KR100919622B1 - Distance sensor of paste dispenser - Google Patents

Distance sensor of paste dispenser

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KR100919622B1
KR100919622B1 KR1020070125713A KR20070125713A KR100919622B1 KR 100919622 B1 KR100919622 B1 KR 100919622B1 KR 1020070125713 A KR1020070125713 A KR 1020070125713A KR 20070125713 A KR20070125713 A KR 20070125713A KR 100919622 B1 KR100919622 B1 KR 100919622B1
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Abstract

본 발명은 페이스트 디스펜서의 거리 센서를 개시한다. 본 발명에 따르면, 노즐의 도포 위치를 변경해가며 기판 위에 페이스트를 도포하는 페이스트 디스펜서에 있어서, 기판 위에 2개의 측정점을 형성하는 것으로, 측정점들이 도포 위치의 수평 이동 방향을 기준으로 도포 위치의 전,후방에 위치함과 아울러 도포 위치를 가운데 두고 양옆에 위치하도록 광을 투사하는 발광부; 측정점들로부터 반사되는 광들을 받아서 전기 신호로 변환하는 수광부;를 구비한다.The present invention discloses a distance sensor of a paste dispenser. According to the present invention, in a paste dispenser for applying paste on a substrate while changing the application position of the nozzle, by forming two measurement points on the substrate, the measurement points are before and after the application position on the basis of the horizontal movement direction of the application position. A light emitting unit for projecting light so as to be positioned at both sides and positioned at both sides of the application position; And a light receiving unit receiving the light reflected from the measurement points and converting the light into an electrical signal.

Description

페이스트 디스펜서의 거리 센서{Distance sensor of paste dispenser}Distance sensor of paste dispenser

본 발명은 페이스트 디스펜서에 관한 것으로, 더욱 상세하게는 페이스트 디스펜서에서 기판과 노즐 사이의 거리를 측정하는 거리 센서에 관한 것이다. The present invention relates to a paste dispenser, and more particularly to a distance sensor for measuring the distance between the substrate and the nozzle in the paste dispenser.

페이스트 디스펜서는 평판 디스플레이를 제조하는 과정에서 2매의 기판을 접착하거나 실링하기 위해, 한쪽 기판 위에 페이스트를 소정 패턴으로 도포하는 장치이다. 페이스트 디스펜서는 기판이 안착되는 스테이지와, 페이스트가 토출되는 노즐을 구비한다. 노즐은 스테이지 상방에 위치한다. The paste dispenser is a device for applying paste in a predetermined pattern on one substrate in order to bond or seal two substrates in the process of manufacturing a flat panel display. The paste dispenser includes a stage on which the substrate is seated and a nozzle through which the paste is discharged. The nozzle is located above the stage.

페이스트 디스펜서는 소정 형상의 페이스트 패턴이 형성되도록, 기판에 대해 노즐의 위치를 변경시켜가면서 기판 위에 페이스트를 도포한다. 이때, 기판 및/또는 노즐이 수평 방향으로 이동하여 기판에 대한 노즐의 수평 위치가 변경되며, 노즐이 수직 방향으로 이동하여 노즐의 높이가 변경된다. The paste dispenser applies paste onto the substrate while changing the position of the nozzle relative to the substrate so that a paste pattern of a predetermined shape is formed. In this case, the substrate and / or the nozzle moves in the horizontal direction to change the horizontal position of the nozzle relative to the substrate, and the nozzle moves in the vertical direction to change the height of the nozzle.

전술한 것처럼 페이스트 패턴이 형성될 때, 기판의 평탄도 오차 등으로 인해 노즐의 높이가 설정된 대로 제어되지 않을 수 있다. 노즐의 높이가 설정된 대로 제어되도록, 노즐 옆에 거리 센서가 마련된다. 거리 센서는 기판과 노즐 사이의 실제 거리를 측정하여 페이스트 디스펜서의 제어부로 제공한다. 제어부는 제공받은 실제 거리 데이터를 토대로 노즐의 높이를 제어하게 된다. As described above, when the paste pattern is formed, the height of the nozzle may not be controlled as set due to the flatness error of the substrate. A distance sensor is provided next to the nozzle so that the height of the nozzle is controlled as set. The distance sensor measures the actual distance between the substrate and the nozzle and provides the control to the paste dispenser. The controller controls the height of the nozzle based on the actual distance data provided.

상기 거리 센서의 측정점(1)은 도 1에 도시된 바와 같이, 기판(S) 위에서 노즐의 도포 위치(2)가 화살표 방향을 따라 수평 이동하는 것을 기준으로, 도포 위치(2)의 전방 우측에 위치될 수 있다. 이 경우, 페이스트가 폐-루프(closed loop)를 이루며 시계 방향으로 기판(S) 위에 도포된다고 할 때, 측정점(1)과 도포 위치(2)는 도 2에 도시된 바와 같은 경로를 따라 이동하게 된다. As shown in FIG. 1, the measurement point 1 of the distance sensor is located on the front right side of the coating position 2 based on the horizontal movement of the nozzle application position 2 on the substrate S along the direction of the arrow. Can be located. In this case, when the paste is applied on the substrate S in a clockwise direction in a closed loop, the measuring point 1 and the application position 2 are moved along the path as shown in FIG. do.

