KR100820719B1 - 결함 화소의 휘도특성을 보정하는 유기전계발광장치의구동방법 및 이에 사용되는 유기전계발광장치 - Google Patents

결함 화소의 휘도특성을 보정하는 유기전계발광장치의구동방법 및 이에 사용되는 유기전계발광장치 Download PDF

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Abstract

유기발광 다이오드의 특성 곡선 및 구동 트랜지스터의 전압-전류 특성을 이용하여 결함 화소를 보상하기 위한 유기전계발광장치 및 유기전계발광장치의 구동방법이 개시된다. 유기전계발광장치의 검사 과정에서 라인형 이미지 센서는 화소의 발광특성을 측정하고, 유기발광 다이오드의 발광특성 곡선을 이용하여 보정에 필요한 구동 전류의 보상값을 환산한다. 또한, 결함 화소의 문턱 전압의 변동에 의해 발생되는 구동 전류의 변화를 최소화하기 위해 구동 트랜지스터의 전류-전압 특성곡선을 이용하여 제2 영상 데이터를 메모리에 입력한다. 메모리에 입력된 제2 영상 데이터는 표현되는 제1 영상 데이터를 보정하는데 사용된다.

Description

결함 화소의 휘도특성을 보정하는 유기전계발광장치의 구동방법 및 이에 사용되는 유기전계발광장치{Method of Driving Organic Electroluminescent Display To Compensate Brightness of Bad Pixel thereof and Organic Electroluminescent Display used in the same}
도 1은 종래 기술에 따른 능동형 유기전계발광장치의 화소 회로를 도시한 회로도이다.
도 2는 본 발명의 바람직한 실시예에 따른 유기전계발광장치를 도시한 블록도이다.
도 3은 본 발명의 바람직한 실시예에 따라 패널부의 화소의 발광 특성을 검사하는 동작을 설명하기 위한 블록도이다.
도 4는 본 발명의 바람직한 실시예에 따라 상기 도 3에 도시된 화소들의 발광 특성을 도시한 개념도이다.
도 5a 및 도 5b는 본 발명의 바람직한 실시예에 따라 비정상 화소의 휘도 특성 편차를 설명하기 위한 특성 그래프들이다.
도 6은 본 발명의 바람직한 실시예에 따라 상기 도 2에 도시된 메모리에 입력되는 제2 영상 데이터를 도시한 개념도이다.
* 도면의 주요부분에 대한 부호의 설명 *
100 : 패널부 200 : 주사 구동부
300 : 데이터 구동부 400 : 타이밍 제어부
500 : 연산 처리부 600 : 메모리
본 발명은 유기전계발광장치에 관한 것으로, 더욱 상세하게는 패널에 구비된 화소들의 문턱 전압을 보상하는 데이터 신호를 공급하는 유기전계발광장치에 관한 것이다.
유기전계발광장치는 자발광 소자로서 액정 표시 장치 등의 다른 디스플레이 장치에 비해 시야각의 문제가 없으며, 소비 전력에 비해 높은 휘도의 발광 능력을 가진다. 또한, 다른 디스플레이 장치에 비해 얇은 두께로 제작하기에 용이하다는 장점을 가진다.
이러한 유기전계발광장치는 구동 방식에 따라 능동형과 수동형으로 구분될 수 있다.
수동형은 각각의 화소에 유기발광다이오드, 애노드 전극 및 캐소드 전극을 구비하여 애노드 전극과 캐소드 전극 사이에 인가되는 데이터 전압 또는 전류에 의해 발광 동작을 수행한다. 따라서, 화소가 발광 동작을 수행하기 위해서는 데이터 전압 또는 전류가 지속적으로 공급되어야 한다. 그러나, 데이터 전압 또는 전류의 지속적인 공급은 과도한 전력 소모를 유발하므로, 통상의 경우 점등에 필요한 높은 피크 전압을 인가하는 동작 양상을 가진다.
