KR100930823B1 - Wet cleaning device and substrate processing method - Google Patents
Wet cleaning device and substrate processing method Download PDFInfo
- Publication number
- KR100930823B1 KR100930823B1 KR1020070122339A KR20070122339A KR100930823B1 KR 100930823 B1 KR100930823 B1 KR 100930823B1 KR 1020070122339 A KR1020070122339 A KR 1020070122339A KR 20070122339 A KR20070122339 A KR 20070122339A KR 100930823 B1 KR100930823 B1 KR 100930823B1
- Authority
- KR
- South Korea
- Prior art keywords
- substrate
- cleaning
- unit
- processing unit
- pool
- Prior art date
Links
Images
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/67—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
- H01L21/67005—Apparatus not specifically provided for elsewhere
- H01L21/67011—Apparatus for manufacture or treatment
- H01L21/67017—Apparatus for fluid treatment
- H01L21/67028—Apparatus for fluid treatment for cleaning followed by drying, rinsing, stripping, blasting or the like
- H01L21/6704—Apparatus for fluid treatment for cleaning followed by drying, rinsing, stripping, blasting or the like for wet cleaning or washing
- H01L21/67057—Apparatus for fluid treatment for cleaning followed by drying, rinsing, stripping, blasting or the like for wet cleaning or washing with the semiconductor substrates being dipped in baths or vessels
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/02—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof
- H01L21/02041—Cleaning
- H01L21/02043—Cleaning before device manufacture, i.e. Begin-Of-Line process
- H01L21/02052—Wet cleaning only
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/02—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof
- H01L21/02041—Cleaning
- H01L21/02057—Cleaning during device manufacture
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/67—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
- H01L21/67005—Apparatus not specifically provided for elsewhere
- H01L21/67011—Apparatus for manufacture or treatment
- H01L21/67017—Apparatus for fluid treatment
- H01L21/67028—Apparatus for fluid treatment for cleaning followed by drying, rinsing, stripping, blasting or the like
- H01L21/67034—Apparatus for fluid treatment for cleaning followed by drying, rinsing, stripping, blasting or the like for drying
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Manufacturing & Machinery (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Power Engineering (AREA)
- Cleaning Or Drying Semiconductors (AREA)
Abstract
기판의 처리 효율을 향상시킬 수 있으며, 공간활용성 및 설계자유도를 향상시킬 수 있는 습식세정장치 및 기판처리방법이 개시된다. 습식세정장치는 풉이 로딩 및 언로딩되는 반출입부, 로딩된 풉으로부터 기판이 준비되는 세정준비부, 기판을 지지하며 선택적으로 승강하는 지지유닛, 지지유닛에 대해 회전 가능하게 제공되며 지지된 기판을 처리하는 회전세정처리부를 포함한다.Disclosed are a wet cleaning apparatus and a substrate treating method capable of improving processing efficiency of a substrate and improving space utilization and design freedom. The wet cleaning device is provided with a loading and unloading part of the unloading part, a cleaning preparation part in which the substrate is prepared from the loaded pool, a support unit for supporting and selectively lifting the substrate, and a rotatable support for the support unit. It includes a rotary cleaning processing unit.
Description
본 발명은 습식세정장치 및 기판처리방법에 관한 것으로, 보다 자세하게는 기판의 처리 효율을 향상시킬 수 있으며, 공간활용성 및 설계자유도를 향상시킬 수 있는 습식세정장치 및 기판처리방법에 관한 것이다.The present invention relates to a wet cleaning apparatus and a substrate processing method, and more particularly, to a wet cleaning apparatus and a substrate processing method capable of improving processing efficiency of a substrate and improving space utilization and design freedom.
일반적으로 반도체 소자를 제조하기 위해서는 리소그래피, 증착 및 에칭 등의 공정을 반복적으로 수행한다. 이러한 공정들을 거치는 동안 기판(예를 들어 실리콘 웨이퍼) 상에는 각종 파티클, 금속 불순물, 유기물 등이 잔존하게 된다. 이와 같은 오염 물질은 제품의 수율 및 신뢰성에 악영향을 미치기 때문에 반도체 제조 공정에서는 기판에 잔존된 오염 물질을 제거하기 위한 세정 공정이 수행되고, 세정 공정 후에는 웨이퍼에 대한 건조 공정이 수행된다.In general, in order to manufacture a semiconductor device, processes such as lithography, deposition, and etching are repeatedly performed. During these processes, various particles, metal impurities, organics, etc. remain on the substrate (eg, silicon wafer). Since such contaminants adversely affect product yield and reliability, a cleaning process for removing contaminants remaining on a substrate is performed in a semiconductor manufacturing process, and a drying process for a wafer is performed after the cleaning process.
