KR100768780B1 - An drive circuit for aging test of lcd module - Google Patents

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Abstract

A driver circuit for an aging test of an LCD module is provided to minimize the cost for manufacturing and applying a driver circuit by omitting configuration of a pattern generator in a driver circuit. A clock generator(30) generates a driving clock for driving a timing controller(210). A TTL(Transistor Transistor Logic)/LVDS(Low Voltage Differential Signalling) converter(40) converts a driving clock of a TTL signal type into an LVDS signal. An external connector(60) receives LVDS signal image data inputted from an external device(100). An LVDS buffer(70) compensates for and outputs the image data inputted from the external connector. The driving clock and the compensated image data inputted from the TTL/LVDS converter and the LVDS buffer are transmitted to the timing controller of an LCD module(200) through a connector(80). When the driving clock is received, the timing controller displays an aging pattern stored in a memory(220) included in the LCD module on an LCD unit using an output clock signal. When the image data is inputted, the timing controller displays the image data on the LCD unit using the output clock signal.

Description

액정모듈용 에이징 테스트 구동장치{An Drive Circuit For Aging Test of LCD Module}Aging Test Drive for LCD Modules {An Drive Circuit For Aging Test of LCD Module}

도 1은 종래 액정모듈용 에이징 테스트 구동장치의 구성을 도시한 블록도이다.1 is a block diagram showing the configuration of a conventional aging test driving device for a liquid crystal module.

도 2는 본 발명에 따른 액정모듈용 에이징 테스트 구동장치의 구성을 도시한 블록도이다.2 is a block diagram showing the configuration of an aging test driving apparatus for a liquid crystal module according to the present invention.

도 3은 LVDS 버퍼부의 내부 회로 구성을 도시한 것이다.3 shows the internal circuit configuration of the LVDS buffer unit.

<주요도면부호에 관한 설명><Description of main drawing code>

10 : 전원부 20 : 제어부10: power supply unit 20: control unit

30 : 클럭 발생부 40 : TTL/LVDS 변환부30: clock generator 40: TTL / LVDS converter

50 : 멀티플렉서 60 : 외부 커넥터50: multiplexer 60: external connector

70 : LVDS 버퍼부 80 : 커넥터70: LVDS buffer unit 80: connector

100 : 외부기기 200 : 액정 모듈100: external device 200: liquid crystal module

210 : 타이밍 컨트롤러 220 : 메모리(ROM)210: timing controller 220: memory (ROM)

230 : 액정 표시부230: liquid crystal display

본 발명은 액정모듈용 에이징 테스트 구동장치에 관한 것으로서, 보다 상세하게는 액정모듈의 내부 메모리에 에이징 패턴을 저장하고 구동장치에서 구동 클럭을 액정모듈 내부의 타이밍 컨트롤러로 인가하여 타이밍 컨트롤러가 내부 메모리에 저장된 에이징 패턴을 출력 클럭에 실어 디스플레이시키는 방식으로 에이징 테스트를 수행하도록 함으로써 종래 구동장치 내부의 패턴 발생기의 구성을 생략할 수 있도록 하는 장치에 관한 것이다.The present invention relates to an aging test driver for a liquid crystal module, and more particularly, to store an aging pattern in an internal memory of a liquid crystal module and to apply a driving clock to a timing controller inside the liquid crystal module so that the timing controller is connected to the internal memory. The present invention relates to an apparatus for omitting the configuration of a pattern generator in a conventional driving device by performing an aging test by displaying a stored aging pattern on an output clock.

액정표시장치(LCD : Liquid Crystal Display)는 제조가 완료되면 공정 검사를 거친 후 일정 시간 동안 가혹 조건하에서 디스플레이 특성을 검사하는 에이징(Aging)을 거친 후 출하된다.Liquid crystal displays (LCDs) are shipped after undergoing an aging process to inspect display characteristics under harsh conditions for a certain period of time after a process inspection after manufacturing is completed.

