KR100718968B1 - Light emitting diodes and method for manufacturing the same - Google Patents

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KR100718968B1
KR100718968B1 KR1020060009455A KR20060009455A KR100718968B1 KR 100718968 B1 KR100718968 B1 KR 100718968B1 KR 1020060009455 A KR1020060009455 A KR 1020060009455A KR 20060009455 A KR20060009455 A KR 20060009455A KR 100718968 B1 KR100718968 B1 KR 100718968B1
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강선길
김창남
김상균
이호년
김도열
신영훈
양원재
정진원
정명종
성면창
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엘지전자 주식회사
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Abstract

본 발명은 기판, 기판 상에 위치하며 두 개의 전극과 상기 두 개의 전극 사이에 형성된 유기발광층을 포함하는 픽셀 회로부, 픽셀 회로부와 이격되어 위치하며, 다수의 요철부 및 상기 요철부 상에 형성된 하나 이상의 금속층을 포함하는 배리어를 포함하는 실링부 및 실링부에 의하여 상기 기판과 합착하여 상기 픽셀 회로부를 덮는 보호부를 포함하는 전계발광소자를 제공한다.According to an embodiment of the present invention, a pixel circuit part including a substrate and an organic light emitting layer formed between the two electrodes and the two electrodes is disposed apart from the pixel circuit part, and a plurality of uneven parts and one or more formed on the uneven parts are provided. Provided is an electroluminescent device comprising a sealing portion including a barrier including a metal layer and a protection portion bonded to the substrate by the sealing portion to cover the pixel circuit portion.

전계발광소자, 실링(Sealing) Electroluminescent Devices, Sealing

Description

전계발광소자 및 그의 제조방법{Light Emitting Diodes and Method for Manufacturing the same}Light Emitting Diodes and Method for Manufacturing the Same

도 1은 종래 기술의 제 1 실시예에 따른 전계발광소자의 단면도.1 is a cross-sectional view of an electroluminescent device according to a first embodiment of the prior art.

도 2는 종래 기술의 제 2 실시예에 따른 전계발광소자의 단면도.2 is a cross-sectional view of an electroluminescent device according to a second embodiment of the prior art.

도 3은 도 1 상의 A 영역의 부분 확대도.3 is a partially enlarged view of area A on FIG. 1;

도 4는 본 발명의 제 1 실시예에 따른 전계발광소자의 단면도.4 is a cross-sectional view of an electroluminescent device according to a first embodiment of the present invention.

도 5는 도 4 상의 A 영역의 부분 확대도.FIG. 5 is an enlarged view of a portion A of FIG. 4; FIG.

도 6 내지 도 8은 도 5 상의 구조에 대한 단계별 공정도. 6-8 are step by step process diagrams for the structure of FIG.

도 9는 도 7의 배리어 구조의 패턴을 도시한 평면도.9 is a plan view showing a pattern of the barrier structure of FIG.

도 10은 본 발명의 제 2 실시예에 따른 배리어 구조의 패턴을 도시한 평면도.10 is a plan view showing a pattern of a barrier structure according to the second embodiment of the present invention.

도 11은 도 10 상의 A-A 단면도. FIG. 11 is a sectional view taken along the line A-A on FIG. 10; FIG.

* 도면의 주요부호에 대한 설명 *Explanation of the main symbols in the drawings

10 : 전계발광소자 12 : 기판10 electroluminescent element 12 substrate

18 : 보호부 18a : 보호용 기판18: protection part 18a: protective substrate

18b : 게터 30 : 전계발광소자18b: getter 30: electroluminescent device

32 : 기판 34 : 보호층32 substrate 34 protective layer

38 : 보호부 52 : 기판38 protection part 52 substrate

54 : 보호층 56 : 기반층(Base Layer)54: protective layer 56: base layer

57a : 요철부 57b : 금속층57a: uneven portion 57b: metal layer

58 : 접착층 60 : 보호부58: adhesive layer 60: protective portion

B : 배리어(Barrier) P : 픽셀 회로부B: Barrier P: Pixel Circuit

S : 실란트(Sealant)S: Sealant

본 발명은 수명 및 신뢰도를 향상시킨 전계발광소자와 그 제조방법에 관한 것이다.The present invention relates to an electroluminescent device having improved lifetime and reliability and a method of manufacturing the same.

전계발광소자는 전자(election)주입 전극(cathode)과 정공(hole)주입 전극(anode)으로부터 각각 전자와 정공을 발광층 내부로 주입시켜, 주입된 전자와 정공이 결합한 엑시톤(exciton)이 여기상태로부터 기저상태로 떨어질 때 발광하는 자발광 소자이다.The electroluminescent device injects electrons and holes into the light emitting layer from an electron injection electrode and a hole injection electrode, respectively, and excitons of the injected electrons and holes combine from the excited state. It is a self-luminous device that emits light when it falls to the ground state.

