KR100643700B1 - Apparatus for measuring infrared beam and method for measuring infrared beam - Google Patents
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Abstract
Description
도 1 은 종래의 적외선 측정 장치의 개략적인 구성도이다.1 is a schematic configuration diagram of a conventional infrared measuring device.
도 2 는 본 발명의 제1 실시예에 따른 적외선 측정 장치의 구성도이다.2 is a block diagram of an infrared measuring device according to a first embodiment of the present invention.
도 3 은 본 발명의 제1 실시예에 따른 적외선 측정장치의 수광부의 사시도이다.3 is a perspective view of a light receiving unit of the infrared measuring apparatus according to the first embodiment of the present invention.
도 4는 도 3에서 A-A' 선에 따른 단면도이다.4 is a cross-sectional view taken along line AA ′ of FIG. 3.
도 5는 본 발명의 제1 실시예에 따른 적외선 측정 장치의 신호 변환부의 구성도이다.5 is a block diagram of a signal conversion unit of the infrared measurement apparatus according to the first embodiment of the present invention.
도 6은 본 발명의 제1 실시예에 따른 적외선 측정 장치의 신호 처리부의 구성도이다.6 is a block diagram of a signal processing unit of the infrared measuring apparatus according to the first embodiment of the present invention.
도 7은 본 발명의 제2 실시예에 따른 적외선 측정 방법에 관한 순서도이다.7 is a flowchart illustrating an infrared measuring method according to a second embodiment of the present invention.
본 발명은 적외선 감시 시스템을 위한 적외선 측정 장치 및 적외선 측정 방법에 관한 것이다.The present invention relates to an infrared measuring device and infrared measuring method for an infrared monitoring system.
일반적으로, 적외선 감시 시스템은 적외선을 투사하는 투사부와 투사된 적외선을 수광하는 수광부를 감시 영역내에 설치하여 이루어지며, 투사부에서 조사된 적외선이 수광부에서 수광되지 않는 경우, 감시 영역내에 이상 상황이 발생한 것으로 인지하고, 경보를 출력하는 감시 시스템을 의미한다. 따라서, 이러한 적외선 감시 시스템에서, 투사부에서 투사된 적외선을 수광부에서 적절하게 감지하는 것이 중요하다. In general, an infrared monitoring system is provided by installing a projection unit for projecting infrared rays and a light receiving unit for receiving the projected infrared rays in the monitoring area. When the infrared rays irradiated from the projection unit are not received at the light receiving unit, an abnormal situation occurs in the monitoring area. It means a monitoring system that recognizes that it has occurred and outputs an alarm. Therefore, in such an infrared monitoring system, it is important to properly detect the infrared rays projected by the projection unit at the light receiving unit.
따라서, 투사부에서 투사된 적외선이 거리에 따라 얼마의 세기나 크기를 갖는지 측정하는 적외선 측정 장치가 요구된다. Therefore, there is a need for an infrared measuring device for measuring how much the intensity or size of the infrared rays projected from the projection unit has a distance.
도 1은 종래의 적외선 측정장치의 구성을 개략적으로 보여준다.1 schematically shows a configuration of a conventional infrared measuring apparatus.