통상적으로 에이징은 액정모듈이 장착된 팔레트가 고온의 환경을 제공하는 에이징 챔버 내에서 일정 시간 체류하면서 수행되며, 팔레트 상에는 액정모듈을 구동하기 위한 구동회로가 내장되어 있다.In general, aging is performed while the pallet in which the liquid crystal module is mounted stays in the aging chamber for providing a high temperature environment, and a driving circuit for driving the liquid crystal module is built in the pallet.

이러한 구동회로가 도 1에 도시되어 있다. This drive circuit is shown in FIG.

도 1에 도시된 바와 같이, 종래 액정모듈용 에이징 테스트 구동장치는 에이징 패턴을 발생하는 패턴 발생기(500), 필요한 구동 전압을 발생하는 전압 발생부(600), 패턴 발생기(500)를 제어하기 위한 신호 및 전압 발생부(600)를 제어하기 위한 신호를 출력하는 제어 패널(300), 패턴 발생기(500)로 클럭을 제공하는 클럭 발생부(400) 및 전압 발생부(600)의 소자 구동 전압을 입력받아 패턴 발생기(500)의 출력 신호를 LCD 모듈(800)로 전송하는 버퍼부(700)를 포함하여 구성된다.As shown in FIG. 1, the conventional aging test driver for a liquid crystal module includes a pattern generator 500 for generating an aging pattern, a voltage generator 600 for generating a required driving voltage, and a pattern generator 500 for controlling the pattern generator 500. The device driving voltages of the control panel 300 for outputting a signal for controlling the signal and voltage generator 600, the clock generator 400 for providing a clock to the pattern generator 500, and the voltage generator 600 are measured. It is configured to include a buffer unit 700 for receiving the input signal output of the pattern generator 500 to the LCD module (800).

최근에는 액정표시장치의 규격이 점차 풀 스케일을 제공하는 방향으로 변경되고 있으며, 그에 따라 에이징 테스트에서도 패턴 발생기(500)에서 발생되는 에이징 패턴도 풀 스케일을 제공하도록 요구되고 있다.Recently, the standard of the liquid crystal display device is gradually changed to provide a full scale. Accordingly, the aging pattern generated by the pattern generator 500 is also required to provide full scale in an aging test.

그러나, 패턴 발생기(500)가 풀 스케일을 제공하도록 업그레이드되기 위해서는 2배의 추가적인 라인이 필요하고 내부 회로가 복잡해지므로 업그레이드시 과다한 비용이 소요되고 불량율이 증가하여 가동률이 저하되는 한편 운영 비용이 증가하는 문제점이 있다.However, because the pattern generator 500 is upgraded to provide full scale, twice as many additional lines are required and the internal circuit becomes complicated, which leads to excessive cost and failure rate due to an increase in the defective rate and an increase in operating costs. There is a problem.

또한, 종래 액정모듈용 에이징 테스트 구동장치는 외부 기기로부터 입력 테스트를 위해 이미지 데이터가 입력되는 경우 LVDS 신호 형태의 이미지 데이터를 TTL 신호로 변환한 후 다시 LVDS 신호로 변환되어 액정모듈로 전송되도록 되어 있어 내부 구조가 복잡하게 되는 문제점이 있다.In addition, the conventional aging test driving device for the liquid crystal module is to convert the image data in the form of LVDS signal to TTL signal and then to convert to the LVDS signal to be transmitted to the liquid crystal module when the image data is input from the external device for the input test There is a problem that the internal structure is complicated.

