KR100701121B1 - Tunable laser calibration system and method - Google Patents

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Abstract

파장 가변 레이저 다이오드의 파장과 광신호 채널을 일치시키기 위한 측정 시간을 감소시킬 수 있는 파장 가변 레이저 다이오드의 측정 시스템 및 이를 이용한 측정방법을 개시한다. 개시된 본 발명에 따른 파장 가변 레이저 다이오드의 측정 시스템은, 파장 가변 레이저 다이오드에 전류를 공급하는 전류 공급부와, 상기 파장 가변 레이저 다이오드의 광 출력을 측정하는 제 1 광출력 측정기 및 상기 파장 가변 레이저 다이오드의 광 출력 중 아이티유 그리드(ITU-GRID)에서 제공되는 광신호 채널과 오차 범위내에서 일치하는 광 출력만을 필터링하여 측정하는 에탈론을 구비한 제 2 광출력 측정기를 포함한다. 또한, 상기 제 1 광출력 측정기에서 측정된 광 출력과 상기 에탈론을 구비한 제 2 광출력 측정기에서 측정된 광 출력을 비교하여 상기 전류 공급부의 전류 공급량을 제어하는 제어부를 포함한다.Disclosed are a measurement system for a tunable laser diode and a measuring method using the same. The measuring system of the tunable laser diode according to the present invention includes a current supply unit for supplying a current to the tunable laser diode, a first light output meter for measuring the light output of the tunable laser diode, and the tunable laser diode. And a second optical power meter having an etalon for filtering and measuring only the optical power that matches the optical signal channel provided in the ITU-GRID among the optical outputs within an error range. The apparatus may further include a controller configured to control the amount of current supplied to the current supply unit by comparing the light output measured by the first light output meter with the light output measured by the second light output meter having the etalon.

파장 가변 레이저 다이오드, 에탈론 Tunable Laser Diode, Etalon

Description

파장 가변 레이저 다이오드의 측정 시스템 및 방법{Tunable laser calibration system and method}Measurement system and method of tunable laser diodes {Tunable laser calibration system and method}

도 1은 본 발명의 실시예에 따른 파장 가변 레이저 다이오드의 측정 시스템을 나타낸 블록도이다.1 is a block diagram illustrating a measurement system of a tunable laser diode according to an exemplary embodiment of the present invention.

도 2는 본 발명의 실시예에 따른 파장 가변 레이저 다이오드의 측정 방법을 설명하기 위한 플로우 챠트이다.2 is a flowchart illustrating a measuring method of a tunable laser diode according to an embodiment of the present invention.

<도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명><Explanation of symbols for the main parts of the drawings>

100 : 파장 가변 레이저 다이오드 110 : 전류 공급부 120 : 광 커플러100: variable wavelength laser diode 110: current supply unit 120: optical coupler

130 : 파장 측정기 140 : 제 1 광출력 측정기 150 : 에탈론130 wavelength meter 140 first optical power meter 150 etalon

160 : 제 2 광출력 측정기 170 : 제어부 180 : 저장부 160: second optical power meter 170: control unit 180: storage unit

본 발명은 파장 가변 레이저 다이오드의 측정 시스템 및 방법에 관한 것으로, 보다 구체적으로는, 파장 가변 레이저 다이오드의 파장과 광신호 채널을 일치시키기 위한 파장 가변 레이저 다이오드의 측정 시스템 및 방법에 관한 것이다. The present invention relates to a measuring system and method of a tunable laser diode, and more particularly, to a measuring system and method of a tunable laser diode for matching a wavelength and an optical signal channel of the tunable laser diode.

통상적으로, 서로 다른 파장을 갖는 빛은 서로 간섭하지 않고 전파된다. 그 러므로, 서로 다른 파장에 신호를 하나의 광섬유에 실어 전송할 경우, 상기 신호들은 서로간의 간섭 없이 광섬유를 따라 전송된다. 이러한 전송 방식을 파장 분할 전송 방식(WDM:Wavelength Division Multiplexing)이라 하며, 파장 분할 다중 방식을 사용함으로써 광섬유의 정보 전송 용량을 크게 증가시킬 수 있다. Typically, light having different wavelengths propagates without interfering with each other. Therefore, when signals are transmitted on one optical fiber at different wavelengths, the signals are transmitted along the optical fibers without mutual interference. Such a transmission scheme is called wavelength division multiplexing (WDM), and the information transmission capacity of the optical fiber can be greatly increased by using the wavelength division multiplexing scheme.

