KR100892648B1 - Internal Voltage Generating Circuit - Google Patents
Internal Voltage Generating Circuit Download PDFInfo
- Publication number
- KR100892648B1 KR100892648B1 KR1020070081030A KR20070081030A KR100892648B1 KR 100892648 B1 KR100892648 B1 KR 100892648B1 KR 1020070081030 A KR1020070081030 A KR 1020070081030A KR 20070081030 A KR20070081030 A KR 20070081030A KR 100892648 B1 KR100892648 B1 KR 100892648B1
- Authority
- KR
- South Korea
- Prior art keywords
- internal voltage
- write
- output
- signal
- generator
- Prior art date
Links
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C11/00—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor
- G11C11/21—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements
- G11C11/34—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices
- G11C11/40—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors
- G11C11/401—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors forming cells needing refreshing or charge regeneration, i.e. dynamic cells
- G11C11/4063—Auxiliary circuits, e.g. for addressing, decoding, driving, writing, sensing or timing
- G11C11/407—Auxiliary circuits, e.g. for addressing, decoding, driving, writing, sensing or timing for memory cells of the field-effect type
- G11C11/4074—Power supply or voltage generation circuits, e.g. bias voltage generators, substrate voltage generators, back-up power, power control circuits
-
- G—PHYSICS
- G05—CONTROLLING; REGULATING
- G05F—SYSTEMS FOR REGULATING ELECTRIC OR MAGNETIC VARIABLES
- G05F1/00—Automatic systems in which deviations of an electric quantity from one or more predetermined values are detected at the output of the system and fed back to a device within the system to restore the detected quantity to its predetermined value or values, i.e. retroactive systems
- G05F1/10—Regulating voltage or current
- G05F1/46—Regulating voltage or current wherein the variable actually regulated by the final control device is dc
- G05F1/462—Regulating voltage or current wherein the variable actually regulated by the final control device is dc as a function of the requirements of the load, e.g. delay, temperature, specific voltage/current characteristic
- G05F1/465—Internal voltage generators for integrated circuits, e.g. step down generators
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C11/00—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor
- G11C11/21—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements
- G11C11/34—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices
- G11C11/40—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors
- G11C11/401—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors forming cells needing refreshing or charge regeneration, i.e. dynamic cells
- G11C11/4063—Auxiliary circuits, e.g. for addressing, decoding, driving, writing, sensing or timing
- G11C11/407—Auxiliary circuits, e.g. for addressing, decoding, driving, writing, sensing or timing for memory cells of the field-effect type
- G11C11/4072—Circuits for initialization, powering up or down, clearing memory or presetting
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C11/00—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor
- G11C11/21—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements
- G11C11/34—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices
- G11C11/40—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors
- G11C11/401—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors forming cells needing refreshing or charge regeneration, i.e. dynamic cells
- G11C11/4063—Auxiliary circuits, e.g. for addressing, decoding, driving, writing, sensing or timing
- G11C11/407—Auxiliary circuits, e.g. for addressing, decoding, driving, writing, sensing or timing for memory cells of the field-effect type
- G11C11/409—Read-write [R-W] circuits
- G11C11/4096—Input/output [I/O] data management or control circuits, e.g. reading or writing circuits, I/O drivers or bit-line switches
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C5/00—Details of stores covered by group G11C11/00
- G11C5/14—Power supply arrangements, e.g. power down, chip selection or deselection, layout of wirings or power grids, or multiple supply levels
- G11C5/145—Applications of charge pumps; Boosted voltage circuits; Clamp circuits therefor
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C7/00—Arrangements for writing information into, or reading information out from, a digital store
- G11C7/22—Read-write [R-W] timing or clocking circuits; Read-write [R-W] control signal generators or management
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Databases & Information Systems (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Electromagnetism (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Radar, Positioning & Navigation (AREA)
- Automation & Control Theory (AREA)
- Power Engineering (AREA)
- Dram (AREA)
Abstract
본 발명의 내부 전압 생성 회로는 라이트 시작 신호 및 라이트 중지 신호를 입력받아 내부 전압 인에이블 신호를 출력하는 제어부; 및 상기 내부 전압 인에이블 신호에 응답하여 내부 전압을 구동시키는 내부 전압 생성부를 포함한다.The internal voltage generation circuit of the present invention includes a controller for receiving a write start signal and a write stop signal and outputting an internal voltage enable signal; And an internal voltage generator configured to drive an internal voltage in response to the internal voltage enable signal.
전압 생성 회로, 전압 강하 Voltage generating circuit, voltage drop
Description
본 발명은 반도체 집적 회로에 관한 것으로, 구체적으로는 내부 전압 생성 회로에 관한 것이다.TECHNICAL FIELD The present invention relates to semiconductor integrated circuits, and more particularly, to internal voltage generation circuits.
