KR100822677B1 - Device for generating haze on photo mask - Google Patents

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고건섭
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엄승환
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Abstract

An apparatus for generating haze on a photomask is provided to effectively analyze a correlation between generation of haze and the condition in a process chamber by intentionally controling the humidity, temperature and a gas composition ratio in the process chamber. An optical system processes a laser beam emitted form a laser emitting part in a manner that the laser beam has a predetermined shape and energy distribution. A window made of a light transmitting material that a laser beam transmits is installed in the upper part of a process chamber in which a space for disposing a photomask is installed wherein the space is isolated from the outside. While the laser beam transmitting the optical system transmits the window to be irradiated to the photomask disposed in the space, a monitoring part monitors whether haze is generated on the photomask. A moisture supply part supplies moisture to the space in the process chamber. A gas supply part supplies mixture gas to the space in the process chamber wherein at least one kind of gas is mixed in the mixture gas. A heating part increases the temperature of the space of the process chamber. An environment control part(60) respectively controls the moisture supply part, the gas supply part and the heating part in a manner that reference environment including reference humidity, reference temperature and a reference gas composition ratio is formed in the space based upon the humidity, the temperature and the gas composition ratio of the space.

Description

포토 마스크의 헤이즈 발생장치{Device for generating haze on photo mask}Device for generating haze on photo mask

도 1은 종래의 일례에 따른 포토 마스크의 헤이즈 발생장치의 개략적인 구성도이다. 1 is a schematic configuration diagram of a haze generating device of a photo mask according to a conventional example.

도 2는 본 발명의 일 실시예에 따른 포토 마스크의 헤이즈 발생장치의 개략적인 구성도이다. 2 is a schematic configuration diagram of a haze generating device of a photo mask according to an embodiment of the present invention.

도 3은 도 2에 도시된 환경조절유닛의 상세도이다. Figure 3 is a detailed view of the environmental control unit shown in FIG.

도 4는 도 3에 도시된 환경조절유닛을 제어하는 환경 제어부의 개략적인 블록도이다. 4 is a schematic block diagram of an environmental controller for controlling the environmental control unit shown in FIG.

도 5는 도 2에 도시된 포토 마스크에 조사되는 레이저 빔의 세기를 제어하는 과정을 설명하기 위한 개략적인 블록도이다. FIG. 5 is a schematic block diagram illustrating a process of controlling the intensity of a laser beam radiated to the photo mask shown in FIG. 2.

<도면의 주요부분에 대한 부호의 설명> <Description of the symbols for the main parts of the drawings>

10...레이저 방출부 20...어테뉴에이터10 ... laser emitter 20 ... attenuator

30...광학계 40...공정챔버30 ... optical system 40 ... process chamber

41,42...윈도우 43...습도 센서41,42 ... Windows 43 ... humidity sensor

44...온도 센서 45...가스 센서44 ... temperature sensor 45 ... gas sensor

49...모니터링부 50,51...에너지 측정부 49 Monitoring unit 50, 51 Energy measuring unit

60...환경조절유닛 61...가스공급부60.Environmental control unit 61.Gas supply unit

62...가열부 63...수분공급부62 Heating unit 63 Water supply unit

70...환경 제어부 71...가스 제어부70 ... Environmental Control 71 ... Gas Control

72...온도 제어부 73...습도 제어부72 ... temperature control 73 ... humidity control

81...저장부 82...연산부81 Storage 82 Operation

83...어테뉴에이터 제어부 84...산출부83.Attenuator control unit 84.Calculation unit

85...판단부 86...레이저 방출부 제어부85.Decision 86.Laser Emission Control

100...포토 마스크의 헤이즈 발생장치100.Haze generator of photo mask

501,511...빔 스플리터 511,512...에너지 미터501,511 ... beam splitter 511,512 ... energy meter

611...가스라인 611a,614a,633a...유량조절기611 gas line 611a, 614a, 633a flow regulators

612...혼합탱크 613...연결라인612 Mixing tank 613 Connecting line

621...가열탱크 622...히터621 Heating tank 622 Heater

631...수분탱크 632...수분발생기631 ... Moisture Tank 632 ... Moisture Generator

633...수분라인633 ... moisture line

본 발명은 포토 마스크의 헤이즈 발생장치에 관한 것으로서, 보다 상세하게는 포토 마스크의 표면에 성장성 결함인 헤이즈를 인위적으로 형성시켜 헤이즈 발생 원인을 찾기 위한 포토 마스크의 헤이즈 발생장치에 관한 것이다.BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a haze generating device for a photo mask, and more particularly, to a haze generating device for a photo mask for artificially forming a haze that is a growth defect on the surface of the photo mask to find a cause of haze generation.

최근들어 반도체의 집적도가 증가하면서, 포토리소그래피 공정시에는 200nm이하 파장의 레이저 빔을 방출하는 광원이 사용되고 있다. 예를 들어, 193nm 파장의 레이저 빔을 방출하는 ArF 엑시머 레이저가 널리 사용된다. 그러나, 200 nm 이하 파장의 레이저 빔을 포토 마스크에 조사하면, 포토 마스크의 표면에 성장성 결함인 헤이즈(haze)가 발생되어 포토 마스크의 성능 저하 및 포토 마스크의 수명 단축을 초래한다. 따라서, 헤이즈 발생 원인의 규명 및 헤이즈 발생 방지 방안에 대한 연구를 위해서, 포토 마스크에 헤이즈를 인위적으로 발생시키는 헤이즈 발생장치에 대한 필요성이 증가하고 있다. In recent years, as the degree of integration of semiconductors increases, a light source that emits a laser beam having a wavelength of 200 nm or less is used in a photolithography process. For example, ArF excimer lasers that emit laser beams of 193 nm wavelength are widely used. However, when a laser beam having a wavelength of 200 nm or less is irradiated to the photomask, haze, which is a growth defect, is generated on the surface of the photomask, resulting in deterioration of the performance of the photomask and shortening of the photomask life. Therefore, in order to identify the cause of the haze generation and to study how to prevent the haze generation, there is an increasing need for a haze generating device that artificially generates haze in the photo mask.

도 1에는 종래의 일례에 따른 포토 마스크의 헤이즈 발생장치(100')가 도시되어 있다. 도 1을 참조하면, 헤이즈 발생장치(100')는 193nm 파장의 엑시머 레이저를 방출하는 레이저 방출부(10')와, 레이저 빔이 미리 설정된 형상 및 에너지 분포를 가지도록 레이저 빔을 가공하는 광학계와, 포토 마스크(1)가 내부에 배치되는 공정챔버(40')를 구비한다. 광학계는 복수의 미러(mirror)(31',32',33')와, 레이저 빔의 형상을 가공하는 텔레스코프(34')와, 레이저 빔의 에너지를 균일하게 가공하는 호모지나이저(35')와, 레이저 빔의 초점을 조절하고 레이저 빔의 크기를 조절하는 초점렌즈(36')를 구비한다. 공정챔버(40')의 상측 및 하측에는 레이저 빔을 투과하는 윈도우(41',42')가 설치되어 있다. 공정챔버(40')의 상방 및 하방에는 각각 빔 스플리터(501',511') 및 빔 스플리터에서 반사된 레이저 빔의 에너지를 측정하는 에너지 미터(502',512')가 설치되어 있다. 그리고, 공정챔버(40')의 상측에는 포토 마스크의 표면에 헤이즈 발생 여부를 모니터링하는 전하결합소자 카메 라(charge-coupled device camera)(49')가 설치되어 있다. 또한, 공정챔버(40')는 가스를 공급하는 가스공급부(45')와, 습도를 공급하는 습도공급부(60')와 연결되어 있다. 1 illustrates a haze generating device 100 ′ of a photo mask according to a conventional example. Referring to FIG. 1, the haze generator 100 ′ includes a laser emitter 10 ′ that emits an excimer laser having a wavelength of 193 nm, an optical system that processes the laser beam so that the laser beam has a predetermined shape and energy distribution; And a process chamber 40 'in which the photomask 1 is disposed. The optical system includes a plurality of mirrors 31 ', 32', 33 ', a telescope 34' for processing the shape of the laser beam, and a homogenizer 35 'for uniformly processing the energy of the laser beam. And a focus lens 36 'for adjusting the focus of the laser beam and controlling the size of the laser beam. Upper and lower sides of the process chamber 40 'are provided with windows 41' and 42 'for transmitting the laser beam. Above and below the process chamber 40 ', there are provided beam splitters 501' and 511 'and energy meters 502' and 512 'for measuring the energy of the laser beam reflected by the beam splitter, respectively. In addition, a charge-coupled device camera 49 'is installed on the surface of the photomask to monitor whether or not a haze is generated on the surface of the process chamber 40'. In addition, the process chamber 40 'is connected to a gas supply part 45' for supplying gas and a humidity supply part 60 'for supplying humidity.