본 발명은 상기와 같은 문제점을 해결하기 위해 안출된 것으로서, 본 발명의 목적은 액정모듈의 내부 메모리에 에이징 패턴을 저장하고 구동장치에서 구동 클럭을 액정모듈 내부의 타이밍 컨트롤러로 인가하여 타이밍 컨트롤러가 내부 메모리에 저장된 에이징 패턴을 출력 클럭에 실어 디스플레이시키는 방식으로 에이징 테스트 를 수행하도록 함으로써 종래 구동장치 내부의 패턴 발생기의 구성을 생략할 수 있어 구동회로 제조 및 운영 비용을 최소화할 수 있도록 하는 것이다.The present invention has been made to solve the above problems, an object of the present invention is to store the aging pattern in the internal memory of the liquid crystal module and to apply a driving clock to the timing controller inside the liquid crystal module in the drive device timing controller is internal By performing an aging test by displaying an aging pattern stored in a memory on an output clock, a configuration of a pattern generator in a conventional driving device can be omitted, thereby minimizing driving circuit manufacturing and operating costs.

본 발명의 다른 목적은 외부 기기로부터 입력되는 이미지 데이터를 별도의 변환처리를 거치지 않고 액정 모듈로 바이패스시킴으로써 에이징 공정 외 입력 테스트, 최종 테스트 등의 기타 디스플레이 특성 검사까지 하나의 구동장치에서 수행가능하도록 하는 것이다.Another object of the present invention is to bypass the image data input from the external device to the liquid crystal module without undergoing a separate conversion process so that it is possible to perform other display characteristics inspection such as input test, final test, etc. in addition to the aging process. It is.

상기와 같은 목적을 달성하기 위한 본 발명의 일측면에 따르면, 상기 타이밍 컨트롤러를 구동하는 구동 클럭을 발생시키는 클럭 발생부, 상기 클럭 발생부에서 생성된 TTL 신호 방식의 구동 클럭을 LVDS 신호 방식으로 변환하는 TTL/LVDS 변환부, 외부기기로부터 입력되는 LVDS 신호 방식의 이미지 데이터가 입력되는 외부 커넥터, 상기 외부 커넥터로부터 입력된 이미지 데이터를 보정하여 출력하는 LVDS 버퍼부, 상기 TTL/LVDS 변환부 및 LVDS 버퍼부로부터 입력되는 구동 클럭 및 보정된 이미지 데이터를 상기 액정모듈의 타이밍 컨트롤러로 전송하기 위한 커넥터 및 상기 클럭 발생부 또는 LVDS 버퍼부를 선택적으로 구동하도록 제어하는 제어부를 포함하되, 상기 타이밍 컨트롤러는 상기 구동 클럭이 수신되는 경우 액정모듈에 구비된 메모리에 저장된 에이징 패턴을 출력 클럭 신호에 실어 액정 표시부로 디스플레이시키고, 상기 이미지 데이터가 입력되는 경우 상기 이미지 데이터를 출력 클럭 신호에 실어 액정 표시부로 디스플레이시키는 것을 특징으로 하는 액정모듈용 에이 징 테스트 구동장치가 제공된다.According to an aspect of the present invention for achieving the above object, a clock generator for generating a driving clock for driving the timing controller, converting the drive clock of the TTL signal method generated by the clock generator to LVDS signal method A TTL / LVDS conversion unit, an external connector to which image data of an LVDS signal type input from an external device is input, an LVDS buffer unit to correct and output image data input from the external connector, the TTL / LVDS conversion unit and an LVDS buffer And a control unit for selectively driving the driving clock and the corrected image data input from the unit to a timing controller of the liquid crystal module, and a controller for selectively driving the clock generation unit or the LVDS buffer unit, wherein the timing controller includes the driving clock. Is received, the aging pad stored in the memory provided in the liquid crystal module The output and display on the liquid crystal display unit put in the clock signal, when the image data is input that this ranging test driving device for a liquid crystal module, comprising a step of displaying the image data on the liquid crystal display unit put in the output clock signal is provided.

여기서, 상기 제어부의 제어신호에 기초하여 상기 타이밍 컨트롤러의 사양별 구동 전압을 상기 타이밍 컨트롤러로 인가하는 멀티플렉서가 더 포함되는 것이 바람직하다.The multiplexer may further include a multiplexer configured to apply a driving voltage for each specification of the timing controller to the timing controller based on a control signal of the controller.

