KR100848813B1 - Transistor and nonvolatile memory using deformation resistivity of carbon nanotube and piezoelectric effect - Google Patents
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Abstract
Description
도 1a 및 1b는 각각 본 발명에 따른 탄소나노튜브의 압전효과에 의한 변형을 이용한 트랜지스터의 단면도 및 평면도이다.1A and 1B are a cross-sectional view and a plan view, respectively, of a transistor using a deformation due to the piezoelectric effect of carbon nanotubes according to the present invention.
도 2는 본 발명에 따른 트랜지스터에 있어서, 탄소나노튜브가 압전소자의 팽창에 의해 변형된 상태를 나타내는 개략도이다.2 is a schematic view showing a state in which a carbon nanotube is deformed by expansion of a piezoelectric element in a transistor according to the present invention.
도 3은 압전소자의 동작 특성을 나타낸 도면이다.3 is a view showing the operating characteristics of the piezoelectric element.
도 4는 형상 기억 메모리 압전소자(shape memory piezoelectric actuator)의 동작 원리를 나타낸 도면이다.FIG. 4 is a view showing an operating principle of a shape memory piezoelectric actuator.
도 5는 외부 신호에 대한 형상 기억 메모리 압전소자의 동작을 나타낸 개략도이다.Fig. 5 is a schematic diagram showing the operation of the shape memory memory piezoelectric element with respect to an external signal.
본 발명은 능동소자의 하나인 트랜지스터와 이에 의한 비휘발성 메모리에 관한 것으로, 보다 구체적으로는 탄소나노튜브의 변형에 의해 발생하는 비저항의 차 이를 이용하여 스위칭되는 탄소나노튜브 트랜지스터와, 이를 이용한 비휘발성 메모리에 관한 것이다.The present invention relates to a transistor, which is one of the active devices, and a nonvolatile memory thereby. More specifically, the present invention relates to a carbon nanotube transistor that is switched by using a difference of a specific resistance caused by deformation of a carbon nanotube, and a nonvolatile memory using the same. It's about memory.
탄소나노튜브란 지구상에 다량으로 존재하는 탄소로 이루어진 탄소 동소체로서 하나의 탄소가 다른 탄소 원자와 육각형 벌집 무늬로 결합되어 튜브형태를 이루고 있는 물질이며, 튜브의 직경이 나노미터 수준으로 극히 미세한 물질이다. 이러한 탄소나노튜브는 sp2 결합 구조를 가지며, 그래파이트 면(graphite sheet)이 나노 크기의 직경으로 둥글게 말린 상태로, 그래파이트 면이 말리는 각도 및 형태에 따라서 전기적으로 도체 또는 반도체의 특성을 보이기 때문에, 다양한 분야에 응용이 가능한 소재이다.A carbon nanotube is a carbon allotrope composed of carbon present in a large amount on the earth, and one carbon is combined with other carbon atoms in a hexagonal honeycomb pattern to form a tube, and the diameter of the tube is very minute with a nanometer level. . These carbon nanotubes have a sp2 bonding structure, and the graphite sheet is rounded to a nano-sized diameter, so that the graphite surface is electrically conductive or semiconductor depending on the angle and shape of the graphite sheet being dried. The material can be applied to.
한편, 종래 탄소나노튜브를 일차원 나노소자의 형태로 만들기 위해서, 전장효과 트랜지스터의 형태로 게이트에 전원을 가하여 스위칭하는 구조의 탄소나노튜브 트랜지스터가 알려져 있다. 그러나, 상기 트랜지스터의 경우, 게이트 전압에 대한 스위칭 효율이 높지 않은 문제점이 있어, 이를 극복하기 위한 여러 가지 시도들이 진행되고 있다.On the other hand, in order to make a carbon nanotube in the form of a one-dimensional nano device, a carbon nanotube transistor having a structure in which a gate is applied by switching a power source in the form of a field effect transistor is known. However, in the case of the transistor, there is a problem that switching efficiency with respect to the gate voltage is not high, and various attempts have been made to overcome this problem.
본 발명의 목적은 탄소나노튜브의 변형에 의한 스위칭 특성을 활용할 수 있는 탄소나노튜브 트랜지스터를 제공하는 것이다.It is an object of the present invention to provide a carbon nanotube transistor that can utilize switching characteristics by deformation of carbon nanotubes.
또한, 본 발명의 다른 목적은, 형상 기억 메모리 압전소자가 갖는 메모리 효과를 이용하여 비휘발성 메모리를 제공하는 것이다.Another object of the present invention is to provide a nonvolatile memory utilizing the memory effect of the shape memory piezoelectric element.