또한, 전계발광소자는 낮은 전압에서 구동이 가능하고, 박형 등의 장점을 지니고 있다. 이러한 전계발광소자는 광시야각과 빠른 응답속도 등 종래 액정표시장치에서 문제로 지적되던 단점을 해결할 수 있는 차세대 디스플레이로 주목받고 있 다.In addition, the electroluminescent device can be driven at a low voltage and has advantages such as thinness. The electroluminescent device is attracting attention as a next-generation display that can solve the shortcomings of the conventional LCD, such as wide viewing angle and fast response speed.

전계발광소자는 발광방식에 따라 기판에 대향하는 방향으로 발광하는 상부발광형 전계발광소자(Top-Emission LED)와 기판 방향으로 발광하는 하부발광형 전계발광소자(Bottom-Emission LED)로 구분된다.Electroluminescent devices are classified into top-emission LEDs emitting light in a direction opposite to the substrate and bottom-emission LEDs emitting in the direction of the substrate according to the light emitting method.

도 1은 종래 기술의 제 1 실시예에 따른 전계발광소자의 단면도이다.1 is a cross-sectional view of an electroluminescent device according to a first embodiment of the prior art.

도 1을 참조하면, 종래 기술의 제 1 실시예에 따른 전계발광소자(10)는 하부 발광형으로 구동부가 패터닝된 기판(12) 상에 두 개의 전극과 그 사이에 형성된 발광부를 포함하는 픽셀 회로부(P)가 형성되어 있었다. 또한, 픽셀 회로부(P) 상에 수분 및 공기 등에 의한 픽셀 회로부(P)의 산화 또는 열화 현상을 방지하기 위하여, 보호용 기판(18a)과 게터(18b, getter)로 구성된 보호부(18)가 실란트(S)로 기판(12)상에 봉지되어 있었다.Referring to FIG. 1, an electroluminescent device 10 according to a first embodiment of the prior art includes a pixel circuit unit including two electrodes and a light emitting unit formed therebetween on a substrate 12 on which a driving unit is patterned as a bottom emission type. (P) was formed. In addition, in order to prevent oxidation or deterioration of the pixel circuit portion P due to moisture and air or the like on the pixel circuit portion P, the protecting portion 18 including the protective substrate 18a and the getters 18b and getters is sealed. It sealed on the board | substrate 12 by (S).

도 2는 종래 기술의 제 2 실시예에 따른 전계발광소자의 단면도이다.2 is a cross-sectional view of an electroluminescent device according to a second embodiment of the prior art.

도 2를 참조하면, 종래 기술의 제 2 실시예에 따른 전계발광소자(30)는 상부 발광형으로 구동부가 패터닝된 기판(32) 상에 두 개의 전극과 그 사이에 형성된 발광부를 포함하는 픽셀 회로부(P)가 형성되어 있었다. 또한, 픽셀 회로부(P) 상에 수분 및 공기 등에 의한 픽셀 회로부(P)의 산화 또는 열화 현상을 방지하기 위하여 보호층(34)이 형성되어 있었으며, 보호층(34) 상에 보호부(38)가 실란트(S)로 봉지되어 있었다. 이때, 보호부(38)는 보호용 기판이거나 하나 또는 하나 이상의 보호 막으로 형성되었다.Referring to FIG. 2, the electroluminescent device 30 according to the second embodiment of the prior art includes a pixel circuit unit including two electrodes on a substrate 32 on which a driving unit is patterned as a top emission type, and a light emitting unit formed therebetween. (P) was formed. In addition, a protective layer 34 is formed on the pixel circuit portion P in order to prevent oxidation or deterioration of the pixel circuit portion P due to moisture, air, or the like, and a protective portion 38 on the protective layer 34. Was sealed with a sealant (S). At this time, the protective part 38 is a protective substrate or formed of one or more protective films.

도 3은 도 2 상의 A 영역의 부분 확대도로, 엣지 실링 영역의 구조를 도시한다. 3 is a partially enlarged view of region A on FIG. 2, showing the structure of the edge sealing region.

도 3을 참조하면, 기판(32) 상에 실란트(S)로 보호부(38)가 봉지되어 있었고, 도 1 상의 A 영역의 기본 구조는 도 3과 동일하였다. Referring to FIG. 3, the protection part 38 was sealed with the sealant S on the substrate 32, and the basic structure of the region A on FIG. 1 was the same as in FIG. 3.

이와 같은 구조의 실링 영역(A)을 갖는 종래 전계발광소자(10, 30)에 있어서, 접착제로 사용된 실란트(S) 층은 픽셀 회로부(P)의 안정성을 확보하기 위해 두께가 상당히 두꺼웠으며, 그 두께에 상대적으로 실란트(S) 층을 통한 수분의 소자 내부로의 침투 경로가 너무 짧았기 때문에, 수분의 소자 내부로의 침투가 용이하였고, 그 양 또한 많은 단점이 있었다. In the conventional electroluminescent devices 10 and 30 having the sealing area A having such a structure, the sealant S layer used as the adhesive was considerably thick in order to ensure the stability of the pixel circuit portion P. Since the penetration path of moisture through the sealant (S) layer into the device was too short, the penetration of moisture into the device was easy, and the amount thereof also had many disadvantages.