또한, 포토 마스크에 조사되는 레이저 빔의 순수 에너지는 상측 에너지 미터(502')에 의해 측정된 레이저 빔의 에너지 및 빔 스플리터(501')의 투과율에 의해 결정되며, 헤이즈 발생시까지 포토 마스크에 조사되는 레이저 빔의 축적 에너지는 헤이즈 발생시까지 조사되는 레이저 빔의 순수 에너지를 합산하여 얻어진다. In addition, the pure energy of the laser beam irradiated to the photomask is determined by the energy of the laser beam measured by the upper energy meter 502 'and the transmittance of the beam splitter 501', which is irradiated to the photomask until the haze occurs. The accumulated energy of the laser beam is obtained by summing the pure energy of the laser beam which is irradiated until haze generation.

한편, 헤이즈 발생에 영향을 미치는 변수로는 헤이즈 발생시까지 포토 마스크에 축적되는 레이저 빔의 에너지 양 및 공정챔버 내부의 온도, 습도 등의 환경 조건 등이 알려져 있으므로, 이러한 변수는 연구자가 원하는 대로 제어되어야 한다. On the other hand, the variables affecting the haze generation are known as the amount of energy of the laser beam accumulated in the photomask until the haze generation and environmental conditions such as temperature and humidity inside the process chamber, so these variables should be controlled as desired by the researcher. do.

그러나, 상술한 헤이즈 발생장치에 있어서는, 연구자가 의도한 에너지 세기의 레이저 빔을 헤이즈 발생시까지 포토 마스크에 조사할 수 없게 된다. 즉, 레이저 빔이 산소와 반응하면 그 레이저 빔의 에너지가 감소하게 되나, 종래에는 공정챔버 내부의 산소에 의한 레이저 빔의 에너지 손실이 고려되지 않은 상태에서 레이저 빔의 순수 에너지 및 헤이즈 발생시까지의 레이저 빔의 축적 에너지가 결정되므로, 레이저 빔의 순수 에너지 및 축적 에너지에 오차가 발생한다.However, in the haze generator described above, the photomask cannot be irradiated with the laser beam of the energy intensity intended by the researcher until the haze is generated. That is, when the laser beam reacts with oxygen, the energy of the laser beam decreases, but conventionally, the energy until the pure energy of the laser beam and the haze is generated without considering the energy loss of the laser beam by oxygen in the process chamber. Since the stored energy of the beam is determined, an error occurs in the pure energy and stored energy of the laser beam.

그리고, 헤이즈 발생시까지 포토 마스크(1)에 일정 에너지 세기를 가지는 레이저 빔이 연속적으로 조사되어야 하나, 종래에는 레이저 방출부(10')에서 방출된 레이저 빔이 광학계에서 가공되어 공정챔버(40')로 조사되도록 구성되어 있을 뿐 레이저 빔의 에너지 세기가 조절되도록 구성되어 있지 않아, 광학계의 효율 변화 등에 의해 포토 마스크에 입사되는 레이저 빔의 에너지가 시간에 따라 변동되더라도 그 레이저 빔의 에너지 변동을 제어할 방법이 없었다. Then, the laser beam having a constant energy intensity should be continuously irradiated to the photo mask 1 until the haze is generated. In the related art, the laser beam emitted from the laser emitter 10 'is processed in an optical system to process the chamber 40'. The energy intensity of the laser beam is not controlled so as to control the energy variation of the laser beam even if the energy of the laser beam incident on the photo mask is changed over time due to changes in the efficiency of the optical system. There was no way.

또한, 공정챔버 내부의 환경 인자, 예를 들어 공정 챔버 내부의 습도, 온도 및 가스 조성에 따라 레이저 빔에 에너지 손실이 발생하게 되나. 종래에는 이러한 공정챔버 내부의 환경 인자를 고려하지 않아 레이저 빔의 순수 에너지 및 축적 에너지를 정확하게 결정할 수 없었다. 나아가, 공정챔버(40') 내부의 환경 인자를 헤이즈 발생시까지 연구자가 원하는 대로 제어할 수 없었다. In addition, energy loss occurs in the laser beam depending on environmental factors inside the process chamber, for example, humidity, temperature, and gas composition inside the process chamber. Conventionally, the pure energy and the accumulated energy of the laser beam cannot be accurately determined without considering the environmental factors inside the process chamber. Furthermore, the environmental factors inside the process chamber 40 'could not be controlled as desired by the researcher until haze occurred.

그리고, 공기중에 노출되어 있는 광학계, 윈도우(41',42') 및 빔 스플리터(501',511')에 레이저 빔이 조사되면, 레이저 빔이 광학계, 윈도우 및 빔 스플리터와 각각 반응하여 광학계, 윈도우 및 빔 스플리터가 오염되며 오염된 광학계, 윈도우 및 빔 스플리터를 투과하는 레이저 빔의 에너지가 감소한다. 따라서, 레이저 빔의 순수 에너지 및 축적 에너지를 정확하게 측정할 수 없으며 나아가 레이저 빔의 에너지 세기를 일정하게 유지할 수도 없게 된다.When the laser beam is irradiated to the optical system, the windows 41 ', 42' and the beam splitters 501 ', 511' that are exposed to the air, the laser beam reacts with the optical system, the window, and the beam splitter, respectively. And the beam splitter is contaminated and the energy of the laser beam passing through the contaminated optics, window and beam splitter is reduced. Therefore, the pure energy and the accumulated energy of the laser beam cannot be measured accurately and furthermore, the energy intensity of the laser beam cannot be kept constant.

본 발명은 상기한 문제점을 해결하기 위해서 안출된 것으로서, 본 발명의 목적은, 헤이즈 발생시까지 포토 마스크에 일정 에너지 세기의 레이저 빔을 조사할 수 있으며, 포토 마스크에 축적되는 레이저 빔의 에너지 양을 정확하게 얻을 수 있을 뿐만 아니라 공정챔버 내부의 환경을 제어할 수 있도록 구조가 개선된 포토 마스크의 헤이즈 발생장치를 제공하는 것이다. SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made to solve the above problems, and an object of the present invention is to irradiate a laser beam with a constant energy intensity to a photo mask until a haze occurs, and accurately measure the amount of energy of the laser beam accumulated in the photo mask. It is possible to provide a haze generating device for a photo mask which can be obtained and whose structure is improved to control the environment inside the process chamber.