디램의 저전력화와 외부 전력에 의한 영향 감소를 위하여 디램 내부의 코어 영역에는 외부에서 가해주는 전압보다 낮은 전위의 내부 전압을 인가하여 주고 있으며, 이러한 전압을 코아 전압(Vcore)이라고 한다. 상기 코아 전압(Vcore)은 셀 데이터를 증폭시키는 전압으로 사용되기 때문에 디램이 동작하는 동안 안정적인 전위를 유지하는 것이 매우 중요하지만, 최근 디램의 고속화, 저전압화로 인하여 외부의 노이즈 등이 상기 코아 전압(Vcore)에 유입되면서 안정적인 상기 코아 전압(Vcore)의 구현이 어려워지고 있다. In order to reduce the power of the DRAM and reduce the influence of external power, an internal voltage of a potential lower than an externally applied voltage is applied to the core region of the DRAM. Such a voltage is called a core voltage (Vcore). Since the core voltage Vcore is used as a voltage for amplifying cell data, it is very important to maintain a stable potential while the DRAM is operating. It is becoming difficult to implement the stable core voltage (Vcore) as it is introduced into.
상기 코아 전압(Vcore)의 사용량은 데이터를 셀에 라이트할 때 가장 크게 증가한다. 디램의 데이터를 입출력하는 라인(Lio line)의 프리차지(precharge) 전압으로 비트라인 프리차지 전압(Vblp)을 사용하는 경우, 데이터를 라이트할 때 로컬 입출력 라인(Lio line)이 데이터의 값에 따라 접지 전압 또는 상기 코아 전압(Vcore)의 레벨까지 벌어지면서 상기 코아 전압(Vcore)의 사용량이 크게 증가한 다. 로컬 입출력 라인을 상기 코아 전압(Vcore)으로 프리차지시, 데이터를 라이트할 때 접지 전압 레벨이던 상기 로컬 입출력 라인을 상기 코아 전압(Vcore)으로 프리차지하면서 상기 코아 전압(Vcore)의 소모량이 증가하게 된다. 따라서, 상기 코아 전압(Vcore)이 일시적으로 낮아진다. The usage of the core voltage Vcore is most increased when data is written to the cell. When the bit line precharge voltage Vblp is used as the precharge voltage of the line for inputting / outputting the data of the DRAM, the local input / output line (Lio line) depends on the data value when writing the data. As the ground voltage or the core voltage Vcore is increased, the amount of the core voltage Vcore increases. When precharging a local input / output line to the core voltage Vcore, the consumption of the core voltage Vcore is increased while precharging the local input / output line, which was the ground voltage level when writing data, to the core voltage Vcore. do. Therefore, the core voltage Vcore is temporarily lowered.
이와 같이, 상기 코아 전압(Vcore)의 소모량이 급격히 증가하게 될 경우, 상기 코아 전압(Vcore)의 감소량을 줄이기 위해서는 코아 전압(Vcore) 드라이버의 반응 시간(response time)을 빠르게하여 상기 코아 전압(Vcore)의 레벨이 떨어지기전에 코아 전압(Vcore) 드라이버를 동작시켜 상기 코아 전압(Vcore)의 소모량을 충당해주어야 한다. 그러나 코아 전압(Vcore) 드라이버의 구동 속도를 증가시키면 드라이버의 동작시에 필요한 전류량이 크게 증가한다. 또한, 상기 코아 전압(Vcore) 소모량이 적을때에도 빠른 구동 속도로 동작하게 되면 드라이버에서 구동되는 전류가 상기 코아 전압(Vcore)을 증가시켜서 오히려 상기 코아 전압(Vcore)이 안정적이지 않게 된다. As such, when the consumption of the core voltage Vcore is sharply increased, in order to reduce the decrease of the core voltage Vcore, the response time of the core voltage Vcore driver is increased to increase the core voltage Vcore. The core voltage Vcore driver should be operated to cover the consumption of the core voltage Vcore before the level drops. However, increasing the driving speed of the core voltage (Vcore) driver greatly increases the amount of current required to operate the driver. In addition, when the core voltage Vcore is consumed and operated at a high driving speed, the current driven by the driver increases the core voltage Vcore, so that the core voltage Vcore is not stable.
이와 같은 종래의 코아 전압(Vcore) 드라이버는 코아 전압(Vcore)의 소모량이 많을 때나 적을 때의 구동 속도가 항상 동일하다. 따라서, 상기 코아 전압(Vcore)의 소모량이 많을 때는 상기 코아 전압(Vcore)이 일시적으로 크게 낮아지는 현상인, 피크 드롭(peak drop)이 생기는 문제점이 있다.In the conventional core voltage Vcore driver, the driving speed is always the same when the core voltage Vcore is large or small. Accordingly, when the core voltage Vcore is largely consumed, there is a problem that a peak drop occurs, which is a phenomenon in which the core voltage Vcore is temporarily lowered significantly.
본 발명은 상술한 문제점을 해결하기 위해 안출된 것으로 내부 전압의 사용량에 따라 내부 전압 드라이버의 구동 속도를 조절하는 내부 전압 생성 회로를 제공하는데 목적이 있다.An object of the present invention is to provide an internal voltage generation circuit that adjusts a driving speed of an internal voltage driver according to an amount of internal voltage used to solve the above problems.
상술한 기술적 과제를 달성하기 위한 본 발명의 내부 전압 생성 회로는 라이트 시작 신호 및 라이트 중지 신호를 입력받아 내부 전압 인에이블 신호를 출력하는 제어부; 및 상기 내부 전압 인에이블 신호에 응답하여 내부 전압을 구동시키는 내부 전압 생성부를 포함한다.According to an aspect of the present invention, there is provided an internal voltage generation circuit including a controller configured to receive a write start signal and a write stop signal and output an internal voltage enable signal; And an internal voltage generator configured to drive an internal voltage in response to the internal voltage enable signal.
