KR100826256B1

KR100826256B1 - The Switch which has the duplex structure of different type

Info

Publication number: KR100826256B1
Application number: KR1020060101219A
Authority: KR
Inventors: 이두열
Original assignee: 이두열
Priority date: 2006-10-18
Filing date: 2006-10-18
Publication date: 2008-04-30
Also published as: KR20080035078A

Abstract

본 발명은 다른 타입의 이중구조를 가지는 스위치에 관한 것이다.The present invention relates to a switch having another type of dual structure.

더욱 상세하게는 전자부품특성검사 또는 회로검사에 사용되는 스위치에 있어서, 하나의 프로브 핀에 두 개의 스위치가 연결되어 하나의 배선에 결선되도록 구성되어, 계측장치의 제어에 따라 전자부품특성검사 또는 회로검사를 수행하는 것을 특징으로 하는 다른 타입의 이중구조를 가지는 스위치가 제공된다.More specifically, in a switch used for electronic component characteristic inspection or circuit inspection, two switches are connected to one probe pin and connected to one wiring, and the electronic component characteristic inspection or circuit is controlled according to the control of the measuring device. Another type of switch having a dual structure is provided which carries out the inspection.

전자부품, 회로검사, 특성검사, 스위치, 계측장치 Electronic component, circuit inspection, characteristic inspection, switch, measuring device

Description

The switch which has the duplex structure of different type

도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 다른 타입의 이중구조를 가지는 스위치를 이용하는 일반적인 시스템의 개략적인 구성을 나타내는 도면이다.1 is a view showing a schematic configuration of a general system using a switch having another type of dual structure according to an embodiment of the present invention.

도 2는 본 발명의 일 실시예에 따른 다른 타입의 이중구조를 가지는 스위치를 이용하는 계측장치의 세부 블럭 구성을 나타내는 도면이다.2 is a block diagram illustrating a detailed block configuration of a measuring device using a switch having another type of dual structure according to an embodiment of the present invention.

도 3은 본 발명의 바람직한 일 실시예에 따른 다른 타입의 이중구조를 가지는 스위치의 세부 블럭 구성을 나타내는 도면이다.3 is a block diagram illustrating a detailed block configuration of a switch having another type of dual structure according to an exemplary embodiment of the present invention.

도 4는 본 발명의 일 실시예에 따른 다른 타입의 이중구조를 가지는 스위치의 동작원리를 설명하기 위한 세부 블럭 구성을 나타내는 도면이다.4 is a block diagram illustrating the detailed operation of a switch having another type of dual structure according to an embodiment of the present invention.

*** 도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명 ****** Explanation of symbols for the main parts of the drawing ***

100 : 일반적인 전자부품 계측시스템100: general electronic component measuring system

200 : 인덱스 테이블 300 : 전자부품 거치대200: index table 300: electronic component holder

400 : 테스팅수단 500 : 계측장치400: testing means 500: measuring device

510 : 제어수단 520 : 전원수단510: control means 520: power supply means

530 : 스위치수단 540 : 표시수단530: switch means 540: display means

600 : 스위치 컨트롤러 700 : 스위치구동회로600: switch controller 700: switch drive circuit

710 : 스위치 구동모듈 711 : '+'극단자 스위치710: switch drive module 711: '+' terminal switch

712 : '-'극단자 스위치 713 : 프로브 핀712: '-' terminal switch 713: probe pin

770 : '+'극단자 스위치들 780 : '-'극단자 스위치들770: '+' terminal switches 780: '-' terminal switches

801 : 저항 805 : 다이오드801: Resistor 805: Diode

더욱 상세하게는 각종 전자부품, 전자부품이 삽입된 기판, 측정하고자 하는 아날로그 신호와 아날로그 신호단자, 디지털 신호와 디지털 신호단자, 마이크로웨이브 신호와 마이크로웨이브 신호단자 상에서 회로를 검사할 때 하나의 프로브 핀에 서로 다른 타입의 스위치 두 개를 하나의 배선에 결선되도록 한 다른 타입의 이중구조를 가지는 스위치를 이용함으로써 효과적으로 전자부품특성검사 또는 회로검사를 수행할 수 있는 다른 타입의 이중구조를 가지는 스위치에 관한 것이다.More specifically, a single probe pin when inspecting circuits on various electronic components, a board into which electronic components are inserted, analog signals and analog signal terminals to be measured, digital signals and digital signal terminals, microwave signals and microwave signal terminals. A switch having another type of dual structure capable of performing electronic component characteristic inspection or circuit inspection effectively by using a switch having a different type of dual structure in which two different types of switches are connected to one wiring. will be.

