KR100910032B1 - Method for fabrication of cationized ferritins on metal/Si substrate - Google Patents
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Abstract
본 발명은 실리콘(Si) 기판을 준비하는 단계; 상기 실리콘(Si) 기판 상부를 습식 에칭 용액을 이용하여 에칭하는 단계; 상기 에칭된 실리콘 기판 상부에 열 증착방법을 이용하여 금속층을 형성하는 단계; 및 상기 금속층 상부에 스핀 코팅법을 이용하여 양이온화 된 페리틴 단백질 입자를 소정의 두께로 흡착하는 단계;를 포함하는 양이온화 된 페리틴 입자를 금속/실리콘 기판에 형성하는 방법을 개시한다. 본 발명에 의하면, 전하저장 및 전자의 이동 능력이 뛰어나 바이오 전지로 이용 가능한 페리틴 단백질을 Si 기판 위에 일정한 두께로 증착할 수 있는 방법을 제공하고 바이오 전지의 실용화의 가능성을 증가시킬 수 있다.The present invention comprises the steps of preparing a silicon (Si) substrate; Etching the upper portion of the silicon (Si) substrate using a wet etching solution; Forming a metal layer on the etched silicon substrate by a thermal deposition method; And adsorbing cationized ferritin protein particles to a predetermined thickness on the metal layer by spin coating. The method of claim 1, wherein the cationized ferritin particles are formed on a metal / silicon substrate. According to the present invention, it is possible to provide a method for depositing ferritin protein, which is excellent in charge storage and electron transfer ability, on a Si substrate with a certain thickness, and increase the possibility of practical use of the biocell.
실리콘, 습식 에칭, 페리틴, 양이온화, 바이오 전지 Silicon, Wet Etch, Ferritin, Cationic, Bio Cell
Description
본 발명은 양이온화 된 페리틴 입자를 금속/실리콘 기판에 형성하는 방법에 관한 것으로, 더욱 상세하게는 스핀 자기 증착법(SSA: spin-self assembly)으로 금속/실리콘 기판 위에 정전기력의 힘으로 페리틴 단백질 입자를 증착시키는 바이오 전지소자의 제조방법에 관한 것이다. The present invention relates to a method of forming cationized ferritin particles on a metal / silicon substrate. More particularly, the present invention relates to a method of forming ferritin protein particles on a metal / silicon substrate by electrostatic force by spin-self assembly (SSA). It relates to a method for manufacturing a bio-cell device to be deposited.
전지 사업은 1차 및 2차, 연료 전지 분야에서 크게 발전하고 있으며 더 많은 정전 용량을 담을 수 있는 소재 및 구조의 개발에 중점을 두고 있다. 그 중에서 Li 이온을 이용한 연료전지는 마이크로고정기술의 발달로 초소형 정밀소자의 전원, 또한 노트북, 핸드폰, 디지털 카메라 등의 휴대기기의 증가로 인해 그 수요가 폭발적으로 증가하고 있다. IT 기술의 계속되는 발전은 사용되는 전원의 양을 증가시켜 전원 공급 매체로서의 전지 분야의 중요성을 점점 더 크게 하고 이는 실정이다.The cell business is developing significantly in the primary, secondary, and fuel cell areas, with a focus on the development of materials and structures that can accommodate more capacitance. Among them, fuel cells using Li-ion have exploded in demand due to the development of micro-fixing technology and the increase of power supply of micro precision devices and portable devices such as laptops, mobile phones, and digital cameras. The continuing development of IT technology has increased the amount of power used, making the field of batteries as a power supply medium increasingly important.
