KR100927634B1 - Method for manufacturing multi-gate nanotube device and device - Google Patents

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Abstract

본 발명은 멀티 게이트 나노튜브 소자의 제조 방법 및 그 소자에 관한 것으로, 특히 도핑된 폴리 게이트들에 전기장을 인가하는 방법을 통해 신뢰성이 있으며 재현 가능한 터널링 장벽 형성이 가능할 뿐만 아니라, 종래의 CMOS기술을 접목하여 기존 생산 공정의 획기적 변화 없이도 고집적 대량생산이 가능한 멀티 게이트 나노튜브 소자의 제조 방법 및 그 소자에 관한 것이다.The present invention relates to a method for manufacturing a multi-gate nanotube device and a device thereof, and in particular, a method for forming a reliable and reproducible tunneling barrier by applying an electric field to doped poly gates, as well as using conventional CMOS technology. The present invention relates to a method for manufacturing a multi-gate nanotube device capable of highly integrated mass production without a drastic change in the existing production process and a device thereof.

이를 실현하기 위한 본 발명은 (a) 실리콘 웨이퍼를 정렬 공정(align-key) 후에 그 위에 도핑된 폴리실리콘을 적층한 뒤에 적어도 3개의 제1, 제2, 및 제3 게이트를 형성하는 단계; (b) 상기 각 게이트와 탄소 나노튜브와의 전기적 절연을 위해 웨이퍼 상에 층간 절연막을 형성하는 단계; (c) 상기 게이트와 수직 방향의 양단 또는 한쪽에 탄소 나노튜브의 원재료와 촉매를 기판상에 적층하는 준비 단계; (d) 원재료와 촉매의 반응에 의해 상기 원재료를 성장시켜 각 게이트와 교차되도록 탄소 나노튜브를 형성시켜 주는 단계; (e) 상기 탄소 나노튜브의 양단에 각각 소스와 드레인을 형성하는 단계; (f) 상기 소스와 드레인 그리고 각각의 게이트에 외부와 연결하기 위한 금속 패드를 형성하는 단계; 및 (g) 금속 패드를 형성한 뒤에 금속화 공정을 진행하는 단계;를 포함하는 것을 특징으로 한다.The present invention for realizing this comprises the steps of: (a) forming at least three first, second, and third gates after stacking doped polysilicon on a silicon wafer after an alignment-key; (b) forming an interlayer insulating film on the wafer for electrical insulation between each gate and carbon nanotubes; (c) preparing a raw material of carbon nanotubes and a catalyst on a substrate at both ends or one side in a direction perpendicular to the gate; (d) growing the raw materials by reacting the raw materials with the catalyst to form carbon nanotubes to cross each gate; (e) forming a source and a drain at both ends of the carbon nanotubes, respectively; (f) forming metal pads on the source and drain and respective gates for external connection; And (g) performing a metallization process after forming the metal pads.

탄소 나노튜브, 다중 게이트, 양자점, 단전자 소자, 전류표준, 양자전산, 큐빗, 카본 나노튜브, 퀀텀 게이트  Carbon nanotubes, multiple gates, quantum dots, single-electron devices, current standards, quantum computing, qubits, carbon nanotubes, quantum gates

Description

멀티 게이트 나노튜브 소자의 제조 방법 및 그 소자{Fabrication Method for Multi-Gate Carbon Nanotube Device and the Device threof}Fabrication Method for Multi-Gate Carbon Nanotube Device and the Device threof

본 발명은 멀티 게이트 나노튜브 소자 및 그 제조 방법에 관한 것으로, 특히 도핑된 폴리 게이트들에 전기장을 인가하는 방법을 통해 신뢰성이 있으며 재현 가능한 터널링 장벽 형성이 가능할 뿐만 아니라, 종래의 CMOS기술을 접목하여 기존 생산 공정의 획기적 변화 없이도 고집적 대량생산이 가능한 멀티 게이트 나노튜브 소자 및 그 제조 방법에 관한 것이다.The present invention relates to a multi-gate nanotube device and a method for manufacturing the same. In particular, a method for applying a electric field to doped poly gates enables reliable and reproducible tunneling barrier formation, and also incorporates conventional CMOS technology. The present invention relates to a multi-gate nanotube device and a method for manufacturing the same, which can be integrated in high-volume mass production without significant changes in existing production processes.

탄소 나노튜브(Carbon Nanotube; CNT)는 현재 지구상에 존재하는 탄소 동소체로서, 하나의 탄소가 다른 탄소원자와 육각형 벌집무늬로 결합되어 튜브형태를 이루고 있는 물질을 말한다. 특히, 탄소 나노튜브는 우수한 기계적 특성, 전기적 선택성, 뛰어난 전계방출 특성 및 고효율의 수소저장매체 특성 등을 지니며 현존하는 물질중 결함이 거의 없는 완벽한 신소재로 알려져 있다. 이러한 탄소 나노튜브의 합성 방법으로는 전기방전법, 열분해법, 레이저증착법, 플라즈마 화학 기상 증착법, 열화학기상증착법, 전기분해방법, 플레임 합성방법 등을 들 수 있다.Carbon Nanotube (CNT) is a carbon allotrope present on earth, and refers to a material in which one carbon is combined with another carbon atom in a hexagonal honeycomb pattern to form a tube. In particular, carbon nanotubes are known to be a perfect new material having excellent mechanical properties, electrical selectivity, excellent field emission characteristics, high efficiency hydrogen storage medium properties, and few defects among existing materials. Examples of the method for synthesizing such carbon nanotubes include electric discharge, thermal decomposition, laser deposition, plasma chemical vapor deposition, thermochemical vapor deposition, electrolysis, flame synthesis, and the like.