도 1에서 도시된 바와 같이, 종래의 적외선 측정 장치는 투사부(10), 측정판(20), 및 초조도 카메라(30)로 구성된다.As shown in FIG. 1, the conventional infrared measuring apparatus includes a
투사부(10)는 적외선을 투사하며, 측정판(20)은 투사부(10)에서 투사된 적외선이 수광되는 영역을 의미한다. 초조도 카메라(30)는 측정판(20)에 적외선이 수광된 수광영역을 촬영하여 수광된 적외선의 크기를 측정한다. The
종래 적외선 측정 장치를 사용하여, 적외선을 측정하기 위해서는 투사부(10)의 수평 및 수직 각도를 정확히 설정해야 하며, 측정판(20)의 중앙과 투사부(10)의 렌즈의 중앙이 일치하도록 투사부(10) 위치를 조정해야 한다. 그리고 적외선 측정을 위해 환경 조도를 0 럭스로 조정해야 한다. In order to measure infrared rays using a conventional infrared measuring device, the horizontal and vertical angles of the
한편, 적외선의 투사시, 적외선의 퍼짐 때문에, 초조도 카메라(30)에 의해 촬영한 측정판(20)에 투사된 적외선의 영상에서 적외선이 투사된 영역과 비투사된 영역의 경계가 명확하지 않다. 따라서 측정판(20)에 투사된 적외선의 크기 측정에 오차가 발생한다. 이러한 적외선의 크기의 측정 오차는 투사부(10)와 측정판(20) 사이의 거리가 길어질수록 더욱 커진다. On the other hand, due to the spread of the infrared rays during the projection of the infrared rays, the boundary between the areas where the infrared rays are projected and the non-projected regions is not clear in the image of the infrared rays projected onto the
본 발명이 이루고자 하는 기술적 과제는, 상기한 바와 같은 종래 기술의 문제점을 해결하여 측정 오차 없이 적외선의 크기 및 세기를 측정할 수 있는 적외선 측정 장치 및 측정 방법을 제공하고자 한다. The technical problem to be achieved by the present invention, to solve the problems of the prior art as described above to provide an infrared measuring apparatus and measuring method that can measure the size and intensity of the infrared without a measurement error.
상기와 같은 종래 기술의 문제점을 해결하기 위해, 본 발명의 한 특징에 따른 적외선 측정 장치는 투사부, 수광부, 신호 처리부를 포함한다. 투사부는 소정의 파장의 적외선을 투사하고, 수광부는 투사된 소정의 파장의 적외선을 수광하여, 수광된 적외선에 대응하는 신호를 생성하는 복수의 수광소자들을 포함한다. 신호 처리부는 복수의 수광소자들로부터 생성되는 각각의 신호들을 수신하여 복수의 수광소자들 각각에서의 적외선의 수광 여부를 판단하고, 복수의 수광소자들의 적외선 수광 여부로부터 수광부에 수광되는 적외선의 크기를 판단한다.In order to solve the above problems of the prior art, the infrared measuring device according to an aspect of the present invention includes a projection unit, a light receiving unit, a signal processing unit. The projection unit projects an infrared ray of a predetermined wavelength, and the light receiving unit includes a plurality of light receiving elements that receive the projected infrared ray of a predetermined wavelength and generate a signal corresponding to the received infrared ray. The signal processing unit receives respective signals generated from the plurality of light receiving elements to determine whether the infrared light is received from each of the plurality of light receiving elements, and determines the size of the infrared light received by the light receiving unit based on whether the plurality of light receiving elements receive the infrared light. To judge.
본 발명의 또 다른 특징에 따른 적외선 측정 방법은 투사부가 소정의 파장의 적외선을 투사하는 단계, 수광부에 포함되는 복수의 수광 소자들이 상기 투사부에서 투사된 소정의 파장의 적외선을 수광하여, 수광된 적외선에 대응하는 신호를 생성하는 단계, 신호처리부가 복수의 수광 소자들로부터 각각 생성되는 신호들을 수신 받아, 복수의 수광 소자 들각각에서의 적외선의 수광 여부를 판단하고, 복수 의 수광 소자들의 적외선 수광 여부로부터 수광부에 수광되는 적외선의 크기를 판단하는 단계를 포함한다. According to another aspect of the present invention, there is provided a method for measuring infrared rays, in which a projection unit projects infrared rays of a predetermined wavelength, and a plurality of light receiving elements included in the light receiving unit receive infrared rays of a predetermined wavelength projected from the projection unit. Generating a signal corresponding to the infrared ray, the signal processor receives signals generated from the plurality of light receiving elements, respectively, and determines whether the infrared light is received from each of the plurality of light receiving elements, and receives the infrared light of the plurality of light receiving elements. And determining the size of the infrared light received from the light receiving unit.