이와 같은 파장 분할 다중화 기술은 상업적 서비스를 목적으로 광통신에서 폭넓게 사용될 것으로 기대된다. 하지만, 상기한 파장 분할 다중화 기술에 의해 채널 수가 증가됨에 따라 복잡한 구조의 네트워크(network)가 형성되고 보다 융통성있는 네트워크를 설계하고 운용하기 위하여 국제통신연합 통신 표준 섹터(International Telecommunication Union:이하, ITU)에서 권고한 파장을 갖는 광원의 필요성이 요구된다. Such wavelength division multiplexing techniques are expected to be widely used in optical communication for commercial service purposes. However, as the number of channels increases due to the wavelength division multiplexing technique, a network of a complex structure is formed and an international Telecommunication Union (hereinafter referred to as ITU) for designing and operating a more flexible network. There is a need for a light source with a wavelength recommended in.

고밀도 파장 분할 다중화 기술의 응용을 위해 ITU는 193.1THz에 인접한 12.5GHz부터 소정의 채널 간격을 가지는 주파수 표준을 제공하고 있다.For the application of high-density wavelength division multiplexing techniques, the ITU provides frequency standards with a predetermined channel spacing starting from 12.5 GHz adjacent to 193.1 THz.

한편, 최근 들어 표면 방출 레이저(Vertical Cavity Surface Emitting Laser: VCSEL), 외부 공진기형 반도체 레이저 다이오드(External Cavity Laser diode:ECLD), 광궤환 반도체 레이저 다이오드(Distributed Feedback Laser diode:DFB LD) 또는 브래그 반사형 반도체 레이저 다이오드(Distributed Bragg Reflector Laser diode:DBR LD)등과 같은 많은 종류의 파장 가변 레이저 다이오드가 고밀도 파장 분할 다중화 시스템에 상업적으로 응용되고 있다. Recently, a vertical cavity surface emitting laser (VCSEL), an external resonator-type semiconductor laser diode (ECLD), a distributed feedback laser diode (DFB LD), or Bragg reflection type Many types of tunable laser diodes, such as Distributed Bragg Reflector Laser diodes (DBR LDs), have been commercially applied in high density wavelength division multiplexing systems.

상기 파장 가변 레이저 다이오드가 고밀도 파장 분할 다중화 시스템에 적용되는데 있어 가장 중요한 요소는 파장 가변 레이저 다이오드의 출력 파장이 상기 ITU 그리드(GRID)에서 권고하는 광신호 채널과 일치하느냐이다. 상기에서도 언급한 바와 같이 WDM 방식은 기준 광주파수인 193.1THz를 중심으로 200 GHz, 100GHz 또는 50GHz의 등간격으로 광신호 채널을 분리하고 있으며, 상기 파장 가변 레이저 다이오드의 출력 파장은 상기 분리된 광신호 채널과 일치되어야 한다. 이때, 상기 파장 가변 레이저 다이오드의 광출력 파장(주파수)와 광신호 채널의 오차 범위는 텔코디아(Telcordia)에서 정의한대로 200GHz 간격에서는 ±10GHz, 100GHz 간격에서는 ±5GHz, 50GHz 간격에서는 ±3GHz로 주어진다. The most important factor in applying the tunable laser diode to a high density wavelength division multiplexing system is whether the output wavelength of the tunable laser diode matches the optical signal channel recommended by the ITU grid (GRID). As mentioned above, the WDM method separates optical signal channels at equal intervals of 200 GHz, 100 GHz, or 50 GHz based on a reference optical frequency of 193.1 THz, and an output wavelength of the tunable laser diode is the separated optical signal. It must match the channel. At this time, the error range of the optical output wavelength (frequency) and the optical signal channel of the tunable laser diode is given as ± 10 GHz at 200 GHz interval, ± 5 GHz at 100 GHz interval, and ± 3 GHz at 50 GHz interval as defined by Telcordia.

상기 파장 가변 레이저 다이오드는 그것의 출력 파장(혹은 발진 주파수)을 조절할 수 있으며, 이러한 출력 파장을 조절하는 일반적인 방법으로는 전류 공급 방식이 있다. 상기 전류 공급 방식은 상기 파장 가변 레이저 다이오드의 이득(gain) 부분 외에, 위상 조절부(phase control), 전면 DBR 및/또는 후면 DBR에 전류를 가변적으로 공급하여 출력 파장을 조절하는 것이다. The tunable laser diode can adjust its output wavelength (or oscillation frequency), and a general method of controlling this output wavelength is a current supply method. The current supply method adjusts an output wavelength by variably supplying current to a phase control unit, a front DBR and / or a rear DBR, in addition to a gain portion of the tunable laser diode.

종래에는 상기와 같이 위상 조절, 전면 DBR 및 후면 DBR에 인가하는 전류의 조합을 미세하게 가변시켜서 출력 파장(발진 주파수) 및 사이드 모드 억제 비율(side mode suppression ratio)을 측정하여 광신호 채널과 일치하는지를 측정하였다. Conventionally, by varying the combination of the phase adjustment, the current applied to the front DBR and the rear DBR as described above, by measuring the output wavelength (oscillation frequency) and the side mode suppression ratio (side mode suppression ratio) whether or not match with the optical signal channel Measured.

