KR100877648B1 - Apparatus for measuring electrical characteristic - Google Patents

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Abstract

본 발명은 전기적 특성 측정 장치에 관한 것으로서, 더욱 상세하게는 복수의 전기전자 부품의 전기적 특성을 동시에 측정할 수 있는 장치에 관한 것이다. 본 발명에 따른 전기적 특성 측정 장치는, 복수의 측정용 시료 각각에 측정 신호를 전송하고, 각 측정용 시료로부터 회송되는 신호를 수신하여 각 측정용 시료의 전기적 특성을 측정하는 계측수단; 복수의 측정용 시료 각각의 양단에 연결되며, 각 측정용 시료에 대응되는 마이크로스트립 라인을 구비한 측정 신호 입력 측 마이크로스트립 기판과 측정 신호 회송 측 마이크로 스트립 기판; 상기 각 마이크로 스트립 기판과 계측수단 사이에 개재되고, 계측수단과 연결되는 입력 단자와 마이크로 스트립 라인의 수에 대응되는 출력단자를 구비한 측정 신호 입력 측 분배기와 측정 신호 회송 측 분배기; 및 상기 분배기의 출력단자와 상기 마이크로스트립 라인을 연결하는 연결수단을 포함한다.The present invention relates to an apparatus for measuring electrical characteristics, and more particularly, to an apparatus capable of simultaneously measuring electrical characteristics of a plurality of electrical and electronic components. An electrical property measuring apparatus according to the present invention comprises: measuring means for transmitting a measurement signal to each of a plurality of measurement samples, and receiving a signal returned from each measurement sample to measure electrical characteristics of each measurement sample; A measurement signal input-side microstrip substrate and a measurement signal return-side microstrip substrate connected to both ends of each of the plurality of measurement samples, each having a microstrip line corresponding to each measurement sample; A measurement signal input side divider and a measurement signal return side divider interposed between each of the micro strip substrates and the measurement means, the input terminal connected to the measurement means and an output terminal corresponding to the number of the micro strip lines; And connecting means for connecting the output terminal of the distributor and the microstrip line.

임피던스, RF, 네트워크 분석기, 마이크로스트립 Impedance, RF, Network Analyzer, Microstrip

Description

전기적 특성 측정 장치{Apparatus for measuring electrical characteristic}Apparatus for measuring electrical characteristic

본 명세서에 첨부되는 다음의 도면들은 본 발명의 바람직한 실시예를 예시하는 것이며, 후술하는 발명의 상세한 설명과 함께 본 발명의 기술사상을 더욱 이해시키는 역할을 하는 것이므로, 본 발명은 그러한 도면에 기재된 사항에만 한정되어 해석되어서는 아니된다.The following drawings attached to this specification are illustrative of preferred embodiments of the present invention, and together with the detailed description of the invention to serve to further understand the technical spirit of the present invention, the present invention is a matter described in such drawings It should not be construed as limited to

도 1은 본 발명의 바람직한 실시예에 따른 전기적 특성 측정 장치의 구성을 대략적으로 도시하는 개략도이다.1 is a schematic diagram schematically showing the configuration of an electrical characteristic measurement apparatus according to a preferred embodiment of the present invention.

도 2는 본 발명의 바람직한 실시예에 따른 마이크로스트립 기판의 구조를 도시하는 평면도이다.2 is a plan view showing the structure of a microstrip substrate according to a preferred embodiment of the present invention.

도 3은 도 2의 Ⅲ-Ⅲ`의 단면을 도시하는 단면도이다.3 is a cross-sectional view illustrating a cross section taken along line III-III ′ of FIG. 2.

도 4 및 도5는 본 발명의 바람직한 실시예에 따른 계측장치에 도시되는 측정용 시료의 전기적 특성을 측정한 결과를 예시하는 도면이다.4 and 5 are diagrams illustrating the results of measuring the electrical properties of the sample for measurement shown in the measurement device according to a preferred embodiment of the present invention.