아래에서는 첨부한 도면을 참고로 하여 본 발명의 실시예에 대하여 본 발명이 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자가 용이하게 실시할 수 있도록 상세히 설명한다. 그러나 본 발명은 여러 가지 상이한 형태로 구현될 수 있으며 여기에서 설명하는 실시예에 한정되지 않는다. 도면에서 본 발명을 명확하게 설명하기 위해서 설명과 관계없는 부분은 생략하였다. 명세서 전체를 통하여 유사한 부분에 대해서는 유사한 도면 부호를 붙였다. DETAILED DESCRIPTION Hereinafter, exemplary embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings so that those skilled in the art may easily implement the present invention. As those skilled in the art would realize, the described embodiments may be modified in various different ways, all without departing from the spirit or scope of the present invention. In the drawings, parts irrelevant to the description are omitted in order to clearly describe the present invention. Like reference numerals designate like parts throughout the specification.
이하, 도 2 내지 6을 참조하여, 본 발명의 제1 실시예에 따른 적외선 측정장치에 대하여 설명한다.Hereinafter, an infrared measuring apparatus according to a first embodiment of the present invention will be described with reference to FIGS. 2 to 6.
도 2는 본 발명의 제1 실시예에 따른 적외선 측정 장치의 구성을 개략적으로 보여준다. 2 schematically shows a configuration of an infrared measuring apparatus according to a first embodiment of the present invention.
도 2에 도시한 바와 같이, 본 발명의 제1 실시예에 따른 적외선 측정장치는 투사부(100), 수광부(200), 신호 변환부(300), 및 신호 처리부(400)로 구성된다. As shown in FIG. 2, the infrared measuring apparatus according to the first embodiment of the present invention includes a
투사부(100)는 적외선 측정에 사용되는 특정한 파장 영역의 적외선을 투사한다. 투사부(100)에서 사용되는 적외선의 파장은 목적에 따라 적절하게 설정될 수 있다.The
수광부(200)는 투사부(100)에서 투사된 적외선을 수광하고, 수광된 적외선의 광세기에 기초하여, 소정의 신호를 생성한다. The
도 3은 본 발명의 실시예에 따른 수광부(200)의 사시도를 보여주며, 도 4는 도 3에서 A-A' 선에 따른 단면도를 보여준다.3 is a perspective view of a light receiving
도 3및 4에 도시한 바와 같이, 수광부(200)는 복수의 수광소자(210a 내지 210i), 회전 모터(220), 전원공급부(230), 및 신호증폭부(240)를 포함한다.3 and 4, the
수광소자(210a 내지 210i)는 투사부(100)에서 투사된 적외선을 수광하여 수광된 적외선의 광세기에 비례하는 신호를 생성한다. 본 발명의 실시예에서 사용될 수 있는 수광 소자는 특정한 파장의 적외선만을 수광하며, 그 적외선의 세기에 비례하는 신호를 생성하는 특성을 갖는 것이면 제한이 없다. 구체적으로, 소광 소자(210a 내지 210i)로서 포토 다이오드(photo diode), 및 포토 트랜지스터(photo transistor)등이 사용될 수 있다. 본 발명의 실시예에서는 수광소자(210a 내지 210i)로서 포토 다이오드를 사용하였다. 이 때, 수광 소자(210a 내지 210i)가 포토 다이오드인 경우, 수광 소자(210a 내지 210i)는 수광되는 적외선의 세기에 비례하는 크기의 펄스 전압 신호를 생성한다. The light receiving
이와 같이, 본 발명의 실시예에서, 수광소자(210a 내지 210i)는 투사부(100)로부터 투사되는 특정 파장 영역의 적외선을 선택적으로 감지하며, 다른 파장 영역의 적외선을 감지하지 못하므로, 본 발명의 실시예에서는 투사부(100)에서 투사되는 적외선의 파장을 특정한 영역으로 설정하고, 수광 소자(210a 내지 210i)로서, 투사부(100)에서 투사되는 적외선의 파장을 선택적으로 감지하는 수광 소자(210a 내지 210i)를 사용하는 경우, 적외선 측정을 위해 다른 파장의 광원을 모두 소등함 없이 적외선의 크기 및 세기를 측정하는 것이 가능하다. As described above, in the embodiment of the present invention, the
적외선 수광 영역 내 수광되는 적외선의 크기를 정확히 측정하기 위해서, 수광소자를 적외선 수광 영역에 고루 분산되도록 배치되는 것이 바람직하나, 이 경우, 필요한 수광 소자의 개수가 문제가 된다.In order to accurately measure the size of the infrared light received in the infrared light receiving area, it is preferable that the light receiving elements are arranged to be evenly distributed in the infrared light receiving area, but in this case, the number of necessary light receiving elements becomes a problem.
