KR100691325B1 - Method and apparatus for inspecting display panel - Google Patents

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삼성전자주식회사
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    • G09G3/006—Electronic inspection or testing of displays and display drivers, e.g. of LED or LCD displays

Abstract

본 발명은 표시패널의 검사방법과 표시패널의 검사장치에 관한 것이다. 본 발명에 따른 표시패널의 검사방법은 표시패널에 밝기불량검출을 위한 패턴을 인가하고 영상 처리를 통해 밝기불량부분을 검출하는 단계와; 상기 표시패널에 다양한 계조를 가진 휘도패턴을 인가하는 단계와; 상기 밝기불량부분의 휘도와 인접한 부분과의 휘도를 비교하여 상기 밝기불량부분의 계조를 계산하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 한다. 이에 의해 계조를 검출하여 표시패널의 불량여부를 정확히 판단할 수 있다.The present invention relates to an inspection method for a display panel and an inspection apparatus for a display panel. An inspection method of a display panel according to the present invention includes the steps of applying a pattern for detecting a brightness defect to a display panel and detecting a brightness defect part through image processing; Applying a luminance pattern having various gradations to the display panel; And calculating a gray level of the poor brightness portion by comparing the brightness of the poor brightness portion with the brightness of the adjacent portion. As a result, the gray scale can be detected to accurately determine whether the display panel is defective.

Description

표시패널의 검사방법과 표시패널의 검사장치{METHOD AND APPARATUS FOR INSPECTING DISPLAY PANEL}Inspection method of display panel and inspection device of display panel {METHOD AND APPARATUS FOR INSPECTING DISPLAY PANEL}

도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 표시패널 검사장치의 구성도이고,1 is a block diagram of a display panel inspection device according to an embodiment of the present invention;

도 2는 본 발명의 일 실시예에 따른 표시패널 검사장치의 제2패턴 인가부에서 인가하는 휘도패턴을 설명하기 위한 도면이며,FIG. 2 is a diagram for describing a luminance pattern applied by a second pattern applying unit of a display panel inspecting apparatus according to an exemplary embodiment.

도 3은 본 발명의 일 실시예에 따른 표시패널의 검사방법을 설명하기 위한 순서도이다.3 is a flowchart illustrating a method of inspecting a display panel according to an exemplary embodiment of the present invention.

* 도면의 주요부분의 부호에 대한 설명 *Explanation of Signs of Major Parts of Drawings

10 : 패턴 인가부 11 : 제1패턴 인가부10: pattern applying unit 11: first pattern applying unit

12 : 제2패턴 인가부 20 : 촬상부12: second pattern applying unit 20: imaging unit

30 : 데이터 처리부 31 : 영상처리부 30: data processing unit 31: image processing unit

32 : 불량결정부 32: defect determination unit

본 발명은 표시패널의 검사방법과 표시패널의 검사장치에 관한 것으로서, 더욱 상세하게는, 휘도 패턴을 이용하여 밝기성 불량부분의 계조를 측정하는 표시패 널의 검사방법과 표시패널의 검사장치에 관한 것이다.The present invention relates to a method for inspecting a display panel and an inspection apparatus for a display panel. More particularly, the present invention relates to a method for inspecting a display panel and a test apparatus for a display panel that measure gray levels of poor brightness using a luminance pattern. It is about.

평판표시장치(flat panel display)로서 액정표시장치(LCD)가 널리 사용되고 있다. 액정표시장치는 액정패널과 백라이트 유닛을 포함하며, 액정표시패널은 스위칭 소자인 박막트랜지스터가 형성되어 있는 박막트랜지스터 기판, 컬러필터층이 형성되어 있는 컬러필터 기판 그리고 양 기판 사이에 형성되어 있는 액정층을 포함한다.Liquid crystal display (LCD) is widely used as a flat panel display. The liquid crystal display device includes a liquid crystal panel and a backlight unit, and the liquid crystal display panel includes a thin film transistor substrate on which a thin film transistor as a switching element is formed, a color filter substrate on which a color filter layer is formed, and a liquid crystal layer formed between both substrates. Include.