그 응용 분야에 있어서도, 항공우주, 생명공학, 환경에너지, 재료산업, 의약의료, 전자컴퓨터, 보안안전, 과학교육 등 거의 모든 분야에 걸쳐 응용되고 있는 실정이다.In the application field, it is applied to almost all fields such as aerospace, biotechnology, environmental energy, material industry, medicine, electronic computer, security and safety, and science education.

특히, 탄소 나노튜브는, 반도체 분야에서, 하나의 소자로서 이용가능한 것으로, 그 대표적인 예로서 탄소 나노튜브를 전자 방출원으로 이용한 탄소 나노튜브 FED(Field Emission Display) 및 탄소 나노튜브 메모리 소자를 들 수 있다. 이러한 전통적인 전자소자 외에 탄소 나노튜브의 양자역학적 특성을 이용한 새로운 개념의 전자소자는 미래 정보통신 기술의 핵심요소로 인식되고 있으며 이에 대한 관심이 집중되고 있다. 또한, 탄소 나노튜브는, 일반적으로 나노미터 정도 크기의 미소영역에서 일어나는 양자역학적 전도 특성이 수십 마이크로 크기의 영역에까지 나타나기 때문에, 탄소 나노튜브의 양자역학적 전도특성을 전자소자에 응용하려는 연구가 전 세계적으로 활발히 진행중이다.In particular, carbon nanotubes, which can be used as a device in the semiconductor field, include, for example, carbon nanotubes FED (Field Emission Display) and carbon nanotube memory devices using carbon nanotubes as electron emission sources. have. In addition to these traditional electronic devices, a new concept of electronic devices using the quantum mechanical properties of carbon nanotubes is recognized as a key element of future information and communication technology, and attention has been focused on this. In addition, since carbon nanotubes generally exhibit quantum mechanical conduction characteristics occurring in the microscopic region of about nanometers in the region of several tens of micrometers, researches for applying the quantum mechanical conduction characteristics of carbon nanotubes to electronic devices have been conducted worldwide. Actively underway.

이러한 탄소 나노튜브의 응용은 크게 두 가지로 대별된다. 첫번째 응용 방향은, 현재 단일 소자로서, 예를 들어, 전계효과 소자 (Field-Effect Transistor, FET), 단전자 소자(Single-Electron Transistor; SET), 이종접합 다이오드/소자(Heterojunction Diode/Transistor; RTD/RTT)등의 단일 소자를 수~수십개의 FET 형태로 집적하여 로직의 연산 및 메모리 셀을 제작하는 것이다. 두 번째 응용 방향은, 탄소 나노튜브의 양자역학적 전도 특성을 이용한 새로운 개념의 전자 소자를 구현하는 것이다. 그 대표적인 예가 탄소 나노튜브를 이용한 전하 큐 빗(qubit=quantum bit의 약자)소자와 스핀 제어소자로서 현재 활발한 연구가 진행되고 있다.There are two major applications of such carbon nanotubes. The first application direction is currently as a single device, for example, a field-effect transistor (FET), a single-electron transistor (SET), a heterojunction diode / transistor (RTD). / RTT) to integrate a single device in the form of dozens to dozens of FETs to fabricate logic operations and memory cells. The second application direction is to realize a new concept of electronic devices using the quantum mechanical conduction properties of carbon nanotubes. Representative examples are charge cubit devices (abbreviations of qubit = quantum bit) devices and spin control devices using carbon nanotubes.

특히, 양자역학적 전도 특성을 이용한 고집적, 대용량 전류 표준기 및 큐빗소자의 실현을 위해서는 탄소 나노튜브의 위치 및 성장방향의 제어가 필수적이다. In particular, the control of the position and growth direction of the carbon nanotubes is essential for the realization of highly integrated, high-capacity current standards and qubit devices using quantum mechanical conduction.

이러한 두 가지의 기술적 장벽 중 탄소 나노튜브(CNT)의 소스가 되는 카탈리스트의 위치 제어는 전자빔 리소그래피와 리프트오프방식을 조합하는 방식이 일반적으로 이용되고 있다. 또한, 성장 방향 제어는 탄소 나노튜브(CNT)의 성장 및 도포시에 적절한 전기장 및 자기장을 가하여 방향성을 제어하는 방안이 제시되고 있다.Among these two technical barriers, a combination of electron beam lithography and a lift-off method is generally used to control the position of the catalyst which is the source of carbon nanotubes (CNT). In addition, growth direction control has been proposed to control the direction by applying an appropriate electric and magnetic fields during the growth and coating of carbon nanotubes (CNT).

이와 더불어 탄소 나노튜브를 N개의 양자점 기반의 전류 표준기 및 큐빗소자에 적용하기 위해서는 신뢰성이 있고, 재현 가능한 N+1개의 터널 장벽의 형성이 필수적이다. 현재 CNT에 터널링 장벽을 형성하는 기술은 국소 도핑방법과 AFM에 의한 방법 그리고 CNT 성장시의 자연발생적인 킹크(kink)를 이용하는 방법 등이 제시되고 있다.In addition, the formation of reliable and reproducible N + 1 tunnel barriers is essential for applying carbon nanotubes to N quantum dot-based current standards and qubit devices. Currently, techniques for forming tunneling barriers in CNTs have been proposed by local doping, AFM, and the use of naturally occurring kinks during CNT growth.