이와 같이 기판을 세정하는 방식은 처리 방식에 따라 크게 건식(Dry)세정방식과, 습식(Wet)세정방식으로 구분될 수 있다. 그 중 습식세정방식은 여러 가지 약액이 일정 비율로 혼합된 세정액이 수용된 세정조 내부에 기판을 일정시간 침지시켜 기판을 세정하는 방식을 말한다.As such, the method of cleaning the substrate may be largely classified into a dry cleaning method and a wet cleaning method according to a processing method. Among them, the wet cleaning method refers to a method of cleaning a substrate by immersing the substrate for a predetermined time in a cleaning tank containing a cleaning liquid mixed with various chemical liquids at a predetermined ratio.
한편, 습식세정장치는 기판의 처리방식에 따라 크게 프론트타입과 사이드타입으로 구분될 수 있다. 그 중 프론트타입 습식세정장치는 처리될 기판이 장비의 일측으로 로딩되고, 처리가 완료된 기판은 장비의 다른 일측으로 언로딩되도록 구성된다. 반면, 사이드타입 습식세정장비는 처리될 기판이 장비의 일측으로 로딩되고, 처리가 완료된 기판은 다시 로딩된 측으로 언로딩되도록 구성된다.On the other hand, the wet cleaning apparatus may be largely classified into a front type and a side type according to the processing method of the substrate. Among them, the front type wet cleaning device is configured such that the substrate to be processed is loaded to one side of the equipment, and the substrate to be processed is unloaded to the other side of the equipment. On the other hand, the side type wet cleaning equipment is configured such that the substrate to be processed is loaded to one side of the equipment, and the substrate which has been processed is unloaded to the loaded side again.
그런데, 종래 프론트타입 습식세정장치는 기판의 로딩 위치와 언로딩 위치가 서로 다르기 때문에 공간활용성이 저하되는 문제점이 있고, 작업 효율성을 일정 이상 향상시키기 어려운 문제점이 있다.However, the conventional front type wet cleaning device has a problem in that the space utilization is lowered because the loading position and the unloading position of the substrate are different from each other, and it is difficult to improve the work efficiency more than a certain amount.
또한, 종래 사이드타입 습식세정장치는 기판이 전방 개방 단일화 포드(Front Opening Unified Pod: FOUP, 이하 풉이라 한다)로부터 인출된 상태로 장비의 일측에서 다른 일측으로 이송되기 때문에, 기판의 이송 속도를 일정이상 올리기 어렵고, 기판을 흔들림없이 안정적으로 이송하기 어려운 문제점이 있다.In addition, in the conventional side-type wet cleaning device, since the substrate is drawn from the front opening unified pod (FOUP), it is transferred from one side of the equipment to the other side, so that the transfer speed of the substrate is constant. It is difficult to raise abnormally, and there is a problem in that it is difficult to stably transfer the substrate without shaking.
더욱이, 종래 프론트타입 습식세정장치 및 사이드타입 습식세정장치에서는 기판의 세정 처리가 이루어지는 세정처리부에 세정 처리 경로를 따라 기판을 이송하기 위한 이송장치의 이송로가 필연적으로 구비되어야 함에 따라 구조가 복잡해지고 공간효율성 및 설계자유도가 저하되는 문제점이 있다.Further, in the conventional front type wet cleaning device and side type wet cleaning device, the structure becomes complicated as the transfer path of the transfer device for transferring the substrate along the cleaning processing path is inevitably provided in the cleaning processing section where the substrate cleaning processing is performed. There is a problem that the space efficiency and design freedom is reduced.
이에 따라 최근에는 기판의 처리 효율을 향상시키고, 장비를 보다 간소화할 수 있도록 한 다양한 방식의 습식세정장치에 관한 여러 가지 검토가 이루어지고 있다.In recent years, various studies have been made on various types of wet cleaning apparatuses to improve substrate processing efficiency and simplify equipment.