능동형은 각각의 화소마다 구동 회로를 구비한다. 따라서, 각각의 화소에는 주사 신호가 인가되고 주사 신호의 인가에 따라 데이터 신호가 인가된다. 또한, 상기 데이터 신호는 화소의 발광 기간동안 커패시터에 의해 유지되는 특성을 가진다. 따라서, 발광 기간 전체를 통해 화소에 데이터 신호를 공급할 필요가 없으므로 화소의 구동 전력이 감소되는 효과가 있으며, 적은 소모 전력으로도 효과적인 발광 동작을 수행할 수 있는 장점이 있다.
상술한 바대로 능동형은 화소마다 구동 회로를 구비하여야 한다.
도 1은 종래 기술에 따른 능동형 유기전계발광장치의 화소 회로를 도시한 회로도이다.
도 1을 참조하면, 화소 회로는 다수의 박막 트랜지스트들, 커패시터 및 유기발광 다이오드로 구성된다. 또한, 상기 도 1에 개시된 화소 회로는 전압 기입형을 도시한 것이며, 전류 기입형의 경우 다른 회로 구성을 가진다.
먼저, 로우 레벨의 주사 신호 SCAN이 인가되면, 스위칭 트랜지스터 Q1은 턴온된다. 턴온된 스위칭 트랜지스터 Q1을 통해 데이터 신호 DATA가 인가된다. 상기 도 1에서는 데이터 신호는 전압의 형태로 인가된다. 또한, 화소 회로의 구성에 따라 데이터 신호는 전류의 형태로 인가될 수도 있다.
계속해서, 스위칭 트랜지스터를 통해 인가되는 데이터 신호 DATA는 커패시터 C에 전압의 형태로 저장된다. 따라서, 구동 트랜지스터 Q2의 소스-게이트간의 전압 Vsg는 ELVDD-DATA가 된다. 데이터 신호 DATA가 구동 트랜지스터 Q2의 게이트 단자 에 인가되면, 구동 트랜지스터 Q2는 턴온된다.
이어서, 발광제어신호 EMI가 로우 레벨로 인가되면, 발광제어 트랜지스터 Q3는 턴온되고, 구동 트랜지스터 Q2는 구동 전류 Idr을 발생한다. 구동 전류 Idr의 원활한 제어를 위해 화소 회로는 구동 트랜지스터 Q2를 활성 영역에서 동작시킨다. 따라서, 구동 전류 Idr은 하기의 수학식 1에 따른다.
Figure 112006045603514-pat00001
Figure 112006045603514-pat00002
상기 수학식 1에서 K는 상수를 나타내고, ｜Vth｜는 구동 트랜지스터 Q2가 가지는 문턱 전압의 절대치를 나타낸다. 상기 수학식 1에 따른 구동 전류 Idr이 유기발광 다이오드 D에 흐르면, 상기 유기발광 다이오드 D는 발광 동작을 수행한다.
통상 트랜지스터의 문턱 전압은 제조 공정상 나타나는 게이트 산화막의 두께, 소스 및 드레인의 도핑 농도, 활성 영역으로 분류되는 소스 및 드레인의 결정 구조 등에 의해 결정된다. 또한, 유기전계발광장치의 화소 회로는 능동 소자인 트랜지스터를 박막 트랜지스터 제조 공정에 따른다. 따라서, 유기전계발광장치에서의 트랜지스터는 비정질 실리콘 또는 다결정 실리콘 기반 위에 형성된다.
비정질 실리콘으로 박막 트랜지스터를 형성하는 경우, 반송자(Charge Carrier)의 이동도(Mobility) 특성이 시간에 지남에 따라 열화되는 문제점이 있다. 따라서, 최근에는 다결정 실리콘으로 박막 트랜지스터를 형성하는 기술이 다수 개발되고 있다. 다결정 실리콘의 경우, 그레인 바운더리(Grain Boundary)에 의해 정 의되는 각각의 그레인의 방향에 따라 반송자의 이동도 및 문턱 전압이 변하는 문제점이 있다. 그러나, 다결정 실리콘의 경우 비정질 실리콘보다 우수한 트랜지스터 특성을 가지므로 화소마다 균일성을 가진 박막 트랜지스터를 형성코자하는 기술이 개발중에 있다.