액정표시장치의 제조에 있어 여러 검사가 수행된다. 검사는 박막트랜지스터 기판과 컬러필터 기판 각각에 대하여 수행될 수도 있으며, 양 기판이 접합된 액정표시패널에 대하여 수행될 수도 있다. Various tests are performed in the manufacture of the liquid crystal display. The inspection may be performed on each of the thin film transistor substrate and the color filter substrate, or may be performed on the liquid crystal display panel where both substrates are bonded.

액정표시패널에 대한 검사 중 완성된 액정표시패널에 일정한 패턴을 인가하고 카메라를 이용하여 액정표시패널에 형성된 화면을 촬영하여 불량여부를 검출하는 검사가 있다. 이 검사에서는 주위와 다른 밝기를 가지는 부분을 찾아내고 밝기 차이, 즉 대비비(contrast) 차이를 계산하여 밝기불량부분을 검출한다.During the inspection of the liquid crystal display panel, a predetermined pattern is applied to the completed liquid crystal display panel, and the inspection is performed to detect a defect by photographing a screen formed on the liquid crystal display panel using a camera. This test detects areas with different brightness from the surroundings and calculates brightness differences, or contrast differences, to detect areas of poor brightness.

대부분의 사용자는 밝기불량부분의 계조에 관한 정보를 원하는 반면 종래의 검사 방법은 주위와의 대비비 차이만으로 불량을 판단하기 때문에 밝기불량부분의 계조를 제공할 수 없는 문제가 있다. 또한 카메라의 위치, 패널 위치, 카메라 렌즈 왜곡, 색상에 의하여 대비비가 변화하거나 밝기 값에 오차가 발생하는 문제가 있다.While most users want information on the gray scale of the poor brightness portion, the conventional inspection method has a problem in that it cannot provide the gray scale of the poor brightness portion because the defect is judged only by a difference in contrast ratio from the surroundings. In addition, there is a problem that the contrast ratio changes due to the position of the camera, the panel position, the camera lens distortion, and the color, or an error occurs in the brightness value.

본 발명의 목적은 계조를 검출하여 표시패널의 불량여부를 정확히 판단할 수 있는 표시패널의 검사방법을 제공하는 것이다.SUMMARY OF THE INVENTION An object of the present invention is to provide a method for inspecting a display panel which can accurately determine whether a display panel is defective by detecting gray scales.

본 발명의 다른 목적은 계조를 검출하여 표시패널의 불량여부를 정확히 판단할 수 있는 표시패널의 검사장치를 제공하는 것이다.Another object of the present invention is to provide a display panel inspection apparatus capable of accurately determining whether a display panel is defective by detecting a gray scale.

상기의 목적은 표시패널의 검사방법에 있어서, 표시패널에 밝기불량검출을 위한 패턴을 인가하고 영상 처리를 통해 밝기불량부분을 검출하는 단계와; 표시패널에 다양한 계조를 가지는 휘도패턴을 인가하는 단계와; 상기 밝기불량부분의 휘도와 인접한 부분과의 휘도를 비교하여 상기 밝기불량부분의 계조를 계산하는 단계를 포함하는 것에 의해 달성될 수 있다. The above object is a method of inspecting a display panel, the method comprising: applying a pattern for detecting a brightness defect to a display panel and detecting a brightness defect part through image processing; Applying a luminance pattern having various gradations to the display panel; And comparing the luminance of the poor brightness portion with the brightness of the adjacent portion to calculate the gray level of the poor brightness portion.

상기 휘도패턴은 상기 액정표시패널을 복수의 구역으로 나누어 인가되는 것이 바람직하다.The luminance pattern may be applied by dividing the liquid crystal display panel into a plurality of zones.

상기 휘도패턴은 적색, 녹색, 청색 별로 다양한 계조를 가지는 것이 바람직하다.Preferably, the luminance pattern has various gray levels for each of red, green, and blue.