과거 전지 시장은 1차 전지를 중심으로 급속하게 발전해 왔으나 21세기를 넘어서부터 디지털 카메라, MP3, 휴대폰과 같은 휴대기기 및 IT 산업의 발달로 연료전지의 시장이 급성장을 하고 있으며, 향후 짧은 시간 내에 전지 시장의 대부분을 차지할 것이라고 전망되고 있다. 이러한 연료전지 시장의 성장에 있어서 중요한 것은 전지 용량과 안전성이라고 할 수 있다. 특히 바이오 물질을 이용한 바이오 전지는 최근 신체의 변화를 모니터링하는 바이오센서 등 의료기기의 발달과 더불어 삽입형 전원의 필요성이 대두되어 인체에 친화적이고 친환경적인 전지의 필요성이 제기되고, 또한 기존의 다른 전지가 응용되는 분야까지 적용이 가능한 장점이 있기 때문에 이에 관련된 연구가 조속히 이루어져야 할 것이다.In the past, the battery market has been rapidly developing around primary batteries, but since the 21st century, the market of fuel cells has been growing rapidly due to the development of portable devices such as digital cameras, MP3s, mobile phones, and IT industries. It is expected to occupy most of the market. The important factors in the growth of the fuel cell market are battery capacity and safety. In particular, bio-cells using biomaterials have recently emerged with the development of medical devices such as biosensors that monitor changes in the body, and the necessity of insert-type power supplies to raise the need for human-friendly and environment-friendly batteries. Because there is an advantage that can be applied to the application field, the related research should be done as soon as possible.
전지의 용량을 증가시키기 위해서는 전하 저장층의 양을 늘려야 한다. 전지 셀의 크기를 줄이면서 전하 전장층의 양은 증대시켜야 한다. 하지만 현재의 2차 전지의 경우 그 사용 시간이 노트북 기준으로 2-3 시간으로 짧으며 또한 금속 이온을 사용하기에 폭발의 위험성 및 환경오염의 가능성까지 가지고 있다. 이에 반해 인체 및 동물의 단백질을 이용한 바이오 전지는 환경 오염 및 폭발의 가능성이 전혀 없으며 적층 구조로 만들었을 때 나노 구조로 인한 전하 저장량의 증가로 인하여 새로운 2차 전지를 구현할 수 있다.To increase the capacity of the cell, the amount of charge storage layer must be increased. While reducing the size of the battery cell, the amount of charge electric field layer should be increased. However, the current time of the secondary battery is as short as 2-3 hours on a notebook basis, and because of the use of metal ions, there is a risk of explosion and the possibility of environmental pollution. On the other hand, bio-cells using human and animal proteins have no possibility of environmental pollution and explosion, and when they are made in a laminated structure, new secondary batteries can be realized due to an increase in charge storage due to nano-structures.
본 발명은 기존 기술의 어려움을 해결하고자 고안되었다. 기존의 2차 전지는 제작 과정에서 리튬 이온이나 수소 이온 같은 중금속이나 발화 물질을 사용하기에 발열의 위험이나 사용 후 재처리 문제가 항상 존재하고 있다. The present invention is designed to solve the difficulties of the existing technology. Conventional secondary batteries use heavy metals or ignition materials such as lithium ions or hydrogen ions in the manufacturing process, so there is always a risk of exothermic or reprocessing problems after use.
본 발명은 높은 전하저장량을 가지고 환경친화적인 바이오 물질을 균일하고 안정적으로 도포하여 총전하량을 증가시키고, 사용 후 환경적인 문제가 전혀 없는 바이오 물질을 이용하여 오랜 시간 동작이 가능하고 열적, 환경적으로 안정적인 바이오 전지를 제조하기 위하여 양이온화 된 페리틴 입자를 금속/실리콘 기판에 형성하는 방법을 제공하는 목적으로 한다.The present invention increases the total charge by uniformly and stably applying environmentally friendly biomaterials with a high charge storage amount, and can be operated for a long time using biomaterials that have no environmental problems after use, and thermally and environmentally. It is an object of the present invention to provide a method of forming cationized ferritin particles on a metal / silicon substrate in order to manufacture a stable biocell.
상기 목적을 달성하기 위한 본 발명은,The present invention for achieving the above object,
실리콘(Si) 기판을 준비하는 단계;Preparing a silicon (Si) substrate;
상기 실리콘(Si) 기판 상부를 습식 에칭 용액을 이용하여 에칭하는 단계;Etching the upper portion of the silicon (Si) substrate using a wet etching solution;
상기 에칭된 실리콘 기판 상부에 열 증착방법을 이용하여 금속층을 형성하는 단계; 및Forming a metal layer on the etched silicon substrate by a thermal deposition method; And
상기 금속층 상부에 스핀 코팅법을 이용하여 양이온화 된 페리틴 단백질 입자를 소정의 두께로 흡착하는 단계;를 포함하는 것을 특징으로 하는 양이온화 된 페리틴 입자의 금속/실리콘 기판에 형성하는 방법을 제공한다. And adsorbing cationized ferritin protein particles to a predetermined thickness on the metal layer by spin coating. The method provides a method of forming a cationized ferritin particle on a metal / silicon substrate.