그러나, 다수의 화소들이 일정한 규칙으로 배열된 패널의 크기가 증가할수록 화소들마다 구비되는 박막 트랜지스트는 특성의 편차를 가져온다. 특히, 구동 트랜지스터의 경우 구동 전류를 출력하는데, 각각의 구동 트랜지스터의 구동 전류는 트랜지스터가 가지는 문턱 전압에 크게 의존한다. 따라서, 화소마다 구동 트랜지스터의 문턱 전압의 편차를 최소화하기 위한 노력이 이루어져왔다.
구동 트랜지스터의 문턱 전압의 편차를 최소화하기 위해서는 크게 3가지 방법이 있다.
첫째는, 다결정 실리콘의 그레인 사이즈를 조절하거나, 결정 방향을 조절하는 기술을 통해 박막 트랜지스터의 특성을 균일하게 유지하는 것이다. 이는 유기전계발광장치의 제조 공정 중에서 LTPS(Low Temperature Poly-Silicon) 기술에 속한다. 즉, 단결정 실리콘의 형성 공정에 비해 상대적으로 저온 상태에서 비정질 실리콘을 형성한 다음, 레이저를 이용하여 다결정 실리콘을 형성한다. 그러나, 상기LTPS 기술은 다수의 화소들 사이의 박막 트랜지스터의 특성의 균일도를 보장하지 못한다.
둘째는, 화소 회로에 구동 트랜지스터의 문턱 전압을 보상하는 회로를 추가하는 것이다. 따라서, 화소에는 다수의 박막 트랜지스터가 구비되어야 하며, 제조 공정을 복잡하게 하는 요인이 된다. 또한, 화소의 개구율을 떨어뜨리는 원인이 된다.
셋째는, 화소 회로를 전류 기입형으로 구성하는 것이다. 전류 기입형의 경우, 데이터 구동 장치에서 원하는 구동 전류를 공급하고, 화소 회로는 이를 전압의 형태로 저장한다. 따라서, 해당하는 화소에 주사 신호가 공급되는 경우, 화소 회로는 전압의 형태로 저장된 구동 전류를 유기발광 다이오드에 공급하게 된다. 그러나, 상술한 기술은 화소 회로에 전류 미러를 형성해야 하며, 데이터 구동 장치의 전류 구동 능력이 통상의 경우보다 훨씬 높아야하는 부담을 가진다.
상기와 같은 문제점을 해결하기 위한 본 발명의 제1 목적은, 화소의 발광 특성을 측정하여 영상 데이터를 보정하는 방법을 제공하는데 있다.
또한, 본 발명의 제2 목적은 상기 제1 목적을 달성하기 위해 사용되는 유기전계발광장치를 제공하는데 있다.
상기 제1 목적을 달성하기 위한 본 발명은, 패널부의 화소들의 발광특성을 행단위로 측정하여 구동전류 보상치를 산출하는 단계; 상기 전류 보상치를 근거로 결함 화소의 전압 보상치를 산출하는 단계; 상기 전압 보상치를 디지털 변환하여 메모리에 제2 영상 데이터로 저장하는 단계; 수신되는 제1 영상 데이터를 상기 제2 영상 데이터를 이용하여 보정하여 보정 영상 데이터를 생성하는 단계; 상기 보정 영상 데이터에 상응하는 데이터 신호를 형성하는 단계; 및 상기 데이터 신호를 상 기 패널부에 공급하여 상기 화소를 발광시키는 단계를 포함하는 유기전계발광장치의 구동방법을 제공한다.
상기 제2 목적을 달성하기 위한 본 발명은, 주사 라인과 데이터 라인이 교차하는 영역에 형성된 다수의 화소들을 가지는 패널부; 상기 주사 라인을 통해 상기 화소들에 상기 주사 신호를 공급하기 위한 주사 구동부; 상기 주사 신호가 공급되는 상기 화소에 발광 동작에 필요한 데이터 신호를 공급하기 위한 데이터 구동부; 상기 주사 구동부에 상기 주사 신호를 형성하기 위한 타이밍 제어신호를 공급하고, 제1 영상 데이터를 출력하기 위한 타이밍 제어부; 상기 패널부의 결함 화소에 대한 정보를 가지는 제2 영상 데이터를 저장하는 메모리; 및 상기 제2 영상 데이터를 이용하여 상기 제1 영상 데이터를 보정하여 보정 영상 데이터를 상기 데이터 구동부에 전달하기 위한 연산 처리부를 포함하는 유기전계발광장치를 제공한다.