본 발명에 따른 내부 전압 생성 회로는 특정 동작에서 내부 전압의 사용량이 많은 경우 내부 전압 생성 회로의 구동 속도를 일시적으로 빠르게 하여 내부 전압의 전위가 낮아지는 것을 방지할 수 있으므로 안정적인 내부 전압을 생성할 수 있다.The internal voltage generation circuit according to the present invention can generate a stable internal voltage because the potential of the internal voltage can be prevented from being lowered temporarily by temporarily increasing the driving speed of the internal voltage generation circuit when a large amount of internal voltage is used in a specific operation. have.
이하에서는 첨부된 도면을 참조하여 본 발명의 바람직한 실시예를 보다 상세히 설명하기로 한다.Hereinafter, with reference to the accompanying drawings will be described in detail a preferred embodiment of the present invention.
도 1은 본 발명에 따른 내부 전압 생성 회로의 블록도이다. 1 is a block diagram of an internal voltage generation circuit according to the present invention.
도시한 것과 같이, 본 발명에 따른 반도체 집적 회로는 제어부(100) 및 내부 전압 생성부(200)로 구성된다. As illustrated, the semiconductor integrated circuit according to the present invention includes a
또한, 상기 내부 전압 생성부(200)는 가속부(210)를 포함할 수 있다. 상기 가속부(210)는 라이트 동작시, 일정 구간 동안 활성화되는 내부 전압 인에이블 신호(VcoreEn)를 입력받아 내부 전압 생성 속도를 가속시킨다.In addition, the
상기 제어부(100)는 라이트 시작 신호(casp6_wt) 및 라이트 중지 신호(ybstendbp13)를 입력받아 내부 전압 인에이블 신호(VcoreEn)를 출력한다. 상기 제어부(100)는 라이트 동작시, 상기 내부 전압(Vcore)의 사용량이 많아 상기 내부 전압(Vcore)이 일시적으로 낮아지는 구간에서, 인에이블된 상기 내부 전압 인에이블 신호(VcoreEn)를 출력함으로써, 상기 내부 전압 생성부(200)가 구동 속도를 빠르게 하여 상기 내부 전압(Vcore) 레벨이 낮아지는 것을 보상할 수 있다.The
상기 라이트 시작 신호(casp6_wt)는 라이트 시작시에 하이 레벨인 신호이다. 상기 라이트 중지 신호(ybstendbp13)는 라이트 신호가 입력되지 않을 경우 로우 인에이블된 펄스를 출력하는 신호일 수 있다. The write start signal casp6_wt is a high level signal at the start of write. The write stop signal ybstendbp13 may be a signal for outputting a low enabled pulse when the write signal is not input.
상기 내부 전압 생성부(200)는 상기 내부 전압 인에이블 신호(VcoreEn)에 응답하여 내부 전압(Vcore)을 구동시킨다. 상기 내부 전압 생성부(200)는 상기 내부 전압 인에이블 신호(VcoreEn)가 인에이블될 때 구동 속도를 빠르게 하여 상기 내부 전압(Vcore)을 생성한다. 상기 내부 전압 인에이블 신호(VcoreEn)는 라이트 동작 초기에 상기 일정 구간 동안 활성화되는 신호가 될 수 있다. 또한, 상기 내부 전압 인에이블 신호(VcoreEn)는, 연속적인 라이트 동작시, 디스에이블되는 신호일 수 있다.The
도 2는 도 1에 도시된 제어부(100)의 상세 블록도이다.FIG. 2 is a detailed block diagram of the
상기 제어부(100)는 라이트 액티브 펄스 생성부(110) 및 인에이블 시간 조절부(120)를 포함한다.The
상기 라이트 액티브 펄스 생성부(110)는 상기 라이트 시작 신호(casp6_wt)가 하이 레벨이 됨에 따라 로우 레벨이 되고, 라이트 중지 신호(ybstendbp13)가 로우 레벨이 됨에 따라 하이 레벨의 라이트 액티브 펄스(wt_actvcoreb)를 출력한다. 즉, 상기 라이트 액티브 펄스 생성부(110)는 라이트 동작 구간동안 로우 레벨의 펄스를 출력한다.The write
상기 인에이블 시간 조절부(120)는 상기 라이트 액티브 펄스(wt_actvcoreb)를 조절하여 상기 내부 전압 인에이블 신호(VcoreEn)를 출력한다. 상기 인에이블 시간 조절부(120)는 상기 라이트 액티브 펄스(wt_actvcoreb)를 입력받아 라이트 동작 구간 중 일정 시간 동안 인에이블된 상기 내부 전압 인에이블 신호(VcoreEn)를 생성하되, 라이트 동작 이후 곧바로 라이트 동작이 진행되는 구간에는 디스에이블된 상기 내부 전압 인에이블 신호(VcoreEn)를 생성한다. The enable