상기 습식 에칭 용액은 HF, HCl, H2O, H2O2, NaOH 및 KOH로 이루어진 군에서 선택된 하나 이상인 것이 바람직하다.The wet etching solution is preferably at least one selected from the group consisting of HF, HCl, H 2 O, H 2 O 2 , NaOH and KOH.
상기 금속층은 Au, Ag, Ti, 및 Al 중에서 선택된 어느 하나의 성분인 것이 바람직하다.The metal layer is preferably any one component selected from Au, Ag, Ti, and Al.
상기 페리틴 단백질 층은 금속 나노 입자를 내부에 함유하는 것이 바람직하다.The ferritin protein layer preferably contains metal nanoparticles therein.
상기 에칭 단계에서 에칭시간은 2 내지 4시간으로 하고, 상기 금속층의 두께 는 10 내지 100nm인 것이 바람직하다.In the etching step, the etching time is 2 to 4 hours, and the thickness of the metal layer is preferably 10 to 100 nm.
본 발명은 기존의 바이오 전지에 비해 저 전압으로 동작할 수 있을 뿐만 아니라 동작시간도 충분한 단백질 입자를 이용한 바이오 전지의 제작 및 그 흡착 방법에 관한 것이다.The present invention relates to the fabrication of a bio-cell using a protein particle that can operate at a lower voltage as well as a sufficient operating time compared to a conventional bio-cell and its adsorption method.
이하, 첨부 도면을 참조하여 본 발명의 실시 예를 상세히 설명한다.Hereinafter, embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings.
본 발명은 바이오 물질인 단백질을 습식 에칭 방법을 이용하여 기판의 표면에 단백질 입자가 잘 흡착되도록 한 후 스핀 코팅을 이용하여 일정한 두께로 기판 위에 도포하여 고정전용량을 가짐으로써 전하 저장 및 전원 공급용으로 사용될 수 있다.The present invention allows protein particles to be adsorbed to the surface of the substrate well by using a wet etching method of the bio-material protein is applied to the substrate to a certain thickness by using a spin coating to have a fixed capacitance has a charge capacity and power supply Can be used as
먼저, 첨부 도면 도 1에 도시된 바와 같은 공정을 완성하기 위해 기판을 준비한다[(a)]. 에칭 용액을 이용하여 Si 기판(10) 위의 SiO2층(11)과 Si의 일부를 에칭한다[(b)]. 에칭 용액은 HF, HCl, H2O, H2O2, NaOH 및 KOH로 이루어진 군에서 선택된 하나 이상이 바람직하다. 금속을 열 증착법을 이용하여 에칭된 Si 기판(10) 위에 금속층(20)을 형성한다[(c)]. 상기 금속층(20)은 Au, Ag, Ti, 및 Al 중에서 선택된 어느 하나의 성분을 사용하여 형성될 수 있다. 스핀 코팅 방법을 이용하여 금속층(20)이 형성된 Si 기판(10) 위에 페리틴 단백질을 일정한 두께로 도포하여 페리틴 단백질 입자층(30)을 형성한다[(d)]. 상기 페리틴 단백질 입자층(30)은 금속 나노 입자를 내부에 함유할 수 있다.First, a substrate is prepared to complete the process as shown in FIG. 1 [(a)]. The etching solution is used to etch a portion of Si and the SiO 2 layer 11 on the Si substrate 10 [(b)]. The etching solution is preferably at least one selected from the group consisting of HF, HCl, H 2 O, H 2 O 2 , NaOH and KOH. The
금속/에칭된 Si은 금속/비에칭된 Si보다 더욱 양이온화 된 페리틴을 유도한다. 금속과 에칭된 Si 기판 사이의 계면에서의 대전상태로 인하여 그 표면이 음으로 대전된다. 표면에서 생성된 정전기력은 양이온화 된 페리틴 분자를 유도한다.Metal / etched Si leads to more cationic cationized ferritin than metal / unetched Si. The surface is negatively charged due to the state of charge at the interface between the metal and the etched Si substrate. Electrostatic forces generated at the surface induce cationized ferritin molecules.