이하, 본 발명에 따른 바람직한 실시예를 첨부된 도면을 참조하여 상세하게 설명한다.
실시예
도 2는 본 발명의 바람직한 실시예에 따른 유기전계발광장치를 도시한 블록도이다.
도 2를 참조하면, 유기전계발광장치는 패널부(100), 주사 구동부(200), 데이터 구동부(300), 타이밍 제어부(400), 연산 처리부(500) 및 메모리(600)를 가진다.
패널부(100)은 매트릭스 형태로 배치된 다수의 화소들(101)을 가진다. 각각의 화소(101)에는 주사 라인(201)을 통해 주사 신호 S0, S1,..., Sn-1, Sn이 공급되고, 데이터 라인(301)을 통해 데이터 신호 D0, D1,..., Dm-1, Dm가 공급된다. 또한, 주사 라인(201)은 상기 도 1에 도시된 스위칭 트랜지스터 Q1의 게이트 단자에 연결되고, 데이터 라인(301)은 상기 도 1의 스위칭 트랜지스터의 일 전극에 연결된다. 따라서, 스위칭 트랜지스터 Q1이 턴온 상태에 있는 경우, 상기 데이터 라인(301)을 통해 전달되는 데이터 신호 D0, D1,..., Dm-1, Dm은 각각의 화소의 구동 트랜지스터의 게이트 단자에 연결된다.
특정한 주사 라인(201)을 통해 주사 신호 S0, S1,..., Sn-1, Sn이 공급되면, 주사 라인(201)에 연결된 다수의 화소들(101)은 선택된다. 선택된 화소들(101)에 데이터 신호 D0,..., Dm이 공급되면, 화소의 유기발광 다이오드는 발광 동작을 수행한다. 발광 동작을 수행하는 유기발광 다이오드의 휘도는 유기발광 다이오드를 흐르는 전류인 구동 전류 Idr에 비례한다.
주사 구동부(200)는 패널부(100)에 주사 신호 S0, S1,..., Sn을 공급한다. 주사 신호 S0, S1,..., Sn의 공급에 의해 주사 라인(201)에 연결된 화소들(101)은 선택된다. 또한, 주사 신호 S0, S1,..., Sn의 공급 방식에 따라 패널부(100)는 비월 주사 동작에 따른 디스플레이 동작을 수행하거나, 순차 주사 동작에 따른 디스플레이 동작을 수행할 수 있다.
데이터 구동부(300)는 다수의 데이터 라인들(301)을 통해 데이터 신호 D0, D1,..., Dm을 패널부(100)에 공급한다. 상기 데이터 구동부(300)로부터 출력되는 데이터 신호 D0, D1,..., Dm은 구동 트랜지스터 Q2의 게이트 단자에 인가되고, 구동 트랜지스터 Q2는 상기 데이터 신호 D0, D1,..., Dm에 상응하는 구동 전류 Idr을 발생한다. 발생된 구동 전류 Idr에 따라 유기발광 다이오드 D는 소정의 휘도로 발광 동작을 수행한다.
타이밍 제어부(400)는 연산 처리부(500)에 제1 영상 데이터를 공급하고, 주사 구동부(200)에 타이밍 제어신호를 공급한다. 패널부(100)가 풀 컬러를 디스플레이하는 경우, 상기 제1 영상 데이터는 레드, 그린 및 블루 영상을 가진다. 또한, 타이밍 제어신호를 수신한 주사 구동부(200)는 이를 근거로 주사 신호들 S0, S1,..., Sn을 형성한다. 상기 주사 신호 S0, S1,..., Sn는 한 프레임 동안 패널부(100)의 모든 화소들(101)에 공급된다.
