KR100764868B1 - 필름선량계를 이용한 전자빔 조사량 자동측정 장치 및 이장치를 사용하여 전자빔 조사품질을 평가하는 방법 - Google Patents
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Abstract
Description
Claims (7)
- 고 에너지, 고출력을 갖는 전자빔가속기에서 방출되는 전자빔을 멸균을 위해 제품(일회용 의료기기 등)에 조사시 피조사체에 흡수되는 흡수선량을 측정하는 장치에 있어서,전자빔 조사기로부터 조사된 방사선량을 측정하는 필름선량계와;조사 공정이 진행되는 동안 필름선량계를 수납하여 항상 기준 위치에서 전자빔 조사가 이루어지고 측정이 실시되는 동안 필름선량계를 지지하는 지지체와;본 지지체를 로딩 위치, 전자빔 조사 영역, 언로딩 위치까지 연속적으로 운반할 수 있는 운반장치와;상기 필름선량계의 광밀도 변화와 같은 영상을 디지털 신호로 변환함으로써 기억매체에 저장할 수 있는 CCD(Charge-Coupled Device) 카메라 등과 같은 영상획득장치와;상기 필름선량계의 일련번호를 확인하여 그 결함 및 유효성(availability)을 검증하고 상기 영상획득장치로부터 전송된 신호를 분석하여 필름선량계의 흡수선량을 계산하고 공정기준에 적합한지를 판단할 수 있는 제어기;를 포함하여 구성되고,상기 제어기는 영상획득장치로부터 전달된 디지털 영상데이터를 통해 필름선량계의 일련번호를 확인하는 수단과, 필름선량계 배치(batch) 별 교정함수를 포함하여 본 함수와 광밀도데이터를 이용하여 흡수선량을 계산하는 수단과, 계산된 결과가 공정기준조건을 만족하는지를 판단하는 수단과, 판단여부에 따라 공정절차를 제어하는 수단;을 포함하여 구성한 것을 특징으로 하는 필름선량계를 이용한 전자빔 조사량 자동측정 장치.
- 제 1항에 있어서,상기 영상획득장치는 방사선 조사에 의한 광밀도 변화를 측정하기 위해 상기 필름선량계를 수납한 지지체가 로딩 또는 언로딩 위치에 왔을 때 이에 대한 영상을 획득한 후 이에 대한 정보를 컴퓨터 등에서 처리 가능한 형태로 변환하도록 로딩위치와 언로딩 위치에 각각 설치된 CCD 카메라로 구성한 것을 특징으로 하는 필름선량계를 이용한 전자빔 조사량 자동측정 장치.
- 삭제
- 의료기기나 위생용품 등의 멸균 공정에서 방사선을 조사하는 방사선가공 공정에서 조사된 피조사체에 흡수되는 방사선량을 측정하는 방법에 있어서,전자빔 조사 공정이 초기화되는 전자빔 공정 시작 단계(S201)와;전자빔 조사 공정에서 처리되는 제품 사양(예: 제품 종류, 제품 모델, 고객 정보 등)이 기록되는 제품 사양 기록 단계(S202)와;제품별 전자빔 조사 조건을 입력하여 제어기에서 이를 근거로 하여 공정을 제어하도록 하는 조사조건 입력단계(S203)와;조사조건 입력이 적절한지 판단하여 적절치 않으면 조사조건입력 단계로 되돌아가는 조사조건 입력 적절성 판단단계(S204)와;제 1항 또는 2항 중 어느 한 항에 따른 필름선량계를 이용한 전자빔 조사량 자동측정 장치를 구비한 후, 제품에 전자빔을 조사하기 전에 필름선량계를 이용한 공정 관리 선량을 측정하는 제 1 필름선량계 측정공정단계(S205)와;상기 제 1 선량계 측정공정 단계(S205)가 완료되면 조사될 수량만큼의 제품을 전자빔 조사 영역을 통과시켜 전자빔 처리를 실행하는 제품 전자빔 조사 단계(S206)와:조사가 완료되면 조사조건 입력단계(S203)에서 입력된 조사 조건을 근거로 하여 제품의 한 면만을 조사할 것인지 반대 면을 포함한 양면을 조사할 것인지를 판단하는 단면조사 판단 단계(S207)와;요구 선량이 일회 조사할 수 있는 선량보다 큰 경우 여러 차례 나눠서 조사해야 하는데 나눠서 조사한 조사회수가 요구조건을 만족하는지를 판단하는 조사회수 적절성 판단단계(S209)와;제 1 필름선량계 측정공정단계(S205) 이후 공정상 어떠한 변동이 발생하였는지를 최종 확인하기 위해 필름선량계를 이용하여 흡수선량을 재측정하는 제 2 필름선량계 측정공정단계(S210)와;공정에 관련된 내역을 자료화하는 공정내역 기록단계(S211)와;투입된 제품에 대한 전자빔 조사 공정을 마무리하는 전자빔 공정 종료단계(S212)로 이루어지되,상기 단면조사 판단 단계(S207)에서 양면조사가 필요한 제품은 전자빔으로 조사되는 제품 면을 반전시키기 위해 제품을 뒤집는 제품조사방향 반전단계(S208)를 거쳐 제 1 필름선량계 측정 공정 단계(S205)로 되돌아 감으로써 전자빔에 의한 조사선량을 재차 측정하고.상기 조사회수 적절성 판단단계(S209)에서 조사 회수가 요구 조건을 만족시키지 못한다면 제품전자빔 조사(S206)단계로 되돌아가 추가로 전자빔을 조사하도록 이루어진 것을 특징으로 필름선량계를 이용한 전자빔 조사량 자동측정 장치를 사용하여 전자빔 조사품질을 평가하는 방법.