일반적으로 Si 표면은 반응성이 강하고, 다양한 종류의 물질과 반응할 수 있다. 실리콘 표면은 공기 중에 노출되는 경우 SiOx가 약 15Å에 이른다. 식각에 의해 표면에서의 산소 필름뿐만 아니라 Si 원자도 에칭되고, 이는 dangling bond(DB)로서 존재한다. 벌크 Si인 경우 두 개의 이웃하는 원자는 각각의 하나의 원자에 기여하여 공유결합을 형성하게 하고, 표면 Si 원자는 원자들과 함께 불포화된 DB를 갖는다. 이 표면은 DB로 인하여 반응성이고 높은 도펀트 농도를 갖는 n형 Si 상에서 음으로 대전되도록 한다.In general, Si surfaces are highly reactive and can react with various kinds of materials. The silicon surface has a SiO x of about 15 kPa when exposed to air. By etching, not only the oxygen film at the surface but also Si atoms are etched, which exists as a dangling bond (DB). In the case of bulk Si, two neighboring atoms contribute to each one atom to form a covalent bond, and the surface Si atoms have unsaturated DB with the atoms. This surface causes negative charge on the n-type Si, which is reactive due to the DB and has a high dopant concentration.
실리콘 및 금속 사이의 계면에서의 DB로 인하여, 금속(예: Au) 표면은 음으로 대전된다. 많은 DB를 함유하는 Si 표면은 음으로 대전되고, 금속 및 실리콘 기판 사이의 계면에서의 정전기력은 금속 필름의 전자를 금속 표면으로 모이게 한다. 따라서 금속 필름상의 정전기력은 양이온화 된 페리틴을 금속 표면상에 강하게 고정시킨다. 금속 표면에서의 전자의 숫자는 에칭 시간과 관계된 DB의 밀도 및 금속 필름의 두께에 의존한다.Due to the DB at the interface between the silicon and the metal, the metal (eg Au) surface is negatively charged. Si surfaces containing many DBs are negatively charged, and the electrostatic forces at the interface between the metal and the silicon substrate attract electrons from the metal film to the metal surface. Thus, the electrostatic force on the metal film strongly fixes the cationized ferritin on the metal surface. The number of electrons at the metal surface depends on the density of the DB and the thickness of the metal film in relation to the etching time.
Si 기판의 에칭시간이 길어질수록 골드 필름상에 더 많은 페리틴 분자가 존재한다. 에칭 단계에서 에칭시간은 2 내지 4시간이 바람직하다. 에칭시간이 2시간 미만인 경우에는 에칭의 효과가 미미하여 바람직하지 못하고, 에칭시간이 4시간을 초과하는 경우에는 Si에 손상을 입힐 수 있어 밀도가 급격하게 감소하기 때문에 바람직하지 못하다.The longer the etching time of the Si substrate, the more ferritin molecules are present on the gold film. The etching time in the etching step is preferably 2 to 4 hours. If the etching time is less than 2 hours, the effect of etching is insignificant and undesirable. If the etching time is more than 4 hours, the Si may be damaged and the density is drastically reduced.
도 2는 Si 기판 상에 존재하는 dangling bond(DB)와 골드 표면에서의 정전기력 사이의 관계를 도시한다. 도 2를 참조하면, dangling bond(DB)가 많으면 Si 기판 표면상에서의 정전기력은 골드 필름에서의 전자를 그 표면으로 밀어낸다. 한편 골드 표면이 음으로 대전되면, 그 정전기력은 양이온화 된 페리틴을 유도한다. 에칭이 약하게 된 Si의 경우에는 그 표면은 작은 DB를 포함하고 있어서 골드 표면에 적은 전자를 모이게 하고 페리틴을 적게 유도한다. 또한 골드 필름의 두께가 크면 클수록 골드 표면에서의 전자 수도 적어진다. 즉 골드 필름 두께의 감소는 페리틴 외관 밀도를 감소시키는 데 기여한다. 2 shows the relationship between the dangling bond (DB) present on the Si substrate and the electrostatic force on the gold surface. Referring to FIG. 2, when there are many dangling bonds (DB), the electrostatic force on the Si substrate surface pushes the electrons in a gold film to the surface. On the other hand, if the gold surface is negatively charged, its electrostatic force induces cationized ferritin. In the case of a weak etched Si, the surface contains a small DB, attracting less electrons to the gold surface and inducing less ferritin. In addition, the larger the thickness of the gold film, the fewer the electrons on the gold surface. In other words, the reduction of the gold film thickness contributes to the reduction of the ferritin appearance density.