연산 처리부(500)는 상기 타이밍 제어부(400)로부터 제1 영상 데이터를 수신하고, 메모리(600)로부터 제2 영상 데이터를 수신한다. 상기 연산 처리부(500)는 수신되는 2개의 영상 데이터들을 근거로 보정 영상 데이터를 생성한다. 생성된 보정 영상 데이터는 데이터 구동부(300)로 입력된다. 데이터 구동부(300)는 보정 영상 데이터를 수신하고, 이를 변환하여 데이터 신호 D0, D1,..., Dm을 생성한다. 생성된 데이터 신호 D0, D1,..., Dm은 패널부(100)로 공급된다. 상기 제1 영상 데이터는 사용자에게 디스플레이되어야 하는 영상 데이터이다. 또한, 제2 영상 데이터는 패널부(100)에 구비된 화소들(101)의 발광 특성이 반영된 보정값이다. 따라서, 원래의 영상 데이터인 제1 영상 데이터와 화소의 특성이 반영된 제2 영상 데이터의 연산을 통해 연산 처리부(500)는 보정 영상 데이터를 출력한다.
메모리(600)는 제2 영상 데이터를 저장한다. 상기 메모리(600)는 불휘발성 메모리임이 바람직하다. 또한, 메모리(600)에 저장되는 제2 영상 데이터는 제1 영상 데이터를 보정하기 위해 구비된다. 상기 제2 영상 데이터는 화소(101)에 구비된 유기발광 다이오드 D의 발광 특성에 대한 정보 및 결함 화소에 대한 보상 데이터에 대한 정보를 가진다.
따라서, 연산 처리부(500)는 타이밍 제어부(400)로부터 제1 영상 데이터를 수신하고, 메모리(600)로부터 제2 영상 데이터를 수신하여 보정 영상 데이터를 생성한다. 보정 영상 데이터는 화소의 유기발광 다이오드 D의 발광 특성이 반영된 데이터가 된다. 보정 영상 데이터는 데이터 구동부(300)로 입력되고, 데이터 구동부(300)는 보정 영상 데이터를 근거로 데이터 신호 D0, D1,..., Dm을 패널부(100)의 화소(101)에 공급한다.
도 3은 본 발명의 바람직한 실시예에 따라 패널부의 화소의 발광 특성을 검사하는 동작을 설명하기 위한 블록도이다.
도 3을 참조하면, 유기전계발광장치의 패널부(100)는 규칙적으로 배열된 다수의 화소들을 가진다. 또한, 상기 패널부(100)를 구성하는 다수의 화소들은 동일한 발광 특성을 가져야한다. 즉, 각각의 화소들에 동일한 데이터 신호가 인가되는 경우, 각각의 화소의 유기발광 다이오드들은 동일한 휘도를 가져야한다. 그러나, 제조 공정에 따라, 각각의 화소들은 서로 다른 휘도를 가질 수 있다. 특히, 발광 특성이 오차 범위를 벗어나는 경우, 동일한 데이터 신호가 인가되더라도 서로 상이한 휘도로 발광 동작을 수행하게 된다. 따라서, 발광 특성이 서로 상이한 경우, 원 하는 영상이 디스플레이되지 않는 문제가 발생한다.
또한, 패널부(100)의 화소들의 발광 특성을 확인하기 위해 라인형 이미지 센서(700)가 구비된다. 상기 라인형 이미지 센서(700)는 CCD(Charge Coupled Device) 또는 CIS(CMOS Image Sensor)이다. 즉, 상기 라인형 이미지 센서(700)는 각각의 주사 라인 단위로 패널부(100)에 구비된 화소들의 휘도 특성을 측정한다. 측정된 화소들의 휘도 특성은 디지털 값으로 변환된다.
또한, 상기 라인형 이미지 센서(700)는 유기전계발광장치에 구비되는 것이 아니라, 패널의 특성을 확인하는 검사 공정에서 검사 장비에 구비됨이 바람직하다.
상기 도 3에서는 라인형 이미지 센서(700)가 패널부(100)의 상부에서 하부로 이동하면서 측정하는 것으로 도시되었으나, 패널부(100)가 이동하며 화소의 휘도 특성을 측정할 수도 있으며, 패널부(700)의 하부에서 상부로 화소의 휘도 특성을 측정할 수도 있다.