본 발명은 기판의 처리 시간을 단축할 수 있으며, 기판의 처리 효율을 향상시킬 수 있는 습식세정장치 및 기판처리방법을 제공한다.The present invention can reduce the processing time of a substrate, and provides a wet cleaning apparatus and a substrate processing method capable of improving processing efficiency of a substrate.
또한, 본 발명은 공간활용성 및 설계자유도를 향상시킬 수 있으며, 장비를 보다 간소화할 수 있는 습식세정장치 및 기판처리방법을 제공한다.In addition, the present invention can improve the space utilization and design freedom, and provides a wet cleaning apparatus and substrate processing method that can simplify the equipment more.
상술한 본 발명의 목적들을 달성하기 위한 본 발명의 바람직한 실시예에 따르면, 습식세정장치는 풉(FOUP)이 로딩 및 언로딩되는 반출입부; 상기 반출입부와 인접하게 제공되며, 상기 풉 내,외부로 기판을 반입시키는 덤핑로봇, 상기 기판을 인계 받아 정렬시키는 푸셔유닛 및 상기 기판을 대기시키는 버퍼유닛을 구비한 세정준비부;상기 기판을 지지하며 선택적으로 승강하는 지지유닛; 및 상기 지지유닛에 대해 회전 가능하게 장착되고 복수개의 처리조를 구비하는 회전세정처리부;를 포함하며, 상기 처리조는 상기 회전세정처리부의 회전 중심을 기준으로 동일 반경 상에 배치된 적어도 하나의 세정조 및 건조챔버를 구비하고, 상기 처리조에는 세정액 공급유로 및 세정액 배출유로가 연결되며, 상기 세정액 배출유로는 상기 회전세정처리부의 회전 여부에 따라 선택적으로 개방 또는 차단된다. According to a preferred embodiment of the present invention for achieving the above object of the present invention, the wet cleaning device includes a carry-out portion in which a FOUP is loaded and unloaded; A cleaning preparation unit provided adjacent to the carrying-out unit and including a dumping robot for carrying a substrate into and out of the pool, a pusher unit for taking over and aligning the substrate, and a buffer unit for waiting for the substrate; And optionally a support unit for elevating; And a rotation cleaning processing unit rotatably mounted with respect to the support unit and having a plurality of processing tanks, wherein the processing tank includes at least one cleaning tank disposed on the same radius with respect to the rotation center of the rotation cleaning processing unit. And a drying chamber, wherein the treatment tank is connected to a cleaning liquid supply flow path and a cleaning liquid discharge flow path, and the cleaning liquid discharge flow path is selectively opened or blocked depending on whether or not the rotary cleaning processing unit is rotated.
회전세정처리부의 형상 및 구조는 요구되는 조건 및 설계 사양에 따라 다양하게 변경될 수 있다. 일 예로, 회전세정처리부는 복수개의 처리조를 포함하여 구성될 수 있으며, 각각의 처리조는 회전세정처리부의 회전 중심을 기준으로 동일 반경 상에 배치될 수 있다. 여기서 처리조라 함은 적어도 하나의 세정존 및 건조존을 포함하여 구성될 수 있으며, 처리조의 종류 및 개수에 의해 본 발명이 제한되거나 한정되는 것은 아니다.The shape and structure of the rotary cleaning treatment unit may be variously changed according to required conditions and design specifications. For example, the rotational cleaning processing unit may be configured to include a plurality of processing tanks, and each processing tank may be disposed on the same radius with respect to the rotation center of the rotational cleaning processing unit. Here, the treatment tank may include at least one washing zone and a drying zone, and the present invention is not limited or limited by the type and number of treatment tanks.