그리고, 상기 제어부는 I2C 통신 규격의 형태를 갖고, 상기 액정모듈의 메모리에 저장된 에이징 패턴의 디스플레이 시간, 디스플레이 순서, 명암 중 적어도 어느 하나를 제어하기 위한 디스플레이 제어신호를 상기 타이밍 컨트롤러로 전송하는 것이 보다 바람직하다.The control unit has a form of an I 2 C communication standard, and transmits a display control signal for controlling at least one of display time, display order, and contrast of an aging pattern stored in a memory of the liquid crystal module to the timing controller. It is more preferable.

이하에서는 첨부된 도면을 참조하여 본 발명의 바람직한 일 실시예를 상세하게 설명하기로 한다. Hereinafter, with reference to the accompanying drawings will be described in detail a preferred embodiment of the present invention.

도 2는 본 발명에 따른 액정모듈용 에이징 테스트 구동장치의 구성을 도시한 블록도이고, 도 3은 LVDS 버퍼부의 내부 회로 구성을 도시한 것이다.FIG. 2 is a block diagram showing the configuration of an aging test driver for a liquid crystal module according to the present invention, and FIG. 3 shows the internal circuit configuration of an LVDS buffer unit.

도 2에 도시된 바와 같이, 본 발명에 따른 액정모듈용 에이징 테스트 구동장치는 전원부(10), 제어부(20), 클럭 발생부(30), TTL/LVDS 변환부(40), 멀티플렉서(50), 외부 커넥터(60), LVDS 버퍼부(70) 및 커넥터(80)를 포함하여 구성된다.As shown in FIG. 2, the aging test driving apparatus for the liquid crystal module according to the present invention includes a power supply unit 10, a control unit 20, a clock generator 30, a TTL / LVDS conversion unit 40, and a multiplexer 50. , An external connector 60, an LVDS buffer unit 70, and a connector 80.

전원부(10)는 제어부(20) 및 액정모듈(200)의 타이밍 컨트롤러(210)로 구동 전원을 공급한다. 액정모듈(200)의 타이밍 컨트롤러(210)로 공급되는 전원은 내부 전원으로 공급될 수도 있고 외부 커넥터(60)를 통해 공급된 외부 전원일 수도 있다. 이를 위해, 전원부(10)는 내부 전원과 외부 전원을 스위칭하여 선택적으로 출력할 수 있도록 되어 있는 것이 바람직하다.The power supply unit 10 supplies driving power to the control unit 20 and the timing controller 210 of the liquid crystal module 200. The power supplied to the timing controller 210 of the liquid crystal module 200 may be supplied as internal power or may be external power supplied through the external connector 60. To this end, the power supply unit 10 is preferably configured to selectively output by switching the internal power supply and the external power supply.