상세하게는, 종래 하부 발광형 전계발광소자(10)의 경우, 많은 양의 게터가 필요하였고 그에 따른 소자 두께의 증가 문제가 발생하였다. 또한, 종래 상부 발광형 전계발광소자(30)의 경우, 소자의 발광 특성상 수분을 제거할 수 있는 게터가 없기 때문에 보호층(34)을 형성하였는데, 그 보호층(34)에 결함이 있을 경우, 급격한 픽셀 회로부(P)의 손상을 초래하였다.In detail, in the case of the conventional bottom emission type electroluminescent device 10, a large amount of getter is required, and thus an increase in device thickness occurs. In addition, in the conventional top emission type electroluminescent device 30, since there is no getter capable of removing moisture due to the light emission characteristics of the device, a protective layer 34 is formed. When the protective layer 34 is defective, Sudden damage of the pixel circuit portion P was caused.

이에 따라, 종래 전계발광소자에는 그 수명 및 신뢰도가 저하되는 심각한 문제가 발생하였다.As a result, a serious problem occurs in the conventional electroluminescent device in which its lifespan and reliability are lowered.

이러한 문제점을 해결하기 위해 본 발명은 소자의 엣지 실링 영역의 구조를 개선하여 효과적인 패시베이션(Passivation) 구조를 형성함으로써 수분에 의한 소자의 손상 및 열화 현상을 최대한 억제하고, 수명과 신뢰도가 크게 향상된 전계발광소자 및 그 제조방법을 제공하는데 그 목적이 있다. In order to solve this problem, the present invention improves the structure of the edge sealing region of the device to form an effective passivation structure, thereby maximally suppressing damage and deterioration of the device due to moisture, and electroluminescence with greatly improved lifetime and reliability. An object thereof is to provide a device and a method of manufacturing the same.

이상과 같은 목적을 달성하기 위해 본 발명은 기판, 기판 상에 위치하며 두 개의 전극과 상기 두 개의 전극 사이에 형성된 유기발광층을 포함하는 픽셀 회로부, 픽셀 회로부와 이격되어 위치하며, 다수의 요철부 및 상기 요철부 상에 형성된 하나 이상의 금속층을 포함하는 배리어를 포함하는 실링부 및 실링부에 의하여 상기 기판과 합착하여 상기 픽셀 회로부를 덮는 보호부를 포함하는 전계발광소자를 제공한다.In order to achieve the above object, the present invention provides a substrate, a pixel circuit portion including two electrodes and an organic light emitting layer formed between the two electrodes, and spaced apart from the pixel circuit portion, a plurality of uneven portions and The present invention provides an electroluminescent device comprising a sealing portion including a barrier including at least one metal layer formed on the uneven portion, and a protection portion bonded to the substrate by the sealing portion to cover the pixel circuit portion.

상기 픽셀회로부는 반도체층, 상기 반도체층과 일정 영역이 대응되는 게이트 전극, 상기 반도체층 및 상기 게이트 전극 사이에 위치하는 게이트 절연층, 상기 반도체층과 전기적으로 연결되는 소오스 전극 및 드레인 전극을 구비하는 박막 트랜지스터를 하나 이상 포함하는 구동부를 더 포함할 수 있다.The pixel circuit unit includes a semiconductor layer, a gate electrode corresponding to a predetermined region of the semiconductor layer, a gate insulating layer positioned between the semiconductor layer and the gate electrode, a source electrode and a drain electrode electrically connected to the semiconductor layer. The apparatus may further include a driver including one or more thin film transistors.

상기 요철부는 포토 레지스트 물질을 포함하며 상기 금속층은 상기 전극들을 구성하는 물질 중 어느 하나 이상을 포함할 수 있다.The uneven portion may include a photoresist material and the metal layer may include any one or more of materials constituting the electrodes.

상기 픽셀 회로부는 유기물 또는 무기물을 포함하는 하나 이상의 절연층을 더 포함하며,상기 요철부는 상기 절연층을 구성하는 물질들 중 어느 하나 이상을 포함하며 상기 금속층은 상기 전극들을 구성하는 물질 중 어느 하나 이상을 포함할 수 있다.The pixel circuit unit further includes at least one insulating layer including an organic material or an inorganic material, wherein the uneven part includes at least one of materials constituting the insulating layer, and the metal layer is at least one of materials constituting the electrodes. It may include.

상기 픽셀 회로부는 상기 구동부 상에 위치하는 평탄화막을 더 포함하며, 상기 실링부는 상기 평탄화막과 동일한 재료를 포함하며 상기 기판과 상기 배리어 사이에 형성된 기반층을 추가로 포함할 수 있다.The pixel circuit unit may further include a planarization layer positioned on the driving unit, and the sealing unit may further include a base layer formed between the substrate and the barrier and including the same material as the planarization layer.

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상기 실링부는 상기 배리어 상에 위치하는 실란트를 포함할 수 있다.The sealing part may include a sealant positioned on the barrier.

