KR100775442B1 - 전자부품 성능검사를 위한 항온 제어 장치 - Google Patents
전자부품 성능검사를 위한 항온 제어 장치 Download PDFInfo
- Publication number
- KR100775442B1 KR100775442B1 KR1020060076158A KR20060076158A KR100775442B1 KR 100775442 B1 KR100775442 B1 KR 100775442B1 KR 1020060076158 A KR1020060076158 A KR 1020060076158A KR 20060076158 A KR20060076158 A KR 20060076158A KR 100775442 B1 KR100775442 B1 KR 100775442B1
- Authority
- KR
- South Korea
- Prior art keywords
- heating box
- adjusting
- constant temperature
- control device
- guide shaft
- Prior art date
Links
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
- G01R31/2801—Testing of printed circuits, backplanes, motherboards, hybrid circuits or carriers for multichip packages [MCP]
- G01R31/281—Specific types of tests or tests for a specific type of fault, e.g. thermal mapping, shorts testing
- G01R31/2817—Environmental-, stress-, or burn-in tests
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/003—Environmental or reliability tests
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
- G01R31/2801—Testing of printed circuits, backplanes, motherboards, hybrid circuits or carriers for multichip packages [MCP]
- G01R31/2806—Apparatus therefor, e.g. test stations, drivers, analysers, conveyors
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- General Engineering & Computer Science (AREA)
- Environmental & Geological Engineering (AREA)
- Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
- Testing Electric Properties And Detecting Electric Faults (AREA)
Abstract
본 발명은 외부 온도의 변화에 따라 전자부품의 성능 검사를 하기 위해 작업자가 설정한 일정 온도를 일정 시간동안 유지시키기 위한 항온 제어 장치에 관한 것으로 전원 공급 시 정온 발열되는 피티씨(Positive Temperature Coefficient, PTC) 히터(10a)를 발열체로 이용하고, 상기 피티씨 히터(10a)로부터 발생하는 열을 분산시키기 위한 3개의 고속 송풍 팬(10b)으로 구성된 히팅박스(10)와, 상기 히팅박스(10)에 전원을 공급하고, 써어미스터(Thermistor)를 장착하여 설정 온도 대비 15% 이상 과열될 경우 전원을 자동으로 차단하는 제어부(20)와, 상기 히팅박스(10)를 좌우 가이드 축(30)을 따라 좌우로 이동시키기 위해 히팅박스(10)의 일측면에 설치한 좌우 위치 조절 레버(40)와, 상기 히팅박스(10)를 상/하 가이드 축(50)을 따라 상하로 이동시키기 위해 스프링 핀(60a)으로 구성된 상하 이송 손잡이(60)와, 상기 상하 이송 손잡이(60)의 상하 위치를 조절하기 위해 상/하 가이드 축(50)의 일측면에 형성된 기어 홈(70)과, 상기 히팅박스(10)를 가이드 레일(80)을 따라 전후로 이동시키기 위한 전/후 위치 조절 레버(90)와, 상기 가이드 레일(80)의 상단부에 위치하여 상/하 가이드 축(50)을 고정 지지하기 위해 2단의 회전용 볼플렌져를 부착한 본체부(100)와, 상기 히팅박스(10)의 열이 대상 작업물에만 노출될 수 있도록 조절하기 위한 조절커튼(110)과, 상기 조절커튼(110)을 대상 작업물의 크기에 따라 이동시켜 발열되는 열이 전달되는 부분을 조절하는 사이즈 조절 손잡이(120)로 이루어진다.
항온, 제어, 성능, 검사, 히팅
Description
도 1은 본 발명에 따른 전자부품 성능검사를 위한 항온 제어 장치를 나타낸 사시도이다.
도 2는 본 발명에 따른 전자부품 성능검사를 위한 항온 제어 장치의 히팅박스를 나타낸 도면이다.
도 3은 본 발명에 따른 전자부품 성능검사를 위한 항온 제어 장치의 제어부를 나타낸 도면이다.
도 4는 본 발명에 따른 전자부품 성능검사를 위한 항온 제어 장치의 상하 이송 손잡이를 나타낸 도면이다.