또한, 본 발명의 다른 바람직한 실시예에 따르면, 풉(FOUP)이 로딩 및 언로딩되는 반출입부, 로딩된 풉으로부터 기판이 준비되는 세정준비부, 기판을 지지하며 선택적으로 승강하는 지지유닛, 지지유닛에 대해 회전 가능하게 제공되며 지지 된 기판을 처리하는 회전세정처리부를 포함하는 습식세정장치의 기판처리방법은 반출입부에 로딩된 풉으로부터 기판을 세정준비부에 준비시키는 단계, 준비된 기판을 지지유닛을 통해 지지하는 단계, 회전세정처리부를 회전시키며 지지된 기판을 일련의 순서대로 처리하는 단계, 처리된 기판을 풉에 수납하고 반출입부로부터 언로딩하는 단계를 포함한다.In addition, according to another preferred embodiment of the present invention, the FOUP is loaded and unloaded, the loading and unloading unit, the cleaning preparation unit is prepared for preparing the substrate from the loaded pool, the support unit for supporting the substrate and selectively elevating, support unit Substrate processing method of the wet cleaning apparatus including a rotational cleaning processing unit for rotatably provided and processing the supported substrate is prepared by preparing the substrate in the cleaning preparation unit from the pool loaded into the loading and unloading unit, the prepared substrate support unit And supporting the substrate, rotating the rotary cleaning processing unit, and processing the supported substrate in a series of orders; accommodating the processed substrate in a pool and unloading the loading and unloading unit.
본 발명에 따른 습식세정장치 및 기판처리방법에 의하면, 세정처리부에서 기판을 별도로 이송할 필요없이 세정처리부 자체가 회전되며 일련의 순서대로 기판의 세정 처리가 이루어질 수 있게 함으로써, 기판의 처리 효율을 향상시킬 수 있다. 아울러, 기판의 세정처리 전 또는 후에 기판을 특정 위치로 별도로 이송할 필요없이 세정처리부 자체가 회전되며 기판이 세정될 수 있기 때문에 스루풋을 향상시킬 수 있다.According to the wet cleaning apparatus and the substrate processing method according to the present invention, the cleaning processing unit itself is rotated without the need to transfer the substrate separately from the cleaning processing unit, and the cleaning processing of the substrate can be performed in a sequence, thereby improving the processing efficiency of the substrate. You can. In addition, since the cleaning treatment unit itself is rotated and the substrate can be cleaned without the need of separately transferring the substrate to a specific position before or after the cleaning process of the substrate, throughput can be improved.
또한, 본 발명에 따르면 기판의 세정 처리가 이루어지는 동안 기판을 별도로 이송할 필요 없기 때문에 이송장치를 이송하기 위한 별도의 이송로를 배제할 수 있으며, 장비를 보다 간소화할 수 있고 공간활용성 및 설계자유도를 향상시킬 수 있다.In addition, according to the present invention, since the substrate does not need to be transported separately during the cleaning process of the substrate, a separate transport path for transporting the transport apparatus can be excluded, the equipment can be simplified more, space utilization and design freedom Can improve.
이하 첨부된 도면들을 참조하여 본 발명의 바람직한 실시예를 상세하게 설명하지만, 본 발명이 실시예에 의해 제한되거나 한정되는 것은 아니다. 참고로, 본 설명에서 동일한 번호는 실질적으로 동일한 요소를 지칭하며, 상기 규칙 하에서 다 른 도면에 기재된 내용을 인용하여 설명할 수 있고, 당업자에게 자명하다고 판단되거나 반복되는 내용은 생략될 수 있다.Hereinafter, preferred embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings, but the present invention is not limited or limited by the embodiments. For reference, in the present description, the same numbers refer to substantially the same elements, and may be described by quoting the contents described in other drawings under the above rules, and the contents repeated or deemed apparent to those skilled in the art may be omitted.
도 1은 본 발명에 따른 습식세정장치의 구조를 도시한 도면이고, 도 2는 본 발명에 따른 습식세정장치로서, 회전세정처리부의 구조를 도시한 도면이다.1 is a view showing the structure of a wet cleaning device according to the present invention, Figure 2 is a wet cleaning device according to the present invention, a view showing the structure of a rotary cleaning processing unit.
