KR100810893B1 - Plane coating apparatus for cmp equipment - Google Patents
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Abstract
본 발명의 씨엠피 장비용 평면 코팅 장치는, 플래튼으로부터 패드의 들뜸 현상을 방지하고, 이로 인하여 장비 사고 및 웨이퍼 파손을 방지하기 위한 것으로서, 플래튼의 일측에 설치되는 클램프부, 이 클램프부의 상방에서 수평 방향으로 위치 조절 가능하도록 구성되는 장착부, 이 장착부의 선단에서 수직 방향으로 위치 조절 가능하고 코팅물을 공급하도록 구성되는 코팅물 공급부, 및 이 코팅물 공급부의 전방에 배치되며 코팅물 공급부에 수직 방향으로 위치 조절 가능하도록 구성되는 평탄부로 구성되어 있다.CMP equipment flat coating apparatus of the present invention is to prevent the lifting of the pad from the platen, thereby preventing equipment accidents and wafer damage, the clamp portion provided on one side of the platen, the upper portion of the clamp portion A mounting portion configured to be adjustable in the horizontal direction in the first position, a coating position adjustable in the vertical direction at the tip of the mounting portion and configured to supply the coating, and disposed in front of the coating supply portion and perpendicular to the coating supply portion. It is comprised by the flat part comprised so that position adjustment is possible in the direction.
립, 플래튼, 코팅물, ripLip, platen, coating, rip
Description
도 1은 본 발명에 따른 씨엠피 장비용 평면 코팅 장치의 전체 구성도이고,1 is an overall configuration diagram of a flat coating device for CMP equipment according to the present invention,
도 2는 클램프부의 사시도이며,2 is a perspective view of the clamp portion,
도 3은 평탄부 및 코팅물 공급부를 클램프부에 장착하는 장착부의 사시도이고,3 is a perspective view of a mounting portion for mounting the flat portion and the coating supply portion to the clamp portion,
도 4는 코팅물 공급부의 사시도이며,4 is a perspective view of the coating supply unit,
도 5는 평탄부의 사시도이고,5 is a perspective view of the flat portion,
도 6은 코팅물 제거부의 사시도이다.6 is a perspective view of the coating remover.
본 발명은 씨엠피 장비용 평면 코팅 장치에 관한 것으로서, 보다 상세하게는 플래튼의 표면 외곽에 부식된 부분을 제거하고 다시 코팅물을 코팅하는 씨엠피 장비용 평면 코팅 장치에 관한 것이다.The present invention relates to a flat coating device for CMP equipment, and more particularly, to a flat coating device for CMP equipment to remove the corroded portion of the outer surface of the platen and to coat the coating again.
일반적으로 반도체 소자의 제조 공정에서 다단의 금속층을 갖는 웨이퍼의 표면을 기계 화학적 반응을 통하여 평탄화하는 것을 씨엠피(CMP; Chemical Mechanical Polishing) 공정이라 한다. In general, in the manufacturing process of a semiconductor device, the surface of the wafer having a multi-stage metal layer is planarized by a mechanical chemical reaction is called a chemical mechanical polishing (CMP) process.
이 씨엠피 공정을 위한 씨엠피 장비는 3개의 플래튼으로 구성되어 있으며, 4개의 헤드가 중심 부분의 크로스 몸체에 장착되어 있다. 따라서 이 헤드가 웨이퍼를 로딩하여 좌우로 회전하면서 각 플래튼에서 연마 공정을 진행하게 된다.The CMP equipment for this CMP process consists of three platens and four heads are mounted on the cross body in the center part. Therefore, the head loads the wafer and rotates from side to side to perform the polishing process on each platen.
이 플래튼은 그 상면에 패드를 부착하고 있으며, 그 위에 슬러리라는 연마재를 분사하여 웨이퍼를 기계 화학적으로 연마한다. 이 헤드는 헤드 컵 로딩 언로딩(HCLU; Head Cup Loading Unloading)에서 웨이퍼를 로딩 및 언로딩하도록 구성되어 있다.The platen has a pad attached to its upper surface, and the wafer is mechanically and chemically polished by spraying an abrasive called slurry. The head is configured to load and unload wafers in Head Cup Loading Unloading (HCLU).