그러나, 종래의 탄소 나노튜브(CNT)에 터널링 장벽을 형성하는 방법의 경우 다음과 같은 문제가 있다.However, the conventional method of forming a tunneling barrier on carbon nanotubes (CNT) has the following problems.

1) 국소 도핑방법은 나노 리소그래피를 응용 하여 위치제어는 가능하나, 탄소 나 노튜브(CNT)의 내부구조를 파괴하여 저항을 발생시키므로 추후에 각각의 터널접합의 독립적인 조절이 불가능하다. 또한, 기본적으로 전자빔 리소그래피를 응용하므로 수율이 떨어지는 단점이 있다.1) Local doping method is possible to control position by applying nano lithography, but it breaks the internal structure of carbon nanotubes (CNT) to generate resistance, so it is impossible to independently control each tunnel junction later. In addition, since electron beam lithography is basically applied, there is a disadvantage in that the yield is low.

2) AFM을 이용한 방법은 좀더 명확한 위치제어 및 터널접합을 형성시킬 수 있는 장점이 있으나 이 역시 수율면에서는 매우 불리한 단점을 가지고 있는 실정이다.2) The method using AFM has the advantage of forming more precise position control and tunnel junction, but it also has a disadvantage in terms of yield.

이를 해결하기 위한 본 발명에 따른 멀티 게이트 탄소 나노튜브 소자의 제조 방법은,Method for manufacturing a multi-gate carbon nanotube device according to the present invention for solving this problem,

(a) 실리콘 웨이퍼를 정렬 공정(align-key) 후에 그 위에 도핑된 폴리실리콘을 적층한 뒤에 적어도 3개의 제1, 제2, 및 제3 게이트를 형성하는 단계;(a) forming at least three first, second, and third gates after stacking the doped polysilicon on the silicon wafer after the alignment-key;

(b) 상기 각 게이트와 탄소 나노튜브와의 전기적 절연을 위해 웨이퍼 상에 층간 절연막을 형성하는 단계;(b) forming an interlayer insulating film on the wafer for electrical insulation between each gate and carbon nanotubes;

(c) 상기 게이트와 수직 방향의 양단 또는 한쪽에 탄소 나노튜브의 원재료와 촉매를 기판상에 적층하는 준비 단계;(c) preparing a raw material of carbon nanotubes and a catalyst on a substrate at both ends or one side in a direction perpendicular to the gate;

(d) 상기 촉매가 상기 원재료와 반응하여 상기 원재료를 성장시켜 각 게이트와 교차되도록 탄소 나노튜브를 형성시켜 주는 단계;(d) reacting the catalyst with the raw material to grow the raw material to form carbon nanotubes to cross each gate;

(e) 상기 탄소 나노튜브의 양단에 각각 소스와 드레인을 형성하는 단계; (e) forming a source and a drain at both ends of the carbon nanotubes, respectively;

(f) 상기 소스와 드레인 그리고 각각의 게이트에 외부와 연결하기 위한 금속 패드를 형성하는 단계; 및(f) forming metal pads on the source and drain and respective gates for external connection; And

(g) 금속 패드를 형성한 뒤에 금속화 공정을 진행하는 단계;를 포함하여 이 루어진 것을 특징으로 한다.(g) performing a metallization process after the metal pad is formed.

또한, 게이트 형성 단계(a)는 형성하고자 하는 양자점의 갯수(N)에 따라 게이트의 갯수를 (N+1)개 형성하여, 다중 양자점을 형성할 수 있는 것을 특징으로 한다.In the gate forming step (a), the number of gates is formed (N + 1) according to the number N of quantum dots to be formed, thereby forming multiple quantum dots.

또한, 게이트 형성 단계(a)는 전자선 직접 묘화법, FIB 또는 포토리소그래피법을 이용하여 각각의 게이트를 형성하는 것을 특징으로 한다.In addition, the gate forming step (a) is characterized in that each gate is formed by using an electron beam direct drawing method, an FIB, or a photolithography method.

또한, 층간 절연막 형성 단계(b)는 열산화막 또는 CVD 옥사이드막인 것을 특징으로 한다.In addition, the interlayer insulating film forming step (b) is characterized in that the thermal oxide film or CVD oxide film.

또한, 적층하는 준비 단계(c)는 재질이 철(Fe)카탈리스트, 니켈(Ni), 코발트(Co), 팔라듐(Pd) 중에서 선택된 어느 하나인 것을 특징으로 한다.In addition, the preparation step (c) for laminating is characterized in that the material is any one selected from iron (Fe), nickel (Ni), cobalt (Co), palladium (Pd).

또한, 적층하는 준비 단계(c)는 리소그래피 또는 리프트오프 방식으로 형성하는 것을 특징으로 한다.In addition, the preparing step (c) for lamination is characterized in that formed by lithography or lift-off method.

또한, 형성시켜 주는 단계(d)는 메탄 가스 분위기에서 섭씨 900℃의 고온하에서 이루어지는 화학기상법으로 형성되는 것을 특징으로 한다.In addition, the forming step (d) is characterized in that it is formed by a chemical gas phase method made under a high temperature of 900 ℃ in a methane gas atmosphere.

또한, 금속 패드 형성 단계(f)는 전자빔 리소그래피 또는 포토 리소그래피 방법으로 형성하는 것을 특징으로 한다.In addition, the metal pad forming step (f) is characterized by forming by electron beam lithography or photo lithography.