상기 목적을 달성하기 위한 본 발명에 따른 탄소나노튜브 트랜지스터는, 탄소나노튜브의 양단부에 각각 전기적으로 접촉되는 소스 전극과 드레인 전극을 포함하고, 상기 탄소나노튜브의 일측에 압전소자가 배치되어 있으며, 상기 탄소나노튜브의 일측에 압전소자가 배치되어 있고, 상기 압전소자에 의한 상기 탄소나노튜브의 변형을 통해 스위칭이 이루어지는데 구성적 특징이 있다.Carbon nanotube transistor according to the present invention for achieving the above object comprises a source electrode and a drain electrode which are in electrical contact with both ends of the carbon nanotube, respectively, the piezoelectric element is disposed on one side of the carbon nanotube, A piezoelectric element is disposed on one side of the carbon nanotube, and switching is performed through deformation of the carbon nanotube by the piezoelectric element.
또한, 상기 압전소자는 형상 기억 메모리 압전소자일 수 있으며, 형상 기억 메모리 압전소자의 메모리 특성을 이용하게 되면, 비휘발성 메모리를 얻을 수 있다.Further, the piezoelectric element may be a shape memory memory piezoelectric element, and by using the memory characteristics of the shape memory piezoelectric element, a nonvolatile memory may be obtained.
이하, 본 발명의 바람직한 실시예를 첨부도면을 참조로 상세하게 설명한다.Hereinafter, preferred embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings.
첨부한 도 1a 및 1b는 각각 본 발명의 실시예에 따른 탄소나노튜브의 단면도와 평면도를 나타낸 것이다.1A and 1B show a cross-sectional view and a plan view of a carbon nanotube according to an embodiment of the present invention, respectively.
상기 도 1a 및 1b에 도시된 바와 같이, 본 발명에 따른 탄소나노튜브 트랜지스터(1)는 기판(2) 상에 나란하게 배치된 소스 전극(3)과 드레인 전극(4)의 사이에 탄소나노튜브(5)가 위치하고, 상기 탄소나노튜브(5)의 하부에 압전소자(6)가 위치하도록 되어 있다.As shown in FIGS. 1A and 1B, the
다음으로, 본 발명에 따른 탄소나노튜브 트랜지스터(1)의 동작에 대해서 설명한다.Next, the operation of the
먼저, 압전소자(6)에 전압을 인가하면 압전소자(6)는 도 3에 도시된 바와 같이 팽창하게 되는데, 이와 같이 압전소자(6)가 팽창하면 도 2에 도시된 바와 같이 탄소나노튜브(5)에 변형이 생기게 되며, 이러한 변형에 의하여 탄소나노튜브(5)의 비저항 값은 증가하게 된다.First, when a voltage is applied to the
그리고, 상기 압전소자(6)에 가해진 전압을 소거하면, 압전소자(6)가 수축하여, 도 1a에 도시된 바와 같이, 탄소나노튜브(5)도 원래의 형상으로 돌아가며, 이에 따라 탄소나노튜브(5)의 비저항 값도 변형된 상태에 비해 상대적으로 낮아지게 된다.When the voltage applied to the
즉, 본 발명에 따른 탄소나노튜브 트랜지스트(1)는 압전소자(6)의 팽창과 수축을 통해 달라지는 탄소나노튜브(5)의 비저항 값, 즉 스위칭 특성에 의해 동작하게 된다.That is, the
도 4는 형상 기억 메모리 압전소자(shape memory piezoelectric actuator)의 동작 원리를 나타낸 것이다. 일반적인 강유전체 이력곡선(hysteresis loop)과는 다르게 이력곡선이 한쪽으로 편향되어 있으면, 잔류분극도 분극의 방향에 따라 다르며, 이에 의해 강유전체의 변형은 비대칭적으로 형성된다. 즉, 강유전체의 분극이 위로 향하는 경우, 강유전체의 잔류분극 값이 큰 값(도면의 ○)을 가지므로 팽창이 되며, 전원을 차단하여도 팽창한 상태가 유지된다. 그러나, 강유전체의 분극이 아래로 향하는 경우에는 포화분극(saturation polarization)에 의해 팽창한 상태로 되며, 이때 전원을 차단하면 낮은 잔류분극(도면의 ●)에 의해 작은 변형을 가지게 되어 수축하는 결과를 나타내게 된다. 즉, 전기장을 인가한 상태에서는 팽창을 하지만 전기장이 없어질 경우 양의 전기장에 대해서는 팽창, 음의 전기장에 대해서는 수축한 상태로 메모리 효과를 나타내게 된다.4 shows the operation principle of a shape memory piezoelectric actuator. Unlike a typical ferroelectric hysteresis loop, if the hysteresis curve is deflected to one side, the residual polarization also depends on the direction of polarization, whereby the deformation of the ferroelectric is formed asymmetrically. That is, when the polarization of the ferroelectric is upward, the residual polarization value of the ferroelectric has a large value (○ in the figure) and expands, and the expanded state is maintained even when the power is cut off. However, when the polarization of the ferroelectric is directed downward, it is in an expanded state due to saturation polarization. At this time, when the power is cut off, the low residual polarization ((in the figure) causes a small deformation resulting in shrinkage. do. That is, when the electric field is applied but expands, but when the electric field disappears, the memory effect is obtained in the state of expansion for the positive electric field and in the state of contraction for the negative electric field.