HCLU에서 웨이퍼를 로딩한 헤드는 일측으로 회전하여 제1 플래튼에서 웨이퍼를 1차 연마한 후, 같은 방향으로 더 회전하여 제2 플래튼에서 2차 연마한다. 2차 연마가 끝난 후, 헤드는 같은 방향으로 더 회전하여 웨이퍼를 제3 플래튼의 버핑(Buffing) 패드에서 연마한다. 3차 연마가 끝나면 헤드는 반대측으로 회전하여 HCLU로 이동하여 웨이퍼를 언로딩한다. 이 웨이퍼는 로봇에 의하여 클리너로 들어가서 세척된다.The head loaded with the wafer from the HCLU is rotated to one side to first polish the wafer on the first platen, and then further rotated in the same direction to secondly polish the second platen. After the secondary polishing is finished, the head is further rotated in the same direction to polish the wafer at the buffing pad of the third platen. After tertiary polishing, the head rotates to the opposite side and moves to HCLU to unload the wafer. The wafer enters the cleaner by the robot and is cleaned.
상기 플래튼의 표면은 원형으로 코팅되어 있다. 이 코팅된 표면에 패드가 부착되어 있으므로 패드는 강한 접착력에 의하여 플래튼 표면으로부터 잘 분리되지 않는다.The surface of the platen is coated in a circle. Since the pad is attached to this coated surface, the pad is hardly separated from the platen surface by the strong adhesive force.
그러나, 슬러리의 약산성 때문에 장시간 사용 시, 코팅된 플래튼의 표면 부분이 부식되어 플래튼의 표면과 패드 사이에 슬러리가 유입되고, 이 슬러리로 인하여 얼룩이 발생된다.However, due to the weak acidity of the slurry, for a long time of use, the surface portion of the coated platen is corroded, causing the slurry to flow between the surface of the platen and the pad, which causes staining.
이로 인하여 플래튼의 가장자리에서는 패드가 들뜨게 되는 립(rip) 현상이 발생된다.As a result, a rip phenomenon occurs at the edge of the platen, in which the pad is lifted.
이 립 현상이 심하게 되면, 헤드가 크로스 진행되면서 패드와 부딪히면서 장비 사고 및 웨이퍼 파손을 유발하게 된다.If this lip phenomenon is severe, the head crosses and hits the pad, causing equipment accidents and wafer breakage.
본 발명은 상기와 같은 문제점들을 해결하기 위한 것으로서, 본 발명의 목적은 플래튼으로부터 패드의 들뜸 현상을 방지하고, 이로 인하여 장비 사고 및 웨이퍼 파손을 방지하는 씨엠피 장비용 평면 코팅 장치를 제공하는 데 있다.The present invention is to solve the above problems, an object of the present invention is to provide a flat coating device for CMP equipment to prevent the lifting of the pad from the platen, thereby preventing equipment accident and wafer breakage have.
본 발명에 따른 씨엠피 장비용 평면 코팅 장치는,Flat coating apparatus for CMP equipment according to the present invention,
플래튼의 일측에 설치되는 클램프부,Clamp part installed on one side of the platen,
상기 클램프부의 상방에서 수평 방향으로 위치 조절 가능하도록 구성되는 장착부,A mounting part configured to be adjustable in a horizontal direction from above the clamp part;
상기 장착부의 선단에서 수직 방향으로 위치 조절 가능하고 코팅물을 공급하도록 구성되는 코팅물 공급부, 및A coating supplier configured to supply a coating and position adjustable in a vertical direction at the tip of the mounting unit;
상기 코팅물 공급부의 전방에 배치되며 코팅물 공급부에 수직 방향으로 위치 조절 가능하도록 구성되는 평탄부를 포함하고 있다.And a flat part disposed in front of the coating supply part and configured to be adjustable in a vertical direction in the coating supply part.