<도면의 주요 참조부호에 대한 설명><Description of main reference numerals in the drawings>

10...측정용 시료 20...마이크로스트립 기판10 ... Measurement sample 20 ... Microstrip substrate

21...접지판 22...베이스판21 Ground plate 22 Base plate

23...마이크로스트립 라인 24...접속단자23 ... Microstrip line 24 ... Connection terminal

25...접속 커넥터 30...분배기25 ... Connection connector 30 ... Distributor

31...입력단자 32...출력단자31.Input terminal 32 ... Output terminal

40...연결수단 41...연결 케이블40 ... connecting means 41 ... connecting cable

42...연결 커넥터 50...계측수단Connection connector 50 ... Measurement means

51...네트워크 분석기 52...데이터 변환수단51 Network analyzer 52 Data conversion means

본 발명은 전기적 특성 측정 장치에 관한 것으로서, 더욱 상세하게는 복수의 전기전자 부품의 전기적 특성을 동시에 측정할 수 있는 장치에 관한 것이다. The present invention relates to an apparatus for measuring electrical characteristics, and more particularly, to an apparatus capable of simultaneously measuring electrical characteristics of a plurality of electrical and electronic components.

RF 전자기기는 높은 주파수를 이용하여 동작하는 기기로써, 높은 주파수 환경에서도 안정적으로 동작할 수 있는 전기전자 부품의 사용이 필수적이다. 이에 따라, RF 전자기기에 사용되는 전기전자 부품은 주파수 변화에 따른 임피던스 정합을 구현해야 한다.RF electronics are devices that operate using high frequency, and it is essential to use electrical and electronic components that can operate stably even in a high frequency environment. Accordingly, electrical and electronic components used in RF electronics must implement impedance matching according to frequency change.

이와 같이 전기전자 부품의 임피던스를 구현하기 위해서는 전기전자 부품의 특성을 측정하는 것을 필수적이다. 이를 위하여 종래에는 LCR 측정기를 사용하여 특정 주파수 대역에서의 전기전자 부품의 레지스턴스(Resistance), 리액턴스(Reactance), 양호도(Quality Factor) 등을 측정하여, 전기전자 부품의 임피던스를 계산하였다.In order to implement the impedance of the electrical and electronic components, it is essential to measure the characteristics of the electrical and electronic components. To this end, the impedance of the electrical and electronic components was calculated by measuring the resistance, reactance, and quality factor of the electrical and electronic components in a specific frequency band using a conventional LCR meter.

그러나, 전기전자 부품의 인덕턴스 및 커패시턴스의 측정용도로만 사용되는 전용 LCR 측정기를 구입하여야 하므로 비용이 많이 든다는 문제점이 있었다. 또한, LCR 측정기는 전기전자 부품의 중요한 특성인 감쇄특성(atteunate)을 측정할 수 없다는 문제가 발생한다.However, there is a problem in that it is expensive because a dedicated LCR measuring instrument used only for measuring inductance and capacitance of electrical and electronic components has to be purchased. In addition, there is a problem that the LCR meter can not measure the attenuation characteristic (atteunate), which is an important characteristic of electrical and electronic components.

나아가, 다수의 전기전자 부품의 특성을 측정할 경우, 복수의 전기전자 부품의 특성을 각각 측정해야 하므로 측정에 많은 시간이 소요된다는 문제가 발생한다.Furthermore, when measuring the characteristics of a plurality of electrical and electronic components, it is necessary to measure the characteristics of the plurality of electrical and electronic components, respectively, a problem arises that the measurement takes a lot of time.

본 발명은 상기와 같은 문제점을 해결하기 위한 것으로서, 복수의 전기전자 부품의 특성을 동시에 측정할 수 있는 전기적 특성 측정 장치를 제공하는데 그 목적이 있다.An object of the present invention is to provide an electrical characteristic measuring apparatus capable of simultaneously measuring the characteristics of a plurality of electrical and electronic components.

또한, 본 발명은 전기전자 부품의 임피던스를 측정하기 위한 별도의 장치를 구입하지 않고, 통상적으로 사용하는 네트워크 분석기를 이용하여 복수의 전기전자 부품의 특성을 동시에 측정할 수 있는 전기적 특성 측정 장치를 제공하는데 다른 목적이 있다.In addition, the present invention provides an electrical characteristic measuring apparatus capable of simultaneously measuring the characteristics of a plurality of electrical and electronic components using a network analyzer that is commonly used without purchasing a separate device for measuring the impedance of electrical and electronic components. Has a different purpose.

또한, 본 발명은 전기전자 부품의 임피던스를 측정하는 과정에서 발생하는 전송선의 손실을 최소화하고, 외부의 노이즈로부터 안정적으로 전기전자 부품의 특성을 측정할 수 있는 전기적 특성 측정 장치를 제공하는데 또 다른 목적이 있다.Another object of the present invention is to provide an electrical characteristic measuring apparatus capable of minimizing the loss of transmission lines generated in the process of measuring the impedance of electrical and electronic components, and stably measuring the characteristics of electrical and electronic components from external noise. There is this.