한편, 본 발명에 따른 멀티 게이트 탄소 나노튜브 소자는 상술한 방법에 의하여 제조되는 것을 특징으로 한다.On the other hand, the multi-gate carbon nanotube device according to the invention is characterized in that it is manufactured by the method described above.

본 발명에 따르면, 다음과 같은 효과가 있다.According to the present invention, the following effects are obtained.

1) 양자점을 형성하는데 있어서 종래에 널리 알려진 전자빔 리소그래피법이나 리프트 오프방식을 채택하기 때문에 기존 방식에 비해 신뢰성 및 재현성에서 유리하다.1) Since the electron beam lithography method or the lift-off method widely known in the art is adopted in forming the quantum dots, it is advantageous in reliability and reproducibility compared with the conventional method.

2) 재질에 있어서도 종래의 소자와 동일한 재질을 사용하기 때문에 종래의 CMOS 공정으로 제조하는 것이 가능하며, 전류 표준기나 탄소 나노튜브 전도 채널을 이용한 양자 게이트 소자의 대규모 집적화가 용이하다.2) Since the same material as that of the conventional device is used, the material can be manufactured by a conventional CMOS process, and large scale integration of the quantum gate device using a current standard or a carbon nanotube conduction channel is easy.

3) 필요에 따라 다중 측면 게이트의 갯수나 배치에 따른 유연성 및 확장성으로 인해 다중 양자 비트의 연산 및 단일 전자 로직 소자로서 더욱 쉽게 구현할 수 있는 효과가 있다.3) Flexibility and scalability depending on the number or placement of multiple side gates as needed, making it easier to implement multiple quantum bits as a single electronic logic device.

이하, 첨부도면을 참조하여 본 발명의 구성 및 작용에 대하여 설명하면 다음과 같다.Hereinafter, with reference to the accompanying drawings, the configuration and operation of the present invention will be described.

여기서, 도면부호 10은 기판을 나타내며, 실리콘 기판 뿐만 아니라 통상의 반도체 제조에 사용되는 기판을 의미한다. 또한, 첨부도면은 본 발명에 따른 실시예를 설명하기 위하여 기판(10)의 일부, 즉 단위 소자만을 보여주기 위한 사시도이다.Here, reference numeral 10 denotes a substrate, which means not only a silicon substrate but also a substrate used for manufacturing a conventional semiconductor. In addition, the accompanying drawings are perspective views for showing only part of the substrate 10, that is, unit elements in order to explain the embodiment according to the present invention.

본 발명에 따른 멀티 게이트 탄소 나노튜브 소자의 제조 방법은 먼저, 기판(10) 상에 게이트를 형성하는 단계를 거치게 된다. 이때, 기판(10)은 정렬 공정(align-key)을 하여 형성하고자 하는 패턴과 일치시키는 공정을 거치게 된다. 그 다음에, 상기 기판(10) 위에 폴리 실리콘을 도핑하여 원하는 갯수만큼의 게이트를 형성하게 된다.In the method of manufacturing a multi-gate carbon nanotube device according to the present invention, first, a gate is formed on a substrate 10. At this time, the substrate 10 is subjected to a process of matching the pattern to be formed by performing an alignment process (align-key). Then, polysilicon is doped on the substrate 10 to form as many gates as desired.

이때, 상기 폴리 실리콘(14)은 산화막의 기능을 하며, 그 두께를 수십 나노미터로 적층하게 되며, 전자선 직접 묘화법(electron-beam direct writing)이나 FIB(Focused Ion Beam) 또는 포토리소그래피법(Photo Lithography)으로 게이트(11,12,13)를 형성하는 것이 바람직하다. 이러한 종래의 제조 방법으로 넓이와 간격이 각각 수십 나노미터의 게이트를 형성하는 것이 가능하게 된다.At this time, the polysilicon 14 functions as an oxide film, and the thickness thereof is laminated to several tens of nanometers, and is used for electron-beam direct writing, focal-on ion beam, or photolithography. It is preferable to form the gates 11, 12, 13 by lithography. Such a conventional manufacturing method makes it possible to form a gate of several tens of nanometers in width and spacing, respectively.

특히, 본 발명의 바람직한 구현예에서, 상기 게이트는 도 1에서 도시한 바와 같이, 2개를 형성하여 그 사이에 하나의 양자점을 가지도록 형성하는 것도 가능하나, 본 발명에서와 같이 다중 양자점을 가지도록 하기 위해서는 적어도 3개의 게이트(11,12,13)를 형성하여 적어도 2개의 양자점이 형성되도록 게이트를 형성하게 된다.In particular, in the preferred embodiment of the present invention, as shown in Figure 1, it is also possible to form two to have one quantum dot between, as shown in Figure 1, but having multiple quantum dots as in the present invention In order to achieve this, at least three gates 11, 12, and 13 are formed to form at least two quantum dots.

또한, 본 발명의 바람직한 구현예에서는, 상기 게이트가 3개인 경우, 즉 2개의 양자점이 형성되는 경우를 예로 들어 설명하고 있으나, 양자점의 갯수(N)에 따라서 게이트의 갯수(N+1)를 임의로 정하여 형성하는 것도 가능하다.In addition, in the preferred embodiment of the present invention, a case in which the gate is three, that is, the case where two quantum dots are formed is described as an example, but the number of gates (N + 1) according to the number of quantum dots (N) arbitrarily It is also possible to determine and form.