일반적으로, 스위치(switch)는 개폐기라고도 한다. 구조는 접점(接點)과 그것을 동작시키는 기구로 되어 있으며, 손으로 동작시키는 간단한 것에서 전자력(電磁力)에 의하여 작동되는 대형까지 매우 많은 방식과 구조가 있다. 전력용에서는 개폐에 수반되는 불꽃이나 열에 의한 접점의 소손(燒損)을 피하기 위하여 빨리 끊 는 기구를 설치한 것이 있으며, 대형에는 소호장치(消弧裝置)를 붙이기도 한다. In general, a switch is also called a switch. The structure consists of a contact point and a mechanism for operating it, and there are so many ways and structures from simple to hand operation to large size operated by electromagnetic force. In the case of electric power, some devices are installed to break quickly in order to avoid the damage of the contact caused by the flame or heat.

또한, 신호회로에는 다접점(多接點)의 스위치가 사용되며 또 전기신호로 동작하는 계전기(릴레이)·진공관·반도체 등을 이용한 전자스위치는 논리회로로서 이용되며, 기타 mA급의 미소전류용인 마이크로 스위치, 개폐부분을 진공으로 만든 진공스위치, 움직이는 부분이 없고 철심을 넣은 코일을 두고서 철심부분의 포화(飽和)·미포화시의 임피던스의 현저한 차이를 이용한 무접점 스위치, 개폐부분에 수은을 넣고 수은의 위치이동으로 개폐되는 수은 스위치 등이 있다. In addition, multi-contact switches are used for signal circuits, and electronic switches using relays, vacuum tubes, semiconductors, etc., which operate as electric signals, are used as logic circuits. Micro switch, vacuum switch with opening and closing part in vacuum, no moving part, coil with iron core, non-contact switch using remarkable difference of impedance at saturation and unsaturation of iron core part, mercury in opening and closing part There is a mercury switch that opens and closes by moving the mercury.

이와 같이 스위치(switch)는 전압·전류·사용목적 등에 따라 많은 종류가 있다.As such, there are many kinds of switches according to voltage, current, purpose of use, and the like.

하지만, 각종 전자부품, 전자부품이 삽입된 기판, 측정하고자 하는 아날로그 신호와 아날로그 신호단자, 디지털 신호와 디지털 신호단자, 마이크로웨이브 신호와 마이크로웨이브 신호단자 상에서 신호를 측정할 때 사용되는 스위치(switch)는 단순한 접점구조의 스위치를 다수 개 나열하여 필요한 프로브 핀에 전원을 인가하는 구조를 사용하고 있어 효율적이지 못하며, 특히 다양한 모델의 각종 전자부품에 적절히 대응하지 못해 별도의 추가 비용이 발생되거나 효율적으로 활용되지 못해 새로운 스위치의 개발이 필요한 실정이다.However, various electronic components, boards into which electronic components are inserted, analog signals and analog signal terminals to be measured, digital signals and digital signal terminals, switches used for measuring signals on microwave signals and microwave signal terminals. Is not efficient because it uses a structure to apply power to the required probe pins by arranging a plurality of switches with simple contact structures, and in particular, it does not correspond to various electronic components of various models and incurs additional additional costs or utilizes them efficiently. It is not possible to develop a new switch.

본 발명은 상술한 바와 같은 문제점을 해결하기 위하여 안출된 것으로, 각종 전자부품, 전자부품이 삽입된 기판, 측정하고자 하는 아날로그 신호와 아날로그 신 호단자, 디지털 신호와 디지털 신호단자, 마이크로웨이브 신호와 마이크로웨이브 신호단자 상에서 특성 또는 회로를 효과적으로 검사할 수 있도록 다른 타입의 이중구조를 가지는 스위치를 제공하는 데 있다.The present invention has been made in order to solve the above problems, various electronic components, substrates in which electronic components are inserted, analog and analog signal terminals to be measured, digital signals and digital signal terminals, microwave signals and micro The present invention provides a switch having another type of dual structure to effectively inspect a characteristic or a circuit on a wave signal terminal.

