KR100952429B1 - Optical lens system for microscope - Google Patents

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Abstract

본 발명은 현미경용 광학 렌즈 시스템에 관한 것으로, 본 발명에서는 자체 구비된 핀홀(Pin-hole)을 통해, 타겟 시료 측으로부터 입사되는 광선의 폭을 축소시켜주는 핀홀 조리개와, 핀홀 조리개의 앞 또는 뒤(혹은, 앞/뒤 모두)에 선택적으로 배치된 상태에서, 핀홀 조리개를 통과한 광선이 퍼지지 않도록 하여, 시료확대 이미지의 광학적 수차를 줄여주는 렌즈군을 연계·배치함과 아울러, 필요에 따라, 이러한 핀홀 조리개 및 렌즈군을 동일 움직임이 가능하도록 고정시킨 상태에서, 이들과 타겟 시료와의 간격 조절을 통해, 시료확대 이미지의 확대배율이 연속적으로 조절될 수 있도록 하고, 이를 통해, 현미경용 렌즈 시스템이, <복수의 대물렌즈들 및 대안렌즈들이 연계된 종래의 복잡한 구조>가 아닌, <렌즈군 및 핀홀 조리개가 단순 조합된 지극히 간단한 구조> 하에서도, 고품질(즉, 광학적 수차가 양호하게 보정된)의 시료확대 이미지를 여러 가지 다양한 확대배율로 조절·제공할 수 있도록 함으로써, 현미경용 렌즈 시스템의 사이즈(전장길이) 축소 및 외부기기 연계용 회로모듈의 배치 개연성 확대를 자연스럽게 유도하고, 그 결과, 해당 렌즈 시스템이 타 전자기기와의 연계를 통해, 해당 전자기기의 기능을 새로이 개선하기 위한 시료확대기기로써의 역할을 융통성 있게 수행할 수 있도록 유도할 수 있다.The present invention relates to an optical lens system for a microscope. In the present invention, a pinhole aperture for reducing the width of light incident from a target sample side through a pinhole provided therein, and the front or rear of the pinhole aperture. (Or both front and rear), in combination with the lens group that reduces the optical aberration of the sample enlarged image by preventing the light rays passing through the pinhole aperture from spreading, and optionally, In the state where the pinhole aperture and the lens group are fixed to enable the same movement, the magnification of the magnified image can be continuously adjusted by adjusting the gap between the pinhole aperture and the lens sample, and thereby, the microscope lens system. This is not a conventional complex structure in which a plurality of objective lenses and alternative lenses are linked, but an extremely simple combination of a lens group and a pinhole aperture. Even under the structure>, it is possible to adjust and provide a high quality (that is, well corrected optical aberration) sample magnification at various magnifications, thereby reducing the size (length) of the microscope lens system and external devices. It naturally induces an increase in the probability of arrangement of the circuit module for linkage, and as a result, the lens system can flexibly serve as a sample expander to newly improve the function of the electronic device through linkage with other electronic devices. Can be induced.

Description

현미경용 광학 렌즈 시스템{Optical lens system for microscope}Optical lens system for microscope

본 발명은 현미경용 광학 렌즈 시스템에 관한 것으로, 좀더 상세하게는 <복수의 대물렌즈들 및 대안렌즈들이 연계된 종래의 복잡한 구조>가 아닌, <렌즈 및 핀홀 조리개가 단순 조합된 간단한 구조> 하에서도, 양호한 광학수차를 가지는 고품질의 시료확대 이미지를 여러 가지 다양한 확대배율로 조절·제공할 수 있도록 한 현미경용 광학 렌즈 시스템에 관한 것이다.The present invention relates to an optical lens system for a microscope, and more specifically, under <a simple structure in which a lens and a pinhole aperture are simply combined>, rather than the conventional complex structure in which a plurality of objective lenses and alternative lenses are linked. In addition, the present invention relates to an optical lens system for a microscope that can adjust and provide a high quality sample magnification image having good optical aberration at various various magnifications.

통상, 현미경 모듈은 육안으로 볼 수 없을 정도로 미세한 시료를 확대·출력시켜, 사용자가 해당 시료를 효과적으로 관찰할 수 있도록 유도하는 매우 유용한 기기로 널리 알려져 있다. 이러한 종래의 현미경 모듈(예를 들어, 복합 광학현미경 모듈)은 전통적으로, 복수의 대물렌즈들 및 대안렌즈들이 연계·조합된 일련의 광학 렌즈 시스템을 구비한 상태에서, <대물렌즈들에 의해 초점이 맞춰진 시료의 이미지를 대안렌즈들로 다시 확대시키는 복잡한 구조>를 통해, 일련의 시료확대 기능을 수행하게 된다.In general, the microscope module is widely known as a very useful device for enlarging and outputting a sample so small that it cannot be seen by the naked eye, and inducing a user to effectively observe the sample. Such a conventional microscope module (e.g., a compound optical microscope module) has traditionally been equipped with a series of optical lens systems in which a plurality of objective lenses and alternative lenses are linked and combined, and thus, <focus by objective lenses>. Through a complex structure that magnifies the image of the fitted sample with alternative lenses, a series of sample enlargement functions are performed.

이처럼, 종래의 현미경 모듈에 구비된 광학 렌즈 시스템이 굳이, <복수의 대물렌즈들에 의해 초점이 맞춰진 시료의 이미지를 대안렌즈들로 다시 확대시키는 복 잡한 구조>를 통해, 일련의 시료확대 기능을 수행하고 있는 이유는, 이러한 복잡한 구조가, 고품질의 이미지를 여러 가지 다양한 확대배율로 조절·제공하는데 있어서 만큼은, 나름대로, 유리한 효과를 제공할 수 있기 때문이다. As such, the optical lens system provided in the conventional microscope module has a series of sample enlargement functions through a complex structure that enlarges an image of a sample focused by a plurality of objective lenses to alternative lenses. The reason for this is that such a complicated structure can provide an advantageous effect in its own way in adjusting and providing a high quality image at various various magnifications.

물론, 이 상황에서, 별도의 조치가 취해지지 아니하는 한, 종래의 현미경용 광학 렌즈 시스템은 복수의 대물렌즈들 및 대안렌즈들의 연계 사용에 기인하여, 그 전장길이, 점유공간 등이 필요 이상으로 커지게 된다는 필연적인 단점을 불가피하게 나타낼 수밖에 없게 되며, 이러한 배경 하에서, 종래의 현미경 모듈은 사용자가 휴대하고 다니면서, 언제 어느 때나 타겟 시료를 손쉽게 관찰하는 용도로 사용하기에는 매우 부적합할 수밖에 없게 된다.Of course, in this situation, unless a separate action is taken, the conventional optical lens system is more than necessary due to the combined use of a plurality of objective lenses and alternative lenses, the length, occupied space, etc. Inevitably, the inevitable disadvantage of becoming larger is inevitably presented, and under such a background, the conventional microscope module is inevitably very unsuitable for use for the purpose of easily observing a target sample at any time while carrying a user.

한편, 근래에 들어, 이동통신단말기, 디지털 카메라, 게임기, 디엠비(DMB:Digital Multimedia Broadcasting) 수신기, 컨텐츠 재생기(예, 음향/영상 재생기 등) 등과 같은 각종 전자기기의 기능개선에 대한 소비자 요구가 폭 넓게 이루어지면서, 이들 전자기기에 별도의 새로운 기능, 예를 들어, 현미경 기능을 새롭게 추가하고자 하는 노력 또한 이루어지고 있다.Recently, consumer demand for improving the functions of various electronic devices such as mobile communication terminals, digital cameras, game machines, digital multimedia broadcasting (DMB) receivers, content players (eg, audio / video players, etc.) While widespread, efforts are being made to add additional new functions to these electronics, such as microscope functions.

그러나, 상술한 바와 같이, 종래의 현미경용 광학 렌즈 시스템은 고품질의 이미지를 여러 확대배율로 제공하기 위하여, 복수의 대물렌즈들 및 대안렌즈들을 연계·사용하고 있기 때문에, 자체적인 전장길이(점유공간)만 해도 필요 이상으로 커질 수밖에 없게 된다는 단점을 불가피하게 지니고 있으며, 그 여파로, 외부기기 연계용 회로모듈이 추가로 배치될 수 있는 여지 또한 거의 제공하지 못하기 때문에, 타 전자기기와 낮은 연계 개연성을 나타낼 수밖에 없게 되고, 결국, 상술한 각 전자기기는 예컨대, 현미경 기능의 새로운 부가채용이 절실함에도 불구하고, 이의 구체적인 실현에 있어 많은 어려움을 겪을 수밖에 없게 된다(물론, 이러한 현미경용 광학 렌즈 시스템의 채용 불가 문제점은 전자기기의 사이즈가 소형화될수록 더욱 심각해질 수밖에 없게 된다).However, as described above, the conventional optical lens system for microscopes has its own overall length (occupied space) because it links and uses a plurality of objective lenses and alternative lenses to provide high quality images at various magnifications. ) Inevitably becomes larger than necessary, and in the aftermath, it provides little space for additional circuit modules for connecting external devices. In the end, each of the electronic devices described above will have a lot of difficulties in the concrete realization of the above-described electronic devices, for example, despite the urgent need for new additional functions of the microscope function. The problem of not being able to be adopted becomes more serious as the size of electronic equipment becomes smaller. ).

따라서, 본 발명의 목적은 자체 구비된 핀홀(Pin-hole)을 통해, 타겟 시료 측으로부터 입사되는 광선의 폭을 축소시켜주는 핀홀 조리개와, 핀홀 조리개의 앞 또는 뒤(혹은, 앞/뒤 모두)에 선택적으로 배치된 상태에서, 핀홀 조리개를 통과한 광선이 퍼지지 않도록 하여, 시료확대 이미지의 광학적 수차를 줄여주는 렌즈군(참고: 본 발명에서, 용어 <렌즈군>은 렌즈가 1매인 경우도 포함한다)을 연계·배치함과 아울러, 필요에 따라, 이러한 핀홀 조리개 및 렌즈군을 동일 움직임이 가능하도록 고정시킨 상태에서, 이들과 타겟 시료와의 간격 조절을 통해, 시료확대 이미지의 확대배율이 연속적으로 조절될 수 있도록 하고, 이를 통해, 현미경용 렌즈 시스템이, <복수의 대물렌즈들 및 대안렌즈들이 연계된 종래의 복잡한 구조>가 아닌, <렌즈군 및 핀홀 조리개가 단순 조합된 지극히 간단한 구조> 하에서도, 고품질(즉, 광학적 수차가 양호하게 보정된)의 시료확대 이미지를 여러 가지 다양한 확대배율로 조절·제공할 수 있도록 함으로써, 현미경용 렌즈 시스템의 사이즈(전장길이) 축소 및 외부기기 연계용 회로모듈의 배치 개연성 확대를 자연스럽게 유도하고, 그 결과, 해당 렌즈 시스템이 타 전자기기와의 연계를 통해, 해당 전자기기의 기능을 새로이 개선하기 위한 시료확대기기로써의 역할을 융통성 있게 수행할 수 있도록 유도하는데 있다.Accordingly, it is an object of the present invention to pinpoint apertures that reduce the width of light incident from the target sample side through self-equipped pinholes, and to the front or rear of the pinhole aperture (or both front and rear). The lens group that reduces the optical aberration of the sample magnified image by preventing the light beam passing through the pinhole aperture from being selectively disposed in the lens group (Note: in the present invention, the term <lens group> includes the case where only one lens is used. In addition, the magnification of the sample enlarged image is continuously controlled by adjusting the distance between the pinhole diaphragm and the lens group so as to allow the same movement as necessary, and adjusting the distance between them and the target sample as necessary. In this way, the lens system for the microscope is not a conventional complex structure in which a plurality of objective lenses and alternative lenses are linked, but the lens group and the pinhole aperture are shortened. Even under the extremely simple structure of the combination, the size of the microscope lens system (length of total length) can be adjusted and provided with various magnifications of high quality (that is, well corrected optical aberration). ) It naturally induces the reduction of the probability of the arrangement of the circuit module for connecting to external devices and as a result, the lens system acts as a sample enlargement device to newly improve the function of the electronic device through linkage with other electronic devices. To induce flexibility.

본 발명의 다른 목적들은 다음의 상세한 설명과 첨부된 도면으로부터 보다 명확해질 것이다.Other objects of the present invention will become more apparent from the following detailed description and the accompanying drawings.

상기와 같은 목적을 달성하기 위하여 본 발명에서는, 자체 구비된 핀홀(Pin-hole)을 통해, 타겟 시료 측으로부터 이미지 센싱유닛 측으로 입사되는 광선의 폭을 축소시켜주는 핀홀 조리개와; 상기 핀홀 조리개의 전면 또는 후면에 배치되며, 상기 핀홀을 통과한 광선이 퍼지지 않도록 하여, 상기 이미지 센싱유닛에 결상되는 시료확대 이미지의 광학적 수차를 줄여주는 렌즈군을 포함하는 현미경용 광학 렌즈 시스템을 개시한다. In order to achieve the above object, in the present invention, a pinhole aperture for reducing the width of the light incident to the image sensing unit side from the target sample side through a pinhole (self-equipped); Disclosed is an optical lens system for microscopy including a lens group disposed on the front or rear of the pinhole stop and preventing optical rays from passing through the pinhole so as to reduce optical aberration of an enlarged sample image formed on the image sensing unit. do.

또한, 본 발명의 다른 측면에서는, 자체 구비된 핀홀(Pin-hole)을 통해, 타겟 시료 측으로부터 이미지 센싱유닛 측으로 입사되는 광선의 폭을 축소시켜주는 핀홀 조리개와; 상기 핀홀 조리개의 전면 또는 후면에 배치되며, 상기 핀홀을 통과한 광선이 퍼지지 않도록 하여, 상기 이미지 센싱유닛에 결상되는 시료확대 이미지의 광학적 수차를 줄여주는 렌즈군과; 상기 렌즈군의 후면(즉, 이미지 센싱유닛 측)에 배치되며, 상기 시료확대 이미지를 상기 이미지 센싱유닛에 결상시키는 카메라 렌즈군을 포함하는 것을 특징으로 하는 현미경용 광학 렌즈 시스템을 개시한다. In another aspect of the present invention, a pinhole aperture for reducing the width of light incident from the target sample side to the image sensing unit through a pinhole provided therein; A lens group disposed at the front or the rear of the pinhole stop and preventing optical rays from passing through the pinhole so as to reduce optical aberration of the magnified image formed in the image sensing unit; Disclosed is an optical lens system for a microscope, comprising a camera lens group disposed on a rear surface of the lens group (ie, an image sensing unit side) and forming the sample magnified image on the image sensing unit.

본 발명에서는 자체 구비된 핀홀(Pin-hole)을 통해, 타겟 시료 측으로부터 입사되는 광선의 폭을 축소시켜주는 핀홀 조리개와, 핀홀 조리개의 앞 또는 뒤(혹은, 앞/뒤 모두)에 선택적으로 배치된 상태에서, 핀홀 조리개를 통과한 광선이 퍼지지 않도록 하여, 시료확대 이미지의 광학적 수차를 줄여주는 렌즈군을 연계·배치함과 아울러, 필요에 따라, 이러한 핀홀 조리개 및 렌즈군을 동일 움직임이 가능 하도록 고정시킨 상태에서, 이들과 타겟 시료와의 간격 조절을 통해, 시료확대 이미지의 확대배율을 연속적으로 조절하기 때문에, 본 발명의 구현환경 하에서, 현미경용 렌즈 시스템 측에서는, <복수의 대물렌즈들 및 대안렌즈들이 연계된 종래의 복잡한 구조>가 아닌, <렌즈군 및 핀홀 조리개가 단순 조합된 지극히 간단한 구조> 하에서도, 고품질(즉, 광학적 수차가 양호하게 보정된)의 시료확대 이미지를 여러 가지 다양한 확대배율로 조절·제공할 수 있게 되며, 결국, 자신의 사이즈 축소 및 외부기기 연계용 회로모듈의 배치 개연성 확대를 자연스럽게 현실화시킬 수 있게 되고, 그 결과, 타 전자기기와의 연계를 통해, 해당 전자기기의 기능을 새로이 개선하기 위한 시료확대기기로써의 역할을 융통성 있게 수행할 수 있게 된다.In the present invention, a pinhole aperture that reduces the width of light incident from the target sample side through a self-equipped pinhole, and selectively disposed in front or behind (or both front and rear) of the pinhole aperture. In this state, the light beams passing through the pinhole aperture are not spread, and the lens group which reduces the optical aberration of the sample enlarged image is linked and arranged, and the pinhole aperture and the lens group can be moved as needed. In the fixed state, since the magnification of the sample magnification image is continuously adjusted by adjusting the distance between them and the target sample, under the implementation environment of the present invention, in the lens system for a microscope, the <multiple objective lenses and alternatives High quality (i.e. optical) under &lt; an extremely simple structure with a simple combination of lens groups and pinhole apertures &gt; It is possible to adjust and provide a sample amplification image of well-corrected aberration with various various magnifications, and finally, it becomes possible to naturally realize the reduction of its size and the expansion probability of the arrangement of the circuit module for connecting external devices. As a result, through linkage with other electronic devices, it is possible to flexibly perform the role of the sample expanding device to newly improve the function of the electronic device.

이하, 첨부된 도면을 참조하여, 본 발명에 따른 현미경용 광학 렌즈 시스템을 좀더 상세히 설명하면 다음과 같다.Hereinafter, with reference to the accompanying drawings, the optical lens system for a microscope according to the present invention in more detail as follows.

도 1에 도시된 바와 같이, 본 발명에 따른 현미경용 광학 렌즈 시스템(10)은 광원(도시 안됨), 광/전기 변환처리 보드(101) 등을 구비한 전자기기에 설치되는 렌즈군(11), 핀홀 조리개(13), 광학필터(12) 등이 긴밀하게 조합된 구성을 취하게 된다. As shown in FIG. 1, the optical lens system 10 for a microscope according to the present invention includes a lens group 11 installed in an electronic device including a light source (not shown), an optical / electric conversion processing board 101, and the like. , The pinhole stop 13, the optical filter 12, and the like are closely combined.

이때, 광원(예컨대, LED 등)은 배터리 등의 전자기기 측 전원과 전기적으로 연결되면서, 전원 측 전력이 공급되는 경우, 일련의 광선을 타겟 시료 측으로 공급하여, 타겟 시료(도시 안됨) 측으로부터 광선이 출력되도록 유도하는 역할을 수행하게 되며, 광/전기 변환처리 보드(101)는 타겟 시료 측으로부터 입사되는 광선이 렌즈군(11), 핀홀 조리개(13), 광학필터(12) 등을 거쳐, 확대된 시료 이미지를 담은 상태로 입력되는 경우, 자체 구비된 이미지 센싱유닛(102)을 활용하여, 이 시료확대 이미지를 결상시키고, 결상 완료된 시료확대 이미지를 전기적인 신호로 변환 처리하는 역할을 수행하게 된다.At this time, while the light source (for example, LED) is electrically connected to the power source of the electronic device such as a battery, when the power supply side power is supplied, a series of light rays are supplied to the target sample side, the light beam from the target sample (not shown) side The light / electric conversion processing board 101 is to guide the output, the light incident from the target sample side through the lens group 11, the pinhole aperture 13, the optical filter 12, When inputted in the state of containing the enlarged sample image, by using the self-equipped image sensing unit 102 to form the image enlarged image, and to perform the process of converting the image enlarged sample enlarged image to an electrical signal do.

이 경우, 광/전기 변환처리 보드(101)에 구비된 이미지 센싱유닛(102)에는, 예컨대, 광선을 입력받아, 일련의 광 전하를 생성 및 축적하는 포토 다이오드들, 포토 다이오드들에 의해 생성 축적된 광 전하들을 전자기기 내의 필요 소자들로 운반/배출하는 신호처리 트랜지스터들, 전기적인 신호를 보정 및 변환하는 회로 세트 등이 안정적으로 갖추어지게 된다.In this case, the image sensing unit 102 included in the photoelectric conversion board 101 may generate and accumulate by photodiodes and photodiodes that receive light rays, for example, to generate and accumulate a series of optical charges. Signal processing transistors for carrying / discharging the photocharges to necessary elements in an electronic device, a circuit set for correcting and converting an electrical signal, etc., will be stably equipped.

이때, 본 발명의 광학필터(12)는 핀홀 조리개(13) 및 이미지 센싱유닛(102) 사이에 배치되는 구조를 취하면서, 핀홀 조리개(13)를 통과한 광선 중, 일부 광선(예를 들어, 가시광선 등)을 제외한 나머지 불필요한 광선들(이를테면, 적외선)을 안정적으로 차단하는 역할을 수행하게 된다.At this time, the optical filter 12 of the present invention has a structure disposed between the pinhole aperture 13 and the image sensing unit 102, and some of the rays passing through the pinhole aperture 13, for example, It plays a role of stably blocking unnecessary rays (such as infrared rays) except for visible rays.

여기서, 도면에 도시된 바와 같이, 본 발명의 핀홀 조리개(13)는 미세한 바늘구멍 타입의 핀홀(13a)을 구비하게 된다. 물론, 이와 같은 핀홀(13a)의 구비 상황에서, 타겟 시료 측으로부터 입사되는 광선은, 그 폭이 핀홀(13a)의 지름 정도로 대폭 축소될 수 있게 된다. Here, as shown in the figure, the pinhole stop 13 of the present invention is provided with a pinhole 13a of a fine needle hole type. Of course, in such a situation in which the pinhole 13a is provided, the light incident from the target sample side can be greatly reduced in width by the diameter of the pinhole 13a.

이때, 본 발명에서는, 상술한 핀홀 조리개(13)의 핀홀(13a)이 바람직하게, 아래의 <수학식 1>과 같은 범위의 지름을 가지도록 유도하게 된다.At this time, in the present invention, the pinhole 13a of the pinhole stop 13 described above is preferably induced to have a diameter in the range as shown in Equation 1 below.

Figure 112008001902026-pat00001
Figure 112008001902026-pat00001

(여기서, D는 상기 핀홀의 지름)Where D is the diameter of the pinhole

이때, 만일, 핀홀 조리개(13)의 핀홀(13a)이 상술한 하한 값(즉, 0.04mm)보다 적은 지름을 가지게 되면, 핀홀(13a)을 통과한 광선의 회절효과가 너무 커질 뿐만 아니라, 변조전달함수(MTF: Modulation Transfer Function) 값이 적어지는 문제점이 야기될 수 있게 된다.At this time, if the pinhole 13a of the pinhole aperture 13 has a diameter smaller than the above lower limit value (that is, 0.04 mm), not only the diffraction effect of the light beam passing through the pinhole 13a becomes too large, but also modulation The problem that the value of the MTF (Modulation Transfer Function) decreases may be caused.

반면, 핀홀 조리개(13)의 핀홀(13a)이 상술한 상한 값(즉, 1.1mm)보다 큰 지름을 가지게 되면, 변조전달함수 값의 회절한계곡선은 커지는 효과가 제공되지만, 이 경우, 광학적 수차가 너무 커지는 또 다른 문제점이 야기될 수 있으며, 나아가, 렌즈 시스템(10)의 전장길이가 길어져, 전자기기의 초소형 화에 반하게 되는 또 다른 문제점이 야기될 수 있게 된다.On the other hand, when the pinhole 13a of the pinhole aperture 13 has a diameter larger than the above upper limit value (ie, 1.1 mm), the diffraction limit curve of the modulation transfer function value is provided, but in this case, the optical aberration is increased. May cause another problem, and furthermore, the overall length of the lens system 10 may be increased, which may cause another problem that is contrary to the miniaturization of electronic devices.