상기 본 발명의 다른 목적은 표시패널의 검사장치에 있어서, 표시패널에 밝기불량검출을 위한 패턴을 인가하는 제1패턴 인가부와; 상기 표시패널에 다양한 계조의 휘도패턴을 인가하는 제2패턴 인가부와; 상기 패턴이 인가된 상기 표시패널의 영상을 촬상하는 촬상부와; 상기 촬상부로부터의 영상을 처리하여 밝기불량부분의 계조를 계산하는 데이터 처리부를 포함하는 것에 의하여 달성된다.According to another aspect of the present invention, there is provided an inspection apparatus for a display panel, comprising: a first pattern applying unit configured to apply a pattern for detecting poor brightness to a display panel; A second pattern applying unit configured to apply luminance patterns having various gradations to the display panel; An imaging unit which picks up an image of the display panel to which the pattern is applied; It is achieved by including a data processor for processing the image from the image pickup unit to calculate the gradation of the poor brightness portion.

상기 제2패턴 인가부는 상기 표시패널을 복수의 구역으로 나누어 상기 휘도패턴을 인가하며, 상기 촬상부는 상기 표시패널의 영상을 적색, 녹색, 청색 별로 촬상하는 것이 바람직하다.The second pattern applying unit divides the display panel into a plurality of zones to apply the luminance pattern, and the image capturing unit captures an image of the display panel in red, green, and blue colors.

이하 첨부된 도면을 참조로 하여 본 발명을 더욱 상세히 설명하겠다. 본 발명의 '표시패널'은, 이에 한정되지는 않으나, 액정표시장치의 액정표시패널 또는 유기전기발광장치(organic light emitting diode)의 표시패널을 포함한다. 이하의 실시예에서는 '표시패널'로 액정표시패널을 예로 들어 본 발명을 설명한다.Hereinafter, the present invention will be described in more detail with reference to the accompanying drawings. The display panel of the present invention includes, but is not limited to, a liquid crystal display panel of a liquid crystal display device or a display panel of an organic light emitting diode. In the following embodiment, the present invention will be described using the liquid crystal display panel as an example of the display panel.

도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 표시패널 검사장치의 구성도이다.1 is a block diagram of a display panel inspection device according to an exemplary embodiment of the present invention.

표시패널 검사장치(1)는 액정표시패널(100)에 검사를 위한 패턴을 인가하는 패턴 인가부(10), 액정표시패널(100)에 형성된 화상을 촬상하는 촬상부(20), 촬상부(20)에서 촬상한 화면을 처리하여 불량여부를 판단하는 데이터 처리부(30)를 포함한다.The display panel inspecting apparatus 1 includes a pattern applying unit 10 for applying a pattern for inspection to the liquid crystal display panel 100, an imaging unit 20 for photographing an image formed on the liquid crystal display panel 100, and an imaging unit ( And a data processor 30 for processing the screen shot at 20) and determining whether the screen is defective.

패턴 인가부(10)는 밝기불량을 검출하기 위한 패턴(이하 밝기불량 검출패턴)을 인가하는 제1패턴 인가부(11)와 색상별로 다양한 계조를 가진 패턴(이하 휘도패턴)을 인가하는 제2패턴 인가부(12)를 포함한다.The pattern applying unit 10 may include a first pattern applying unit 11 for applying a pattern for detecting brightness defects (hereinafter referred to as a brightness detection pattern) and a second pattern for applying a pattern having various gradations for each color (hereinafter, referred to as a luminance pattern). The pattern applying unit 12 is included.

액정표시패널(100)은 서로 직교하여 화소를 정의하는 게이트선 및 데이터선, 게이트선과 데이터선의 교차영역에 위치하는 스위칭 소자인 박막트랜지스터를 포함한다. 게이트선과 데이터선은 게이트 구동부와 데이터 구동부에 연결되어 있으며, 게이트 구동부와 데이터 구동부를 구동시켜 화면을 형성하게 된다. 패턴 인가부(10)는 게이트 구동부와 데이터 구동부에 연결되거나, 게이트 구동부와 데이터 구동부의 역할까지 수행하며 액정표시패널(100)에 검사를 위한 화면 패턴을 인가한다.The liquid crystal display panel 100 includes a thin film transistor, which is a switching element positioned at an intersection region of a gate line and a data line and a gate line and a data line, which are perpendicular to each other. The gate line and the data line are connected to the gate driver and the data driver, and drive the gate driver and the data driver to form a screen. The pattern applying unit 10 is connected to the gate driver and the data driver, or even serves as a gate driver and a data driver, and applies a screen pattern for inspection to the liquid crystal display panel 100.