도 5는 본 발명에 따른 전자부품 성능검사를 위한 항온 제어 장치의 본체부를 나타낸 도면이다.
도 6은 본 발명에 따른 전자부품 성능검사를 위한 항온 제어 장치의 히팅박스를 손잡이용 레버를 이용하여 상하 위치를 조정하는 실시예를 나타낸 도면이다.
도 7은 본 발명에 따른 전자부품 성능검사를 위한 항온 제어 장치의 히팅박스에 장착된 조절커튼의 사이즈 조절 손잡이를 나타낸 도면이다.
** 도면의 주요부분에 관한 부호 설명 **
10 : 히팅박스 10a : 피티씨(PTC) 히터
10b : 송풍 팬 10c : 바이메탈
20 : 제어부 30 : 좌우 가이드 축
40 : 좌우 위치 조절 레버 50 : 상/하 가이드 축
60 : 상하 이송 손잡이 60a : 스프링 핀
70 : 기어 홈 80 : 가이드 레일
90 : 전/후 위치 조절 레버 100 : 본체부
110 : 조절커튼 120 : 사이즈 조절 손잡이
130 : 마그네틱 스위치
본 발명은 산업용 컴퓨터 보드와 같은 전자부품의 성능 검사 시 상기 성능검사가 필요한 부분에 일정 온도를 조사하기 위한 장치에 관한 것으로 피티씨(Positive Temperature Coefficient, PTC) 히터를 발열체로 이용하고, 상기 피티씨 히터로부터 발생하는 열을 분산시키기 위한 고속 송풍 팬으로 구성된 히팅박스를 전/후, 좌우, 상/하로 자유롭게 이동시켜 정확하게 위치를 선정하여 결과의 정확도를 높이는 것을 특징으로 한다.
일반적으로 외부 온도의 변화에 따라 전자부품의 성능 검사를 하기 위해서는 사용자가 설정한 온도를 일정 시간동안 유지시키기 위한 항온 제어 장치가 필요하다. 상기 항온 제어 장치를 이용한 성능 검사에 있어서 대표적으로 컴퓨터 보드의 모듈 성능 검사를 예를 들어 설명하면 기존에는 컴퓨터 본체 전체를 항온조 설비에 넣어 장시간 일정 온도를 유지하면서 성능 테스트를 하였다. 그 결과 성능 검사가 필요한 컴퓨터 모듈 이외의 다른 부품이 항온조에서 발생하는 열에 의하여 소손되거나 기능이 저하되는 문제를 초래하거나 성능 검사 시간이 길어져 생산성이 떨어지는 문제점이 나타나게 되었다.
본 발명은 상기와 같은 종래 기술의 문제점을 해결하기 위해 안출된 것으로 전자부품의 성능 검사를 하기 위한 히팅박스를 검사자가 작동하기 쉽도록 하여 간편하게 성능 검사가 이루어지도록 하며, 상기 성능 검사가 필요한 부분만 일정 온도에 노출시킴으로써 필요한 부분 외에 다른 부품이 열에 의해 고장을 일으키지 않도록 방지함을 목적으로 한다.
또한 종래에는 상기 항온조에 전자부품 전체를 넣었기 때문에 테스트 위치에 따라 히팅 부위를 조정할 필요가 없었지만 본 발명은 성능 검사를 받는 부품의 종류에 따라 히팅박스의 크기를 조절함과 동시에 그 위치에 따라 상기 히팅박스를 회전하거나 전/후, 상/하, 좌우 이송을 자유롭게 할 수 있는 구동부를 구비함으로써 정확한 성능 검사와 생산 효율을 증대할 수 있다는데 본 발명의 다른 목적이 있다.
상기의 목적을 달성하기 위한 본 발명은 외부 온도의 변화에 따라 전자부품의 성능 검사를 하기 위해 작업자가 설정한 온도를 일정 시간동안 유지시키기 위한 항온 제어 장치에 관한 것으로 첨부된 도면을 참조하여 상세히 설명하면 다음과 같다.