본 발명의 제1 실시예에서는 적외선 수광영역의 직경의 길이에 대응하는 길이로 수광 소자(210a 내지 210i)를 일 방향으로 배열시킨 후, 배열된 수광 소자(210a 내지 210i)를 회전 시켜, 적외선이 수광되는 수광 영역 전체에서 적외선을 수광할 수 있도록 한다. According to the first embodiment of the present invention, the
신호 증폭부(240)는 수광 소자(210a 내지 210i)로부터 출력되는 펄스 전압 신호를 1차 증폭한다. 일반적으로 수광소자에서 발생한 펄스 전압은 수mV 정도의 매우 작은 값이어서, 주변 환경의 노이즈에 취약하므로, 이러한 펄스 전압 신호를 증폭하여, 신호 변환부(300)로 출력한다.The
전원공급부(230)는 회전 모터(220) 및 신호증폭부(240)로 필요한 전원을 생성하여 공급한다.The
신호 변환부(300)는 수광부(200)에서 출력되는 각 수광 소자(210a 내지 210i)의 펄스 전압 신호를 입력 받아, 각 수광 소자(210a 내지 210i)에서 생성된 전압의 크기에 대응하는 디지털 신호를 출력한다. The
도 5는 본 발명의 실시예에 따른 신호 변환부(300)의 구성을 개략적으로 보여준다. 5 schematically shows a configuration of a
도 5에 도시한 바와 같이, 신호 변환부(300)는 신호 입력부(310), 신호 적분부(320), 다중화부(multiplexer)(330), 및 아날로그-디지털 변환부(analog to digital converter; 이하 'ADC'라 함)(340), 및 제어 신호 생성부(350)를 포함한 다. As shown in FIG. 5, the
신호 입력부(310)는 각각의 수광소자(210a 내지 210i)에서 출력되는 펄스 전압 신호를 입력 받아, 신호 적분부(320)로 출력한다. The
신호 적분부(320)는 소정의 기간 동안 입력된 펄스 전압 신호들을 2차 신호 증폭하고, 증폭된 펄스 전압 신호를 적분하여 펄스 형태의 전압 신호를 아날로그 형태의 전압 신호로 변환한다.The
다중화부(330)는 각 수광소자(210a 내지 210i)에서 생성되는 전압 신호에 대응하는 신호 적분부(320)의 각 출력 신호를 다중화하여 ADC(340)로 출력한다. 이러한 신호 다중화는 신호 적분부(320)로부터 입력되는 각 수광소자(210a 내지 210i)에 대응하는 출력 신호들을 순차적으로 출력하도록 하여 이루어지거나, 제어 신호 생성부(350)에서 생성되는 별도의 제어 신호를 통해 수행된다. The
ADC(340)는 다중화부(330)로부터 입력되는 각 수광소자(210a 내지 210i)에서 생성되는 전압 신호에 대응하는 아날로그 형태의 전압 신호를 디지털 신호로 변환한다. ADC(340)는 각 수광소자(210a 내지 210i)에 대응하는 디지털 신호로 변환된 전압 신호를 신호 처리부(400)로 전송된다. The