따라서, 상기 제어부(100)는 라이트 동작 구간 동안 상기 내부 전압(Vcore)의 사용량이 많아 상기 내부 전압(Vcore)이 감소하는 구간에서는 인에이블된 상기 내부 전압 인에이블 신호(VcoreEn)를 출력하고, 라이트 동작 구간이지만, 그 전 동작이 라이트 동작이어서, 상기 내부 전압(Vcore)의 감소가 적은 구간에서는 디스에이블된 상기 내부 전압 인에이블 신호(VcoreEn)를 출력한다.Accordingly, the
도 3은 도 2에 도시된 라이트 액티브 펄스 생성부(110)의 일 실시예를 나타 낸 상세 회로도이다.3 is a detailed circuit diagram illustrating an example of the light
상기 라이트 액티브 펄스 생성부(110)는 풀업부(111), 풀다운부(112), 래치부(113) 및 출력부(114)를 포함한다.The write
상기 풀업부(111)는 상기 라이트 시작 신호(casp6_wt) 및 상기 라이트 중지 신호(ybstendbp13)에 따라 제1 노드(N1)의 전압을 풀업시킨다. 상기 풀업부(111)는 제1 피모스 트랜지스터(PM1) 및 제2 피모스 트랜지스터(PM2)로 구현할 수 있다. 상기 제1 피모스 트랜지스터(PM1)는 상기 라이트 중지 신호(ybstendbp13)를 게이트에 입력받고 공급 전압(VDD)을 소스에 입력받는다. 상기 제2 피모스 트랜지스터(PM2)는 상기 제1 피모스 트랜지스터(PM1)의 드레인에 소스가 연결되고 상기 라이트 시작 신호(casp6_wt)를 게이트에 입력받고 제1 노드(N1)에 드레인이 연결된다.The pull-
상기 풀다운부(112)는 상기 라이트 시작 신호(casp6_wt)에 따라 상기 제1 노드(N1)의 전압을 풀다운시킨다. 상기 풀다운부(112)는 제1 엔모스 트랜지스터(NM1)로 구현할 수 있다. 상기 제1 엔모스 트랜지스터(NM1)는 상기 라이트 시작 신호(casp6_wt)를 게이트에 입력받고 소스에 접지 전압이 인가되고 상기 제1 노드(N1)에 드레인이 연결된다.The pull-
상기 래치부(113)는 상기 제1 노드(N1)의 신호를 입력받아 래치한다. 상기 래치부(113)는 제1 인버터(IV1) 및 제2 인버터(IV2)로 구현할 수 있다. 상기 제1 인버터(IV1)는 상기 제1 노드(N1)의 신호를 입력받아 반전시킨다. 상기 제2 인버터(IV2)는 상기 제1 인버터(IV1)의 출력에 입력이 연결되고, 상기 제1 인버터(IV1)의 입력에 상기 제2 인버터(IV2)의 출력이 연결된다.The
상기 출력부(114)는 상기 래치부(113)의 출력을 지연시킨다. 상기 출력부(114)는 제3 인버터(IV3), 제1 낸드 게이트(ND1), 제4 인버터(IV4) 및 제1 지연부(113-1)로 구현할 수 있다. 상기 제3 인버터(IV3)는 상기 래치부(113)의 출력을 입력받아 반전시킨다. 상기 제1 지연부(113-1)는 상기 제3 인버터(IV3)의 출력을 지연시킨다. 상기 제1 낸드 게이트(ND1)는 상기 제3 인버터(IV3)의 출력과 상기 제1 지연부(113-1)의 출력을 입력받아 연산한다. 상기 제4 인버터(IV4)는 상기 제1 낸드 게이트(ND1)의 출력을 반전시켜 상기 라이트 액티브 펄스(wt_actvcoreb)를 출력한다.The
도 3에 도시된 라이트 액티브 펄스 생성부(110)의 동작을 설명하면 다음과 같다.The operation of the light
상기 라이트 시작 신호(casp6_wt)가 하이 레벨이 될 때 상기 풀다운부(112)는 상기 제1 노드(N1)의 전압을 풀다운시켜 로우 레벨을 출력한다. 따라서, 상기 래치부(113)는 상기 제1 노드(N1)의 전압을 로우 레벨로 유지하고 있고, 상기 출력부(114)는 상기 래치부(113)의 출력을 일정 시간 지연 및 반전시켜 출력한다. 따라서, 상기 라이트 액티브 펄스(wt_actvcoreb)는 상기 라이트 시작 신호(casp6_wt)가 하이 레벨이 된 시점부터 일정 시간 후에 로우 레벨이 된다. 상기 라이트 시작 신호(casp6_wt)가 로우 레벨이 되고 상기 풀다운부(112)와 상기 풀업부(111)는 턴오프된다. 상기 래치부(113)에 의해 상기 라이트 액티브 펄스(wt_actvcoreb)는 로우 레벨로 유지된다. When the write start signal casp6_wt becomes high, the pull-down
상기 라이트 중지 신호(ybstendbp13)가 로우 레벨이 됨에 따라 상기 풀업 부(111)가 턴온되어 상기 제1 노드(N1)의 전압을 하이 레벨이 된다. 따라서, 상기 래치부(113)는 로우 레벨의 신호를 출력하고, 상기 출력부(114)는 상기 래치부(113)의 출력을 일정 시간 지연시켜 하이 레벨의 라이트 액티브 펄스(wt_actvcoreb)를 출력한다. 따라서, 상기 라이트 액티브 펄스 생성부(110)는 상기 라이트 시작 신호(casp6_wt)가 하이 레벨이 될 때 소정 시간 후에 로우 레벨이 되고, 상기 라이트 중지 신호(ybstendbp13)가 로우 레벨이 될 때 소정 시간 후에 하이 레벨인 상기 라이트 액티브 펄스(wt_actvcoreb)를 출력한다.As the write stop signal ybstendbp13 becomes low, the pull-up
도 4는 도 2에 도시된 인에이블 시간 조절부(120)의 일 실시예를 나타낸 상세 회로도이다.4 is a detailed circuit diagram illustrating an embodiment of the enable
상기 인에이블 시간 조절부(120)는 구동 인에이블 신호 생성부(121), 구동 중지 신호 생성부(122) 및 로직부(123)를 포함한다.The enable