상기 금속층의 두께는 10 내지 100nm인 것이 바람직하다. 금속층의 두께가 10nm 미만인 경우에는 금속 증착의 효과가 미미하여 바람직하지 못하고, 100nm를 초과하는 경우에는 페리틴 분자의 밀도가 감소하여 흡착 효과가 저하되므로 바람직하지 못하다.It is preferable that the thickness of the said metal layer is 10-100 nm. When the thickness of the metal layer is less than 10 nm, the effect of metal deposition is insignificant and undesirable. If the thickness of the metal layer is greater than 100 nm, the density of ferritin molecules decreases and the adsorption effect is lowered.
본 발명은 반도체 기판 위에 일정한 두께로 단백질 입자를 증착할 수 있는 방법을 제시하여 단백질을 이용한 바이오 전지의 동작 전력과 동작시간을 증가시켜 바이오 전지를 개선할 수 있다.The present invention provides a method for depositing protein particles with a predetermined thickness on a semiconductor substrate to improve the bio-cell by increasing the operating power and operating time of the bio-cell using the protein.
또한, 본 발명은 바이오 전지 구현시 간단한 공정을 통해 단백질 입자의 증착력과 증착량을 증가시켜 전지의 성능을 향상시킬 수 있다.In addition, the present invention can improve the performance of the battery by increasing the deposition power and deposition amount of the protein particles through a simple process in the bio-cell implementation.
실시예Example
실시예Example 1 One
페리틴의 카르복실기와 수용성 카르보이미드(EDC)의 활성화와 활성화된 카르복실기와 N,N-디메틸-1,3-프로판디아민(DMPA)의 반응에 기초한 화학반응을 이용하여 양이온화 된 페리틴을 제조하였다. 추가적인 정제를 100kDa 멤브레인으로 수행하였다. 이어서 단백질의 농도는 브레드포드법를 이용하여 측정하였다(9.7g/L).Cationic ferritin was prepared using a chemical reaction based on the activation of the carboxyl group of ferritin and the activation of water-soluble carbodiimide (EDC) and the reaction of the activated carboxyl group with N, N-dimethyl-1,3-propanediamine (DMPA). Further purification was performed with a 100kDa membrane. The protein concentration was then measured using the Bradford method (9.7 g / L).
N형 Si 웨이퍼를 HF용액을 이용하여 80℃에서 2, 4, 6 시간 동안 에칭하였다. 이어서 제조된 각각의 웨이퍼를 80℃에서 NH3:H2O2:H2O(1:1:5) 염기 혼합물에 15분 동안 가열하여 완전하게 기판 표면을 에칭하고, N2 가스 퍼지에 의해 건조하였다.The N-type Si wafer was etched at 80 ° C. for 2, 4, 6 hours using HF solution. Each wafer thus prepared is then heated to a NH 3 : H 2 O 2 : H 2 O (1: 1: 5) base mixture at 80 ° C. for 15 minutes to completely etch the substrate surface and by N 2 gas purge Dried.
상기 제조된 Si 기판 상에 양이온화 된 페리틴의 증착에 이용되기 전에 산화로 인한 패시베이션(passivation)을 방지하기 위하여 골드 필름을 증착하여 두께가 각각 10, 50, 100nm가 되도록 하였다.The gold film was deposited to have a thickness of 10, 50, and 100 nm, respectively, in order to prevent passivation due to oxidation before being used for deposition of cationized ferritin on the prepared Si substrate.