상기 목적을 달성하기 위해, 본 발명에 따른 포토 마스크의 헤이즈 발생장치는 레이저 방출부; 상기 레이저 방출부에서 방출된 레이저 빔이 미리 설정된 형상 및 에너지 분포를 가지도록 상기 레이저 빔을 가공하는 광학계; 레이저 빔이 투과하는 광 투과성 소재로 이루어진 윈도우가 상측에 구비되며, 포토 마스크가 배치되는 공간이 외부와 격리되도록 내부에 형성되는 공정챔버; 상기 광학계를 통과한 레이저 빔이 상기 윈도우를 투과하여 상기 공간에 배치된 포토 마스크로 조사되는 동안, 상기 포토 마스크에 헤이즈 발생 여부를 관찰하는 모니터링부; 상기 공정챔버의 공간에 수분을 공급하는 수분공급부; 상기 공정챔버의 공간에 1종 이상의 가스가 혼합된 혼합가스를 공급하는 가스공급부; 상기 공정챔버의 공간의 온도를 상승시키는 가열부; 및 상기 공정챔버의 공간의 습도, 온도 및 가스 조성비를 기초로 상기 공정챔버의 공간에 미리 설정된 기준 습도, 기준 온도 및 기준 가스 조성비를 가지는 기준 환경이 형성되도록 상기 수분공급부, 가스공급부 및 가열부를 각각 제어하는 제어부;를 구비하는 것을 특징으로 한다. In order to achieve the above object, the haze generating apparatus of the photomask according to the present invention comprises a laser emitting unit; An optical system for processing the laser beam such that the laser beam emitted from the laser emission unit has a predetermined shape and an energy distribution; A process chamber having a window made of a light-transmitting material through which the laser beam passes, and formed inside so that the space where the photo mask is disposed is isolated from the outside; A monitoring unit for observing whether or not haze has occurred in the photo mask while the laser beam passing through the optical system is radiated through the window and irradiated with the photo mask disposed in the space; A water supply unit supplying water to the space of the process chamber; A gas supply unit supplying a mixed gas of at least one gas mixed into a space of the process chamber; A heating unit for raising a temperature of the space of the process chamber; And the water supply unit, the gas supply unit, and the heating unit, respectively, to form a reference environment having a predetermined reference humidity, reference temperature, and reference gas composition ratio in the space of the process chamber based on the humidity, temperature, and gas composition ratio of the space of the process chamber. And a control unit for controlling.

이하, 본 발명에 따른 바람직한 실시예를 첨부된 도면들을 참조하여 상세히 설명한다. Hereinafter, exemplary embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings.

도 2는 본 발명의 일 실시예에 따른 포토 마스크의 헤이즈 발생장치의 개략적인 구성도이고, 도 3은 도 2에 도시된 환경조절유닛의 상세도이며, 도 4는 도 3에 도시된 환경조절유닛을 제어하는 환경 제어부의 개략적인 블록도이며, 도 5는 도 2에 도시된 포토 마스크에 조사되는 레이저 빔의 세기를 제어하는 과정을 설명 하기 위한 개략적인 블록도이다. 2 is a schematic configuration diagram of a haze generating device of a photo mask according to an embodiment of the present invention, FIG. 3 is a detailed view of the environmental control unit shown in FIG. 2, and FIG. 4 is an environmental control shown in FIG. 3. FIG. 5 is a schematic block diagram of an environment control unit for controlling a unit, and FIG. 5 is a schematic block diagram for describing a process of controlling the intensity of a laser beam irradiated on the photo mask shown in FIG.

도 2 내지 도 5를 참조하면, 본 실시예의 포토 마스크의 헤이즈 발생장치(100)는 레이저 방출부(10)와, 어테뉴에이터(20)와, 광학계(30)와, 공정챔버(40)와, 모니터링부(49)와, 에너지 측정부(50,51)와, 환경조절유닛(60)과, 환경 제어부(70)를 구비한다. 2 to 5, the haze generating device 100 of the photomask of this embodiment includes a laser emitting unit 10, an attenuator 20, an optical system 30, a process chamber 40, The monitoring unit 49, the energy measuring units 50 and 51, the environmental control unit 60, and the environmental control unit 70 are provided.

레이저 방출부(10)는 레이저 빔을 발생시켜 방출한다. 레이저 방출부(10)는 특히 200nm 이하 파장의 레이저, 예를 들어 193nm 파장의 엑시머 레이저를 발생시켜 방출한다. The laser emitter 10 generates and emits a laser beam. The laser emission section 10 generates and emits a laser having a wavelength of 200 nm or less, for example, an excimer laser having a wavelength of 193 nm.

어테뉴에이터(attenuator)(20)는 레이저 방출부(10)에서 방출된 레이저 빔의 에너지 세기를 감쇠시켜 조절한다. 레이저 빔의 에너지 세기 조절은 어테뉴에이터(20)의 각도를 조절함으로써 이루어진다. The attenuator 20 attenuates and adjusts the energy intensity of the laser beam emitted from the laser emitter 10. Energy intensity control of the laser beam is achieved by adjusting the angle of the attenuator 20.

광학계(30)는 레이저 빔을 가공하여 레이저 빔이 미리 설정된 형상 및 에너지 분포를 가지도록 한다. 광학계(30)는 레이저 빔을 반사시키는 미러(31)와, 레이저 빔의 형상을 가공하는 텔레스코프(32)와, 레이저 빔의 에너지를 균일하게 가공하는 호모지나이저(33)와, 필드 렌즈(field lens)(34)와, 레이저 빔의 초점을 조절하는 프로젝션 렌즈(35)를 포함한다. 본 실시예에 있어서, 어테뉴에이터(20)에서 에너지 세기가 조절된 레이저 빔이 광학계(30)로 입사되어 가공된 후 공정챔버(40) 쪽으로 출사된다. The optical system 30 processes the laser beam so that the laser beam has a predetermined shape and energy distribution. The optical system 30 includes a mirror 31 for reflecting a laser beam, a telescope 32 for processing the shape of the laser beam, a homogenizer 33 for uniformly processing the energy of the laser beam, and a field lens ( field lens 34 and projection lens 35 for adjusting the focus of the laser beam. In the present embodiment, the laser beam of which energy intensity is adjusted in the attenuator 20 is incident to the optical system 30, processed, and then emitted toward the process chamber 40.

공정챔버(40)의 내부에는 외부와 격리된 공간이 형성되어 있다. 공정챔버(40)의 내부공간에는 포토 마스크(1)가 안착되는 스테이지(미도시)가 설치되어 있다. 공정챔버(40)의 상측 및 하측에는 각각 윈도우(41,42)가 설치되어 있다. 각 윈도우(41,42)는 레이저 빔이 투과하는 광 투과성 소재, 예를 들어 유리로 이루어져 있다. 따라서, 광학계(30)에서 가공된 레이저 빔은 상측 윈도우(41)를 투과하여 포토 마스크(1)에 조사된다. Inside the process chamber 40, a space is formed that is isolated from the outside. In the internal space of the process chamber 40, a stage (not shown) on which the photo mask 1 is mounted is installed. Windows 41 and 42 are provided above and below the process chamber 40, respectively. Each window 41, 42 is made of a light transmissive material, for example glass, through which a laser beam passes. Therefore, the laser beam processed by the optical system 30 passes through the upper window 41 and is irradiated to the photo mask 1.

공정챔버(40)에는, 공정챔버 내부의 습도를 측정하는 습도 센서(43), 공정챔버 내부의 온도를 측정하는 온도 센서(44) 및 공정챔버 내부의 가스 조성비를 측정하는 가스 센서(45)가 설치되어 있다. 특히, 습도 센서(43), 온도 센서(44) 및 가스 센서(45)가 포토 마스크(1) 주변에 배치되도록 구성하여, 레이저 빔의 조사시 포토 마스크(1)가 노출되는 환경, 즉 습도, 온도 및 가스 조성비를 정확하게 측정하도록 하는 것이 바람직하다. In the process chamber 40, a humidity sensor 43 for measuring humidity inside the process chamber, a temperature sensor 44 for measuring temperature inside the process chamber, and a gas sensor 45 for measuring gas composition ratio inside the process chamber are provided. It is installed. In particular, the humidity sensor 43, the temperature sensor 44 and the gas sensor 45 is configured to be disposed around the photo mask 1, so that the environment in which the photo mask 1 is exposed during irradiation of the laser beam, that is, humidity, It is desirable to accurately measure the temperature and gas composition ratio.