도 1은 본 발명에 따른 전자부품 성능검사를 위한 항온 제어 장치를 나타낸 사시도이다. 상기 도 1에서 도시된 바와 같이
전원 공급 시 정온 발열되는 피티씨(Positive Temperature Coefficient, PTC) 히터(10a)를 발열체로 이용하고, 상기 피티씨 히터(10a)로부터 발생하는 열을 분산시키기 위한 3개의 고속 송풍 팬(10b)으로 구성된 히팅박스(10)와;
상기 히팅박스(10)에 전원을 공급하고, 써어미스터(Thermistor)를 장착하여 설정 온도 대비 15% 이상 과열될 경우 전원을 자동으로 차단하는 제어부(20)와;
상기 히팅박스(10)를 좌우 가이드 축(30)을 따라 좌우로 이동시키기 위해 히팅박스(10)의 일측면에 설치한 좌우 위치 조절 레버(40)와;
상기 히팅박스(10)를 상/하 가이드 축(50)을 따라 상하로 이동시키기 위해 스프링 핀(60a)으로 구성된 상하 이송 손잡이(60)와;
상기 상하 이송 손잡이(60)의 상하 위치를 조절하기 위해 상/하 가이드 축(50)의 일측면에 형성된 기어 홈(70)과;
상기 히팅박스(10)를 가이드 레일(80)을 따라 전후로 이동시키기 위한 전/후 위치 조절 레버(90)와;
상기 가이드 레일(80)의 상단부에 위치하여 상/하 가이드 축(50)을 고정 지지하기 위해 2단의 회전용 볼플렌져를 부착한 본체부(100)와;
상기 히팅박스(10)의 열이 대상 작업물에만 노출될 수 있도록 조절하기 위한 조절커튼(110)과;
상기 조절커튼(110)을 대상 작업물의 크기에 따라 이동시켜 발열되는 열이 전달되는 부분을 조절하는 사이즈 조절 손잡이(120); 로 이루어진다.
도 2는 본 발명에 따른 전자부품 성능검사를 위한 항온 제어 장치의 히팅박스를 나타낸 도면이다. 상기 도 2에서 보는 바와 같이 상기 히팅박스(10)는 내부에 3단의 에어라인 블록을 설치하여 상기 피티씨 히터(10a)에서 발생된 열이 하부로 전달되어 고르게 확산되도록 하며, 피티씨 히터(10a) 좌우에 바이메탈(10c)을 부착하여 상기 피티씨 히터(10a)가 120℃ 이상 발열되면 전원을 차단하는 것을 특징으로 한다.
또한 도 3은 본 발명에 따른 전자부품 성능검사를 위한 항온 제어 장치의 제 어부를 나타낸 도면으로 상기 도 3에서 도시된 바와 같이 상기 제어부(20)는 히팅박스(10)에 전원을 공급하고, 써어미스터(Thermistor)를 장착하여 설정 온도 대비 15% 이상 과열될 경우 전원을 자동으로 차단한다.
도 4는 본 발명에 따른 전자부품 성능검사를 위한 항온 제어 장치의 상하 이송 손잡이를 나타낸 도면이다. 상기 도 4를 참조하여 상하 이송 손잡이를 상세히 설명하면 상기 상하 이송 손잡이(60)는 스프링 핀(60a)으로 구성되어 상하 이송 손잡이(60)를 사용자가 당기면 히팅박스(10)를 상/하 가이드 축(50)의 일측면에 형성된 기어 홈(70)을 따라 상하 이동시킬 수 있으며, 원하는 위치에 고정하기 위해서는 당겼던 상하 이송 손잡이(60)를 놓으면 스프링 핀(60a)의 탄성력에 의해 상기 기어 홈(70)에 히팅박스(10)가 고정되는 것을 특징으로 한다.
도 5는 본 발명에 따른 전자부품 성능검사를 위한 항온 제어 장치의 본체부를 나타낸 도면으로 상기 도 5에서 도시된 바와 같이 상기 본체부(100)는 내부에 삽입된 회전용 볼플렌져를 이용하여 100 ~ 150° 각도를 이루며 회전하도록 구성되어 상/하 가이드 축(50)과 연결된 히팅박스(10)를 이동시킴과 동시에 상기 본체부(100)에 삽입된 마그네틱 스위치(130)가 전원을 차단한다.