한편, 상술한 핀홀 조리개(13)의 배치 상황에서, 핀홀(13a)을 통과한 광선은 예컨대, 빛의 직진성 등과 같은 자체적인 고유성질(또는, 핀홀의 영향) 등에 기인하여, 핀홀(13a)을 통과하는 즉시, 넓게 퍼지는 문제점을 일으키게 된다.On the other hand, in the above-described arrangement of the pinhole stop 13, the light ray passing through the pinhole 13a is due to its own intrinsic properties (or the influence of the pinhole) such as the straightness of the light, for example, the pinhole 13a. As soon as it passes, it causes a wide spread problem.

이와 같은 상황에서, 본 발명에서는, 도면에 도시된 바와 같이, 핀홀 조리개(13)의 전면에, 소정 양의 총 굴절능(Total Refractive Power)을 갖아, 타겟 시료 측으로부터 핀홀 조리개(13) 측으로 입사되는 광선의 굴절정도(예컨대, 굴절각도)를 미리 조절하고, 이를 통해, 핀홀(13a)을 통과한 광선이 퍼지지 않도록 유도하는 렌즈군(11)을 1매 추가 배치하는 조치를 강구하게 된다.In such a situation, in the present invention, as shown in the drawing, the front surface of the pinhole stop 13 has a predetermined amount of total refractive power, which is incident from the target sample side to the pinhole stop 13 side. The degree of refraction (for example, the angle of refraction) of the light beams is adjusted in advance, and through this, a measure of additionally arranging one lens group 11 for inducing the light beams passing through the pinhole 13a to not spread is taken.

이 경우, 본 발명의 렌즈군(11)은 이미지 센싱유닛(102) 측에 최종 결상되는 시료확대 이미지의 품질 개선을 위하여, 바람직하게, 하나 이상의 비구면(11a)을 구비하게 된다.In this case, the lens group 11 of the present invention is preferably provided with at least one aspherical surface 11a in order to improve the quality of the sample magnified image formed on the image sensing unit 102 side.

물론, 이러한 렌즈군(11)의 배치 상황에서, 광선의 굴절정도(예, 굴절각도)가 일정 범위 내로 조절되면, 타겟 시료 측으로부터 핀홀 조리개(13) 측으로 입사되어, 핀홀(13a)을 통과하게 되는 광선은 자체적인 고유성질, 또는, 핀홀(13a)의 영향에도 불구하고, 퍼지는 폭을 줄일 수 있게 되며, 결국, 이미지 센싱유닛(102)에 최종 결상되는 시료확대 이미지는 각종 광학수차, 예를 들어, 구면수차(Spherical aberration), 비점수차(Astigmatism), 왜곡수차(Distortion aberration) 등을 양호하게 보정 받을 수 있게 된다.Of course, in such an arrangement of the lens group 11, when the degree of refraction (eg, angle of refraction) of the light beam is adjusted within a predetermined range, it is incident from the target sample side to the pinhole aperture 13 side and passes through the pinhole 13a. The rays of light may be reduced in spite of their own intrinsic properties or the pinholes 13a, and thus, the magnified image that is finally imaged on the image sensing unit 102 may have various optical aberrations, for example. For example, spherical aberration, astigmatism, distortion aberration, and the like can be well corrected.

이때, 본 발명에서는, 상술한 렌즈군(11)이 바람직하게, 아래의 <수학식 2>과 같은 범위의 총 굴절능을 가지도록 유도하게 된다.At this time, in the present invention, the above-described lens group 11 is preferably induced to have a total refractive power in the range as shown in Equation 2 below.

Figure 112008001902026-pat00002
Figure 112008001902026-pat00002

(여기서, P는 상기 렌즈군(11)의 총 굴절능, L은 상기 타겟 시료와 상기 렌즈군(11)의 첫 번째 굴절면(11a) 사이의 거리, T는 상기 렌즈군(11)의 첫 번째 굴절면(11a)으로부터 마지막 굴절면(11b)까지의 거리)(이 경우, 상기 렌즈군의 총 굴절능 P는 헬륨 d-line(587.56㎜)을 기준으로 계산함)(P is the total refractive power of the lens group 11, L is the distance between the target sample and the first refractive surface 11a of the lens group 11, T is the first of the lens group 11) Distance from the refracting surface 11a to the last refracting surface 11b) (in this case, the total refractive power P of the lens group is calculated based on the helium d-line (587.56 mm))

이때, 만일, 렌즈군(11)이 상술한 하한 값, 즉,

Figure 112008001902026-pat00003
보다 적은 총 굴절능 을 가지게 되면, 광선의 굴절각도가 필요이상으로 완만해져, 렌즈군(11)의 배치에도 불구하고, 광선이 핀홀(13a)을 통과하는 즉시, 퍼지는 문제점이 야기되거나, 시료확대 이미지를 결상하기 위한 초점길이가 너무 길어져, 렌즈군(11) 및 이미지 센싱유닛(102) 사이의 거리 역시 너무 멀어지게 되고, 그에 따라, 렌즈 시스템(10)의 전장길이 역시 길어지게 됨으로써, 결국, 전자기기의 초소형 화에 반하게 되는 또 다른 문제점이 야기될 수 있게 된다.At this time, if the lens group 11 described above,
Figure 112008001902026-pat00003
If the total refractive power is smaller, the angle of refraction of the light beam becomes more than necessary, and despite the arrangement of the lens group 11, the light beam passes through the pinhole 13a, causing the problem of spreading or expanding the sample. The focal length for forming an image becomes too long, so that the distance between the lens group 11 and the image sensing unit 102 becomes too far, and accordingly, the overall length of the lens system 10 also becomes long, so that eventually, Another problem may arise that is contrary to the miniaturization of electronic devices.

반면, 렌즈군(11)이 상술한 상한 값, 즉,

Figure 112008001902026-pat00004
보다 큰 총 굴절능을 가지게 되면, 광선의 굴절각도가 필요이상으로 경사져, 최종 결상되는 시료확대 이미지가 너무 적어지고, 그 결과, 이미지 센서유닛(102)의 픽셀을 효율적으로 모두 사용하지 못하게 되는 문제점이 야기될 수 있으며, 나아가, 시료확대 이미지를 결상하기 위한 초점길이가 너무 짧아져, 렌즈군(11) 및 이미지 센서유닛(102) 사이의 거리 역시 너무 짧아지게 되고, 그에 따라, 렌즈 시스템(10)의 전장길이 역시 너무 짧아지게 됨으로써, 결국, 상술한 광학필터(12)를 정상적으로 설치하지 못하게 되는 또 다른 문제점이 야기될 수 있게 된다. On the other hand, the lens group 11 described above is the upper limit value, that is,
Figure 112008001902026-pat00004
If the total refractive power is greater, the angle of refraction of the light beam is inclined more than necessary, resulting in too small a sample enlarged image to be finally formed, and as a result, the pixels of the image sensor unit 102 cannot be used efficiently. This can be caused, and furthermore, the focal length for forming the specimen magnification image becomes too short, so that the distance between the lens group 11 and the image sensor unit 102 becomes too short, and accordingly, the lens system 10 Also, the overall length of a) becomes too short, which may result in another problem of failing to install the above-described optical filter 12 normally.

한편, 이와 같은 본 발명의 현미경용 광학 렌즈 시스템(10)은, 전자기기에 설치된 상태에서, 일련의 현미경 기능을 수행하기 때문에, 본 발명의 구현환경 하에서, 이미지 센싱유닛(102)에 최종 결상되는 시료확대 이미지는 전자기기를 사용하는 사용자의 의도에 따라, 다양한 확대배율로 제공될 필요성을 가지게 된다. On the other hand, since the optical lens system 10 for a microscope of the present invention performs a series of microscope functions in a state in which it is installed in an electronic device, under the implementation environment of the present invention, the image sensing unit 102 is finally imaged. The sample magnification image needs to be provided at various magnifications, depending on the intention of the user of the electronic device.

이러한 필요성 하에서, 본 발명에서는, 핀홀 조리개(13) 및 렌즈군(11)을 동 일 움직임이 가능하도록 일체로 고정시킨 상태에서, 핀홀 조리개(13)/렌즈군(11) 어셈블리가 시료확대 이미지의 확대배율 조절이 필요할 때마다, 타겟 시료로부터 멀어지거나 가까워지는 동작을 취할 수 있도록 유도하는 조치를 강구하게 된다. Under this necessity, in the present invention, the pinhole aperture 13 / lens group 11 assembly is connected to the specimen enlarged image while the pinhole aperture 13 and the lens group 11 are integrally fixed to allow the same movement. Whenever magnification adjustment is needed, measures are taken to guide the movement away from or close to the target sample.

물론, 이 경우, 전자기기 내에는, 핀홀 조리개(13)/렌즈군(11) 어셈블리와 기구적/전기적 연결관계를 형성하면서, 사용자의 전자기기 조작에 따라, 핀홀 조리개(13)/렌즈군(11) 어셈블리가 앞뒤로 움직일 수 있도록 가이드 할 수 있는 각종 렌즈 구동유발 디바이스들(예컨대, 모터, 축, 기어 등)이 추가 배치된다(이러한 렌즈 구동유발 디바이스들의 종류, 배치형태 등은 전자기기 측 상황에 따라 다양한 변형을 이룰 수 있다).In this case, of course, in the electronic device, while forming a mechanical / electrical connection relationship with the pinhole stop 13 / lens group 11 assembly, the pinhole stop 13 / lens group ( 11) Various lens driving devices (e.g. motors, shafts, gears, etc.) that can guide the assembly to move back and forth are additionally arranged (the types, arrangements, etc. of such lens driving devices may be Various variations can be achieved).

이러한 조치 하에서, 사용자가 전자기기를 조작하고, 이에 따라, 모터, 축, 기어 등과 같은 각종 렌즈 구동유발 디바이스들이 액션을 취하여, 본 발명의 핀홀 조리개(13)/렌즈군(11) 어셈블리가 타겟 시료로부터 멀어지거나 가까워지는 동작을 연속적으로 취할 수 있게 되는 경우, 핀홀 조리개(13)/렌즈군(11) 어셈블리로부터 이미지 센싱유닛(102)까지의 거리는 상술한 동작에 맞추어, 길어지거나 짧아지는 변화를 연속적으로 겪을 수 있게 되며, 그에 따라, 이미지 센싱유닛(102)에 최종 결상되는 시료확대 이미지 역시, 확대되거나, 축소되는 변화를 연속적으로 일으킬 수 있게 된다.Under this measure, the user manipulates the electronic device, and accordingly, various lens driving devices such as a motor, a shaft, a gear, and the like take action, so that the pinhole aperture 13 / lens group 11 assembly of the present invention is subjected to a target sample. When it becomes possible to continuously take an operation away from or close to the distance, the distance from the pinhole aperture 13 / lens group 11 assembly to the image sensing unit 102 is continuously changed in accordance with the above operation. As a result, the sample magnified image that is finally formed in the image sensing unit 102 may also be continuously enlarged or reduced.

당연히, 이와 같은 본 발명의 구현환경 하에서, 전자기기를 사용하는 사용자 측에서는, 전자기기를 조작하여, 타겟 시료와, 핀홀 조리개(13)/렌즈군(11) 어셈블리 사이의 간격을 가깝거나, 멀게 조절하는 지극히 간단한 조치만으로도, 이미지 센싱유닛(102)에 최종 결상되는 시료확대 이미지의 확대배율을 자유롭게 연속 조절 할 수 있게 된다(물론, 이러한 조치가 필요에 따라 생략되면, 본 발명의 현미경용 광학렌즈 시스템은 광학적 수차가 양호하게 보정된 고정 배율의 시료확대 이미지를 효과적으로 제공할 수 있게 된다).Naturally, in the implementation environment of the present invention, the user side using the electronic device operates the electronic device to adjust the distance between the target sample and the pinhole aperture 13 / lens group 11 assembly closer or farther. With only a very simple measure, the magnification of the sample magnified image finally formed in the image sensing unit 102 can be adjusted freely (of course, if such a step is omitted as necessary, the optical lens system for a microscope of the present invention). Can effectively provide a fixed magnification image with well corrected optical aberrations).

요컨대, 본 발명에서는, 자체 구비된 핀홀(13a)을 통해, 타겟 시료 측으로부터 입사되는 광선의 폭을 축소시켜주는 핀홀 조리개(13)와, 핀홀 조리개(13)의 앞에 선택적으로 배치된 상태에서, 핀홀 조리개(13)를 통과한 광선이 퍼지지 않도록 하여, 시료확대 이미지의 광학적 수차를 줄여주는 렌즈군(11)을 연계·배치함과 아울러, 필요에 따라, 이러한 핀홀 조리개(13) 및 렌즈군(11)을 동일 움직임이 가능하도록 고정시킨 상태에서, 이들 어셈블리와 타겟 시료와의 간격 조절을 통해, 시료확대 이미지의 확대배율이 연속적으로 조절될 수 있도록 유도하기 때문에, 본 발명의 구현환경 하에서, 현미경용 렌즈 시스템(10) 측에서는, <복수의 대물렌즈들 및 대안렌즈들이 연계된 종래의 복잡한 구조>이 아닌, <렌즈(11) 및 핀홀 조리개(13)가 단순 조합된 간단한 구조> 하에서도, 고품질의 뚜렷한 시료확대 이미지를 여러 가지 다양한 확대배율(물론, 필요에 따라, 고정배율)로 조절·제공할 수 있게 되며, 결국, 자신의 사이즈 축소 및 외부기기 연계용 회로모듈의 배치 개연성 확대를 자연스럽게 현실화시킬 수 있게 되고, 그 결과, 타 전자기기와의 연계를 통해, 해당 전자기기의 기능을 새로이 개선하기 위한 시료확대기기로써의 역할을 융통성 있게 수행할 수 있게 되는 것이다. That is, in this invention, in the state selectively arrange | positioned in front of the pinhole stop 13 and the pinhole stop 13 which reduce the width | variety of the light which injects from the target sample side via the pinhole 13a provided in itself, In addition to linking and arranging the lens group 11 which reduces the optical aberration of the sample enlarged image by preventing the light beam passing through the pinhole aperture 13 from spreading, the pinhole aperture 13 and the lens group ( 11) in the fixed state to enable the same movement, by adjusting the distance between these assemblies and the target sample, the magnification of the sample magnification image is induced to be controlled continuously, under the implementation environment of the present invention, under the microscope On the lens system 10 side, under <a simple structure in which the lens 11 and the pinhole aperture 13 are simply combined>, not <the conventional complex structure in which a plurality of objective lenses and alternative lenses are linked> In addition, it is possible to adjust and provide high-quality clear sample magnification images at various magnifications (of course, if necessary, fixed magnifications), thereby reducing the size of the device and increasing the probability of arrangement of circuit modules for connecting external devices. Can be realized naturally, and as a result, by linking with other electronic devices, it is possible to flexibly play the role of a sample enlargement device to newly improve the function of the electronic device.

한편, 이러한 본 발명의 체제 하에서, 사용자 측에서는, 전자기기를 휴대하 고 다니다가, 타겟 시료의 관찰이 필요하면, 전자기기를 타겟 시료에 접근시켜, 현미경용 광학 렌즈 시스템(10)이 타겟 시료에 접근될 수 있도록 유도한 다음, 전원을 조작(예컨대, 전원공급스위치를 조작)하여, 전원 측 전력이 광원 측으로 공급되도록 하고, 이를 통해, 광원이 타겟 시료 측으로 광선을 조사하도록 유도하는 조치를 취하게 된다.On the other hand, under the system of the present invention, if the user carries the electronic device and needs to observe the target sample, the electronic device approaches the target sample, and the microscope optical lens system 10 Induce access, then manipulate the power supply (e.g., operate the power supply switch) so that power on the power source side is supplied to the light source side, thereby taking action to induce the light source to irradiate the light beam onto the target sample side. do.

물론, 이 상황에서, 광원 측 광선 조사에 기인하여, 타겟 시료 측으로부터 출력되는 광선은 렌즈군(11)의 비구면인 굴절면(11a), 그리고, 핀홀 조리개(13) 측으로 볼록한 굴절면(11b) 등을 통과한 다음, 핀홀 조리개(13)의 핀홀(13a)을 거쳐, 광학필터(12)의 각 면(12a,12b)을 통과하고, 이어, 이미지 센싱유닛(102)의 픽셀에 도달하여, 일련의 <확대된 시료 이미지>로 결상되는 절차를 겪게 되며, 결국, 사용자 측에서는, 종래와 달리, 언제 어느 때나 자신이 원하는 타겟 시료를 손쉽게 확대 관찰할 수 있는 효과를 융통성 있게 향유할 수 있게 된다.Of course, in this situation, due to the light source side light irradiation, the light rays output from the target sample side are refracted by the refracting surface 11a, the aspherical surface of the lens group 11, the refracting surface 11b and the like convex toward the pinhole stop 13 side. After passing through, through the pinhole 13a of the pinhole aperture 13, through each surface 12a, 12b of the optical filter 12, and then reaching the pixel of the image sensing unit 102, a series of As a result, an image of a magnified sample image is subjected to a procedure. As a result, the user side can flexibly enjoy the effect of easily magnifying and observing a desired target sample at any time, unlike in the prior art.

상술한 본 발명에 따른 현미경용 광학 렌즈 시스템(10)의 구체적인 일 실시 데이터는 아래의 <표 1>, <표 2>로 주어진다(여기서, 렌즈군(11)을 이루는 물질로는, 일본 Zeon 사의 ZEONEX Z-E48R이 선택적으로 사용된다)(아래의 표 2는 렌즈군(11)의 비구면인 굴절면(11a)의 비구면 상수를 나타내며, 이러한 표 2에서, E+01, E-01 등은 각기 10+1, 10-1 등을 의미한다, 이하 동일하다).Specific implementation data of the optical lens system 10 for a microscope according to the present invention described above is given by the following Tables 1 and 2 (wherein the material forming the lens group 11 is manufactured by Zeon, Japan). ZEONEX Z-E48R is optionally used) (Table 2 below shows the aspherical surface constant of the refracting surface 11a, which is an aspherical surface of the lens group 11, and in these Table 2, E + 01, E-01 and the like are respectively 10 +1 , 10 -1, etc., the same below).

이때, 렌즈군(11)에 포함된 비구면(11a:Aspheric surface)은 하기의 <수학식3>과 같은 식으로 표현된다(이러한 비구면 식은 이하의 모든 데이터에서 동일하다 ).At this time, the aspherical surface 11a (Aspheric surface) included in the lens group 11 is expressed by the following formula (3) (the same aspherical formula is the same in all the following data).

Figure 112008001902026-pat00005
Figure 112008001902026-pat00005

Figure 112008001902026-pat00006
Figure 112008001902026-pat00006

(여기서, Z는 비구면의 정점(Vertex)과 만나는 접면(Tangent plane)으로부터의 축 방향의 깊이, c0는 광선 축 근방에서의 비구면의 곡률(Curvature), h는 광선축으로부터의 높이, K는 코닉상수(Conic Constant), A는 4차 비구면 상수, B는 6차 비구면 상수, C는 8차 비구면 상수, D는 10차 비구면 상수, E는 12차 비구면 상수, F는 14차 비구면 상수, G는 16차 비구면 상수, H는 18차 비구면 상수, J는 20차 비구면 상수)Where Z is the depth in the axial direction from the tangent plane that meets the vertex of the aspherical surface, c 0 is the curvature of the aspheric surface near the beam axis, h is the height from the beam axis, and K is Conic Constant, A is a fourth order aspheric constant, B is a sixth order aspheric constant, C is an eighth order aspheric constant, D is a tenth order aspheric constant, E is a 12th order aspheric constant, F is a 14th order aspheric constant, G Is the 16th order aspheric constant, H is the 18th order aspheric constant, J is the 20th order aspheric constant)

구성요소Component 곡률반경(c0 -1)Bending Radius (c 0 -1 ) 거리(mm) (Thickness)Distance (mm) 굴절률Refractive index 아베값Abbe value 핀홀 (13a)지름 DPinhole 13a Diameter D 타겟시료Target Sample 9.09.0 굴절면(11a)*Refractive surface (11a) * 10.999110.9991 1.05251.0525 1.5301.530 55.855.8 굴절면(11b)Refracting surface 11b -1.3-1.3 0.10.1 핀홀조리개 (13)Pinhole Aperture (13) 2.2182.218 0.2mm0.2mm 면(12a)Cotton (12a) 0.30.3 1.5171.517 64.264.2 면(12b)Cotton (12b) 0.30.3 이미지센싱 유닛(102)Image Sensing Unit (102) 0.00.0

(여기서, 굴절면(11a)에 표시된 * 기호는 굴절면(11a)이 비구면임을 나타낸다. 이러한 * 기호에 대한 의미는 이하 설명되는 각 표에서 동일하다)(Here, the * symbol displayed on the refracting surface 11a indicates that the refracting surface 11a is aspheric. The meaning of this * symbol is the same in each table described below).

KK AA BB CC DD 0.00000E+000.00000E + 00 -3.78887E-01-3.78887E-01 1.54449E+001.54449E + 00 -9.35213E+00-9.35213E + 00 2.75701E+012.75701E + 01 EE FF GG HH JJ -2.90310E+01-2.90310E + 01 -5.60985E-04-5.60985E-04 0.00000E+000.00000E + 00 0.00000E+000.00000E + 00 0.00000E+000.00000E + 00

여기서, 핀홀 조리개(13)의 핀홀(13a)은 상기 <표 1>에 제시된 바와 같이, 0.2mm의 지름 D를 가져, 앞의 <수학식 1>에 제시된 조건을 만족하게 되며, 렌즈군(11)은 상기 <표 1>에 제시된 데이터로부터, <첫 번째 굴절면(11a)으로부터 마지막 굴절면(11b)까지의 거리 T>를 1.0525mm로 가지면서, 총 굴절능 P를 0.442㎜-1로 가져, 앞의 <수학식 2>에 제시된 조건을 만족하게 된다. Here, the pinhole 13a of the pinhole aperture 13 has a diameter D of 0.2 mm, as shown in Table 1, thereby satisfying the conditions shown in Equation 1 above, and the lens group 11 ) Has a total refractive power P of 0.442 mm −1 while having a distance T from the first refractive surface 11a to the last refractive surface 11b to 1.0525 mm from the data presented in Table 1 above. It satisfies the conditions given in Equation 2 below.

상기 <표 1>, <표 2>로 주어진 데이터 하에서, 도 2에 도시된 바와 같이, 이미지 센싱유닛(102)에 최종 결상되는 시료확대 이미지는, C-line(656.3㎚), d-line(587.6㎚), e-line(546.1㎚), F-line(486.1㎚), g-line(435.8㎚) 등의 각 광선 파장에 걸쳐, 약 0.1㎜ 범위 내에 있는 구면수차를 나타내고 있다.Under the data given in Table 1 and Table 2, as shown in FIG. 2, the sample magnification image finally formed in the image sensing unit 102 is C-line (656.3 nm), d-line ( 58 spherical aberration within the range of about 0.1 mm is shown over a wavelength of light such as 587.6 nm), e-line (546.1 nm), F-line (486.1 nm), g-line (435.8 nm), and the like.