상술한 바와 같은 목적은, 전자부품특성검사 또는 회로검사에 사용되는 스위치에 있어서, 하나의 프로브 핀에 두 개의 스위치가 연결되어 하나의 배선에 결선되도록 구성되어, 계측장치의 제어에 따라 전자부품특성검사 또는 회로검사를 수행하는 것을 특징으로 하는 다른 타입의 이중구조를 가지는 스위치를 제공하고,As described above, in a switch used for an electronic component characteristic inspection or a circuit inspection, two switches are connected to one probe pin and connected to one wiring, and the electronic component characteristics are controlled according to the control of the measuring device. To provide a switch having another type of dual structure, characterized in that to perform the inspection or circuit inspection,

전자부품특성검사 또는 회로검사에 사용되는 스위치에 있어서, 계측장치의 제어에 따라 기 설정된 전자부품특성검사 또는 회로검사에 관한 동작상태 명령코드를 읽어들여 해석하고 해당 스위치 구동회로에 전원을 인가하는 스위치 컨트롤러 및 하나의 프로브 핀에 두 개의 스위치가 연결되어 하나의 배선으로 결선되어 구성되며, 상기 스위치 컨트롤러의 제어에 따라 상기 두 개의 스위치 중 어느 하나에 전원을 인가하여 전자부품특성 또는 회로를 검사하고, 전자부품특성검사 또는 회로검사에 따른 검사 결과값을 상기 계측장치의 표시수단으로 출력하는 스위치 구동회로를 포함하여 이루어지는 것을 특징으로 다른 타입의 이중구조를 가지는 스위치를 제공함으로써 달성된다.In a switch used for electronic component characteristic inspection or circuit inspection, a switch which reads and analyzes an operation state command code relating to a predetermined electronic component characteristic inspection or a circuit inspection under the control of a measuring device, and applies power to the switch drive circuit. Two switches are connected to the controller and one probe pin and are connected by one wire. The power is applied to any one of the two switches according to the control of the switch controller, and the characteristics of the electronic component or the circuit are inspected. It is achieved by providing a switch having another type of dual structure, comprising a switch driving circuit for outputting an inspection result value according to an electronic component characteristic inspection or a circuit inspection to the display means of the measuring device.

이하, 도면을 참조하여 다른 타입의 이중구조를 가지는 스위치를 더욱 구체 적으로 설명한다.Hereinafter, a switch having another type of dual structure will be described in more detail with reference to the accompanying drawings.

도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 다른 타입의 이중구조를 가지는 스위치를 이용하는 일반적인 시스템의 개략적인 구성을 나타내는 도면이다. 도 2는 본 발명의 일 실시예에 따른 다른 타입의 이중구조를 가지는 스위치를 이용하는 계측장치의 세부 블럭 구성을 나타내는 도면이다. 도 1과 도 2를 참조하여 일반적인 전자부품특성검사 또는 회로를 검사하는 과정을 간략히 설명한다.1 is a view showing a schematic configuration of a general system using a switch having another type of dual structure according to an embodiment of the present invention. 2 is a block diagram illustrating a detailed block configuration of a measuring device using a switch having another type of dual structure according to an embodiment of the present invention. A process of inspecting a general electronic component characteristic test or a circuit will be briefly described with reference to FIGS. 1 and 2.

일반적으로 계측장치(500)는 다양한 모델별 해당 전자부품을 탑재하여 전자부품특성검사 또는 회로검사를 수행할 수 있도록 작업공간을 제공하는 인덱스테이블(200) 및 상기 검사장치를 통한 특성검사 또는 회로검사를 수행할 수 있도록 특성검사 또는 회로검사를 실시할 전자부품을 고정시키는 거치대(300)를 포함하는 회로검사장치(100)와 연동되어 설치되게 된다.In general, the measuring device 500 is equipped with a corresponding electronic component for each model, the index table 200 to provide a workspace for performing the electronic component characteristics inspection or circuit inspection and the characteristic inspection or circuit inspection through the inspection device It is installed in conjunction with the circuit inspection device 100 including a cradle 300 for fixing the electronic component to be carried out the characteristic inspection or circuit inspection to perform the.

상기 계측장치는 테스팅수단(400)을 더 포함하여 구성되게 되는데,The measuring device is configured to further include a testing means 400,

상기 테스팅수단(400)은 계측장치의 스위치수단(530)과 대응되도록 다수의 프로브 핀으로 배열된 기구적인 테스팅유닛으로 제공되며, 상기 거치대(300)에 고정된 전자부품의 커넥터와 연결되어 인가된 전원을 직접 도통시켜서 출력되는 검사 결과값을 입력받아 계측장치(500)로 출력하게 된다. 물론, 상기 테스팅수단(400)은 각 제조회사마다 모델별 전자부품에 맞도록 제작할 수 있는 것은 자명하다.The testing means 400 is provided as a mechanical testing unit arranged with a plurality of probe pins to correspond to the switch means 530 of the measuring device, is connected to the connector of the electronic component fixed to the holder 300 is applied The test result value, which is directly connected to the power supply, is input and output to the measuring device 500. Of course, the testing means 400 can be produced to suit the electronic components for each model for each manufacturer is obvious.