또한, 상기 게이트는 제 1 및 제 3 게이트(11,13)가 서로 동일한 형태로 나란하게 위치하도록 형성하고, 제 2 게이트(12)는 상기 제 1 및 제 3 게이트(11,13)와 대칭인 형태로 그 사이에 위치하도록 형성하여 설치 공간을 줄여 집적도를 높일 수 있게 하는 것이 바람직하다.In addition, the gate is formed such that the first and third gates 11 and 13 are located in parallel with each other in the same shape, and the second gate 12 is symmetrical with the first and third gates 11 and 13. It is desirable to form so as to be positioned between them to reduce the installation space to increase the degree of integration.

이어, 상기 기판(10) 상에 층간 절연막(20)을 형성하는 단계를 거치게 된다. 층간 절연막(20)은 상기 각 게이트(11,12,13) 사이에서 전기적으로 절연 효과를 얻기 위한 것으로, 본 발명의 바람직한 구현예에서는 열산화막(thermal oxidation) 또는 CVD 옥사이드막을 상기 기판(10) 상에, 첨부도면 도 2에서 도시한 바와 같이, 형성하게 된다.Subsequently, an interlayer insulating film 20 is formed on the substrate 10. The interlayer insulating film 20 is to obtain an electrically insulating effect between each of the gates 11, 12, and 13. In a preferred embodiment of the present invention, a thermal oxidation or CVD oxide film is formed on the substrate 10. In addition, as shown in FIG. 2, it forms.

특히, 상기 층간 절연막(20)의 형성으로 인하여 도핑된 폴리 실리콘(14)의 열처리 효과 뿐만 아니라 도판트(dopant)들의 재결정화로 인하여 게이트(11,12,13)의 전기적 특성을 개선할 수 있게 된다.In particular, due to the formation of the interlayer insulating film 20, the electrical properties of the gates 11, 12, and 13 may be improved due to the recrystallization of the dopants as well as the heat treatment effect of the doped polysilicon 14. .

이어, 탄소 나노튜브를 형성하기 위해 탄소 나노튜브의 원재료와 촉매(30)를 기판(10) 상에 적층하는 단계를 거치게 된다. 본 발명의 바람직한 구현예에서, 상기 촉매(30)는 철(Fe)카탈리스트, 니켈(Ni), 코발트(Co), 팔라듐(Pd) 등의 재질이 이용될 수 있으나 본 출원에서는 철(Fe)카탈리스트를 한 예시로서 사용하였다.Subsequently, the raw material of carbon nanotubes and the catalyst 30 are laminated on the substrate 10 to form carbon nanotubes. In a preferred embodiment of the present invention, the catalyst 30 may be used a material such as iron (Fe), nickel (Ni), cobalt (Co), palladium (Pd), but in the present application iron (Fe) catalyst Was used as an example.

또한, 본 발명의 바람직한 구현예에서, 상기 원재료 및 촉매(30)는 게이트(11,12,13)와 수직 방향의 양단이나 한쪽에 전자빔 리소그래피 또는 리프트오프 방식으로 형성하는 것이 바람직하다. 도 3에서는 상기 원재료 및 촉매(30)가 게이트(11,12,13)의 한쪽에 형성된 예를 보여주고 있다.In addition, in a preferred embodiment of the present invention, the raw material and the catalyst 30 is preferably formed at the both ends or one side of the gate (11, 12, 13) in the vertical direction by electron beam lithography or lift-off method. 3 shows an example in which the raw material and the catalyst 30 are formed on one side of the gates 11, 12, 13.

다음 공정으로서, 원재료과 촉매(30)의 촉매반응에 의해 상기 기판(10) 상에 적층된 원재료를 성장시켜 탄소 나노튜브(40)를 형성하게 된다. 탄소 나노튜브(40)는 성장 온도를 섭씨 900℃로 하여 화학 기상 증착법으로 성장시켜 형성한다.As a next step, the carbon nanotubes 40 are formed by growing raw materials stacked on the substrate 10 by the catalytic reaction between the raw materials and the catalyst 30. The carbon nanotubes 40 are formed by growing by chemical vapor deposition at a growth temperature of 900 ° C.

본 발명의 바람직한 구현예에서, 상기 탄소 나노튜브(40)는 탄소 나노튜브를 다중으로 겹쳐서 형성된 다중벽(Multi Wall) 탄소나노튜브인 것을 사용할 수 있으나, 가장 바람직하기로는 단일벽(Single Wall) 탄소 나노튜브 형태로 형성하는 것이 바람직하다.In a preferred embodiment of the present invention, the carbon nanotubes 40 may be a multi-walled carbon nanotubes formed by overlapping the carbon nanotubes in multiple, but most preferably single-walled carbon It is preferable to form in the form of nanotubes.

또한, 본 발명의 바람직한 구현예에서는 첨부도면 도 4에서 도시한 바와 같이, 상기 게이트(11,12,13)와 교차되도록 형성하는 것이 바람직하다. In addition, in a preferred embodiment of the present invention, as shown in the accompanying drawings, it is preferable to form to cross the gate (11, 12, 13).

이어, 외부로부터 전원을 공급할 수 있도록 소스(50)와 드레인(60)을 형성하는 단계를 거치게 된다. 여기서, 소스(50)와 드레인(60)은 각각 탄소 나노튜브(40)의 양단에 형성하여 전도 채널로 사용하는 경우 프로브에 해당하게 된다.Subsequently, the source 50 and the drain 60 are formed to supply power from the outside. Here, the source 50 and the drain 60 are formed at both ends of the carbon nanotubes 40, respectively, and correspond to the probe when used as a conductive channel.