스핀 자기 증착법(SSA: spin self assembly)을 이용하여 증착작업을 수행한다. 구체적으로는 200rpm의 고정된 회전 속도로 회전하는 스핀 코터를 이용하여 골드 필름 상에 증착된 0.15M의 NaCl 용액에 양이온 페리틴 용액 한 방울을 용해시켰다. 곧바로 회전 속도를 4,000rpm으로 증가시켰다. 페리틴막의 증착 이후에 기판을 다량의 탈이온수로 두 번 완전하게 세척하였다. 세척 단계에서의 스핀 코터의 회전 속도는 막 증착 시와 동일하게 4,000 rpm으로 하였다.Deposition is performed using spin self assembly (SSA). Specifically, one drop of the cationic ferritin solution was dissolved in 0.15 M NaCl solution deposited on the gold film using a spin coater rotating at a fixed rotational speed of 200 rpm. Immediately, the rotation speed was increased to 4,000 rpm. After deposition of the ferritin film, the substrate was thoroughly washed twice with a large amount of deionized water. The rotational speed of the spin coater in the washing step was 4,000 rpm as in the case of film deposition.
결과 및 평가Results and rating
실리콘(Si) 기판을 에칭용액을 사용하여 표면을 식각한 다음 열 증착법으로 금속을 얇게 에칭된 Si 기판 위에 증착한 후 스핀 코터(spin coater)를 이용하여 용액에 분산되어 있는 페리틴 단백질 입자를 실리콘 기판 위에 도포하고 원자간력 현미경[(AFM: Atomic Force Microscopy), 공기 중 촬영(Nanoscope IV, Digital Instruments)]을 이용하여 페리틴 단백질 입자를 통해 흐르는 전류의 양을 조사하여 페리틴 단백질의 특성을 조사하였다.After etching the surface of the silicon (Si) substrate using an etching solution and depositing a metal on the thinly etched Si substrate by thermal evaporation, the ferritin protein particles dispersed in the solution using a spin coater are used to deposit the silicon substrate. The characteristics of ferritin protein were examined by applying the amount of the current flowing through the ferritin protein particles by applying on the Atomic Force Microscopy (AFM) and in-air photography (Nanoscope IV, Digital Instruments).
에칭되지 않은 실리콘 기판 위에 증착된 페리틴 단백질 입자의 원자간력 현미경(AFM) 이미지를 도 3a 및 도 3b에 나타내었다. 도 3a는 에칭되지 않은 실리콘 표면에서의 두께가 50nm인 골드 표면에 대한 AFM 이미지이고, 도 3b는 SSA법을 이용하여 표면상에 증착된 페리핀 분자에 대한 AFM 이미지를 나타낸다. 도 3a 및 도 3b는 이미지 간의 차이가 거의 없으며, 이는 페리틴 단백질 분자가 에칭되지 않은 실리콘 기판과 골드 필름 위에 거의 흡착되지 않았음을 의미한다.Atomic force microscopy (AFM) images of ferritin protein particles deposited on unetched silicon substrates are shown in FIGS. 3A and 3B. FIG. 3A is an AFM image of a gold surface with a thickness of 50 nm on an unetched silicon surface, and FIG. 3B shows an AFM image of peripine molecules deposited on the surface using the SSA method. 3A and 3B show little difference between the images, meaning that the ferritin protein molecules were hardly adsorbed onto the etched silicon substrate and the gold film.
또한 실리콘 기판을 4시간 동안 에칭하고, 에칭된 실리콘 기판 위에 골드를 증착하고 SSA법을 이용하여 양이온 페리틴 단백질를 증착하였다. 기판 위에 정렬된 페리틴 분자의 이미지를 도 4a 및 도 4b에 나타내었다. 도 4a 및 도 4b는 페리틴의 단백질 외관이 Au/에칭된 Si 기판에 잘 증착된 형상을 나타내고 있다.In addition, the silicon substrate was etched for 4 hours, gold was deposited on the etched silicon substrate, and the cationic ferritin protein was deposited using the SSA method. Images of ferritin molecules aligned on the substrate are shown in FIGS. 4A and 4B. Figures 4a and 4b shows the shape of ferritin protein deposited on the Au / etched Si substrate.
도 3a, 도 3b, 도 4a 및 도 4b를 통하여 양이온화 된 페리틴 단백질 분자는 Au 필름 상에 흡착되지 않지만, 에칭된 실리콘 기판은 Au가 페리틴을 잘 흡착하게 한다는 것을 알 수 있다. 3A, 3B, 4A, and 4B, the cationized ferritin protein molecules are not adsorbed on the Au film, but the etched silicon substrate allows Au to adsorb ferritin well.