제어부(20)는 클럭 발생부(30) 또는 LVDS 버퍼부(70)를 선택적으로 구동하도록 제어하고, 멀티플렉서(50)가 현재 접속된 액정모듈(200)의 사양에 따라 적절한 구동전압을 타이밍 컨트롤러(210)로 인가하도록 제어한다. 제어부(20)는 통상의 경우에는 클럭 발생부(30) 및 멀티플렉서(50)를 구동하기 위한 인에이블 신호를 클럭 발생부(30) 및 멀티플렉서(50)로 인가하여 액정모듈(200) 내부의 메모리인 ROM(220)에 저장된 에이징 패턴이 액정 표시부(230)에 디스플레이되도록 제어하고, 외부 이미지가 입력되는 경우에는 클럭 발생부(30) 및 멀티플렉서(50)를 디스에이블시키고 LVDS 버퍼부(70)에 인에이블 신호를 인가하여 외부기기(100)로부터 입력되는 이미지 데이터가 액정 표시부(230)에 디스플레이되도록 제어한다. 또한, 제어부(20)는 I2C 통신 규격을 통해 타이밍 컨트롤러(210)와 통신이 가능하며, 액정모듈(200)의 메모리인 ROM(220)에 저장된 에이징 패턴이 디스플레이되는 순서, 디스플레이 시간, 명암 중 적어도 어느 하나를 제어하기 위한 디스플레이 제어신호를 타이밍 컨트롤러(210)로 전송한다.The controller 20 controls the clock generator 30 or the LVDS buffer 70 to be selectively driven, and controls the appropriate driving voltage according to the specification of the liquid crystal module 200 to which the multiplexer 50 is currently connected. 210 to be applied. The controller 20 normally applies an enable signal for driving the clock generator 30 and the multiplexer 50 to the clock generator 30 and the multiplexer 50 so that the memory inside the liquid crystal module 200 may be controlled. The aging pattern stored in the ROM 220 is controlled to be displayed on the liquid crystal display 230, and when an external image is input, the clock generator 30 and the multiplexer 50 are disabled and the LVDS buffer 70 is turned on. The enable signal is applied to control the image data input from the external device 100 to be displayed on the liquid crystal display 230. In addition, the controller 20 may communicate with the timing controller 210 through the I 2 C communication standard, and display the order, display time, contrast of the aging pattern stored in the ROM 220 which is a memory of the liquid crystal module 200. The display control signal for controlling at least one of the two is transmitted to the timing controller 210.

클럭 발생부(30)는 제어부(20)의 인에이블 신호에 의해 구동되어 에이징 모드 개시를 위한 클럭 신호를 생성한다. 상술한 바와 같이, 외부 이미지 데이터를 디스플레이하는 경우에는 클럭 발생부(30)는 비활성화된다.The clock generator 30 is driven by the enable signal of the controller 20 to generate a clock signal for starting the aging mode. As described above, when displaying external image data, the clock generator 30 is deactivated.

TTL/LVDS 변환부(40)는 클럭 발생부(30)에서 생성된 TTL(Transistor Transistor Logic) 신호를 액정모듈(200)의 처리신호 형식인 LVDS(Low Voltage Differential Signalling) 신호로 변환하여 액정모듈(200)의 타이밍 컨트롤러(210)로 전송한다.The TTL / LVDS converter 40 converts a TTL (Transistor Transistor Logic) signal generated by the clock generator 30 into a Low Voltage Differential Signaling (LVDS) signal, which is a processing signal format of the liquid crystal module 200, to convert a liquid crystal module ( To the timing controller 210 of the controller 200.

멀티플렉서(50)는 에이징 모드에서 타이밍 컨트롤러(210)의 규격에 맞는 인에이블 전압을 인가하기 위한 것이다. 액정모듈(200)은 제조사, 기종 등에 따라 타이밍 컨트롤러(210)를 구동하는 인에이블 전압이 3.3V, 2.5V, 0V 등으로 상이하다. 따라서, 제어부(20)는 외부의 PC(미도시) 등으로부터 검사대상 액정모듈의 사양 정보를 미리 수신하여 그에 상응하는 제어신호를 멀티플렉서(50)로 인가하며, 멀티플렉서(50)는 제어신호에 기초하여 검사대상 액정모듈의 규격에 맞는 인에이블 전압을 타이밍 컨트롤러(210)로 인가한다. 상술한 바와 같이, 외부 이미지 데이터를 디스플레이하는 경우에는 멀티플렉서(50)는 비활성화된다.The multiplexer 50 is for applying an enable voltage that meets the standard of the timing controller 210 in the aging mode. The liquid crystal module 200 may have an enable voltage for driving the timing controller 210 according to a manufacturer, a model, or the like as 3.3V, 2.5V, 0V, or the like. Therefore, the controller 20 receives specification information of the liquid crystal module to be inspected from an external PC (not shown) in advance and applies a control signal corresponding thereto to the multiplexer 50, and the multiplexer 50 is based on the control signal. Then, the enable voltage meeting the standard of the liquid crystal module to be inspected is applied to the timing controller 210. As described above, when displaying external image data, the multiplexer 50 is deactivated.