한편, 도 5는 외부 신호에 대해 상기 형상 기억 메모리 압전소자의 동작을 나타내는 것이다. 도시된 바와 같이, "(1)"의 상태에서 양의 신호를 입력하면 팽창하게 되고 신호를 차단하여도 팽창한 상태를 유지하게 된다. 그리고 "(2)"의 상태에서 음의 신호를 입력하면 팽창된 상태를 유지하며 신호를 차단하게 되면 잔류분극의 비대칭에 의한 낮은 잔류분극에 의해 수축한 상태, 즉 "(1)"의 상태가 된다. 즉, 전원을 차단한 상태에서 2가지의 다른 상태를 갖는 메모리 효과를 나타낸다.5 shows the operation of the shape memory memory piezoelectric element with respect to an external signal. As shown in the figure, when a positive signal is input in the state of "(1)", it expands and maintains the expanded state even when the signal is blocked. When the negative signal is input in the state of "(2)", the state of expansion is maintained, and when the signal is blocked, the state of "(1)" is contracted by the low residual polarization due to the asymmetry of the residual polarization. do. That is, a memory effect having two different states with the power off.
따라서, 상기 압전소자(6)에 상기와 같이 외부 신호에 대해 메모리 효과를 갖는 형상 기억 메모리 압전소자를 적용하게 되면, 비휘발성 메모리를 얻을 수 있게 된다.Therefore, when the shape memory memory piezoelectric element having a memory effect on the external signal is applied to the
탄소나노튜브에 의하면 수 나노미터 수준의 소자를 만들 수 있으므로, 본 발명에 따른 압전소자의 변형에 의한 탄소나노튜브의 변형을 이용한 새로운 개념의 트랜지스터를 얻을 수 있으며, 이 트랜지스터는 형상 기억 메모리 압전소자를 사용하게 되면 비휘발성 메모리에 응용할 수 있다.According to the carbon nanotubes, a device having a level of several nanometers can be manufactured, and thus a new concept transistor using a deformation of the carbon nanotubes by the deformation of the piezoelectric element according to the present invention can be obtained. Can be used for non-volatile memory.
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CN113562690A (en) * | 2020-04-28 | 2021-10-29 | 清华大学 | Nano manipulator |
Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR20060050134A (en) * | 2004-10-13 | 2006-05-19 | 삼성전자주식회사 | Unipolar nanotube transistor having carrier-trapping material and method of fabricating the same |
JP2006156816A (en) | 2004-11-30 | 2006-06-15 | Sharp Corp | Semiconductor device |
KR20070002119A (en) * | 2005-06-30 | 2007-01-05 | 한국화학연구원 | Carbon nanotube transistor with su-8 resist coated in electrode |
JP2007096129A (en) | 2005-09-29 | 2007-04-12 | Kyoto Univ | Molecule transistor, and method for manufacturing the same and nonvolatile memory and piezoelectric sensor using the same method |
-
2007
- 2007-04-27 KR KR1020070041249A patent/KR100848813B1/en not_active IP Right Cessation
Patent Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR20060050134A (en) * | 2004-10-13 | 2006-05-19 | 삼성전자주식회사 | Unipolar nanotube transistor having carrier-trapping material and method of fabricating the same |
JP2006156816A (en) | 2004-11-30 | 2006-06-15 | Sharp Corp | Semiconductor device |
KR20070002119A (en) * | 2005-06-30 | 2007-01-05 | 한국화학연구원 | Carbon nanotube transistor with su-8 resist coated in electrode |
JP2007096129A (en) | 2005-09-29 | 2007-04-12 | Kyoto Univ | Molecule transistor, and method for manufacturing the same and nonvolatile memory and piezoelectric sensor using the same method |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN113562690A (en) * | 2020-04-28 | 2021-10-29 | 清华大学 | Nano manipulator |
CN113562690B (en) * | 2020-04-28 | 2022-05-31 | 清华大学 | Nano manipulator |
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