그러나, 상기한 종래 기술은 상기 위상 조절부, 전면 DBR 및/또는 후면 DBR 각각에 미세하게 전류를 가변시켜 가면서 일치여부를 측정해야 하므로, 각 부분에 미세하게 전류를 공급해야하는 어려움이 있을 뿐 더러 일치 여부를 측정해야 하는 양이 방대하여, 파장을 측정하는데 비교적 긴 시간이 요구된다. 아울러, 상기한 측 정 공정은 각 레이저 다이오드마다 반복해야 하므로, 상용화하는데 어려움이 있다. However, the above-described prior art has to measure the match between the phase control unit, the front DBR and / or the rear DBR by varying the current minutely, so that there is a difficulty in supplying the current minutely to each part. Whether the amount to be measured is enormous, a relatively long time is required to measure the wavelength. In addition, since the measurement process must be repeated for each laser diode, it is difficult to commercialize.

따라서, 본 발명이 이루고자 하는 기술적 과제는 파장 가변 레이저 다이오드의 파장과 광신호 채널을 일치시키기 위한 시간을 감소시킬 수 있는 파장 가변 레이저 다이오드의 측정 시스템을 제공하는 것이다. Accordingly, an object of the present invention is to provide a measurement system of a tunable laser diode that can reduce the time for matching the wavelength of the tunable laser diode and the optical signal channel.

또한, 본 발명이 이루고자 하는 다른 기술적 과제는 상기한 파장 가변 레이저 다이오드의 측정 시스템을 이용하여 파장 가변 레이저 다이오드의 파장과 광신호 채널을 일치시키는 과정을 효율적으로 측정하는 방법을 제공하는 것이다. Another object of the present invention is to provide a method for efficiently measuring a process of matching a wavelength of an tunable laser diode with an optical signal channel using the tunable laser diode measuring system.

본 발명의 목적과 더불어 그의 다른 목적 및 신규한 특징은, 본 명세서의 기재 및 첨부 도면에 의하여 명료해질 것이다. 본원에서 개시된 발명중, 대표적 특징의 개요를 간단하게 설명하면 다음과 같다.Other objects and novel features as well as the objects of the present invention will become apparent from the description of the specification and the accompanying drawings. Among the inventions disclosed herein, an outline of representative features is briefly described as follows.

본 발명에 따른 파장 가변 레이저 다이오드의 측정 시스템은, 파장 가변 레이저 다이오드에 전류를 공급하는 전류 공급부와, 상기 파장 가변 레이저 다이오드의 광출력을 측정하는 제 1 광출력 측정기 및 상기 파장 가변 레이저 다이오드의 광출력 중 아이티유 그리드(ITU-GRID)에서 제공되는 광신호 채널과 오차 범위내에서 일치하는 광출력만을 필터링하여 측정하는 에탈론을 구비한 제 2 광출력 측정기를 포함한다. 또한, 상기 제 1 광출력 측정기에서 측정된 광출력과 상기 에탈론을 구비한 제 2 광출력 측정기에서 측정된 광출력을 비교하여 상기 전류 공급부의 전류 공급량을 제어하는 제어부를 포함한다.The measurement system of a tunable laser diode according to the present invention includes a current supply unit for supplying a current to the tunable laser diode, a first light output meter for measuring the light output of the tunable laser diode, and the light of the tunable laser diode. And a second optical power meter having an etalon for filtering and measuring only the optical power that is matched within an error range with the optical signal channel provided from the ITU-GRID. The controller may further include a controller configured to control the amount of current supplied to the current supply unit by comparing the light output measured by the first light output meter with the light output measured by the second light output meter including the etalon.

상기 파장 가변 레이저 다이오드의 측정 시스템은 전류량에 따라 상기 파장 가변 레이저 다이오드의 광출력 변화 데이터들을 갖는 저장부를 더 포함할 수 있고, 상기 제어부는 상기 제 1 광출력 측정기에서 측정된 광출력과 상기 제 2 광출력 측정기에서 측정된 광출력이 일치되지 않을 때 상기 저장부의 데이터를 의거하여 상기 전류 공급부에 제어 신호를 제공한다. The measurement system of the tunable laser diode may further include a storage unit having light output change data of the tunable laser diode according to an amount of current, and the controller is configured to output the light output measured by the first light output meter and the second. When the light output measured by the light output meter does not match, a control signal is provided to the current supply unit based on the data of the storage unit.