- 제 4항에 있어서,상기 제 1 필름선량계 측정공정 단계(S205) 또는 제 2 필름선량계 측정공정 단계(S210)는,측정공정을 초기화하는 필름선량계 측정공정 시작단계(S101)와;필름선량계에 부착된 바코드 또는 인식장치를 이용해서 선량계의 배치(batch)번호나 시리얼 번호(serial number)를 확인하는 선량계 아이디(ID)확인 단계(S102)와;필름선량계가 사용가능한지를 확인하는 필름 선량계 유효 판단 단계(S103)와;필름선량계 유효 판단 단계(S103)에서 유효시 조사 전 선량계의 초기 광밀도를 측정하는 조사 전 필름선량계 측정단계(S104)와;필름선량계를 컨베이어와 같은 운반 장치에 적재하여 전자빔 조사영역을 통과시킴으로써 조사가 이뤄지는 필름선량계 전자빔 조사 단계(S106)와;전자빔에 조사된 필름선량계를 운반장치를 통해 전자빔 조사 영역에서 반출시키고 조사 전 필름선량계 측정단계(S104)에서 사용된 동일한 제원을 가지는 별도로 구비된 자동측정장치를 이용하여 광밀도를 측정하는 조사 후 필름 선량계 측정단계(S107)와;상기 절차에서 입수된 자료를 가지고 제어기에서 전자빔에 의한 방사선량을 산출하여 필름 선량계에서 측정한 방사선량이 지정된 선량범위 내에 있는지를 확인하는 측정결과 합격 판단 단계(S108)와;상기 측정결과 합격 판단단계(S108)에서 합격시 필름선량계를 이용한 측정공정을 마치는 측정공정 종료단계(S109)로 이루어지되,상기 필름선량계 유효 판단 단계(S103)에서 만일 필름선량계가 유효하지 않은 경우 운전자에게 알림메시지를 보내는 알림메시지 단계(S105)를 거쳐 필름선량계 ID확인 단계(S102)로 되돌아가는 가고,상기 측정결과 합격 판단 단계(S108)에서 계산된 흡수선량이 공정 기준을 만 족시키지 못한다면 공정 작업자에게 통지를 하는 운전자 통보 단계(S110)와; 불합격 내역을 자료로 기록하는 불합격 내역 기록 단계(S111)와; 측정결과 합격 판단 단계(S108)에서 불합격이 발생한 문제점을 해결할 때까지 조사 공정을 더 이상 진행하지 않도록 하는 공정중단 단계(S112)를 거치는 것을 특징으로 하는 필름선량계를 이용한 전자빔 조사량 자동측정 장치를 사용하여 전자빔 조사품질을 평가하는 방법.
- 제 5항에 있어서,상기 조사 전 필름 선량계 측정(S104)단계에서는 CCD 카메라로 구성되는 영상획득장치를 이용하여, 상기 단계에서 측정된 값은 선량계 제어기로 송부되어 자동 기록되는 것을 특징으로 하는 필름선량계를 이용한 전자빔 조사량 자동측정 장치를 사용하여 전자빔 조사품질을 평가하는 방법.
- 제 5항에 있어서,상기 측정결과 합격 판단 단계(S108)에서 지정된 선량범위는 공정 개시 시 공정 조건을 설정할 때 입력되는 값으로, 방사선량은 조사 전 필름선량계 측정단계(S400)의 조사 전 광밀도와 조사 후 선량계 측정단계(S107)의 조사 후 광밀도를 제어기에서 입력 값으로 받아들이고 전자빔 조사로 인해 증가된 광밀도 증분을 계 산하고, 필름 선량계 ID확인 단계(S102)에서 확인한 필름 선량계 ID 에 해당하는 배치의 교정함수, 즉 광밀도 증분과 흡수선량과의 수학적 관계를 저장매체에서 불러와서 흡수선량을 산출하는 것을 특징으로 하는 필름선량계를 이용한 전자빔 조사량 자동측정 장치를 사용하여 전자빔 조사품질을 평가하는 방법.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020060047024A KR100764868B1 (ko) | 2006-05-25 | 2006-05-25 | 필름선량계를 이용한 전자빔 조사량 자동측정 장치 및 이장치를 사용하여 전자빔 조사품질을 평가하는 방법 |
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Country Status (1)
Country | Link |
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KR (1) | KR100764868B1 (ko) |
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