또한, 이미지 센싱유닛(102)에 최종 결상되는 시료확대 이미지는, 도 2에 도시된 바와 같이, 새지털(Sagittal) S, 탄젠셜(Tangential) T에 있어서, 약 0.1㎜ 범위 내에 있는 비점수차를 나타내고 있다. In addition, the sample magnified image finally formed in the image sensing unit 102, as shown in Figure 2, in the sagittal (S), Tangential (Tangential) T, astigmatism within the range of about 0.1 mm It is shown.

또한, 이미지 센싱유닛(102)에 최종 결상되는 시료확대 이미지는, 도 2에 도시된 바와 같이, 최대 크기가 약 3.5% 정도인 왜곡수차를 나타내고 있다. In addition, the sample magnification image finally formed in the image sensing unit 102, as shown in Figure 2, exhibits a distortion of about 3.5% of the maximum size.

이처럼, 본 발명의 구현환경 하에서, 이미지 센싱유닛(102)에 최종 결상되는 시료확대 이미지는 앞의 도 2에 도시된 바와 같이, 그 광학수차가 전체적으로 양호하게 보정되었음을 알 수 있다.As such, in the implementation environment of the present invention, as shown in FIG. 2, the sample magnification image finally formed in the image sensing unit 102 can be seen that the optical aberration is generally well corrected.

한편, 상기 <표 1>, <표 2>로 주어진 데이터 하에서, 본 발명에 따른 현미경용 광학 렌즈 시스템(10)을 전자기기에 연계·설치한 후, 타겟 시료 측으로, 435.8㎚~656.3㎚의 파장영역을 가지는 광선을 조사하면서, 렌즈군(11)/핀홀 조리개(13) 어셈블리를 움직여, 타겟 시료와 렌즈군(21)의 첫 번째 굴절면(21a) 사이의 거리 L을 5.5㎜~12.0㎜로 조절하였을 경우(물론, 이 경우, 렌즈군(11)은 앞의 수학식 2에 제시된 제한조건을 만족함을 알 수 있다), 아래의 <표 3>에 제시된 바와 같이, 렌즈군(11)의 마지막 굴절면(11b)으로부터 이미지 센싱유닛(102)까지의 거리는 상술한 동작에 맞추어, 길어지거나 짧아지는 변화를 연속적으로 겪는 다는 것을 알 수 있으며, 그에 따라, 이미지 센싱유닛(102)에 최종 결상되는 시료확대 이미지 역시, 1배~7.2배까지 확대되거나, 축소되는 변화를 연속적으로 일으킨다는 것을 알 수 있다. On the other hand, under the data given in Tables 1 and 2 above, the optical lens system 10 for a microscope according to the present invention is connected to and installed in an electronic device, and then the wavelength of 435.8 nm to 656.3 nm toward the target sample. While irradiating light rays having an area, the lens group 11 / pinhole stop 13 assembly is moved to adjust the distance L between the target sample and the first refractive surface 21a of the lens group 21 to 5.5 mm to 12.0 mm. In this case, of course, in this case, it can be seen that the lens group 11 satisfies the limitation condition shown in Equation 2 above, and as shown in Table 3 below, the last refractive surface of the lens group 11 It can be seen that the distance from the image sensing unit 102 to the image sensing unit 102 continuously undergoes a change that becomes longer or shorter in accordance with the above-described operation, and thus, the sample magnified image finally formed in the image sensing unit 102. Again, the change is expanded or reduced from 1 to 7.2 times. It can be seen that it occurs rapidly.

P: 0.442㎜-1, T: 1.0525㎜, D: 0.2㎜ P: 0.442 mm -1 , T: 1.0525 mm, D: 0.2 mm L(㎜)L (mm) 굴절면(11b)과 이미지 센싱유닛(102) 사이의 거리(㎜)Distance (mm) between the refraction surface 11b and the image sensing unit 102 시료확대 이미지의 확대배율Magnification of Sample Magnification Image 1212 2.7262.726 1(기준)1 (standard) 1111 2.7732.773 1.21.2 1010 2.8302.830 1.51.5 99 2.9132.913 2.02.0 88 3.0113.011 2.72.7 77 3.1573.157 3.83.8 66 3.3543.354 5.75.7 5.55.5 3.4913.491 7.27.2

한편, 도 3에 도시된 바와 같이, 본 발명의 다른 실시예 하에서, 현미경용 광학 렌즈 시스템(20)은, 앞의 실시예와 달리, 렌즈군(21)을 핀홀 조리개(23)의 후면에 1매 배치시키는 구조를 취하게 된다(여기서, 핀홀(23a)을 구비한 핀홀 조리개(23)에 대한 상세한 설명, 각면(22a,22b)을 구비한 광학필터(22)에 대한 상세한 설명 등은 앞서 언급한 내역으로 대체하기로 함). On the other hand, as shown in Figure 3, under another embodiment of the present invention, the optical lens system 20 for a microscope, unlike the previous embodiment, the lens group 21 to the rear of the pinhole aperture 23 1 Each structure is arranged (wherein the detailed description of the pinhole stop 23 having the pinhole 23a, the detailed description of the optical filter 22 having the facets 22a, 22b, etc. are mentioned above). To one statement).

물론, 이 경우에도, 핀홀 조리개(23) 및 렌즈군(21)은, 필요에 따라, 동일 움직임이 가능하도록 일체로 고정되는 구조를 형성하게 되며, 이 상황에서, 렌즈군(21)은 자신의 총 굴절능을 일정 범위 내로 유지시킴으로써, 핀홀 조리개(23)의 핀홀(23a)을 통과한 광선의 굴절정도(예컨대, 굴절각도)를 조절하고, 이를 통해, 해당 광선이 퍼지지 않도록 조절하는 역할을 수행하게 된다(이 경우에도, 본 발명의 렌즈군(21)은 이미지 센싱유닛(102) 측에 최종 결상되는 시료확대 이미지의 품질 개선을 위하여, 바람직하게, 하나 이상의 비구면(21a,21b)을 구비하게 된다).Of course, also in this case, the pinhole stop 23 and the lens group 21, if necessary, forms a structure that is fixed integrally to enable the same movement, in this situation, the lens group 21 is By maintaining the total refractive power within a certain range, it adjusts the degree of refraction (eg, the angle of refraction) of the light beams passing through the pinhole 23a of the pinhole aperture 23, thereby adjusting the light ray does not spread. (In this case, the lens group 21 of the present invention is preferably provided with at least one aspherical surface 21a, 21b to improve the quality of the sample magnified image which is finally formed on the image sensing unit 102 side. do).

이러한 렌즈군(21)의 배치 상황에서, 광선의 굴절정도(예, 굴절각도)가 일정 범위 내로 조절되면, 핀홀(23a)을 통과하게 되는 광선은 자체적인 고유성질, 또는, 핀홀(23a)의 영향에도 불구하고, 퍼지는 폭을 줄일 수 있게 되며, 결국, 이미지 센싱유닛(102)에 최종 결상되는 시료확대 이미지는 각종 광학수차, 예를 들어, 구면수차(Spherical aberration), 비점수차(Astigmatism), 왜곡수차(Distortion aberration) 등을 양호하게 보정 받을 수 있게 된다.In the arrangement of the lens group 21, when the degree of refraction (eg, angle of refraction) of the light beam is adjusted within a predetermined range, the light beam passing through the pinhole 23a has its own unique property, or of the pinhole 23a. In spite of the influence, the spreading width can be reduced, and thus, the magnified image which is finally formed in the image sensing unit 102 can have various optical aberrations such as spherical aberration, astigmatism, Distortion aberration or the like can be corrected well.

이때에도, 본 발명에서는 상술한 여러 문제점의 발생을 두루 고려하여, 렌즈군(21)의 총 굴절능을 앞의 <수학식 2>에 제시된 범위로 유지시키고, 이를 통해, 핀홀(23a)을 통과하는 광선이 퍼지는 현상을 정상적으로 억제시킴으로써, 이미지 센싱유닛(102)에 최종 결상되는 시료확대 이미지가 양호한 광학수차를 가질 수 있도록 유도하게 된다. In this case, in the present invention, in consideration of the occurrence of the above-described various problems, the total refractive power of the lens group 21 is maintained in the range shown in Equation 2 above, through which the pinhole 23a is passed. By normally suppressing the spreading of light rays, the sample magnified image finally formed in the image sensing unit 102 is induced to have good optical aberration.

한편, 이와 같은 본 발명의 다른 실시예에서도, 시료확대 이미지의 확대배율 조절이 필요할 경우, 사용자는 전자기기를 조작하여, 모터, 축, 기어 등과 같은 각종 렌즈 구동유발 디바이스들을 동작시키게 되며, 그 여파로, 동일 움직임이 가능하도록 일체로 고정되어 있던 본 발명의 렌즈군(21)/핀홀 조리개(23) 어셈블리는 타겟 시료로부터 멀어지거나 가까워지는 동작을 연속적으로 취할 수 있게 된다. On the other hand, in another embodiment of the present invention, when the magnification adjustment of the sample magnification image is necessary, the user operates the various electronic devices, such as motors, shafts, gears to operate the lens driving inducing devices, the aftermath As such, the lens group 21 / pinhole stop 23 assembly of the present invention, which is integrally fixed to enable the same movement, can continuously move away from or close to the target sample.

물론, 이 상황에서도, 렌즈군(21)/핀홀 조리개(23) 어셈블리로부터 이미지 센싱유닛(102)까지의 거리는 상술한 동작에 맞추어, 길어지거나 짧아지는 변화를 연속적으로 겪을 수 있게 되며, 그에 따라, 이미지 센싱유닛(102)에 최종 결상되는 시료확대 이미지 역시, 확대되거나, 축소되는 변화를 연속적으로 일으킬 수 있게 된다.Of course, even in this situation, the distance from the lens group 21 / pinhole aperture 23 assembly to the image sensing unit 102 can continuously undergo a longer or shorter change in accordance with the above-described operation. The sample magnified image that is finally formed in the image sensing unit 102 may also continuously change the enlarged or reduced image.

당연히, 이와 같은 본 발명의 다른 구현환경 하에서도, 전자기기를 사용하는 사용자 측에서는, 전자기기를 조작하여, 타겟 시료 및 렌즈군(21)/핀홀 조리개(23) 어셈블리 사이의 간격을 가깝거나, 멀게 조절하는 지극히 간단한 조치만으로도, 이미지 센싱유닛(102)에 최종 결상되는 시료확대 이미지의 확대배율을 자유롭게 연속 조절 할 수 있게 된다(이 경우에도, 상기 조치가 필요에 따라 생략되면, 본 발명의 현미경용 광학렌즈 시스템(20)은 광학적 수차가 양호하게 보정된 고정 배율의 시료확대 이미지를 효과적으로 제공할 수 있게 된다).As a matter of course, even under such a different implementation environment of the present invention, the user side using the electronic device operates the electronic device to close or move the distance between the target sample and the lens group 21 / pinhole aperture 23 assembly. With only a very simple measure to adjust, the magnification of the sample magnified image finally formed in the image sensing unit 102 can be freely adjusted (in this case, if the above measures are omitted as necessary, for the microscope of the present invention). The optical lens system 20 can effectively provide a fixed magnification image of which optical aberration is well corrected).

한편, 이러한 본 발명의 다른 체제 하에서, 사용자 측에서는, 전자기기를 휴대하고 다니다가, 타겟 시료의 관찰이 필요하면, 전자기기를 타겟 시료에 접근시켜, 현미경용 광학 렌즈 시스템(20)이 타겟 시료에 접근될 수 있도록 유도한 다음, 전원을 조작(예컨대, 전원공급스위치를 조작)하여, 전원 측 전력이 광원 측으로 공급되도록 하고, 이를 통해, 광원이 타겟 시료 측으로 광선을 조사하도록 유도하는 조치를 취하게 된다.On the other hand, under such a different system of the present invention, if the user carries the electronic device and needs to observe the target sample, the electronic device approaches the target sample, and the microscope optical lens system 20 is connected to the target sample. Induce access, then manipulate the power supply (e.g., operate the power supply switch) so that power on the power source side is supplied to the light source side, thereby taking action to induce the light source to irradiate the light beam onto the target sample side. do.

물론, 이 상황에서, 광원 측 광선 조사에 기인하여, 타겟 시료 측으로부터 출력되는 광선은 핀홀 조리개(23)의 핀홀(23a)을 거쳐, 렌즈군(21)의 비구면인 굴절면(21a), 굴절면(21b) 등을 통과한 다음, 광학필터(22)의 각 면(22a,22b)을 통과하고, 이어, 이미지 센싱유닛(102)의 픽셀에 도달하여, 일련의 <확대된 시료 이미지>로 결상되는 절차를 겪게 되며, 결국, 앞의 실시예와 마찬가지로, 사용자 측에서는, 언제 어느 때나 자신이 원하는 타겟 시료를 손쉽게 확대 관찰할 수 있는 효과를 융통성 있게 향유할 수 있게 된다.Of course, in this situation, due to the light source side light irradiation, the light beam output from the target sample side passes through the pinhole 23a of the pinhole aperture 23, and the refractive surface 21a and the refractive surface (which are aspherical surfaces of the lens group 21). 21b) and the like, and then pass through the surfaces 22a and 22b of the optical filter 22, and then reach the pixels of the image sensing unit 102 to be formed into a series of enlarged sample images. In the end, as in the previous embodiment, the user side can flexibly enjoy the effect of easily magnifying and observing a target sample anytime and anytime.

구성요소Component 곡률반경(c0 -1)Bending Radius (c 0 -1 ) 거리(mm) (Thickness)Distance (mm) 굴절률Refractive index 아베값Abbe value 핀홀 (23a) 지름 DPinhole (23a) Diameter D 타겟시료Target Sample 9.09.0 핀홀조리개 (23)Pinhole Aperture (23) 0.10.1 0.2mm0.2mm 굴절면(21a)*Refractive surface (21a) * 1.31.3 0.51360.5136 1.5301.530 55.855.8 굴절면(21b)*Refractive surface (21b) * -23.3517-23.3517 2.18002.1800 면(22a)Cotton (22a) 0.30.3 1.5171.517 64.264.2 면(22b)Cotton (22b) 0.30.3 이미지센싱 유닛(102)Image Sensing Unit (102) 0.00.0

상술한 본 발명의 다른 실시예에 따른 현미경용 광학 렌즈 시스템(20)의 구체적인 일 실시 데이터는 앞의 <표 4> 및 아래의 <표 5>, <표 6>으로 주어진다(여기서, 렌즈군(21)을 이루는 물질로, 일본 Zeon 사의 ZEONEX Z-E48R이 사용된다)(아래의 표 5 및 표 6은 렌즈군(21)의 비구면인 굴절면(21a) 및 굴절면(21b)의 비구면 상수를 나타낸다). Specific implementation data of the optical lens system 20 for a microscope according to another embodiment of the present invention described above is given by the above <Table 4> and <Table 5>, <Table 6> (wherein the lens group ( 21), ZEONEX Z-E48R manufactured by Zeon, Japan, is used. .

KK AA BB CC DD 0.000000.00000 1.96889E+001.96889E + 00 -1.01098E+02-1.01098E + 02 6.35929E+036.35929E + 03 -1.55337E+05-1.55337E + 05 EE FF GG HH JJ -2.81699E-17-2.81699E-17 0.00000E+000.00000E + 00 0.00000E+000.00000E + 00 0.00000E+000.00000E + 00 0.00000E+000.00000E + 00

KK AA BB CC DD 0.000000.00000 1.72065E+001.72065E + 00 -2.99484E+01-2.99484E + 01 4.66550E+024.66550E + 02 -2.69726E+03-2.69726E + 03 EE FF GG HH JJ 7.38248E-127.38248E-12 0.00000E+000.00000E + 00 0.00000E+000.00000E + 00 0.00000E+000.00000E + 00 0.00000E+000.00000E + 00

여기서, 핀홀 조리개(23)의 핀홀(23a)은 상기 <표 4>에 제시된 바와 같이, 0.2mm의 지름 D를 가져, 앞의 <수학식 1>에 제시된 조건을 만족하게 되며, 렌즈군(21)은 상기 <표 4>에 제시된 데이터로부터, <첫 번째 굴절면(21a)으로부터 마지막 굴절면(21b)까지의 거리 T>를 0.5136㎜로 가지면서, 총 굴절능 P를 0.427㎜-1로 가져, 앞의 <수학식 2>에 제시된 조건을 만족하게 된다.Here, the pinhole 23a of the pinhole aperture 23 has a diameter D of 0.2 mm, as shown in Table 4, thereby satisfying the conditions shown in Equation 1 above, and the lens group 21 ) Has a total refractive power P of 0.427 mm −1 , while having a distance T from the first refractive surface 21 a to the last refractive surface 21 b of 0.5136 mm from the data shown in Table 4 above. It satisfies the conditions given in Equation 2 below.

상기 <표 4>, <표 5>, <표 6>으로 주어진 데이터 하에서, 도 4에 도시된 바와 같이, 이미지 센싱유닛(102)에 최종 결상되는 시료확대 이미지는, C-line(656.3㎚), d-line(587.6㎚), e-line(546.1㎚), F-line(486.1㎚), g-line(435.8㎚) 등의 각 광선 파장에 걸쳐, 약 0.16㎜ 범위 내에 있는 구면수차를 나타내고 있다. Under the data given in Tables 4, 5, and 6, as shown in FIG. 4, the sample magnified image finally formed in the image sensing unit 102 is C-line (656.3 nm). shows spherical aberration within the range of about 0.16 mm over each light wavelength, such as d-line (587.6 nm), e-line (546.1 nm), F-line (486.1 nm), g-line (435.8 nm), and the like. have.

또한, 이미지 센싱유닛(102)에 최종 결상되는 시료확대 이미지는, 도 4에 도시된 바와 같이, 새지털(Sagittal) S, 탄젠셜(Tangential) T에 있어서, 약 0.28㎜ 범위 내에 있는 비점수차를 나타내고 있다. In addition, the sample magnified image finally formed in the image sensing unit 102, as shown in Figure 4, in the sagittal S, Tangential T, astigmatism within the range of about 0.28 mm It is shown.

또한, 이미지 센싱유닛(102)에 최종 결상되는 시료확대 이미지는, 도 4에 도시된 바와 같이, 최대 크기가 약 0.67% 정도인 왜곡수차를 나타내고 있다.In addition, the sample magnification image finally formed in the image sensing unit 102, as shown in Figure 4, exhibits a distortion of about 0.67% of the maximum size.

이처럼, 본 발명의 구현환경 하에서, 이미지 센싱유닛(102)에 최종 결상되는 시료확대 이미지는 앞의 도 4에 도시된 바와 같이, 그 광학수차가 전체적으로 양호하게 보정되었음을 알 수 있다.As such, in the implementation environment of the present invention, as shown in FIG. 4, the sample magnification image finally formed in the image sensing unit 102 can be seen that the optical aberration is generally well corrected.

P: 0.427㎜-1, T: 1.05136㎜, D: 0.2㎜ P: 0.427 mm -1 , T: 1.05136 mm, D: 0.2 mm L(㎜)L (mm) 굴절면(21b)과 이미지 센싱유닛(102) 사이의 거리(㎜)Distance (mm) between the refracting surface 21b and the image sensing unit 102 시료확대 이미지의 확대배율Magnification of Sample Magnification Image 12.112.1 2.5492.549 1(기준)1 (standard) 11.111.1 2.6082.608 1.21.2 10.110.1 2.6822.682 1.61.6 9.19.1 2.7792.779 2.12.1 8.18.1 2.9112.911 2.92.9 7.17.1 3.0973.097 4.24.2 6.16.1 3.3783.378 6.76.7 5.65.6 3.5793.579 8.98.9

한편, 상기 <표 4> 내지 <표 6>으로 주어진 데이터 하에서, 본 발명에 따른 현미경용 광학 렌즈 시스템(20)을 전자기기에 연계·설치한 후, 타겟 시료 측으로, 435.8㎚~656.3㎚의 파장영역을 가지는 광선을 조사하면서, 렌즈군(21)/핀홀 조리개(23) 어셈블리를 움직여, 타겟 시료와 렌즈군(21)의 첫 번째 굴절면(21a) 사이의 거리 L을 5.6㎜~12.1㎜로 조절하였을 경우(물론, 이 경우, 렌즈군(21)은 앞의 수학식 2에 제시된 제한조건을 만족함을 알 수 있다), 앞의 <표 7>에 제시된 바와 같이, 렌즈군(21)의 마지막 굴절면(21b)으로부터 이미지 센싱유닛(102)까지의 거리는 상술한 동작에 맞추어, 길어지거나 짧아지는 변화를 연속적으로 겪는다는 것을 알 수 있으며, 그에 따라, 이미지 센싱유닛(102)에 최종 결상되는 시료확대 이미지 역시, 1배~8.9배까지 확대되거나, 축소되는 변화를 연속적으로 일으킨다는 것을 알 수 있다.On the other hand, under the data given in Tables 4 to 6, after connecting and installing the optical lens system 20 for a microscope according to the present invention to an electronic device, a wavelength of 435.8 nm to 656.3 nm toward the target sample. While irradiating light rays having an area, the lens group 21 / pinhole stop 23 assembly is moved to adjust the distance L between the target sample and the first refractive surface 21a of the lens group 21 to 5.6 mm to 12.1 mm. In this case, of course, in this case, the lens group 21 satisfies the limitation condition shown in Equation 2 above, and as shown in Table 7, the last refractive surface of the lens group 21. It can be seen that the distance from the image sensing unit 102 to the image sensing unit 102 continuously undergoes a change that becomes longer or shorter according to the above-described operation, and thus, the sample enlarged image finally formed in the image sensing unit 102. Again, the change is magnified or reduced by 1 ~ 8.9 times It can be seen that continuously produces a.

한편, 도 5에 도시된 바와 같이, 본 발명의 또 다른 실시예 하에서, 현미경용 광학 렌즈 시스템(30)은, 앞의 실시예와 달리, 렌즈군(31,34)이 핀홀 조리개(33)의 전면에 쌍을 이루어, 2매 배치되는 구조를 취하게 된다(여기서, 핀홀(33a)을 구비한 핀홀 조리개(33)에 대한 상세한 설명, 각면(32a,32b)을 구비한 광학필터(32)에 대한 상세한 설명 등은 앞서 언급한 내역으로 대체하기로 함)(이때, 렌즈군(31,34)은 도면에 도시된 바와 같이, 하나의 단품 형태로 결합(Cemented)되어 있어도 무방하고, 상황에 따라, 거리를 갖고 분리되어 있어도 무방하다). On the other hand, as shown in Figure 5, under another embodiment of the present invention, in the optical lens system 30 for a microscope, unlike the previous embodiment, the lens group (31, 34) of the pinhole aperture 33 The structure is arranged in pairs on the front surface and is arranged in two pieces (herein, a detailed description of the pinhole diaphragm 33 having the pinhole 33a, the optical filter 32 having the respective surfaces 32a and 32b). The detailed description thereof will be replaced with the above-described details (in this case, as shown in the drawing, the lens groups 31 and 34 may be combined in a single unit form (Cemented), depending on the situation. They may be separated by a distance).