소스(50)와 드레인(60)의 형성 단계를 끝내고 나면, 이들 소스(50)와 드레인(60) 그리고 상기 게이트(11,12,13)의 상면에 각각 금속 패드(70)를 형성하는 단계를 거치게 된다.After completing the steps of forming the source 50 and the drain 60, forming the metal pads 70 on the top surfaces of the source 50 and the drain 60 and the gates 11, 12, 13, respectively. Going through.

여기서, 상기 금속 패드(70)는 이들 소스(50)와 드레인(60)을 외부와 연결하기 위한 단자로서의 기능을 하기 위한 것으로, 도 5에서 도시한 바와 같이, 전자빔 리소그래피 또는 포토 리소그래피법으로 형성하게 된다.Here, the metal pad 70 serves as a terminal for connecting these sources 50 and drains 60 to the outside. As shown in FIG. 5, the metal pads 70 may be formed by electron beam lithography or photolithography. do.

마지막으로, 통상의 금속화 단계를 거쳐 본 발명에 따른 탄소 나노 소자의 제조를 마치게 된다. 여기서, 금속화 단계란 집적회로에서 소자와의 접촉(Ohmic, Schottky) 소자들 간의 연결(Interconnection), 칩과 외부 회로와의 연결의 세가지 기능을 갖고 있는 금속 박막의 형성 공정을 말한다.Finally, the production of carbon nanodevices according to the present invention is completed through a general metallization step. Here, the metallization step refers to a process of forming a metal thin film having three functions of interconnection between ohmic and schottky devices in an integrated circuit, and a connection between a chip and an external circuit.

이하, 첨부도면 도 6a와 도 6b를 참조하여 본 발명에 따른 멀티 게이트 탄소 나노튜브 소자의 작동에 필수적인 양자점의 형성 방법에 대하여 설명하면 다음과 같다.Hereinafter, a method of forming quantum dots essential to the operation of the multi-gate carbon nanotube device according to the present invention will be described with reference to FIGS. 6A and 6B.

먼저, p형 반도체의 특성을 보이는 탄소 나노튜브(40)의 양단에 형성된 드레인(60)에 수밀리볼트의 바이어스 전압을 가하여 홀에 의해 전류를 공급하고, 제1 및 제 3게이트(11,13)에 수십밀리볼트~수볼트의 양의 전압을 가해주게 된다.First, a current of several millivolts is applied to the drain 60 formed at both ends of the carbon nanotubes 40 showing the characteristics of the p-type semiconductor to supply current through the holes, and the first and third gates 11 and 13 are formed. ) To a positive voltage of tens of millivolts to several volts.

이에 따라, 전기적 척력에 의해 탄소 나노튜브(40)의 전도 체널의 홀이 제1 및 제3게이트(11,13)의 상부에서 고갈된다. 따라서, 도 6a에서 도시한 바와 같이, 이 고갈된 부근에 한쌍의 터널링 장벽(81,82)이 형성되면서 그 사이에 하나의 양자점(QD)이 형성된다.Accordingly, the holes of the conducting channel of the carbon nanotubes 40 are depleted at the top of the first and third gates 11 and 13 by electrical repulsive force. Thus, as shown in Fig. 6A, a pair of tunneling barriers 81 and 82 are formed in this depleted vicinity, and one quantum dot QD is formed therebetween.

이어, 첨부도면 6b를 참조하여 상기 양자점(QD)을 커플링된 2개의 양자점(QD1,QD2)으로 분리하는 방법을 살펴보면 다음과 같다.Next, a method of separating the quantum dot QD into two coupled quantum dots QD1 and QD2 will be described with reference to the accompanying drawings 6b.

우선, 상술한 방법과 동일한 방법으로 하나의 양자점(QD)을 형성한다. 이 어, 제2게이트(12)에 수십 밀리볼트~수볼트의 양의 전압을 인가하여 제2게이트(12) 부근의 홀을 원하는 크기만큼 고갈시켜 주게 되면, 제2게이트(12) 위에 터널링 장벽(83)이 형성되어 이 장벽(83)을 중심으로 좌우측에 각각의 양자점(QD1,QD2)이 형성된다.First, one quantum dot QD is formed by the same method as described above. Thus, when a positive voltage of several tens of millivolts to several volts is applied to the second gate 12 to deplete the hole near the second gate 12 by a desired size, a tunneling barrier is formed on the second gate 12. An 83 is formed so that the respective quantum dots QD1 and QD2 are formed on the left and right sides of the barrier 83.

따라서, 탄소 나노튜브를 이용한 나노 소자를 전류표준기나 2개 또는 다중 양자점을 기반으로 하는 스핀 큐빗 소자 및 단일 소자(Single Electron Transistor; SET)의 로직 회로를 구성할 수 있는 단위 소자를 얻을 수 있게 되는 것이다.Therefore, it is possible to obtain a unit device capable of constituting a nanocircuit using carbon nanotubes, a spin qubit device based on a current standard, or two or multiple quantum dots, and a logic circuit of a single device (SET). will be.