또한, 공정챔버(40)는 공정챔버의 공간에 가스를 공급하는 가스공급기(46)와 연결되어 있다. 공정챔버(40)의 일측은 가스공급기(46)와 연결된 가스공급관(47)에 연결되며, 공정챔버(40)의 타측은 공정챔버 내의 가스가 배출되는 가스배출관(48)과 연결되어 있다. 가스공급관(47)에는 밸브(471)가 설치되어 있으며, 가스배출관(48)에는 공정챔버(40)의 공간의 압력이 일정하게 유지되도록 배출 가스의 부피를 제어하기 위한 자동압력제어기(Auto Pressure controller)(481)가 설치되어 있다. In addition, the process chamber 40 is connected to a gas supplier 46 for supplying gas to the space of the process chamber. One side of the process chamber 40 is connected to a gas supply pipe 47 connected to the gas supplier 46, and the other side of the process chamber 40 is connected to a gas discharge pipe 48 through which gas in the process chamber is discharged. A valve 471 is installed in the gas supply pipe 47, and an auto pressure controller for controlling the volume of the exhaust gas to maintain a constant pressure in the space of the process chamber 40 in the gas discharge pipe 48. 481 is provided.

모니터링부(49)는 공정챔버(40)의 상측에 설치된다. 모니터링부(49)는 포토 마스크(1)의 표면에 헤이즈 발생 여부를 모니터링한다. 본 실시예에 있어서는 모니터링부(49)로는 전하결합소자 카메라(charge-coupled device camera)가 사용된 다. The monitoring unit 49 is installed above the process chamber 40. The monitoring unit 49 monitors whether haze is generated on the surface of the photo mask 1. In this embodiment, a charge-coupled device camera is used as the monitoring unit 49.

에너지 측정부(50,51)는 공정챔버(40)의 상방 및 하방에 각각 설치되어 있다. 각 에너지 측정부(50,51)는 빔 스플리터(501,511) 및 빔 스플리터로부터 반사된 레이저 빔의 에너지를 측정하는 에너지 미터(502,512)를 포함한다. 공정챔버(40)의 상방에 배치된 에너지 미터(502)는 상측 윈도우(41)로 입사되는 레이저 빔의 에너지를 측정하며, 공정챔버의 하방에 배치된 에너지 미터(512)는 하측 윈도우(42)로부터 출사되는 레이저 빔의 에너지를 측정한다. The energy measuring units 50 and 51 are provided above and below the process chamber 40, respectively. Each of the energy measuring units 50 and 51 includes beam splitters 501 and 511 and energy meters 502 and 512 which measure energy of the laser beam reflected from the beam splitter. An energy meter 502 disposed above the process chamber 40 measures the energy of the laser beam incident on the upper window 41, and an energy meter 512 disposed below the process chamber 40 measures the lower window 42. The energy of the laser beam emitted from is measured.

어테뉴에이터(20), 광학계(30) 및 상측 빔 스플리터(501)는 케이스(36)에 수납되어 있으며, 케이스(36)에는 유입포트(361) 및 유출포트(362)가 형성되어 있다. 불활성 가스, 예를 들어 질소 가스가 유입포트(361)를 통해 유입되어 유출포트(362)를 통해 유출되면, 어테뉴에이터(20), 광학계(30) 및 상측 빔 스플리터(501)가 각각 불활성 가스 분위기에 노출되게 되므로, 레이저 빔에 의해 어테뉴에이터(20), 광학계(30) 및 상측 빔 스플리터(501)가 오염되는 현상을 방지할 수 있게 된다. 따라서, 종래와 달리 레이저 빔의 에너지가 감소되는 현상을 방지할 수 있게 된다. 또한, 하측 빔 스플리터(511)도 유입포트(514) 및 유출포트(515)가 형성된 별도의 케이스(513)에 수납되어 있다. 따라서, 불활성 가스, 예를 들어 질소 가스가 유입포트(514)를 통해 유입되어 유출포트(515)를 통해 유출되면, 하측 빔 스플리터(511)가 각각 불활성 가스 분위기에 노출되게 되므로, 하측 빔 스플리터(511)가 레이저 빔에 의해 오염되는 현상을 방지할 수 있게 된다. 그리고, 상측 윈도우(41) 및 하측 윈도우(42) 부근에는 각 윈도우(41,42)를 향해 불활성 가스를 방출하는 가스방출부(11)가 각각 설치되어 있어서, 레이저 빔의 조사시 레이저 빔에 의한 각 윈도우(41,42)의 오염을 방지할 수 있게 된다. The attenuator 20, the optical system 30, and the upper beam splitter 501 are accommodated in the case 36, and the inlet port 361 and the outlet port 362 are formed in the case 36. When an inert gas, for example nitrogen gas, flows in through the inlet port 361 and out through the outlet port 362, the attenuator 20, the optical system 30, and the upper beam splitter 501 are each inert gas atmosphere. Since it is exposed to, the phenomenon that the attenuator 20, the optical system 30 and the upper beam splitter 501 by the laser beam can be prevented. Therefore, unlike the related art, it is possible to prevent a phenomenon in which energy of the laser beam is reduced. In addition, the lower beam splitter 511 is also housed in a separate case 513 in which the inlet port 514 and the outlet port 515 are formed. Therefore, when an inert gas, for example nitrogen gas, flows in through the inlet port 514 and flows out through the outlet port 515, the lower beam splitter 511 is exposed to the inert gas atmosphere, respectively, so that the lower beam splitter ( It is possible to prevent the phenomenon 511 is contaminated by the laser beam. In addition, a gas discharge part 11 for discharging an inert gas toward each of the windows 41 and 42 is provided in the vicinity of the upper window 41 and the lower window 42, respectively. It is possible to prevent contamination of the respective windows 41 and 42.

환경조절유닛(60)은 공정챔버(40)의 공간의 환경을 조절하기 위한 것으로서, 가스공급부(61)와, 가열부(62)와, 수분공급부(63)를 구비한다. The environmental control unit 60 is for controlling the environment of the space of the process chamber 40, and includes a gas supply unit 61, a heating unit 62, and a water supply unit 63.

가스공급부(61)는 공정챔버의 공간에 1종 이상의 가스가 혼합된 혼합가스를 공급하여 공정챔버 내의 가스 조성을 조절한다. 가스공급부(61)는 복수의 가스라인(611)과, 혼합탱크(612)를 가진다. 복수의 가스라인(611) 각각을 통해서 서로 다른 종류의 가스가 공급된다. 각 가스라인(611)에는 가스의 양을 제어하기 위한 유량조절기(611a), 예를 들어 질량유량계(mass flow controller)가 설치되어 있다. 각 가스라인(611)에 공급되는 가스로는 NH3, O2, N2, SO2 등이 사용된다. 혼합탱크(612)는 각 가스라인(611)과 연결되어 있어, 각 가스라인(611)을 통해 공급되는 가스는 혼합탱크(612)에서 서로 혼합된다. 혼합탱크(612)와 공정챔버(40)는 연결라인(613)에 의해 연결되어 있다. 혼합탱크(612)에 저장된 혼합가스는 연결라인(613)을 통해 공정챔버(40)로 공급되며, 공급되는 혼합가스의 양은 연결라인(613)에 설치된 유량조절기(613a)에 의해 조절된다. The gas supply unit 61 supplies a mixed gas in which one or more gases are mixed in the space of the process chamber to adjust the gas composition in the process chamber. The gas supply unit 61 has a plurality of gas lines 611 and a mixing tank 612. Different kinds of gases are supplied through each of the plurality of gas lines 611. Each gas line 611 is provided with a flow controller 611a for controlling the amount of gas, for example, a mass flow controller. Gas supplied to the gas line 611 is such as NH 3, O 2, N 2 , SO 2 is used. The mixing tank 612 is connected to each gas line 611, so that the gas supplied through each gas line 611 is mixed with each other in the mixing tank 612. The mixing tank 612 and the process chamber 40 are connected by a connection line 613. The mixed gas stored in the mixing tank 612 is supplied to the process chamber 40 through the connection line 613, and the amount of the mixed gas supplied is controlled by the flow regulator 613a installed in the connection line 613.