제1패턴 인가부(11)는 액정표시패널의 밝기불량을 검출하기 위한 밝기불량 검출 패턴으로서, 예를 들어, 화면 전체에 블랙 신호를 인가 할 수 있다. 이 때 불량이 발생한 부분은 블랙을 이루지 못하여 주위와 대비비 차이가 발생하기 때문에 불량확인이 가능하다.The first pattern applying unit 11 is a brightness poor detection pattern for detecting a brightness defect of the liquid crystal display panel. For example, the first pattern applying unit 11 may apply a black signal to the entire screen. At this time, the defective part is not black, so it is possible to check the defect because the difference in the contrast ratio with the surroundings occurs.

제2패턴 인가부(12)에서 액정표시패널(100)에 인가하는 휘도 패턴을 도 2를 참조하여 설명한다. 도 2는 본 발명의 일 실시예에 따른 표시패널 검사장치의 제2패턴 인가부에서 인가하는 휘도패턴을 설명하기 위한 도면이다.A luminance pattern applied to the liquid crystal display panel 100 by the second pattern applying unit 12 will be described with reference to FIG. 2. FIG. 2 is a diagram for describing a luminance pattern applied by a second pattern applying unit of a display panel inspecting apparatus according to an exemplary embodiment.

제2패턴 인가부(12)는 액정표시패널(100)의 화면을 복수의 구역(101)으로 나누어 휘도 패턴을 인가한다. 각 구역(101)별로 인가되는 휘도 패턴은, 이에 한정되지는 않으나, 동일하다. 도 2에서 액정표시패널(100)의 화면은 가로, 세로가 각각 10×10으로 나누어져 동일한 크기와 형상의 100개의 구역(101)으로 나누어져 있다. The second pattern applying unit 12 divides the screen of the liquid crystal display panel 100 into a plurality of zones 101 and applies a luminance pattern. The luminance pattern applied to each zone 101 is not limited thereto, but is the same. In FIG. 2, the screen of the liquid crystal display panel 100 is divided into 10 zones 10 each having a width and a length thereof divided into 100 zones 101 having the same size and shape.

어느 한 구역(101)에 인가되는 휘도 패턴은 적색(R), 녹색(G), 청색(B) 별로 나누어져 있다. 적색 패턴(R1 내지 R16)을 예로 들면, 적색 패턴은 16개의 서브-구역(102)을 이루어져 있으며 각 서브-구역(102)의 계조는 서로 다르다. 액정표시패널(100)이 표시할 수 있는 계조가 256계조라면 각 서브-구역(102) 간은 약 16계조 차이를 두고 순차적으로 배치되어 있다. 도 2에서 R1으로 표시된 서브-구역(102)은 가장 어두운 1계조를 R16으로 표시된 서브-구역(102)은 가장 밝은 256계조를 표시할 수 있다. 적색 패턴 아래에는 적색 패턴과 동일한 계조 패턴을 가지는 녹색 패턴(G1 내지 G16)과 청색 패턴(B1 내지 B16)이 위치한다. 도 2에서는 서브-구역(102)이 상당한 면적을 가지고 있으나, 이와 달리 서브-구역(102)은 휘점일 수 있 다.The luminance pattern applied to any one zone 101 is divided into red (R), green (G), and blue (B). Taking the red patterns R1 to R16 as an example, the red pattern consists of 16 sub-zones 102, and the gray levels of each sub-zone 102 are different. If the gray level that the liquid crystal display panel 100 can display is 256 gray levels, the sub-zones 102 are sequentially disposed with a difference of about 16 gray levels. In FIG. 2, the sub-zone 102 denoted by R1 may display the darkest one gradation, and the sub-zone 102 denoted by R16 may display the brightest 256 gradations. Below the red pattern, green patterns G1 to G16 and blue patterns B1 to B16 having the same gradation pattern as the red pattern are positioned. In FIG. 2, the sub-zone 102 has a significant area, but in contrast, the sub-zone 102 may be a bright spot.