상기 에탈론은 그 투과율이 최대가 되는 광 주파수가 아이티유 그리드로 정의된 광 신호 채널과 오차 범위내에서 일치하고 그 주파수 간격이 광신호 채널간의 간격과 일치하는 것이 바람직하다.The etalon preferably has an optical frequency at which the transmittance is maximum coincides with the optical signal channel defined by the Haitian grid within an error range, and the frequency interval coincides with the interval between the optical signal channels.

또한, 본 발명의 다른 견지에 따른 파장 가변 레이저 다이오드의 측정방법은, 파장 가변 레이저 다이오드에 전류를 제공한다음, 상기 파장 가변 레이저 다이오드의 광출력 및 아이티유 그리드에서 제공하는 광신호 채널을 측정한다. 상기 파장 가변 레이저 다이오드의 광출력이 상기 아이티유 그리드에서 제공하는 광신호 채널이 오차 범위내에서 일치하는 가를 비교한다. 상기 파장 가변 레이저 다이오드의 광출력이 상기 아이티유 그리드에서 제공하는 광신호 채널이 오차 범위내에서 일치하면, 상기 파장 가변 레이저 다이오드의 광출력의 파장을 측정하고, 그렇지 않으면, 내장되어 있는 전류 데이터를 이용하여 파장 가변 레이저 다이오드에 입력되는 전류값을 조절한다. In addition, the method for measuring a tunable laser diode according to another aspect of the present invention, by providing a current to the tunable laser diode, and then measuring the optical output of the tunable laser diode and the optical signal channel provided by the Haitian grid. . The optical power of the tunable laser diode is compared to match the optical signal channel provided by the IIT grid within an error range. If the optical output channel of the tunable laser diode matches the optical signal channel provided by the IIT grid within an error range, the wavelength of the optical output of the tunable laser diode is measured. The current value input to the tunable laser diode is adjusted.

이하 첨부된 도면에 의거하여 본 발명의 바람직한 실시예를 설명하도록 한다. 그러나, 본 발명의 실시예들은 여러 가지 다른 형태로 변형될 수 있으며, 본 발명의 범위가 아래에서 상술하는 실시예들로 인해 한정되어지는 것으로 해석되어 져서는 안 된다. 본 발명의 실시예들은 당업계에서 평균적인 지식을 가진 자에게 본 발명을 보다 완전하게 설명하기 위해서 제공되어지는 것이다. 따라서, 도면에서의 요소의 형상 등은 보다 명확한 설명을 강조하기 위해서 과장되어진 것이며, 도면상에서 동일한 부호로 표시된 요소는 동일한 요소를 의미한다. Hereinafter, exemplary embodiments of the present invention will be described with reference to the accompanying drawings. However, embodiments of the present invention may be modified in many different forms, and the scope of the present invention should not be construed as being limited by the embodiments described below. Embodiments of the present invention are provided to more completely explain the present invention to those skilled in the art. Accordingly, the shape and the like of the elements in the drawings are exaggerated to emphasize a more clear description, and the elements denoted by the same reference numerals in the drawings means the same elements.

도 1은 본 발명의 실시예에 따른 파장 가변 레이저 다이오드의 측정 시스템을 나타낸 블록도이다. 1 is a block diagram illustrating a measurement system of a tunable laser diode according to an exemplary embodiment of the present invention.

본 발명의 파장 가변 레이저 다이오드(100)의 측정 시스템은 도 1에 도시된 바와 같이, 전류 공급부(110), 광 커플러(optic coupler: 120), 파장 측정기(130), 제 1 광출력 측정기(140), 에탈론(150)을 포함하는 제 2 광출력 측정기(160), 제어부(170) 및 저장부(180)를 포함한다. As shown in FIG. 1, the measurement system of the tunable laser diode 100 of the present invention includes a current supply unit 110, an optical coupler 120, a wavelength meter 130, and a first optical power meter 140. ), A second optical power meter 160 including an etalon 150, a controller 170, and a storage unit 180.

전류 공급부(110)는 파장 가변 레이저 다이오드(100)를 구동시키기 위하여 전류를 공급하는 장치이다. 전류 공급부(110)로부터 상기 파장 가변 레이저 다이오드(100)에 전류가 제공되면, 상기 입력되는 전류량에 따라 상기 파장 가변 레이저 다이오드(100)는 광을 출력한다. 이때, 전류 공급부(110)는 상기 파장 가변 레이저 다이오드(100)의 이득 부분에 전류를 제공할 수 있다. The current supply unit 110 is a device that supplies a current to drive the tunable laser diode 100. When a current is provided to the tunable laser diode 100 from the current supply unit 110, the tunable laser diode 100 outputs light according to the input current amount. In this case, the current supply unit 110 may provide a current to the gain portion of the tunable laser diode 100.