물론, 이 경우에도, 핀홀 조리개(33) 및 렌즈군(31,34)은, 필요에 따라, 동일 움직임이 가능하도록 일체로 고정되는 구조를 형성하게 되며, 이 상황에서, 렌즈군(31,34)은 자신의 총 굴절능을 일정 범위 내로 유지시킴으로써, 핀홀 조리개(33)의 핀홀(33a)을 통과한 광선의 굴절정도(예컨대, 굴절각도)를 조절하고, 이를 통해, 해당 광선이 퍼지지 못하도록 조절하는 역할을 수행하게 된다(이 경우에도, 본 발명의 렌즈군(31,34)은 이미지 센싱유닛(102) 측에 최종 결상되는 시료확대 이미지의 품질 개선을 위하여, 바람직하게, 하나 이상의 비구면(31a)을 구비하게 된다).Of course, even in this case, the pinhole stop 33 and the lens groups 31 and 34 form a structure in which the pinhole aperture 33 and the lens groups 31 and 34 are integrally fixed to allow the same movement as necessary. ) Adjusts the degree of refraction (eg, angle of refraction) of the light beams passing through the pinholes 33a of the pinhole aperture 33 by keeping its total refractive power within a certain range, thereby adjusting the light rays from spreading. (In this case, the lens groups 31 and 34 of the present invention are preferably one or more aspherical surfaces 31a in order to improve the quality of the sample magnified image finally formed on the image sensing unit 102 side. )).

물론, 이러한 렌즈군(31,34)의 배치 상황에서, 광선의 굴절정도(예, 굴절각도)가 일정 범위 내로 조절되면, 핀홀(33a)을 통과하게 되는 광선은 자체적인 고유성질, 또는, 핀홀(33a)의 영향에도 불구하고, 퍼지는 폭을 줄일 수 있게 되며, 결국, 이미지 센싱유닛(102)에 최종 결상되는 시료확대 이미지는 각종 광학수차, 예를 들어, 구면수차(Spherical aberration), 비점수차(Astigmatism), 왜곡수차(Distortion aberration) 등을 양호하게 보정 받을 수 있게 된다.Of course, in the arrangement of the lens groups 31 and 34, when the degree of refraction (eg, angle of refraction) of the light beam is adjusted within a certain range, the light beam passing through the pinhole 33a has its own unique property or pinhole. Despite the influence of (33a), it is possible to reduce the spreading width, and eventually, the sample magnified image finally formed in the image sensing unit 102 is a variety of optical aberration, for example, spherical aberration, astigmatism Astigmatism, distortion aberration, etc. can be corrected well.

이때에도, 본 발명에서는 상술한 여러 문제점의 발생을 두루 고려하여, 렌즈군(31,34)의 총 굴절능을 앞의 <수학식 2>에 제시된 범위로 유지시키고, 이를 통해, 핀홀(33a)을 통과하는 광선이 퍼지는 현상을 정상적으로 억제시킴으로써, 이미지 센싱유닛(102)에 최종 결상되는 시료확대 이미지가 양호한 광학수차를 가질 수 있도록 유도하게 된다. Even in this case, in the present invention, the total refractive power of the lens groups 31 and 34 is maintained in the range shown in Equation 2 in consideration of the occurrence of various problems described above, and thus, the pinhole 33a is provided. By normally suppressing the propagation of light rays passing through, the magnified image that is finally formed in the image sensing unit 102 is induced to have good optical aberration.

한편, 이와 같은 본 발명의 또 다른 실시예에서도, 시료확대 이미지의 확대배율 조절이 필요할 경우, 사용자는 전자기기를 조작하여, 모터, 축, 기어 등과 같은 각종 렌즈 구동유발 디바이스들을 동작시키게 되며, 그 여파로, 동일 움직임이 가능하도록 일체로 고정되어 있던 본 발명의 렌즈군(31,34)/핀홀 조리개(33) 어셈블리는 타겟 시료로부터 멀어지거나 가까워지는 동작을 연속적으로 취할 수 있게 된다.On the other hand, in another embodiment of the present invention, when it is necessary to adjust the magnification of the sample magnification image, the user operates the various electronic devices, such as a motor, a shaft, a gear, driving the lens driving inducing devices, In the aftermath, the lens group 31, 34 / pinhole stop 33 assembly of the present invention, which has been fixed integrally to enable the same movement, can continuously move away from or close to the target sample.

물론, 이 상황에서도, 렌즈군(31,34)/핀홀 조리개(33) 어셈블리로부터 이미지 센싱유닛(102)까지의 거리는 상술한 렌즈군(31,34)/핀홀 조리개(33) 어셈블리의 움직임에 맞추어, 길어지거나 짧아지는 변화를 연속적으로 겪을 수 있게 되며, 그에 따라, 이미지 센싱유닛(102)에 최종 결상되는 시료확대 이미지 역시, 확대되거나, 축소되는 변화를 연속적으로 일으킬 수 있게 된다.Of course, even in this situation, the distance from the lens group 31, 34 / pinhole stop 33 assembly to the image sensing unit 102 may be adjusted to the movement of the lens group 31, 34 / pinhole stop 33 assembly described above. As a result, the enlarged or shortened change may be continuously experienced, and thus, the magnified image that is finally formed in the image sensing unit 102 may also be continuously enlarged or reduced.

당연히, 이와 같은 본 발명의 또 다른 구현환경 하에서도, 전자기기를 사용하는 사용자 측에서는, 전자기기를 조작하여, 타겟 시료 및 렌즈군(31,34)/핀홀 조리개(33) 어셈블리 사이의 간격을 가깝거나, 멀게 조절하는 지극히 간단한 조치만으로도, 이미지 센싱유닛(102)에 최종 결상되는 시료확대 이미지의 확대배율을 자유롭게 연속 조절 할 수 있게 된다(이 경우에도, 상기 조치가 필요에 따라 생략되면, 본 발명의 현미경용 광학렌즈 시스템(30)은 광학적 수차가 양호하게 보정된 고정 배율의 시료확대 이미지를 효과적으로 제공할 수 있게 된다).As a matter of course, even under such an implementation environment of the present invention, the user side using the electronic device operates the electronic device to close the distance between the target sample and the lens group 31, 34 / pinhole stop 33 assembly. With only an extremely simple measure of adjusting the distance or distance, the magnification of the sample magnification image finally formed in the image sensing unit 102 can be freely adjusted continuously (in this case, if the above measures are omitted as necessary, the present invention). The optical lens system 30 for microscopy can effectively provide a fixed magnification image with good optical aberration corrected).

한편, 이러한 본 발명의 또 다른 체제 하에서, 사용자 측에서는, 전자기기를 휴대하고 다니다가, 타겟 시료의 관찰이 필요하면, 전자기기를 타겟 시료에 접근시켜, 현미경용 광학 렌즈 시스템(30)이 타겟 시료에 접근될 수 있도록 유도한 다음, 전원을 조작(예컨대, 전원공급스위치를 조작)하여, 전원 측 전력이 광원 측으로 공급되도록 하고, 이를 통해, 광원이 타겟 시료 측으로 광선을 조사하도록 유도하는 조치를 취하게 된다.On the other hand, under another system of the present invention, if the user carries the electronic device and needs to observe the target sample, the electronic device approaches the target sample, and the optical lens system 30 for a microscope provides the target sample. Induces access to and then manipulates the power supply (e.g., operates a power supply switch) so that power on the power source side is supplied to the light source side, thereby taking action to induce the light source to irradiate the light beam onto the target sample side. Done.

물론, 이 상황에서, 광원 측 광선 조사에 기인하여, 타겟 시료 측으로부터 출력되는 광선은 렌즈군(31,34)의 비구면인 굴절면(31a) 및 굴절면(31b) 그리고, 광학필터(32) 측으로 볼록한 렌즈군(31,34)의 굴절면(34a) 등을 통과한 다음, 핀홀 조리개(33)의 핀홀(33a)을 거쳐, 광학필터(32)의 각 면(32a,22b)을 통과하고, 이어, 이미지 센싱유닛(102)의 픽셀에 도달하여, 일련의 <확대된 시료 이미지>로 결상되는 절차를 겪게 되며, 결국, 앞의 각 실시예와 마찬가지로, 사용자 측에서는, 언제 어느 때나 자신이 원하는 타겟 시료를 손쉽게 확대 관찰할 수 있는 효과를 융통성 있게 향유할 수 있게 된다.In this situation, of course, due to the light source side light irradiation, the light rays output from the target sample side are convex toward the refractive surface 31a and the refractive surface 31b, which are aspherical surfaces of the lens groups 31 and 34, and the optical filter 32 side. After passing through the refractive surface 34a and the like of the lens group 31 and 34, and then through the pinhole 33a of the pinhole aperture 33, it passes through each surface 32a and 22b of the optical filter 32, The pixel of the image sensing unit 102 is reached and undergoes a process of forming an image into a series of <enlarged sample images>. Consequently, as in each of the foregoing embodiments, the user may select a target sample that he / she wants at any time and any time. Flexibility to enjoy the effects that can be easily magnified.

상술한 본 발명의 또 다른 실시예에 따른 현미경용 광학 렌즈 시스템(30)의 구체적인 일 실시 데이터는 아래의 <표 8>, <표 9>로 주어진다(여기서, 렌즈군(31,34)을 이루는 물질로, 일본 Zeon 사의 ZEONEX Z-E48R와, Schott 사의 NBK7이 선택적으로 사용된다)(아래의 표 9는 렌즈군(31,34)의 비구면인 굴절면(31a)의 비구면 상수를 나타낸다). Specific implementation data of the optical lens system 30 for a microscope according to another embodiment of the present invention described above is given in Tables 8 and 9 below, where the lens groups 31 and 34 are formed. As the material, ZEONEX Z-E48R manufactured by Zeon Japan and NBK7 manufactured by Schott are optionally used.

구성요소Component 곡률반경(c0 -1)Bending Radius (c 0 -1 ) 거리(mm) (Thickness)Distance (mm) 굴절률Refractive index 아베값Abbe value 핀홀 (33a) 지름 DPinhole (33a) Diameter D 타겟시료Target Sample 9.09.0 굴절면(31a)*Refractive surface (31a) * 7.89737.8973 0.40840.4084 1.5301.530 55.855.8 굴절면(31b)Refracting surface 31b -60.8199-60.8199 0.63130.6313 1.5171.517 64.264.2 굴절면(34a)Refractive surface 34a -1.3-1.3 0.10.1 핀홀조리개 (33)Pinhole Aperture (33) 2.17212.1721 0.2mm0.2mm 면(32a)Cotton (32a) 0.30.3 1.5171.517 64.264.2 면(32b)Cotton (32b) 0.30.3 이미지센싱 유닛(102)Image Sensing Unit (102) 0.00.0

KK AA BB CC DD -531.745039-531.745039 -2.26318E-01-2.26318E-01 9.34575E-019.34575E-01 -7.43890E+00-7.43890E + 00 2.47219E+012.47219E + 01 EE FF GG HH JJ -2.90310E+01-2.90310E + 01 -5.60985E-04-5.60985E-04 0.00000E+000.00000E + 00 0.00000E+000.00000E + 00 0.00000E+000.00000E + 00

여기서, 핀홀 조리개(33)의 핀홀(33a)은 상기 <표 8>에 제시된 바와 같이, 0.2mm의 지름 D를 가져, 앞의 <수학식 1>에 제시된 조건을 만족하게 되며, 렌즈군(31,34)은 상기 <표 8>에 제시된 데이터로부터, <첫 번째 굴절면(31a)으로부터 마지막 굴절면(34a)까지의 거리 T>를 1.0397㎜로 가지면서, 총 굴절능 P를 0.447㎜-1로 가져, 앞의 <수학식 2>에 제시된 조건을 만족하게 된다. Here, the pinhole 33a of the pinhole aperture 33 has a diameter D of 0.2 mm, as shown in Table 8, thereby satisfying the conditions shown in Equation 1 above, and the lens group 31. (34) has a total refractive power P of 0.447 mm −1 while having a distance T from the first refractive surface 31 a to the last refractive surface 34 a of 1.0397 mm from the data presented in Table 8 above. , The condition given in Equation 2 above is satisfied.

상기 <표 8>, <표 9>로 주어진 데이터 하에서, 도 6에 도시된 바와 같이, 이미지 센싱유닛(102)에 최종 결상되는 시료확대 이미지는, C-line(656.3㎚), d-line(587.6㎚), e-line(546.1㎚), F-line(486.1㎚), g-line(435.8㎚) 등의 각 광선 파장에 걸쳐, 약 0.09㎜ 범위 내에 있는 구면수차를 나타내고 있다. Under the data given in Tables 8 and 9, as shown in FIG. 6, the sample magnification image finally formed in the image sensing unit 102 is C-line (656.3 nm), d-line ( 58 spherical aberration is shown in the range of about 0.09 mm over each wavelength of light such as 587.6 nm), e-line (546.1 nm), F-line (486.1 nm), g-line (435.8 nm) and the like.

또한, 이미지 센싱유닛(102)에 최종 결상되는 시료확대 이미지는, 도 6에 도시된 바와 같이, 새지털(Sagittal) S, 탄젠셜(Tangential) T에 있어서, 약 0.15㎜ 범위 내에 있는 비점수차를 나타내고 있다.In addition, the sample magnified image finally formed in the image sensing unit 102, as shown in Figure 6, in the sagittal S, tangential T, astigmatism within the range of about 0.15mm It is shown.

또한, 이미지 센싱유닛(102)에 최종 결상되는 시료확대 이미지는, 도 6에 도시된 바와 같이, 최대 크기가 약 2.98% 정도인 왜곡수차를 나타내고 있다. In addition, the sample magnification image finally formed in the image sensing unit 102, as shown in Figure 6, exhibits a distortion of a maximum size of about 2.98%.

이처럼, 본 발명의 구현환경 하에서, 이미지 센싱유닛(102)에 최종 결상되는 시료확대 이미지는 앞의 도 6에 도시된 바와 같이, 그 광학수차가 전체적으로 양호하게 보정되었음을 알 수 있다.As such, under the implementation environment of the present invention, as shown in FIG. 6, the sample magnification image finally formed in the image sensing unit 102 can be seen that the optical aberration is generally well corrected.

한편, 상기 <표 8>, <표 9>로 주어진 데이터 하에서, 본 발명에 따른 현미경용 광학 렌즈 시스템(30)을 전자기기에 연계·설치한 후, 타겟 시료 측으로, 435.8㎚~656.3㎚의 파장영역을 가지는 광선을 조사하면서, 렌즈군(31,34)/핀홀 조리개(33) 어셈블리를 움직여, 타겟 시료와 렌즈군(31,34)의 첫 번째 굴절면(31a) 사이의 거리 L을 5.0㎜~12.0㎜로 조절하였을 경우(물론, 이 경우, 렌즈군(31,34)은 앞의 수학식 2에 제시된 제한조건을 만족함을 알 수 있다), 아래의 <표 10>에 제시된 바와 같이, 렌즈군(31,34)의 마지막 굴절면(34a)으로부터 이미지 센싱유닛(102)까지의 거리는 상술한 핀홀 조리개(33)/렌즈군(31,34) 어셈블리의 움직임에 맞추어, 길어지거나 짧아지는 변화를 연속적으로 겪는다는 것을 알 수 있으며, 그에 따라, 이미지 센싱유닛(102)에 최종 결상되는 시료확대 이미지 역시, 1배~9.8배까지 확대되거나, 축소되는 변화를 연속적으로 일으킨다는 것을 알 수 있다.On the other hand, under the data given in Tables 8 and 9, after connecting and installing the optical lens system 30 for a microscope according to the present invention to an electronic device, a wavelength of 435.8 nm to 656.3 nm toward the target sample. While irradiating a light beam having an area, the lens group 31, 34 / pinhole stop 33 assembly is moved so that the distance L between the target sample and the first refractive surface 31a of the lens group 31, 34 is 5.0 mm to When adjusted to 12.0 mm (of course, in this case, it can be seen that the lens group 31, 34 satisfies the constraint set forth in the equation (2)), as shown in Table 10 below, lens group The distance from the last refracting surface 34a of (31, 34) to the image sensing unit (102) is consistent with the movement of the above-mentioned pinhole aperture (33) / lens group (31, 34) assembly, continuously changing the lengthening or shortening change. It can be seen that, and accordingly, the sample magnified image that is finally formed in the image sensing unit 102 Again, it can be seen that the expansion or contraction of 1 to 9.8 times causes a continuous change.

P: 0.447㎜-1, T: 1.0397㎜, D: 0.2㎜ P: 0.447 mm -1 , T: 1.0397 mm, D: 0.2 mm L(㎜)L (mm) 굴절면(34a)과 이미지 센싱유닛(102) 사이의 거리(㎜)Distance (mm) between the refracting surface 34a and the image sensing unit 102 시료확대 이미지의 확대배율Magnification of Sample Magnification Image 1212 2.6722.672 1(기준)1 (standard) 1111 2.7202.720 1.21.2 1010 2.7932.793 1.51.5 99 2.8722.872 2.02.0 88 2.9582.958 2.72.7 77 3.1073.107 3.83.8 66 3.3023.302 5.85.8 5.55.5 3.4453.445 7.47.4 55 3.6313.631 9.89.8

한편, 도 7에 도시된 바와 같이, 본 발명의 또 다른 실시예 하에서, 현미경용 광학 렌즈 시스템(40)은, 앞의 실시예들과 달리, 렌즈군(41,44)이 핀홀 조리개(43)의 후면에 쌍을 이루어, 대칭적으로 2매 배치되는 구조를 취하게 된다(여기서, 핀홀(43a)을 구비한 핀홀 조리개(43)에 대한 상세한 설명, 각면(42a,42b)을 구비한 광학필터(42)에 대한 상세한 설명 등은 앞서 언급한 내역으로 대체하기로 함)(이때, 렌즈군(41,44)은 도면에 도시된 바와 같이, 거리를 갖고 분리되어 있어도 무방하고, 상황에 따라, 하나의 단품 형태로 결합되어 있어도 무방하다). Meanwhile, as shown in FIG. 7, under another embodiment of the present invention, in the optical lens system 40 for a microscope, unlike the previous embodiments, the lens groups 41 and 44 have a pinhole aperture 43. Paired on the rear side of the, it takes a structure that is arranged symmetrically two sheets (here, a detailed description of the pinhole diaphragm 43 having a pinhole 43a, an optical filter having each surface 42a, 42b Detailed description of 42 and the like will be replaced with the above-described details. (At this time, the lens groups 41 and 44 may be separated with a distance, as shown in the drawing. May be combined into a single unit).

물론, 이 경우에도, 핀홀 조리개(43) 및 렌즈군(41,44)은, 필요에 따라, 동일 움직임이 가능하도록 일체로 고정되는 구조를 형성하게 되며, 이 상황에서, 렌즈군(41,44)은 자신의 총 굴절능을 일정 범위 내로 유지시킴으로써, 핀홀 조리개(43)의 핀홀(43a)을 통과한 광선의 굴절정도(예컨대, 굴절각도)를 조절하고, 이를 통해, 해당 광선이 퍼지지 못하도록 조절하는 역할을 수행하게 된다(이 경우에도, 본 발명의 렌즈군(41,44)은 이미지 센싱유닛(102) 측에 최종 결상되는 시료확대 이미지의 품질 개선을 위하여, 바람직하게, 하나 이상의 비구면(41b) 및 비구면(44a)을 구비하게 된다).Of course, even in this case, the pinhole stop 43 and the lens groups 41 and 44 form a structure in which the pinhole diaphragm 43 and the lens groups 41 and 44 are integrally fixed to allow the same movement as necessary. ) Adjusts the degree of refraction (eg, angle of refraction) of the light beams passing through the pinhole 43a of the pinhole aperture 43 by maintaining its total refractive power within a predetermined range, and thereby, prevents the light beam from spreading. (In this case, the lens groups 41 and 44 of the present invention are preferably one or more aspherical surfaces 41b to improve the quality of the sample magnified image finally formed on the image sensing unit 102 side. ) And an aspherical surface 44a).

물론, 이러한 렌즈군(41,44)의 배치 상황에서, 광선의 굴절정도(예, 굴절각도)가 일정 범위 내로 조절되면, 핀홀(43a)을 통과하게 되는 광선은 자체적인 고유성질, 또는, 핀홀(43a)의 영향에도 불구하고, 퍼지는 폭을 줄일 수 있게 되며, 결국, 이미지 센싱유닛(102)에 최종 결상되는 시료확대 이미지는 각종 광학수차, 예를 들어, 구면수차(Spherical aberration), 비점수차(Astigmatism), 왜곡수차(Distortion aberration) 등을 양호하게 보정 받을 수 있게 된다.Of course, in the arrangement of the lens groups 41 and 44, when the degree of refraction (eg, angle of refraction) of the light beam is adjusted within a predetermined range, the light beam passing through the pinhole 43a has its own unique property or pinhole. In spite of the influence of 43a, the spreading width can be reduced, and thus, the magnified image that is finally formed in the image sensing unit 102 has various optical aberrations such as spherical aberration and astigmatism. Astigmatism, distortion aberration, etc. can be corrected well.

이때에도, 본 발명에서는 상술한 여러 문제점의 발생을 두루 고려하여, 렌즈군(41,44)의 총 굴절능을 앞의 <수학식 2>에 제시된 범위로 유지시키고, 이를 통해, 핀홀(43a)을 통과하는 광선이 퍼지는 현상을 정상적으로 억제시킴으로써, 이미지 센싱유닛(102)에 최종 결상되는 시료확대 이미지가 양호한 광학수차를 가질 수 있도록 유도하게 된다. In this case, in the present invention, the total refractive power of the lens groups 41 and 44 is maintained in the range shown in Equation 2 in consideration of the occurrence of the various problems described above, and thus, the pinhole 43a By normally suppressing the propagation of light rays passing through, the magnified image that is finally formed in the image sensing unit 102 is induced to have good optical aberration.

한편, 이와 같은 본 발명의 또 다른 실시예에서도, 시료확대 이미지의 확대배율 조절이 필요할 경우, 사용자는 전자기기를 조작하여, 모터, 축, 기어 등과 같은 각종 렌즈 구동유발 디바이스들을 동작시키게 되며, 그 여파로, 동일 움직임이 가능하도록 일체로 고정되어 있던 본 발명의 렌즈군(41,44)/핀홀 조리개(43) 어셈블리는 타겟 시료로부터 멀어지거나 가까워지는 동작을 연속적으로 취할 수 있게 된다.On the other hand, in another embodiment of the present invention, when it is necessary to adjust the magnification of the sample magnification image, the user operates the various electronic devices, such as a motor, a shaft, a gear, driving the lens driving inducing devices, In the aftermath, the lens group 41,44 / pinhole stop 43 assembly of the present invention, which is integrally fixed to enable the same movement, can continuously move away from or close to the target sample.

물론, 이 상황에서도, 렌즈군(41,44)/핀홀 조리개(43) 어셈블리로부터 이미지 센싱유닛(102)까지의 거리는 상술한 렌즈군(41,44)/핀홀 조리개(43) 어셈블리의 움직임에 맞추어, 길어지거나 짧아지는 변화를 연속적으로 겪을 수 있게 되며, 그에 따라, 이미지 센싱유닛(102)에 최종 결상되는 시료확대 이미지 역시, 확대되거나, 축소되는 변화를 연속적으로 일으킬 수 있게 된다.Of course, even in this situation, the distance from the lens group 41,44 / pinhole stop 43 assembly to the image sensing unit 102 may be adjusted to the movement of the lens group 41,44 / pinhole stop 43 assembly described above. As a result, the enlarged or shortened change may be continuously experienced, and thus, the magnified image that is finally formed in the image sensing unit 102 may also be continuously enlarged or reduced.