휘도 패턴은 밝기불량 검출패턴과 달리 액정표시패널(100)을 복수의 구역(101)으로 나누어 패턴을 인가하기 때문에 위치에 따른 오차를 감소시킬 수 있다. 휘도 패턴은 색상별로 패턴을 가지고 있기 때문에 색상에 따른 대비비와 휘도 오차를 감소시킬 수 있다. 또한 휘도 패턴은 여러 계조의 서브-구역(102)을 가지고 있기 때문에 밝기불량 부분의 실제 계조를 검출하기 용이하다.Unlike the brightness deterioration detection pattern, the luminance pattern divides the liquid crystal display panel 100 into a plurality of regions 101 to apply a pattern, thereby reducing an error according to a position. Since the luminance pattern has patterns for each color, the contrast ratio and luminance error according to the color can be reduced. In addition, since the luminance pattern has sub-zones 102 of various gradations, it is easy to detect actual gradations of the poor brightness portion.

이상의 휘도 패턴에 있어, 구역(101)의 형상과 개수, 서브-구역(102)의 형상과 개수, 서브-구역(102) 간의 계조차이 등은 필요에 따라 다양하게 변화할 수 있다.In the above luminance pattern, the shape and number of the zones 101, the shape and number of the sub-zones 102, the system between the sub-zones 102, and the like may vary as needed.

촬상부(20)는 패턴 인가부(10)에 의해 액정표시패널(100)에 형성된 화상을 촬상한다. 촬상부(20)는 CCD(charge-coupled device) 카메라를 포함하는데 액정표시패널(100)의 크기가 커지면 하나의 CCD 카메라로 전체 화상을 촬상하기 어려워 CCD 카메라는 복수개로 마련되는 것이 바람직하다. CCD 카메라에는 미소한 화소가 복수개 마련되어 있어 화소 별로 측정대상의 밝기를 측정할 수도 있다. CCD 카메라는 액정표시패널(100)의 화소별 색상을 구분할 수 있는 컬러 CCD카메라인 것이 바람직하며, 블랙 CCD 카메라의 경우 적색, 녹색, 청색 컬러 필러를 갖추는 것이 바람직하다. 촬상부(20)는 고정되어 있을 수 있으나 액정표시패널(100)과 상대적으로 이동하는 것이 바람직하다. 이를 위해 액정표시패널(100)이 X-Y구동하는 스테이지(도시하지 않음)에 안착되어 있거나, 촬상부(20)가 X-Y구동시키는 구동부(도시하지 않음)에 연결되어 있을 수 있다. The imaging unit 20 picks up an image formed on the liquid crystal display panel 100 by the pattern applying unit 10. The imaging unit 20 includes a charge-coupled device (CCD) camera, but when the size of the liquid crystal display panel 100 increases, it is difficult to capture an entire image with one CCD camera, and thus, a plurality of CCD cameras is preferably provided. The CCD camera is provided with a plurality of minute pixels, so that the brightness of the measurement target can be measured for each pixel. The CCD camera is preferably a color CCD camera capable of distinguishing the color of each pixel of the liquid crystal display panel 100. In the case of a black CCD camera, it is preferable to have red, green, and blue color fillers. The imaging unit 20 may be fixed but preferably moved relatively to the liquid crystal display panel 100. To this end, the liquid crystal display panel 100 may be mounted on a stage (not shown) for driving X-Y, or the imaging unit 20 may be connected to a driving unit (not shown) for driving X-Y.

영상처리부(30)는 촬상부(20)에서 촬상한 영상를 처리하여 밝기불량 부분을 검출하고 밝기불량 부분의 계조를 계산하고 액정표시패널(10)의 불량여부를 판단한다.The image processor 30 processes the image captured by the imaging unit 20 to detect a poor brightness portion, calculates a gray level of the poor brightness portion, and determines whether the LCD panel 10 is defective.