상기 계측장치(500)는 오실로스코프, 멀티메타 등의 계측장치를 포함하며, 상기 테스팅수단(400)으로부터 수신된 검사 결과값을 입력받아 화면으로 표시하여 작업자에게 알리게 되는데, The measuring device 500 includes a measuring device such as an oscilloscope and a multimeter, and receives a test result value received from the testing means 400 and displays it on a screen to notify a worker.

특히, 상기 계측장치(500)는 제어수단(510), 전원수단(520), 스위치수단(530) 및 표시수단(540)을 더 포함하여 구성되는 것이 일반적이다.In particular, the measuring device 500 is generally configured to further include a control means 510, a power supply means 520, a switch means 530 and a display means 540.

상기 제어수단(510)는 각 모델별 전자부품특성검사 또는 회로검사에 필요한 동작상태 명령코드를 읽어들여 상기 해당 전자부품특성검사 또는 회로검사에 필요한 동작상태 명령코드에 해당하는 스위치를 제어하고, 해당 스위치의 제어에 따라 전자부품의 회로에 순차적으로 전원을 인가하여 회로검사를 수행하고, 상기 전자부품특성검사 또는 회로검사를 수행하여 측정된 검사 결과값을 상기 표시수단(540)으로 출력하는 전반적인 기능을 제어하고,The control means 510 reads an operation state command code necessary for an electronic component characteristic inspection or a circuit inspection for each model, and controls a switch corresponding to the operation state command code for an electronic component characteristic inspection or a circuit inspection, Overall function of sequentially applying power to a circuit of an electronic component under the control of a switch to perform a circuit inspection, and outputting the measured test result value to the display means 540 by performing the electronic component characteristic inspection or a circuit inspection. Control the

상기 스위치수단(530)은 상기 테스팅수단(400)과 연결되며, 상기 제어수단의 제어에 따라 각 모델의 전자부품특성검사 또는 회로검사에 관련된 동작상태 명령코드를 읽어들여 프로브 핀과 연결된 각각의 스위치를 제어하여 전원을 인가하고, 프로브 핀을 통해 측정된 전자부품특성검사 또는 회로검사에 따른 검사 결과값을 상기 표시수단(540)으로 출력하는 역할을 수행하며, The switch means 530 is connected to the testing means 400, each switch connected to the probe pin by reading the operation state command code associated with the electronic component characteristics test or circuit test of each model according to the control of the control means Controls power to apply the power, and outputs the test result value according to the electronic component characteristic test or the circuit test measured through the probe pin to the display unit 540,

상기 전원수단(520)은 상기 계측장치(500)에 전원을 인가하는 역할을 수행하게 된다.The power supply means 520 serves to apply power to the measurement device 500.

본 발명은 상술한 바와 같은 전자부품특성검사 또는 회로검사에 사용되어지는 스위치에 관한 것으로 이하에서 본 발명인 다른 타입의 이중구조를 가지는 스위치를 더욱 구체적으로 설명한다.The present invention relates to a switch used for the electronic component characteristic test or the circuit test as described above. Hereinafter, a switch having another type of dual structure according to the present invention will be described in more detail.

도 3은 본 발명의 바람직한 일 실시예에 따른 다른 타입의 이중구조를 가지는 스위치의 세부 블럭 구성을 나타내는 도면이다. 도 3을 참조하여 본 발명인 다른 타입의 이중구조를 가지는 스위치를 더욱 구체적으로 설명하면, 3 is a block diagram illustrating a detailed block configuration of a switch having another type of dual structure according to an exemplary embodiment of the present invention. Referring to Figure 3 will be described in more detail a switch having a dual structure of another type of the present invention,

본 발명인 다른 타입의 이중구조를 가지는 스위치는 하나의 프로브 핀에 두 개의 스위치가 연결되고, 상기 두 개의 스위치는 '+'극 단자의 두 개의 스위치와 '-'극 단자의 두 개의 스위치에 각각 연결된 하나의 배선에 결선되도록 구성되어 계측장치의 제어에 따라 전자부품특성검사 또는 회로검사를 수행하는 것을 특징으로 하고 있다.In another switch having a dual structure according to the present invention, two switches are connected to one probe pin, and the two switches are respectively connected to two switches of a '+' pole terminal and two switches of a '-' pole terminal. It is configured to be connected to one wire, characterized in that to perform the electronic component characteristics inspection or circuit inspection under the control of the measuring device.

특히, 다른 타입의 이중구조를 가지는 스위치는 스위치 컨트롤러(600) 및 스위치 구동회로(700)를 포함하여 구성되는데,In particular, a switch having a dual structure of another type includes a switch controller 600 and a switch driving circuit 700.

