device 50 is transmitted to the control box for analysis.

도 1은 본 발명에 따른 발광소자 시편 시험장치의 구성도,1 is a block diagram of a light emitting device specimen test apparatus according to the present invention,

도 2는 도 1에서 발췌된 시편의 개념도,2 is a conceptual diagram of a specimen extracted from FIG.

도 3은 도 1에서 발췌된 클램프를 도시한 사시도,Figure 3 is a perspective view of the clamp extracted in Figure 1,

도 4는 도 3에서 A방향으로 바라본 클램프를 평면도,4 is a plan view of the clamp viewed in the direction A in FIG.

도 5는 도 3에서 시편의 기계적물성에 따른 형상 변화를 나타내는 개념도,5 is a conceptual diagram showing a change in shape according to the mechanical properties of the specimen in FIG.

도 6은 본 발명에 따른 발광소사 시편 시험장치의 블럭도이다.Figure 6 is a block diagram of a light emitting sand specimen test apparatus according to the present invention.

<도면의 주요부분에 대한 부호의 설명><Description of the symbols for the main parts of the drawings>

10: 시편 11: 기질층10: Psalm 11: Substrate

12: 투명전극박판층 13: 발광소자12: transparent electrode thin layer 13: light emitting element

20: 시험기 21: 베이스20: tester 21: base

211: 가이드레일 22: 이동형판211: guide rail 22: moving plate

23: 정렬부 231: 2축 포지셔너23: alignment unit 231: 2-axis positioner

232: 고니어미터 233: 로테이셔너232: goniometer 233: rotator

24: 로드셀 25: 클램프24: load cell 25: clamp

251: 하부고정대 251a: 밸런스봉251: lower mount 251a: balance rod

251b: 밸런스홈 252: 상부고정대251b: balance groove 252: upper fixing stand

252a: 전극핀 26: 액츄에이터252a: electrode pin 26: actuator

30: 광측정기 40: 제어박스30: photometer 40: control box

50: 전기적 소스-측정기 100: 본 발명에 따른 발광소자 시편 시험장치50: electrical source-meter 100: light emitting device specimen testing apparatus according to the present invention

Claims (8)