도 1 및 도 2에서 도시한 바와 같이, 본 발명에 따른 습식세정장치는 반출입부(10), 세정준비부(20), 지지유닛(40) 및 회전세정처리부(30)를 포함한다.As shown in FIG. 1 and FIG. 2, the wet cleaning apparatus according to the present invention includes a carry-out and take-
상기 반출입부(10)는 소정 매수의 기판(W)이 그룹 단위로 수용되는 풉(FOUP : Front Opening Unified Pod)(미도시)이 로딩 및 언로딩될 수 있도록 제공된다. 즉, 상기 반출입부(10)는 장비 일측에 제공되며, 이 반출입부(10)에서는 처리될 기판이 수용된 풉이 로딩되거나, 처리 완료된 기판이 수용된 풉이 언로딩될 수 있다. 또한, 상기 반출입부(10)의 일측에는 풉보관부가 제공될 수 있으며, 풉보관부의 선반 상에는 복수개의 풉이 예비 적재될 수 있다.The carrying in / out
상기 세정준비부(20)는 반출입부(10)에 인접하게 제공되며, 처리될(또는 처리 완료된)기판이 적당한 형태로 배치 및 배열될 수 있다. 즉, 상기 세정준비부(20)에서는 반출입부(10)에 로딩된 풉으로부터 기판이 세정 처리전에 적당한 배열 형태로 준비될 수 있으며, 이러한 세정준비부(20)의 구조 및 방식은 요구되는 조건 및 설계환경에 따라 다양하게 변경될 수 있다. 일 예로, 세정준비부(20)에는 풉 내부에 수납된 처리될 기판 그룹을 풉 외부로 반출해 내거나 처리 완료된 기판 그룹을 풉 내부로 반입시키는 덤핑로봇(22), 기판 그룹을 인계받아 정렬시키는 푸셔유닛(24), 기판 그룹이 처리될 또는 처리 완료된 기판이 대기되는 버퍼유닛(26) 이 구비될 수 있다. 이러한 구조에 의해, 세정 처리될 기판은 덤핑로봇(22)에 의해 인출된 후 푸셔유닛(24)을 거쳐 버퍼유닛(26)에서 대기될 수 있으며, 그 후 회전세정처리부(30)를 따라 일련의 처리 과정을 거치게 된다.The
상기 지지유닛(40)은 세정준비부(20)로부터 준비된 기판을 전달받아 지지할 수 있도록 제공되며, 기판을 지지한 상태로 선택적으로 상하 방향을 따라 승강될 수 있다. 이러한 지지유닛(40)으로서는 상하 방향을 따라 직선이동 가능한 통상의 로봇이 사용될 수 있으며, 지지유닛(40)의 구조 및 방식에 의해 본 발명이 제한되거나 한정되는 것은 아니다. 본 발명의 실시예에서는 단 하나의 지지유닛이 제공된 예를 들어 설명하고 있지만, 경우에 따라서는 복수개의 지지유닛이 제공될 수 있으며, 각각의 지지유닛은 일체로 연결되어 동시에 연동될 수도 있다.The
상기 회전세정처리부(30)는 세정준비부(20)에 연결되어 풉으로부터 반출한 기판(W)을 세정 및 건조 처리할 수 있도록 제공된다. 아울러 상기 회전세정처리부(30)는 지지유닛(40)에 대해 회전 가능하게 장착되며, 기판은 지지유닛(40)에 지지된 상태에서 회전세정처리부(30)가 회전함에 따라 일련의 순서대로 처리될 수 있다. 즉, 상기 회전세정처리부(30)에서는 정해진 처리 순서에 따라 기판을 별도로 이송할 필요없이 회전세정처리부(30) 자체가 회전되며 일련의 순서대로 기판의 세정 처리가 이루어질 수 있다.The rotary
상기 회전세정처리부(30)의 구조 및 방식은 요구되는 조건 및 처리환경에 따라 다양하게 변경될 수 있다. 일 예로, 회전세정처리부(30)는 복수개의 처리조를 포함하여 대략 "O" 형태로 제공될 수 있으며, 각각의 처리조는 회전세정처리부(30) 의 회전 중심을 기준으로 동일 반경 상에 방사형으로 배치될 수 있다.The structure and manner of the
아울러 상기 회전세정처리부(30)의 회전 방식은 요구되는 조건 및 설계 사양에 따라 다양하게 변경될 수 있다. 일 예로, 회전세정처리부(30)는 일종의 회전판과 같은 통상의 회전부재(50)의 상에 배치되어 구동모터에 의해 회전부재(50)가 회전함에 따라 함께 회전될 수 있다.In addition, the rotation method of the rotary
여기서 처리조라 함은 복수개의 세정조(32) 및 건조챔버(34)를 포함하여 구성될 수 있으며, 처리조의 종류 및 개수에 의해 본 발명이 제한되거나 한정되는 것은 아니다. 아울러, 기판의 세정 공정은 여러 가지 약액이 일정 비율로 혼합된 세정액이 수용된 세정조(32) 내부에 기판을 일정시간 침지 시킴으로써 구현될 수 있고, 기판의 건조 공정은 기판을 순수(DIW : Distilled Water) 안에서 수직 방향으로 건조챔버(34)로 끌어올림과 동시에 이소프로필 알콜(IPA : Iso-Propyl Alcohol) 및 질소가스를 기판 표면의 기액(氣液)계면 부근에 불어 넣는 것에 의해 마란고니 효과(Marangoni effect)를 발생시킴으로써 구현될 수 있다.Herein, the treatment tank may include a plurality of