그런데, 전술한 예에서는 다음과 같은 문제가 발생하게 된다. 도 2에서 기판(S)의 좌측을 전방이라 하고 우측을 후방이라 정의한다. 그러면, 도포 위치(2)가 기판(S)의 후방 우측에서 꺾어져 좌측으로 이동하는 과정에서, 측정점(1)이 이미 도포된 페이스트를 가로질러 이동하게 된다. However, in the above example, the following problem occurs. In FIG. 2, the left side of the substrate S is defined as the front and the right side is defined as the rear. Then, in the process of the application | coating position 2 bends in the back right of the board | substrate S, and moves to the left side, the measuring point 1 moves across the already apply | coated paste.

그 결과, 측정점(1)이 도포된 페이스트 위를 통과하는 동안, 거리 센서에 의해 측정되는 값이 기판과 노즐 사이의 거리 값이 아니라, 도포된 페이스트와 노즐 사이의 거리 값이 된다. 즉, 측정점(1)이 도포된 페이스트 위를 통과하면서 측정되는 값은 왜곡된 값이 되는 것이다. As a result, while the measurement point 1 passes over the coated paste, the value measured by the distance sensor is not the distance value between the substrate and the nozzle, but the distance value between the applied paste and the nozzle. That is, the value measured while passing over the paste to which the measuring point 1 is applied becomes a distorted value.

만일, 왜곡된 값이 그대로 사용되어 노즐의 높이가 제어된다면, 페이스트 패턴의 일부 영역에서 폭과 높이의 값이 설정된 범위를 벗어나는 불량이 발생할 수 있다. If the distorted value is used as it is to control the height of the nozzle, a defect may occur in a portion of the paste pattern in which the width and height values deviate from the set range.

그리고, 거리 센서가 기판의 평탄도 오차 범위보다 조금 넓은 정도의 측정 허용범위를 갖도록 설정된다고 가정한다. 그러면, 측정점(1)이 도포된 페이스트 위를 통과하는 동안, 거리 센서에 의해 측정되는 값들 중에는 측정 허용범위를 벗어난 값이 있을 수 있다. 이에 따라, 노즐의 높이 제어시 오류가 발생할 수 있다. In addition, it is assumed that the distance sensor is set to have a measurement allowance that is a little wider than the flatness error range of the substrate. Then, while the measuring point 1 passes over the applied paste, there may be values out of the measurement allowance among the values measured by the distance sensor. Accordingly, an error may occur when controlling the height of the nozzle.

이러한 문제를 해결하고자, 노즐의 높이를 제어할 때, 도포된 페이스트와 노즐 사이의 거리 데이터를 배제할 수도 있다. 그러나, 배제된 거리 데이터 구간에서 노즐의 높이가 설정된 대로 제어되지 않을 수 있다. In order to solve this problem, when controlling the height of the nozzle, the distance data between the applied paste and the nozzle may be excluded. However, the height of the nozzle may not be controlled as set in the excluded distance data section.

또한, 도 2를 참조하면, 도포 위치(2)가 기판(S)의 좌측 라인과 전방 라인을 따라 이동하는 동안, 측정점(1)은 도포 위치(2)보다 앞선 위치에 있게 된다. 이에 따라, 측정점(1)이 앞서 이동하면서 기판과 노즐 사이의 거리가 미리 측정되고, 도포 위치(2)가 뒤이어 이동하면서 페이스트가 나중에 도포된다. 따라서, 미리 측정된 거리 데이터를 토대로, 페이스트가 도포될 위치에서 노즐의 높이가 제어될 수 있다. Also, referring to FIG. 2, while the application position 2 moves along the left line and the front line of the substrate S, the measurement point 1 is in a position ahead of the application position 2. Accordingly, the distance between the substrate and the nozzle is measured in advance while the measuring point 1 moves earlier, and the paste is applied later, while the application position 2 moves subsequently. Therefore, based on the distance data measured in advance, the height of the nozzle at the position where the paste is to be applied can be controlled.

하지만, 도포 위치(2)가 기판(S)의 우측 라인과 후방 라인을 따라 이동하는 동안, 측정점(1)은 도포 위치(2)보다 뒤처진 위치에 있게 된다. 이에 따라, 도포 위치(2)가 앞서 이동하면서 페이스트가 미리 도포되고, 측정점(1)이 뒤이어 이동하면서 기판과 노즐 사이의 거리가 나중에 측정될 수밖에 없다. 즉, 페이스트가 도포될 위치에서 거리 데이터가 미리 측정될 수 없다. 따라서, 페이스트가 도포될 위치에서 노즐의 높이가 설정된 대로 제어되기 어려울 수 있다. However, while the application position 2 moves along the right line and the rear line of the substrate S, the measuring point 1 is in a position behind the application position 2. Accordingly, the paste is applied in advance while the application position 2 moves earlier, and the distance between the substrate and the nozzle is inevitably measured later while the measurement point 1 moves subsequently. That is, the distance data cannot be measured in advance at the position where the paste is to be applied. Therefore, the height of the nozzle at the position where the paste is to be applied may be difficult to be controlled as set.

본 발명의 과제는 상기한 문제점을 해결하기 위한 것으로, 페이스트 패턴이 형성되는 전체 과정에 걸쳐, 기판과 노즐 사이의 거리를 왜곡됨 없이 측정할 수 있으며, 페이스트가 도포될 위치에서 기판과 노즐 사이의 거리를 미리 측정할 수 있는 페이스트 디스펜서의 거리 센서를 제공함에 있다. An object of the present invention is to solve the above problems, the distance between the substrate and the nozzle can be measured without distortion over the entire process of forming the paste pattern, the distance between the substrate and the nozzle at the position where the paste is to be applied It is to provide a distance sensor of the paste dispenser capable of measuring in advance.