상기 구동 인에이블 신호 생성부(121)는 상기 라이트 액티브 펄스(wt_actvcoreb)를 입력받아 구동 인에이블 신호(wt_vcore_enb)를 출력한다. 상기 구동 인에이블 신호 생성부(121)는 제1 인버터(IV1), 제1 지연부(121-1) 및 제1 낸드 게이트(ND1)로 구현할 수 있다.The drive enable
상기 제1 인버터(IV1)는 상기 라이트 액티브 펄스(wt_actvcoreb)를 입력받아 반전시킨다. 상기 제1 지연부(121-1)는 상기 라이트 액티브 펄스(wt_actvcoreb)를 지연시킨다. 상기 제1 낸드 게이트(ND1)는 상기 제1 인버터(IV1)의 출력과 상기 제1 지연부(121-1)의 출력을 입력받아 연산하여 상기 구동 인에이블 신호(wt_vcore_enb)를 출력한다. 상기 구동 인에이블 신호 생성부(121)는 상기 라이 트 액티브 펄스(wt_actvcoreb)가 로우 레벨이 됨에 따라 일정한 폭의 로우 레벨의 신호를 출력한다. 상기 일정한 폭은 상기 제1 지연부(121-1)의 지연 시간에 의해 조절할 수 있다.The first inverter IV1 receives the write active pulse wt_actvcoreb and inverts it. The first delay unit 121-1 delays the write active pulse wt_actvcoreb. The first NAND gate ND1 receives and outputs the output of the first inverter IV1 and the output of the first delay unit 121-1 to output the driving enable signal wt_vcore_enb. The driving enable
상기 구동 중지 신호 생성부(122)는 상기 라이트 액티브 펄스(wt_actvcoreb)를 입력받아 구동 중지 신호(wt_en_stop)를 출력한다. 상기 구동 중지 신호 생성부(122)는 제2 인버터(IV2), 제2 지연부(122-1) 및 제2 낸드 게이트(ND2)를 포함한다.The driving
상기 제2 인버터(IV2)는 상기 라이트 액티브 펄스(wt_actvcoreb)를 입력받아 반전시킨다. 상기 제2 지연부(122-1)는 상기 제2 인버터(IV2)의 출력을 지연시킨다. 상기 제2 낸드 게이트(ND2)는 상기 라이트 액티브 펄스(wt_actvcoreb) 및 상기 제2 지연부(122-1)의 출력을 입력받아 연산한다. 상기 구동 중지 신호 생성부(122)는 상기 라이트 액티브 펄스(wt_actvcoreb)가 하이 레벨이 될 때 일정한 폭의 하이 레벨의 신호를 출력한다. 상기 일정한 폭은 상기 제2 지연부(122-1)의 지연 시간에 의해 조절할 수 있다.The second inverter IV2 receives the write active pulse wt_actvcoreb and inverts it. The second delay unit 122-1 delays the output of the second inverter IV2. The second NAND gate ND2 receives and outputs the output of the write active pulse wt_actvcoreb and the second delay unit 122-1. The driving
상기 로직부(123)는 상기 구동 인에이블 신호 및 상기 구동 중지 신호를 입력받아 상기 내부 전압 인에이블 신호(VcoreEn)를 출력한다.The
상기 로직부(123)는 상기 구동 인에이블 신호 생성부(121)의 출력 및 상기 구동 중지 신호 생성부(122)의 출력을 입력받아 연산하는 노아 게이트(NOR1)로 구현할 수 있다. 상기 로직부(123)는 상기 구동 인에이블 신호(wt_vcore_enb)가 로우 레벨이고, 상기 구동 중지 신호(wt_en_stop)가 로우 레벨일 때 하이 레벨의 내부 전압 인에이블 신호(VcoreEn)를 출력한다.The
도 5는 도 4에 도시된 구동 중지 신호 생성부(122)의 다른 실시예를 나타낸 상세 회로도이다.FIG. 5 is a detailed circuit diagram illustrating another embodiment of the driving
상기 구동 중지 신호 생성부(122)는 제1 펄스 생성부(122-1) 및 제2 펄스 생성부(122-2)로 구현할 수 있다.The driving
상기 제1 펄스 생성부(122-1)는 제1 인버터(IV1), 제1 지연부(122-1-1) 및 제1 낸드 게이트(ND1)를 포함한다. 상기 제1 인버터(IV1)는 상기 라이트 액티브 펄스(wt_actvcoreb)를 입력받아 반전시킨다. 상기 제1 지연부(122-1-1)는 상기 제1 인버터(IV1)의 출력을 지연시킨다. 상기 제1 낸드 게이트(ND1)는 상기 라이트 액티브 펄스(wt_actvcoreb) 및 상기 제1 지연부(122-1-1)의 출력을 입력받아 연산한다.The first pulse generator 122-1 includes a first inverter IV1, a first delay unit 122-1-1, and a first NAND gate ND1. The first inverter IV1 receives the write active pulse wt_actvcoreb and inverts it. The first delay unit 122-1-1 delays the output of the first inverter IV1. The first NAND gate ND1 receives and outputs the output of the write active pulse wt_actvcoreb and the first delay unit 122-1-1.