또한 도 6은 본 발명에 따른 전자부품 성능검사를 위한 항온 제어 장치의 히팅박스를 손잡이용 레버를 이용하여 상하 위치를 조정하는 실시예를 나타낸 도면이 다. 상기 도 6에서 보는 바와 같이 상기 히팅박스(10)를 상/하 가이드 축(50)을 따라 상하로 이동시키기 위한 하강 스토퍼(160a)와;
상기 하강 스토퍼(160a)의 상하 위치를 조절하기 위한 손잡이용 레버(160b)와;
상기 하강 스토퍼(160a)와 손잡이용 레버(160b)를 이용하여 상기 히팅박스(10)가 하강 이동 시 천천히 대상 작업물로 하강할 수 있도록 속도를 조절하는 무게 균형 추(160c)와;
상기 히팅박스(10)가 하강하여 하강 스토퍼(160a)와 접지를 이루면 히팅박스(10)에 전원을 인가하는 전원 인가 스위치(160d); 로 구성되어 상기 히팅박스(10)의 전원 인가 및 상하 위치를 제어할 수 있는 것을 특징으로 한다.
도 7은 본 발명에 따른 전자부품 성능검사를 위한 항온 제어 장치의 히팅박스에 장착된 조절커튼의 사이즈를 조절하는 사이즈 조절 손잡이를 나타낸 도면이다. 상기 도 7에서 도시된 바와 같이 히팅박스(10)의 일측에 설치된 사이즈 조절 손잡이(10)는 전후 조절이 가능하여 이를 통해 상기 히팅박스(10)에 의해 발열되는 열이 전달되는 부분을 조절할 수 있는 것이다.
상술한 바와 같이 본 발명에 따른 바람직한 실시 예를 설명하였지만, 본 발명은 상기한 실시예에 한정되지 않고, 이하의 특허청구의 범위에서 청구하는 본 발명의 요지를 벗어남이 없이 당해 발명이 속하는 분야에서 통상의 지식을 가진 자라 면 누구든지 다양한 변경 실시가 가능한 범위까지 본 발명의 기술적 정신이 있다고 할 것이다.
본 발명은 종래 기술의 문제점을 보완하기 위한 설비로서 전자부품의 특정 부분만을 일정 온도에 노출시켜 일정 시간동안 유지할 수 있는 히팅박스를 구성하여 측정이 필요한 부분을 제외한 다른 전자부품의 열에 의한 소손을 방지하는 구조이며, 히팅박스의 자유로운 전/후, 상/하, 좌우 이송을 통해 전자부품에 장착 및 탈착이 용이하고, 피티씨 히터와 바이메탈, 마그네틱 스위치를 이용하여 작업자의 부주의로 인한 부상의 위험을 줄일 수 있으며, 각각의 전자부품에 따른 테스트 환경을 개별 또는 일괄적으로 제어함으로써 작업 시간을 단축시켜 경제적이며 생산성의 향상을 가져올 수 있는 설비이다.