광 커플러(120)는 파장 가변 레이저 다이오드(100)에서 출력되는 광을 상기 파장 측정기(130), 제 1 광출력 측정기(140) 및 제 2 광출력 측정기(160)로 배분한다. 이때, 파장 측정기(130)는 이후 파장 가변 레이저 다이오드(100)의 광 출력과 광신호 채널이 일치하는 경우 파장 가변 레이저 다이오드(100)의 출력 파장을 측정하고, 제 1 광출력 측정기(140) 및 제 2 광출력 측정기(160)는 파장 가변 레이저 다이오드(100)의 광출력 데이터(P1,P2)를 측정한다. The optical coupler 120 distributes the light output from the tunable laser diode 100 to the wavelength meter 130, the first optical power meter 140, and the second optical power meter 160. At this time, the wavelength measuring unit 130 thereafter measures the output wavelength of the wavelength tunable laser diode 100 when the light output and the optical signal channel of the wavelength tunable laser diode 100 is matched, and the first optical power meter 140 and The second light output meter 160 measures the light output data P1 and P2 of the tunable laser diode 100.

여기서, 상기 제 1 광출력 측정기(140)는 파장 가변 레이저 다이오드(100)의 광 출력 데이터(P1)를 측정한다.Here, the first optical power meter 140 measures the light output data P1 of the tunable laser diode 100.

한편, 제 2 광출력 측정기(160)의 전단, 즉, 광 커플러(120)와 제 2 광출력 측정기(160)의 사이에는 일종의 필터(filter)로서 에탈론(150)이 설치된다. 에탈론(150)은 투과율이 최대가 되는 광 주파수가 광신호 채널과 일치되고, 투과율이 최대가 되는 주파수 간격(free spectral range)이 광신호 채널간의 간격과 일치된다. 또한, 알려진 바와 같이, 에탈론(150)은 투명 유리 소재 표면에 광학적 두께가 투과 중심 파장의 반인 중간층 및 그 양측에 다층 박막으로 형성되는 고반사층으로 구성되고, 1nm 이하의 매우 좁은 투과 파장 대역을 가지는 협대역 투과 특성을 가진다. 예를 들어, 1mm의 두께를 가지는 석영 유리의 양쪽면에 유전체 필름을 코팅하여 제조한다. 또한, 에틸론(150)은 빛의 입사 각도에 따라 투과 중심 파장을 변화시킬 수 있으며 입사광이 필터 표면에 수직으로 기울어질수록 투과 중심 파장은 짧아진다. 즉, 본 실시예에서 에탈론(150)은 ITU GRID에서 제공하는 광신호 채널과 일치하는 광만을 필터링하여, 상기 제 2 광출력 측정기(160)에 제공한다. 결국 본 실시예에서 에탈론(150)은 기준이 되는 광출력 데이터(P2)를 제공한다.  On the other hand, the etalon 150 is provided as a kind of filter in front of the second optical output meter 160, that is, between the optical coupler 120 and the second optical output meter 160. The etalon 150 has an optical frequency whose maximum transmittance is coincident with an optical signal channel, and a free spectral range where the transmittance is maximum coincides with an interval between optical signal channels. In addition, as is known, the etalon 150 is composed of an intermediate layer having an optical thickness of half of the transmission center wavelength on the surface of the transparent glass material and a high reflection layer formed of multilayer thin films on both sides thereof, and having a very narrow transmission wavelength band of 1 nm or less. Branch has narrowband transmission characteristics. For example, it is prepared by coating a dielectric film on both sides of quartz glass having a thickness of 1 mm. In addition, the ethylon 150 may change the transmission center wavelength according to the incident angle of light, and as the incident light is inclined perpendicular to the filter surface, the transmission center wavelength is shortened. That is, in this embodiment, the etalon 150 filters only the light that matches the optical signal channel provided by the ITU GRID, and provides the second optical power meter 160 to the second optical power meter 160. As a result, in this embodiment, the etalon 150 provides light output data P2 as a reference.