도 5는 실리콘 기판에 골드층, 페리틴 단백질 입자층이 순차적으로 증착된 형상의 투과 전자 현미경(TEM: transmission electron microscope) 사진이다.5 is a transmission electron microscope (TEM) photograph of a gold layer and a ferritin protein particle layer sequentially deposited on a silicon substrate.
각각의 제조된 기판상에 어느 정도의 페리틴이 존재하는지에 대한 정확한 측정 및 최적의 에칭 조건을 발견하기 위하여 AFM 제조업자 및 표준 정규 분포(SND: standard normal distribution)에 의해 제공된 소프트웨어를 이용하여 주어진 높이의 상부 페리틴 함량을 조사하였다. 이 방법은 평균 높이로부터의 통계학적 편차에 관한 추가적인 정보를 얻을 수 있다. SND를 이용함으로써 임의의 높이 위쪽에 위치하는 페리틴의 함량을 백분율로 계산할 수 있다. 도 6은 Z 높이에 대한 픽셀의 산출에 기초하여 특정 높이에서의 SND 분석으로 도출된 히스토그램을 나타낸다. Given height using the software provided by the AFM manufacturer and standard normal distribution (SND) to find the optimal etch conditions and accurate measurement of how much ferritin is present on each manufactured substrate The upper ferritin content of was investigated. This method can obtain additional information about the statistical deviation from the mean height. By using SND, the content of ferritin located above any height can be calculated as a percentage. 6 shows a histogram derived from SND analysis at a specific height based on the calculation of the pixel for the Z height.
거칠기(roughness) 분석을 통하여 골드 필름의 평균 높이인 기판으로부터 4nm 높이 위의 페리틴 퍼센트를 얻었고, 이를 도 7a 및 도 7b에 나타내었다. 도 7a를 참조하면, 동일한 에칭시간(4시간)에서의 Au 두께에 따른 페리틴의 분포를 나타낸다. 도 7b를 참조하면, 동일한 Au 두께(50nm)에서의 에칭시간에 따른 페리틴의 분포를 나타낸다. 이 결과는 먼저 Au 두께를 증가시킴에 따라 페리틴 분자의 밀도가 감소한다는 것을 의미하며, 또한 Si 기판의 에칭시간이 길어질수록 골드 필름상에 더 많은 페리틴 분자가 존재하고, 에칭시간이 증가한다고 하더라도 4시간을 초과하는 경우에는 Si에 손상을 입힐 수 있어 밀도가 급격하게 감소한다는 것을 나타내고 있다. 이러한 실험 결과로부터 Au 표면에서의 페리틴 분자의 흡착을 위한 지 배적인 요소는 Si 기판의 습식 에칭이라는 것을 확인할 수 있다. Roughness analysis yielded the percent ferritin over 4 nm height from the substrate, the average height of the gold film, as shown in FIGS. 7A and 7B. Referring to FIG. 7A, the distribution of ferritin according to Au thickness at the same etching time (4 hours) is shown. Referring to FIG. 7B, the distribution of ferritin according to the etching time at the same Au thickness (50 nm) is shown. This result means that the density of ferritin molecules decreases as the Au thickness is increased first. Also, the longer the etching time of Si substrate, the more ferritin molecules are present on the gold film. If it exceeds time, it may damage Si and it shows that density falls rapidly. These experimental results confirm that the dominant factor for the adsorption of ferritin molecules on the Au surface is wet etching of the Si substrate.
도 8a 내지 도 8d는 각각 에칭 전, 에칭 후 2, 4, 6 시간 경과후 Si 표면의 AFM 이미지를 나타낸다. 비에칭된 기판에 비하여 에칭된 Si 기판은 더욱 불균일한 표면을 나타낸다. 이는 습식 에칭을 통하여 음의 산소를 이탈시키고 표면/공기 계면에서 접촉하고 있는 DB를 생성할 수 있는 약한 Si 결합을 파괴한다. 에칭된 Si에 증착된 Au, Au/Si 계면의 다른 구조는 비에칭된 Si의 경우와 비교하여 골드 표면이 페리틴 분자를 더욱 유도하도록 한다. 에칭시간이 6시간인 경우에 Si는 심각하게 손상되며 DB의 제조를 방해한다는 것을 알 수 있다. 8A to 8D show AFM images of the Si surface before and after 2, 4 and 6 hours after etching, respectively. The etched Si substrate shows a more non-uniform surface compared to the unetched substrate. This breaks down the weak oxygen via wet etching and breaks the weak Si bonds which can create a DB in contact at the surface / air interface. The other structure of the Au, Au / Si interface deposited on the etched Si allows the gold surface to further induce ferritin molecules as compared to the case of unetched Si. It can be seen that when the etching time is 6 hours, Si is seriously damaged and interferes with the preparation of the DB.