Claims (5)
- 외부 온도의 변화에 따라 전자부품의 성능 검사를 하기 위해 작업자가 설정한 일정 온도를 일정 시간동안 유지시키기 위한 항온 제어 장치에 있어서,전원 공급 시 정온 발열되는 피티씨(Positive Temperature Coefficient, PTC) 히터(10a)를 발열체로 이용하고, 상기 피티씨 히터(10a)로부터 발생하는 열을 분산시키기 위한 3개의 고속 송풍 팬(10b)으로 구성된 히팅박스(10)와;상기 히팅박스(10)에 전원을 공급하며, 써어미스터(Thermistor)를 장착하여 설정 온도 대비 15% 이상 과열될 경우 전원을 자동으로 차단하는 제어부(20)와;상기 히팅박스(10)를 좌우 가이드 축(30)을 따라 좌우로 이동시키기 위해 히팅박스(10)의 일측면에 설치한 좌우 위치 조절 레버(40)와;상기 히팅박스(10)를 상/하 가이드 축(50)을 따라 상하로 이동시키기 위해 스프링 핀(60a)으로 구성된 상하 이송 손잡이(60)와;상기 상하 이송 손잡이(60)의 상하 위치를 조절하기 위해 상/하 가이드 축(50)의 일측면에 형성된 기어 홈(70)과;상기 히팅박스(10)를 가이드 레일(80)을 따라 전후로 이동시키기 위한 전/후 위치 조절 레버(90)와;상기 가이드 레일(80)의 상단부에 위치하여 상/하 가이드 축(50)을 고정 지지하기 위해 2단의 회전용 볼플렌져를 부착한 본체부(100)와;상기 히팅박스(10)의 열이 대상 작업물에만 노출될 수 있도록 조절하기 위한 조절커튼(110)과;상기 조절커튼(110)을 대상 작업물의 크기에 따라 이동시켜 발열되는 열이 전달되는 부분을 조절하는 사이즈 조절 손잡이(120); 로 이루어진 전자부품 성능검사를 위한 항온 제어 장치.
- 제1항에 있어서,상기 히팅박스(10)는 내부에 3단의 에어라인 블록을 설치하여 상기 피티씨 히터(10a)에서 발생된 열이 하부로 전달되어 고르게 확산 되도록 하며, 상기 피티씨 히터(10a) 좌우에 바이메탈(10c)을 부착하여 상기 피티씨 히터(10a)가 120℃ 이상 발열 되면 전원을 차단하는 것을 특징으로 하는 전자부품 성능검사를 위한 항온 제어 장치.
- 제1항에 있어서,상기 상하 이송 손잡이(60)는 스프링 핀(60a)으로 구성되어 상하 이송 손잡이(60)를 당기면 히팅박스(10)가 상/하 가이드 축(50)의 일측면에 형성된 기어 홈(70)을 따라 상하 이동하는 것을 특징으로 하는 전자부품 성능검사를 위한 항온 제어 장치.
- 제1항에 있어서,상기 본체부(100)는 회전용 볼플렌져를 이용하여 100 ~ 150° 각도를 이루며 회전하도록 구성되어 상/하 가이드 축(50)과 연결된 히팅박스(10)를 이동시킴과 동시에 상기 본체부(100)에 삽입된 마그네틱 스위치(130)가 전원을 차단하는 것을 특징으로 하는 전자부품 성능검사를 위한 항온 제어 장치.
- 제1항에 있어서,상기 히팅박스(10)를 상/하 가이드 축(50)을 따라 상하로 이동시키기 위한 하강 스토퍼(160a)와;상기 하강 스토퍼(160a)의 상하 위치를 조절하기 위한 손잡이용 레버(160b)와;상기 하강 스토퍼(160a)와 손잡이용 레버(160b)를 이용하여 상기 히팅박스(10)가 하강 이동 시 천천히 대상 작업물로 하강할 수 있도록 속도를 조절하는 무게 균형 추(160c)와;상기 히팅박스(10)가 하강하여 하강 스토퍼(160a)와 접지를 이루면 히팅박스(10)에 전원을 인가하는 전원 인가 스위치(160d); 를 더 포함하여 구성되는 것을 특징으로 하는 전자부품 성능검사를 위한 항온 제어 장치.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020060076158A KR100775442B1 (ko) | 2006-08-11 | 2006-08-11 | 전자부품 성능검사를 위한 항온 제어 장치 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020060076158A KR100775442B1 (ko) | 2006-08-11 | 2006-08-11 | 전자부품 성능검사를 위한 항온 제어 장치 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR100775442B1 true KR100775442B1 (ko) | 2007-11-12 |
Family
ID=39061710
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1020060076158A KR100775442B1 (ko) | 2006-08-11 | 2006-08-11 | 전자부품 성능검사를 위한 항온 제어 장치 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
KR (1) | KR100775442B1 (ko) |
Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0320427A (ja) * | 1989-06-16 | 1991-01-29 | Sekisui Chem Co Ltd | 高強度金型用合金 |
JPH0418036A (ja) * | 1990-05-09 | 1992-01-22 | Kurita Water Ind Ltd | 薬剤組成物 |