상기와 같은 목적을 달성하기 위하여 본 발명에 따른 전기적 특성 측정 장치는, 복수의 측정용 시료 각각에 측정 신호를 전송하고, 각 측정용 시료로부터 회송되는 신호를 수신하여 각 측정용 시료의 전기적 특성을 측정하는 계측수단; 복수의 측정용 시료 각각의 양단에 연결되며, 각 측정용 시료에 대응되는 마이크로스트립 라인을 구비한 측정 신호 입력 측 마이크로스트립 기판과 측정 신호 회송 측 마이크로 스트립 기판; 상기 각 마이크로 스트립 기판과 계측수단 사이에 개재되고, 계측수단과 연결되는 입력 단자와 마이크로 스트립 라인의 수에 대응되는 출력단자를 구비한 측정 신호 입력 측 분배기와 측정 신호 회송 측 분배기; 및 상기 분배기의 출력단자와 상기 마이크로스트립 라인을 연결하는 연결수단을 포함한다.
상기 마이크로스트립 기판은 상기 각 마이크로스트립 라인의 일 단부가 나열된 접속단자; 및 복수의 측정용 시료와 전기적으로 접속되며 상기 접속단자에 결합되는 접속 커넥터를 포함한다. In order to achieve the above object, the electrical property measurement apparatus according to the present invention transmits a measurement signal to each of a plurality of measurement samples, and receives a signal returned from each measurement sample to determine the electrical characteristics of each measurement sample. Measuring means for measuring; A measurement signal input-side microstrip substrate and a measurement signal return-side microstrip substrate connected to both ends of each of the plurality of measurement samples, each having a microstrip line corresponding to each measurement sample; A measurement signal input side divider and a measurement signal return side divider interposed between each of the micro strip substrates and the measurement means, the input terminal connected to the measurement means and an output terminal corresponding to the number of the micro strip lines; And connecting means for connecting the output terminal of the distributor and the microstrip line.
The microstrip substrate may include a connection terminal in which one end of each microstrip line is listed; And a connection connector electrically connected to the plurality of measurement samples and coupled to the connection terminal.

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상기 계측수단은 네트워크 분석기일 수 있으며, 나아가, 상기 네트워크 분석기를 통해 측정된 데이터를 시간 영역의 데이터로 변환하는 데이터 변환기;를 더 포함할 수 있다.The measuring means may be a network analyzer, and further, a data converter for converting data measured by the network analyzer into data in a time domain.

상기 연결수단은 상기 분배기의 출력단자와 상기 마이크로스트립 라인을 연결하는 연결케이블; 및 상기 연결케이블 및 마이크로스트립 라인에 장착된 커넥터;를 포함하며, 상기 연결케이블은 동축 케이블이고, 상기 커넥터는 상기 동축케이블을 상기 마이크로스트립 라인과 접속하는 동축케이블 커넥터일 수 있다.The connecting means includes a connection cable connecting the output terminal of the distributor and the microstrip line; And a connector mounted on the connection cable and the microstrip line, wherein the connection cable is a coaxial cable, and the connector may be a coaxial cable connector connecting the coaxial cable to the microstrip line.

바람직하게, 각 마이크로스트립 라인의 전기적 길이는 모두 동일하게 설정된다.Preferably, the electrical lengths of each microstrip line are all set the same.

이하, 첨부된 도면을 참조하여 본 발명의 바람직한 실시예를 상세히 설명하기로 한다. 이에 앞서, 본 명세서 및 청구범위에 사용된 용어나 단어는 통상적이거 나 사전적인 의미로 한정해서 해석되어서는 아니되며, 발명자는 그 자신의 발명을 가장 최선의 방법으로 설명하기 위해 용어의 개념을 적절하게 정의할 수 있다는 원칙에 입각하여 본 발명의 기술적 사상에 부합하는 의미와 개념으로 해석되어야만 한다. 따라서, 본 명세서에 기재된 실시예와 도면에 도시된 구성은 본 발명의 가장 바람직한 일 실시예에 불과할 뿐이고 본 발명의 기술적 사상을 모두 대변하는 것은 아니므로, 본 출원시점에 있어서 이들을 대체할 수 있는 다양한 균등물과 변형예들이 있을 수 있음을 이해하여야 한다.Hereinafter, exemplary embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings. Prior to this, the terms or words used in this specification and claims should not be construed as having a conventional or dictionary meaning, and the inventors should properly introduce the concept of terms in order to best explain their invention. It should be interpreted as meanings and concepts in accordance with the technical spirit of the present invention based on the principle that it can be defined. Therefore, the embodiments described in the specification and the drawings shown in the drawings are only the most preferred embodiment of the present invention and do not represent all of the technical idea of the present invention, various modifications that can be replaced at the time of the present application It should be understood that there may be equivalents and variations.