가열부(62)는 공정챔버(40)의 공간의 온도를 상승시키기 위한 것으로, 가스공급부(61)에서 공급되는 가스를 가열함으로써 공정챔버(40)의 공간의 온도를 조절한다. 가열부(62)는 가열탱크(621)와, 히터(622)를 구비한다. 가열탱크(621)는 연결라인(613) 상에 설치되어 있어, 가스공급부(61)에서 공급된 혼합가스가 가열탱크(621)로 유입된다. 히터(622)는 전원 인가시 발열하는 것으로서, 가열탱크(621)의 외측면에 설치되어 있다. 히터(622)의 발열에 의해 가열탱크(621)로 유입된 혼 합가스는 가열되어 혼합가스의 온도가 상승한 후에 공정챔버(40)로 유입된다. The heating part 62 is for raising the temperature of the space of the process chamber 40, and adjusts the temperature of the space of the process chamber 40 by heating the gas supplied from the gas supply part 61. The heating unit 62 includes a heating tank 621 and a heater 622. The heating tank 621 is installed on the connection line 613, so that the mixed gas supplied from the gas supply unit 61 flows into the heating tank 621. The heater 622 generates heat when the power is applied, and is provided on the outer surface of the heating tank 621. The mixed gas introduced into the heating tank 621 by the heat of the heater 622 is heated to flow into the process chamber 40 after the temperature of the mixed gas rises.

수분공급부(63)는 공정챔버의 공간에 수분을 공급하기 위한 것으로, 가열탱크(621)에서 가열된 혼합가스에 수분을 공급한다. 수분공급부(63)는 수분탱크(631)와, 수분발생기(632)를 구비한다. 수분탱크(631)는 도 3에 도시되어 있는 바와 같이 연결라인(613) 상에 설치되어 있어, 히터(622)에 의해 가열된 혼합가스가 수분탱크(631)로 유입된다. 수분발생기(632)는 수분을 발생시키는 것으로서, 수분탱크(631)와 수분라인(633)을 통해 연결되어 있다. 수분발생기(632)에서 발생된 수분은 수분탱크(631)로 유입되어 혼합가스와 혼합된다. 수분라인(633)에는 수분의 양을 조절하기 위한 유량조절기(633a)가 설치되어 있다. The water supply unit 63 is to supply water to the space of the process chamber, and supplies water to the mixed gas heated in the heating tank 621. The water supply unit 63 includes a water tank 631 and a water generator 632. As illustrated in FIG. 3, the water tank 631 is installed on the connection line 613 so that the mixed gas heated by the heater 622 flows into the water tank 631. The water generator 632 generates water and is connected to the water tank 631 through the water line 633. Water generated in the water generator 632 is introduced into the water tank 631 and mixed with the mixed gas. The water line 633 is provided with a flow controller 633a for controlling the amount of water.

환경 제어부(70)는 공정챔버의 공간에 기준 환경이 형성되도록 한다. 기준 환경은 미리 설정된 기준 습도, 기준 온도 및 기준 가스 조성비로 이루어진다. 그리고, 기준 가스 조성비는 공정챔버 내의 혼합가스에 있어서 각 가스의 비율을 의미한다. 환경 제어부(70)는 공정챔버(40)의 공간의 습도, 온도 및 가스 조성비를 기초로 가스공급부(61), 가열부(62) 및 수분공급부(63)를 각각 제어한다. 환경 제어부(70)는 가스 제어부(71)와, 온도 제어부(72)와, 습도 제어부(73)를 구비한다. The environment controller 70 allows a reference environment to be formed in the space of the process chamber. The reference environment consists of a preset reference humidity, reference temperature and reference gas composition ratio. The reference gas composition ratio means the ratio of each gas in the mixed gas in the process chamber. The environment controller 70 controls the gas supply unit 61, the heating unit 62, and the water supply unit 63 based on the humidity, the temperature, and the gas composition ratio of the space of the process chamber 40, respectively. The environmental control unit 70 includes a gas control unit 71, a temperature control unit 72, and a humidity control unit 73.

가스 제어부(71)는 가스 센서(45)에서 측정된 가스 조성비를 입력받아 각 가스라인(611)에 설치된 유량조절기(611a)를 제어한다. 즉, 가스 제어부(71)는, 혼합탱크(612)로 유입되는 특정 가스의 양을 조절하여 혼합탱크 내의 혼합가스의 조성을 조절한다. 이와 같이 혼합가스가 그 조성이 조절된 후 연결라인(613)을 통해 공정챔버(40)로 유입되면, 공정챔버(40) 내의 혼합가스의 조성을 조절할 수 있게 되어 공정챔버 내의 가스 조성비를 기준 가스 조성비로 유지시킬 수 있게 된다. 예를 들어, 공정챔버 내의 질소 농도를 증감시키고자 하는 경우에는, 질소가 공급되는 가스라인(611)에 설치된 유량조절기(611a)를 제어하여 공정챔버로 공급되는 질소의 양을 증감시키면 된다. 그리고, 레이저 빔의 에너지 손실을 유발하는 산소 농도도 적절하게 제어할 수 있다. The gas controller 71 receives the gas composition ratio measured by the gas sensor 45 and controls the flow regulator 611a installed in each gas line 611. That is, the gas control unit 71 adjusts the composition of the mixed gas in the mixing tank by adjusting the amount of the specific gas flowing into the mixing tank 612. When the mixed gas is introduced into the process chamber 40 through the connection line 613 after the composition is adjusted as described above, the composition of the mixed gas in the process chamber 40 can be adjusted, so that the gas composition ratio in the process chamber is referred to as the reference gas composition ratio. Can be maintained. For example, when the concentration of nitrogen in the process chamber is to be increased or decreased, the flow rate regulator 611a installed in the gas line 611 to which nitrogen is supplied may be controlled to increase or decrease the amount of nitrogen supplied to the process chamber. The oxygen concentration causing the energy loss of the laser beam can also be appropriately controlled.

온도 제어부(72)는 온도 센서(44)에서 측정된 온도를 입력받아 히터(622)를 제어한다. 즉, 온도 제어부(72)는 히터(622)에 인가되는 전원, 예를 들어 전압을 증감시켜 히터(622)의 발열량을 제어하며, 이에 따라 가열탱크(621) 내의 혼합가스의 온도가 조절된다. 이와 같이, 혼합가스의 온도가 조절된 후 공정챔버(40)로 유입되면, 공정챔버 공간의 온도도 증감되므로, 공정챔버 공간의 온도를 기준 온도로 유지시킬 수 있게 된다. The temperature controller 72 receives the temperature measured by the temperature sensor 44 and controls the heater 622. That is, the temperature controller 72 controls the amount of heat generated by the heater 622 by increasing or decreasing the power applied to the heater 622, for example, a voltage, and thereby controlling the temperature of the mixed gas in the heating tank 621. As such, when the temperature of the mixed gas is adjusted and then flows into the process chamber 40, the temperature of the process chamber space is also increased and decreased, thereby maintaining the temperature of the process chamber space at the reference temperature.