상기의 과제를 달성하기 위한 본 발명에 의한 페이스트 디스펜서의 거리 센서는, 노즐의 도포 위치를 변경해가며 기판 위에 페이스트를 도포하는 페이스트 디스펜서에 있어서, 상기 기판 위에 2개의 측정점을 형성하는 것으로, 상기 측정점들이 상기 도포 위치의 수평 이동 방향을 기준으로 상기 도포 위치의 전,후방에 위치함과 아울러 상기 도포 위치를 가운데 두고 양옆에 위치하도록 광을 투사하는 발광부; 상기 측정점들로부터 반사되는 광들을 받아서 전기 신호로 변환하는 수광부;를 구비한다. The distance sensor of the paste dispenser according to the present invention for achieving the above object is a paste dispenser for applying a paste on a substrate while changing the application position of the nozzle, by forming two measuring points on the substrate, A light emitting unit which projects light so as to be positioned in front and rear of the coating position with respect to the horizontal movement direction of the coating position, and positioned at both sides with the coating position in the center; And a light receiving unit receiving light reflected from the measurement points and converting the light into an electrical signal.

본 발명에 따르면, 페이스트 패턴이 형성되는 전체 과정에 걸쳐, 측정점들 중 어느 하나는 도포 위치보다 항상 앞서 위치할 수 있으므로, 미리 측정된 거리 데이터를 토대로, 페이스트가 도포될 위치에서 노즐의 높이가 제어될 수 있다. According to the present invention, during the entire process of forming the paste pattern, any one of the measuring points can always be located before the application position, so that the height of the nozzle at the position where the paste is to be applied is controlled based on the previously measured distance data. Can be.

그리고, 본 발명에 따르면, 측정점이 도포된 페이스트 위를 통과하면서 측정된 거리 데이터가 배제될 수 있으므로, 기판과 노즐 사이의 거리가 왜곡됨 없이 측정될 수 있다. 따라서, 페이스트 패턴은 폭과 높이가 설정된 범위를 벗어나지 않게 형성될 수 있다. In addition, according to the present invention, since the distance data measured while passing the measuring point on the applied paste can be excluded, the distance between the substrate and the nozzle can be measured without distortion. Therefore, the paste pattern may be formed so that the width and height do not deviate from the set range.

또한, 본 발명에 따르면, 측정 허용범위를 벗어난 거리 데이터가 배제될 수 있으므로, 노즐의 높이 제어시 측정 허용범위를 벗어난 값으로 인한 오류가 발생하지 않을 수 있다. Further, according to the present invention, since the distance data outside the measurement allowable range may be excluded, an error due to a value outside the measurement allowable range may not occur when the height of the nozzle is controlled.

도 1은 종래에 의한 거리 센서에 있어서, 도포 위치와 측정점의 위치 관계에 관한 일 예를 나타낸 평면도. 1 is a plan view showing an example of the positional relationship between a coating position and a measuring point in the conventional distance sensor.

도 2는 도 1에 도시된 도포 위치와 측정점의 이동 경로에 관한 일 예를 나타낸 평면도. FIG. 2 is a plan view illustrating an example of a movement path of an application position and a measurement point illustrated in FIG. 1.

도 3은 본 발명의 일 실시예에 의한 거리 센서가 적용되는 페이스트 디스펜서의 일 예를 도시한 사시도. 3 is a perspective view illustrating an example of a paste dispenser to which a distance sensor according to an embodiment of the present invention is applied.

도 4는 도 3에 있어서, 헤드 유닛을 도시한 사시도. 4 is a perspective view of the head unit of FIG. 3;

도 5는 본 발명의 일 실시예에 의한 거리 센서에 대한 구성도. 5 is a block diagram of a distance sensor according to an embodiment of the present invention.

도 6은 도 5에 도시된 거리 센서에 있어서, 도포 위치와 측정점들의 위치 관계에 관한 일 예를 나타낸 평면도. FIG. 6 is a plan view illustrating an example of a positional relationship between an application position and measurement points in the distance sensor illustrated in FIG. 5.

도 7은 도 6에 도시된 도포 위치와 측정점들의 이동 경로에 관한 일 예를 나타낸 평면도. 7 is a plan view illustrating an example of a movement path of an application position and measurement points illustrated in FIG. 6.

도 8은 본 발명의 다른 실시예에 의한 거리 센서에 대한 구성도. 8 is a block diagram of a distance sensor according to another embodiment of the present invention.

〈도면의 주요 부호에 대한 간단한 설명〉<Brief description of the major symbols in the drawings>

1,116,117..측정점 2,30..도포 위치1,116,117 Measuring point 2,30 Application point

22..노즐 100,200..거리 센서22..Nozzle 100,200..Distance sensor

110,210..발광부 120,220..수광부110,210..Light emitting part 120,220..Light receiving part

130,230..신호 처리부 P..페이스트 패턴130,230..Signal processing part P..Pattern pattern

S..기판S..substrate

이하 첨부된 도면을 참조하여, 바람직한 실시예에 의한 본 발명을 상세히 설명하기로 한다. Hereinafter, exemplary embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings.

도 3은 본 발명의 일 실시예에 의한 거리 센서가 적용되는 페이스트 디스펜서의 일 예를 도시한 사시도이다. 3 is a perspective view illustrating an example of a paste dispenser to which a distance sensor according to an embodiment of the present invention is applied.