한편, 상기 처리조로의 세정액 공급 및 배출은 요구되는 조건 및 처리환경에 따라 다양한 방식으로 구현될 수 있다. 일 예로, 처리조의 세정액 공급유로(미도시)는 처리조의 상부에 이격되게 배치되어 처리조의 상부 이격된 위치로부터 세정액을 공급할 수 있고, 처리조의 세정액 배출유로(미도시)는 회전세정처리부의 회전 여부에 따라 선택적으로 개방 및 차단되도록 구성할 수 있다. 즉, 회전세정처리부가 회전될 동안에는 각 처리조의 배출유로가 차단될 수 있고, 회전세정처리부가 특정 처리 위치로 회전이 완료된 상태에서만 각 처리조의 배출유로가 개방되도록 구 성할 수 있다. 이와 같은 구조는 회전세정처리부가 회전함에 따른 세정액 공급유로 및 배출유로의 꼬임을 방지하고 세정액이 안정적으로 공급 및 배출될 수 있게 한다.On the other hand, the supply and discharge of the cleaning liquid to the treatment tank may be implemented in a variety of ways depending on the required conditions and treatment environment. For example, the cleaning solution supply passage (not shown) of the treatment tank may be spaced apart from the upper portion of the treatment tank to supply the cleaning liquid from a position spaced above the treatment tank, and the cleaning solution discharge passage (not shown) of the treatment tank may rotate the rotary cleaning treatment unit. It can be configured to selectively open and block according to. That is, while the rotary cleaning processing unit is rotated, the discharge passage of each treatment tank may be blocked, and the discharge passage of each treatment tank may be configured to be opened only when the rotation washing processing unit is rotated to a specific treatment position. Such a structure prevents twisting of the cleaning liquid supply passage and the discharge passage as the rotary cleaning processing unit rotates, and enables the cleaning liquid to be stably supplied and discharged.
이러한 구성에 의해, 기판은 회전세정처리부(30)의 각 처리조를 따라 별도로 이송될 필요없이 회전세정처리부(30)가 회전함에 따라 각 처리조를 통해 순차적으로 세정 처리될 수 있다. 아울러, 상기 회전세정처리부(30)가 회전하는 동안 기판은 지지유닛(40)에 의해 상부로 이송될 수 있고, 회전세정처리부(30)의 회전이 완료된 후에는 즉, 회전세정처리부(30)가 계획된 특정 처리 위치로 회전이 완료된 후에는 지지유닛(40)이 하강하며 기판이 처리조 내부에 수용될 수 있다. 그 후, 세정이 완료된 기판은 다시 세정준비부(20)를 거쳐 풉에 수납된 상태로 반출입부(10)로부터 언로딩될 수 있다. 이와 같이 본 발명은 기판의 세정처리 전 또는 후에 기판을 특정 위치로 별도로 이송할 필요없이 세정처리부 자체가 회전되며 기판이 처리될 수 있게 함으로써, 기판의 처리 효율을 향상시킬 수 있으며, 스루풋을 향상시킬 수 있다.By such a configuration, the substrate may be sequentially cleaned through each treatment tank as the rotation
더욱이, 기판의 세정 처리가 이루어지는 동안 회전세정처리부(30)의 각 처리조를 따라 기판을 별도로 이송할 필요 없기 때문에 이송장치를 이송하기 위한 별도의 이송로를 배제할 수 있으며, 장비를 보다 간소화할 수 있고, 공간활용성 및 설계자유도를 향상시킬 수 있다.Furthermore, since the substrates do not need to be transported separately along the respective treatment tanks of the rotary
이하에서는 본 발명에 따른 기판처리장치를 이용한 기판처리방법을 설명하기로 한다. 아울러, 전술한 구성과 동일 및 동일 상당 부분에 대해서는 동일 또는 동 일 상당한 참조 부호를 부여하고, 그에 대한 상세한 설명은 생략하기로 한다.Hereinafter, a substrate processing method using the substrate processing apparatus according to the present invention will be described. In addition, the same or the same equivalent parts as the above-described configuration is given the same or identical reference numerals, detailed description thereof will be omitted.