영상처리부(30)는 촬상된 화상을 처리하는 영상처리부(31)와 불량결정부(32)를 포함한다. 영상처리부(31)는 촬상된 영상을 처리하여 밝기불량 부분을 검출한다. 불량결정부(32)는 휘점 패턴 매칭(matching)을 통해 밝기불량 부분의 계조를 측정하고 액정표시패널(10)의 불량여부를 판단한다. 휘도 패턴이 인가되면 액정표시패널(10)에는 색상/휘도가 다양한 패턴이 형성되며 불량결정부(32)는 밝기 불량부분과 휘도 패턴을 비교하여 밝기불량 부분의 계조를 결정한다. 불량결정부(32)는 계조 결정을 위해 LSE(least square estimation) 방법을 사용할 수 있다.The image processing unit 30 includes an image processing unit 31 and a defect determining unit 32 for processing the captured image. The image processor 31 processes the captured image to detect a poor brightness portion. The defect determining unit 32 measures the gray level of the poor brightness portion through the bright point pattern matching and determines whether the liquid crystal display panel 10 is defective. When the luminance pattern is applied, a pattern having various colors / luminances is formed on the liquid crystal display panel 10, and the defect determination unit 32 compares the brightness defective portion with the luminance pattern to determine the gray level of the poor brightness portion. The bad decision unit 32 may use a least square estimation (LSE) method for gray level determination.

이하 도 3을 참조하여 본 발명의 일 실시예에 따른 표시패널의 검사방법을 설명한다. 도 3은 본 발명의 일 실시예에 따른 표시패널의 검사방법을 설명하기 위한 순서도이다.Hereinafter, an inspection method of a display panel according to an exemplary embodiment of the present invention will be described with reference to FIG. 3. 3 is a flowchart illustrating a method of inspecting a display panel according to an exemplary embodiment of the present invention.

먼저 제1패턴 인가부(11)가 액정표시패널(100)에 밝기불량검출 패턴을 인가한다(S100). 액정표시패널(100)은 X-Y구동 가능한 스테이지에 안착되어 있을 수 있다. 또한 이하의 액정표시패널(100)의 검사는 일정한 온도에서 수행되는 것이 바람직한데, 이를 위해 액정표시패널(100)은 온도챔버에 수용되거나 온도 플레이트 상에 위치할 수도 있다. First, the first pattern applying unit 11 applies a brightness defect detection pattern to the liquid crystal display panel 100 (S100). The liquid crystal display panel 100 may be mounted on an X-Y driving stage. In addition, the following inspection of the liquid crystal display panel 100 is preferably performed at a constant temperature. For this purpose, the liquid crystal display panel 100 may be accommodated in a temperature chamber or positioned on a temperature plate.

밝기불량 검출패턴은, 예를 들어, 액정표시패널(100)의 화면을 블랙 상태로 만드는 패턴일 수 있다.The poor brightness detection pattern may be, for example, a pattern for bringing the screen of the liquid crystal display panel 100 into a black state.

이후 밝기불량 검출패턴에 의해 형성된 액정표시패널(100)의 영상을 촬상한다(S200). 영상 촬상은 CCD 카메라를 포함하는 촬상부(20)가 수행하며, 복수의 CCD 카메라를 이용하여 영상을 촬상하는 것도 가능하다. Thereafter, an image of the liquid crystal display panel 100 formed by the poor brightness detection pattern is captured (S200). Image capturing is performed by the image capturing unit 20 including a CCD camera, and it is also possible to capture an image using a plurality of CCD cameras.

이후 촬상된 영상에 기초하여 밝기불량 부분을 검출한다(S300). 불량이 발생한 부분은 주위의 블랙 상태와 다른 휘도를 가지므로 밝기불량부분을 검출할 수 있다. 밝기불량 부분의 판단은 주위와의 대비비가 일정 수준 이상인지 여부로 결정할 수 있다.Thereafter, the defective portion of brightness is detected based on the captured image (S300). Since the defective part has a different luminance from the surrounding black state, the defective part can be detected. Determination of the poor brightness may be determined by whether the contrast ratio with the surroundings is above a certain level.

이후 액정표시패널(100)에 휘도 패턴을 인가한다(S400). 휘도 패턴은 밝기불량부분이 검출된 구역(101)에만 선택적으로 인가될 수 있다. 액정표시패널(100)은 복수의 구역으로 나누어지며 휘도 패턴은 구역마다 동일한 패턴이 인가될 수 있다. 휘도 패턴은 색상별로 다양한 계조로 가진다.Thereafter, the luminance pattern is applied to the liquid crystal display panel 100 (S400). The luminance pattern may be selectively applied only to the region 101 in which the poor brightness portion is detected. The liquid crystal display panel 100 is divided into a plurality of zones, and the same pattern may be applied to each of the luminance patterns. The luminance pattern has various gradations for each color.