상기 장착부는 클램프부 상에 수직으로 설치되는 수직 부재,The mounting portion is a vertical member installed vertically on the clamp portion,
상기 수직 부재의 측방 클램프부 상에 경사지게 설치되는 경사 부재,An inclined member installed inclined on the side clamp portion of the vertical member,
상기 수직 부재 및 경사 부재의 상단에 수평 상태로 구비되는 제1, 2 수평 가이드, 및 First and second horizontal guides provided horizontally on top of the vertical member and the inclined member, and
상기 제1, 2 수평 가이드 내측에서 이동되고 제1, 2 수평 가이드에 구비된 고정 나사에 의하여 위치 고정되는 수평 부재로 구성되어 있다.It is comprised by the horizontal member which is moved in the said 1st, 2nd horizontal guide inside, and is fixed by the fixing screw provided in the 1st, 2nd horizontal guide.
상기 코팅물 공급부는 장착부에 수평 방향으로 이동되어 고정 나사에 의하여 고정 설치되고, 수직 방향으로 장착 가능하게 형성되는 수평/수직 가이드, 및The coating supply part is moved in the horizontal direction to the mounting portion is fixed by the fixing screw, the horizontal / vertical guide is formed to be mounted in the vertical direction, and
상기 수평/수직 가이드에 수직 방향으로 이동되어 고정 나사에 의하여 고정 설치되고, 코팅물을 내장 공급하는 코팅물 탱크를 구비하고 있는 탱크 지그로 구성되어 있다.It consists of a tank jig provided with a coating tank which is moved in a vertical direction to the horizontal / vertical guide and fixedly installed by a fixing screw, and which supplies a coating material therein.
상기 평탄부는 코팅물 공급부에 수직 방향으로 조절된 위치에 고정되는 클램프,The flat portion is clamped to a fixed position in the vertical direction to the coating supply,
상기 클램프의 선단에 수평 방향으로 위치 조절 가능하도록 장착되는 하우징, 및A housing mounted to the front end of the clamp to be adjustable in a horizontal direction;
상기 하우징에 수직 방향으로 탄성부재를 내장하고 그 상단에 수직 방향의 위치를 조절하는 조절 나사를 구비하여 수직 방향으로 설치되는 평탄부재를 포함하고 있다.The housing includes a flat member installed in the vertical direction by having an elastic member embedded in the vertical direction and having a control screw for adjusting the position in the vertical direction at the upper end thereof.
또한, 상기 씨엠피 장비용 평면 코팅 장치는 상기 클램프부의 측방에서 플래튼의 측면을 향하여 조절된 위치에 설치되는 코팅물 제거부를 더 구비하고 있다.In addition, the planar coating device for the CMP equipment further includes a coating removal unit which is installed in a controlled position toward the side of the platen from the side of the clamp portion.
상기 코팅물 제거부는 클램프부에 수직 방향으로 조절된 위치에 고정되는 클램프, 및The coating removal unit is a clamp fixed to a position adjusted in the vertical direction in the clamp portion, and
상기 클램프의 선단에 측면 방향으로 위치 조절 가능하게 장착되는 제거부재를 포함하고 있다. It includes a removal member mounted to the front end of the clamp to be adjustable in the lateral direction.
본 발명의 이점 및 장점은 이하의 바람직한 실시 예를 첨부한 도면에 의거하여 상세히 설명함으로서 보다 명확하게 될 것이다.Advantages and advantages of the present invention will be more apparent from the following detailed description based on the accompanying drawings.
도 1은 본 발명에 따른 씨엠피 장비용 평면 코팅 장치의 전체 구성도로서, 장시간 사용으로 플래튼의 표면이 산화되면서 패드와의 접착력이 약화되는 데, 이 약화 현상으로 인하여 헤드가 크로스 되면서 플래튼 표면으로부터 그 외곽 선단이 들뜬 패드와 부딪히게 되면서 발생되는 제반 문제점을 해결할 수 있도록 구성되어 있다.1 is an overall configuration diagram of a flat coating device for CMP equipment according to the present invention, the surface of the platen is oxidized by prolonged use, the adhesive strength with the pad is weakened, due to this weakening phenomenon the head crosses the platen It is configured to solve all the problems caused when the outer edge of the surface hit the excited pad.
이 씨엠피 장비용 평면 코팅 장치는 크게 클램프부(A), 장착부(B), 코팅물 공급부(C), 평탄부(D) 및 코팅물 제거부(E)를 포함하는 구성으로 이루어져, 플래튼(1)의 외곽 표면에 산화된 슬러리를 긁어내고 코팅물을 새로이 코팅할 수 있게 한다.The planar coating device for the CMP equipment is largely composed of a configuration including a clamp portion (A), a mounting portion (B), a coating supply portion (C), a flat portion (D) and a coating removal portion (E), platen The outer surface of (1) is scraped off of the oxidized slurry and the coating can be newly coated.