상기 제2 펄스 생성부(122-2)는 서브 펄스 생성부(122-2-1), 제3 지연부(122-2-2) 및 제3 낸드 게이트(ND3)로 구현할 수 있다. 상기 서브 펄스 생성부(122-2-1)는 제2 지연부(122-2-1-1), 제2 낸드 게이트(ND2) 및 제2 인버터(IV2)를 포함한다. 상기 제2 지연부(122-2-1-1)는 상기 제1 펄스 생성부(122-1)의 출력을 지연시킨다. 상기 제2 낸드 게이트(ND2)는 상기 제2 지연부(122-2-1-1)의 출력과 상기 제1 펄스 생성부(122-1)의 출력을 입력받아 연산한다. 상기 제2 인버터(IV2)는 상기 제2 낸드 게이트(ND2)의 출력을 반전시킨다. 상기 제3 지연부(122-2-2)는 상기 서브 펄스 생성부(122-2-1)의 출력을 지연시킨다. 상기 제3 낸드 게이트(ND3)는 상기 제1 펄스 생성부(122-2-1)의 출력 및 상기 제3 지연부(122-2-2)의 출력을 입력받아 연산하여 상기 구동 중지 신호(wt_en_stop)를 출력한다.The second pulse generator 122-2 may be implemented as a sub pulse generator 122-2-1, a third delay unit 122-2-2, and a third NAND gate ND3. The sub pulse generator 122-2-1 includes a second delay unit 122-2-1-1, a second NAND gate ND2, and a second inverter IV2. The second delay unit 122-2-1-1 delays the output of the first pulse generator 122-1. The second NAND gate ND2 receives and outputs the output of the second delay unit 122-2-1-1 and the output of the first pulse generator 122-1. The second inverter IV2 inverts the output of the second NAND gate ND2. The third delay unit 122-2-2 delays the output of the sub pulse generator 122-2-1. The third NAND gate ND3 receives the output of the first pulse generator 122-2-1 and the output of the third delay unit 122-2-2 and calculates the driving stop signal wt_en_stop. )
도 6은 도 1에 도시된 내부 전압 생성부(200)의 일 실시예를 나타낸 상세 회로도이다.FIG. 6 is a detailed circuit diagram illustrating an embodiment of the
상기 내부 전압 생성부(200)는 내부 전압 발생부(210) 및 가속부(220)를 포함한다.The
상기 내부 전압 발생부(210)는 상기 내부 전압(Vcore)을 생성한다. 상기 내부 전압 발생부(210)는 도 6에 도시된 것을 예로 든 것이며, 일반적인 내부 전압 발생부로 구현할 수 있다.The
상기 가속부(220)는 상기 내부 전압 인에이블 신호(VcoreEn)를 입력받아 상기 내부 전압 발생부(210)의 구동 속도를 가속시킨다.The
상기 내부 전압 발생부(210)는 구동부(211), 전류 미러부(212), 입력 비교부(213) 및 전압 출력부(214)를 포함한다.The
상기 구동부(211)는 제5 피모스 트랜지스터(PM5), 제6 피모스 트랜지스터(PM6), 제5 엔모스 트랜지스터(NM5) 및 제7 엔모스 트랜지스터(NM7)로 구성된다. 상기 구동부(211)는 액티브 신호(actEn)에 따라 상기 내부 전압 발생부(210)를 구동시킨다.The driving
상기 전류 미러부(212)는 제1 피모스 트랜지스터(PM1), 제4 피모스 트랜지스터(PM4), 제1 엔모스 트랜지스터(NM1) 및 제4 엔모스 트랜지스터(NM4)로 구성된다.The
상기 입력 비교부(213)는 제2 엔모스 트랜지스터(NM2), 제3 엔모스 트랜지스터(NM3), 제2 피모스 트랜지스터(PM2) 및 제3 피모스 트랜지스터(PM3)로 구성된다. 상기 입력 비교부(213)는 상기 레퍼런스 전압(Vrefc)과 상기 제3 엔모스 트랜지스 터(NM3)의 게이트 전압을 비교하여 출력한다.The
상기 전압 출력부(214)는 제4 피모스 트랜지스터(PM4), 제7 내지 제9 피모스 트랜지스터(PM7~PM9)로 구성된다. 상기 전압 출력부(214)는 상기 내부 전압(Vcore)을 출력한다.The
상기 가속부(220)는 상기 내부 전압 인에이블 신호(VcoreEn)를 게이트에 입력받고, 상기 내부 전압 발생부(210)의 전류 패스를 제공하는 모스 트랜지스터로 구현할 수 있다. 상기 가속부(220)는 도 5에 도시된 것과 같이 엔모스 트랜지스터(NM6)로 구현할 수 있다.The
상기 내부 전압 발생부(210)는 액티브 인에이블 신호(actEn)가 하이 레벨이 될 때 구동하여 기준 전압의 2배인 내부 전압(Vcore)을 출력한다. 상기 가속부(220)는 상기 내부 전압 인에이블 신호(VcoreEn)가 하이 레벨이 될 때 상기 엔모스 트랜지스터(NM6)가 구동되므로, 상기 내부 전압 생성부(200)는 전류 패스가 더 많아져서 보다 빠르게 구동한다. 따라서, 상기 내부 전압 생성부(200)는 상기 내부 전압(Vcore)을 더 빠르게 생성한다. The
도 7은 도 2에 도시된 제어부(100)의 타이밍도이다.FIG. 7 is a timing diagram of the