발광소자를 갖는 시편(10)의 기계적인 변형에 따른 광학적, 전기적 특성을 시험하기 위한 장치에 있어서,In the device for testing the optical and electrical properties according to the mechanical deformation of the specimen 10 having a light emitting device, 상기 시편(10)의 양측을 클램핑하여 액츄에이터(26)의 작동에 의해 시편(10)에 반복적으로 연신과 피로하중과 굽힘과 같은 기계적 변형을 가하고, 이때 시편에 가해지는 힘을 로드셀(24)로 감지하는 시험기(20)와 ; Both sides of the specimen 10 are clamped to repeatedly apply mechanical deformations such as stretching and fatigue load and bending to the specimen 10 by the operation of the actuator 26. At this time, the force applied to the specimen to the load cell 24 A tester 20 for sensing; 상기 시험기(20)에 클램핑되어 액츄에이터(26)의 작동에 의해 기계적으로 변형되는 상기 시편(10)에 다양한 세기를 갖는 전류 및 전압을 가하고, 기계적 변형에 따른 발광소자(13)의 단락여부와 전기적 저항과, 전류의 통전량을 측정하는 전기적 소스-측정기(50)와 ; Applying a current and voltage having various intensities to the specimen 10, which is clamped to the tester 20 and mechanically deformed by the operation of the actuator 26, and whether the short circuit of the light emitting element 13 according to mechanical deformation and electrical An electrical source-measuring device 50 for measuring resistance and current flow amount of the current; 상기 시험기(20)에 클램핑되어 액츄에이터(26)의 작동에 의해 기계적으로 변형되는 상기 시편(10)의 발광소자(13)에서 조사되는 광을 수광하여 시편의 기계적 변형에 따른 전류의 세기, 전기적 저항에 따른 광학적 특성을 측정하는 광측정기(30)와 ; The intensity of the electric current and the electrical resistance according to the mechanical deformation of the specimen by receiving the light irradiated from the light emitting element 13 of the specimen 10 which is clamped to the tester 20 and mechanically deformed by the operation of the actuator 26. Optical measuring device 30 for measuring the optical characteristics according to; 상기 시험기(20) 및 전기적 소스-측정기(50), 그리고 광측정기(30)와 전기적으로 연결되어 측정된 정보를 저장하고, 각 구성요소의 구동을 제어하는 제어박스(40)를 포함하여 이루어지는 것을 특징으로 하는 발광소자 시편 시험장치.And a control box 40 for storing the measured information electrically connected to the tester 20, the electrical source-measuring device 50, and the optical measuring device 30, and controlling the driving of each component. Light emitting device specimen testing device characterized in that. 제 1항에 있어서,The method of claim 1, 상기 시험기(20)는The tester 20 베이스(21)에 연결된 액츄에이터(26)와, An actuator 26 connected to the base 21, 상기 액츄에이터(26)와 일정간격을 두고 수평이동가능하게 상기 베이스(21)의 상부면에 배치되는 이동형판(22)과,A movable plate 22 disposed on the upper surface of the base 21 to be horizontally movable at a predetermined distance from the actuator 26; 상기 이동형판(22)에 전방에 고정되어 상/하/좌/우 위치 및 회전각도를 조절하는 정렬부(23)와,An alignment part 23 fixed to the front plate 22 to adjust the up / down / left / right position and rotation angle; 상기 정렬부(23)의 전방에 고정되어 액츄에이터(26)에 의해 시편(10)에 가해진 힘을 측정하는 로드셀(24)과,A load cell 24 fixed to the front of the alignment unit 23 and measuring a force applied to the specimen 10 by the actuator 26; 상기 로드셀(24) 및 액츄에이터(26)에 고정되어 시편(10)을 클램핑하는 클램프(25)들로 구성되는 것을 특징으로 하는 발광소자 시편 시험장치.Light-emitting device specimen testing device characterized in that consisting of clamps (25) fixed to the load cell (24) and the actuator (26) clamping the specimen (10). 제 2항에 있어서,3. The method of claim 2, 상기 클램프(25)들은 시편(10)을 고정할 수 있도록 볼팅 결합되는 하부고정대(251)와 상부고정대(252)들로 이루어지는 것을 특징으로 하는 발광소자 시편 시험장치.The clamps 25 are light-emitting device specimen testing device, characterized in that consisting of the lower fixing stand 251 and the upper fixing stand 252 is bolted to secure the specimen (10). 제 3항에 있어서,The method of claim 3, wherein 상기 상부고정대(252)들에는 전기적 소스-측정기(50)를 통해 시편(10)에 전류 및 전압을 공급받을 수 있도록 전기적 소스-측정기(50)와 연결되는 "ㅗ" 형상의 전극핀(252a)이 연결되는 것을 특징으로 하는 발광소자 시편 시험장치.The upper pins 252 have “ㅗ” shaped electrode pins 252a connected to the electrical source-measuring device 50 so that current and voltage can be supplied to the specimen 10 through the electrical source-measuring device 50. Light emitting device specimen testing device characterized in that it is connected. 제 1항에 있어서,The method of claim 1, 상기 광측정기(30)는 시편(10)과 이격 설치되어 시편(10)의 발광소자(13)에서 조사되는 광의 파장과, 광도, 복사도와, 색상을 검출하는 것을 특징으로 하는 발광소자 시편 시험장치.The optical measuring device 30 is spaced apart from the specimen 10, the light emitting device specimen testing device, characterized in that for detecting the wavelength, light intensity, radiance and color of the light irradiated from the light emitting element 13 of the specimen 10 . 제 1항에 있어서,The method of claim 1, 상기 시편(10)은 플렉시블한 것을 특징으로 하는 발광소자 시편 시험장치.The specimen 10 is a light emitting device specimen testing device, characterized in that the flexible. 제 1항 또는 제 6항에 있어서,The method according to claim 1 or 6, 상기 시편(10)은 폴리머 재질의 기질층(11)과, 인듐 틴 옥사이드(ITO) 재질의 투명전극박판층(12)과, 상기 투명전극박판층(12)에 증착된 발광소자(13)로 이루어지는 것을 특징으로 하는 발광소자 시편 시험장치.The specimen 10 includes a substrate layer 11 made of a polymer material, a transparent electrode thin film layer 12 made of indium tin oxide (ITO), and a light emitting element 13 deposited on the transparent electrode thin film layer 12. Light-emitting device specimen testing device, characterized in that made. 제 7항에 있어서,The method of claim 7, wherein 상기 발광소자(13)는 LOD, LED, OLED, PDLC 중 선택되는 어느 하나인 것을 특징으로 하는 발광소자 시편 시험장치.The light emitting device 13 is a light emitting device specimen testing device, characterized in that any one selected from LOD, LED, OLED, PDLC.
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