상기 클램프부(A)는 본 평면 코팅 장치의 근간을 이루는 구성으로서, 플래튼(1)의 측방 일측에 설치된다. 이 클램프부(A)는 플래튼(1)의 일측에 구비되는 기둥(3)에 고정 설치된다.The clamp portion A constitutes the basis of the present flat coating apparatus and is provided on one side of the platen 1. This clamp portion (A) is fixed to the pillar (3) provided on one side of the platen (1).
이 클램프부(A)는 도 2에 도시된 바와 같이 기둥(3)에 본 장치를 고정시키는 조(5)와, 이 조(5)의 거리를 조절하는 나사 구조의 손잡이(7)를 구비하고 있다. 즉 이 손잡이(7)를 시계 및 반시계 방향으로 조작함에 따라 조(5)를 기둥(3)에 설치하거나 해제하게 된다.This clamp portion A has a
이와 같이 구성되는 클램프부(A)의 상방에 상기한 장착부(B)가 구비되어 있다. 이 장착부(B)는 클램프부(A)의 상방에서 수평 방향으로 위치 조절 가능하고, 클램프부(A) 상에 상기한 코팅물 공급부(C), 평탄부(D) 및 코팅물 제거부(E)를 설치할 수 있도록 구성되어 있다.The attachment part B is provided above the clamp part A comprised in this way. The mounting portion (B) is adjustable in the horizontal direction from above the clamp portion (A), and the coating portion (C), the flat portion (D) and the coating removing portion (E) described above on the clamp portion (A). ) Is configured to install.
이 장착부(B)는 도 3에 도시된 바와 같이 수직 부재(9), 경사 부재(11), 제1, 2 수평 가이드(13, 15), 및 수평 부재(17)로 구성되어 있다.This mounting part B is comprised from the vertical member 9, the
수직 부재(9)는 클램프부(A) 상에 수직으로 설치되고, 경사 부재(11)는 수직 부재(9)의 측방인 클램프부(A) 상에 경사지게 설치되어 있다. 이 수직 부재(9) 및 경사 부재(11)는 상기 수평 부재(17)를 안정적으로 지지할 수 있는 구조의 한 실시 예이다.The vertical member 9 is vertically provided on the clamp part A, and the
또한, 제1, 2 수평 가이드(13, 15)는 수직 부재(9)와 경사 부재(11)의 상단에 각각 수평 상태의 일체로 구비되어 있다. 이 제1, 2 수평 가이드(13, 15)에 상기한 수평 부재(17)가 설치되어 있다.In addition, the 1st, 2nd
이 수평 부재(17)는 제1, 2 수평 가이드(13, 15)의 내측에서 수평 이동되어 위치 설정되고, 이 제1, 2 수평 가이드(13, 15)에 구비된 고정 나사(19)에 의하여 설정된 위치에 고정된다.The
이와 같이 구성되는 장착부(B)의 선단에 코팅물 공급부(C)가 구비되어 있다. 이 코팅물 공급부(C)는 플래튼(1)의 외곽 부분에 산화된 슬러리를 제거한 상태에서 이 부분에 새롭게 코팅할 코팅물을 공급할 수 있도록 구성되어 있다.The coating material supply part C is provided in the front-end | tip of the mounting part B comprised in this way. This coating supply part (C) is comprised so that the outer part of the platen 1 may supply the coating to be newly coat | covered in this state in the state which removed the oxidized slurry.
이 코팅물 공급부(C)는 장착부(B)의 선단에서 수직 방향으로 위치 조절되어 코팅물을 공급하도록 도 4에 도시된 바와 같이, 수평/수직 가이드(21) 및 탱크 지그(23)로 구성되어 있다.