예컨대, 다수의 화소들 중에서 제1 화소(110), 제2 화소(120), 제3 화소(130) 및 제4 화소(140)의 휘도 특성에 이상이 감지되는 경우, 상기 화소들에 대한 정보는 상기 도 2에 도시된 메모리(600)로 입력된다.
도 4는 본 발명의 바람직한 실시예에 따라, 상기 도 3에 도시된 화소들의 발광 특성을 도시한 개념도이다.
도 4를 참조하면, 제1 행에 배치된 화소들의 값은 정상치를 가진다. 정상치인지의 여부는 패널부의 검사 과정에서 소정의 패턴을 가진 데이터 신호를 인가하고, 상기 도 3에 도시된 라인형 이미지 센서를 이용하여 각각의 행들에 구비된 화 소들의 발광특성을 측정하여 수행된다. 상기 도 4에서는 화소들의 발광 특성의 정상치를 100으로 나타내었으나, 화소들의 정상치는 검사 과정에서 인가되는 데이터 신호에 따라 달리 설정될 수 있다.
제2 행에 배치된 화소들 중 제1 데이터는 정상치보다 낮은 80의 값을 가지고, 제2 데이터는 정상치보다 높은 115를 가진다. 또한, 제3 행에 배치된 화소들 중 제3 데이터는 정상치보다 높은 125를 가지며, 제4 행에 배치된 화소들 중 제4 데이터는 정상치보다 낮은 85를 가진다.
상술한 바대로 패널부의 화소들의 발광 특성은 라인형 이미지 센서(700)에 의해 감지되고, 측정된다. 측정된 화소들의 발광 특성은 검사 장비에 의해 분석되고, 상기 도 2에 도시된 제2 영상 데이터가 되어 유기전계발광장치의 메모리(600)로 입력된다. 또한, 비정상적인 발광 특성을 가지는 화소들의 발광 특성은 하기의 수학식 2로 표현될 수 있다.
Figure 112006045603514-pat00003
상기 수학식 2에서 Dab는 비정상 화소의 휘도값을 나타내고, Dn은 정상적인 경우의 휘도값을 나타내며, △는 비정상 화소의 휘도 특성 편차를 나타낸다.
도 5a 및 도 5b는 본 발명의 바람직한 실시예에 따라 비정상 화소의 휘도 특성 편차를 설명하기 위한 특성 그래프들이다.
도 5a를 참조하면, 유기발광 다이오드를 흐르는 전류와 휘도는 서로 비례한 다. 만일 특정 화소의 휘도값이 정상 휘도값인 Dn에 비해 △만큼 낮은 경우, 이는 유기발광 다이오드를 흐르는 전류가 휘도 특성 곡선에서 정상 전류 In에 비해 △i만큼 낮은 것을 의미한다. 따라서, 특정 화소에 공급되는 전류는 다른 화소에 공급되는 전류에 비해 △i만큼 높은 값이 되어야한다. 만일 특정 화소의 휘도값이 정상 휘도값 Dn보다 △만큼 높은 경우에는, 특정 화소에 공급되는 전류는 다른 화소에 공급되는 전류보다 △i만큼 낮은 값이 되어야한다.
상기 도 5a에서는 유기발광 다이오드에 공급되는 구동 전류 Idr은 △i만큼 상승시켜야 한다.
도 5b는 상기 도 1에 도시된 화소 회로에서의 구동 전류 Idr과 데이터 신호 DATA 사이의 특성을 도시한 그래프이다.
도 5b를 참조하면, 상기 도 1에 도시된 구동 트랜지스터 Q2로부터 발생되는 구동 전류 Idr은 하기의 수학식 3으로 표현될 수 있다.
Figure 112006045603514-pat00004
Figure 112006045603514-pat00005
상기 수학식 3에서 K는 상수를 나타내고, ｜Vth｜는 구동 트랜지스터 Q2가 가지는 문턱 전압의 절대치를 나타낸다. 또한, ELVDD는 구동 트랜지스터 Q2에 공급되는 양의 전원 전압을 나타내며, DATA는 구동 트랜지스터 Q2의 게이트 단자에 공급되는 데이터 신호를 나타낸다.