이후 휘도 패턴에 의해 형성된 액정표시패널(100)의 영상을 촬상한다(S500). 영상 촬상은 CCD 카메라를 포함하는 촬상부(20)가 수행하며, 복수의 CCD 카메라를 이용하여 영상을 촬상하는 것도 가능하다. 촬상은 밝기불량 부분이 검출된 구역(101)에만 선택적으로 이루어 질 수 있으며 이 경우 촬상부(20)와 액정표시패널(100)은 부분적 촬상을 위해 상대적으로 이동할 수 있다. Thereafter, an image of the liquid crystal display panel 100 formed by the luminance pattern is captured (S500). Image capturing is performed by the image capturing unit 20 including a CCD camera, and it is also possible to capture an image using a plurality of CCD cameras. The imaging may be selectively performed only in the region 101 in which the poor brightness portion is detected, and in this case, the imaging unit 20 and the liquid crystal display panel 100 may be relatively moved for partial imaging.

촬상부(20)는 액정표시패널(100)의 화상을 색상을 구분하여 촬상하는데, CCD 카메라가 칼라 기능이 없는 경우 CCD카메라에 적색 칼라필터, 녹색 칼라필터, 청색 칼라필터를 각각 채용하여 색상별로 화상을 촬상한다.The image pickup unit 20 classifies colors of the image of the liquid crystal display panel 100 by color. When the CCD camera does not have a color function, the CCD camera employs a red color filter, a green color filter, and a blue color filter. Image pickup

이후 촬상된 영상에 기초하여 밝기불량 부분의 계조를 계산한다(S600). 휘도 패턴에는 색상별, 계조별 패턴이 형성되어 있기 때문에 밝기불량 부분과의 비교를 통해 밝기불량 부분의 계조를 계산할 수 있다. 이에 의해 주위와의 대비비 차이로 검출한 밝기불량부분의 정확한 계조를 알 수 있게 된다. 이 과정에서 색상별로 패턴을 가진 휘도 패턴을 이용하기 때문에 색상에 따른 대비비와 휘도 오차를 감소시킬 수 있다. 또한 밝기불량이 발생한 부분만을 대상으로 촬상하면 패널 위치나 카메라 위치에 따른 오차도 감소시킬 수 있다.Thereafter, the gray level of the poor brightness part is calculated based on the captured image (S600). Since the luminance pattern is formed by the color and the gray scale, the gray scale of the poor brightness portion can be calculated by comparing with the poor brightness portion. As a result, the accurate gradation of the poor brightness detected by the difference in contrast ratio with the surroundings can be known. In this process, since a luminance pattern having a pattern for each color is used, contrast ratio and luminance error according to color can be reduced. In addition, if the image is captured only in a portion where brightness failure occurs, an error according to the panel position or the camera position can be reduced.

계조 결정에서는 밝기불량부분의 휘도와 휘점 패턴의 휘도를 LSE방법을 이용하여 피팅(fitting)하여 밝기불량부분의 계조를 결정할 수 있다.In the gray level determination, the brightness of the poor brightness portion may be determined by fitting the brightness of the poor brightness portion and the brightness of the bright point pattern using the LSE method.

이후 계산된 계조에 기초하여 액정표시패널(100)의 불량여부를 판단한다(S600). 불량 판단은 이웃한 부분과의 계조 차이가 일정 수준 이상이면 불량으로 판단하는 방법 등이 있다.Thereafter, it is determined whether the liquid crystal display panel 100 is defective based on the calculated gray scale (S600). Determination of failure includes a method of judging failure when the gradation difference from the neighboring part is a predetermined level or more.

이상의 실시예에서 검사 대상은 유기전기발광장치(organic light emitting diode) 의 표시패널일 수 있다.In the above embodiment, the test object may be a display panel of an organic light emitting diode.