외부 커넥터(60)는 외부 기기(100)가 접속되는 부분으로서 외부 커넥터(60)를 통해 외부 기기(100)로부터 액정모듈(200)의 디스플레이 특성을 보다 정밀하게 검사하기 위한 이미지 데이터가 LVDS 신호의 형태로 입력된다.The external connector 60 is a portion to which the external device 100 is connected, and the image data for more precisely inspecting the display characteristics of the liquid crystal module 200 from the external device 100 through the external connector 60 includes the LVDS signal. It is entered in the form.

LVDS 버퍼부(70)는 외부 기기(100)로부터 입력된 LVDS 형태의 이미지 데이터를 보정하여 타이밍 컨트롤러(210)로 출력한다. LVDS 버퍼부(70)는 도 3에 도시된 바와 같이, 입력된 신호가 하이(H)인 경우에는 그대로 하이(H)로 출력하고 입력된 신호가 로우(L)인 경우에는 그대로 로우(L)로 출력시키는 버퍼로서 데이터 전송 중에 신호가 왜곡되어 신호의 레벨이 감소하거나 주기가 변형된 경우 LVDS 버퍼 부(70)를 통과하면서 원래의 레벨 및 주기로 보정된다.The LVDS buffer unit 70 corrects the LVDS type image data input from the external device 100 and outputs the image data to the timing controller 210. As shown in FIG. 3, the LVDS buffer unit 70 outputs high H as it is when the input signal is high (H), and low L as it is when the input signal is low (L). If the signal is distorted during data transmission and the signal level is decreased or the period is deformed, the buffer is outputted to the buffer.

커넥터(80)는 본 발명에 따른 구동장치와 액정모듈(200)을 접속하기 위한 접속장치이다.The connector 80 is a connection device for connecting the driving device and the liquid crystal module 200 according to the present invention.

이하에서는 상기 도면을 참조하여 본 발명에 따른 액정모듈용 에이징 테스트 구동장치의 동작을 설명하기로 한다.Hereinafter, an operation of the aging test driving apparatus for a liquid crystal module according to the present invention will be described with reference to the drawings.

에이징Aging 모드mode

에이징 모드에서 제어부(20)는 인에이블 신호를 클럭 발생부(30) 및 멀티플렉서(50)로 인가하여 클럭 발생부(30) 및 멀티플렉서(50)를 활성화시키고 LVDS 버퍼부(70)는 비활성화시킨다.In the aging mode, the controller 20 applies the enable signal to the clock generator 30 and the multiplexer 50 to activate the clock generator 30 and the multiplexer 50 and deactivate the LVDS buffer 70.

클럭 발생부(30)에서 생성된 클럭 신호는 TTL/LVDS 변환부(40)에서 LVDS 신호로 변환된 후 커넥터(80)를 통해 액정모듈(200)의 타이밍 컨트롤러(210)에 인가된다. The clock signal generated by the clock generator 30 is converted into an LVDS signal by the TTL / LVDS converter 40 and then applied to the timing controller 210 of the liquid crystal module 200 through the connector 80.

한편, 멀티플렉서(50)는 제어부(20)로부터 인가된 제어신호에 기초하여 3.3V, 2.5V, 0V 중 어느 하나의 전압을 타이밍 컨트롤러(210)에 인에이블 신호로 인가한다.On the other hand, the multiplexer 50 applies the voltage of any one of 3.3V, 2.5V, 0V to the timing controller 210 as an enable signal based on the control signal applied from the control unit 20.

타이밍 컨트롤러(210)는 상기 클럭 신호 및 인에이블 신호를 수신하면 ROM(220)에 미리 저장된 에이징 패턴을 출력 클럭 신호에 실어 액정 표시부(230)로 디스플레이시킨다.When the timing controller 210 receives the clock signal and the enable signal, the timing controller 210 loads the aging pattern stored in the ROM 220 on the output clock signal and displays the aging pattern on the liquid crystal display 230.