상기 스위치 컨트롤러(600)는 상기 계측장치의 제어수단(510)로부터 다양한 모델의 전자부품특성검사 또는 회로검사에 관한 동작상태 명령코드를 입력받아 해석하고 상기 동작상태 명령코드에 해당하는 해당 스위치 구동회로(700)를 직접 제어하기 위해 전원을 인가하는 역할을 수행하고,The switch controller 600 receives and interprets an operating state command code for electronic component characteristic inspection or circuit inspection of various models from the control means 510 of the measuring device, and corresponds to the corresponding switch driving circuit corresponding to the operating state command code. Serves to apply power to directly control the 700,

상기 스위치 구동회로(700)는 상기 테스팅수단(400)과 연결되고, 상기 스위치 컨트롤러의 제어에 따라 하나의 배선에 연결된 다른 타입의 두 개의 스위치 중 택일적으로 하나의 스위치를 온(ON)시켜 상기 스위치에 연결된 프로브 핀에 전원을 인가하고, 상기 프로브 핀의 전원인가에 따라 측정된 해당 전자부품특성검사 또는 회로검사에 따른 검사 결과값을 상기 계측장치의 표시수단(540)으로 출력하는 역할을 수행한다.The switch driving circuit 700 is connected to the testing means 400, and according to the control of the switch controller, one of two switches of another type connected to one wire is alternatively turned on It supplies power to the probe pin connected to the switch, and outputs the test result value according to the electronic component characteristic test or the circuit test measured according to the power supply of the probe pin to the display means 540 of the measuring device. do.

특히, 상기 스위치 구동회로(700)는 스위치제어모듈(770, 780) 및 스위치구동모듈(710, 720, 730, 740)를 더 포함하여 구성되는데,In particular, the switch driving circuit 700 further includes a switch control module 770, 780 and a switch driving module 710, 720, 730, 740.

상기 스위치제어모듈(770,780) '+'극 단자의 스위치 두 개와 '-'극 단자의 스위치 두 개로 구성되어 각각의 스위치에 하나의 배선이 스위치구동모듈(710, 720, 730, 740,750 등)과 결선되어 구성되며, 상기 스위치구동모듈(710, 720, 730, 740, 750 등)로부터 측정된 전자부품특성검사 또는 회로검사에 관한 검사 결과값을 입력받아 상기 계측장치의 표시수단(540)으로 출력하게 되고,The switch control module 770, 780 is composed of two switches of the '+' pole terminal and two switches of the '-' pole terminal, and one wire is connected to the switch driving module 710, 720, 730, 740, 750, etc. in each switch. And the test result value related to the electronic component characteristic test or the circuit test measured from the switch driving module 710, 720, 730, 740, 750, etc., and output to the display means 540 of the measuring device. Become,

상기 스위치구동모듈(710, 720, 730, 740, 750 등)은 하나의 프로브 핀에 두 개의 스위치가 연결되어 상기 스위치제어모듈의 각 배선과 하나로 결선되어 구성되며, 상기 스위치 컨트롤러(600)에 의해 상기 스위치구동모듈의 스위치를 택일하여 두 개의 프로브 핀에 전원을 인가하여 전자부품특성검사 또는 회로검사를 수행하고, 그 검사 결과값을 상기 스위치제어모듈(770,780)로 출력하도록 다수 개로 구성된 것이 특징이다.The switch driving module (710, 720, 730, 740, 750, etc.) is configured by connecting two switches to one probe pin and connected to each of the wirings of the switch control module, one by the switch controller 600 The switch of the switch drive module is selected to apply power to the two probe pins to perform the electronic component characteristics test or circuit test, and a plurality of configured to output the test result value to the switch control module (770,780) .

또한, 상기 하나의 프로브 핀에 연결된 두 개의 스위치는 '+'극 단자와 '-'극 단자로 구성된 것을 특징으로 하고 있다.In addition, the two switches connected to the one probe pin is characterized by consisting of a '+' pole terminal and a '-' pole terminal.