도 1은 본 발명의 바람직한 실시예에 따른 전기적 특성 측정 장치의 구성을 대략적으로 도시하는 개략도이고, 도 2는 본 발명의 바람직한 실시예에 따른 마이크로스트립 기판의 구조를 도시하는 평면도이고, 도 3은 도 2의 Ⅲ-Ⅲ`의 단면을 도시하는 단면도이다.1 is a schematic diagram schematically showing the configuration of an electrical characteristic measurement apparatus according to a preferred embodiment of the present invention, Figure 2 is a plan view showing the structure of a microstrip substrate according to a preferred embodiment of the present invention, Figure 3 is It is sectional drawing which shows the cross section of III-III` of FIG.

본 발명의 실시예에 따른 전기적 특성 측정 장치은 측정용 시료(10,25), 마이크로스트립 기판(20), 분배기(30), 연결수단(40), 및 계측수단(50)을 구비한다.The electrical property measuring apparatus according to the embodiment of the present invention includes a measurement sample 10, 25, a microstrip substrate 20, a distributor 30, a connecting means 40, and a measuring means 50.

측정용 시료(10,25)는 케이블, 커넥터, 커넥터가 연결된 케이블 등과 같은 전자 부품이다.Samples 10 and 25 for measurement are electronic components such as cables, connectors, cables to which connectors are connected, and the like.

마이크로스트립 기판(20)은 도전성 금속으로 형성된 접지판(21), 상기 접지판(21) 상에 높이와 유전율이 기판 전체적으로 일정하게 유지된 베이스판(22), 상기 베이스판(22)의 상에 전기적 특성을 고려하여 형성된 대략 40개의 마이크로스트립 라인(23)을 포함한다. 여기서, 상기 베이스판(22)의 높이(H), 베이스판(22)의 비 유전율, 마이크로스트립 라인(23)의 위상 길이, 마이크로스트립 라인(23)의 폭(W), 마이크로스트립 라인(23)을 통해 전송되는 전송신호의 주파수 등에 따라, 마이크로스트립 라인(23)에 유기되는 임피던스 값이 변화한다. 따라서, 마이크로스트립 기판(20)은 본 발명의 전기적 특성 측정 장치을 이용하여 측정용 시료(10,25)에 인가할 주파수 범위를 고려하여, 상기 베이스판(22)의 높이, 베이스판(22)의 비 유전율, 마이크로스트립 라인(23)의 위상 길이, 마이크로스트립 라인(23)의 폭 등을 설계하는 것이 바람직하다. 특히, 계측수단(50)으로부터 전송된 신호가 복수의 측정용 시료(10,25)를 통과하여 동일한 시간대에 계측수단(50)으로 수신될 수 있도록, 복수의 마이크로스트립 라인(23)의 전기적 길이는 모두 동일하게 설정하는 것이 바람직하다. 즉, 마이크로스트립 라인(23)의 물리적 길이는 선로의 임피던스와 선로의 위상 길이 등을 고려하여 설정된다.The microstrip substrate 20 includes a ground plate 21 formed of a conductive metal, a base plate 22 on which the height and dielectric constant are constantly maintained on the ground plate 21, and on the base plate 22. It includes approximately 40 microstrip lines 23 formed in consideration of electrical characteristics. Here, the height H of the base plate 22, the specific permittivity of the base plate 22, the phase length of the microstrip line 23, the width W of the microstrip line 23, the microstrip line 23 The impedance value induced in the microstrip line 23 changes according to the frequency of the transmission signal transmitted through the s). Accordingly, the microstrip substrate 20 is formed by considering the frequency range to be applied to the measurement samples 10 and 25 by using the electrical property measuring apparatus of the present invention. It is desirable to design the specific permittivity, the phase length of the microstrip line 23, the width of the microstrip line 23, and the like. In particular, the electrical length of the plurality of microstrip lines 23 so that a signal transmitted from the measuring means 50 can pass through the plurality of measuring samples 10 and 25 and be received by the measuring means 50 at the same time. It is preferable to set all the same. That is, the physical length of the microstrip line 23 is set in consideration of the impedance of the line and the phase length of the line.