다른 측면에서, 본 발명은, 기판 상에 두 개의 전극과 상기 두 개의 전극 사이에 위치하는 유기발광층을 포함하는 픽셀 회로부를 형성하는 단계, 픽셀 회로부와 이격되도록 위치하는 상기 기판 상의 실링부 상에 다수의 요철부 및 상기 요철부 상에 형성된 하나 이상의 금속층을 포함하는 배리어를 형성하는 단계 및 상기 기판 상에 상기 픽셀 회로부를 덮는 보호부를 형성하는 단계를 포함하는 전계발광소자의 제조방법을 제공한다.In another aspect, the present invention provides a method of forming a pixel circuit portion including two electrodes on an substrate and an organic light emitting layer positioned between the two electrodes, wherein the plurality of sealing portions on the substrate are spaced apart from the pixel circuit portion. Forming a barrier including an uneven portion of the at least one metal layer formed on the uneven portion, and forming a protective portion covering the pixel circuit portion on the substrate.

상기 픽셀 회로부를 형성하는 단계는 반도체층, 상기 반도체층과 일정 영역이 대응되는 게이트 전극, 상기 반도체층 및 상기 게이트 전극 사이에 위치하는 게이트 절연층, 상기 반도체층과 전기적으로 연결되는 소오스 전극 및 드레인 전극을 구비하는 박막 트랜지스터를 하나 이상 포함하는 구동부를 형성하는 단계를 더 포함할 수 있다.The forming of the pixel circuit unit may include a semiconductor layer, a gate electrode corresponding to a predetermined region of the semiconductor layer, a gate insulating layer positioned between the semiconductor layer and the gate electrode, a source electrode and a drain electrically connected to the semiconductor layer. The method may further include forming a driver including one or more thin film transistors having an electrode.

상기 픽셀 회로부의 전극들 중 어느 하나는 포토리소그라피(Photo Lithography) 방법으로 패터닝하여 형성하며, 상기 요철부는 상기 포토리소그라피 방법 중 사용되는 포토레지스트를 포함하며, 상기 금속층은 상기 전극들을 구성하는 물질들 중 어느 하나 이상을 포함할 수 있다.One of the electrodes of the pixel circuit unit is formed by patterning by a photolithography method, wherein the uneven part includes a photoresist used in the photolithography method, and the metal layer is one of materials constituting the electrodes. It may include any one or more.

상기 픽셀 회로부는 유기물 또는 무기물을 포함하는 하나 이상의 절연층을 더 포함하며, 상기 요철부는 상기 절연층들을 구성하는 물질들 중 어느 하나를 포함하며, 상기 금속층은 상기 전극들을 구성하는 물질들 중 어느 하나 이상을 포함할 수 있다.The pixel circuit portion further includes at least one insulating layer including an organic material or an inorganic material, wherein the uneven part includes any one of materials constituting the insulating layers, and the metal layer is any one of materials constituting the electrodes. It may contain the above.

상기 픽셀 회로부를 형성하는 단계는 상기 구동부 상에 평탄화막을 형성하는 단계를 포함하고, 상기 기판과 상기 배리어 사이에 상기 평탄화막을 구성하는 물질을 포함하는 기반층을 형성하는 단계를 더 포함할 수 있다.The forming of the pixel circuit unit may include forming a planarization layer on the driving unit, and may further include forming a base layer including a material constituting the planarization layer between the substrate and the barrier.

상기 전계발광소자의 제조방법은 상기 배리어 상에 실란트를 형성하는 단계를 더 포함할 수 있다.The method of manufacturing the electroluminescent device may further include forming a sealant on the barrier.

이하, 본 발명의 다양한 실시예를 도시 참조하여 상세히 설명한다.Hereinafter, various embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the drawings.

단, 본 발명은 상부 발광형과 하부 발광형의 엣지 실링 영역에 동일하게 적용되므로, 중복성을 피하고 설명의 용이성을 위해 이하, 본 발명은 상부 발광형의 경우로 예를 들어 설명하기로 한다.However, since the present invention is equally applied to the edge sealing regions of the top emission type and the bottom emission type, the present invention will be described below as an example of the top emission type in order to avoid redundancy and ease of explanation.

도 4는 본 발명의 제 1 실시예에 따른 전계발광소자의 부분 단면도이다.4 is a partial cross-sectional view of an electroluminescent device according to a first embodiment of the present invention.

도 4를 참조하면, 구동부가 패터닝된 기판(52) 상에 두 개의 전극과 그 사이에 형성된 발광부를 포함하는 픽셀 회로부(P)가 형성되며, 픽셀 회로부(P)를 보호하기 위한 보호층(54)이 형성되어 있다. 이때, 픽셀 회로부(P)와 구분되는 엣지 실링 영역에 구동부와 발광부 사이에 형성되는 평탄화막까지의 구성 요소 중 어느 하나 또는 하나 이상이 선택적으로 형성되어 기반층(56)이 구비된다.Referring to FIG. 4, a pixel circuit portion P including two electrodes and a light emitting portion formed therebetween is formed on a substrate 52 on which a driving portion is patterned, and a protective layer 54 for protecting the pixel circuit portion P. ) Is formed. In this case, any one or more components of the planarization layer formed between the driving unit and the light emitting unit are selectively formed in the edge sealing region separated from the pixel circuit unit P, thereby providing the base layer 56.