도 4는 본 발명의 일 실시예에 따른 다른 타입의 이중구조를 가지는 스위치의 동작원리를 설명하기 위한 세부 블럭 구성을 나타내는 도면이다. 도 3과 도 4를 참조하여 일 실시예인 다른 타입의 이중구조를 가지는 스위치의 구조와 동작원리를 더욱 구체적으로 설명하면, 4 is a block diagram illustrating the detailed operation of a switch having another type of dual structure according to an embodiment of the present invention. Referring to Figures 3 and 4 will be described in more detail the structure and operation principle of a switch having a dual structure of another type as an embodiment,

본 발명에 따른 다른 타입의 이중구조를 가지는 스위치(711,712,721,722 등)의 종류는 [R 스위치 A형], [L 스위치 B형], [R 스위치 C형], [L 스위치 D형]으로 4의 배수형태로 배열되어 있으며, Types of switches (711, 712, 721, 722, etc.) having a dual structure of another type according to the present invention are [R switch A type], [L switch B type], [R switch C type], [L switch D type] Arranged in the form of,

프로브 핀 하나에 서로 다른 타입의 스위치 두 개가 나열되어 있으며, 세부적으로 프로브 핀 홀수 라인에 [R 스위치 A형], [R 스위치 C형]이 배열되고 프로브 핀 짝수 라인에 [L 스위치 B형], [L 스위치 D형]이 배열되는 무한구조를 가지며, Two different types of switches are listed on one probe pin, with [R Switch A Type] and [R Switch C Type] arranged on the odd number of probe pin lines, [L Switch B Type] on the even number of probe pin lines. [L switch D type] has an infinite structure arranged,

[A라인 스위치](773), [B라인 스위치](771), [C라인 스위치](781) 및 [D라인 스위치](783)에 연결된 배선에 의해 하나로 결선된 구조를 가지게 된다.A line switch 773, a B line switch 771, a C line switch 781, and a D line switch 783 have a structure in which one wire is connected.

더욱 구체적으로 설명하면, 상기 [A라인 스위치](773)는 상기 [R 스위치 A형](711)의 스위치 배선이 하나로 결선되도록 구조를 가지며, 상기 [B라인 스위치](771)는 [L 스위치 B형](721)의 스위치 배선이 하나로 결선되도록 하는 구조를 가지며, [C라인 스위치](781)는 [R 스위치 C형](712)의 스위치 배선이 하나로 결선되도록 하는 구조를 가지며, [D라인 스위치](783)는 [L 스위치 D형](722)의 스위치 배선이 하나로 결선되도록 하는 구조를 가지게 되고,More specifically, the [A line switch] 773 has a structure such that the switch wiring of the [R switch A type] 711 is connected to one, and the [B line switch] 771 is [L switch]. B-type] 721 has a structure to be connected to one wire, [C line switch] 781 has a structure such that the switch wiring of [R switch C-type] 712 is connected to one, [D Line switch] 783 has a structure such that the switch wirings of the [L switch D type] 722 are connected as one,

상기 [A라인 스위치](773)에 연결된 상기 [R 스위치 A형](711)과 상기 [C라인 스위치](781)에 연결된 [R 스위치 C형](712)은 프로브 핀(713)과 연결되는 구조를 가지게 된다.The R switch type A 711 connected to the A line switch 773 and the R switch type C 712 connected to the C line switch 781 are connected to the probe pin 713. It will have a structure.

특히, 상기 [A라인 스위치](773) 또는 [B라인 스위치](771)가 '+'극단자의 스위치로 구성되면, 상기 [C라인 스위치](781) 또는 [D라인 스위치](783)는 '-'극단자의 스위치로 구성되기 때문에, 상기 [R 스위치 A형] 또는 [L 스위치 B형] 스위치는 '+'극단자의 스위치가 되고, 상기 [R 스위치 C형] 또는 [L 스위치 D형]스위치는 '-'극단자의 스위치가 되게 되는 것이 특징이고, 상기 스위치의 조작에 따라 두 개의 프로브 핀을 도통시켜 검사된 검사 결과값은 표시수단(540)의 '+' 극단자 또는 '-' 극단자로 입력되어 화면으로 출력되게 된다.In particular, when the [A line switch] 773 or the [B line switch] 771 is configured as a switch of the '+' terminal, the [C line switch] 781 or the [D line switch] 783 is [R switch A type] or [L switch B type] switch is a switch of '+' terminal, and the [R switch type C] or [L switch type D] The switch is characterized in that the switch of the '-' terminal, and the test result value tested by conducting two probe pins according to the operation of the switch is the '+' terminal or '-' extreme of the display means 540. It will be input to the screen and output to the screen.

또한, 각종 스위치인 [R 스위치 A형], [L 스위치 B형], [R 스위치 C형], [L 스위치 D형]의 내부구조는 스위치 구조를 생성할 수 있는 릴레이나 각종 반도체 소자(트랜지스터, 모스트랜지스터, 아날로그 스위치 등의 반도체 소자)로 구성할 수 있는 것이 특징이다.In addition, the internal structures of various switches [R switch A type], [L switch B type], [R switch C type], and [L switch D type] have a relay or various semiconductor elements (transistors) that can generate a switch structure. , Semiconductor devices such as morph transistors and analog switches).