구동 전류 Idr이 다른 화소에 비해 △i만큼 낮은 경우, 이를 보상하기 위해 서 구동 트랜지스터 Q2의 게이트 단자에 인가되는 데이터 신호 DATA는 정상적인 전압에 비해 △v만큼 낮은 값으로 공급되어야 한다. 즉, 유기발광 다이오드 D의 발광 특성에 따라 결함 화소의 구동 전류 Idr의 보상값을 산출하고, 산출된 구동 전류 Idr의 보상값을 근거로 인가되는 데이터 신호의 보상값을 산출한다. 상기 데이터 신호의 보상값의 산출은 구동 트랜지스터 Q2가 활성 영역에서 동작할 경우의 데이터 신호 및 구동 전류에 대한 특성 곡선에 따른다. 검사 장비에 의해 산출된 데이터 신호의 보상값은 제2 영상 데이터의 형태로 유기전계발광장치의 메모리(600)에 저장된다.
특히, 상기 도 5b에서는 구동 트랜지스터의 특성 곡선에 변화가 발생하는 원인은 구동 트랜지스터 Q2의 문턱 전압에 기인하는 경우가 대부분이다. 따라서, 인가되는 데이터 신호를 조절하여 구동 트랜지스터 Q2의 문턱 전압의 변화를 상쇄시킨다. 또한, 상기 도 5b의 그래프는 화소 회로가 상기 도 1에 도시된 화소 회로인 경우를 가정하였으나, 구동 트랜지스터를 구비한 화소 회로에는 동일한 원리를 적용할 수 있다. 다만, 인가되는 데이터 신호에 따른 구동 트랜지스터의 구동 전류의 특성 곡선은 화소 회로의 변동에 따라 달리 구성될 수 있음은 당업자에게 자명하다 할 것이다.
도 6은 본 발명의 바람직한 실시예에 따라 상기 도 2에 도시된 메모리에 입력되는 제2 영상 데이터를 도시한 개념도이다.
도 6을 참조하면, 상기 도 5a 및 도 5b에 도시된 특성 그래프에 따라 산출된 보상 전압값은 디지털화되고, 유기전계발광장치의 메모리(600)에 제2 영상 데이터 의 형태로 저장된다. 따라서, 상기 도 4에 도시된 결함 화소들의 휘도값들인 제1 데이터, 제2 데이터, 제3 데이터 및 제4 데이터는 제2 영상 데이터의 △v1, △v2, △v3 및 △v4로 저장된다. 메모리(600)에 저장된 제2 영상 데이터는 연산 처리부(500)로 입력된다. 상기 연산 처리부(500)는 타이밍 제어부(400)로부터 입력되는 제1 영상 데이터에 제2 영상 데이터를 가/감산하여 보정 영상 데이터를 생성한다. 보정 영상 데이터는 데이터 구동부(300)로 입력되며, 데이터 구동부(300)는 보정 영상 데이터를 근거로 데이터 신호를 패널부(100)에 공급한다.
따라서, 유기전계발광장치의 양산 과정에서 라인형 이미지 센서(700)를 이용하여 패널부(100)에 구비된 화소들은 각각의 행마다 발광 특성이 측정된다. 발광 특성이 정상치를 벗어나는 결함 화소들에 대해서는 유기발광 다이오드의 특성 곡선을 이용하여 보상 전압값이 생성된다. 유기전계발광장치의 검사 장비 등에서 생성된 보상 전압값은 유기전계발광장치에 구비된 메모리(600)에 제2 영상 데이터로 입력되고, 상기 제2 영상 데이터는 타이밍 제어부(400)를 통해 전달되는 제1 영상 데이터를 보정하는데 사용된다.