도 3에 도시된 바에 따르면, 페이스트 디스펜서(10)는 프레임(11)과, 스테이지(12)와, 헤드 지지대(13)와, 헤드 유닛(21), 및 제어부(미도시)를 구비한다. 스테이지(12)는 프레임(11)의 상측에 배치된다. 스테이지(12)는 프레임(11)의 일 측으로부터 공급되는 기판(S)을 안착시킬 수 있게 형성된다. 스테이지(12)는 프레임(11)에 고정되거나, 스테이지용 Y축 액추에이터에 의해 Y축 방향으로 슬라이드 이동할 수 있다. 스테이지(12)는 스테이지용 X축 액추에이터에 의해 X축 방향으로 슬라이드 이동하는 것도 가능하다. As shown in FIG. 3, the paste dispenser 10 includes a frame 11, a stage 12, a head support 13, a head unit 21, and a controller (not shown). The stage 12 is disposed above the frame 11. The stage 12 is formed to seat the substrate S supplied from one side of the frame 11. The stage 12 may be fixed to the frame 11 or may slide in the Y-axis direction by a stage Y-axis actuator. The stage 12 can also slide in the X-axis direction by the stage X-axis actuator.

헤드 지지대(13)는 스테이지(12)의 상측에 배치된다. 헤드 지지대(13)는 X축 방향으로 연장되게 형성되며, 양단이 프레임(11)에 지지가 된다. 헤드 지지대(13)는 헤드 지지대용 Y축 액추에이터에 의해 Y축 방향으로 슬라이드 이동할 수 있다. The head support 13 is disposed above the stage 12. The head support 13 is formed to extend in the X-axis direction, both ends are supported by the frame 11. The head support 13 can slide in the Y-axis direction by the Y-axis actuator for the head support.

헤드 유닛(21)은 헤드 지지대(13)에 X축 방향을 따라 이동 가능하게 지지가 된다. 헤드 유닛(21)은 헤드 유닛용 액추에이터에 의해 X축 방향으로 슬라이드 이동할 수 있다. 헤드 유닛(21)은 도 4에 도시된 바와 같이 구성될 수 있다. The head unit 21 is supported by the head support 13 so that a movement along the X-axis direction is possible. The head unit 21 can slide in the X-axis direction by the actuator for the head unit. The head unit 21 may be configured as shown in FIG.

도 4에 도시된 헤드 유닛(21)은 페이스트가 토출되는 노즐(22)과, 노즐(22)을 지지하는 도포 헤드(23)를 구비한다. 노즐(22)은 페이스트를 담고 있는 시린지(syringe, 24)와 연결된다. 도포 헤드(23)는 노즐(22)의 높이를 조정하도록 Z축 액추에이터에 의해 승강할 수 있다. The head unit 21 shown in FIG. 4 includes a nozzle 22 through which paste is discharged, and an application head 23 supporting the nozzle 22. The nozzle 22 is connected to a syringe 24 containing paste. The application head 23 can be elevated by the Z-axis actuator to adjust the height of the nozzle 22.

Z축 액추에이터는 Z축 모터(25)와, Z축 모터(25)에 의해 승강하는 승강부(미도시)를 구비할 수 있다. 여기서, 승강부는 도포 헤드(23)에 고정될 수 있다. 승강부가 Z축 모터(25)에 의해 승강하게 되면, 승강부에 고정된 도포 헤드(23)가 승강할 수 있게 된다. 도포 헤드(23)가 승강하게 되면, 노즐(22)의 높이가 조정될 수 있다. The Z-axis actuator may include a Z-axis motor 25 and a lifting unit (not shown) that is lifted and lowered by the Z-axis motor 25. Here, the lifting part may be fixed to the application head 23. When the lifting unit is lifted by the Z-axis motor 25, the application head 23 fixed to the lifting unit can be lifted. When the application head 23 is elevated, the height of the nozzle 22 can be adjusted.

제어부는 기판(S)에 대해 노즐(22)이 X축, Y축, 및 Z축 방향으로 이동하도록 상기 액추에이터들을 제어한다. 그리고, 제어부는 노즐(22)로부터 페이스트가 설정된 양으로 토출되도록 제어한다. 따라서, 제어부는 기판(S)에 대해 노즐(22)의 도포 위치를 변경시켜가면서 기판(S) 위에 페이스트를 도포함으로써, 도 4에 도시된 바와 같은 페이스트 패턴(P)이 형성되게 할 수 있다. The control unit controls the actuators such that the nozzle 22 moves in the X-axis, Y-axis, and Z-axis directions with respect to the substrate S. FIG. And the control part controls so that the paste may be discharged from the nozzle 22 in the set amount. Therefore, the controller can apply the paste onto the substrate S while changing the application position of the nozzle 22 with respect to the substrate S, thereby forming the paste pattern P as shown in FIG. 4.

제어부에 의해 페이스트 패턴(P)이 형성되는 과정에서, 기판(S)의 평탄도 오차 등으로 인해 노즐(22)의 높이가 설정된 대로 제어되지 않을 수 있다. 노즐(22)의 높이가 설정된 대로 제어되도록, 본 발명의 일 실시예에 의한 거리 센서(100)가 노즐(22) 옆에 마련된다. In the process of forming the paste pattern P by the controller, the height of the nozzle 22 may not be controlled as set due to the flatness error of the substrate S. FIG. In order to control the height of the nozzle 22 as set, a distance sensor 100 according to an embodiment of the present invention is provided next to the nozzle 22.