나아가, 마이크로스트립 기판(20)은 측정용 시료(10,25)와의 접속을 용이하게 하기 위하여, 상기 복수의 상기 마이크로스트립 라인(23)이 모여있는 접속단자(24) 및 상기 접속단자(24)에 결합되는 접속 커넥터(25)를 더 포함할 수 있다.Further, the microstrip substrate 20 has a connection terminal 24 and the connection terminal 24 in which the plurality of microstrip lines 23 are gathered in order to facilitate connection with the measurement samples 10 and 25. It may further include a connection connector 25 coupled to.

또한, 본 발명의 실시예에 따른 전기적 특성 측정 장치은 측정용 시료(10,25)의 전기적 특성을 측정함에 있어서, 커넥터의 전기적 특성을 측정할 경우 단일의 마이크로스트립 기판(20)을 구비하며, 상기 커넥터의 양단에 각각 마이크로스트립 기판(20)과 분배기(30)를 연결하고, 케이블 또는 커넥터가 연결된 케이블의 전기적 특성을 측정할 경우 두 개의 마이크로스트립 기판(20)을 구비하여 케이블 또는 커넥터가 연결된 케이블을 중심으로 양 단에 마이크로스트립 기판(20)을 각각 연결할 수 있다.In addition, the electrical characteristic measurement apparatus according to an embodiment of the present invention, when measuring the electrical characteristics of the measurement samples (10, 25), when measuring the electrical characteristics of the connector is provided with a single microstrip substrate 20, When the microstrip board 20 and the distributor 30 are connected to both ends of the connector, and the electrical characteristics of the cable or the cable connected to the connector are measured, two microstrip boards 20 are provided to connect the cable or the connector. Each of the microstrip substrates 20 may be connected to both ends thereof.

분배기(30)는 하나의 입력단자(31)와 복수의 출력단자(32)로 이루어지며, 상기 입력단자(31)는 계측수단(50)과 연결되고, 복수의 상기 출력단자(32)는 마이크로스트립 기판(20)에 마련된 마이크로스트립 라인(23)에 연결된다. 이에 따라, 분배기(30)는 계측수단(50)으로부터 송신되는 전력을 균일하게 나누어 복수의 마이크로스트립 라인(23)에 전달한다. 나아가, 본 발명의 실시예에 따른 전기적 특성 측정 장치이 두 개의 마이크로스트립 기판(20)을 구비할 경우, 분배기(30)는 마이크로스트립 기판(20)과 계측수단(50) 사이에 각각 구비된다. 그리고, 하나의 분배기(30)는 상기와 같이 계측수단(50)으로부터 송신되는 전력을 균일하게 나누어 복수의 마이크로스트립 라인(23)에 전달하고, 나머지 하나의 분배기(30)는 복수의 마이크로스트립 라인(23)으로부터 입력되는 전력을 계측수단(50)으로 전달한다.The distributor 30 is composed of one input terminal 31 and a plurality of output terminals 32, the input terminal 31 is connected to the measuring means 50, the plurality of output terminals 32 are micro It is connected to the microstrip line 23 provided on the strip substrate 20. Accordingly, the distributor 30 evenly distributes the power transmitted from the measuring means 50 to the plurality of microstrip lines 23. Furthermore, when the electrical characteristic measuring apparatus according to the embodiment of the present invention includes two microstrip substrates 20, the distributor 30 is provided between the microstrip substrate 20 and the measuring means 50, respectively. Then, one distributor 30 equally divides the power transmitted from the measuring means 50 to the plurality of microstrip lines 23, and the other distributor 30 has a plurality of microstrip lines. The electric power input from 23 is transmitted to the measuring means 50.

연결수단(40)은 상기 분배기(30)와 마이크로스트립 라인(23)을 서로 연결하는 부재로써, 분배기에 구비된 복수의 출력단자(32)와 상기 마이크로스트립 라인(23)을 연결하는 연결케이블(41) 및 마이크로스트립 기판(20)에 장착된 커넥터(42)를 포함한다. 바람직하게, 연결케이블(41)로서, 신호의 전송 손실이 적고, 외부의 노이즈로부터 전송 신호를 보호할 수 있도록 동축케이블이 채택될 수 있다. 또한, 상기 커넥터(42)로는 신호의 손실이나 노이즈의 유입이 발생하지 않도록 구현된 동축케이블 커넥터가 채택되는 것이 바람직하다.The connecting means 40 is a member connecting the distributor 30 and the microstrip line 23 to each other, and a connecting cable connecting the plurality of output terminals 32 and the microstrip line 23 provided in the distributor ( 41) and a connector 42 mounted to the microstrip substrate 20. Preferably, as the connecting cable 41, a coaxial cable can be adopted so that the transmission loss of the signal is small and the transmission signal can be protected from external noise. In addition, the connector 42 is preferably a coaxial cable connector implemented so that no loss of signal or inflow of noise occurs.