또한, 기반층(56) 상에는 픽셀 회로부(P)가 형성되는 과정에서 사용된 재료 중 어느 하나 또는 하나 이상으로 배리어(B)가 형성된다.In addition, the barrier B is formed on one or more of materials used in the process of forming the pixel circuit portion P on the base layer 56.

계속해서, 이상과 같은 구조를 갖는 소자를 보호하기 위한 보호부(58)가 형성되며, 보호부(58)는 기판(52) 상에 실란트(S) 층으로 봉지된다.Subsequently, a protective portion 58 for protecting the element having the above structure is formed, and the protective portion 58 is sealed with a sealant S layer on the substrate 52.

위에서 설명한 전계발광소자의 배리어 구조를 이하 도시한 도 5를 참조하여 상세히 설명한다.The barrier structure of the electroluminescent device described above will be described in detail with reference to FIG.

도 5는 도 4 상의 A 영역의 부분 확대도로, 본 발명에 따른 전계발광소자의 엣지 실링 영역의 구조를 도시한다.FIG. 5 is a partially enlarged view of region A on FIG. 4 and shows the structure of the edge sealing region of the electroluminescent device according to the present invention.

도 4 및 도 5를 참조하면, 기판(52)의 엣지 실링 영역에는 픽셀 회로부(P)에 포함되는 구동부와 발광부 사이에 형성된 평탄화막까지의 구성 요소 중 어느 하나 또는 하나 이상이 구분 적층되어 기반층(56)이 형성되어 있다.Referring to FIGS. 4 and 5, one or more components of the substrate sealing part from the driving part included in the pixel circuit part P and the planarization film formed between the light emitting parts are separated and stacked on the edge sealing area of the substrate 52. Layer 56 is formed.

기반층(56) 상에는 픽셀 회로부(P)를 형성하는 과정에서 사용된 포토레지스터로 요철부(57a)가 형성된다. 이어서, 요철부(57a)를 덮도록 픽셀 회로부(P)를 구성하는 전극 중 어느 하나 또는 둘 다가 금속층(57b)으로 적층되어 배리어(B)가 형 성된다.The uneven portion 57a is formed on the base layer 56 by the photoresist used in the process of forming the pixel circuit portion P. Subsequently, any one or both of the electrodes constituting the pixel circuit portion P to cover the uneven portions 57a are laminated with the metal layer 57b to form a barrier B.

또한, 배리어(B) 상에 보호부(58)가 실란트(S) 층으로 봉지된다. In addition, the protection part 58 is sealed by the sealant S layer on the barrier B. As shown in FIG.

이와 같은 배리어(B) 구조는 엣지 실링 영역을 통한 수분의 침투 경로를 길이 상으로 늘리면서, 공간 상으로 줄이는 효과가 있어 하부 발광형 전계발광소자의 경우, 소자 두께에 영향을 미치는 게터의 양을 획기적으로 줄일 수 있고, 상부 발광형 전계발광소자의 경우, 수분의 침투량을 최소한으로 억제하거나 방지할 수 있다. This barrier (B) structure increases the penetration path of moisture through the edge sealing area in length and reduces the space in space. Thus, in the case of the bottom emission type electroluminescent device, the amount of getter affecting the device thickness is remarkable. In the case of the top emission type electroluminescent device, it is possible to minimize or prevent the penetration of moisture to a minimum.

이상 본 발명의 배리어(B) 구조에 있어서, 요철부(57a)는 포토레지스터로 형성되는 것으로 설명하였으나 본 발명은 이에 국한되지 않으며, 전술한 픽셀 회로부(P)를 형성하는 과정에서 사용되는 유기물, 무기물 중 어느 하나 또는 하나 이상이 적용될 수 있다.In the barrier (B) structure of the present invention, the uneven portion 57a is described as being formed of a photoresist, but the present invention is not limited thereto, and the organic material used in the process of forming the pixel circuit portion P described above, Any one or more of the minerals may be applied.

도 6 내지 도 8은 도 5 상의 구조에 대한 단계별 공정도이다.6-8 are step by step process diagrams for the structure of FIG.

도 6 내지 도 8을 참조하면, 기판(52) 상에 보호부(58)가 실란트(S)에 의해 봉지되며, 그 과정에서 소자 내부로의 수분 침투의 경로가 되는 실란트(S) 층 즉, 엣지 실링 영역에 수분 침투에 대한 장벽 역할을 하는 배리어(B)의 형성 과정이 도시되어 있다.6 to 8, the protecting part 58 is sealed on the substrate 52 by the sealant S, and in the process, a sealant S layer, ie, a path of moisture penetration into the inside of the device, The formation of the barrier B, which acts as a barrier to moisture penetration in the edge sealing region, is shown.