물론, 상기 스위치의 구성은 각 제조회사의 특징에 따라 변경할 수 있음은 당업자에게는 자명하다.Of course, it is apparent to those skilled in the art that the configuration of the switch can be changed according to the characteristics of each manufacturer.

상기와 같은 일 실시예에 의한 스위치의 구성과 도 4를 참조하여 그 동작원리를 설명하면,Referring to the configuration of the switch according to an embodiment as described above and the operation principle with reference to FIG.

1번 프로브 핀(713)과 5번 프로브 핀(753)의 양단에 걸리는 전압을 측정할 경우, When measuring the voltage across both the probe pin 713 and probe pin 753,

1번 프로브 핀(713)에는 [R 스위치 A형](711)와 [R 스위치 C형](712) 중 [R 스위치 A형](711) 스위치가 동작하면 [A라인 스위치]의 배선을 통하여 [A라인 스위치](773)와 연결되고,The first probe pin 713 has [R switch A type] 711 and [R switch type A] 711 of [R switch type C] 712 connected to the [A line switch] through the wiring of [A line switch]. [A line switch] 773,

5번 프로브 핀(753)에는 [R 스위치 A형](751)와 [R 스위치 C형](752) 중 [R 스위치 C형](752) 스위치가 동작하면 [C라인 스위치]의 배선을 통하여 [C라인 스위치](781)와 연결되어, 1번 프로브 핀(713)과 5번 프로브 핀(753)의 양단에 걸리는 전압(또는 검사 결과값)이 [A라인 스위치](773)과 [C라인 스위치](781) 스위치가 동시에 온(ON) 동작을 하면 표시수단(540)으로 출력되어 화면으로 표시되게 되는 것이다.When the [R switch C type] 752 switch among [R switch type A] 751 and [R switch type C] 752 is operated to the probe pin 753, the wiring of [C line switch] is performed. Connected to the [C line switch] 781, the voltage (or test result value) applied to both the probe pin 713 and the probe pin 753 of the fifth probe pin (753) is [A line switch] 773 and [C Line switch] 781 when the switch at the same time (ON) operation is output to the display means 540 is displayed on the screen.

801번의 저항의 저항값을 측정하고자 할 경우는,If you want to measure the resistance of resistor 801,

1번 프로브 핀(713)과 연결된 [R 스위치 A형](711)와 [R 스위치 C형](712) 중 [R 스위치 A형](711) 스위치와 [A라인 스위치](773)를 동작시키고,Operate the [R switch A type] 711 and [A line switch] 773 of [R switch type A] 711 and [R switch type C] 712 connected with the probe pin 713. Let's

2번 프로브 핀(723)과 연결된 [L 스위치 B형](721)와 [L 스위치 D형](722) 중 [L 스위치 D형](722) 스위치와 [D라인 스위치](783)을 동작시킴으로써, 801번의 저항값을 측정하여 표시수단(540)으로 출력함으로써 화면에 표시되게 되는 것이다.Operate the [L Switch D Type] 722 switch and the [D Line Switch] 783 among [L Switch Type B] 721 and [L Switch Type D] 722 connected to No. 2 probe pin 723. In this way, the resistance value of No. 801 is measured and output to the display means 540 to be displayed on the screen.

805번의 다이오드의 특성을 검사하고자 할 경우는,If you want to check the characteristics of diode 805,

2번 프로브 핀(723)과 연결된 [L 스위치 B형](721)와 [L 스위치 D형](722) 중 [L 스위치 B형](721) 스위치와 [B라인 스위치](771)를 동작시키고,Operate the [L Switch B Type] 721 and the [B Line Switch] 771 of the [L Switch Type B] 721 and [L Switch Type D] 722 connected to the No. 2 probe pin 723. Let's

4번 프로브 핀(743)과 연결된 [L 스위치 B형](741)와 [L 스위치 D형](742) 중 [L 스위치 D형](742) 스위치와 [D라인 스위치](783)을 동작시킴으로써, 805번의 다이오드의 특성을 검사하여 표시수단(540)으로 출력함으로써 화면에 표시되게 되 는 것이다.Operate the [L Switch D Type] 742 and the [D Line Switch] 783 among [L Switch Type B] 741 and [L Switch Type D] 742 connected to No. 4 probe pin 743. In this case, the characteristics of the diode 805 are inspected and output to the display means 540 to be displayed on the screen.