비록, 본 발명의 실시예에서 연결수단(40)으로서, 동축케이블 및 동축케이블 커넥터를 구비하는 것을 예시하였으나 본 발명이 이를 한정하는 것은 아니며, 연결수단(40)은 분배기에 구비된 복수의 출력단자(32)와 마이크로스트립 기판(20)을 연 결하면서, 전송 신호의 손실이 적고, 외부의 노이즈를 차단할 수 있는 매체이면 충분하다.Although, in the embodiment of the present invention as illustrated in the connection means 40, having a coaxial cable and a coaxial cable connector, the present invention is not limited to this, the connection means 40 is a plurality of output terminals provided in the distributor While the connection between the 32 and the microstrip substrate 20 is performed, a medium capable of reducing the loss of the transmission signal and blocking external noise is sufficient.

계측수단(50)은 마이크로스트립 기판(20), 분배기(30) 및 연결수단(40)에 연결된 측정용 시료(10,25)의 전기적 특성을 측정하는 수단으로서, 바람직하게 네트워크 분석기(Network Analyzer)(51)와, 네트워크 분석기(51)에 의해 측정된 데이터를 시간 영역의 데이터로 변환하는 데이터 변환기(52)를 포함한다.The measuring means 50 is a means for measuring electrical characteristics of the measurement samples 10 and 25 connected to the microstrip substrate 20, the distributor 30, and the connecting means 40, and preferably a network analyzer. And a data converter 52 for converting the data measured by the network analyzer 51 into data in the time domain.

계측수단(50)은 측정용 시료(10,25)의 사용 주파수 대역을 고려하여 특정 대역의 주파수 신호 및 밴드를 지속적으로 전송하고, 측정용 시료(10,25)를 통과하여 수신되는 신호 및 측정용 시료(10,25)에 의해 반사되는 신호를 이용하여 측정용 시료(10,25)의 전기적 특성을 측정한다.The measuring means 50 continuously transmits a frequency signal and a band of a specific band in consideration of the frequency bands used by the measurement samples 10 and 25, and the signal and measurement received through the measurement samples 10 and 25. The electrical characteristics of the samples 10 and 25 for measurement are measured using the signals reflected by the samples 10 and 25.

계측수단(50)은 분배기(30)에 연결되도록 설치된다. 따라서 사용자는 복수의 측정용 시료(10,25)의 시간 변화에 따른 전기적 특성변화를 확인할 수 있다.The measuring means 50 is installed to be connected to the dispenser 30. Therefore, the user can check the electrical characteristics change with the time change of the plurality of measurement samples (10,25).

이와 같이, 본 발명의 실시예에 따른 전기적 특성 측정 장치은 동시에 복수의 측정용 시료(10,25)의 임피던스와 감쇄특성(attenuate)을 측정할 수 있다.As such, the electrical property measuring apparatus according to the embodiment of the present invention may simultaneously measure the impedance and the attenuate of the plurality of measurement samples 10 and 25.

이하 전술한 구성요소를 참조하여 본 발명의 실시예에 따른 전기적 특성 측정 장치의 동작을 설명한다.Hereinafter, the operation of the electrical characteristic measurement apparatus according to the embodiment of the present invention will be described with reference to the above-described components.

우선, 사용자는 측정용 시료(10,25)로서 구비된 복수의 케이블의 양단을 2개의 마이크로스트립 기판(20)에 각각 연결한다. First, the user connects both ends of the plurality of cables provided as the measurement samples 10 and 25 to the two microstrip substrates 20, respectively.