상세하게는 기판(도 4의 52) 상의 가장 자리(0.5 ~ 50㎛ 두께 범위)영역 즉, 엣지 실링 영역(Edge-sealing Area)에 소자의 픽셀 회로부(도 4의 P)를 형성하는 포토 리소그라피(Photo-Lithography) 공정에 따라 추가 공정 없이 기반층(56)을 형 성하고, 기반층(56) 상에 요철부(57a) 및 요철부(57a)를 덮는 금속층(57b)을 형성하여 배리어(B)를 형성한다. Specifically, photolithography forming pixel circuit portions (P in FIG. 4) of the device in an edge (0.5 to 50 μm thickness range) region, that is, an edge-sealing area, on the substrate 52 (FIG. 4). According to the photo-lithography process, the base layer 56 is formed without further processing, and the metal layer 57b covering the uneven portions 57a and the uneven portions 57a is formed on the base layer 56 to form a barrier (B). ).

이어서, 실란트(S) 층을 접착제로 형성하며, 보호부(58)를 기판(52)과 합착시킨다.Subsequently, the sealant (S) layer is formed of an adhesive, and the protective portion 58 is bonded to the substrate 52.

이상의 배리어(B) 구조에 있어서, 요철부(54)는 포토 리소그라피 공정에 사용되는 포토레지스트(PR; Photo-Resist) 또는 절연막 등에 사용되는 유기물, 무기물 중 어느 하나 또는 하나 이상으로 형성될 수 있다.In the above barrier (B) structure, the uneven part 54 may be formed of any one or more of organic materials and inorganic materials used in photoresist (PR) or an insulating film used in the photolithography process.

또한, 금속층(56)은 전술한 발광부의 상, 하부에 형성되는 두 개의 전극 중 어느 하나 또는 하나 이상으로 형성될 수 있다. In addition, the metal layer 56 may be formed of any one or more than two electrodes formed on and under the light emitting unit.

도 9는 도 7의 배리어 구조의 패턴을 도시한 평면도로, 기반층(56) 상에 규칙적인 스트라이프 타입으로 패터닝된 배리어(B)의 구조를 도시한다.FIG. 9 is a plan view showing the pattern of the barrier structure of FIG. 7, showing the structure of the barrier B patterned in a regular stripe type on the base layer 56.

이상 본 발명에서는 배리어(B)의 구조를 규칙적인 스트라이프 타입으로 도시 설명하였으나, 본 발명은 이에 한정되지 않으며, 다수의 배리어(B) 간에 두께와 길이 및 그 형성된 방향성에 있어서, 규칙적인 패턴으로 형성된 모든 경우로 해석되어야 한다.In the present invention, the structure of the barrier (B) is illustrated as a regular stripe type, but the present invention is not limited thereto, and the barrier (B) is formed in a regular pattern in thickness and length and the formed direction between the barriers (B). It should be interpreted in all cases.

도 10은 본 발명의 제 2 실시예에 따른 배리어 구조의 패턴을 도시한 평면도로, 도 9와 동일한 스케일이다.FIG. 10 is a plan view illustrating a pattern of a barrier structure according to a second exemplary embodiment of the present invention and is the same scale as FIG. 9.

도 10을 참조하면, 기판 상의 엣지 실링 영역에 형성된 기반층(56) 상에 불규칙하게 패터닝된 배리어(B) 구조를 볼 수 있다.Referring to FIG. 10, a barrier B structure irregularly patterned on a base layer 56 formed in an edge sealing region on a substrate may be seen.

도 11은 도 10 상의 A-A 단면도로, 도 7과 같은 스케일이다. FIG. 11 is a sectional view taken along line A-A on FIG. 10, and is the same scale as FIG. 7.

이와 같이 불규칙한 패턴의 배리어(B) 구조는 도 7 상의 제 1 실시예와 상대적으로 공정 상 더 적은 재료가 사용되며, 보다 효과적인 수분 침투의 억제 효과를 얻을 수 있다.As described above, the barrier B structure of the irregular pattern is made of less material in the process relative to the first embodiment of FIG. 7, and more effective suppression of water penetration can be obtained.

이상과 같은 배리어 구조가 엣지 실링 영역에 구비된 본 발명에 따른 전계발광소자 및 그의 제조 방법은 실링 영역을 통한 소자 내 수분 침투를 효과적으로 억제 및 방지하여 소기 목적을 달성할 수 있다.The electroluminescent device and the manufacturing method thereof according to the present invention having the barrier structure as described above provided in the edge sealing region can effectively suppress and prevent moisture penetration into the device through the sealing region to achieve a desired purpose.

이상 본 발명에서는 상부 발광형 전계발광소자의 경우로 도시 설명하였으나, 본 발명은 이에 국한되지 않으며, 하부 발광형 전계발광소자의 경우에도 적용 가능하다.As described above, the present invention has been described as the case of the top emission type electroluminescent device, but the present invention is not limited thereto, and the present invention may be applied to the bottom emission type electroluminescent device.

또한, 이상 본 발명에서는 구동부가 구비된 액티브 매트릭스형 전계발광소자의 경우로 예를 들어 설명하였으나, 본 발명은 이에 국한되지 않으며, 패시브 매트릭스형의 경우에도 적용 가능하다.In addition, the present invention has been described as an example of an active matrix type electroluminescent device having a driving unit, but the present invention is not limited thereto, and may be applied to a passive matrix type.