본 발명에 따른 습식세정장치의 기판처리방법은 반출입부(10)에 로딩된 풉으로부터 기판을 상기 세정준비부(20)에 준비시키는 단계, 준비된 기판을 지지유닛(40)을 통해 지지하는 단계, 회전세정처리부(30)를 회전시키며 지지된 기판을 일련의 순서대로 처리하는 단계, 처리된 기판을 풉에 수납하고 반출입부(10)로부터 언로딩하는 단계를 포함한다.The substrate treating method of the wet cleaning apparatus according to the present invention comprises the steps of preparing a substrate in the
먼저, 반출입부(10)에 로딩된 풉으로부터 처리될 기판(W)을 세정준비부(20)에 준비시킨다. 전술한 바와 같이 세정준비부(20)에는 덤핑로봇(22), 푸셔유닛(24) 및 버퍼유닛(26)이 제공될 수 있으며, 처리될 기판은 덤핑로봇(22)에 의해 풉으로부터 인출된 후 푸셔유닛(24)을 거쳐 버퍼유닛(26)에서 대기될 수 있다.First, the substrate W to be processed is prepared in the
다음, 준비된 기판을 지지유닛(40)을 통해 지지한다.Next, the prepared substrate is supported through the
다음, 회전세정처리부(30)를 회전시키며 지지된 기판을 일련의 순서대로 처리한다. 전술한 바와 같이 회전세정처리부(30)는 회전세정처리부(30)의 회전 중심을 기준으로 동일 반경 상에 배치되는 복수개의 처리조를 포함하여 제공될 수 있으며, 회전세정처리부(30)가 회전함에 따라 기판은 처리조를 통해 순차적으로 처리될 수 있다.Next, the rotational
아울러, 상기 지지유닛(40)은 회전세정처리부(30)가 회전하는 동안에는 기판을 지지한 상태로 상부로 이송될 수 있고, 회전세정처리부(30)가 계획된 특정 처리 위치로 회전이 완료된 후에는 기판을 지지한 상태로 하강하며 기판이 처리조 내부에 수용될 수 있게 한다.In addition, the
이와 같이 기판을 별도로 이송할 필요없이 회전하는 회전세정처리부(30)에 의해 기판이 일련의 순서대로 세정 처리될 수 있는 바, 이와 같은 방식은 기판의 처리 시간을 단축하고 스루풋을 향상시킬 수 있게 한다. 더욱이 회전세정처리부(30)의 각 처리조를 따라 기판을 별도로 이송할 필요 없기 때문에 이송장치를 이송하기 위한 별도의 이송로를 배제할 수 있으며, 장비를 보다 간소화할 수 있고, 공간활용성 및 설계자유도를 향상시킬 수 있다.As described above, the substrate may be cleaned in a series of orders by the rotating
그 후, 처리 완료된 기판은 다시 풉에 수납될 수 있으며 반출입부(10)로부터 언로딩될 수 있다.Thereafter, the processed substrate may be stored in the pool again and unloaded from the carrying-out
상술한 바와 같이, 본 발명의 바람직한 실시예를 참조하여 설명하였지만 해당 기술분야의 숙련된 당업자라면 하기의 청구범위에 기재된 본 발명의 사상 및 영역으로부터 벗어나지 않는 범위 내에서 본 발명을 다양하게 수정 및 변경시킬 수 있음을 이해할 수 있을 것이다.As described above, although described with reference to the preferred embodiment of the present invention, those skilled in the art various modifications and variations of the present invention without departing from the spirit and scope of the invention described in the claims below I can understand that you can.