다음으로, 계측수단(50)으로서 구비된 네트워크 분석기(51) 및 데이터 변환기(52)를 동작시킨다. 그러면, 네트워크 분석기(51)는 설정된 주파수 대역의 신호 (반송파 및 전송파)를 발생시켜 전송한다. 발생된 신호는 분배기(30), 연결수단(40), 및 마이크로스트립 기판(20)을 차례로 통과하여 측정용 시료(10,25)로서 구비된 케이블에 인가된다. 그리고, 상기 신호는 측정용 시료(10,25)로서 구비된 상기 케이블을 통과하여 다시 마이크로스트립 기판(20), 연결수단(40), 분배기(30)를 차례로 통과하여 상기 네트워크 분석기(51)로 입력된다. Next, the network analyzer 51 and the data converter 52 provided as the measuring means 50 are operated. Then, the network analyzer 51 generates and transmits signals (carriers and transmission waves) of the set frequency band. The generated signal is sequentially passed through the distributor 30, the connecting means 40, and the microstrip substrate 20 and applied to the cables provided as the samples 10 and 25 for measurement. The signal passes through the cables provided as the measurement samples 10 and 25, and then passes through the microstrip substrate 20, the connecting means 40, and the distributor 30 in order to the network analyzer 51. Is entered.

이에 따라, 네트워크 분석기(51)는 전송된 신호의 임피던스 및 감쇄 특성을 연산하고, 연산된 신호를 다시 데이터 변환기(52)로 전달한다, 데이터 변환기(52)는 네트워크 분석기(51)로부터 수신한 데이터를 이용하여 시간을 기준으로 한 데이터로 변환하고, 변환한 데이터를 디스플레이 등을 통해 표시한다. 나아가, 변환된 데이터가 최종적으로 디스플레이에 표시됨에 있어서, 마이크로스트립 라인(23)의 전기적 길이가 모두 동일하게 설정될 경우, 도 4와 같이 표시되며, 마이크로스트립 라인(23)의 전기적 길이를 일정한 단위별로 다르게 설정할 경우, 도 5와 같이 표시될 수 있다.Accordingly, the network analyzer 51 calculates the impedance and attenuation characteristics of the transmitted signal, and transfers the calculated signal back to the data converter 52. The data converter 52 receives the data received from the network analyzer 51. Convert the time-based data using and display the converted data on the display. Furthermore, when the converted data is finally displayed on the display, when the electrical lengths of the microstrip lines 23 are all set to be the same, as shown in FIG. 4, the electrical lengths of the microstrip lines 23 are determined by a predetermined unit. If differently set, it may be displayed as shown in FIG.

이와 같이 본 발명의 실시예에 따른 전기적 특성 측정 장치를 이용하여 사용자는 복수의 측정용 시료(10,25)를 마이크로스트립 기판(20) 연결하여 동시에 많은 측정용 시료(10,25)의 임피던스와 감쇄특성(attenuate)을 측정할 수 있다.As such, by using the electrical characteristic measuring apparatus according to the embodiment of the present invention, the user connects the plurality of measurement samples 10 and 25 to the microstrip substrate 20 to simultaneously connect the impedances of the many measurement samples 10 and 25 to each other. Attenuate can be measured.

이상에서 본 발명은 비록 한정된 실시예와 도면에 의해 설명되었으나, 본 발명은 이것에 의해 한정되지 않으며 본 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자에 의해 본 발명의 기술사상과 아래에 기재될 특허청구범위의 균등범위 내에서 다양한 수정 및 변형이 가능함은 물론이다.Although the present invention has been described above by means of limited embodiments and drawings, the present invention is not limited thereto and will be described below by the person skilled in the art to which the present invention pertains. Of course, various modifications and variations are possible within the scope of the claims.

본 발명의 전기적 특성 측정 장치에 따르면, 다음과 같은 효과가 있다.According to the electrical property measuring apparatus of the present invention, there are the following effects.

첫째, 많은 전기전자 부품의 특성을 동시에 측정할 수 있다.First, the characteristics of many electrical and electronic components can be measured simultaneously.

둘째, 전기전자 부품의 임피던스를 측정하기 위한 별도의 장치를 구입하지 않고, 통상적으로 사용하는 네트워크 분석기를 이용하여 복수의 전기전자 부품의 특성을 측정할 수 있다.Second, without purchasing a separate device for measuring the impedance of the electrical and electronic components, it is possible to measure the characteristics of the plurality of electrical and electronic components using a commonly used network analyzer.

셋째, 전기전자 부품의 임피던스를 측정하는 과정에서 발생하는 전송선의 손실을 최소화하고, 외부의 노이즈로부터 안정적으로 전기전자 부품의 특성을 측정할 수 있다.Third, it is possible to minimize the loss of the transmission line generated in the process of measuring the impedance of the electrical and electronic components, and to measure the characteristics of the electrical and electronic components stably from external noise.