KR19990022419A (ko) * | 1995-06-05 | 1999-03-25 | 미키오 이시마루 | 판독 부재 대기시간 감소 장치 및 방법 |
KR20020088930A (ko) * | 2001-05-22 | 2002-11-29 | 냉열 주식회사 | 항온항습기 또는 항온항습조용 제어기 |
KR20060078063A (ko) * | 2004-12-30 | 2006-07-05 | 재단법인서울대학교산학협력재단 | 전자 열전모듈에 의한 지능형 항온의복 |
-
2006
- 2006-08-11 KR KR1020060076158A patent/KR100775442B1/ko not_active IP Right Cessation
Patent Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0320427A (ja) * | 1989-06-16 | 1991-01-29 | Sekisui Chem Co Ltd | 高強度金型用合金 |
JPH0418036A (ja) * | 1990-05-09 | 1992-01-22 | Kurita Water Ind Ltd | 薬剤組成物 |
KR19990022419A (ko) * | 1995-06-05 | 1999-03-25 | 미키오 이시마루 | 판독 부재 대기시간 감소 장치 및 방법 |
KR20020088930A (ko) * | 2001-05-22 | 2002-11-29 | 냉열 주식회사 | 항온항습기 또는 항온항습조용 제어기 |
KR20060078063A (ko) * | 2004-12-30 | 2006-07-05 | 재단법인서울대학교산학협력재단 | 전자 열전모듈에 의한 지능형 항온의복 |
Non-Patent Citations (5)
Title |
---|
공개실용신안 제1999-0022419호 |
공개특허 제2002-0088930호 |
공개특허 제2006-0078063호 |
등록실용신안 제0320427호 |
등록실용신안 제0418036호 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
WO2009046955A3 (en) | Device for controlling temperature of an optical element | |
KR200435565Y1 (ko) | 메모리 모듈 온도 검사 장치 | |
US20200191541A1 (en) | Articulating probe head for measuring system | |
EP1988760A4 (en) | TEMPERATURE CONTROL DEVICE AND ADMINISTRATIVE DEVICE, SYSTEM AND METHOD THEREFOR | |
TW201546423A (zh) | 用於本質發光二極體加熱之測量之方法及系統 | |
WO2007044951A3 (en) | System and device for heating or cooling shape memory surgical devices | |
US4899920A (en) | Apparatus for removal and installing electronic components with respect to a substrate | |
KR100775442B1 (ko) | 전자부품 성능검사를 위한 항온 제어 장치 | |
MX2017006816A (es) | Control ambiental para accionamiento de voltaje medio. | |
JP2017207473A (ja) | 材料試験用恒温槽および材料試験機 | |
US6722008B2 (en) | Tool assembly unit | |
JP2008277831A (ja) | プローバ装置およびその操作方法 | |
CN107430985B (zh) | 热处理装置以及热处理方法 | |
KR101736695B1 (ko) | 베어링 조립분해장치 | |
CN202649845U (zh) | 一种实验动物用手术平台温控装置 | |
JP6881738B2 (ja) | 熱貫流特性測定方法および断熱性能評価方法 | |
JP2007168090A (ja) | スクリーン印刷装置 | |
CN109613414A (zh) | 可控制高温环境老化寿命试验箱温度变化过程的方法及系统 | |
CN215264494U (zh) | 一种温控器自动热调炉 | |
CN108760807A (zh) | 一种室外机柜传热系数测试系统和方法 | |
CN111725100B (zh) | 预热装置及预热方法 | |
CN219870921U (zh) | 一种沥青材料紫外老化试验装置 | |
CN202174318U (zh) | 新型红外线返修台 | |
CN111999630A (zh) | 一种功率器件工作结温的测试方法及系统 | |
JP4938552B2 (ja) | 加熱装置および加熱装置の制御方法 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A201 | Request for examination | ||
E902 | Notification of reason for refusal | ||
E701 | Decision to grant or registration of patent right | ||
GRNT | Written decision to grant | ||
LAPS | Lapse due to unpaid annual fee |