거리 센서(100)는 기판(S)과 노즐(22) 사이의 실제 거리를 측정하기 위한 것이다. 거리 센서(100)는 측정된 실제 거리 데이터를 제어부로 제공함으로써, 실제 거리 데이터를 제공받은 제어부가 노즐(22)의 높이를 제어하도록 한다. The distance sensor 100 is for measuring the actual distance between the substrate S and the nozzle 22. The distance sensor 100 provides the measured actual distance data to the controller so that the controller receiving the actual distance data controls the height of the nozzle 22.

도 5는 본 발명의 일 실시예에 의한 거리 센서에 대한 구성도이다. 5 is a configuration diagram of a distance sensor according to an embodiment of the present invention.

도 5에 도시된 바에 따르면, 거리 센서(100)는 발광부(110)와, 수광부(120)를 구비한다. 발광부(110)는 기판(S) 위에 2개의 측정점(116)(117)을 형성하도록 광을 투사한다. 발광부(110)는 광원(111)과, 광 분할기(112)를 구비한다. 광원(111)은 하나의 광을 투사하도록 구성된다. 광원(111)으로는 레이저 광을 투사할 수 있는 레이저 광원이 이용될 수 있다. As shown in FIG. 5, the distance sensor 100 includes a light emitting unit 110 and a light receiving unit 120. The light emitter 110 projects light to form two measurement points 116 and 117 on the substrate S. FIG. The light emitting unit 110 includes a light source 111 and a light splitter 112. The light source 111 is configured to project one light. As the light source 111, a laser light source capable of projecting laser light may be used.

광 분할기(112)는 광원(111)으로부터 투사되는 광을 2개의 광으로 분할하여 기판(S) 위로 입사되게 한다. 기판(S) 위로 입사된 광들은 기판(S) 위에 2개의 측정점(116)(117)을 형성하게 된다. 상기 광 분할기(112)는 반투과막(112a)과 전반사막(112b)을 구비한다. 여기서, 반투과막(112a)은 전반사막(112b)보다 광원(111)에 가까이 배치된다. The light splitter 112 splits the light projected from the light source 111 into two lights to be incident on the substrate S. Light incident on the substrate S forms two measurement points 116 and 117 on the substrate S. FIG. The light splitter 112 includes a transflective film 112a and a total reflection film 112b. Here, the semi-transmissive film 112a is disposed closer to the light source 111 than the total reflection film 112b.

광원(111)으로부터 투사된 광은 반투과막(112a)을 일부 투과하여 전반사막(112b)으로 입사되며, 반투과막(112a)을 투과하지 못한 광은 반투과막(112a)에 의해 반사된다. 반투과막(112a)에 의해 반사된 광은 측정점들(116)(117) 중 하나를 형성하게 된다. 그리고, 전반사막(112b)으로 입사된 광은 전반사막(112b)에 의해 반사되어 측정점들(116)(117) 중 다른 하나를 형성하게 된다. The light projected from the light source 111 is partially transmitted through the transflective film 112a and is incident to the total reflection film 112b, and the light not transmitted through the transflective film 112a is reflected by the transflective film 112a. . The light reflected by the transflective film 112a forms one of the measurement points 116 and 117. The light incident on the total reflection film 112b is reflected by the total reflection film 112b to form another one of the measurement points 116 and 117.

수광부(120)는 기판(S) 위의 측정점들(116)(117)로부터 반사되는 광을 받아서 전기 신호로 변환한다. 수광부(120)는 2개로 구비될 수 있다. 수광부(120)들 중 하나는 측정점들(116)(117) 중 하나로부터 반사되는 광을 받으며, 다른 하나는 측정점들(116)(117) 중 다른 하나로부터 반사되는 광을 받도록 배치된다. The light receiver 120 receives light reflected from the measurement points 116 and 117 on the substrate S and converts the light into an electrical signal. The light receiving unit 120 may be provided in two. One of the light receivers 120 receives light reflected from one of the measurement points 116 and 117, and the other is arranged to receive light reflected from the other of the measurement points 116 and 117.

다른 예로, 수광부(120)는 하나로 구비될 수도 있다. 이 경우, 수광부(120)는 2개의 영역으로 구획된다. 수광부(120)는 하나의 영역이 측정점들(116)(117) 중 하나로부터 반사되는 광을 받으며, 다른 하나의 영역이 측정점들(116)(117) 중 다른 하나로부터 반사되는 광을 받도록 배치될 수 있다. 수광부(120)로부터 출력되는 신호는 신호 처리부(130)로 입력된다. 신호 처리부(130)는 수광부(120)로부터 입력되는 신호를 처리하여 기판(S)과 노즐(22) 사이의 거리 데이터를 산출한다. As another example, the light receiver 120 may be provided as one. In this case, the light receiving unit 120 is divided into two regions. The light receiver 120 may be arranged such that one area receives light reflected from one of the measurement points 116 and 117 and the other area receives light reflected from the other of the measurement points 116 and 117. Can be. The signal output from the light receiver 120 is input to the signal processor 130. The signal processor 130 processes the signal input from the light receiver 120 to calculate distance data between the substrate S and the nozzle 22.