넷째, 측정용 시료로서 채택된 전기전자 부품에 안정적으로 결합할 수 있어 손실없이 안정적으로 전기전자 부품의 특성을 측정할 수 있다.Fourth, it can be stably coupled to the electrical and electronic components adopted as the measurement sample can be stably measured the characteristics of the electrical and electronic components without loss.

Claims (8)

복수의 측정용 시료 각각에 측정 신호를 전송하고, 각 측정용 시료로부터 회송되는 신호를 수신하여 각 측정용 시료의 전기적 특성을 측정하는 계측수단;Measuring means for transmitting a measurement signal to each of the plurality of measurement samples, and receiving a signal returned from each measurement sample to measure electrical characteristics of each measurement sample; 복수의 측정용 시료 각각의 양단에 연결되며, 각 측정용 시료에 대응되는 마이크로스트립 라인을 구비한 측정 신호 입력 측 마이크로스트립 기판과 측정 신호 회송 측 마이크로 스트립 기판;A measurement signal input-side microstrip substrate and a measurement signal return-side microstrip substrate connected to both ends of each of the plurality of measurement samples, each having a microstrip line corresponding to each measurement sample; 상기 각 마이크로 스트립 기판과 계측수단 사이에 개재되고, 계측수단과 연결되는 입력 단자와 마이크로 스트립 라인의 수에 대응되는 출력단자를 구비한 측정 신호 입력 측 분배기와 측정 신호 회송 측 분배기; 및A measurement signal input side divider and a measurement signal return side divider interposed between each of the micro strip substrates and the measurement means, the input terminal connected to the measurement means and an output terminal corresponding to the number of the micro strip lines; And 상기 분배기의 출력단자와 상기 마이크로스트립 라인을 연결하는 연결수단;을 포함하는 전기적 특성 측정 장치.And connecting means for connecting the output terminal of the distributor and the microstrip line. 제1항에 있어서, The method of claim 1, 상기 마이크로스트립 기판은 The microstrip substrate is 상기 각 마이크로스트립 라인의 일 단부가 나열된 접속단자; 및Connection terminals in which one end of each microstrip line is listed; And 복수의 측정용 시료와 전기적으로 접속되며 상기 접속단자에 결합되는 접속 커넥터;를 포함하는 것을 특징으로 하는 전기적 특성 측정 장치.And a connection connector electrically connected to a plurality of measurement samples and coupled to the connection terminal. 제1항에 있어서, The method of claim 1, 상기 계측수단은 네트워크 분석기인 것을 특징으로 하는 전기적 특성 측정 장치.And the measuring means is a network analyzer. 제3항에 있어서, The method of claim 3, 상기 계측수단은 상기 네트워크 분석기를 통해 측정된 데이터를 시간 영역의 데이터로 변환하는 데이터 변환기;를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 전기적 특성 측정 장치.The measuring means further comprises a data converter for converting the data measured by the network analyzer to the data of the time domain. 제1항 내지 제4항 중 어느 한 항에 있어서, The method according to any one of claims 1 to 4, 상기 연결수단은,The connecting means, 상기 분배기의 출력단자와 상기 마이크로스트립 라인을 연결하는 연결케이블; 및A connection cable connecting the output terminal of the distributor and the microstrip line; And 상기 연결케이블 및 마이크로스트립 라인에 장착된 커넥터;를 포함하는 것을 특징으로 하는 전기적 특성 측정 장치.And a connector mounted on the connection cable and the microstrip line. 제5항에 있어서, The method of claim 5, 상기 연결케이블은 동축 케이블인 것을 특징으로 하는 전기적 특성 측정 장치.The connecting cable is an electrical characteristic measurement device, characterized in that the coaxial cable. 제6항에 있어서, The method of claim 6, 상기 커넥터는 상기 동축케이블을 상기 마이크로스트립 라인과 접속하는 동축케이블 커넥터인 것을 특징으로 하는 전기적 특성 측정 장치.And said connector is a coaxial cable connector for connecting said coaxial cable with said microstrip line. 제1항 내지 제4항 중 어느 한 항에 있어서, The method according to any one of claims 1 to 4, 상기 마이크로스트립 라인의 전기적 길이는 모두 동일하게 설정된 것을 특징으로 하는 전기적 특성 측정 장치.Electrical properties of the microstrip line are all set to the same electrical characteristics measuring apparatus.
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