제어부(170)는 제 1 및 제 2 광출력 측정기(130,160)에서 얻어진 광출력 데이터(P1,P2)를 비교하여, 파장 가변 레이저 다이오드의 광출력 데이터(즉, P1)가 ITU-GRID의 광신호 채널(P2)과 일치여부와 사이드 모드 억제 비율(side mode suppression ratio:SMSR)을 판정한다. 만일 일치한다면, 파장 측정기(130)는 파장 가변 레이저 다이오드(100)의 출력 파장을 측정한다. 한편, 파장 가변 레이저 다이오드의 광출력(P1)과 ITU-GRID의 광신호 채널(P2)이 오차 범위 내에서 일치하지 않는다면, 제어부(170)는 파장 가변 레이저 다이오드(100)에 인가될 전류값을 조절하기 위한 제어 신호를 전류 공급부(110)에 인가한다. 그러면, 전류 공급부(110)는 상기 제어 신호에 의해 조절된 전류 값을 파장 가변 레이저 다이오드(100)에 입력한다.The controller 170 compares the light output data P1 and P2 obtained by the first and second light output measuring devices 130 and 160, so that the light output data (ie, P1) of the tunable laser diode is an ITU-GRID optical signal. It is determined whether or not the channel P2 matches and the side mode suppression ratio (SMSR). If there is a match, the wavelength meter 130 measures the output wavelength of the tunable laser diode 100. On the other hand, if the optical output P1 of the tunable laser diode and the optical signal channel P2 of the ITU-GRID do not coincide within the error range, the controller 170 may determine a current value to be applied to the tunable laser diode 100. A control signal for adjusting is applied to the current supply unit 110. Then, the current supply unit 110 inputs the current value adjusted by the control signal to the wavelength tunable laser diode 100.

이때, 제어부(170)는 전류 공급량에 따른 레이저 다이오드(100)의 출력 광 데이터들을 포함하는 저장부(180)와 연결되어, 저장부(180)내에서 룩업 테이블(look-up table)을 작성할 수 있으며, 상기 저장부(180)에 의해 손쉽게 전류 제어값을 산출할 수 있다.In this case, the controller 170 is connected to the storage unit 180 including the output optical data of the laser diode 100 according to the current supply amount, and can create a look-up table in the storage unit 180. In addition, the storage unit 180 can easily calculate the current control value.

도 2를 참조하여, 상기한 파장 가변 레이저 다이오드 측정 시스템을 이용한 측정방법을 설명한다.Referring to FIG. 2, a measuring method using the tunable laser diode measuring system described above will be described.

도 2를 참조하면, 파장 가변 레이저 다이오드(100)를 구동시키기 위하여, 전류 공급부(110)에 의해 파장 가변 레이저 다이오드(100)에 전류를 제공한다(S1).Referring to FIG. 2, in order to drive the tunable laser diode 100, a current is provided by the current supply unit 110 to the tunable laser diode 100 (S1).

파장 가변 레이저 다이오드(100)의 출력광은 광 커플러(120)에 의해 제 1 광출력 측정기(140) 및 제 2 광출력 측정기(150)로 배분된다. 제 1 광출력 측정기(140)는 파장 가변 레이저 다이오드(100)의 광출력을 측정하고, 제 2 광출력 측정기(160)는 파장 가변 레이저 다이오드(100)의 광출력 중 ITU-GRID에서 제공하는 광신호 채널과 일치하는 광출력만을 측정한다(S2). 이때, 제 2 광출력 측정기(160)는 에탈론(150)에 의해 ITU-GRID의 광신호 채널과 일치하는 빛을 입력받을 수 있다. The output light of the tunable laser diode 100 is distributed by the optical coupler 120 to the first optical power meter 140 and the second optical power meter 150. The first light output meter 140 measures the light output of the tunable laser diode 100, and the second light output meter 160 provides light provided by the ITU-GRID among the light outputs of the tunable laser diode 100. Only the light output matching the signal channel is measured (S2). In this case, the second optical power meter 160 may receive light corresponding to the optical signal channel of the ITU-GRID by the etalon 150.

다음, 제어부(170)는 제 1 광출력 측정기(140)로부터 측정된 데이터(P1)가 제 2 광출력 측정기(160)로부터 측정된 데이터(P2)와 오차 범위내에서 일치하는지를 비교한다(S3). Next, the controller 170 compares whether the data P1 measured from the first light output meter 140 matches the data P2 measured from the second light output meter 160 within an error range (S3). .

제 1 광출력 측정기(140)로부터 측정된 데이터(P1)가 제 2 광출력 측정기(160)로부터 측정된 데이터(P1)와 오차 범위내에서 일치하는 경우, 파장 측정기(130)는 상기 파장 가변 레이저 다이오드(100)의 출력 파장을 정확히 측정한다(S4). When the data P1 measured from the first light output meter 140 coincides with the data P1 measured from the second light output meter 160 within an error range, the wavelength meter 130 is configured to adjust the wavelength tunable laser. The output wavelength of the diode 100 is accurately measured (S4).

한편, 제 1 광출력 측정기(140)로부터 측정된 데이터(P1)가 제 2 광출력 측정기(160)로부터 측정된 데이터(P1)와 오차 범위내에서 일치하지 않는 경우, 저장부(180)에 저장된 데이터를 근거하여, 제어부(170)는 상기 전류 공급부(110)에 제어 신호를 제공한다. 그러면, 전류 공급부(110)는 조절된 전류값을 상기 파장 가변 레이저 다이오드(100)에 공급한다(S5).On the other hand, if the data P1 measured from the first light output meter 140 does not match the data P1 measured from the second light output meter 160 within an error range, the data stored in the storage unit 180 is stored. Based on the data, the controller 170 provides a control signal to the current supply unit 110. Then, the current supply unit 110 supplies the adjusted current value to the tunable laser diode 100 (S5).