당연히, 이와 같은 본 발명의 또 다른 구현환경 하에서도, 전자기기를 사용하는 사용자 측에서는, 전자기기를 조작하여, 타겟 시료 및 렌즈군(41,44)/핀홀 조리개(43) 어셈블리 사이의 간격을 가깝거나, 멀게 조절하는 지극히 간단한 조치만으로도, 이미지 센싱유닛(102)에 최종 결상되는 시료확대 이미지의 확대배율을 자유롭게 연속 조절 할 수 있게 된다(이 경우에도, 상기 조치가 필요에 따라 생략되면, 본 발명의 현미경용 광학렌즈 시스템(40)은 광학적 수차가 양호하게 보정된 고정 배율의 시료확대 이미지를 효과적으로 제공할 수 있게 된다).Naturally, even under such an implementation environment of the present invention, the user side using the electronic device operates the electronic device to close the gap between the target sample and the lens group 41, 44 / pinhole stop 43 assembly. With only an extremely simple measure of adjusting the distance or distance, the magnification of the sample magnification image finally formed in the image sensing unit 102 can be freely adjusted continuously (in this case, if the above measures are omitted as necessary, the present invention). The optical lens system 40 for microscopy can effectively provide a fixed magnification image with good optical aberration corrected).

한편, 이러한 본 발명의 또 다른 체제 하에서, 사용자 측에서는, 전자기기를 휴대하고 다니다가, 타겟 시료의 관찰이 필요하면, 전자기기를 타겟 시료에 접근시켜, 현미경용 광학 렌즈 시스템(40)이 타겟 시료에 접근될 수 있도록 유도한 다음, 전원을 조작(예컨대, 전원공급스위치를 조작)하여, 전원 측 전력이 광원 측으로 공급되도록 하고, 이를 통해, 광원이 타겟 시료 측으로 광선을 조사하도록 유도하는 조치를 취하게 된다. 물론, 이 상황에서, 광원 측 광선 조사에 기인하여, 타겟 시료 측으로부터 출력되는 광선은 핀홀 조리개(43)의 핀홀(43a)을 거쳐, 렌즈군(41,44)의 핀홀 조리개 측으로 볼록한 굴절면(41a), 비구면인 렌즈군(41,44)의 굴절면(41b) 및 굴절면(44a), 나아가, 광학필터(42) 측으로 볼록한 렌즈군(41,44)의 굴절면(44b) 등을 통과한 다음, 광학필터(42)의 각 면(42a,42b)을 통과하고, 이어, 이미지 센싱유닛(102)의 픽셀에 도달하여, 일련의 <확대된 시료 이미지>로 결상되는 절차를 겪게 되며, 결국, 앞의 각 실시예와 마찬가지로, 사용자 측에서는, 언제 어느 때나 자신이 원하는 타겟 시료를 손쉽게 확대 관찰할 수 있는 효과를 융통성 있게 향유할 수 있게 된다.On the other hand, under another system of the present invention, if the user carries the electronic device and needs to observe the target sample, the electronic device approaches the target sample, and the microscope optical lens system 40 provides the target sample. Induces access to and then manipulates the power supply (e.g., operates a power supply switch) so that power on the power source side is supplied to the light source side, thereby taking action to induce the light source to irradiate the light beam onto the target sample side. Done. Of course, in this situation, due to the light source side light irradiation, the light beam outputted from the target sample side passes through the pinhole 43a of the pinhole aperture 43 and is refracted by the convex surface 41a of the pinhole aperture side of the lens groups 41 and 44. ), The refracting surface 41b of the aspherical lens groups 41 and 44 and the refracting surface 44a, and further, the optical fiber 42 passes through the refracting surface 44b of the convex lens groups 41 and 44, and the like. Pass through each face 42a, 42b of the filter 42, and then reach the pixels of the image sensing unit 102, undergoing a process of forming an image into a series of <enlarged sample images>. As in each embodiment, the user side can flexibly enjoy the effect of easily expanding and observing a target sample of his or her desire at any time and any time.

상술한 본 발명의 다른 실시예에 따른 현미경용 광학 렌즈 시스템(40)의 구체적인 일 실시 데이터는 아래의 <표 11>, <표 12>로 주어진다(여기서, 렌즈군(41,44)을 이루는 물질로, 일본 Zeon 사의 ZEONEX Z-E48R이 사용된다)(아래의 표 12는 렌즈군(41,44)의 비구면인 굴절면(41b)의 비구면 상수를 나타낸다)(이 경우, 비구면인 굴절면(44a)의 형상은 비구면인 굴절면(41b)의 형상과 동일하다) Specific implementation data of the optical lens system 40 for a microscope according to another embodiment of the present invention described above is given in Tables 11 and 12 below (here, the material forming the lens group 41, 44) As such, ZEONEX Z-E48R manufactured by Zeon, Japan is used (Table 12 below shows the aspherical surface constant of the refracting surface 41b, which is an aspherical surface of the lens groups 41 and 44). The shape is the same as the shape of the refractive surface 41b, which is an aspherical surface)

구성요소Component 곡률반경(c0 -1)Bending Radius (c 0 -1 ) 거리(mm) (Thickness)Distance (mm) 굴절률Refractive index 아베값Abbe value 핀홀 (43a) 지름 DPinhole (43a) Diameter D 타겟시료Target Sample 9.09.0 핀홀조리개 (43)Pinhole Aperture (43) 0.10.1 0.2mm0.2mm 굴절면(41a)Refractive surface 41a 1.26641.2664 0.350.35 1.5301.530 55.855.8 굴절면(41b)*Refractive surface (41b) * 2.53232.5323 0.10.1 굴절면(44a)*Refractive surface 44a * -2.5323-2.5323 0.350.35 1.5301.530 55.855.8 굴절면(44b)Refractive surface 44b -1.2664-1.2664 2.43632.4363 면(42a)Cotton (42a) 0.30.3 1.5171.517 64.264.2 면(42b)Cotton (42b) 0.30.3 이미지센싱 유닛(102)Image Sensing Unit (102) 0.00.0

KK AA BB CC DD 36.60489036.604890 7.01549E-027.01549E-02 -5.35920E+00-5.35920E + 00 7.17199E+017.17199E + 01 3.48380E+023.48380E + 02 EE FF GG HH JJ -2.57873E+04-2.57873E + 04 1.95109E+051.95109E + 05 0.00000E+000.00000E + 00 0.00000E+000.00000E + 00 0.00000E+000.00000E + 00

여기서, 핀홀 조리개(43)의 핀홀(43a)은 상기 <표 11>에 제시된 바와 같이, 0.2mm의 지름 D를 가져, 앞의 <수학식 1>에 제시된 조건을 만족하게 되며, 렌즈군(41,44)은 상기 <표 11>에 제시된 데이터로부터, <첫 번째 굴절면(41a)으로부터 마지막 굴절면(44b)까지의 거리 T>를 0.8㎜로 가지면서, 총 굴절능 P를 0.409㎜-1로 가져, 앞의 <수학식 2>에 제시된 조건을 만족하게 된다. Here, the pinhole 43a of the pinhole diaphragm 43 has a diameter D of 0.2 mm, as shown in Table 11, thereby satisfying the conditions shown in Equation 1 above, and the lens group 41. (44) has a total refractive power P of 0.409 mm −1 while having a distance T from the first refractive surface 41a to the last refractive surface 44b of 0.8 mm from the data presented in Table 11 above. , The condition given in Equation 2 above is satisfied.

상기 <표 11>, <표 12>로 주어진 데이터 하에서, 도 8에 도시된 바와 같이, 이미지 센싱유닛(102)에 최종 결상되는 시료확대 이미지는, C-line(656.3㎚), d-line(587.6㎚), e-line(546.1㎚), F-line(486.1㎚), g-line(435.8㎚) 등의 각 광선 파장에 걸쳐, 약 0.14㎜ 범위 내에 있는 구면수차를 나타내고 있다. Under the data given in Tables 11 and 12, as shown in FIG. 8, the sample magnification image finally formed in the image sensing unit 102 is C-line (656.3 nm), d-line ( 58 spherical aberration within the range of about 0.14 mm is shown over a wavelength of light such as 587.6 nm), e-line (546.1 nm), F-line (486.1 nm), g-line (435.8 nm), and the like.

또한, 이미지 센싱유닛(102)에 최종 결상되는 시료확대 이미지는, 도 8에 도시된 바와 같이, 새지털(Sagittal) S, 탄젠셜(Tangential) T에 있어서, 약 0.1㎜ 범위 내에 있는 비점수차를 나타내고 있다.In addition, the sample magnified image finally formed in the image sensing unit 102, as shown in Fig. 8, in the sagittal S, tangential T, astigmatism within the range of about 0.1 mm It is shown.

또한, 이미지 센싱유닛(102)에 최종 결상되는 시료확대 이미지는, 도 8에 도시된 바와 같이, 최대 크기가 약 1.56% 정도인 왜곡수차를 나타내고 있다. In addition, the sample enlarged image finally formed in the image sensing unit 102 exhibits distortion aberration having a maximum size of about 1.56%.

이처럼, 본 발명의 구현환경 하에서, 이미지 센싱유닛(102)에 최종 결상되는 시료확대 이미지는 앞의 도 8에 도시된 바와 같이, 그 광학수차가 전체적으로 양호하게 보정되었음을 알 수 있다.As such, in the implementation environment of the present invention, as shown in FIG. 8, the sample magnification image finally formed in the image sensing unit 102 can be seen that the optical aberration is generally well corrected.

한편, 상기 <표 11>, <표 12>로 주어진 데이터 하에서, 본 발명에 따른 현미경용 광학 렌즈 시스템(40)을 전자기기에 연계·설치한 후, 타겟 시료 측으로, 435.8㎚~656.3㎚의 파장영역을 가지는 광선을 조사하면서, 렌즈군(41,44)/핀홀 조리개(43) 어셈블리를 움직여, 타겟 시료와 렌즈군(41,44)의 첫 번째 굴절면(41a) 사이의 거리 L을 5.1㎜~12.1㎜로 조절하였을 경우(물론, 이 경우, 렌즈군(41,44)은 앞의 수학식 2에 제시된 제한조건을 만족함을 알 수 있다), 아래의 <표 13>에 제시된 바와 같이, 렌즈군(41,44)의 마지막 굴절면(44b)으로부터 이미지 센싱유닛(102)까지의 거리는 상술한 핀홀 조리개(43)/렌즈군(41,44) 어셈블리의 움직임에 맞추어, 길어지거나 짧아지는 변화를 연속적으로 겪는다는 것을 알 수 있으며, 그에 따라, 이미지 센싱유닛(102)에 최종 결상되는 시료확대 이미지 역시, 1배~11.4배까지 확대되거나, 축소되는 변화를 연속적으로 일으킨다는 것을 알 수 있다.On the other hand, under the data given in Tables 11 and 12 above, after connecting and installing the optical lens system 40 for a microscope according to the present invention to an electronic device, a wavelength of 435.8 nm to 656.3 nm toward the target sample. While irradiating a light beam having an area, the lens group 41, 44 / pinhole stop 43 assembly is moved to adjust the distance L between the target sample and the first refractive surface 41a of the lens group 41, 44 from 5.1 mm. When adjusted to 12.1 mm (of course, in this case, it can be seen that the lens group (41,44) satisfies the constraint set forth in the equation (2)), as shown in Table 13 below, lens group The distance from the last refraction surface 44b of (41, 44) to the image sensing unit 102 is in line with the movement of the pinhole aperture 43 / lens group (41,44) assembly described above to continuously change the longer or shorter changes. It can be seen that, accordingly, the sample magnification that is finally imaged in the image sensing unit 102 Nevertheless, it can be seen that the close-up or up to 1 times to 11.4 times, which causes a reduced change continuously.

P: 0.409㎜-1, T: 0.8㎜, D: 0.2㎜ P: 0.409 mm -1 , T: 0.8 mm, D: 0.2 mm L(㎜)L (mm) 굴절면(44b)과 이미지 센싱유닛(102) 사이의 거리(㎜)Distance (mm) between the refraction surface 44b and the image sensing unit 102 시료확대 이미지의 확대배율Magnification of Sample Magnification Image 1212 2.7702.770 1(기준)1 (standard) 1111 2.8232.823 1.21.2 1010 2.9022.902 1.61.6 99 3.0363.036 2.12.1 88 3.1563.156 2.82.8 77 3.3503.350 4.14.1 66 3.6553.655 6.36.3 5.55.5 3.8653.865 8.38.3 55 4.1444.144 11.411.4

한편, 도 9에 도시된 바와 같이, 본 발명의 또 다른 실시예 하에서, 현미경용 광학 렌즈 시스템(50)은, 앞의 실시예들과 달리, 렌즈군(51,54)이 핀홀 조리개(53)를 사이에 두고, 이의 전면 및 후면에 대칭적으로 1매씩 배치되는 구조를 취하게 된다(여기서, 핀홀(53a)을 구비한 핀홀 조리개(53)에 대한 상세한 설명, 각면(52a,52b)을 구비한 광학필터(52)에 대한 상세한 설명 등은 앞서 언급한 내역으로 대체하기로 함). On the other hand, as shown in Figure 9, under another embodiment of the present invention, the optical lens system 50 for a microscope, unlike the previous embodiments, the lens group 51, 54 is a pinhole aperture 53 It is taken to have a structure that is arranged symmetrically on the front and rear of each of them (wherein, a detailed description of the pinhole aperture 53 with the pinhole 53a, each side 52a, 52b is provided with Detailed description of the optical filter 52, etc. will be replaced with the above-mentioned details).

물론, 이 경우에도, 핀홀 조리개(53) 및 렌즈군(51,54)은, 필요에 따라, 동일 움직임이 가능하도록 일체로 고정되는 구조를 형성하게 되며, 이 상황에서, 렌즈군(51,54)은 자신의 총 굴절능을 일정 범위 내로 유지시킴으로써, 핀홀 조리개(53)의 핀홀(53a)을 통과한 광선의 굴절정도(예컨대, 굴절각도)를 조절하고, 이를 통해, 해당 광선이 퍼지지 않도록 조절하는 역할을 수행하게 된다(이 경우에도, 본 발명의 렌즈군(51)은 이미지 센싱유닛(102) 측에 최종 결상되는 시료확대 이미지의 품질 개선을 위하여, 바람직하게, 하나 이상의 비구면(51a) 및 비구면(54b)을 구비하게 된다).Of course, even in this case, the pinhole stop 53 and the lens groups 51 and 54 form a structure that is integrally fixed to enable the same movement as necessary. ) Adjusts the degree of refraction (eg, angle of refraction) of the light beams passing through the pinholes 53a of the pinhole aperture 53 by maintaining its total refractive power within a certain range, thereby adjusting the light rays to not spread. (In this case, the lens group 51 of the present invention is preferably one or more aspherical surfaces 51a and in order to improve the quality of the sample magnified image finally formed on the image sensing unit 102 side. Aspherical surface 54b).

이러한 렌즈군(51,54)의 배치 상황에서, 광선의 굴절정도(예, 굴절각도)가 일정 범위 내로 조절되면, 핀홀(53a)을 통과하게 되는 광선은 자체적인 고유성질, 또는, 핀홀(53a)의 영향에도 불구하고, 퍼지는 폭을 줄일 수 있게 되며, 결국, 이미지 센싱유닛(102)에 최종 결상되는 시료확대 이미지는 각종 광학수차, 예를 들어, 구면수차(Spherical aberration), 비점수차(Astigmatism), 왜곡수차(Distortion aberration) 등을 양호하게 보정 받을 수 있게 된다.In the arrangement of the lens groups 51 and 54, when the degree of refraction (eg, angle of refraction) of the light beam is adjusted within a predetermined range, the light beam passing through the pinhole 53a has its own unique property, or the pinhole 53a. In spite of the influence of), the spreading width can be reduced, and thus, the magnified image that is finally formed in the image sensing unit 102 can be subjected to various optical aberrations, for example, spherical aberration and astigmatism. ), Distortion aberration and the like can be corrected well.

이때에도, 본 발명에서는 상술한 여러 문제점의 발생을 두루 고려하여, 렌즈군(51,54)의 총 굴절능을 앞의 <수학식 2>에 제시된 범위로 유지시키고, 이를 통해, 핀홀(53a)을 통과하는 광선이 퍼지는 현상을 정상적으로 억제시킴으로써, 이미지 센싱유닛(102)에 최종 결상되는 시료확대 이미지가 양호한 광학수차를 가질 수 있도록 유도하게 된다. Even in this case, in the present invention, the total refractive power of the lens groups 51 and 54 is maintained in the range shown in Equation 2 in consideration of the occurrence of the above-described problems, and thus, the pinhole 53a is maintained. By normally suppressing the propagation of light rays passing through, the magnified image that is finally formed in the image sensing unit 102 is induced to have good optical aberration.

한편, 이와 같은 본 발명의 또 다른 실시예에서도, 시료확대 이미지의 확대배율 조절이 필요할 경우, 사용자는 전자기기를 조작하여, 모터, 축, 기어 등과 같은 각종 렌즈 구동유발 디바이스들을 동작시키게 되며, 그 여파로, 동일 움직임이 가능하도록 일체로 고정되어 있던 본 발명의 렌즈군(51,54)/핀홀 조리개(53) 어셈블리는 타겟 시료로부터 멀어지거나 가까워지는 동작을 연속적으로 취할 수 있게 된다.On the other hand, in another embodiment of the present invention, when it is necessary to adjust the magnification of the sample magnification image, the user operates the various electronic devices, such as a motor, a shaft, a gear, driving the lens driving inducing devices, In the aftermath, the lens group 51,54 / pinhole stop 53 assembly of the present invention, which is integrally fixed to enable the same movement, can continuously move away from or close to the target sample.

물론, 이 상황에서도, 렌즈군(51,54)/핀홀 조리개(53) 어셈블리로부터 이미지 센싱유닛(102)까지의 거리는 상술한 렌즈군(51,54)/핀홀 조리개(53) 어셈블리의 움직임에 맞추어, 길어지거나 짧아지는 변화를 연속적으로 겪을 수 있게 되며, 그에 따라, 이미지 센싱유닛(102)에 최종 결상되는 시료확대 이미지 역시, 확대되거나, 축소되는 변화를 연속적으로 일으킬 수 있게 된다.Of course, even in this situation, the distance from the lens group 51, 54 / pinhole stop 53 assembly to the image sensing unit 102 may be adjusted to the movement of the lens group 51, 54 / pinhole stop 53 assembly described above. As a result, the enlarged or shortened change may be continuously experienced, and thus, the magnified image that is finally formed in the image sensing unit 102 may also be continuously enlarged or reduced.

당연히, 이와 같은 본 발명의 또 다른 구현환경 하에서도, 전자기기를 사용하는 사용자 측에서는, 전자기기를 조작하여, 타겟 시료 및 렌즈군(51,54)/핀홀 조리개(53) 어셈블리 사이의 간격을 가깝거나, 멀게 조절하는 지극히 간단한 조치만으로도, 이미지 센싱유닛(102)에 최종 결상되는 시료확대 이미지의 확대배율을 자유롭게 연속 조절 할 수 있게 된다(이 경우에도, 상기 조치가 필요에 따라 생략되면, 본 발명의 현미경용 광학렌즈 시스템(50)은 광학적 수차가 양호하게 보정된 고정 배율의 시료확대 이미지를 효과적으로 제공할 수 있게 된다).Naturally, even under such an implementation environment of the present invention, the user side using the electronic device operates the electronic device to close the gap between the target sample and the lens group 51, 54 / pinhole aperture 53 assembly. With only an extremely simple measure of adjusting the distance or distance, the magnification of the sample magnification image finally formed in the image sensing unit 102 can be freely adjusted continuously (in this case, if the above measures are omitted as necessary, the present invention The optical lens system 50 for microscopy can effectively provide a fixed magnification image with good optical aberration corrected).

한편, 이러한 본 발명의 또 다른 체제 하에서, 사용자 측에서는, 전자기기를 휴대하고 다니다가, 타겟 시료의 관찰이 필요하면, 전자기기를 타겟 시료에 접근시켜, 현미경용 광학 렌즈 시스템(50)이 타겟 시료에 접근될 수 있도록 유도한 다음, 전원을 조작(예컨대, 전원공급스위치를 조작)하여, 전원 측 전력이 광원 측으로 공급되도록 하고, 이를 통해, 광원이 타겟 시료 측으로 광선을 조사하도록 유도하는 조치를 취하게 된다.On the other hand, under another system of the present invention, if the user carries the electronic device and needs to observe the target sample, the electronic device approaches the target sample, and the microscope optical lens system 50 causes the target sample to be carried out. Induces access to and then manipulates the power supply (e.g., operates a power supply switch) so that power on the power source side is supplied to the light source side, thereby taking action to induce the light source to irradiate the light beam onto the target sample side. Done.

물론, 이 상황에서, 광원 측 광선 조사에 기인하여, 타겟 시료 측으로부터 출력되는 광선은, 비구면인 렌즈군(51,54)의 굴절면(51a), 핀홀 조리개(53) 측으로 볼록한 굴절면(51b)을 경유한 후, 핀홀 조리개(53)의 핀홀(53a)을 거쳐, 핀홀 조리개 측으로 볼록한 렌즈군(51,54)의 굴절면(54a) 및 비구면인 굴절면(54b)을 통과한 다음, 광학필터(52)의 각 면(52a,52b)을 통과하고, 이어, 이미지 센싱유닛(102)의 픽셀에 도달하여, 일련의 <확대된 시료 이미지>로 결상되는 절차를 겪게 되며, 결국, 앞의 각 실시예와 마찬가지로, 사용자 측에서는, 언제 어느 때나 자신이 원하는 타겟 시료를 손쉽게 확대 관찰할 수 있는 효과를 융통성 있게 향유할 수 있게 된다. In this situation, of course, due to the light source side light irradiation, the light beams output from the target sample side cause the refracting surface 51a of the lens groups 51 and 54, which are aspherical surfaces, to be convex toward the pinhole diaphragm 53 side. After passing through, through the pinhole 53a of the pinhole aperture 53, it passes through the refractive surface 54a and the aspherical refractive surface 54b of the lens group 51,54 convex toward the pinhole aperture side, and then the optical filter 52 After passing through each surface 52a, 52b of the lens, and then reaching the pixel of the image sensing unit 102, it undergoes a procedure of forming an image into a series of enlarged sample images. Similarly, on the user side, it is possible to flexibly enjoy the effect of easily expanding and observing the desired target sample at any time and any time.