본 실시예에 따르면, 발광부(110)에 의해 형성되는 측정점들(116)(117)은 도 6에 도시된 바와 같이 위치된다. 도 6에 도시된 바에 따르면, 노즐(22)의 도포 위치(30)가 화살표 방향을 따라 수평 이동하는 것을 기준으로, 2개의 측정점(116)(117) 중 하나가 도포 위치(30)의 전방 우측에 위치하고, 나머지 하나가 도포 위치(30)의 후방 좌측에 위치한다. 상기 측정점들(116)(117)의 위치는 광 분할기(112)의 각도 조절에 의해 설정될 수 있다. According to the present embodiment, the measurement points 116 and 117 formed by the light emitting unit 110 are positioned as shown in FIG. 6. As shown in FIG. 6, one of the two measurement points 116, 117 is forward right of the application position 30, based on the horizontal movement of the application position 30 of the nozzle 22 along the direction of the arrow. Is located at the rear left of the application position (30). The position of the measurement points 116 and 117 may be set by adjusting the angle of the light splitter 112.

상기 측정점들(116)(117)은 페이스트가 폐-루프를 이루며 시계 방향으로 기판(S) 위에 도포될 때, 도포 위치(30)와 함께, 도 7에 도시된 경로를 따라 이동하게 된다. 도 7에서 기판(S)의 좌측을 전방이라 하고 우측을 후방이라 정의한다. 그러면, 도포 위치(30)가 기판(S)의 좌측 라인과 전방 라인을 따라 이동하는 동안, 도 6에서 전방 우측에 위치한 측정점(116)이 도포 위치(30)보다 앞서 위치할 수 있다. The measuring points 116 and 117 move along the path shown in FIG. 7, with the application position 30, when the paste is applied on the substrate S in a closed-loop and clockwise direction. In FIG. 7, the left side of the substrate S is defined as the front and the right side is defined as the rear. Then, while the application position 30 moves along the left line and the front line of the substrate S, the measurement point 116 located on the front right side in FIG. 6 may be positioned before the application position 30.

아울러, 도포 위치(30)가 기판(S)의 우측 라인과 후방 라인을 따라 이동하는 동안, 도 6에서 후방 좌측에 위치한 측정점(117)이 도포 위치(30)보다 앞서 위치할 수 있다. 즉, 페이스트 패턴(P)이 형성되는 과정에서, 측정점들(116)(117) 중 어느 하나는 도포 위치(30)보다 항상 앞서 위치할 수 있는 것이다. In addition, while the application position 30 moves along the right line and the rear line of the substrate S, the measurement point 117 located at the rear left side in FIG. 6 may be positioned before the application position 30. That is, in the process of forming the paste pattern P, one of the measurement points 116 and 117 may always be positioned before the application position 30.

측정점들(116)(117)이 전술한 바와 같이 이동하는 과정에서, 신호 처리부(130)는 다음과 같은 과정으로 거리 데이터를 선별할 수 있다. 신호 처리부(130)는 도포 위치(30)가 기판(S)의 좌측 라인과 전방 라인을 따라 이동하는 동안, 측정점들(116)(117)로부터 측정된 거리 데이터 중 전방 우측에 위치한 측정점(116)으로부터 측정된 거리 데이터를 선별한다. 그리고, 신호 처리부(130)는 도포 위치(30)가 기판(S)의 우측 라인과 후방 라인을 따라 이동하는 동안, 측정점들(116)(117)로부터 측정된 거리 데이터 중 후방 좌측에 위치한 측정점(117)으로부터 측정된 거리 데이터를 선별한다. In the process of moving the measurement points 116 and 117 as described above, the signal processor 130 may select the distance data by the following process. The signal processor 130 measures the measurement point 116 located on the front right side of the distance data measured from the measurement points 116 and 117 while the application position 30 moves along the left line and the front line of the substrate S. FIG. The distance data measured from are screened. In addition, the signal processor 130 may measure the measurement point located on the rear left side of the distance data measured from the measurement points 116 and 117 while the application position 30 moves along the right line and the rear line of the substrate S. The distance data measured from 117 is selected.

상기 신호 처리부(130)는 도포 위치(30)에 대한 정보를 제공받아서 측정점들(116)(117)로부터 측정된 거리 데이터 중 어느 것이 도포 위치(30)보다 앞서 위치하는 측정점으로부터 측정된 거리 데이터인지 선별할 수 있다. The signal processing unit 130 is provided with information on the application position 30, which of the distance data measured from the measurement points 116 and 117 is the distance data measured from the measurement point located earlier than the application position 30. Can be screened.

신호 처리부(130)에서 선별된 거리 데이터는 제어부로 제공될 수 있다. 제어부는 페이스트 패턴(P)이 형성되는 전체 과정에 걸쳐, 미리 측정된 거리 데이터를 토대로, 페이스트가 도포될 위치에서 노즐(22)의 높이를 제어할 수 있게 된다. The distance data selected by the signal processor 130 may be provided to the controller. The controller may control the height of the nozzle 22 at the position where the paste is to be applied, based on the distance data measured in advance, throughout the entire process of forming the paste pattern P. FIG.

상기 신호 처리부(130)는 측정점들(116)(117) 중 도포 위치(30)보다 앞서 위치하는 것으로부터 측정된 거리 데이터를 선별하므로, 도포된 페이스트를 가로질러 이동하는 측정점으로부터 측정되는 거리 데이터가 배제될 수 있다. 따라서, 페이스트 패턴(P)이 형성되는 전체 과정에 걸쳐, 기판(S)과 노즐(22) 사이의 거리를 왜곡됨 없이 측정할 수 있다. 그 결과, 페이스트 패턴(P)은 폭과 높이가 설정된 범위를 벗어나지 않게 형성될 수 있다. Since the signal processor 130 selects the distance data measured from the position before the application position 30 among the measurement points 116 and 117, the distance data measured from the measurement point moving across the applied paste is May be excluded. Therefore, the distance between the substrate S and the nozzle 22 can be measured without distortion over the entire process of forming the paste pattern P. FIG. As a result, the paste pattern P may be formed so that the width and height do not deviate from the set range.