습도 제어부(73)는, 습도 센서(43)에서 측정된 습도를 입력받아 수분라인(633)에 설치된 유량조절기(633a) 및 수분발생기(632) 중 적어도 하나를 제어한다. 즉, 습도 제어부(73)는 수분발생기(632)에서 발생된 수분의 양이 증감되도록 수분발생기(632)를 제어하며, 이에 따라 수분탱크(631)로 공급되는 수분의 양이 증감된다. 그리고, 수분탱크(631)로 유입되는 수분이 혼합가스와 함께 공정챔버(40)로 공급되면, 공정챔버의 습도도 증감되므로, 공정챔버 공간의 습도를 기준 습도로 유지시킬 수 있게 된다. 한편, 수분발생기(632)가 일정량의 수분을 발생시키는 경우, 습도 제어부(73)는 유량조절기(633a)를 제어하여 수분탱크(631)로 공급되는 수분의 양을 조절함으로써, 공정챔버 공간의 습도를 제어할 수도 있다. 그리고, 습 도 제어부(73)가 유량조절기(633a) 및 수분발생기(632) 모두를 제어하여 공정챔버 공간의 습도를 제어할 수도 있다.The humidity controller 73 receives the humidity measured by the humidity sensor 43 and controls at least one of the flow regulator 633a and the moisture generator 632 installed in the moisture line 633. That is, the humidity controller 73 controls the moisture generator 632 to increase or decrease the amount of water generated by the water generator 632, and thus the amount of water supplied to the water tank 631 is increased or decreased. When the water flowing into the water tank 631 is supplied to the process chamber 40 together with the mixed gas, the humidity of the process chamber is increased and decreased, so that the humidity of the process chamber space can be maintained at the reference humidity. On the other hand, when the moisture generator 632 generates a certain amount of water, the humidity control unit 73 controls the flow controller 633a to adjust the amount of water supplied to the water tank 631, the humidity of the process chamber space You can also control. In addition, the humidity control unit 73 may control both the flow regulator 633a and the moisture generator 632 to control the humidity of the process chamber space.

또한, 본 실시예의 포토 마스크의 헤이즈 발생장치(100)는 저장부(81)와, 연산부(82)와, 어테뉴에이터 제어부(83)를 더 구비한다. In addition, the haze generating device 100 of the photomask of this embodiment further includes a storage unit 81, a calculation unit 82, and an attenuator control unit 83.

저장부(81)에는 산소 농도 각각에 대응되는 레이저 빔의 에너지 손실율이 저장되어 있다. 여기서, 레이저 빔의 에너지 손실율은, 레이저 빔이 산소와 반응하여 그 레이저 빔의 에너지가 줄어드는 경우, 레이저 빔의 에너지 감소 정도를 나타내는 수치이다. 레이저 빔의 에너지 손실율은 실험을 통해 경험적으로 얻어지는 것이 바람직하다. The storage unit 81 stores the energy loss ratio of the laser beam corresponding to each oxygen concentration. Here, the energy loss rate of the laser beam is a numerical value representing the degree of energy reduction of the laser beam when the laser beam reacts with oxygen and the energy of the laser beam decreases. The energy loss rate of the laser beam is preferably obtained empirically through experiments.

연산부(82)는 에너지 미터(502)에 의해 측정된 레이저 빔의 입사 에너지 세기 및 저장부(81)로부터 독출된 레이저 빔의 에너지 손실율을 입력받아 포토 마스크(1)에 조사되는 레이저 빔의 순수 에너지 세기를 연산한다. 여기서, 독출된 레이저 빔의 에너지 손실율은 가스 센서(45)에 의해 측정된 공정챔버(40) 내의 산소 농도에 대응되는 레이저 빔의 에너지 손실율이며, 특히 본 실시예에서는 연산부(82)가 레이저 빔의 에너지 손실율을 독출한다. 그리고, 연산부(82)는 하기 수학식 1에 의해 레이저 빔의 순수 에너지 세기를 연산한다. The calculating unit 82 receives the incident energy intensity of the laser beam measured by the energy meter 502 and the energy loss rate of the laser beam read out from the storage unit 81 and receives the pure energy of the laser beam irradiated to the photomask 1. Calculate the strength Here, the energy loss rate of the read laser beam is the energy loss rate of the laser beam corresponding to the oxygen concentration in the process chamber 40 measured by the gas sensor 45. In particular, in the present embodiment, the calculation unit 82 may determine the laser beam. Read the energy loss rate. And, the calculating unit 82 calculates the pure energy intensity of the laser beam by the following equation (1).

Figure 112006093426824-pat00001
Figure 112006093426824-pat00001

여기서, Ep은 포토 마스크(1)에 조사되는 레이저 빔의 순수 에너지 세기이며, E1은 에너지 미터(502)에 의해 측정된 레이저 빔의 입사 에너지 세기이며, T1은 빔 스플리터(501)의 투과율이며, T2는 상측 윈도우(41)의 투과율이며, α는 연산된 레이저 빔의 에너지 손실율이다. Where E p is the pure energy intensity of the laser beam irradiated to the photomask 1, E 1 is the incident energy intensity of the laser beam measured by the energy meter 502, and T 1 is the intensity of the beam splitter 501. Is the transmittance, T 2 is the transmittance of the upper window 41, and α is the energy loss rate of the calculated laser beam.

이와 같이, 연산부(82)는 공정챔버(40) 내의 산소에 의한 레이저 빔의 에너지 감소를 반영하여 레이저 빔의 순수 에너지를 연산하게 되므로, 종래에 비해 더욱 정확한 레이저 빔의 순수 에너지를 얻을 수 있게 된다. As described above, the calculation unit 82 calculates the pure energy of the laser beam by reflecting the energy reduction of the laser beam due to oxygen in the process chamber 40, thereby obtaining more accurate pure energy of the laser beam than in the related art. .

어테뉴에이터 제어부(83)는 에너지 미터(502)에 의해 측정된 레이저 빔의 입사 에너지 세기를 기초로 어테뉴에이터(20)를 제어한다. 특히, 본 실시예에 있어서, 어테뉴에이터 제어부(83)는 연산된 레이저 빔의 순수 에너지 세기를 기초로 어테뉴에이터(20)를 제어한다. 즉, 어테뉴에이터 제어부(83)는, 레이저 빔의 순수에너지 세기가 미리 설정된 기준 에너지 세기와 비교한 후 어테뉴에이터(20)의 각도를 적절하게 조절함으로써 레이저 빔의 순수 에너지 세기가 기준 에너지 세기와 동일해지도록 제어한다. 따라서, 헤이즈 발생시까지 기준 에너지 세기의 레이저 빔이 포토 마스크(1)에 조사되게 된다. 그리고, 헤이즈 발생시까지 포토 마스크(1)에 조사되는 레이저 빔의 축적 에너지도 정확하게 알 수 있게 된다. The attenuator control unit 83 controls the attenuator 20 based on the incident energy intensity of the laser beam measured by the energy meter 502. In particular, in this embodiment, the attenuator control unit 83 controls the attenuator 20 based on the calculated pure energy intensity of the laser beam. That is, the attenuator control unit 83 compares the pure energy intensity of the laser beam with a preset reference energy intensity and then adjusts the angle of the attenuator 20 appropriately so that the pure energy intensity of the laser beam is equal to the reference energy intensity. Control to terminate. Therefore, the laser beam of the reference energy intensity is irradiated to the photo mask 1 until the haze generation. And the accumulated energy of the laser beam irradiated to the photomask 1 until haze generation can also be known correctly.

그리고, 본 실시예의 포토 마스크의 헤이즈 발생장치(100)는 산출부(84)와, 판단부(85)와, 레이저 방출부 제어부(86)를 더 구비한다. The haze generating device 100 of the photomask of this embodiment further includes a calculation unit 84, a determination unit 85, and a laser emission unit control unit 86.

산출부(84)는 연산부(82)에서 연산된 레이저 빔의 순수 에너지 세기를 입력 받아 레이저 빔이 조사되는 동안 포토 마스크(1)에 조사되는 레이저 빔의 누적 에너지 세기를 산출한다. 즉, 산출부(84)는 레이저 빔의 순수 에너지 세기를 시간이 경과함에 따라 누적적으로 합산하여 레이저 빔의 누적 에너지 세기를 실시간으로 산출한다. The calculator 84 receives the pure energy intensity of the laser beam calculated by the calculator 82 and calculates the cumulative energy intensity of the laser beam irradiated to the photomask 1 while the laser beam is irradiated. That is, the calculation unit 84 calculates the cumulative energy intensity of the laser beam in real time by cumulatively adding up the pure energy intensity of the laser beam over time.