구성요소Component 곡률반경(c0 -1)Bending Radius (c 0 -1 ) 거리(mm) (Thickness)Distance (mm) 굴절률Refractive index 아베값Abbe value 핀홀 (53a) 지름 DPinhole (53a) Diameter D 타겟시료Target Sample 9.09.0 굴절면(51a)*Refractive surface (51a) * -3.0646-3.0646 0.40.4 1.5301.530 55.855.8 굴절면(51b)Refractive surface 51b -1.3-1.3 0.56160.5616 핀홀조리개 (53)Pinhole Aperture (53) 0.55320.5532 0.3mm0.3mm 굴절면(54a)Refractive surface 54a 1.31.3 0.40.4 1.5301.530 55.855.8 굴절면(54b)*Refractive surface (54b) * 3.06463.0646 1.46741.4674 면(42a)Cotton (42a) 0.30.3 1.5171.517 64.264.2 면(42b)Cotton (42b) 0.30.3 이미지센싱 유닛(102)Image Sensing Unit (102) 0.00.0

KK AA BB CC DD 0.4404430.440443 -0.351010E+00-0.351010E + 00 0.145282E+010.145282E + 01 -0.872329E+01-0.872329E + 01 0.258593E+020.258593E + 02 EE FF GG HH JJ -0.290310E+02-0.290310E + 02 -0.560985E-03-0.560985E-03 0.00000E+000.00000E + 00 0.00000E+000.00000E + 00 0.00000E+000.00000E + 00

상술한 본 발명의 또 다른 실시예에 따른 현미경용 광학 렌즈 시스템(50)의 구체적인 일 실시 데이터는 상기 <표 14>, <표 15>로 주어진다(여기서, 렌즈군(51,54)을 이루는 물질로, 일본 Zeon 사의 ZEONEX Z-E48R이 사용된다)(위의 <표 15>는 렌즈군(51,54)의 비구면인 굴절면(51a)의 비구면 상수를 나타낸다)(이 경우, 비구면인 굴절면(54b)의 형상은 비구면인 굴절면(51a)의 형상과 동일하다).Specific embodiment data of the optical lens system 50 for a microscope according to another embodiment of the present invention described above is given in Tables 14 and 15 (here, the material forming the lens group 51, 54) As such, the ZEONEX Z-E48R manufactured by Zeon, Japan is used (Table 15 above shows the aspherical surface constant of the refracting surface 51a, which is an aspherical surface of the lens groups 51 and 54) (in this case, the aspherical refractive surface 54b ) Is the same as the shape of the refracting surface 51a, which is an aspherical surface.

여기서, 핀홀 조리개(53)의 핀홀(53a)은 상기 <표 14>에 제시된 바와 같이, 0.3mm의 지름 D를 가져, 앞의 <수학식 1>에 제시된 조건을 만족하게 되며, 렌즈군(51,54)은 상기 <표 14>에 제시된 데이터로부터, <첫 번째 굴절면(51a)으로부터 마지막 굴절면(54b)까지의 거리 T>를 1.9148㎜로 가지면서, 총 굴절능 P를 0.458㎜-1로 가져, 앞의 <수학식 2>에 제시된 조건을 만족하게 된다.Here, the pinhole 53a of the pinhole aperture 53 has a diameter D of 0.3 mm, as shown in Table 14, and satisfies the conditions shown in Equation 1 above, and the lens group 51 (54) has a total refractive power P of 0.458 mm −1 while having a distance T from the first refractive surface 51 a to the last refractive surface 54 b of 1.9148 mm from the data presented in Table 14 above. , The condition given in Equation 2 above is satisfied.

상기 <표 14>, <표 15>로 주어진 데이터 하에서, 도 10에 도시된 바와 같이, 이미지 센싱유닛(102)에 최종 결상되는 시료확대 이미지는, C-line(656.3㎚), d-line(587.6㎚), e-line(546.1㎚), F-line(486.1㎚), g-line(435.8㎚) 등의 각 광선 파장에 걸쳐, 약 0.11㎜ 범위 내에 있는 구면수차를 나타내고 있다.Under the data given in Tables 14 and 15, as shown in FIG. 10, the sample magnification image finally formed in the image sensing unit 102 is C-line (656.3 nm), d-line ( 58 spherical aberration within the range of about 0.11 mm is shown over a wavelength of light such as 587.6 nm), e-line (546.1 nm), F-line (486.1 nm), g-line (435.8 nm), and the like.

또한, 이미지 센싱유닛(102)에 최종 결상되는 시료확대 이미지는, 도 10에 도시된 바와 같이, 새지털(Sagittal) S, 탄젠셜(Tangential) T에 있어서, 약 0.11㎜ 범위 내에 있는 비점수차를 나타내고 있다. In addition, the sample magnified image finally formed in the image sensing unit 102, as shown in Figure 10, in the sagittal S, Tangential T, astigmatism within the range of about 0.11 mm It is shown.

또한, 이미지 센싱유닛(102)에 최종 결상되는 시료확대 이미지는, 도 10에 도시된 바와 같이, 최대 크기가 약 1.24% 정도인 왜곡수차를 나타내고 있다.In addition, the sample magnification image finally formed in the image sensing unit 102, as shown in FIG. 10, exhibits distortion aberration having a maximum size of about 1.24%.

이처럼, 본 발명의 구현환경 하에서, 이미지 센싱유닛(102)에 최종 결상되는 시료확대 이미지는 앞의 도 10에 도시된 바와 같이, 그 광학수차가 전체적으로 양호하게 보정되었음을 알 수 있다.As such, in the implementation environment of the present invention, as shown in FIG. 10, the sample magnification image finally formed in the image sensing unit 102 can be seen that the optical aberration is generally well corrected.

한편, 상기 <표 14>, <표 15>로 주어진 데이터 하에서, 본 발명에 따른 현미경용 광학 렌즈 시스템(50)을 전자기기에 연계·설치한 후, 타겟 시료 측으로, 435.8㎚~656.3㎚의 파장영역을 가지는 광선을 조사하면서, 렌즈군(51,54)/핀홀 조리개(53) 어셈블리를 움직여, 타겟 시료와 렌즈군(51,54)의 첫 번째 굴절면(51a) 사이의 거리 L을 3.0㎜~10.0㎜로 조절하였을 경우(물론, 이 경우, 렌즈군(51,54)은 앞의 수학식 2에 제시된 제한조건을 만족함을 알 수 있다), 아래의 <표 16>에 제시된 바와 같이, 렌즈군(51,54)의 마지막 굴절면(54b)으로부터 이미지 센싱유닛(102)까지의 거리는 상술한 렌즈군(51)의 움직임에 맞추어, 길어지거나 짧아지는 변화를 연속적으로 겪는다는 것을 알 수 있으며, 그에 따라, 이미지 센싱유닛(102)에 최종 결상되는 시료확대 이미지 역시, 1배~28.2배까지 확대되거나, 축소되는 변화를 연속적으로 일으킨다는 것을 알 수 있다.On the other hand, under the data given in Tables 14 and 15, after connecting and installing the optical lens system 50 for a microscope according to the present invention to an electronic device, a wavelength of 435.8 nm to 656.3 nm toward the target sample. While irradiating a light beam having an area, the lens group 51, 54 / pinhole stop 53 assembly is moved, and the distance L between the target sample and the first refractive surface 51a of the lens group 51, 54 is 3.0 mm to When adjusted to 10.0 mm (of course, in this case, it can be seen that the lens group (51, 54) satisfies the constraint set forth in the equation (2)), as shown in Table 16 below, the lens group It can be seen that the distance from the last refraction surface 54b of the 51 and 54 to the image sensing unit 102 continuously undergoes a change in length or shortening according to the movement of the lens group 51 described above. In addition, the sample enlarged image that is finally imaged on the image sensing unit 102 is also magnified by 1 to 28.2 times. Or, it can be seen that causes a reduction to be changed continuously.

P: 0.458㎜-1, T: 1.9148mm, D: 0.3㎜ P: 0.458 mm -1 , T: 1.9148 mm, D: 0.3 mm L(㎜)L (mm) 굴절면(54b)과 이미지 센싱유닛(102) 사이의 거리(㎜)Distance (mm) between the refraction surface 54b and the image sensing unit 102 시료확대 이미지의 확대배율Magnification of Sample Magnification Image 1010 1.9811.981 1(기준)1 (standard) 99 2.0672.067 1.31.3 88 2.1432.143 1.71.7 77 2.2682.268 2.42.4 66 2.4462.446 3.53.5 5.55.5 2.5672.567 4.44.4 55 2.7202.720 5.65.6 4.54.5 2.9212.921 7.67.6 44 3.2033.203 10.710.7 3.53.5 3.6343.634 16.416.4 33 4.3274.327 28.228.2

한편, 도 11에 도시된 바와 같이, 본 발명의 또 다른 실시예 하에서, 렌즈군(61), 핀홀 조리개(63) 등으로 이루어진 본 발명의 현미경용 광학 렌즈 시스템(60)은 예컨대, 카메라 렌즈군(104.105), 광학필터(103), 광/전기 변환처리 보드(101), 이미지 센싱유닛(102) 등을 구비한 <카메라 기능 수행형 전자기기>에 설치되는 구조를 취하여, 해당 카메라 기능 수행형 전자기기에, <시료확대기기(즉, 현미경 기기)> 기능을 새로이 부여·제공하는 역할을 수행할 수도 있게 된다(물론, 이러한 본 발명의 구현환경 하에서, 카메라 기능 수행형 전자기기는 자신에게 주어진 본래의 카메라 기능뿐만 아니라, 일련의 현미경 기능도 동시에 수행할 수 있게 된다).On the other hand, as shown in Fig. 11, under another embodiment of the present invention, the microscope optical lens system 60 of the present invention consisting of a lens group 61, a pinhole aperture 63, and the like, for example, a camera lens group (104.105) taking the structure installed in the <camera function performance type electronic device> equipped with the optical filter 103, the optical / electrical conversion processing board 101, the image sensing unit 102, and the corresponding camera function performance type It is also possible to play a role of newly granting and providing a function of a <sample enlargement device (i.e., a microscope device) to the electronic device. (Of course, under such an implementation environment of the present invention, the camera function performing electronic device is given to itself. In addition to the original camera functions, a series of microscope functions can be performed simultaneously).

이때, 전자기기에 구비된 카메라 렌즈군(104,105)은 렌즈군(61) 및 핀홀 조리개(63)의 후면(즉, 이미지 센싱유닛 측)에 배치되는 구조를 취하면서, 렌즈군(61) 및 핀홀 조리개(63)를 경유한 광선을 통과시켜, 광/전기 변환처리 보드(101)의 이미지 센싱유닛(102)에 해당 광선에 상응하는 일련의 시료확대 이미지가 결상될 수 있도록 유도하는 역할을 수행하게 된다.In this case, the camera lens groups 104 and 105 provided in the electronic device have a structure disposed on the rear surface of the lens group 61 and the pinhole diaphragm 63 (that is, the image sensing unit side), and the lens group 61 and the pinhole. Pass the light beam through the aperture 63 to guide the image sensing unit 102 of the light / electric conversion processing board 101 to form a series of magnified images corresponding to the light beam. do.

이때, 본 발명의 현미경용 광학 렌즈 시스템(60)은 <핀홀 조리개(63), 이 핀홀 조리개(63)의 전면에 위치한 1매의 렌즈군(61)> 등의 구성요소가 카메라 렌즈군(104,105)의 전면에 배치되는 구조를 취하게 되며, 이 상황에서, 필요에 따라, 핀홀 조리개(63), 렌즈군(61), 카메라 렌즈군(104,105) 등은 동일 움직임이 가능하도록 상호 고정·연결되는 구조를 형성하게 된다. At this time, in the optical lens system 60 for a microscope of the present invention, components such as the <pinhole diaphragm 63 and one lens group 61 positioned on the front of the pinhole diaphragm 63> include the camera lens group 104 and 105. In this situation, the pinhole aperture 63, the lens group 61, the camera lens group 104, 105, and the like are fixed and connected to each other to enable the same movement. To form a structure.

여기서, 렌즈군(61) 및 카메라 렌즈군(104,105)은 자신의 총 굴절능을 일정 범위 내로 유지시켜, 핀홀 조리개(63)의 핀홀(63a)을 통과한 광선의 굴절정도(예컨대, 굴절각도)를 조절하고, 이를 통해, 해당 광선이 퍼지지 않도록 조절하는 역할을 수행하게 된다(여기서, 핀홀(63a)을 구비한 핀홀 조리개(63)에 대한 상세한 설명은 앞서 언급한 내역으로 대체하기로 함).Here, the lens group 61 and the camera lens group 104 and 105 maintain their total refractive power within a predetermined range, and thus the degree of refraction of the light beam passing through the pinhole 63a of the pinhole aperture 63 (eg, the refraction angle). And, through this, it serves to adjust so that the light beam does not spread (here, the detailed description of the pinhole aperture 63 having a pinhole 63a will be replaced with the above-mentioned details).

물론, 이러한 렌즈군(63) 및 카메라 렌즈군(103)의 배치 상황에서, 광선의 굴절정도(예, 굴절각도)가 일정 범위 내로 조절되면, 핀홀(63a)을 통과하게 되는 광선은 자체적인 고유성질, 또는, 핀홀(63a)의 영향에도 불구하고, 퍼지는 폭을 줄일 수 있게 되며, 결국, 이미지 센싱유닛(102)에 최종 결상되는 시료확대 이미지는 각종 광학수차, 예를 들어, 구면수차(Spherical aberration), 비점수차(Astigmatism), 왜곡수차(Distortion aberration) 등을 양호하게 보정 받을 수 있게 된다.Of course, in the arrangement of the lens group 63 and the camera lens group 103, when the degree of refraction (eg, angle of refraction) of the light beam is adjusted within a certain range, the light beam passing through the pinhole 63a is inherently unique. In spite of the property or the influence of the pinhole 63a, the spreading width can be reduced, and thus, the magnified image that is finally formed in the image sensing unit 102 can have various optical aberrations, for example, spherical aberration. Aberration, astigmatism, distortion aberration, etc. can be corrected well.

이때, 본 발명의 다른 실시예에서는, 상술한 렌즈군(61) 및 카메라 렌즈군(104,105)이 바람직하게, 아래의 <수학식 4>와 같은 범위의 총 굴절능을 가지도록 유도하게 된다.At this time, in another embodiment of the present invention, the lens group 61 and the camera lens group 104, 105 described above are preferably induced to have a total refractive power in the range as shown in Equation 4 below.

Figure 112008001902026-pat00007
Figure 112008001902026-pat00007

(여기서, p는 상기 렌즈군(61) 및 카메라 렌즈군(104,105)의 총 굴절능,

Figure 112008001902026-pat00008
은 타겟 시료와 렌즈군(61)의 첫 번째 굴절면(61a) 사이의 거리, t는 렌즈군(61)의 첫 번째 굴절면(61a)으로부터 카메라 렌즈군(105)의 마지막 굴절면(105b)까지의 거리)(이 경우, 상기 렌즈군(61) 및 카메라 렌즈군(104,105)의 총 굴절능 p는 헬륨 d-line(587.56㎜)을 기준으로 계산함)(Where p is the total refractive power of the lens group 61 and the camera lens group 104,105,
Figure 112008001902026-pat00008
Is the distance between the target sample and the first refractive surface 61a of the lens group 61, t is the distance from the first refractive surface 61a of the lens group 61 to the last refractive surface 105b of the camera lens group 105 (In this case, the total refractive power p of the lens group 61 and the camera lens group 104,105 is calculated based on the helium d-line (587.56 mm).)

이때, 만일, 렌즈군(61) 및 카메라 렌즈군(104,105)이 상술한 하한 값, 즉,

Figure 112008001902026-pat00009
보다 적은 총 굴절능을 가지게 되면, 광선의 굴절각도가 필요이상으로 완만해져, 렌즈군(61)의 배치에도 불구하고, 광선이 핀홀(63a)을 통과하는 즉시, 폭 넓게 퍼져 발산하는 문제점이 야기되거나, 시료확대 이미지를 결상하기 위한 초점길이가 너무 길어져, 렌즈군(61) 및 카메라 렌즈군(104,105), 그리고, 이미지 센싱유닛(102) 사이의 거리 역시 너무 멀어지게 되고, 그에 따라, 렌즈 시스템(60, 카메라 렌즈군 포함)의 전장길이 역시 길어지게 됨으로써, 결국, 전자기기의 초소형 화에 반하게 되는 또 다른 문제점이 야기될 수 있게 된다.At this time, if the lens group 61 and the camera lens group 104, 105 are the above-described lower limit value, that is,
Figure 112008001902026-pat00009
If the total refractive power is less, the angle of refraction of the light beam becomes more than necessary, and despite the arrangement of the lens group 61, the light beam spreads and diverges as soon as it passes through the pinhole 63a. Or the focal length for forming an image enlarged image becomes too long, and the distance between the lens group 61 and the camera lens groups 104 and 105 and the image sensing unit 102 becomes too far, and thus, the lens system. The length of the overall length of the camera (including the camera lens group 60) is also increased, which may result in another problem that is contrary to the miniaturization of electronic equipment.

반면, 렌즈군(61) 및 카메라 렌즈군(104,105)이 상술한 상한 값, 즉,

Figure 112008001902026-pat00010
보다 큰 총 굴절능을 가지게 되면, 광선의 굴절각도가 필요이상으로 경사져, 최종 결상되는 시료확대 이미지가 너무 적어지고, 그 결과, 이미지 센서유닛(102)의 픽셀을 효율적으로 모두 사용하지 못하게 되는 문제점이 야기될 수 있으며, 나아가, 시료확대 이미지를 결상하기 위한 초점길이가 너무 짧아져, 렌즈군(61) 및 카메라 렌즈군(104,105), 그리고, 이미지 센서유닛(102) 사이의 거리 역시 너무 짧아지게 되고, 그에 따라, 렌즈 시스템(60, 카메라 렌즈군 포함)의 전장길이 역시 너무 짧아지게 됨으로써, 결국, 광학필터(103)를 정상적으로 설치하지 못하게 되는 또 다른 문제점이 야기될 수 있게 된다.On the other hand, the lens group 61 and the camera lens group 104 and 105 have the above upper limit values, that is,
Figure 112008001902026-pat00010
If the total refractive power is greater, the angle of refraction of the light beam is inclined more than necessary, resulting in too small a sample enlarged image to be finally formed, and as a result, the pixels of the image sensor unit 102 cannot be used efficiently. This can be caused, and furthermore, the focal length for forming the sample enlarged image is too short, so that the distance between the lens group 61 and the camera lens group 104 and 105 and the image sensor unit 102 is too short. Thus, the overall length of the lens system 60 (including the camera lens group) is also too short, which may result in another problem of failing to install the optical filter 103 normally.

한편, 이와 같은 본 발명의 또 다른 실시예에서도, 시료확대 이미지의 확대배율 조절이 필요할 경우, 사용자는 전자기기를 조작하여, 모터, 축, 기어 등과 같은 각종 렌즈 구동유발 디바이스들을 동작시키게 되며, 그 여파로, 동일 움직임이 가능하도록 상호 고정·연결되어 있던 핀홀 조리개(63)/렌즈군(61)/카메라 렌즈군(104,105) 어셈블리는 타겟 시료로부터 멀어지거나 가까워지는 동작을 연속적으로 취할 수 있게 된다.On the other hand, in another embodiment of the present invention, when it is necessary to adjust the magnification of the sample magnification image, the user operates the various electronic devices, such as a motor, a shaft, a gear, driving the lens driving inducing devices, In the aftermath, the pinhole diaphragm 63 / lens group 61 / camera lens group 104,105 assemblies, which are fixed and connected to each other to enable the same movement, can continuously move away from or close to the target sample.

물론, 이 상황에서도, 핀홀 조리개(63)/렌즈군(61)/카메라 렌즈군(104,105) 어셈블리로부터 이미지 센싱유닛(102)까지의 거리는 상술한 핀홀 조리개(63)/렌즈군(61)/카메라 렌즈군(104,105) 어셈블리의 움직임에 맞추어, 길어지거나 짧아지는 변화를 연속적으로 겪을 수 있게 되며, 그에 따라, 이미지 센싱유닛(102)에 최종 결상되는 시료확대 이미지 역시, 확대되거나, 축소되는 변화를 연속적으로 일으킬 수 있게 된다.Of course, even in this situation, the distance from the pinhole aperture 63 / lens group 61 / camera lens group 104,105 assembly to the image sensing unit 102 is the above-described pinhole aperture 63 / lens group 61 / camera. In accordance with the movement of the lens group 104 and 105 assembly, it is possible to continuously experience the lengthening or shortening change, and thus, the magnified image which is finally imaged on the image sensing unit 102 is also continuously enlarged or reduced. Can be caused by.

당연히, 이와 같은 본 발명의 또 다른 구현환경 하에서도, 전자기기를 사용하는 사용자 측에서는, 전자기기를 조작하여, 타겟 시료 및 핀홀 조리개(63)/렌즈군(61)/카메라 렌즈군(104,105) 어셈블리 사이의 간격을 가깝거나, 멀게 조절하는 지극히 간단한 조치만으로도, 이미지 센싱유닛(102)에 최종 결상되는 시료확대 이미지의 확대배율을 자유롭게 연속 조절 할 수 있게 된다(이 경우에도, 상기 조치가 필요에 따라 생략되면, 본 발명의 현미경용 광학렌즈 시스템(60)은 광학적 수차가 양호하게 보정된 고정 배율의 시료확대 이미지를 효과적으로 제공할 수 있게 된다).Naturally, even under such an implementation environment of the present invention, on the user side using the electronic device, the electronic device can be operated to assemble the target sample and the pinhole diaphragm 63 / lens group 61 / camera lens group 104 and 105. Even with very simple measures to adjust the distance between the two close or far, it is possible to freely continuously adjust the magnification of the magnified image that is finally formed in the image sensing unit 102 (even in this case, if necessary If omitted, the microscope optical lens system 60 of the present invention can effectively provide a magnified image of a fixed magnification with good optical aberration corrected).

한편, 이러한 본 발명의 또 다른 체제 하에서, 사용자 측에서는, 전자기기를 휴대하고 다니다가, 타겟 시료의 관찰이 필요하면, 전자기기를 타겟 시료에 접근시켜, 현미경용 광학 렌즈 시스템(60)이 타겟 시료에 접근될 수 있도록 유도한 다음, 전원을 조작(예컨대, 전원공급스위치를 조작)하여, 전원 측 전력이 광원 측으로 공급되도록 하고, 이를 통해, 광원이 타겟 시료 측으로 광선을 조사하도록 유도하는 조치를 취하게 된다.On the other hand, under another system of the present invention, if the user carries the electronic device and needs to observe the target sample, the electronic device approaches the target sample, and the microscope optical lens system 60 performs the target sample. Induces access to and then manipulates the power supply (e.g., operates a power supply switch) so that power on the power source side is supplied to the light source side, thereby taking action to induce the light source to irradiate the light beam onto the target sample side. Done.

물론, 이 상황에서, 광원 측 광선 조사에 기인하여, 타겟 시료 측으로부터 출력되는 광선은, 렌즈군(61)의 굴절면(61a), 핀홀 조리개(53) 측으로 볼록한 굴절면(61b)을 경유한 후, 핀홀 조리개(63)의 핀홀(63a)을 거쳐, 카메라 렌즈 군(104,105)의 굴절면(104a,104b,105a,105b)을 통과한 다음, 광학필터(103)의 각 면(103a,103b)을 통과하고, 이어, 이미지 센싱유닛(102)의 픽셀에 도달하여, 일련의 <확대된 시료 이미지>로 결상되는 절차를 겪게 되며, 결국, 앞의 각 실시예와 마찬가지로, 사용자 측에서는, 언제 어느 때나 자신이 원하는 타겟 시료를 손쉽게 확대 관찰할 수 있는 효과를 융통성 있게 향유할 수 있게 된다.In this situation, of course, due to the light source side light irradiation, the light output from the target sample side passes through the refraction surface 61a of the lens group 61 and the convex surface 61b convex toward the pinhole stop 53 side, Pass through the pinhole 63a of the pinhole aperture 63, and pass through the refractive surfaces 104a, 104b, 105a, 105b of the camera lens group 104, 105, and then through each surface 103a, 103b of the optical filter 103. Then, it reaches the pixel of the image sensing unit 102, and undergoes a process of forming an image into a series of <enlarged sample images>. Consequently, as in each of the foregoing embodiments, the user side, at any time, at any time Flexibility to enjoy the effect of easily expanding the desired target sample can be enjoyed.