제어 신호 생성부(350)는 각 수광소자(210a 내지 210i)에 대응하는 신호 적분부(320)의 각 출력 신호를 다중화하는 제어 신호를 생성한다. 제어신호는 각 수광 소자(210a 내지 210i)에 대응하도록 설정된다. 구체적으로, 본 발명의 실시 예에 따른 수광 소자(210a 내지 210i)에 대응하는 제어 신호는 1번 수광소자(210a)에 대해 "0001", 2번 수광소자(210b)에 대해 "0010", 3번 수광소자(210c)에 대해 "0011", 4번 수광 소자(210d)에 대해 "0100", 5번 수광 소자(210e)에 대해 "0101", 6번 수광 소자(210f)에 대해 "0110", 7번 수광 소자(210g)에 대해 "0111", 8번 수광 소자(210h)에 대해 "1000", 9번 수광 소자(210i)에 대해 "1001"와 같이 4-bit 단위의 디지털 신호일 수 있다. 구체적으로, 제어 신호 생성부(350)로부터 다중화부(330)로 제어신호 "0010"가 입력되는 경우, 다중화부(330)는 2번 수광소자(210c)에서 생성되는 전압 신호 값을 ADC(340)로 전송하도록 제어된다. The
다음으로, 신호 처리부(400)는 신호 변환부(300)의 ADC(340)로부터 출력되는 각 수광 소자(210a 내지 210i)에 대응하는 디지털 신호를 이용하여 각 수광 소자(210a 내지 210i)에서 생성된 전압 값을 연산한다. 그 후, 연산 되어 생성된 각 수광 소자(210a 내지 210i)의 전압 값과 기 설정된 기준 전압 값을 비교하여, 적외선 측정 장치의 적외선 수광 여부를 판단하여 수광된 적외선의 크기를 해석한다. Next, the
도 6은 본 발명의 실시 예에 따른 신호 처리부(400)의 구성을 개략적으로 보여준다. 6 schematically shows a configuration of a
도 6에 도시한 바와 같이, 본 발명의 실시 예에 따른 신호 처리부(400)는 신호 제어부(410), 수광 신호 크기 해석부(420), 수광 여부 판단부(430), 적외선 크기 해석부(440), 설정값 입력부(450)로 구성된다. As shown in FIG. 6, the
신호 제어부(410)는 ADC(340)로부터 각 수광소자(210a~210i)에 대응되는 디지털 신호를 입력받아, 각 수광 소자(210a~210i) 별로 디지털 신호를 분리하여 각 수광소자(210a~210i) 별 디지털 신호들을 수광 신호 크기 해석부(420)로 출력한다. The
수광 신호 크기 해석부(420)는 신호 제어부(410)로부터 입력된 디지털 신호 들로부터 각 수광 소자(210a~210i)에서 생성된 전압 신호의 크기를 해석한다. 각 수광 소자(210a~210i)에서 생성된 전압 신호의 크기는 그 수광 소자가 수광한 적외선의 세기에 대응하므로, 수광 신호 크기는 적외선의 세기에 해당한다.The light receiving signal
수광 여부 판단부(430)는 수광 신호 크기 해석부(420)로부터 출력되는 각 수광 소자(210a~210i)의 전압 신호의 크기를 기준 전압 값과 비교한다. 수광 여부 판단부(430)는 전압 신호의 크기가 기준 전압 값보다 크면 적외선이 수광된 것으로 보고, 2진 데이터 "1"을 적외선 크기 해석부(440)에 출력하고, 그렇지 않으면 적외선이 수광되지 않은 것으로 보고, 2진 데이터 "0"을 적외선 크기 해석부(440)에 출력한다. The light