이상 본 발명을 바람직한 실시예를 들어 상세하게 설명하였으나, 본 발명은 상기 실시예에 한정되지 않고, 본 발명의 기술적 사상의 범위 내에서 당 분야에서 통상의 지식을 가진 자에 의하여 여러가지 변형이 가능하다.Although the present invention has been described in detail with reference to preferred embodiments, the present invention is not limited to the above embodiments, and various modifications may be made by those skilled in the art within the scope of the technical idea of the present invention. .

이상에서 자세히 설명한 바와 같이, 본 발명에 의한 시스템은 파장 가변 레이저 다이오드의 광출력 데이터를 측정하는 제 1 광출력 측정기, ITU-GRID에서 제공되는 광신호 채널의 광출력 데이터를 검출해내는 에탈론을 구비한 제 2 광출력 측정기 및 전류에 대한 파장 가변 레이저 다이오드의 광출력 데이터를 내장하는 저 장부를 포함한다. As described in detail above, the system according to the present invention provides a first optical output measuring instrument for measuring optical output data of a tunable laser diode, an etalon for detecting optical output data of an optical signal channel provided by ITU-GRID. It includes a second optical power meter and a storage unit for storing the optical output data of the tunable laser diode for the current.

이러한 본 발명의 시스템은 제 1 광출력 측정기로부터 측정된 데이터와 제 2 광출력 측정기로부터 측정된 데이터의 비교에 의해 파장 가변 레이저 다이오드의 출력 주파수가 ITU-GRID에서 제공되는 광신호 채널과 일치되는지를 판단하고, 파장 가변 레이저 다이오드의 출력 주파수가 ITU-GRID에서 제공되는 광신호 채널과 일치되지 않는 경우, 상기 저장부에 저장되어 있는 데이터에 의해 파장 가변 레이저 다이오드의 전류 공급값을 조절한다. The system of the present invention compares the data measured from the first optical power meter with the data measured from the second optical power meter to determine whether the output frequency of the tunable laser diode matches the optical signal channel provided in the ITU-GRID. If the output frequency of the tunable laser diode does not match the optical signal channel provided by the ITU-GRID, the current supply value of the tunable laser diode is adjusted according to the data stored in the storage unit.

이러한 본 발명의 시스템은 파장 가변 레이저 다이오드의 출력 주파수를 측정하는데 필요한 파장측정기 사용횟수를 대폭 감소시켜 종래에 비해 파장 가변 레이저 다이오드의 출력 주파수를 ITU-GRID에 일치시키는 시간을 감소시킬 수 있다. 상용화 되어 있는 파장 측정기의 경우 측정 시간이 수 초에 달하므로 모든 전류 조합에 대하여 파장측정기를 이용하여 정확한 파장을 측정하는 것은 실질적으로 불가능하다. 상용화 되어 있는 광출력측정기의 경우 측정시간이 수 mS에서 수십 mS에 불과하다. 본 발명에서는 이러한 광출력측정기와 에탈론의 특성을 이용하여 파장측정기 사용횟수를 대폭 줄여 파장가변 레이저다이오드의 광출력 주파수를 ITU-GRID에 일치 시키는데 필요한 시간을 대폭 줄일 수 있다.Such a system of the present invention can significantly reduce the frequency of use of the wavelength measuring device required to measure the output frequency of the tunable laser diode, thereby reducing the time for matching the output frequency of the tunable laser diode to ITU-GRID. In the case of the commercially available wavelength measuring device, the measurement time is several seconds, so it is practically impossible to measure the correct wavelength using the wavelength measuring device for all current combinations. In the case of commercially available optical power measuring devices, the measurement time is only a few mS to tens of mS. In the present invention, by using the characteristics of the optical power meter and the etalon can significantly reduce the frequency of use of the wavelength meter can significantly reduce the time required to match the optical output frequency of the wavelength variable laser diode to the ITU-GRID.