구성요소Component 곡률반경(c0 -1)Bending Radius (c 0 -1 ) 거리(mm) (Thickness)Distance (mm) 굴절률Refractive index 아베값Abbe value 핀홀 (63a) 지름 DPinhole (63a) Diameter D 타겟시료Target Sample 1010 굴절면(61a)Refractive Surface 61a 1.51.5 1.5171.517 64.164.1 굴절면(61b)Refracting surface 61b -7.4681-7.4681 0.64360.6436 핀홀조리개 (63)Pinhole Aperture (63) 0.10.1 0.2mm0.2mm 굴절면(104a)*Refractive surface 104a * 1.341.34 0.950.95 1.491.49 57.557.5 굴절면(104b)*Refractive surface 104b * 2.02.0 1.31.3 굴절면(105a)*Refractive surface 105a * 2.652.65 1.11.1 1.491.49 57.557.5 굴절면(105b)*Refractive surface 105b * 2.882.88 1.41.4 면(103a)Cotton (103a) 0.550.55 1.5171.517 64.164.1 면(103b)Cotton (103b) 0.40.4 이미지센싱 유닛(102)Image Sensing Unit (102) 0.00.0

상술한 본 발명의 또 다른 실시예에 따른 현미경용 광학렌즈 시스템(60)의 구체적인 일 실시 데이터는 앞의 <표 17>로 주어진다(여기서, 렌즈군(61)을 이루는 물질로, Schott 사의 NBK7이 선택적으로 사용된다)(상기 카메라 렌즈군(104,105)의 비구면 구비 내역 및 그 비구면 상수는 국내등록특허 제545068호를 참조).Specific embodiment data of the microscope optical lens system 60 according to another embodiment of the present invention described above is given in Table 17 (wherein, the material forming the lens group 61, NBK7 of Schott Co. (As shown in the aspherical surface of the camera lens group 104,105, and its aspherical surface constant, see Korean Patent No. 545068).

여기서, 핀홀 조리개(63)의 핀홀(63a)은 상기 <표 17>에 제시된 바와 같이, 0.2mm의 지름 D를 가져, 앞의 <수학식 1>에 제시된 조건을 만족하게 되며, 렌즈군(61)/카메라 렌즈군(104,105)은 상기 <표 17>에 제시된 데이터로부터, <첫 번째 굴절면(61a)으로부터 마지막 굴절면(105b)까지의 거리 t>를 5.59㎜로 가지면서, 총 굴절능 p를 0.294㎜-1로 가져(이 경우, 렌즈군(61)만의 굴절능은 0.069㎜-1이다), 앞의 <수학식 4>에 제시된 조건을 만족하게 된다. Here, the pinhole 63a of the pinhole aperture 63 has a diameter D of 0.2 mm, as shown in Table 17, and satisfies the conditions shown in Equation 1 above, and the lens group 61. ) / Camera lens groups 104 and 105 have a total refractive power p of 0.294 while having a distance t of 5.59 mm from the first refractive surface 61a to the last refractive surface 105b from the data presented in Table 17 above. In the case of mm −1 (in this case, the refractive power of only the lens group 61 is 0.069 mm −1 ), it satisfies the condition shown in Equation 4 above.

상기 <표 17>로 주어진 데이터 하에서, 도 12에 제시된 바와 같이, 이미지 센싱유닛(102)에 최종 결상되는 시료확대 이미지는, C-line(656.3㎚), d-line(587.6㎚), e-line(546.1㎚), F-line(486.1㎚), g-line(435.8㎚) 등의 각 광선 파장에 걸쳐, 약 0.31㎜ 범위 내에 있는 구면수차를 나타내고 있다.Under the data given in Table 17, as shown in FIG. 12, the sample magnification image finally formed in the image sensing unit 102 is C-line (656.3 nm), d-line (587.6 nm), e- Spherical aberration within the range of about 0.31 mm is shown over each wavelength of light such as line (546.1 nm), F-line (486.1 nm), and g-line (435.8 nm).

또한, 이미지 센싱유닛(102)에 최종 결상되는 시료확대 이미지는, 도 12에 도시된 바와 같이, 새지털(Sagittal) S, 탄젠셜(Tangential) T에 있어서, 약 0.28㎜ 범위 내에 있는 비점수차를 나타내고 있다. In addition, the sample magnified image finally formed in the image sensing unit 102, as shown in FIG. 12, astigmatism within the range of about 0.28 mm in the sagittal S and the tangential T, as shown in FIG. It is shown.

또한, 이미지 센싱유닛(102)에 최종 결상되는 시료확대 이미지는, 도 12에 도시된 바와 같이, 최대 크기가 약 1.33% 정도인 왜곡수차를 나타내고 있다. In addition, the sample magnification image finally formed in the image sensing unit 102, as shown in FIG. 12, exhibits distortion aberration having a maximum size of about 1.33%.

이처럼, 본 발명의 또 다른 구현환경 하에서, 이미지 센싱유닛(102)에 최종 결상되는 시료확대 이미지는 앞의 도 12에 도시된 바와 같이, 그 광학수차가 전체적으로 양호하게 보정되었음을 알 수 있다.As such, in another implementation environment of the present invention, the sample magnified image finally formed in the image sensing unit 102 can be seen that the optical aberration is generally well corrected, as shown in FIG. 12.

p: 0.294㎜-1, t: 5.59mm, D: 0.2㎜ p: 0.294 mm -1 , t: 5.59 mm, D: 0.2 mm

Figure 112008001902026-pat00011
(㎜)
Figure 112008001902026-pat00011
(Mm) 굴절면(105b)과 이미지 센싱유닛(102) 사이의 거리(㎜)Distance (mm) between the refractive surface 105b and the image sensing unit 102 시료확대 이미지의 확대배율Magnification of Sample Magnification Image 1212 1.9151.915 1(기준)1 (standard) 1111 2.0772.077 1.31.3 1010 2.3502.350 1.61.6 99 2.5712.571 2.22.2 88 2.9002.900 3.03.0 77 3.3863.386 4.54.5 66 4.2074.207 7.77.7 5.55.5 4.8534.853 10.810.8

한편, 상기 <표 17>로 주어진 데이터 하에서, 본 발명에 따른 현미경용 광학 렌즈 시스템(60)을 전자기기에 연계·설치한 후, 타겟 시료 측으로, 435.8㎚~656.3㎚의 파장영역을 가지는 광선을 조사하면서, 핀홀 조리개(63)/렌즈군(61)/카메라 렌즈군(104,105) 어셈블리를 움직여, 타겟 시료와 렌즈군(61)의 첫 번째 굴절면(61a) 사이의 거리

Figure 112008001902026-pat00012
을 5.5㎜~12.0㎜로 조절하였을 경우(물론, 이 경우, 렌즈군(61) 및 카메라 렌즈군(104,105)의 총 굴절능은 앞의 <수학식 4>에 제시된 제한조건을 만족함을 알 수 있다), 앞의 <표 18>에 제시된 바와 같이, 시료확대 이미지를 결상하기 위한 카메라 렌즈군(104,105)의 마지막 굴절면(105b)으로부터 이미지 센싱유닛(102)까지의 거리는 상술한 동작에 맞추어, 길어지거나 짧아지는 변화를 연속적으로 겪는다는 것을 알 수 있으며, 그에 따라, 이미지 센싱유닛(102)에 최종 결상되는 시료확대 이미지 역시, 1배~10.8배까지 확대되거나, 축소되는 변화를 연속적으로 일으킨다는 것을 알 수 있다.On the other hand, under the data given in Table 17, after connecting and installing the optical lens system 60 for a microscope according to the present invention to an electronic device, a light ray having a wavelength region of 435.8 nm to 656.3 nm is placed on the target sample side. While irradiating, the pinhole aperture 63 / lens group 61 / camera lens group 104,105 assembly is moved to provide a distance between the target sample and the first refractive surface 61a of the lens group 61.
Figure 112008001902026-pat00012
Is adjusted to 5.5 mm to 12.0 mm (of course, in this case, the total refractive power of the lens group 61 and the camera lens group 104, 105 satisfies the constraint set forth in Equation 4 above). As shown in Table 18, the distance from the last refractive surface 105b of the camera lens group 104,105 to the image sensing unit 102 to form an image of a magnified image is longer or longer according to the above-described operation. It can be seen that the change undergoes a shortening continuously, and accordingly, the magnified image that is finally formed in the image sensing unit 102 also increases or decreases by 1 to 10.8 times or continuously changes. Can be.

다른 한편, 도 13에 도시된 바와 같이, 본 발명의 또 다른 실시예 하에서, 현미경용 광학 렌즈 시스템(70)은, 앞의 실시예와 달리, 렌즈군(71,74)을 핀홀 조리개(73)를 사이에 두고, 이의 전면 및 후면에 1매씩 배치시키는 구조를 취하게 된다(여기서, 핀홀(73a)을 구비한 핀홀 조리개(73)에 대한 상세한 설명은 앞서 언급한 내역으로 대체하기로 함).On the other hand, as shown in Fig. 13, under another embodiment of the present invention, the optical lens system 70 for a microscope, unlike the previous embodiment, the lens group 71, 74 to the pinhole aperture 73 With the interposed therebetween, the structure is arranged one by one on the front and rear thereof (wherein, a detailed description of the pinhole aperture 73 with the pinhole 73a will be replaced with the above-mentioned details).

물론, 이 경우에도, 핀홀 조리개(73), 렌즈군(71,74), 카메라 렌즈군(104,105) 등은, 필요에 따라, 동일 움직임이 가능하도록 상호 고정·연결되는 구조를 형성하게 되며, 이 상황에서, 렌즈군(71,74) 및 카메라 렌즈군(104,105)는 자신의 총 굴절능을 일정 범위 내로 유지시켜, 핀홀 조리개(73)의 핀홀(73a)을 통과한 광선의 굴절정도(예컨대, 굴절각도)를 조절하고, 이를 통해, 해당 광선이 퍼지지 않도록 조절하는 역할을 수행하게 된다(여기서, 핀홀(73a)을 구비한 핀홀 조리개(73)에 대한 상세한 설명은 앞서 언급한 내역으로 대체하기로 함)Of course, even in this case, the pinhole aperture 73, the lens groups 71 and 74, the camera lens groups 104 and 105, etc., if necessary, form a structure that is fixed and connected to each other to allow the same movement. In the situation, the lens groups 71 and 74 and the camera lens groups 104 and 105 maintain their total refractive power within a certain range, so that the degree of refraction of the light rays passing through the pinhole 73a of the pinhole aperture 73 (eg, The angle of refraction), and thereby, the light beam does not spread (in this case, a detailed description of the pinhole aperture 73 having the pinhole 73a will be replaced with the above-mentioned details). box)

물론, 이러한 렌즈군(71,74) 및 카메라 렌즈군(104,105)의 배치 상황에서, 광선의 굴절정도(예, 굴절각도)가 일정 범위 내로 조절되면, 핀홀(73a)을 통과하게 되는 광선은 자체적인 고유성질, 또는, 핀홀(73a)의 영향에도 불구하고, 퍼지는 폭을 줄일 수 있게 되며, 결국, 이미지 센싱유닛(102)에 최종 결상되는 시료확대 이미지는 각종 광학수차, 예를 들어, 구면수차(Spherical aberration), 비점수차(Astigmatism), 왜곡수차(Distortion aberration) 등을 양호하게 보정 받을 수 있게 된다.Of course, in the arrangement of the lens groups 71 and 74 and the camera lens groups 104 and 105, when the degree of refraction (eg, angle of refraction) of the light beam is adjusted within a predetermined range, the light beam passing through the pinhole 73a is itself. In spite of the influence of phosphorus intrinsic property or pinhole 73a, the spreading width can be reduced, and thus, the magnified image that is finally imaged on the image sensing unit 102 has various optical aberrations, for example, spherical aberration. (Spherical aberration), astigmatism (distortion), distortion aberration (Distortion aberration) and the like can be corrected well.

이때에도, 본 발명에서는 상술한 여러 문제점의 발생을 두루 고려하여, 렌즈군(71,74) 및 카메라 렌즈군(104,105)의 총 굴절능을 앞의 <수학식 4>에 제시된 범위로 유지시키고, 이를 통해, 핀홀(73a)을 통과하는 광선이 퍼지는 현상을 정상적으로 억제시킴으로써, 이미지 센싱유닛(102)에 최종 결상되는 시료확대 이미지가 양호한 광학수차를 가질 수 있도록 유도하게 된다. Even in this case, in the present invention, in consideration of occurrence of the above-described problems, the total refractive power of the lens groups 71 and 74 and the camera lens groups 104 and 105 is maintained in the range shown in Equation 4 above. By doing so, by normally suppressing the spread of the light rays passing through the pinhole 73a, the sample magnified image finally formed in the image sensing unit 102 may be induced to have good optical aberration.

한편, 이와 같은 본 발명의 또 다른 실시예에서도, 시료확대 이미지의 확대배율 조절이 필요할 경우, 사용자는 전자기기를 조작하여, 모터, 축, 기어 등과 같은 각종 렌즈 구동유발 디바이스들을 동작시키게 되며, 그 여파로, 본 발명의 핀홀 조리개(73)/렌즈군(71,74)/카메라 렌즈군(104,105) 어셈블리는 타겟 시료로부터 멀어지거나 가까워지는 동작을 연속적으로 취할 수 있게 된다.On the other hand, in another embodiment of the present invention, when it is necessary to adjust the magnification of the sample magnification image, the user operates the various electronic devices, such as a motor, a shaft, a gear, driving the lens driving inducing devices, In the aftermath, the pinhole diaphragm 73 / lens group 71,74 / camera lens group 104,105 assembly of the present invention can continuously move away from or close to the target sample.

물론, 이 상황에서도, 카메라 렌즈군(104,105)으로부터 이미지 센싱유닛(102)까지의 거리는 상술한 핀홀 조리개(73)/렌즈군(71,74)/카메라 렌즈군(104,105) 어셈블리의 움직임에 맞추어, 길어지거나 짧아지는 변화를 연속적으로 겪을 수 있게 되며, 그에 따라, 이미지 센싱유닛(102)에 최종 결상되는 시료확대 이미지 역시, 확대되거나, 축소되는 변화를 연속적으로 일으킬 수 있게 된다.Of course, even in this situation, the distance from the camera lens group 104,105 to the image sensing unit 102 is in accordance with the movement of the pinhole aperture 73 / lens group 71,74 / camera lens group 104,105 assembly described above. Longer or shorter changes may be continuously experienced, and thus, the magnified image that is finally formed in the image sensing unit 102 may also be continuously enlarged or reduced.

당연히, 이와 같은 본 발명의 또 다른 구현환경 하에서도, 전자기기를 사용하는 사용자 측에서는, 전자기기를 조작하여, 타겟 시료와, 핀홀 조리개(73)/렌즈군(71,74)/카메라 렌즈군(104,105) 어셈블리 사이의 간격을 가깝거나, 멀게 조절하는 지극히 간단한 조치만으로도, 이미지 센싱유닛(102)에 최종 결상되는 시료확대 이미지의 확대배율을 자유롭게 연속 조절 할 수 있게 된다(이 경우에도, 상기 조치가 필요에 따라 생략되면, 본 발명의 현미경용 광학렌즈 시스템(70)은 광학적 수차가 양호하게 보정된 고정 배율의 시료확대 이미지를 효과적으로 제공할 수 있게 된다).As a matter of course, even under such an implementation environment of the present invention, on the user side using the electronic device, the electronic device is operated to operate the target sample, the pinhole diaphragm 73 / lens group 71, 74 / camera lens group ( 104,105) With only a very simple measure of adjusting the distance between the assemblies close or far, it is possible to freely continuously adjust the magnification of the magnified image finally formed in the image sensing unit 102 (in this case, If omitted as necessary, the microscope optical lens system 70 of the present invention can effectively provide a magnification image of a fixed magnification in which optical aberration is well corrected).

한편, 이러한 본 발명의 또 다른 체제 하에서, 사용자 측에서는, 전자기기를 휴대하고 다니다가, 타겟 시료의 관찰이 필요하면, 전자기기를 타겟 시료에 접근시켜, 현미경용 광학 렌즈 시스템(70)이 타겟 시료에 접근될 수 있도록 유도한 다음, 전원을 조작(예컨대, 전원공급스위치를 조작)하여, 전원 측 전력이 광원 측으로 공급되도록 하고, 이를 통해, 광원이 타겟 시료 측으로 광선을 조사하도록 유도하는 조치를 취하게 된다.On the other hand, under another system of the present invention, if the user carries the electronic device and needs to observe the target sample, the electronic device approaches the target sample, and the microscope optical lens system 70 provides the target sample. Induces access to and then manipulates the power supply (e.g., operates a power supply switch) so that power on the power source side is supplied to the light source side, thereby taking action to induce the light source to irradiate the light beam onto the target sample side. Done.

물론, 이 상황에서, 광원 측 광선 조사에 기인하여, 타겟 시료 측으로부터 출력되는 광선은, 렌즈군(71)의 굴절면(71a,71b), 핀홀 조리개(73)의 핀홀(73a), 그리고, 렌즈군(74)의 굴절면(74a,74b)을 거쳐, 카메라 렌즈군(104,105)의 굴절면(104a,104b,105a,105b)을 통과한 다음, 광학필터(103)의 각 면(103a,103b)을 통과하고, 이미지 센싱유닛(102)의 픽셀에 도달하여, 일련의 <확대된 시료 이미지>로 결상되는 절차를 겪게 되며, 결국, 앞의 각 실시예와 마찬가지로, 사용자 측에서는, 언제 어느 때나 자신이 원하는 타겟 시료를 손쉽게 확대 관찰할 수 있는 효과를 융통성 있게 향유할 수 있게 된다.Of course, in this situation, due to the light source side light irradiation, the light rays output from the target sample side are the refractive surfaces 71a and 71b of the lens group 71, the pinhole 73a of the pinhole aperture 73, and the lens. After passing through the refractive surfaces 74a and 74b of the group 74 and passing through the refractive surfaces 104a, 104b, 105a and 105b of the camera lens groups 104 and 105, the respective surfaces 103a and 103b of the optical filter 103 are Passing through, reaching the pixels of the image sensing unit 102, and undergoing a process of forming an image into a series of <enlarged sample images>. As a result, as in each of the foregoing embodiments, the user side, at any time and at any time, is desired. Flexibility to enjoy the effect of easy magnification of the target sample is provided.

상술한 본 발명의 또 다른 실시예에 따른 현미경용 광학 렌즈 시스템(70)의 구체적인 일 실시 데이터는 아래의 <표 19>로 주어진다(여기서, 렌즈군(71,74)을 이루는 물질로, Schott 사의 NBK7이 선택적으로 사용된다)(상기 카메라 렌즈군(104,105)의 비구면 구비 내역 및 그 비구면 상수는 국내등록특허 제545068호를 참조). Specific implementation data of the optical lens system 70 for a microscope according to another embodiment of the present invention described above is given in Table 19 below (wherein, the material constituting the lens group (71, 74), Schott Co., Ltd.) NBK7 is optionally used) (see Korean Patent No. 545068 for the aspherical surface details and the aspheric constants of the camera lens groups 104 and 105).

구성요소Component 곡률반경(c0 -1)Bending Radius (c 0 -1 ) 거리(mm) (Thickness)Distance (mm) 굴절률Refractive index 아베값Abbe value 핀홀 (73a) 지름 DPinhole (73a) Diameter D 타겟시료Target Sample 1010 굴절면(71a)Refractive Surface 71a 0.40.4 1.5171.517 64.164.1 굴절면(71b)Refractive Surface 71b -14.5-14.5 0.10.1 핀홀조리개 (73)Pinhole Aperture (73) 0.10.1 0.2mm0.2mm 굴절면(74a)Refractive Surface 74a 14.514.5 0.10.1 1.5171.517 64.164.1 굴절면(74b)Refractive Surface 74b 0.40.4 굴절면(104a)*Refractive surface 104a * 1.341.34 0.950.95 1.491.49 57.557.5 굴절면(104b)*Refractive surface 104b * 2.02.0 1.31.3 굴절면(105a)*Refractive surface 105a * 2.652.65 1.11.1 1.491.49 57.557.5 굴절면(105b)*Refractive surface 105b * 2.882.88 1.53251.5325 면(103a)Cotton (103a) 0.550.55 1.5171.517 64.164.1 면(103b)Cotton (103b) 0.40.4 이미지센싱 유닛(102)Image Sensing Unit (102) 0.00.0

여기서, 핀홀 조리개(73)의 핀홀(73a)은 상기 <표 19>에 제시된 바와 같이, 0.2mm의 지름 D를 가져, 앞의 <수학식 1>에 제시된 조건을 만족하게 되며, 렌즈군(71,74) 및 카메라 렌즈군(104,105)은 상기 <표 19>에 제시된 데이터로부터, <첫 번째 굴절면(71a)으로부터 마지막 굴절면(105b)까지의 거리 t>를 4.45㎜로 가지면서, 총 굴절능 p를 0.333㎜-1로 가져(이 경우, 렌즈군(71,74)만의 굴절능은 0.071㎜-1이다), 앞의 <수학식 4>에 제시된 조건을 만족하게 된다. Here, the pinhole 73a of the pinhole aperture 73 has a diameter D of 0.2 mm, as shown in Table 19, and satisfies the conditions shown in Equation 1 above, and the lens group 71. 74 and the camera lens group 104 and 105 have a total refractive power p while having a distance t from the first refractive surface 71a to the last refractive surface 105b at 4.45 mm from the data shown in Table 19 above. Is 0.333 mm −1 (in this case, the refractive power of only the lens groups 71 and 74 is 0.071 mm −1 ), which satisfies the condition given by Equation 4 above.

상기 <표 19>로 주어진 데이터 하에서, 도 14에 도시된 바와 같이, 이미지 센싱유닛(102)에 최종 결상되는 시료확대 이미지는, C-line(656.3㎚), d-line(587.6㎚), e-line(546.1㎚), F-line(486.1㎚), g-line(435.8㎚) 등의 각 광선 파장에 걸쳐, 약 0.35㎜ 범위 내에 있는 구면수차를 나타내고 있다. Under the data given in Table 19, as shown in FIG. 14, the sample magnification image finally formed in the image sensing unit 102 is C-line (656.3 nm), d-line (587.6 nm), e Spherical aberration within the range of about 0.35 mm is shown over each wavelength of light, such as -line (546.1 nm), F-line (486.1 nm), and g-line (435.8 nm).

또한, 이미지 센싱유닛(102)에 최종 결상되는 시료확대 이미지는, 도 14에 도시된 바와 같이, 새지털(Sagittal) S, 탄젠셜(Tangential) T에 있어서, 약 0.36㎜ 범위 내에 있는 비점수차를 나타내고 있다. In addition, the sample magnified image finally formed in the image sensing unit 102, as shown in Fig. 14, in the sagittal S, tangential T, astigmatism within the range of about 0.36 mm It is shown.