또한, 이상 본 발명에서는 배리어 구조가 기반층 상에 요철부가 형성된 것으로 도시하여 설명하였으나, 본 발명은 이에 국한되지 않으며 엣지 실링 영역에는 요철부 만으로 배리어가 형성될 수도 있다.In addition, in the present invention, the barrier structure is illustrated as having the uneven portion formed on the base layer, but the present invention is not limited thereto, and the barrier may be formed only with the uneven portion in the edge sealing region.

또한, 이상 본 발명에서는 배리어 구조를 다수 개의 배리어가 구분 형성된 것으로 도시 설명하였으나, 본 발명의 배리어 구조는 이에 국한되지 않으며, 배리어 구조는 하나의 층으로 형성될 수도 있다. Further, in the present invention, the barrier structure has been described as a plurality of barriers are formed, but the barrier structure of the present invention is not limited thereto, and the barrier structure may be formed of one layer.

또한, 이상 본 발명에서는 단방향 발광형의 경우로 예를 들어 도시 참조하여 설명하였으나, 본 발명은 이에 국한되지 않으며 양면 발광형의 경우에도 적용가능하다.In addition, the present invention has been described with reference to an example in the case of the unidirectional light emission type, but the present invention is not limited thereto, and is applicable to the double-sided light emission type.

이상 본 발명은 발광부에 유기물뿐만 아니라 무기물 또한 이용 가능한 전계발광소자(LED)의 범주로 이해하여야 한다.The present invention is to be understood as the scope of the electroluminescent device (LED) that can be used not only organic matter but also inorganic matter in the light emitting portion.

이상 다양한 실시예를 들어 본 발명에 대하여 서술하였으나, 본 발명의 범위는 전술한 상세 설명보다는 후술하는 특허청구범위에 의하여 나타내어지며, 특허청구범위의 의미 및 범위 그리고, 그 등가 개념으로부터 도출되는 모든 변경 또는 변형된 형태가 본 발명의 범위에 포함되는 것으로 해석되어야 한다. While the present invention has been described with reference to various embodiments, the scope of the present invention is indicated by the following claims rather than the foregoing description, and all changes derived from the meaning and scope of the claims and their equivalent concepts. Or variations should be construed as being included in the scope of the invention.

위에서 설명한 바와 같이, 본 발명은 소자의 엣지 실링 영역에 배리어 구조를 형성하여 소자 내 수분의 침투를 최소한으로 억제 및 차단함으로써, 소자의 산화 및 열화 현상을 효과적으로 억제하거나 방지할 수 있다.As described above, the present invention forms a barrier structure in the edge sealing region of the device to minimize and prevent the penetration of moisture in the device, thereby effectively suppressing or preventing the phenomenon of oxidation and deterioration of the device.

이에 따라, 본 발명은 패시베이션 구조의 안정성을 확보하여 수명 및 신뢰도가 크게 향상된 전계발광소자 및 그 제조 방법을 제공할 수 있다. Accordingly, the present invention can provide an electroluminescent device and a method of manufacturing the same, which ensures stability of the passivation structure and greatly improves lifetime and reliability.

Claims (12)