적외선 크기 해석부(440)는 수광 여부 판단부(430)로부터 출력되는 수광소자(210a 내지 210i)의 적외선 수광 여부를 표시하는 2 진 데이터 신호를 수신받아, 수광된 적외선의 크기를 해석한다. 구체적으로, 적외선 크기 해석부(440)에는 수광소자(210a 내지 210i)의 개수만큼 수광소자(210a 내지 210i)의 배열 순서대로 수광 여부 표시등이 배열되어 있다. 적외선 크기 해석부(440)는 수광 여부 판단부(430)로부터 입력된 수광 여부 판단 신호가 2진 데이터 "1"이면 수광 여부 표시등을 키고, 2진 데이터 "0"이면 표시등을 끈다. 따라서, 수광 여부 표시등의 점등 여부로부터, 적외선 수광 영역의 크기를 직관적으로 또는 측정값으로 알 수 있다. 구체적으로, 각 수광 소자(210a 내지 210i)간의 간격이 5cm 이고, 수광소자(210c) 내지 수광 소자(210g)가 점등된 경우, 적외선 수광 영역의 지름은 20 cm 가 된다. The
설정값 입력부(450)는 수광 여부 판단부(430)에 입력된 수광소자(210a 내지 210i)의 전압 신호 값과 비교할 기준 전압 값을 입력받아 저장한다. 기준 전압 값은 적외선 감시 시스템의 투사부(100)에서 투사되는 적외선의 세기에 따라 그 값이 상이하다. 따라서 적외선 측정 실험시 투사부(100)에 따라 설정값 입력부(450)를 통해 기준 전압 값을 설정한다. 기준 전압 값이 지나치게 낮게 설정된 경우에는 수광영역에 수광되는 적외선의 세기가 작은 경우에도 수광된 것으로 판단될 수 있고, 기준 전압 값이 지나치게 높게 설정된 경우에는 수광영역에 수광되는 적외선의 세기가 충분히 큰 경우에도 수광되지 않은 것으로 판단 될 수 있으므로, 적절한 기준 전압 값을 사용한다. The set
한편, 신호 처리부(400)는 신호 변환부(300)의 제어 신호 생성부(350)를 포함할 수 있는데, 이 경우, 제어 신호 생성부(350)는 생성되는 제어 신호를 신호 변환부(300)의 다중화부(330)에 전달하여, 다중화부(330)를 제어하게 된다. Meanwhile, the
이하, 도 7을 참조하여, 본 발명의 제2 실시 예에 따른 적외선 측정 방법에 관해 구체적으로 설명한다. Hereinafter, an infrared measuring method according to a second exemplary embodiment of the present invention will be described in detail with reference to FIG. 7.
도 7은 본 발명의 제2 실시 예에 따른 적외선 측정 방법을 보여주는 순서도이다. 7 is a flowchart illustrating a method for measuring infrared rays according to a second embodiment of the present invention.