Claims (6)

파장 가변 레이저 다이오드에 전류를 공급하는 전류 공급부;A current supply unit supplying current to the tunable laser diode; 상기 파장 가변 레이저 다이오드의 광출력을 측정하는 제 1 광출력 측정기;A first light output meter for measuring light output of the tunable laser diode; 상기 파장 가변 레이저 다이오드의 광출력 중 아이티유 그리드(ITU-GRID)에서 제공되는 광신호 채널과 오차 범위내에서 일치하는 광출력만을 필터링하여 측정하는 에탈론을 구비한 제 2 광출력 측정기; 및A second optical power meter having an etalon for filtering and measuring only the optical power that matches the optical signal channel provided in the ITU-GRID among the optical powers of the tunable laser diode within an error range; And 상기 제 1 광출력 측정기에서 측정된 광출력과 상기 에탈론을 구비한 제 2 광출력 측정기에서 측정된 광출력을 비교하여 상기 전류 공급부의 전류 공급량을 제어하는 제어부를 포함하는 파장 가변 레이저 다이오드의 측정 시스템. Measuring a wavelength tunable laser diode comprising a control unit for controlling the current supply amount of the current supply unit by comparing the light output measured by the first optical output meter and the optical output measured by the second optical output meter with the etalon system. 제 1 항에 있어서, 전류량에 따라 상기 파장 가변 레이저 다이오드의 광출력 변화 데이터들을 갖는 저장부를 더 포함하고, The method of claim 1, further comprising a storage unit having light output change data of the tunable laser diode according to the amount of current, 상기 제어부는 상기 제 1 광출력 측정기에서 측정된 광출력과 상기 제 2 광출력 측정기에서 측정된 광출력이 일치되지 않을 때 상기 저장부의 데이터를 의거하여 상기 전류 공급부에 제어신호를 제공하는 것을 특징으로 하는 파장 가변 레이저 다이오드의 측정 시스템.The controller may provide a control signal to the current supply unit based on data of the storage unit when the light output measured by the first light output meter does not match the light output measured by the second light output meter. Measurement system of a tunable laser diode. 제 1 항에 있어서, 상기 파장 가변 레이저 다이오드와, 상기 제 1 및 제 2 광출력 측정기 사이에 광출력을 배분하는 광 커플러가 더 설치되는 것을 특징으로 하는 파장 가변 레이저 다이오드의 측정 시스템.The measuring system of a tunable laser diode according to claim 1, further comprising an optical coupler for distributing an optical output between the tunable laser diode and the first and second optical power measuring instruments. 제 1 항에 있어서, 상기 파장 가변 레이저 다이오드의 출력 파장을 측정하는 파장 측정기를 더 포함하는 파장 가변 레이저 다이오드의 측정 시스템.The system of claim 1, further comprising a wavelength meter for measuring an output wavelength of the tunable laser diode. 제 1 항에 있어서, 상기 에탈론은 그 투과율이 최대가 되는 광 주파수가 아이티유 그리드로 정의된 광 신호 채널과 오차 범위내에서 일치하고 그 주파수 간격이 광신호 채널간의 간격과 일치하는 것을 특징으로 파장 가변 레이저 다이오드의 측정 시스템.The method of claim 1, wherein the etalon is characterized in that the optical frequency at which the transmittance is maximum coincides within the error range with the optical signal channel defined by the Haitian grid, and the frequency interval coincides with the interval between the optical signal channels. Measurement system of tunable laser diode. 파장 가변 레이저 다이오드에 전류를 제공하는 단계;Providing a current to the tunable laser diode; 상기 파장 가변 레이저 다이오드의 광출력 및 아이티유 그리드(ITU-GRID)에서 제공하는 광신호 채널을 측정하는 단계;Measuring an optical output channel of the tunable laser diode and an optical signal channel provided by an ITU-GRID; 상기 파장 가변 레이저 다이오드의 광출력이 상기 아이티유 그리드에서 제공하는 광신호 채널 출력과 오차 범위내에서 일치하는 가를 비교하는 단계; 및Comparing the optical power of the tunable laser diode with an optical signal channel output provided by the IT grid within an error range; And 상기 파장 가변 레이저 다이오드의 광출력이 상기 아이티유 그리드에서 제공하는 광신호 채널 출력과 오차 범위내에서 일치하면, 상기 파장 가변 레이저 다이오드의 광출력의 파장을 측정하고, 그렇지 않으면, 내장되어 있는 전류 데이터를 이용하여 파장 가변 레이저 다이오드에 입력되는 전류값을 조절하는 단계를 포함하며,If the optical output of the tunable laser diode matches the optical signal channel output provided by the IIT grid within an error range, the wavelength of the optical output of the tunable laser diode is measured. Otherwise, the embedded current data Adjusting the current value input to the tunable laser diode using, 상기 아이티유 그리드에서 제공하는 광신호 채널은 에탈론을 구비한 광출력 측정기로부터 상기 파장 가변 레이저 다이오드의 광출력을 측정하여 얻어지는 것을 특징으로 하는 파장 가변 레이저 다이오드의 측정방법. The optical signal channel provided by the Haitian grid is obtained by measuring the optical output of the wavelength tunable laser diode from an optical power meter having an etalon.
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