비록 본 발명이 상기 언급된 바람직한 실시예와 관련하여 설명되어졌지만, 발명의 요지와 범위로부터 벗어남이 없이 다양한 수정이나 변형을 하는 것이 가능하다. 따라서 첨부된 특허청구의 범위는 본 발명의 요지에서 속하는 이러한 수정이나 변형을 포함할 것이다.Although the present invention has been described in connection with the above-mentioned preferred embodiments, it is possible to make various modifications or variations without departing from the spirit and scope of the invention. Accordingly, the appended claims will cover such modifications and variations as fall within the spirit of the invention.

도 1은 본 발명에 따른 멀티 게이트 탄소 나노튜브 소자의 제조 방법에서 게이트의 형성 단계를 보여주는 일부 사시도.1 is a partial perspective view showing a step of forming a gate in a method of manufacturing a multi-gate carbon nanotube device according to the present invention.

도 2는 본 발명에 따른 멀티 게이트 탄소 나노튜브 소자의 제조 방법에서 층간 절연막의 형성 단계를 보여주는 일부 사시도.2 is a partial perspective view showing the step of forming an interlayer insulating film in the method of manufacturing a multi-gate carbon nanotube device according to the present invention.

도 3은 본 발명에 따른 멀티 게이트 탄소 나노튜브 소자의 제조 방법에서 탄소 나노튜브의 원재료 및 촉매를 적층한 상태를 보여주는 일부 사시도.Figure 3 is a partial perspective view showing a state in which the raw material and the catalyst of the carbon nanotube laminated in the method of manufacturing a multi-gate carbon nanotube device according to the present invention.

도 4는 본 발명에 따른 멀티 게이트 탄소 나노튜브 소자의 제조 방법에서 탄소 나노튜브의 형성단계를 보여주는 일부 사시도.4 is a partial perspective view showing a step of forming carbon nanotubes in the method of manufacturing a multi-gate carbon nanotube device according to the present invention.

도 5는 본 발명에 따른 멀티 게이트 탄소 나노튜브 소자의 제조 방법에서 소스와 드레인 그리고 금속 패드의 형성 단계를 보여주는 일부 사시도.FIG. 5 is a partial perspective view illustrating a step of forming a source, a drain, and a metal pad in a method of manufacturing a multi-gate carbon nanotube device according to the present invention. FIG.

도 6은 본 발명에 따른 멀티 게이트 탄소 나노튜브 소자의 양자점의 형성 방법을 설명하기 위한 단면도로,6 is a cross-sectional view illustrating a method of forming a quantum dot of a multi-gate carbon nanotube device according to the present invention.

도 6a는 탄소 나노튜브의 전도 채널에 하나의 양자점을 형성시킨 개념도이고,6A is a conceptual diagram in which one quantum dot is formed in a conductive channel of carbon nanotubes,

도 6b는 도 6a의 탄소 나노튜브의 전도 채널에 의해 형성된 하나의 양자점 중앙에 커플링된 이중 양자점을 형성시킨 개념도.FIG. 6B is a conceptual diagram of forming a double quantum dot coupled to the center of one quantum dot formed by the conduction channel of the carbon nanotubes of FIG. 6A.

<도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명><Explanation of symbols for the main parts of the drawings>

10 : 기판10: substrate

11, 12, 13 : 게이트11, 12, 13: Gate

14 : 폴리 실리콘14: polysilicon

20 : 층간 절연막20: interlayer insulation film

30 : 촉매30: catalyst

40 : 탄소 나노튜브40: carbon nanotube

50 : 소스50: source

60 : 드레인60: drain

70 : 금속 패드70: metal pad

81, 82, 83 : 터널링 장벽81, 82, 83: tunneling barrier

QD, QD1, QD2 : 양자점QD, QD1, QD2: Quantum Dots

Claims (10)