먼저, 투사부(100)를 통해 소정의 파장의 적외선을 수광부(200)로 투사한다(S100). 투사부(100)는 소정의 파장의 적외선을 투사하도록 설정되며, 수광부(200)는 투사부(100)에서 투사되는 파장의 적외선만을 수광하도록 설정된다. First, the infrared ray of a predetermined wavelength is projected through the
수광부(200)는 복수의 수광소자(210a 내지 210i)를 통하여, 투사부(100)에 서 투사된 소정의 파장의 적외선을 수광하여, 수광된 적외선의 세기에 비례하는 크기의 전압 신호를 생성한다(S200).The
다음으로, 신호 변환부(300)를 통해, 수광부(200)의 각각의 수광소자(210a 내지 210i)에서 각각 생성된 전압 신호를 각각 수광소자(210a 내지 210i)에 대응하는 디지털 신호로 변환한다(S300). 신호 변환부(300)는 수광소자(210a 내지 210i)에 대응하는 디지털 신호를 신호처리부(400)로 전송한다. Next, the
신호 처리부(400)는 신호 변환부(300)로부터 입력된 디지털 신호들로부터 각 수광소자(210a 내지 210i)에서 생성된 전압 크기를 해석하고, 각 수광 소자(210a 내지 210i)의 전압 크기를 기 설정된 기준 전압 값과 비교한다(S400). 이때, 수광 소자(210a 내지 210i)의 전압 크기가 기준 전압 값보다 큰 경우, 그 수광소자(210a 내지 210i)로 적외선이 수광된 것으로 판단하고, 수광 소자(210a 내지 210i)의 전압 크기가 기준 전압 값보다 작은 경우 그 수광 소자(210a 내지 210i)로 적외선이 수광되지 않은 것으로 판단한다. The
수광 소자(210a 내지 210i)에 적외선이 수광된 것으로 판단되는 경우, 그 수광 소자(210a 내지 210i)에 대응하는 수광 여부 표시등이 점등되며(S500a), 그 수광 소자(210a 내지 210i)에 적외선이 수광되지 않은 것으로 판단되는 경우, 그 수광 소자(210a 내지 210i)에 대응하는 수광 여부 표시등이 소등된다(S500b). When it is determined that the infrared light is received by the
이와 같은 수광 여부 표시등의 점등 또는 소등 결과로부터, 적외선 크기 해석부(440)는 수광부(200) 내 수광 소자(210a 내지 210i)의 적외선 수광 여부를 알 수 있으며, 그로부터, 수광된 적외선의 크기를 해석한다(S600). 이와 같은 단계를 투사부(100)가 적외선을 투사하는 동안 반복한다.From the result of turning on or off the light receiving indicator, the infrared
이상과 같은 본 발명의 제 1 실시 예에 따른 적외선 측정 장치 및 제2 실시 예에 따른 적외선 측정 방법은 소정의 파장의 적외선만을 사용하여, 투사하고, 수광하게 함으로써, 적외선 측정시, 다른 적외선 등 광원으로부터의 영향을 많이 감소시킬 수 있다. 또한, 적외선이 수광되는 영역에 복수의 수광 소자를 사용하여 각 수광 소자 마다 적외선의 수광 여부를 판단하게 함으로써, 적외선 수광 영역의 크기를 명확하게 측정하는 것이 가능하다. 또한, 적외선 수광 영역에 수광 소자들이 일렬로 배치한 후, 회전함으로써, 적외선 수광 영역 전체에 수광 소자를 사용할 필요 없이, 작은 수의 수광소자만을 이용하여도 넓은 범위의 적외선 수광 영역 전체에서 적외선 수광 영역의 크기를 측정하는 것이 가능하다. The infrared measuring apparatus according to the first embodiment of the present invention and the infrared measuring method according to the second embodiment of the present invention use only infrared light of a predetermined wavelength to project and receive light, so that when measuring infrared light, other infrared light sources Can greatly reduce the impact from. In addition, it is possible to clearly measure the size of the infrared light receiving region by determining whether the infrared light is received for each light receiving element by using a plurality of light receiving elements in the region where the infrared light is received. In addition, the light receiving elements are arranged in a line in the infrared light receiving area, and then rotated, thereby eliminating the need for using the light receiving elements in the entire infrared light receiving area. It is possible to measure the size of it.
이상에서 본 발명의 실시 예에 대하여 상세하게 설명하였지만 본 발명의 권리범위는 이에 한정되지 않으며, 다음의 청구범위에서 정의하고 있는 본 발명의 기본 개념을 이용한 당업자의 여러 변형 및 개량 형태 또한 본 발명의 권리범위에 속하는 것이다. Although the embodiments of the present invention have been described in detail above, the scope of the present invention is not limited thereto, and various modifications and improvements of those skilled in the art using the basic concepts of the present invention defined in the following claims are also provided. It belongs to the scope of rights.