판단부(85)는 산출부(84)에서 산출된 레이저 빔의 누적 에너지 세기를 입력받아 누적 에너지 세기가 미리 설정된 기준치에 도달하는지를 판단하여, 누적 에너지 세기가 기준치와 동일한 경우, 판단신호를 출력한다. 여기서, 기준치는 헤이즈 발생시까지 포토 마스크(1)에 조사된 레이저 빔의 누적 에너지이다. 그리고, 기준치는 공정 조건, 예를 들어 공정 챔버 내의 산소 농도, 습도, 온도 및 레이저 빔의 순수 에너지 세기에 의해 변화될 수 있으며, 다양한 공정 조건에 대한 실험을 통해서 얻어진다. The determination unit 85 receives the cumulative energy intensity of the laser beam calculated by the calculation unit 84, determines whether the cumulative energy intensity reaches a preset reference value, and outputs a determination signal when the cumulative energy intensity is equal to the reference value. . Here, the reference value is the cumulative energy of the laser beam irradiated to the photomask 1 until the haze is generated. In addition, the reference value may be changed by process conditions, for example, oxygen concentration, humidity, temperature, and pure energy intensity of the laser beam in the process chamber, and is obtained through experiments with various process conditions.

레이저 방출부 제어부(86)는 판단부(85)로부터 판단신호를 입력받아 레이저 방출부(10)를 제어한다. 즉, 레이저 방출부 제어부(86)는 레이저 방출부(10)의 작동을 정지시키는 제어신호를 레이저 방출부(10)로 출력한다. 따라서, 포토 마스크에 헤이즈가 발생하는 순간, 레이저 방출부(10)의 작동이 정지되어 포토 마스크(1)에 더 이상 레이저 빔이 조사되지 않게 된다. The laser emitter controller 86 receives the determination signal from the determiner 85 and controls the laser emitter 10. That is, the laser emitter controller 86 outputs a control signal for stopping the operation of the laser emitter 10 to the laser emitter 10. Therefore, the moment the haze occurs in the photo mask, the operation of the laser emitting section 10 is stopped so that the laser beam is not irradiated to the photo mask 1 any more.

상술한 바와 같이, 본 실시예에 있어서는 공정챔버 내의 습도, 온도 및 가스 조성비를 연구자의 의도대로 제어할 수 있게 되므로, 헤이즈 발생과 공정챔버 내의 환경 조건과의 상관관계를 효과적으로 분석할 수 있게 된다. As described above, in the present embodiment, since the humidity, temperature and gas composition ratio in the process chamber can be controlled as the researcher intended, it is possible to effectively analyze the correlation between haze generation and environmental conditions in the process chamber.

그리고, 산소에 의한 레이저 빔의 에너지 손실이 반영되어 레이저 빔의 순수 에너지가 연산되므로, 종래에 비해 포토 마스크에 조사되는 레이저 빔의 순수 에너지 및 헤이즈 발생시까지 포토 마스크에 조사되는 레이저 빔의 축적 에너지를 정확하게 얻을 수 있게 된다. In addition, since the energy loss of the laser beam due to oxygen is reflected and the pure energy of the laser beam is calculated, the pure energy of the laser beam irradiated to the photomask and the accumulated energy of the laser beam irradiated to the photomask until haze is generated. You can get it correctly.

또한, 종래와 달리 어테뉴에이터의 각도를 제어함으로써 헤이즈 발생시까지 포토 마스크에 기준 에너지 세기의 레이저 빔을 연속적으로 조사할 수 있게 된다. In addition, unlike the related art, by controlling the angle of the attenuator, the laser beam of the reference energy intensity can be continuously irradiated to the photomask until the haze occurs.

그리고, 광학계, 윈도우, 어테뉴에이터 및 빔 스플리터가 불활성 가스 분위기에 노출되도록 구성되어, 레이저 빔에 의한 광학계, 윈도우 및 빔 스플리터 각각의 오염을 방지할 수 있게 되므로, 레이저 빔의 에너지 감쇠를 최소화할 수 있게 된다. In addition, since the optical system, the window, the attenuator, and the beam splitter are configured to be exposed to an inert gas atmosphere, contamination of each of the optical system, the window, and the beam splitter by the laser beam can be prevented, thereby minimizing energy attenuation of the laser beam. Will be.

이상, 본 발명을 바람직한 실시예들을 들어 상세하게 설명하였으나, 본 발명은 상기 실시예들에 한정되지 않으며, 본 발명의 기술적 사상 내에서 당 분야에서 통상의 지식을 가진 자에 의하여 여러 가지 많은 변형이 가능함은 명백하다. As mentioned above, the present invention has been described in detail with reference to preferred embodiments, but the present invention is not limited to the above embodiments, and various modifications may be made by those skilled in the art within the technical idea of the present invention. It is obvious.

상기한 구성의 본 발명에 따르면, 공정챔버의 공간의 습도, 온도 및 가스 조성비를 원하는 대로 제어할 수 있게 된다. According to the present invention of the above configuration, it is possible to control the humidity, temperature and gas composition ratio of the space of the process chamber as desired.

또한, 포토 마스크로 조사되는 레이저 빔의 순수 에너지 세기 및 헤이즈 발생시까지 포토 마스크에 조사되는 레이저 빔의 축적 에너지를 정확하게 얻을 수 있게 된다. In addition, it is possible to accurately obtain the pure energy intensity of the laser beam irradiated with the photomask and the accumulated energy of the laser beam irradiated with the photomask until the haze is generated.

그리고, 포토 마스크에 일정 에너지 세기의 레이저 빔을 연속적으로 조사할 수 있게 된다. Then, the laser beam of a constant energy intensity can be irradiated continuously to the photo mask.

Claims (8)