상기 라이트 시작 신호(casp6_wt)는 라이트 시작시에 하이 레벨이다. 상기 라이트 중지 신호(ybstendbp13)는 라이트 신호가 입력되지 않을 경우 로우 레벨의 펄스를 출력하는 신호이다. 상기 라이트 액티브 펄스(wt_actvcoreb)는 상기 라이트 시작 신호(casp6_wt)가 하이 레벨이 되면 일정 시간 후에 로우 레벨이 되고 상기 라이트 중지 신호(ybstendbp13)가 로우 레벨이 되면 일정 시간 후에 하이 레벨이 된다. 따라서, 상기 라이트 액티브 펄스(wt_actvcoreb)는 라이트 구간 동안 로우 레벨인 펄스이다. 상기 구동 중지 신호는 상기 라이트 액티브 펄스(wt_actvcoreb)가 하이 레벨이 될때마다 일정 폭의 하이 레벨을 갖는 펄스이다. 상기 일정 폭은 상기 구동 중지 신호 생성부(122) 내의 지연부의 지연 시간에 의해 조절할 수 있다. 상기 구동 인에이블 신호(wt_vcore_enb)는 상기 라이트 액티브 펄스(wt_actvcoreb)가 로우 레벨로 될때마다 일정 폭의 로우 레벨의 펄스이다. 따라서, 상기 로직부(123)는 상기 구동 인에이블 신호(wt_vcore_enb) 및 상기 구동 중지 신호(wt_en_stop)를 입력받아 노아 연산하여 상기 구동 인에이블 신호(wt_vcore_enb)가 로우 레벨이면서 상기 구동 중지 신호(wt_en_stop)가 로우 레벨일 때 하이 레벨의 상기 내부 전압 인에이블 신호(VcoreEn)를 출력한다.The write start signal casp6_wt is at a high level at the start of a write. The write stop signal ybstendbp13 outputs a low level pulse when the write signal is not input. The write active pulse wt_actvcoreb becomes low after a predetermined time when the write start signal casp6_wt becomes high level and becomes high after a predetermined time when the write stop signal ybstendbp13 becomes low level. Therefore, the write active pulse wt_actvcoreb is a pulse at a low level during the write period. The driving stop signal is a pulse having a high level of a predetermined width whenever the write active pulse wt_actvcoreb becomes a high level. The predetermined width may be adjusted by the delay time of the delay unit in the driving
따라서, 본 발명은 라이트 동작 구간 중에서도 일시적으로 내부 전압(Vcore)의 레벨이 떨어지는 구간 동안에 상기 내부 전압 생성부(200)의 구동 속도를 가속시키고, 라이트 동작 구간이지만 일정 시간 후에 다시 라이트 동작이 시작될때는 상기 내부 전압 생성부(200)의 구동 속도를 가속시키지 않아 보다 안정적인 내부 전압(Vcore)을 생성한다.Therefore, the present invention accelerates the driving speed of the
본 발명의 내부 전압 생성 회로는 코아 전압(Vcore) 외 모든 내부 전압을 생성하는 반도체 집적 회로에 적용이 가능하다. 본 실시예에서는, 상기 내부 전압 중 상기 코아 전압(Vcore)을 생성하는 경우를 고려하여 설명한 것이므로, 일반적인 내부 전압 생성 회로에 적용시 그 입력 신호로 상기 라이트 시작 신호(casp6_wt) 및 상기 라이트 중지 신호(ybstendbp13)는 내부 전압의 사용량이 많은 구간을 결정 하는 신호들로 적용하여야 한다.The internal voltage generation circuit of the present invention is applicable to a semiconductor integrated circuit that generates all internal voltages other than the core voltage Vcore. In the present exemplary embodiment, since the core voltage Vcore is generated in consideration of the internal voltage, the write start signal casp6_wt and the write stop signal may be used as the input signal when the core voltage Vcore is generated. ybstendbp13) should be applied to signals that determine the period of high internal voltage usage.
이와 같이, 본 발명이 속하는 기술분야의 당업자는 본 발명이 그 기술적 사상이나 필수적 특징을 변경하지 않고서 다른 구체적인 형태로 실시될 수 있다는 것을 이해할 수 있을 것이다. As such, those skilled in the art will appreciate that the present invention can be implemented in other specific forms without changing the technical spirit or essential features thereof.
그러므로 이상에서 기술한 실시예들은 모든 면에서 예시적인 것이며 한정적인 것이 아닌 것으로서 이해해야만 한다. 본 발명의 범위는 상기 상세한 설명보다는 후술하는 특허청구범위에 의하여 나타내어지며, 특허청구범위의 의미 및 범위 그리고 그 등가개념으로부터 도출되는 모든 변경 또는 변형된 형태가 본 발명의 범위에 포함되는 것으로 해석되어야 한다.Therefore, the above-described embodiments are to be understood as illustrative in all respects and not as restrictive. The scope of the present invention is shown by the following claims rather than the detailed description, and all changes or modifications derived from the meaning and scope of the claims and their equivalents should be construed as being included in the scope of the present invention. do.