또한, 이미지 센싱유닛(102)에 최종 결상되는 시료확대 이미지는, 도 14에 도시된 바와 같이, 최대 크기가 약 1.64% 정도인 왜곡수차를 나타내고 있다. In addition, the sample magnification image finally formed in the image sensing unit 102, as shown in Figure 14, exhibits a distortion aberration of about 1.64% of the maximum size.

이처럼, 본 발명의 또 다른 구현환경 하에서, 이미지 센싱유닛(102)에 최종 결상되는 시료확대 이미지는 앞의 도 14에 도시된 바와 같이, 그 광학수차가 전체적으로 양호하게 보정되었음을 알 수 있다.As such, in another implementation environment of the present invention, as shown in FIG. 14, the sample magnification image finally formed in the image sensing unit 102 may be known that the optical aberration is generally well corrected.

p: 0.333㎜-1, t: 4.45mm, D: 0.2㎜ p: 0.333 mm -1 , t: 4.45 mm, D: 0.2 mm

Figure 112008001902026-pat00013
(㎜)
Figure 112008001902026-pat00013
(Mm) 굴절면(105b)과 이미지 센싱유닛(102) 사이의 거리(㎜)Distance (mm) between the refractive surface 105b and the image sensing unit 102 시료확대 이미지의 확대배율Magnification of Sample Magnification Image 1212 2.0362.036 1(기준)1 (standard) 1111 2.1562.156 1.21.2 1010 2.4832.483 1.71.7 99 2.7082.708 2.32.3 88 3.1363.136 3.43.4 77 3.8103.810 5.55.5 66 5.0065.006 10.710.7

한편, 상기 <표 19>로 주어진 데이터 하에서, 본 발명에 따른 현미경용 광학렌즈 시스템(70)을 전자기기에 연계·설치한 후, 타겟 시료 측으로, 435.8㎚~656.3㎚의 파장영역을 가지는 광선을 조사하면서, 핀홀 조리개(73)/렌즈군(71,74)/카메라 렌즈군(104,105) 어셈블리를 움직여, 타겟 시료와 렌즈군(71,74)의 첫 번째 굴절면(71a) 사이의 거리

Figure 112008001902026-pat00014
을 6.0㎜~12.0㎜로 조절하였을 경우(물론, 이 경우, 렌즈군(71,74) 및 카메라 렌즈군(104,105)의 총 굴절능은 앞의 <수학식 4>에 제시된 제한조건을 만족함을 알 수 있다), 시료확대 이미지를 결상하기 위한 카메라 렌즈군(104,105)의 마지막 굴절면(105b)으로부터 이미지 센싱유닛(102)까지의 거리는 상술한 동작에 맞추어, 길어지거나 짧아지는 변화를 연속적으로 겪는다는 것을 알 수 있으며, 그에 따라, 이미지 센싱유닛(102)에 최종 결상되는 시료확대 이미지 역시, 1배~10.7배까지 확대되거나, 축소되는 변화를 연속적으로 일으킨다는 것을 알 수 있다. On the other hand, under the data given in Table 19 above, the microscope optical lens system 70 according to the present invention is connected to and installed on an electronic device, and then a light beam having a wavelength region of 435.8 nm to 656.3 nm is placed on the target sample side. While irradiating, the pinhole aperture 73 / lens group 71,74 / camera lens group 104,105 assembly is moved to provide a distance between the target sample and the first refractive surface 71a of the lens group 71,74.
Figure 112008001902026-pat00014
Is adjusted to 6.0 mm to 12.0 mm (of course, in this case, the total refractive power of the lens groups 71 and 74 and the camera lens groups 104 and 105 satisfies the constraints given in Equation 4 above). The distance from the last refractive surface 105b of the camera lens group 104,105 to image forming a sample magnification image to the image sensing unit 102, in accordance with the above-described operation, continuously undergoes a longer or shorter change. As can be seen, accordingly, it can be seen that the sample enlarged image finally formed in the image sensing unit 102 also causes a change that is enlarged or reduced by 1 times to 10.7 times.

이러한 본 발명은 앞의 여러 실시형태 이외에도, 상황에 따라, 다양한 변화를 이룰 수 있다.In addition to the above-described various embodiments, the present invention can make various changes depending on circumstances.

예를 들어, 도 15에 도시된 바와 같이, 본 발명의 현미경용 광학 렌즈 시스템(80)은 카메라 렌즈군(104,105)를 포함하면서, 앞의 실시예와 달리, 렌즈군(81)을 핀홀 조리개(83)의 후면에 1매 배치시키는 구조를 취할 수도 있다(여기서, 핀홀(83a)을 구비한 핀홀 조리개(83)에 대한 상세한 설명은 앞서 언급한 내역으로 대체하기로 함).For example, as shown in FIG. 15, the optical lens system 80 for a microscope of the present invention includes camera lens groups 104 and 105, and unlike the previous embodiment, the lens group 81 is mounted with a pinhole aperture ( It is also possible to take a structure in which one sheet is disposed on the rear surface of 83 (in this case, the detailed description of the pinhole stop 83 provided with the pinhole 83a will be replaced with the above-described details).

다른 예로, 도 16에 도시된 바와 같이, 본 발명의 또 다른 현미경용 광학 렌즈 시스템(90)은 카메라 렌즈군(104,105)를 포함하면서, 앞의 실시예와 달리, 렌즈군(91,94)을 핀홀 조리개(93)의 전면에 쌍을 이루어 연속 2매 배치시키는 구조를 취할 수도 있다(여기서, 핀홀(93a)을 구비한 핀홀 조리개(93)에 대한 상세한 설명은 앞서 언급한 내역으로 대체하기로 함).As another example, as shown in FIG. 16, another microscope optical lens system 90 of the present invention includes a camera lens group 104, 105, and unlike the previous embodiment, the lens group 91, 94 is selected. It is also possible to take a structure in which two consecutive pairs are arranged on the front surface of the pinhole stop 93 (the detailed description of the pinhole stop 93 provided with the pinhole 93a will be replaced with the above description. ).

또 다른 예로, 도 17에 도시된 바와 같이, 본 발명의 현미경용 광학 렌즈 시스템(110)은 카메라 렌즈군(104,105)를 포함하면서, 앞의 실시예와 달리, 렌즈군(111,115)을 핀홀 조리개(113)의 후면에 쌍을 이루어 연속 2매 배치시키는 구조를 취할 수도 있다(여기서, 핀홀(113a)을 구비한 핀홀 조리개(113)에 대한 상세한 설명은 앞서 언급한 내역으로 대체하기로 함).As another example, as shown in FIG. 17, the optical lens system 110 for a microscope of the present invention includes a camera lens group 104 and 105, and unlike the previous embodiment, the lens group 111 and 115 may include a pinhole aperture ( It is also possible to take a structure in which two consecutive pairs are arranged on the rear surface of 113) (the detailed description of the pinhole diaphragm 113 having the pinhole 113a will be replaced with the above-described details).

물론, 이러한 본 발명의 각 실시예들 에서도, 자체 구비된 핀홀(83a,93a,113a)을 통해, 타겟 시료 측으로부터 입사되는 광선의 폭을 축소시켜주는 핀홀 조리개(83,93,113)와, 핀홀 조리개(83,93,113)의 앞 또는 뒤에 선택적으로 배치된 상태에서, 핀홀 조리개(83,93,113)를 통과한 광선이 퍼지지 않도록 하여, 시료확대 이미지의 광학적 수차를 줄여주는 렌즈군(81,91,94,111,115) 및 카메라 렌즈군(104,105)을 연계·배치함과 아울러, 필요에 따라, 이러한 핀홀 조리개(83,93,113) 및 렌즈군(81,91,94,111,115), 그리고, 카메라 렌즈군(104,105)을 동일 움직임이 가능하도록 고정시킨 상태에서, 이들 어셈블리와 타겟 시료와의 간격 조절을 통해, 시료확대 이미지의 확대배율이 연속적으로 조절될 수 있도록 유도하기 때문에, 본 발명의 또 다른 구현환경 하에서도, 현미경용 렌즈 시스템(80,90,110) 측에서는, <복수의 대물렌즈들 및 대안렌즈들이 연계된 종래의 복잡한 구조>이 아닌, <렌즈 및 핀홀 조리개가 단순 조합된 간단한 구조> 하에서도, 고품질의 뚜렷한 시료확대 이미지를 여러 가지 다양한 확대배율로 조절·제공할 수 있게 되며, 결국, 자신의 사이즈 축소 및 외부기기 연계용 회로모듈의 배치 개연성 확대를 자연스럽게 현실화시킬 수 있게 되고, 그 결과, 타 전자기기와의 연계를 통해, 해당 전자기기의 기능을 새로이 개선하기 위한 시료확대기기로써의 역할을 융통성 있게 수행할 수 있게 된다.Of course, in each of the embodiments of the present invention, through the pinholes (83a, 93a, 113a) self-equipped, the pinhole apertures (83, 93, 113) and the pinhole aperture to reduce the width of the light incident from the target sample side A lens group (81,91,94,111,115) that reduces optical aberration of the sample enlarged image by preventing the light rays passing through the pinhole apertures (83,93,113) from being selectively disposed in front of or behind the (83,93,113). And the camera lens groups 104 and 105, and the same movement of the pinhole apertures 83, 93, 113, the lens groups 81, 91, 94, 111, and 115, and the camera lens groups 104, 105 as necessary. In such a fixed state, by adjusting the distance between these assemblies and the target sample, the magnification of the sample magnification image can be continuously controlled, so that the lens system for a microscope can be used even under another implementation environment of the present invention. (80,90, On the 110) side, under the <simple structure in which the lens and the pinhole aperture are simply combined>, rather than the conventional complex structure in which a plurality of objective lenses and alternative lenses are linked, a variety of magnifications of the high quality clear sample magnification image are variously enlarged. It is possible to adjust and provide at a magnification, and eventually, it becomes possible to naturally realize the reduction of its size and the expansion probability of the arrangement of the circuit module for linking external devices, and as a result, through the linkage with other electronic devices, It will be able to flexibly serve as a sample enlargement device to improve the function of A.

앞에서, 본 발명의 특정한 실시예가 설명되고 도시되었지만 본 발명이 당업자에 의해 다양하게 변형되어 실시될 가능성이 있는 것은 자명한 일이다. While specific embodiments of the invention have been described and illustrated above, it will be apparent that the invention may be embodied in various modifications by those skilled in the art.

이와 같은 변형된 실시예들은 본 발명의 기술적사상이나 관점으로부터 개별적으로 이해되어서는 안되며 이와 같은 변형된 실시예들은 본 발명의 첨부된 특허청구의 범위안에 속한다 해야 할 것이다. Such modified embodiments should not be understood individually from the technical spirit or point of view of the present invention and such modified embodiments should fall within the scope of the appended claims of the present invention.

도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 현미경용 광학 렌즈 시스템의 구성을 개념적으로 도시한 예시도.1 is an exemplary view conceptually showing the configuration of an optical lens system for a microscope according to an embodiment of the present invention.

도 2는 본 발명의 일 실시예에 따른 현미경용 광학 렌즈 시스템을 채용한 전자기기에서 얻어지는 시료확대 이미지의 광학수차 현황을 도시한 예시도.Figure 2 is an exemplary view showing the optical aberration status of the sample magnified image obtained in the electronic device employing the optical lens system for a microscope according to an embodiment of the present invention.

도 3, 도 5, 도 7, 도 9, 도 11, 도 13, 도 15, 도 16, 도 17은 본 발명의 다른 실시예에 따른 현미경용 광학 렌즈 시스템의 구성을 개념적으로 도시한 예시도.3, 5, 7, 9, 11, 13, 15, 16, and 17 are exemplary diagrams conceptually showing the configuration of an optical lens system for a microscope according to another embodiment of the present invention.

도 4, 도 6, 도 8, 도 10, 도 12, 도 14는 본 발명의 다른 실시예에 따른 광학 렌즈 시스템을 채용한 전자기기에서 얻어지는 시료확대 이미지의 광학수차 현황을 도시한 예시도.4, 6, 8, 10, 12, and 14 are exemplary views showing optical aberrations of a specimen magnified image obtained in an electronic apparatus employing an optical lens system according to another embodiment of the present invention.

Claims (13)

자체 구비된 핀홀(Pin-hole)을 통해, 타겟 시료 측으로부터 이미지 센싱유닛 측으로 입사되는 광선의 폭을 축소시켜주는 핀홀 조리개와;A pinhole aperture for reducing the width of light that is incident from the target sample side to the image sensing unit through a self-provided pin-hole; 상기 핀홀 조리개의 전면 또는 후면에 배치되며, 상기 핀홀을 통과한 광선이 퍼지지 않도록 하여, 상기 이미지 센싱유닛에 결상되는 시료확대 이미지의 광학적 수차를 줄여주는 렌즈군을 포함하며, Is disposed on the front or rear of the pinhole aperture, including a lens group to reduce the optical aberration of the magnified image formed in the image sensing unit by preventing the light beams passing through the pinhole, 상기 렌즈군은 하기와 같은 범위의 총 굴절능을 가지는 것을 특징으로 하는 현미경용 광학 렌즈 시스템.The lens group has a total refractive power of the range as follows.
Figure 112009079617788-pat00036
Figure 112009079617788-pat00036
(여기서, P는 상기 렌즈군의 총 굴절능, L은 상기 타겟 시료와 상기 렌즈군의 첫 번째 굴절면 사이의 거리, T는 상기 렌즈군의 첫 번째 굴절면으로부터 마지막 굴절면까지의 거리)Where P is the total refractive power of the lens group, L is the distance between the target sample and the first refractive surface of the lens group, and T is the distance from the first refractive surface to the last refractive surface of the lens group.
제 1 항에 있어서, 상기 렌즈군은 상기 핀홀 조리개의 전면 또는 후면에 1매가 단독 배치되거나, 상기 핀홀 조리개의 전면 또는 후면에 2매가 쌍을 이루어 연속 배치되는 것을 특징으로 하는 현미경용 광학 렌즈 시스템.The optical lens system for a microscope according to claim 1, wherein the lens group is arranged on the front or the rear of the pinhole stop alone or two pairs are arranged on the front or the rear of the pinhole stop continuously. 자체 구비된 핀홀(Pin-hole)을 통해, 타겟 시료 측으로부터 이미지 센싱유닛 측으로 입사되는 광선의 폭을 축소시켜주는 핀홀 조리개와;A pinhole aperture for reducing the width of light that is incident from the target sample side to the image sensing unit through a self-provided pin-hole; 상기 핀홀 조리개를 사이에 두고, 상기 핀홀 조리개의 전면 및 후면에 1매씩 배치되며, 상기 핀홀을 통과한 광선이 퍼지지 않도록 하여, 상기 이미지 센싱유닛에 결상되는 시료확대 이미지의 광학적 수차를 줄여주는 렌즈군을 포함하며, A lens group disposed at the front and rear of the pinhole aperture with the pinhole aperture interposed therebetween, so as to prevent light rays passing through the pinhole from spreading, thereby reducing optical aberration of the sample magnified image formed in the image sensing unit. Including; 상기 렌즈군은 하기와 같은 범위의 총 굴절능을 가지는 것을 특징으로 하는 현미경용 광학 렌즈 시스템.The lens group has a total refractive power of the range as follows.
Figure 112009079617788-pat00037
Figure 112009079617788-pat00037
(여기서, P는 상기 렌즈군의 총 굴절능, L은 상기 타겟 시료와 상기 렌즈군의 첫 번째 굴절면 사이의 거리, T는 상기 렌즈군의 첫 번째 굴절면으로부터 마지막 굴절면까지의 거리)Where P is the total refractive power of the lens group, L is the distance between the target sample and the first refractive surface of the lens group, and T is the distance from the first refractive surface to the last refractive surface of the lens group.
삭제delete 제 1 항 또는 제 3 항 중, 어느 한 항에 있어서, 상기 핀홀 조리개 및 렌즈군은 동일 움직임이 가능하도록 고정된 상태에서, 상기 타겟 시료와의 간격 조절을 통해, 상기 시료확대 이미지의 확대배율을 연속적으로 조절하는 것을 특징으로 하는 현미경용 광학 렌즈 시스템.The magnification of the sample magnified image according to any one of claims 1 to 3, wherein the pinhole stop and the lens group are fixed to allow the same movement, and the magnification of the sample magnified image is adjusted by adjusting the gap with the target sample. Optical lens system for a microscope, characterized in that the adjustment continuously. 자체 구비된 핀홀(Pin-hole)을 통해, 타겟 시료 측으로부터 이미지 센싱유닛 측으로 입사되는 광선의 폭을 축소시켜주는 핀홀 조리개와;A pinhole aperture for reducing the width of light that is incident from the target sample side to the image sensing unit through a self-provided pin-hole; 상기 핀홀 조리개의 전면 또는 후면에 배치되며, 상기 핀홀을 통과한 광선이 퍼지지 않도록 하여, 상기 이미지 센싱유닛에 결상되는 시료확대 이미지의 광학적 수차를 줄여주는 렌즈군과;A lens group disposed at the front or the rear of the pinhole stop and preventing optical rays from passing through the pinhole so as to reduce optical aberration of the magnified image formed in the image sensing unit; 상기 렌즈군의 후면에 배치되며, 상기 시료확대 이미지를 상기 이미지 센싱유닛에 결상시키는 카메라 렌즈군을 포함하며, Is disposed on the rear of the lens group, and comprises a camera lens group for forming the sample magnification image to the image sensing unit, 상기 렌즈군 및 카메라 렌즈군은 하기와 같은 범위의 총 굴절능을 가지는 것을 특징으로 하는 현미경용 광학 렌즈 시스템.The lens group and the camera lens group has a total refractive power of the following ranges for the microscope optical lens system.
Figure 112009079617788-pat00038
Figure 112009079617788-pat00038
(여기서, p는 상기 렌즈군 및 카메라 렌즈군의 총 굴절능,
Figure 112009079617788-pat00039
은 상기 타겟 시료와 상기 렌즈군의 첫 번째 굴절면 사이의 거리, t는 상기 렌즈군의 첫 번째 굴절면으로부터 상기 카메라 렌즈군의 마지막 굴절면까지의 거리)
(Where p is the total refractive power of the lens group and the camera lens group,
Figure 112009079617788-pat00039
Is the distance between the target sample and the first refractive surface of the lens group, t is the distance from the first refractive surface of the lens group to the last refractive surface of the camera lens group)
제 6 항에 있어서, 상기 렌즈군은 상기 핀홀 조리개의 전면 또는 후면에 1매가 단독 배치되거나, 상기 핀홀 조리개의 전면 또는 후면에 2매가 쌍을 이루어 연속 배치되는 것을 특징으로 하는 현미경용 광학 렌즈 시스템.The optical lens system for microscope according to claim 6, wherein the lens group is arranged on the front or rear side of the pinhole stop alone or two pairs are arranged on the front or rear side of the pinhole stop continuously. 자체 구비된 핀홀(Pin-hole)을 통해, 타겟 시료 측으로부터 이미지 센싱유닛 측으로 입사되는 광선의 폭을 축소시켜주는 핀홀 조리개와;A pinhole aperture for reducing the width of light that is incident from the target sample side to the image sensing unit through a self-provided pin-hole; 상기 핀홀 조리개를 사이에 두고, 상기 핀홀 조리개의 전면 및 후면에 1매씩 배치되며, 상기 핀홀을 통과한 광선이 퍼지지 않도록 하여, 상기 이미지 센싱유닛에 결상되는 시료확대 이미지의 광학적 수차를 줄여주는 렌즈군과;A lens group disposed at the front and rear of the pinhole aperture with the pinhole aperture interposed therebetween, so as to prevent light rays passing through the pinhole from spreading, thereby reducing optical aberration of the sample magnified image formed in the image sensing unit. and; 상기 렌즈군의 후면에 배치되며, 상기 시료확대 이미지를 상기 이미지 센싱유닛에 결상시키는 카메라 렌즈군을 포함하며, Is disposed on the rear of the lens group, and comprises a camera lens group for forming the sample magnification image to the image sensing unit, 상기 렌즈군 및 카메라 렌즈군은 하기와 같은 범위의 총 굴절능을 가지는 것을 특징으로 하는 현미경용 광학 렌즈 시스템.The lens group and the camera lens group has a total refractive power of the following ranges for the microscope optical lens system.
Figure 112009079617788-pat00040
Figure 112009079617788-pat00040
(여기서, p는 상기 렌즈군 및 카메라 렌즈군의 총 굴절능,
Figure 112009079617788-pat00041
은 상기 타겟 시료와 상기 렌즈군의 첫 번째 굴절면 사이의 거리, t는 상기 렌즈군의 첫 번째 굴절면으로부터 상기 카메라 렌즈군의 마지막 굴절면까지의 거리)
(Where p is the total refractive power of the lens group and the camera lens group,
Figure 112009079617788-pat00041
Is the distance between the target sample and the first refractive surface of the lens group, t is the distance from the first refractive surface of the lens group to the last refractive surface of the camera lens group)
삭제delete 제 6 항 또는 제 8 항 중 어느 한 항에 있어서, 상기 핀홀 조리개 및 렌즈군, 그리고, 상기 카메라 렌즈군은 동일 움직임이 가능하도록 고정된 상태에서, 상기 타겟 시료와의 간격 조절을 통해, 상기 시료확대 이미지의 확대배율을 연속적으로 조절하는 것을 특징으로 하는 현미경용 광학 렌즈 시스템.The sample according to any one of claims 6 to 8, wherein the pinhole stop and the lens group, and the camera lens group are fixed to allow the same movement, by adjusting the distance to the target sample. An optical lens system for a microscope, characterized by continuously adjusting the magnification of the magnified image. 제 1 항, 제 3 항, 제 6 항, 또는, 제 8 항 중 어느 한 항에 있어서, 상기 핀홀 조리개에 구비된 핀홀은 하기와 같은 범위의 지름을 가지는 것을 특징으로 하는 현미경용 광학 렌즈 시스템.The optical lens system for a microscope according to any one of claims 1, 3, 6, or 8, wherein the pinhole provided in the pinhole stop has a diameter in the following range.
Figure 112008001902026-pat00018
Figure 112008001902026-pat00018
(여기서, D는 상기 핀홀의 지름)Where D is the diameter of the pinhole
제 1 항, 제 3 항, 제 6 항, 또는, 제 8 항 중 어느 한 항에 있어서, 상기 핀홀 조리개의 후면에 배치되며, 상기 핀홀 조리개를 통과한 광선 중 불필요한 광선을 차단하는 광학필터를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 현미경용 광학 렌즈 시스템.9. The optical filter according to any one of claims 1, 3, 6, or 8, further comprising an optical filter disposed on a rear surface of the pinhole stop and blocking unnecessary light rays from the light passing through the pinhole stop. An optical lens system for a microscope, comprising: 제 1 항, 제 3 항, 제 6 항, 또는, 제 8 항 중 어느 한 항에 있어서, 상기 렌즈군은 하나 이상의 비구면을 포함하는 것을 특징으로 하는 현미경용 광학 렌즈 시스템.9. An optical lens system for a microscope according to any one of claims 1, 3, 6, or 8, wherein said lens group comprises one or more aspherical surfaces.
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