This coating supply part (C) is composed of a horizontal /
이 수평/수직 가이드(21)는 상기 장착부(B)의 수평 부재(17)에 수평 방향으로 이동되어 고정 나사(25)에 의하여 고정 설치되고, 수직 방향으로 장착 가능하게 형성되어 있다.The horizontal /
이 수평/수직 가이드(21)에 장착되는 탱크 지그(23)는 수평/수직 가이드(21)에서 수직 방향으로 위치 이동되어 고정 나사(25)에 의하여 이동된 위치에 고정 설치될 수 있도록 구성되어 있다.The
이 탱크 지그(23)에는 코팅물 탱크(27)가 구비되어 있다. 이 코팅물 탱크(27)는 플래튼(1)을 코팅하기 위한 코팅물을 내장하여 공급할 수 있도록 구성되어 있다.The
이와 같이 구성되는 코팅물 공급부(C)의 전방에 평탄부(D)가 구비되어 있다. 이 평탄부(D)는 코팅물 공급부(C)에서 수직 방향으로 위치를 조절할 수 있도록 구성되어 있다.The flat part D is provided in front of the coating supply part C comprised in this way. This flat portion (D) is configured to be able to adjust the position in the vertical direction in the coating supply (C).
이 평탄부(D)는 도 5에 도시된 바와 같이 클램프(29), 하우징(31), 및 평탄부재(33)로 구성되어 코팅물 공급부(C)에서 플래튼(1)의 상면 외곽에 공급되는 코팅물을 평탄하게 분포시킨다.This flat portion D is composed of a
이 클램프(29)는 코팅물 공급부(C)의 탱크 지그(23)에 수직 방향으로 위치 조절되어 고정 나사(35)에 의하여 조절된 위치에 고정되도록 구성되어 있다.The
하우징(31)은 이 클램프(29)의 선단에 수평 방향으로 선회되어 고정 나사(35)에 의하여 조절된 위치에서 고정될 수 있도록 구성되어 있다.The
평탄부재(33)는 하우징(31)의 하방에서 플래튼(1)의 상면 외곽을 향하여 플 래튼(1)과 탄성적으로 접촉되면서 이 부분에 공급되는 코팅물을 넓게 분포시키도록 구성되어 있다.The
즉, 이 평탄부재(33)는 하우징(31)에 내장되는 탄성부재(37)에 의하여 수직 방향으로 탄성 지지되고, 그 상단에 구비되는 조절 나사(39)에 의하여 탄성부재(41)의 탄성력을 극복하면서 수직 방향의 위치가 조절된다.That is, the
한편, 본 발명의 평면 코팅 장치는 상기한 코팅물 제거부(E)를 더 포함하고 있다. 이 코팅물 제거부(E)는 클램프부(A)의 측방에 제공되어 플래튼(1)의 측면을 향하여 위치 조절되어, 코팅물 공급부(C)에서 공급되어 플래튼(1)의 상면 외곽에 코팅되고 플래튼(1)의 측면으로 흘러내린 코팅물을 제거할 수 있도록 구성되어 있다.On the other hand, the flat coating apparatus of the present invention further includes the above-described coating removing unit (E). This coating removal portion (E) is provided on the side of the clamp portion (A) and positioned toward the side of the platen (1), and is supplied from the coating supply (C) to the outside of the upper surface of the platen (1) It is configured to remove the coating that has been coated and flowed down to the side of the platen 1.
이 코팅물 제거부(E)는 도 6에 도시된 바와 같이, 클램프(43) 및 제거부재(45)로 구성되어 있다. 이 클램프(43) 및 제거부재(45)로 구성되는 코팅물 제거부(E)는 상기한 평탄부(D)와 유사한 구조로 이루어져 있다.As shown in FIG. 6, the coating removal unit E is composed of a
이 클램프(43)는 상기 클램프부(A)에서 수직 방향으로 위치 조절될 수 있도록 클램프부(A)의 플래튼(1) 측에 고정 나사(47)로 고정 설치된다.The
그리고, 제거부재(45)는 클램프(43)의 선단에서 플래튼(1)의 측면 방향으로 위치 조절될 수 있도록 클램프(43)의 선단에 고정 나사(47)에 의하여 장착되어 있다. 이 제거부재(45)는 상기 평탄부재(33)와 같이 하우징(31), 탄성부재(41) 및 조절 나사(39)를 개재하는 구성으로 이루어져도 좋다.The
상술한 바와 같이 구성되는 씨엠피 장비용 평면 코팅 장치로 플래튼(1) 상면 외곽에 코팅물을 코팅하는 과정은 다음과 같다.The process of coating the coating on the outer surface of the platen 1 with the flat coating device for CMP equipment configured as described above is as follows.