상기 거리 센서(100)가 기판(S)의 평탄도 오차 범위보다 조금 넓은 정도의 측정 허용범위를 갖도록 설정된다고 가정한다. 이 경우에도, 측정점들(116)(117) 중 도포된 페이스트 위를 통과하는 것으로부터 측정되는 거리 데이터가 배제되므로, 측정 허용범위를 벗어난 값에 의해 노즐(22)의 높이가 제어될 가능성이 없게 된다. 따라서, 노즐(22)의 높이 제어시 측정 허용범위를 벗어난 값으로 인한 오류가 발생하지 않을 수 있다. It is assumed that the distance sensor 100 is set to have a measurement allowance that is slightly wider than the flatness error range of the substrate S. Even in this case, since the distance data measured from passing over the applied paste of the measuring points 116 and 117 is excluded, there is no possibility that the height of the nozzle 22 is controlled by a value outside the measurement allowable range. do. Therefore, an error may not occur due to a value outside the measurement allowance range when the height of the nozzle 22 is controlled.

다른 예로, 도시하고 있지는 않지만, 2개의 측정점(116)(117) 중 하나가 도포 위치(30)의 전방 좌측에 위치하고, 나머지 하나가 도포 위치(30)의 후방 우측에 위치할 수도 있다. 이 경우에도, 측정점들(116)(117)이 도 7에 도시된 도포 위치(30)의 경로를 따라 이동한다고 할 때, 측정점들(116)(117) 중 어느 하나는 도포 위치(30)보다 항상 앞서 위치할 수 있다. 상기 측정점들(116)(117)로부터 측정된 거리 데이터의 처리는 전술한 예에서와 동일하게 이루어질 수 있다. As another example, although not shown, one of the two measurement points 116, 117 may be located on the front left side of the application position 30, and the other may be located on the rear right side of the application position 30. Even in this case, when the measurement points 116 and 117 are moved along the path of the application position 30 shown in FIG. 7, any one of the measurement points 116 and 117 is more than the application position 30. You can always be ahead. The processing of the distance data measured from the measurement points 116 and 117 may be the same as in the above-described example.

도 8은 본 발명의 다른 실시예에 의한 거리 센서를 도시한 것이다. 8 illustrates a distance sensor according to another embodiment of the present invention.

도 8에 도시된 바에 따르면, 거리 센서(200)는 2개의 광원(211)을 갖는 발광부(210)를 구비한다. 여기서, 2개의 광원(211)은 2개의 광을 기판(S) 위로 투사한다. 기판(S) 위로 투사된 광들은 기판(S) 위에 2개의 측정점(116)(117)을 형성하게 된다. 상기 광원(211)들은 동시에 광을 투사하도록 제어부에 의해 제어됨으로써, 기판(S) 위에 2개의 측정점(116)(117)이 함께 형성되게 할 수 있다. As shown in FIG. 8, the distance sensor 200 includes a light emitting unit 210 having two light sources 211. Here, the two light sources 211 project two lights onto the substrate S. The light projected onto the substrate S forms two measurement points 116 and 117 on the substrate S. The light sources 211 may be controlled by a controller to simultaneously project light so that two measurement points 116 and 117 are formed on the substrate S together.

측정점들(116)(117)은 앞서 도시한 도 6에 도시된 바와 같이, 동일하게 위치할 수 있다. 도포 위치(30)의 수평 이동 방향을 기준으로, 2개의 측정점(116)(117) 중 하나가 도포 위치(30)의 전방 우측에 위치하고, 나머지 하나가 도포 위치(30)의 후방 좌측에 위치할 수 있다. 다른 예로, 2개의 측정점(116)(117) 중 하나가 도포 위치(30)의 전방 좌측에 위치하고, 나머지 하나가 도포 위치(30)의 후방 우측에 위치할 수 있다. The measurement points 116 and 117 may be located in the same manner as illustrated in FIG. 6. Based on the horizontal movement direction of the application position 30, one of the two measurement points 116, 117 is positioned at the front right side of the application position 30, and the other one is located at the rear left side of the application position 30. Can be. As another example, one of the two measurement points 116, 117 may be located on the front left side of the application position 30, and the other may be located on the rear right side of the application position 30.

수광부(220)는 측정점들(116)(117)로부터 반사된 광을 받아서 전기 신호로 변환한 후, 신호 처리부(230)로 제공한다. 신호 처리부(230)는 도포 위치(30)에 대한 정보를 제공받아서 측정점들(116)(117)로부터 측정된 거리 데이터 중 어느 것이 도포 위치(30)보다 앞서 위치하는 측정점으로부터 측정된 거리 데이터인지 선별할 수 있다. 신호 처리부(230)에 의해 거리 데이터를 선별하는 과정은 전술한 실시예에서와 동일하게 이루어질 수 있다. 신호 처리부(230)에 의해 선별된 거리 데이터는 제어부로 제공된다. The light receiver 220 receives the light reflected from the measurement points 116 and 117, converts the light into an electrical signal, and provides the signal to the signal processor 230. The signal processor 230 receives the information on the application position 30 and selects which of the distance data measured from the measurement points 116 and 117 is the distance data measured from the measurement point located before the application position 30. can do. The process of selecting distance data by the signal processor 230 may be performed in the same manner as in the above-described embodiment. The distance data selected by the signal processor 230 is provided to the controller.