상술한 바와 같이, 액정 표시부(230)에 출력되는 에이징 패턴의 순서, 디스플레이 시간, 명암의 정도 등은 제어부(20)에 의해 가변될 수 있다.As described above, the order of the aging pattern output to the liquid crystal display 230, the display time, the degree of contrast, and the like may be varied by the controller 20.

입력 테스트 Input test 모드mode (또는 최종 테스트 모드)(Or final test mode)

입력 테스트 모드(또는 최종 테스트 모드)에서 제어부(20)는 인에이블 신호를 LVDS 버퍼부(70)로 인가하여 LVDS 버퍼부(70)를 활성화시키고 클럭 발생부(30) 및 멀티플렉서(50)는 비활성화시킨다.In the input test mode (or the final test mode), the control unit 20 applies an enable signal to the LVDS buffer unit 70 to activate the LVDS buffer unit 70, and the clock generator 30 and the multiplexer 50 are deactivated. Let's do it.

외부 기기(100)로부터 입력된 이미지 데이터는 LVDS 버퍼부(70)에서 신호 레벨 및 주기 등이 보정된 후 커넥터(80)를 통해 액정모듈(200)의 타이밍 컨트롤러(210)로 출력된다. 상술한 바와 같이, 외부 기기(100)로부터 입력되는 이미지 데이터는 LVDS 신호이므로 별도의 변환 처리 없이 액정모듈(200)로 전송될 수 있다. The image data input from the external device 100 is output to the timing controller 210 of the liquid crystal module 200 through the connector 80 after the signal level and the period are corrected in the LVDS buffer unit 70. As described above, since the image data input from the external device 100 is an LVDS signal, it may be transmitted to the liquid crystal module 200 without a separate conversion process.

타이밍 컨트롤러(210)는 상기 구동 전원 및 이미지 데이터를 수신하면 이미지 데이터를 출력 클럭 신호에 실어 액정 표시부(230)로 디스플레이시킨다.When the timing controller 210 receives the driving power and the image data, the timing controller 210 displays the image data on the output clock signal and displays the image data on the liquid crystal display 230.

상기와 같은 본 발명에 따르면, 액정모듈의 내부 메모리에 에이징 패턴을 저장하고 구동장치에서 구동 클럭을 액정모듈 내부의 타이밍 컨트롤러로 인가하여 타이밍 컨트롤러가 내부 메모리에 저장된 에이징 패턴을 출력 클럭에 실어 디스플레이시키는 방식으로 에이징 테스트를 수행하도록 함으로써 종래 구동장치 내부의 패 턴 발생기의 구성을 생략할 수 있어 구동회로 제조 및 운영 비용을 최소화할 수 있는 효과가 있다. According to the present invention as described above, the aging pattern is stored in the internal memory of the liquid crystal module and the driving device applies the driving clock to the timing controller inside the liquid crystal module so that the timing controller displays the aging pattern stored in the internal memory on the output clock. By performing the aging test in a manner, it is possible to omit the configuration of the pattern generator in the conventional driving device, thereby minimizing the driving circuit manufacturing and operating costs.

또한, 외부 기기로부터 입력되는 이미지 데이터를 별도의 변환처리를 거치지 않고 액정 모듈로 바이패스시킴으로써 에이징 공정 외 입력 테스트, 최종 테스트 등의 기타 디스플레이 특성 검사까지 하나의 구동장치에서 수행가능하도록 하는 효과도 있다.In addition, by bypassing the image data input from the external device to the liquid crystal module without a separate conversion process, it is also possible to perform other display characteristics such as input test, final test, etc., other than the aging process, in one driving device. .