도 1은 실리콘 기판 위에 페리틴 단백질 입자를 증착시키는 방법의 공정도이다.1 is a process diagram of a method of depositing ferritin protein particles on a silicon substrate.
도 2는 Si 기판 상에 존재하는 dangling bond(DB)와 골드 표면에서의 정전기력 사이의 관계를 도시한다.2 shows the relationship between the dangling bond (DB) present on the Si substrate and the electrostatic force on the gold surface.
도 3a는 각각 증착공정을 거치지 않은 실리콘 기판 위에 증착된 골드 표면의 원자간력 현미경(AFM: Atomic Force Microscopy) 사진이다. 3A is an Atomic Force Microscopy (AFM) photograph of a gold surface deposited on a silicon substrate, each of which is not subjected to a deposition process.
도 3b는 SSA법을 이용하여 골드 표면에 페리틴 단백질이 증착된 원자간력 현미경(AFM) 사진이다.3B is an atomic force microscope (AFM) photograph of ferritin protein deposited on a gold surface using SSA method.
도 4a 및 도 4b는 증착공정을 이용하여 실리콘 기판 위에 증착된 페리틴 단백질 입자의 원자간력 현미경(AFM: Atomic Force Microscopy) 사진이다.4A and 4B are Atomic Force Microscopy (AFM) photographs of ferritin protein particles deposited on a silicon substrate using a deposition process.
도 5는 실리콘 기판에 골드층, 페리틴 단백질 입자층이 순차적으로 증착된 형상의 투과 전자 현미경(TEM: transmission electron microscope) 사진이다.5 is a transmission electron microscope (TEM) photograph of a gold layer and a ferritin protein particle layer sequentially deposited on a silicon substrate.
도 6은 Z 높이에서 나타내는 픽셀의 산출에 기초한 특정 높이의 히스토그램을 나타낸다.6 shows a histogram of a specific height based on the calculation of a pixel represented at the Z height.
도 7a는 Au 두께에 따른 페리틴의 분포를 나타내고, 도 7b는 에칭시간에 따른 페리틴의 분포를 나타낸다.Figure 7a shows the distribution of ferritin according to Au thickness, Figure 7b shows the distribution of ferritin according to the etching time.
도 8a는 에칭하기 전 Si 기판의 거칠기(Roughness), 도 8b는 2시간 동안 에칭한 후 Si 기판의 거칠기, 도 8c는 4시간 동안 에칭한 후 Si 기판의 거칠기, 도 8d는 6시간 동안 에칭한 후 Si 기판의 거칠기를 나타낸다. 8A shows the roughness of the Si substrate before etching, FIG. 8B shows the roughness of the Si substrate after etching for 2 hours, FIG. 8C shows the roughness of the Si substrate after etching for 4 hours, and FIG. 8D shows the etching for 6 hours. The roughness of the Si substrate is then shown.
<도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명><Explanation of symbols for the main parts of the drawings>
10 : Si 기판 11 : SiO2 층 10
20 : Au 층 20: Au layer
30 : 페리틴 단백질 입자층 30: kemperitin protein particle layer
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JP2001167755A (en) | 1999-12-07 | 2001-06-22 | Kansai Coke & Chem Co Ltd | Negative electrode material for use in non-aqueous secondary battery and method of producing the same |
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Patent Citations (2)
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---|---|---|---|---|
JP2001093539A (en) | 1999-09-28 | 2001-04-06 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | Solid polimer electrolytic fuel cell |
JP2001167755A (en) | 1999-12-07 | 2001-06-22 | Kansai Coke & Chem Co Ltd | Negative electrode material for use in non-aqueous secondary battery and method of producing the same |
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