상기와 같은 본 발명에 따르면, 검사 과정에서 라인 단위로 화소들의 발광 특성은 측정되고, 발광 동작을 수행하는 유기발광 다이오드의 특성 곡선 및 구동 트랜지스터의 특성 곡선을 이용하여 보정 데이터를 생성하고, 생성된 보정 데이터를 유기전계발광장치의 메모리에 저장한다. 저장된 보정 데이터를 근거로 영상 데이터를 보정하여 데이터 구동부에 공급한다. 따라서, 패널에는 화소의 발광 특성이 반영된 보정된 데이터 신호가 인가되어 패널의 휘도 특성을 개선할 수 있다.
상기에서는 본 발명의 바람직한 실시예를 참조하여 설명하였지만, 해당 기술 분야의 숙련된 당업자는 하기의 특허 청구의 범위에 기재된 본 발명의 사상 및 영역으로부터 벗어나지 않는 범위 내에서 본 발명을 다양하게 수정 및 변경시킬 수 있음을 이해할 수 있을 것이다.

Claims (6)

  1. 패널부의 화소들의 발광특성을 행단위로 측정하여 구동전류 보상치를 산출하는 단계;
    상기 전류 보상치를 근거로 결함 화소의 전압 보상치를 산출하는 단계;
    상기 전압 보상치를 디지털 변환하여 메모리에 제2 영상 데이터로 저장하는 단계;
    수신되는 제1 영상 데이터를 상기 제2 영상 데이터를 이용하여 보정하여 보정 영상 데이터를 생성하는 단계;
    상기 보정 영상 데이터에 상응하는 데이터 신호를 형성하는 단계; 및
    상기 데이터 신호를 상기 패널부에 공급하여 상기 화소를 발광시키는 단계를 포함하는 유기전계발광장치의 구동방법.
  2. 제1항에 있어서, 상기 구동전류 보상치를 산출하는 단계는,
    라인형 이미지 센서를 이용하여 상기 화소들의 휘도를 측정하는 단계; 및
    유기발광 다이오드의 특성 곡선을 이용하여 상기 측정된 휘도를 전류값으로 변환하고, 상기 구동전류 보상치를 산출하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 유기전계발광장치의 구동방법.
  3. 제2항에 있어서, 상기 결함 화소의 전압 보상치를 산출하는 단계는,
    상기 결함 화소의 활성 영역에서의 전압-전류 특성곡선을 이용하여 상기 구동 전류 보상치에 상응하는 데이터 신호의 보상치를 산출하는 것을 특징으로 하는 유기전계발광장치의 구동방법.
  4. 주사 라인과 데이터 라인이 교차하는 영역에 형성된 다수의 화소들을 가지는 패널부;
    상기 주사 라인을 통해 상기 화소들에 상기 주사 신호를 공급하기 위한 주사 구동부;
    상기 주사 신호가 공급되는 상기 화소에 발광 동작에 필요한 데이터 신호를 공급하기 위한 데이터 구동부;
    상기 주사 구동부에 상기 주사 신호를 형성하기 위한 타이밍 제어신호를 공급하고, 제1 영상 데이터를 출력하기 위한 타이밍 제어부;
    상기 패널부의 결함 화소에 대한 정보를 가지는 제2 영상 데이터를 저장하는 메모리; 및
    상기 제2 영상 데이터를 이용하여 상기 제1 영상 데이터를 보정하여 보정 영상 데이터를 상기 데이터 구동부에 전달하기 위한 연산 처리부를 포함하며,
    상기 제2 영상 데이터는, 라인형 이미지 센서를 이용하여 상기 패널부의 화소들의 발광특성을 행단위로 측정하여 형성된 구동전류 보상치를 상기 결함 화소의 활성 영역에서의 전압-전류 특성곡선을 이용하여 상기 구동전류 보상치에 상응하는 데이터 신호의 보상치를 산출하여 형성되는 것을 특징으로 하는 유기전계발광장치.
  5. 삭제
  6. 제4항에 있어서, 상기 구동전류 보상치는 상기 결함 화소의 유기발광 다이오드의 특성곡선을 이용하여 상기 라인형 이미지 센서에 의해 측정된 휘도를 전류값으로 변환하여 형성되는 것을 특징으로 하는 유기전계발광장치.
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