레이저 방출부; Laser emitters; 상기 레이저 방출부에서 방출된 레이저 빔이 미리 설정된 형상 및 에너지 분포를 가지도록 상기 레이저 빔을 가공하는 광학계; An optical system for processing the laser beam such that the laser beam emitted from the laser emission unit has a predetermined shape and an energy distribution; 레이저 빔이 투과하는 광 투과성 소재로 이루어진 윈도우가 상측에 구비되며, 포토 마스크가 배치되는 공간이 외부와 격리되도록 내부에 형성되는 공정챔버;A process chamber having a window made of a light-transmitting material through which the laser beam passes, and formed inside so that the space where the photo mask is disposed is isolated from the outside; 상기 광학계를 통과한 레이저 빔이 상기 윈도우를 투과하여 상기 공간에 배치된 포토 마스크로 조사되는 동안, 상기 포토 마스크에 헤이즈 발생 여부를 관찰하는 모니터링부; A monitoring unit for observing whether or not haze has occurred in the photo mask while the laser beam passing through the optical system is radiated through the window and irradiated with the photo mask disposed in the space; 상기 공정챔버의 공간에 수분을 공급하는 수분공급부;A water supply unit supplying water to the space of the process chamber; 상기 공정챔버의 공간에 1종 이상의 가스가 혼합된 혼합가스를 공급하는 가스공급부;A gas supply unit supplying a mixed gas of at least one gas mixed into a space of the process chamber; 상기 공정챔버의 공간의 온도를 상승시키는 가열부; 및 A heating unit for raising a temperature of the space of the process chamber; And 상기 공정챔버의 공간의 습도, 온도 및 가스 조성비를 기초로 상기 공정챔버의 공간에 미리 설정된 기준 습도, 기준 온도 및 기준 가스 조성비를 가지는 기준 환경이 형성되도록 상기 수분공급부, 가스공급부 및 가열부를 각각 제어하는 환경 제어부;를 구비하는 것을 특징으로 하는 포토 마스크의 헤이즈 발생장치. The moisture supply unit, the gas supply unit, and the heating unit are respectively controlled to form a reference environment having a preset reference humidity, reference temperature, and reference gas composition ratio in the space of the process chamber based on the humidity, temperature, and gas composition ratio of the space of the process chamber. And a environmental control unit. 제 1항에 있어서, The method of claim 1, 상기 공정챔버의 공간에 배치된 포토 마스크의 주변에는, 상기 포토 마스크 주변 공간의 습도, 온도 및 가스 조성비를 각각 측정하며 상기 측정된 습도, 온도 및 가스 조성비를 각각 상기 제어부로 출력하는 센서가 배치되어 있는 것을 특징으로 하는 포토 마스크의 헤이즈 발생장치. In the periphery of the photo mask disposed in the space of the process chamber, a sensor for measuring the humidity, temperature and gas composition ratio of the space around the photo mask, respectively, and outputs the measured humidity, temperature and gas composition ratio to the controller, respectively. The haze generating apparatus of the photomask characterized by the above-mentioned. 제 1항에 있어서, The method of claim 1, 상기 가스공급부는, 서로 다른 종류의 가스가 각각 공급되는 복수의 가스라인; 및 상기 각 가스라인과 연결되어 상기 서로 다른 종류의 가스가 혼합되며, 상기 혼합가스가 유동 가능한 연결라인을 매개로 상기 공정챔버와 연결되는 혼합탱크;를 구비하며, The gas supply unit may include a plurality of gas lines to which different kinds of gases are respectively supplied; And a mixing tank connected to each of the gas lines to mix the different kinds of gases and to be connected to the process chamber via a connection line through which the mixed gas flows. 상기 가열부는, 상기 연결라인 상에 설치되어 상기 혼합가스가 유입되는 가열탱크와, 상기 가열탱크를 가열하도록 전원 인가시 발열하는 히터를 구비하며, The heating unit includes a heating tank installed on the connection line and the mixed gas flows, and a heater that generates heat when power is applied to heat the heating tank. 상기 수분공급부는 상기 연결라인 상에 설치되어 상기 가열부에 의해 가열된 혼합가스가 유입되는 수분탱크와, 상기 수분탱크에 수분을 공급하는 수분발생기를 구비하며, The water supply unit is provided on the connection line is provided with a water tank into which the mixed gas heated by the heating unit flows, and a water generator for supplying water to the water tank, 상기 각 가스라인에는, 상기 혼합탱크로 유입되는 가스의 양을 조절하기 위한 유량조절기가 설치되어 있으며, Each gas line is provided with a flow regulator for controlling the amount of gas flowing into the mixing tank, 상기 환경 제어부는, 상기 공정챔버 내의 가스 조성비를 기초로 상기 공정챔버 내의 가스 조성비가 상기 기준 가스 조성비로 유지되도록 상기 각 유량조절기를 제어하는 가스 제어부; 상기 공정챔버 내의 온도를 기초로 상기 공정챔버 내의 온 도가 상기 기준 온도로 유지되도록 상기 히터를 제어하는 온도 제어부; 및 상기 공정챔버 내의 습도를 기초로 상기 공정챔버 내의 습도가 상기 기준 습도로 유지되도록 상기 수분발생기를 제어하는 습도 제어부;를 구비하는 것을 특징으로 하는 포토 마스크이 헤이즈 발생장치.The environmental control unit may include a gas control unit controlling each of the flow rate regulators such that the gas composition ratio in the process chamber is maintained at the reference gas composition ratio based on the gas composition ratio in the process chamber; A temperature control unit controlling the heater such that the temperature in the process chamber is maintained at the reference temperature based on the temperature in the process chamber; And a humidity controller configured to control the moisture generator to maintain the humidity in the process chamber at the reference humidity based on the humidity in the process chamber. 제 1항에 있어서, The method of claim 1, 상기 레이저 방출부에서 방출된 레이저 빔의 에너지를 조절하는 어테뉴에이터; 및 An attenuator for controlling energy of the laser beam emitted from the laser emitter; And 상기 공정챔버의 윈도우로 입사되는 레이저 빔의 입사 에너지를 기초로 상기 포토 마스크에 미리 설정된 기준 에너지를 가지는 레이저 빔이 조사되도록 상기 어테뉴에이터를 제어하는 어테뉴에이터 제어부;를 더 구비하는 것을 특징으로 하는 포토 마스크이 헤이즈 발생장치. And an attenuator controller for controlling the attenuator to irradiate a laser beam having a predetermined reference energy to the photo mask based on the incident energy of the laser beam incident through the window of the process chamber. The mask is a haze generator. 제 4항에 있어서, The method of claim 4, wherein 산소 농도 각각에 대응되는 레이저 빔의 에너지 손실율이 저장되어 있는 저장부; 및 A storage unit for storing an energy loss rate of the laser beam corresponding to each oxygen concentration; And 상기 저장부로부터 독출된 상기 공정챔버 내의 산소 농도에 대응되는 레이저 빔의 에너지 손실율 및 상기 레이저 빔의 입사 에너지를 기초로 상기 포토 마스크에 조사되는 레이저 빔의 순수 에너지 세기를 연산하는 연산부;를 더 구비하며, And a calculating unit calculating a pure energy intensity of the laser beam irradiated to the photo mask based on the energy loss rate of the laser beam corresponding to the oxygen concentration in the process chamber read out from the storage unit and the incident energy of the laser beam. , 상기 어테뉴에이터 제어부는, 상기 상기 연산된 레이저 빔의 순수 에너지 세 기가 상기 기준 에너지 세기와 동일해지도록 상기 어테뉴에이터를 제어하는 것을 특징으로 하는 포토 마스크의 헤이즈 발생장치. And the attenuator control unit controls the attenuator so that the calculated pure energy of the laser beam is equal to the reference energy intensity. 제 5항에 있어서, The method of claim 5, 상기 포토 마스크에 조사되는 레이저 빔의 누적 에너지 세기를 기초로 상기 포토 마스크의 표면에 헤이즈 발생시 상기 포토 마스크에 레이저 빔이 조사되지 않도록 상기 레이저 방출부를 제어하는 레이저 방출부 제어부를 더 구비하는 것을 특징으로 하는 포토 마스크의 헤이즈 발생장치. And a laser emitter controller configured to control the laser emitter so that the laser beam is not irradiated onto the photomask when haze occurs on the surface of the photomask based on the cumulative energy intensity of the laser beam irradiated to the photomask. The haze generator of the photomask. 제 6항에 있어서, The method of claim 6, 상기 레이저 빔이 상기 포토 마스크에 조사되는 동안 상기 레이저 빔의 순수 에너지 세기를 기초로 상기 포토 마스크에 조사되는 레이저 빔의 누적 에너지 세기를 산출하는 산출부; 및 A calculator configured to calculate a cumulative energy intensity of the laser beam irradiated to the photomask based on the pure energy intensity of the laser beam while the laser beam is irradiated to the photomask; And 상기 누적 에너지 세기가 미리 설정된 기준치에 도달하는지를 판단하여 상기 누적 에너지 세기가 상기 기준치와 동일하면 상기 레이저 방출부 제어부에 출력신호를 출력하는 판단부;를 더 구비하는 것을 특징으로 하는 포토 마스크의 헤이즈 발생장치. And determining whether the cumulative energy intensity reaches a preset reference value and outputting an output signal to the laser emission controller if the cumulative energy intensity is equal to the reference value. Device. 제 1항 내지 제 7항 중 어느 한 항에 있어서, The method according to any one of claims 1 to 7, 상기 광학계 및 윈도우는 각각 불활성 가스 분위기에 노출되어 있는 것을 특징으로 하는 포토 마스크이 헤이즈 발생장치. And the optical system and the window are each exposed to an inert gas atmosphere.
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