먼저, 플래튼(1)의 상면 외곽에 부식된 슬러리를 제거한다.First, the corroded slurry on the outer surface of the upper surface of the platen 1 is removed.
본 실시 예의 평면 코팅 장치를, 클램프부(A)를 이용하여 플래튼(1)의 측방에 설치한다.The flat coating apparatus of this embodiment is installed on the side of the platen 1 using the clamp portion A. FIG.
장착부(B), 코팅물 공급부(C), 및 평탄부(D)의 조절 나사(39)를 조절하여 평탄부재(33)를 플래튼(1)의 외곽 상면에 내린다.The adjusting
이와 동시에 코팅물 제거부(E)를 조절하여 제거부재(45)를 플래튼(1)의 측면에 위치시킨다.At the same time, by removing the coating (E) to remove the
이 상태에서 플래튼(1)이 회전하면서 코팅물을 공급하게 되면, 코팅물은 플래튼(1)의 상면 외곽에 넓게 코팅된다. 이때 플래튼(1)의 회전 속도는 코팅물이 원심력에 의하여 비산되지 않고 적절히 퍼질 수 있는 5rpm 정도가 적절하다.In this state, when the platen 1 rotates to supply the coating, the coating is widely coated on the outer surface of the upper surface of the platen 1. At this time, the rotational speed of the platen 1 is suitably about 5rpm in which the coating can be properly spread without being scattered by centrifugal force.
코팅 후, 플래튼(1)을 공회전시켜 코팅물을 건조시킨다.After coating, the platen 1 is idled to dry the coating.
상기에서는 본 발명의 바람직한 실시 예에 대하여 설명하였지만, 본 발명은 이에 한정되는 것이 아니고 특허청구범위와 발명의 상세한 설명 및 첨부한 도면의 범위 안에서 여러 가지로 변형하여 실시하는 것이 가능하고 이 또한 본 발명의 범위에 속하는 것은 당연하다.Although the preferred embodiments of the present invention have been described above, the present invention is not limited thereto, and various modifications and changes can be made within the scope of the claims and the detailed description of the invention and the accompanying drawings. Naturally, it belongs to the range of.
이와 같이 본 발명의 씨엠피 장비용 평면 코팅 장치는 플래튼 상면 외곽에 부식된 슬러리를 미리 제거하고 이 부분에 코팅물을 코팅함으로서 코팅 부분의 산화로 인하여 패드의 접착력이 약화되고 이로 인하여 패드가 들뜨는 립 현상을 방지 할 수 있고, 또한 들뜬 패드에 헤드가 부딪히는 것과 같은 장비 사고 및 웨이퍼 파손을 줄이고 장비의 가동률 및 수율을 향상시킬 수 있다.As described above, the planar coating device for CMP equipment of the present invention removes the corroded slurry on the outer surface of the platen in advance and coats the coating on the portion, thereby weakening the adhesive force of the pad due to oxidation of the coating portion, thereby causing the pad to lift. It can prevent the lip phenomenon, and also reduce equipment accidents and wafer breakage, such as the head hitting the excited pad, and improve the equipment operation rate and yield.
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Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH10156709A (en) | 1996-12-02 | 1998-06-16 | Motorola Inc | Platen coating structure and method for chemimechanical polishing |
KR20050066620A (en) * | 2003-12-26 | 2005-06-30 | 동부아남반도체 주식회사 | Platen apparatus for cmp equipment |
-
2003
- 2003-12-31 KR KR1020030101875A patent/KR100810893B1/en not_active IP Right Cessation
Patent Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH10156709A (en) | 1996-12-02 | 1998-06-16 | Motorola Inc | Platen coating structure and method for chemimechanical polishing |
KR20050066620A (en) * | 2003-12-26 | 2005-06-30 | 동부아남반도체 주식회사 | Platen apparatus for cmp equipment |
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KR20050069624A (en) | 2005-07-05 |
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A201 | Request for examination | ||
E701 | Decision to grant or registration of patent right | ||
GRNT | Written decision to grant | ||
LAPS | Lapse due to unpaid annual fee |