(a) 실리콘 웨이퍼를 정렬 공정 후 그 위에 도핑된 폴리실리콘을 적층한 뒤에 적어도 3개의 제1, 제2, 및 제3 게이트를 형성하는 단계;(a) forming at least three first, second, and third gates after aligning the silicon wafer and stacking the doped polysilicon thereon; (b) 상기 각 게이트와 탄소 나노튜브와의 전기적 절연을 위해 웨이퍼 상에 층간 절연막을 형성하는 단계;(b) forming an interlayer insulating film on the wafer for electrical insulation between each gate and carbon nanotubes; (c) 상기 게이트와 수직 방향의 양단 또는 한쪽에 탄소 나노튜브의 원재료 및 촉매를 기판상에 적층하는 준비 단계;(c) preparing a raw material of carbon nanotubes and a catalyst on a substrate at both ends or one side of the gate in a direction perpendicular to the gate; (d) 상기 촉매와 상기 원재료의 반응에 의하여 상기 원재료를 성장시켜 각 게이트와 교차되도록 탄소 나노튜브를 형성하는 단계;(d) growing the raw materials by reacting the catalyst with the raw materials to form carbon nanotubes to cross each gate; (e) 상기 탄소 나노튜브의 양단에 각각 소스와 드레인을 형성하는 단계; (e) forming a source and a drain at both ends of the carbon nanotubes, respectively; (f) 상기 소스와 드레인 그리고 각각의 게이트에 외부와 연결하기 위한 금속 패드를 형성하는 단계; 및(f) forming metal pads on the source and drain and respective gates for external connection; And (g) 금속 패드를 형성한 뒤에 금속화 공정을 진행하는 단계;를 포함하여 이루어진 것을 특징으로 하는 멀티 게이트 탄소 나노튜브 소자의 제조 방법.(g) performing a metallization process after forming the metal pads. 제 1 항에 있어서,The method of claim 1, 상기 게이트 형성 단계(a)는 형성하고자 하는 양자점의 갯수(N)에 따라 게이트의 갯수를 (N+1)개 형성하여, 다중 양자점을 형성할 수 있는 것을 특징으로 하는 멀티 게이트 탄소 나노튜브 소자의 제조 방법.In the gate forming step (a), the number of gates (N + 1) is formed according to the number N of quantum dots to be formed, thereby forming multiple quantum dots. Manufacturing method. 제 1 항 또는 제 2 항에 있어서,The method according to claim 1 or 2, 상기 게이트 형성 단계(a)는 전자선 직접 묘화법, FIB 또는 포토리소그래피법을 이용하여 각각의 게이트를 형성하는 것을 특징으로 하는 멀티 게이트 탄소 나노튜브 소자의 제조 방법.The gate forming step (a) is a method of manufacturing a multi-gate carbon nanotube device, characterized in that each gate is formed by using an electron beam direct drawing method, FIB or photolithography method. 제 1 항에 있어서,The method of claim 1, 상기 층간 절연막 형성 단계(b)에서,In the step (b) of forming the interlayer insulating film, 상기 층간 절연막은 열산화막 또는 CVD 옥사이드막인 것을 특징으로 하는 멀티 게이트 탄소 나노튜브 소자의 제조 방법.The interlayer insulating film is a method of manufacturing a multi-gate carbon nanotube device, characterized in that the thermal oxide film or CVD oxide film. 제 1 항에 있어서,The method of claim 1, 상기 촉매는 철(Fe)카탈리스트, 니켈(Ni), 코발트(Co), 팔라듐(Pd) 중에서 선택된 어느 하나인 것을 특징으로 하는 멀티 게이트 탄소 나노튜브 소자의 제조 방법.The catalyst is a method of manufacturing a multi-gate carbon nanotube device, characterized in that any one selected from iron (Fe), nickel (Ni), cobalt (Co), palladium (Pd). 제 1 항 또는 제 5 항에 있어서,The method according to claim 1 or 5, 상기 원재료 및 상기 촉매는 리소그래피 또는 리프트오프 방식으로 상기 기판 상에 적층되는 것을 특징으로 하는 멀티 게이트 탄소 나노튜브 소자의 제조 방법.And said raw material and said catalyst are deposited on said substrate in a lithographic or lift-off manner. 제 6 항에 있어서,The method of claim 6, 상기 형성 단계(d)에서는 단일벽 탄소 나노튜브를 형성하는 것을 특징으로 하는 멀티 게이트 탄소 나노튜브 소자의 제조 방법.The forming step (d) is a method of manufacturing a multi-gate carbon nanotube device, characterized in that to form a single-walled carbon nanotubes. 제 1 항에 있어서,The method of claim 1, 상기 형성 단계(d)는 메탄 가스 분위기에서 900℃의 고온하에서 이루어지는 화학기상법으로 형성되는 것을 특징으로 하는 멀티 게이트 탄소 나노튜브 소자의 제조 방법.The forming step (d) is a method of manufacturing a multi-gate carbon nanotube device, characterized in that formed by a chemical vapor deposition at a high temperature of 900 ℃ in a methane gas atmosphere. 제 1 항에 있어서,The method of claim 1, 상기 금속 패드 형성 단계(f)는 전자빔 리소그래피 또는 포토 리소그래피 방법으로 형성하는 것을 특징으로 하는 멀티 게이트 탄소 나노튜브 소자의 제조 방법.The metal pad forming step (f) is a method of manufacturing a multi-gate carbon nanotube device, characterized in that formed by electron beam lithography or photo lithography. 제 1 항 또는 제 9 항의 어느 한 가지 방법에 의하여 제조된 것을 특징으로 하는 멀티 게이트 탄소 나노튜브 소자.10. A multi-gate carbon nanotube device manufactured by any one of claims 1 to 9.
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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WO2019132883A1 (en) * 2017-12-27 2019-07-04 Intel Corporation Vertical transistor-based logic gate

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* Cited by examiner, † Cited by third party
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Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2004071654A (en) 2002-08-01 2004-03-04 Semiconductor Energy Lab Co Ltd Method of manufacturing carbon nanotube semiconductor device
JP2005285822A (en) 2004-03-26 2005-10-13 Fujitsu Ltd Semiconductor device and semiconductor sensor
KR20060125845A (en) * 2004-01-29 2006-12-06 인터내셔널 비지네스 머신즈 코포레이션 Vertical field effect transistors incorporating semiconducting nanotubes grown in a spacer-defined passage
US20070029612A1 (en) 2005-08-02 2007-02-08 Micron Technology, Inc. Scalable high performance carbon nanotube field effect transistor

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2004071654A (en) 2002-08-01 2004-03-04 Semiconductor Energy Lab Co Ltd Method of manufacturing carbon nanotube semiconductor device
KR20060125845A (en) * 2004-01-29 2006-12-06 인터내셔널 비지네스 머신즈 코포레이션 Vertical field effect transistors incorporating semiconducting nanotubes grown in a spacer-defined passage
JP2005285822A (en) 2004-03-26 2005-10-13 Fujitsu Ltd Semiconductor device and semiconductor sensor
US20070029612A1 (en) 2005-08-02 2007-02-08 Micron Technology, Inc. Scalable high performance carbon nanotube field effect transistor

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2019132883A1 (en) * 2017-12-27 2019-07-04 Intel Corporation Vertical transistor-based logic gate

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