비록 본 발명이 상기 언급된 바람직한 실시예와 관련하여 설명되어졌지만, 발명의 요지와 범위로부터 벗어남이 없이 다양한 수정이나 변형을 하는 것이 가능하다. 따라서 첨부된 특허청구의 범위는 본 발명의 요지에서 속하는 이러한 수정이나 변형을 포함할 것이다.Although the present invention has been described in connection with the above-mentioned preferred embodiments, it is possible to make various modifications or variations without departing from the spirit and scope of the invention. Accordingly, the appended claims will cover such modifications and variations as fall within the spirit of the invention.

Claims (3)

액정모듈의 타이밍 컨트롤러에 접속되어 액정 모듈의 에이징 테스트를 구동하는 장치에 있어서,In the apparatus connected to the timing controller of the liquid crystal module to drive the aging test of the liquid crystal module, 상기 타이밍 컨트롤러를 구동하는 구동 클럭을 발생시키는 클럭 발생부;A clock generator which generates a driving clock for driving the timing controller; 상기 클럭 발생부에서 생성된 TTL 신호 방식의 구동 클럭을 LVDS 신호 방식으로 변환하는 TTL/LVDS 변환부;A TTL / LVDS converter converting the driving clock of the TTL signal method generated by the clock generator into an LVDS signal method; 외부기기로부터 입력되는 LVDS 신호 방식의 이미지 데이터가 입력되는 외부 커넥터;An external connector to which image data of an LVDS signal type input from an external device is input; 상기 외부 커넥터로부터 입력된 이미지 데이터를 보정하여 출력하는 LVDS 버퍼부;An LVDS buffer unit correcting and outputting image data input from the external connector; 상기 TTL/LVDS 변환부 및 LVDS 버퍼부로부터 입력되는 구동 클럭 및 보정된 이미지 데이터를 상기 액정모듈의 타이밍 컨트롤러로 전송하기 위한 커넥터; 및A connector for transmitting a driving clock and corrected image data input from the TTL / LVDS conversion unit and the LVDS buffer unit to a timing controller of the liquid crystal module; And 상기 클럭 발생부 또는 LVDS 버퍼부를 선택적으로 구동하도록 제어하는 제어부를 포함하되,A control unit for controlling to selectively drive the clock generator or LVDS buffer unit, 상기 타이밍 컨트롤러는 상기 구동 클럭이 수신되는 경우 액정모듈에 구비된 메모리에 저장된 에이징 패턴을 출력 클럭 신호에 실어 액정 표시부로 디스플레이시키고, 상기 이미지 데이터가 입력되는 경우 상기 이미지 데이터를 출력 클럭 신호에 실어 액정 표시부로 디스플레이시키는 것을 특징으로 하는 액정모듈용 에이징 테스트 구동장치.When the driving clock is received, the timing controller displays an aging pattern stored in a memory included in a liquid crystal module on an output clock signal and displays the aging pattern on an output clock signal. When the image data is input, the timing controller loads the image data on an output clock signal. An aging test drive device for a liquid crystal module, characterized by displaying on a display unit. 제 1 항에 있어서,The method of claim 1, 상기 제어부의 제어신호에 기초하여 상기 타이밍 컨트롤러의 사양별 구동 전압을 상기 타이밍 컨트롤러로 인가하는 멀티플렉서가 더 포함되는 것을 특징으로 하는 액정모듈용 에이징 테스트 구동장치.And a multiplexer for applying a driving voltage for each specification of the timing controller to the timing controller based on a control signal of the controller. 제 1 항에 있어서,The method of claim 1, 상기 제어부는 I2C 통신 규격의 형태를 갖고, 상기 액정모듈의 메모리에 저장된 에이징 패턴의 디스플레이 시간, 디스플레이 순서, 명암 중 적어도 어느 하나를 제어하기 위한 디스플레이 제어신호를 상기 타이밍 컨트롤러로 전송하는 것을 특징으로 하는 액정모듈용 에이징 테스트 구동장치.The controller has a form of an I 2 C communication standard, and transmits a display control signal for controlling at least one of display time, display order, and contrast of an aging pattern stored in a memory of the liquid crystal module to the timing controller. Aging test drive device for liquid crystal module.
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