만일, 역방향이라면 2번 프로브 핀(723)과 연결된 [L 스위치 B형](721)와 [L 스위치 D형](722) 중 [L 스위치 D형](722) 스위치와 [D라인 스위치](783)를 동작시키고,If it is the reverse direction, [L switch D type] 722 and [D line switch] of [L switch type B] 721 and [L switch type D] 722 connected to the probe pin 723 of the second ( 783),

4번 프로브 핀(743)과 연결된 [L 스위치 B형](741)와 [L 스위치 D형](742) 중 [L 스위치 B형](741) 스위치와 [B라인 스위치](771)을 동작시킴으로써, 순방향 검사가 자동으로 이루어져 805번의 다이오드의 특성을 검사하여 표시수단(540)으로 출력함으로써 화면에 표시되게 되는 것이다.Operate [L switch B type] 741 and [B line switch] 771 of [L switch type B] 741 and [L switch type D] 742 connected to probe pin 743. By doing so, the forward inspection is automatically performed, and the characteristics of the diode 805 are inspected and output to the display means 540 to be displayed on the screen.

상기와 같은 스위치의 구성과 동작으로 인하여 각 제조회사별 모델에 따른 검사를 수행할 경우 프로브 핀의 방향을 기계적으로 바꾸지 않고 스위치의 동작상태 명령코드만을 변경하여 효율적으로 전자부품특성검사 또는 회로검사를 수행할 수 있게 되는 것이다. Due to the configuration and operation of the switch as described above, when performing the inspection according to each manufacturer's model, the electronic device characteristic inspection or the circuit inspection can be efficiently performed by changing only the operation state command code of the switch without changing the direction of the probe pin mechanically. It can be done.

이상에서 본 발명의 바람직한 일 실시예를 설명하였으나, 본 발명은 다양한 변화와 변경 및 균등물을 사용할 수 있고, 상기 실시예를 적절히 변형하여 동일하게 응용할 수 있음이 명확하다. 따라서 상기 기재 내용은 하기 특허청구범위의 한계에 의해 정해지는 본 발명의 범위를 한정하는 것이 아니다.Although one preferred embodiment of the present invention has been described above, it is clear that the present invention may use various changes, modifications, and equivalents, and may be applied in the same manner by appropriately modifying the embodiment. Accordingly, the above description does not limit the scope of the invention as defined by the limitations of the following claims.

상술한 바와 같이 본 발명인 다른 타입의 이중구조를 가지는 스위치는, 각 제조회사별 모델에 따른 검사를 수행할 경우 프로브 핀의 방향을 기계적으로 바꾸지 않고 스위치의 동작상태 명령코드만을 변경함으로써, 효율적으로 전자부품특성검사 또는 회로검사를 수행할 수 있는 효과가 있고,As described above, the switch having the dual structure of another type of the present invention efficiently changes the operation state command code of the switch without mechanically changing the direction of the probe pin when performing the inspection according to each manufacturer's model. It is effective to perform component characteristic inspection or circuit inspection,

다른 효과로는, 회로의 변경이 발생하더라도 스위치의 동작상태 명령코드만을 소프트웨어적으로 변경하여 적용하면 하드웨어적인 재구성 비용손실, 자원낭비 등을 줄일 수 있는 효과가 있다.As another effect, even if a circuit change occurs, if the software changes only the operation state command code of the switch, it is possible to reduce hardware reconfiguration cost loss and resource waste.

Claims

In the switch used for the electronic component characteristics inspection or circuit inspection,

Two switches are connected to one wire by connecting one switch to one probe pin, and the electronic component characteristic test or the circuit test is performed under the control of the measuring device.

And the wiring is connected to two switches of the '+' pole terminal and two switches of the '-' pole terminal, respectively.

delete

A switch controller which reads and analyzes an operation state command code relating to a predetermined electronic component characteristic inspection or a circuit inspection under the control of a measurement device, and applies power to a corresponding switch driving circuit; And

Two switches are connected to one probe pin and connected by one wire. The power is applied to any one of the two switches according to the control of the switch controller, and the characteristics of the electronic component or the circuit are inspected. A switch driving circuit for outputting a test result value according to a characteristic test or a circuit test to the display means of the measuring device; Including but not limited to:

The two switches have a dual structure of another type, characterized in that composed of '+' pole terminal and '-' pole terminal.

4. The switch driving circuit of claim 3, wherein the switch driving circuit

It consists of two switches of '+' pole terminal and two switches of '-' pole terminal, and one wire is connected to switch driving module in each switch. A switch control module for receiving a test result value related to the test unit and outputting the test result to a display unit of the measuring device; And

Two switches are connected to one probe pin and connected to each wire of the switch control module. The switch is selected by the switch controller to apply power to the two probe pins and to test the characteristics of an electronic component or a circuit. A switch driving module configured to perform a test and output the test result to the switch control module; Switch having a dual structure of another type, characterized in that further comprises a.

delete