도 1은 본 발명에 따른 내부 전압 생성 회로의 블록도,1 is a block diagram of an internal voltage generation circuit according to the present invention;
도 2는 도 1에 도시된 내부 전압 생성 회로의 상세 블록도,FIG. 2 is a detailed block diagram of the internal voltage generation circuit shown in FIG. 1;
도 3은 도 2에 도시된 라이트 액티브 펄스 생성부의 일 실시예를 나타낸 상세 회로도,3 is a detailed circuit diagram illustrating an example of a light active pulse generator illustrated in FIG. 2;
도 4는 도 2에 도시된 인에이블 시간 조절부의 일 실시예를 나타낸 상세 회로도,4 is a detailed circuit diagram illustrating an embodiment of an enable time control unit illustrated in FIG. 2;
도 5는 도 4에 도시된 구동 중지 신호 생성부의 다른 실시예를 나타낸 상세 회로도, FIG. 5 is a detailed circuit diagram illustrating another exemplary embodiment of a driving stop signal generator illustrated in FIG. 4;
도 6은 도 1에 도시된 내부 전압 생성부의 상세 회로도,FIG. 6 is a detailed circuit diagram of an internal voltage generator shown in FIG. 1;
도 7은 도 2에 도시된 내부 전압 생성 회로의 타이밍도이다.FIG. 7 is a timing diagram of the internal voltage generation circuit shown in FIG. 2.
<도면의 주요 부분에 대한 부호 설명><Description of the symbols for the main parts of the drawings>
100 : 제어부 110 : 라이트 액티브 펄스 생성부100: controller 110: light active pulse generator
120: 인에이블 시간 조절부 121: 라이트 인에이블 신호 생성부120: enable time adjusting unit 121: light enable signal generator
122 : 라이트 중지 신호 생성부 200 : 내부 전압 생성부122: write stop signal generator 200: internal voltage generator
Claims (20)
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020070081030A KR100892648B1 (en) | 2007-08-13 | 2007-08-13 | Internal Voltage Generating Circuit |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020070081030A KR100892648B1 (en) | 2007-08-13 | 2007-08-13 | Internal Voltage Generating Circuit |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR20090016790A KR20090016790A (en) | 2009-02-18 |
KR100892648B1 true KR100892648B1 (en) | 2009-04-09 |
Family
ID=40685700
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1020070081030A KR100892648B1 (en) | 2007-08-13 | 2007-08-13 | Internal Voltage Generating Circuit |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
KR (1) | KR100892648B1 (en) |
Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR20040110669A (en) * | 2003-06-20 | 2004-12-31 | 주식회사 하이닉스반도체 | Ative driver for generating internal voltage |
KR20050013776A (en) * | 2003-07-29 | 2005-02-05 | 주식회사 하이닉스반도체 | Semiconductor memory device for reducing current consumption in active mode |
-
2007
- 2007-08-13 KR KR1020070081030A patent/KR100892648B1/en not_active IP Right Cessation
Patent Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR20040110669A (en) * | 2003-06-20 | 2004-12-31 | 주식회사 하이닉스반도체 | Ative driver for generating internal voltage |
KR20050013776A (en) * | 2003-07-29 | 2005-02-05 | 주식회사 하이닉스반도체 | Semiconductor memory device for reducing current consumption in active mode |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
KR20090016790A (en) | 2009-02-18 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US8804446B2 (en) | Semiconductor device having equalizing circuit equalizing pair of bit lines | |
KR100733419B1 (en) | Internal voltage generator | |
KR100567916B1 (en) | Apparatus and method for supplying power in a semiconductor memory device | |
KR100968156B1 (en) | Source control circuit and semiconductor memory device using it | |
KR101996003B1 (en) | Clock control device | |
JP2008171546A (en) | Semiconductor memory device and its driving method | |
KR100954112B1 (en) | Semiconductor memory device | |
JP2004220753A (en) | Method and device for strengthened sensing of low voltage memory | |
KR100576922B1 (en) | High voltage generation circuit | |
KR100892648B1 (en) | Internal Voltage Generating Circuit | |
KR20080066238A (en) | Oscillator | |
KR100701683B1 (en) | Sense amplifier power control circuit | |
KR20160115484A (en) | Power driving device and semiconductor device including the same | |
KR100477838B1 (en) | Semiconductor memory device | |
KR100761371B1 (en) | Active driver | |
KR20160133073A (en) | Semiconductor device and semiconductor system for conducting initialization operation | |
KR100670709B1 (en) | Semiconductor memory device with low power consumption | |
KR101136935B1 (en) | Semiconductor device | |
KR100991384B1 (en) | Semiconductor memory device and operation method thereof | |
KR100799103B1 (en) | Semiconductor device | |
KR100903388B1 (en) | Internal voltage control circuit and thereof control method | |
KR101005139B1 (en) | Power up circuit of semiconductor device | |
KR20090092186A (en) | Circuit of generating delay signal | |
KR100851998B1 (en) | Internal voltage generator circuit of semiconductor integrated circuit | |
KR100857435B1 (en) | Semiconductor Memory Apparatus |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A201 | Request for examination | ||
E902 | Notification of reason for refusal | ||
E701 | Decision to grant or registration of patent right | ||
GRNT | Written decision to grant | ||
LAPS | Lapse due to unpaid annual fee |