도 1은 본 발명에 따른 습식세정장치의 구조를 도시한 도면이다.1 is a view showing the structure of a wet cleaning apparatus according to the present invention.
도 2는 본 발명에 따른 습식세정장치로서, 회전세정처리부의 구조를 도시한 도면이다.FIG. 2 is a view illustrating a structure of a rotational cleaning unit as a wet cleaning device according to the present invention.
<도면의 주요부분에 대한 부호의 설명><Description of the symbols for the main parts of the drawings>
10 : 반출입부 20 : 세정준비부10: carrying in / out part 20: cleaning preparation part
30 : 회전세정처리부 40 : 지지유닛30: rotary cleaning processing unit 40: support unit
Claims (5)
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020070122339A KR100930823B1 (en) | 2007-11-28 | 2007-11-28 | Wet cleaning device and substrate processing method |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020070122339A KR100930823B1 (en) | 2007-11-28 | 2007-11-28 | Wet cleaning device and substrate processing method |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR20090055423A KR20090055423A (en) | 2009-06-02 |
KR100930823B1 true KR100930823B1 (en) | 2009-12-10 |
Family
ID=40987091
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1020070122339A KR100930823B1 (en) | 2007-11-28 | 2007-11-28 | Wet cleaning device and substrate processing method |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
KR (1) | KR100930823B1 (en) |
Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR20180083142A (en) * | 2017-01-12 | 2018-07-20 | 주식회사 스탠드팩 | Disposable nursing bottle vynyl pack having function of powdered milk pack |
Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR20060075086A (en) * | 2004-12-28 | 2006-07-04 | 동부일렉트로닉스 주식회사 | Wet cleaning system |
-
2007
- 2007-11-28 KR KR1020070122339A patent/KR100930823B1/en active IP Right Grant
Patent Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR20060075086A (en) * | 2004-12-28 | 2006-07-04 | 동부일렉트로닉스 주식회사 | Wet cleaning system |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
KR20090055423A (en) | 2009-06-02 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US7849864B2 (en) | Liquid processing system | |
JP4033689B2 (en) | Liquid processing apparatus and liquid processing method | |
TWI385747B (en) | A substrate processing apparatus and a substrate transfer method | |
TW202117821A (en) | Substrate processing system, and substrate processing method | |
JP2010050458A (en) | Substrate processing apparatus and substrate transfer method | |
JP2023155280A (en) | Substrate processing system and substrate processing method | |
JP4401285B2 (en) | Substrate processing equipment | |
KR20180066841A (en) | Substrate processing apparatus | |
KR20130122503A (en) | Apparatus and method fdr cleaning substrates | |
JP2006261546A (en) | Substrate processing equipment | |
KR100920323B1 (en) | Wet station and method for treating substrate | |
KR100930823B1 (en) | Wet cleaning device and substrate processing method | |
JP2002134588A (en) | Substrate conveying and processing apparatus | |
KR20140084733A (en) | Apparatus and method fdr treating substrates | |
JP4319510B2 (en) | Heat treatment apparatus and heat treatment method | |
KR100872995B1 (en) | Apparatus for treating substrate, and method for treating substrate using the same | |
KR100921638B1 (en) | Wet station | |
JP5911682B2 (en) | Tank carrier and substrate processing apparatus | |
KR100921637B1 (en) | Buffer unit and method for treating substrate | |
KR20090055422A (en) | Wet station and method for treating substrate | |
JP2000114228A (en) | Device and system for treating substrate | |
JP3035436B2 (en) | Substrate processing equipment | |
JPH05144795A (en) | Cleaning method | |
KR20100024220A (en) | Substrate processing apparatus and method for transferring substrate of the same | |
JPH10340875A (en) | Treatment equipment and treatment method |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A201 | Request for examination | ||
E902 | Notification of reason for refusal | ||
E90F | Notification of reason for final refusal | ||
E701 | Decision to grant or registration of patent right | ||
GRNT | Written decision to grant | ||
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20121011 Year of fee payment: 4 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20130910 Year of fee payment: 5 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20140902 Year of fee payment: 6 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20151023 Year of fee payment: 7 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20171116 Year of fee payment: 9 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20181002 Year of fee payment: 10 |