본 발명의 적외선 측정 장치는 특정 파장 영역의 적외선을 투사하는 투사부 및 투사부에서 투사되는 특정 파장의 적외선만을 수광하는 수광소자를 사용함으로써 적외선 측정을 위해 다른 광원을 소등할 필요 없이, 실내조명 상태에서도 측정이 가능하다. 수광 여부 판단부의 객관적인 비교 결과를 수광 여부 표시등을 통해 알 수 있고, 수광 여부 표시등을 통해 적외선이 수광되는 영역을 알 수 있으므로 적외선 크기를 정확하게 알 수 있다. The infrared measuring apparatus of the present invention uses a projection unit that projects infrared rays in a specific wavelength region and a light receiving element that receives only infrared rays of a specific wavelength projected by the projection unit, thereby eliminating the need to turn off other light sources for infrared measurement, and thus, indoor lighting conditions. Measurements are possible at. The objective comparison result of the light reception determination unit may be known through the light reception light indicator, and the area where the infrared light is received through the light reception light indicator may accurately determine the size of the infrared light.
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Cited By (5)
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|---|---|---|---|---|
| KR101402705B1 (en) | 2014-02-17 | 2014-06-27 | 주식회사 신진에너텍 | Frost removing apparatus for evaporator in cooling system using infra-red detection sensor |
| KR20180090663A (en) | 2017-02-03 | 2018-08-13 | 엘아이지넥스원 주식회사 | High-precise 3-demensions thermal analysis method |
| KR20180092674A (en) | 2017-02-10 | 2018-08-20 | 엘아이지넥스원 주식회사 | Apparatus and method for measuring target signal in SWIR band |
| KR20180093587A (en) | 2017-02-14 | 2018-08-22 | 엘아이지넥스원 주식회사 | Method for modeling mobile target |
| KR20180093586A (en) | 2017-02-14 | 2018-08-22 | 엘아이지넥스원 주식회사 | System and method obtainning noise of sensor for sensor modeling |
Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH10221165A (en) | 1997-02-05 | 1998-08-21 | Osaka Gas Co Ltd | Light beam intensity-measuring apparatus for light beam type intrusion-detecting system |
| KR20020023577A (en) * | 2000-09-23 | 2002-03-29 | 간춘기 | infrared sensing apparatus |
| KR100556226B1 (en) | 2004-12-15 | 2006-03-03 | 주식회사 케이엠티 | Infrared detector |
-
2005
- 2005-05-02 KR KR1020050036838A patent/KR100643700B1/en active IP Right Grant
Patent Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH10221165A (en) | 1997-02-05 | 1998-08-21 | Osaka Gas Co Ltd | Light beam intensity-measuring apparatus for light beam type intrusion-detecting system |
| KR20020023577A (en) * | 2000-09-23 | 2002-03-29 | 간춘기 | infrared sensing apparatus |
| KR100556226B1 (en) | 2004-12-15 | 2006-03-03 | 주식회사 케이엠티 | Infrared detector |
Non-Patent Citations (1)
| Title |
|---|
| 1020020023577 A * |
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR101402705B1 (en) | 2014-02-17 | 2014-06-27 | 주식회사 신진에너텍 | Frost removing apparatus for evaporator in cooling system using infra-red detection sensor |
| KR20180090663A (en) | 2017-02-03 | 2018-08-13 | 엘아이지넥스원 주식회사 | High-precise 3-demensions thermal analysis method |
| KR20180092674A (en) | 2017-02-10 | 2018-08-20 | 엘아이지넥스원 주식회사 | Apparatus and method for measuring target signal in SWIR band |
| KR20180093587A (en) | 2017-02-14 | 2018-08-22 | 엘아이지넥스원 주식회사 | Method for modeling mobile target |
| KR20180093586A (en) | 2017-02-14 | 2018-08-22 | 엘아이지넥스원 주식회사 | System and method obtainning noise of sensor for sensor modeling |
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