다른 예로, 발광부(210)는 측정점들(116)(117) 중 도포 위치(30)보다 앞서 위치하는 것만 형성하도록 제어될 수 있다. 도 6 및 도 7을 참조해서 설명하면 다음과 같다. As another example, the light emitter 210 may be controlled to form only the one positioned before the application position 30 among the measurement points 116 and 117. A description with reference to FIGS. 6 and 7 is as follows.

2개의 광원(211) 중 하나는, 도포 위치(30)가 기판(S)의 좌측 라인과 전방 라인을 따라 이동하는 동안, 전방 우측에 위치한 측정점(116)만 형성하도록 발광할 수 있다. 아울러, 2개의 광원(211) 중 다른 하나는, 도포 위치(30)가 기판(S)의 우측 라인과 후방 라인을 따라 이동하는 동안, 후방 좌측에 위치한 측정점(117)만 형성하도록 발광할 수 있다. One of the two light sources 211 can emit light so as to form only the measurement point 116 located on the front right side while the application position 30 moves along the left line and front line of the substrate S. FIG. In addition, the other of the two light sources 211 may emit light so as to form only the measurement point 117 located on the rear left side while the application position 30 moves along the right line and the back line of the substrate S. FIG. .

상기 광원(211)들은 도포 위치(30)에 대한 정보를 갖는 제어부에 의해서, 도포 위치(30)에 따라 선택적으로 발광하도록 제어될 수 있다. 수광부(220)는 측정점들(116)(117) 중 도포 위치(30)보다 앞서 위치하는 것으로부터 반사된 광을 받아서 전기 신호로 변환한 후, 신호 처리부(230)로 제공한다. 신호 처리부(230)는 제공받은 신호를 토대로 기판(S)과 노즐(22) 사이의 거리 데이터를 산출해서 제어부로 제공한다. The light sources 211 may be controlled to selectively emit light according to the application position 30 by a control unit having information on the application position 30. The light receiving unit 220 receives the light reflected from the position before the application position 30 among the measuring points 116 and 117, converts the light into an electrical signal, and provides the light signal to the signal processing unit 230. The signal processor 230 calculates the distance data between the substrate S and the nozzle 22 based on the received signal and provides it to the controller.

여기서, 신호 처리부(230)는 측정점들(116)(117) 중 도포 위치(30)보다 앞서 위치한 것으로부터 획득된 신호만을 처리한다. 따라서, 신호 처리부(230)는 측정점들(116)(117)로부터 측정된 거리 데이터 중 어느 것이 도포 위치(30)보다 앞서 위치하는 측정점으로부터 측정된 거리 데이터인지 선별하는 기능을 포함하지 않을 수 있다. Here, the signal processor 230 processes only a signal obtained from a position earlier than the application position 30 among the measurement points 116 and 117. Therefore, the signal processor 230 may not include a function of selecting which of the distance data measured from the measurement points 116 and 117 is the distance data measured from the measurement point located before the application position 30.

본 발명은 기판과 노즐 사이의 거리를 측정하는 거리 센서를 구비하는 페이스트 디스펜서에 적용될 수 있다. The present invention can be applied to a paste dispenser having a distance sensor that measures the distance between the substrate and the nozzle.

Claims (6)

삭제delete 노즐의 도포 위치를 변경해가며 기판 위에 페이스트를 도포하는 페이스트 디스펜서에 있어서, In the paste dispenser to apply the paste on the substrate while changing the application position of the nozzle, 상기 기판 위에 2개의 측정점을 형성하는 것으로, 상기 측정점들이 상기 도포 위치의 수평 이동 방향을 기준으로 상기 도포 위치의 전,후방에 위치함과 아울러 상기 도포 위치를 가운데 두고 양옆에 위치하도록 광을 투사하는 발광부; 및 By forming two measuring points on the substrate, the measuring points are located in front and rear of the coating position with respect to the horizontal movement direction of the coating position, and the light is projected so as to be located on both sides of the coating position. Light emitting unit; And 상기 측정점들로부터 반사되는 광들을 받아서 전기 신호로 변환하는 수광부;를 포함하며, And a light receiving unit receiving light reflected from the measurement points and converting the light into an electrical signal. 상기 발광부는, The light emitting unit, 하나의 광을 투사하는 광원; 및 A light source for projecting one light; And 상기 광원으로부터 투사되는 광을 2개의 광으로 분할하여 분할된 광들에 의해 상기 측정점들을 각각 형성하게 하는 것으로, 전반사막과 상기 전반사막보다 상기 광원에 가까이 배치되는 반투과막을 구비하는 광 분할기;를 포함하며, Dividing the light projected from the light source into two lights to form the measurement points by the divided lights, the light splitter including a total reflection film and a semi-transmissive film disposed closer to the light source than the total reflection film; , 상기 수광부로부터 입력되는 신호를 처리하여 상기 기판과 노즐 사이의 거리 데이터를 산출하고, 상기 측정점들로부터 측정된 거리 데이터 중 상기 도포 위치보다 앞서 위치하는 측정점으로부터 측정된 거리 데이터를 선별하는 신호 처리부를 포함하는 것을 특징으로 하는 페이스트 디스펜서의 거리 센서. A signal processor configured to process the signal input from the light receiver to calculate distance data between the substrate and the nozzle, and to select distance data measured from a measurement point positioned before the coating position among distance data measured from the measurement points. Distance sensor of the paste dispenser, characterized in that. 삭제delete 삭제delete 삭제delete 삭제delete
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