기판;Board; 상기 기판 상에 위치하며, 두 개의 전극과 상기 두 개의 전극 사이에 형성된 유기발광층을 포함하는 픽셀 회로부;A pixel circuit part disposed on the substrate and including two electrodes and an organic light emitting layer formed between the two electrodes; 상기 픽셀 회로부와 이격되어 위치하며, 다수의 요철부 및 상기 요철부 상에 형성된 하나 이상의 금속층을 포함하는 배리어를 포함하는 실링부; 및A sealing part spaced apart from the pixel circuit part and including a barrier including a plurality of uneven parts and at least one metal layer formed on the uneven parts; And 상기 실링부에 의하여 상기 기판과 합착하여 상기 픽셀 회로부를 덮는 보호부를 포함하는 전계발광소자. And a protective part bonded to the substrate by the sealing part to cover the pixel circuit part. 제 1항에 있어서,The method of claim 1, 상기 픽셀회로부는 반도체층, 상기 반도체층과 일정 영역이 대응되는 게이트 전극, 상기 반도체층 및 상기 게이트 전극 사이에 위치하는 게이트 절연층, 상기 반도체층과 전기적으로 연결되는 소오스 전극 및 드레인 전극을 구비하는 박막 트랜지스터를 하나 이상 포함하는 구동부를 더 포함하는 전계발광소자. The pixel circuit unit includes a semiconductor layer, a gate electrode corresponding to a predetermined region of the semiconductor layer, a gate insulating layer positioned between the semiconductor layer and the gate electrode, a source electrode and a drain electrode electrically connected to the semiconductor layer. An electroluminescent device further comprising a driver including one or more thin film transistors. 제 1항 또는 제2항에 있어서,The method according to claim 1 or 2, 상기 요철부는 포토 레지스트 물질을 포함하며 상기 금속층은 상기 전극들을 구성하는 물질 중 어느 하나 이상을 포함하는 전계발광소자.The uneven portion includes a photoresist material and the metal layer includes any one or more of materials constituting the electrodes. 제 1항 또는 제2항에 있어서,The method according to claim 1 or 2, 상기 픽셀 회로부는 유기물 또는 무기물을 포함하는 하나 이상의 절연층을 더 포함하며,The pixel circuit portion further includes one or more insulating layers including organic or inorganic materials, 상기 요철부는 상기 절연층을 구성하는 물질들 중 어느 하나 이상을 포함하며 상기 금속층은 상기 전극들을 구성하는 물질 중 어느 하나 이상을 포함하는 전계발광소자.The uneven portion includes any one or more of materials constituting the insulating layer and the metal layer comprises any one or more of materials constituting the electrodes. 제 2항에 있어서,The method of claim 2, 상기 픽셀 회로부는 상기 구동부 상에 위치하는 평탄화막을 더 포함하며,The pixel circuit unit further includes a planarization layer positioned on the driving unit. 상기 실링부는 상기 평탄화막과 동일한 재료를 포함하며 상기 기판과 상기 배리어 사이에 형성된 기반층을 추가로 포함하는 것을 특징으로 하는 전계발광소자.And the sealing part further comprises a base layer formed of the same material as the planarization layer and formed between the substrate and the barrier. 제 1항에 있어서,The method of claim 1, 상기 실링부는 상기 배리어 상에 위치하는 실란트를 포함하는 전계발광소자.And the sealing part comprises a sealant positioned on the barrier. 기판 상에 두 개의 전극과 상기 두 개의 전극 사이에 위치하는 유기발광층을 포함하는 픽셀 회로부를 형성하는 단계; Forming a pixel circuit portion including two electrodes on the substrate and an organic light emitting layer positioned between the two electrodes; 상기 픽셀 회로부와 이격되도록 위치하는 상기 기판 상의 실링부 상에 다수의 요철부 및 상기 요철부 상에 형성된 하나 이상의 금속층을 포함하는 배리어를 형성하는 단계; 및Forming a barrier including a plurality of uneven parts and at least one metal layer formed on the uneven parts on the sealing part on the substrate positioned to be spaced apart from the pixel circuit part; And 상기 기판 상에 상기 픽셀 회로부를 덮는 보호부를 형성하는 단계를 포함하는 전계발광소자의 제조방법.Forming a protective part covering the pixel circuit part on the substrate. 제 7항에 있어서,The method of claim 7, wherein 상기 픽셀 회로부를 형성하는 단계는 반도체층, 상기 반도체층과 일정 영역이 대응되는 게이트 전극, 상기 반도체층 및 상기 게이트 전극 사이에 위치하는 게이트 절연층, 상기 반도체층과 전기적으로 연결되는 소오스 전극 및 드레인 전극을 구비하는 박막 트랜지스터를 하나 이상 포함하는 구동부를 형성하는 단계를 더 포함하는 전계발광소자의 제조방법.The forming of the pixel circuit unit may include a semiconductor layer, a gate electrode corresponding to a predetermined region of the semiconductor layer, a gate insulating layer positioned between the semiconductor layer and the gate electrode, a source electrode and a drain electrically connected to the semiconductor layer. A method of manufacturing an electroluminescent device further comprising the step of forming a driver including at least one thin film transistor having an electrode. 제 7항 또는 제 8항에 있어서,The method according to claim 7 or 8, 상기 픽셀 회로부의 전극들 중 어느 하나는 포토리소그라피(Photo Lithography) 방법으로 패터닝하여 형성하며,One of the electrodes of the pixel circuit part is formed by patterning by photolithography method, 상기 요철부는 상기 포토리소그라피 방법 중 사용되는 포토레지스트를 포함하며, 상기 금속층은 상기 전극들을 구성하는 물질들 중 어느 하나 이상을 포함하는 전계발광소자의 제조방법.The uneven portion includes a photoresist used in the photolithography method, wherein the metal layer comprises any one or more of the materials constituting the electrodes. 제 7항 또는 제 8항에 있어서,The method according to claim 7 or 8, 상기 픽셀 회로부는 유기물 또는 무기물을 포함하는 하나 이상의 절연층을 더 포함하며,The pixel circuit portion further includes one or more insulating layers including organic or inorganic materials, 상기 요철부는 상기 절연층들을 구성하는 물질들 중 어느 하나를 포함하며, 상기 금속층은 상기 전극들을 구성하는 물질들 중 어느 하나 이상을 포함하는 전계발광소자의 제조방법.The uneven part includes any one of materials constituting the insulating layers, and the metal layer comprises any one or more of materials constituting the electrodes. 제 8항에 있어서, The method of claim 8, 상기 픽셀 회로부를 형성하는 단계는 상기 구동부 상에 평탄화막을 형성하는 단계를 포함하고, The forming of the pixel circuit unit includes forming a planarization layer on the driving unit, 상기 기판과 상기 배리어 사이에 상기 평탄화막을 구성하는 물질을 포함하는 기반층을 형성하는 단계를 더 포함하는 전계발광소자의 제조방법.And forming a base layer comprising a material constituting the planarization layer between the substrate and the barrier. 제 7항에 있어서,The method of claim 7, wherein 상기 배리어 상에 실란트를 형성하는 단계를 더 포함하는 전계발광소자의 제조방법.And forming a sealant on the barrier.
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