유기전기발광장치는 전기적인 신호를 받아 발광하는 유기물을 이용한 자발광형 소자이다. 유기전기발광장치에는 음극층(화소전극), 홀 주입층, 홀 수송층, 발광층, 전자수송층, 전자 주입층, 양극층(대향전극)이 적층되어 있다.The organic electroluminescent device is a self-luminous device using an organic material that emits light upon receiving an electrical signal. In the organic electroluminescent device, a cathode layer (pixel electrode), a hole injection layer, a hole transport layer, a light emitting layer, an electron transport layer, an electron injection layer, and an anode layer (counter electrode) are stacked.

본 발명은 밝기불량 부분의 계조 산출 뿐 아니라 패널 영상 밝기에 대한 보정 방법과 보정장치로 사용될 수 있다.The present invention can be used as a correction method and a correction device for the panel image brightness as well as the gray level calculation of the poor brightness portion.

비록 본발명의 실시예가 도시되고 설명되었지만, 본발명이 속하는 기술분야의 통상의 지식을 가진 당업자라면 본발명의 원칙이나 정신에서 벗어나지 않으면서 본 실시예를 변형할 수 있음을 알 수 있을 것이다. 본발명의 범위는 첨부된 청구항과 그 균등물에 의해 정해질 것이다.Although embodiments of the present invention have been shown and described, it will be apparent to those skilled in the art that the present embodiments may be modified without departing from the spirit or principles of the present invention. It is intended that the scope of the invention be defined by the claims appended hereto and their equivalents.

이상 설명한 바와 같이, 본 발명에 따르면 계조를 검출하여 표시패널의 불량여부를 정확히 판단할 수 있는 표시패널의 검사방법이 제공된다.As described above, according to the present invention, a display panel inspection method capable of accurately determining whether a display panel is defective by detecting a gray scale is provided.

또한 본 발명에 따르면 계조를 검출하여 표시패널의 불량여부를 정확히 판단할 수 있는 표시패널의 검사장치가 제공된다.In addition, according to the present invention there is provided an inspection apparatus for a display panel that can accurately detect whether the display panel is defective or not.

Claims (5)

표시패널의 검사방법에 있어서,In the inspection method of the display panel, 표시패널에 밝기불량검출을 위한 패턴을 인가하고 영상 처리를 통해 밝기불량부분을 검출하는 단계와;Applying a pattern for detecting a brightness defect to the display panel and detecting a brightness defect part through image processing; 표시패널에 적색, 녹색, 청색 별로 다양한 계조를 가지는 휘도패턴을 인가하는 단계와;Applying luminance patterns having various gray levels to red, green, and blue colors to the display panel; 상기 밝기불량부분의 휘도와 상기 밝기불량부분을 둘러싸는 부분과의 휘도를 비교하여 상기 밝기불량부분의 계조를 계산하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 표시패널의 검사방법.And calculating a gray level of the poor brightness portion by comparing the brightness of the poor brightness portion with the brightness surrounding the poor brightness portion. 제1항에 있어서,The method of claim 1, 상기 휘도패턴은 상기 액정표시패널을 복수의 구간으로 나누어 인가되는 것을 특징으로 하는 표시패널의 검사방법.And the luminance pattern is divided into a plurality of sections and applied to the liquid crystal display panel. 삭제delete 표시패널의 검사장치에 있어서,In the inspection apparatus of the display panel, 표시패널에 밝기불량검출을 위한 패턴을 인가하는 제1패턴인가부와;A first pattern applying unit which applies a pattern for detecting brightness defects to the display panel; 상기 표시패널을 복수의 구역으로 나누어 적색, 녹색, 청색 별로 다양한 계조를 가지는 휘도패턴을 인가하는 제2패턴인가부와;A second pattern applying unit dividing the display panel into a plurality of zones and applying a luminance pattern having various gray levels for each of red, green, and blue colors; 상기 휘도패턴이 인가된 상기 표시패널의 영상을 적색, 녹색, 청색 별로 촬상하는 촬상부와;An image capturing unit configured to capture an image of the display panel to which the luminance pattern is applied, for each of red, green, and blue; 상기 촬상부로부터의 영상을 처리하여 밝기불량부분의 계조를 계산하는 데이터 처리부를 포함하는 것을 특징으로 하는 표시패널의 검사장치.And a data processor which processes an image from the image pickup unit and calculates a gray level of the poor brightness portion. 삭제delete
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Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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